JPH01126032A - Apdのバイアス回路 - Google Patents
Apdのバイアス回路Info
- Publication number
- JPH01126032A JPH01126032A JP62283150A JP28315087A JPH01126032A JP H01126032 A JPH01126032 A JP H01126032A JP 62283150 A JP62283150 A JP 62283150A JP 28315087 A JP28315087 A JP 28315087A JP H01126032 A JPH01126032 A JP H01126032A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- temperature
- apd
- temperature compensation
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 101710170231 Antimicrobial peptide 2 Proteins 0.000 description 2
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 101710170230 Antimicrobial peptide 1 Proteins 0.000 description 1
- AVKUERGKIZMTKX-NJBDSQKTSA-N ampicillin Chemical compound C1([C@@H](N)C(=O)N[C@H]2[C@H]3SC([C@@H](N3C2=O)C(O)=O)(C)C)=CC=CC=C1 AVKUERGKIZMTKX-NJBDSQKTSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/60—Receivers
- H04B10/66—Non-coherent receivers, e.g. using direct detection
- H04B10/69—Electrical arrangements in the receiver
- H04B10/691—Arrangements for optimizing the photodetector in the receiver
- H04B10/6911—Photodiode bias control, e.g. for compensating temperature variations
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光通信に関し、特にAPD(アバランシェフォ
トダイオード、以下APDと呼ぶ)を受光素子とした光
受信回路の中のAPDバイアス回路に関する。
トダイオード、以下APDと呼ぶ)を受光素子とした光
受信回路の中のAPDバイアス回路に関する。
従来、この種のAPDバイアス回路としては。
電気信号に変換された光信号の変動を検出してAPDO
増倍率を負帰還により制御するFULL −AGCとい
う方法がある。
増倍率を負帰還により制御するFULL −AGCとい
う方法がある。
上述した従来の技術は、光の入力レベル変動によるAP
Dを流れる電流の変動と温度変化によるAPDのブレー
クダウン電圧の温度変動の両方を補償できるという利点
がある。しかし、負帰還制御であるので9発振を防ぐた
め時定数をあまり小さくすることができない。これは、
電源のオン、オフ光入力の急激な変動に対する応答がお
そいという欠点を意味する。
Dを流れる電流の変動と温度変化によるAPDのブレー
クダウン電圧の温度変動の両方を補償できるという利点
がある。しかし、負帰還制御であるので9発振を防ぐた
め時定数をあまり小さくすることができない。これは、
電源のオン、オフ光入力の急激な変動に対する応答がお
そいという欠点を意味する。
本発明はAPDを受光素子とする光受信回路において、
前記ApDにバイアス電圧を与える高電圧発生回路とし
て、出力電圧を制御することのできる制御端子付直流変
圧回路と、基準電圧を入力とする温度補償回路、および
前記直流変圧回路の出力を入力とする第1の入力端子と
前記温度補償回路の出力を入力とする第2の入力端子と
を有し出力が前記直流変圧回路の制御端子に接続された
増幅回路とを備えたことを特徴とする。
前記ApDにバイアス電圧を与える高電圧発生回路とし
て、出力電圧を制御することのできる制御端子付直流変
圧回路と、基準電圧を入力とする温度補償回路、および
前記直流変圧回路の出力を入力とする第1の入力端子と
前記温度補償回路の出力を入力とする第2の入力端子と
を有し出力が前記直流変圧回路の制御端子に接続された
増幅回路とを備えたことを特徴とする。
以下に本発明の詳細な説明する。
本発明によるApDのバイアス回路は、第1図に示すよ
うに、直流変圧回路1.増幅回路2゜APDの温度変動
による特性変動を補償する温度補償回路3から構成され
る。
うに、直流変圧回路1.増幅回路2゜APDの温度変動
による特性変動を補償する温度補償回路3から構成され
る。
直流変圧回路1の出力は、常に温度補償回路3の出力に
比例するように増幅回路2により制御がかけられている
。すなわち、温度が一定のとき温度補償回路3の出力は
一定となるので。
比例するように増幅回路2により制御がかけられている
。すなわち、温度が一定のとき温度補償回路3の出力は
一定となるので。
直流変圧回路1の出力はAPDの電流変動に対し安定化
されている。温度補償回路3は、 APDのブレークダ
ウン電圧の温度係数に一致するように設定されている。
されている。温度補償回路3は、 APDのブレークダ
ウン電圧の温度係数に一致するように設定されている。
これによシ、直流変圧回路1の出力は、APDのブレー
クダウン電圧の温度変動を補償することができる。
クダウン電圧の温度変動を補償することができる。
第2図は第1図の構成を詳細に表わす回路図である。直
流変圧回路1は発振回路等を含む周知の回路である。増
幅回路2は抵抗器R1,R2゜R6,R7および演算増
幅器AMP 2からなり、温度補償回路3は抵抗器R3
,R4,R5とAPDの近くに配設されたダイオードR
CIおよび演算増幅器AMPIからなる。
流変圧回路1は発振回路等を含む周知の回路である。増
幅回路2は抵抗器R1,R2゜R6,R7および演算増
幅器AMP 2からなり、温度補償回路3は抵抗器R3
,R4,R5とAPDの近くに配設されたダイオードR
CIおよび演算増幅器AMPIからなる。
温度補償回路3は、ダイオードRCIの順方向電圧の温
度変動を抵抗器R3,R5および演算増幅器AMP 1
からなる反転増幅回路で増幅することにより任意の温度
係数を設定できる。一方。
度変動を抵抗器R3,R5および演算増幅器AMP 1
からなる反転増幅回路で増幅することにより任意の温度
係数を設定できる。一方。
抵抗器R1,R2によシ分圧された直流変圧回路1の出
力は、温度補償回路3の出力に比例するように、抵抗器
R6,R7と演算増幅器AMP2よりなる増幅回路2に
よシ制御される。すなわち。
力は、温度補償回路3の出力に比例するように、抵抗器
R6,R7と演算増幅器AMP2よりなる増幅回路2に
よシ制御される。すなわち。
温度が一定のときは温度補償回路3の出力は−れる。温
度補償回路3は、APDのブレークダウン電圧の温度係
数に一致するように設定され。
度補償回路3は、APDのブレークダウン電圧の温度係
数に一致するように設定され。
温度の変動に応じて出力が変化する。これにより直流変
圧回路1の出力は、 APDのブレークダウン電圧の温
度変動を補償することができる。
圧回路1の出力は、 APDのブレークダウン電圧の温
度変動を補償することができる。
以上説明したように本発明は、光入力レベルの変動によ
るAPDを流れる電流の変動に対し出力電圧を安定化し
、 APDのブレークダウン電圧の温度補償を行なうこ
とができる。しかも。
るAPDを流れる電流の変動に対し出力電圧を安定化し
、 APDのブレークダウン電圧の温度補償を行なうこ
とができる。しかも。
Full−AGCのような帰還ループを持たないため、
応答時間を早くすることができる利点を持つ。
応答時間を早くすることができる利点を持つ。
第1図は本発明の基本構成を示すブロック図。
第2図は第1図を詳細に示す回路図である。
1・・・直流変圧回路、2・・・増幅回路、3・・・温
度補償回路。
度補償回路。
Claims (1)
- 1、APDを受光素子とする光受信回路において、前記
APDにバイアス電圧を与える高電圧発生回路として、
出力電圧を制御することのできる制御端子付直流変圧回
路と、基準電圧を入力とする温度補償回路、および前記
直流変圧回路の出力を入力とする第1の入力端子と前記
温度補償回路の出力を入力とする第2の入力端子とを有
し出力が前記直流変圧回路の制御端子に接続された増幅
回路とを備えたことを特徴とするAPDのバイアス回路
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62283150A JPH01126032A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | Apdのバイアス回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62283150A JPH01126032A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | Apdのバイアス回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01126032A true JPH01126032A (ja) | 1989-05-18 |
Family
ID=17661860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62283150A Pending JPH01126032A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | Apdのバイアス回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01126032A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5587684A (en) * | 1995-05-12 | 1996-12-24 | Exar Corporation | Power down circuit for use in intergrated circuits |
US7556884B2 (en) | 2001-09-27 | 2009-07-07 | Sony Corporation | Battery pack and thermostat used therefor |
US8178235B2 (en) * | 2005-04-26 | 2012-05-15 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Battery with cap plate having inclined edge |
-
1987
- 1987-11-11 JP JP62283150A patent/JPH01126032A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5587684A (en) * | 1995-05-12 | 1996-12-24 | Exar Corporation | Power down circuit for use in intergrated circuits |
US7556884B2 (en) | 2001-09-27 | 2009-07-07 | Sony Corporation | Battery pack and thermostat used therefor |
US8178235B2 (en) * | 2005-04-26 | 2012-05-15 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Battery with cap plate having inclined edge |
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