JP7472577B2 - 電流制御装置、スイッチ制御装置、電流制御方法及びコンピュータプログラム - Google Patents

電流制御装置、スイッチ制御装置、電流制御方法及びコンピュータプログラム Download PDF

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Description

本開示は、電流制御装置、スイッチ制御装置、電流制御方法及びコンピュータプログラムに関する。
車両には、バッテリから負荷への電力供給を制御するスイッチ制御装置(例えば、特許文献1を参照)が搭載されている。特許文献1に記載のスイッチ制御装置では、バッテリから負荷に流れる電流の電流経路に半導体スイッチが配置されている。半導体スイッチをオン又はオフに切替えることによって負荷への電力供給を制御する。半導体スイッチの上流側に抵抗の一端が接続されている。特許文献1に記載のスイッチ制御装置は定電流回路を備え、定電流回路はバッテリから抵抗を介して定電流を引き込んでいる。
半導体スイッチがオンである場合において、半導体スイッチの下流側の一端の電圧を抵抗の他端の電圧と比較する。これにより、半導体スイッチを介して流れる電流が電流閾値以上であるか否かを判定することができる。電流閾値は、(抵抗の抵抗値)・(定電流)/(半導体スイッチのオン抵抗値)で表される。「・」は積を表す。オン抵抗値は、半導体スイッチがオンである場合における半導体スイッチの抵抗値である。
電流閾値は一定であることが好ましい。しかしながら、半導体スイッチのオン抵抗値は、半導体スイッチの温度に応じて変化する。このため、特許文献1に記載のスイッチ制御装置では、半導体スイッチの温度と同様に変動する半導体スイッチの周囲温度に応じて、定電流を変動させる。結果、半導体スイッチの温度に応じた電流閾値の変動幅が小さい構成が実現される。
特開2017-229138号公報
特許文献1に記載されているように、半導体スイッチの下流側の一端の電圧を抵抗の他端の電圧と比較するスイッチ制御装置では、例えばCPU(Central Processing Unit)を有する処理部が半導体スイッチの周囲温度に応じた定電流の値を設定してもよい。この場合、定電流回路が引き込む定電流は、処理部が設定した設定値に基づいて調整される。
ここで、調整後の定電流が設定値と異なる場合、電流閾値が予め設定されている目標値に調整されないので、適切なタイミングで半導体スイッチがオンからオフに切替わらない可能性がある。
本開示は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、定電流回路が引き込む定電流を処理部が設定した値に一致させることができる電流制御装置、スイッチ制御装置、電流制御方法及びコンピュータプログラムを提供することにある。
本開示の一態様に係る電流制御装置は、電圧が印加されており、印加されている電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路と、処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記定電流回路が引き込む定電流の値を設定し、前記定電流回路に印加されている電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整し、前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得し、取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加されている電圧を調整するか否かを判定する。
本開示の一態様に係るスイッチ制御装置は、前述した電流制御装置と、電流が流れる半導体スイッチと、前記半導体スイッチの上流側の一端に接続される第2の抵抗と、前記半導体スイッチの下流側の一端のスイッチ電圧が、前記第2の抵抗の下流側の一端の抵抗電圧未満である場合に前記半導体スイッチをオフに切替える切替え部とを備え、前記定電流回路は、前記第2の抵抗を介して前記定電流を引き込む。
本開示の一態様に係る電流制御方法では、電圧が印加され、印加された電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路の前記定電流の値を設定するステップと、前記定電流回路に印加する電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整するステップと、前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得するステップと、取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加する電圧を調整するか否かを判定するステップとをコンピュータが実行する。
本開示の一態様に係るコンピュータプログラムは、電圧が印加され、印加された電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路の前記定電流の値を設定するステップと、前記定電流回路に印加する電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整するステップと、前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得するステップと、取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加する電圧を調整するか否かを判定するステップとをコンピュータに実行させる。
なお、本開示を、このような特徴的な処理部を備える電流制御装置として実現することができるだけでなく、かかる特徴的な処理をステップとする電流制御方法として実現したり、かかるステップをコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラムとして実現したりすることができる。また、本開示を、電流制御装置の一部又は全部を実現する半導体集積回路として実現したり、電流制御装置を含む電流制御システムとして実現したりすることができる。
上記の態様によれば、定電流回路が引き込む定電流を処理部が設定した定電流の値に一致させることができる。
実施形態1における電源システムの要部構成を示すブロック図である。 半導体スイッチの動作を説明するためのタイミングチャートである。 オン抵抗値及び半導体スイッチの周囲温度の関係を示すグラフである。 定電流回路及び電流調整器の要部構成を示す回路図である。 マイコンの要部構成を示すブロック図である。 オン抵抗値の変化率と半導体スイッチの周囲温度との関係を示すグラフである。 デューティ及びスイッチ電流の設定値の関係を示すグラフである。 電流調整処理の手順を示すフローチャートである。 電流調整処理の効果の説明図である。 微調整処理の手順を示すフローチャートである。 実施形態2における電流制御装置の要部構成を示すブロック図である。 マイコンの要部構成を示すブロック図である。
[本開示の実施形態の説明]
最初に本開示の実施態様を列挙して説明する。以下に記載する実施形態の少なくとも一部を任意に組み合わせてもよい。
(1)本開示の一態様に係る電流制御装置は、電圧が印加されており、印加されている電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路と、処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記定電流回路が引き込む定電流の値を設定し、前記定電流回路に印加されている電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整し、前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得し、取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加されている電圧を調整するか否かを判定する。
(2)本開示の一態様に係る電流制御装置では、前記定電流回路は、前記定電流の電流経路にて、コレクタがエミッタの上流側に配置されるNPN型のバイポーラトランジスタと、前記電流経路において、前記バイポーラトランジスタの下流側に配置される抵抗とを有し、前記処理部は、前記定電流回路が有する前記バイポーラトランジスタのベースの電圧を、設定した設定値に応じた電圧に調整する。
(3)本開示の一態様に係る電流制御装置では、前記電流情報は前記抵抗の両端間の電圧である。
(4)本開示の一態様に係る電流制御装置は、PWM信号を出力する信号出力部と、前記信号出力部が出力したPWM信号の電圧を平滑する平滑回路とを備え、前記平滑回路が平滑した電圧が前記バイポーラトランジスタのベースに印加され、前記処理部は、前記PWM信号のデューティを、設定した設定値に応じたデューティに調整する。
(5)本開示の一態様に係るスイッチ制御装置は、前述した電流制御装置と、電流が流れる半導体スイッチと、前記半導体スイッチの上流側の一端に接続される第2の抵抗と、前記半導体スイッチの下流側の一端のスイッチ電圧が、前記第2の抵抗の下流側の一端の抵抗電圧未満である場合に前記半導体スイッチをオフに切替える切替え部とを備え、前記定電流回路は、前記第2の抵抗を介して前記定電流を引き込む。
(6)本開示の一態様に係るスイッチ制御装置は、前記半導体スイッチの周囲温度を検出する温度検出部を備え、前記処理部は、前記温度検出部が検出した周囲温度に応じて、前記定電流回路が引き込む定電流の値を設定する。
(7)本開示の一態様に係る電流制御方法では、電圧が印加され、印加された電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路の前記定電流の値を設定するステップと、前記定電流回路に印加する電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整するステップと、前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得するステップと、取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加する電圧を調整するか否かを判定するステップとをコンピュータが実行する。
(8)本開示の一態様に係るコンピュータプログラムは、電圧が印加され、印加された電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路の前記定電流の値を設定するステップと、前記定電流回路に印加する電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整するステップと、前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得するステップと、取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加する電圧を調整するか否かを判定するステップとをコンピュータに実行させる。
上記の態様に係る電流制御装置、電流制御方法及びコンピュータプログラムにあっては、例えば、定電流回路が引き込む定電流値と異なる場合、定電流回路に印加する電圧を調整することによって、定電流の微調整を行う。このため、定電流回路が引き込む定電流を、処理部が設定した定電流の値に一致させることができる。「一致」の意味は厳密な意味に限定されない。定電流回路が引き込む電流と設定した定電流の値との差分値が一定値未満である場合に両者が一致しているとみなしてもよい。一定値は、例えば、誤差とみなすことができる値である。
上記の態様に係る電流制御装置にあっては、バイポーラトランジスタのコレクタ及びエミッタ間の抵抗値は、コレクタ及びエミッタを介して流れる電流が、バイポーラトランジスタのベースの電圧によって決まる電流となるように調整され、定電流が流れる。ベースの電圧が高い程、定電流は大きい。
上記の態様に係る電流制御装置にあっては、抵抗の両端間の電圧は、定電流回路が引き込む定電流に比例し、抵抗の両端間の電圧から定電流を算出する。
上記の態様に係る電流制御装置にあっては、PWM信号のデューティを調整することによって、バイポーラトランジスタのベースの電圧を調整する。ベースの電圧はデューティが大きい程、高い。
上記の態様に係るスイッチ制御装置にあっては、スイッチ電圧が抵抗電圧未満であることは、半導体スイッチを介して流れる電流が、(第2の抵抗の抵抗値)・(定電流)/(半導体スイッチのオン抵抗値)によって表される電流閾値を超えていることに相当する。「・」は積を意味する。半導体スイッチを介して流れる電流が電流閾値を超えた場合、半導体スイッチをオフに切替える。これにより、電流閾値を大きく超える過電流が半導体スイッチを介して流れることが防止される。
上記の態様に係るスイッチ制御装置にあっては、半導体スイッチのオン抵抗値は、半導体スイッチの温度、即ち、半導体スイッチの周囲温度に応じて変動する。定電流の設定値は半導体スイッチの周囲温度に応じて設定されるので、(第2の抵抗の抵抗値)・(定電流)/(半導体スイッチのオン抵抗値)によって表される電流閾値を、半導体スイッチの周囲温度に依存しない一定値に維持することができる。
[本開示の実施形態の詳細]
本開示の実施形態に係る電源システムの具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
(実施形態1)
<電源システムの構成>
図1は、実施形態1における電源システム1の要部構成を示すブロック図である。電源システム1は、好適に車両に搭載されており、スイッチ制御装置10、バッテリ11及び負荷12を備える。スイッチ制御装置10は半導体スイッチ20を有する。半導体スイッチ20はNチャネル型のMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)である。半導体スイッチ20のドレインはバッテリ11の正極に接続されている。半導体スイッチ20のソースは負荷12の一端に接続されている。バッテリ11の負極と、負荷12の他端とは接地されている。
半導体スイッチ20がオンである場合、バッテリ11の正極から、電流が半導体スイッチ20のドレイン及びソースを介して負荷12に流れ、バッテリ11は半導体スイッチ20を介して負荷12に電力を供給する。半導体スイッチ20がオフである場合、半導体スイッチ20のドレイン及びソースを介して電流が流れず、負荷12に電力が供給されることはない。負荷12は、車両に搭載されている電気機器である。負荷12に電力が供給されている間、負荷12は作動する。負荷12への電力供給が停止した場合、負荷12は動作を停止する。スイッチ制御装置10では、半導体スイッチ20をオン又はオフに切替えることによってバッテリ11から負荷12への電力供給を制御する。
半導体スイッチ20がオンである場合、電流は半導体スイッチ20のドレイン及びソースの順に流れる。従って、半導体スイッチ20のドレインは、半導体スイッチ20の上流側の一端である。半導体スイッチ20のソースは、半導体スイッチ20の下流側の一端である。
<スイッチ制御装置10の構成>
スイッチ制御装置10は、半導体スイッチ20に加えて、装置抵抗21、温度検出部22、駆動回路23、制御器24、コンパレータ25及び電流制御装置26を有する。コンパレータ25は、プラス端、マイナス端及び出力端を有する。電流制御装置26は定電流回路30及び電流調整器31を有する。
半導体スイッチ20のドレインは、装置抵抗21の一端に接続されている。装置抵抗21は第2の抵抗として機能する。装置抵抗21の他端は定電流回路30に接続されている。定電流回路30は接地されている。電流制御装置26内では、定電流回路30は電流調整器31に接続されている。電流調整器31は、更に、温度検出部22に接続されている。半導体スイッチ20のゲートは駆動回路23に接続されている。駆動回路23は、更に、制御器24とコンパレータ25の出力端とに各別に接続されている。コンパレータ25のプラス端は半導体スイッチ20のソースに接続されている。コンパレータ25のマイナス端は、装置抵抗21の他端に接続されている。
半導体スイッチ20において、基準電位がソースの電位であるゲートの電圧が一定電圧値以上である場合、半導体スイッチ20はオンである。半導体スイッチ20において、基準電位がソースの電位であるゲートの電圧が一定電圧未満である場合、半導体スイッチ20はオフである。
制御器24及びコンパレータ25それぞれは、ハイレベル電圧又はローレベル電圧を駆動回路23に出力する。駆動回路23は、制御器24及びコンパレータ25の出力電圧に応じて、半導体スイッチ20をオン又はオフに切替える。駆動回路23は、半導体スイッチ20をオンに切替える場合、基準電位が接地電位であるゲートの電圧を上昇させる。これにより、基準電位がソースの電位であるゲートの電圧が上昇し、一定電圧以上となる。結果、半導体スイッチ20がオンに切替わる。駆動回路23は、半導体スイッチ20をオフに切替える場合、基準電位が接地電位である半導体スイッチ20のゲートの電圧を低下させる。これにより、基準電位がソースの電位であるゲートの電圧が低下し、一定電圧未満となる。結果、半導体スイッチ20がオフに切替わる。
以下では、半導体スイッチ20のソースの電圧をスイッチ電圧と記載する。装置抵抗21の定電流回路30側の一端の電圧を抵抗電圧と記載する。スイッチ電圧及び抵抗電圧は、基準電位が接地電位である電圧である。コンパレータ25は、スイッチ電圧が抵抗電圧以上である場合、ハイレベル電圧を駆動回路23に出力する。コンパレータ25は、スイッチ電圧が抵抗電圧未満である場合、ローレベル電圧を駆動回路23に出力する。
電流制御装置26の定電流回路30は、バッテリ11の正極から装置抵抗21を介して定電流を引き込む。定電流回路30に引き込まれた定電流はバッテリ11の負極に戻る。電流調整器31は定電流回路30に電圧を印加している。定電流回路30は、電流調整器31が印加した電圧に応じた定電流を引き込む。定電流回路30から電流調整器31に、定電流回路30が引き込む定電流を示す電流情報が出力される。
温度検出部22は、半導体スイッチ20の周囲温度を検出し、検出した周囲温度を示す温度情報を電流調整器31に出力する。電流調整器31は、温度検出部22及び定電流回路30から入力された温度情報及び電流情報に基づいて、定電流回路30に印加されている電圧、即ち、定電流回路30が引き込む定電流を調整する。
バッテリ11の出力電圧をVdと記載する。半導体スイッチ20を介して流れるスイッチ電流をIsと記載する。定電流回路30が引き込む定電流をIcと記載する。Is及びIcは数値である。半導体スイッチ20のオン抵抗値をRonと記載する。オン抵抗値は、半導体スイッチ20がオンである場合における半導体スイッチ20のドレイン及びソース間の抵抗値である。装置抵抗21の抵抗値をRcと記載する。この場合、スイッチ電圧は(Vd-Ron・Is)で表される。抵抗電圧は(Vd-Rc・Ic)で表される。Vd、Is、Ic、Ron及びRcは正値である。
半導体スイッチ20はオンであると仮定する。前述したように、スイッチ電圧が抵抗電圧以上である場合、即ち、下記式が満たされる場合、コンパレータ25はハイレベル電圧を出力する。
Vd-Ron・Is≧Vd-Rc・Ic
この不等式を展開した場合、下記式が得られる。
Is≦Rc・Ic/Ron
Rc・Ic/Ronで表される電流閾値をIthと記載する。展開した不等式が示すように、スイッチ電圧が抵抗電圧以上であることは、スイッチ電流Isが電流閾値Ith以下であることを意味する。装置抵抗21の抵抗値Rc、定電流Ic及びオン抵抗値Ronは正値であるため、電流閾値Ithも正値である。
前述したように、スイッチ電圧が抵抗電圧未満である場合、即ち、下記式が満たされる場合、コンパレータ25はローレベル電圧を出力する。
Vd-Ron・Is<Vd-Rc・Ic
この不等式を展開した場合、下記式が得られる。
Is>Rc・Ic/Ron(=Ith)
スイッチ電圧が抵抗電圧未満であることは、スイッチ電流Isが電流閾値Ithを超えていることを意味する。
従って、コンパレータ25は、スイッチ電流Isが電流閾値Ith以下である場合、ハイレベル電圧を駆動回路23に出力する。コンパレータ25は、スイッチ電流Isが電流閾値Ithを超えている場合、ローレベル電圧を駆動回路23に出力する。
半導体スイッチ20がオフである場合、スイッチ電圧はゼロVである。抵抗電圧は、Vd-Rc・Icで表される。この値は正値である。従って、半導体スイッチ20がオフである場合、スイッチ電圧は抵抗電圧未満であるので、コンパレータ25はローレベル電圧を出力する。
<半導体スイッチ20の動作>
図2は、半導体スイッチ20の動作を説明するためのタイミングチャートである。図2は、半導体スイッチ20の状態の推移と、コンパレータ25及び制御器24の出力電圧の推移と、スイッチ電流の推移とが示されている。これらの推移の横軸には時間が示されている。図2では、ハイレベル電圧及びローレベル電圧それぞれは、「H」及び「L」によって示されている。
制御器24がローレベル電圧を駆動回路23に出力している場合、駆動回路23は、半導体スイッチ20をオフに維持する。半導体スイッチ20がオフである場合、スイッチ電流はゼロAであり、コンパレータ25はローレベル電圧を駆動回路23に出力する。
制御器24が出力電圧をローレベル電圧からハイレベル電圧に切替えた場合、駆動回路23は半導体スイッチ20をオフからオンに切替える。これにより、バッテリ11の正極から半導体スイッチ20を介して負荷12に電流が流れる。電源システム1が正常である場合においては、半導体スイッチ20がオンであるとき、スイッチ電流は電流閾値Ith以下である。このため、コンパレータ25は、出力電圧をローレベル電圧からハイレベル電圧に切替える。
制御器24が出力電圧をハイレベル電圧からローレベル電圧に切替えた場合、駆動回路23は半導体スイッチ20をオンからオフに切替える。これにより、半導体スイッチ20を介して電流の通流が停止する。結果、スイッチ電流がゼロAに低下し、コンパレータ25の出力電圧はハイレベル電圧からローレベル電圧に切替わる。
以上のように、電源システム1が正常である場合、駆動回路23は、制御器24の出力電圧に応じて、半導体スイッチ20をオン又はオフに切替える。制御器24は、負荷12を作動させる場合、ハイレベル電圧を駆動回路23に出力する。制御器24は、負荷12の動作を停止させる場合、ローレベル電圧を駆動回路23に出力する。
前述したように、制御器24がハイレベル電圧を出力している場合、半導体スイッチ20はオンであり、半導体スイッチ20を介してスイッチ電流が流れる。電源システム1が正常である場合、スイッチ電流は電流閾値Ith未満であり、コンパレータ25はハイレベル電圧を出力している。
半導体スイッチ20がオンである状態で電源システム1において異常が発生し、スイッチ電流が上昇したと仮定する。スイッチ電流が電流閾値Ithを超えた場合、コンパレータ25は、出力電圧をハイレベル電圧からローレベル電圧に切替える。制御器24の出力電圧がハイレベル電圧である状態でコンパレータ25の出力電圧がハイレベル電圧からローレベル電圧に切替わった場合、駆動回路23は半導体スイッチ20をオフに切替える。これにより、スイッチ電流はゼロAに低下する。結果、電流閾値Ithを大きく超える過電流が半導体スイッチ20を介して流れることが防止される。駆動回路23は切替え部として機能する。図2の例では、半導体スイッチ20がオフに切替わった後、半導体スイッチ20はオフに維持されている。前述したように、半導体スイッチ20がオフである場合、コンパレータ25の出力電圧はローレベル電圧である。
<半導体スイッチ20のオン抵抗値の温度依存性>
図3はオン抵抗値Ron及び半導体スイッチ20の周囲温度の関係を示すグラフである。半導体スイッチ20のオン抵抗値Ronは半導体スイッチ20の温度に応じて変動する。半導体スイッチ20の周囲温度は、半導体スイッチ20の温度と同様に変動する。従って、半導体スイッチ20のオン抵抗値Ronは半導体スイッチ20の周囲温度に応じて変動する。図3に示すように、オン抵抗値Ronは、半導体スイッチ20の周囲温度が上昇した場合、上昇する。
従って、装置抵抗21の抵抗値Rc及び定電流Icが固定されている場合において、半導体スイッチ20の周囲温度が高いとき、オン抵抗値Ronが大きいので、電流閾値Ithは小さい。従って、半導体スイッチ20の周囲温度が高い場合、スイッチ電流は正常な電流であるにも関わらず、駆動回路23が半導体スイッチ20を誤ってオフに切替える可能性がある。
このため、スイッチ制御装置10では、電流調整器31は、定電流回路30が引き込む定電流Icを、温度検出部が検出した半導体スイッチ20の周囲温度に応じて、オン抵抗値Ronと同様に変化させる。具体的には、半導体スイッチ20の周囲温度の変化によって、オン抵抗値Ronが1.2倍の値に上昇した場合、電流調整器31は定電流Icを1.2倍の値に調整する。これにより、電流閾値Ithを、半導体スイッチ20の周囲温度に依存しない一定の目標値に維持することができる。
装置抵抗21の抵抗値Rcは、半導体スイッチ20の周囲温度に無関係に一定である。
電流調整器31は、温度検出部22から入力された温度情報が示す半導体スイッチ20の周囲温度に応じて、定電流Icの値を設定し、定電流回路30に印加されている電圧を、設定した定電流の値(以下、設定値という)に対応する電圧に調整する。これにより、定電流回路30は定電流を調整する。電流調整器31は、定電流回路30から入力された電流情報が示す定電流が設定値と異なる場合、定電流回路30に印加している電圧を調整することによって、定電流の微調整を行う。
<定電流回路30の構成>
図4は、定電流回路30及び電流調整器31の要部構成を示す回路図である。定電流回路30はトランジスタ40及び回路抵抗41を有する。トランジスタ40は、NPN型のバイポーラトランジスタである。トランジスタ40のコレクタは装置抵抗21の他端に接続されている。トランジスタ40のエミッタは、電流調整器31と回路抵抗41の一端とに接続されている。回路抵抗41の他端は接地されている。トランジスタ40のベースは電流調整器31に接続されている。
定電流は、装置抵抗21、トランジスタ40のコレクタ、トランジスタ40のエミッタ及び回路抵抗41の順に流れる。従って、定電流の電流経路において、トランジスタ40のコレクタは、トランジスタ40のエミッタの上流側に配置されている。定電流の電流経路において、回路抵抗41はトランジスタ40の下流側に配置されている。
電流調整器31は、基準電位が接地電位である電圧をトランジスタ40のベースに印加している。以下では、基準電位が接地電位であるトランジスタ40のベースの電圧をVbと記載する。基準電位が接地電位であるトランジスタ40のエミッタの電圧をVeと記載する。トランジスタ40のベース及びエミッタ間の電圧をVbeと記載する。電圧Vbeは実質的に一定である。トランジスタ40がシリコンで形成されている場合、電圧Vbeは、約0.6Vである。
トランジスタ40のコレクタ及びエミッタ間の抵抗値は、エミッタの電圧Veが(Vb-Vbe)に一致するように調整される。具体的には、ベースの電圧Vbが上昇した場合、トランジスタ40のコレクタ及びエミッタ間の抵抗値は低下する。これにより、装置抵抗21、トランジスタ40及び回路抵抗41の合成抵抗値が低下し、バッテリ11の正極から回路抵抗41を流れる電流が上昇する。これにより、エミッタの電圧Veが(Vb-Vbe)まで上昇する。
ベースの電圧Vbが低下した場合、トランジスタ40のコレクタ及びエミッタ間の抵抗値は上昇する。これにより、装置抵抗21、トランジスタ40及び回路抵抗41の合成抵抗値が上昇し、バッテリ11の正極から回路抵抗41を流れる電流が上昇する。これにより、エミッタの電圧Veが(Vb-Vbe)まで低下する。
回路抵抗41の抵抗値をRkと記載した場合、回路抵抗41を流れる電流は、(Vb-Vbe)/Rkに調整され、トランジスタ40のコレクタ及びエミッタを介して定電流が流れる。
バッテリ11の出力電圧が変動した場合であっても、定電流は(Vb-Vbe)/Rkに調整される。バッテリ11の出力電圧が低下した場合、トランジスタ40のコレクタ及びエミッタ間の抵抗値は低下し、定電流が(Vb-Vbe)/Rkに維持される。バッテリ11の出力電圧が上昇した場合、トランジスタ40のコレクタ及びエミッタ間の抵抗値が上昇し、定電流が(Vb-Vbe)/Rkに維持される。
トランジスタ40において、(コレクタに流れ込む電流)/(ベースに流れ込む電流)で表される電流増幅率をhfeと記載する。コレクタに流れ込む電流は定電流Icであるので、電流調整器31からトランジスタ40のベースに流れる電流はIc/hfeで表される。従って、トランジスタ40のエミッタから回路抵抗41に向けて出力される電流は、(1+hfe)・Ic/hfeで表される。
この電流は、(Vb-Vbe)/Rkに一致するので、定電流Icは下記式で表される。
Ic=hfe・(Vb-Vbe)/((1+hfe)・Rk)
電流増幅率hfe、電圧Vbe及び抵抗値Rkは実質的に一定である。このため、ベースの電圧Vbを調整することによって定電流Icを調整することができる。電流調整器31はベースの電圧Vbを調整する。ベースの電圧Vbが高い程、定電流Icは大きい。
エミッタの電圧Veは下記式で表される。
Ve=Rk・(1+hfe)・Ic/hfe
エミッタの電圧Veは定電流Icに比例する。抵抗値Rk及び電流増幅率hfeは定数であるので、エミッタの電圧Veに基づいて、定電流Icを算出することができる。定電流Icを示す電流情報として、エミッタの電圧Ve、即ち、回路抵抗41の両端間の電圧が電流調整器31に出力される。
<電流調整器31の構成>
図4に示すように、電流調整器31は、マイクロコンピュータ(以下、マイコンという)50及び平滑回路51を有する。平滑回路51は、第1抵抗60、第2抵抗61及びキャパシタ62を有する。マイコン50は、温度検出部22及びトランジスタ40のエミッタに接続されている。マイコン50は、更に、平滑回路51の第1抵抗60及び第2抵抗61の一端に接続されている。第1抵抗60の他端は、トランジスタ40のベースと、キャパシタ62の一端に接続されている。第1抵抗60及びキャパシタ62それぞれの他端は接地されている。
マイコン50は、平滑回路51に向けて、ハイレベル電圧及びローレベル電圧によって構成されるPWM(Pulse Width Modulation)信号を出力する。PWM信号の電圧は、基準電位が接地電位である電圧である。PWM信号のハイレベル電圧は、正の一定電圧であり、例えば、5Vである。PWM信号のローレベル電圧は、ハイレベル電圧よりも低い電圧であり、例えば、ゼロVである。
PWM信号では、ローレベル電圧からハイレベル電圧への切替え、又は、ハイレベル電圧からローレベル電圧の切替えが周期的に行われる。マイコン50は、PWM信号に関して、1周期において、電圧がハイレベル電圧である期間が占める割合、即ち、デューティを調整する。デューティは、ゼロ以上であり、かつ、1以下である値である。デューティが大きい程、1周期において電圧がハイレベル電圧である期間が長い。
PWM信号の電圧がハイレベル電圧である場合、マイコン50から電流が第1抵抗60及びキャパシタ62の順に流れ、キャパシタ62が充電される。第1抵抗60の抵抗値をR1と記載する。キャパシタ62のキャパシタンスをCと記載する。キャパシタ62の充電速度は、R1・Cで表される第1時定数が大きい程、遅い。PWM信号の電圧がローレベル電圧である場合、キャパシタ62から電流が第1抵抗60及び第2抵抗61の順に流れ、キャパシタ62は放電する。第2抵抗61の抵抗値をR2と記載する。キャパシタ62の放電速度は、(R1+R2)・Cで表される第2時定数が大きい程、遅い。
以上のように、キャパシタ62は充放電を行うことによって、PWM信号の電圧を平滑する。第1時定数及び第2時定数は十分に大きい。このため、キャパシタ62の両端間の電圧は、1周期のPWM信号の電圧の平均値に実質的に一致する。キャパシタ62が平滑した電圧、即ち、キャパシタ62の両端間の電圧がトランジスタ40のベースに印加される。トランジスタ40のベースの電圧Vbは、PWM信号のデューティに応じて変化する。PWM信号のデューティが大きい程、トランジスタ40のベースの電圧Vbは高い。
マイコン50は、PWM信号のデューティを調整することによってベースの電圧Vbを調整する。温度検出部22からマイコン50に温度情報が出力される。定電流回路30からマイコン50に電流情報が出力される。マイコン50は、温度情報及び電流情報に基づいて、PWM信号のデューティ、即ち、ベースの電圧Vbを調整する。
なお、第1抵抗60を介して、又は、キャパシタ62からトランジスタ40のベースに電流が流れ込む。
<マイコン50の構成>
図5はマイコン50の要部構成を示すブロック図である。マイコン50は、A/D変換部70,71、信号出力部72、記憶部73及び制御部74を有する。これらは内部バス75に接続されている。A/D変換部70は、更に、温度検出部22接続されている。A/D変換部71は、更に、定電流回路30の回路抵抗41の一端に接続されている。信号出力部72は、更に、平滑回路51のキャパシタ62の一端に接続されている。
温度検出部22からアナログの温度情報がA/D変換部70に出力される。アナログの温度情報は、例えば、半導体スイッチ20の周囲温度に応じて変動する電圧である。A/D変換部70は、入力されたアナログの温度情報をデジタルの温度情報に変換する。制御部74は、A/D変換部70からデジタルの温度情報を取得する。制御部74が取得した温度情報が示す半導体スイッチ20の周囲温度は、取得時点における半導体スイッチ20の周囲温度と実質的に一致する。
信号出力部72は、平滑回路51に向けてPWM信号を出力している。PWM信号のデューティは制御部74によって調整される。平滑回路51は、信号出力部72が出力したPWM信号の電圧を平滑する。
定電流回路30からアナログの電流情報がA/D変換部71に出力される。アナログの電流情報は、前述したように、トランジスタ40のエミッタの電圧である。A/D変換部71は、入力されたアナログの電流情報をデジタルの電流情報に変換する。制御部74は、A/D変換部71からデジタルの電流情報を取得する。制御部74が取得した電流情報が示す定電流は、取得時点における定電流と実質的に一致する。
記憶部73は不揮発性メモリである。記憶部73には、コンピュータプログラムPが記憶されている。制御部74は、処理を実行する処理素子、例えば、CPU(Central Processing Unit)を有し、処理部として機能する。制御部74の処理素子は、コンピュータプログラムPを実行することによって、電流調整処理及び微調整処理を実行する。電流調整処理は、定電流を設定値に調整する処理である。微調整処理は、定電流の微調整を行う処理である。
なお、コンピュータプログラムPは、制御部74の処理素子が読み取り可能に記憶媒体Aに記憶されていてもよい。この場合、図示しない読み出し装置によって記憶媒体Aから読み出されたコンピュータプログラムPが記憶部73に書き込まれる。記憶媒体Aは、光ディスク、フレキシブルディスク、磁気ディスク、磁気光ディスク又は半導体メモリ等である。光ディスクは、CD(Compact Disc)-ROM(Read Only Memory)、DVD(Digital Versatile Disc)-ROM、又は、BD(Blu-ray(登録商標) Disc)等である。磁気ディスクは、例えばハードディスクである。また、図示しない通信網に接続されている図示しない装置からコンピュータプログラムPをダウンロードし、ダウンロードしたコンピュータプログラムPを記憶部73に書き込んでもよい。
制御部74が有する処理素子の数は、1に限定されず、2以上であってもよい。この場合、複数の処理素子がコンピュータプログラムPに従って、電流調整処理及び微調整処理等を協同で実行してもよい。
記憶部73には、コンピュータプログラムPの他に、半導体スイッチ20のオン抵抗値に関する基準値を示す基準値データが記憶されている。基準値は、半導体スイッチ20の周囲温度が所定温度、例えば、27度である場合における半導体スイッチ20のオン抵抗値である。半導体スイッチ20として用いられるスイッチの基準値、即ち、所定温度におけるスイッチのオン抵抗値に関して、製造誤差が存在する。このため、スイッチ制御装置10の製造者は、スイッチ制御装置10の半導体スイッチ20として用いるスイッチについて、事前に、所定温度におけるスイッチのオン抵抗値を測定し、測定したオン抵抗値を示すデータを基準値データとして記憶部73に記憶する。
記憶部73には、更に、定電流の設定値を示す設定値データが記憶されている。設定値データが示す設定値は、制御部74によって更新される。記憶部73には、更に、オン抵抗値の変化率と半導体スイッチ20の周囲温度との関係を示すグラフと、PWM信号のデューティ及び定電流の設定値の関係を示すグラフとが記憶されている。
図6は、オン抵抗値の変化率と半導体スイッチの周囲温度との関係を示すグラフである。オン抵抗値の変化率は、基準値データが示す基準値との比率である。オン抵抗値が基準値のX倍である場合、オン抵抗値の変化率はXである。Xは正の実数である。図6に示すように、オン抵抗値の変化率は半導体スイッチ20の周囲温度が高い程、高い。
図7は、デューティ及び定電流の設定値の関係を示すグラフである。定電流の設定値がゼロを超える範囲においては、PWM信号のデューティの設定値は、定電流の設定値に比例する。定電流の設定値が大きい程、PWM信号のデューティは大きい。トランジスタ40において、基準電位が接地電位であるベースの電圧が一定値以上とならない限り、電流がトランジスタ40のコレクタ及びエミッタを介して流れない。このため、定電流の設定値がゼロAである場合におけるデューティの設定値として複数の値が存在する。
オン抵抗値の変化率と半導体スイッチ20の周囲温度との関係を示すグラフと、デューティ及び定電流の設定値の関係を示すグラフとが記憶部73に予め記憶されている。
<電流調整処理>
図8は電流調整処理の手順を示すフローチャートである。制御部74は、電流調整処理を周期的に実行する。電流調整処理では、制御部74は、A/D変換部71から温度情報を取得する(ステップS1)。次に、制御部74は、半導体スイッチ20のオン抵抗値の変化率を、ステップS1で取得した温度情報が示す半導体スイッチ20の周囲温度に対応する変化率に設定する(ステップS2)。ステップS2では、制御部74は、例えば、変化率を、オン抵抗値の変化率と半導体スイッチの周囲温度との関係を示すグラフ(図6参照)においてステップS1で取得した温度情報が示す周囲温度に対応する変化率に設定する。
なお、変化率を設定する方法は、グラフを用いた方法に限定されず、例えば、オン抵抗値の変化率と半導体スイッチの周囲温度との関係を示す関係式を用いた方法であってもよい。この場合、制御部74は、関係式において、周囲温度の変数に、ステップS1で取得した温度情報が示す周囲温度を代入し、変化率を算出する。制御部74は、変化率を、算出した変化率に設定する。
次に、制御部74は、ステップS2で設定した変化率に、基準値データが示す基準値を乗算することによって、半導体スイッチ20のオン抵抗値を算出する(ステップS3)。次に、制御部74は、定電流回路30が引き込む定電流の設定値を、電流閾値が予め設定されている目標値となる定電流に設定する(ステップS4)。前述したように、電流閾値IthはRc・Ic/Rohで表される。Rc、Ic及びRonそれぞれは、装置抵抗21の抵抗値、定電流及びオン抵抗値である。電流閾値の目標値をIgをと記載した場合、電流閾値Ithが目標値Igとなる定電流IcはRon・Ig/Rcで表される。
ステップS4では、制御部74は、定電流の設定値をRon・Ig/Rcに設定する。ここで、目標値Ig及び抵抗値Rcは定数である。オン抵抗値RonはステップS3で算出したオン抵抗値である。オン抵抗値Ronが基準値である場合において、電流閾値Ithが目標値Igとなる定電流Icを基準電流値と記載する。従って、半導体スイッチ20の周囲温度が変動に応じてオン抵抗値Ronが基準値のX倍となったと仮定する。この場合、ステップS4では、定電流の設定値は、基準電流値のX倍に設定される。前述したように、Xは正の実数である。
ステップS3で算出したオン抵抗値は、温度情報が示す半導体スイッチ20の周囲温度に応じた値であるため、ステップS4で設定される設定値も半導体スイッチ20の周囲温度に応じた値である。
次に、制御部74は、設定値データが示す定電流の設定値を、ステップS4で設定した設定値に更新し(ステップS5)、PWM信号のデューティの設定値を、設定値データが示す定電流の設定値に対応するデューティの設定値に設定する(ステップS6)。ステップS6では、制御部74は、例えば、デューティの設定値を、デューティの設定値と定電流の設定値との関係を示すグラフ(図7参照)において、設定値データが示す定電流の設定値に対応する設定値に設定する。
なお、デューティの設定値を設定する方法は、グラフを用いた方法に限定されず、例えば、デューティの設定値と定電流の設定値との関係を示す関係式を用いた方法であってもよい。この場合、制御部74は、関係式において、定電流の設定値の変数に、設定値データが示す設定値を代入し、デューティの設定値を算出する。制御部74は、デューティの設定値を、算出した設定値に設定する。
次に、制御部74は、信号出力部72が出力しているPWM信号のデューティを、ステップS6で設定したデューティの設定値に調整する(ステップS7)。これにより、電流調整器31が印加しているトランジスタ40のベースの電圧は、ステップS6で設定したデューティの設定値、即ち、ステップS4で設定した定電流の設定値に応じた電圧に調整される。前述したように、ベースの電圧は、デューティが大きい程、高い。定電流は、調整されたベースの電圧に対応する値に調整される。前述したように、定電流は、ベースの電圧が高い程、大きい。
制御部74は、ステップS7を実行した後、電流調整処理を終了する。制御部74は、電流調整処理を周期的に実行することによって、定電流を半導体スイッチ20のオン抵抗値に応じた値に調整する。
<電流調整処理の効果>
図9は電流調整処理の効果の説明図である。図9には、オン抵抗値及び周囲温度の関係を示すグラフと、定電流及び周囲温度の関係を示すグラフと、電流閾値及び周囲温度の関係を示すグラフとが示されている。ここで、周囲温度は、半導体スイッチ20の周囲温度である。
種々の原因で、半導体スイッチ20の温度、即ち、半導体スイッチ20の周囲温度は変動する。図9に示すように、半導体スイッチ20の周囲温度が変動した場合、半導体スイッチ20のオン抵抗値も変動する。制御部74は電流調整処理を周期的に実行する。これにより、定電流は、半導体スイッチ20の周囲温度に応じてオン抵抗値と同様に変動する。具体的には、周囲温度の変動によって、オン抵抗値が基準値のX倍になった場合、電流調整処理において、定電流は、基準電流値のX倍に調整される。前述したように、Xは正の実数であり、基準電流値は、オン抵抗値が基準値である場合において、電流閾値が目標値となる定電流である。以上のように定電流が調整されるので、電流閾値は、図9に示すように、半導体スイッチ20の周囲温度に無関係に一定の目標値に維持される。
<微調整処理>
図10は微調整処理の手順を示すフローチャートである。電流調整処理では、定電流が設定値となるように、PWM信号のデューティ、即ち、トランジスタ40のベースの電圧が調整される。しかしながら、電流調整処理の実行によって、実際の定電流が設定値に調整されていない可能性がある。微調整処理は、実際の定電流を設定値に調整する処理である。制御部74は周期的に微調整処理を実行する。
微調整処理では、制御部74は、設定値データが示す定電流の設定値を読み出し(ステップS11)、A/D変換部71から電流情報を取得する(ステップS12)。前述したように、電流情報は、回路抵抗41の両端間の電圧であり、実際の定電流を示す。次に、制御部74は、ステップS12で取得した電流情報が示す実際の定電流がステップS11で読み出した設定値と一致するか否かを判定する(ステップS13)。ここで、ステップS13の「一致」の意味は厳密な意味に限定されない。例えば、実際の定電流と設定値との差分値が所定値未満である場合に、制御部74は、ステップS13において実際の電流値が設定値と一致していると判定してもよい。この場合、実際の電流値と設定値との差分値が所定値以上である場合に、制御部74は、ステップS13において実際の電流値が設定値と異なっていると判定する。所定値は、予め設定されており、例えば、誤差と見なすことができる値である。
制御部74は、実際の定電流が設定値と一致していると判定した場合(ステップS13:YES)、微調整処理を終了する。制御部74は、実際の定電流が設定値と一致していない、即ち、実際の定電流が設定値と異なっていると判定した場合(ステップS13:NO)、ステップS12で取得した電流情報が示す実際の定電流がステップS11で読み出した設定値を超えているか否かを判定する(ステップS14)。制御部74は、実際の定電流が設定値を超えていると判定した場合(S14:YES)、信号出力部72が出力しているPWM信号のデューティを下げる(ステップS15)。これにより、トランジスタ40のベースの電圧が低下し、定電流が低下する。第1例として、デューティの下げ幅は一定値であってもよい。第2例として、デューティの下げ幅は、定電流及び設定値の差分値に応じた幅であってもよい。この場合、差分値が大きい程、下げ幅は大きい。
制御部74は、実際の定電流が設定値を超えていないと判定した場合(S14:NO)、実際の定電流は設定値未満であるので、信号出力部72が出力しているPWM信号のデューティを上げる(ステップS16)。これにより、トランジスタ40のベースの電圧が上昇し、定電流が上昇する。第1例として、デューティの上げ幅は一定値であってもよい。第2例として、デューティの上げ幅は、定電流及び設定値の差分値に応じた幅であってもよい。この場合、差分値が大きい程、上げ幅は大きい。
制御部74は、ステップS13において、実際の定電流が設定値と一致すると判定した場合、微調整処理を終了し、実際の定電流が設定値と一致しないと判定した場合、定電流回路30が有するトランジスタ40のベース電圧を調整する。このため、ステップS13を実行することは、ステップS12で取得した電流情報が示す定電流と、設定値データ示す設定値との差分値に基づいて、トランジスタ40のベースの電圧を調整するか否かを判定することに相当する。
制御部74は、ステップS15又はステップS16を実行した後、ステップS13を再び実行する。制御部74は、実際の定電流が設定値と異なっている場合、実際の定電流が設定値と一致するまで、信号出力部72が出力しているPWM信号のデューティ、即ち、トランジスタ40のベースの電圧を繰り返し調整する。これにより、制御部74は、定電流回路30が引き込む実際の定電流を、設定値データが示す設定値、即ち、電流調整処理のステップS4で設定された設定値に一致させることができる。定電流及び設定値に関する「一致」の意味は、前述したように、厳密な意味に限定されない。
<なお書き>
電流情報は、回路抵抗41の両端間の電圧に限定されず、例えば、装置抵抗21の両端間の電圧であってもよい。この場合、装置抵抗21の両端間の電圧を、装置抵抗21の抵抗値で除算することによって、定電流を算出することができる。また、定電流の電流経路において、トランジスタ40の上流側に抵抗を配置してもよい。この場合、電流情報は、この抵抗の両端間の電圧であってもよい。
PWM信号のデューティの調整は、トランジスタ40のベースの電圧の調整に相当する。このため、マイコン50は、PWM信号のデューティではなく、トランジスタ40のベースの電圧を直接に調整してもよい。PWM信号のデューティが高い程、トランジスタ40のベースの電圧が高いので、制御部74は、ベースの電圧の設定値をデューティの設定値と同様に設定する。トランジスタ40のベースの電圧を直接に調整する構成では、マイコン50は、信号出力部の代わりに、トランジスタ40のベースに直接に電圧を印加する電圧印加部を有する。電圧印加部は、トランジスタ40のベースに接続され、マイコン50の指示に従って、ベースの電圧を調整する。
(実施形態2)
実施形態1における定電流回路30はトランジスタ40及び回路抵抗41によって実現されている。しかしながら、定電流を引き込む定電流回路の構成は定電流回路30の構成に限定されない。
以下では、実施形態2について、実施形態1と異なる点を説明する。後述する構成を除く他の構成は実施形態1と共通している。このため、実施形態1と共通する構成部には、実施形態1と同一の参照符号を付してその説明を省略する。
<電流制御装置の構成>
図11は実施形態2における電流制御装置26aの要部構成を示すブロック図である。実施形態2におけるスイッチ制御装置10は、実施形態1におけるスイッチ制御装置10が有する構成部の中で、電流制御装置26を除く他の構成部を有する。実施形態2におけるスイッチ制御装置10は、電流制御装置26の代わりに、電流制御装置26aを有する。電流制御装置26aは、定電流回路30a、電流調整器31a及びレギュレータ32を有する。電流調整器31aはマイコン50を有する。
装置抵抗21の他端は定電流回路30aに接続されている。定電流回路30aは接地されている。半導体スイッチ20のドレインはレギュレータ32に接続されている。レギュレータ32は、定電流回路30と、電流調整器31aのマイコン50に接続されている。温度検出部22は電流調整器31aのマイコン50に接続されている。マイコン50は、更に、定電流回路30に接続されている。
電流調整器31aの定電流回路30aは、実施形態1における定電流回路30と同様に、バッテリ11の正極から、装置抵抗21を介して定電流を引き込む。レギュレータ32は、基準電位が接地電位であるバッテリ11の出力電圧を目標電圧に降圧し、目標電圧を定電流回路30aに印加する。これにより、レギュレータ32から定電流回路30aに電流が流れる。目標電圧は基準電位が接地電位である電圧である。レギュレータ32から定電流回路30aに流れる電流を参照電流と記載する。参照電流をIrで表す。
定電流回路30aが引き込む定電流Icは、参照電流IrのK倍に実質的に一致する。Kは正の実数である。参照電流Irは目標電圧に応じて変化する。このため、目標電圧を調整することによって、定電流Icが調整される。
マイコン50は、実施形態1と同様に、温度検出部22から温度情報を取得する。マイコン50は、更に、定電流回路30aから定電流Icを示す電流情報を取得する。マイコン50は、取得した温度情報及び電流情報に基づいて、レギュレータ32が定電流回路30aに印加する電圧を調整する。
以上のように、定電流回路30a及び電流調整器31aそれぞれは、実施形態1における定電流回路30及び電流調整器31aと同様に作用する。
<定電流回路30aの構成>
定電流回路30aは、第1回路抵抗80、第2回路抵抗81及びカレントミラー回路82を有する。カレントミラー回路82は第1トランジスタB1及び第2トランジスタB2を有する。第1トランジスタB1及び第2トランジスタB2それぞれはNPN型のバイポーラトランジスタである。
第1回路抵抗80の一端は、装置抵抗21の他端に接続されている。第1回路抵抗80の他端は、第1トランジスタB1のコレクタに接続されている。第2回路抵抗81の一端はレギュレータ32に接続されている。第2回路抵抗81の他端は、第2トランジスタB2のコレクタ及びベースに接続されている。第1トランジスタB1のベースは第2トランジスタB2のベースに接続されている。第1トランジスタB1及び第2トランジスタB2のエミッタは接地されている。第1回路抵抗80の両端はマイコン50に接続されている。
定電流Icは、バッテリ11の正極から、装置抵抗21、第1回路抵抗80及び第1トランジスタB1の順に流れる。第1トランジスタB1では、定電流Icはコレクタ及びベースの順に流れる。参照電流Irは、レギュレータ32から、第2回路抵抗81及び第2トランジスタB2の順に流れる。第2トランジスタB2では、参照電流Irの大部分がコレクタ及びベースの順に流れる。第2トランジスタB2においてコレクタ及びベースを流れる電流は参照電流Irと実質的に一致する。
前述したように、第1トランジスタB1のエミッタ及びベースそれぞれは、第2トランジスタB2のエミッタ及びベースに接続されている。このため、第1トランジスタB1におけるベース及びエミッタ間の電圧は、第2トランジスタB2におけるベース及びエミッタ間の電圧は一致する。NPN型のバイポーラトランジスタにおいて、コレクタ及びエミッタの順に流れるコレクタ電流は、エミッタ及びベース間の電圧によって決まる。このため、定電流Icは参照電流IrのK倍に調整される。
コレクタ電流とエミッタ及びベース間の電圧との関係をトランジスタ特性と記載する。第1トランジスタB1及び第2トランジスタB2のトランジスタ特性が同じである場合、定電流Icは参照電流Irに実質的に一致する。参照電流Irは、レギュレータ32が定電流回路30aの第2回路抵抗81の一端に印加する目標電圧が高い程、大きい。
マイコン50は、目標電圧の設定値を示す目標情報をレギュレータ32に出力する。レギュレータ32は、定電流回路30aの第2回路抵抗81の一端に印加する目標電圧を設定値に調整する。マイコン50は、種々の設定値を示す目標情報をレギュレータ32に出力することによって目標電圧を調整する。
第1回路抵抗80の両端間の電圧は、(第1回路抵抗80の抵抗値)・Icで表される。第1回路抵抗80の抵抗値は一定値であるので、第1回路抵抗80の両端間の電圧を、第1回路抵抗80の抵抗値で除算することによって定電流Icを算出することができる。第1回路抵抗80の両端間の電圧が、定電流Icを示す電流情報としてマイコン50に出力される。
マイコン50は、温度検出部22から入力される温度情報と、定電流回路30aから入力される電流情報とに基づいて、レギュレータ32が印加する目標電圧を調整する。
<マイコン50の構成>
図12はマイコン50の要部構成を示すブロック図である。実施形態2におけるマイコン50は、実施形態1におけるマイコン50が有する構成部の中で、信号出力部72を除く他の構成部を有する。実施形態2におけるマイコン50は、信号出力部72の代わりに、電圧調整部76を有する。電圧調整部76は、内部バス75と、レギュレータ32とに各別に接続されている。
A/D変換部71は、実施形態1と同様に作用する。ただし、A/D変換部71に入力される電流情報は、回路抵抗41の両端間の電圧ではなく、第1回路抵抗の両端間の電圧である。
電圧調整部76は、種々の設定値を示す目標情報を出力することによってレギュレータ32が定電流回路30aの第2回路抵抗81の一端に印加する目標電圧を調整する。電圧調整部76は、制御部74の指示に従って目標電圧を調整する。
<電流調整処理>
制御部74は、図8に示す実施形態1の電流調整処理と同様の電流調整処理を実行する。実施形態2におけるステップS6では、制御部74は、PWM信号のデューティではなく、目標電圧の設定値を、設定値データが示す定電流の設定値に対応する目標電圧の設定値に設定する。ステップS6では、実施形態1と同様に、制御部74は、目標電圧の設定値と定電流の設定値との関係を示すグラフを用いて目標電圧の設定値を設定してもよいし、目標電圧の設定値と定電流の設定値との関係を示す関係式を用いて目標電圧の設定値を設定してもよい。ステップS6では、定電流の設定値が大きい程、目標電圧の設定値は大きな値に設定される。
実施形態2におけるステップS7では、制御部74は、電圧調整部76に指示して、目標電圧をステップS6で設定した設定値に調整させる。制御部74はステップS7を実行した後、電流調整処理を終了する。
<微調整処理>
制御部74は、図10に示す実施形態1の微調整処理と同様の微調整処理を実行する。実施形態2におけるステップS15では、制御部74は、電圧調整部76に指示して、PWM信号のデューティではなく、目標電圧を下げさせる。第1例として、目標電圧の下げ幅は一定値であってもよい。第2例として、目標電圧の下げ幅は、実際の定電流と定電流の設定値との差分値に応じた幅であってもよい。この場合、差分値が大きい程、下げ幅は大きい。
実施形態2におけるステップS16では、制御部74は、電圧調整部76に指示して、PWM信号のデューティではなく、目標電圧を上げさせる。第1例として、目標電圧の上げ幅は一定値であってもよい。第2例として、目標電圧の上げ幅は、実際の定電流と定電流の設定値との差分値に応じた幅であってもよい。この場合、差分値が大きい程、上げ幅は大きい。
制御部74は、実施形態1と同様に、ステップS15又はステップS16を実行した後、ステップS13を再び実行する。制御部74は、実際の定電流が設定値と異なっている場合、実際の定電流が設定値と一致するまで、レギュレータ32が印加している目標電圧を繰り返し調整する。これにより、制御部74は、定電流回路30が引き込む実際の定電流を、設定値データが示す設定値、即ち、電流調整処理のステップS4で設定された設定値に一致させることができる。
<スイッチ制御装置10の効果>
実施形態2におけるスイッチ制御装置10は、実施形態1におけるスイッチ制御装置10が奏する効果を同様に奏する。従って、電流閾値が大きく超える過電流が半導体スイッチ20を介して流れることが防止され、電流閾値が半導体スイッチ20の周囲温度に依存しない一定値に維持される。
<実施形態2のなお書き>
実施形態2において、定電流Icを調整する方法は、目標電圧を調整する方法に限定されない。目標電圧は固定されていてもよい。この場合、例えば、第1回路抵抗80の代わりに可変抵抗を接続する。可変抵抗の抵抗値を調整することによって定電流Icを調整することができる。この構成では、マイコン50は、目標電圧を調整する代わりに、可変抵抗の抵抗値を調整する。可変抵抗の抵抗値が小さい程、定電流Icは大きい。従って、目標電圧を下げる代わりに、可変抵抗の抵抗値を上げる。目標電圧を上げる代わりに、可変抵抗の抵抗値を下げる。
実施形態2において、第1トランジスタB1及び第2トランジスタB2それぞれは、NPN型のバイポーラトランジスタに限定されず、例えば、Nチャネル型のFETであってもよい。
<実施形態1,2の変形例>
実施形態1における電流制御装置26又は実施形態2における電流制御装置26aが用いられる装置は、スイッチ制御装置10に限定されない。電流制御装置26,26aそれぞれは、負荷に定電流を供給する装置において用いることができる。
実施形態1,2において、半導体スイッチ20は、Nチャネル型のMOSFETに限定されず、周囲温度に応じてオン抵抗値が変動する半導体スイッチであればよい。半導体スイッチ20は、例えば、周囲温度が低下した場合にオン抵抗値が低下する半導体スイッチであってもよい。
開示された実施形態1,2はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上述した意味ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 電源システム
10 スイッチ制御装置
11 バッテリ
12 負荷
20 半導体スイッチ
21 装置抵抗(第2の抵抗)
22 温度検出部
23 駆動回路(切替え部)
24 制御器
25 コンパレータ
26,26a 電流制御装置
30,30a 定電流回路
31,31a 電流調整器
32 レギュレータ
40 トランジスタ
41 回路抵抗
50 マイコン
51 平滑回路
60 第1抵抗
61 第2抵抗
62 キャパシタ
70,71 A/D変換部
72 信号出力部
73 記憶部
74 制御部(処理部)
75 内部バス
76 電圧調整部
80 第1回路抵抗
81 第2回路抵抗
82 カレントミラー回路
A 記憶媒体
B1 第1トランジスタ
B2 第2トランジスタ
P コンピュータプログラム

Claims (8)

  1. 電圧が印加されており、印加されている電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路と、
    処理を実行する処理部と
    を備え、
    前記処理部は、
    前記定電流回路が引き込む定電流の値を設定し、
    前記定電流回路に印加されている電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整し、
    前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得し、
    取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加されている電圧を調整するか否かを判定する
    電流制御装置。
  2. 前記定電流回路は、
    前記定電流の電流経路にて、コレクタがエミッタの上流側に配置されるNPN型のバイポーラトランジスタと、
    前記電流経路において、前記バイポーラトランジスタの下流側に配置される抵抗と
    を有し、
    前記処理部は、前記定電流回路が有する前記バイポーラトランジスタのベースの電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整する
    請求項1に記載の電流制御装置。
  3. 前記電流情報は前記抵抗の両端間の電圧である
    請求項2に記載の電流制御装置。
  4. PWM信号を出力する信号出力部と、
    前記信号出力部が出力したPWM信号の電圧を平滑する平滑回路と
    を備え、
    前記平滑回路が平滑した電圧が前記バイポーラトランジスタのベースに印加され、
    前記処理部は、前記PWM信号のデューティを、設定した定電流の値に応じたデューティに調整する
    請求項2又は請求項3に記載の電流制御装置。
  5. 請求項1から請求項4のいずれか1つに記載の電流制御装置と、
    電流が流れる半導体スイッチと、
    前記半導体スイッチの上流側の一端に接続される第2の抵抗と、
    前記半導体スイッチの下流側の一端のスイッチ電圧が、前記第2の抵抗の下流側の一端の抵抗電圧未満である場合に前記半導体スイッチをオフに切替える切替え部と
    を備え、
    前記定電流回路は、前記第2の抵抗を介して前記定電流を引き込む
    スイッチ制御装置。
  6. 前記半導体スイッチの周囲温度を検出する温度検出部を備え、
    前記処理部は、前記温度検出部が検出した周囲温度に応じて、前記定電流回路が引き込む定電流の設定値を設定する
    請求項5に記載のスイッチ制御装置。
  7. 電圧が印加され、印加された電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路の前記定電流の値を設定するステップと、
    前記定電流回路に印加する電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整するステップと、
    前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得するステップと、
    取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加する電圧を調整するか否かを判定するステップと
    をコンピュータが実行する電流制御方法。
  8. 電圧が印加され、印加された電圧に応じた定電流を引き込む定電流回路の前記定電流の値を設定するステップと、
    前記定電流回路に印加する電圧を、設定した定電流の値に応じた電圧に調整するステップと、
    前記定電流回路が引き込む定電流を示す電流情報を取得するステップと、
    取得した電流情報が示す定電流と設定した定電流の値との差分値に基づいて、前記定電流回路に印加する電圧を調整するか否かを判定するステップと
    をコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラム。
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