JP7460940B2 - 絶縁電線 - Google Patents
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- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
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Description
T≧100μm (1.1)
Tmax≦100μm (1.2)
1.5≦ε≦3.5 (2.1)
1.0≦εmax/εmin≦1.2 (2.2)
導体は、単線、集合線、撚線などであってよいが、単線であることが好ましい。導体の断面の形状は、円形状、楕円状、長方形状、真四角形状および多角形状のいずれかであってよい。
被覆層は、導体の周囲に形成されており、フッ素樹脂層とPAEK樹脂層とを備えている。
部分放電開始電圧(V) ≧ 2.2 ×X + 810
X:絶縁電線の質量に対するフッ素樹脂層の質量の割合(質量%)
変化率(%)=[(25℃で測定する部分放電開始電圧)-(200℃で測定する部分放電開始電圧)]/(25℃で測定する部分放電開始電圧)×100
変化率(%)=[(絶縁電線を200℃で1000時間加熱した後に、25℃で測定する部分放電開始電圧)-(25℃で測定する部分放電開始電圧)]/(25℃で測定する部分放電開始電圧)×100
フッ素樹脂層は、導体の周囲に形成されており、フッ素樹脂層の外周にはPAEK樹脂層が形成されている。本開示の被覆電線は、このような構成を備えることから、金属製の治具を用いて、大きな荷重をかけて曲げる際や、被覆電線をコアのスロットに挿入する際に、フッ素樹脂層が治具やスロットなどの部材と接触することがない。したがって、フッ素樹脂層に傷をつけることなく、フッ素樹脂層が有する優れた電気特性を維持したままで、スロットに収容しやすい形状に容易に変形させることができ、さらには、被覆電線をコアのスロットに円滑に挿入することができる。加えて、被覆電線をワニスに含浸させることによって、ワニスとの親和性に劣るフッ素樹脂層ではなく、ワニスとの親和性に優れるPAEK樹脂層にワニスを付着させることができるので、スロットに挿入した被覆電線をコアに容易に固定することができる。
CF2=CFO(CF2CFY1O)p-(CF2CF2CF2O)q-Rf (1)
(式中、Y1はFまたはCF3を表し、Rfは炭素数1~5のパーフルオロアルキル基を表す。pは0~5の整数を表し、qは0~5の整数を表す。)で表される単量体、および、一般式(2):
CFX=CXOCF2OR1 (2)
(式中、Xは、同一または異なり、H、FまたはCF3を表し、R1は、直鎖または分岐した、H、Cl、BrおよびIからなる群より選択される少なくとも1種の原子を1~2個含んでいてもよい炭素数が1~6のフルオロアルキル基、若しくは、H、Cl、BrおよびIからなる群より選択される少なくとも1種の原子を1~2個含んでいてもよい炭素数が5または6の環状フルオロアルキル基を表す。)で表される単量体からなる群より選択される少なくとも1種を挙げることができる。
カーボネート基[-O-C(=O)-OR3(式中、R3は炭素原子数1~20のアルキル基またはエーテル結合性酸素原子を含む炭素原子数2~20のアルキル基である)]、
アシル基[-C(=O)-R3(式中、R3は炭素原子数1~20のアルキル基またはエーテル結合性酸素原子を含む炭素原子数2~20のアルキル基である)]
ハロホルミル基[-C(=O)X5、X5はハロゲン原子]、
ホルミル基[-C(=O)H]、
式:-R4-C(=O)-R5(式中、R4は、炭素原子数1~20の2価の有機基であり、R5は、炭素原子数1~20の1価の有機基である)で示される基、
式:-O-C(=O)-R6(式中、R6は、炭素原子数1~20のアルキル基またはエーテル結合性酸素原子を含む炭素原子数2~20のアルキル基である)で示される基、
カルボキシル基[-C(=O)OH]、
アルコキシカルボニル基[-C(=O)OR7(式中、R7は、炭素原子数1~20の1価の有機基である)]、
カルバモイル基[-C(=O)NR8R9(式中、R8およびR9は、同じであっても異なっていてもよく、水素原子または炭素原子数1~20の1価の有機基である)]、
酸無水物結合[-C(=O)-O-C(=O)-]、
などをあげることができる。
-CR10=CR11R12
(式中、R10、R11およびR12は、同じであっても異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子または炭素原子数1~20の1価の有機基である。)で表される官能基が挙げられ、-CF=CF2、-CH=CF2、-CF=CHF、-CF=CH2および-CH=CH2からなる群より選択される少なくとも1種が好ましい。
N=I×K/t (A)
I:吸光度
K:補正係数
t:フィルムの厚さ(mm)
従って、たとえば、-COFの官能基数とは、-CF2COFに起因する吸収周波数1883cm-1の吸収ピークから求めた官能基数と、-CH2COFに起因する吸収周波数1840cm-1の吸収ピークから求めた官能基数との合計である。
PAEK樹脂層は、フッ素樹脂層の周囲に形成されており、ポリアリールエーテルケトン(PAEK)樹脂を含有する。PAEK樹脂層は、絶縁電線の最外層を構成することができ、最外層をPAEK樹脂層により構成することによって、回転電機のコアのスロットに挿入する際やエッジワイズ方向に曲げる際などに傷がつきにくい被覆層であって、なおかつ、被覆電線をコアに固定するために用いられるワニスを撥かない被覆層を備える絶縁電線を得ることができる。
[-Ar-O-Ar-C(=O)-] (a1)
[-Ar-O-Ar-C(=O)-Ar-C(=O)-] (a2)
[-Ar-O-Ar-O-Ar-C(=O)-] (a3)
[-Ar-O-Ar-C(=O)-Ar-O-Ar-C(=O)-Ar-C(=O)-] (a4)
[-Ar-O-Ar-O-Ar-C(=O)-Ar-C(=O)-] (a5)
(式中、Arは置換基を有していてもよい2価の芳香族炭化水素環基を表す)
被覆電線の被覆層は、さらに、フッ素樹脂層とPAEK樹脂層との層間に形成される複合樹脂層を備えることも好ましい。被覆層が複合樹脂層をさらに備えることによって、複合樹脂層を介して、フッ素樹脂層とPAEK樹脂層とを強固に密着させることができる。
本開示の絶縁電線は、たとえば、
(1)押出機を用いて、フッ素樹脂を加熱してフッ素樹脂を溶融させ、溶融した状態のフッ素樹脂を導体上に押し出し、フッ素樹脂層を形成した後、フッ素樹脂層上に溶融した状態のPAEK樹脂を押し出し、PAEK樹脂層を形成する製造方法、
(2)押出機を用いて、フッ素樹脂を加熱してフッ素樹脂を溶融させ、溶融した状態のフッ素樹脂を導体上に押し出してフッ素樹脂層を形成すると同時に、フッ素樹脂層上に溶融した状態のPAEK樹脂を押し出し、PAEK樹脂層を形成する製造方法、
(3)押出機を用いて、フッ素樹脂を加熱してフッ素樹脂を溶融させ、溶融した状態のフッ素樹脂を導体上に押し出し、フッ素樹脂層を形成した後、PAEK樹脂を含有する熱収縮チューブを被せ、熱収縮チューブを収縮させてPAEK樹脂層を形成する製造方法、
などの製造方法により製造することができる。
導体と、前記導体の周囲に形成された被覆層と、を備える絶縁電線であって、前記被覆層が、溶融加工可能なフッ素樹脂を含有するフッ素樹脂層と、前記フッ素樹脂層の周囲に形成されており、ポリアリールエーテルケトン(PAEK)樹脂を含有するPAEK樹脂層と、を備えており、前記被覆層の厚みが、40~300μmである絶縁電線が提供される。
<2> 本開示の第2の観点によれば、
前記フッ素樹脂層の質量の割合が、前記絶縁電線の質量に対して、50質量%以上である第1の観点による絶縁電線が提供される。
<3> 本開示の第3の観点によれば、
前記被覆層の比誘電率が、2.9以下である第1または第2の観点による絶縁電線が提供される。
<4> 本開示の第4の観点によれば、
25℃で測定する部分放電開始電圧が、下記の関係式を充足する第1~第3のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
部分放電開始電圧(V) ≧ 2.2 ×X + 810
X:前記絶縁電線の質量に対する前記フッ素樹脂層の質量の割合(質量%)
<5> 本開示の第5の観点によれば、
下記式で算出される変化率が、10%未満である第1~第4のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
変化率(%)=[(25℃で測定する部分放電開始電圧)-(200℃で測定する部分放電開始電圧)]/(25℃で測定する部分放電開始電圧)×100
<6> 本開示の第6の観点によれば、
下記式で算出される変化率が、10%未満である第1~第5のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
変化率(%)=[(絶縁電線を200℃で1000時間加熱した後に、25℃で測定する部分放電開始電圧)-(25℃で測定する部分放電開始電圧)]/(25℃で測定する部分放電開始電圧)×100
<7> 本開示の第7の観点によれば、
前記PAEK樹脂層の厚みが、15μm以上であり、
通電に至る荷重が1500g以上である第1~第6のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<8> 本開示の第8の観点によれば、
前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂のメルトフローレートが、0.1~120g/10分である第1~第7のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<9> 本開示の第9の観点によれば、
前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂の融点が、240~320℃である第1~第8のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<10> 本開示の第10の観点によれば、
前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン単位およびフルオロアルキルビニルエーテル単位を含有する第1~第9のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<11> 本開示の第11の観点によれば、
前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂のフルオロアルキルビニルエーテル単位の含有量が、全モノマー単位に対して、1.0~30.0モル%である第10の観点による絶縁電線が提供される。
<12> 本開示の第12の観点によれば、
前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン単位およびヘキサフルオロプロピレン単位を含有する第1~第9のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<13> 本開示の第13の観点によれば、
前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、官能基を有しており、前記フッ素樹脂の官能基数が、炭素原子106個あたり5~1300個である第1~第12のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<14> 本開示の第14の観点によれば、
前記フッ素樹脂が、カルボニル基含有基、アミノ基、ヒドロキシ基、ジフルオロメチル基、オレフィン基、エポキシ基およびイソシアネート基からなる群より選択される少なくとも1種の官能基を有する第1~第13のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<15> 本開示の第15の観点によれば、
前記導体が、銅、銅合金、アルミニウムおよびアルミニウム合金からなる群より選択される少なくとも1種から構成される第1~第14のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<16> 本開示の第16の観点によれば、
前記導体の断面形状が、円形状、楕円状、長方形状、真四角形状および多角形状のいずれかである第1~第15のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
<17> 本開示の第17の観点によれば、
前記被覆層が、さらに、前記フッ素樹脂層と前記PAEK樹脂層との層間に形成されており、溶融加工可能なフッ素樹脂およびPAEK樹脂を含有する複合樹脂層を備えており、前記フッ素樹脂層と前記複合樹脂層との密着力、および、前記複合樹脂層と前記PAEK樹脂層との密着力が、いずれも、0.1N/mm以上である第1~第16のいずれかの観点による記載の絶縁電線が提供される。
<18> 本開示の第18の観点によれば、
前記複合樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン単位およびフルオロアルキルビニルエーテル単位を含有する第17の観点による絶縁電線が提供される。
<19> 本開示の第19の観点によれば、
前記複合樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、官能基を有しており、前記フッ素樹脂の官能基数が、炭素原子106個あたり5~1300個である第17または第18の観点による絶縁電線が提供される。
<20> 本開示の第20の観点によれば、
産業用モーター巻線または平角マグネットワイヤーである第1~第19のいずれかの観点による絶縁電線が提供される。
ASTM D1238に従って、メルトインデクサー(安田精機製作所社製)を用いて、372℃、5kg荷重下で、内径2.1mm、長さ8mmのノズルから10分間あたりに流出する共重合体の質量(g/10分)を求めた。
示差走査熱量計〔DSC〕を用いて10℃/分の速度で昇温したときの融解熱曲線における融解熱量の極大値に対応する温度として求めた。
19F-NMR法により測定した。
絶縁電線の片端10mmを切断し電線サンプルを詐取し、電線サンプルを硬化剤で硬め、断面を研磨した。
このサンプルの断面をビデオマイクロスコープ(Keyence VHX-S660)で50倍に拡大し、上下左右の各々3か所(計12か所)測定し、平均値を算出して、被覆厚さとした。
実施例または比較例の電線被覆構成になるように共押出機でフィルムを成形した。得られたフィルムを幅2mm、長さ100mmの短冊状に切り出し、空洞共振器摂動法(関東電子応用開発社製誘電率測定装置、アジレントテクノロジー社製ネットワークアナライザー)にて1MH、20~25℃における比誘電率を測定した。
絶縁電線を90cmの長さで2本切り出し、13.5Nの張力をかけながらより合わせ、中央部の125mmの範囲に8回のより部を持つ、よりあわせコイルを作成した。その後、試料端部10mmの絶縁被膜を取り払い、部分放電測定器(総研電気社製DAC-PD-7)を用いて、環境温度25℃(相対湿度50%)、または、環境温度200℃(相対湿度50%)で2本の絶縁電線の導体間に50Hz正弦波の交流電圧を加えることで測定した。昇圧速度50V/sec、降圧速度50V/sec、電圧保持時間を0secとして、10pC以上の放電が発生した時点の電圧を部分放電開始電圧とした。
また、次式にしたがって、変化率(%)を求めた。
変化率(%)=[(25℃で測定したPDIV)-(200℃で測定したPDIV)]/(25℃で測定したPDIV)×100
絶縁電線を90cmの長さで2本切り出し、13.5Nの張力をかけながらより合わせ、中央部の125mmの範囲に8回のより部を持つ、よりあわせコイルを作成した。その後、試料端部10mmの絶縁被膜を取り払い、200℃の電気炉内でサンプルを1000H(1000時間)暴露させた。暴露させたサンプルを室温で24時間冷却させ、部分放電測定器(総研電気社製DAC-PD-7)を用いて、2本の絶縁電線の導体間に50Hz正弦波の交流電圧を加えることで測定した。昇圧速度50V/sec、降圧速度50V/sec、電圧保持時間を0secとして、10pC以上の放電が発生した時点の電圧を部分放電開始電圧とした。
また、次式にしたがって、変化率(%)を求めた。
変化率(%)=[(長期耐久試験後に測定したPDIV)-(25℃で測定したPDIV)]/(25℃で測定したPDIV)×100
耐摩耗試験器No.215スクレープテスター(安田精機製作所社製))を用いて一方向摩耗試験を行った。連続的に増加する力が針に加わるようにし、その針で絶縁電線の被覆層の表面を擦っていく。針と導体との間で導通が生じたときの力を破壊力(g)とした。
試験方法:JIS C3216-3
菱電化成社製 YE-7309(耐ATFワニス/2液タイプ)を用いて、絶縁電線表層にワニスを塗布した。
〇:ワニスをはじかない
×:ワニスをはじく
AGS-J オートグラフ(50N)(島津製作所社製)を用い、測定した。長軸方向に50mm略平行に2本、その両端を短軸方向に被膜を直角に切り込み、端を10mm剥離させ、上部チャックに挟んだ。導体は長面方向が水平になるよう下部に固定した。引張方向に装置を動かしたとき、その縦方向の移動距離に応じて横方向に連動して動く治具を用い、剥離した被膜が常に長面方向の導体と垂直になるよう角度を調整した。30mm剥離させるまで100mm/minで引っ張った時の引張応力を測定し、その最大点応力をピール強度とした。
すなわち、AGS-J オートグラフ(50N)(島津製作所社製)を用い、絶縁電線の平角導体の主面上の被膜(被覆層)のピール強度を測定した。ここで、平角導体の二組の対向する面のうち、導体の幅方向の寸法の大きい面(導体長手方向に対して直角な長辺の面)を主面とし、主面に直交する面(長手方向に対して直角な短辺の面)を側面とする。主面の導体の幅方向の寸法は、側面の導体の幅方向の寸法よりも大きい。一方の主面上の被膜に、絶縁電線の長手方向に沿って、略平行する2本の切り込みを入れ、さらに、長手方向に50mmの間隔で、長手方向に直交した2本の切り込みを入れた。切り込みを入れた被膜の端部を導体から剥離させ、10mmのつかみしろを設けた。他方の主面が下を向くように、絶縁電線を治具に固定し、つかみしろを上部チャックに挟み、90度に折り返した。治具に固定された絶縁電線と被膜との角度が90度に保たれるように動く治具を用いた。被膜を100mm/minの引張速度で30mm剥離させ、引張応力を測定し、その最大点応力をピール強度とした。
ダミーステーターに電線を挿入し、被覆の状態を確認した
〇:被覆に損傷なし
×:被覆に損傷あり
絶縁被膜形成樹脂にはテトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)で、MFRが14g/10min、融点が306℃のものと、ポリエーテルケトン(PEEK)(SOLVAY社製 KT-880P)でMFRが36g/10min、融点が343℃のものを使用した。電線構成は内層絶縁層にPFAを使用し、外層絶縁層にPEEKを使用し、導体はAC1.0を使用した。全層の被覆厚さを100μmに統一し、PFA重量比を50~90Wt%となるよう、各々の被覆厚さを調整した。
また、電線成形機はφ30共押出機を使用し、先端のダイ設定温度を390℃に設定し、30m/minの速度で引き取った。
実施例5の絶縁被膜形成樹脂の外層にはポリエーテルケトンエーテルケトンケトン(PEKK)(ARKEMA社製 KEPSTAN7002)でMFRが35g/10min、融点が331℃のものを使用し、全層の被覆厚さを100μmとし、PFA重量比を80Wt%となるよう、各々の被覆厚さを調整した。それ以外は実施例1~4と同条件で絶縁電線を成形した。
実施例6~7の絶縁被膜形成樹脂にはテトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)で、MFRが68g/10min、融点が301℃と、テトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)で、MFRが28g/10min、融点が303℃のものと、ポリエーテルケトン(PEEK)(SOLVAY社製 KT-880P)でMFRが36g/10min、融点が343℃のものを使用した。全層の被覆厚さを100μmに統一し、PFA重量比を80Wt%となるよう、各々の被覆厚さを調整した。それ以外は実施例1~4と同条件で絶縁電線を成形した。
実施例8~9の絶縁電線は全層の被覆厚さを200μmと300μmとし、PFA重量比を80Wt%となるよう、各々の被覆厚さを調整した。それ以外は実施例1~4と同条件で絶縁電線を成形した。
比較例1~3の絶縁被膜形成樹脂にはテトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)で、MFRが14g/10min、融点が306℃のものと、ポリエーテルケトン(PEEK)(SOLVAY社製 KT-880P)でMFRが36g/10min、融点が343℃のもの、ポリエーテルケトンエーテルケトンケトン(PEKK)(ARKEMA社製 KEPSTAN7002)でMFRが35g/10min、融点が331℃のものを使用し、単層被覆電線を成形した。被覆厚さは100μmとし、電線成形機はφ30短軸押出機を使用し、先端のダイ設定温度を390℃に設定し、30m/minの速度で引き取った。
絶縁被膜形成樹脂にはテトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)で、MFRが14g/10min、融点が306℃のものと、ポリエーテルケトン(PEEK)(SOLVAY社製 KT-880P)でMFRが36g/10min、融点が343℃のものを使用した。電線構成は内層絶縁層にPFAを使用し、外層絶縁層にPEEKを使用し、導体は平角導体であり、サイズは縦:2.0mm、横3.4mmを使用した。全層の被覆厚さを100μmとし、PFA重量比を80Wt%となるよう、各々の被覆厚さを調整した。
また、電線成形機はφ30共押出機を使用し、先端のダイ設定温度を390℃に設定し、5m/minの速度で引き取った。
外層にポリエーテルケトンエーテルケトンケトン(PEKK)(ARKEMA社製 KEPSTAN7002)でMFRが35g/10min、融点が331℃のものを使用した以外は実施例13と同条件で絶縁電線を成形した。
絶縁被膜形成樹脂にはテトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)で、MFRが14g/10min、融点が306℃のものを使用し、導体は平角導体であり、サイズは縦:2.0mm、横3.4mmを使用した。単層被覆電線を成形し、被覆厚さは100μmとし、電線成形機はφ30短軸押出機を使用し、先端のダイ設定温度を390℃に設定し、5m/minの速度で引き取った。
MFRが14g/10min、融点が306℃のテトラフルオロエチレンとパーフルオロ(プロピルビニルエーテル)の共重合体(PFA)、および、MFRが36g/10min、融点が343℃のポリエーテルケトン(PEEK)(SOLVAY社製 KT-880P)を含有する混合物を用いて、内層と外層との間に接着層を形成した以外は、実施例13および14と同様にして、絶縁電線を作製した。
Claims (19)
- 導体と、前記導体の周囲に形成された被覆層と、を備える絶縁電線であって、
前記被覆層が、
溶融加工可能なフッ素樹脂を含有するフッ素樹脂層と、
前記フッ素樹脂層の周囲に形成されており、ポリアリールエーテルケトン(PAEK)樹脂を含有するPAEK樹脂層と、
を備えており、
前記被覆層の厚みが、40~300μmであり、
前記被覆層が、さらに、
前記フッ素樹脂層と前記PAEK樹脂層との層間に形成されており、溶融加工可能なフッ素樹脂およびPAEK樹脂を含有する複合樹脂層を備えており、
前記フッ素樹脂層と前記複合樹脂層との密着力、および、前記複合樹脂層と前記PAEK樹脂層との密着力が、いずれも、0.1N/mm以上である
絶縁電線。 - 前記フッ素樹脂層の質量の割合が、前記絶縁電線の質量に対して、50質量%以上である請求項1に記載の絶縁電線。
- 前記被覆層の比誘電率が、2.9以下である請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 25℃で測定する部分放電開始電圧が、下記の関係式を充足する請求項1または2に記載の絶縁電線。
部分放電開始電圧(V) ≧ 2.2 ×X + 810
X:前記絶縁電線の質量に対する前記フッ素樹脂層の質量の割合(質量%) - 下記式で算出される変化率が、10%未満である請求項1または2に記載の絶縁電線。
変化率(%)=[(25℃で測定する部分放電開始電圧)-(200℃で測定する部分放電開始電圧)]/(25℃で測定する部分放電開始電圧)×100 - 下記式で算出される変化率が、10%未満である請求項1または2に記載の絶縁電線。
変化率(%)=[(絶縁電線を200℃で1000時間加熱した後に、25℃で測定する部分放電開始電圧)-(25℃で測定する部分放電開始電圧)]/(25℃で測定する部分放電開始電圧)×100 - 前記PAEK樹脂層の厚みが、15μm以上であり、
通電に至る荷重が1500g以上である請求項1または2に記載の絶縁電線。 - 前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂のメルトフローレートが、0.1~120g/10分である請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂の融点が、240~320℃である請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン単位およびフルオロアルキルビニルエーテル単位を含有する請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂のフルオロアルキルビニルエーテル単位の含有量が、全モノマー単位に対して、1.0~30.0モル%である請求項10に記載の絶縁電線。
- 前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン単位およびヘキサフルオロプロピレン単位を含有する請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記フッ素樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、官能基を有しており、前記フッ素樹脂の官能基数が、炭素原子106個あたり5~1300個である請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記フッ素樹脂が、カルボニル基含有基、アミノ基、ヒドロキシ基、ジフルオロメチル基、オレフィン基、エポキシ基およびイソシアネート基からなる群より選択される少なくとも1種の官能基を有する請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記導体が、銅、銅合金、アルミニウムおよびアルミニウム合金からなる群より選択される少なくとも1種から構成される請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記導体の断面形状が、円形状、楕円状、長方形状、真四角形状および多角形状のいずれかである請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記複合樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン単位およびフルオロアルキルビニルエーテル単位を含有する請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 前記複合樹脂層に含まれる前記フッ素樹脂が、官能基を有しており、前記フッ素樹脂の官能基数が、炭素原子106個あたり5~1300個である請求項1または2に記載の絶縁電線。
- 産業用モーター巻線または平角マグネットワイヤーである請求項1または2に記載の絶縁電線。
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