JP7521936B2 - 磁場検出装置及び磁場検出装置アレイ - Google Patents

磁場検出装置及び磁場検出装置アレイ Download PDF

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Description

本発明は磁場検出装置に関し、特に、アレイ状に配列することが可能な磁場検出装置に関する。
特許文献1の図12には、複数の磁場検出装置をアレイ状に配列することによって面内における磁界分布を測定可能な磁場検出装置アレイが開示されている。
特開2017-133993号公報
しかしながら、特許文献1の図12に記載された磁場検出装置アレイにおいては、磁場検出装置の数やレイアウトを変更することが容易ではなかった。
したがって、本発明は、磁場検出装置をアレイ状に配列する場合に磁場検出装置の数やレイアウトの変更を容易化することを目的とする。
本発明による磁場検出装置は、ボビンと、ボビンに巻回されたキャンセルコイルと、ボビンに固定され、キャンセルコイルを軸方向に対して垂直な方向から覆うカバー部材と、ボビン又はカバー部材に固定された第1の磁気センサとを備え、カバー部材は、キャンセルコイルの軸方向に延在し、且つ、互いに反対側に位置する第1及び第2の側面を有し、第1及び第2の側面にはそれぞれ第1及び第2の係合部が設けられており、第1の係合部の形状は、第2の係合部の形状と係合可能な形状であることを特徴とする。
本発明によれば、キャンセルコイルを軸方向に対して垂直な方向から覆うカバー部材に第1及び第2の係合部が設けられていることから、第1及び第2の側面と直交する第1の方向に任意の数の磁場検出装置を配列することができる。
本発明において、カバー部材は、キャンセルコイルの軸方向に延在し、且つ、互いに反対側に位置する第3及び第4の側面を有し、第3及び第4の側面にはそれぞれ第3及び第4の係合部が設けられており、第3の係合部の形状は、第4の係合部の形状と係合可能な形状であっても構わない。これによれば、第3及び第4の側面と直交する第2の方向に任意の数の磁場検出装置を配列することができる。この場合、第1及び第2の側面と第3及び第4の側面は、互いに直交するものであっても構わない。これによれば、第1の方向に隣接する2つの磁場検出装置の第1及び第2の係合部を互いに係合させ、第2の方向に隣接する2つの磁場検出装置の第3及び第4の係合部を互いに係合させることにより、複数の磁場検出装置がマトリクス状に配列されてなる磁場検出装置アレイを構成することが可能となる。
本発明において、カバー部材は、キャンセルコイルの軸方向に延在し、且つ、互いに反対側に位置する第5及び第6の側面を有し、第5及び第6の側面にはそれぞれ第5及び第6の係合部が設けられており、第5の係合部の形状は、第6の係合部の形状と係合可能な形状であり、第1及び第2の側面と、第3及び第4の側面と、第5及び第6の側面は、互いに60°の角を成すものであっても構わない。これによれば、第1の方向に隣接する2つの磁場検出装置の第1及び第2の係合部を互いに係合させ、第2の方向に隣接する2つの磁場検出装置の第3及び第4の係合部を互いに係合させ、第3の方向に隣接する2つの磁場検出装置の第5及び第6の係合部を互いに係合させることにより、複数の磁場検出装置がハニカム状に配列されてなる磁場検出装置アレイを構成することが可能となる。
本発明による磁場検出装置は、ボビン又はカバー部材に固定された第2の磁気センサと、第2の磁気センサの出力信号に応じてキャンセルコイルにキャンセル電流を流すことにより、キャンセル空間の環境磁場を打ち消すフィードバック回路とをさらに備え、第1の磁気センサは、キャンセル空間内に配置されていても構わない。これによれば、地磁気などの一様な環境磁場成分をキャンセルすることが可能となる。しかも、第1及び第2の磁気センサに対して共通のキャンセルコイルを用いていることから、部品点数を削減することができるとともに、回路構成を簡素化することが可能となる。
本発明において、第1及び第2の磁気センサのセンサヘッドは、キャンセルコイルの軸方向における位置が互いに異なっていても構わない。これによれば、信号磁場成分がキャンセルコイルによって打ち消されることを防止することが可能となる。この場合、ボビンの巻芯部は、軸方向における一方側において開口する第1のキャビティと、軸方向における他方側において開口する第2のキャビティを有し、第1の磁気センサは、第1のキャビティに収容され、第2の磁気センサは、第2のキャビティに収容されていても構わない。これによれば、第1の磁気センサと第2の磁気センサの距離を十分に離間させることが可能となる。さらにこの場合、第1の磁気センサのセンサヘッドは、ボビン又はカバー部材から軸方向における一方側に突出しており、第2の磁気センサのセンサヘッドは、ボビン又はカバー部材から軸方向における他方側に突出していても構わない。これによれば、測定対象物と第1の磁気センサの距離を近づけることが可能となる。
本発明によれば、磁場検出装置をアレイ状に配列する場合に、磁場検出装置の数やレイアウトの変更を容易に行うことが可能となる。
図1は、本発明の第1の実施形態による磁場検出装置1の外観を示す略斜視図である。 図2は、カバー部材100の外観を示す略斜視図である。 図3は、本体部200を測定面側から見た略斜視図である。 図4は、本体部200を裏面側から見た略斜視図である。 図5は、ボビン10の外観を示す略斜視図である。 図6は、磁気センサS1,S21~S24の内部構造の一例を示す模式図である。 図7は、本体部200の回路構成を示すブロック図である。 図8は、センサチップ22の略平面図である。 図9は、図8に示すA-A線に沿った略断面図である。 図10は、磁気センサS1、フィードバック回路31及びキャンセルコイルC2を含むフィードバックループの回路図である。 図11は、磁気センサS21~S24及び検出回路32の回路図である。 図12は、磁気センサS1,S21~S24が設けられる径方向位置を説明するための模式図である。 図13は、キャンセル空間40の位置を説明するための模式図である。 図14は、2個の磁場検出装置1を組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図15は、9個の磁場検出装置1を組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図16は、第1の変形例による磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図17は、第2の変形例による磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図18は、第3の変形例による磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図19は、第4の変形例による磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図20は、本発明の第2の実施形態による磁場検出装置2を4個組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。 図21は、本発明の第3の実施形態による磁場検出装置3の外観を示す略斜視図である。 図22は、14個の磁場検出装置3を組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態による磁場検出装置1の外観を示す略斜視図である。
図1に示すように、第1の実施形態による磁場検出装置1は、カバー部材100と、カバー部材100に収容された本体部200によって構成されている。カバー部材100の構成は図2に示すとおりであり、4つの側面110,120,130,140と、上面150及び下面160を有し、上面150から下面160に亘ってz方向に貫通する収容部170が設けられている。本体部200は、カバー部材100の収容部170に収容される。カバー部材100の側面110,120はyz面を構成し、互いに反対側に位置する。カバー部材100の側面130,140はxz面を構成し、互いに反対側に位置する。カバー部材100の上面150及び下面160はxy面を構成し、互いに反対側に位置する。側面110,120と側面130,140は互いに直交し、側面110,120のy方向における幅と側面130,140のx方向における幅は互いに同じである。つまり、z方向から見てカバー部材100の外形はほぼ正方形である。
側面110は、第1の部分111、第2の部分112及び第3の部分113を有する。第1の部分111は、第2の部分112と第3の部分113によってy方向から挟まれており、第2及び第3の部分112,113よりもx方向に突出している。第1の部分111と第2の部分112によって形成される段差、並びに、第1の部分111と第3の部分113によって形成される段差はいずれもz方向に延在し、側面110の係合部を構成する。
側面120は、第1の部分121、第2の部分122及び第3の部分123を有する。第1の部分121は、第2の部分122と第3の部分123によってy方向から挟まれており、第2及び第3の部分122,123よりもx方向に窪んでいる。第1の部分121と第2の部分122によって形成される段差、並びに、第1の部分121と第3の部分123によって形成される段差はいずれもz方向に延在し、側面120の係合部を構成する。側面120の係合部は、側面110の係合部と係合可能な形状を有している。つまり、側面120の第1の部分121のy方向における幅は、側面110の第1の部分111のy方向における幅とほぼ同じかやや広く設計されている。
側面130は、第1の部分131、第2の部分132及び第3の部分133を有する。第1の部分131は、第2の部分132と第3の部分133によってx方向から挟まれており、第2及び第3の部分132,133よりもy方向に窪んでいる。第1の部分131と第2の部分132によって形成される段差、並びに、第1の部分131と第3の部分133によって形成される段差はいずれもz方向に延在し、側面130の係合部を構成する。
側面140は、第1の部分141、第2の部分142及び第3の部分143を有する。第1の部分141は、第2の部分142と第3の部分143によってx方向から挟まれており、第2及び第3の部分142,143よりもy方向に突出している。第1の部分141と第2の部分142によって形成される段差、並びに、第1の部分141と第3の部分143によって形成される段差はいずれもz方向に延在し、側面140の係合部を構成する。側面140の係合部は、側面130の係合部と係合可能な形状を有している。つまり、側面140の第1の部分141のx方向における幅は、側面130の第1の部分131のx方向における幅とほぼ同じかやや狭く設計されている。
図3及び図4は、本体部200の外観を示す図であり、図3は測定面側から見た略斜視図、図4は裏面側から見た略斜視図である。
図3及び図4に示すように、本体部200は、樹脂材料などからなるボビン10と、ボビン10に巻回されたキャンセルコイルC2と、ボビン10に固定された複数の磁気センサS1,S21~S24を備えている。ボビン10は、カバー部材100の収容部170に収容されて固定される。これにより、キャンセルコイルC2は軸方向に対して垂直な方向(径方向)からカバー部材100で覆われ保護される。ボビン10の構造は図5に示すとおりであり、巻芯部13と、巻芯部13のz方向における両端に設けられた鍔部11,12を有している。巻芯部13の外周面は、z方向から見て円形である。キャンセルコイルC2はボビン10の巻芯部13に巻回されており、したがってキャンセルコイルC2のコイル軸方向はz方向である。巻芯部13は筒状であり、z方向に延在する中空部14を有している。但し、巻芯部13の外周面が円形である必要はなく、四角形であっても構わないし、八角形であっても構わないし、楕円形であっても構わない。
本実施形態においては、ボビン10の巻芯部13に5つのキャビティA0~A4が設けられている。キャビティA0~A4は巻芯部13をz方向に貫通する貫通孔であり、キャビティA0~A4のz方向における一端は鍔部11において開口し、キャビティA0~A4のz方向における他端は鍔部12において開口する。キャビティA0~A4の径方向位置は互いに同じである。そして、本実施形態においては、キャビティA0に磁気センサS1が収容され、キャビティA1~A4にそれぞれ磁気センサS21~S24が収容されている。磁気センサS1のセンサヘッドは鍔部11からz方向に突出しており、磁気センサS21~S24のセンサヘッドは鍔部12からz方向に突出している。磁気センサS1,S21~S24は、ボビン10の鍔部11に固定された回路基板15に接続されている。
かかる構成により、磁気センサS1,S21~S24はいずれもz方向から見てキャンセルコイルC2の内径領域と重なる位置に配置され、且つ、磁気センサS1のセンサヘッドと磁気センサS21~S24のセンサヘッドのz方向における位置は、互いに異なっている。磁気センサS21~S24のセンサヘッドのz方向における位置は互いに同じである。また、磁気センサS1のセンサヘッドと磁気センサS21~S24のセンサヘッドのコイル軸を中心とした径方向位置は、互いに同じである。
磁気センサS1は地磁気などの環境磁場成分を検出するためのセンサであり、磁気センサS21~S24は測定対象物から発せられる信号磁場成分を検出するためのセンサである。磁気センサS1,S21~S24は感度軸方向がいずれもz方向であり、その大部分はキャンセルコイルC2の内径領域に位置しているが、上述の通り、磁気センサS21~S24のセンサヘッドは鍔部12から突出している。これは、磁気センサS21~S24のセンサヘッドを測定対象物により近づけるためである。つまり、磁気センサS21~S24のセンサヘッドがボビン10に埋め込まれていると、測定対象物と磁気センサS21~S24のセンサヘッドの距離が大きくなるからである。一方、磁気センサS1のセンサヘッドについては鍔部11から突出させる必要はないが、磁気センサS21~S24との対称性を高めるためには、磁気センサS1の鍔部11からの突出量は、磁気センサS21~S24の鍔部12からの突出量と一致させることが好ましい。
図6は、磁気センサS1,S21~S24の内部構造の一例を示す模式図である。
図6に示す例では、磁気センサS1,S21~S24が互いに同じ構造を有しており、いずれもセンサ収容体20と、センサ収容体20に収容された基板21と、基板21に搭載されたセンサチップ22及び集磁体23を備えている。集磁体23はz方向に延在する棒状体であり、フェライトなどの高透磁率材料からなる。集磁体23のz方向における一端はセンサヘッドHを構成し、集磁体23のz方向における他端にセンサチップ22が配置される。これにより、センサヘッドHの近傍に位置する測定対象物から発せられるz方向の信号磁場成分が集磁体23によって集磁され、センサチップ22に印加される。
図7は、本体部200の回路構成を示すブロック図である。
図7に示すように、本体部200は、磁気センサS1に接続されたフィードバック回路31と、磁気センサS21~S24に接続された検出回路32を備えている。フィードバック回路31は、環境磁場成分を打ち消すためのフィードバック電流F1を生成する回路であり、フィードバック回路31によって生成されたフィードバック電流F1は、キャンセルコイルC2に供給される。これにより、磁気センサS1、フィードバック回路31及びキャンセルコイルC2は、環境磁場成分を打ち消すフィードバックループを構成する。一方、検出回路32は、磁気センサS21~S24からの出力信号に応じて、測定対象物から発せられる信号磁場成分を示す検出信号Voutを生成する。
図8はセンサチップ22の略平面図であり、図9は図8に示すA-A線に沿った略断面図である。
図8及び図9に示すように、センサチップ22の素子形成面には、4つの磁気抵抗効果素子M1~M4と、キャンセルコイルC1が集積されている。キャンセルコイルC1は絶縁膜24で覆われ、絶縁膜24上に磁気抵抗効果素子M1~M4が形成されている。磁気抵抗効果素子M1~M4は、絶縁膜25で覆われる。そして、集磁体23はz方向から見て、磁気抵抗効果素子M1,M2と磁気抵抗効果素子M3,M4の間に配置される。これにより、集磁体23によって集磁されたz方向の磁界は、センサチップ22の素子形成面上で+x方向及び-x方向に分配される。その結果、磁気抵抗効果素子M1,M2と磁気抵抗効果素子M3,M4には、互いに逆方向の磁界成分が印加される。ここで、磁気抵抗効果素子M1~M4の固定磁化方向はいずれも+x方向又は-x方向に揃えられている。
また、キャンセルコイルC1は、磁気抵抗効果素子M1~M4と重なるように配置されており、キャンセルコイルC1にキャンセル電流を流すと、磁気抵抗効果素子M1,M2と磁気抵抗効果素子M3,M4には、互いに逆方向のキャンセル磁界が印加される。
図10は、磁気センサS1、フィードバック回路31及びキャンセルコイルC2を含むフィードバックループの回路図である。
図10に示すように、磁気センサS1に含まれる磁気抵抗効果素子M1~M4はブリッジ接続され、これにより生成される差動信号がフィードバック回路31に含まれる差動アンプ31aに供給される。差動アンプ31aは、差動信号に基づいてフィードバック電流F1を生成する。フィードバック電流F1は、直列接続されたキャンセルコイルC1,C2に流れる。これにより、キャンセルコイルC1,C2は、磁気センサS1の出力信号である差動信号成分がゼロとなるよう、キャンセル磁界を発生させる。
また、本実施形態においては、キャンセルコイルC2に抵抗R1が並列接続されている。抵抗R1の抵抗値は、キャンセルコイルC2の等価直列抵抗(ESR)よりも大きく、好ましくはESRの10倍以上、より好ましくはESRの100倍以上に設定される。これにより、フィードバック電流F1のうち、地磁気などに起因する低周波成分についてはキャンセルコイルC2を流れる一方、発振の原因となる高周波成分については抵抗R1をバイパスする。その結果、フィードバックループの発振を防止しつつ、地磁気などの環境磁場成分を正しくキャンセルすることが可能となる。
図11は、磁気センサS21~S24及び検出回路32の回路図である。
図9に示すように、磁気センサS21~S24に含まれる磁気抵抗効果素子M1~M4はブリッジ接続され、これにより生成される差動信号が検出回路32に含まれる差動アンプ32aに供給される。差動アンプ32aは、差動信号に基づいてフィードバック電流F2を生成する。フィードバック電流F2は、キャンセルコイルC1に流れる。これにより、キャンセルコイルC1は、磁気センサS21~S24の出力信号である差動信号成分がゼロとなるよう、キャンセル磁界を発生させる。
さらに、検出回路32には、フィードバック電流F2を電流電圧変換する抵抗R2と、抵抗R2の両端間電圧を測定する電圧測定回路33が設けられている。これにより、フィードバック電流F2が流れると、その電流量に比例した検出信号Voutが生成される。
図12は、磁気センサS1,S21~S24が設けられる径方向位置を説明するための模式図である。
図12に示すように、キャンセルコイルC2の軸方向(z方向)から見て、磁気センサS1は、キャンセルコイルC2の内径領域の中心からオフセットした位置に配置されている。上述の通り、キャンセルコイルC2は、磁気センサS1に印加される環境磁場成分がゼロとなるよう、キャンセル磁界を発生させる。しかしながら、環境磁場成分がゼロとなるのは磁気センサS1が配置された位置だけではなく、キャンセルコイルC2と同心円状に分布するキャンセル空間40においても環境磁場成分がゼロとなる。これは、キャンセル磁界の強度分布が同心円状であるため、環境磁場成分が一様であれば、磁気センサS1と径方向位置が同じ領域においては環境磁場成分が完全に打ち消されるからである。
図13に示すように、キャンセル空間40は、磁気センサS1のセンサヘッドが位置する鍔部11側だけでなく、磁気センサS21~S24のセンサヘッドが位置する鍔部12側にも対称に形成される。そして、本実施形態においては、鍔部12側に形成されるキャンセル空間40内に磁気センサS21~S24が配置される。これにより、磁気センサS21~S24に印加される環境磁場成分もゼロとなることから、磁気センサS21~S24には測定対象物から発せられる信号磁場成分のみが印加されることになる。このため、シールドルームを用いることなく、微弱な磁場を検出することが可能となる。しかも、5つの磁気センサS1,S21~S24に対して共通のキャンセルコイルC2を割り当てていることから、部品点数を削減することができるとともに、回路構成を簡素化することが可能となる。
本実施形態においては、キャビティA0~A4の径方向位置が互いに同じであるため、磁気センサS21~S24に印加される環境磁場成分はゼロとなる。しかも、本実施形態においては、環境磁場成分を検出するための磁気センサS1のセンサヘッドを鍔部11側に設け、信号磁場成分を検出するための磁気センサS21~S24のセンサヘッドを鍔部12側に設けていることから、測定対象物から発せられる信号磁場成分が磁気センサS1にほとんど印加されず、このため、信号磁場成分の一部又は全部がキャンセルされることがない。そして、微弱な磁場を発生する測定対象物を磁気センサS21~S24のセンサヘッドに近接させた状態で測定を行えば、測定対象物から発せられる信号磁場成分をリアルタイムに検出することが可能となる。また、キャンセルコイルC2と磁気センサS1,S21~S24が同じボビン10に固定されていることから、キャンセルコイルC2と磁気センサS1,S21~S24の間の位置ずれもほとんど生じない。
図14は、2個の磁場検出装置1を組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。
図14に示すように、2個の磁場検出装置1をx方向に連結する場合、一方の磁場検出装置1の側面110と、他方の磁場検出装置1の側面120を向かい合わせることによって、お互いの係合部を係合させる。つまり、側面110の第1~第3の部分111~113と、側面120の第1~第3の部分121~123がそれぞれ密着するため、2個の磁場検出装置1のy方向位置が固定される。図示しないが、2つの磁場検出装置1をy方向に連結する場合には、一方の磁場検出装置1の側面130と、他方の磁場検出装置1の側面140を向かい合わせることによって、お互いの係合部を係合させればよい。これにより、2つの磁場検出装置1のx方向位置が固定される。
図15は、9個の磁場検出装置1を組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。
図15に示す例では、9個の磁場検出装置1を3×3のアレイ状に連結している。この場合、x方向に隣接する2つの磁場検出装置1の側面110,120に設けられた係合部が互いに係合し、y方向に隣接する2つの磁場検出装置1の側面130,140に設けられた係合部が互いに係合する。
このように、複数の磁場検出装置1をアレイ状に配列すれば、信号磁場成分を検出するための磁気センサS21~S24をxy平面にマトリクス状に配列することが可能となる。図15に示す例では、x方向に延在する仮想線x1~x6と、y方向に延在する仮想線y1~y6の各交点に磁気センサS21,S22,S23又はS24が配置されている。ここで、仮想線x1~x6のピッチPと仮想線y1~y6のピッチPが等しくなるよう設計すれば、信号磁場成分の空間分布を広範囲に測定することが可能となる。
複数の磁場検出装置1をアレイ状に配列する場合、環境磁場成分を検出するための磁気センサS1を全ての磁場検出装置1に設ける必要はなく、いずれか一つの磁場検出装置1に磁気センサS1を設け、フィードバック電流F1を各磁場検出装置1のキャンセルコイルC2に供給しても構わない。これによれば、使用する磁気センサの数を削減することが可能となる。
複数の磁場検出装置1の組み合わせ方は任意であり、図16~図19に示す例のように組み合わせても構わない。図16は、x方向位置及びy方向位置によって磁場検出装置1の数が異なる例である。図17は、x方向位置及びy方向位置によって磁場検出装置1のz方向位置が異なる例である。図18は12個の磁場検出装置1をリング状に配置した例であり、図19は12個の磁場検出装置1からなるリングを3つ組み合わせた例である。
以上説明したように、本実施形態による磁場検出装置1は、本体部200が収容されるカバー部材100の側面110,120,130,140にそれぞれ係合部が設けられていることから、位置ずれを生じることなく、x方向及びy方向に任意の数の磁場検出装置1を配列することができる。これにより、磁場検出装置1の数やレイアウトの変更を容易に行うことが可能となる。
図20は、本発明の第2の実施形態による磁場検出装置2を4個組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。
図20に示すように、第2の実施形態による磁場検出装置2は、側面110,120のy方向における幅よりも、側面130,140のx方向における幅の方が大きい点において、第1の実施形態による磁場検出装置1と相違している。つまり、本実施形態においては、z方向から見たカバー部材100の外形がほぼ長方形である。第2の実施形態による磁場検出装置2が例示するように、本発明においてz方向から見たカバー部材100の外形が正方形に限定されるものではない。
図21は、本発明の第3の実施形態による磁場検出装置3の外観を示す略斜視図である。
図21に示すように、第3の実施形態による磁場検出装置3は、z方向から見たカバー部材300の外形が六角形である点において、第1の実施形態による磁場検出装置1と相違している。本実施形態においては、カバー部材300が6つの側面310,320,330,340,350,360を有しており、側面310,320はa方向に対して直交し、側面330,340はb方向に対して直交し、側面350,360はc方向に対して直交する。a方向、b方向及びc方向は、互いに60°(又は120°)の角を成す。このため、側面310,320と、側面330,340と、側面350,360は、互いに60°(又は120°)の角を成している。
さらに、側面310に設けられた係合部とその反対側に位置する側面320に設けられた係合部が互いに係合可能な形状を有し、側面330に設けられた係合部とその反対側に位置する側面340に設けられた係合部が互いに係合可能な形状を有し、側面350に設けられた係合部とその反対側に位置する側面360に設けられた係合部が互いに係合可能な形状を有している。図21に示す例では、ボビン10の中央部にキャビティB0が設けられ、同心円状に6つのキャビティB1~B6が設けられている。キャビティB1には、信号磁場成分を検出するための磁気センサS21が挿入されている。他のキャビティB2~B6には、信号磁場成分を検出するための他の磁気センサS22~S24や、環境磁場成分を検出するための磁気センサS1を挿入しても構わない。磁気センサS1をキャビティB0に挿入した場合、磁気センサS1が設けられた位置において環境磁場成分を完全にキャンセルするのではなく、磁気センサS21が設けられた位置において環境磁場成分が完全にキャンセルされるよう、フィードバックループのゲインを調整する必要がある。
図22は、14個の磁場検出装置3を組み合わせた磁場検出装置アレイを示す略斜視図である。図22に示す例では、a方向に隣接する磁場検出装置3の側面310,320に設けられた係合部が互いに係合し、b方向に隣接する磁場検出装置3の側面330,340に設けられた係合部が互いに係合し、c方向に隣接する磁場検出装置3の側面350,360に設けられた係合部が互いに係合する。図22に示すように、本実施形態による磁場検出装置3を用いれば、複数の磁場検出装置3をハニカム状に配列することが可能となる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
例えば、上記各実施形態においては磁気センサをボビンに固定しているが、カバー部材にキャビティを設けることによって、磁気センサをカバー部材に固定しても構わない。
また、上記各実施形態においては係合部がz方向に延在する段差によって構成されているが、係合部の形状がこれに限定されるものではない。例えば、側面110の第1の部分111や、側面120の第1の部分121のy方向における幅をz方向位置によって異ならせることにより、係合する2つの磁場検出装置をy方向だけでなくz方向に固定しても構わない。さらに、一方の磁場検出装置の側面110と、他方の磁場検出装置の側面120をネジ止めすることによって両者を係合しても構わない。
また、第1の実施形態による磁場検出装置1では、環境磁場成分を検出する磁気センサを4つ備えているが、環境磁場成分を検出する磁気センサの数については特に限定されない。
1~3 磁場検出装置
10 ボビン
11,12 鍔部
13 巻芯部
14 中空部
15 回路基板
20 センサ収容体
21 基板
22 センサチップ
23 集磁体
24,25 絶縁膜
31 フィードバック回路
31a 差動アンプ
32 検出回路
32a 差動アンプ
33 電圧測定回路
40 キャンセル空間
100 カバー部材
110,120,130,140 側面
111,121,131,141 第1の部分
112,122,132,142 第2の部分
113、123,133,143 第3の部分
120 側面
121 第1の部分
122 第2の部分
150 上面
160 下面
170 収容部
200 本体部
300 カバー部材
310,320,330,340,350,360 側面
A0~A4,B0~B6 キャビティ
C1,C2 キャンセルコイル
F1,F2 フィードバック電流
H センサヘッド
L0~L4 配線
M1~M4 磁気抵抗効果素子
R1,R2 抵抗
S1,S21~S24 磁気センサ

Claims (10)

  1. ボビンと、
    前記ボビンに巻回されたキャンセルコイルと、
    前記ボビンに固定され、前記キャンセルコイルを軸方向に対して垂直な方向から覆うカバー部材と、
    前記ボビン又は前記カバー部材に固定された第1及び第2の磁気センサと、
    前記第2の磁気センサの出力信号に応じて前記キャンセルコイルにキャンセル電流を流すことにより、前記キャンセルコイルの軸方向における一方側に位置する第1のキャンセル空間、並びに、前記キャンセルコイルの軸方向における他方側に位置する第2のキャンセル空間の環境磁場を打ち消すフィードバック回路と、を備え、
    前記第1の磁気センサは、前記第1のキャンセル空間内に配置されており、
    前記第2の磁気センサは、前記第2のキャンセル空間内に配置されており、
    前記カバー部材は、前記キャンセルコイルの前記軸方向に延在し、且つ、互いに反対側に位置する第1及び第2の側面を有し、
    前記第1及び第2の側面には、それぞれ第1及び第2の係合部が設けられており、
    前記第1の係合部の形状は、前記第2の係合部の形状と係合可能な形状であることを特徴とする磁場検出装置。
  2. 前記カバー部材は、前記キャンセルコイルの軸方向に延在し、且つ、互いに反対側に位置する第3及び第4の側面を有し、
    前記第3及び第4の側面には、それぞれ第3及び第4の係合部が設けられており、
    前記第3の係合部の形状は、前記第4の係合部の形状と係合可能な形状であることを特徴とする請求項1に記載の磁場検出装置。
  3. 前記第1及び第2の側面と前記第3及び第4の側面は、互いに直交することを特徴とする請求項2に記載の磁場検出装置。
  4. 前記カバー部材は、前記キャンセルコイルの軸方向に延在し、且つ、互いに反対側に位置する第5及び第6の側面を有し、
    前記第5及び第6の側面には、それぞれ第5及び第6の係合部が設けられており、
    前記第5の係合部の形状は、前記第6の係合部の形状と係合可能な形状であり、
    前記第1及び第2の側面と、前記第3及び第4の側面と、前記第5及び第6の側面は、互いに60°の角を成すことを特徴とする請求項2に記載の磁場検出装置。
  5. 前記ボビン又は前記カバー部材は、軸方向における前記一方側において開口する第1のキャビティと、軸方向における前記他方側において開口する第2のキャビティを有し、
    前記第1の磁気センサは、前記第1のキャビティに収容され、
    前記第2の磁気センサは、前記第2のキャビティに収容されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の磁場検出装置。
  6. 前記第1の磁気センサのセンサヘッドは、前記ボビン又は前記カバー部材から軸方向における前記一方側に突出しており、
    前記第2の磁気センサのセンサヘッドは、前記ボビン又は前記カバー部材から軸方向における前記他方側に突出していることを特徴とする請求項に記載の磁場検出装置。
  7. 前記第1の磁気センサを複数備え、
    前記複数の第1の磁気センサは、前記キャンセルコイルの軸方向における前記一方側において、前記キャンセルコイルのコイル軸を中心とした径方向位置が互いに同じとなるよう、同心円状に配置されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の磁場検出装置。
  8. 前記キャンセルコイルのコイル軸を中心とした前記第2の磁気センサの径方向位置は、前記キャンセルコイルのコイル軸を中心とした前記複数の第1の磁気センサの径方向位置と同じであることを特徴とする請求項7に記載の磁場検出装置。
  9. 請求項3に記載の磁場検出装置を複数備え、
    前記第1及び第2の側面と直交する第1の方向に隣接する2つの磁場検出装置の前記第1及び第2の係合部が互いに係合し、
    前記第3及び第4の側面と直交する第2の方向に隣接する2つの磁場検出装置の前記第3及び第4の係合部が互いに係合していることを特徴とする磁場検出装置アレイ。
  10. 請求項4に記載の磁場検出装置を複数備え、
    前記第1及び第2の側面と直交する第1の方向に隣接する2つの磁場検出装置の前記第1及び第2の係合部が互いに係合し、
    前記第3及び第4の側面と直交する第2の方向に隣接する2つの磁場検出装置の前記第3及び第4の係合部が互いに係合し、
    前記第5及び第6の側面と直交する第3の方向に隣接する2つの磁場検出装置の前記第5及び第6の係合部が互いに係合していることを特徴とする磁場検出装置アレイ。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024135415A1 (ja) * 2022-12-19 2024-06-27 日置電機株式会社 ゼロフラックス方式の電流センサ及び測定装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005016960A (ja) 2003-06-23 2005-01-20 Hitachi High-Technologies Corp 磁場計測装置
JP2013124873A (ja) 2011-12-13 2013-06-24 Seiko Epson Corp 磁場測定装置及びセルアレイ
WO2018025829A1 (ja) 2016-08-02 2018-02-08 国立大学法人東京医科歯科大学 生体磁気測定装置
JP2019211405A (ja) 2018-06-07 2019-12-12 Tdk株式会社 磁気センサ連結体
JP2020071198A (ja) 2018-11-02 2020-05-07 Tdk株式会社 磁気センサ

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3445928A (en) * 1966-03-25 1969-05-27 Bunker Ramo Magnetometer method of manufacture
CA2008009C (en) * 1989-01-20 1994-05-03 Hajime Hayashi Apparatus for measuring magnetic field
US5537037A (en) * 1993-03-16 1996-07-16 Hitachi, Ltd. Apparatus with cancel coil assembly for cancelling a field parallel to an axial direction to the plural coils and to a squid pick up coil
US20070188168A1 (en) * 1999-08-26 2007-08-16 Stanley James G Magnetic sensor
JP4193382B2 (ja) * 2001-07-19 2008-12-10 株式会社日立製作所 磁場計測装置
US7135978B2 (en) * 2001-09-14 2006-11-14 Calypso Medical Technologies, Inc. Miniature resonating marker assembly
GB2425610A (en) * 2005-04-29 2006-11-01 Univ London Magnetic properties sensing system
US9451734B2 (en) * 2012-09-18 2016-09-20 Seiko Epson Corporation Magnetic shielding device and magnetic shielding method
EP2894489B1 (en) * 2014-01-13 2019-03-13 TDK-Micronas GmbH Sensor device
JP2015210251A (ja) * 2014-04-30 2015-11-24 日本電産サンキョー株式会社 電流センサ
DE102015009603B4 (de) * 2015-07-24 2019-05-09 Te Connectivity Germany Gmbh Vorrichtung zum messen eines elektrischen stromes durch eine stromschiene
JP6666732B2 (ja) 2016-01-29 2020-03-18 株式会社アドバンテスト 磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置
EP3309559A1 (en) * 2016-10-11 2018-04-18 LEM Intellectual Property SA Electrical current transducer
JP6520896B2 (ja) * 2016-11-16 2019-05-29 Tdk株式会社 磁気センサ用インダクタンス素子及びこれを備える磁気センサ
JP6969142B2 (ja) * 2017-04-12 2021-11-24 Tdk株式会社 磁気センサ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005016960A (ja) 2003-06-23 2005-01-20 Hitachi High-Technologies Corp 磁場計測装置
JP2013124873A (ja) 2011-12-13 2013-06-24 Seiko Epson Corp 磁場測定装置及びセルアレイ
WO2018025829A1 (ja) 2016-08-02 2018-02-08 国立大学法人東京医科歯科大学 生体磁気測定装置
JP2019211405A (ja) 2018-06-07 2019-12-12 Tdk株式会社 磁気センサ連結体
JP2020071198A (ja) 2018-11-02 2020-05-07 Tdk株式会社 磁気センサ

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