JPH01150848A - びん口検査方法 - Google Patents
びん口検査方法Info
- Publication number
- JPH01150848A JPH01150848A JP30946687A JP30946687A JPH01150848A JP H01150848 A JPH01150848 A JP H01150848A JP 30946687 A JP30946687 A JP 30946687A JP 30946687 A JP30946687 A JP 30946687A JP H01150848 A JPH01150848 A JP H01150848A
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- Japan
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- halation
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- Pending
Links
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
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- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、びんのねじ口部を撮像して得られる撮像信
号を画像処理して正常か否かを検査する検査方法に関す
る。
号を画像処理して正常か否かを検査する検査方法に関す
る。
従来、この種の検査方法として例えば第３図に示す如く
、びん口部を透過照明して検査を行なうものが知られて
いる。つまり、ねじ口部にひヌ′や欠けがあると、散乱
光が発生することを利用して検査を行なうものである。
、びん口部を透過照明して検査を行なうものが知られて
いる。つまり、ねじ口部にひヌ′や欠けがあると、散乱
光が発生することを利用して検査を行なうものである。
なお、同図において、１はびん、ＩＡはその口部、２Ａ
、２Ｂは照明器、３はテレビカメラ等の撮像装置を示す
。
、２Ｂは照明器、３はテレビカメラ等の撮像装置を示す
。
しかしながら、このような方式ではねし山の端部におい
ても欠けやひＸ゛と似たような散乱光を発生するため、
正常晶を異常として判定すると云う難点がある。このた
め、ねじ山端部を含む領域にマスクをかける方法もある
が、このようにすると今度はマスク部における欠けやひ
ゾを検出できなくなると云う問題が発生する。
ても欠けやひＸ゛と似たような散乱光を発生するため、
正常晶を異常として判定すると云う難点がある。このた
め、ねじ山端部を含む領域にマスクをかける方法もある
が、このようにすると今度はマスク部における欠けやひ
ゾを検出できなくなると云う問題が発生する。
第４図はこのことを説明するための説明図である。これ
は、観測領域Ａを例えば図示の如く設定し、この領域Ａ
内に欠陥部が有るか否かを調べるものであり、したがっ
てそれ以外の領域では欠陥の検出が出来なくなる。なお
、同図（イ）は正常な場合、（ロ）は欠陥部Ｆがある場
合をそれぞれ示している。
は、観測領域Ａを例えば図示の如く設定し、この領域Ａ
内に欠陥部が有るか否かを調べるものであり、したがっ
てそれ以外の領域では欠陥の検出が出来なくなる。なお
、同図（イ）は正常な場合、（ロ）は欠陥部Ｆがある場
合をそれぞれ示している。
したがって、この発明はびん口部の欠陥検査能力を高め
ることができる検査方法を提供することを目的とする。
ることができる検査方法を提供することを目的とする。
びんのねじ口部に光を照射し、その反射光を撮像して得
られる撮像信号を画像処理し、ねじ山のハレーションに
よる画像信号からその形状特徴量を計測し、これを標準
の形状特徴量と比較してびん口部が正常か否かを判定す
る。
られる撮像信号を画像処理し、ねじ山のハレーションに
よる画像信号からその形状特徴量を計測し、これを標準
の形状特徴量と比較してびん口部が正常か否かを判定す
る。
ねじ山部のハレーション形状を判定のための指標として
積極的に利用することにより、検査能力を向上させる。
積極的に利用することにより、検査能力を向上させる。
第１図は、この発明が適用される検査システム全体を示
す概要図である。こ＼では、びん１を小径部クランプ５
ＡＩＩＭ部クランプ５Ｂで固定し、回転テーブル６によ
りこれをタクト（間欠）回転させているが、エアでびん
底部を吸引して固定することも可能である。このように
回転されるびん１に対し、びん口ＩＡの側面部をＴＶカ
メラの如き撮像装置３で撮像する。ＴＶカメラ３の画像
例は第２図に示す如く、ねじ山部Ｍに対する反射照明に
より、ハレーション部（全反射部）Ｈ，、Ｈ，。
す概要図である。こ＼では、びん１を小径部クランプ５
ＡＩＩＭ部クランプ５Ｂで固定し、回転テーブル６によ
りこれをタクト（間欠）回転させているが、エアでびん
底部を吸引して固定することも可能である。このように
回転されるびん１に対し、びん口ＩＡの側面部をＴＶカ
メラの如き撮像装置３で撮像する。ＴＶカメラ３の画像
例は第２図に示す如く、ねじ山部Ｍに対する反射照明に
より、ハレーション部（全反射部）Ｈ，、Ｈ，。
Ｈ３が生じるので、この映像信号を２値化すれば、ハレ
ーション部のパターンを得ることが出来る。
ーション部のパターンを得ることが出来る。
そこで、画像処理装置４によりこのハレーションパター
ンの位置と形状特徴値（例えば、面積１周囲長、外接幅
、外接高さ、凸点数、凹点数など、）を測定し、これを
標準パターンの位置、形状特徴値と比較し、合否判定を
行なう。なお、形状特徴値の抽出は公知の種々の手法に
より行なうことができるので、詳細は省略する。ところ
で、ねじ山のハレーションパターンは、びんの回転位置
によってＹ方向に移動するが、Ｘ方向の位置は照明方向
とびんとの位置関係から、はぼ一定の場所に生じる。し
たがって、びんを回転させ複数回判定することによって
、びん口全周を検査することができる。つまり、びんの
ねじ口部に欠け、ひびなどの欠陥があると、■ハレーシ
ョンの形状が異なる、■異なる位置にハレーションパタ
ーンを生じる、などにより欠陥であると判定できる。し
たがって、びんを回転させて複数回判定する時、それぞ
れの画像におけるハレーションパターンの位置を記憶し
ておき、複数回↑最像後それぞれのパターンの位置関係
から、ねじ山端部パターン（第２図のＨ。
ンの位置と形状特徴値（例えば、面積１周囲長、外接幅
、外接高さ、凸点数、凹点数など、）を測定し、これを
標準パターンの位置、形状特徴値と比較し、合否判定を
行なう。なお、形状特徴値の抽出は公知の種々の手法に
より行なうことができるので、詳細は省略する。ところ
で、ねじ山のハレーションパターンは、びんの回転位置
によってＹ方向に移動するが、Ｘ方向の位置は照明方向
とびんとの位置関係から、はぼ一定の場所に生じる。し
たがって、びんを回転させ複数回判定することによって
、びん口全周を検査することができる。つまり、びんの
ねじ口部に欠け、ひびなどの欠陥があると、■ハレーシ
ョンの形状が異なる、■異なる位置にハレーションパタ
ーンを生じる、などにより欠陥であると判定できる。し
たがって、びんを回転させて複数回判定する時、それぞ
れの画像におけるハレーションパターンの位置を記憶し
ておき、複数回↑最像後それぞれのパターンの位置関係
から、ねじ山端部パターン（第２図のＨ。
参照）をみつける（Ｙ座標値より）。このねじ山端部を
特殊パターンとしてその標準パターンを記憶しておけば
、これを入カバターンと比較することにより、判定する
ことが可能になる。
特殊パターンとしてその標準パターンを記憶しておけば
、これを入カバターンと比較することにより、判定する
ことが可能になる。
この発明によれば、効果的な反射照明によりねし山部に
ハレーション現象を生ぜしめ、このハレーションパター
ンを判定に積極的に利用することにより、ねじ山端部を
みつけることができる（欠陥パターンと区別して。）。
ハレーション現象を生ぜしめ、このハレーションパター
ンを判定に積極的に利用することにより、ねじ山端部を
みつけることができる（欠陥パターンと区別して。）。
また、ハレーションパターンの形状特徴値を測定するこ
とにより、ねじ山部に欠けがあると、形状特徴値が異な
ることから、良否の区別がつく。さらに、びん口と照明
部とカメラとの位置関係により、正常なハレーション位
置は一定の位置となるので、ねじの谷部が欠けてハレー
ションを起せば、容易に異常であると判定できる。
とにより、ねじ山部に欠けがあると、形状特徴値が異な
ることから、良否の区別がつく。さらに、びん口と照明
部とカメラとの位置関係により、正常なハレーション位
置は一定の位置となるので、ねじの谷部が欠けてハレー
ションを起せば、容易に異常であると判定できる。
第１図はこの発明が適用される検査システム全体を示す
概要図、第２図はびん口側面部の画像例を説明するため
の説明図、第３図はびん目検査方式の従来例を示す概要
図、第４図はマスク方式を説明するための説明図である
。 符号説明 １・・・びん、ＩＡ・・・びん口部、２．２Ａ、２Ｂ・
・・照明器、３・・・撮像装置、４・・・画像処理装置
、５Ａ。 ５Ｂ・・・クランプ、６・・・回転テーブル。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 ○ 第２図 第３図 第４図
概要図、第２図はびん口側面部の画像例を説明するため
の説明図、第３図はびん目検査方式の従来例を示す概要
図、第４図はマスク方式を説明するための説明図である
。 符号説明 １・・・びん、ＩＡ・・・びん口部、２．２Ａ、２Ｂ・
・・照明器、３・・・撮像装置、４・・・画像処理装置
、５Ａ。 ５Ｂ・・・クランプ、６・・・回転テーブル。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 ○ 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）びんのねじ口部に光を照射し、その反射光を撮像し
て得られる撮像信号を画像処理し、ねじ山のハレーショ
ンによる画像信号からその形状特徴量を計測し、これを
標準の形状特徴量と比較してびん口部が正常か否かを判
定することを特徴とするびん口検査方法。 ２）特許請求の範囲第１項に記載のびん口検査方法にお
いて、前記びんを回転させそのねじ口部の全周囲を観測
して前記判定を行なうことを特徴とするびん口検査方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30946687A JPH01150848A (ja) | 1987-12-09 | 1987-12-09 | びん口検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30946687A JPH01150848A (ja) | 1987-12-09 | 1987-12-09 | びん口検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01150848A true JPH01150848A (ja) | 1989-06-13 |
Family
ID=17993330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30946687A Pending JPH01150848A (ja) | 1987-12-09 | 1987-12-09 | びん口検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01150848A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0683388A1 (en) | 1994-05-20 | 1995-11-22 | Eisai Co., Ltd. | Method of detecting a crack or chip |
| JP2010151473A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Kirin Techno-System Co Ltd | ねじ口壜の検査装置 |
| JP2012154639A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-16 | Jtekt Corp | 転がり軸受の表面検査装置 |
-
1987
- 1987-12-09 JP JP30946687A patent/JPH01150848A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0683388A1 (en) | 1994-05-20 | 1995-11-22 | Eisai Co., Ltd. | Method of detecting a crack or chip |
| JP2010151473A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Kirin Techno-System Co Ltd | ねじ口壜の検査装置 |
| JP2012154639A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-16 | Jtekt Corp | 転がり軸受の表面検査装置 |
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