JPH01142458A - 陽イオン分析装置 - Google Patents
陽イオン分析装置Info
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- JPH01142458A JPH01142458A JP30194487A JP30194487A JPH01142458A JP H01142458 A JPH01142458 A JP H01142458A JP 30194487 A JP30194487 A JP 30194487A JP 30194487 A JP30194487 A JP 30194487A JP H01142458 A JPH01142458 A JP H01142458A
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Landscapes
- Treatment Of Liquids With Adsorbents In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、被測定液中の極低濃度の陽イオンをイオンク
ロマトグラフィで正確かつ高感度に分析する方法に関す
る。
ロマトグラフィで正確かつ高感度に分析する方法に関す
る。
〈従来の技術〉
周知の如く、イオンクロマトグラフィは被測定液中の各
種イオンをクロマトグラフィツクに分離・分析する分析
手法であり、移動相に液体を用い被測定液中の測定対象
物をクロマトグラフィツクに分離・分析するいわゆる液
体クロマトグラフィの１つである。このようなイオンク
ロマトグラフィにおいて濃縮カラムを用いると、被測定
液中に存在する低濃度（ｐｐｂ又はサブＰｐｂレベル）
の陽イオンを正確に測定することができる。即ち、被測
定液を一定量だけ濃縮カラムに流し該被測定液中の低濃
度陽イオンを濃縮・保持してのち移動相たる溶離液で分
離カラムに搬送し、該分離カラムで被測定液中の陽イオ
ンをクロマトグラフィツクに分離し、その後、検出器に
導いて例えば導電率を検出し、該検出信号に基いて作成
されるクロマトグラムから前記被測定液中の低濃度陽イ
オンを測定するようになっていた。
種イオンをクロマトグラフィツクに分離・分析する分析
手法であり、移動相に液体を用い被測定液中の測定対象
物をクロマトグラフィツクに分離・分析するいわゆる液
体クロマトグラフィの１つである。このようなイオンク
ロマトグラフィにおいて濃縮カラムを用いると、被測定
液中に存在する低濃度（ｐｐｂ又はサブＰｐｂレベル）
の陽イオンを正確に測定することができる。即ち、被測
定液を一定量だけ濃縮カラムに流し該被測定液中の低濃
度陽イオンを濃縮・保持してのち移動相たる溶離液で分
離カラムに搬送し、該分離カラムで被測定液中の陽イオ
ンをクロマトグラフィツクに分離し、その後、検出器に
導いて例えば導電率を検出し、該検出信号に基いて作成
されるクロマトグラムから前記被測定液中の低濃度陽イ
オンを測定するようになっていた。
然しなから、１記従来例においては、被測定液中に存在
する極低濃度（ｐｐｆレベル）の陽イオンを正確に測定
しようとすると、陽イオンを濃縮する時間が長くなり結
果的に全体の分析時間が長くなるという欠点があった。
する極低濃度（ｐｐｆレベル）の陽イオンを正確に測定
しようとすると、陽イオンを濃縮する時間が長くなり結
果的に全体の分析時間が長くなるという欠点があった。
即ち、数ｐｐルベルの陽イオン（例えば２〜５ｐｐｉの
Ｎａ＋イオン、ＮＨ４＋イオン、に＋イオン等）を含む
被測定液を、例えば２ＪＦＩＦ／ｍｉｎ、の流量で１０
分間だけ上記：ａａカラムに供給すると、２（ｒｒＬＩ
／ｍｉｎ、）Ｘ１０（ｍｉｎ、）＝２０（７Ｗｉ’）の
被測定液が濃縮カラムを通過することになり、０゜２〜
０．５ｐｐｆの陽イオン（例えばＮａ＋イオン、ＮＨ４
４″イオン、に＋イオン等）を測定するには、例えば２
Ｒｆ／ｍｉｎ、の流量で１００分間だけ上記濃縮カラム
に被測定液を供給する必要があった。これに対して、濃
縮カラムで濃縮されたイオンを分離カラムに導いてクロ
マトグラフィツクに分離して検出器で検出するのに必要
な時間は１０分程度である。このため、被測定液中に存
在する極低濃度（ｐｐｉ、レベル）の陽イオンを正確に
測定しようとすると、陽イオンを濃縮する時間の方が分
離カラムでの分離時間等に比して非常に長くなり結果的
に全体の分析時間が長くなるという欠点があった。
Ｎａ＋イオン、ＮＨ４＋イオン、に＋イオン等）を含む
被測定液を、例えば２ＪＦＩＦ／ｍｉｎ、の流量で１０
分間だけ上記：ａａカラムに供給すると、２（ｒｒＬＩ
／ｍｉｎ、）Ｘ１０（ｍｉｎ、）＝２０（７Ｗｉ’）の
被測定液が濃縮カラムを通過することになり、０゜２〜
０．５ｐｐｆの陽イオン（例えばＮａ＋イオン、ＮＨ４
４″イオン、に＋イオン等）を測定するには、例えば２
Ｒｆ／ｍｉｎ、の流量で１００分間だけ上記濃縮カラム
に被測定液を供給する必要があった。これに対して、濃
縮カラムで濃縮されたイオンを分離カラムに導いてクロ
マトグラフィツクに分離して検出器で検出するのに必要
な時間は１０分程度である。このため、被測定液中に存
在する極低濃度（ｐｐｉ、レベル）の陽イオンを正確に
測定しようとすると、陽イオンを濃縮する時間の方が分
離カラムでの分離時間等に比して非常に長くなり結果的
に全体の分析時間が長くなるという欠点があった。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明は、かかる従来例の欠点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、被測定液中の陽イオンをイオンクロ
マトグラフィを用いて迅速がっ正確に分析できる方法を
提供することにある。
あり、その目的は、被測定液中の陽イオンをイオンクロ
マトグラフィを用いて迅速がっ正確に分析できる方法を
提供することにある。
く問題点を解決するための手段〉
上述のような問題点を解決する本発明の特徴は、被測定
液中の極低濃度の陽イオンを測定する方法において、被
測定液を濃縮する濃縮カラムを有し該濃縮された被測定
液に含まれていた陽イオンを該濃縮カラムから切換弁の
切換により溶離液で脱離させるような試料採取弁を溶離
液が流れる流路に複数個直列的に配置し、これらの試・
料採取弁を順番に切り換えて前記被測定液を一定量採取
する試料切換弁を溶離液が流れる流路に複数個直列的に
配置し、これらの試料採取弁を順番に切り換えて前記被
測定液を一定時間間隔で順番に採取し、その後、該被測
定液を分離カラムに導いて該被測定液中の陽イオンをク
ロマトグラフ的に分離し、該分離カラムから溶出する液
の導電率を検出すると共に、洗浄液切換弁に設けられた
一定の内容積を有する計量管内に供給された洗浄液を前
記溶離液が流れる流路に流して前記濃縮カラム及び分離
カラムを必要に応じて洗浄し、前記被測定液中の極低濃
度の陽イオンを測定することにある。
液中の極低濃度の陽イオンを測定する方法において、被
測定液を濃縮する濃縮カラムを有し該濃縮された被測定
液に含まれていた陽イオンを該濃縮カラムから切換弁の
切換により溶離液で脱離させるような試料採取弁を溶離
液が流れる流路に複数個直列的に配置し、これらの試・
料採取弁を順番に切り換えて前記被測定液を一定量採取
する試料切換弁を溶離液が流れる流路に複数個直列的に
配置し、これらの試料採取弁を順番に切り換えて前記被
測定液を一定時間間隔で順番に採取し、その後、該被測
定液を分離カラムに導いて該被測定液中の陽イオンをク
ロマトグラフ的に分離し、該分離カラムから溶出する液
の導電率を検出すると共に、洗浄液切換弁に設けられた
一定の内容積を有する計量管内に供給された洗浄液を前
記溶離液が流れる流路に流して前記濃縮カラム及び分離
カラムを必要に応じて洗浄し、前記被測定液中の極低濃
度の陽イオンを測定することにある。
〈実施例〉
以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第１
図は本発明実施例を説明するためのイオン分析装置の構
成説明図であり、第２図は本発明実施例の動作を説明す
るタイムチャートである。
図は本発明実施例を説明するためのイオン分析装置の構
成説明図であり、第２図は本発明実施例の動作を説明す
るタイムチャートである。
第１図において、ＩＡは例えば５ｍＭのＨＮＯ３溶液で
なる溶離液が貯溜されてなる溶離液槽、１Ｂは例えばＩ
ＭのＨＮ ０３溶液でなる洗浄液が貯溜されてなる洗浄
液槽、Ｉ Ｃ１〜ＩＣ，は例えば数ｐｐｉの陽イオンが
互いに異なる濃度や組成で含まれている第１〜第ｎの試
料が貯溜されてなる第１〜第ｎの試料槽、２Ｃ１〜２ｃ
１は送液ポンプ、３Ａは内部流路が実線接続状態と破線
接続状態に交互に切換られる洗浄液切換弁、３Ｂは内部
流路が実線接続状態と破線接続状態に交互に切換られる
カラム切換弁、３Ｃ１〜３ＣＴＬは内部流路が実線接続
状態と破線接続状態に交互に切換られる第１〜第ｎの試
料切換弁、４Ａは例えば１７７ｆ、ｔＦの内容積を有す
る第１計量管、４Ｂは例えば０゜１扉２の内容積を有す
る第２計量管、４Ｃ，〜４Ｃ１は例えば陽イオン交換樹
脂が充填されてなる第１〜第ｎの濃縮カラム、５は分離
カラム、６は例えば導電率計でなる検出器、７は分離カ
ラム５及び検出器６を収容して一定温度（例えば４５゜
Ｃ）に保つ恒温槽である。尚、洗浄液切換弁３Ａ及び高
濃度試料注入弁３Ｂはオフのときその内部流路が実線接
続状態となっており、第１〜第ｎの試料切換弁３Ｃ１〜
３Ｃ，はオンのときその内部流路が実線接続状態となる
ように構成されている。
なる溶離液が貯溜されてなる溶離液槽、１Ｂは例えばＩ
ＭのＨＮ ０３溶液でなる洗浄液が貯溜されてなる洗浄
液槽、Ｉ Ｃ１〜ＩＣ，は例えば数ｐｐｉの陽イオンが
互いに異なる濃度や組成で含まれている第１〜第ｎの試
料が貯溜されてなる第１〜第ｎの試料槽、２Ｃ１〜２ｃ
１は送液ポンプ、３Ａは内部流路が実線接続状態と破線
接続状態に交互に切換られる洗浄液切換弁、３Ｂは内部
流路が実線接続状態と破線接続状態に交互に切換られる
カラム切換弁、３Ｃ１〜３ＣＴＬは内部流路が実線接続
状態と破線接続状態に交互に切換られる第１〜第ｎの試
料切換弁、４Ａは例えば１７７ｆ、ｔＦの内容積を有す
る第１計量管、４Ｂは例えば０゜１扉２の内容積を有す
る第２計量管、４Ｃ，〜４Ｃ１は例えば陽イオン交換樹
脂が充填されてなる第１〜第ｎの濃縮カラム、５は分離
カラム、６は例えば導電率計でなる検出器、７は分離カ
ラム５及び検出器６を収容して一定温度（例えば４５゜
Ｃ）に保つ恒温槽である。尚、洗浄液切換弁３Ａ及び高
濃度試料注入弁３Ｂはオフのときその内部流路が実線接
続状態となっており、第１〜第ｎの試料切換弁３Ｃ１〜
３Ｃ，はオンのときその内部流路が実線接続状態となる
ように構成されている。
第１図のような構成からなるイオン分析装置において、
最初、洗浄液切換弁３Ａ、高濃度試料注入弁３Ｂ、及び
第１〜第ｎの切換弁３Ｃ１〜３Ｃ１がオフにされる。こ
の状態で、送液ポンプ２Ａが駆動すると、溶離液！ｎＩ
Ａ内の溶離液が例えば２ｍｌ／ｍｉｎ、の流量で、送液
ポンプ２Ａ→洗浄液切換弁３Ａの第１及び第２の接続ロ
ａ、ｂ→第１試料切換弁３ Ｃ１の第１及び第６の接続
口ａ。
最初、洗浄液切換弁３Ａ、高濃度試料注入弁３Ｂ、及び
第１〜第ｎの切換弁３Ｃ１〜３Ｃ１がオフにされる。こ
の状態で、送液ポンプ２Ａが駆動すると、溶離液！ｎＩ
Ａ内の溶離液が例えば２ｍｌ／ｍｉｎ、の流量で、送液
ポンプ２Ａ→洗浄液切換弁３Ａの第１及び第２の接続ロ
ａ、ｂ→第１試料切換弁３ Ｃ１の第１及び第６の接続
口ａ。
ｆ→濃縮カラム４ Ｃｔ→第１試料切換弁３Ｃ１の第３
及び第２の接続口ｃ、ｂ→第２試料切換弁３Ｃ２の第１
及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カラム４ Ｃ２→第２試
料切換弁３ Ｃｘの第３及び第２の接続口ｃ、ｂ→・・
・・・・・・・・・・→第ｎ試料切換弁３ ＣＴＬの第
１及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カラム４Ｃ１→第ｎ試
料切換弁３Ｃ，の第３及び第２の接続ロｃ、ｂ→高濃度
試料注入弁３Ｂの第１及び第２の接続ロａ、ｂ→分離カ
ラム５→検出器６を経由し、図示しない廃液槽へと流れ
る。また、送液ポンプ２Ｂが駆動すると、洗浄液槽ＩＣ
内の洗浄液が、送液ポンプ２Ｂ→洗浄液切換弁３Ａの第
５及び第６の接続ロｅ、ｆ→第１計址管４Ａ→洗浄液切
換弁４Ａの第３及び第４の接続口ｃ、ｄを経由し、図示
しない廃液槽へと流れ、第１計量管４Ａ内を洗浄液で満
たす、該計藍管４Ａ内の洗浄液は、洗ｎ液切換弁４Ａが
オンにされると、上記溶離液に搬送され、第１試料切換
弁３ Ｃｔの第１及び第６の接続ロａ、ｆ−＋Ｉ縮カラ
ム４ Ｃ＋→第１試料切換弁３Ｃ１の第３及び第２の接
続ロｃ、ｂ→第２試料切換弁３Ｃｔの第１及び第６の接
続口ａ。
及び第２の接続口ｃ、ｂ→第２試料切換弁３Ｃ２の第１
及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カラム４ Ｃ２→第２試
料切換弁３ Ｃｘの第３及び第２の接続口ｃ、ｂ→・・
・・・・・・・・・・→第ｎ試料切換弁３ ＣＴＬの第
１及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カラム４Ｃ１→第ｎ試
料切換弁３Ｃ，の第３及び第２の接続ロｃ、ｂ→高濃度
試料注入弁３Ｂの第１及び第２の接続ロａ、ｂ→分離カ
ラム５→検出器６を経由し、図示しない廃液槽へと流れ
る。また、送液ポンプ２Ｂが駆動すると、洗浄液槽ＩＣ
内の洗浄液が、送液ポンプ２Ｂ→洗浄液切換弁３Ａの第
５及び第６の接続ロｅ、ｆ→第１計址管４Ａ→洗浄液切
換弁４Ａの第３及び第４の接続口ｃ、ｄを経由し、図示
しない廃液槽へと流れ、第１計量管４Ａ内を洗浄液で満
たす、該計藍管４Ａ内の洗浄液は、洗ｎ液切換弁４Ａが
オンにされると、上記溶離液に搬送され、第１試料切換
弁３ Ｃｔの第１及び第６の接続ロａ、ｆ−＋Ｉ縮カラ
ム４ Ｃ＋→第１試料切換弁３Ｃ１の第３及び第２の接
続ロｃ、ｂ→第２試料切換弁３Ｃｔの第１及び第６の接
続口ａ。
ｆ→濃縮カラム４Ｃ２−第２試料切換弁３ Ｃ２の第３
及び第２の接続口ｃ、ｂ→・・・・・・・・・・・・→
第ｎ試料切換弁３Ｃ，の第１及び第６の接続ロａ、ｆ→
濃縮カラム４ Ｃｕ→第ｎ試料切換弁３ＣＴＬの第３及
び第２の接続ロｃ、ｂ→高濃度試料注入弁３Ｂの第１及
び第２の接続ロａ、ｂ→分離カラム５−＋検出器６を経
由する流路を洗浄する。更に、送液ポンプ２ Ｃ、〜２
Ｃ１Ｌが駆動すると、試料槽ＩＣ１〜ＩＣπ内の被測定
液（例えば数ＰＰｉ、の陽イオンを含む被測定液）が、
送液ポンプ２ Ｃ＋〜２Ｃ１→第１〜第ｎの試料切換弁
３ Ｃ１〜３ＣＴＬにそれぞれ設けられている第４及び
第５の接続口ｄ。
及び第２の接続口ｃ、ｂ→・・・・・・・・・・・・→
第ｎ試料切換弁３Ｃ，の第１及び第６の接続ロａ、ｆ→
濃縮カラム４ Ｃｕ→第ｎ試料切換弁３ＣＴＬの第３及
び第２の接続ロｃ、ｂ→高濃度試料注入弁３Ｂの第１及
び第２の接続ロａ、ｂ→分離カラム５−＋検出器６を経
由する流路を洗浄する。更に、送液ポンプ２ Ｃ、〜２
Ｃ１Ｌが駆動すると、試料槽ＩＣ１〜ＩＣπ内の被測定
液（例えば数ＰＰｉ、の陽イオンを含む被測定液）が、
送液ポンプ２ Ｃ＋〜２Ｃ１→第１〜第ｎの試料切換弁
３ Ｃ１〜３ＣＴＬにそれぞれ設けられている第４及び
第５の接続口ｄ。
ｅを経由し、図示しない各々の廃液槽へと流れる。
この状態で、第２図に示す如く、最初（即ち、時間０分
のとき）に第１試料切換弁３ Ｃｔがオンにされ、次に
時間２０分のときに第２試料切換弁３Ｃ２がオンにされ
、以後順番に第３〜第ｎの試料切換弁３ Ｃ３〜３Ｃｕ
が２０分毎にオンにされてゆく、尚、第１〜第ｎの試料
切換弁３ Ｃ１〜３Ｃ１がオンにされると、試料槽ＩＣ
１〜１（，１内の被測定液は、送液ポンプ２Ｃ１〜２Ｃ
ＩＬ→第１〜第ｎの試料切換弁３０１〜３ＣＩＬにそれ
ぞれ設けられている第４及び第３の接続ロｄ、ｃ→第１
〜第ｎ：ａ縮カラム４ Ｃｔ〜４Ｃｕ→第４Ｃｕ→の試
料切換弁３ Ｃｔ〜３ＣＴＬにそれぞれ設けられている
第６及び第５の接続口ｆ、ｅを経由し、図示しない各々
の廃液槽へと流れる。・このため、第１〜第ｎの濃縮カ
ラム４０１〜４Ｃｕには第１〜第ｎの試料切換弁３ Ｃ
１〜３Ｃ亀がオフにされるまで被測定液が供給され、該
被測定液内の陽イオンが第１〜第ｎの濃縮カラム４Ｃ１
〜４ ＣＩＬで捕捉・濃縮されるようになっている。
のとき）に第１試料切換弁３ Ｃｔがオンにされ、次に
時間２０分のときに第２試料切換弁３Ｃ２がオンにされ
、以後順番に第３〜第ｎの試料切換弁３ Ｃ３〜３Ｃｕ
が２０分毎にオンにされてゆく、尚、第１〜第ｎの試料
切換弁３ Ｃ１〜３Ｃ１がオンにされると、試料槽ＩＣ
１〜１（，１内の被測定液は、送液ポンプ２Ｃ１〜２Ｃ
ＩＬ→第１〜第ｎの試料切換弁３０１〜３ＣＩＬにそれ
ぞれ設けられている第４及び第３の接続ロｄ、ｃ→第１
〜第ｎ：ａ縮カラム４ Ｃｔ〜４Ｃｕ→第４Ｃｕ→の試
料切換弁３ Ｃｔ〜３ＣＴＬにそれぞれ設けられている
第６及び第５の接続口ｆ、ｅを経由し、図示しない各々
の廃液槽へと流れる。・このため、第１〜第ｎの濃縮カ
ラム４０１〜４Ｃｕには第１〜第ｎの試料切換弁３ Ｃ
１〜３Ｃ亀がオフにされるまで被測定液が供給され、該
被測定液内の陽イオンが第１〜第ｎの濃縮カラム４Ｃ１
〜４ ＣＩＬで捕捉・濃縮されるようになっている。
上述のような状態で、第２図に示す如く、第１試料切換
弁３ Ｃ１はオンにされてから１００分後にオフにされ
る。このとき、送液ポンプ２ Ｃ＋の流量が２ ｒｒＬ
ｌ ／ ｍ ｉ ｎ 、であると、試料槽Ｉ Ｃを内の
被測定液が２ （ｍ１／ｍｉｎ、）ｘｌＯＯ（ｍｉ ｎ
、）＝２００ ＜ｍｌ）だけ第１濃縮カラム４ Ｃ、を
通過し該被測定液中の陽イオンが第１濃縮カラム４０１
に捕捉・濃縮される。その後、第１試料切換弁３Ｃ１が
オフにされると、第１：ａ縮カラム４ Ｃ１に捕捉・濃
縮されている陽イオンは上記溶離液に搬送され、第２試
料切換弁３Ｃ２の第１及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カ
ラム４Ｃ２→第２試料切換弁３Ｃ２の第３及び第２の接
続口ｃ、ｂ→・・・・・・・・・・・・→第ｎ試料切換
弁３Ｃｘの第１及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カラム４
Ｃｕ→第ｎ試料切換弁３ Ｃｘの第３及び第２の接続口
Ｃ１ｂ→高濃度試料注入弁３Ｂの第１及び第２の接続口
ａ、ｂを通り、分離カラム５に至ってクロマトグラフィ
ツクに分離される。該分離カラム５の溶出液は、検出器
６に導かれて例えば導電率が検出され、該検出信号に基
いて図示しない記録計などにクロマトグラムを描くよう
になる。このクロマトグラムによれば、１０分以内に１
価陽イオン（Ｌｆ＋イオン、Ｎａ＋イオ：ｙ、ＮＨ，＋
イオン。
弁３ Ｃ１はオンにされてから１００分後にオフにされ
る。このとき、送液ポンプ２ Ｃ＋の流量が２ ｒｒＬ
ｌ ／ ｍ ｉ ｎ 、であると、試料槽Ｉ Ｃを内の
被測定液が２ （ｍ１／ｍｉｎ、）ｘｌＯＯ（ｍｉ ｎ
、）＝２００ ＜ｍｌ）だけ第１濃縮カラム４ Ｃ、を
通過し該被測定液中の陽イオンが第１濃縮カラム４０１
に捕捉・濃縮される。その後、第１試料切換弁３Ｃ１が
オフにされると、第１：ａ縮カラム４ Ｃ１に捕捉・濃
縮されている陽イオンは上記溶離液に搬送され、第２試
料切換弁３Ｃ２の第１及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カ
ラム４Ｃ２→第２試料切換弁３Ｃ２の第３及び第２の接
続口ｃ、ｂ→・・・・・・・・・・・・→第ｎ試料切換
弁３Ｃｘの第１及び第６の接続ロａ、ｆ→濃縮カラム４
Ｃｕ→第ｎ試料切換弁３ Ｃｘの第３及び第２の接続口
Ｃ１ｂ→高濃度試料注入弁３Ｂの第１及び第２の接続口
ａ、ｂを通り、分離カラム５に至ってクロマトグラフィ
ツクに分離される。該分離カラム５の溶出液は、検出器
６に導かれて例えば導電率が検出され、該検出信号に基
いて図示しない記録計などにクロマトグラムを描くよう
になる。このクロマトグラムによれば、１０分以内に１
価陽イオン（Ｌｆ＋イオン、Ｎａ＋イオ：ｙ、ＮＨ，＋
イオン。
及びに＋イオンなど）が全て溶出することが確認できる
。しかし、２価陽イオンは濃縮カラムや分離カラムの内
部に充填されている陽イオン交換基に保持されたままと
なり、被測定液が新たに注入されると徐々に蓄積され、
やがて濃縮カラムや分離カラムのイオン交換容量が低下
するようになる。
。しかし、２価陽イオンは濃縮カラムや分離カラムの内
部に充填されている陽イオン交換基に保持されたままと
なり、被測定液が新たに注入されると徐々に蓄積され、
やがて濃縮カラムや分離カラムのイオン交換容量が低下
するようになる。
また、該イオン交換容量の低下に伴ない、１価陽イオン
の保持時間が減少するようになる。このような現象を防
止するため、上述のようにして１価陽イオンのクロマト
グラムが得られた直後に、洗浄液切換弁３Ａをオンにし
て前述のような洗浄液注入を行なって、濃縮カラムや分
離カラムの内部に充填されている陽イオン交換基に保持
された２価陽イオンを洗い流す、このような洗浄液注入
のタイミングは第２図に示す通りであり、第１試料切換
弁３Ｃ，をオフにしてから１０分後に洗浄液切換弁３Ａ
がオンにされる。
の保持時間が減少するようになる。このような現象を防
止するため、上述のようにして１価陽イオンのクロマト
グラムが得られた直後に、洗浄液切換弁３Ａをオンにし
て前述のような洗浄液注入を行なって、濃縮カラムや分
離カラムの内部に充填されている陽イオン交換基に保持
された２価陽イオンを洗い流す、このような洗浄液注入
のタイミングは第２図に示す通りであり、第１試料切換
弁３Ｃ，をオフにしてから１０分後に洗浄液切換弁３Ａ
がオンにされる。
第１試料切換弁３ Ｃ＋がオフになった後、２０分毎に
第２〜第ｎの試料切換弁３Ｃ２〜３Ｃｕが次々とオフに
される。尚、第２図の（ハ）工程における番号１〜６は
上記クロマトグラムの試料番号を示しており、該当する
時間ＩＦ（１０分間）に分離カラム５から溶出している
陽イオンによるクロマトグラムがどの試料によるクロマ
トグラムであるかを示している。このようにして第１〜
第ｎの試料Ｍｌ Ｉ Ｃｔ〜ＩＣｕ内の被測定液に含ま
れている１価陽イオンを夫々の濃縮カラムに次々に捕捉
・濃縮して該１価陽イオンをクロマトグラフィツクに測
定することができるようになる。
第２〜第ｎの試料切換弁３Ｃ２〜３Ｃｕが次々とオフに
される。尚、第２図の（ハ）工程における番号１〜６は
上記クロマトグラムの試料番号を示しており、該当する
時間ＩＦ（１０分間）に分離カラム５から溶出している
陽イオンによるクロマトグラムがどの試料によるクロマ
トグラムであるかを示している。このようにして第１〜
第ｎの試料Ｍｌ Ｉ Ｃｔ〜ＩＣｕ内の被測定液に含ま
れている１価陽イオンを夫々の濃縮カラムに次々に捕捉
・濃縮して該１価陽イオンをクロマトグラフィツクに測
定することができるようになる。
更に、第１試料切換弁３ Ｃｓが最初にオンにされてか
ら１２０分後、すなわち第６試料切換弁３Ｃ６がオフに
なってから２０分後に第１試料切換弁３ Ｃｔが再びオ
ンにされる。この場合、洗浄液切換弁３Ａがオンされる
時間は５分間とし、洗浄液切換弁３Ａが最初にオンにな
ってから２０分毎にオンされるようにする。このように
することで、第１〜第ｎの試料槽ＩＣ１〜ＩＣＴＬ内の
被測定液に含まれている１価陽イオンを夫々２回ずつ測
定することができる。尚、第２図のタイムチャートは第
１〜第６の試料槽ＩＣＩ〜ＩＣｓ内の被測定液に含まれ
ている１価陽イオンを夫々２回ずつ測定する場合を示し
ている。また、測定を中止するには、第１〜第ｎの試料
切換弁３Ｃ１〜３ＣＩＬがオフにされたのち再びオンに
するのを中止すれば良い。
ら１２０分後、すなわち第６試料切換弁３Ｃ６がオフに
なってから２０分後に第１試料切換弁３ Ｃｔが再びオ
ンにされる。この場合、洗浄液切換弁３Ａがオンされる
時間は５分間とし、洗浄液切換弁３Ａが最初にオンにな
ってから２０分毎にオンされるようにする。このように
することで、第１〜第ｎの試料槽ＩＣ１〜ＩＣＴＬ内の
被測定液に含まれている１価陽イオンを夫々２回ずつ測
定することができる。尚、第２図のタイムチャートは第
１〜第６の試料槽ＩＣＩ〜ＩＣｓ内の被測定液に含まれ
ている１価陽イオンを夫々２回ずつ測定する場合を示し
ている。また、測定を中止するには、第１〜第ｎの試料
切換弁３Ｃ１〜３ＣＩＬがオフにされたのち再びオンに
するのを中止すれば良い。
尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく種々の
変形が可能であり、例えば次の（イ）〜（ハ）のように
変形しても良いものとする。
変形が可能であり、例えば次の（イ）〜（ハ）のように
変形しても良いものとする。
（イ）第１〜第ｎの試料槽ＩＣ１〜ＩＣＴＬを使用ぜず
、オンライン接続されたプロセスサンプルに含まれてい
る１価陽イオンを連続的に測定する。
、オンライン接続されたプロセスサンプルに含まれてい
る１価陽イオンを連続的に測定する。
（ロ）送液ポンプ２ Ｃ１〜２Ｃ１Ｌの入口側に同一組
成の被測定液を供給し、濃縮に１００分間必要な場合で
あっても、１００分間に０回上記クロマトグラムを得る
ようにする。
成の被測定液を供給し、濃縮に１００分間必要な場合で
あっても、１００分間に０回上記クロマトグラムを得る
ようにする。
（ハ）例えば４７７ｆ、Ｍエチレンジアミン７２ｍＭ酒
石酸でなる溶離液を使用し２価陽イオンを測定する。こ
の場合、上記洗浄液は不要となる。
石酸でなる溶離液を使用し２価陽イオンを測定する。こ
の場合、上記洗浄液は不要となる。
〈発明の効果〉
以上詳しく説明したような本発明の実施例によれば、濃
縮カラム、切換弁、及び送液ポンプ等が１組しかない場
合も一定時間（例えば２０分間）毎に繰り返して被測定
液中の陽イオンを複数回測定でき、イオンクロマトグラ
フィを用いて被測定液中の陽イオンを正確に分析できる
方法が実現する。
縮カラム、切換弁、及び送液ポンプ等が１組しかない場
合も一定時間（例えば２０分間）毎に繰り返して被測定
液中の陽イオンを複数回測定でき、イオンクロマトグラ
フィを用いて被測定液中の陽イオンを正確に分析できる
方法が実現する。
第１図は本発明の詳細な説明するためのイオン分析装置
の構成説明図、第２図は本発明の実施例の動作を説明す
るためのタイムチャートである。 ＩＡ、ＩＢ、ｔｃ、〜ＩＣＴＬ・・・・・・槽２Ａ、２
Ｂ、２Ｃ１〜２ ＣＴＬ・・・・・・送液ポンプ３ Ａ
、 ３ Ｂ 、 ３ Ｃ１〜３ ＣＴＬ ・” ”’
切換弁４Ｃ１〜４ＣＴＬ・・・・・・濃縮カラム５・・
・・・・分離カラム、６・・・・・・検出器７・・・・
・・恒温槽
の構成説明図、第２図は本発明の実施例の動作を説明す
るためのタイムチャートである。 ＩＡ、ＩＢ、ｔｃ、〜ＩＣＴＬ・・・・・・槽２Ａ、２
Ｂ、２Ｃ１〜２ ＣＴＬ・・・・・・送液ポンプ３ Ａ
、 ３ Ｂ 、 ３ Ｃ１〜３ ＣＴＬ ・” ”’
切換弁４Ｃ１〜４ＣＴＬ・・・・・・濃縮カラム５・・
・・・・分離カラム、６・・・・・・検出器７・・・・
・・恒温槽
Claims (1)
- 被測定液を濃縮する濃縮カラムを有し該濃縮された被
測定液を一定量採取する試料切換弁を溶離液が流れる流
路に複数個直列的に配置し、これらの試料採取弁を順番
に切り換えて前記被測定液を一定時間間隔で順番に採取
し、その後、該被測定液を分離カラムに導いて該被測定
液中の陽イオンをクロマトグラフ的に分離し、該分離カ
ラムから溶出する液の導電率を検出すると共に、洗浄液
切換弁に設けられた一定の内容積を有する計量管内に供
給された洗浄液を前記溶離液が流れる流路に流して前記
濃縮カラム及び分離カラムを必要に応じて洗浄し、前記
被測定液中の極低濃度の陽イオンを測定することを特徴
とする極低濃度陽イオンの測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301944A JPH0820427B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 陽イオン分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301944A JPH0820427B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 陽イオン分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01142458A true JPH01142458A (ja) | 1989-06-05 |
| JPH0820427B2 JPH0820427B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17902990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62301944A Expired - Lifetime JPH0820427B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 陽イオン分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820427B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5338958A (en) * | 1976-09-22 | 1978-04-10 | Nippon Gakki Seizo Kk | Monostable multi-vibrator circuit |
| JPS6263859A (ja) * | 1985-09-13 | 1987-03-20 | Shimadzu Corp | ホモバニリン酸及びバニルマンデル酸の自動分析装置 |
| JPS62108155A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ装置 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP62301944A patent/JPH0820427B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5338958A (en) * | 1976-09-22 | 1978-04-10 | Nippon Gakki Seizo Kk | Monostable multi-vibrator circuit |
| JPS6263859A (ja) * | 1985-09-13 | 1987-03-20 | Shimadzu Corp | ホモバニリン酸及びバニルマンデル酸の自動分析装置 |
| JPS62108155A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820427B2 (ja) | 1996-03-04 |
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