JP7444115B2 - サーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、テープ状磁気記録媒体の製造方法、テープ状磁気記録媒体及びサーボライトヘッド - Google Patents

Description

本技術は、磁性層へサーボパターンを書き込むためのサーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、サーボパターンが記録された磁性層を有するテープ状磁気記録媒体及びその製造方法、並びにサーボライトヘッドに関する。

近年、電子データのバックアップなどの用途で磁気記録媒体が広く利用されている。磁気記録媒体の一つとして、例えば磁気テープカートリッジは、大容量・長期保存が可能なことから、ビッグデータ等の蓄積媒体としてますます注目が集まっている。

例えば、ＬＴＯ（Linear Tape Open）規格の磁気テープにおける磁性層には、テープ長手方向に平行な複数のデータバンドが設けられており、これら複数のデータバンド内の複数の記録トラックに対してデータが記録される。さらに当該磁気テープには、テープ長手方向に平行な複数のサーボバンドが設けられており、各データバンドは複数のサーボバンド間に挟み込まれるように磁性層に配置される。各サーボバンドには、各記録トラックに対する記録再生ヘッドの位置決め（トラッキング）制御を実行し、更には、テープ情報やデータバンドを特定するためのサーボバンド識別情報が埋め込まれた所定形状のサーボパターンが記録されている。

ＬＴＯ規格で採用されるタイミングベースサーボ方式のドライブシステムにおいては、非平行サーボパターンと時間変数または距離変数を使用してヘッド位置を識別するサーボ技術が用いられる。非平行サーボパターンとしては、典型的には、テープ長手方向に配列される２個の異なる方位角傾斜（azimuthal slope）を含む。この種のドライブシステムは、サーボパターンを読み取ることで、位置誤差信号（ＰＥＳ：Position Error Signal）を生成し、記録トラックに対してドライブヘッドを適切に位置決めする。

現在のリニアサーペンタイン方式のテープシステムにおいて記録密度を高める必要がある中、データバンド密度の向上が重要な課題となっている。

例えばＬＴＯにおいては、カートリッジ容量が３０ＴＢを超えるような記録密度になると、テープ状磁気記録媒体においては、温湿度環境の変化などによりテープ状磁気記録媒体のテープ長さと幅が変形したり、クリープ現象により長時間をかけて形状変形する。このため、容易にテープ状磁気記録媒体のデータバンド密度を上げることが難しい。

テープ状磁気記録媒体の形状変形を少なくするためには、データバンドの幅を狭めることが良いと考えられる。データバンドの幅を狭めるには、データバンドの本数を増やすことになる。データバンドの本数を増やすには、データバンド間のサーボバンドの本数を増やすことになる。

複数のデータバンドのうち何れのデータバンドを走行しているかを認識可能とするため、データバンドと交互に設けられるサーボバンドに、サーボバンドを特定する位置情報が書き込まれる。特許文献１は、複数のサーボバンドに、時間的に位置をずらして（即ち、異なる位相で）同じサーボパターンを書き込む方式を開示する。一方、特許文献２は、複数のサーボバンドに、時間的に位置をずらさずに（即ち、同位相で）異なるサーボパターンを書き込む方式を開示する。

特表２０１１－５２３４８７号公報 特許第６６４８８５５号公報

書き込み位置を時間的にずらす方式（特許文献１）で、何れのデータバンドを走行しているかを認識するためには、時間方向に（サーボバンド数／２）通り、（サーボバンド数－１）パターンのサーボ信号が必要になる。このため、１０本以上のサーボバンドに位置情報を書き込む場合、このため、何れのデータバンドを走行しているかを確実に認識するのに時間が掛かる。

一方、サーボ信号内にサーボバンド識別情報を書き込む方式（特許文献２）では、各サーボバンドそれぞれ独立にサーボ信号を書きこむ。１／２インチ（テープ状磁気記録媒体の幅の長さ）に対して１０個以上の独立した書き込みヘッドを並べることはコイルを巻くという点で物理的に難しい。

以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、データバンドの増加に容易に対応することができるサーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、テープ状磁気記録媒体の製造方法、テープ状磁気記録媒体及びサーボライトヘッドを提供することにある。

本開示の一形態に係るサーボパターン記録方法は、
テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録する方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンを記録すべき３本以上の第１のサーボバンドで構成された第１のサーボバンド群と、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンを記録すべき３本以上の第２のサーボバンドで構成された第２のサーボバンド群と、を決定し、
隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド群に前記第１のサーボバンド識別情報を記録し、前記第２のサーボバンド群に前記第２のサーボバンド識別情報を記録する。

前記第１のサーボバンド群は、３本以上の連続する第１のサーボバンドで構成され、前記第２のサーボバンド群は、３本以上の連続する第２のサーボバンドで構成されてもよい。

前記サーボパターン記録方法は、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第３のサーボパターンを記録すべき３本以上の第３のサーボバンドで構成された第３のサーボバンド群をさらに決定してもよい。

前記第３のサーボバンド群は、３本以上の連続する第３のサーボバンドで構成されてもよい。

前記サーボパターン記録方法は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第４のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第４のサーボパターンを記録すべき３本以上の第４のサーボバンドで構成された第４のサーボバンド群をさらに決定してもよい。

前記第４のサーボバンド群は、３本以上の連続する第４のサーボバンドで構成されてもよい。

本開示の一形態に係るサーボパターン記録装置は、
テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録する装置であって、
３本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第１の磁気ギャップであって、前記３個以上の第１の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第１の磁気ギャップを有する第１のヘッドブロックと、
３本以上の連続する第２のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第２の磁気ギャップであって、前記３個以上の第２の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第２の磁気ギャップを有する第２のヘッドブロックと、
を有するサーボライトヘッドと、
前記第１のヘッドブロックに対して複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号を、且つ、前記第２のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するための第２の記録信号を、同一のタイミングで出力する駆動部と、
を具備する。

前記サーボライトヘッドは、３本以上の連続する第３のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第３の磁気ギャップであって、前記３個以上の第３の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第３の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第３の磁気ギャップを有する第３のヘッドブロックをさらに有し、
前記駆動部は、前記第３のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報を記録するための第３の記録信号を前記同一のタイミングでさらに出力してもよい。

前記サーボライトヘッドは、前記第１のヘッドブロックと隣り合わない別の第１のヘッドブロックをさらに有し、前記別の第１のヘッドブロックは、１本又は２本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された１個又は２個以上の前記第１の磁気ギャップを有し、隣り合う２個の前記第１のヘッドブロック、前記第２のヘッドブロック、前記第３のヘッドブロック及び前記別の第１のヘッドブロックの組み合わせが全て異なり、
前記駆動部は、前記別の第１のヘッドブロックに対して前記第１の記録信号を前記同一のタイミングでさらに出力してもよい。

前記第１の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第１のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記第２の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報と前記第２のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号と前記第２の記録信号とを互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力してもよい。

前記第１の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第１のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記第２の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記第３の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第３のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号、前記第２の記録信号及び前記第３の記録信号を互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力してもよい。

前記第１のヘッドブロックは、前記３個以上の第１の磁気ギャップが形成された１個のヘッドブロックであり、
前記第２のヘッドブロックは、前記３個以上の第２の磁気ギャップが形成された１個のヘッドブロックであってもよい。

本開示の一形態に係るテープ状磁気記録媒体の製造方法は、
長手方向に延在する６本以上のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体の製造方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンを記録すべき３本以上の第１のサーボバンドで構成された第１のサーボバンド群と、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンを記録すべき３本以上の第２のサーボバンドで構成された第２のサーボバンド群と、を決定し、
隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド群に前記第１のサーボバンド識別情報を記録し、前記第２のサーボバンド群に前記第２のサーボバンド識別情報を記録する。

本開示の一形態に係るテープ状磁気記録媒体は、
長手方向に延在する複数本のサーボバンドを有する磁性層を具備し、
前記磁性層は、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンが記録された３本以上の第１のサーボバンドを含む第１のサーボバンド群と、
前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンが記録された３本以上の第２のサーボバンドを含む第２のサーボバンド群と、を有し、
隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが全て異なる。

前記磁性層は、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第３のサーボパターンが記録された３本以上の第３のサーボバンドを含む第３のサーボバンド群をさらに有してもよい。

前記磁性層は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第４のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第４のサーボパターンが記録された３本以上の第４のサーボバンドを含む第４のサーボバンド群をさらに有してもよい。

前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違してもよい。

前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第３のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームと、前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違してもよい。

前記テープ状磁気記録媒体は、
基材と、
前記基材の一方の主面と前記磁性層との間に設けられた下地層と、
前記基材の他方の主面上に設けられたバック層と、
をさらに具備してもよい。

本開示の一形態に係るサーボライトヘッドは、
テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録するのに用いられるサーボライトヘッドであって、
３本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第１の磁気ギャップであって、前記３個以上の第１の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第１の磁気ギャップを有する第１のヘッドブロックと、
３本以上の連続する第２のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第２の磁気ギャップであって、前記３個以上の第２の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第２の磁気ギャップを有する第２のヘッドブロックと、
を具備し、
前記第１のヘッドブロックに対して複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号が、且つ、前記第２のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するための第２の記録信号が、同一のタイミングで出力される。

本技術の一実施形態に係るサーボパターン記録装置を示す正面図である。 上記サーボパターン記録装置の一部を示す部分拡大図である。 サーボパターンの一部を構成するサーボバンド識別情報を示す磁気テープの上面図である。 （Ａ）はサーボパターンに埋め込まれるＬＰＯＳワードのデータ構造を示す図であり、（Ｂ）は製造業者ワードを説明する図である。 （Ａ）は上記サーボパターンの配置例を示す概略図であり、（Ｂ）はその再生波形を示す図である。 １３ｃｈ（チャンネル）のサーボバンドの割り当て及び位相の例を示す模式図である。 第１のサーボバンド識別情報及び第２のサーボバンド識別情報の構成例を示す概略図である 上記第１のサーボバンド識別情報及び第２のサーボバンド識別情報の再生波形を示す図である。 １７ｃｈのサーボバンドの割り当て及び位相の例を示す模式図である。 別の一実施例に係る、１３ｃｈのサーボバンドの割り当て及び位相の例を示す模式図である。 別の一実施例に係る、１３ｃｈのサーボバンドの割り当て及び位相の例を示す模式図である。 別の一実施例に係る、１３ｃｈのサーボバンドの割り当て及び位相の例を示す模式図である。 上記サーボパターン記録装置におけるサーボライトヘッドの構成を概略的に示す斜視図である。 上記サーボライトヘッドを駆動する駆動部の構成を示すブロック図である。 上記サーボライトヘッドに入力される第１のパルス信号及び第２のパルス信号の波形の一部を示す模式図である。 本技術の一実施形態に係るサーボパターン記録方法を説明するフローチャートである。 サーボライトヘッドを磁気テープ側から見た斜視図である。 図１５に示すサーボライトヘッドのＸＺ平面の断面図である。 サーボライトヘッドの上部を側方から見た模式的な部分拡大図である。 記録再生装置におけるサーボリードヘッドの説明図である。

図１は、本技術の一実施形態に係るサーボパターン記録装置１００を示す正面図である。図２は、サーボパターン記録装置１００の一部を示す部分拡大図である。図３は、サーボパターン６が記録された磁気テープ１を示す上面図である。

［磁気テープの構成］
まず、図２を参照して磁気テープ１の構成について説明する。磁気テープ１は、テープ状の磁気記録媒体であり、長尺状の基材（基体）４１と、基材４１の一方の主面（第１の主面）上に設けられた下地層４２と、下地層４２上に設けられた磁性層４３と、基材４１の他方の主面（第２の主面）上に設けられたバック層４４とを備える。なお、下地層４２およびバック層４４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。磁気テープ１は、垂直記録型の磁気記録媒体であってもよいし、長手記録型の磁気記録媒体であってもよい。

磁気テープ１は長尺のテープ状を有し、記録再生の際には長手方向に走行される。なお、磁性層４３の表面が、図示しない記録再生装置が備える磁気ヘッドが走行される表面となる。磁気テープ１は、記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置で用いられることが好ましい。磁気テープ１は、１５００ｎｍ以下または１０００ｎｍ以下のデータトラック幅でデータを記録可能に構成された記録再生装置に用いられることが好ましい。

（基材）
基材４１は、下地層４２および磁性層４３を支持する非磁性支持体である。基材４１は、長尺のフィルム状を有する。基材４１の平均厚みの上限値は、好ましくは４．２μｍ以下、より好ましくは３．８μｍ以下、さらにより好ましくは３．４μｍ以下である。基材４１の平均厚みの上限値が４．２μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。基材４１の平均厚みの下限値は、好ましくは３μｍ以上、より好ましくは３．２μｍ以上である。基材４１の平均厚みの下限値が３μｍ以上であると、基材４１の強度低下を抑制することができる。

基材４１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気テープ１を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。続いて、サンプルの基材４１以外の層（すなわち下地層４２、磁性層４３およびバック層４４）をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプル（基材４１）の厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、基材４１の平均厚みを算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。

基材４１は、ポリエステルを含む。基材４１がポリエステルを含むことで、基材４１の長手方向のヤング率を低減することができる。したがって、走行時における磁気テープ１の長手方向のテンションを記録再生装置により調整することで、磁気テープ１の幅を一定またはほぼ一定に保つことができる。

ポリエステルは、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリブチレンナフタレート（ＰＢＮ）、ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート（ＰＣＴ）、ポリエチレン－ｐ－オキシベンゾエート（ＰＥＢ）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの少なくとも１種を含む。基材４１が２種以上のポリエステルを含む場合、それらの２種以上のポリエステルは混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。ポリエステルの末端および側鎖の少なくとも一方が変性されていてもよい。

基材４１にポリエステルが含まれていることは、例えば、次のようにして確認される。まず、基材４１の平均厚みの測定方法と同様にして、サンプルの基材４１以外の層を除去する。次に、赤外吸収分光法（Infrared Absorption Spectrometry：ＩＲ）によりサンプル（基材４１）のＩＲスペクトルを取得する。このＩＲスペクトルに基づき、基材４１にポリエステルが含まれていることを確認することができる。

基材４１は、ポリエステル以外に、例えば、ポリアミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリイミドおよびポリアミドイミドのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよいし、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ポリアミドは、芳香族ポリアミド（アラミド）であってもよい。ポリイミドは、芳香族ポリイミドであってもよい。ポリアミドイミドは、芳香族ポリアミドイミドであってもよい。

基材４１が、ポリエステル以外の高分子樹脂を含む場合、基材４１はポリエステルを主成分とすることが好ましい。ここで、主成分とは、基材４１に含まれる高分子樹脂のうち、最も含有量（質量比率）が多い成分を意味する。基材４１がポリエステル以外の高分子樹脂を含む場合、ポリエステルと、ポリエステル以外の高分子樹脂は、混合されていてもよいし、共重合されていてもよい。

基材４１は、長手方向および幅方向に二軸延伸されていてもよい。基材４１に含まれる高分子樹脂は、基材４１の幅方向に対して斜め方向に配向されていることが好ましい。

（磁性層）
磁性層４３は、信号を磁化パターンにより記録するための記録層である。磁性層４３は、垂直記録型の記録層であってもよいし、長手記録型の記録層であってもよい。磁性層４３は、例えば、磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む。磁性層４３が、必要に応じて、帯電防止剤、研磨剤、硬化剤、防錆剤および非磁性補強粒子等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。磁性層４３は、磁性材料の塗布膜で構成される場合に限られず、磁性材料のスパッタ膜や蒸着膜で構成されてもよい。

磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａは、２．０ｎｍ以下、好ましくは１．８ｎｍ以下、より好ましくは１．６ｎｍ以下である。算術平均粗さＲａが２．０ｎｍ以下であると、スペーシングロスによる出力低下を抑制することができるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの下限値は、好ましくは１．０ｎｍ以上、より好ましくは１．２ｎｍ以上である。磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの下限値が１．０ｎｍ以上であると、摩擦の増大による走行性の低下を抑制することができる。

算術平均粗さＲａは次のようにして求められる。まず、磁性層４３の表面をＡＦＭ（Atomic Force Microscope）により観察し、４０μｍ×４０μｍのＡＦＭ像を得る。ＡＦＭとしてはDigital Instruments社製、Nano Scope IIIa D3100を用い、カンチレバーとしてはシリコン単結晶製のものを用い(注１)、タッピング周波数として、２００～４００Ｈｚのチューニングにて測定を行う。次に、ＡＦＭ像を５１２×５１２（＝２６２、１４４）個の測定点に分割し、各測定点にて高さＺ（ｉ）（ｉ：測定点番号、ｉ＝１～２６２、１４４）を測定し、測定した各測定点の高さＺ（ｉ）を単純に平均（算術平均）して平均高さ（平均面）Ｚave（＝（Ｚ（１）＋Ｚ（２）＋・・・＋Ｚ（２６２、１４４））／２６２、１４４）を求める。続いて、各測定点での平均中心線からの偏差Ｚ"（ｉ）（＝Ｚ（ｉ）－Ｚave）を求め、算術平均粗さＲａ［ｎｍ］（＝（Ｚ"（１）＋Ｚ"（２）＋・・・＋Ｚ"（２６２、１４４））／２６２、１４４）を算出する。この際には、画像処理として、Flattenorder2、ならびに、planefit order 3 XYによりフィルタリング処理を行ったものをデータとして用いる。
(注１)Nano World社製SPMプローブNCH ノーマルタイプPointProbe L
(カンチレバー長)＝１２５μｍ

磁性層４３の平均厚みｔ_mの上限値は、８０ｎｍ以下、好ましくは７０ｎｍ以下、より好ましくは５０ｎｍ以下である。磁性層４３の平均厚みｔ_mの上限値が８０ｎｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、反磁界の影響を軽減できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

磁性層４３の平均厚みｔ_mの下限値は、好ましくは３５ｎｍ以上である。磁性層４３の平均厚みｔ_mの下限値が３５ｎｍ以上であると、再生ヘッドとしてはＭＲ型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

磁性層４３の平均厚みｔ_mは以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープ１をＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。

得られた薄片化サンプルの上記断面を、透過型電子顕微鏡（TransmissionElectron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、ＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００、０００倍

次に、得られたＴＥＭ像を用い、磁気テープ１の長手方向の少なくとも１０点以上の位置で磁性層４３の厚みを測定する。得られた測定値を単純に平均（算術平均）して得られた平均値を磁性層４３の平均厚みｔ_m［ｎｍ］とする。なお、上記測定が行われる位置は、試験片から無作為に選ばれるものとする。

（磁性粉）
磁性粉は、複数の磁性粒子を含む。磁性粒子は、例えば、六方晶フェライトを含む粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）、イプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）を含む粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む粒子（以下「コバルトフェライト粒子」という。）である。磁性粉は、磁気テープ１の厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向していることが好ましい。

（六方晶フェライト粒子）
六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状等の板状を有する。本明細書において、六角坂状は、ほぼ六角坂状を含むものとする。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。

より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ₁₂Ｏ₁₉で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。

磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは３０ｎｍ以下、より好ましくは１２ｎｍ以上２５ｎｍ以下、さらにより好ましくは１２ｎｍ以上２２ｎｍ以下、特に好ましくは１２ｎｍ以上１９ｎｍ以下、最も好ましくは１２ｎｍ以上１６ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが３０ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープ１において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが１２ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。

磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．３以上２．８以下、さらにより好ましくは１．６以上２．７以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上２．５以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。

磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープ１をＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。

得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500、000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ写真から、観察面の方向に側面を向けており、且つ、粒子の厚みが明らかに確認できる粒子を５０個選び出す。その厚みを明らかに確認できる選択された５０個の粒子それぞれの最大板厚ＤＡを測定する。このようにして求めた最大板厚ＤＡを単純に平均（算術平均）して平均最大板厚ＤＡ_aveを求める。続いて、各磁性粉の板径ＤＢを測定する。粒子の板径ＤＢを測定するために、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の板径が明らかに確認できる粒子を５０個選び出す。選択された５０個の粒子それぞれの板径ＤＢを測定する。このようにして求めた板径ＤＢを単純平均（算術平均）して平均板径ＤＢ_aveを求める。平均板径ＤＢ_aveが、平均粒子サイズである。そして、平均最大板厚ＤＡ_aveおよび平均板径ＤＢ_aveから粒子の平均アスペクト比（ＤＢ_ave／ＤＡ_ave）を求める。

磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは３４００ｎｍ³以下、より好ましくは４００ｎｍ³以上２６００ｎｍ³以下、さらにより好ましくは４００ｎｍ³以上１７００ｎｍ³以下、特に好ましくは４００ｎｍ³以上１２００ｎｍ³以下、最も好ましくは４００ｎｍ³以上１０００ｎｍ³以下である。磁性粉の平均粒子体積が３４００ｎｍ³以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２５ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ³以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを１２ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。

磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法に関して述べた通り、平均長軸長ＤＡ_aveおよび平均板径ＤＢ_aveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。

（ε酸化鉄粒子）
ε酸化鉄粒子は、微粒子でも高保磁力を得ることができる硬磁性粒子である。ε酸化鉄粒子は、球状を有しているか、または立方体状を有している。本明細書において、球状は、ほぼ球状を含むものとする。また、立方体状には、ほぼ立方体状を含むものとする。ε酸化鉄粒子が上記のような形状を有しているため、磁性粒子としてε酸化鉄粒子を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、磁気テープ１の厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制することができる。したがって、磁性粉の分散性を高め、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。

ε酸化鉄粒子は、コアシェル型構造を有する。具体的には、ε酸化鉄粒子は、コア部と、このコア部の周囲に設けられた２層構造のシェル部とを備える。２層構造のシェル部は、コア部上に設けられた第１シェル部と、第１シェル部上に設けられた第２シェル部とを備える。

コア部は、ε酸化鉄を含む。コア部に含まれるε酸化鉄は、ε－Ｆｅ₂Ｏ₃結晶を主相とするものが好ましく、単相のε－Ｆｅ₂Ｏ₃からなるものがより好ましい。

第１シェル部は、コア部の周囲のうちの少なくとも一部を覆っている。具体的には、第１シェル部は、コア部の周囲を部分的に覆っていてもよいし、コア部の周囲全体を覆っていてもよい。コア部と第１シェル部の交換結合を十分なものとし、磁気特性を向上する観点からすると、コア部の表面全体を覆っていることが好ましい。

第１シェル部は、いわゆる軟磁性層であり、例えば、α－Ｆｅ、Ｎｉ－Ｆｅ合金またはＦｅ－Ｓｉ－Ａｌ合金等の軟磁性体を含む。α－Ｆｅは、コア部に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。

第２シェル部は、酸化防止層としての酸化被膜である。第２シェル部は、α酸化鉄、酸化アルミニウムまたは酸化ケイ素を含む。α酸化鉄は、例えばＦｅ₃Ｏ₄、Ｆｅ₂Ｏ₃およびＦｅＯのうちの少なくとも１種の酸化鉄を含む。第１シェル部がα－Ｆｅ（軟磁性体）を含む場合には、α酸化鉄は、第１シェル部に含まれるα－Ｆｅを酸化することにより得られるものであってもよい。

ε酸化鉄粒子が、上述のように第１シェル部を有することで、熱安定性を確保するためにコア部単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ、ε酸化鉄粒子（コアシェル粒子）全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。また、ε酸化鉄粒子が、上述のように第２シェル部を有することで、磁気テープ１の製造工程およびその工程前において、ε酸化鉄粒子が空気中に暴露されて、粒子表面に錆び等が発生することにより、ε酸化鉄粒子の特性が低下することを抑制することができる。したがって、磁気テープ１の特性劣化を抑制することができる。

ε酸化鉄粒子が単層構造のシェル部を有していてもよい。この場合、シェル部は、第１シェル部と同様の構成を有する。但し、ε酸化鉄粒子の特性劣化を抑制する観点からすると、上述したように、ε酸化鉄粒子が２層構造のシェル部を有していることが好ましい。

ε酸化鉄粒子が、上記コアシェル構造に代えて添加剤を含んでいてもよいし、コアシェル構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。この場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。

具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε－Ｆｅ_2-xＭ_xＯ₃結晶（但し、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。

磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）は、例えば２２ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）は、好ましくは２０ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上２０ｎｍ以下、さらにより好ましくは１０ｎｍ以上１８ｎｍ以下、特に好ましくは１０ｎｍ以上１６ｎｍ以下、最も好ましくは１０ｎｍ以上１４ｎｍ以下である。磁気テープ１では、記録波長の１／２のサイズの領域が実際の磁化領域となる。このため、磁性粉の平均粒子サイズを最短記録波長の半分以下に設定することで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子サイズが２２ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープ１（例えば４４ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成された磁気テープ１）において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。

磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．０以上２．５以下、さらにより好ましくは１．０以上２．１以下、特に好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。

磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は、以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープ１をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護層としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿うかたちで行って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。

得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500、000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の形状を明らかに確認することができる５０個の粒子を選び出し、各粒子の長軸長ＤＬと短軸長ＤＳを測定する。ここで、長軸長ＤＬとは、各粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のもの（いわゆる最大フェレ径）を意味する。一方、短軸長ＤＳとは、粒子の長軸（ＤＬ）と直交する方向における粒子の長さのうち最大のものを意味する。続いて、測定した５０個の粒子の長軸長ＤＬを単純に平均（算術平均）して平均長軸長ＤＬ_aveを求める。このようにして求めた平均長軸長ＤＬ_aveを磁性粉の平均粒子サイズとする。また、測定した５０個の粒子の短軸長ＤＳを単純に平均（算術平均）して平均短軸長ＤＳ_aveを求める。そして、平均長軸長ＤＬ_aveおよび平均短軸長ＤＳ_aveから粒子の平均アスペクト比（ＤＬ_ave／ＤＳ_ave）を求める。

磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５６００ｎｍ³以下、より好ましくは２５０ｎｍ³以上４２００ｎｍ³以下、さらにより好ましくは６００ｎｍ³以上３０００ｎｍ³以下、特に好ましくは６００ｎｍ³以上２２００ｎｍ³以下、最も好ましくは６００ｎｍ³以上１５００ｎｍ³以下である。一般的に磁気テープ１のノイズは粒子個数の平方根に反比例（すなわち粒子体積の平方根に比例）するため、粒子体積をより小さくすることで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子体積が５６００ｎｍ³以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２２ｎｍ以下とする場合と同様に、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子体積が２５０ｎｍ³以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを８ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。

ε酸化鉄粒子が球状を有している場合には、磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様にして、平均長軸長ＤＬ_aveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。
Ｖ＝（π/６）×ＤＬ_ave ³

ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合、磁性粉の平均体積は以下のようにして求められる。磁気テープ１をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜およびタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。

得られた薄片サンプルを透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500、000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。次に、撮影したＴＥＭ写真から粒子の形状が明らかである５０個の粒子を選び出し、各粒子の辺の長さＤＣを測定する。続いて、測定した５０個の粒子の辺の長さＤＣを単純に平均（算術平均）して平均辺長ＤＣ_aveを求める。次に、平均辺長ＤＣ_aveを用いて以下の式から磁性粉の平均体積Ｖ_ave（粒子体積）を求める。
Ｖ_ave＝ＤＣ_ave ³

（コバルトフェライト粒子）
コバルトフェライト粒子は、一軸結晶異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト粒子が一軸結晶異方性を有することで、磁性粉を磁気テープ１の厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向させることができる。コバルトフェライト粒子は、例えば、立方体状を有している。本明細書において、立方体状は、ほぼ立方体状を含むものとする。Ｃｏ含有スピネルフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。

Ｃｏ含有スピネルフェライトは、例えば以下の式で表される平均組成を有する。
Ｃｏ_xＭ_yＦｅ₂Ｏ_Z
（但し、式中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ、ｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）

磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、２２ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）は、好ましくは２０ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上２０ｎｍ以下、さらにより好ましくは１０ｎｍ以上１８ｎｍ以下、特に好ましくは１０ｎｍ以上１６ｎｍ以下、最も好ましくは１０ｎｍ以上１４ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが２２ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープ１において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。磁性粉の平均粒子サイズの算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様である。

磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．０以上２．５以下、さらにより好ましくは１．０以上２．１以下、特に好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。磁性粉の平均アスペクト比の算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均アスペクト比の算出方法と同様である。

磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５６００ｎｍ³以下、より好ましくは２５０ｎｍ³以上４２００ｎｍ³以下、さらにより好ましくは６００ｎｍ³以上３０００ｎｍ³以下、特に好ましくは６００ｎｍ³以上２２００ｎｍ³以下、最も好ましくは６００ｎｍ³以上１５００ｎｍ³以下である。磁性粉の平均粒子体積が５６００ｎｍ³以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２５ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ³以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを８ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。磁性分の平均粒子体積の算出方法は、ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合の平均粒子体積の算出方法と同様である。

（結着剤）
結着剤としては、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反応型樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂としては、例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、塩化ビニル－酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル－エチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム等が挙げられる。

熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。

上記の全ての結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、－ＳＯ₃Ｍ、－ＯＳＯ₃Ｍ、－ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）₂（但し、式中Ｍは水素原子またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属を表す）や、－ＮＲ１Ｒ２、－ＮＲ１Ｒ２Ｒ３⁺Ｘ^-で表される末端基を有する側鎖型アミン、＞ＮＲ１Ｒ２⁺Ｘ^-で表される主鎖型アミン（但し、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は水素原子または炭化水素基を表し、Ｘ^-はフッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン元素イオン、無機イオンまたは有機イオンを表す。）、さらに－ＯＨ、－ＳＨ、－ＣＮ、エポキシ基等の極性官能基が導入されていてもよい。これら極性官能基の結着剤への導入量は、１０^-1～１０^-8モル／ｇであるのが好ましく、１０^-2～１０^-6モル／ｇであるのがより好ましい。

（潤滑剤）
潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルから選ばれる少なくとも１種、好ましくは脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含む。磁性層４３が潤滑剤を含むことが、特には磁性層４３が脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含むことが、磁気テープ１の走行安定性の向上に貢献する。より特には、磁性層４３が潤滑剤を含み且つ細孔を有することによって、良好な走行安定性が達成される。当該走行安定性の向上は、磁気テープ１の磁性層４３側表面の動摩擦係数が上記潤滑剤により、磁気テープ１の走行に適した値へ調整されるためと考えられる。

脂肪酸は、好ましくは下記の一般式（１）または（２）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸として下記の一般式（１）により示される化合物および一般式（２）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。

また、脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式（３）または（４）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸エステルとして下記の一般式（３）により示される化合物および一般式（４）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。

潤滑剤が、一般式（１）に示される化合物および一般式（２）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式（３）に示される化合物および一般式（４）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、を含むことによって、磁気テープ１を繰り返しの記録または再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。

ＣＨ₃（ＣＨ₂）_kＣＯＯＨ ・・・（１）
（但し、一般式（１）において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）

ＣＨ₃（ＣＨ₂）_nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ₂）_mＣＯＯＨ ・・・（２）
（但し、一般式（２）において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）

ＣＨ₃（ＣＨ₂）_pＣＯＯ（ＣＨ₂）_qＣＨ₃ ・・・（３）
（但し、一般式（３）において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）

ＣＨ₃（ＣＨ₂）_rＣＯＯ－（ＣＨ₂）_sＣＨ（ＣＨ₃）₂ ・・・（４）
（但し、一般式（４）において、ｒは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｓは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）

（帯電防止剤）
帯電防止剤としては、例えば、カーボンブラック、天然界面活性剤、ノニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤等が挙げられる。

（研磨剤）
研磨剤としては、例えば、α化率９０％以上のα－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ、炭化ケイ素、酸化クロム、酸化セリウム、α－酸化鉄、コランダム、窒化珪素、チタンカ－バイト、酸化チタン、二酸化珪素、酸化スズ、酸化マグネシウム、酸化タングステン、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、２硫化モリブデン、磁性酸化鉄の原料を脱水、アニール処理した針状α酸化鉄、必要によりそれらをアルミおよび／またはシリカで表面処理したもの等が挙げられる。

（硬化剤）
硬化剤としては、例えば、ポリイソシアネート等が挙げられる。ポリイソシアネートとしては、例えば、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＭＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の脂肪族ポリイソシアネート等が挙げられる。これらポリイソシアネートの重量平均分子量は、１００～３０００の範囲であることが望ましい。

（防錆剤）
防錆剤としては、例えばフェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物等が挙げられる。

（非磁性補強粒子）
非磁性補強粒子として、例えば、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等が挙げられる。

（下地層）
下地層４２は、基材４１の表面の凹凸を緩和し、磁性層４３の表面の凹凸を調整するためのものである。下地層４２は、非磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む非磁性層である。下地層４２は、磁性層４３の表面に潤滑剤を供給する。下地層４２が、必要に応じて、帯電防止剤、硬化剤および防錆剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。

下地層４２の平均厚みは、好ましくは０．３μｍ以上２．０μｍ以下、より好ましくは０．５μｍ以上１．４μｍ以下である。なお、下地層４２の平均厚みは、磁性層４３の平均厚みと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層４２の厚みに応じて適宜調整される。下地層４２の平均厚みが２．０μｍ以下であると、外力による磁気テープ１の伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープ１の幅の調整がさらに容易となる。

（非磁性粉）
非磁性粉は、例えば無機粒子粉または有機粒子粉の少なくとも１種を含む。また、非磁性粉は、カーボンブラック等の炭素粉を含んでいてもよい。なお、１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。

（結着剤、潤滑剤）
結着剤および潤滑剤は、上述の磁性層４３と同様である。

（添加剤）
帯電防止剤、硬化剤および防錆剤はそれぞれ、上述の磁性層４３と同様である。

（バック層）
バック層４４は、結着剤および非磁性粉を含む。バック層４４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。結着剤および非磁性粉は、上述の下地層４２と同様である。

非磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。非磁性粉の平均粒子サイズは、上記の磁性粉の平均粒子サイズと同様にして求められる。非磁性粉が、２以上の粒度分布を有する非磁性粉を含んでいてもよい。

バック層４４の平均厚みの上限値は、好ましくは０．６μｍ以下である。バック層４４の平均厚みの上限値が０．６μｍ以下であると、磁気テープ１の平均厚みが５．６μｍ以下である場合でも、下地層４２や基材４１の厚みを厚く保つことができるので、磁気テープ１の記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層４４の平均厚みの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２μｍ以上である。

バック層４４の平均厚みｔ_bは以下のようにして求められる。まず、磁気テープ１の平均厚みｔ_Tを測定する。平均厚みｔ_Tの測定方法は、以下の「磁気テープの平均厚み」に記載されている通りである。続いて、サンプルのバック層４４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、Mitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値ｔ_B［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層４４の平均厚みｔ_b［μｍ］を求める。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
ｔ_b［μｍ］＝ｔ_T［μｍ］－ｔ_B［μｍ］

バック層４４は、多数の突部が設けられた表面を有している。多数の突部は、磁気テープ１をロール状に巻き取った状態において、磁性層４３の表面に多数の孔部を形成するためのものである。多数の孔部は、例えば、バック層４４の表面から突出された多数の非磁性粒子により構成されている。

（磁気テープの平均厚み）
磁気テープ１の平均厚み（平均全厚）ｔ_Tの上限値が、５．６μｍ以下、好ましくは５．０μｍ以下、より好ましくは４．６μｍ以下、さらにより好ましくは４．４μｍ以下である。磁気テープ１の平均厚みｔ_Tが５．６μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。磁気テープ１の平均厚みｔ_Tの下限値は特に限定されるものではないが、例えば３．５μｍ以上である。

磁気テープ１の平均厚みｔ_Tは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気テープ１を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値ｔ_T［μｍ］を算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。

（保磁力Ｈｃ）
磁気テープ１の長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の上限値が、好ましくは２０００Ｏｅ以下、より好ましくは１９００Ｏｅ以下、さらにより好ましくは１８００Ｏｅ以下である。長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２が２０００Ｏｅ以下であると、高記録密度であっても十分な電磁変換特性を有することができる。

磁気テープ１の長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の下限値が、好ましくは１０００Ｏｅ以上である。長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２が１０００Ｏｅ以上であると、記録ヘッドからの漏れ磁束による減磁を抑制することができる。

上記の保磁力Ｈｃ２は以下のようにして求められる。まず、磁気テープ１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープ１の長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて磁気テープ１の長手方向（走行方向）に対応する測定サンプル（磁気テープ１全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基材４１のみが残される。そして、得られた基材４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）が作製される。その後、ＶＳＭを用いて基材４１の垂直方向（磁気テープ１の垂直方向）に対応する補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループが測定される。

測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループ、補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。

測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループから保磁力Ｈｃ２が求められる。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープ１の長手方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。

（角形比）
磁気テープ１の垂直方向（厚み方向）における磁性層４３の角形比Ｓ１が、好ましくは６５％以上、より好ましくは７０％以上、さらにより好ましくは７５％以上、特に好ましくは８０％以上、最も好ましくは８５％以上である。角形比Ｓ１が６５％以上であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。

垂直方向における角形比Ｓ１は以下のようにして求められる。まず、磁気テープ１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープ１の長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、ＶＳＭを用いて磁気テープ１の垂直方向（厚み方向）に対応する測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基材４１のみが残される。そして、得られた基材４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）とされる。その後、ＶＳＭを用いて基材４１の垂直方向（磁気テープ１の垂直方向）に対応する補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループが測定される。

測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループ、補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。

測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基材４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。

得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）および残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）が以下の式に代入されて、角形比Ｓ１（％）が計算される。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープ１の垂直方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられ
る。
角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００

磁気テープ１の長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２が、好ましくは３５％以下、より好ましくは３０％以下、さらにより好ましくは２５％以下、特に好ましくは２０％以下、最も好ましくは１５％以下である。角形比Ｓ２が３５％以下であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。

長手方向における角形比Ｓ２は、Ｍ－Ｈループを磁気テープ１および基材４１の長手方向（走行方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１と同様にして求められる。

（バック面の表面粗度Ｒb）
バック面の表面粗度（バック層４４の表面粗度）Ｒ_bが、Ｒ_b≦６．０［ｎｍ］であることが好ましい。バック面の表面粗度Ｒ_bが上記範囲であると、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

［サーボパターン記録装置の構成］
続いて、サーボパターン記録装置の構成について説明する。
図３に示すように、磁性層４３は、複数（本実施形態では１２本）のデータバンドｄ（データバンドｄ０～ｄ１１）と、幅方向（Ｙ軸方向）でデータバンドｄを挟み込む位置に配置される複数（本実施形態では１３本）のサーボバンドｓ（サーボバンドｓ０～ｓ１２）とを含む。データバンドｄは、長手方向に長い複数の記録トラック５を含み、この記録トラック５毎にデータが記録される。サーボバンドｓは、サーボパターン記録装置１００によって記録される所定パターンのサーボパターン６を含む。例えば、電子データ等の各種のデータを記録する記録装置（図示せず）の記録ヘッドは、磁気層４に記録されたサーボパターン６を読み取って記録トラック５の位置を認識する。

図１及び図２を参照して、サーボパターン記録装置１００は、磁気テープ１の搬送方向の上流側から順番に、送り出しローラ１１、前処理部１２、サーボライトヘッド１３、再生ヘッド部１４及び巻き取りローラ１５を備える。なお、サーボパターン記録装置１００は、後述するように、サーボライトヘッド１３を駆動する駆動部２０及びコントローラ３０を備えている。コントローラ３０は、サーボパターン記録装置１００の各部を統括的に制御する制御部や、制御部の処理に必要な各種のプログラムやデータが記憶された記録部、データを表示させる表示部、データを入力する入力部などを有する。

送り出しローラ１１は、ロール状の磁気テープ１（サーボパターン６記録前）を回転可能に支持することが可能とされている。送り出しローラ１１は、モータなどの駆動源の駆動に応じて回転され、回転に応じて磁気テープ１を下流側に向けて送り出す。

巻き取りローラ１５は、ロール状の磁気テープ１（サーボパターン６記録後）を回転可能に支持することが可能とされている。巻き取りローラ１５は、モータなどの駆動源の駆動に応じて送り出しローラ１１と同調して回転し、サーボパターン６が記録された磁気テープ１を回転に応じて巻き取っていく。送り出しローラ１１及び巻き取りローラ１５は、搬送経路上において磁気テープ１を一定の速度で移動させることが可能とされている。

サーボライトヘッド１３は、例えば、磁気テープ１の上方側（磁性層４３側）に配置される。なお、サーボライトヘッド１３は、磁気テープ１の下側（基材４１側）に配置されてもよい。サーボライトヘッド１３は、矩形波のパルス信号に応じて所定のタイミングで磁界を発生し、磁気テープ１が有する磁性層４３（前処理後）の一部に対して磁場を印加する。

これにより、サーボライトヘッド１３は、第１の方向に磁性層４３の一部を磁化させて磁性層４３にサーボパターン６を記録する（磁化方向は図２中、黒の矢印参照）。サーボライトヘッド１３は、サーボライトヘッド１３の下側を磁性層４３が通過するときに、１３本のサーボバンドｓ０～ｓ１２に対してそれぞれサーボパターン６を記録することが可能とされている。

サーボパターン６の磁化方向である第１の方向は、磁性層４３の上面に垂直な垂直方向の成分を含む。すなわち、本実施形態では、垂直配向若しくは無配向の磁性粉が磁性層４３に含まれるので、磁性層４３に記録されるサーボパターン６は、垂直方向の磁化成分を含む。

前処理部１２は、例えば、サーボライトヘッド１３よりも上流側において、磁気テープ１の下側（基材４１側）に配置される。前処理部１２は、磁気テープ１の上側（磁性層４３側）に配置されてもよい。前処理部１２は、Ｙ軸方向（テープ１の幅方向）を回転の中心軸として回転可能な永久磁石１２ａを含む。永久磁石１２ａの形状は、例えば、円柱形状や、多角柱形状とされるが、これらに限られない。

永久磁石１２ａは、サーボライトヘッド１３によってサーボパターン６が記録される前に、直流磁界によって磁性層４３の全体に対して磁場を印加して、磁性層４３全体を消磁する。これにより、永久磁石１２ａは、サーボパターン６の磁化方向とは反対方向の第２の方向に予め磁性層４３を磁化させることができる（図２中、白の矢印参照）。このように、２個の磁化方向をそれぞれ反対方向にさせることで、サーボパターン６を読み取ることで得られるサーボ信号の再生波形を上下方向（±）で対称とすることができる。

再生ヘッド部１４は、サーボライトヘッド１３よりも下流側において、磁気テープ１の上側（磁性層４３側）に配置される。再生ヘッド部１４は、前処理部１２によって前処理され、かつ、サーボライトヘッド１３によってサーボパターン６が記録された磁気テープ１の磁性層４３から上記サーボパターン６を読み取る。再生ヘッド部１４によって読み取られたサーボパターン６の再生波形は、表示部の画面上に表示される。典型的には、再生ヘッド部１４は、再生ヘッド部１４の下側を磁性層４３が通過するときに、サーボバンドｓの表面から発生する磁束を検出する。このとき検出された磁束がサーボ信号としてのサーボパターン６の再生波形となる。

［サーボパターン］
サーボパターン６は、例えば、「ＥＣＭＡ－３１９規格」に準拠したデータ構造を有する。図４（Ａ）は、サーボパターン６に埋め込まれるＬＰＯＳワードのデータ構造を示す図であり、図４（Ｂ）は製造業者ワードを説明する図である。

図４（Ａ）に示すように、サーボパターン６には、テープ長手方向に連続的に配置された複数のＬＰＯＳ（Longitudinal position）ワードＬＷが埋め込まれている。各ＬＰＯＳワードＬＷは、その先頭を意味する８ビットの同期マークＳｙ、テープ長手方向における位置（アドレス）を示す６個の４ビット（計２４ビット）からなるＬＰＯＳ値Ｌｓ、及び、４ビットの製造業者データＴｘを有する３６ビットのデータで構成される。

製造業者データＴｘは、磁気テープ１上に製造業者ワードＴＷを形成する。製造業者ワードＴＷは、図４（Ｂ）に示すように、９７個の製造業者データＴｘの長さをもち、９７個のＬＰＯＳワードＬＷを連続的に読み込むことで得られる。製造業者ワードＴＷは、次のように構成される。
製造業者ワードＴＷ：Ｄ、Ａ０、Ａ１、Ａ０、Ａ１、・・・、Ａ０、Ａ１

最初の製造業者データＴｘである「Ｄ」は、製造業者ワードＴＷの先頭であることを示すシンボルであり、これには所定のテーブルで変換された４ビットのデータ（典型的には、「０００１」）が書き込まれている。

２番目以降の９６個の製造業者データＴｘは「Ａ０」及び「Ａ１」が交互に配列されたものからなり、隣接する２個の「Ａ０」及び「Ａ１」は一組のシンボル対を形成する。各シンボル対「Ａ０」及び「Ａ１」には、「Ｄ」以外の任意の１３個の基本シンボル（典型的には、０、１、２、３、４、５、６、７、８、９、Ａ、Ｂ、Ｃ）がそれぞれ書き込まれている。これら１３個の基本シンボルもまた、上記所定のテーブルで変換された４ビットのデータからなる。そして、当該１３個の基本シンボルのうち特定の２個の基本シンボル（上記シンボル対に相当）の組み合わせに応じて定まる１つのシンボル（以下、ＬＰＯＳ記録値ともいう）が特定される。

ＬＰＯＳ記録値は、８ビットのデータからなる。シンボル対を形成する２個の基本シンボルは、同種の組み合わせ（例えば、０、０）であってもよいし、異種の組み合わせ（例えば、０、１）であってもよい。

以上のように構成される９６個の製造業者データＴｘには、典型的には、ＬＰＯＳ記録値によって表せられる製造者情報、磁気テープの製造日やシリアル番号などの管理情報のほか、サーボバンドを識別するためのサーボバンド識別情報などが埋め込まれている。

図５（Ａ）はサーボパターン６の配置例を示す概略平面図、図５（Ｂ）はその再生波形を示す図である。

タイミングベースサーボ方式のヘッドトラッキングサーボでは、サーボパターンは、２種以上の異なる形状の複数の方位角傾斜（azimuthal slope）パターンを含む。異種の形状の２個の傾斜パターンを読み取った時間間隔と、同種の形状の２個の傾斜パターンを読み取った時間間隔とにより、サーボライトヘッドの位置を認識する。こうして認識されたサーボライトヘッドの位置に基づき、磁気テープの幅方向における磁気ヘッド（再生ヘッドあるいは記録ヘッド）の位置が制御される。

図５（Ａ）に示すように、サーボパターン６は、第１サーボサブフレームＳＳＦ１と、第２サーボサブフレームＳＳＦ２とを有するサーボフレームＳＦを形成する。サーボフレームＳＦは、テープ長手方向に沿って所定の間隔をおいて連続的に配列される。各サーボフレームＳＦは、「１」又は「０」の一つのビットを符号化する。つまり、１つのサーボフレームＳＦは、１ビットに相当する。

第１サーボサブフレームＳＳＦ１は、Ａバースト６ａとＢバースト６ｂとにより構成される。Ａバースト６ａは、テープ長手方向に対して第１の方向に傾斜した５本の直線パターンからなり、Ｂバースト６ｂは、テープ長手方向に上記第１の方向とは逆の第２の方向に傾斜した５本の直線パターンからなる。

一方、第２サーボサブフレームＳＳＦ２は、Ｃバースト６ｃとＤバースト６ｄとにより構成される。Ｃバースト６ｃは、上記第１の方向に傾斜した４本の直線パターンからなり、Ｄバースト６ｄは、上記第２の方向に傾斜した４本の直線パターンからなる。

サーボフレームＳＦ及び各サーボサブフレームＳＳＦ１、ＳＳＦ２の長さ、各バースト６ａ～６ｄを傾斜する傾斜部の配列間隔等は、磁気テープの種類や仕様等に応じて任意に設定可能である。

サーボパターン６の再生波形は、典型的には図５（Ｂ）に示すようなバースト波形を示し、信号Ｓ６ａはＡバースト６ａに、信号Ｓ６ｂはＢバースト６ｂに、信号Ｓ６ｃはＣバースト６ｃに、そして、信号Ｓ６ｄはＤバースト６ｄに、それぞれ相当する。

タイミングベースサーボ方式のヘッドトラッキングサーボでは、一のデータバンドに隣接する２個のサーボバンド上のサーボパターン６を読み取ることで、位置誤差信号（ＰＥＳ：Position Error Signal）を生成し、当該データバンド内の記録トラックに対する記録再生ヘッドを適切に位置決めする。典型的には、所定速度で走行する磁気テープからサーボパターン６を読み取り、互いに同種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト６ａとＣバースト６ｃとの間の距離（時間間隔）ＡＣと、互いに異種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト６ａとＢバースト６ｂとの間の距離（時間間隔）ＡＢとの比（あるいは、Ｃバースト６ｃとＡバースト６ａとの距離ＣＡと、Ｃバースト６ｃとＤバースト６ｄとの距離ＣＤとの比）を算出し、その値が記録トラックごとに定められた設定値となるように磁気ヘッドをテープ幅方向に移動させる。

［データバンドの特定］
各サーボバンドｓ（ｓ０～ｓ１２）には、サーボバンド識別情報が書き込まれる。各データバンドについてサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせが異なる。ここでは図３に示すように、各サーボバンドｓを、磁気テープ１の一方のエッジ部（図において上縁部）から他方のエッジ部（図において下縁部）に向かって順番にｓ０、ｓ１、・・・、ｓ１２と表記する。

サーボバンドｓ０～ｓ１２のうち、サーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２には、同じサーボバンド識別情報（第１のサーボバンド識別情報）が書き込まれる。サーボバンドｓ０、ｓ２に記録されるサーボパターン６の端部（サーボライトヘッドによる書き込み開始位置、あるいは記録再生装置のドライブヘッド部のサーボリードヘッドによる読み込み開始位置。以下同じ）は、テープ幅方向（Ｙ軸方向）に平行な仮想線Ｐ１に整列して配置される。これに対して、サーボバンドｓ０とサーボバンドｓ２の間に位置するサーボバンドｓ１に記録されるサーボパターン６の端部は、仮想線Ｐ１に対してテープ長手方向に所定距離シフトした仮想線Ｐ２上に配置される。なお、以下の説明では、仮想線Ｐ１に対応する位置を第１の位相ともいい、仮想線Ｐ２に対応する位置を第２の位相ともいう。

サーボバンドｓ０～ｓ１２のうち、サーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５には、同じサーボバンド識別情報（第２のサーボバンド識別情報）が書き込まれる。サーボバンドｓ３、ｓ５に記録されるサーボパターン６の端部は、テープ幅方向（Ｙ軸方向）に平行な仮想線Ｐ１（第１の位相）に整列して配置される。これに対して、サーボバンドｓ３とサーボバンドｓ５の間に位置するサーボバンドｓ４に記録されるサーボパターン６の端部は、仮想線Ｐ１に対してテープ長手方向に所定距離シフトした仮想線Ｐ２（第２の位相）上に配置される。

サーボバンドｓ０～ｓ１２のうち、サーボバンドｓ６、ｓ７、ｓ８には、同じサーボバンド識別情報（第３のサーボバンド識別情報）が書き込まれる。サーボバンドｓ６、ｓ８に記録されるサーボパターン６の端部は、テープ幅方向（Ｙ軸方向）に平行な仮想線Ｐ１（第１の位相）に整列して配置される。これに対して、サーボバンドｓ６とサーボバンドｓ８の間に位置するサーボバンドｓ７に記録されるサーボパターン６の端部は、仮想線Ｐ１に対してテープ長手方向に所定距離シフトした仮想線Ｐ２（第２の位相）上に配置される。

サーボバンドｓ０～ｓ１２のうち、サーボバンドｓ９、ｓ１０、ｓ１１には、同じサーボバンド識別情報（第４のサーボバンド識別情報）が書き込まれる。サーボバンドｓ９、ｓ１１に記録されるサーボパターン１０の端部は、テープ幅方向（Ｙ軸方向）に平行な仮想線Ｐ１（第１の位相）に整列して配置される。これに対して、サーボバンドｓ９とサーボバンドｓ１１の間に位置するサーボバンドｓ１０に記録されるサーボパターン６の端部は、仮想線Ｐ１に対してテープ長手方向に所定距離シフトした仮想線Ｐ２（第２の位相）上に配置される。

サーボバンドｓ０～ｓ１２のうち、サーボバンドｓ１２には、サーボバンド識別情報（第１のサーボバンド識別情報）が書き込まれる。サーボバンドｓ１２に記録されるサーボパターン１０の端部は、テープ幅方向（Ｙ軸方向）に平行な仮想線Ｐ１（第１の位相）に整列して配置される。

記録再生装置のドライブヘッド部について図１８を参照して説明する。図１８に示すように、ドライブヘッド部３６は、磁気テープ１のデータバンド（記録トラック５）にデータ信号の記録／再生を行う複数のデータライト／リードヘッド１３３と、サーボバンドに記録されたサーボパターン６を読み込む２つのサーボリードヘッド１３２ａ，１３２ｂとを有する。ドライブヘッド部３６がデータ信号の記録／再生を行うとき、２つのサーボリードヘッド１３２ａ，１３２ｂのうち一方のサーボリードヘッド１３２ａは、隣接する２つのサーボバンドｓのうち一方のサーボバンドｓ（ｓａ）上に位置し、このサーボバンドｓ（ｓａ）上のサーボパターン６を読み取るように構成される。また、２つのサーボリードヘッド１３２ａ，１３２ｂのうち他方のサーボリードヘッド１３２ｂは、隣接する２つのサーボバンドｓのうち他方のサーボバンドｓ（ｓｂ）上に位置し、このサーボバンドｓ（ｓｂ）上のサーボパターン６を読み取るように構成される。

データバンドの特定に際しては、記録再生装置のドライブヘッド部３６に取り付けられた２つのサーボリードヘッド１３２ａ，１３２ｂにより読み出される２本のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とそのテープ長手方向の位相との組み合わせが参照される。ここでは、一方のサーボリードヘッド１３２ａで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその位相との組（第１の組）と、他方のサーボリードヘッド１３２ｂで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその位相との組（第２の組）との間の組み合わせは、全てのサーボバンドにわたって異なり、個々のデータバンドに対応付けられた固有のものである。したがって以下のように、隣り合う２つのサーボバンドのサーボバンド識別情報と位相との組どうしの組み合わせを参照することで、データバンドの特定が可能となる。

データバンドｄ１１に隣接する２本のサーボバンドｓ０、ｓ１のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第１のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第１のサーボバンド識別情報、第２の位相）である。

データバンドｄ９に隣接する２本のサーボバンドｓ１、ｓ２のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第１のサーボバンド識別情報、第２の位相）及び（第１のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ７に隣接する２本のサーボバンドｓ２、ｓ３のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第１のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第２のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ５に隣接する２本のサーボバンドｓ３、ｓ４のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第２のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第２のサーボバンド識別情報、第２の位相）である。

データバンドｄ３に隣接する２本のサーボバンドｓ４、ｓ５のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第２のサーボバンド識別情報、第２の位相）及び（第２のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ１に隣接する２本のサーボバンドｓ５、ｓ６のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第２のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第３のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ０に隣接する２本のサーボバンドｓ６、ｓ７のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第３のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第３のサーボバンド識別情報、第２の位相）である。

データバンドｄ２に隣接する２本のサーボバンドｓ７、ｓ８のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第３のサーボバンド識別情報、第２の位相）及び（第３のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ４に隣接する２本のサーボバンドｓ８、ｓ９のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第３のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第４のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ６に隣接する２本のサーボバンドｓ９、ｓ１０のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第４のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第４のサーボバンド識別情報、第２の位相）である。

データバンドｄ８に隣接する２本のサーボバンドｓ１０、ｓ１１のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第４のサーボバンド識別情報、第２の位相）及び（第４のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

データバンドｄ１０に隣接する２本のサーボバンドｓ１１、ｓ１２のサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせは、（第４のサーボバンド識別情報、第１の位相）及び（第１のサーボバンド識別情報、第１の位相）である。

このように、本実施形態によれば、同じサーボバンド識別情報がそれぞれ記録された３本以上（本例では３本）の連続するサーボバンドｓにおいて、隣り合う２本のサーボバンドｓに記録されるサーボバンド識別情報の長手方向の位相の組み合わせが全て異なる。例えば、第１のサーボバンド識別情報がそれぞれ記録された３本の連続するｓ０、ｓ１、ｓ２において、隣り合う２本のサーボバンド（ｓ０、ｓ１）及び（ｓ１、ｓ２）の位相の組み合わせ（第１の位相、第２の位相）及び（第２の位相、第１の位相）が全て異なる。

さらに、異なるサーボバンド識別情報が記録される隣り合う２本のサーボバンド間においてサーボバンド識別情報の組み合わせが全て異なる。例えば、２本のサーボバンドｓ２、ｓ３のサーボバンド識別情報の組み合わせは、（第１のサーボバンド識別情報、第２のサーボバンド識別情報）である。２本のサーボバンドｓ５、ｓ６のサーボバンド識別情報の組み合わせは、（第２のサーボバンド識別情報、第３のサーボバンド識別情報）である。２本のサーボバンドｓ８、ｓ９のサーボバンド識別情報の組み合わせは、（第３のサーボバンド識別情報、第４のサーボバンド識別情報）である。２本のサーボバンドｓ１１、ｓ１２のサーボバンド識別情報の組み合わせは、（第４のサーボバンド識別情報、第１のサーボバンド識別情報）である。これらのサーボバンド識別情報の組み合わせは全て異なる。

このように、本実施形態によれば、同じサーボバンド識別情報がそれぞれ記録された３本以上（本例では３本）の連続するサーボバンドｓにおいて、隣り合う２本のサーボバンドｓに記録されるサーボバンド識別情報の長手方向の位相の組み合わせが全て異なる。且つ、異なるサーボバンド識別情報が記録される隣り合う２本のサーボバンド間においてサーボバンド識別情報の組み合わせが全て異なる。その結果、隣り合う２本のサーボバンドｓに記録されるサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせが、全て異なる。これにより、１本のデータバンドｄに隣接する２本のサーボバンドｓから得られるサーボバンド識別情報及び位相の組み合わせを、他のデータバンドに隣接する２本のサーボバンドから得られるサーボバンド識別情報と異ならせることにより、個々のデータバンドの特定が可能となる。

さらに本実施形態においては、記録再生するべきデータバンドｄ０～ｄ１１を特定するために、４種類のサーボバンドが用いられる。上述のように、サーボバンドには、サーボバンド識別情報が埋め込まれる。サーボバンド識別情報は、複数ビットの情報であり、製造業者ワードＴＷにおける２番目以降の９６個の製造業者データＴｘの所定位置に埋め込まれる。サーボバンド識別情報は、典型的には、４ビットであるが、８ビット（シンボル対「Ａ０」及び「Ａ１」の組み合わせ）であってもよいし、４ビット及び８ビット以外の他の複数ビットであってもよい。以下、サーボバンド識別情報が４ビットである場合を例に挙げて説明する。

［サーボバンド識別情報］
本実施形態において、上記４種類のサーボバンドは、第１のサーボバンド識別情報が記録される第１のサーボバンドと、第２のサーボバンド識別情報が記録される第２のサーボバンドと、第３のサーボバンド識別情報が記録される第３のサーボバンドと、第４のサーボバンド識別情報が記録される第４のサーボバンドとを有する。第１のサーボバンド識別情報は、４ビットの情報（例えば「１００１」）である。第２のサーボバンド識別情報は、第１のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば、「０１１１」）である。第３のサーボバンド識別情報は、第１及び第２のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば「０１１０」）である。第４のサーボバンド識別情報は、第１、第２及び第３のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば「０１０１」）である。

第１乃至第４のサーボバンド識別情報を構成する符号「０」、「１」の組み合わせは、サーボパターン６の再生波形から識別される。つまり、サーボパターン６の再生波形は、符号「０」、「１」の変調波に相当し、当該再生波形を復調し、且つ、例えば４ビット組み合わせることで、第１乃至第４のサーボバンド識別情報が読み出される。以下、例として、第１乃至第４のサーボバンド識別情報のうち、第１及び第２のサーボバンド識別情報について、図７及び図８を参照して説明する。

図７（Ａ）、（Ｂ）は、第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれるサーボパターン（以下、第１のサーボパターン６１ともいう）及び第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれるサーボパターン（以下、第２のサーボパターン６２ともいう）の構成例を示す概略図である。同図に示すように、第１のサーボパターン６１及び第２のサーボパターン６２はいずれも、一方の符号（例えば「１」）を表すサーボフレームＳＦ１と、他方の符号（例えば「０」）を表すサーボフレームＳＦ０とを含む２種のサーボフレームＳＦの組み合わせからなる。各サーボフレームＳＦ１、ＳＦ０は、第１サーボサブフレームＳＳＦ１及び第２サーボサブフレームＳＳＦ２からなるサーボフレームＳＦを構成単位とする点で共通するが、第１サーボサブフレームＳＳＦ１（Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂ）が相互に異なる。

図７（Ａ）に示すように、符号「１」を表すサーボフレームＳＦ１においては、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂをそれぞれ構成する５本の傾斜パターンを図中左側から順に第１傾斜部、第２傾斜部、第３傾斜部、第４傾斜部及び第５傾斜部としたとき、第２、第４傾斜部がそれぞれ第１、第５傾斜部側に偏った位置に配置される。これに対して、図７（Ｂ）に示すように、符号「０」を表すサーボフレームＳＦ０においては、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂを構成する傾斜パターンの一部の配列間隔がサーボフレームＳＦ１と異なっている。図示の例では、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂをそれぞれ構成する５本の傾斜パターンは、第２、第４傾斜部がそれぞれ第３傾斜部側に偏った位置に配置される。このため、サーボフレームＳＦ０におけるＡバースト６ａ及びＢバースト６ｂについては、第２傾斜部と第３傾斜部、並びに第３傾斜部と第４傾斜部との間隔が最も小さく、第１傾斜部と第２傾斜部、並びに第４傾斜部と第５傾斜部との間隔が最も大きくなっている。

図８（Ａ）、（Ｂ）は、第１のサーボパターン６１及び第２のサーボパターン６２の再生波形ＳＰ１、ＳＰ２をそれぞれ示している。各サーボフレームＳＦ１、ＳＦ０の再生波形は、各バースト６ａ～６ｄ各々の傾斜部に対応する位置にピークを有するバースト信号で構成される。上述のように、サーボフレームＳＦ０については、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂの構成がサーボフレームＳＦ１のＡバースト６ａ及びＢバースト６ｂと異なるため、その異なる傾斜部の間隔に対応してバースト信号Ｓ６ａ及びＳ６ｂのピーク位置にずれが生じる。したがって、このピーク位置のずれが生じている部位とそのずれ量、ずれ方向を検出することにより、サーボフレームＳＦに書き込まれた情報の読み出しが可能となる。ここでは例えば、図８（Ａ）に示すサーボフレームＳＦ１が１つのビット「１」を表し、図８（Ｂ）に示すサーボフレームＳＦ０が他の１つのビット「０」を表す。これら２個のサーボフレームＳＦ１、ＳＦ０を任意に例えば４ビット組み合わせることで、第１及び第２のサーボバンド識別情報を構成することができる。

以上の説明では、Ａバースト及びＢバースト６ｂの第２、第４傾斜部の記録位置を異ならせたが、これに限られず、Ａバースト６ａ、Ｂバースト６ｂ、Ｃバースト６ｃ及びＤバースト６ｄの少なくとも１つを異ならせればよいし、記録位置を異ならせる傾斜部も第２、第４傾斜部に限られない。すなわち、サーボフレームＳＦを構成する２種以上の異なる複数の方位角傾斜の少なくとも一部の配列間隔が異なっていれば、ビットの識別が可能となる。これらの例えば４ビットのビット列がサーボフレームＳＦ１とサーボフレームＳＦ０との間で異なっていればよい。

サーボフレームＳＦ１、ＳＦ０を構成する方位角傾斜の角度や配列間隔は特に限定されず、テープ幅やサーボバンドの数等に応じて任意に設定可能である。例えば、距離ＡＢ及びＡＣは、３０μｍ以上１００μｍ以下、各方位角傾斜のテープ幅方向に対する傾斜角は、６°以上２５°以下、各方位角傾斜のテープ幅方向における長さは、３０μｍ以上１９２μｍ以下とすることができる。

本実施形態の磁気テープ１は、第１のサーボバンド識別情報が記録された３本の第１のサーボバンドＡ（第１のサーボバンド群ＳＢ１）と、第２のサーボバンド識別情報が記録された３本の第２のサーボバンドＢ（第２のサーボバンド群ＳＢ２）と、第３のサーボバンド識別情報が記録された３本の第３のサーボバンドＣ（第３のサーボバンド群ＳＢ３）と、第４のサーボバンド識別情報が記録された３本の第４のサーボバンドＤ（第４のサーボバンド群ＳＢ４）と、第１のサーボバンド識別情報が記録された１本の別の第１のサーボバンドＡと、を有する（図６参照）。図３の例では、サーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２が第１のサーボバンドＡに相当し、サーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５が第２のサーボバンドＢに相当し、サーボバンドｓ６、ｓ７、ｓ８が第３のサーボバンドＣに相当し、サーボバンドｓ９、ｓ１０、ｓ１１が第４のサーボバンドＤに相当し、サーボバンドｓ１２が別の第１のサーボバンドＡに相当する。

図６は、図３に示した１３ｃｈ（チャンネル。サーボバンドの本数）のサーボバンドを有する磁気テープ１におけるサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの割り当てと、第１及び第２の位相Ｐ１、Ｐ２とを示す模式図である。同図に示すように、隣り合うサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ及び位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが、以下の様に、それぞれ、データバンドｄ１１、ｄ９、ｄ７、ｄ５、ｄ３、ｄ１、ｄ０、ｄ２、ｄ４、ｄ６、ｄ８、ｄ１０に相当する。下記の通り、隣り合うサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ及び位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせは、全て異なる。つまり、上述のように、隣り合う２つのサーボバンドのうち、一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報と位相との組（第１の組）と、他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報と位相との組（第２の組）どうしの組み合わせが、重複しないように設定される。

第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ１１
第１の組（Ａ、Ｐ２）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ９
第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ７
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ２）＝ｄ５
第１の組（Ｂ、Ｐ２）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ３
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ１
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ２）＝ｄ０
第１の組（Ｃ、Ｐ２）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ２
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｄ、Ｐ１）＝ｄ４
第１の組（Ｄ、Ｐ１）、第２の組（Ｄ、Ｐ２）＝ｄ６
第１の組（Ｄ、Ｐ２）、第２の組（Ｄ、Ｐ１）＝ｄ８
第１の組（Ｄ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ１０

図９は、一実施例に係る、１７ｃｈのサーボバンドを有する磁気テープ１の場合における図６と同様な模式図である。

１７ｃｈの場合は、第１乃至第４のサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄのほか、これら第１乃至第４のサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとは異なるサーボバンド識別情報が記録される３本の第５のサーボバンドＥ（第５のサーボバンド群ＳＢ５）及び２本の第６のサーボバンドＦ（第６のサーボバンド群ＳＢ６）を有する。第５のサーボバンドＥには、第５のサーボバンド識別情報として、第１乃至第４のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば「０１００」）を含む第５のサーボパターンが記録される。第６のサーボバンドＦには、第６のサーボバンド識別情報として、第１乃至第５のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報を含む第６のサーボパターンが記録される。第５及び第６のサーボバンド識別情報は、サーボフレームＳＦ１及びサーボフレームＳＦ０の組み合わせを第１乃至第４のサーボバンド識別情報のそれらと異ならせることで任意に設定することができる。１７ｃｈのサーボバンドを有する磁気テープ１の場合も、下記の通り、隣り合うサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ及び位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせは、全て異なる。

第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ１５
第１の組（Ａ、Ｐ２）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ１３
第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ１１
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ２）＝ｄ９
第１の組（Ｂ、Ｐ２）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ７
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ５
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ２）＝ｄ３
第１の組（Ｃ、Ｐ２）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ１
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｄ、Ｐ１）＝ｄ０
第１の組（Ｄ、Ｐ１）、第２の組（Ｄ、Ｐ２）＝ｄ２
第１の組（Ｄ、Ｐ２）、第２の組（Ｄ、Ｐ１）＝ｄ４
第１の組（Ｄ、Ｐ１）、第２の組（Ｅ、Ｐ１）＝ｄ６
第１の組（Ｅ、Ｐ１）、第２の組（Ｅ、Ｐ２）＝ｄ８
第１の組（Ｅ、Ｐ２）、第２の組（Ｅ、Ｐ１）＝ｄ１０
第１の組（Ｅ、Ｐ１）、第２の組（Ｆ、Ｐ１）＝ｄ１２
第１の組（Ｆ、Ｐ１）、第２の組（Ｆ、Ｐ１）＝ｄ１４

図１０Ａは、別の一実施例に係る、１３ｃｈのサーボバンドを有する磁気テープ１の場合における図６と同様な模式図である。

本実施例は、図６と同じ１３ｃｈである。図６との違いは、同じサーボバンド識別情報がそれぞれ記録されたサーボバンドが、３本ではなく４本連続する点である。例えば、同じ第１のサーボバンド識別情報が記録される第１のサーボバンドＡが４本連続する。その結果、同じ１３ｃｈであっても、第４のサーボバンドＤが不要となり、第１乃至第３のサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃの３種類で足りる。この場合も、下記の通り、隣り合うサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ及び位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせは、全て異なる。

第１の組（Ａ、Ｐ２）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ１１
第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ９
第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ７
第１の組（Ａ、Ｐ２）、第２の組（Ｂ、Ｐ２）＝ｄ５
第１の組（Ｂ、Ｐ２）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ３
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ１
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ２）＝ｄ０
第１の組（Ｂ、Ｐ２）、第２の組（Ｃ、Ｐ２）＝ｄ２
第１の組（Ｃ、Ｐ２）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ４
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ６
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ２）＝ｄ８
第１の組（Ｃ、Ｐ２）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ１０

図１０Ｂは、別の一実施例に係る、１３ｃｈのサーボバンドを有する磁気テープ１の場合における図６と同様な模式図である。

本実施例は、図１０Ａと同じ１３ｃｈである。図１０Ａと同じく、同じサーボバンド識別情報がそれぞれ記録されたサーボバンドが、３本ではなく４本連続する。図１０Ａとの違いは、位相がＰ１、Ｐ２、Ｐ３の３種類である点である。この場合も、下記の通り、隣り合うサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ及び位相Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の組み合わせは、全て異なる。

第１の組（Ａ、Ｐ２）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ１１
第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ１）＝ｄ９
第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ３）＝ｄ７
第１の組（Ａ、Ｐ３）、第２の組（Ｂ、Ｐ２）＝ｄ５
第１の組（Ｂ、Ｐ２）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ３
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ１
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ３）＝ｄ０
第１の組（Ｂ、Ｐ３）、第２の組（Ｃ、Ｐ２）＝ｄ２
第１の組（Ｃ、Ｐ２）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ４
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ６
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ３）＝ｄ８
第１の組（Ｃ、Ｐ３）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ１０

図１０Ｃは、別の一実施例に係る、１３ｃｈのサーボバンドを有する磁気テープ１の場合における図６と同様な模式図である。

本実施例は、図６と同じ１３ｃｈである。図６と同じく、同じサーボバンド識別情報がそれぞれ記録されたサーボバンドが、３本連続する。図６との違いは、位相がＰ１、Ｐ２、Ｐ３の３種類である点である。位相Ｐ３は、位相Ｐ２に対して位相Ｐ１とは反対側にテープ長手方向に所定量シフトした位置に設定される。この場合も、下記の通り、隣り合うサーボバンドＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ及び位相Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の組み合わせは、全て異なる。

第１の組（Ａ、Ｐ１）、第２の組（Ａ、Ｐ３）＝ｄ１１
第１の組（Ａ、Ｐ３）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ９
第１の組（Ａ、Ｐ２）、第２の組（Ｂ、Ｐ１）＝ｄ７
第１の組（Ｂ、Ｐ１）、第２の組（Ｂ、Ｐ３）＝ｄ５
第１の組（Ｂ、Ｐ３）、第２の組（Ｂ、Ｐ２）＝ｄ３
第１の組（Ｂ、Ｐ２）、第２の組（Ｃ、Ｐ１）＝ｄ１
第１の組（Ｃ、Ｐ１）、第２の組（Ｃ、Ｐ３）＝ｄ０
第１の組（Ｃ、Ｐ３）、第２の組（Ｃ、Ｐ２）＝ｄ２
第１の組（Ｃ、Ｐ２）、第２の組（Ｄ、Ｐ１）＝ｄ４
第１の組（Ｄ、Ｐ１）、第２の組（Ｄ、Ｐ３）＝ｄ６
第１の組（Ｄ、Ｐ３）、第２の組（Ｄ、Ｐ２）＝ｄ８
第１の組（Ｄ、Ｐ２）、第２の組（Ａ、Ｐ２）＝ｄ１０

第１乃至第６のサーボバンドＡ～Ｆの割り当て例は図９、図１０Ａ、図１０Ｂ及び図１０Ｃに示す例に限られない、例えば、１３ｃｈの場合において、図１０Ａ及び図１０Ｂの様にサーボバンドを図中上からＡＡＡＡＢＢＢＢＣＣＣＣＡとする代わりに、ＡＡＡＡＢＢＢＢＣＣＣＣＢとしてもよい。

図６、図９、図１０Ａ、図１０Ｂ及び図１０Ｃの例から明らかなように、本実施形態によれば、サーボバンド識別情報の数は、サーボバンドの数の半分未満の数（（サーボバンド数／２）－１）で足りる。サーボバンド識別情報の数は、１３ｃｈの場合は例えば３個（図１０Ａ、図１０Ｂ）又は４個（図６、図１０Ｃ）、１７ｃｈの場合は例えば６個（図９）である。

以上のように本実施形態の磁気テープ１は、第１のサーボバンド識別情報が記録された３本以上の連続する第１のサーボバンドＡと、第２のサーボバンド識別情報が記録された３本以上の連続する第２のサーボバンドＢとを少なくとも有する。３本以上の連続する第１のサーボバンドＡに含まれる隣り合う２本の第１のサーボバンドＡに記録される第１のサーボバンド識別情報の長手方向の位相Ｐの組み合わせが全て異なる。３本以上の連続する第２のサーボバンドＢに含まれる隣り合う２本の第２のサーボバンドＢに記録される第２のサーボバンド識別情報の長手方向の位相Ｐの組み合わせが全て異なる。その結果、隣り合うサーボバンドｓ及び位相Ｐの組み合わせが全て異なる。これにより、本実施形態の磁気テープ１は、データバンドｄを挟む一対のサーボバンドｓのサーボバンド識別情報及び位相Ｐの組み合わせの相違に基づいてデータバンドｄが特定されるように構成される。これにより、データバンド数の増加に伴うサーボバンド識別情報の増加が抑えられ、データバンドの増加に容易に対応することが可能となる。また、個々のサーボバンドに固有のサーボバンド識別情報を付する必要がないため、サーボバンド識別情報の種類の増加が抑えられるとともに、各サーボバンドへのサーボバンド識別情報の割り当てを容易に行うことができる。

［サーボパターン記録装置の詳細］
続いて、サーボパターン記録装置１００の詳細について説明する。

サーボパターン記録装置１００は、図１に示すように、サーボライトヘッド１３を駆動する駆動部２０を有する。図１１は、サーボライトヘッド１３の構成を概略的に示す斜視図、図１２は、駆動部２０の構成を示すブロック図である。

図１１に示すように、サーボライトヘッド１３は、磁気テープ１（図３、図６）の各サーボバンドｓ０～ｓ１２にサーボパターン６を記録するための複数のヘッドブロックｈ０～ｈ４を有する。各ヘッドブロックｈ０～ｈ４は、接着層ｈｓを介して相互に接合される。

第１のヘッドブロックｈ０は、磁気テープ１の３本の連続する第１のサーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２（図６のＡ）に対応して配置され、第１のサーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２に第１のサーボパターンを記録するための３個の第１の磁気ギャップｇ１を有する。３個の第１の磁気ギャップｇ１に含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップｇ１の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第１の磁気ギャップｇ１が配置される。

第２のヘッドブロックｈ１は、磁気テープ１の３本の連続する第２のサーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５（図６のＢ）に対応して配置され、第２のサーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５に第２のサーボパターンを記録するための３個の第２の磁気ギャップｇ２を有する。３個の第２の磁気ギャップｇ２に含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップｇ２の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第２の磁気ギャップｇ２が配置される。

第３のヘッドブロックｈ２は、磁気テープ１の３本の連続する第３のサーボバンドｓ６、ｓ７、ｓ８（図６のＣ）に対応して配置され、第３のサーボバンドｓ６、ｓ７、ｓ８に第３のサーボパターンを記録するための３個の第３の磁気ギャップｇ３を有する。３個の第３の磁気ギャップｇ３に含まれる隣り合う２個の第３の磁気ギャップｇ３の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第３の磁気ギャップｇ３が配置される。

第４のヘッドブロックｈ３は、磁気テープ１の３本の連続する第４のサーボバンドｓ９、ｓ１０、ｓ１１（図６のＤ）に対応して配置され、第４のサーボバンドｓ９、ｓ１０、ｓ１１に第４のサーボパターンを記録するための３個の第４の磁気ギャップｇ４を有する。３個の第４の磁気ギャップｇ４に含まれる隣り合う２個の第４の磁気ギャップｇ４の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第４の磁気ギャップｇ４が配置される。

別の第１のヘッドブロックｈ４は、磁気テープ１の１本の別の第１のサーボバンドｓ１２（図６のＡ）に対応して配置され、第１のサーボバンドｓ１２に第１のサーボパターンを記録するための１個の第１の磁気ギャップｇ１を有する。

磁気ギャップｇは、相互に逆方向に傾斜する一対の直線部（「／」及び「＼」）からなり、一方の直線部「／」はＡバースト６ａ及びＣバースト６ｃを、他方の直線部「＼」はＢバースト６ｂ及びＤバースト６ｄをそれぞれ記録する。各ヘッドブロックｈ０～ｈ４の磁気ギャップｇは、サーボライトヘッド１３の長手方向に平行な軸線Ｐ１、Ｐ２上に整列するように配置される。各ヘッドブロックｈ０～ｈ４は相互に磁気的に分離されており、２個以上のサーボバンドに同一のタイミングで異なる種類のサーボパターンを記録可能に構成される。

駆動部２０は、コントローラ３０（図１参照）からの出力に基づき、サーボ情報をパルス情報に変換する変換器２１と、変換器２１の出力に基づいてパルス信号を生成する信号生成部２２と、生成されたパルス信号を増幅する増幅器２３とを有する。信号生成部２２及び増幅器２３は、各ヘッドブロックｈ０～ｈ４に対応して複数ずつ設けられており、各ヘッドブロックｈ０～ｈ４に固有のパルス信号を出力することが可能に構成される。

コントローラ３０は、第１のサーボバンド識別情報を記録するべき第１のサーボバンドの位置（本例では、ｓ０、ｓ１、ｓ２）と、第２のサーボバンド識別情報を記録するべき第２のサーボバンドの位置（本例では、ｓ３、ｓ４、ｓ５）と、第３のサーボバンド識別情報を記録するべき第３のサーボバンドの位置（本例では、ｓ６、ｓ７、ｓ８）と、第４のサーボバンド識別情報を記録するべき第４のサーボバンドの位置（本例では、ｓ９、ｓ１０、ｓ１１）と、第１のサーボバンド識別情報を記録するべき別の第１のサーボバンドの位置（本例では、ｓ１２）とに関するデータを格納したメモリを備える。コントローラ３０は、当該メモリに格納されたデータに基づいて、駆動部２０を制御する。

変換器２１は、各サーボバンドｓ０～ｓ１２に記録するべきサーボバンド識別情報に対応する情報を各ヘッドブロックｈ０～ｈ４に対応する信号生成部２２へ個々に出力する。本実施形態では、変換器２１は、第１のサーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２、ｓ１２に対応する第１のヘッドブロックｈ０及びｈ４に第１のサーボバンド識別情報を含む第１のサーボパターン６１（図７（Ａ））を記録するための第１のパルス信号ＰＳ１（第１の記録信号）を出力する。変換器２１は、第２のサーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５に対応する第２のヘッドブロックｈ１に第２のサーボバンド識別情報を含む第２のサーボパターン６２（図７（Ｂ））を記録するための第２のパルス信号ＰＳ２（第２の記録信号）を出力する。変換器２１は、第３のサーボバンドｓ６、ｓ７、ｓ８に対応する第３のヘッドブロックｈ２に第３のサーボバンド識別情報を含む第３のサーボパターン（図３）を記録するための第３のパルス信号（第３の記録信号）を出力する。変換器２１は、第４のサーボバンドｓ９、ｓ１０、ｓ１１に対応する第４のヘッドブロックｈ３に第４のサーボバンド識別情報を含む第４のサーボパターン（図３）を記録するための第４のパルス信号（第４の記録信号）を出力する。以下、例として、第１乃至第４のパルス信号のうち、第１及び第２のパルス信号について、図１３（Ａ）、（Ｂ）を参照して説明する。

図１３（Ａ）、（Ｂ）に、第１のパルス信号ＰＳ１及び第２のパルス信号ＰＳ２における第１サーボサブフレームＳＳＦ１の記録信号波形をそれぞれ模式的に示す。同図に示すように、第１及び第２のパルス信号ＰＳ１、ＰＳ２は、５つのパルス群からなる第１パルス群ＳＰＦ１と、４つのパルス群からなる第２パルス群ＳＰＦ２とを含む。第１パルス群ＳＰＦ１は、Ａバースト６ａの各傾斜部を記録するための信号であり、第２パルス群ＳＰＦ２は、Ｂバースト６ｂの各傾斜部を記録するための信号である。

同図に示すように、第１のパルス信号ＰＳ１と第２のパルス信号ＰＳ２との間には、第１パルス群ＳＰＦ１における２番目及び４番目のパルスの立ち上がり時刻が異なっており、パルス信号ＰＳ２の方がパルス信号ＰＳ１よりも２番目のパルスの立ち上がり時刻が遅く、４番目のパルスの立ち上がり時刻が早い。これにより、図７（Ａ）、（Ｂ）に示したようなＡバースト６ａの傾斜部の配列間隔の一部が相互に相違する第１サーボサブフレームＳＳＦ１が形成される。第１のサーボバンド識別情報乃至第４のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する。

さらに、第１のパルス信号ＰＳ１と第２のパルス信号ＰＳ２は、それぞれ同一のタイミングでヘッドブロックｈ０、ｈ４とヘッドブロックｈ１に送信される。これにより、各ヘッドブロックｈ０、ｈ１、ｈ４において第１のサーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２、ｓ１２には第１のサーボパターン６１（第１のサーボバンド識別情報）が、第２のサーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５には第２のサーボパターン６２（第２のサーボバンド識別情報）が同一のタイミングで記録される。

以上に、例として、第１及び第２のパルス信号について説明したが、第３及び第４のパルス信号も同様である。即ち、第３のパルス信号の一部のパルスの立ち上がり時刻は、第１、第２及び第４のパルス信号の、このパルスの立ち上がり時刻と異なる。第４のパルス信号の一部のパルスの立ち上がり時刻は、第１、第２及び第３のパルス信号の、このパルスの立ち上がり時刻と異なる。第１乃至第４のパルス信号は、それぞれ同一のタイミングで各ヘッドブロックｈ０乃至ｈ４に送信される。これにより、各ヘッドブロックｈ０乃至ｈ４において第１乃至第４のサーボバンドｓ０－ｓ１２に、第１乃至第４のサーボパターン（サーボバンド識別情報）が同一のタイミングで記録される。

図１１に示すように、第１のヘッドブロックｈ０において、３個の第１の磁気ギャップｇ１に含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップｇ１の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第１の磁気ギャップｇ１が配置される。第２のヘッドブロックｈ１において、３個の第２の磁気ギャップｇ２に含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップｇ２の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第２の磁気ギャップｇ２が配置される。第３のヘッドブロックｈ２において、３個の第３の磁気ギャップｇ３に含まれる隣り合う２個の第３の磁気ギャップｇ３の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第３の磁気ギャップｇ３が配置される。第４のヘッドブロックｈ３において、３個の第４の磁気ギャップｇ４に含まれる隣り合う２個の第４の磁気ギャップｇ４の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個の第４の磁気ギャップｇ４が配置される。

このため、第１乃至第４のパルス信号がそれぞれ同一のタイミングで各ヘッドブロックｈ０乃至ｈ４に巻かれたコイルに送信される場合、その誘導磁場で各ヘッドブロックｈ０乃至ｈ４が同一のタイミングで磁化される。第１のヘッドブロックｈ０に着目すると、磁化されたヘッドブロックｈ０に形成された３個の第１の磁気ギャップｇ１から同一のタイミングで漏れ磁界が発生する。３個の第１の磁気ギャップｇ１の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２が異なることから、サーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２に第１のサーボパターン６１（第１のサーボバンド識別情報）が異なる位相Ｐ１、Ｐ２で、同一のタイミングで記録される。他のヘッドブロックｈ１乃至ｈ４も同様である。即ち、磁化されたヘッドブロックｈ０乃至ｈ４に形成された１３個の磁気ギャップｇ１乃至ｇ４から同一のタイミングで漏れ磁界が発生する。１３個の磁気ギャップｇ１乃至ｇ４の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２が異なることから、サーボバンドｓ０乃至ｓ１２に第１乃至第４のサーボパターン（第１乃至第４のサーボバンド識別情報）が異なる位相Ｐ１、Ｐ２で、同一のタイミングで記録される。

図１４は、上述したサーボパターン記録方法を説明するフローチャートである。

まず、サーボライトヘッド１３を準備する（ＳＴ１００）。サーボライトヘッド１３は、複数のヘッドブロックｈ０～ｈ４を有する。各ヘッドブロックｈ０～ｈ４は、３個以上の磁気ギャップｇを有する。３個以上の磁気ギャップｇに含まれる隣り合う２個の磁気ギャップｇの長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせが全て異なるように、３個以上の磁気ギャップｇが配置される。

サーボバンドの数（ｃｈ数）及びヘッドブロックｈの数に応じたサーボパターンが決定される（ＳＴ１０１）。本実施形態では、１３ｃｈのサーボバンドｓ０～ｓ１２を有する磁気テープ１に５個のヘッドブロックｈ０～ｈ４を有するサーボライトヘッド１３を用いてサーボパターンを記録するため、サーボバンド識別情報が相互に異なる４種類のサーボパターン（第１乃至第４のサーボパターンが決定される。サーボパターンの決定は、例えば、コントローラ３０に備えられた入力部を介して入力され、上記メモリへ格納される。

続いて、第１乃至第４のサーボバンド識別情報が記録される３個以上の連続する第１乃至第４のサーボバンドＡ乃至Ｄを決定する（ＳＴ１０２）。本実施形態では、上述のように、サーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ２、ｓ１２を第１のサーボバンドＡとして決定し、サーボバンドｓ３、ｓ４、ｓ５を第２のサーボバンドＢとして決定し、サーボバンドｓ６、ｓ７、ｓ８を第３のサーボバンドＣとして決定し、サーボバンドｓ９、ｓ１０、ｓ１１を第４のサーボバンドＤとして決定される。各サーボバンドＡ乃至Ｄの決定は、例えば、コントローラ３０に備えられた入力部を介して入力される。

続いて、駆動部２０によりサーボライトヘッド１３へ第１乃至第４のパルス信号が同一のタイミングで入力されることで、第１乃至第４のサーボバンドＡ乃至Ｄに第１乃至第４のサーボバンド識別情報を含む第１乃至第４のサーボパターンが記録される（ＳＴ１０３）。上述のように、各ヘッドブロックｈ０～ｈ４が有する１３個の磁気ギャップｇ１乃至ｇ４の長手方向（Ｘ方向）の位相Ｐ１、Ｐ２が異なることから、サーボバンドｓ０乃至ｓ１２に第１乃至第４のサーボパターン（第１乃至第４のサーボバンド識別情報）が異なる位相Ｐ１、Ｐ２で、同一のタイミングで記録される。これにより、図３に示した磁気テープ１が作製される。

［サーボライトヘッド］
次に、サーボライトヘッド１３の具体的な構成について詳細に説明する。図１５は、サーボライトヘッド１３を磁気テープ１側から見た斜視図である。図１６は、図１５に示すサーボライトヘッド１３のＸＺ平面の断面図である。図１７は、サーボライトヘッド１３の上部を側方から見た模式的な部分拡大図である。

サーボライトヘッド１３において、長さ方向（Ｙ軸方向）は、磁気テープ１の幅方向に対応し、幅方向（Ｘ軸方向）は、磁気テープ１の長さ方向及び磁気テープ１の走行方向に対応する。また、サーボライトヘッド１３において、高さ方向（Ｚ軸方向）は、磁気テープ１の厚さ方向に対応する。

これらの図に示すように、サーボライトヘッド１３は、ヘッドブロック２０と、シールドケース５０と、複数のコイル６０とを備えている。

シールドケース５０は、サーボライトヘッド１３が有するコイル６０から発生する磁界が外部の他の部品に悪影響を与えないように、コイル６０からの磁界をシールドする。また、シールドケース５０は、外部の他の部品から発生する磁界がコイル６０に悪影響を与えないように、外部からの磁界をシールドする。

シールドケース５０の上部には、ヘッドブロック２０をシールドケース５０から露出させるための開口５１が設けられている。また、シールドケース５０の下部には、コイル６０と繋がる導線６１をシールドケース５０の外部に引き出すための開口が設けられている。

ヘッドブロック２０の上部において、幅方向（Ｘ軸方向）の中央近傍には、長さ方向（Ｙ軸方向）に沿って、磁気テープ１に対向する対向部２１が設けられている。対向部２１の表面は、平坦面とされている。この対向部２１の表面を本明細書中において、記録面２２と呼ぶ。この記録面２２は、走行する磁気テープ１に対向して、記録面２２に設けられた磁気ギャップｇにより磁気テープ１に対してサーボパターン６を記録する。

ヘッドブロック２０は、ヘッドブロック２０の核となるコア部４０と、磁気ギャップｇが形成されるベースとなるベース部４５と、対向部２１の表面を構成する薄膜部４６とを備えている（特に、図１６、図１７参照）。薄膜部４６は、金属磁性膜である。なお、上述の記録面２２は、実際には、薄膜部４６の表面に対応する。

コア部４０の上部における幅方向（Ｘ軸方向）の中央近傍には、長さ方向（Ｙ軸方向）に沿って上下方向に貫通する開口４９が形成されている。ベース部４５は、コア部４０の上部に形成された開口４９を埋めるように、この開口４９に配置されている。

ベース部４５の材料としては、ヘッドブロック２０製造時において各種の接合のためや、薄膜部４６の磁気特性確保のために熱処理が施されることを考慮して、高融点である硬質の非磁性材料（各種ガラス材料、各種セラミック材料）が用いられる。

薄膜部４６は、対向部２１の全領域に設けられている。薄膜部４６は、例えば、Ｆｅ系微結晶、ＮｉＦｅ、あるいは、これらに類似した高飽和磁束密度を有するその他の軟磁性合金によって構成されている。また、薄膜部４６の厚さは、数μｍとされている。

薄膜部４６には、磁気ギャップｇに対応する位置に、磁気ギャップｇに対応する形状の開口２７が設けられている。この開口２７は、薄膜部４６を上下方向に貫通するように薄膜部４６に設けられている。この開口２７には、非磁性材料が埋め込まれており、この非磁性材料の上面は、薄膜部４６の表面（記録面２２）と同じ高さとなっており、また、非磁性材料の下面は、ベース部４５の上面と接続されている。薄膜部４６に埋め込まれたこの非磁性材料により、磁気ギャップｇが形成される。

コイル６０によりコア部４０が励磁されると、薄膜部４６に埋め込まれた非磁性材料（磁気ギャップｇ）が、薄膜部４６を通過しようとする磁束を妨げることにより、磁気ギャップｇの位置で漏れ磁界が発生する。この漏れ磁界によってサーボバンドｓに対してサーボパターン６を書き込むことが可能とされている。

コア部４０は、複数のヘッドブロックｈ０～ｈ４を含む。複数のヘッドブロックｈ０～ｈ４は、磁性体材料により構成されている。磁性体材料としては、例えば、単結晶フェライトや多結晶フェライトなどのフェライト材料、センダストなどの軟磁性合金材料が用いられる。フェライト材料としては、例えば、Ｍｎ－Ｚｎ系フェライト等が挙げられる。

５個のヘッドブロックｈ０～ｈ４の下部には、それぞれ個別の導線６１がコイル状に巻回されて、ヘッドブロックｈ０～ｈ４毎にそれぞれ個別のコイル６０が形成されている。

５個のコイル６０に対しては、それぞれ個別のパルス信号が供給可能とされており、５個のヘッドブロックｈ０～ｈ４を個別に励磁することが可能とされている。これにより、５個のヘッドブロックｈ０～ｈ４は、それぞれ、サーボバンドｓに対して異なるタイミングでサーボパターン６を書き込むことが可能とされている。

［結語］
以上のように本実施形態によれば、各サーボバンドｓ０～ｓ１２に記録されるサーボパターン６及び位相Ｐ１、Ｐ２の組み合わせは、全て異なる。これにより、本実施形態の磁気テープ１は、データバンドｄを挟む一対のサーボバンドｓのサーボバンド識別情報及び位相Ｐの組み合わせの相違に基づいてデータバンドｄが特定されるように構成される。これにより、データバンド数の増加に伴うサーボバンド識別情報の増加が抑えられ、データバンドの増加に容易に対応することが可能となる。また、個々のサーボバンドに固有のサーボバンド識別情報を付する必要がないため、サーボバンド識別情報の種類の増加が抑えられるとともに、各サーボバンドへのサーボバンド識別情報の割り当てを容易に行うことができる。このため、データバンドの増加に伴うサーボバンドの増加にも十分に対応することが可能となる。また、１３ｃｈの場合、位相は２種類だけで足りるため、ＰＥＳが有する位相差の影響を最小限に抑えつつ、各サーボバンドｓ０～ｓ１２上のサーボパターン６を高精度に検出することができる。
また、サーボバンドの本数の増加により個々のデータバンドの幅を狭めることができるため、温湿度環境の変化などによる磁気テープ１の形状変化が抑制される。これにより、長期にわたって安定したデータの読み出し又は書き込みが可能になる。

また本実施形態によれば、サーボサブフレームＳＳＦ１内の傾斜部の一部の配列間隔を異ならせることで複数種類のサーボフレームＳＦ１、ＳＦ０を形成するようにしているため、トラッキング制御に支障を来すことなく、各サーボバンドに対応するサーボバンド識別情報を適切に取得することができる。

さらに本実施形態によれば、サーボバンド識別情報の種類をサーボバンドの数の半分未満の数とすることができるため、記録情報の簡素化を図ることが可能となり、これにより、サーボバンドに関する情報の書き込み及び読み取りに必要なメモリの使用量を低減することができる。

また、高記録密度を達成するためには、小さく磁気特性が高い磁性粒子を使うことになるが、そのような磁性粉を使った磁性層にサーボ信号を記録するためには、記録ヘッドに大きな電流を流す必要がある。大きな電流を流すためには太いコイル電線にして、巻き数を増やす必要があるため、サーボバンドは、できるだけまとめてコイルの本数を減らして、大きな電流を流せるようにすることが重要になる。本実施形態では、１個のコイルを用いて、３本以上の連続するサーボバンドに同一のタイミングで異なる位相のサーボバンドを記録するため、コイルの本数が少なくて済む。

具体的には、ヘッドブロックの数を１／２インチ（テープ状磁気記録媒体の幅の長さ）当たり最大でも６個として、１個のヘッドブロックあたり３トラック以上を１個のコイルで書き込めるようにすることで、１０本以上のサーボバンドを書き込めるサーボライトヘッドを実現できる。

サーボ信号内にサーボバンド識別情報を信号の形で書き込むことと、記録位置を長手方向にずらし位相を変える方法の両方を使うことで１０本以上のサーボバンドを同一のタイミングで書き込むサーボライトヘッドを作成することができる。１０本以上のデータバンドでも確実に位置を特定することが可能になる。

現在のリニアサーペンタイン方式のテープシステムにおいて記録密度を高める必要がある中、トラック密度の向上が重要な課題となっている。例えばＬＴＯにおいて、カートリッジ容量が３０ＴＢを超えるような記録密度である場合、本実施形態によれば、以下のスペックを実現することが可能である。
線記録密度：５８０ｋｆｃｉ以上
トラック密度：２５ｋｔｐｉ以上
テープ全厚：５．１ｕｍ以下
Ｂｉｔ体積：３６０００００立方ｎｍ以下

［変形例］
本技術の各実施形態及び各変形例について上に説明したが、本技術は上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。

例えば、サーボパターン６を構成するサーボフレームＳＦの方位角傾斜（アジマス角）は、例えば１１°以上３６°以下、好ましくは、１１°以上２６°以下とすることができる。また、上記方位角傾斜を「／」及び「＼」の２種類としたが、これらとは傾斜角が異なる方位角傾斜がサーボパターンにさらに含まれてもよい。

以上の実施形態では、テープ状磁気記録媒体として、ＬＴＯ規格に準拠した磁気テープを例に挙げて説明したが、他の規格の磁気テープにも同様に適用可能である。

以上の実施形態では、典型的には、各ヘッドブロックｈ０～ｈ４は、３個の磁気ギャップｇが形成された１個のヘッドブロックである。これに代えて、各ヘッドブロックｈ０～ｈ４は、３個の磁気ギャップｇがそれぞれ形成された３個の分割ヘッドブロック（不図示）が接合されて作成されてもよい。この場合、接合された３個の分割ヘッドブロックが共通のコイルで巻かれ、コイルからの誘導磁界で３個の分割ヘッドブロックが同一のタイミングで磁化される。

また、４個の磁気ギャップｇが形成された１個のヘッドブロックを、２個の磁気ギャップｇが形成された２個の分割ヘッドブロック（不図示）が接合されて作成されてもよい。この場合、接合された２個の分割ヘッドブロックが個別にコイルで巻かれ、各コイルからの誘導磁界で４個の分割ヘッドブロックが異なるタイミングで磁化されてもよい。これにより、例えば、１３ｃｈの場合において、図１０Ａ及び図１０Ｂの様にサーボバンドを図中上からＡＡＡＡＢＢＢＢＣＣＣＣＡとする代わりに、ＡＡＡＡＢＢＢＢＡＡＣＣＢ、ＡＡＡＡＢＢＢＢＣＣＢＢＡ等とすることができる。

本開示は、以下の各構成を有してもよい。

（１） テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録する方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンを記録すべき３本以上の第１のサーボバンドで構成された第１のサーボバンド群と、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンを記録すべき３本以上の第２のサーボバンドで構成された第２のサーボバンド群と、を決定し、
隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド群に前記第１のサーボバンド識別情報を記録し、前記第２のサーボバンド群に前記第２のサーボバンド識別情報を記録する
サーボパターンの記録方法。
（２）上記（１）に記載のサーボパターンの記録方法であって、
前記第１のサーボバンド群は、３本以上の連続する第１のサーボバンドで構成され、
前記第２のサーボバンド群は、３本以上の連続する第２のサーボバンドで構成される
サーボパターンの記録方法。
（３）上記（１）又は（２）に記載のサーボパターンの記録方法であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第３のサーボパターンを記録すべき３本以上の第３のサーボバンドで構成された第３のサーボバンド群をさらに決定する
サーボパターンの記録方法。
（４）上記（３）に記載のサーボパターンの記録方法であって、
前記第３のサーボバンド群は、３本以上の連続する第３のサーボバンドで構成される
サーボパターンの記録方法。
（５）上記（３）又は（４）に記載のサーボパターンの記録方法であって、
前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第４のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第４のサーボパターンを記録すべき３本以上の第４のサーボバンドで構成された第４のサーボバンド群をさらに決定する
サーボパターンの記録方法。
（６）上記（５）に記載のサーボパターンの記録方法であって、
前記第４のサーボバンド群は、３本以上の連続する第４のサーボバンドで構成される
サーボパターンの記録方法。
（７） テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録する装置であって、
３本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第１の磁気ギャップであって、前記３個以上の第１の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第１の磁気ギャップを有する第１のヘッドブロックと、
３本以上の連続する第２のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第２の磁気ギャップであって、前記３個以上の第２の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第２の磁気ギャップを有する第２のヘッドブロックと、
を有するサーボライトヘッドと、
前記第１のヘッドブロックに対して複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号を、且つ、前記第２のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するための第２の記録信号を、同一のタイミングで出力する駆動部と、
を具備するサーボパターン記録装置。
（８）上記（７）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記サーボライトヘッドは、３本以上の連続する第３のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第３の磁気ギャップであって、前記３個以上の第３の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第３の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第３の磁気ギャップを有する第３のヘッドブロックをさらに有し、
前記駆動部は、前記第３のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報を記録するための第３の記録信号を前記同一のタイミングでさらに出力する
サーボパターン記録装置。
（９）上記（８）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記サーボライトヘッドは、前記第１のヘッドブロックと隣り合わない別の第１のヘッドブロックをさらに有し、前記別の第１のヘッドブロックは、１本又は２本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された１個又は２個以上の前記第１の磁気ギャップを有し、隣り合う２個の前記第１のヘッドブロック、前記第２のヘッドブロック、前記第３のヘッドブロック及び前記別の第１のヘッドブロックの組み合わせが全て異なり、
前記駆動部は、前記別の第１のヘッドブロックに対して前記第１の記録信号を前記同一のタイミングでさらに出力する
サーボパターン記録装置。
（１０）上記（７）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記第１の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第１のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記第２の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報と前記第２のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号と前記第２の記録信号とを互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する
サーボパターン記録装置。
（１１）上記（８）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記第１の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第１のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記第２の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記第３の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第３のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号、前記第２の記録信号及び前記第３の記録信号を互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する
サーボパターン記録装置。
（１２）上記（７）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記第１のヘッドブロックは、前記３個以上の第１の磁気ギャップが形成された１個のヘッドブロックであり、
前記第２のヘッドブロックは、前記３個以上の第２の磁気ギャップが形成された１個のヘッドブロックである
サーボパターン記録装置。
（１３）上記（７）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記第１のヘッドブロックは、前記３個以上の第１の磁気ギャップがそれぞれ形成された３個以上の第１の分割ヘッドブロックが接合されてなり、
前記第２のヘッドブロックは、前記３個以上の第２の磁気ギャップがそれぞれ形成された３個以上の第２の分割ヘッドブロックが接合されてなる
サーボパターン記録装置。
（１４） 長手方向に延在する６本以上のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体の製造方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンを記録すべき３本以上の第１のサーボバンドで構成された第１のサーボバンド群と、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンを記録すべき３本以上の第２のサーボバンドで構成された第２のサーボバンド群と、を決定し、
隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド群に前記第１のサーボバンド識別情報を記録し、前記第２のサーボバンド群に前記第２のサーボバンド識別情報を記録する
テープ状磁気記録媒体の製造方法。
（１５） 長手方向に延在する複数本のサーボバンドを有する磁性層を具備し、
前記磁性層は、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンが記録された３本以上の第１のサーボバンドを含む第１のサーボバンド群と、
前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンが記録された３本以上の第２のサーボバンドを含む第２のサーボバンド群と、を有し、
隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが全て異なる
テープ状磁気記録媒体。
（１６）上記（１５）に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド群は、３本以上の連続する第１のサーボバンドで構成され、
前記第２のサーボバンド群は、３本以上の連続する第２のサーボバンドで構成される
テープ状磁気記録媒体。
（１７）上記（１５）又は（１６）に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記磁性層は、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第３のサーボパターンが記録された３本以上の第３のサーボバンドを含む第３のサーボバンド群をさらに有する
テープ状磁気記録媒体。
（１８）上記（１７）に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記第３のサーボバンド群は、３本以上の連続する第３のサーボバンドで構成される
テープ状磁気記録媒体。
（１９）上記（１７）又は（１８）に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記磁性層は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第４のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第４のサーボパターンが記録された３本以上の第４のサーボバンドを含む第４のサーボバンド群をさらに有する
テープ状磁気記録媒体。
（２０）上記（１９）に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記第４のサーボバンド群は、３本以上の連続する第４のサーボバンドで構成される
テープ状磁気記録媒体。
（２１）上記（１５）～（２０）のいずれか１つに記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
テープ状磁気記録媒体。
（２２）上記（１７）に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第３のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームと、前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
テープ状磁気記録媒体。
（２３）上記（１５）～（２２）のいずれか１つに記載のテープ状磁気記録媒体であって、
基材と、
前記基材の一方の主面と前記磁性層との間に設けられた下地層と、
前記基材の他方の主面上に設けられたバック層と、
をさらに具備するテープ状磁気記録媒体。
（２４） テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録するのに用いられるサーボライトヘッドであって、
３本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第１の磁気ギャップであって、前記３個以上の第１の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第１の磁気ギャップを有する第１のヘッドブロックと、
３本以上の連続する第２のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第２の磁気ギャップであって、前記３個以上の第２の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第２の磁気ギャップを有する第２のヘッドブロックと、
を具備し、
前記第１のヘッドブロックに対して複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号が、且つ、前記第２のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するための第２の記録信号が、同一のタイミングで出力される
サーボライトヘッド。

１…磁気テープ
４…磁性層
６…サーボパターン
１３…サーボライトヘッド
２０…駆動部
３０…コントローラ
６１…第１のサーボパターン
６２…第２のサーボパターン
１００…サーボパターン記録装置
ｄ０～ｄ１１…データバンド
ｓ０～ｓ１２…サーボバンド
ＳＦ、ＳＦ１、ＳＦ０…サーボフレーム

Claims (24)

1. テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録する方法であって、
   複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンを記録すべき３本以上の第１のサーボバンドで構成された第１のサーボバンド群と、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンを記録すべき３本以上の第２のサーボバンドで構成された第２のサーボバンド群と、を決定し、
   隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド群に前記第１のサーボバンド識別情報を記録し、前記第２のサーボバンド群に前記第２のサーボバンド識別情報を記録する
   サーボパターンの記録方法。
2. 請求項１に記載のサーボパターンの記録方法であって、
   前記第１のサーボバンド群は、３本以上の連続する第１のサーボバンドで構成され、
   前記第２のサーボバンド群は、３本以上の連続する第２のサーボバンドで構成される
   サーボパターンの記録方法。
3. 請求項１に記載のサーボパターンの記録方法であって、
   前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第３のサーボパターンを記録すべき３本以上の第３のサーボバンドで構成された第３のサーボバンド群をさらに決定する
   サーボパターンの記録方法。
4. 請求項３に記載のサーボパターンの記録方法であって、
   前記第３のサーボバンド群は、３本以上の連続する第３のサーボバンドで構成される
   サーボパターンの記録方法。
5. 請求項３に記載のサーボパターンの記録方法であって、
   前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第４のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第４のサーボパターンを記録すべき３本以上の第４のサーボバンドで構成された第４のサーボバンド群をさらに決定する
   サーボパターンの記録方法。
6. 請求項５に記載のサーボパターンの記録方法であって、
   前記第４のサーボバンド群は、３本以上の連続する第４のサーボバンドで構成される
   サーボパターンの記録方法。
7. テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録する装置であって、
   ３本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第１の磁気ギャップであって、前記３個以上の第１の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第１の磁気ギャップを有する第１のヘッドブロックと、
   ３本以上の連続する第２のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第２の磁気ギャップであって、前記３個以上の第２の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第２の磁気ギャップを有する第２のヘッドブロックと、
   を有するサーボライトヘッドと、
   前記第１のヘッドブロックに対して複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号を、且つ、前記第２のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するための第２の記録信号を、同一のタイミングで出力する駆動部と、
   を具備するサーボパターン記録装置。
8. 請求項７に記載のサーボパターン記録装置であって、
   前記サーボライトヘッドは、３本以上の連続する第３のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第３の磁気ギャップであって、前記３個以上の第３の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第３の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第３の磁気ギャップを有する第３のヘッドブロックをさらに有し、
   前記駆動部は、前記第３のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報を記録するための第３の記録信号を前記同一のタイミングでさらに出力する
   サーボパターン記録装置。
9. 請求項８に記載のサーボパターン記録装置であって、
   前記サーボライトヘッドは、前記第１のヘッドブロックと隣り合わない別の第１のヘッドブロックをさらに有し、前記別の第１のヘッドブロックは、１本又は２本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された１個又は２個以上の前記第１の磁気ギャップを有し、隣り合う２個の前記第１のヘッドブロック、前記第２のヘッドブロック、前記第３のヘッドブロック及び前記別の第１のヘッドブロックの組み合わせが全て異なり、
   前記駆動部は、前記別の第１のヘッドブロックに対して前記第１の記録信号を前記同一のタイミングでさらに出力する
   サーボパターン記録装置。
10. 請求項７に記載のサーボパターン記録装置であって、
    前記第１の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第１のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
    前記第２の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
    前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報と前記第２のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号と前記第２の記録信号とを互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する
    サーボパターン記録装置。
11. 請求項８に記載のサーボパターン記録装置であって、
    前記第１の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第１のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
    前記第２の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
    前記第３の磁気ギャップは、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、前記第３のサーボバンド識別情報として記録することが可能であり、
    前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号、前記第２の記録信号及び前記第３の記録信号を互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する
    サーボパターン記録装置。
12. 請求項７に記載のサーボパターン記録装置であって、
    前記第１のヘッドブロックは、前記３個以上の第１の磁気ギャップが形成された１個のヘッドブロックであり、
    前記第２のヘッドブロックは、前記３個以上の第２の磁気ギャップが形成された１個のヘッドブロックである
    サーボパターン記録装置。
13. 請求項７に記載のサーボパターン記録装置であって、
    前記第１のヘッドブロックは、前記３個以上の第１の磁気ギャップがそれぞれ形成された３個以上の第１の分割ヘッドブロックが接合されてなり、
    前記第２のヘッドブロックは、前記３個以上の第２の磁気ギャップがそれぞれ形成された３個以上の第２の分割ヘッドブロックが接合されてなる
    サーボパターン記録装置。
14. 長手方向に延在する６本以上のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体の製造方法であって、
    複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンを記録すべき３本以上の第１のサーボバンドで構成された第１のサーボバンド群と、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンを記録すべき３本以上の第２のサーボバンドで構成された第２のサーボバンド群と、を決定し、
    隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド群に前記第１のサーボバンド識別情報を記録し、前記第２のサーボバンド群に前記第２のサーボバンド識別情報を記録する
    テープ状磁気記録媒体の製造方法。
15. 長手方向に延在する複数本のサーボバンドを有する磁性層を具備し、
    前記磁性層は、
    複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第１のサーボパターンが記録された３本以上の第１のサーボバンドを含む第１のサーボバンド群と、
    前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第２のサーボパターンが記録された３本以上の第２のサーボバンドを含む第２のサーボバンド群と、を有し、
    隣り合う２本のサーボバンドにおいて、第１のサーボリードヘッドで読み出される一方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第１の組と、第２のサーボリードヘッドで読み出される他方のサーボバンドにおけるサーボバンド識別情報とその前記長手方向の位相との組である第２の組との組み合わせが全て異なる
    テープ状磁気記録媒体。
16. 請求項１５に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記第１のサーボバンド群は、３本以上の連続する第１のサーボバンドで構成され、
    前記第２のサーボバンド群は、３本以上の連続する第２のサーボバンドで構成される
    テープ状磁気記録媒体。
17. 請求項１５に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記磁性層は、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第３のサーボパターンが記録された３本以上の第３のサーボバンドを含む第３のサーボバンド群をさらに有する
    テープ状磁気記録媒体。
18. 請求項１７に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記第３のサーボバンド群は、３本以上の連続する第３のサーボバンドで構成される
    テープ状磁気記録媒体。
19. 請求項１７に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記磁性層は、前記第１のサーボバンド識別情報、前記第２のサーボバンド識別情報及び前記第３のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第４のサーボバンド識別情報が埋め込まれる第４のサーボパターンが記録された３本以上の第４のサーボバンドを含む第４のサーボバンド群をさらに有する
    テープ状磁気記録媒体。
20. 請求項１９に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記第４のサーボバンド群は、３本以上の連続する第４のサーボバンドで構成される
    テープ状磁気記録媒体。
21. 請求項１５に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
    前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
    前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
    テープ状磁気記録媒体。
22. 請求項１７に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
    前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
    前記第３のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
    前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームと、前記第３のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
    テープ状磁気記録媒体。
23. 請求項１５に記載のテープ状磁気記録媒体であって、
    基材と、
    前記基材の一方の主面と前記磁性層との間に設けられた下地層と、
    前記基材の他方の主面上に設けられたバック層と、
    をさらに具備するテープ状磁気記録媒体。
24. テープ状磁気記録媒体の長手方向に沿ってサーボパターンを記録するのに用いられるサーボライトヘッドであって、
    ３本以上の連続する第１のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第１の磁気ギャップであって、前記３個以上の第１の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第１の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第１の磁気ギャップを有する第１のヘッドブロックと、
    ３本以上の連続する第２のサーボバンドに対応して配置された３個以上の第２の磁気ギャップであって、前記３個以上の第２の磁気ギャップに含まれる隣り合う２個の第２の磁気ギャップの前記長手方向の位相の組み合わせが全て異なるように配置された３個以上の第２の磁気ギャップを有する第２のヘッドブロックと、
    を具備し、
    前記第１のヘッドブロックに対して複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号が、且つ、前記第２のヘッドブロックに対して前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するための第２の記録信号が、同一のタイミングで出力される
    サーボライトヘッド。

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