JPH01137550A - 液体クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

液体クロマトグラフ質量分析装置

Info

Publication number
JPH01137550A
JPH01137550A JP62296489A JP29648987A JPH01137550A JP H01137550 A JPH01137550 A JP H01137550A JP 62296489 A JP62296489 A JP 62296489A JP 29648987 A JP29648987 A JP 29648987A JP H01137550 A JPH01137550 A JP H01137550A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
sample
tip
introduction tube
heating chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62296489A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiichiro Otsuka
大塚 紀一郎
Tsutomu Kobayashi
勉 小林
Norio Mizuno
水野 悳夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP62296489A priority Critical patent/JPH01137550A/ja
Publication of JPH01137550A publication Critical patent/JPH01137550A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明は液体クロマトグラフからの試料液をオンライン
で質量分析装置のイオン化室に直接導入するための試料
導入装置に関し、特に多孔性部材に試料液を滲出させ一
次粒子線衝撃により試料をイオン化する装置に使用して
好適な試料導入装置に関するものである。
[従来の技術] 液体クロマトグラフで分離した試料液を質8分析装置に
直接導入する方式のイオン源として第3図に示すような
構造のものが知られている。
第3図において1は質量分析装置のイオン源、2はイオ
ン化室、3はイオン化室2内で生成されたイオンの加速
と集束を行なうスリット電極、4は一次粒子線発生器、
5は液体クロマトグラフ、6は液体クロマトグラフ5で
分離された試料液をイオン化室2内へ導入するための導
入管、7は多孔性部材ターゲット、8は導入管と多孔性
部材ターゲットを接続するために導入管先端部に被せら
れるガイド管、9はヒーターである。
このような構成において、液体クロマトグラフ5で分離
された試料液は先端部分に多孔性部材9の取り付けられ
た導入管を介して順次イオン化室2内に導入され、該導
入管先端に取り付けられている多孔性部材ターゲット7
の中を通って表面へ滲出する。ここで、多孔性部材ター
ゲット7はヒーター9によって適宜な温度に加熱されて
いるため沸点の低い溶媒が優先的に気化し、沸点の高い
試料成分は比較的ゆっくりと気化する。その結果、相対
的にターゲット表面における試料成分の濃度が高まる。
ターゲット表面に滲出した試料液は、−泡粒子線発生器
4からの一次粒子線Bの衝撃を受けてイオン化され、生
成されたイオンはスリット電極3を介して質量分析場へ
導入されて質量分析される。
[発明が解決しようとする問題点] 前述のような構成の所謂液体クロマトグラフ質量分析装
置においては、液体クロマトグラフ5で分離されて送出
される試料液の分離状態を維持したまま質量分析装置の
イオン源に導入することが要求されている。即ち、液体
クロマトグラフの送出部分でのクロマトグラムピークの
広がりと、導入管6の先端の多孔性部材取り付は部分へ
到達した試料液のクロマトグラムビークの広がりとが一
致していることが望ましい。ところが、液体クロマトグ
ラフ5から一定の流量で試料液を送出しても、液体クロ
マトグラフと質m分析装置を接続する導入管のジヨイン
ト部分や導入管と多孔性部材とを接続する部分において
デッドボリウムが発生するため、液体クロマトグラフ送
出部でのクロマトグラムビークに対して、導入管6の先
端の多孔性部材取り付は部分でピークが広がってしまう
という問題が生じていた。
この問題は試料液の流速を増すことにより多少改善され
るので、導入管の管径を細くして試料液の流速を増すこ
とが考えられる。しかし、この場合導入管のジヨイント
部分の構造も微細化するため、導入管の接続が難しくな
り該接続部分でデッドボリウムが更に多く発生すること
になる。
本発明は、導入管中に加熱室を設は試料液を加熱して送
出することにより上記問題点を克服した試料導入装置を
提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、イオン化室と、液体クロマトグラフから該イ
オン化室へ試料液を導入するための導入管と、該導入管
の先端に取り付けられ試料液が滲出する多孔性部材ター
ゲットと、該ターゲット表面に滲出した試料液に向けて
一次粒子線を照射する一次粒子線発生源とを備え、該一
次粒子線の衝撃により試料をイオン化するようにした装
置において、前記液体クロマトグラフと前記ターゲット
との間の導入管中に加熱室を設け、該加熱室において液
体クロマトグラフから送出される移動液相を加熱して導
入管の先端へ送出するようにしたことを特徴とする。
[作用] 本発明においては、液体クロマトグラフと前記ターゲッ
トとの間の導入管中に加熱室を設け、該加熱室において
液体クロマトグラフから送出される移動液相を加熱して
導入管の先端へ送出する流1を増すことにより、導入管
の先端部におけるクロマトグラムピークの広がりを抑制
するようにしている。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は本発明の第1の実施例を説明するための装置構成図
、第2図は本発明の第2の実施例を説明するための装置
構成図である。第1図及び第2図において第3図と同一
の構成要素には同一番号を付しである。
まず、第1図に示す第1の実施例が従来例と異なるのは
、液体クロマトグラフとイオン源との間の導入管中に加
熱室及びヒーターを設けた点である。
液体クロマトグラフ5から送出された試料液はヒーター
11によって加熱された加熱室10に導入される。該加
熱室10において試料液を気液臨界温度付近まで加熱す
ることにより、該試料液はその一部が気化することによ
る体積膨張を伴い、気化ガス中に0.1乃至1μm程度
の液滴が存在する状態となりイオン化室方向へ液体より
速い線流速で送出される。液滴状態で送出された試料液
はヒーター9によって適宜な温度に加熱されているター
ゲットに導入されて沸点の低い溶媒を優先的に気化し、
沸点の高い試料成分は比較的ゆっくりと気化させて、相
対的にターゲット表面における試料成分の濃度を高めタ
ーゲット表面に滲出させる。ターゲット表面に滲出した
試料液は、一次粒子線発生器4からの一次粒子線Bの衝
撃を受けてイオン化され、生成されたイオンはスリット
電極3を介して質量分析場へ導入されて質量分析される
次に、第2図に示す第2の実施例が第1の実施例と異な
るのは、イオン源1内部の導入管及びガイド管を多孔性
の管とした点である。
該加熱室10において試料液を気液臨界温度付近まで加
熱することにより、該試料液は体積膨脂を伴い0.1乃
至1μm程度の液滴状態となりイオン化室方向へ送出さ
れるが、該送出される試料中には液滴から弾き出され分
子状態で存在する溶媒も含まれている。
そこで本実施例では、加熱室1oから送出される試料液
の内、液滴から弾き出された溶媒分子をイオン源1内部
の多孔性の導入管及びガイド管部分において減圧状態の
イオン源1側へ蒸発除去し、多孔性部材ターゲット7に
導入する試料の濃度を高めるようにしている。
[発明の効果コ 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、液体
クロマトグラフと前記ターゲットとの間の導入管中に加
熱室を設け、該加熱室において液体クロマトグラフから
送出される移動液相を加熱することにより、試料液を体
積膨脂を伴う0.1乃至1μm程度の液滴状態で液体状
態より速く導入管の先端へ送出することが可能となった
。そのため、液体クロマトグラフで分離された試料液の
状態を維持したままイオン源内のイオン化室に試料液を
導入することができ、導入管の先端部でのクロマトグラ
ムビークの広がりが抑制されるので、正確な質量分析を
行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を説明するための装置構
成図、第2図は本発明の第2の実施例を説明するための
装置構成図、第3図は従来例を説明するための図である
。 1:イオン源 2:イオン化室 3ニスリツト電極 4ニ一次粒子線発生器 5:液体クロマトグラフ 6:導入管 7:多孔性部材ターゲット 8ニガイド管 9:ターゲット用ヒーター 10:加熱室 11:加熱室用ヒーター 特許出願人    日本電子株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. イオン化室と、液体クロマトグラフから該イオン化室へ
    試料液を導入するための導入管と、該導入管の先端に取
    り付けられ試料液が滲出する多孔性部材ターゲットと、
    該ターゲット表面に滲出した試料液に向けて一次粒子線
    を照射する一次粒子線発生源とを備え、該一次粒子線の
    衝撃により試料をイオン化するようにした装置において
    、前記液体クロマトグラフと前記ターゲットとの間の導
    入管中に加熱室を設け、該加熱室において液体クロマト
    グラフから送出される移動液相を加熱して導入管の先端
    へ送出するようにしたことを特徴とする液体クロマトグ
    ラフ質量分析装置。
JP62296489A 1987-11-25 1987-11-25 液体クロマトグラフ質量分析装置 Pending JPH01137550A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62296489A JPH01137550A (ja) 1987-11-25 1987-11-25 液体クロマトグラフ質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62296489A JPH01137550A (ja) 1987-11-25 1987-11-25 液体クロマトグラフ質量分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01137550A true JPH01137550A (ja) 1989-05-30

Family

ID=17834217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62296489A Pending JPH01137550A (ja) 1987-11-25 1987-11-25 液体クロマトグラフ質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01137550A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299454A (ja) * 1988-05-27 1989-12-04 Hitachi Ltd 大気圧イオン化質量分析計

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299454A (ja) * 1988-05-27 1989-12-04 Hitachi Ltd 大気圧イオン化質量分析計

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4999493A (en) Electrospray ionization interface and method for mass spectrometry
US10446380B2 (en) IRMS sample introduction system and method
US8704170B2 (en) Method and apparatus for generating and analyzing ions
US6278111B1 (en) Electrospray for chemical analysis
US4977785A (en) Method and apparatus for introduction of fluid streams into mass spectrometers and other gas phase detectors
JP5016191B2 (ja) 多モードイオン化源、およびこれを用いてイオンを生じる方法ならびに多モードイオン化質量分析計
US7259368B2 (en) Apparatus for delivering ions from a grounded electrospray assembly to a vacuum chamber
JP2902197B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
JP2021517348A (ja) 複数ガス流のイオン化装置
GB2394830A (en) Electrospray mass spectrometer
US6646255B2 (en) Liquid chromatograph/mass spectrometer and its ionization interface
JP6620896B2 (ja) イオン化装置及び質量分析装置
WO2005036584A1 (ja) スプレーグロー放電イオン化方法及び装置
JPH01137550A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
US10466214B2 (en) Ionization device
JP6747602B2 (ja) イオン源及びイオン分析装置
WO2011131142A1 (zh) 一种产生、分析离子的方法与装置
Albrecht Development of a highly sensitive and versatile mass spectrometer system for laboratory and atmospheric measurements
JPH11230957A (ja) Lc/msインタフェース
JP2023549819A (ja) 液体クロマトグラフィー、イオン化装置、及び質量分析器の間のインターフェースおよびそれを用いた試料分析方法
JPH08278286A (ja) 大気圧イオン化質量分析計
JP6229797B2 (ja) イオン化装置
JP2001041930A (ja) 試料溶液のイオン化方法
CN116615650A (zh) 离子源及具备该离子源的质谱仪
JPH085624A (ja) 質量分析計への試料導入方法