JP7489064B2 - 貨幣識別装置 - Google Patents

Description

本発明は、貨幣識別装置に関する。

搬送される硬貨の画像情報をラインセンサで取得し、ラインセンサで取得した硬貨の画像情報から硬貨の金種や真偽を識別する硬貨識別装置が開示されている（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１８－１６０１６７号公報

ラインセンサで貨幣を識別する貨幣識別装置では、貨幣の検出範囲（撮像範囲）にゴミなどの異物やラインセンサのビット抜けなどが存在すると、貨幣の識別処理精度が低下してしまう。

従って、本発明は、貨幣の識別処理精度の低下を抑制することが可能となる貨幣識別装置の提供を目的とする。

上記目的を達成するために、本発明に係る第１の態様は、搬送される貨幣の画像情報を取得するラインセンサと、前記ラインセンサの検知範囲に異物が存在しない状態又はビット抜けがない状態で取得した当該ラインセンサの第１出力値と、前記ラインセンサの現在の出力値である第２出力値との比較結果に基づいて、前記ラインセンサにおける異物の有無又はビット抜けの有無を判定する制御装置と、前記ラインセンサが設けられるユニット本体と、を有し、前記制御装置は、前記ラインセンサの前記第１出力値を、前記ユニット本体に記憶する。

本発明によれば、貨幣の識別処理精度の低下を抑制することが可能となる貨幣識別装置を提供することができる。

実施の形態に係る硬貨識別装置を含む硬貨処理機を示す平面図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置を側面から見た概略図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のユニット本体を示す斜視図である。 ラインセンサによって硬貨の透過画像と硬貨の反射画像とを１対１の関係で交互に取得する場合を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサによって硬貨の透過画像と硬貨の反射画像とを１対２の関係で交互に取得する場合を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサによって硬貨の透過画像と硬貨の反射画像とを１対３の関係で交互に取得する場合を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサによって硬貨の透過画像と硬貨の反射画像とを１対４の関係で交互に取得する場合を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサから取得する硬貨の透過画像から硬貨の外径を算出する処理を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサの検知範囲に硬貨、異物及びビット抜けがない場合のラインセンサの出力値の一例を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサの検知範囲に硬貨がなく、異物及びビット抜けがある場合のラインセンサの出力値の一例を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサの検知範囲に硬貨と異物がある場合のラインセンサの出力値の一例を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサに複数のビット抜けがある場合のラインセンサの出力値の一例を説明する図である。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサに異物の付着やビット抜けがある場合における識別制御装置によるラインセンサの出力値の補正方法を説明するフローチャートである。 実施の形態に係る硬貨識別装置のラインセンサから取得する硬貨の透過画像を示す図である。

＜硬貨処理機１＞
図１は、硬貨処理機１を示す平面図である。

硬貨処理機１は、機外から投入されたバラの硬貨Ｃを識別しつつ計数して金種別に収納するものである。硬貨処理機１は、外部から硬貨Ｃが投入される硬貨投入繰出部１０を有している。

硬貨投入繰出部１０は、水平に配置された回転円盤１２と、この回転円盤１２の外縁部から鉛直に立ち上がる、一部が切り欠かれた略円筒状の側壁部１３と、回転円盤１２との間に硬貨一枚分の隙間をもって側壁部１３の切欠部分に設けられた分別環１４とを有している。

硬貨投入繰出部１０には、機外から硬貨Ｃが投入される。この状態で回転円盤１２が図１における反時計回りに回転すると、その遠心力によって硬貨Ｃが側壁部１３の内周面に沿って運ばれる。更に、硬貨Ｃは、回転円盤１２と分別環１４との隙間を介して一枚ずつ分離されて硬貨投入繰出部１０から外に順次繰り出される。

硬貨投入繰出部１０の硬貨繰出位置には、硬貨投入繰出部１０から繰り出された硬貨Ｃを一列状に移動するように案内する搬送路２０と、搬送路２０上の硬貨Ｃを搬送する搬送機構２１とが設けられている。

搬送路２０は、回転円盤１２の接線方向に沿って配置された第１搬送部２３と、この第１搬送部２３の回転円盤１２とは反対側から直交方向に延出する第２搬送部２４と、この第２搬送部２４の第１搬送部２３とは反対側から直交方向に延出する第３搬送部２５とを有している。第１搬送部２３には、貨幣を識別する貨幣識別装置、具体的には硬貨Ｃを識別する硬貨識別装置２６のユニット本体２７が設けられている。硬貨識別装置２６は、第１搬送部２３で搬送中の硬貨Ｃの金種を識別しつつ計数する。

第２搬送部２４には、硬貨Ｃを落下可能であり落下した硬貨Ｃを機外に取出可能に案内するリジェクト口２８と、硬貨識別装置２６で識別不能と識別された硬貨Ｃをリジェクト口２８に落下させるリジェクト部２９とが設けられている。リジェクト口２８から落下した硬貨Ｃは、図示略のリジェクト箱に排出されることにより硬貨処理機１の機外へ取り出し可能となる。

第３搬送部２５には、硬貨識別装置２６で識別され計数された硬貨Ｃを金種別に選別する選別部３２が設けられている。この選別部３２は、硬貨Ｃを落下可能な金種別の選別口３２ａ～３２ｆを有している。これら選別口３２ａ～３２ｆは、第３搬送部２５の延在方向に並べられて設けられている。これら選別口３２ａ～３２ｆは、硬貨Ｃを小さい外径のものから落下させるようになっている。これら選別口３２ａ～３２ｆは、最も上流側の選別口３２ａが１円硬貨を、その下流側の選別口３２ｂが５０円硬貨を、その下流側の選別口３２ｃが５円硬貨を、その下流側の選別口３２ｄが１００円硬貨を、その下流側の選別口３２ｅが１０円硬貨を、その下流側の選別口３２ｆが５００円硬貨を、それぞれ別々に落下させるようになっている。各選別口３２ａ～３２ｆの直前位置には硬貨Ｃを検知する硬貨検知センサ３３ａ～３３ｆが設けられている。硬貨処理機１は、硬貨検知センサ３３ａ～３３ｆの隣り合うもの同士の検知枚数の差から、選別口３２ａ～３２ｆのうちの間にあるものから落下した硬貨Ｃの数を計数するようになっている。

搬送機構２１は、複数の搬送ベルト３５，３６を有している。これらの搬送ベルト３５，３６が、硬貨投入繰出部１０から繰り出された硬貨Ｃを上側から搬送路２０に押し付けて搬送する。この搬送中、硬貨Ｃは、まず、硬貨識別装置２６で識別され計数されることになる。硬貨識別装置２６で識別不能であった硬貨Ｃは、リジェクト部２９によってリジェクト口２８から落下させられ、それ以外の硬貨Ｃは、選別部３２の金種別の選別口３２ａ～３２ｆの対応するものから落下する。

なお、図示は略すが、選別口３２ａ～３２ｆの下側には、選別口３２ａ～３２ｆから落下した硬貨Ｃを機外に返却可能に一時貯留する金種別の一時貯留部と、一時貯留部に貯留された硬貨Ｃを出金可能に収納する金種別の出金収納部とが設けられている。

第１搬送部２３は、上面の搬送面３９が水平に配置されて回転円盤１２の接線方向に直線状に延びる通路部４０と、通路部４０の幅方向両側に立設されて通路部４０と同方向に延びる側壁部４１，４２とを有している。通路部４０は、硬貨投入繰出部１０から繰り出された硬貨Ｃの下面を搬送面３９で支持してその移動を案内することになる。側壁部４１，４２は搬送面３９上で硬貨Ｃが移動する際に硬貨Ｃが一列状に並ぶように硬貨Ｃの外周面を案内する。硬貨識別装置２６のユニット本体２７は、通路部４０に設けられている。硬貨識別装置２６は、通路部４０の搬送面３９上で搬送される硬貨Ｃを識別する。以下、通路部４０の搬送面３９上で搬送される硬貨Ｃの搬送方向を硬貨搬送方向とし、硬貨搬送方向に対して直交する水平方向を通路幅方向として硬貨識別装置２６を説明する。側壁部４１，４２は、通路部４０の通路幅方向両側に立設されて硬貨搬送方向に延びている。

［硬貨識別装置２６］
図２は実施の形態に係る硬貨識別装置２６を側面から見た概略図である。

図２に示すように、硬貨識別装置２６は、上記したユニット本体２７と、ＣＰＵ基板からなる識別制御装置４５（制御装置）と、上位制御装置４６とを有して構成されている。ユニット本体２７と識別制御装置４５と上位制御装置４６とは全て別部品である。ユニット本体２７と識別制御装置４５とは、別体であり、配線等を介して通信可能に接続されている。上位制御装置４６は、識別制御装置４５と別体である。上位制御装置４６は、インターフェース４７を介して識別制御装置４５と接続される制御部４８と、識別制御装置４５に電源を供給する電源部４９とを有して構成されている。

（ユニット本体２７）
図３に示すように、ユニット本体２７は、下側ユニット５１と、下側ユニット５１の上方に配置される上側ユニット５２とを有している。下側ユニット５１は、前述した第１搬送部２３（図１参照）の一部を構成するものである。下側ユニット５１は、一対のガイド５５と、通路構成部５６とを有している。通路構成部５６は、上面が平面状の搬送面部５７となっている。搬送面部５７は、前述した搬送面３９（図１参照）の一部を構成する。通路構成部５６は、前述した通路部４０（図１参照）の一部を構成する。硬貨Ｃは、下側ユニット５１側の面Ｃａを通路構成部５６の搬送面部５７に接触させて搬送面部５７上を移動する。

一対のガイド５５は、搬送面部５７上に設けられている。一対のガイド５５は、硬貨搬送方向に延在する状態で、通路幅方向の両側に配置されている。一対のガイド５５のうちの一方は、図１に示す側壁部４１の一部を構成する。一対のガイド５５のうちの他方は、図１に示す側壁部４２の一部を構成する。図３に示すように、一対のガイド５５は、何れも直線状の板であり、互いの対向面で硬貨Ｃの外周面に接触してその移動を案内する。一対のガイド５５は、通路構成部５６の通路幅方向両側に立設されて硬貨搬送方向に延びている。

上側ユニット５２は、一対のガイド５５の上側に設けられている。上側ユニット５２は、搬送面部５７上の硬貨Ｃを搬送面部５７に押し付ける複数の硬貨押圧部材５８を有している。複数の硬貨押圧部材５８は、通路幅方向に並んでいる。複数の硬貨押圧部材５８は、通路幅方向において一対のガイド５５の間に配置されている。

図１に示す搬送機構２１は、通路構成部５６の搬送面部５７上の硬貨Ｃに上から接触して、この硬貨Ｃを搬送面部５７上で移動させる無端状の搬送ベルト３５を有している。搬送ベルト３５は、図示は略すが、その下部が、図３に示す下側ユニット５１の搬送面部５７と上側ユニット５２との間を通って硬貨搬送方向に延びている。搬送ベルト３５の下部は、通路幅方向において、両側の硬貨押圧部材５８の間に配置されている。搬送ベルト３５の下部は、搬送面部５７上の硬貨Ｃの上面である他方の面Ｃｂに接触する。搬送ベルト３５の下部は、搬送面部５７上にある硬貨Ｃの通路幅方向における途中部分に接触する。搬送ベルト３５は、回転することにより、その下部が硬貨搬送方向に走行し、この下部が接触する硬貨Ｃを、搬送面部５７上で硬貨搬送方向に移動させる。

（下側ユニット５１）
図２に示すように、下側ユニット５１は、下側光照射装置６１（第１光照射装置）と、ラインセンサ６２及び磁気センサ６３などの複数のセンサとを有している。下側ユニット５１は、ラインセンサ６２及び磁気センサ６３を含む複数のセンサによって硬貨Ｃの金種を判別する。また、下側ユニット５１は、記憶部６５を有している。記憶部６５は、下側光照射装置６１から照射される光の光量や照射タイミングや磁気センサ６３の調整値（パラメータ）を記憶している。

ラインセンサ６２は、その上面が搬送面部５７を構成している。ラインセンサ６２は、通路構成部５６を通路幅方向に横断するように設けられている。ラインセンサ６２は、多数の図示略の受光素子が通路幅方向に等間隔で直線状に並べられて構成されている。

下側光照射装置６１は、硬貨搬送方向においてラインセンサ６２の上流側と下流側とに分かれて設けられている。下側光照射装置６１は、その上面が搬送面部５７を構成している。下側光照射装置６１は、所定の波長の光を照射可能に構成されている。下側光照射装置６１は、所定の第１周期で光を硬貨Ｃの下面である一方の面Ｃａ側から照射する。この下側光照射装置６１から所定の第１周期で照射された光は、通路構成部５６に沿って搬送面部５７上で搬送される硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側で反射してラインセンサ６２に入力される。下側光照射装置６１から照射され、硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側で反射してラインセンサ６２に入力される光による画像を、硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の反射画像とする。ラインセンサ６２は、通路構成部５６で搬送される硬貨Ｃの画像情報を取得する。硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の反射画像は、この硬貨Ｃの一方の面Ｃａの表面に施された文字又は図形の取得に用いられる画像である。

識別制御装置４５は、所定の第１周期で入力された硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の反射画像を、第１周期と同じ第１のサンプリング周期で検出するようにラインセンサ６２を制御する。識別制御装置４５は、所定の第１のサンプリング周期ごとにラインセンサ６２で取得した反射画像を時系列で繋ぎ合わせることで、硬貨Ｃの一方の面Ｃａに施された文字又は図形などの模様を検出することができる。

磁気センサ６３は、下側光照射装置６１及びラインセンサ６２よりも硬貨搬送方向の下流側に設けられている。磁気センサ６３は、通路構成部５６に沿って搬送面部５７上で搬送される硬貨Ｃの磁気的性質を取得する。

（上側ユニット５２）
上側ユニット５２は、上側光照射装置７１（第２光照射装置）と、磁気センサ７２とを有して構成されている。

上側光照射装置７１は、所定の波長の光を照射可能に構成されている。上側光照射装置７１は、所定の第２周期で光を硬貨Ｃの上面である他方の面Ｃｂ側から照射する。この上側光照射装置７１から所定の第２周期で照射された光は、通路構成部５６に沿って搬送される硬貨Ｃを他方の面Ｃｂ側から一方の面Ｃａ側へ透過する方向に進んでラインセンサ６２に入力される。上側光照射装置７１から照射され、硬貨Ｃを他方の面Ｃｂ側から一方の面Ｃａ側へ透過する方向に進んでラインセンサ６２に入力される光による画像を、硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の透過画像とする。硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の透過画像は、この硬貨Ｃの外径の取得に用いられる画像である。下側ユニット５１に設けられた記憶部６５は、上側光照射装置７１から照射される光の光量や照射タイミングの調整値（パラメータ）を記憶している。なお、記憶部６５を上側ユニット５２に設けることも可能である。また、記憶部６５を下側ユニット５１と上側ユニット５２とに分けて設けることも可能である。すなわち、記憶部６５は、ユニット本体２７に設けられ、下側ユニット５１及び上側ユニット５２のうちの少なくとも何れか一方に設けられる。

磁気センサ７２は、上側光照射装置７１よりも硬貨搬送方向の下流側に設けられている磁気センサ７２は、通路構成部５６に沿って搬送される硬貨Ｃの磁気的性質を取得する。

下側ユニット５１及び上側ユニット５２からなるユニット本体２７は、下側光照射装置６１と上側光照射装置７１とからなる光照射装置８１を有している。光照射装置８１は、通路構成部５６で搬送される硬貨Ｃの少なくとも一方の面Ｃａ側と他方の面Ｃｂ側とからこの硬貨Ｃに光を照射する。ラインセンサ６２は、この光照射装置８１から硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側に光を照射した状態で当該硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の画像を取得すると共に、光照射装置８１からこの硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側に光を照射した状態でこの硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の画像を取得する。ラインセンサ６２は、硬貨Ｃの下面の反射画像を取得し、硬貨Ｃの上面の透過画像を取得する。

識別制御装置４５は、硬貨Ｃの透過画像を、第２周期と同じ第２のサンプリング周期で検出するようにラインセンサ６２を制御する。識別制御装置４５は、所定の第２のサンプリング周期ごとにラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの透過画像を時系列で繋ぎ合わせることで、硬貨Ｃの外径を検出することができる。

（ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対１の場合）
図４は、ラインセンサ６２によって、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対１の関係で交互に取得する場合を例示して説明する図である。

図４の（Ａ）の上段は、上側光照射装置７１による光の所定の周期における照射タイミングａ１、ａ２、ａ３、…、ａｎを示している。図４の（Ａ）の中段は、下側光照射装置６１による光の所定の周期における照射タイミングｂ１、ｂ２、ｂ３、…、ｂｎを示している。図４の（Ａ）の下段はラインセンサ６２による画像の所定の周期における取得タイミングＡ１、Ａ２、Ａ３、…、Ａｎを示している。

図４の（Ｂ）は、識別制御装置４５により硬貨Ｃの透過画像と反射画像とを１対１で交互に切り替えて取得した場合におけるラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの反射画像の一例を説明する図である。図４（Ｂ）の上段は、取得画像の元データを示している。図４（Ｂ）の下段は、元データを円形に補正する円形補正を行った図である。

図４に示すように、ラインセンサ６２により、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対１で交互に取得する場合、ラインセンサ６２でのそれぞれの画像の取得数は１対１の関係となる。

識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ１、Ａ３、Ａ５、…、Ａｎのタイミングで、硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得する。そして、識別制御装置４５は、この透過画像から硬貨Ｃの外径を取得する。取得タイミングＡ１は照射タイミングａ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ３は照射タイミングａ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ５は照射タイミングａ３と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

一方、識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ２、Ａ４、Ａ６、…、Ａｎ－１（図４（Ａ）のハッチング部分参照）のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得する。そして、識別制御装置４５は、この反射画像から硬貨Ｃの表面に施された文字や図形などの模様を取得する。取得タイミングＡ２は照射タイミングｂ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ４は照射タイミングｂ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ６は照射タイミングｂ３と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

このように、識別制御装置４５が、ラインセンサ６２を用いて下側光照射装置６１から照射された光による反射画像と上側光照射装置７１から照射された光による透過画像とを１対１の関係で交互に取得する。

ここで、硬貨識別装置２６において、ラインセンサ６２が、下側光照射装置６１から照射された光による反射画像と上側光照射装置７１から照射された光による透過画像とを１対１の関係で交互に取得した場合、硬貨Ｃの搬送速度によっては、下側光照射装置６１から照射された光による反射画像の数が少なくなってしまう場合がある。その結果、硬貨識別装置２６のラインセンサ６２では、特に、硬貨Ｃの表面に施された文字や図形などの模様の取得精度が低くなってしまう。

図４（Ｂ）の上段は、取得タイミングＡ２、Ａ４、Ａ６、…、Ａｎ－１のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、これらの反射画像を時系列で並べた硬貨Ｃの配列反射画像を示している。この硬貨Ｃの配列反射画像においては、取得タイミングＡ２のタイミングでラインセンサ６２が取得した硬貨Ｃの反射画像をＡ２で示す等、各反射画像に対してそれぞれの取得周期を符号として付している。この配列反射画像では、ラインセンサ６２による反射画像の取得数が少ないため、本来の硬貨の円形にならずに、画像が潰れてしまう。潰れた分を引き伸ばして配列反射画像を円形とする円形補正を行った場合（図４（Ｂ）下段参照）、反射画像間の間隔があいてしまい硬貨Ｃの表面に施された文字や図形の判別が難しいことが分かる。

なお、硬貨Ｃの外径については、透過画像のサンプリング数が少なくても、サンプリング間の補間が容易なため、ラインセンサ６２は、少ないサンプリング数でも硬貨Ｃの外径を精度よく取得することができる。

そのため、識別制御装置４５は、硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側と硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側とでラインセンサ６２による画像の取得数を異ならせる。識別制御装置４５は、所定の期間において、硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の反射画像を、この硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の透過画像よりも多くラインセンサ６２から取得する。識別制御装置４５は、下側光照射装置６１から光が照射された際の硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の反射画像を、上側光照射装置７１から光が照射された際のこの硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の透過画像よりも多くラインセンサ６２から取得する。

（ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対２の場合）
ラインセンサ６２による硬貨Ｃの透過画像及び反射画像の取得比率を１対２とした場合の一例を説明する。

図５は、ラインセンサ６２によって、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対２の関係で交互に取得する場合を説明する図である。

図５の（Ａ）の上段は、上側光照射装置７１による光の所定の一定周期Ｔ１での照射タイミングａ１、ａ２、ａ３、…、ａｎを示している。図５の（Ａ）の中段は、下側光照射装置６１による光の照射タイミングｂ１、ｂ２、ｂ３、…、ｂｎを示している。上側光照射装置７１による光の隣り合う照射タイミングの間に、この間を３等分するように下側光照射装置６１による光の照射タイミングが２回設定されている。下側光照射装置６１による光の照射タイミングは短い周期Ｔ２と長い周期Ｔ３とがあり、これらが交互となっている。周期Ｔ２は、周期Ｔ１の１／３であり、周期Ｔ３は、周期Ｔ１の２／３である。下側光照射装置６１による周期Ｔ３での光の隣り合う照射タイミングの間の中央のタイミングに、上側光照射装置７１による光の照射タイミングが設定されている。上側光照射装置７１および下側光照射装置６１の全体での光の照射は、一定の周期Ｔ２で行われる。図５の（Ａ）の下段はラインセンサ６２による画像の所定の周期での取得タイミングＡ１、Ａ２、Ａ３、…、Ａｎを示している。ラインセンサ６２による画像取得の所定の周期は一定の周期Ｔ２である。よって、ラインセンサ６２は、周期Ｔ１で透過画像を１枚ずつ取得することになり、透過画像を１枚取得した後、周期Ｔ２で反射画像を２枚取得することを、繰り返し行う。

図５の（Ｂ）は、識別制御装置４５により硬貨Ｃの透過画像と反射画像とを１対２で交互に切り替えて取得した場合の、ラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの反射画像の一例を説明する図である。図５（Ｂ）の上段は、取得画像の元データを示している。図５（Ｂ）の下段は、元データを円形に補正する円形補正を行った図である。

図５（Ａ）に示すように、ラインセンサ６２により、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対２で交互に取得する場合、それぞれの画像の取得数が１対２の関係となる。

識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ１、Ａ４、Ａ７、…、Ａｎのタイミングで、硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得し、この透過画像から硬貨Ｃの外径を取得する。取得タイミングＡ１は照射タイミングａ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ４は照射タイミングａ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ７は照射タイミングａ３と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

一方、識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ２、Ａ３、Ａ５、Ａ６、Ａ８、Ａ９、…、Ａｎ－２、Ａｎ－１（図５（Ａ）のハッチング部分参照）のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、この反射画像から硬貨Ｃの表面に施された文字や図形などの模様を取得する。取得タイミングＡ２は照射タイミングｂ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ３は照射タイミングｂ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ５は照射タイミングｂ３と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ６は照射タイミングｂ４と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

図５（Ｂ）は、取得タイミングＡ２、Ａ３、Ａ５、Ａ６、Ａ８、Ａ９、…、Ａｎ－２、Ａｎ－１のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、これらの反射画像を時系列で並べた硬貨Ｃの配列反射画像を示している。この硬貨Ｃの配列反射画像においても、各反射画像に対してそれぞれの取得周期を符号として付している。

この場合、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２により、硬貨Ｃの透過画像１枚に対して、硬貨Ｃの反射画像を２枚取得するので、前述したように硬貨Ｃの透過画像と反射画像とを１対１の関係で交互に取得する場合に比べて、高い解像度で硬貨Ｃの文字又は図形などの模様を取得することができる。よって、硬貨識別装置２６は、ラインセンサ６２が取得した配列反射画像を円形とする円形補正を行った場合（図５（Ｂ）下段参照）に、反射画像間にあく間隔を狭くでき、硬貨Ｃの文字又は図形などの模様を精度よく判別することができる。

（ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対３の場合）
さらに、ラインセンサ６２による硬貨Ｃの透過画像及び反射画像の取得比率を１対３とした場合の一例を説明する。

図６は、ラインセンサ６２によって、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対３の関係で交互に取得する場合の一例を説明する図である。

図６の（Ａ）の上段は、上側光照射装置７１による光の所定の一定周期Ｔ４での照射タイミングａ１、ａ２、ａ３、…、ａｎを示している。図６の（Ａ）の中段は、下側光照射装置６１による光の照射タイミングｂ１、ｂ２、ｂ３、…、ｂｎを示している。上側光照射装置７１による光の隣り合う照射タイミングの間に、この間を４等分するように下側光照射装置６１による光の照射タイミングが３回設定されている。下側光照射装置６１による光の照射タイミングは短い周期Ｔ５と長い周期Ｔ６とがあり、周期Ｔ５で３回の照射を行い、その最後の照射から周期Ｔ６で次の周期Ｔ５での３回の照射の最初の照射を行う。周期Ｔ５は、周期Ｔ４の１／４であり、周期Ｔ６は、周期Ｔ４の１／２である。下側光照射装置６１による周期Ｔ６での光の隣り合う照射タイミングの間の中央のタイミングに、上側光照射装置７１による光の照射タイミングが設定されている。上側光照射装置７１および下側光照射装置６１の全体での光の照射は、一定の周期Ｔ５で行われる。図６の（Ａ）の下段はラインセンサ６２による画像の所定の周期での取得タイミングＡ１、Ａ２、Ａ３、…、Ａｎを示している。ラインセンサ６２による画像取得の所定の周期は一定の周期Ｔ５である。よって、ラインセンサ６２は、周期Ｔ４で透過画像を１枚ずつ取得することになり、透過画像を１枚取得した後、周期Ｔ５で反射画像を３枚取得することを、繰り返し行う。

図６の（Ｂ）は、識別制御装置４５により硬貨Ｃの透過画像と反射画像とを１対３で交互に切り替えて取得した場合のラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの反射画像の一例を説明する図である。図６（Ｂ）の上段は、取得画像の元データを示している。図６（Ｂ）の下段は、元データを円形に補正する円形補正を行った図である。

図６に示すように、ラインセンサ６２により、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対３で交互に取得する場合、それぞれの画像の取得数が１対３の関係となる。

識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ１、Ａ５、Ａ９、…、Ａｎのタイミングで、硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得し、この透過画像から硬貨Ｃの外径を取得する。取得タイミングＡ１は照射タイミングａ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ５は照射タイミングａ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ９は照射タイミングａ３と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

一方、識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ２、Ａ３、Ａ４、Ａ６、Ａ７、Ａ８、…、Ａｎ－２、Ａｎ－１（図６（Ａ）のハッチング部分参照）のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、この反射画像から硬貨Ｃの表面に施された文字や図形などの模様を取得する。取得タイミングＡ２は照射タイミングｂ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ３は照射タイミングｂ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ４は照射タイミングｂ３と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ６は照射タイミングｂ４と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ７は照射タイミングｂ５と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ８は照射タイミングｂ６と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

図６（Ｂ）は、取得タイミングＡ２、Ａ３、Ａ４、Ａ６、Ａ７、Ａ８、…、Ａｎ－２、Ａｎ－１のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、これらの反射画像を時系列で並べた硬貨Ｃの配列反射画像を示している。この硬貨Ｃの配列反射画像においても、各反射画像に対してそれぞれの取得周期を符号として付している。

この場合、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２により、硬貨Ｃの透過画像１枚に対して、硬貨Ｃの反射画像を３枚取得するので、前述したように硬貨Ｃの透過画像と反射画像とをラインセンサ６２により１対２で交互に取得する場合に比べて、より高い解像度で硬貨Ｃの文字又は図形などの模様を取得することができる。よって、硬貨識別装置２６は、ラインセンサ６２が取得した硬貨Ｃの配列反射画像を円形とする円形補正を行った場合（図６（Ｂ）下段参照）に、反射画像間にあく間隔をより狭くでき、硬貨Ｃの文字又は図形などの模様をより精度よく判別することができる。

（ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対４の場合）
最後に、ラインセンサ６２による硬貨Ｃの透過画像及び反射画像の取得比率を１対４とした場合の一例を説明する。

図７は、ラインセンサ６２によって、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対４の関係で交互に取得する場合の一例を説明する図である。

図７の（Ａ）の上段は、上側光照射装置７１による光の所定の一定周期Ｔ７での照射タイミングａ１、ａ２、ａ３、…、ａｎを示している。図７の（Ａ）の中段は、下側光照射装置６１による光の照射タイミングｂ１、ｂ２、ｂ３、…、ｂｎを示している。上側光照射装置７１による光の隣り合う照射タイミングの間に、この間を５等分するように下側光照射装置６１による光の照射タイミングが４回設定されている。下側光照射装置６１による光の照射タイミングは短い周期Ｔ８と長い周期Ｔ９とがあり、周期Ｔ８での４回の照射を行い、その最後の照射から周期Ｔ９で次の周期Ｔ８での４回の照射の最初の照射を行う。周期Ｔ８は、周期Ｔ７の１／５であり、周期Ｔ９は、周期Ｔ７の２／５である。下側光照射装置６１による周期Ｔ９での光の隣り合う照射タイミングの間の中央のタイミングに、上側光照射装置７１による光の照射タイミングが設定されている。上側光照射装置７１および下側光照射装置６１の全体での光の照射は、一定の周期Ｔ８で行われる。図７の（Ａ）の下段はラインセンサ６２による画像の所定の周期での取得タイミングＡ１、Ａ２、Ａ３、…、Ａｎを示している。ラインセンサ６２による画像取得の所定の周期は一定の周期Ｔ８である。よって、ラインセンサ６２は、周期Ｔ７で透過画像を１枚ずつ取得することになり、透過画像を１枚取得した後、周期Ｔ８で反射画像を４枚取得することを、繰り返し行う。

図７の（Ｂ）は、識別制御装置４５により硬貨Ｃの透過画像と反射画像とを１対４で交互に切り替えて取得した場合のラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの反射画像の一例を説明する図である。図７（Ｂ）の上段は、取得画像の元データを示している。図７（Ｂ）の下段は、元データを円形に補正する円形補正を行った図である。

図７に示すように、ラインセンサ６２により、上側光照射装置７１から照射された光による硬貨Ｃの透過画像と、下側光照射装置６１から照射された光による硬貨Ｃの反射画像とを１対４で交互に取得する場合、それぞれの画像の取得数が１対４の関係となる。

識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ１、Ａ６、Ａ１１、…、Ａｎ－４のタイミングで、硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２で取得し、この透過画像から硬貨Ｃの外径を取得する。取得タイミングＡ１は照射タイミングａ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ６は照射タイミングａ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ１１は照射タイミングａ３と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

一方、識別制御装置４５は、所定のサンプリング周期ごとに硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得する。つまり、識別制御装置４５は、取得タイミングＡ２、Ａ３、Ａ４、Ａ５、Ａ７、Ａ８、Ａ９、Ａ１０、…、Ａｎ－３、Ａｎ－２、Ａｎ－１、Ａｎ（図７（Ａ）のハッチング部分参照）のタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、この反射画像から硬貨Ｃの表面に施された文字や図形などの模様を取得する。取得タイミングＡ２は照射タイミングｂ１と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ３は照射タイミングｂ２と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ４は照射タイミングｂ３と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ５は照射タイミングｂ４と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ７は照射タイミングｂ５と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ８は照射タイミングｂ６と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ９は照射タイミングｂ７と同じタイミング（時刻）であり、取得タイミングＡ１０は照射タイミングｂ８と同じタイミング（時刻）であり、他も同様である。

図７（Ｂ）は、取得タイミングＡ２、Ａ３、Ａ４、Ａ５、Ａ７、Ａ８、Ａ９、Ａ１０、…、Ａｎ－３、Ａｎ－２、Ａｎ－１、Ａｎのタイミングで、硬貨Ｃの反射画像をラインセンサ６２で取得し、これらの反射画像を時系列で並べた硬貨Ｃの配列反射画像を示している。この硬貨Ｃの配列反射画像においても、各反射画像に対してそれぞれの取得周期を符号として付している。

この場合、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２により、硬貨Ｃの透過画像１枚に対して、硬貨Ｃの反射画像を４枚取得するので、前述したように硬貨Ｃの透過画像と反射画像とをラインセンサ６２で１対３の関係で交互に取得する場合に比べて、より高い解像度で硬貨Ｃの文字又は図形などの模様を取得することができる。よって、硬貨識別装置２６は、ラインセンサ６２が取得した硬貨Ｃの配列反射画像を円形とする円形補正を行った場合（図７（Ｂ）下段参照）に、反射画像間にあく間隔をより狭くでき、硬貨Ｃの文字又は図形などの模様をより精度よく判別することができる。

図７に示すように、ラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの反射画像の元データ（図７（Ｂ）上段参照）は、円形に近い楕円形状となっており、このような元データに対して反射画像全体を円形とする円形補正を行った場合（図７（Ｂ）下段参照）、補正後のデータは硬貨Ｃの表面に施された文字や図形などの模様がはっきり視認可能になっている。よって、硬貨識別装置２６は、ラインセンサ６２が取得した硬貨Ｃの文字又は図形などの模様をより精度よく判別することができる。

なお、実施の形態では、上側光照射装置７１から照射される光による透過画像のラインセンサ６２による取得枚数が少なくなるが、すでに取得した透過画像による硬貨Ｃの外径と硬貨Ｃの搬送速度とに基づいて、サンプリングデータ間を補正することで硬貨Ｃの外径を正確に取得することができる。

識別制御装置４５は、ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を、１対２、１対３および１対４の中から、例えば搬送機構２１による硬貨Ｃの搬送速度に基づいて決定する。すなわち、搬送機構２１による硬貨Ｃの搬送速度が最も遅い第１速度の場合、ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を１対２とする。また、搬送機構２１による硬貨Ｃの搬送速度が、第１速度よりも速い第２速度の場合、ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を１対３とする。また、搬送機構２１による硬貨Ｃの搬送速度が、第２速度よりも速い第３速度の場合、ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を１対４とする。搬送機構２１による硬貨Ｃの搬送速度は、例えば、操作者の操作で第１速度～第３速度の中から選択可能となっている。

ここで、硬貨Ｃの通常の入金処理時に、硬貨識別装置２６は、識別制御装置４５が、ラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の反射画像および硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の透過画像に基づいて識別適合又は識別不適合を判別する。その結果、識別不適合と判別したリジェクト硬貨を、リジェクト部２９に搬送し、リジェクト部２９で機外にリジェクトする。硬貨処理機１は、再判別する旨の操作入力がされることで、このようなリジェクト硬貨を再判別する再判別処理を行う。

この場合、例えば、通常の入金処理時にラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対２に設定されているとき、識別制御装置４５は、再判別処理ではラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を通常の入金処理よりも面Ｃａ側が高くなる１対３とする。また、再判別処理でも硬貨識別装置２６での判別によりリジェクト部２９でリジェクトされた再リジェクト硬貨を、再々判別する旨の操作入力がされることで再々判別する再々判別処理を行うことがある。この場合、識別制御装置４５は、再々判別処理ではラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を再判別処理よりも面Ｃａ側が高くなる１対４とする。勿論、通常の入金処理時のラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対２に設定されているとき、識別制御装置４５は、再判別処理では、ラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を通常の入金処理よりも面Ｃａ側が高くなる１対４としても良い。

また、例えば、通常の入金処理でラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率が１対３に設定されているとき、識別制御装置４５は、再判別処理ではラインセンサ６２による面Ｃｂ側及び面Ｃａ側の画像の取り込み比率を通常の入金処理よりも面Ｃａ側が高くなる１対４とする。

すなわち、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２で取得した硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の画像および硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の画像に基づいて硬貨Ｃの識別適合又は識別不適合を判別した結果、識別不適合と判別した硬貨Ｃをリジェクト部２９に搬送する。なお、当該リジェクトした硬貨Ｃの再判別時に、ラインセンサ６２による硬貨Ｃの他方の面Ｃｂ側の画像の取得数に対する硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の画像の取得数を、硬貨Ｃのリジェクト前の判別時における硬貨Ｃの一方の面Ｃａ側の画像の取得数よりも多くしても良い。

図８は、ラインセンサ６２から取得する硬貨Ｃの透過画像から硬貨Ｃの外径を算出する処理を説明する図である。

図８に示すように、識別制御装置４５は所定のサンプリング周期で硬貨Ｃの透過画像をラインセンサ６２から取得する。図８では、ｔ１，ｔ２，ｔ３，ｔ４，ｔ５，ｔ６，ｔ７，ｔ８の各タイミングで透過画像をラインセンサ６２から取得している。図８に示すように、ラインセンサ６２で取得する硬貨Ｃの透過画像の受光レベルは、硬貨Ｃの検出を開始するまでは遮光されないため最大に高く、硬貨Ｃの検出を開始すると硬貨Ｃの遮光量が徐々に大きくなって透過画像の受光レベルが徐々に下がり、その後、硬貨Ｃの遮光量が徐々に小さくなって透過画像の受光レベルが徐々に上がり、硬貨Ｃがラインセンサ６２を通り過ぎると、遮光されないため最大に高くなる。

識別制御装置４５は、それに基づいて硬貨Ｃの外径を算出する。硬貨Ｃの外径は、基本的には、硬貨Ｃの通過時にラインセンサ６２の最小となる受光レベルから割り出される硬貨Ｃの通路幅方向の長さが硬貨Ｃの外径（最大径）となる。すなわち、ラインセンサ６２の受光レベルは、硬貨Ｃによって遮光された受光素子の数に応じて変わるため、得られた受光レベルから、硬貨Ｃによって遮光された受光素子の数を求めることができ、この数と受光素子の配置ピッチとから硬貨Ｃの通路幅方向の長さの最大値を算出する。

ただし、サンプリングタイミングによっては硬貨Ｃの外径（最大径）が正確に分からない可能性がある。すなわち、サンプリングタイミングと、硬貨Ｃの最大径の部分がラインセンサ６２に重なるタイミングとがずれると、硬貨Ｃの外径（最大径）が正確に分からない可能性がある。そのため、例えば、ｔ２～ｔ７の全部の出力値を滑らかに結んで延びる図８に示すｔ２～ｔ７間の曲線を求め、この曲線の底点となる位置（ｔ４，ｔ５間）の出力値を算出して、この算出値から求められる長さを硬貨Ｃの外径とする。これにより、硬貨Ｃの外径（最大径）を正確に取得することができる。

（ゴミや異物、ビット抜けＥの検知方法）
硬貨識別装置２６では、前述したラインセンサ６２の検知範囲にゴミなどの異物や、受光素子が受光しなくなるビット抜け（ビット欠けとも言う）が存在する場合、当該異物などが存在する範囲では、ラインセンサ６２が硬貨Ｃの透過画像又は反射画像を取得できない恐れがある。その結果、硬貨識別装置２６では、ゴミなどの異物やビット抜けなどを正確に検知することが必要となる。

次に、硬貨識別装置２６におけるゴミなどの異物やビット抜けの検知方法を説明する。
図９は、ラインセンサ６２の検知範囲に硬貨Ｃ、異物及びビット抜けがない場合のラインセンサ６２の第１出力値の一例を説明する図である。図９の（Ａ）は、硬貨Ｃの搬送方向から見たラインセンサ６２と上側光照射装置７１の周りの模式図である。図９の（Ｂ）は、ラインセンサ６２の検知範囲に硬貨Ｃ、異物及びビット抜けがない場合のラインセンサ６２の出力値の一例である。

図１０は、ラインセンサ６２の検知範囲に硬貨Ｃがなく、異物Ｄ及びビット抜けＥがある場合のラインセンサ６２の出力値の一例を説明する図である。図１０の（Ａ）は、硬貨Ｃの搬送方向から見たラインセンサ６２と上側光照射装置７１の周りの模式図である。図１０の（Ｂ）は、ラインセンサ６２の検知範囲に硬貨Ｃがなく、異物Ｄ及びビット抜けＥがある場合のラインセンサ６２の出力値の一例である。

図１１は、ラインセンサ６２の検知範囲に硬貨Ｃと異物Ｄがある場合のラインセンサ６２の出力値の一例を説明する図である。図１１の（Ａ）は、硬貨Ｃの搬送方向から見たラインセンサ６２と上側光照射装置７１の周りの模式図である。図１１の（Ｂ）は、ラインセンサ６２の検知範囲に硬貨Ｃと異物Ｄがある場合のラインセンサ６２の出力値の一例である。

図１２は、ラインセンサ６２に複数のビット抜けＥがある場合のラインセンサ６２の出力値の一例を説明する図である。図１２の（Ａ）は、硬貨Ｃの搬送方向から見たラインセンサ６２と上側光照射装置７１の周りの模式図である。図１２の（Ｂ）は、ラインセンサ６２に複数のビット抜けＥがある場合のラインセンサ６２の出力値の一例である。

まず、図９（Ａ）に示すように、硬貨識別装置２６では、硬貨Ｃの搬送方向に沿って、当該硬貨Ｃの径方向（通路構成部５６の通路幅方向）の位置を規制する一対のガイド５５が設けられている。上側光照射装置７１から照射された光は、一対のガイド５５で遮光される。よって、図９の（Ｂ）に示すように、上側光照射装置７１から照射された光のラインセンサ６２での受光レベルは、一対のガイド５５の陰となる部分が低くなり、硬貨Ｃが搬送される通路構成部５６の部分では高くなっている。工場出荷時には、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の検知範囲にゴミなどの異物Ｄがなく、ラインセンサ６２のビット抜けＥもないため、一対のガイド５５の陰となる部分で受光レベルが低く、通路構成部５６に対応する部分で受光レベルが高い出力値がラインセンサ６２から取得できる。

識別制御装置４５は、このラインセンサ６２の工場出荷時の出力値を、当該ラインセンサ６２に異常がない場合の正常出力値として下側ユニット５１の記憶部６５に記憶している。

次に、図１０に示すように、ラインセンサ６２の検知範囲における通路構成部５６にゴミなどの異物Ｄがある場合、異物Ｄにより上側光照射装置７１から照射された光が遮光されるので、このゴミなどの異物Ｄの陰となる部分でラインセンサ６２での受光レベルが正常出力値に比して低下する。図１０に示す実施の形態では、範囲Ｌ１に亘って、ラインセンサ６２での受光レベルＨ１が、正常出力値Ｈ２に比して低下している。また、ラインセンサ６２にビット抜けＥ（ビット欠け）などがある場合、ビット抜けＥの範囲Ｌ２ではラインセンサ６２の出力値が０「ゼロ」となる。

よって、図１１に示すように、通路構成部５６にゴミなどの異物Ｄが存在する場合、ラインセンサ６２では、ゴミなどの異物Ｄの陰となる部分と硬貨Ｃの陰となる部分とで受光レベルＨ１が正常出力値Ｈ２に比して下がる。その結果、ラインセンサ６２では、異物Ｄの位置と硬貨Ｃの位置とが搬送方向と直交する通路幅方向で重なっている場合に、異物Ｄの範囲Ｌ１の分だけ硬貨Ｃの外径φ１を正確な硬貨径φ０に比して長く誤検知してしまう恐れがある。

よって、識別制御装置４５は、下側ユニット５１の記憶部６５に記憶された図９に示す工場出荷時のラインセンサ６２の受光レベルである第１出力値（正常出力値）と、図１０に示す現在の硬貨Ｃが無い状態でのラインセンサ６２の受光レベルである第２出力値とを比較し、第２出力値に、第１出力値よりも部分的に受光レベルが低くなるような部分がある場合、ゴミなどの異物Ｄが付着していると判断する。具体的には、ラインセンサ６２において、受光レベルが所定の第１受光閾値以上の部分と、この第１受光閾値未満であって、第１受光閾値よりも低い第２受光閾値以上の部分とが、両方存在する場合、第１受光閾値未満且つ第２受光閾値以上の部分にゴミなどの異物Ｄが付着していると判断する。

なお、図１０に示すように、ラインセンサ６２の検知範囲にゴミなどの異物Ｄがある場合、当該異物Ｄが存在する領域Ｌ１においてもラインセンサ６２には僅かに光が入り受光レベルは０「ゼロ」とはならないのに対し、ラインセンサ６２のビット抜けＥの場合は、ビット抜けＥの領域Ｌ２の受光レベルは完全に０「ゼロ」となる。そのため、識別制御装置４５は、この受光レベルの低下の程度を検知することで、受光レベルの低下がゴミなどの異物Ｄによるものか、ビット抜けＥによるものなのかを判断することができる。つまり、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の受光レベルが、第１受光閾値未満であって第２受光閾値以上であれば、受光レベルの低下がゴミなどの異物Ｄによるものであると判断する一方、この第２受光閾値未満であれば、ビット抜けＥによるものであると判断する。

また、ゴミなどの異物Ｄがある場合、ラインセンサ６２は、ある程度の長さの領域で受光レベルが低下するのに対して、ビット抜けＥの場合、１ビット又は２ビットなどの限られた狭い範囲で受光レベルが低下する。よって、識別制御装置４５は、この受光レベルの低下した領域の長さが所定の長さ閾値未満であるか否かに基づいて、受光レベルの低下が異物Ｄなどの付着によるものなのかビット抜けＥによるものなのかを判断することができる。つまり、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の受光レベルが第１受光閾値未満の範囲の長さが、長さ閾値以上である場合、受光レベルの低下がゴミなどの異物Ｄによるものであると判断する一方、この長さ閾値未満である場合、ビット抜けＥによるものであると判断する。

このように、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の検知範囲に異物Ｄが存在しない状態及びビット抜けＥがない状態で取得したラインセンサ６２の第１出力値と、ラインセンサ６２の現在の出力値である第２出力値との比較結果に基づいて、ラインセンサ６２における異物Ｄの有無及びビット抜けＥの有無を判定する。また、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の第１出力値を、ラインセンサ６２が設けられるユニット本体２７の記憶部６５に記憶する。

前述したように、硬貨識別装置２６は、ゴミなどの異物Ｄの存在やビット抜けＥなどがあると判断した場合、ゴミの除去の報知やラインセンサ６２の交換を報知することになる。しかしながら、硬貨識別装置２６は、交換などで硬貨識別処理を停止させないように、可能な限り運転を継続させるようになっている。具体的には、硬貨識別装置２６は、この異物Ｄやビット抜けＥがある部分を、前述したように硬貨Ｃが無いと判断される受光レベルまで上昇させる補正を行う。又は、この異物Ｄやビット抜けＥがある部分を硬貨Ｃの識別データから除外する処理を行う。

さらに、図１２に示すように、硬貨Ｃや異物Ｄがある場合のラインセンサ６２の受光レベルよりも低い受光レベルとなる領域が複数ある場合、ラインセンサ６２はビット抜けＥが複数存在し、ラインセンサ６２の交換が必要であると判断し、その旨の警告を行う。また、この際、ラインセンサ６２は、当該領域を交換されるまで継続使用できるように、ビット抜けＥの範囲の受光レベルを、前述したように硬貨Ｃが無いと判断される受光レベルまで上昇させる補正を行ってもよい。又は、これらのビット抜けＥがある部分を硬貨Ｃの識別データから除外する処理を行ってもよい。

（ラインセンサ６２の出力値の補正方法）
次に、前述したように、ゴミなどの異物Ｄの付着や、ビット抜けＥにより受光レベルが低下した場合のラインセンサ６２の出力値の補正方法を説明する。

図１３は、異物Ｄの付着やビット抜けＥなどがある場合における識別制御装置４５によるラインセンサ６２の出力値の補正方法を説明するフローチャートである。

前述したように、硬貨識別装置２６の識別制御装置４５は、記憶部６５に記憶されている工場出荷時のラインセンサ６２の正常出力値を記憶部６５から呼び出して取得する（ステップＳ１０１）と共に、硬貨Ｃがない場合におけるラインセンサ６２の現在出力値を呼び出して取得する（ステップＳ１０２）。

そして、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の現在出力値と正常出力値とを比較し（ステップＳ１０３）、ラインセンサ６２の現在出力値と対応する正常出力値とが一致しない領域があると判断した場合（ステップＳ１０３：ＮＯ）、ステップＳ１０４に進む。他方、ラインセンサ６２の現在出力値と正常出力値とが全ての領域で一致する場合（ステップＳ１０３：ＹＥＳ）、補正処理の必要なしと判断して本補正処理を終了する。

識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の現在出力値と正常出力値とが一致しない領域が存在する場合（ステップＳ１０３：ＮＯ）、ラインセンサ６２の検知範囲にゴミなどの異物Ｄ及びビット抜けＥの少なくともいずれか一方からなる異常領域があると判断する（ステップＳ１０４）。

次に、識別制御装置４５は、当該異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼすか否かを判断する（ステップＳ１０５）。例えば、当該異常領域が硬貨Ｃの通路幅方向の少なくともいずれか一方の端部にかかる位置にある場合、当該異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼすと判断する。他方、当該異常領域が硬貨Ｃの通路幅方向のいずれの端部にもかかる位置にない場合、当該異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断する。

ここで、当該異常領域が、異物Ｄが存在する異物存在領域であって硬貨Ｃの通路幅方向の端部にかかる位置にある場合、この異常領域はラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲と連続状をなす状態が発生する。この状態が発生した場合、当該異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼすと判断する。また、当該異常領域がビット抜けＥの異常ビットであって硬貨Ｃの通路幅方向の端部にかかる位置にある場合、この異常ビットもラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲と連続状をなす状態が発生する。この状態が発生した場合も、当該異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼすと判断する。

例えば、異物存在領域の全体及び異常ビットの全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光された受光範囲から離れている場合、異物存在領域及び異常ビットが硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断する。また、例えば、異物存在領域の全体及び異常ビットの全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光された受光範囲内にある場合、異物存在領域及び異常ビットが硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断する。また、例えば、異物存在領域の全体がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光された受光範囲から離れており且つ異常ビットの全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光された受光範囲内にある場合、異物存在領域及び異常ビットが硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断する。また、例えば、異物存在領域の全体がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光された受光範囲から離れており且つ異常ビットの全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光された受光範囲内にある場合、異物存在領域及び異常ビットが硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断する。

識別制御装置４５は、例えば、異物存在領域及び異常ビットの少なくともいずれか一方からなる異常領域の全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲内にあって、異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断した場合（ステップＳ１０５：ＮＯ）、当該異常領域を硬貨Ｃの識別に用いるデータから除外する補正を行う（ステップＳ１０６）。また、識別制御装置４５は、異常領域の全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲外にあって、異常領域が硬貨Ｃの識別に影響を及ぼさないと判断した場合（ステップＳ１０５：ＮＯ）、異常領域におけるラインセンサ６２の出力値を、異常領域が無いと判断される出力値まで上昇させる補正を行う（ステップＳ１０６）。

上記のようにすると、硬貨識別装置２６は、ゴミなどの異物Ｄ又はビット抜けＥがあると判断した場合でも、即座にエラーとして硬貨識別装置２６を停止するのではなく、硬貨識別装置２６の動作を継続させることができる。

最後に、識別制御装置４５は、硬貨Ｃの識別に用いるデータとして異物Ｄ等が存在する領域を排除する等の補正を行いつつ、硬貨Ｃの外径を算出（ステップＳ１０７）して処理を終了する。この硬貨Ｃの外径の算出処理は後述する。

一方、ステップＳ１０５において、識別制御装置４５は、異物Ｄが存在する領域又はビット抜けＥのある領域が、硬貨Ｃの識別に影響があると判断した場合（ステップＳ１０５：ＹＥＳ）、補正を行わず、エラー報知した（ステップＳ１０８）のち本補正処理を終了する。

以上により、識別制御装置４５は、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判定した場合、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判断した領域を、ラインセンサ６２による硬貨Ｃの識別判断に用いられるデータから除外、又は、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判断した領域以外の領域におけるラインセンサ６２の出力値に補正する。

次に、ラインセンサ６２の検知範囲から異物Ｄ等が存在する異常領域を識別判断のデータから除外等した場合の硬貨Ｃの外径の推定処理を説明する。

（硬貨Ｃの外径算出処理）
ステップＳ１０７における硬貨Ｃの外径の算出処理について説明する。
ここでは、硬貨Ｃの外径をラインセンサ６２の硬貨Ｃで遮光された受光素子の数で算出する場合について説明する。

ラインセンサ６２に、ゴミなどの異物Ｄが存在している領域又はビット抜けＥなどの異常領域がある場合、識別制御装置４５は、例えば、異常領域の全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲内にあれば、当該異常領域を、硬貨Ｃを識別するデータから除外する補正処理を行う（前述したステップＳ１０６）。この場合、ラインセンサ６２の残りの受光素子の中で硬貨Ｃにより遮光された受光素子の数と、除外された領域にある受光素子の数との合計に対応する値となるラインセンサ６２の受光レベルと、受光素子の配置ピッチとから硬貨Ｃの外径を算出する。

すなわち、異常領域の全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲内にあれば、異常領域に対応する受光素子の数は、硬貨Ｃにより遮光される範囲にある受光素子の数の中に含まれることになる。このため、図１４に示すように、ラインセンサ６２の現在出力値（破線）は、硬貨Ｃを検知しない状態では、異常領域の分だけ正常出力値（実線）よりも低くなるものの、硬貨Ｃの最大外径部分を検出する受光レベルの最小位置では、異常領域がない状態での出力値（実線）と同等になる。これを利用して、識別制御装置４５は、異常領域のデータを、硬貨Ｃを識別するデータから除外して、異常領域にある受光素子を一律硬貨Ｃにより遮光されたものとしてカウントする。

また識別制御装置４５は、例えば、異常領域全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲から離れていれば、当該ゴミなどの異物Ｄ又はビット抜けＥがあると判断した異常領域におけるラインセンサ６２の出力値を、ゴミなどの異物Ｄ又はビット抜けＥが無いと判断される出力値まで上昇させる補正を行う。この場合、ラインセンサ６２の全受光素子の中で硬貨Ｃにより遮光された受光素子の数に対応する値となるラインセンサ６２の受光レベルと、受光素子の配置ピッチとから硬貨Ｃの外径を算出する。

すなわち、異常領域全部がラインセンサ６２の硬貨Ｃにより遮光される受光範囲から離れていれば、異常領域に対応する受光素子の数は、硬貨Ｃにより遮光される受光素子の数の中に含まれないことになる。このため、ゴミなどの異物Ｄ又はビット抜けＥが無いと判断される出力値まで上昇させる補正を行うことで、ラインセンサ６２の現在出力値は、硬貨Ｃを検知しない状態では、正常出力値となり、硬貨Ｃの最大外径部分を検出する位置では、実際に硬貨Ｃで遮光された受光素子のみでラインセンサ６２の受光レベルを下げることになる。

なお、前述した識別制御装置４５のラインセンサ６２による透過画像と反射画像との取得比率は、前述した場合に限定されず、１対５等、１対４よりも、透過画像に対して反射画像がより多くなるようにしても良い。また、画像領域の特徴ある部分のみ比率を変更してもよい。例えば、模様が描かれている可能性のある硬貨Ｃの中央部の領域について、ラインセンサ６２による反射画像の取得数を透過画像の取得数よりも多くしてもよい。

実施の形態では、硬貨Ｃを処理する硬貨処理機１に本願発明を適用した場合を例示して説明したが、貨幣としての紙幣を処理する紙幣処理機に本願発明を適用してもよい。その場合、硬貨識別装置は、紙幣識別装置となり、ラインセンサは、搬送される紙幣の画像情報を取得することになる。

以上の通り、実施の形態では、
（１）硬貨識別装置２６（貨幣識別装置）は、搬送される硬貨Ｃ（貨幣）の画像情報を取得するラインセンサ６２と、ラインセンサ６２の検知範囲に異物Ｄが存在しない状態又はビット抜けＥがない状態で取得した当該ラインセンサ６２の第１出力値と、ラインセンサ６２の現在の出力値である第２出力値との比較結果に基づいて、ラインセンサ６２における異物Ｄの有無又はビット抜けＥの有無を判定する識別制御装置４５（制御装置）と、を有する。

識別制御装置４５は、ラインセンサ６２における異物Ｄの有無又はビット抜けＥの有無を判定することができるため、硬貨Ｃの識別処理精度の低下を抑制することが可能となる。

すなわち、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の撮像面にゴミなどの異物Ｄが存在する場合、当該異物Ｄが存在する部分でラインセンサ６２の受光レベル（出力値）が低下し、これにより異物Ｄの存在を検知することができる。なお、ラインセンサ６２では、撮像面のビットが部分的に欠けている（ビット抜けＥとも言う）場合も、異物Ｄの存在と同様に受光レベルの低下が生じる。その結果、ラインセンサ６２の受光レベル（出力値）が低下したという単純な比較だけでは、異物の存在なのかビット抜けＥなのかを判別することができない。

このように構成すると、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２に異常がない初期の第１出力値と現在の第２出力値とを比較するので、ラインセンサ６２の出力値が低い原因がビット抜けＥによるものか、異物Ｄの存在によるものなのかを正確に判別することができる。

（２）ラインセンサ６２が設けられるユニット本体２７を有し、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２の第１出力値を、ユニット本体２７に記憶する。

このように構成すると、識別制御装置４５は、ラインセンサ６２に異物Ｄの付着がなく、ラインセンサ６２自体にも異常がない場合に出力される第１出力値をユニット本体２７に記憶するので、ユニット本体２７を交換する場合、第１出力値を工場出荷時にユニット本体２７に記憶しておくことで、工場出荷後の現場での第１出力値の設定作業が必要なくなる。また、識別制御装置４５を交換する場合には、ユニット本体２７に記憶された第１出力値をそのまま使用できるので、第１出力値の設定作業を減らすことができる。

（３）識別制御装置４５は、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判定した場合、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判断した領域を、ラインセンサ６２による硬貨Ｃの識別判断に用いられるデータから除外、又は、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判断した領域以外の領域におけるラインセンサ６２の出力値に補正する。

このように構成すると、識別制御装置４５は、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判定した場合、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判断した領域を、ラインセンサ６２による硬貨Ｃの識別判断に用いられるデータから除外、又は、異物Ｄが存在する又はビット抜けＥがあると判断した領域以外の領域におけるラインセンサ６２の出力値に補正するので、異物Ｄの存在やビット抜けＥがある場合でも貨幣処理を継続して行うことができる。

２６：硬貨識別装置（貨幣識別装置）
２７：ユニット本体
４５：識別制御装置（制御装置）
６２：ラインセンサ
Ｃ：硬貨（貨幣）
Ｄ：異物
Ｅ：ビット抜け

Claims (2)

1. 搬送される貨幣の画像情報を取得するラインセンサと、
   前記ラインセンサの検知範囲に異物が存在しない状態又はビット抜けがない状態で取得した当該ラインセンサの第１出力値と、前記ラインセンサの現在の出力値である第２出力値との比較結果に基づいて、前記ラインセンサにおける異物の有無又はビット抜けの有無を判定する制御装置と、
   前記ラインセンサが設けられるユニット本体と、
   を有し、
   前記制御装置は、前記ラインセンサの前記第１出力値を、前記ユニット本体に記憶する貨幣識別装置。
2. 前記制御装置は、異物が存在する又はビット抜けがあると判定した場合、前記異物が存在する又はビット抜けがあると判断した領域を、前記ラインセンサによる硬貨の識別判断に用いられるデータから除外、又は、異物が存在する又はビット抜けがあると判断した領域以外の領域における前記ラインセンサの出力値に補正する請求項１に記載の貨幣識別装置。

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