JPH01121728A - 放射温度測定装置 - Google Patents
放射温度測定装置Info
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- JPH01121728A JPH01121728A JP62278289A JP27828987A JPH01121728A JP H01121728 A JPH01121728 A JP H01121728A JP 62278289 A JP62278289 A JP 62278289A JP 27828987 A JP27828987 A JP 27828987A JP H01121728 A JPH01121728 A JP H01121728A
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- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
-
- G—PHYSICS
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- G01J5/02—Constructional details
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- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
- G01J5/802—Calibration by correcting for emissivity
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
- G01J5/808—Calibration using linearising circuits
-
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J2005/0074—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry having separate detection of emissivity
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、放射温度の測定時に放射率の自動補正が可能
な放射温度測定装置に関する。
な放射温度測定装置に関する。
放射温度計は、物体から放射される放射量を温度換算す
る機構の側温計器で、放射量と温度の関係はブランクの
放射量に基づき次式(りによって示される。
る機構の側温計器で、放射量と温度の関係はブランクの
放射量に基づき次式(りによって示される。
E(λ、T)=2C,λ−5(exp(Cz/λT)−
1)″凰・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(1)E(λ、T):分光放射輝度、T:物体の温
度(K)、λ:測定波長、C+、Ct:定数。
1)″凰・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(1)E(λ、T):分光放射輝度、T:物体の温
度(K)、λ:測定波長、C+、Ct:定数。
この場合、放射温度計の出力Vは、(1)式から被測定
物が黒休めときは下記の(2)式、黒体以外のときは(
3)式により与えられる。
物が黒休めときは下記の(2)式、黒体以外のときは(
3)式により与えられる。
V=KE(λ、T)・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(2)Vε=
εKE(λ、T)・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・(3)そして、放射率εは(2)式に
よるVと(3)式によるVεの比として(4)式により
求められる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(2)Vε=
εKE(λ、T)・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・(3)そして、放射率εは(2)式に
よるVと(3)式によるVεの比として(4)式により
求められる。
ε=Vε/V ・・・・四・曲曲・・冊冊四・叩曲・(
4)従来の放射温度測定装置は、物体の放射率εを予め
測定しておき、実際の測温時に測定値を補正する機構と
なっていた。
4)従来の放射温度測定装置は、物体の放射率εを予め
測定しておき、実際の測温時に測定値を補正する機構と
なっていた。
すなわち、従来機構の放射温度測定装置は、第2図に示
すように放射検出器からの出力をプリアンプ、ε補正装
置およびリニアライザを介して温度出力として得る回路
からなっており、この場合のε補正装置は手動で設定操
作する必要があった。
すように放射検出器からの出力をプリアンプ、ε補正装
置およびリニアライザを介して温度出力として得る回路
からなっており、この場合のε補正装置は手動で設定操
作する必要があった。
このため、被測定物の真の温度を計測することが困難と
なる問題点があった。
なる問題点があった。
本発明は、上記のε補正装置を自動的に被測定物の放射
率に変換するように設計し、よって常に正確な測温を可
能にした放射温度測定装置を提供するものである。
率に変換するように設計し、よって常に正確な測温を可
能にした放射温度測定装置を提供するものである。
すなわち本発明の放射温度測定装置は、2種または2種
の特性をもつ1台の放射検出器と、前記放射検出器から
の各出力を温度換算するためのリニアライザと、換算さ
れた温度が同一になるように作動する放射率補正機構を
備えてなることを構成的特徴とする。
の特性をもつ1台の放射検出器と、前記放射検出器から
の各出力を温度換算するためのリニアライザと、換算さ
れた温度が同一になるように作動する放射率補正機構を
備えてなることを構成的特徴とする。
物体の放射率は、その物体の表面状態および温度により
常時変化している。したかって、被測定物を一定の条件
下で測定した放射率は実際の測温時における放射率と同
一とはいえない。
常時変化している。したかって、被測定物を一定の条件
下で測定した放射率は実際の測温時における放射率と同
一とはいえない。
本発明の構成によれば、実際の測温時に放射率を測定す
るとともに温度の自動補正がおこなわれるから常に真の
温度を計測することができる。
るとともに温度の自動補正がおこなわれるから常に真の
温度を計測することができる。
以下、本発明の実施例を第2図に示したブロック系統図
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
第2図において、放射検出器は2種または2種の特性を
もつ1台の放射温度計により構成される。
もつ1台の放射温度計により構成される。
放射検出器からの2つの出力は、プリアンプを通ったの
ちε処理器に至る。ε処理器は従来のε補正装置と同一
の働きをおこなうもので、その操作はアナログ的であっ
てもディジタル的であってもよい。
ちε処理器に至る。ε処理器は従来のε補正装置と同一
の働きをおこなうもので、その操作はアナログ的であっ
てもディジタル的であってもよい。
ε処理器の出力は、これら各出力を温度換算するための
リニアライザを通って温度差演算器に戻り、温度差が0
またはOに近似するまでε処理器を操作する。この際、
温度差演算器とε処理器は放射検出器からの出力を同一
にするための放射率補正機構として機能する。
リニアライザを通って温度差演算器に戻り、温度差が0
またはOに近似するまでε処理器を操作する。この際、
温度差演算器とε処理器は放射検出器からの出力を同一
にするための放射率補正機構として機能する。
上記の装置構成?こより被測定物の放射率が自動的に補
正される。
正される。
本発明の放射温度測定装置によれば、実際の温度測定過
程において被測定物の放射率を検知し、自動的に温度補
正がおこなわれるから常に真の温度を測定することがで
きる。
程において被測定物の放射率を検知し、自動的に温度補
正がおこなわれるから常に真の温度を測定することがで
きる。
第1図は本発明に係る放射温度IA+1定装置の回路機
構を例示したブロック系統図、第2図は従来の回路機構
を示したブロック系統図である。 特許出願人 東京精工株式会社 代理人 弁理士 高 畑 正 也 第1図 第 2 図
構を例示したブロック系統図、第2図は従来の回路機構
を示したブロック系統図である。 特許出願人 東京精工株式会社 代理人 弁理士 高 畑 正 也 第1図 第 2 図
Claims (1)
- 2種または2種の特性をもつ1台の放射検出器と、前記
放射検出器からの各出力を温度換算するためのリニアラ
イザと、換算された温度が同一になるように作動する放
射率補正機構を備えてなる放射温度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62278289A JPH01121728A (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | 放射温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62278289A JPH01121728A (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | 放射温度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01121728A true JPH01121728A (ja) | 1989-05-15 |
Family
ID=17595274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62278289A Pending JPH01121728A (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | 放射温度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01121728A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009103205A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Konica Minolta Business Technologies Inc | ギヤおよびそのギヤを用いた画像形成装置 |
-
1987
- 1987-11-05 JP JP62278289A patent/JPH01121728A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009103205A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Konica Minolta Business Technologies Inc | ギヤおよびそのギヤを用いた画像形成装置 |
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