JP7498153B2 - 断面情報計測装置 - Google Patents

Description

本発明は、金属材の断面の情報を計測する断面情報計測装置に関する。

例えば特許文献１などに、金属材の断面情報を測定する装置が記載されている。同文献に記載の技術では、金属材の断面の短辺の情報（同文献では形状）が計測される（同文献の［０００５］、［０００６］などを参照）。

特許第４６８１５０８号公報

同文献に記載の技術では、金属材の断面の長辺の情報、すなわち金属材の厚さ方向両面の断面情報を得ることはできない。また、金属材は、金属材の厚さ方向に曲がっている（反っている）場合がある。このような場合でも、金属材の厚さ方向両面の断面情報を精度良く測定することが望まれる。

そこで、本発明は、金属材が金属材厚さ方向に曲がっていても、金属材の断面情報を精度良く測定することができる断面情報計測装置を提供することを目的とする。

断面情報計測装置は、金属材の断面情報を計測する。前記金属材の厚さ方向である金属材厚さ方向における一方側を第１側、前記第１側とは反対側を第２側とする。断面情報計測装置は、第１距離計と、第２距離計と、制御装置と、を備える。前記第１距離計は、前記金属材よりも前記第１側に配置され、前記金属材の前記第１側の面の照射位置である第１照射位置にレーザ光を照射する。前記第２距離計は、前記金属材よりも前記第２側に配置され、前記金属材の前記第２側の面の照射位置である第２照射位置にレーザ光を照射する。前記制御装置は、前記金属材厚さ方向に沿った方向から見たときに前記第１照射位置と前記第２照射位置とが一致するように、前記第１距離計のレーザ光と前記第２距離計のレーザ光と前記金属材との相対位置を制御する照射位置調整制御を行う。前記制御装置は、前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれの計測結果に基づいて、前記金属材の厚さを演算する。

上記構成により、金属材が金属材厚さ方向に曲がっていても、金属材の断面情報を精度良く測定することができる。

金属材１０および断面情報計測装置２０を示す斜視図である。 図１に示す断面情報計測装置２０などを上側Ｚ１から見た図である。 図２に示す状態から横方向Ｙに金属材１０が移動した状態を示す図２相当図である。 図１に示す断面情報計測装置２０などを横方向Ｙから見た図である。 図４に示す金属材１０の厚さが変化したときの距離計５０の位置を示す図４相当図である。 図４に示す断面情報計測装置２０などの寸法および角度を示す図である。 図５に示すビーム交点Ｏが基準面Ｐ上にあるときの図４相当図である。 第２実施形態の図４相当図である。 第３実施形態の図４相当図である。 第４実施形態の図２相当図である。 第５実施形態の図１相当図である。 図１１に示す断面情報計測装置５２０、第１ビームＢ１、および第２ビームＢ２などを示す斜視図である。 図１２に示す状態よりも金属材１０が厚いときの図１２相当図である。 図１３に示す状態よりも金属材１０が厚いときの図１３相当図である。

（第１実施形態）
図１～図７を参照して、第１実施形態の断面情報計測装置２０、および金属材１０について説明する。

金属材１０は、断面情報計測装置２０による計測の対象物である。金属材１０を構成する金属は、純金属でも合金でもよい。金属材１０を構成する金属は、鉄でもよく、鉄合金（例えば鋼）でもよく、アルミニウムでもよく、アルミニウム合金でもよく、その他の金属でもよい。例えば、金属材１０は、直方体状または略直方体状などである。例えば、金属材１０は、板状または略板状などである。具体的には例えば、金属材１０は、スラブなどである。例えば、金属材１０の横方向Ｙの長さは、金属材１０の上下方向Ｚ（金属材厚さ方向）の長さに比べて大きい。なお、「横方向Ｙ」などの方向の定義については後述する。金属材１０は、鋳造直後のもの（鋳片）でもよい。金属材１０は、加工後のものでもよく、例えば塑性変形後（例えば圧延後）のものでもよく、切削後のものでもよい。金属材１０は、熱間でもよく、例えば鋳造直後の赤熱した状態でもよい。金属材１０は、冷間（例えば室温または略室温など）でもよい。金属材１０が、鋳造直後の熱間の場合は、鋳造後のより早い段階で金属材１０の断面情報を計測でき、金属材１０の異常を早期に発見することができる。断面情報計測装置２０による計測対象となる金属材１０の断面を、断面１０ｃとする。図４に示すように、金属材１０は、金属材上面１１と、金属材下面１２と、を備える。

金属材上面１１は、金属材１０の上側Ｚ１の面（第１面）である。金属材下面１２は、金属材１０の下側Ｚ２の面（第２面）である。金属材下面１２の特定部分１２ａを通る面であって、断面１０ｃに直交する面を、基準面Ｐとする。例えば、基準面Ｐは、金属材下面１２のうち置台３１（後述）に支持される部分を通る面であって、上下方向Ｚに直交する面（支持面、搬送面、パスライン）である。金属材下面１２が理想的な平面であると仮定した場合、基準面Ｐは、金属材下面１２と一致する。金属材下面１２が上下方向Ｚに曲がる場合（反っている場合）は、金属材下面１２は、基準面Ｐに対してずれる。図４などでは、金属材下面１２と基準面Ｐとが一致している場合を図示した。

（方向）
図１に示すように、金属材１０の厚さ方向を上下方向Ｚ（金属材厚さ方向）とする。上下方向Ｚにおける一方側を上側Ｚ１（第１側）とし、上側Ｚ１とは反対側を下側Ｚ２（第２側）とする。上下方向Ｚは、鉛直方向でもよく、鉛直方向でなくてもよい。上下方向Ｚが鉛直方向の場合、上側Ｚ１は、鉛直方向の上であり、下側Ｚ２は、鉛直方向の下である。金属材１０の計測対象となる断面１０ｃに直交する方向を、前後方向Ｘとする。例えば、前後方向Ｘは、金属材１０の長手方向（金属材長手方向）である。前後方向Ｘは、金属材１０の鋳造方向でもよく、金属材１０の加工方向（例えば圧延方向）でもよい。前後方向Ｘは、上下方向Ｚに交差（例えば直交）する。前後方向Ｘの一方側を前側Ｘ１とし、前側Ｘ１とは反対側を後側Ｘ２とする。前後方向Ｘおよび上下方向Ｚのそれぞれに交差（例えば直交）する方向を横方向Ｙとする。例えば、横方向Ｙは、金属材１０の幅方向（金属材幅方向）である。

断面情報計測装置２０は、金属材１０の断面１０ｃの情報（断面情報）を計測する装置である。断面情報計測装置２０が計測する断面情報は、少なくとも金属材１０の断面１０ｃの上下方向Ｚの幅（すなわち厚さ）を含む。断面情報は、金属材１０の断面１０ｃの横方向Ｙの幅を含んでもよい。断面情報は、前後方向Ｘから見た金属材１０の断面１０ｃの形状を含んでもよい。断面情報計測装置２０は、金属材１０の連続した製造プロセスの途中に設けられてもよい。断面情報計測装置２０は、鋳造直後の金属材１０（鋳片）を計測するために、鋳造設備に設けられてもよい。断面情報計測装置２０は、加工された金属材１０を計測するために、加工設備に設けられてもよく、具体的には例えば圧延機の近傍などに配置されてもよい。断面情報計測装置２０は、金属材１０の連続した製造プロセスの途中に設けられなくてもよい。例えば、断面情報計測装置２０は、ローラなどにより断面情報計測装置２０に運搬された金属材１０を計測してもよく、天井クレーンなどにより断面情報計測装置２０に運搬された金属材１０を計測してもよい。断面情報計測装置２０は、金属材支持部３０と、距離計支持部４０と、距離計５０と、制御装置６０と、を備える。

金属材支持部３０は、金属材１０を支持する。例えば、上下方向Ｚが鉛直方向の場合、金属材支持部３０は、金属材１０を下側Ｚ２から支持する台（架台）でもよい。例えば、上下方向Ｚが鉛直方向でない場合、金属材支持部３０は、例えば金属材１０を挟むように支持してもよい。以下では、主に、上下方向Ｚが鉛直方向である場合について説明する。金属材支持部３０は、床Ｆ（ベース部）に設置される。金属材支持部３０は、置台３１と、金属材移動装置３３と、を備える。

置台３１は、金属材１０を下側Ｚ２から支持する台であり、金属材１０が置かれる台である。置台３１は、床Ｆに設置される。例えば、置台３１は、置台支柱３１ａと、置台支持部３１ｂと、を備える。置台支柱３１ａは、床Ｆから上側Ｚ１に突出するように、床Ｆに設置（固定）される。置台支柱３１ａは、例えば複数設けられ、図１に示す例では４本設けられる。置台支持部３１ｂは、金属材１０に接触する部分である。置台支持部３１ｂは、例えば複数設けられ、図１に示す例では２つ設けられる。置台支持部３１ｂは、横方向Ｙに延びるように配置される。置台支持部３１ｂは、置台支柱３１ａに支持される。置台支持部３１ｂは、複数（例えば２本）の置台支柱３１ａに架け渡されるように配置される。なお、図１に示す置台３１の構造は一例であり、置台３１の構造は様々に変形可能である（他の部分の構造も同様）。置台支持部３１ｂは、横方向Ｙに移動可能に金属材１０を支持してもよい。この場合、例えば、置台支持部３１ｂは（金属材支持部３０は）、ローラテーブルでもよい。置台支持部３１ｂは、金属材１０を移動可能に支持しないものでもよい。

金属材移動装置３３は、床Ｆに対して金属材１０を移動させる装置（シフト装置、シフト手段）である。金属材移動装置３３は、上下方向Ｚに金属材１０を移動させてもよい（図８に示す金属材移動装置２３３を参照）。金属材移動装置３３は、上下方向Ｚに直交する方向に金属材１０を移動させてもよい。金属材移動装置３３は、断面１０ｃと平行かつ上下方向Ｚに交差する方向に金属材１０を移動させてもよく、具体的には横方向Ｙに金属材１０を移動させてもよい。ここでは、金属材移動装置３３が横方向Ｙに金属材１０を移動させる場合について説明する。図１に示す例では、金属材移動装置３３は、金属材１０よりも横方向Ｙ外側に配置される。例えば、金属材移動装置３３は、横方向Ｙに伸縮する伸縮シリンダなどである。金属材移動装置３３は、１つのみ設けられてもよく、複数設けられてもよい。図１に示す例では、金属材移動装置３３は、前後方向Ｘに間隔をあけて複数（例えば２つ）設けられる。金属材移動装置３３は、伸縮シリンダでなくてもよく、例えば置台３１と兼用されてもよい。具体的には例えば、金属材移動装置３３である置台３１に設けられた装置が駆動することで、金属材移動装置３３が、金属材１０を横方向Ｙに移動させてもよい。具体的には例えば、金属材移動装置３３は、トラバーサでもよく、チェーントランスファでもよく、スキッドでもよい。

距離計支持部４０は、距離計５０を支持する。図４に示すように、距離計支持部４０は、床Ｆに設置される。距離計支持部４０は、固定支持部材４１と、共通支持部材４３と、距離計駆動部４５と、を備える。

固定支持部材４１は、床Ｆに設置され、床Ｆに固定される。固定支持部材４１は、支柱４１ａと、ガイド部４１ｂと、を備える。支柱４１ａは、床Ｆに設置され、床Ｆに固定される。支柱４１ａは、床Ｆから上側Ｚ１に突出する。支柱４１ａは、例えば柱状であり、図１に示す例では円柱状であり、角柱状などでもよい。図４に示すガイド部４１ｂは、支柱４１ａに対して共通支持部材４３をガイドする。ガイド部４１ｂは、支柱４１ａに対して上下方向Ｚに移動可能に共通支持部材４３を支持する。ガイド部４１ｂは、支柱４１ａに対して、上下方向Ｚに直交する方向への共通支持部材４３の移動を制限する。ガイド部４１ｂは、支柱４１ａに固定される。ガイド部４１ｂは、共通支持部材４３をガイド可能な形状を有し、例えば筒状などである。ガイド部４１ｂは、図１に示す例では円筒状であり、角筒状などでもよい。

共通支持部材４３は、図４に示すように、第１距離計５１および第２距離計５２を支持する。共通支持部材４３は、第１距離計５１と第２距離計５２との上下方向Ｚの距離を一定に保つ（維持する）。共通支持部材４３は、ガイド部４１ｂに上下方向Ｚに移動可能に取り付けられる。共通支持部材４３は、例えばガイド部４１ｂに差し込まれ、例えばガイド部４１ｂに対して摺動可能である。共通支持部材４３は、ガイド部４１ｂにガイドされることが可能な形状を有する。例えば、ガイド部４１ｂが筒状であれば、共通支持部材４３は、ガイド部４１ｂに差し込み可能な棒状（図１に示す例では円柱状）などである。

この共通支持部材４３が設けられることにより、図４に示す第１距離計５１と第２距離計５２とが一体的に上下方向Ｚに駆動される。よって、第１距離計５１と第２距離計５２とが個別に上下方向Ｚに駆動される場合に比べ、第１距離計５１および第２距離計５２を駆動するための構造が簡素になる。具体的には、１つの距離計駆動部４５が、第１距離計５１および第２距離計５２を駆動させることができる。また、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの上下方向Ｚの位置が個別に制御される場合は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの制御位置（例えば停止位置）の誤差が累積する。その結果、断面情報計測装置２０による金属材１０の断面情報の測定精度が悪化する場合がある。一方、本実施形態では、第１距離計５１と第２距離計５２とが一体的に上下方向Ｚに駆動される。よって、第１距離計５１および第２距離計５２の制御位置の誤差の累積が生じず、断面情報計測装置２０による金属材１０の断面情報の測定精度を向上させることができる。なお、変形例として第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの上下方向Ｚの位置が、個別に制御されてもよい。

距離計駆動部４５（昇降手段）は、第１距離計５１および第２距離計５２を上下方向Ｚに移動させる。例えば、距離計駆動部４５は、共通支持部材４３を上下方向Ｚに移動させることで、第１距離計５１および第２距離計５２を一体的に上下方向Ｚに移動させる。距離計駆動部４５は、支柱４１ａに取り付けられ、例えばガイド部４１ｂを介して支柱４１ａに取り付けられる。距離計駆動部４５は、距離計５０に取り付けられ、例えば共通支持部材４３を介して距離計５０に取り付けられる。距離計駆動部４５は、例えば上下方向Ｚに伸縮する伸縮シリンダでもよく、モータなどでもよい。

距離計５０は、距離計５０から金属材１０までの距離を測定する。距離計５０は、非接触で距離を測定する装置である。距離計５０は、第１距離計５１と、第２距離計５２と、を備える。

第１距離計５１は、第１距離計５１から、金属材上面１１の第１照射位置Ａ１までの距離を測定する。第１距離計５１は、レーザ光（第１ビームＢ１）を照射するレーザ距離計である。第１距離計５１は、１次元レーザ距離計でもよく、２次元レーザ距離計（図１２に示す第１距離計５５１を参照）でもよく、３次元レーザ距離計でもよい。第１距離計５１が１次元レーザ距離計の場合、第１照射位置Ａ１は、第１ビームＢ１と金属材上面１１との交点である。第１距離計５１が２次元レーザ距離計の場合、第１照射位置Ａ１は、第１ビームＢ１と金属材上面１１とが交わる直線である（図１２参照）。第１距離計５１が３次元レーザ距離計の場合、第１照射位置Ａ１は、第１ビームＢ１と金属材上面１１とが交わる領域である。以下では、主に、第１距離計５１が１次元レーザ距離計である場合について説明する。第１距離計５１は、１つのみ設けられてもよく、複数設けられてもよい。第１距離計５１は、金属材１０よりも上側Ｚ１に配置され、さらに詳しくは、金属材上面１１よりも上側Ｚ１に配置される。第１距離計５１は、後側Ｘ２かつ斜め下側Ｚ２に向けて第１ビームＢ１を照射する。第１距離計５１は、距離計支持部４０に支持される。第１距離計５１は、例えば共通支持部材４３に取り付けられ、例えば共通支持部材４３の上側Ｚ１部分（例えば上側Ｚ１端部）に取り付けられる。

第２距離計５２は、第２距離計５２から、金属材下面１２の第２照射位置Ａ２までの距離を測定する。第２距離計５２は、レーザ光（第２ビームＢ２）を照射するレーザ距離計である。第２距離計５２は、１次元レーザ距離計でもよく、２次元レーザ距離計（図１２に示す第２距離計５５２を参照）でもよく、３次元レーザ距離計でもよい。第２距離計５２が１次元レーザ距離計の場合、第２照射位置Ａ２は、第２ビームＢ２と金属材下面１２との交点である。第２距離計５２が２次元レーザ距離計の場合、第２照射位置Ａ２は、第２ビームＢ２と金属材下面１２とが交わる直線である。第２距離計５２が３次元レーザ距離計の場合、第２照射位置Ａ２は、第２ビームＢ２と金属材下面１２とが交わる領域である。以下では、主に、第２距離計５２が１次元レーザ距離計である場合について説明する。第２距離計５２は、１つのみ設けられてもよく、複数設けられてもよい。第２距離計５２は、金属材１０よりも下側Ｚ２に配置され、さらに詳しくは、金属材下面１２よりも下側Ｚ２に配置される。第２距離計５２は、後側Ｘ２かつ斜め上側Ｚ１に向けて第２ビームＢ２を照射する。第２距離計５２は、距離計支持部４０に支持される。第１距離計５１は、例えば共通支持部材４３に取り付けられ、例えば共通支持部材４３の下側Ｚ２部分（例えば下側Ｚ２端部）に取り付けられる。

（上下方向Ｚから見た距離計５０の配置）
図２に示す距離計５０は、様々な位置に配置されてもよい。

［配置例１］例えば、上下方向Ｚから見たとき、距離計５０は、金属材１０の外周よりも内側に配置されてもよい（図示なし）。

［配置例２Ａ］例えば、第１距離計５１は、上下方向Ｚから見たとき、金属材１０の外周よりも外側に配置される。この［配置例２Ａ］の場合、第１距離計５１は、金属材１０から対流熱や輻射熱を受けにくく、熱によって故障しにくい。第１距離計５１にカバーが設けられた場合、第１距離計５１の熱による故障をより抑制することができる。また、上記［配置例２Ａ］の場合であって、断面情報計測装置２０への金属材１０の搬入時および搬出時の少なくともいずれかに、天井クレーンなどにより金属材１０が吊り上げられる場合がある。この場合でも、吊り上げられた金属材１０が、第１距離計５１に干渉（例えば接触）することが抑制される。また、この場合、吊上げられた金属材１０が、第１距離計５１を支持する距離計支持部４０に干渉することが抑制される。よって、金属材１０が距離計５０および距離計支持部４０の少なくともいずれかに干渉することが抑制される。

［配置例２Ｂ］例えば、第２距離計５２は、上下方向Ｚから見たとき、金属材１０の外周よりも外側に配置される。この［配置例２Ｂ］の場合、第２距離計５２は、金属材１０から輻射熱を受けにくく、熱によって故障しにくい。第２距離計５２にカバーが設けられた場合、第２距離計５２の熱による故障をより抑制することができる。また、上記［配置例２Ｂ］の場合、第２距離計５２が、金属材１０からの落下物（スケールなど）の影響を受けることが抑制される。

上記［配置例２Ａ］および［配置例２Ｂ］のうち一方のみの条件が満たされてもよい。上記［配置例２Ａ］および［配置例２Ｂ］の両方の条件が満たされることが好ましい。具体的には、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれは、上下方向Ｚから見たとき、金属材１０の外周よりも外側に配置されることが好ましい。

［配置例３］距離計５０および距離計支持部４０は、上下方向Ｚから見たとき、金属材１０よりも横方向Ｙ外側に配置されてもよい。この場合、例えば断面情報計測装置２０での金属材１０の測定前や測定後などに、金属材１０を前後方向Ｘに容易に移動させることができる。

［配置例４］第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれは、上下方向Ｚから見たとき、延長領域Ｅに配置されてもよい。延長領域Ｅは、上下方向Ｚから見たとき、断面１０ｃに直交する方向（例えば前後方向Ｘ）に金属材１０を延長した領域である。例えば、延長領域Ｅは、上下方向Ｚから見たとき、金属材１０の横方向Ｙ外側の端の位置よりも横方向Ｙ内側、かつ、金属材１０の前後方向Ｘ外側の端よりも前後方向Ｘ外側（例えば前側Ｘ１の端よりも前側Ｘ１）の領域である。なお、図３に示すように、金属材１０と距離計５０との相対位置が変化する場合がある。このような場合に、断面情報計測装置２０による金属材１０の断面情報の測定中に、常に上記［配置例４］が満たされてもよく、測定中の一部のタイミングでのみ上記［配置例４］が満たされてもよい。

上記［配置例４］の場合、図１に示す第１距離計５１から第１照射位置Ａ１までの距離、および第２距離計５２から第２照射位置Ａ２までの距離のそれぞれの距離を小さくすることができる。この作用の具体例は次の通りである。断面１０ｃの横方向Ｙの長さ（幅）は、断面１０ｃの上下方向Ｚの長さ（厚さ）よりも大きい。ここで、金属材１０よりも横方向Ｙ外側（例えば左側とする）に第１距離計５１が配置された場合を考える。このとき、第１距離計５１が、金属材１０の横方向Ｙ両端部のうち第１距離計５１とは反対側の端部（例えば右端部）を測定するとする。

［問題の例１］すると、第１距離計５１に近い側の部分（左側部分）が測定される場合に比べ、第１距離計５１から遠い側の部分（右側部分）が測定される場合に、金属材上面１１と第１ビームＢ１とがなす角度が小さくなる（例えば鋭角になる）。そのため、金属材１０の横方向Ｙ両端部のうち第１距離計５１とは反対側（右側部分）の端部での、断面情報計測装置２０による断面情報の測定精度が低下する。

［問題の例２］また、金属材１０の横方向Ｙ両端部のうち第１距離計５１とは反対側の端部が測定されるとき、第１距離計５１に近い側の部分が測定される場合に比べ、第１距離計５１から第１照射位置Ａ１までの距離が長くなる。そのため、金属材１０の横方向Ｙ両端部のうち第１距離計５１とは反対側の端部での、断面情報計測装置２０による断面情報の測定精度が低下する。

［問題の例３］また、金属材上面１１と第１ビームＢ１とがなす角度を大きくするために、金属材上面１１から第１距離計５１までの上下方向Ｚの距離を大きくすると、第１距離計５１から第１照射位置Ａ１までの距離が長くなる。そのため、金属材１０の横方向Ｙ両端部のうち第１距離計５１とは反対側の端部での、断面情報計測装置２０による断面情報の測定精度が低下する。第２距離計５２についても上記［問題の例１］、［問題の例２］、および［問題の例３］と同様の問題がある。一方、上記［配置例４］では、上記［配置例４］を満たさない場合に比べ、第１距離計５１から第１照射位置Ａ１までの距離を短くすることができ、また、金属材上面１１と第１ビームＢ１とがなす角度を小さくすることができる（第２距離計５２についても同様）。よって、断面情報計測装置２０による断面情報の測定精度を向上させることができる。

制御装置６０は、信号の入出力、情報の記憶、および演算などを行う。例えば、制御装置６０は、距離計５０の位置を制御してもよい。制御装置６０は、距離計５０の上下方向Ｚの位置を制御してもよく、距離計５０の照射角度を制御してもよく（図９参照）、距離計５０の横方向Ｙの位置を制御してもよい（図１０参照）。制御装置６０は、金属材１０の位置を制御してもよい。制御装置６０は、金属材１０の横方向Ｙの位置を制御してもよく（図３参照）、金属材１０の上下方向Ｚの位置を制御してもよい（図８参照）。

（照射位置調整制御）
この制御装置６０は、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致するように、第１ビームＢ１（第１距離計５１のレーザ光）と第２ビームＢ２（第２距離計５２のレーザ光）と金属材１０との相対位置を制御する。この制御を照射位置調整制御という。上記「上下方向Ｚに沿った方向」は、上下方向Ｚと一致する方向であり、上下方向Ｚに対して傾いた方向を含まない。

上下方向Ｚから見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とを一致させることで、金属材１０が上下方向Ｚに曲がっていても、金属材１０の断面情報を精度良く計測することができる。この作用の詳細は次の通りである。図４に示すように、金属材下面１２が基準面Ｐと一致し、金属材下面１２が理想的な平面である場合（金属材１０が上下方向Ｚに曲がっていない、反っていない場合）は、第１距離計５１のみで金属材１０の断面情報を測定することが可能である。しかし、実際は、金属材下面１２は、基準面Ｐに対してわずかに上下方向Ｚにずれている（浮き上がっている、または下がっている）。そのため、第１距離計５１のみで金属材１０の断面情報が測定されると、基準面Ｐからの金属材下面１２の上下方向Ｚのズレが、金属材１０の厚さに加算または減算される。すると、実際の金属材１０の厚さよりも大きいまたは小さい値が、金属材１０の厚さとして算出されてしまう。そこで、制御装置６０が、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とを一致させるように制御する。これにより、金属材１０が上下方向Ｚに曲がっていても、金属材１０の断面情報を精度良く計測することができる。

照射位置調整制御が行われることで、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが、できるだけ一致することが好ましいが、厳密に一致する必要はなく、略一致してもよい。照射位置調整制御では、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致する方向に、第１ビームＢ１と第２ビームＢ２と金属材１０との相対位置を、制御装置６０が制御すればよい。

距離計５０が１次元レーザ距離計の場合、照射位置調整制御が行われると、第１照射位置Ａ１（点）と第２照射位置Ａ２（点）とが、上下方向Ｚに延びる１本の直線α上、または略直線α上に配置される。距離計５０が２次元レーザ距離計の場合（図１２に示す距離計５５０参照）、照射位置調整制御が行われると、第１照射位置Ａ１（直線）と第２照射位置Ａ２（直線）とが、上下方向Ｚおよび横方向Ｙに延びる同一の平面β上または略平面β上に配置される（後述）。

（金属材１０の幅と照射位置との関係）
金属材１０の上下方向Ｚの幅（厚さ）と第１照射位置Ａ１との関係は、次のようになる。図５に示すように、金属材１０の厚さがある大きさのときに、上下方向Ｚから見て第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致しているとする。この状態から、図５において二点鎖線で示すように、金属材１０の厚さが増やされるとする。ここでは、金属材下面１２の位置は変化しないとする。金属材１０の厚さが増やされると、第１照射位置Ａ１は、第２照射位置Ａ２に比べて前側Ｘ１に移動する。すると、上下方向Ｚから見たとき、第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とに前後方向Ｘのズレが生じる。金属材１０の厚さが大きくなる程、このズレ量が増大する。

（制御対象）
そこで、制御装置６０は、このズレ量を減らす向きに、第１ビームＢ１と第２ビームＢ２と金属材１０との相対位置を制御する。例えば、制御装置６０は、距離計５０の上下方向Ｚにおける位置を制御してもよく、金属材１０の上下方向Ｚにおける位置を制御してもよく（図８参照）、距離計５０のレーザ光の照射角度を制御してもよい（図９参照）。ここでは、主に、制御装置６０が、距離計５０の上下方向Ｚにおける位置を制御する場合について説明する。

例えば、制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２の少なくともいずれかの、上下方向Ｚにおける位置を制御する。制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの上下方向Ｚにおける位置を、個別に制御してもよい。制御装置６０は、共通支持部材４３の上下方向Ｚにおける位置を制御することで、第１距離計５１および第２距離計５２の上下方向Ｚにおける位置を制御してもよい。

（金属材１０の厚さが変化する場合）
例えば複数種類の金属材１０の断面情報が測定される場合に、金属材１０の種類が変わり、金属材１０の厚さが変化し、上下方向Ｚから見た第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とにズレが生じる場合がある。この場合、制御装置６０は、上下方向Ｚから見た第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とのズレ量を減らす向きに、第１距離計５１と第２距離計５２と金属材１０との相対位置を制御する。これにより、金属材１０の厚さが変化する場合でも、断面情報計測装置２０は、厚さが変化した後の金属材１０の断面情報を精度良く計測することができる。

（制御の具体例）
具体的には例えば、図６に示すように、制御装置６０は、ビーム交点Ｏが基準面Ｐよりも差Ｄ（下記の式４参照）だけ上側Ｚ１の位置になるように、照射位置調整制御を行う。この具体例の詳細は、次の通りである。図６に示す推定値Ｔ、ビーム交点Ｏ、交点平面Ｏｐ、角度θ１、角度θ２、距離Ｌ０、および差Ｄについて説明する。

推定値Ｔは、金属材１０の厚さの推定値である。推定値Ｔは、実際の金属材１０の厚さに一致するとは限らない。推定値Ｔは、制御装置６０に取得される。推定値Ｔは、断面情報計測装置２０の外部から制御装置６０に取得されてもよい。例えば、推定値Ｔは、鋳造工程で鋳型の寸法の情報でもよく、圧延工程での圧延寸法の情報でもよい。推定値Ｔは、断面情報計測装置２０で計測済みの金属材１０の厚さの情報でもよい。例えば、断面情報計測装置２０が計測しようとしている金属材１０と同じ条件で製造や加工された金属材１０の寸法であって、断面情報計測装置２０で計測済みの金属材１０の厚さの情報でもよい。

ビーム交点Ｏは、図７に示すように、金属材１０が無いときの第１ビームＢ１と第２ビームＢ２との交点となる位置である。ビーム交点Ｏは、第１ビームＢ１と第２ビームＢ２とが実際に交わっている位置である必要はなく、金属材１０が無い状態であれば第１ビームＢ１と第２ビームＢ２との交点となる位置である。距離計５０が二次元レーザの場合は、ビーム交点Ｏは、金属材１０がないときの、第１ビームＢ１と第２ビームＢ２とが交わる直線上の任意の点である。図７に、ビーム交点Ｏと基準面Ｐとが一致している状態を示す。図６に示すように、ビーム交点Ｏを通り、基準面Ｐと平行な面（上下方向Ｚに直交する面）を、交点平面Ｏｐとする。

角度θ１は、第１ビームＢ１（第１距離計５１のレーザ光）と、基準面Ｐと、がなす角度（例えば伏角）である。なお、基準面Ｐと交点平面Ｏｐとは平行であるため、角度θ１は、第１ビームＢ１と交点平面Ｏｐとがなす角度でもある。角度θ１は、既知の値であり、例えば距離計支持部４０への第１距離計５１の取り付け角度などから決まる。角度θ２は、第２ビームＢ２（第２距離計５２のレーザ光）と、基準面Ｐと、がなす角度（例えば迎角）である。角度θ２は、既知の値であり、例えば距離計支持部４０への第２距離計５２の取り付け角度などから決まる。

距離Ｌ０は、ビーム交点Ｏから直線αまでの前後方向Ｘにおける距離である。

差Ｄは、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致するときの、基準面Ｐからビーム交点Ｏまでの、上下方向Ｚにおける距離である。差Ｄは、例えば次のように求められる。

図６から明らかなように、次の式１および式２が成り立つ。
ｔａｎθ１＝（Ｔ－Ｄ）／Ｌ０ （式１）
ｔａｎθ２＝Ｄ／Ｌ０ （式２）
上記の式１および式２からＬ０を消すと、次の式（３）となる。
Ｄ／ｔａｎθ２＝（Ｔ－Ｄ）／ｔａｎθ１ （式３）
上記の式３を変形すると、次の式４が導き出される。
Ｄ＝Ｔ／（（ｔａｎθ１／ｔａｎθ２）＋１） （式４）

制御装置６０（図４参照）は、基準面Ｐよりも、Ｔ／（（ｔａｎθ１／ｔａｎθ２）＋１）だけ上側Ｚ１の位置にビーム交点Ｏが配置されるように、照射位置調整制御を行う。図４に示すように、制御装置６０が照射位置調整制御を行った結果、上下方向Ｚから見て第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが略一致する。ここで、金属材下面１２が基準面Ｐに対して上下方向Ｚにずれている場合は、上下方向Ｚから見て第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とがずれる。また、前後方向Ｘおよび横方向Ｙにおける金属材１０の位置によって金属材１０の厚さに差異がある場合も、上下方向Ｚから見て第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とがずれる。しかし、これらのズレ量は、実用上問題ない量であり、具体的には、断面情報計測装置２０による測定精度を適切に確保できる程度の量である。

（金属材１０の厚さの測定値Ｔａの演算）
制御装置６０が照射位置調整制御を行った状態で、第１距離計５１および第２距離計５２が、距離の計測を行う。そして、制御装置６０は、図６に示す第１距離計５１の距離計測値Ｌ１（計測結果）および第２距離計５２の距離計測値Ｌ２（計測結果）に基づいて、金属材１０の厚さを演算する。

制御装置６０が演算する金属材１０の厚さを、測定値Ｔａとする。測定値Ｔａの演算の具体例は、次の通りである。測定値Ｔａは、角度θ１と、角度θ２と、距離計測値Ｌ１と、距離計測値Ｌ２と、高さＨと、により求められる。高さＨは、第１距離計５１のレーザ光の第１放出位置５１ｂから、第２距離計５２のレーザ光の第２放出位置５２ｂまでの、上下方向Ｚにおける距離である。具体的には、測定値Ｔａは、次の式５のように表すことができる。
Ｔａ＝Ｈ－Ｈ１－Ｈ２ （式５）

式５におけるＨ１は、第１照射位置Ａ１から第１放出位置５１ｂまでの上下方向Ｚにおける距離である。Ｈ１は、Ｌ１・ｓｉｎθ１である。Ｈ２は、第２照射位置Ａ２から第２放出位置５２ｂまでの上下方向Ｚにおける距離である。Ｈ２は、Ｌ２・ｓｉｎθ２である。よって、測定値Ｔａは、次の式６のように表すことができる。
Ｔａ＝Ｈ－（Ｌ１・ｓｉｎθ１）－（Ｌ２・ｓｉｎθ２） （式６）

上記式６のように、θ１およびθ２が９０°でなくても測定値Ｔａを求めることができる。すなわち、金属材上面１１および金属材下面１２に対して垂直に第１ビームＢ１および第２ビームＢ２を照射せず、金属材上面１１および金属材下面１２に対して斜めに第１ビームＢ１および第２ビームＢ２を照射しても、測定値Ｔａを求めることができる。

（金属材１０の断面形状の計測）
図１に示す制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２の計測結果に基づき、第１照射位置Ａ１および第２照射位置Ａ２の位置情報を演算する。具体的には例えば、基準面Ｐを基準としたときの、第１照射位置Ａ１の上下方向Ｚにおける位置、および、第２照射位置Ａ２の上下方向Ｚにおける位置が演算される。制御装置６０は、金属材１０と距離計５０との横方向Ｙ（断面１０ｃと平行かつ上下方向Ｚに交差する方向）における相対位置を変化させながら（図３参照）、第１照射位置Ａ１および第２照射位置Ａ２の位置情報の演算を繰り返す。そして、制御装置６０は、金属材１０と距離計５０との横方向Ｙにおける相対位置の移動量と、第１距離計５１および第２距離計５２の計測結果（第１照射位置Ａ１および第２照射位置Ａ２の位置情報）と、に基づいて、金属材１０の断面形状を演算する。

金属材１０と距離計５０との横方向Ｙにおける相対位置の変化は、距離計５０を横方向Ｙに移動させることにより行われてもよく（図１０参照）、金属材１０を横方向Ｙに移動させることにより行われてもよい。ここでは、図３に示すように、距離計５０を横方向Ｙに移動させずに、金属材１０を横方向Ｙに移動させる場合について説明する。この場合、制御装置６０は、横方向Ｙへの金属材１０の移動量を制御する。具体的には例えば、制御装置６０は、金属材移動装置３３を制御することで、横方向Ｙへの金属材１０の移動量を制御する。このとき、制御装置６０は（断面情報計測装置２０は）、金属材１０および距離計５０のそれぞれの上下方向Ｚの位置は変化させない。

さらに具体的には、制御装置６０は、金属材１０よりも横方向Ｙ外側にビーム交点Ｏがある状態（図３において実線で示す金属材１０を参照）から、金属材移動装置３３が、金属材１０を横方向Ｙに移動させる。距離計５０が金属材１０を検出していない状態から金属材１０を検出している状態（図２参照）に変化することで、金属材１０の横方向Ｙ外側の一方の端（例えば左端）の位置が検出される。図１に示すように、さらに金属材移動装置３３が金属材１０を横方向Ｙに移動させながら、第１照射位置Ａ１および第２照射位置Ａ２の位置情報が測定される。そして、距離計５０が金属材１０を検出している状態から金属材１０を検出していない状態（図３において二点鎖線で示す金属材１０を参照）に変化することで、金属材１０の横方向Ｙ外側の、上記「一方の端」とは反対側の端（例えば右端）の位置が検出される。このように、図１に示す金属材１０の断面１０ｃの全体にわたって、第１照射位置Ａ１および第２照射位置Ａ２の位置情報が演算される。その結果、金属材１０の断面１０ｃの、形状、上下方向Ｚの長さ（厚さ）、および横方向Ｙの長さ（幅）が、計測される。

（第１の発明の効果）
図１に示す金属材１０の断面情報を計測する断面情報計測装置２０による効果は、次の通りである。金属材１０の厚さ方向である上下方向Ｚ（金属材厚さ方向）における一方側を上側Ｚ１（第１側）、上側Ｚ１とは反対側を下側Ｚ２（第２側）とする。断面情報計測装置２０は、第１距離計５１と、第２距離計５２と、制御装置６０と、を備える。

［構成１－１］図４に示すように、第１距離計５１は、金属材１０よりも上側Ｚ１に配置され、金属材１０の上側Ｚ１の面（金属材上面１１）の照射位置である第１照射位置Ａ１にレーザ光を照射する。第２距離計５２は、金属材１０よりも下側Ｚ２に配置され、金属材１０の下側Ｚ２の面（金属材下面１２）の照射位置である第２照射位置Ａ２にレーザ光を照射する。

［構成１－２］制御装置６０は、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致するように、第１距離計５１のレーザ光と第２距離計５２のレーザ光と金属材１０との相対位置を制御する照射位置調整制御を行う。制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの計測結果に基づいて、金属材１０の厚さを演算する。

上記［構成１－１］により、金属材１０の上側Ｚ１の面（金属材上面１１）の第１照射位置Ａ１の計測を第１距離計５１が行い、金属材１０の上側Ｚ１の面とは反対側の面（金属材下面１２）の第２照射位置Ａ２の計測を第２距離計５２が行う。よって、第１距離計５１および第２距離計５２が、金属材１０の厚さ方向の両面（金属材上面１１および金属材下面１２）で距離を計測する。そして、上記［構成１－２］では、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致または略一致した状態で、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの計測結果が得られる。この計測結果に基づいて、制御装置６０が金属材１０の厚さを演算する。よって、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致または略一致する位置（具体的には直線αの位置）での、金属材１０の厚さ（上下方向Ｚの長さ）を測定することができる。したがって、金属材１０が上下方向Ｚ（金属材厚さ方向）に曲がっていても、金属材１０の断面情報（具体的には厚さ）を精度良く測定することができる。

（第２の発明の効果）
［構成２］金属材１０の厚さ方向（上下方向Ｚ）は、鉛直方向である。図２に示すように、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれは、上下方向Ｚから見たとき、金属材１０の外周よりも外側に配置される。

上記［構成２］により、第１距離計５１および第２距離計５２への、金属材１０からの輻射熱の影響を、抑制することができる。また、第１距離計５１および第２距離計５２のうち、金属材１０よりも上側Ｚ１に配置される方（具体的には第１距離計５１）への、金属材１０からの対流熱の影響を、抑制することができる。また、第１距離計５１および第２距離計５２のうち、金属材１０よりも下側Ｚ２に配置される方（具体的には第２距離計５２）への、金属材１０からの落下物の影響を、抑制することができる。その結果、金属材１０の断面情報の測定精度を向上させることができる。

（第３の発明の効果）
［構成３］第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれは、上下方向Ｚから見たとき、延長領域Ｅに配置される。延長領域Ｅは、金属材１０の測定対象となる断面１０ｃに直交する方向（例えば前後方向Ｘ）に、金属材１０を延長した領域である。

上記［構成３］により、第１距離計５１および第２距離計５２の少なくともいずれかが、金属材１０よりも前後方向Ｘの外側（例えば金属材１０よりも前側Ｘ１）、かつ、上下方向Ｚから見て延長領域Ｅの外に配置される場合に比べ、次の効果が得られる。図１に示す第１距離計５１から第１照射位置Ａ１までの距離を短くすることができる、または、第２距離計５２から第２照射位置Ａ２までの距離を短くすることができる（詳細は上記の［配置例４］の説明を参照）。その結果、第１距離計５１および第２距離計５２の測定精度を向上させることができる。その結果、金属材１０の断面情報の測定精度を向上させることができる。

（第４の発明の効果）
［構成４］制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２の少なくともいずれかの、上下方向Ｚにおける位置を制御する。

上記［構成４］により、金属材１０の上下方向Ｚの位置を制御しなくても、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致するような照射位置調整制御を行うことができる。よって、第１距離計５１および第２距離計５２よりも質量の大きい金属材１０の位置を制御する場合に比べ、照射位置調整制御の精度を向上させることができる。その結果、金属材１０の断面情報の測定精度を向上させることができる。

（第５の発明の効果）
［構成５］断面情報計測装置２０は、第１距離計５１および第２距離計５２を支持する共通支持部材４３を備える。制御装置６０は、共通支持部材４３の上下方向Ｚにおける位置を制御する。

上記［構成５］により、次の効果が得られる。第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの上下方向Ｚの位置が個別に制御される場合は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの制御位置（例えば停止位置）の誤差が、累積される。一方、上記［構成５］では、共通支持部材４３の上下方向Ｚにおける位置が制御されるので、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの上下方向Ｚの位置が一体的に制御される。よって、上記の誤差の累積が生じない。よって、金属材１０の断面情報の測定精度を向上させることができる。

上記［構成５］により、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれを個別に上下方向Ｚに駆動するための、複雑な機構や装置を設ける必要がない。共通支持部材４３を上下方向Ｚに駆動するための、装置（例えば距離計駆動部４５）および機構（例えばガイド部４１ｂなど）が設けられればよい。よって、断面情報計測装置２０の構造をシンプルにすることができる。

（第７の発明の効果）
制御装置６０は、図６に示す金属材１０の厚さの推定値Ｔを取得する。金属材１０が無いときに第１距離計５１のレーザ光（第１ビームＢ１）と第２距離計５２のレーザ光（第２ビームＢ２）との交点となる位置を、ビーム交点Ｏとする。金属材１０の下側Ｚ２の面（金属材下面１２）の特定部分１２ａを通る面であって上下方向Ｚに直交する面を、基準面Ｐとする。第１ビームＢ１と基準面Ｐとがなす角度を、θ１とする。第２ビームＢ２と基準面Ｐとがなす角度を、θ２とする。

［構成７］制御装置６０は、ビーム交点Ｏが基準面ＰよりもＴ／（（ｔａｎθ１／ｔａｎθ２）＋１）だけ上側Ｚ１の位置になるように、照射位置調整制御を行う。

上記［構成７］により、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とを、確実に一致または略一致させることができる。その結果、金属材１０の断面情報の測定精度を確保することができる。

（第８の発明の効果）
［構成８］図１に示すように、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれは、１次元レーザ距離計である。制御装置６０は、上下方向Ｚに交差する方向（具体的には横方向Ｙ）への金属材１０の移動量を制御する（図３参照）。制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの計測結果と、金属材１０の上記の移動量と、に基づいて金属材１０の断面形状を演算する。

上記［構成８］により、第１距離計５１および第２距離計５２として、１次元レーザ距離計よりも高価な２次元レーザ距離計を用いなくても、金属材１０の断面形状を測定することができる。

金属材１０を上下方向Ｚに直交する方向に移動させる装置（トラバーサなど）が、断面情報計測装置２０を設けようとする設備に、既設の設備としてある場合が考えられる。このような場合には、既設の設備に対して、第１距離計５１、第２距離計５２、および制御装置６０などを追加すれば、断面情報計測装置２０を構成することができる。

（第２実施形態）
図８を参照して、第２実施形態の断面情報計測装置２２０について、第１実施形態との相違点を説明する。なお、第２実施形態の断面情報計測装置２２０のうち、第１実施形態との共通点については、説明を省略する。共通点の説明を省略する点については、後述する他の実施形態の説明も同様である。

上記のように、制御装置６０による照射位置調整制御では、第１距離計５１のレーザ光（第１ビームＢ１）と第２距離計５２のレーザ光（第２ビームＢ２）と金属材１０との相対位置が制御される。図５に示す例では、金属材１０の上下方向Ｚの位置は制御されず、距離計５０の上下方向Ｚの位置が制御された。一方、図８に示すように、距離計５０の上下方向Ｚの位置が制御されず、金属材１０の上下方向Ｚの位置が制御されてもよい。具体的には、本実施形態の断面情報計測装置２２０は、金属材移動装置２３３を備える。共通支持部材４３は、床Ｆに対して固定され、具体的には支柱４１ａに固定される。

金属材移動装置２３３は、金属材１０を上下方向Ｚに移動させる。例えば、金属材移動装置２３３は、置台３１と兼用されてもよく、置台３１とは別に設けられてもよい。例えば、金属材移動装置２３３は、置台支持部３１ｂを上下方向Ｚに移動させる装置でもよく、例えば置台支柱３１ａと兼用されてもよい。具体的には例えば、金属材移動装置２３３は、上下方向Ｚに伸縮可能な伸縮シリンダでもよい。制御装置６０は、金属材移動装置２３３を制御することで、金属材１０の上下方向Ｚの位置を制御する。具体的には例えば、図８において二点鎖線で示す金属材１０では、第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが前後方向Ｘにずれている。この例では、制御装置６０は、金属材１０を下側Ｚ２に移動させる。このとき、制御装置６０は、上記の式４を満たすように金属材１０の上下方向Ｚの位置を制御する。その結果、上下方向Ｚから見て、第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致または略一致する。

（第３実施形態）
図９を参照して、第３実施形態の断面情報計測装置３２０について、第１実施形態との相違点を説明する。上記のように、制御装置６０による照射位置調整制御では、第１距離計５１のレーザ光（第１ビームＢ１）と第２距離計５２のレーザ光（第２ビームＢ２）と金属材１０との相対位置が制御される。図５に示す例では、第１ビームＢ１および第２ビームＢ２の照射角度（図６に示す角度θ１および角度θ２）は制御されず、図５に示す第１距離計５１および第２距離計５２の上下方向Ｚの位置が制御された。一方、図９に示すように、第１距離計５１および第２距離計５２の上下方向Ｚの位置は制御されず、照射角度（角度θ１および角度θ２）の少なくともいずれかが制御されてもよい。

断面情報計測装置３２０では、図５に示すガイド部４１ｂ、および距離計駆動部４５は不要である。図９に示すように、共通支持部材４３は、床Ｆに対して固定され、具体的には支柱４１ａに固定される。

第１距離計５１のレーザ光（第１ビームＢ１）と第２距離計５２のレーザ光（第２ビームＢ２）の少なくともいずれかの照射角度は、可変であり、制御装置６０に制御される。第１ビームＢ１および第２ビームＢ２の両方の照射角度が制御されてもよく、第１ビームＢ１および第２ビームＢ２のうち一方のみの照射角度が制御されてもよい。ここでは、第１ビームＢ１の照射角度が可変であり制御される場合について説明する。例えば、第１ビームＢ１の照射角度は、距離計支持部４０（さらに詳しくは共通支持部材４３）に対して第１距離計５１が回転されることで、変えられてもよい。第１ビームＢ１の照射角度は、第１距離計５１の内部で変えられてもよい。制御装置６０は、第１ビームＢ１の照射角度を制御する。具体的には、制御装置６０は、上記の式４を満たすように制御を行う。

（第６の発明の効果）
［構成６］制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２の少なくともいずれかのレーザ光の照射角度（角度θ１および角度θ２の少なくともいずれか）を制御する。

上記［構成６］では、第１距離計５１および第２距離計５２を上下方向Ｚに移動させるための駆動装置（図５に示す距離計駆動部４５）を設ける必要がない。また、金属材１０を上下方向Ｚに移動させるための装置を設ける必要がない。

（第４実施形態）
図１０を参照して、第４実施形態の断面情報計測装置４２０について、第１実施形態との相違点を説明する。

上記のように、距離計５０が１次元レーザ距離計の場合、金属材１０の断面形状を計測するために、金属材１０と距離計５０との横方向Ｙ（断面１０ｃと平行かつ上下方向Ｚに交差する方向）の相対位置が制御される。図３に示す例では、距離計５０の横方向Ｙの位置は制御されず、金属材１０の横方向Ｙの位置が制御された。一方、図１０に示すように、金属材１０の横方向Ｙの位置は制御されず、距離計５０の横方向Ｙの位置が制御されてもよい。具体的には、本実施形態の断面情報計測装置４２０は、距離計移動装置４４７を備える。金属材移動装置３３（図３参照）は、設けられなくてもよい。

距離計移動装置４４７は、距離計５０を横方向Ｙに移動させる。例えば、距離計移動装置４４７は、距離計支持部４０を横方向Ｙに移動させることで、第１距離計５１および第２距離計５２を一体的に移動させてもよい。距離計移動装置４４７は、第１距離計５１および第２距離計５２を個別に横方向Ｙに移動させてもよい。

制御装置６０は、距離計移動装置４４７を制御することで、第１距離計５１および第２距離計５２の横方向Ｙの移動量を制御する。制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの計測結果と、第１距離計５１および第２距離計５２の横方向Ｙの移動量と、に基づいて金属材１０の断面形状を演算する。

（第９の発明の効果）
［構成９］第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれは、１次元レーザ距離計である。制御装置６０は、上下方向Ｚに交差する方向（例えば横方向Ｙ）への第１距離計５１および第２距離計５２の移動量を制御する。制御装置６０は、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれの計測結果と、第１距離計５１および第２距離計５２の上記の移動量と、に基づいて金属材１０の断面形状を演算する。

上記［構成９］により、第１距離計５１および第２距離計５２として、１次元レーザ距離計よりも高価な２次元レーザ距離計を用いなくても、金属材１０の断面形状を測定することができる。また、金属材１０を横方向Ｙに移動させる装置を設ける必要がない。

（第５実施形態）
図１１～図１４を参照して、第５実施形態の断面情報計測装置５２０について、第１実施形態などとの相違点を説明する。図１に示す例では、第１距離計５１および第２距離計５２のそれぞれが、１次元レーザ距離計であった。図１１に示すように、第１距離計５５１および第２距離計５５２のそれぞれ（距離計５５０）は、２次元レーザ距離計でもよい。

第１距離計５５１および第２距離計５５２のそれぞれは、平面状にレーザ光を照射する２次元レーザ距離計である。第１距離計５５１は、横方向Ｙに延びる直線状の第１照射位置Ａ１の各位置から第１距離計５５１までの距離を測定する。第２距離計５５２は、横方向Ｙに延びる直線状の第２照射位置Ａ２の各位置から第２距離計５５２までの距離を測定する。

図１２に示すように、制御装置６０は、上下方向Ｚに沿った方向から見たときに第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とが一致するように、第１ビームＢ１と第２ビームＢ２と金属材１０との相対位置を制御する。例えば、図１２～図１４に示す例では、図５に示す例と同様に、制御装置６０は、金属材１０の厚さ（上下方向Ｚの長さ）に応じて、距離計５５０の上下方向Ｚにおける位置を制御する。この制御により、第１照射位置Ａ１と第２照射位置Ａ２とは、同一の平面β上または略平面β上に配置される。平面βは、図４に示す直線αが横方向Ｙに連続したものである（平面βは直線αを含む）。図１２に示す平面βは、上下方向Ｚおよび横方向Ｙに延びる平面である。平面βは、断面情報計測装置５２０の測定対象の断面１０ｃと一致または略一致する。

第１距離計５５１および第２距離計５５２は２次元レーザ距離計であるため、断面情報計測装置５２０は、金属材１０および距離計５５０の横方向Ｙの相対位置を変化させなくても、金属材１０の断面形状を測定することができる。断面情報計測装置５２０では、金属材移動装置３３（図１参照）および距離計移動装置４４７（図１０参照）は設けられなくてもよい。距離計５５０の横方向Ｙの照射範囲に対して金属材１０の横方向Ｙの幅が大きい場合にも測定を行えるように、金属材移動装置３３（図１）および距離計移動装置４４７（図１０参照）の少なくともいずれかが設けられてもよい。距離計５５０の横方向Ｙの照射範囲に対して金属材１０の横方向Ｙの幅が大きい場合にも測定を行えるように、第１距離計５５１が複数設けられてもよい（第２距離計５５２も同様）。複数の第１距離計５５１は、例えば互いに横方向Ｙに間隔をあけて配置されてもよい。

（第１０の発明の効果）
［構成１０］図１２に示すように、第１距離計５５１および第２距離計５５２のそれぞれは、２次元レーザ距離計である。制御装置６０は、第１距離計５５１および第２距離計５５２のそれぞれの計測結果に基づいて金属材１０の断面形状を演算する。

上記［構成１０］により、金属材１０および距離計５５０の横方向Ｙの相対位置を変化させなくても、金属材１０の断面形状を測定することができる。

（変形例）
上記実施形態は様々に変形されてもよい。例えば、互いに異なる実施形態の構成要素どうしが組み合わされてもよい。例えば、各構成要素の配置や形状が変更されてもよい。例えば、構成要素の数が変更されてもよく、構成要素の一部が設けられなくてもよい。例えば、構成要素どうしの固定や連結などは、直接的でも間接的でもよい。例えば、互いに異なる複数の部材や部分として説明したものが、一つの部材や部分とされてもよい。例えば、一つの部材や部分として説明したものが、互いに異なる複数の部材や部分に分けて設けられてもよい。

具体的には例えば、図１に示す第１距離計５１の位置の制御、第２距離計５２の位置の制御、第１ビームＢ１の照射角度の制御、第２ビームＢ２の照射角度の制御、および金属材１０の位置の制御が、様々に組み合わされてもよい。例えば、第１距離計５１および第２距離計５２のうち、一方が１次元レーザ距離計であり、もう一方が２次元レーザ距離計でもよい。この場合、２次元レーザ距離計を床Ｆに対して移動させずに、１次元レーザ距離計の横方向Ｙの位置を制御装置６０が制御してもよい。図１などでは、制御装置６０が距離計支持部４０にのみ接続されているように図示したが、制御装置６０は、金属材支持部３０（具体的には金属材移動装置３３など）に接続されてもよい。

１０ 金属材
１０ｃ 断面
１２ａ 特定部分
２０、２２０、３２０、４２０、５２０ 断面情報計測装置
４３ 共通支持部材
５１、５５１ 第１距離計
５２、５５２ 第２距離計
６０ 制御装置
Ａ１ 第１照射位置
Ａ２ 第２照射位置
Ｂ１ 第１ビーム（第１距離計５１のレーザ光）
Ｂ２ 第２ビーム（第２距離計５２のレーザ光）
Ｅ 延長領域（金属材１０を延長した領域）
Ｏ ビーム交点
Ｐ 基準面
Ｚ 上下方向（金属材厚さ方向）
Ｚ１ 上側（第１側）
Ｚ２ 下側（第２側）

Claims (8)

1. 金属材の断面情報を計測する断面情報計測装置であって、
   前記金属材の厚さ方向である金属材厚さ方向における一方側を第１側、前記第１側とは反対側を第２側としたとき、
   前記金属材よりも前記第１側に配置され、前記金属材の前記第１側の面の照射位置である第１照射位置にレーザ光を照射する第１距離計と、
   前記金属材よりも前記第２側に配置され、前記金属材の前記第２側の面の照射位置である第２照射位置にレーザ光を照射する第２距離計と、
   制御装置と、
   を備え、
   前記制御装置は、前記金属材厚さ方向に沿った方向から見たときに前記第１照射位置と前記第２照射位置とが一致するように、前記第１距離計のレーザ光と前記第２距離計のレーザ光と前記金属材との相対位置を制御する照射位置調整制御を行い、
   前記制御装置は、前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれの計測結果に基づいて、前記金属材の厚さを演算し、
   前記金属材厚さ方向は鉛直方向であり、
   前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれは、前記金属材厚さ方向から見たとき、前記金属材の外周よりも外側に配置される、
   断面情報計測装置。
2. 請求項１に記載の断面情報計測装置であって、
   前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれは、前記金属材厚さ方向から見たとき、前記金属材の測定対象となる断面に直交する方向に前記金属材を延長した領域に配置される、
   断面情報計測装置。
3. 請求項１または２に記載の断面情報計測装置であって、
   前記第１距離計および前記第２距離計を支持する共通支持部材を備え、
   前記制御装置は、前記共通支持部材の前記金属材厚さ方向における位置を制御する、
   断面情報計測装置。
4. 請求項１～３のいずれか１項に記載の断面情報計測装置であって、
   前記制御装置は、前記第１距離計および前記第２距離計の少なくともいずれかのレーザ光の照射角度を制御する、
   断面情報計測装置。
5. 請求項１～４のいずれか１項に記載の断面情報計測装置であって、
   前記制御装置は、前記金属材の厚さの推定値Ｔを取得し、
   前記金属材が無いときに前記第１距離計のレーザ光と前記第２距離計のレーザ光との交点となる位置をビーム交点とし、
   前記金属材の前記第２側の面の特定部分を通る面であって前記金属材厚さ方向に直交する面を基準面とし、
   前記第１距離計のレーザ光と前記基準面とがなす角度をθ１とし、
   前記第２距離計のレーザ光と前記基準面とがなす角度をθ２とし、
   前記制御装置は、前記ビーム交点が前記基準面よりもＴ／（（ｔａｎθ１／ｔａｎθ２）＋１）だけ前記第１側の位置になるように、前記照射位置調整制御を行う、
   断面情報計測装置。
6. 請求項１～５のいずれか１項に記載の断面情報計測装置であって、
   前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれは、１次元レーザ距離計であり、
   前記制御装置は、前記金属材厚さ方向に交差する方向への前記金属材の移動量を制御し、前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれの計測結果と、前記金属材の前記移動量と、に基づいて前記金属材の断面形状を演算する、
   断面情報計測装置。
7. 請求項１～５のいずれか１項に記載の断面情報計測装置であって、
   前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれは、１次元レーザ距離計であり、
   前記制御装置は、前記金属材厚さ方向に交差する方向への前記第１距離計および前記第２距離計の移動量を制御し、前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれの計測結果と、前記第１距離計および前記第２距離計の前記移動量と、に基づいて前記金属材の断面形状を演算する、
   断面情報計測装置。
8. 請求項１～５のいずれか１項に記載の断面情報計測装置であって、
   前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれは、２次元レーザ距離計であり、
   前記制御装置は、前記第１距離計および前記第２距離計のそれぞれの計測結果に基づいて前記金属材の断面形状を演算する、
   断面情報計測装置。

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