JP7452338B2 - 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 - Google Patents
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Description
本発明は、材料試験機、及び材料試験機の制御方法に関する。
材料試験機において、試験条件を設定する種々の技術が知られている。
例えば、特許文献１に記載の材料試験機は、試験片の材質形状情報に関連付けられた試験条件を複数記憶している補助記憶装置と、被検体の材質形状情報（材質や形状や寸法）と試験条件とが入力される入力操作部とを備え、制御装置において、被検体の材質形状情報と補助記憶装置に記憶された試験条件とに基づいて、被検体に対する試験条件の適切範囲を算出し、その適切範囲に基づく試験条件情報を通知して、入力される試験条件が適切範囲内となるようにユーザの入力を補助する入力補助部、例えば、適切範囲を表示する表示モニタと、を備える。
例えば、特許文献１に記載の材料試験機は、試験片の材質形状情報に関連付けられた試験条件を複数記憶している補助記憶装置と、被検体の材質形状情報（材質や形状や寸法）と試験条件とが入力される入力操作部とを備え、制御装置において、被検体の材質形状情報と補助記憶装置に記憶された試験条件とに基づいて、被検体に対する試験条件の適切範囲を算出し、その適切範囲に基づく試験条件情報を通知して、入力される試験条件が適切範囲内となるようにユーザの入力を補助する入力補助部、例えば、適切範囲を表示する表示モニタと、を備える。
しかしながら、特許文献１に記載の材料試験機では、材料試験の試験結果を取得したときに、予め設定された試験条件通りに材料試験が実行されたか否かを確認できない場合がある。
同様にして、材料試験の試験結果に対する解析結果を取得したときに、予め設定された解析条件通りに解析が実行されたか否かを確認できない場合がある。
同様にして、材料試験の試験結果に対する解析結果を取得したときに、予め設定された解析条件通りに解析が実行されたか否かを確認できない場合がある。
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認可能な材料試験機を提供することを目的とする。
本発明の第１態様に係る材料試験機は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、を備え、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力し、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理であり、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む。
また、本発明の第１態様に係る材料試験機は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、を備え、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力し、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理であり、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
また、本発明の第１態様に係る材料試験機は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、を備え、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力し、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理であり、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
本発明の第２態様に係る材料試験機の制御方法は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、を含み、前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力し、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理であり、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む。
また、本発明の第２態様に係る材料試験機の制御方法は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、を含み、前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力し、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理であり、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
また、本発明の第２態様に係る材料試験機の制御方法は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、を含み、前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力し、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理であり、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
本発明の第１態様に係る材料試験機、及び本発明の第２態様に係る材料試験機の制御方法の各々では、材料試験に関する処理の結果に対応付けて、材料試験に関する処理を実行する際の第２条件が、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件と一致するか否かの判定結果を出力する。したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
以下、図面を参照して本実施形態について説明する。本実施形態は、図３及び図４を参照して説明する第１実施形態と、図５～図７を参照して説明する第２実施形態とを含む。
［１．引張試験機の構成］
図１は、本実施形態に係る引張試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の引張試験機１は、試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力Ｆは、引張力である。
引張試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて引張試験を行う引張試験機本体２と、引張試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット４と、を備える。
なお、引張試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。
また、引張試験機１が実行する引張試験は、「材料試験」の一例に対応する。
図１は、本実施形態に係る引張試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の引張試験機１は、試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力Ｆは、引張力である。
引張試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて引張試験を行う引張試験機本体２と、引張試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット４と、を備える。
なお、引張試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。
また、引張試験機１が実行する引張試験は、「材料試験」の一例に対応する。
試験機本体２は、テーブル２６と、このテーブル２６上に鉛直方向を向く状態で回転可能に立設された一対のねじ棹２８、２９と、これらのねじ棹２８、２９に沿って移動可能なクロスヘッド１０と、このクロスヘッド１０を移動させて試験片ＴＰに負荷を与える負荷機構１２と、ロードセル１４と、を備える。ロードセル１４は、試験片ＴＰに与えられる引張荷重である試験力Ｆを測定し、試験力測定信号ＳＧ１を出力するセンサである。
負荷機構１２は、各ねじ棹２８、２９の下端部に連結されるウォーム減速機１６、１７と、各ウォーム減速機１６、１７に連結されるサーボモータ１８と、ロータリエンコーダ２０と、を備える。ロータリエンコーダ２０は、サーボモータ１８の回転量を測定し、回転量に応じたパルス数の回転測定信号ＳＧ２を制御ユニット４に出力するセンサである。
そして負荷機構１２は、ウォーム減速機１６、１７を介して、一対のねじ棹２８、２９にサーボモータ１８の回転を伝達し、各ねじ棹２８、２９が同期して回転することによって、クロスヘッド１０がねじ棹２８、２９に沿って昇降する。
そして負荷機構１２は、ウォーム減速機１６、１７を介して、一対のねじ棹２８、２９にサーボモータ１８の回転を伝達し、各ねじ棹２８、２９が同期して回転することによって、クロスヘッド１０がねじ棹２８、２９に沿って昇降する。
クロスヘッド１０には、試験片ＴＰの上端部を把持する上つかみ具２１が付設され、テーブル２６には、試験片ＴＰの下端部を把持する下つかみ具２２が付設される。試験機本体２は、引張試験の際に、試験片ＴＰの両端部を上つかみ具２１及び下つかみ具２２によって把持した状態で、制御ユニット４の制御に従って、クロスヘッド１０を上昇させることによって、試験片ＴＰに試験力Ｆを与える。
試験片ＴＰには、変位センサ１５が配置される。試験片ＴＰは、例えば、中央がくびれて形成されたダンベル型試験材料が用いられる。変位センサ１５は、試験片ＴＰの１対の標点の間の距離を測定することによって、伸び計測値ＥＤを測定し、伸び測定信号ＳＧ３を出力するセンサである。１対の標点は、試験片ＴＰがくびれた領域の上部と下部とに配置される。
制御ユニット４は、統括制御装置３０と、表示装置３２と、試験プログラム実行装置６と、を備える。
統括制御装置３０は、試験機本体２を中枢的に制御する装置であり、試験機本体２との間で信号を送受信可能に接続される。試験機本体２から受信する信号は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３、及び制御や試験に要する適宜の信号等である。
表示装置３２は、統括制御装置３０から入力される信号に基づいて各種情報を表示する装置であり、例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、伸び測定信号ＳＧ３に基づいて試験片ＴＰの伸びの測定値である伸び計測値ＥＤを表示装置３２に表示する。また、例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、回転測定信号ＳＧ２に基づくクロスヘッド１０の変位を示す変位計測値ＸＤを表示装置３２に表示する。
統括制御装置３０は、試験機本体２を中枢的に制御する装置であり、試験機本体２との間で信号を送受信可能に接続される。試験機本体２から受信する信号は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３、及び制御や試験に要する適宜の信号等である。
表示装置３２は、統括制御装置３０から入力される信号に基づいて各種情報を表示する装置であり、例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、伸び測定信号ＳＧ３に基づいて試験片ＴＰの伸びの測定値である伸び計測値ＥＤを表示装置３２に表示する。また、例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、回転測定信号ＳＧ２に基づくクロスヘッド１０の変位を示す変位計測値ＸＤを表示装置３２に表示する。
引張試験プログラム実行装置６は、引張試験の試験条件といった各種設定パラメータの設定操作や実行指示操作などのユーザ操作を受け付け、統括制御装置３０に出力する機能や、試験力計測値ＦＤのデータを解析する機能などを備えた装置である。
引張試験プログラム実行装置６については、後述にて図２を参照して説明する。
引張試験プログラム実行装置６については、後述にて図２を参照して説明する。
次いで、本実施形態の統括制御装置３０について、更に説明する。統括制御装置３０は、信号入出力ユニット４０と、制御回路ユニット５０と、を備える。
信号入出力ユニット４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、カウンタ回路４３と、サーボアンプ４４とを有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して制御回路ユニット５０に出力する増幅器である。第２センサアンプ４５は、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３を増幅して制御回路ユニット５０に出力する増幅器である。
カウンタ回路４３は、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２のパルス数を計数し、サーボモータ１８の回転量、すなわちサーボモータ１８の回転によって昇降するクロスヘッド１０の変位計測値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を制御回路ユニット５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、制御回路ユニット５０の制御に従って、サーボモータ１８を制御する装置である。
信号入出力ユニット４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、カウンタ回路４３と、サーボアンプ４４とを有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して制御回路ユニット５０に出力する増幅器である。第２センサアンプ４５は、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３を増幅して制御回路ユニット５０に出力する増幅器である。
カウンタ回路４３は、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２のパルス数を計数し、サーボモータ１８の回転量、すなわちサーボモータ１８の回転によって昇降するクロスヘッド１０の変位計測値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を制御回路ユニット５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、制御回路ユニット５０の制御に従って、サーボモータ１８を制御する装置である。
制御回路ユニット５０は、通信部５１と、フィードバック制御部５２と、を備える。
制御回路ユニット５０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などのプロセッサと、ＲＯＭ(Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)やＲＡＭ(Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ)などのメモリデバイスと、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）などのストレージ装置と、信号入出力ユニット４０とのインターフェース回路と、引張試験プログラム実行装置６と通信する通信装置と、表示装置３２を制御する表示制御回路と、各種の電子回路と、を備えたコンピュータを備える。また、制御回路ユニット５０のプロセッサがメモリデバイス又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することで、図１に示す各機能部を実現する。
また、信号入出力ユニット４０のインターフェース回路にはＡ／Ｄ変換器が設けられており、アナログ信号の試験力測定信号ＳＧ１及び伸び測定信号ＳＧ３がＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。
なお、制御回路ユニット５０は、コンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。
制御回路ユニット５０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などのプロセッサと、ＲＯＭ(Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)やＲＡＭ(Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ)などのメモリデバイスと、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）などのストレージ装置と、信号入出力ユニット４０とのインターフェース回路と、引張試験プログラム実行装置６と通信する通信装置と、表示装置３２を制御する表示制御回路と、各種の電子回路と、を備えたコンピュータを備える。また、制御回路ユニット５０のプロセッサがメモリデバイス又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することで、図１に示す各機能部を実現する。
また、信号入出力ユニット４０のインターフェース回路にはＡ／Ｄ変換器が設けられており、アナログ信号の試験力測定信号ＳＧ１及び伸び測定信号ＳＧ３がＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。
なお、制御回路ユニット５０は、コンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。
通信部５１は、試験プログラム実行装置６との間で通信し、試験条件の設定や各種設定パラメータの設定値、引張試験の実行指示や中断指示などを試験プログラム実行装置６から受信する。また、通信部５１は、伸び測定信号ＳＧ３に基づく伸び計測値ＥＤ、及び試験力測定信号ＳＧ１に基づく試験力計測値ＦＤを適宜のタイミングで試験プログラム実行装置６に送信する。また、通信部５１は、回転測定信号ＳＧ２に基づく変位計測値ＸＤを適宜のタイミングで試験プログラム実行装置６に送信する。
フィードバック制御部５２は、試験機本体２のサーボモータ１８をフィードバック制御して引張試験を実行する。フィードバック制御部５２は、サーボモータ１８のフィードバック制御を実行する回路である。
フィードバック制御部５２が位置制御を実行する場合には、フィードバック制御部５２は、例えば、ロードセル１４が出力する試験力計測値ＦＤについて位置制御を実行する。この場合には、フィードバック制御部５２は、試験力計測値ＦＤを試験力目標値ＦＴに一致させるように変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、当該指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力する。なお、試験力目標値ＦＴは、試験力計測値ＦＤの目標値を示す。
なお、「位置制御」とは、センサ等によって測定された検出値を、その目標値に一致させるように制御することを示す。
フィードバック制御部５２が位置制御を実行する場合には、フィードバック制御部５２は、例えば、ロードセル１４が出力する試験力計測値ＦＤについて位置制御を実行する。この場合には、フィードバック制御部５２は、試験力計測値ＦＤを試験力目標値ＦＴに一致させるように変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、当該指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力する。なお、試験力目標値ＦＴは、試験力計測値ＦＤの目標値を示す。
なお、「位置制御」とは、センサ等によって測定された検出値を、その目標値に一致させるように制御することを示す。
なお、位置制御を実行する場合について説明するが、フィードバック制御部５２が速度制御を実行してもよい。「速度制御」とは、センサ等によって測定された検出値の単位時間当たりの変化量を、その目標値に一致させるように制御することを示す。
［２．試験プログラム実行装置の構成］
図２は、本実施形態に係る試験プログラム実行装置６の構成の一例を示す図である。
引張試験プログラム実行装置６は、制御部６１と、入力部６４と、表示部６５と、印刷部６６とを備える。
制御部６１は、例えば、パーソナルコンピュータで構成され、プロセッサ６２と、メモリ６３と、を備える。プロセッサ６２は、ＣＰＵやＭＰＵ等で構成される。
メモリ６３は、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリデバイスである。
そして、プロセッサ６２がメモリ６３又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することで、上述の各種の機能を実現する。
また、制御部６１は、ＨＤＤやＳＳＤ等のストレージ装置と、制御回路ユニット５０や各種の周辺機器などを接続するためのインターフェース回路と、を備える。
図２は、本実施形態に係る試験プログラム実行装置６の構成の一例を示す図である。
引張試験プログラム実行装置６は、制御部６１と、入力部６４と、表示部６５と、印刷部６６とを備える。
制御部６１は、例えば、パーソナルコンピュータで構成され、プロセッサ６２と、メモリ６３と、を備える。プロセッサ６２は、ＣＰＵやＭＰＵ等で構成される。
メモリ６３は、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリデバイスである。
そして、プロセッサ６２がメモリ６３又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することで、上述の各種の機能を実現する。
また、制御部６１は、ＨＤＤやＳＳＤ等のストレージ装置と、制御回路ユニット５０や各種の周辺機器などを接続するためのインターフェース回路と、を備える。
なお、制御部６１は、パーソナルコンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。また、制御部６１は、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。
また、制御部６１は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部６１は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。
また、制御部６１は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部６１は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。
入力部６４は、ユーザからの操作を受け付ける。入力部６４は、ユーザからの操作に対応する操作信号を生成し、生成した操作信号を制御部６１へ伝送する。入力部６４は、例えば、マウス、及びキーボードを備える。なお、ユーザは、例えば、引張試験機１を操作する作業者である。
表示部６５は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等を備え、ユーザから視認可能に種々の画像を表示する。表示部６５は、例えば、引張試験の試験結果を示す図略の試験結果表示画面をＬＣＤに表示する。また、表示部６５は、例えば、引張試験の試験結果を解析した解析結果を示す図略の解析結果表示画面を表示する。
表示部６５は、「ディスプレイ」の一例に対応する。
表示部６５は、「ディスプレイ」の一例に対応する。
印刷部６６は、プリンタ機能を備え、種々の帳票Ｒを印刷出力する。印刷部６６は、例えば、インクジェット方式の記録ヘッドを備え、印刷用紙等の記録媒体に帳票Ｒを印刷する。
印刷部６６は、例えば、引張試験の試験結果を示す図略の試験結果帳票を印刷する、また、例えば、引張試験の試験結果を解析した解析結果を示す解析結果帳票を表示する。
以下の説明において、試験結果帳票と解析結果帳票とを帳票Ｒと記載する場合がある。
帳票Ｒについては、後述にて図７を参照して説明する。
印刷部６６は、例えば、引張試験の試験結果を示す図略の試験結果帳票を印刷する、また、例えば、引張試験の試験結果を解析した解析結果を示す解析結果帳票を表示する。
以下の説明において、試験結果帳票と解析結果帳票とを帳票Ｒと記載する場合がある。
帳票Ｒについては、後述にて図７を参照して説明する。
本実施形態では、試験プログラム実行装置６が、印刷部６６を備えるが、本発明の実施形態は、これに限定されない。試験プログラム実行装置６が、プリンタと通信可能に構成され、制御部６１が、プリンタに対して、帳票Ｒの印刷を指示してもよい。
また、本実施形態では、印刷部６６がインクジェット方式の記録ヘッドを備えるが、印刷部６６が記録媒体に帳票Ｒを印刷可能に構成されていればよい。印刷部６６が、例えば、電子写真方式で、トナーを用いて帳票Ｒを印刷してもよい。
［３．制御部の構成］
図２に示すように、制御部６１は、第１取得部６２１と、操作受付部６２２と、実行部６２３と、第２取得部６２４と、判定部６２５と、出力部６２６と、初期条件記憶部６３１と、試験結果記憶部６３２と、実行条件記憶部６３３と、を備える。
具体的には、制御部６１のプロセッサ６２が、メモリ６３又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することによって、第１取得部６２１、操作受付部６２２、実行部６２３、第２取得部６２４、判定部６２５、及び出力部６２６として機能する。
また、制御部６１のプロセッサ６２が、メモリ６３又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリ６３を、初期条件記憶部６３１、試験結果記憶部６３２、及び実行条件記憶部６３３として機能させる。
図２に示すように、制御部６１は、第１取得部６２１と、操作受付部６２２と、実行部６２３と、第２取得部６２４と、判定部６２５と、出力部６２６と、初期条件記憶部６３１と、試験結果記憶部６３２と、実行条件記憶部６３３と、を備える。
具体的には、制御部６１のプロセッサ６２が、メモリ６３又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することによって、第１取得部６２１、操作受付部６２２、実行部６２３、第２取得部６２４、判定部６２５、及び出力部６２６として機能する。
また、制御部６１のプロセッサ６２が、メモリ６３又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリ６３を、初期条件記憶部６３１、試験結果記憶部６３２、及び実行条件記憶部６３３として機能させる。
初期条件記憶部６３１は、引張試験に関する処理に対して予め設定された複数の第１条件Ｃ１を記憶する。
本実施形態では、第１条件Ｃ１は、引張試験の試験条件として予め設定された第１条件Ｃ１１と、引張試験の試験結果の解析条件として予め設定された第１条件Ｃ１２と、を含む。
第１条件Ｃ１１と第１条件Ｃ１２とを明確に区別するために、以下の説明において、第１条件Ｃ１１を第１試験条件Ｃ１１と記載し、第１条件Ｃ１２を第１解析条件Ｃ１２と記載する場合がある。
引張試験の試験条件は、ロードセル１４及び変位センサ１５の各々のフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件を含む。
ロードセル１４及び変位センサ１５の各々は、「材料試験の試験結果を検出するセンサ」の一例に対応する。
本実施形態では、第１条件Ｃ１は、引張試験の試験条件として予め設定された第１条件Ｃ１１と、引張試験の試験結果の解析条件として予め設定された第１条件Ｃ１２と、を含む。
第１条件Ｃ１１と第１条件Ｃ１２とを明確に区別するために、以下の説明において、第１条件Ｃ１１を第１試験条件Ｃ１１と記載し、第１条件Ｃ１２を第１解析条件Ｃ１２と記載する場合がある。
引張試験の試験条件は、ロードセル１４及び変位センサ１５の各々のフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件を含む。
ロードセル１４及び変位センサ１５の各々は、「材料試験の試験結果を検出するセンサ」の一例に対応する。
引張試験の試験結果の解析条件は、弾性率の計算区間、及び破断点ＢＫの検出条件を含む。
弾性率の計算区間は、試験片ＴＰが弾性変形する伸び計測値ＥＤの範囲を示す。
破断点ＢＫの検出条件は、試験力Ｆが最大値ＭＸに到達した後、試験力Ｆが所定の閾値以下に到達したことを示す。所定の閾値が破断点ＢＫに対応する。
破断点ＢＫ及び最大値ＭＸについては、後述にて図７を参照して説明する。
弾性率の計算区間は、試験片ＴＰが弾性変形する伸び計測値ＥＤの範囲を示す。
破断点ＢＫの検出条件は、試験力Ｆが最大値ＭＸに到達した後、試験力Ｆが所定の閾値以下に到達したことを示す。所定の閾値が破断点ＢＫに対応する。
破断点ＢＫ及び最大値ＭＸについては、後述にて図７を参照して説明する。
試験結果記憶部６３２は、実行部６２３によって実行された引張試験の試験結果を記憶する。試験結果記憶部６３２は、例えば、試験力Ｆを伸び計測値ＥＤと対応付けて記憶する。
また、試験結果記憶部６３２は、実行部６２３によって実行された引張試験結果の解析結果を記憶する。
また、試験結果記憶部６３２は、実行部６２３によって実行された引張試験結果の解析結果を記憶する。
実行条件記憶部６３３は、実行部６２３が実行する処理に対応する第１条件Ｃ１及び第２条件Ｃ２を記憶する。
具体的には、実行条件記憶部６３３は、実行部６２３が実行する処理に対して予め設定された第１条件Ｃ１を記憶する。すなわち、実行条件記憶部６３３は、第１取得部６２１によって初期条件記憶部６３１から読み出された第１条件Ｃ１を記憶する。また、実行条件記憶部６３３は、操作受付部６２２によって生成された第２条件Ｃ２を記憶する。
具体的には、実行条件記憶部６３３は、実行部６２３が実行する処理に対して予め設定された第１条件Ｃ１を記憶する。すなわち、実行条件記憶部６３３は、第１取得部６２１によって初期条件記憶部６３１から読み出された第１条件Ｃ１を記憶する。また、実行条件記憶部６３３は、操作受付部６２２によって生成された第２条件Ｃ２を記憶する。
第１取得部６２１は、引張試験に関する処理に対して予め設定された複数の第１条件Ｃ１から１つの第１条件Ｃ１を取得する。具体的には、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１に記憶された複数の第１条件Ｃ１から１つの第１条件Ｃ１を読み出すことによって、第１条件Ｃ１を取得する。また、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から読み出した第１条件Ｃ１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、第１取得部６２１は、第１試験条件Ｃ１１を取得する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、第１取得部６２１は、第１解析条件Ｃ１２を取得する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、第１取得部６２１は、第１解析条件Ｃ１２を取得する。
操作受付部６２２は、入力部６４を介して、第１条件Ｃ１に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２条件Ｃ２を生成する。また、操作受付部６２２は、生成した第２条件Ｃ２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
ユーザが第１条件Ｃ１に対して変更する操作を行う場合には、第２条件Ｃ２は、第１条件Ｃ１と相違する。
ユーザが第１条件Ｃ１に対して変更する操作を行わない場合には、第２条件Ｃ２は、第１条件Ｃ１と一致する。
ユーザが第１条件Ｃ１に対して変更する操作を行う場合には、第２条件Ｃ２は、第１条件Ｃ１と相違する。
ユーザが第１条件Ｃ１に対して変更する操作を行わない場合には、第２条件Ｃ２は、第１条件Ｃ１と一致する。
第２条件Ｃ２は、引張試験の試験条件である第２条件Ｃ２１と、引張試験の試験結果の解析条件である第２条件Ｃ２２と、を含む。
第２条件Ｃ２１と第２条件Ｃ２２とを明確に区別するために、以下の説明において、第２条件Ｃ２１を第２試験条件Ｃ２１と記載し、第２条件Ｃ２２を第２解析条件Ｃ２２と記載する場合がある。
第２条件Ｃ２１と第２条件Ｃ２２とを明確に区別するために、以下の説明において、第２条件Ｃ２１を第２試験条件Ｃ２１と記載し、第２条件Ｃ２２を第２解析条件Ｃ２２と記載する場合がある。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、操作受付部６２２は、入力部６４を介して、第１試験条件Ｃ１１に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２試験条件Ｃ２１を生成する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、操作受付部６２２は、入力部６４を介して、第１解析条件Ｃ１２に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２解析条件Ｃ２２を生成する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、操作受付部６２２は、入力部６４を介して、第１解析条件Ｃ１２に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２解析条件Ｃ２２を生成する。
実行部６２３は、第１条件Ｃ１に対応する第２条件Ｃ２で、引張試験に関する処理を実行する。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３は、操作受付部６２２によって生成された第２試験条件Ｃ２１で、引張試験を実行する。また、実行部６２３は、引張試験の試験結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３は、操作受付部６２２によって生成された第２解析条件Ｃ２２で、引張試験結果の解析処理を実行する。また、実行部６２３は、引張試験結果の解析結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３は、操作受付部６２２によって生成された第２試験条件Ｃ２１で、引張試験を実行する。また、実行部６２３は、引張試験の試験結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３は、操作受付部６２２によって生成された第２解析条件Ｃ２２で、引張試験結果の解析処理を実行する。また、実行部６２３は、引張試験結果の解析結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
第２取得部６２４は、操作受付部６２２によって生成された第２条件Ｃ２を取得する。具体的には、第２取得部６２４は、実行条件記憶部６３３から第２条件Ｃ２を読み出すことによって、第２条件Ｃ２を取得する。第２条件Ｃ２は、引張試験に関する処理を実行するときの条件を示す。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、第２取得部６２４は、第２試験条件Ｃ２１を取得する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、第２取得部６２４は、第２解析条件Ｃ２２を取得する。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、第２取得部６２４は、第２試験条件Ｃ２１を取得する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、第２取得部６２４は、第２解析条件Ｃ２２を取得する。
判定部６２５は、第２条件Ｃ２が第１条件Ｃ１と一致するか否かを判定する。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、判定部６２５は、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを判定する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、判定部６２５は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致するか否かを判定する。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、判定部６２５は、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを判定する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、判定部６２５は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致するか否かを判定する。
出力部６２６は、材料試験に関する処理の結果に対応付けて、判定部６２５の判定結果を出力する。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、出力部６２６は、引張試験の試験結果に対応付けて、判定部６２５の判定結果を出力する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、出力部６２６は、試験結果の解析結果に対応付けて、判定部６２５の判定結果を出力する。
図３及び図４を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験を実行する場合には、出力部６２６は、引張試験の試験結果に対応付けて、判定部６２５の判定結果を出力する。
また、図５～図７を参照して説明するように、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する場合には、出力部６２６は、試験結果の解析結果に対応付けて、判定部６２５の判定結果を出力する。
具体的には、出力部６２６は、印刷部６６を介して、材料試験に関する処理の結果を示す帳票Ｒを印刷し、判定部６２５の判定結果を、帳票Ｒのヘッダーに印刷する。
帳票Ｒは、第１帳票Ｒ１と第２帳票Ｒ２とを含む。
第１帳票Ｒ１及び第２帳票Ｒ２については、図７を参照して説明する。
帳票Ｒは、第１帳票Ｒ１と第２帳票Ｒ２とを含む。
第１帳票Ｒ１及び第２帳票Ｒ２については、図７を参照して説明する。
本実施形態では、出力部６２６は、判定部６２５の判定結果を、帳票Ｒのヘッダーに印刷するが、出力部６２６は、判定部６２５の判定結果を、帳票Ｒのヘッダー及びフッターの少なくとも一方に印刷すればよい。
本実施形態では、出力部６２６が、材料試験に関する処理の結果を示す帳票Ｒを印刷する場合について説明するが、出力部６２６が、材料試験に関する処理の結果を示す画像を表示部６５のＬＣＤ等のディスプレイに表示してもよい。この場合には、出力部６２６は、判定部６２５の判定結果を、上記画像の周囲に表示する。
［４．第１実施形態］
次に、図３及び図４を参照して、第１実施形態における制御部６１の処理について説明する。
図３は、第１実施形態における制御部６１の処理の一例を示す図である。
図３に示すように、ステップＳ１１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１試験条件Ｃ１１を読み出して、第１試験条件Ｃ１１を取得する。
そして、ステップＳ１２において、第１取得部６２１は、第１試験条件Ｃ１１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
また、ステップＳ１３において、操作受付部６２２は、第１試験条件Ｃ１１に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２試験条件Ｃ２１を生成し、生成した第２試験条件Ｃ２１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、図３及び図４を参照して、第１実施形態における制御部６１の処理について説明する。
図３は、第１実施形態における制御部６１の処理の一例を示す図である。
図３に示すように、ステップＳ１１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１試験条件Ｃ１１を読み出して、第１試験条件Ｃ１１を取得する。
そして、ステップＳ１２において、第１取得部６２１は、第１試験条件Ｃ１１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
また、ステップＳ１３において、操作受付部６２２は、第１試験条件Ｃ１１に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２試験条件Ｃ２１を生成し、生成した第２試験条件Ｃ２１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ１４において、実行部６２３は、第２試験条件Ｃ２１で引張試験を実行し、引張試験の試験結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
次に、ステップＳ１５において、第２取得部６２４は、実行条件記憶部６３３から第２試験条件Ｃ２１を読み出すことによって、第２試験条件Ｃ２１を取得する。
次に、ステップＳ１６において、出力部６２６は、ユーザから引張試験の試験結果を印刷する旨の指示を受け付ける。
次に、ステップＳ１５において、第２取得部６２４は、実行条件記憶部６３３から第２試験条件Ｃ２１を読み出すことによって、第２試験条件Ｃ２１を取得する。
次に、ステップＳ１６において、出力部６２６は、ユーザから引張試験の試験結果を印刷する旨の指示を受け付ける。
次に、ステップＳ１７において、判定部６２５は、第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分の有無を判定する。換言すれば、第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１とが一致するか否かを判定する。
第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分が無いと判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーを含まない第１帳票Ｒ１を印刷する。
第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分があると判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーＲ２２を含む第２帳票Ｒ２を印刷する。ヘッダーＲ２２は、第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分があることを示す。
ヘッダーＲ２２、第１帳票Ｒ１及び第２帳票Ｒ２については、図７を参照して後述する。
第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分が無いと判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーを含まない第１帳票Ｒ１を印刷する。
第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分があると判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーＲ２２を含む第２帳票Ｒ２を印刷する。ヘッダーＲ２２は、第１試験条件Ｃ１１と第２試験条件Ｃ２１との差分があることを示す。
ヘッダーＲ２２、第１帳票Ｒ１及び第２帳票Ｒ２については、図７を参照して後述する。
図４は、第１実施形態における制御部６１の処理の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１０１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１試験条件Ｃ１１を読み出して、第１試験条件Ｃ１１を取得する。
次に、ステップＳ１０３において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から読み出した第１試験条件Ｃ１１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ１０５において、操作受付部６２２は、第１試験条件Ｃ１１に対するユーザからの操作入力を受け付ける。
次に、ステップＳ１０７において、操作受付部６２２は、ステップＳ１０５で受け付けた操作入力に基づいて、第２試験条件Ｃ２１を生成し、生成した第２試験条件Ｃ２１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
まず、ステップＳ１０１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１試験条件Ｃ１１を読み出して、第１試験条件Ｃ１１を取得する。
次に、ステップＳ１０３において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から読み出した第１試験条件Ｃ１１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ１０５において、操作受付部６２２は、第１試験条件Ｃ１１に対するユーザからの操作入力を受け付ける。
次に、ステップＳ１０７において、操作受付部６２２は、ステップＳ１０５で受け付けた操作入力に基づいて、第２試験条件Ｃ２１を生成し、生成した第２試験条件Ｃ２１を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ１０９で、実行部６２３は、操作受付部６２２によって生成された第２試験条件Ｃ２１で、引張試験を実行する。
次に、ステップＳ１１１で、実行部６２３は、引張試験の試験結果を取得し、取得した試験結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
次に、ステップＳ１１３で、出力部６２６は、入力部６４を介して、引張試験の試験結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたか否かを判定する。
引張試験の試験結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けていないと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ１１３；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。引張試験の試験結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ１１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１５に進む。
次に、ステップＳ１１１で、実行部６２３は、引張試験の試験結果を取得し、取得した試験結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
次に、ステップＳ１１３で、出力部６２６は、入力部６４を介して、引張試験の試験結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたか否かを判定する。
引張試験の試験結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けていないと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ１１３；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。引張試験の試験結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ１１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１５に進む。
そして、ステップＳ１１５において、判定部６２５は、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを判定する。
第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致しないと判定部６２５が判定した場合（ステップＳ１１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１７に進む。
そして、ステップＳ１１７において、出力部６２６は、ヘッダーＰ２２を付与した第２帳票Ｒ２の印刷を実行する。その後、処理が終了する。ヘッダーＰ２２は、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致しないことを示す。
第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致すると判定部６２５が判定した場合（ステップＳ１１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１９に進む。
そして、ステップＳ１１９において、出力部６２６は、ヘッダーを付与しない第１帳票Ｒ１の印刷を実行する。その後、処理が終了する。
第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致しないと判定部６２５が判定した場合（ステップＳ１１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１７に進む。
そして、ステップＳ１１７において、出力部６２６は、ヘッダーＰ２２を付与した第２帳票Ｒ２の印刷を実行する。その後、処理が終了する。ヘッダーＰ２２は、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致しないことを示す。
第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致すると判定部６２５が判定した場合（ステップＳ１１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１９に進む。
そして、ステップＳ１１９において、出力部６２６は、ヘッダーを付与しない第１帳票Ｒ１の印刷を実行する。その後、処理が終了する。
ステップＳ１０１は、「第１取得ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１０９は、「実行ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１１５は、「判定ステップ」の一例に対応する。ステップＳ１１７及びステップＳ１１９は、「出力ステップ」の一例に対応する。
このように、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致しない場合には、ヘッダーＰ２２が付与された第２帳票Ｒ２が印刷され、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致する場合には、ヘッダーが付与されない第１帳票Ｒ１が印刷される。したがって、帳票Ｒのヘッダーの有無によって、ユーザは、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを容易に確認できる。なお、ユーザとは、材料試験の作業者、及び出力された帳票Ｒ等を受け取る材料試験の依頼者等を含む。
［５．第２実施形態］
次に、図５～図７を参照して、第２実施形態における制御部６１の処理について説明する。
第１実施形態では、実行部６２３が引張試験を実行するのに対して、第２実施形態では、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する点で相違する。また、第１実施形態では、判定部６２５が、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを判定するのに対して、第２実施形態では、判定部６２５が、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致するか否かを判定する点で相違する。
次に、図５～図７を参照して、第２実施形態における制御部６１の処理について説明する。
第１実施形態では、実行部６２３が引張試験を実行するのに対して、第２実施形態では、実行部６２３が引張試験の試験結果の解析を実行する点で相違する。また、第１実施形態では、判定部６２５が、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを判定するのに対して、第２実施形態では、判定部６２５が、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致するか否かを判定する点で相違する。
図５は、第２実施形態における制御部６１の処理の一例を示す図である。
図５に示すように、ステップＳ２１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１解析条件Ｃ１２を読み出して、第１解析条件Ｃ１２を取得する。
そして、ステップＳ２２において、第１取得部６２１は、第１解析条件Ｃ１２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
また、ステップＳ２３において、操作受付部６２２は、第１解析条件Ｃ１２に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２解析条件Ｃ２２を生成し、生成した第２解析条件Ｃ２２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
図５に示すように、ステップＳ２１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１解析条件Ｃ１２を読み出して、第１解析条件Ｃ１２を取得する。
そして、ステップＳ２２において、第１取得部６２１は、第１解析条件Ｃ１２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
また、ステップＳ２３において、操作受付部６２２は、第１解析条件Ｃ１２に対するユーザからの操作入力を受け付け、第２解析条件Ｃ２２を生成し、生成した第２解析条件Ｃ２２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ２４において、実行部６２３は、第２解析条件Ｃ２２で、引張試験の試験結果の解析を実行し、解析結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
次に、ステップＳ２５において、第２取得部６２４は、実行条件記憶部６３３から第２解析条件Ｃ２２を読み出すことによって、第２解析条件Ｃ２２を取得する。
次に、ステップＳ２６において、出力部６２６は、ユーザから引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示を受け付ける。
次に、ステップＳ２５において、第２取得部６２４は、実行条件記憶部６３３から第２解析条件Ｃ２２を読み出すことによって、第２解析条件Ｃ２２を取得する。
次に、ステップＳ２６において、出力部６２６は、ユーザから引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示を受け付ける。
次に、ステップＳ２７において、判定部６２５は、第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分の有無を判定する。換言すれば、第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２とが一致するか否かを判定する。
第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分が無いと判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーを含まない第１帳票Ｒ１を印刷する。
第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分があると判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーＲ２２を含む第２帳票Ｒ２を印刷する。ヘッダーＲ２２は、第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分があることを示す。
ヘッダーＲ２２、第１帳票Ｒ１及び第２帳票Ｒ２については、図７を参照して後述する。
第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分が無いと判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーを含まない第１帳票Ｒ１を印刷する。
第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分があると判定部６２５が判定した場合には、出力部６２６は、ヘッダーＲ２２を含む第２帳票Ｒ２を印刷する。ヘッダーＲ２２は、第１解析条件Ｃ１２と第２解析条件Ｃ２２との差分があることを示す。
ヘッダーＲ２２、第１帳票Ｒ１及び第２帳票Ｒ２については、図７を参照して後述する。
図６は、第２実施形態における制御部６１の処理の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ２０１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１解析条件Ｃ１２を読み出して、第１解析条件Ｃ１２を取得する。
次に、ステップＳ２０３において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から読み出した第１解析条件Ｃ１２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ２０５において、操作受付部６２２は、第１解析条件Ｃ１２に対するユーザからの操作入力を受け付ける。
次に、ステップＳ２０７において、操作受付部６２２は、ステップＳ２０５で受け付けた操作入力に基づいて、第２解析条件Ｃ２２を生成し、生成した第２解析条件Ｃ２２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
まず、ステップＳ２０１において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から第１解析条件Ｃ１２を読み出して、第１解析条件Ｃ１２を取得する。
次に、ステップＳ２０３において、第１取得部６２１は、初期条件記憶部６３１から読み出した第１解析条件Ｃ１２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ２０５において、操作受付部６２２は、第１解析条件Ｃ１２に対するユーザからの操作入力を受け付ける。
次に、ステップＳ２０７において、操作受付部６２２は、ステップＳ２０５で受け付けた操作入力に基づいて、第２解析条件Ｃ２２を生成し、生成した第２解析条件Ｃ２２を実行条件記憶部６３３に記憶させる。
次に、ステップＳ２０９で、実行部６２３は、操作受付部６２２によって生成された第２解析条件Ｃ２２で、引張試験の試験結果の解析処理を実行する。
次に、ステップＳ２１１で、実行部６２３は、引張試験の試験結果の解析結果を取得し、取得した解析結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
次に、ステップＳ２１３で、出力部６２６は、入力部６４を介して、引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたか否かを判定する。
引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けていないと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ２１３；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ２１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２１５に進む。
次に、ステップＳ２１１で、実行部６２３は、引張試験の試験結果の解析結果を取得し、取得した解析結果を試験結果記憶部６３２に記憶させる。
次に、ステップＳ２１３で、出力部６２６は、入力部６４を介して、引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたか否かを判定する。
引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けていないと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ２１３；ＮＯ）には、処理が待機状態になる。引張試験の試験結果の解析結果を印刷する旨の指示をユーザから受け付けたと出力部６２６が判定した場合（ステップＳ２１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２１５に進む。
そして、ステップＳ２１５において、判定部６２５は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致するか否かを判定する。
第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しないと判定部６２５が判定した場合（ステップＳ２１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１７に進む。
そして、ステップＳ２１７において、出力部６２６は、ヘッダーＰ２２を付与した第２帳票Ｒ２の印刷を実行する。その後、処理が終了する。ヘッダーＰ２２は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しないことを示す。
第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致すると判定部６２５が判定した場合（ステップＳ２１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２１９に進む。
そして、ステップＳ２１９において、出力部６２６は、ヘッダーを付与しない第１帳票Ｒ１の印刷を実行する。その後、処理が終了する。
第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しないと判定部６２５が判定した場合（ステップＳ２１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１７に進む。
そして、ステップＳ２１７において、出力部６２６は、ヘッダーＰ２２を付与した第２帳票Ｒ２の印刷を実行する。その後、処理が終了する。ヘッダーＰ２２は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しないことを示す。
第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致すると判定部６２５が判定した場合（ステップＳ２１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２１９に進む。
そして、ステップＳ２１９において、出力部６２６は、ヘッダーを付与しない第１帳票Ｒ１の印刷を実行する。その後、処理が終了する。
ステップＳ２０１は、「第１取得ステップ」の一例に対応する。ステップＳ２０９は、「実行ステップ」の一例に対応する。ステップＳ２１５は、「判定ステップ」の一例に対応する。ステップＳ２１７及びステップＳ２１９は、「出力ステップ」の一例に対応する。
図７は、第２実施形態における帳票Ｒの一例を示す図である。
図７では、左側に第１帳票Ｒ１の一例を示し、右側に第２帳票Ｒ２の一例を示す。
第１帳票Ｒ１は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致する場合に、印刷される。第１帳票Ｒ１には、変位計測値ＸＤと試験力Ｆとの関係を示すグラフＲ１１が印刷されている。また、第１帳票Ｒ１には、ヘッダーが記載されていない。
図７では、左側に第１帳票Ｒ１の一例を示し、右側に第２帳票Ｒ２の一例を示す。
第１帳票Ｒ１は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致する場合に、印刷される。第１帳票Ｒ１には、変位計測値ＸＤと試験力Ｆとの関係を示すグラフＲ１１が印刷されている。また、第１帳票Ｒ１には、ヘッダーが記載されていない。
グラフＲ１１には、実行部６２３が、引張試験の試験結果を解析した結果の一例として、破断点ＢＫ及び最大値ＭＸが記載される。
破断点ＢＫは、試験片ＴＰが破断したことを示す。破断点ＢＫの検出条件は、試験力Ｆが最大値ＭＸに到達した後、所定の閾値以下に到達したことを示す。
破断点ＢＫは、試験片ＴＰが破断したことを示す。破断点ＢＫの検出条件は、試験力Ｆが最大値ＭＸに到達した後、所定の閾値以下に到達したことを示す。
第２帳票Ｒ２は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しない場合に、印刷される。第２帳票Ｒ２には、変位計測値ＸＤと試験力Ｆとの関係を示すグラフＲ２１が印刷されている。
また、第２帳票Ｒ２には、ヘッダーＲ２２が記載されている。
ヘッダーＲ２２は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しないことを示す。図７では、ヘッダーＲ２２として、「Ｓｔａｔｕｓ：ｔｅｍｐｏｒａｒｙ」という文字が印刷されている。
また、第２帳票Ｒ２には、ヘッダーＲ２２が記載されている。
ヘッダーＲ２２は、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しないことを示す。図７では、ヘッダーＲ２２として、「Ｓｔａｔｕｓ：ｔｅｍｐｏｒａｒｙ」という文字が印刷されている。
グラフＲ２１には、実行部６２３が、引張試験の試験結果を解析した結果の一例として、破断点ＢＫ及び最大値ＭＸが記載される。
グラフＲ２１の破断点ＢＫの位置は、グラフＲ１１の破断点ＢＫの位置と相違している。これは、第２帳票Ｒ２を印刷する際に実施された解析における解析条件が、第１帳票Ｒ１を印刷する際に実施された解析における解析条件と相違するためである。具体的には、解析条件のうちの、破断点ＢＫの検出条件が相違するためである。
グラフＲ２１の破断点ＢＫの位置は、グラフＲ１１の破断点ＢＫの位置と相違している。これは、第２帳票Ｒ２を印刷する際に実施された解析における解析条件が、第１帳票Ｒ１を印刷する際に実施された解析における解析条件と相違するためである。具体的には、解析条件のうちの、破断点ＢＫの検出条件が相違するためである。
このように、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致しない場合には、ヘッダーＰ２２が付与された第２帳票Ｒ２が印刷され、第２解析条件Ｃ２２が第１解析条件Ｃ１２と一致する場合には、ヘッダーが付与されない第１帳票Ｒ１が印刷される。したがって、帳票Ｒのヘッダーの有無によって、ユーザは、第２試験条件Ｃ２１が第１試験条件Ｃ１１と一致するか否かを容易に確認できる。
［６．態様と効果］
上述した実施形態及び変形例は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上述した実施形態及び変形例は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
（第１項）
一態様に関わる材料試験機は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、を備え、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力する。
一態様に関わる材料試験機は、材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、を備え、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力する。
第１項に記載の材料試験機によれば、出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果、すなわち、材料試験に関する処理を実行する際の第２条件が、予め設定された第１条件と一致するか否かを出力する。
したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。なお、ユーザとは、材料試験の作業者、及び出力された帳票等を受け取る材料試験の依頼者等を含む。
したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。なお、ユーザとは、材料試験の作業者、及び出力された帳票等を受け取る材料試験の依頼者等を含む。
（第２項）
第１項に記載の材料試験機において、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理である。
第１項に記載の材料試験機において、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理である。
第２項に記載の材料試験機によれば、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理である。
したがって、材料試験の試験条件が、予め設定された第１条件で、材料試験が行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
したがって、材料試験の試験条件が、予め設定された第１条件で、材料試験が行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
（第３項）
第２項に記載の材料試験機において、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む。
第２項に記載の材料試験機において、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む。
第３項に記載の材料試験機によれば、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む。
したがって、前記第１条件及び前記第２条件として、材料試験を実行するために、重要な条件を設定できる。
したがって、前記第１条件及び前記第２条件として、材料試験を実行するために、重要な条件を設定できる。
（第４項）
第１項に記載の材料試験機において、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理である。
第１項に記載の材料試験機において、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理である。
第４項に記載の材料試験機によれば、前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理である。
したがって、材料試験の試験結果の解析条件が、予め設定された第１条件で、解析処理が行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
したがって、材料試験の試験結果の解析条件が、予め設定された第１条件で、解析処理が行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
（第５項）
第４項に記載の材料試験機において、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
第４項に記載の材料試験機において、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
第５項に記載の材料試験機によれば、前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む。
したがって、前記第１条件及び前記第２条件として、引張試験の試験結果の解析処理を実行するために、重要な条件を設定できる。
したがって、前記第１条件及び前記第２条件として、引張試験の試験結果の解析処理を実行するために、重要な条件を設定できる。
（第６項）
第１項から第５項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記第１取得部が取得した前記第１条件を記憶する記憶部と、前記実行部が前記材料試験に関する処理を実行する際に、前記第２条件を取得する第２取得部と、を備え、前記判定部は、前記第２取得部が取得した前記第２条件が、前記記憶部に記憶された前記第１条件と一致するか否かを判定する。
第１項から第５項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記第１取得部が取得した前記第１条件を記憶する記憶部と、前記実行部が前記材料試験に関する処理を実行する際に、前記第２条件を取得する第２取得部と、を備え、前記判定部は、前記第２取得部が取得した前記第２条件が、前記記憶部に記憶された前記第１条件と一致するか否かを判定する。
第６項に記載の材料試験機によれば、前記判定部は、前記第２取得部が取得した前記第２条件が、前記記憶部に記憶された前記第１条件と一致するか否かを判定する。
したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを適正に判定できる。
したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを適正に判定できる。
（第７項）
第１項から第６項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果を示す帳票を印刷し、前記判定部の判定結果を、前記帳票のヘッダー（Ｒ２２）及びフッターの少なくとも一方に印刷する。
第１項から第６項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果を示す帳票を印刷し、前記判定部の判定結果を、前記帳票のヘッダー（Ｒ２２）及びフッターの少なくとも一方に印刷する。
第７項に記載の材料試験機によれば、前記判定部の判定結果を、前記帳票のヘッダー及びフッターの少なくとも一方に印刷する。
したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
したがって、材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
（第８項）
第１項から第７項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果を示す画像をディスプレイに表示し、前記判定部の判定結果を、前記画像の周囲に表示する。
第１項から第７項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果を示す画像をディスプレイに表示し、前記判定部の判定結果を、前記画像の周囲に表示する。
第７項に記載の材料試験機によれば、前記判定部の判定結果を、前記材料試験に関する処理の結果を示す画像の周囲に表示する。
材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
材料試験に関する処理が予め設定された第１条件で行われたか否かを、ユーザが容易に確認できる。
（第９項）
材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、を含み、前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力する、材料試験機の制御方法である。
材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、を含み、前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力する、材料試験機の制御方法である。
第９項に記載の材料試験機の制御方法によれば、第１項に記載の材料試験機と同様の作用効果を奏する。
［７．その他の実施形態］
なお、本実施形態に係る引張試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、材料試験機が引張試験機１である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。
なお、本実施形態に係る引張試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、材料試験機が引張試験機１である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。
また、本実施形態では、出力部６２６は、材料試験に関する処理の結果に対応付けて、判定部６２５の判定結果を出力するが、本発明の実施形態はこれに限定されない。判定部６２５の判定結果を出力するか、判定部６２５の判定結果を出力しないかを、監督者等の特定のユーザが切り換え可能に構成されてもよい。この場合には、ユーザの利便性を向上できる。
また、本実施形態では、制御部６１が、第１取得部６２１、操作受付部６２２、実行部６２３、第２取得部６２４、判定部６２５、出力部６２６、初期条件記憶部６３１、試験結果記憶部６３２、及び実行条件記憶部６３３として機能する場合について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されない。制御回路ユニット５０が、第１取得部６２１、操作受付部６２２、実行部６２３、第２取得部６２４、判定部６２５、出力部６２６、初期条件記憶部６３１、試験結果記憶部６３２、及び実行条件記憶部６３３のうちの少なくとも１つとして機能してもよい。例えば、制御回路ユニット５０が、第１取得部６２１、操作受付部６２２、実行部６２３、第２取得部６２４、判定部６２５、出力部６２６、初期条件記憶部６３１、試験結果記憶部６３２、及び実行条件記憶部６３３として機能してもよい。
また、本実施形態では、第２条件Ｃ２が第１条件Ｃ１と一致する場合には、ヘッダーが付与されない第１帳票Ｒ１を印刷する場合について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されない。第２条件Ｃ２が第１条件Ｃ１と一致する場合には、第２条件Ｃ２が第１条件Ｃ１と一致することを示すヘッダーを付与した帳票Ｒを印刷してもよい。
また、図１及び図２に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。
また、図４及び図６に示すフローチャートの処理単位は、制御部６１の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図４及び図６のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。
また、引張試験機１の制御方法は、制御部６１が備えるプロセッサ６２に、引張試験機１の制御方法に対応した制御プログラムを実行させることで実現できる。また、この制御プログラムは、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。また、記録媒体は、制御部６１が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、引張試験機１の制御方法に対応した制御プログラムをサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から制御部６１に、制御プログラムをダウンロードすることで引張試験機１の制御方法を実現することもできる。
１ 引張試験機（材料試験機）
２ 引張試験機本体
４ 制御ユニット
６ 試験プログラム実行装置
１０ クロスヘッド
１２ 負荷機構
１４ ロードセル（センサ）
１５ 変位センサ（センサ）
２０ ロータリエンコーダ
２１ 上つかみ具
２２ 下つかみ具
２６ テーブル
２８、２９ ねじ棹
３０ 統括制御装置
３２ 表示装置
４０ 信号入出力ユニット
４２ センサアンプ
４３ カウンタ回路
４４ サーボアンプ
５０ 制御回路ユニット
６１ 制御部
６２ プロセッサ
６３ メモリ
６４ 入力部
６５ 表示部（ディスプレイ）
６６ 印刷部
６２１ 第１取得部
６２２ 操作受付部
６２３ 実行部
６２４ 第２取得部
６２５ 判定部
６２６ 出力部
６３１ 初期条件記憶部
６３２ 試験結果記憶部
６３３ 実行条件記憶部（記憶部）
Ｃ１、Ｃ１１、Ｃ１２ 第１条件
Ｃ１１ 第１試験条件
Ｃ１２ 第１解析条件
Ｃ２、Ｃ２１、Ｃ２２ 第２条件
Ｃ２１ 第２試験条件
Ｃ２２ 第２解析条件
Ｒ、Ｒ１、Ｒ２ 帳票
Ｒ１ 第１帳票
Ｒ２ 第２帳票
ＴＰ 試験片
２ 引張試験機本体
４ 制御ユニット
６ 試験プログラム実行装置
１０ クロスヘッド
１２ 負荷機構
１４ ロードセル（センサ）
１５ 変位センサ（センサ）
２０ ロータリエンコーダ
２１ 上つかみ具
２２ 下つかみ具
２６ テーブル
２８、２９ ねじ棹
３０ 統括制御装置
３２ 表示装置
４０ 信号入出力ユニット
４２ センサアンプ
４３ カウンタ回路
４４ サーボアンプ
５０ 制御回路ユニット
６１ 制御部
６２ プロセッサ
６３ メモリ
６４ 入力部
６５ 表示部（ディスプレイ）
６６ 印刷部
６２１ 第１取得部
６２２ 操作受付部
６２３ 実行部
６２４ 第２取得部
６２５ 判定部
６２６ 出力部
６３１ 初期条件記憶部
６３２ 試験結果記憶部
６３３ 実行条件記憶部（記憶部）
Ｃ１、Ｃ１１、Ｃ１２ 第１条件
Ｃ１１ 第１試験条件
Ｃ１２ 第１解析条件
Ｃ２、Ｃ２１、Ｃ２２ 第２条件
Ｃ２１ 第２試験条件
Ｃ２２ 第２解析条件
Ｒ、Ｒ１、Ｒ２ 帳票
Ｒ１ 第１帳票
Ｒ２ 第２帳票
ＴＰ 試験片
Claims (7)
- 材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、
前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、
前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、
前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、
を備え、
前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力し、
前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、
前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理であり、
前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む、
材料試験機。 - 材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得部と、
前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行部と、
前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定部と、
前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力部と、
を備え、
前記出力部は、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定部の判定結果を出力し、
前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、
前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理であり、
前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、
前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む、
材料試験機。 - 前記第１取得部が取得した前記第１条件を記憶する記憶部と、
前記実行部が前記材料試験に関する処理を実行する際に、前記第２条件を取得する第２取得部と、を備え、
前記判定部は、前記第２取得部が取得した前記第２条件が、前記記憶部に記憶された前記第１条件と一致するか否かを判定する、
請求項１又は請求項２に記載の材料試験機。 - 前記出力部は、
前記材料試験に関する処理の結果を示す帳票を印刷し、
前記判定部の判定結果を、前記帳票のヘッダー及びフッターの少なくとも一方に印刷する、
請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の材料試験機。 - 前記出力部は、
前記材料試験に関する処理の結果を示す画像をディスプレイに表示し、
前記判定部の判定結果を、前記画像の周囲に表示する、
請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の材料試験機。 - 材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、
前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、
前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、
前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、
を含み、
前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力し、
前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験条件であり、
前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の実行処理であり、
前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果を検出するセンサのフルスケールの条件、及びサンプリング間隔の条件の少なくとも一方を含む、
材料試験機の制御方法。 - 材料試験に関する処理に対して予め設定された第１条件を取得する第１取得ステップと、
前記第１条件に対応する第２条件で、前記材料試験に関する処理を実行する実行ステップと、
前記第２条件が前記第１条件と一致するか否かを判定する判定ステップと、
前記材料試験に関する処理の結果を出力する出力ステップと、
を含み、
前記出力ステップでは、前記材料試験に関する処理の結果に対応付けて、前記判定ステップでの判定結果を出力し、
前記第１条件及び前記第２条件は、前記材料試験の試験結果の解析条件であり、
前記材料試験に関する処理は、前記材料試験の試験結果の解析処理であり、
前記材料試験は、試験片に引張力を付与して前記試験片を変形させる引張試験であって、
前記第１条件及び前記第２条件は、弾性率の計算区間、及び破断点の検出条件の少なくとも一方を含む、
材料試験機の制御方法。
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