JPH01119592A - 結晶育成装置 - Google Patents
結晶育成装置Info
- Publication number
- JPH01119592A JPH01119592A JP27789387A JP27789387A JPH01119592A JP H01119592 A JPH01119592 A JP H01119592A JP 27789387 A JP27789387 A JP 27789387A JP 27789387 A JP27789387 A JP 27789387A JP H01119592 A JPH01119592 A JP H01119592A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- molten metal
- pipe
- crucible
- raw materials
- supply pipe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 31
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 9
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 15
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、高純度シリコン単結晶等の製造に用いられる
結晶育成装置に関する。
結晶育成装置に関する。
「従来の技術」
CZ法によるシリコン単結晶の製造においては、結晶引
き上げによる溶湯量減少に伴い、溶湯と石英ルツボとの
接触面積が変化し、ルツボからの酸素溶出量が変化する
。しかし最近では、半導体素子基板としてのシリコン単
結晶に、酸素濃度とドーパント濃度の双方に厳しい許容
規格が設けられており、このため、引き上げられた単結
晶のうち半導体素子として使用可能なのは一部分にしか
過ぎず、原料の歩留まりが悪い問題があった。
き上げによる溶湯量減少に伴い、溶湯と石英ルツボとの
接触面積が変化し、ルツボからの酸素溶出量が変化する
。しかし最近では、半導体素子基板としてのシリコン単
結晶に、酸素濃度とドーパント濃度の双方に厳しい許容
規格が設けられており、このため、引き上げられた単結
晶のうち半導体素子として使用可能なのは一部分にしか
過ぎず、原料の歩留まりが悪い問題があった。
そこでこの問題を改善するため、結晶の引き上げ量に応
じて、顆粒状シリコン原料を供給管を通じてルツボ内に
順次供給して溶湯量を一定に保ち、溶湯条件の変化を防
ぐようにした装置が従来より各種提案されている(例え
ば特公昭5L−40119号)。
じて、顆粒状シリコン原料を供給管を通じてルツボ内に
順次供給して溶湯量を一定に保ち、溶湯条件の変化を防
ぐようにした装置が従来より各種提案されている(例え
ば特公昭5L−40119号)。
「発明が解決しようとする問題点」
しかし上記の装置では、温度の低い原料か直接高温の溶
湯(約1400℃)に投入されるため、溶湯温度が低下
し、結晶成長部に欠陥発生等の悪影響を与えろ問題があ
った。特に、ルツボが小形の場合や、単結晶の成長を速
めるために引上速度を通常より大きくしている場合には
、溶湯温度低下が顕著となり、投入された原料が溶けき
らなかったり、溶湯表面周縁から溶湯が凝固することも
あった。
湯(約1400℃)に投入されるため、溶湯温度が低下
し、結晶成長部に欠陥発生等の悪影響を与えろ問題があ
った。特に、ルツボが小形の場合や、単結晶の成長を速
めるために引上速度を通常より大きくしている場合には
、溶湯温度低下が顕著となり、投入された原料が溶けき
らなかったり、溶湯表面周縁から溶湯が凝固することも
あった。
また上記装置では、単結晶を引き上げている間に溶湯が
石英ルツボと反応して揮発性のSiOを生じるため、こ
のSiOが蒸発して再びルツボの上端縁や単結晶棒およ
びチャンバー内壁に凝結し、この凝結物が溶湯中に落下
して単結晶に転位等の欠陥を生じる問題があった。
石英ルツボと反応して揮発性のSiOを生じるため、こ
のSiOが蒸発して再びルツボの上端縁や単結晶棒およ
びチャンバー内壁に凝結し、この凝結物が溶湯中に落下
して単結晶に転位等の欠陥を生じる問題があった。
これを改善するため、従来の装置においても不活性ガス
を炉体の上部から下部へと流してSiO排出を図ってい
るが、SiOガスは比較的小いため、ルツボ内の溶湯近
傍に滞留して排出されにくく、十分な解決には至ってい
ない。
を炉体の上部から下部へと流してSiO排出を図ってい
るが、SiOガスは比較的小いため、ルツボ内の溶湯近
傍に滞留して排出されにくく、十分な解決には至ってい
ない。
「問題点を解決する手段」
本発明は上記問題を解決するためになされたもので、溶
湯に原料を供給する供給管を通じて雰囲気ガスを外部に
排出する排気機構を設けたことを特徴とし、これにより
溶湯近傍の高温雰囲気ガスを供給管の中に吸い込んで、
供給管内で降下する原料と接触させ、原料を加熱して原
料投入に伴う溶湯温度の低下を防ぐ。同時に、ルツボ近
くに滞るSiOガスを強制的に排出し、凝結SiOの溶
湯への落下に起因する結晶欠陥の発生を防ぐ。
湯に原料を供給する供給管を通じて雰囲気ガスを外部に
排出する排気機構を設けたことを特徴とし、これにより
溶湯近傍の高温雰囲気ガスを供給管の中に吸い込んで、
供給管内で降下する原料と接触させ、原料を加熱して原
料投入に伴う溶湯温度の低下を防ぐ。同時に、ルツボ近
くに滞るSiOガスを強制的に排出し、凝結SiOの溶
湯への落下に起因する結晶欠陥の発生を防ぐ。
「実施例」
第1図は、本発明に係わる結晶育成装置の一実施例を示
す縦断面図である。
す縦断面図である。
図中符号lは炉体、2は断熱材、3は加熱ヒータ、4は
回転軸5の上端に固定された黒鉛サセプタ、6は黒鉛サ
セプタ4にはめ込まれた石英ルツボであり、このルツボ
6の上方には、下端にシードSを固定した引上ワイヤ7
を昇降する引上機溝8が設けられている。
回転軸5の上端に固定された黒鉛サセプタ、6は黒鉛サ
セプタ4にはめ込まれた石英ルツボであり、このルツボ
6の上方には、下端にシードSを固定した引上ワイヤ7
を昇降する引上機溝8が設けられている。
前記炉体lには、上部にガス導入口9が、下部にガス排
出口IOが形成され、炉体l内にAr等の不活性ガスが
通されるようになっている。また、炉体lの中部には壁
面を貫通して原料供給管IIが固定され、その上端部が
スクリュウフィーダ12とホッパー13とからなる原料
供給機構に連結されろとともに、下端部はルツボ6内の
溶湯Yの液面近くに位置決めされている。また、炉体1
外において供給管11の上面に排気管14が接続され、
この排気管14が排気ポンプ15(排気機構)の吸気口
に連結されている。
出口IOが形成され、炉体l内にAr等の不活性ガスが
通されるようになっている。また、炉体lの中部には壁
面を貫通して原料供給管IIが固定され、その上端部が
スクリュウフィーダ12とホッパー13とからなる原料
供給機構に連結されろとともに、下端部はルツボ6内の
溶湯Yの液面近くに位置決めされている。また、炉体1
外において供給管11の上面に排気管14が接続され、
この排気管14が排気ポンプ15(排気機構)の吸気口
に連結されている。
上記構成の結晶育成装置を使用する場合は、単結晶引き
上げの進行に伴い、スクリュウフィーダ12を回転させ
原料を供給管11を通じて溶*Yに投下しつつ、排気ポ
ンプ15を作動させて溶湯Y近くの高温雰囲気ガスを供
給管11と排気管14を通して外部へ排出する。これに
より、供給管11内を転がり落ちる原料は、管内を上昇
してくる高温雰囲気ガスとむらなく接触し、高温に加熱
された状態で溶湯Yへと投入される。したがって、原料
投入に伴う溶湯温度の低下が従来装置と比して格段に小
さく、原料が溶けきらなかったり、溶湯Yが周辺から凝
固するといったことがなく、単結晶成長部の温度変化に
よる結晶欠陥の発生等も防げる。
上げの進行に伴い、スクリュウフィーダ12を回転させ
原料を供給管11を通じて溶*Yに投下しつつ、排気ポ
ンプ15を作動させて溶湯Y近くの高温雰囲気ガスを供
給管11と排気管14を通して外部へ排出する。これに
より、供給管11内を転がり落ちる原料は、管内を上昇
してくる高温雰囲気ガスとむらなく接触し、高温に加熱
された状態で溶湯Yへと投入される。したがって、原料
投入に伴う溶湯温度の低下が従来装置と比して格段に小
さく、原料が溶けきらなかったり、溶湯Yが周辺から凝
固するといったことがなく、単結晶成長部の温度変化に
よる結晶欠陥の発生等も防げる。
また、本装置によれば、ルツボ6内に滞留しやすいSi
Oガスを発生直後に供給管11を通じて効果的に排出で
きるので、SiOガスがルツボ6の上端縁で凝結して溶
湯に落下し、単結晶に転位等の欠陥が生じることを防げ
る。
Oガスを発生直後に供給管11を通じて効果的に排出で
きるので、SiOガスがルツボ6の上端縁で凝結して溶
湯に落下し、単結晶に転位等の欠陥が生じることを防げ
る。
なお上記実施例では、供給管11として円筒型のパイプ
をそのまま用いていたが、第2図〜第6図に示すように
、原料の落下を遅ら仕る構造を設けた供給管20を使用
してもよい。
をそのまま用いていたが、第2図〜第6図に示すように
、原料の落下を遅ら仕る構造を設けた供給管20を使用
してもよい。
第2図は、供給管20の内面に互い違いに複数の邪魔板
21を下傾状態に固定したもので、原料が管内の各邪魔
板21に次々衝突しつつ、曲がりくねって降下するため
、管内を上昇する高温雰囲気ガスとの接触時間が長く、
原料の加熱がより効果的に行なわれろ利点がある。
21を下傾状態に固定したもので、原料が管内の各邪魔
板21に次々衝突しつつ、曲がりくねって降下するため
、管内を上昇する高温雰囲気ガスとの接触時間が長く、
原料の加熱がより効果的に行なわれろ利点がある。
第3図は、供給管、20の壁を交互に反対方向から凹ま
せて管内に凸部22を形成したしので、第2図と同様の
効果が得られ、供給管製造コストはより安く済む。
せて管内に凸部22を形成したしので、第2図と同様の
効果が得られ、供給管製造コストはより安く済む。
第4図は、供給管20自体を波型または螺旋状に曲げて
成形したもので、管径が比較的小さい場合に好適である
。
成形したもので、管径が比較的小さい場合に好適である
。
第5図は、供給管20の中途部にループ23を形成した
もの。
もの。
第6図は、供給管20の下端部を球状に膨らませて貯留
部24を形成し、その下端面に小さな孔25を形成した
もので、貯留部24に所望量の原料が溜まりつつ、原料
が孔25から少しづつ落下するように各部首法を設定す
れば、原料を効果的に加熱できる。
部24を形成し、その下端面に小さな孔25を形成した
もので、貯留部24に所望量の原料が溜まりつつ、原料
が孔25から少しづつ落下するように各部首法を設定す
れば、原料を効果的に加熱できる。
なお、第1図示の装置では、排気ポンプ15により排気
機構を構成していたが、その代わりに流量調節バルブを
介して炉体lの排出口lOに連なる排気路に接続しても
よく、その場合には排気ポンプ15が要らない分、設備
コストを削減できる。
機構を構成していたが、その代わりに流量調節バルブを
介して炉体lの排出口lOに連なる排気路に接続しても
よく、その場合には排気ポンプ15が要らない分、設備
コストを削減できる。
また供給管の形状は、上記以外にも種々の変形が可能で
ある。
ある。
「発明の効果」
以上説明したように、本発明の結晶育成装置においては
、単結晶引き上げ時に原料供給とともに溶湯近くの高温
雰囲気ガスを供給管を通じて外部へと排出することによ
り、供給管内を落下する原料と高温雰囲気ガスとを接触
させ、原料をむら無く加熱して溶湯へと投入する。した
がって、原料投入に伴なう溶湯温度の低下が少なく、投
入された原料が溶けきらなかったり、溶湯が凝固すると
いった不具合を防ぎ、単結晶成長部の温度変化に起因す
る結晶欠陥の発生も防ぎ得る。
、単結晶引き上げ時に原料供給とともに溶湯近くの高温
雰囲気ガスを供給管を通じて外部へと排出することによ
り、供給管内を落下する原料と高温雰囲気ガスとを接触
させ、原料をむら無く加熱して溶湯へと投入する。した
がって、原料投入に伴なう溶湯温度の低下が少なく、投
入された原料が溶けきらなかったり、溶湯が凝固すると
いった不具合を防ぎ、単結晶成長部の温度変化に起因す
る結晶欠陥の発生も防ぎ得る。
また、ルツボ内に滞留しやすいSiO等の不純物ガスを
供給管を通じて効果的に排出できるので、この不純物ガ
スが凝結して溶湯に落下し、単結晶に転位等の欠陥を引
き起こすことも防げる。
供給管を通じて効果的に排出できるので、この不純物ガ
スが凝結して溶湯に落下し、単結晶に転位等の欠陥を引
き起こすことも防げる。
第1図は本発明に係わる結晶育成装置の一実施例を示す
縦断面図、第2図〜第6図は同装置の要部の変形例を示
す説明図である。 1・・・炉体、 6・・・ルツボ、7・・・引
上ワイヤ、 8・・・引上機構、11・・・供給管、
12.13・・・原料供給機構14・・排気管、
15・・・排気機構、20・・・供給管。
縦断面図、第2図〜第6図は同装置の要部の変形例を示
す説明図である。 1・・・炉体、 6・・・ルツボ、7・・・引
上ワイヤ、 8・・・引上機構、11・・・供給管、
12.13・・・原料供給機構14・・排気管、
15・・・排気機構、20・・・供給管。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 多結晶を溶融して溶湯とするルツボと、前記溶湯に多
結晶原料を供給するための供給管と、前記ルツボ内の溶
湯から単結晶を引き上げる引上機構とを備えた結晶育成
装置において、 前記供給管を通じてルツボ近傍の雰囲気ガスを外部に排
出する排気機構を設けたことを特徴とする結晶育成装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27789387A JPH0723276B2 (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 結晶育成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27789387A JPH0723276B2 (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 結晶育成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01119592A true JPH01119592A (ja) | 1989-05-11 |
JPH0723276B2 JPH0723276B2 (ja) | 1995-03-15 |
Family
ID=17589755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27789387A Expired - Lifetime JPH0723276B2 (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | 結晶育成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0723276B2 (ja) |
-
1987
- 1987-11-02 JP JP27789387A patent/JPH0723276B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0723276B2 (ja) | 1995-03-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8123855B2 (en) | Device and process for growing Ga-doped single silicon crystals suitable for making solar cells | |
US4330362A (en) | Device and process for pulling high-purity semiconductor rods from a melt | |
US6899760B2 (en) | Silicon single crystal growing furnace supplemented with low melting point dopant feeding instrument and the low melting point dopant feeding method thereof | |
US20070056504A1 (en) | Method and apparatus to produce single crystal ingot of uniform axial resistivity | |
US20100107966A1 (en) | Methods for preparing a melt of silicon powder for silicon crystal growth | |
JP2005517621A (ja) | 多結晶シリコンのエネルギー効率的製造方法 | |
US20100320638A1 (en) | Device and method for producing crystalline bodies by directional solidification | |
JP4530483B2 (ja) | Cz法単結晶引上げ装置 | |
JPH037637B2 (ja) | ||
JP2000169287A (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
JPH059097A (ja) | シリコン単結晶の引上方法 | |
JP2813592B2 (ja) | 単結晶製造方法 | |
WO2023051616A1 (zh) | 一种用于拉制单晶硅棒的拉晶炉 | |
JPH01119592A (ja) | 結晶育成装置 | |
JP3832536B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法および引上げ機 | |
JP3085567B2 (ja) | 多結晶のリチャージ装置およびリチャージ方法 | |
US11629985B2 (en) | Method for regulating inert gas flow, method for preparing monocrystalline silicon, and monocrystalline silicon | |
JPS5933552B2 (ja) | 結晶成長装置 | |
JPH01119593A (ja) | 結晶育成装置 | |
JPH0640592Y2 (ja) | シリコン単結晶の成長装置 | |
JPS63319288A (ja) | 鍔付石英るつぼ | |
JP7082550B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
JP2747626B2 (ja) | 単結晶製造装置 | |
JPH0316989A (ja) | シリコン単結晶の製造装置 | |
KR930005406B1 (ko) | 단결정체의 성장방법과 장치 |