JPH01140256A - メモリパリティチェック方法 - Google Patents

メモリパリティチェック方法

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Publication number
JPH01140256A
JPH01140256A JP62298332A JP29833287A JPH01140256A JP H01140256 A JPH01140256 A JP H01140256A JP 62298332 A JP62298332 A JP 62298332A JP 29833287 A JP29833287 A JP 29833287A JP H01140256 A JPH01140256 A JP H01140256A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
memory
parity
circuit
address
Prior art date
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Pending
Application number
JP62298332A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Honma
本間 正広
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 メモリデータのパリティチェック方法に関し、パリティ
データと必要なデータをメモリのビット方向ではなく、
ワード方向に収容することによりメモリ領域を有効に使
用することを目的とし、データをアクセスするためのア
ドレス発生回路と、アクセスタイム後に出力されたデー
タをラッチするラッチ回路と、ラッチするタイミングを
発生するラッチ制御回路と、前記ラッチしたデータと対
応するパリティデータをチェックするパリティチェック
回路とより構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、メモリデータのパリティチェック方法に関し
、特にパリティデータと必要なデータをメモリのビット
方向ではなく、ワード方向に収容する方法に関する。
一般にパリティチェックとはビット情報の誤りを検出し
たり、訂正したりするためにパリティピントを付加して
チェックする方法上、単一誤りの検出には余分のビット
を1つ加えて、各ワードにおける1のビットの総数を奇
数にするか偶数にするかにより、その符号が誤りかどう
かを判断している。しかしこの方法はどの情報が誤りか
どうかを判断するだけで、誤りが何ビットめであるかど
うかを検出するためには、検査用のビットを例えば3ビ
ツト付加して1ビツト毎の誤りを検出して訂正すること
が可能なハミングコード形式のチェック方法がある。
しかし音声データのような場合、例えば交換機の受話器
上げ時の発信音や話中音をデジタル的に発生するのに使
用される400Hz、 800Hz、 IKHz等の信
号の断続(2i 1)や連続回路においては、それほど
正確なチェックは必要としない。
したがってデータもアナログ信号を8ビツトのデジタル
信号に変換してROMに挿入しており、8ビツトのデー
タがこわれているかどうかをチェックするため1ビツト
を付加して、9ビツトで読み出しエラーチェックを行っ
ている。
〔従来の技術〕
従来のメモリパリティチェック方法の概要を第3図(a
)に示す。8ビツトのデータを格納するメモリ1と、1
ビツトのパリティビットを格納するメモリ2からなり、
いずれもIK=2”ビットのワードを識別する10本の
アドレスを持つメモリから成り立っている。同一アドレ
スに対してメモリ1の8ビツトデータと、メモリ2のパ
リティビット1ビツトとを付加して、9ビット符号で読
み出しパリティチェックを行っている。
第3図(b)に従来例のメモリ構成図を示す。
メモリ1とメモリ2は8ビツトXIKのメモリを構成す
る。それぞれ八〇〜A、の10本のアドレス端子と、0
0〜D、の8本の読み取り端子から成り立つ。
例えばアドレスA、に対してメモリ1の読み取りデータ
D0〜D、とメモリ2の読み取りデータD0とをビット
方向に付加して9ビット符号によりパリティチェックを
行い、データにエラーが発生しているかどうかをチェッ
クする。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のパリティチェック方法では、パリティデータは必
要とするデータに対してそれぞれ付加するものであるた
め、ワード数としてはメモリデータと同じになる。そこ
で本来必要とするメモリのワード数に対して、パリティ
を付加すればその2倍のワード数が必要となる。この方
法ではメモリ2のパリティビットの収容がアドレス毎に
1ビツトであるため、残りの7ビツトが空きになり、実
装密度でも有利とは言えなかった。
〔問題点を解決するための手段〕
したがって本来必要であるワード数の2倍以上のワード
数を持つメモリを用意すれば、全データは完全に収容出
来る。即ちパリティデータと必要なデータとを、ビット
方向ではなくワード方向に収容し、その収容方法に適し
た簡単な制御回路を作ることによりメモリアクセスを行
い、今までの1/2のメモリ数で従来と同じパリティチ
ェックを行うことが出来る。
第1図に本発明の原理図を示す。図において、lはメモ
リ (ROMまたはRAM) 、2はアドレス発生回路
、3はラッチ制御回路、4はラッチ回路、5はパリティ
チェック回路を示す。尚メモリは2に=2”ビットアド
レスのメモリでよく、前半に必要なデータ、後半にパリ
ティデータを収容する。
〔作用〕
メモリのアクセス手順は以下の通りに行う。先ずアドレ
ス発生回路2は8ビツトのデータをアクセスするための
アドレスを作り、メモリlに与える。これによりメモリ
のアクセスタイム後に出力されたデータを先ずラッチ回
路4によりラッチする。このタイミングはアクセスタイ
ムを考慮してラッチ制御回路3により発生される。この
後アドレス発生回路2は今ラッチしたデータに対応する
パリティデータのアドレスを発生する。この場合はメモ
リ1のアドレスの最上位ビットを変更するだけで良い。
こうして読み出したパリティデータと前にラッチした8
ビツトのデータとを、パリティチェック回路5へ人力す
ることによりメモリのパリティチェックが終了する。
〔実施例〕
本発明の実施例の概要図を第2図(a)に示す。
図において、構成は第1図と同一であるが、メモリlは
RAMでもROMでも適用出来るが、実施例のようにR
OMで構成した時に最も効果的になる。即ちROMは実
装面積が大きく且つリードのみなので制御が簡単である
為である。ROMが2にのアドレスならば(2°〜21
0)の11本のアドレスの中、最上位桁210のアドレ
スの一番上位ビットがOであるか1であるかにより、8
ビツトデータの領域か1ビツトパリテイの領域かを判定
する。2°〜29の10本のアドレスは共通で、最上位
桁のアドレスの違いだけで成るデータに対するパリティ
データが読み出せる。
即ちアドレス発生回路2によりデータ部分のアドレスを
生成し、データ部分の8ビツトを読み取りランチ回路4
に留置しておく。このタイミングはアクセスタイムを考
慮でランチ制御回路3により発生される。次にデータ部
分に対応するパリティ部分のアドレスをアドレス発生回
路2により生成し、パリティ部分の1ビツトを読み取り
、先にラッチ回路4にラッチしておいた8ビツトデータ
と共に、パリティチェック回路5に入力してエラーチェ
ックを行い、エラーがあればエラー信号を発生する。
第合図(b)に実施例のメモリ構成図を示す。
メモリは8ビツトX2にのワードを識別する11本のア
ドレスを有するメモリで、八。〜A1゜の11本のアド
レス端子と00〜D、の8本の読み取り端子からなり、
メモリ領域はそれぞれ8ビツトXIKのデータ領域とパ
リティ領域とに分割される。アドレス端子Aleはそれ
ぞれのメモリ領域のC8端子に接続され、入力信号の最
初のビー/ トが0か1かによりデータ領域かパリティ
領域かを識別して領域選定を行う。したがってデータA
、アドレス端子に入力があれば最初にデータD0〜D、
を読み取りラッチして、その後パリティ領域のパリティ
データD0を読み取りワード方向のパリティチェックを
行う。
なおメモリにおけるデータとパリティの収容方法はアド
レスの使い方によっていくつかの方法が考えられる。即
ちメモリの上半分と下半分に分ける方法や、データとパ
リティを1つおきに収容する方法等があり、収容変更に
よる制御部の変更はデータのランチ回路とアドレスビッ
トの使い方の変更等で最小限に行うことが出来る。
〔発明の効果〕
本発明により従来と同じパリティチェックが簡単な制御
回路を使うことにより行われ、且つメモリ数を半減する
ことが出来、実装上有利になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理図、第2図(a)と(b)は本発
明の実施例の概要図とメモリ構成図、第3図(a)と(
b)は従来例の概要図とメモリ構成図を示す。 図において、lはメモリ (ROM又はRAM)、2は
アドレス発生回路、3はラッチ制御回路、4はラッチ回
路、5はパリティチェック回路を示す。 (a)本発明の実施例概要図 (a)従来例の概要図 第3図 (b)従来例のメモリ構成図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 メモリデータのパリテイチェック方法に関し、メモリ(
    1)のデータをアクセスするためのアドレス発生回路(
    2)と、アクセスタイム後に出力されたデータをラッチ
    するラッチ回路(4)と、ラッチするタイミングを発生
    するラッチ制御回路(3)と、前記ラッチしたデータと
    対応するパリテイデータをチェックするパリテイチェッ
    ク回路(5)とから構成し、 パリテイデータと必要なデータをメモリのビット方向で
    はなく、ワード方向領域に分割収容することを特徴とす
    るメモリパリテイチェック方法。
JP62298332A 1987-11-26 1987-11-26 メモリパリティチェック方法 Pending JPH01140256A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62298332A JPH01140256A (ja) 1987-11-26 1987-11-26 メモリパリティチェック方法

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JP62298332A JPH01140256A (ja) 1987-11-26 1987-11-26 メモリパリティチェック方法

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JPH01140256A true JPH01140256A (ja) 1989-06-01

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JP62298332A Pending JPH01140256A (ja) 1987-11-26 1987-11-26 メモリパリティチェック方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000016198A1 (fr) * 1998-09-14 2000-03-23 Fujitsu Limited Procede de diagnostic d'erreur de memoire et de recuperation de donnees, et dispositif de memoire utilisant ce procede

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS551658A (en) * 1978-06-20 1980-01-08 Komatsu Ltd Parity inspection unit

Patent Citations (1)

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