JP7828646B2 - 薄膜のロールツーロール連続製造のための急速誘導焼結鍛造 - Google Patents
薄膜のロールツーロール連続製造のための急速誘導焼結鍛造Info
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Description
本出願は、2020年1月31日に出願された米国仮特許出願第62/968,739号に基づくものであり、その優先権を主張するものであり、その全内容は参照によりあらゆる目的のために本願明細書に盛り込まれる。
本発明は、米国エネルギー省により裁定されたDE-AR0000653の政府支援によりなされたものである。政府は本発明において一定の権利を有する。
wは5~7.5であり、
Aは、B、Al、Ga、In、Zn、Cd、Y、Sc、Mg、Ca、Sr、Ba、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
xは0~2であり、
Mは、Zr、Hf、Nb、Ta、Mo、W、Sn、Ge、Si、Sb、Se、Te、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
Reは、ランタニド元素、アクチニド元素、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
yは0~0.75であり、
zは10.875~13.125であり、
セラミック材料はガーネット型又はガーネット状結晶構造を有する。
wは5~7.5であり、
AはB、Al、Ga、In、Zn、Cd、Y、Sc、Mg、Ca、Sr、Ba、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
xは0~2であり、
MはZr、Hf、Nb、Ta、Mo、W、Sn、Ge、Si、Sb、Se、Te、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
Reはランタニド元素、アクチニド元素、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
yは0~0.75であり、
zは10.875~13.125であり、
セラミック材料はガーネット型又はガーネット状結晶構造を有する。
提案された焼結鍛造システム及び装置を図1a及び図1bに示す。本提案の装置10は、ロードフレーム12と、誘導コイル14を含む誘導加熱器と、試料34を支持する試料基板16との3つの主要な構成要素から構成される。焼結鍛造の前、試料34は、例えば、成形粉末スラリー又は乾燥粉末のいずれかの形態のグリーン粉末であってもよく、焼結鍛造の後、試料34は焼結薄膜の形態となる。
装置10を用いる例示的なプロセスでは、緻密化のための例示的なセラミック前駆体粉末として、組成がLi6.5La3Zr1.5Ta0.5O12のガーネット構造リチウムランタンジルコニウム酸化物(LLZO)を用いた。LLZO粉末を、Rangasamyによる文献([参考文献7])の記載に従って固相合成法により合成し、次いで、溶媒、溶解したポリマー結合剤、及び可塑剤を含むスラリーに混合した。次いで、ドクターブレードを用いて、スラリーを厚さ35μmのNi箔(Targray)上に成形した。乾燥後、得られたグリーン膜をグラファイト基板上に置き、剥離層として機能する200nmのスパッタリングC層を有する別のNi箔で覆い、試料と焼結鍛造ピストンとの間の接着を防止した。次いで、グリーン膜を、Ar中、圧力6MPa、温度をランプ率約3℃s-1で変化させて焼結鍛造した。ピーク温度(本願開示の他の箇所では、試料に応じて1150℃又は1250℃であるとされている)については、ピストンを取り外して冷却する前に、2分~30分の間の様々な時間、その状態が維持された。緻密化後、膜をダイヤモンドソーで切断し、1μmの表面仕上げまで研磨した。その後、日立S3500N走査電子顕微鏡を用いて断面解析を行った。
図2は、温度と焼結鍛造時間を変えてNi箔上に緻密化した3つのLLZO膜の断面を画像a)、b)、c)に示す。3つ全ての試料とも、LLZO/Niが密着して、比較的均一な厚さ約80μmのLLZO膜が製造されたことが分かる。図2の画像a)の1150℃で20分間緻密化した試料は、図2の画像b)の1250℃で5分間緻密化した試料、図2の画像c)の1250℃で2分間緻密化した試料と比較して、断面が最も均一であるが、3条件全てで製造された試料は気孔率が低い(2%未満)。最短の焼結鍛造時間(2分)の場合でも、少量の気孔が観察されており、圧力の印加と横方向の拘束がないこととから、気孔が非常に迅速に閉鎖できていることを示唆している。膜の密度は比較的類似しているが、図2の画像a)の20分間の焼結鍛造の場合、微細構造は非常に均一であるが、5分間未満(すなわち、図2の画像b)及び画像c))の焼結鍛造の場合、微細構造に粒間破壊の領域が見られる。これらの領域は、断面化中に個々の結晶粒が破壊、及び除去されたことに起因する可能性が高い。これは、密度が時間とともに大きく変化しないにもかかわらず、焼結鍛造時間が長いほど、粒間接着がより強くなることを示唆している。したがって、これらのパラメータは、微細構造と製造時間との最良の組み合わせのために最適化されてもよい。
上で記載した例以外に、装置10は、前述の文献、米国特許出願公開第2017/0222254号に記載されているように、材料、構造、又はデバイスがロール状の可撓性基板上に印刷、コーティング、又はパターニングされるか、又は基板内に埋め込まれる連続製造プロセスであるロールツーロールプロセスで用いることができる。上記文献は、セラミック薄膜セグメントがポリマー材料などの可撓性マトリックス内に配置されている、セグメント化されたセル状構造を記載していることに留意されたい。このような場合、各構造は、集合的にシートを形成する別個の薄膜と見なすことができる。全てのセグメント化部分は、セグメントの厚さ寸法が幅や長さなどセグメントの他の寸法よりも小さい、比較的平坦なコイン状又はチップ状のセグメントであることにも留意されたい(例えば、図1aを参照)。この構造は、セグメントのこのようなアスペクト比において、焼結中の粉末層の熱伝達が比較的安定し薄膜の厚さ方向の勾配は最小であることを保証すると同時に、得られるシートの可撓性を高めることができる。
wは5~7.5であり、
AはB、Al、Ga、In、Zn、Cd、Y、Sc、Mg、Ca、Sr、Ba、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
xは0~2であり、
MはZr、Hf、Nb、Ta、Mo、W、Sn、Ge、Si、Sb、Se、Te、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
Reはランタニド元素、アクチニド元素、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
yは0~0.75であり、
zは10.875~13.125であり、
セラミック材料はガーネット型又はガーネット状結晶構造を有する。
セラミック材料の一実施形態では、MはZrとTaとの組み合わせである。セラミック材料の一実施形態では、MはZrであり、AはAlであり、xは0ではない。セラミック材料の一実施形態では、MはZrであり、AはGaであり、xは0ではない。
[1] Z.Z. Fang, ed., Sintering of Advanced Materials, in: Sinter. Adv. Mater., Woodhead Publishing, 2010: p. iv. doi:10.1016/B978-1-84569-562-0.50019-4.
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Claims (74)
- 前駆体粉末を焼結鍛造して焼結膜としての膜を形成する方法であって、
前記前駆体粉末を基板上に支持するステップと、
前記前駆体粉末を焼結及び緻密化して焼結鍛造領域内に前記膜を形成するように、前記前駆体粉末に対して加熱と前記膜の厚さと平行な加圧方向への加圧とを同時に行うステップであって、前記加圧方向と垂直な平面内では、前記焼結鍛造領域に関して横方向の拘束がない、ステップと
を含む、方法。 - 前記加熱と加圧とを同時に行うことで、前記前駆体粉末に変形と圧力支援焼結が生じ、緻密なセラミック体が製造される、請求項1に記載の方法。
- 前記膜と前記基板との間の摩擦応力により、焼結中に前記膜内に静水圧応力状態が生じる、請求項1に記載の方法。
- 印加された圧力と摩擦圧力の応力の組み合わせにより、焼結中に前記膜内に静水圧応力状態が生じる、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体粉末に対して加熱及び加圧が同時に行われていないとき、前記基板は、前記加圧方向と垂直な平面にほぼ沿った方向に移動可能である、請求項1に記載の方法。
- (a)前記前駆体粉末に対して加熱及び加圧を同時に行って前記膜を形成するステップと、
(b)前記膜に対する圧力を除去するステップと、
(c)まだ未焼結の前駆体粉末を前記焼結鍛造領域に導入するために前記前駆体粉末と前記基板を前進させるステップとを繰り返し実行することを更に含み、
これにより、前記焼結鍛造領域の最大寸法を超える長さを有する連続した長さの前記基板は、繰り返し焼結鍛造によって形成された1つ又は複数の膜を有する、
請求項5に記載の方法。 - 前記前駆体粉末に対して加熱及び加圧を同時に行うステップは、ピストンによって行われ、
前記ピストンは、当該ピストンを前記焼結鍛造領域の内外に関節運動させる装置の一部である、請求項1に記載の方法。 - 前記ピストンを取り囲む誘導コイルを用いた誘導加熱により前記ピストンを加熱するステップを更に含む、請求項7に記載の方法。
- 前記ピストンは、グラファイトを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記基板を取り囲む誘導コイルを用いた誘導加熱により前記基板を加熱するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体粉末に対して加熱及び加圧を同時に行うステップの前に、前記ピストンと前記膜の接着を防止するために剥離層を貼り付けるステップを更に含む、請求項7に記載の方法。
- 前記焼結鍛造領域の周囲に環境ガスを供給するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体粉末は、粉末スラリーの一部である、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体粉末は、結合剤を含む、請求項13に記載の方法。
- 前記結合剤は、ポリフッ化ビニリデン、ポリ(メチルメタクリレート)、ポリ(酢酸ビニル)、ポリビニルアルコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルピロリドン、ポリビニルエーテル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリアクリレート、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニトリル、ポリビニルピリジン、スチレンブタジエンゴム、アクリロニトリルブタジエンゴム、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレンプロピレンジエン三元共重合体、セルロース、カルボキシメチルセルロース、デンプン、ヒドロキシプロピルセルロース、及びこれらの混合物から成る群から選択される、請求項14に記載の方法。
- 前記前駆体粉末は、金属又はセラミック材料である、請求項1に記載の方法。
- 前記焼結膜は、ガーネット、ペロブスカイト、NaSICON、又はLiSICON相の、酸化物又はリン酸塩材料の任意の組み合わせであり得る固体電解質材料を含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記焼結膜は、LiwAxM2Re3-yOzの化学式を有するセラミック材料から成る固体電解質材料を含み、式中、
wは5~7.5であり、
AはB、Al、Ga、In、Zn、Cd、Y、Sc、Mg、Ca、Sr、Ba、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
xは0~2であり、
MはZr、Hf、Nb、Ta、Mo、W、Sn、Ge、Si、Sb、Se、Te、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
Reはランタニド元素、アクチニド元素、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
yは0~0.75であり、
zは10.875~13.125であり、
前記セラミック材料はガーネット型又はガーネット状結晶構造を有する、
請求項1に記載の方法。 - 前記焼結膜は、少なくともリチウム、硫黄及びリンを含む硫化物系固体電解質材料を含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記硫化物系固体電解質材料は、Li7P3S11、Li7PS6、Li4P2S6、Li3PS6、Li3PS4、Li2P2S6、Li10GeP2S12(LGPS)、並びにLi7-xPS6-xClx、Li7-xPS6-xBrx及びLi7-xPS6-xIx(ただし、0≦x≦2)から選択されるアルジロダイト型固体電解質材料から成る群から選択される、
請求項19に記載の方法。 - 前記焼結膜は、リチウムホスト材料を含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記焼結膜は、(i)金属が、アルミニウム、コバルト、鉄、マンガン、ニッケル及びバナジウムのうちの1つ又は複数であるリチウム金属酸化物、並びに(ii)LiMPO4(式中、Mはコバルト、鉄、マンガン及びニッケルのうちの1つ又は複数である)の一般化学式を有するリチウム含有リン酸塩から成る群から選択されるリチウムホスト材料を含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記前駆体粉末に対し加熱及び加圧を同時に行うステップは、30℃~2000℃の温度で加熱することと、1MPa~500MPaで加圧することとを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記前駆体粉末に対し加熱及び加圧を同時に行うステップは、500℃~1300℃の温度で加熱することと、1MPa~50MPaで加圧することとを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記焼結膜は、90分未満の焼結鍛造時間で90%を超える相対密度を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記焼結膜は、5分未満の焼結鍛造時間で98%を超える相対密度を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記焼結膜は、1nm~500μmの厚さを有する、請求項1に記載の方法。
- 前記焼結膜は、1nm~100μmの厚さを有する、請求項1に記載の方法。
- 前記基板は、1nm~100μmの厚さを有する、請求項1に記載の方法。
- 前記基板は、ニッケル、モリブデン、チタン、ジルコニウム、タンタル、合金鋼、炭素鋼、ステンレス鋼、ニッケル基超合金、コバルト基超合金、銅、アルミニウム、鉄、又はこれらの混合物から成る群から選択される金属材料を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記基板は、第1の金属材料を含む第1の層と、第2の金属材料を含む第2の層とを有するバイメタルを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の金属材料は、ニッケル、モリブデン、チタン、ジルコニウム、タンタル、ニッケル基超合金、コバルト基超合金、銅、又はこれらの混合物から成る群から選択され、
前記第2の金属材料は、アルミニウム、ニッケル、合金鋼、炭素鋼、ステンレス鋼、ニッケル基超合金、又はこれらの混合物から成る群から選択される、
請求項31に記載の方法。 - 前記第1の金属材料はニッケルを含み、
前記第2の金属材料はステンレス鋼を含む、
請求項32に記載の方法。 - 前記第1の層は1nm~100μmの厚さを有し、前記第2の層は1nm~100μmの厚さを有する、請求項32に記載の方法。
- グラファイト粒子層が、前記基板と前記前駆体粉末との間に配置される、請求項1に記載の方法。
- 前記グラファイト粒子層は、1μm~10μmの厚さを有する、請求項35に記載の方法。
- 基板上に前駆体粉末を焼結鍛造して膜を形成する装置であって、
前記前駆体粉末を受け入れるための焼結鍛造領域が内部に画定されたロードフレームと、
誘導加熱に耐えることができ、前記ロードフレームによって加圧方向に作動可能であり、前記焼結鍛造領域に受け入れられた前駆体粉末に対し加熱及び加圧を同時に行うピストンと、
高周波誘導で前記ピストンを加熱できるように前記ピストンと同心の一組の誘導コイルと
を備え、
前記焼結鍛造領域は、前記加圧方向と垂直な平面に沿って位置し、
前記焼結鍛造領域に横方向の拘束がない、
装置。 - 前記加熱及び加圧を同時に行うことで、前記前駆体粉末に変形と圧力支援焼結が生じ、緻密なセラミック体が製造される、請求項37に記載の装置。
- 前記膜と前記基板との間の摩擦応力により、焼結中に前記膜内に静水圧応力状態が生じる、請求項37に記載の装置。
- 印加された圧力と摩擦圧力の応力の組み合わせにより、焼結中に前記膜内に静水圧応力状態が生じる、請求項37に記載の装置。
- 前記ピストンを取り囲む非導電性シュラウドを更に備え、
前記非導電性シュラウドは、前記ピストンと前記非導電性シュラウドとの間に中空キャビティを画定し、
前記中空キャビティは前記焼結鍛造領域に開口する、請求項37に記載の装置。 - 前記中空キャビティと流体連通するガスインレットを更に備え、
前記ガスインレットは、前記ガスインレットから流れるガスを、前記中空キャビティに供給し、前記ピストンを越えて前記中空キャビティを通って前記焼結鍛造領域の周囲環境に供給するように構成される、請求項41に記載の装置。 - 前記焼結鍛造領域を通って前記前駆体粉末と前記基板を前進させるための輸送機構を更に備える、請求項37に記載の装置。
- 熱電対、温度コントローラ、及び冷却剤循環装置のうちの1つ又は複数を備える、前記基板の温度を制御するためのシステムを更に備える、請求項37に記載の装置。
- 前記ピストンは、グラファイトを含む、請求項37に記載の装置。
- 前記ピストンは、前記一組の誘導コイルによって30℃~2000℃の温度に加熱することができ、前記焼結鍛造領域内で前記ロードフレームによって1MPa~500MPaの圧力を加えることができる、請求項37に記載の装置。
- 前記ピストンは、前記一組の誘導コイルによって500℃~1300℃の温度に加熱することができ、前記焼結鍛造領域内で前記ロードフレームによって1MPa~50MPaの圧力を加えることができる、請求項37に記載の装置。
- 基板上に前駆体粉末を焼結鍛造して焼結膜としての膜を形成し、離隔した焼結膜のアレイを備える電気化学デバイスを形成するための方法であって、
前記基板上に前記前駆体粉末の離隔した部分を支持するステップと、
前記基板上に離隔した前記焼結膜を形成するために、前記前駆体粉末の前記離隔した部分に対し、加熱と、前記前駆体粉末の前記離隔した部分の厚さと平行な加圧方向への加圧とを同時に行うステップと、
前記基板上の前記離隔した焼結膜の間に可撓性材料を堆積させるステップと
を含み、
各前記離隔した焼結膜は、別個の焼結鍛造領域内に形成され、
前記加圧方向と垂直な平面において、各前記焼結鍛造領域に横方向の拘束がない、方法。 - 前記前駆体粉末は、セラミック材料である、
請求項48に記載の方法。 - 前記加熱及び加圧を同時に行うことで、前記前駆体粉末に変形と圧力支援焼結が生じ、緻密なセラミック体が製造される、請求項48に記載の方法。
- 前記膜と前記基板との間の摩擦応力により、焼結中に前記膜に静水圧応力状態が生じる、請求項48に記載の方法。
- 印加された圧力と摩擦圧力の応力の組み合わせにより、焼結中に前記膜に静水圧応力状態が生じる、請求項48に記載の方法。
- 前記前駆体粉末の前記離隔した部分に対し加熱及び加圧が同時に行なわれていないとき、前記基板は、前記加圧方向と垂直な前記平面にほぼ沿った方向に移動可能である、請求項48に記載の方法。
- (a)前記前駆体粉末の前記離隔した部分に対し加熱及び加圧を同時に行って、前記離隔した焼結膜を形成するステップと、
(b)前記離隔した焼結膜に対する圧力を除去するステップと、
(c)前記前駆体粉末のまだ未焼結の離隔した部分を前記焼結鍛造領域に導入するために前記基板を前進させるステップと、
(d)前記基板上の前記離隔した焼結膜間に可撓性材料を堆積させるステップとを繰り返し実行することを更に含み、
これにより、前記可撓性材料によって取り囲まれた連続した長さの離隔した焼結膜のアレイが、繰り返し焼結鍛造によって形成される、
請求項53に記載の方法。 - 前記離隔した焼結膜は、ガーネット、ペロブスカイト、NaSICON、又はLiSICON相の、酸化物又はリン酸塩材料の任意の組み合わせであり得る固体電解質材料を含む、
請求項48に記載の方法。 - 前記離隔した焼結膜は、LiwAxM2Re3-yOzの化学式を有するセラミック材料から成る固体電解質材料を含み、式中、
wは5~7.5であり、
AはB、Al、Ga、In、Zn、Cd、Y、Sc、Mg、Ca、Sr、Ba、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
xは0~2であり、
MはZr、Hf、Nb、Ta、Mo、W、Sn、Ge、Si、Sb、Se、Te、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
Reはランタニド元素、アクチニド元素、及びこれらの任意の組み合わせから選択され、
yは0~0.75であり、
zは10.875~13.125であり、
前記セラミック材料はガーネット型又はガーネット状結晶構造を有する、
請求項48に記載の方法。 - 前記離隔した焼結膜は、少なくともリチウム、硫黄及びリンを含む硫化物系固体電解質材料を含む、
請求項48に記載の方法。 - 前記硫化物系固体電解質材料は、Li7P3S11、Li7PS6、Li4P2S6、Li3PS6、Li3PS4、Li2P2S6、Li10GeP2S12(LGPS)、並びにLi7-xPS6-xClx、Li7-xPS6-xBrx及びLi7-xPS6-xIx(ただし、0≦x≦2)から選択されるアルジロダイト型固体電解質材料から成る群から選択される、
請求項57に記載の方法。 - 前記離隔した焼結膜は、リチウムホスト材料を含む、
請求項48に記載の方法。 - 前記離隔した焼結膜は、(i)金属が、アルミニウム、コバルト、鉄、マンガン、ニッケル及びバナジウムのうちの1つ又は複数であるリチウム金属酸化物、並びに(ii)LiMPO4(式中、Mはコバルト、鉄、マンガン及びニッケルのうちの1つ又は複数である)の一般化学式を有するリチウム含有リン酸塩から成る群から選択されるリチウムホスト材料を含む、
請求項48に記載の方法。 - 前記可撓性材料は、ポリマー材料を含む、
請求項48に記載の方法。 - 前記可撓性材料は、ポリオレフィン、ポリスチレン、ジビニルベンゼン、エチレン酢酸ビニルポリマー及びコポリマー、シリコーンポリマー、スチレン・ジビニルベンゼンコポリマー、並びにこれらのブレンド及び混合物から成る群から選択されるポリマー材料を含む、
請求項48に記載の方法。 - 前記前駆体粉末は、結合剤を含む、請求項48に記載の方法。
- 前記結合剤は、ポリフッ化ビニリデン、ポリ(メチルメタクリレート)、ポリ(酢酸ビニル)、ポリビニルアルコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルピロリドン、ポリビニルエーテル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリアクリレート、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニトリル、ポリビニルピリジン、スチレンブタジエンゴム、アクリロニトリルブタジエンゴム、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレンプロピレンジエン三元共重合体、セルロース、カルボキシメチルセルロース、デンプン、ヒドロキシプロピルセルロース、及びこれらの混合物から成る群から選択される、請求項63に記載の方法。
- 前記離隔した焼結膜は、1nm~500μmの厚さを有する、請求項48に記載の方法。
- 前記離隔した焼結膜は、1nm~100μmの厚さを有する、請求項48に記載の方法。
- 前記基板は、1nm~100μmの厚さを有する、請求項48に記載の方法。
- 前記基板は、ニッケル、モリブデン、チタン、ジルコニウム、タンタル、合金鋼、炭素鋼、ステンレス鋼、ニッケル基超合金、コバルト基超合金、銅、アルミニウム、鉄、又はこれらの混合物から成る群から選択される金属材料を含む、請求項48に記載の方法。
- 前記基板は、第1の金属材料を含む第1の層と、第2の金属材料を含む第2の層とを有するバイメタルを含む、請求項48に記載の方法。
- 前記第1の金属材料は、ニッケル、モリブデン、チタン、ジルコニウム、タンタル、ニッケル基超合金、コバルト基超合金、銅、又はこれらの混合物から成る群から選択され、
前記第2の金属材料は、アルミニウム、ニッケル、合金鋼、炭素鋼、ステンレス鋼、ニッケル基超合金、又はこれらの混合物から成る群から選択される、
請求項69に記載の方法。 - 前記第1の金属材料はニッケルを含み、
前記第2の金属材料はステンレス鋼を含む、
請求項69に記載の方法。 - 前記第1の層は1nm~100μmの厚さを有し、前記第2の層は1nm~100μmの厚さを有する、請求項69に記載の方法。
- グラファイト粒子層が、前記基板と前記前駆体粉末との間に配置される、請求項48に記載の方法。
- 前記グラファイト粒子層は、1μm~10μmの厚さを有する、請求項73に記載の方法。
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