WO2024070719A1 - 磁気記録媒体およびカートリッジ - Google Patents

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WO2024070719A1
WO2024070719A1 PCT/JP2023/033476 JP2023033476W WO2024070719A1 WO 2024070719 A1 WO2024070719 A1 WO 2024070719A1 JP 2023033476 W JP2023033476 W JP 2023033476W WO 2024070719 A1 WO2024070719 A1 WO 2024070719A1
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servo
magnetic tape
magnetic
recording medium
magnetic recording
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PCT/JP2023/033476
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実 山鹿
貴広 高山
博司 森田
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ソニーグループ株式会社
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    • G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers

Definitions

  • This technology relates to a magnetic recording medium and a cartridge equipped with the same.
  • tape-type magnetic recording media With high total capacity are being incorporated into cloud systems.
  • Current tape-type magnetic recording media have a narrower environmental temperature range for actual operation and storage than HDDs (Hard Disk Drives) and semiconductor memory, so there is a demand for expanding the environmental temperature range for actual operation and storage of tape-type magnetic recording media. It is believed that if tape-type magnetic recording media could be used in the same temperature environment as HDDs and semiconductor memory, the range of uses for tape-type magnetic recording media would be greatly expanded.
  • Patent Document 1 proposes a tape-type magnetic recording medium that can correct width changes by adjusting the longitudinal tension of the tape-type magnetic recording medium using a recording and playback device, even if the width dimension of the tape-type magnetic recording medium changes due to environmental changes. Furthermore, in order to deal with width changes in tape-type magnetic recording media, Patent Document 2 proposes positioning the data write head at an angle relative to the width direction of the tape-type magnetic recording medium.
  • Patent Document 1 proposes a technology for correcting width changes by adjusting the longitudinal tension of a tape-like magnetic recording medium, but this technology does not assume storage or running in a high-temperature environment. Therefore, when a conventional tape-like magnetic recording medium is stored or run in a high-temperature environment, there is a risk that the width change of the tape-like magnetic recording medium will exceed the range that can be corrected by adjusting the running tension, making it difficult to correct the width change.
  • the main objective of this technology is to provide a magnetic recording medium that is suitable for storage and running in high-temperature environments.
  • the present technology provides a tape-shaped magnetic recording medium, in which an absolute value of an average width change of the magnetic recording medium before and after being left stationary for 40 hours in an environment of a temperature of 50°C and a relative humidity of 40% RH with a tension of 0.55 N applied in the longitudinal direction per 1/2 inch of the width of the magnetic recording medium is 170 ppm or less, and the average tension responsiveness to longitudinal tension in an environment of a temperature of 50°C and a relative humidity of 40% RH is 700 ppm/N or more, the magnetic recording medium has a plurality of servo bands in which servo patterns including a first servo pattern and a second servo pattern asymmetric with respect to the width direction of the magnetic recording medium are written, and the servo patterns in adjacent servo bands have a phase difference.
  • the average tension response may be 715 ppm/N or more and 15,000 ppm/N or less.
  • the absolute value of the average width change may be 150 ppm or less.
  • the magnetic recording medium may sequentially comprise a substrate, an underlayer, and a magnetic layer, and the substrate may include polyesters.
  • the polyesters may include at least one selected from the group consisting of polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate.
  • the magnetic layer may be a vacuum thin film.
  • the magnetic layer may be a coating film.
  • the magnetic layer may include a magnetic powder, and the magnetic powder may include an ⁇ iron oxide magnetic powder, a hexagonal ferrite magnetic powder, or a Co-containing spinel ferrite magnetic powder.
  • the magnetic recording medium may have an average thickness of 5.3 ⁇ m or less.
  • the squareness ratio of the magnetic layer in the longitudinal direction of the magnetic recording medium may be 35% or less.
  • the magnetic layer may have five or more servo bands.
  • the servo band may have a width of 98 ⁇ m or less.
  • the magnetic layer may be configured to allow the formation of a plurality of data tracks, and the width of the data tracks may be 1100 nm or less.
  • the first servo pattern may be inclined at a first angle with respect to the width direction of the magnetic recording medium, and the second servo pattern may be inclined at a second angle different from the first angle in a direction opposite to the first angle with respect to the width direction of the magnetic recording medium.
  • the first servo pattern and the second servo pattern each have a longitudinal direction, and a length of the first servo pattern in the longitudinal direction may be different from a length of the second servo pattern in the longitudinal direction.
  • a component of the length of the first servo pattern in the width direction of the magnetic recording medium may be the same as a component of the length of the second servo pattern in the width direction of the magnetic recording medium.
  • the magnetic recording medium may be used in a data recording device including a data write head disposed such that the longitudinal direction of the magnetic recording medium is inclined by a first head azimuth angle with respect to the width direction of the magnetic recording medium.
  • the first head azimuth angle may be adjusted within a predetermined range based on a reference angle.
  • the phase difference may be relative to the reference angle.
  • the present technology also provides a cartridge including the magnetic recording medium and a storage unit configured to be able to write adjustment information for adjusting the tension applied to the magnetic recording medium in the longitudinal direction.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view showing an example of a configuration of the cartridge according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of a configuration of a cartridge memory.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape.
  • FIG. 2 is a perspective view showing an example of a particle shape.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a TEM photograph of a magnetic layer.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a TEM photograph of a magnetic layer.
  • FIG. 1 is a graph showing the results of measuring the storage modulus E′ of a reinforced PET film and a PEN film.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a magnetic tape seen from the side.
  • 1 is a schematic diagram of a magnetic tape viewed from above (magnetic layer side).
  • FIG. 1 illustrates a data recording and reproducing device.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a data write head as viewed from below (the back layer side).
  • 13 is a diagram showing the relationship between the angular range Ref ⁇ x° of the azimuth angle of the data write head and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.1 ⁇ m).
  • 13 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° at the azimuth angle ⁇ of the data write head and the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width fluctuation of the magnetic tape.
  • FIG. 11 is a diagram showing the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width fluctuation of the magnetic tape.
  • FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.07 ⁇ m).
  • FIG. 1 illustrates a servo recording and reproducing device.
  • 3 is a diagram showing a servo write head in the first embodiment and a pulse signal input to the servo write head.
  • 3 is an enlarged view of a servo element included in the servo write head in the first embodiment.
  • 3A and 3B are diagrams showing how a servo pattern is written onto a magnetic tape by the servo write head in the first embodiment.
  • FIG. 13 is an enlarged view of a servo write head and a servo element included in the servo write head according to a second embodiment.
  • 13A and 13B are diagrams showing how a servo pattern is written onto a magnetic tape by a servo write head in the second embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram showing a servo write head based on a coordinate system of the servo write head in the second embodiment.
  • 13 is a diagram showing a state where low-friction processing is performed on the surface facing a servo write head.
  • FIG. 11A and 11B are diagrams showing how servo patterns are read by a servo read portion of a data write head in the first comparative example, the second comparative example, and this embodiment.
  • FIG. 22 is an enlarged view of the diagram on the right side of FIG. 21, showing an example of specific dimensions of the first servo element and the second servo element (based on the XYZ coordinate system).
  • FIG. 24 is an enlarged view of the diagram on the right side of FIG. 23, showing an example of specific dimensions of the first servo element and the second servo element (based on the X"Y"Z" coordinate system).
  • FIG. 11 is a diagram showing a first example of a method for checking whether a magnetic tape is a magnetic tape used in a data recording/reproducing device with a tilted data write head.
  • FIG. 11 is a diagram showing a second example of a method for checking whether a magnetic tape is a magnetic tape used in a data recording/reproducing device with a tilted data write head.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape according to a second embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a sputtering apparatus.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape according to a third embodiment.
  • FIG. 13 is an exploded perspective view showing an example of a configuration of a cartridge according to a modified example of the first embodiment. 4 is a graph showing the measurement results of the amount of change in width of the magnetic tape according to Example 1.
  • FIG. 1 is a graph showing an estimated width change over 10 years in each of the examples and comparative examples.
  • FIG. 2 is an enlarged view showing an example of a configuration of a servo band.
  • 11 is a schematic diagram for explaining a method of calculating the movement angle of a drive head that is disposed at an angle.
  • First embodiment (example of coated magnetic tape) 1.1 Structure of the cartridge 1.2 Structure of the cartridge memory 1.3 Structure of the magnetic tape 1.4 Manufacturing method of the magnetic tape 1.5 Description of the data band and servo band of the magnetic tape 1.6 Function and effect 2
  • Second embodiment (example of vacuum thin film type magnetic tape) 2.1 Structure of the magnetic tape 2.2 Structure of the sputtering device 2.3 Manufacturing method of the magnetic tape 2.4 Effects 3.
  • Third embodiment (example of vacuum thin film type magnetic tape) 3.1 Structure of the magnetic tape 3.2 Effects 4. Modifications
  • the measurement is performed in an environment of 25°C ⁇ 2°C and 50% RH ⁇ 5% RH.
  • the numerical ranges indicated using “from” indicate ranges that include the numerical values stated before and after “from” as the minimum and maximum values, respectively.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of the configuration of a cartridge 10.
  • the cartridge 10 is a one-reel type cartridge, and includes, inside a cartridge case 12 consisting of a lower shell 12A and an upper shell 12B, one reel 13 around which a tape-like magnetic recording medium (hereinafter referred to as "magnetic tape") MT is wound, a reel lock 14 and a reel spring 15 for locking the rotation of the reel 13, a spider 16 for unlocking the locked state of the reel 13, a slide door 17 for opening and closing a tape outlet 12C provided in the cartridge case 12 across the lower shell 12A and the upper shell 12B, a door spring 18 for biasing the slide door 17 to a closed position of the tape outlet 12C, a write protect 19 for preventing accidental erasure, and a cartridge memory 11.
  • magnetic tape tape-like magnetic recording medium
  • the reel 13 for winding the magnetic tape MT is substantially disc-shaped with an opening in the center, and is composed of a reel hub 13A and a flange 13B made of a hard material such as plastic.
  • a leader tape LT is connected to the outer peripheral end of the magnetic tape MT, and a leader pin 20 is provided at the tip of the leader tape LT.
  • the cartridge 10 may be a magnetic tape cartridge that conforms to the LTO (Linear Tape-Open) standard, or it may be a magnetic tape cartridge that conforms to a standard other than the LTO standard.
  • LTO Linear Tape-Open
  • the cartridge memory 11 is provided near one corner of the cartridge 10. When the cartridge 10 is loaded into the recording and playback device, the cartridge memory 11 faces the reader/writer of the recording and playback device.
  • the cartridge memory 11 communicates with the recording and playback device, specifically the reader/writer, using a wireless communication standard that complies with the LTO standard.
  • [1.2 Cartridge Memory Configuration] 2 is a block diagram showing an example of the configuration of the cartridge memory 11.
  • the cartridge memory 11 includes an antenna coil (communication unit) 31 that communicates with a reader/writer using a prescribed communication standard, a rectification/power circuit 32 that generates power from radio waves received by the antenna coil 31 using induced electromotive force and rectifies the power to generate power, a clock circuit 33 that generates a clock from the radio waves received by the antenna coil 31 using induced electromotive force, a detection/modulation circuit 34 that detects the radio waves received by the antenna coil 31 and modulates the signal to be transmitted by the antenna coil 31, a controller (control unit) 35 consisting of a logic circuit for determining commands and data from the digital signal extracted from the detection/modulation circuit 34 and processing the commands and data, and a memory (storage unit) 36 that stores information.
  • the cartridge memory 11 also includes a capacitor 37 connected in parallel to the antenna coil 31, and the antenna coil 31 and the capacitor 37 form a resonant circuit.
  • Memory 36 stores information related to cartridge 10.
  • Memory 36 is non-volatile memory (NVM).
  • the storage capacity of memory 36 is preferably approximately 32 KB or more.
  • the memory 36 may have a first memory area 36A and a second memory area 36B.
  • the first memory area 36A is an area for storing first information.
  • the first information includes, for example, at least one type selected from the group consisting of manufacturing information of the cartridge 10 (e.g., a unique number of the cartridge 10) and a usage history of the cartridge 10 (e.g., the number of times the magnetic tape MT has been pulled out (Thread Count)).
  • the second memory area 36B is an area for storing second information.
  • the second information includes, for example, at least one type selected from the group consisting of tension adjustment information, management ledger data, index information, thumbnail information, etc.
  • Tension adjustment information is information for adjusting the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • Tension adjustment information includes at least one type of information selected from the group consisting of information obtained by intermittently measuring the width between servo bands in the longitudinal direction of the magnetic tape MT, tension information of the recording and playback device, and temperature and humidity information of the recording and playback device. This information may be managed in conjunction with information on the usage status of the cartridge 10. It is preferable that tension adjustment information is obtained when data is recorded on the magnetic tape MT or before data is recorded.
  • Tension information of the recording and playback device means information on the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the management ledger data is data that includes at least one of the following information for the data files recorded on the magnetic tape MT: capacity, creation date, editing date, and storage location.
  • Index information is metadata for searching the contents of the data files.
  • Thumbnail information is a thumbnail of the video or still image stored on the magnetic tape MT.
  • Memory 36 may have multiple banks. In this case, some of the multiple banks may form a first memory area 36A, and the remaining banks may form a second memory area 36B.
  • the antenna coil 31 induces an induced voltage by electromagnetic induction.
  • the controller 35 communicates with the recording and playback device via the antenna coil 31 using a specified communication standard. Specifically, for example, it performs mutual authentication, sending and receiving commands, and exchanging data.
  • the controller 35 stores information received from the recording and playback device via the antenna coil 31 in the memory 36.
  • the controller 35 stores tension adjustment information received from the recording and playback device via the antenna coil 31 in the second memory area 36B of the memory 36.
  • the controller 35 reads information from the memory 36 and transmits it to the recording and playback device via the antenna coil 31.
  • the controller 35 reads tension adjustment information from the second memory area 36B of the memory 36 and transmits it to the recording and playback device via the antenna coil 31.
  • the magnetic tape MT includes a long substrate 41, an underlayer 42 provided on one main surface (first main surface) of the substrate 41, a magnetic layer 43 provided on the underlayer 42, and a back layer 44 provided on the other main surface (second main surface) of the substrate 41.
  • the underlayer 42 and the back layer 44 are provided as necessary and may not be required.
  • the magnetic tape MT may be a perpendicular recording type magnetic recording medium or a longitudinal recording type magnetic recording medium. From the viewpoint of improving running performance, the magnetic tape MT preferably contains a lubricant.
  • the lubricant may be included in at least one layer of the underlayer 42 and the magnetic layer 43.
  • the magnetic tape MT may be one that complies with the LTO standard, or one that complies with a standard other than the LTO standard.
  • the width of the magnetic tape MT may be 1/2 inch, or may be wider than 1/2 inch. If the magnetic tape MT complies with the LTO standard, the width of the magnetic tape MT is 1/2 inch.
  • the magnetic tape MT may have a configuration that allows the width of the magnetic tape MT to be kept constant or nearly constant by adjusting the tension applied to the magnetic tape MT in the longitudinal direction during running using a recording/playback device (drive).
  • the magnetic tape MT is long and runs in the longitudinal direction during recording and playback.
  • the magnetic tape MT is preferably used in a recording and playback device equipped with a ring-type head as a recording head.
  • the magnetic tape MT is preferably used in a recording and playback device configured to be able to record data with a data track width of 1500 nm or less or 1000 nm or less.
  • the substrate 41 is a non-magnetic support that supports the underlayer 42 and the magnetic layer 43.
  • the substrate 41 has a long film shape.
  • the upper limit of the average thickness of the substrate 41 is, for example, 4.4 ⁇ m or less, preferably 4.2 ⁇ m or less, more preferably 4.0 ⁇ m or less, even more preferably 3.8 ⁇ m or less, particularly preferably 3.6 ⁇ m or less, and most preferably 3.4 ⁇ m or less.
  • the upper limit of the average thickness of the substrate 41 is 4.4 ⁇ m or less, the recording capacity that can be recorded in one data cartridge can be increased compared to that of a general magnetic tape.
  • the lower limit of the average thickness of the substrate 41 is preferably 3.0 ⁇ m or more, more preferably 3.2 ⁇ m or more. When the lower limit of the average thickness of the substrate 41 is 3.0 ⁇ m or more, the strength reduction of the substrate 41 can be suppressed.
  • the average thickness of the substrate 41 is determined as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into lengths of 250 mm from each of the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples.
  • "longitudinal direction" in “longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT” means the direction from one end on the leader tape LT side to the other end on the opposite side.
  • each sample i.e., the undercoat layer 42, the magnetic layer 43, and the back layer 44
  • a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • the thickness of each sample (substrate 41) is measured at five positions using a Mitutoyo Laser Hologram (LGH-110C) as a measuring device, and the average thickness of the substrate 41 is calculated by arithmetically averaging these measurements (a total of 15 sample thicknesses). Note that the five measurement positions are selected randomly from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the substrate 41 includes, for example, at least one of polyesters, polyolefins, cellulose derivatives, vinyl resins, and other polymer resins.
  • the substrate 41 includes two or more of the above materials, the two or more materials may be mixed, copolymerized, or laminated.
  • the substrate 41 preferably contains polyesters.
  • the storage modulus E' in the longitudinal direction of the substrate 41 can be reduced to preferably 9.0 GPa or less, more preferably 7.5 GPa or less, even more preferably 6.0 GPa or less, particularly preferably 5.5 GPa or less, and most preferably 4.5 GPa or less. Therefore, by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic tape MT while it is running using a recording/playback device, it is particularly easy to control the width of the magnetic tape MT to be constant or nearly constant. A method for measuring the storage modulus E' in the longitudinal direction of the substrate 41 will be described later.
  • the polyesters include, for example, at least one of PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene naphthalate), PBT (polybutylene terephthalate), PBN (polybutylene naphthalate), PCT (polycyclohexylene dimethylene terephthalate), PEB (polyethylene-p-oxybenzoate), and polyethylene bisphenoxycarboxylate.
  • PET polyethylene terephthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • PBT polybutylene terephthalate
  • PBN polybutylene naphthalate
  • PCT polycyclohexylene dimethylene terephthalate
  • PEB polyethylene-p-oxybenzoate
  • polyethylene bisphenoxycarboxylate polyethylene bisphenoxycarboxylate.
  • the base 41 includes two or more types of polyesters, the two or more types of polyesters may be mixed, copolymerized, or laminated. At least one of the ends and side chains of the polyester
  • polyesters in the substrate 41 can be confirmed, for example, as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out from a range of 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare a sample, after which the layers of the sample other than the substrate 41 are removed. Next, an IR spectrum of the sample (substrate 41) is obtained by infrared absorption spectrometry (IR). Based on this IR spectrum, it can be confirmed that the substrate 41 contains polyesters.
  • IR infrared absorption spectrometry
  • the polyolefins include, for example, at least one of PE (polyethylene) and PP (polypropylene).
  • the cellulose derivatives include, for example, at least one of cellulose diacetate, cellulose triacetate, CAB (cellulose acetate butyrate) and CAP (cellulose acetate propionate).
  • the vinyl resins include, for example, at least one of PVC (polyvinyl chloride) and PVDC (polyvinylidene chloride).
  • polymer resins include, for example, at least one of PA (polyamide, nylon), aromatic PA (aromatic polyamide, aramid), PI (polyimide), aromatic PI (aromatic polyimide), PAI (polyamideimide), aromatic PAI (aromatic polyamideimide), PBO (polybenzoxazole, e.g.
  • Zylon (registered trademark)), polyether, PEK (polyetherketone), PEEK (polyetheretherketone), polyetherester, PES (polyethersulfone), PEI (polyetherimide), PSF (polysulfone), PPS (polyphenylene sulfide), PC (polycarbonate), PAR (polyarylate), and PU (polyurethane).
  • the substrate 41 may be biaxially stretched in the longitudinal and width directions.
  • the polymer resin contained in the substrate 41 is preferably oriented in a direction oblique to the width direction of the substrate 41.
  • the magnetic layer 43 is a recording layer for recording signals by magnetization patterns.
  • the magnetic layer 43 may be a coating film.
  • the magnetic layer 43 may be a perpendicular recording type recording layer or a longitudinal recording type recording layer.
  • the magnetic layer 43 includes, for example, magnetic powder, a binder, a lubricant, and carbon.
  • the magnetic layer 43 may further include at least one additive selected from antistatic agents, abrasives, hardeners, rust inhibitors, and non-magnetic reinforcing particles, as necessary.
  • the magnetic layer 43 may have a surface having an uneven shape.
  • the magnetic layer 43 has multiple data bands in which data is written, and multiple servo bands in which servo patterns are written. Details of the data bands and servo bands will be described later.
  • the magnetic layer 43 is configured so that multiple data tracks can be formed in the data band.
  • the upper limit of the average value of the data track width is preferably 1100 nm or less, more preferably 1000 nm or less, even more preferably 800 nm or less, and particularly preferably 600 nm or less.
  • the lower limit of the average value of the data track width W is preferably 20 nm or more.
  • the average data track width is calculated as follows. First, a cartridge 10 is prepared on which data is recorded over the entire surface of the magnetic tape MT. The magnetic tape MT is unwound from the cartridge 10, and the magnetic tape MT is cut into lengths of 250 mm from the longitudinal range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples. Next, the data recording pattern of the data band portion of the magnetic layer 43 of each sample is observed using a magnetic force microscope (MFM) to obtain an MFM image.
  • MFM magnetic force microscope
  • MFM measurements were performed on a 10 ⁇ m x 10 ⁇ m measurement area, meaning that three MFM images were obtained. From the three MFM images obtained, the track width was measured at 10 locations using the analysis software provided with the Dimension3100, and the average value (simple average) was calculated. This average value is the average data track width.
  • the measurement conditions for the above MFM were sweep speed: 1 Hz, chip used: MFMR-20, lift height: 20 nm, correction: Flatten order 3.
  • the magnetic layer 43 is configured to be capable of recording data such that the minimum distance L between magnetization reversals is preferably 40 nm or less, more preferably 36 nm or less, and even more preferably 32 nm or less. Taking into account the magnetic particle size, the lower limit of the minimum distance L between magnetization reversals is preferably 20 nm or more.
  • the minimum value L of the distance between magnetization reversals is obtained as follows. First, a cartridge 10 with data recorded on the entire surface of the magnetic tape MT is prepared, the magnetic tape MT is unwound from the cartridge 10, and the magnetic tape MT is cut into lengths of 250 mm from the longitudinal range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples. Next, the data recording pattern of the data band DB part of the magnetic layer 43 of each sample is observed using a magnetic force microscope (MFM) to obtain an MFM image.
  • MFM magnetic force microscope
  • MFM measurements are performed on a 2 ⁇ m x 2 ⁇ m measurement area, meaning that three MFM images are obtained.
  • 50 inter-bit distances are measured from a two-dimensional uneven chart of the recording pattern of the obtained MFM image.
  • the inter-bit distances are measured using the analysis software provided with the Dimension3100.
  • the value that is approximately the greatest common denominator of the 50 measured inter-bit distances is set as the minimum value L of the distance between magnetization reversals.
  • the measurement conditions are: sweep speed: 1 Hz, chip used: MFMR-20, lift height: 20 nm, correction: Flatten order 3.
  • the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is preferably 90 nm or less, more preferably 80 nm or less, even more preferably 70 nm or less, particularly preferably 60 nm or less, and most preferably 50 nm or less. If the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is 90 nm or less, when a ring-type head is used as the recording head, the effect of the demagnetizing field can be reduced, and even better electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is preferably 35 nm or more. If the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is 35 nm or more, output can be ensured when an MR head is used as the reproducing head, and therefore even better electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the average thickness of the magnetic layer 43 is obtained as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 250 mm lengths from the longitudinal range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples. Next, each sample is processed by the FIB method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective films as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • the carbon layer is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. That is, this slicing creates a cross section that is parallel to both the longitudinal and thickness directions of the magnetic tape MT.
  • the thickness of the magnetic layer 43 is measured at 10 positions on each thinned sample.
  • the 10 measurement positions on each thinned sample are randomly selected from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the average value obtained by arithmetically averaging the measured values of each obtained thinned sample (a total of 30 thicknesses of the magnetic layer 43) is defined as the average thickness [nm] of the magnetic layer 43.
  • the magnetic powder includes a plurality of magnetic particles.
  • the magnetic particles are, for example, particles containing a metal oxide (hereinafter referred to as “metal oxide particles”).
  • the metal oxide particles are, for example, particles containing hexagonal ferrite (hereinafter referred to as “hexagonal ferrite particles”), particles containing epsilon-type iron oxide ( ⁇ iron oxide) (hereinafter referred to as “ ⁇ iron oxide particles”), or particles containing Co-containing spinel ferrite (hereinafter referred to as “cobalt ferrite particles”).
  • the magnetic powder is preferentially crystalline oriented in the perpendicular direction of the magnetic tape MT.
  • the perpendicular direction (thickness direction) of the magnetic tape MT means the thickness direction of the magnetic tape MT in a flat state.
  • the hexagonal ferrite particles have, for example, a plate shape such as a hexagonal plate shape or a column shape such as a hexagonal column shape (however, the thickness or height is smaller than the major axis of the plate surface or bottom surface).
  • the hexagonal plate shape includes a substantially hexagonal plate shape.
  • the hexagonal ferrite preferably contains at least one of Ba, Sr, Pb, and Ca, more preferably at least one of Ba and Sr.
  • the hexagonal ferrite may specifically be, for example, barium ferrite or strontium ferrite.
  • the barium ferrite may further contain at least one of Sr, Pb, and Ca in addition to Ba.
  • the strontium ferrite may further contain at least one of Ba, Pb, and Ca in addition to Sr.
  • the hexagonal ferrite has an average composition represented by the general formula MFe12O19 .
  • M is, for example, at least one metal selected from Ba, Sr, Pb, and Ca, preferably at least one metal selected from Ba and Sr.
  • M may be a combination of Ba and one or more metals selected from the group consisting of Sr, Pb, and Ca.
  • M may also be a combination of Sr and one or more metals selected from the group consisting of Ba, Pb, and Ca.
  • a part of Fe may be substituted with another metal element.
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 13 nm or more and 22 nm or less, more preferably 13 nm or more and 19 nm or less, even more preferably 13 nm or more and 18 nm or less, particularly preferably 14 nm or more and 17 nm or less, and most preferably 14 nm or more and 16 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is 22 nm or less, even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained in a high recording density magnetic tape MT.
  • the average particle size of the magnetic powder is 13 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1.0 or more and 3.0 or less, more preferably 1.5 or more and 2.8 or less, and even more preferably 1.8 or more and 2.7 or less.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the range of 1.0 or more and 3.0 or less, aggregation of the magnetic powder can be suppressed.
  • the magnetic powder is vertically oriented in the process of forming the magnetic layer 43, the resistance applied to the magnetic powder can be suppressed. Therefore, the vertical orientation of the magnetic powder can be improved.
  • the average particle size and average aspect ratio of the magnetic powder can be determined as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out from a range of 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Next, the cut magnetic tape MT is processed by the FIB method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective films as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • the carbon layer is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed by deposition or sputtering on the surface on the magnetic layer 43 side.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. In other words, the thinning forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic tape MT.
  • the cross section of the obtained thin sample is observed using a transmission electron microscope (Hitachi High-Technologies Corporation H-9500) at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times in the thickness direction of the magnetic layer 43 so as to include the entire magnetic layer 43, and a TEM photograph is taken.
  • the TEM photographs are prepared in such a way that 50 particles can be extracted that allow the plate diameter DB and plate thickness DA (see Figure 4) shown below to be measured.
  • the major axis of the plate surface or base surface of the particle is taken as the plate diameter DB value.
  • the thickness or height of the particle observed in the above TEM photograph is taken as the plate thickness DA value.
  • the major axis means the longest diagonal distance.
  • the thickness or height of a particle is not constant within a single particle, the thickness or height of the maximum particle is taken as the plate thickness DA.
  • 50 particles are selected from the TEM photograph based on the following criteria. Particles that are partially outside the field of view of the TEM photograph are not measured, and only particles that have a clear outline and exist in isolation are measured. If there are overlapping particles, those with a clear boundary between them and whose overall shape can be determined are measured as individual particles, but particles with unclear boundaries and whose overall shape cannot be determined are not measured as their shape cannot be determined.
  • FIG. 5 and 6 show an example of a TEM photograph.
  • the particles indicated by the arrows a and d are selected because the plate thickness (thickness or height) DA of the particle can be clearly confirmed.
  • the plate thickness DA of each of the selected 50 particles is measured.
  • the plate thickness DA thus obtained is arithmetically averaged to obtain the average plate thickness DA ave .
  • the average plate thickness DA ave is the average particle plate thickness.
  • the plate diameter DB of each magnetic powder is measured.
  • 50 particles whose plate diameter DB of the particle can be clearly confirmed are selected from the TEM photograph taken. For example, in FIG. 5 and FIG.
  • the particles indicated by the arrows b and c are selected because the plate diameter DB can be clearly confirmed.
  • the plate diameter DB of each of the selected 50 particles is measured.
  • the plate diameter DB thus obtained is simply averaged (arithmetic averaged) to obtain the average plate diameter DB ave .
  • the average plate diameter DB ave is the average particle size.
  • the average aspect ratio of the particles ( DBave / DAave ) is calculated from the average plate thickness DAave and the average plate diameter DBave .
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 500 nm3 or more and 2500 nm3 or less, more preferably 500 nm3 or more and 1600 nm3 or less, even more preferably 500 nm3 or more and 1500 nm3 or less, particularly preferably 600 nm3 or more and 1200 nm3 or less, and most preferably 600 nm3 or more and 1000 nm3 or less.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 2500 nm3 or less, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 22 nm or less can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 500 nm3 or more, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 13 nm or more can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is calculated as follows. First, the average plate thickness DA ave and the average plate diameter DB ave are calculated as described above in relation to the method for calculating the average particle size of the magnetic powder. Next, the average volume V of the magnetic powder is calculated using the following formula.
  • the ⁇ -iron oxide particles are hard magnetic particles that can obtain high coercivity even in the case of fine particles.
  • the ⁇ -iron oxide particles are spherical or cubic.
  • the term “spherical” includes “approximately spherical”.
  • the term “cubic” includes “approximately cubic”. Since the ⁇ -iron oxide particles have the above-mentioned shape, when the ⁇ -iron oxide particles are used as the magnetic particles, the contact area between the particles in the thickness direction of the magnetic tape MT can be reduced and the aggregation between the particles can be suppressed compared to when hexagonal plate-shaped barium ferrite particles are used as the magnetic particles. Therefore, the dispersibility of the magnetic powder can be improved, and further excellent electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • SNR electromagnetic conversion characteristics
  • the ⁇ -iron oxide particles may have a composite particle structure. More specifically, the ⁇ -iron oxide particles include an ⁇ -iron oxide portion and a portion having soft magnetism or a portion having a higher saturation magnetization ⁇ s and a smaller coercive force Hc than ⁇ -iron oxide (hereinafter referred to as the "soft magnetic portion, etc.”).
  • the ⁇ -iron oxide portion contains ⁇ -iron oxide.
  • the ⁇ -iron oxide contained in the ⁇ -iron oxide portion preferably has ⁇ -Fe 2 O 3 crystals as a main phase, and more preferably is made of single-phase ⁇ -Fe 2 O 3 .
  • the soft magnetic portion is in contact with at least a portion of the ⁇ -iron oxide portion. Specifically, the soft magnetic portion may partially cover the ⁇ -iron oxide portion, or may cover the entire periphery of the ⁇ -iron oxide portion.
  • the soft magnetic portion (the magnetic portion having a higher saturation magnetization ⁇ s and a smaller coercive force Hc than ⁇ -iron oxide) includes, for example, a soft magnetic material such as ⁇ -Fe, a Ni-Fe alloy, or an Fe-Si-Al alloy.
  • ⁇ -Fe may be obtained by reducing the ⁇ -iron oxide contained in the ⁇ -iron oxide portion.
  • the portion having soft magnetic properties may contain, for example, Fe 3 O 4 , ⁇ -Fe 2 O 3 , or spinel ferrite.
  • the coercive force Hc of the ⁇ -iron oxide portion alone can be kept high to ensure thermal stability, while the coercive force Hc of the ⁇ -iron oxide particle (composite particle) as a whole can be adjusted to a coercive force Hc suitable for recording.
  • the ⁇ iron oxide particles may contain an additive instead of the structure of the composite particles, or may have the structure of the composite particles and contain an additive. In this case, part of the Fe in the ⁇ iron oxide particles is replaced with the additive.
  • the additive is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably at least one selected from the group consisting of Al, Ga and In, and even more preferably at least one selected from the group consisting of Al and Ga.
  • the ⁇ -iron oxide containing the additive is an ⁇ -Fe2 - xMxO3 crystal (wherein M is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably at least one selected from the group consisting of Al, Ga and In, and even more preferably at least one selected from the group consisting of Al and Ga; x is, for example, 0 ⁇ x ⁇ 1).
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 10 nm to 20 nm, more preferably 10 nm to 18 nm, even more preferably 10 nm to 16 nm, particularly preferably 10 nm to 15 nm, and most preferably 10 nm to 14 nm.
  • the area with a size of 1/2 the recording wavelength becomes the actual magnetization area. Therefore, by setting the average particle size of the magnetic powder to less than half the shortest recording wavelength, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR).
  • the average particle size of the magnetic powder is 20 nm or less, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) in a high recording density magnetic tape MT (e.g., a magnetic tape MT configured to be able to record signals at the shortest recording wavelength of 40 nm or less).
  • a high recording density magnetic tape MT e.g., a magnetic tape MT configured to be able to record signals at the shortest recording wavelength of 40 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is 10 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1.0 or more and 3.0 or less, more preferably 1.0 or more and 2.5 or less, even more preferably 1.0 or more and 2.1 or less, and particularly preferably 1.0 or more and 1.8 or less.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the range of 1.0 or more and 3.0 or less, aggregation of the magnetic powder can be suppressed.
  • the magnetic powder is vertically oriented in the process of forming the magnetic layer 43, the resistance applied to the magnetic powder can be suppressed. Therefore, the vertical orientation of the magnetic powder can be improved.
  • the average particle size and average aspect ratio of the magnetic powder can be determined as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out from a range of 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Next, the cut magnetic tape MT is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective layers as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • FIB Fluorused Ion Beam
  • the carbon layer is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. That is, this slicing creates a cross section that is parallel to both the longitudinal and thickness directions of the magnetic tape MT.
  • the cross section of the obtained thin sample is observed using a transmission electron microscope (H-9500 manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation) at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times so that the entire magnetic layer 43 is included in the thickness direction of the magnetic layer 43, and a TEM photograph is taken.
  • 50 particles whose particle shape can be clearly confirmed are selected from the TEM photograph taken, and the long axis length DL and short axis length DS of each particle are measured.
  • the long axis length DL means the maximum distance between two parallel lines drawn from all angles so as to be in contact with the contour of each particle (so-called maximum Feret diameter).
  • the short axis length DS means the maximum length of the particle in the direction perpendicular to the long axis (DL) of the particle.
  • the long axis lengths DL of the measured 50 particles are arithmetically averaged to obtain the average long axis length DL ave .
  • the average long axis length DL ave thus obtained is the average particle size of the magnetic powder.
  • the minor axis lengths DS of the 50 particles are arithmetically averaged to determine the average minor axis length DSave , and the average aspect ratio of the particles ( DLave / DSave ) is calculated from the average major axis length DLave and the average minor axis length DSave .
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 500 nm3 or more and 4000 nm3 or less, more preferably 500 nm3 or more and 3000 nm3 or less, even more preferably 500 nm3 or more and 2000 nm3 or less, particularly preferably 600 nm3 or more and 1600 nm3 or less, and most preferably 600 nm3 or more and 1300 nm3 or less. Since the noise of a magnetic tape MT is generally inversely proportional to the square root of the number of particles (i.e., proportional to the square root of the particle volume), by making the particle volume smaller, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR).
  • SNR electromagnetic conversion characteristics
  • the average particle volume of the magnetic powder is 4000 nm3 or less, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) in the same way as when the average particle size of the magnetic powder is 20 nm or less.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 500 nm3 or more, it is possible to obtain the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 10 nm or more.
  • the average volume of the magnetic powder is obtained as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out from a range of 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Next, the cut magnetic tape MT is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon film and a tungsten thin film are formed as protective films as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • FIB Fluorused Ion Beam
  • the carbon film is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten thin film is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. In other words, the thinning forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic tape MT.
  • the obtained thin sample is observed in cross section in the thickness direction of the magnetic layer 43 at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times to include the entire magnetic layer 43, and a TEM photograph is obtained.
  • the magnification and acceleration voltage may be appropriately adjusted depending on the type of device.
  • 50 particles whose particle shape is clear are selected from the TEM photograph taken, and the side length DC of each particle is measured.
  • the side lengths DC of the measured 50 particles are arithmetically averaged to obtain the average side length DC ave .
  • the average side length DC ave is used to calculate the average volume V ave (particle volume) of the magnetic powder from the following formula.
  • V ave DC ave 3
  • the cobalt ferrite particles preferably have uniaxial crystal anisotropy.
  • the cobalt ferrite particles have uniaxial crystal anisotropy, so that the magnetic powder can be preferentially crystal oriented in the perpendicular direction of the magnetic tape MT.
  • the cobalt ferrite particles have, for example, a cubic shape. In this specification, the cubic shape includes an almost cubic shape.
  • the Co-containing spinel ferrite may further contain at least one of Ni, Mn, Al, Cu, and Zn in addition to Co.
  • the Co-containing spinel ferrite has, for example, an average composition represented by the following formula: Co x M y Fe 2 O Z (In the formula, M is, for example, at least one metal selected from Ni, Mn, Al, Cu, and Zn.
  • M is, for example, at least one metal selected from Ni, Mn, Al, Cu, and Zn.
  • x is a value within the range of 0.4 ⁇ x ⁇ 1.0.
  • y is a value within the range of 0 ⁇ y ⁇ 0.3. However, x and y satisfy the relationship of (x+y) ⁇ 1.0.
  • z is a value within the range of 3 ⁇ z ⁇ 4. A part of Fe may be substituted with another metal element.
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 8 nm or more and 16 nm or less, more preferably 8 nm or more and 13 nm or less, and even more preferably 8 nm or more and 10 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is 16 nm or less, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) in a high recording density magnetic tape MT.
  • the average particle size of the magnetic powder is 8 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the method of calculating the average particle size of the magnetic powder is the same as the method of calculating the average particle size of the magnetic powder when the magnetic powder contains ⁇ iron oxide particles.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1.0 to 2.5, more preferably 1.0 to 2.1, and even more preferably 1.0 to 1.8.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the range of 1.0 to 2.5, aggregation of the magnetic powder can be suppressed.
  • the magnetic powder is vertically oriented in the process of forming the magnetic layer 43, the resistance applied to the magnetic powder can be suppressed. Therefore, the vertical orientation of the magnetic powder can be improved.
  • the method of calculating the average aspect ratio of the magnetic powder is the same as the method of calculating the average aspect ratio of the magnetic powder when the magnetic powder contains ⁇ iron oxide particles.
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 500 nm3 or more and 4000 nm3 or less, more preferably 600 nm3 or more and 2000 nm3 or less, and even more preferably 600 nm3 or more and 1000 nm3 or less.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 4000 nm3 or less, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 16 nm or less can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 500 nm3 or more, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 8 nm or more can be obtained.
  • the method of calculating the average particle volume of the magnetic component is the same as the method of calculating the average particle volume when the ⁇ iron oxide particles have a cubic shape.
  • binder examples include thermoplastic resins, thermosetting resins, and reactive resins.
  • thermoplastic resin examples include vinyl chloride, vinyl acetate, vinyl chloride-vinyl acetate copolymers, vinyl chloride-vinylidene chloride copolymers, vinyl chloride-acrylonitrile copolymers, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymers, acrylic acid ester-vinyl chloride-vinylidene chloride copolymers, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymers, acrylic acid ester-vinylidene chloride copolymers, methacrylic acid ester-vinylidene chloride copolymers, methacrylic acid ester-vinyl chloride copolymers, methacrylic acid ester-ethylene copolymers, polyvinyl fluoride, vinylidene chloride-acrylonitrile copolymers, acrylonitrile-butadiene copolymers, polyamide resins, polyvinyl fluoride, vinyliden
  • thermosetting resins examples include phenolic resins, epoxy resins, polyurethane curing resins, urea resins, melamine resins, alkyd resins, silicone resins, polyamine resins, and urea formaldehyde resins.
  • all of the above-mentioned binders may contain polar functional groups such as -SO 3 M, -OSO 3 M, -COOM, P ⁇ O(OM) 2 (wherein M represents a hydrogen atom or an alkali metal such as lithium, potassium, or sodium), side-chain amines having terminal groups represented by -NR1R2 or -NR1R2R3 + X - , and main-chain amines represented by >NR1R2 + X - (wherein R1, R2, and R3 represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group, and X - represents a halogen element ion such as fluorine, chlorine, bromine, or iodine, an inorganic ion, or an organic ion), -OH, -SH, -CN, and an epoxy group.
  • the amount of these polar functional groups introduced into the binder is preferably 10 -1 mol/g or more and 10 -8 mol/
  • the lubricant contains at least one selected from, for example, a fatty acid and a fatty acid ester, and preferably both a fatty acid and a fatty acid ester.
  • a lubricant in the magnetic layer 43 and in particular the inclusion of both a fatty acid and a fatty acid ester in the magnetic layer 43, contributes to improving the running stability of the magnetic tape MT.
  • the fatty acid may preferably be a compound represented by the following general formula (1) or (2).
  • the fatty acid may contain either a compound represented by the following general formula (1) or a compound represented by the following general formula (2), or may contain both.
  • the fatty acid ester may preferably be a compound represented by the following general formula (3) or (4).
  • the fatty acid ester may contain either a compound represented by the following general formula (3) or a compound represented by the following general formula (4), or may contain both.
  • the lubricant contains either or both of a compound represented by general formula (1) and a compound represented by general formula (2), and either or both of a compound represented by general formula (3) and a compound represented by general formula (4), thereby making it possible to suppress an increase in the dynamic friction coefficient due to repeated recording or playback of the magnetic tape MT.
  • k is an integer selected from the range of 14 or more and 22 or less, more preferably from the range of 14 or more and 18 or less.
  • the carbon contained in the magnetic layer 43 may function as an antistatic agent, a lubricant, etc. A part of the carbon contained in the magnetic layer 43 is exposed from the surface of the magnetic layer 43. The unevenness of the surface of the magnetic layer 43 may be formed by carbon, an abrasive, etc.
  • the carbon is specifically carbon particles.
  • the carbon particles include, for example, one or more selected from the group consisting of carbon black, acetylene black, ketjen black, carbon nanotubes, and graphene.
  • Antistatic Agent examples include natural surfactants, nonionic surfactants, and cationic surfactants.
  • abrasive examples include acicular ⁇ -iron oxide obtained by dehydrating and annealing raw materials such as ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, silicon carbide, chromium oxide, cerium oxide, ⁇ -iron oxide, corundum, silicon nitride, titanium carbide, titanium oxide, silicon dioxide, tin oxide, magnesium oxide, tungsten oxide, zirconium oxide, boron nitride, zinc oxide, calcium carbonate, calcium sulfate, barium sulfate, molybdenum disulfide, and magnetic iron oxide, and those obtained by surface-treating these with aluminum and/or silica, as necessary.
  • raw materials such as ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, silicon carbide, chromium oxide, cerium oxide, ⁇ -iron oxide, corundum, silicon nitride, titanium carbide, titanium oxide, silicon dioxide, tin oxide, magnesium oxide, tungsten oxide, zir
  • Examples of the curing agent include polyisocyanates.
  • Examples of the polyisocyanates include aromatic polyisocyanates such as an adduct of tolylene diisocyanate (TDI) and an active hydrogen compound, and aliphatic polyisocyanates such as an adduct of hexamethylene diisocyanate (HMDI) and an active hydrogen compound.
  • the weight average molecular weight of these polyisocyanates is preferably in the range of 100 to 3,000.
  • anti-rust examples include phenols, naphthols, quinones, heterocyclic compounds containing a nitrogen atom, heterocyclic compounds containing an oxygen atom, and heterocyclic compounds containing a sulfur atom.
  • Non-magnetic reinforcing particles examples include aluminum oxide ( ⁇ , ⁇ or ⁇ alumina), chromium oxide, silicon oxide, diamond, garnet, emery, boron nitride, titanium carbide, silicon carbide, titanium carbide, titanium oxide (rutile or anatase type titanium oxide), and the like.
  • the underlayer 42 serves to reduce the unevenness of the surface of the base 41 and adjust the unevenness of the surface of the magnetic layer 43.
  • the underlayer 42 is a non-magnetic layer containing non-magnetic powder, a binder, and a lubricant.
  • the underlayer 42 supplies the lubricant to the surface of the magnetic layer 43.
  • the underlayer 42 may further contain at least one additive selected from the group consisting of an antistatic agent, a hardener, and an anti-rust agent, as necessary.
  • the upper limit of the average thickness of the underlayer 42 is preferably 1.0 ⁇ m or less, more preferably 0.9 ⁇ m or less, even more preferably 0.8 ⁇ m or less, particularly preferably 0.7 ⁇ m or less, and most preferably 0.6 ⁇ m or less. If the upper limit of the average thickness of the underlayer 42 is 1.0 ⁇ m or less, the thickness of the magnetic tape MT can be reduced, so that the recording capacity that can be recorded in one data cartridge can be increased compared to that of a general magnetic tape. If the average thickness of the underlayer 42 is 1.0 ⁇ m or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to external forces is further increased, so that the width of the magnetic tape MT can be further adjusted by adjusting the tension.
  • the lower limit of the average thickness of the underlayer 42 is preferably 0.3 ⁇ m or more. If the lower limit of the average thickness of the underlayer 42 is 0.3 ⁇ m or more, the deterioration of the function as the underlayer 42 can be suppressed.
  • the average thickness of the underlayer 42 is determined in the same manner as the average thickness of the magnetic layer 43. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the underlayer 42.
  • the non-magnetic powder includes at least one of inorganic particle powder and organic particle powder.
  • the non-magnetic powder may also include carbon powder such as carbon black.
  • One type of non-magnetic powder may be used alone, or two or more types of non-magnetic powder may be used in combination.
  • the inorganic particles include, for example, metals, metal oxides, metal carbonates, metal sulfates, metal nitrides, metal carbides, metal sulfides, etc.
  • the shape of the non-magnetic powder may be, for example, various shapes such as needle-like, spherical, cubic, plate-like, etc., but is not limited to these shapes.
  • Binding agent, lubricant The binder and lubricant are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the antistatic agent, hardener and rust inhibitor are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the back layer 44 contains a binder and a non-magnetic powder.
  • the back layer 44 may further contain at least one additive selected from the group consisting of a lubricant, a hardener, and an antistatic agent, if necessary.
  • the binder and the non-magnetic powder are the same as those in the underlayer 42 described above.
  • the hardener and the antistatic agent are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the average particle size of the non-magnetic powder is preferably 10 nm or more and 150 nm or less, more preferably 15 nm or more and 110 nm or less.
  • the average particle size of the non-magnetic powder is determined in the same manner as the average particle size of the magnetic powder described above.
  • the non-magnetic powder may contain non-magnetic powder having two or more particle size distributions.
  • the upper limit of the average thickness of the back layer 44 is preferably 0.6 ⁇ m or less. If the upper limit of the average thickness of the back layer 44 is 0.6 ⁇ m or less, the thickness of the underlayer 42 and the base 41 can be kept thick even if the average thickness of the magnetic tape MT is 5.3 ⁇ m or less, so that the running stability of the magnetic tape MT within the recording and reproducing device can be maintained.
  • the lower limit of the average thickness of the back layer 44 is not particularly limited, but is, for example, 0.2 ⁇ m or more.
  • the average thickness t b of the back layer 44 is obtained as follows. First, the average thickness t T of the magnetic tape MT is measured. The method for measuring the average thickness t T is as described in the "Average Thickness of Magnetic Tape" below. Next, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 250 mm lengths from the range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection portion 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT, respectively, to prepare three samples. Next, the back layer 44 of each sample is removed with a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • MEK methyl ethyl ketone
  • the absolute value of the average width change amount ⁇ A of the magnetic tape MT before and after being left for 40 hours in an environment of a temperature of 50° C. and a relative humidity of 40% RH with a tension of 0.55 N per 1 ⁇ 2 inch of the width of the magnetic tape MT applied in the longitudinal direction is 0 ppm to 170 ppm, preferably 0 ppm to 150 ppm, more preferably 0 ppm to 70 ppm, and even more preferably 0 ppm to 40 ppm.
  • a high temperature environment refers to an environment of 35°C or higher and 50°C or lower.
  • the absolute value of the average width change ⁇ A of the magnetic tape MT is 170 ppm or less, so in addition to deformation of the magnetic tape MT caused by the environment, creep deformation in high-temperature environments can be reduced. Therefore, width changes in the magnetic tape MT can be corrected by adjusting the running tension of the magnetic tape MT.
  • the average width change ⁇ A may be set to a desired value by selecting at least one of the substrate 41 and the underlayer 42.
  • the average width change ⁇ A may be set to a desired value by selecting at least one of the thickness of the substrate 41 and the material of the substrate 41.
  • the average width change ⁇ A may also be set to a desired value by adjusting the stretching strength in the width direction and length direction of the substrate 41.
  • the average width change ⁇ A may also be set to a desired value by selecting the type of the magnetic layer 43 from among a coated film and a sputtered film.
  • the average width change amount ⁇ A may also be set to a desired value by providing a distortion relaxation process after the calendar process and before the cutting process, and adjusting the environmental temperature and storage time in the distortion relaxation process (e.g., storing in an environment at a temperature of 65°C for 48 hours).
  • the average width change amount ⁇ A may also be set to a desired value by providing a distortion relaxation process after the demagnetization process and before the servo pattern writing process, and adjusting the environmental temperature and storage time in the distortion relaxation process (e.g., storing in an environment at a temperature of 55°C for 48 hours).
  • the average width change amount ⁇ A may be set to a desired value, or by selecting two or more, the average width change amount ⁇ A may be set to a desired value.
  • the average width change ⁇ A of the magnetic tape MT is calculated as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and three samples of 250 mm are cut from the magnetic tape MT in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT in the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m, respectively, to obtain three samples.
  • the width change amount ⁇ a of each of the above three samples is obtained as follows.
  • a measuring device shown in FIG. 7 is prepared, incorporating a digital dimension measuring device LS-7000 manufactured by Keyence Corporation, and the sample 10S is set on the measuring device. Specifically, one end of a long sample (magnetic tape MT) 10S is fixed by a fixing part 231.
  • the sample 10S is placed on five support members 232 1 to 232 5 that are substantially cylindrical and rod-like.
  • the sample 10S is placed on the five support members 232 1 to 232 5 so that the back surface of the sample 10S is in contact with the five support members 232 1 to 232 5.
  • All of the five support members 232 1 to 232 5 are made of stainless steel SUS304, and their surface roughness Rz (maximum height) is 0.15 ⁇ m to 0.3 ⁇ m.
  • the arrangement of the five rod-shaped support members 232 1 to 232 5 will be described with reference to FIG. 7. As shown in FIG. 7, the sample 10S is placed on the five support members 232 1 to 232 5.
  • the five support members 232 1 to 232 5 are hereinafter referred to as the "first support member 232 1 ,” the “second support member 232 2 ,” the “third support member 232 3 “ (having the slit 232A), the "fourth support member 232 4 ,” and the “fifth support member 232 5 “ (closest to the weight 233) from the side closest to the fixed portion 231.
  • the diameter of each of the five first to fifth support members 232 1 to 232 5 is 7 mm.
  • the distance d1 between the first support member 232 1 and the second support member 232 2 (particularly the distance between the central axes of these support members) is 20 mm.
  • the distance d2 between the second support member 2322 and the third support member 2323 is 30 mm.
  • the distance d3 between the third support member 2323 and the fourth support member 2324 is 30 mm.
  • the distance d4 between the fourth support member 2324 and the fifth support member 2325 is 20 mm.
  • the three support members 232 2 to 232 4 are arranged such that the portion of the sample 10S placed between the second support member 232 2 , the third support member 232 3 , and the fourth support member 232 4 forms a plane that is approximately perpendicular to the direction of gravity.
  • the third support member 232 3 is fixed so as not to rotate, but the other four, the first, second, fourth and fifth support members 232 1 , 232 2 , 232 4 , and 232 5 are all rotatable. Since the support member 232 3 is fixed so as not to rotate as described above, the contact angle between the support 232 3 and the sample 10S is made shallow in consideration of reducing friction between the support 232 3 and the sample 10S.
  • the sample 10S is held on the support members 232 1 to 232 5 so as not to move in the width direction of the sample 10S.
  • the support member 232 3 which is located between the light emitter 234 and the light receiver 235 and located approximately in the center between the fixing part 231 and the part where the load is applied, is provided with a slit 232A.
  • Light L is irradiated from the light emitter 234 to the light receiver 235 through the slit 232A.
  • the slit width of the slit 232A is 1 mm, and the light L can pass through the slit 232A without being blocked by the frame of the slit 232A.
  • a weight 233 is attached to the other end of the sample 10S to apply a load of 0.55N per 1/2 inch of the width of the sample 10S. That is, the load applied to the sample 10S is set to 0.55N when the width is 1/2 inch, and a load proportional to the width is set when the width is not 1/2 inch.
  • the sample 10S is left to stand in the above room temperature environment for 30 minutes. After leaving it to stand for 30 minutes, the temperature inside the chamber is raised, and measurement of the width of the sample 10S is started when the inside of the chamber reaches the specified environment (temperature 50°C, relative humidity 40% RH). While maintaining the inside of the chamber in the above specified environment (temperature 50°C, relative humidity 40% RH), measurement of the width of the sample 10S is continued until 40 hours have passed since the start of the measurement.
  • the measuring device irradiates light L from the light emitter 234 to the light receiver 235 with a load of 0.55 N applied in the specified environment, and measures the width of the sample 10S to which a load is applied in the longitudinal direction. The width is measured when the sample 10S is not curled.
  • the light emitter 234 and the light receiver 235 are provided in the digital dimension measuring instrument LS-7000.
  • the width of sample 10S one hour after the start of the measurement (i.e., one hour after the chamber becomes the specified environment) is used as a reference to calculate the width change amount ⁇ a of sample 10S 40 hours after the start of the measurement. That is, the width of sample S10 after one hour is subtracted from the width of sample 10S after 40 hours to obtain the width change amount ⁇ a of sample 10S.
  • the positive and negative values of the width change amount ⁇ a of sample 10S indicate the direction of the width change. When the width change amount ⁇ a is positive, it indicates that the width of sample 10S has changed in the direction of widening, and when it is negative, it indicates that the width of sample 10S has changed in the direction of narrowing.
  • the width change amounts ⁇ a of the three samples 10S calculated as described above are arithmetically averaged to obtain the average width change amount ⁇ A of the magnetic tape MT.
  • the positive and negative values of the average width change amount ⁇ A of the magnetic tape MT indicate the direction of the width change. If the average width change amount ⁇ A is positive, it indicates that the width of the magnetic tape MT has changed in the direction of widening, and if it is negative, it indicates that the width of the magnetic tape MT has changed in the direction of narrowing.
  • the lower limit of the average tension response ⁇ W to the tension in the longitudinal direction in an environment of a temperature of 50° C. and a relative humidity of 40% RH is 700 ppm/N or more, preferably 715 ppm/N or more, more preferably 750 ppm/N or more, and even more preferably 800 ppm/N or more.
  • the average tension response ⁇ W is less than 700 ppm/N, the average tension response ⁇ W in a high-temperature environment is low, so that it becomes difficult to correct the creep change of the magnetic tape MT when the magnetic tape MT wound in the cartridge 10 is stored in a high-temperature environment for a long period of time and the creep change of the magnetic tape MT when the magnetic tape MT is run in a high-temperature environment for a long period of time by adjusting the running tension.
  • a high-temperature environment refers to an environment of 35° C. or more and 50° C. or less.
  • the upper limit of the average tension response ⁇ W is, for example, 20,000 ppm/N or less, preferably 15,000 ppm/N or less, more preferably 8,000 ppm/N or less, 5,000 ppm/N or less, 4,000 ppm/N or less, 3,000 ppm/N or less, or 2,000 ppm/N or less. If the average tension response ⁇ W is 15,000 ppm/N or less, even if there is variation in the tension control of the recording/playback device, the amount of change in the width of the magnetic tape MT in response to the variation can be reduced.
  • the average tension response ⁇ W may be set to a desired value by selecting at least one of the substrate 41 and the underlayer 42.
  • the average tension response ⁇ W may be set to a desired value by selecting at least one of the thickness of the substrate 41 and the material of the substrate 41.
  • the average tension response ⁇ W may also be set to a desired value by adjusting the stretching strength in the width direction and the length direction of the substrate 41. For example, by increasing the stretching in the width direction of the substrate 41, the average tension response ⁇ W decreases, and conversely, by increasing the stretching in the length direction of the substrate 41, the average tension response ⁇ W increases.
  • the average tension response ⁇ W may also be set to a desired value by selecting the type of the magnetic layer 43 from among a coating film and a sputtered film.
  • the average tension response ⁇ W may also be set to a desired value by providing a strain relaxation process after the calendar process and before the cutting process, and adjusting the environmental temperature and storage time in the strain relaxation process (e.g., storing for 48 hours in an environment at a temperature of 65°C).
  • the average tension response ⁇ W may also be set to a desired value by providing a strain relaxation process after the demagnetization process and before the servo pattern writing process, and adjusting the environmental temperature and storage time in the strain relaxation process (e.g., storing for 48 hours in an environment at a temperature of 55°C).
  • the average tension responsiveness ⁇ W may be set to a desired value, or by selecting two or more, the average tension responsiveness ⁇ W may be set to a desired value.
  • the average tension response ⁇ W is calculated as follows. First, the 1/2 inch wide magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and three samples of 250 mm are cut from the magnetic tape MT in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT, in the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m, respectively, to obtain three samples.
  • the tension response ⁇ w of the three samples is calculated as follows. Loads of 0.2 N, 0.6 N, and 1.0 N are applied in the longitudinal direction of sample 10S in this order, and the width of sample 10S is measured at loads of 0.2 N, 0.6 N, and 1.0 N.
  • the tension response ⁇ w is calculated using the following formula. Note that the measurement when a load of 0.6 N is applied is performed to check whether any abnormalities have occurred in the measurement (particularly to check that these three measurement results are linear), and the measurement result is not used in the following formula. (In the formula, D (0.2 N) and D (1.0 N) respectively indicate the width of sample 10S when loads of 0.2 N and 1.0 N are applied in the longitudinal direction of sample 10S.)
  • the average tension response ⁇ W is calculated by arithmetically averaging the tension responses ⁇ w of the three samples calculated as described above.
  • the value of the load applied to sample 10S is the value when the width of the magnetic tape MT (sample 10S) is 1/2 inch. If the width of the magnetic tape MT (sample 10S) is not 1/2 inch, a load proportional to the width is applied.
  • the tension responses ⁇ w of the three samples are calculated under conditions where a load proportional to the width is applied, and the average tension response ⁇ W is calculated by arithmetically averaging them.
  • the width of sample 10S when each load is applied is measured as follows. First, a measuring device as shown in Figure 7 is prepared, incorporating a Keyence digital dimension measuring device LS-7000, and sample 10S is set on this measuring device.
  • the specific configuration of the measuring device is the same as the method for measuring the average width change ⁇ A described above.
  • the specific procedure for setting sample 10S on the measuring device is also the same as the method for measuring the average width change ⁇ A described above.
  • the measuring device is placed in a chamber controlled to a constant environment of 50°C temperature and 40% RH, and then a weight 233 for applying a load of 0.2 N is attached to the other end of sample 10S, and sample 10S is left to stand in the above environment for 2 hours. After leaving it to stand for 2 hours, the width of sample 10S is measured. Next, the weight for applying a load of 0.2 N is changed to a weight 233 for applying a load of 0.6 N, and 5 minutes after the change, the width of sample 10S is measured. Finally, the weight is changed to a weight 233 for applying a load of 1.0 N, and 5 minutes after the change, the width of sample 10S is measured.
  • the load applied to the sample 10S in the longitudinal direction can be changed by adjusting the weight of the weight 233.
  • the weight of the weight 233 With each load applied in a constant environment of a temperature of 50°C and a relative humidity of 40% RH, light L is irradiated from the light emitter 234 toward the light receiver 235, and the width of the sample 10S to which a load has been applied in the longitudinal direction is measured. The width is measured when the sample 10S is not curled.
  • the light emitter 234 and the light receiver 235 are provided in the digital dimension measuring instrument LS-7000.
  • the upper limit of the average storage modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 in an environment at a temperature of 50° C. is preferably 9.0 GPa or less, more preferably 7.5 GPa or less, even more preferably 6.0 GPa or less, particularly preferably 5.5 GPa or less, and most preferably 4.5 GPa or less.
  • the magnetic tape MT has high elasticity in response to tension in the longitudinal direction in a high-temperature environment, and therefore the average tension response ⁇ W can be improved.
  • the lower limit of the average storage modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 in an environment at a temperature of 50°C is preferably 3.0 GPa or more, and more preferably 3.5 GPa or more. If the upper limit of the storage modulus is 3.0 GPa or more, it is possible to prevent the elasticity of the magnetic tape MT from becoming excessively high in response to tension in the longitudinal direction. Therefore, it is possible to prevent a decrease in running stability.
  • the average longitudinal storage modulus of the magnetic tape MT is a value that indicates the resistance of the magnetic tape MT to longitudinal expansion and contraction due to external forces; the larger this value, the more difficult it is for the magnetic tape MT to longitudinal expansion and contraction due to external forces, and the smaller this value, the more easily the magnetic tape MT can longitudinally expand and contract due to external forces.
  • the average storage modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is a value related to the longitudinal direction of the magnetic tape MT, it also correlates with the difficulty of the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction. In other words, the larger this value, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction due to external forces, and the smaller this value, the more easily the magnetic tape MT can expand and contract in the width direction due to external forces. Therefore, from the perspective of tension adjustment, it is advantageous for the average storage modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT to be small as described above, 9.0 GPa or less.
  • the average storage modulus of the magnetic tape MT in the longitudinal direction is determined as follows. First, the 1/2 inch wide magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is punched out to the specified size from each of the ranges of 10m to 20m, 30m to 40m, and 50m to 60m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to obtain three samples. Next, the storage modulus E' of the substrate 41 in the longitudinal direction in an environment at a temperature of 50°C is measured for each of the three samples. Next, the average storage modulus of the substrate 41 in the longitudinal direction in an environment at a temperature of 50°C is determined by arithmetically averaging the storage modulus E' of the three measured samples.
  • the storage modulus E' is measured by dynamic viscoelasticity measurement, which is a temperature-dependent measurement, and is specifically performed as follows.
  • the magnetic tape MT is punched out with a punching machine to obtain a sample having a length of 22.0 mm in the longitudinal direction of the tape and a width of 4.0 mm in the transverse direction. Both ends of the sample in the longitudinal direction are clamped to the measuring section of a dynamic viscoelasticity measuring device (RSAII, manufactured by TA Instruments). Then, dynamic viscoelasticity measurement is performed under the following measuring conditions.
  • Measurement temperature range -10°C to 140°C Temperature rise rate: 2°C/min Amplitude: Stretch and shrink with an amplitude of 0.1% of the initial length of the tape Measurement frequency: 10 Hz
  • Test Type "Strain-Controlled” Measurement Type: "Dynamic" Environment in which the device is placed: Temperature 25°C, relative humidity 50% RH Humidity control of the measurement section: None More detailed settings regarding the measurement conditions of the above device are as follows. That is, as described below, in the above measurement, the tension is adjusted so that it does not become 0 or less, and the strain is adjusted so that it does not fall below the lower limit value of the transducer.
  • Option setting Delay Before Test: OFF Auto Tension Mode Static Force Tracking Dynamic Force Auto Tension Direction Tension Initial Static Force 10.0g Static>Dynamic Force by 5.0% Minimum Static Force 1.0g Auto Tension Sensitivity 1.0g Auto Strain Max Applied Strain 0.1% Maximum Allowed Force 100.0g Min allowed force 2.0g Strain Adjustment 3.0% Meas Ops: Default setting
  • the value of the storage modulus E' at each measurement temperature can be obtained.
  • the storage modulus E' at a measurement temperature of 50°C can also be obtained.
  • plotting the values of the storage modulus E' obtained at each measurement temperature against the measurement temperature the tendency of the change in the storage modulus E' with temperature change can be read.
  • An example of the measurement results of the storage modulus E' is shown in Figure 8.
  • the storage modulus E' of the magnetic tape MT can be adjusted, for example, by changing the type of material forming the substrate 41 and/or the composition and combination of the magnetic layer 43, underlayer 42, and back layer 44 (particularly the underlayer 42, which is often the thickest of these three layers).
  • the storage modulus E' can be adjusted by using PEN, PET, or PEEK as the material forming the base 41.
  • the shape of the graph plotting the storage modulus E' against temperature changes can be changed by selecting these resins.
  • the storage modulus E' can be adjusted, for example, by changing the type of resin component contained in the paint forming the magnetic layer 43, the underlayer 42, and the back layer 44 (particularly the underlayer 42) and/or adjusting the resin composition.
  • the storage modulus E' can be adjusted by adjusting the glass transition temperature Tg of the binder that can be contained in these layers.
  • the binder contains, for example, a polyurethane-based resin. More preferably, the underlayer 42 contains a polyurethane-based resin, which makes it easier to adjust the storage modulus E'.
  • the glass transition temperature Tg of the polyurethane-based resin contained in the underlayer 42 is preferably 10°C or higher and 140°C or lower, more preferably 30°C or higher and 130°C or lower, even more preferably 30°C or higher and 120°C or lower, and particularly preferably 55°C or higher and 120°C or lower. If the glass transition temperature Tg is too low, there is a possibility that adhesion may occur during storage at high temperatures. If the glass transition temperature Tg is too high, surface smoothing (calendar processing) may be difficult.
  • the upper limit of the average thickness (average total thickness) t T of the magnetic tape MT is preferably 5.3 ⁇ m or less, more preferably 5.1 ⁇ m or less, even more preferably 4.9 ⁇ m or less, particularly preferably 4.6 ⁇ m or less, and most preferably 4.4 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the average thickness t T of the magnetic tape MT is not particularly limited, but is, for example, 3.5 ⁇ m or more.
  • the average thickness t T of the magnetic tape MT is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 250 mm lengths from the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the joint 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT, respectively, to prepare three samples. Next, the thickness of each sample is measured at five positions using a Mitutoyo Laser Hologram (LGH-110C) as a measuring device, and the measured values (a total of 15 sample thicknesses) are arithmetically averaged to calculate the average thickness t T [ ⁇ m]. The five measurement positions are selected randomly from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • LGH-110C Mitutoyo Laser Hologram
  • the average value of the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the magnetic layer 43 is 1.9 nm or less, preferably 1.6 nm or less, and more preferably 1.3 nm or less.
  • the lower limit of the average value of the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the magnetic layer 43 is preferably 1.0 nm or more, and more preferably 1.2 nm or more.
  • the average value of the arithmetic mean roughness Ra is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 250 mm lengths from the range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the joint 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT, respectively, to prepare three samples. Next, the surface of the magnetic layer 43 of each sample is observed with an AFM (Atomic Force Microscope) to obtain an AFM image of 40 ⁇ m x 40 ⁇ m.
  • AFM Anatomic Force Microscope
  • the AFM used is a Nano Scope IIIa D3100 manufactured by Digital Instruments, and the cantilever is made of single crystal silicon (Note 1), and the measurement is performed with a tapping frequency tuning of 200 Hz to 400 Hz.
  • the data used is filtered using Flatten order 2 and planefit order 3 XY as image processing.
  • Nano World SPM probe NCH normal type PointProbe L (cantilever length) 125 ⁇ m
  • the arithmetic mean roughnesses Ra of the three samples are arithmetically averaged to calculate the average value of the arithmetic mean roughnesses Ra.
  • the average value of the surface roughness Rb of the back surface is Rb ⁇ 6.0 [nm].
  • the average value of the surface roughness Rb of the back surface is in the above range, even more excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the average value of the surface roughness Rb of the back surface is obtained as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 100 mm lengths from the range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the joint 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT, respectively, to prepare three samples. Next, the sample is placed on a slide glass so that the surface to be measured (the surface on the magnetic layer side) faces up, and the end of the sample is fixed with mending tape.
  • the surface shape is measured using a VertScan as a measuring device, and the surface roughness Rb of the back surface is obtained from the following formula based on the standard of ISO 25178.
  • the measurement conditions are as follows. Equipment: Non-contact roughness meter using optical interference (VertScan R5500GL-M100-AC, non-contact surface and layer cross-sectional shape measurement system manufactured by Ryoka Systems Co., Ltd.) Objective lens: 20x Measurement area: 640 x 480 pixels (field of view: approx.
  • Measurement mode phase Wavelength filter: 520 nm
  • CCD 1/3 inch
  • Noise reduction filter Smoothing 3x3
  • Surface correction Correction using quadratic polynomial approximation surface
  • Measurement software VS-Measure Version 5.5.2
  • Analysis software VS-viewer Version 5.5.5
  • the surface roughness is measured at five positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT as described above, and the average of the arithmetic mean roughnesses S a (nm) automatically calculated from the surface profile obtained at each position is taken as the surface roughness R b (nm) of the back surface.
  • the five measurement positions are selected randomly from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the surface roughnesses R b measured from the three samples are arithmetically averaged to calculate the average surface roughness R b .
  • the upper limit of the average value of the coercive force Hc2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is preferably 3000 Oe or less, more preferably 2000 Oe or less, even more preferably 1900 Oe or less, and particularly preferably 1800 Oe or less. If the average value of the coercive force Hc2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is 3000 Oe or less, sufficient electromagnetic conversion characteristics can be obtained even at high recording density.
  • the lower limit of the average value of the coercive force Hc2 of the magnetic layer 43 measured in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is preferably 1000 Oe or more. If the average value of the coercive force Hc2 of the magnetic layer 43 measured in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is 1000 Oe or more, demagnetization due to leakage flux from the recording head can be suppressed.
  • the average value of the coercive force Hc2 is obtained as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out to a length of 250 mm from each of the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Each cut magnetic tape MT is layered in three pieces with double-sided tape so that the longitudinal direction of the magnetic tape MT is the same, and then punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to prepare a measurement sample.
  • the M-H loop of the measurement sample (whole magnetic tape MT) corresponding to the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT is measured using a vibrating sample magnetometer (VSM).
  • VSM vibrating sample magnetometer
  • the coatings (underlayer 42, magnetic layer 43, back layer 44, etc.) of the magnetic tape MT cut out above are wiped off with acetone or ethanol, etc., leaving only the substrate 41.
  • Three of the obtained substrates 41 are then stacked with double-sided tape and punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to produce a sample for background correction (hereinafter simply referred to as the "correction sample").
  • the M-H loop of the correction sample (substrate 41) corresponding to the longitudinal direction of the substrate 41 (the longitudinal direction of the magnetic tape MT) is measured using a VSM.
  • a high-sensitivity vibration sample magnetometer "VSM-P7-15 type" manufactured by Toei Industry Co., Ltd. is used.
  • the measurement conditions are as follows: measurement mode: full loop, maximum magnetic field: 15 kOe, magnetic field step: 40 bits, time constant of locking amp: 0.3 sec, waiting time: 1 sec, number of MH averages: 20.
  • background correction is performed by subtracting the M-H loop of the correction sample (substrate 41) from the M-H loop of the measurement sample (entire magnetic tape MT), and the M-H loop after background correction is obtained.
  • the measurement and analysis program attached to the "VSM-P7-15" is used for this background correction calculation.
  • the coercive force Hc2 is obtained from the obtained M-H loop after background correction. Note that the measurement and analysis program attached to the "VSM-P7-15" is used for this calculation.
  • the average squareness ratio S1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT is preferably 65% or more, more preferably 70% or more, even more preferably 75% or more, particularly preferably 80% or more, and most preferably 85% or more.
  • the average squareness ratio S1 is 65% or more, the perpendicular orientation of the magnetic powder is sufficiently high, and therefore, even more excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the average squareness ratio S1 in the vertical direction of the magnetic tape MT is obtained as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out to a length of 250 mm from the range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Each cut magnetic tape MT is layered in three pieces with double-sided tape so that the longitudinal direction of the magnetic tape MT is the same, and then punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to create a measurement sample.
  • the M-H loop of the measurement sample (the entire magnetic tape MT) corresponding to the vertical direction (thickness direction) of the magnetic tape MT is measured using a VSM.
  • the coatings (undercoat layer 42, magnetic layer 43, back layer 44, etc.) of the magnetic tape MT cut out above are wiped off with acetone or ethanol, etc., leaving only the substrate 41.
  • Three of the obtained substrates 41 are then stacked with double-sided tape, and punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to prepare a sample for background correction (hereinafter simply referred to as the "correction sample").
  • the M-H loop of the correction sample (substrate 41) corresponding to the perpendicular direction of the substrate 41 (perpendicular direction of the magnetic tape MT) is measured using a VSM.
  • a high-sensitivity vibration sample magnetometer "VSM-P7-15 type" manufactured by Toei Industry Co., Ltd. is used.
  • the measurement conditions are as follows: measurement mode: full loop, maximum magnetic field: 15 kOe, magnetic field step: 40 bits, time constant of locking amp: 0.3 sec, waiting time: 1 sec, number of MH averages: 20.
  • background correction is performed by subtracting the M-H loop of the correction sample (substrate 41) from the M-H loop of the measurement sample (entire magnetic tape MT), to obtain the M-H loop after background correction.
  • the measurement and analysis program included with the "VSM-P7-15" is used to calculate this background correction.
  • the average squareness ratio S2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT is preferably 35% or less, more preferably 30% or less, even more preferably 25% or less, particularly preferably 20% or less, and most preferably 15% or less. If the average squareness ratio S2 is 35% or less, the magnetic powder will have a sufficiently high vertical orientation, resulting in even better electromagnetic conversion characteristics.
  • the average squareness ratio S2 in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is determined in the same manner as the average squareness ratio S1, except that the M-H loop is measured in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT and the substrate 41.
  • the upper limit of the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is preferably 9.0 GPa or less, more preferably 8.0 GPa or less, and even more preferably 7.5 GPa or less.
  • the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is 9.0 GPa or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to external force is further increased, so that the adjustment of the width of the magnetic tape MT by tension adjustment becomes easier. Therefore, off-track can be further appropriately suppressed, and data recorded on the magnetic tape MT can be reproduced more accurately.
  • the lower limit of the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is preferably 3.0 GPa or more, more preferably 4.0 GPa or more.
  • the lower limit of the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is 3.0 GPa or more, the decrease in running stability can be suppressed.
  • the average Young's modulus of the magnetic tape MT in the longitudinal direction is a value that indicates the resistance of the magnetic tape MT to expansion and contraction in the longitudinal direction due to external forces; the larger this value, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the longitudinal direction due to external forces, and the smaller this value, the more easily the magnetic tape MT can expand and contract in the longitudinal direction due to external forces.
  • the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is a value related to the longitudinal direction of the magnetic tape MT, it also correlates with the difficulty of the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction. In other words, the larger this value, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction due to external forces, and the smaller this value, the more easily the magnetic tape MT can expand and contract in the width direction due to external forces. Therefore, from the perspective of tension adjustment, it is advantageous for the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT to be small as described above, 9.0 GPa or less.
  • the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is determined as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and three samples are obtained by cutting the magnetic tape MT to a length of 180 mm from each of the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Next, the Young's modulus in the longitudinal direction of each of the three samples is measured, and the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is determined by arithmetically averaging these measured values.
  • the Young's modulus of each sample is measured using a tensile tester (AG-100D, manufactured by Shimadzu Corporation) as follows. A jig capable of fixing the width of the tape (1/2 inch) is attached to the tensile tester, and the top and bottom of the tape width are fixed. The distance (length of the tape between the chucks) is set to 100 mm. After the tape sample is chucked, stress is gradually applied in the direction in which the sample is pulled (longitudinal direction of the sample). The pulling speed is set to 0.1 mm/min. From the change in stress and the amount of elongation at this time, the Young's modulus is calculated using the following formula.
  • E(GPa) (( ⁇ N/S)/( ⁇ x/L)) ⁇ 10 ⁇ N: Change in stress (N) S: Cross-sectional area of the test piece (mm 2 ) ⁇ x: Elongation (mm) L: Distance between gripping jigs (mm)
  • the cross-sectional area S of the measurement sample is the cross-sectional area before the tensile operation, and is calculated by multiplying the width (1/2 inch) of the measurement sample by the thickness of the measurement sample.
  • the range of tensile stress during measurement is set in the linear region according to the thickness of the magnetic tape MT, etc.
  • the stress range is set to 0.5 N to 1.0 N, and the stress change ( ⁇ N) and elongation ( ⁇ x) at this time are used for calculation.
  • the Young's modulus is measured at 25° C. ⁇ 2° C. and 50% RH ⁇ 5% RH.
  • the average Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is preferably 7.8 GPa or less, more preferably 7.0 GPa or less, even more preferably 6.6 GPa or less, and particularly preferably 6.4 GPa or less.
  • the average Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is 7.8 GPa or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to external force is further increased, so that the adjustment of the width of the magnetic tape MT by tension adjustment becomes easier. Therefore, off-track can be further appropriately suppressed, and data recorded on the magnetic tape MT can be reproduced more accurately.
  • the lower limit of the average Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is preferably 2.5 GPa or more, more preferably 3.0 GPa or more.
  • the lower limit of the average Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is 2.5 GPa or more, the decrease in running stability can be suppressed.
  • the average Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is determined as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut to a length of 180 mm from each of the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples. Next, the underlayer 42, magnetic layer 43, and back layer 44 are removed from each cut sample to obtain the substrate 41. Using the substrates 41 of these three samples, the average Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is determined in the same manner as the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the thickness of the base 41 accounts for more than half of the total thickness of the magnetic tape MT. Therefore, the average Young's modulus in the longitudinal direction of the base 41 correlates with the difficulty of the magnetic tape MT to expand and contract due to an external force; the larger this value, the less likely the magnetic tape MT is to expand and contract in the width direction due to an external force, and the smaller this value, the more likely the magnetic tape MT is to expand and contract in the width direction due to an external force.
  • the average Young's modulus of the substrate 41 in the longitudinal direction is a value related to the longitudinal direction of the magnetic tape MT, it also correlates with the difficulty of the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction. In other words, the larger this value, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction due to external forces, and the smaller this value, the more easily the magnetic tape MT can expand and contract in the width direction due to external forces. Therefore, from the perspective of tension adjustment, it is advantageous for the average Young's modulus of the substrate 41 in the longitudinal direction to be small, as described above, at 7.8 GPa or less.
  • a paint for forming the undercoat layer is prepared by kneading and dispersing non-magnetic powder, binder, etc. in a solvent.
  • a paint for forming the magnetic layer is prepared by kneading and dispersing magnetic powder, binder, lubricant, carbon, etc. in a solvent.
  • the following solvents, dispersing devices, and kneading devices can be used to prepare the paint for forming the magnetic layer and the paint for forming the undercoat layer.
  • Solvents used in preparing the above-mentioned paints include, for example, ketone-based solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; alcohol-based solvents such as methanol, ethanol, and propanol; ester-based solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, propyl acetate, ethyl lactate, and ethylene glycol acetate; ether-based solvents such as diethylene glycol dimethyl ether, 2-ethoxyethanol, tetrahydrofuran, and dioxane; aromatic hydrocarbon-based solvents such as benzene, toluene, and xylene; and halogenated hydrocarbon-based solvents such as methylene chloride, ethylene chloride, carbon tetrachloride, chloroform, and chlorobenzene. These may be used alone or
  • the kneading device used in the above-mentioned paint preparation may be, for example, a continuous twin-screw kneader, a continuous twin-screw kneader capable of dilution in multiple stages, a kneader, a pressure kneader, a roll kneader, etc., but is not limited to these devices.
  • the dispersing device used in the above-mentioned paint preparation may be, for example, a roll mill, a ball mill, a horizontal sand mill, a vertical sand mill, a spike mill, a pin mill, a tower mill, a pearl mill (for example, the "DCP Mill” manufactured by Eirich), a homogenizer, an ultrasonic dispersing machine, etc., but is not limited to these devices.
  • the underlayer forming paint is applied to one main surface of the substrate 41 and dried to form the underlayer 42.
  • the magnetic layer forming paint is applied to the underlayer 42 and dried to form the magnetic layer 43 on the underlayer 42.
  • the magnetic powder may be magnetically oriented in the thickness direction of the substrate 41, for example, by a solenoid coil.
  • the magnetic powder may be magnetically oriented in the running direction (longitudinal direction) of the substrate 41, and then magnetically oriented in the thickness direction of the substrate 41, for example, by a solenoid coil.
  • the vertical orientation degree (i.e., squareness ratio S1) of the magnetic powder can be further improved.
  • a back layer 44 is formed on the other main surface of the substrate 41. This results in a magnetic tape MT.
  • the squareness ratios S1 and S2 are set to the desired values by, for example, adjusting the strength of the magnetic field applied to the coating film of the magnetic layer-forming paint, the concentration of the solids in the magnetic layer-forming paint, and the drying conditions (drying temperature and drying time) of the coating film of the magnetic layer-forming paint.
  • the strength of the magnetic field applied to the coating film is preferably two to three times the coercive force of the magnetic powder.
  • the magnetic tape MT is wound into a roll, and then the magnetic tape MT is subjected to a heat treatment in this state to harden the underlayer 42 and the magnetic layer 43 .
  • the magnetic tape MT is cut to a predetermined width (for example, 1/2 inch width). In this manner, the magnetic tape MT is obtained.
  • the magnetic tape MT may be demagnetized and then a servo pattern may be written onto the magnetic tape MT.
  • a servo recording and reproducing device 70 (servo recording device) (see FIG. 17) is configured to write a servo pattern 47 onto a servo band s of the magnetic tape MT (see FIG. 10) that can be accurately read by a data write head 60 of a data recording and reproducing device 50 (data recording device) (see FIG. 11).
  • the data write head 60 of the data recording and reproducing device 50 is positioned at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT (see FIG. 12). Therefore, in this embodiment, a first servo pattern 47a ("/") and a second servo pattern 47b (" ⁇ ") that are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape are written in the servo band s (see FIG. 10).
  • the following describes the configuration of the data recording and reproducing device 50, followed by the configuration of the servo recording and reproducing device 70.
  • FIG. 9 is a schematic diagram of the magnetic tape MT as viewed from the side
  • Fig. 10 is a schematic diagram of the magnetic tape MT as viewed from above (the magnetic layer 43 side).
  • the magnetic tape MT is configured in the shape of a tape that is long in the longitudinal direction (X-axis direction), short in the width direction (Y-axis direction), and thin in the thickness direction (Z-axis direction).
  • the magnetic layer 43 has a number of data bands d (data bands d0 to d3) in which data is written, and a number of servo bands s (servo bands s0 to s4) in which servo patterns 47 are written.
  • Each of the multiple data bands d and the multiple servo bands s is long in the longitudinal direction (X-axis direction) and short in the width direction (Y-axis direction).
  • the servo bands s are positioned so as to sandwich each data band d in the width direction (Y-axis direction).
  • the number of data bands d is four and the number of servo bands s is five.
  • the number of data bands d and the number of servo bands s are 5+4n or more (where n is an integer equal to or greater than 0), preferably 5 or more, and more preferably 9 or more. If the number of servo bands s is 5 or more, the effect of dimensional changes in the width direction of the magnetic tape MT on the servo signal can be suppressed, ensuring stable recording and playback characteristics with less off-track.
  • the upper limit of the number of servo bands SB is not particularly limited, but is, for example, 33 or less.
  • the upper limit of the average value of the servo band width is preferably 98 ⁇ m or less, more preferably 60 ⁇ m or less, and even more preferably 30 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the average value of the servo band width W SB is preferably 10 ⁇ m or more. It is difficult to manufacture a head unit 56 capable of reading a servo signal with a servo band width of less than 10 ⁇ m.
  • the ratio of the area of the servo band s to the total surface area of the magnetic layer 43 is, for example, 4.0% or less.
  • the width of the servo band s is, for example, 96 ⁇ m or less for a 1/2 inch tape width.
  • the ratio of the area of the servo band s to the total surface area of the magnetic layer 43 can be measured, for example, by developing the magnetic tape MT using a developer such as a ferricolloid developer, and then observing the developed magnetic tape MT with an optical microscope.
  • the data band d includes a plurality of recording tracks 46 that are long in the longitudinal direction and aligned in the width direction.
  • the number of recording tracks 46 included in one data band d is, for example, about 1000 to 2500. Data is recorded along and within these recording tracks 46.
  • the length of one bit in the longitudinal direction of the data recorded in the data band d is, for example, 48 nm or less.
  • the width of the recording track 46 (track pitch: Y-axis direction) is, for example, 2.0 ⁇ m or less. Note that such a recording track width can be measured, for example, by developing the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT using a developing solution such as a ferric colloid developing solution, and then observing the developed magnetic layer 43 of the magnetic tape MT with an optical microscope.
  • a method using the data write head 60 may be used to measure the recording track width.
  • the data write head 60 in order to ignore fluctuations during the running of the magnetic tape MT, the data write head 60 is in a recording and reproducing state, and the recording track width can be measured from the change in output when the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is changed.
  • the servo band s includes a servo pattern 47 of a predetermined shape that is recorded by a servo recording and reproducing device 70 (see FIG. 17) described later.
  • the servo pattern 47 includes a first servo pattern 47a ("/") and a second servo pattern 47b (" ⁇ ").
  • the symbols "/" and “ ⁇ ” in the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are used as symbols indicating the inclination direction of the servo pattern when the magnetic tape MT is viewed from below (the back layer side). Therefore, the symbols “/” and “ ⁇ ” in the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are reversed from the case of FIG. 10 when viewed from the magnetic layer side. Meanwhile, in FIG. 18 to FIG.
  • the first servo element 82a (“/") that writes the first servo pattern 47a (“/")
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") that writes the second servo pattern 47b (“ ⁇ ")
  • the servo patterns 47a and 47b recorded on the magnetic layer by the servo elements 82a and 82b are shown as viewed from the back layer side on the head sliding surface.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are written in the servo band s so as to be asymmetric with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT. Note that in the case of a typical servo pattern, the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are written in the servo band s so as to be symmetric (line symmetric) with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the first servo pattern 47a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 with respect to the width direction of the magnetic tape MT
  • the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2 different from the first angle ⁇ s1 in the opposite direction with respect to the width direction of the magnetic tape MT (see Figures 19 and 21 described below).
  • a group of first servo patterns 47a (“/") and a group of second servo patterns 47b (“ ⁇ ") are arranged alternately in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the number of first servo patterns 47a (“/") included in a group of first servo patterns 47a (“/”) is typically four or five, and similarly, the number of second servo patterns 47b (“ ⁇ ") included in a group of second servo patterns 47b (“ ⁇ ”) is typically four or five.
  • the shape of the servo pattern 47 can be measured, for example, by developing the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT using a developer such as a ferric colloid developer, and then observing the developed magnetic layer 43 of the magnetic tape MT with an optical microscope.
  • a developer such as a ferric colloid developer
  • the number of recording tracks 46 increases with each generation of LTO-standard magnetic tape MT, dramatically improving recording capacity.
  • the original LTO-1 had 384 recording tracks 46, but the numbers of recording tracks 46 in LTO-2 to LTO-9 are 512, 704, 896, 1280, 2176, 3584, 6656, and 8960, respectively.
  • data recording capacity was 100GB (gigabytes) in LTO-1, but is 200GB, 400GB, 800GB, 1.5TB (terabytes), 2.5TB, 6.0TB, 12TB, and 18TB, respectively, in LTO-2 to LTO-9.
  • the number of recording tracks 46 and the recording capacity are not particularly limited and can be changed as appropriate. However, it is advantageous to apply this technology to a magnetic tape MT that has a large number of recording tracks 46 and a large recording capacity (e.g., 6,656 tracks or more, 12 TB or more: LTO8 and later) and is susceptible to variations in the width of the magnetic tape MT.
  • a large number of recording tracks 46 and a large recording capacity e.g., 6,656 tracks or more, 12 TB or more: LTO8 and later
  • FIG. 11 is a diagram showing a data recording/reproducing device 50.
  • the data recording/reproducing device 50 is capable of recording data on the magnetic tape MT, and is also capable of reproducing the data recorded on the magnetic tape MT.
  • the data recording and reproducing device 50 is configured so that a cartridge 10 can be loaded into it.
  • the cartridge 10 is configured so that a wound magnetic tape MT can be rotatably accommodated therein.
  • the data recording and reproducing device 50 may be configured so that one cartridge 10 can be loaded into it, or so that multiple cartridges 10 can be loaded into it at the same time.
  • the data recording and reproducing device 50 includes a spindle 51, a take-up reel 52, a spindle drive unit 53, a reel drive unit 54, a data write head 60, a control unit 55, a width measuring unit 56, an angle adjustment unit 57, and a number of guide rollers 58.
  • the spindle 51 is configured so that its rotation can rotate the magnetic tape MT housed inside the cartridge 10.
  • the spindle drive unit 53 rotates the spindle 51 in response to commands from the control unit 55.
  • the take-up reel 52 is configured to be able to fix the tip of the magnetic tape MT that is pulled out from the cartridge 10 via a tape loading mechanism (not shown).
  • the reel drive unit 54 rotates the take-up reel 52 in response to commands from the control unit 55.
  • the multiple guide rollers 58 guide the magnetic tape MT so that the transport path formed between the cartridge 10 and the take-up reel 52 has a predetermined relative positional relationship with the data write head 60.
  • the data write head 60 is configured to be able to record data to the data band d (recording track 46) of the magnetic tape MT in response to a command from the control device 55 when the magnetic tape MT passes underneath the data write head 60, and is also configured to be able to play back the recorded data.
  • the spindle 51 and take-up reel 52 are rotated by the spindle drive unit 53 and reel drive unit 54, causing the magnetic tape MT to run.
  • the magnetic tape MT can run back and forth in the forward direction (the direction in which it unwinds from the spindle 51 side to the take-up reel 52 side) indicated by the arrow A1 in FIG. 11, and in the reverse direction (the direction in which it rewinds from the take-up reel 52 side to the spindle 51 side) indicated by the arrow A2.
  • the data write head 60 is capable of recording/playing back data in both the forward and reverse directions of the magnetic tape MT.
  • the data write head 60 is positioned such that the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60 is inclined at a predetermined angle ⁇ (first head azimuth angle ⁇ ) with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT (see FIG. 12 described below).
  • the angle at which the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60 is inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is referred to as the azimuth angle ⁇ of the data write head 60. Details of the configuration of the data write head 60 will be described later with reference to FIG. 12 etc.
  • the width measurement unit 56 is configured to be capable of measuring the width of the magnetic tape MT when the magnetic tape MT passes below the width measurement unit 56. In other words, the width measurement unit 56 is configured to be capable of measuring the width of the magnetic tape MT when the data write head 60 records/plays data on the magnetic tape MT. The width measurement unit 56 measures the width of the magnetic tape MT and transmits it to the control device 55.
  • the width measurement unit 56 is composed of various sensors, such as an optical sensor. Any sensor capable of measuring the width of the magnetic tape MT may be used as the width measurement unit 56.
  • the width of the magnetic tape MT can also be predicted by reading adjacent servo patterns 47 and determining the difference in position signals. In this case, the width measurement unit 56 can be omitted.
  • the angle adjustment unit 57 is configured to be able to hold the data write head 60 rotatably around an axis (Z-axis) in the vertical direction.
  • the angle adjustment unit 57 is configured to be able to adjust the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 in response to a command from the control device 55.
  • the control device 55 includes, for example, a control unit, a memory unit, a communication unit, etc.
  • the control unit is composed of, for example, a CPU (Central Processing Unit), etc., and performs overall control of each part of the data recording and playback device 50 according to a program stored in the memory unit.
  • CPU Central Processing Unit
  • the storage unit includes a non-volatile memory in which various data and programs are recorded, and a volatile memory used as a working area for the control unit.
  • the above-mentioned various programs may be read from a portable recording medium such as an optical disk or semiconductor memory, or may be downloaded from a server device on a network.
  • the communication unit is configured to be capable of communicating with other devices such as a PC (Personal Computer) or a server device.
  • control device 55 acquires information on the width of the magnetic tape MT from the width measurement unit 56 (or predicts the width of the magnetic tape from the servo signal), and adjusts the azimuth angle ⁇ (see FIG. 12) of the data write head 60 using the angle adjustment unit 57 based on the information on the width of the magnetic tape MT.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is adjusted to accommodate variations in the width of the magnetic tape MT.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made smaller, and conversely, when the width of the magnetic tape MT becomes relatively narrower, the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made larger.
  • the width of the magnetic tape MT may vary for various reasons, such as temperature, humidity, and tension applied to the magnetic tape MT in the longitudinal direction.
  • FIG. 12 is a schematic diagram of the data write head 60 as viewed from below (the back layer side).
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is defined as the Y'-axis direction, the width direction of the data write head 60 as the X'-axis direction, and the up-down direction of the data write head 60 as the Z'-axis direction.
  • the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT is defined as the X-axis direction, the width direction of the magnetic tape MT as the Y-axis direction, and the thickness direction of the magnetic tape MT as the Z-axis direction. Note that the direction of the magnetic tape MT is based on the direction of the magnetic tape MT as it passes under the data write head 60.
  • the data write head 60 includes a first data write head 60a and a second data write head 60b.
  • the two data write heads 60 are not particularly distinguished from each other, they are collectively referred to simply as data write heads 60, and when the two data write heads 60 are particularly distinguished from each other, they are referred to as the first data write head 60a and the second data write head 60b.
  • the first data write head 60a and the second data write head 60b are configured symmetrically in the width direction (Y' axis direction) of the data write head 60, but are basically configured the same.
  • the first data write head 60a and the second data write head 60b are movable together in the width direction (Y axis direction) of the magnetic tape MT, which allows data to be written to any one of the data bands d out of all data bands d0 to d3.
  • the first data write head 60a is a head that is used when the magnetic tape MT is running in the forward direction (direction A1 in FIG. 11).
  • the second data write head 60b is a head that is used when the magnetic tape MT is running in the reverse direction (direction A2 in FIG. 11).
  • the data write head 60 has a facing surface 61 that faces the magnetic tape MT.
  • the facing surface 61 is long in the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60 and short in the width direction (X'-axis direction) of the data write head 60.
  • the facing surface 61 is provided with two servo read sections 62 and multiple data write/read sections 63.
  • the servo read sections 62 are provided on both ends of the data write head 60 in the longitudinal direction (Y'-axis direction).
  • the servo read sections 62 are configured to be able to reproduce servo signals by reading the magnetic field generated by the servo pattern 47 recorded on the servo band s of the magnetic tape MT using an MR element (MR: Magneto Resistive effect) or the like.
  • MR Magneto Resistive effect
  • MR elements examples include anisotropic magnetoresistive effect elements (AMR: Anisotropic Magneto Resistive effect), giant magnetoresistive effect elements (GMR: Giant Magneto Resistive effect), and tunnel magnetoresistive effect elements (TMR: Tunnel Magneto Resistive effect).
  • AMR Anisotropic Magnetoresistive effect elements
  • GMR giant magnetoresistive effect elements
  • TMR tunnel magnetoresistive effect elements
  • the data write/read sections 63 are arranged at equal intervals along the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60. Furthermore, the data write/read sections 63 are arranged at a position sandwiched between two servo read sections 62.
  • the number of data write/read sections 63 is, for example, about 20 to 40, but there is no particular limit to this number.
  • the data write/read section 63 includes a data write section 64 and a data read section 65.
  • the data write section 64 is configured to be able to record data onto the data band d of the magnetic tape MT by the magnetic field generated from the magnetic gap.
  • the data read section 65 is also configured to be able to reproduce data signals by reading the magnetic field caused by the data recorded on the data band d of the magnetic tape MT using an MR element or the like.
  • an MR element an anisotropic magnetoresistance effect element (AMR), a giant magnetoresistance effect element (GMR), a tunnel magnetoresistance effect element (TMR), or the like is used.
  • the data write section 64 is located to the left of the data read section 65 (upstream when the magnetic tape MT flows in the forward direction).
  • the data write section 64 is located to the right of the data read section 65 (upstream when the magnetic tape MT flows in the reverse direction).
  • the data read section 65 is capable of reproducing the data signal immediately after the data write section 64 paired with the data read section 65 writes the data to the magnetic tape MT.
  • data written by the data write section 64 of one of the data write heads 60, the first data write head 60a and the second data write head 60b, may be reproduced by the data read section 65 of the other data write head 60.
  • the magnetic tape MT travels back and forth multiple times, forward and reverse, while data is recorded on the recording track 46 by the first data write head 60a and the second data write head 60b.
  • the angle adjustment unit 57 (see FIG. 11) is capable of holding the first data write head 60a and the second data write head 60b rotatably around an axis (Z' axis) in the vertical direction.
  • the angle adjustment unit 57 is also capable of rotating the first data write head 60a and the second data write head 60b individually around the axis in the vertical direction.
  • the angle adjustment unit 57 adjusts the angles of the first data write head 60a and the second data write head 60b so that the longitudinal directions of the first data write head 60a and the second data write head 60b are inclined by the azimuth angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the first data write head 60a in the Y-axis direction are the same as the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the second data write head 60b in the Y-axis direction. This positional relationship does not change even if the first data write head 60a and the second data write head 60b rotate around the Z-axis.
  • the angle adjustment unit 57 can rotate the first data write head 60a and the second data write head 60b individually so that the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the first data write head 60a in the Y-axis direction (the width direction of the magnetic tape MT) are the same as the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the second data write head 60b in the Y-axis direction.
  • a reference angle Ref ⁇ is set as a standard for the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, and the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is set to an angle range represented by the reference angle Ref ⁇ x°.
  • FIG. 12 shows an example in which the reference angle Ref ⁇ is set in a clockwise direction (as viewed from the bottom side of the magnetic tape MT) relative to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the reference angle Ref ⁇ may be set in a counterclockwise direction (as viewed from the bottom side of the magnetic tape MT) relative to the width direction of the magnetic tape MT.
  • FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.1 ⁇ m).
  • the horizontal axis shows the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60
  • the vertical axis shows the azimuth loss L ⁇ .
  • the azimuth loss L ⁇ [dB] is expressed by the following formula.
  • L ⁇ ⁇ 20 Log 10 [sin ⁇ ( ⁇ W/ ⁇ ) tan ⁇ /( ⁇ W/ ⁇ ) tan ⁇ ]
  • W is the reproducing track width
  • ⁇ is the data recording wavelength
  • ⁇ is the azimuth angle of the data write head 60 .
  • the reproduction track width W is set to 0.8 ⁇ m, 0.5 ⁇ m, 0.4 ⁇ m, 0.3 ⁇ m, and 0.2 ⁇ m.
  • the recording wavelength ⁇ is set to 0.1 ⁇ m.
  • the graph where the reproduction track width W is 0.8 ⁇ m corresponds to LTO-9
  • the graphs where the reproduction track width W is 0.5 ⁇ m, 0.4 ⁇ m, 0.3 ⁇ m, and 0.2 ⁇ m correspond to LTO-10 and later (estimated values).
  • the tolerable value of azimuth loss L ⁇ is 0.05 dB or less.
  • the playback track width W of the magnetic tape MT is 0.5 ⁇ m or less (LTO-10 and later (estimated value)).
  • the angular range of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is a maximum of Ref ⁇ 0.7°. Therefore, in this embodiment, in the angular range of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, the value of x in Ref ⁇ x° is typically set to 0.7° or less.
  • Figure 14 shows the relationship between the angle range Ref ⁇ x° at the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 and the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width variation of the magnetic tape MT.
  • the horizontal axis indicates the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, and the vertical axis indicates the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width variation of the magnetic tape MT.
  • Figure 15 shows the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width variation of the magnetic tape MT. As shown in Figure 15, this amount of correction is expressed as a-b.
  • the value of a is the distance between the two servo read sections 62 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT when the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is Ref ⁇ -x°.
  • the value of b is the distance between the two servo read sections 62 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT when the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is Ref ⁇ +x°.
  • the angular range of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is a maximum of Ref ⁇ 0.7° (see the vertical dashed line in FIG. 14).
  • the correction amount is 10 ⁇ m or more (see the horizontal dashed line in FIG. 14).
  • a reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 of 7.5° is slightly insufficient, and a reference angle Ref ⁇ of 10° is sufficient.
  • the reference angle Ref ⁇ should be 8° or more.
  • the explanation here does not mean that the reference angle Ref ⁇ must be 8° or more in this embodiment.
  • the reference angle Ref ⁇ can be set appropriately to 2.5° or more, 5° or more, 7.5° or more, 8° or more, 10° or more, 12.5° or more, 15° or more, etc.
  • FIG. 16 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.07 ⁇ m).
  • the horizontal axis shows the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60
  • the vertical axis shows the azimuth loss L ⁇ .
  • the data recording wavelength ⁇ is set to 0.07 ⁇ m.
  • the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes smaller as the data recording wavelength ⁇ becomes smaller. Also, the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes larger as the reproduction track width W becomes smaller (see Figures 13 and 16).
  • the reference angle Ref ⁇ at the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes larger as the data recording wavelength ⁇ becomes smaller.Furthermore, the reference angle Ref ⁇ at the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes smaller as the reproduction track width W becomes smaller (see FIG. 14).
  • the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 can be set to an appropriate value (e.g., 0.7° or less, 0.6° or less, 0.5° or less, 0.4° or less, etc.), and the reference angle Ref ⁇ of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 can be set to an appropriate value (e.g., 2.5° or more, 5° or more, 7.5° or more, 8° or more, 10° or more, 12.5° or more, 15° or more, etc.).
  • the servo recording and reproducing device 70 includes a feed roller 71, a degaussing unit 72, a servo write head 80, a servo read head 75, a take-up roller 76, and four pairs of capstan rollers 77.
  • the feed roller 71 is capable of rotatably supporting the rolled magnetic tape MT.
  • the feed roller 71 is rotated in response to the drive of a motor or the like, and feeds out the magnetic tape MT downstream in response to the rotation.
  • the winding roller 76 is capable of rotatably supporting the rolled magnetic tape MT.
  • the winding roller 76 rotates in response to the drive of a motor or the like, and winds up the magnetic tape MT as it rotates.
  • the four pairs of capstan rollers 77 are each capable of clamping the magnetic tape MT from both the top and bottom sides.
  • the four pairs of capstan rollers 77 rotate in response to the drive of a motor or the like, and transport the magnetic tape MT along the transport path in response to the rotation.
  • the feed roller 71, take-up roller 76, and four pairs of capstan rollers 77 are capable of transporting the magnetic tape MT at a constant speed within the transport path.
  • the servo write head 80 is disposed, for example, on the upper side (magnetic layer 43 side) of the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80 applies a magnetic field to the servo band s at a predetermined timing in response to a square wave pulse signal, and records the servo pattern 47 on the servo band s.
  • the servo write head 80 is capable of recording servo patterns 47 for each of the servo bands s (s0 to s4) when the magnetic tape MT passes underneath the servo write head 80. Details of the configuration of the servo write head 80 will be described later with reference to Figures 18 to 24.
  • the demagnetizing unit 72 is disposed, for example, upstream of the servo write head 80 and below the magnetic tape MT (towards the substrate 41).
  • the demagnetizing unit 72 is composed, for example, of two permanent magnets 73 and 74.
  • the permanent magnets 73 and 74 apply a magnetic field to the entire magnetic layer 43 using a DC magnetic field, thereby demagnetizing the entire magnetic layer 43 before the servo pattern 47 is recorded by the servo write head 80.
  • the servo read head 75 is positioned downstream of the servo write head 80 and above the magnetic tape MT (on the magnetic layer 43 side).
  • the servo read head 75 is configured to be able to reproduce the information of the servo pattern 47 by reading the magnetic field generated from the servo pattern 47 recorded on the magnetic tape MT.
  • the servo read head 75 is capable of reading the servo patterns 47 from all servo bands s (s0 to s4) when the magnetic tape MT passes underneath the servo read head 75.
  • the information on the servo pattern 47 read by the servo read head 75 is used to confirm whether the servo pattern 47 has been recorded accurately.
  • the types of servo read head 75 include, for example, inductive type, MR type (Magneto Resistive), GMR type (Giant Magneto Resistive), TMR type (Tunnel Magneto Resistive), etc.
  • the servo recording and reproducing device 70 is equipped with a control device that comprehensively controls each part of the servo recording and reproducing device 70.
  • the control device includes, for example, a control unit, a memory unit, a communication unit, etc.
  • the control unit is composed of, for example, a CPU (Central Processing Unit), etc., and performs overall control of each part of the servo recording and reproduction device 70 according to the program stored in the memory unit.
  • a CPU Central Processing Unit
  • the storage unit includes a non-volatile memory in which various data and programs are recorded, and a volatile memory used as a working area for the control unit.
  • the above-mentioned various programs may be read from a portable recording medium such as an optical disk or semiconductor memory, or may be downloaded from a server device on a network.
  • the communication unit is configured to be capable of communicating with other devices such as a PC or server device.
  • the configuration of the servo write head 80 will be described in detail.
  • the data write head 60 in the data recording and reproducing device 50 is disposed at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT. Therefore, the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are written asymmetrically with respect to the width direction of the magnetic tape MT so that the data write head 60 can accurately read the servo patterns 47. Writing of the asymmetric servo patterns 47 is performed by the servo write head 80.
  • servo write head 80 configurations There are two types of servo write head 80 configurations: a first embodiment and a second embodiment.
  • the longitudinal direction (Y" axis direction) of servo write head 80a is arranged parallel to the width direction (Y axis direction) of magnetic tape MT (see Figures 18 to 20 described below).
  • the longitudinal direction (Y" axis direction) of servo write head 80b is arranged at a predetermined angle inclined to the width direction (Y axis direction) of magnetic tape MT (see Figures 21 to 24 described below).
  • Fig. 18 is a diagram showing the servo write head 80a and a pulse signal input to the servo write head 80a.
  • Fig. 19 is an enlarged view of a servo element 82 of the servo write head 80a.
  • Fig. 20 is a diagram showing the state when the servo write head 80a writes a servo pattern 47 onto the magnetic tape MT. Note that Figs. 18 to 20 show the surface of the servo write head 80a that faces the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80a is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the longitudinal direction of the servo write head 80a is the Y" axis direction
  • the width direction of the servo write head 80a is the X" axis direction
  • the up-down direction of the servo write head 80a is the Z" axis direction.
  • the longitudinal direction (transport direction) of the magnetic tape MT is the X axis direction
  • the width direction of the magnetic tape MT is the Y axis direction
  • the thickness direction of the magnetic tape MT is the Z axis direction. This is also true in Figures 21 to 24.
  • the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a coincides with the direction of the magnetic tape MT (Y axis direction), and the width direction (X" axis direction) of the servo write head 80a coincides with the longitudinal direction (X axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80a has a facing surface 81 that faces the magnetic tape MT.
  • the facing surface 81 is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the servo write head 80a has five pairs of servo elements 82 (magnetic gaps) on the opposing surface 80a.
  • the five pairs of servo elements 82 are arranged at a predetermined interval (servo element pitch: SP) in the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a.
  • the distance (servo element pitch) between two pairs of adjacent servo elements 82 is, for example, 2858.8 ⁇ 4.6 ⁇ m. Note that this value corresponds to the distance (servo band pitch: SP) between two adjacent servo bands s in the width direction (Y axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the pair of servo elements 82 includes a first servo element 82a ("/") and a second servo element 82b (" ⁇ ") that are configured asymmetrically with respect to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a (width direction of the magnetic tape MT: Y axis direction) (see FIG. 19 in particular).
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a (width direction of the magnetic tape MT: Y axis direction).
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2 in the opposite direction to the first angle ⁇ s1 relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a (width direction of the magnetic tape MT: Y axis direction).
  • the first angle ⁇ s1 and the second angle ⁇ s2 are related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60, and are expressed by the following equations, respectively.
  • ⁇ s1 Ref ⁇ + ⁇ a
  • ⁇ s2 Ref ⁇ a
  • Ref ⁇ is the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60
  • ⁇ a is the servo azimuth angle.
  • the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is set to 10° and the servo azimuth angle ⁇ a is set to 12°
  • the first angle ⁇ s1 of the first servo element 82a ("/") is set to 22°
  • the second angle ⁇ s2 of the second servo element 82b (“ ⁇ ") is set to 2°.
  • the distance between the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is, for example, 38 ⁇ m at a position that is 1/2 the width direction component SL of the length of the servo element.
  • the direction along the first angle ⁇ s1 (a direction at 22° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the first servo element 82a ("/").
  • the direction along the second angle ⁇ s2 (a direction at -2° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the second servo element 82b (“ ⁇ ").
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the longitudinal direction, and in this example, the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is longer than the length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component SL (Y-axis direction) of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the first servo element 82a is the same as the width component SL (Y-axis direction) of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component SL of the length of the servo element 82 is, for example, 96 ⁇ 3 ⁇ m.
  • FIG. 18 shows the pulse signals input to each of the five pairs of servo elements 82.
  • FIG. 20 shows the servo pattern 47 written in the servo band s of the magnetic tape MT by inputting the pulse signals to the five pairs of servo elements 82.
  • the data write head 60 is positioned at an inclination of the azimuth angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • pulse signals of the same phase are input to five pairs of servo elements 82 at the same time, and servo patterns 47 of the same phase are written at positions parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the phases of the servo patterns 47 read at the same time by the two servo read portions 62 of the data write head 60 positioned at an angle will be different.
  • the phases of the pulse signals input to five pairs of servo elements 82 at the same time are made different, so that servo patterns 47 of the same phase are written non-parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • phase difference between the pulse signals input to two pairs of servo elements 82 adjacent to each other in the longitudinal direction of the servo write head 80a corresponds to SP x tan(Ref ⁇ ).
  • Ref ⁇ is the reference angle in the data write head 60.
  • phase differences of the input pulses of the servo elements 82 of servo bands s3, s2, s1, and s0 based on the input pulse of the servo element 82 of servo band s4 correspond to phases of 504.08 ⁇ m, 1008.17 ⁇ m, 1512.25 ⁇ m, and 2016.33 ⁇ m, respectively.
  • the servo element 82 in servo band s0 receives the input pulse with the most advanced phase of the pulse signal input at the same time.
  • the order of the input pulse phase is then the servo element 82 in servo band s1, the servo element 82 in servo band s2, the servo element 82 in servo band s3, and the servo element 82 in servo band s4.
  • a pulse signal with a phase that is 504.08 ⁇ m ahead of the servo element 82 of servo band s1 is input to the servo element 82 of servo band s0.
  • phase difference in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT between the servo patterns 47 written in two servo bands s adjacent to each other in the width direction of the magnetic tape MT is expressed as SP x tan(Ref ⁇ ).
  • phase differences of the servo patterns 47 of servo bands s3, s2, s1, and s2 based on the servo pattern 47 of servo band s4 correspond to 504.08 ⁇ m, 1008.17 ⁇ m, 1512.25 ⁇ m, and 2016.33 ⁇ m, respectively.
  • the servo pattern 47 in servo band s0 is the one that has the most advanced phase in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the order of phases is the servo pattern 47 in servo band s1, the servo pattern 47 in servo band s2, the servo pattern 47 in servo band s3, and the servo pattern 47 in servo band s4.
  • the phase of the servo pattern 47 of servo band s0 is set to be ahead of the servo pattern 47 of servo band s1 by a phase corresponding to 504.08 ⁇ m.
  • the phases of the servo patterns 47 written in the five servo bands s are in phase.
  • Fig. 21 is an enlarged view of a servo write head 80b according to the second embodiment and a servo element 82 of the servo write head 80b.
  • Fig. 22 is a view showing a state in which a servo pattern 47 is written on a magnetic tape MT by the servo write head 80b according to the second embodiment.
  • Figs. 21 and 22 show the surface of the servo write head 80b facing the magnetic tape MT.
  • Figs. 23 to 27 described later also show the surface of the servo write head 80 facing the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80b has a shape that is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b is tilted at a predetermined angle (second head azimuth angle) with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the angle at which the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b is tilted with respect to the width direction (Y axis direction) of the magnetic tape MT is related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 and coincides with the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 (e.g., 10°).
  • the servo write head 80b has a facing surface 81 that faces the magnetic tape MT.
  • the facing surface 81 is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the servo write head 80b has five pairs of servo elements 82 (magnetic gaps) on the opposing surface 81.
  • the five pairs of servo elements 82 are arranged at a predetermined interval (servo element pitch: SP1) in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the spacing (servo element pitch: SP1) between two pairs of adjacent servo elements 82 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is, for example, 2858.8 ⁇ 4.6 ⁇ m. This value corresponds to the spacing (servo band pitch: SP1) between two servo bands s that are adjacent to each other in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • SP1 x tan(Ref ⁇ ) The difference in position between two pairs of adjacent servo elements 82 in the longitudinal direction (X-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • Ref ⁇ is the reference angle in the data write head 60.
  • the pair of servo elements 82 includes a first servo element 82a ("/") and a second servo element 82b (" ⁇ ") that are configured asymmetrically with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT (see particularly the right side of Figure 21).
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 relative to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2 in the opposite direction to the first angle ⁇ s1 relative to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the first angle ⁇ s1 and the second angle ⁇ s2 are related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60, and are expressed by the following equations, respectively.
  • ⁇ s1 Ref ⁇ + ⁇ a
  • ⁇ s2 Ref ⁇ a
  • Ref ⁇ is the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60
  • ⁇ a is the servo azimuth angle.
  • the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is set to 10° and the servo azimuth angle ⁇ a is set to 12°
  • the first angle ⁇ s1 of the first servo element 82a ("/") is set to 22°
  • the second angle ⁇ s2 of the second servo element 82b (“ ⁇ ") is set to 2°.
  • the distance between the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is, for example, 38 ⁇ m at a position that is 1/2 the width component SL of the length of the servo element 82.
  • the direction along the first angle ⁇ s1 (a direction at 22° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the first servo element 82a ("/").
  • the direction along the second angle ⁇ s2 (a direction at -2° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the second servo element 82b (“ ⁇ ").
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the longitudinal direction, and in this example, the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is longer than the length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component (Y-axis direction) SL1 of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the first servo element 82a is the same as the width component (Y-axis direction) SL1 of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component SL1 of the length of the servo element 82 is, for example, 96 ⁇ 3 ⁇ m.
  • FIG. 26 is an enlarged view of the right side of FIG. 21, showing an example of specific dimensions of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") (based on the XYZ coordinate system).
  • FIG. 22 shows a servo pattern 47 written in five servo bands s by five pairs of servo elements 82.
  • phase difference in the width direction of the magnetic tape MT between the servo patterns 47 written in two servo bands s adjacent to each other in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is expressed as SP1 x tan(Ref ⁇ ).
  • phase differences of the servo patterns 47 of servo bands s3, s2, s1, and s2, based on the servo pattern 47 of servo band s4, correspond to 504.08 ⁇ m, 1008.17 ⁇ m, 1512.25 ⁇ m, and 2016.33 ⁇ m, respectively.
  • the servo pattern 47 in servo band s0 is the one that has the most advanced phase in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the order of phases is the servo pattern 47 in servo band s1, the servo pattern 47 in servo band s2, the servo pattern 47 in servo band s3, and the servo pattern 47 in servo band s4.
  • the phase of the servo pattern 47 of servo band s0 is set to be ahead of the servo pattern 47 of servo band s1 by a phase corresponding to 504.08 ⁇ m.
  • the phases of the servo patterns 47 written in the five servo bands s are in phase.
  • FIG. 23 shows the servo write head 80b in the second embodiment, based on the coordinate system of the servo write head 80b.
  • the five pairs of servo elements 82 are arranged at a predetermined interval (servo element pitch: SP2) in the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b.
  • the interval (servo element pitch: SP2) between two adjacent pairs of -1 servo elements 82 in the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b is expressed as SP1 x cos(Ref ⁇ ).
  • the spacing (servo element pitch: SP1) between two adjacent pairs of servo elements 82 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is 2858.8 ⁇ m, and the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is 10°.
  • the spacing (servo element pitch: SP2) between two adjacent pairs of servo elements 82 in the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80b is 2902.9 ⁇ m.
  • the axis of symmetry of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is non-parallel to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT, and is also non-parallel to the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80b.
  • the axis of symmetry of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is non-parallel to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT, but is parallel to the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80b.
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a servo azimuth angle ⁇ a relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b.
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined in the opposite direction to the first servo element 82a ("/") at the same servo azimuth angle ⁇ a as the first servo element 82a ("/") relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b.
  • the direction along the servo azimuth angle ⁇ a (a direction at +12° relative to the longitudinal direction of the servo write head 80b) is defined as the longitudinal direction of the first servo element 82a ("/").
  • the direction along the servo azimuth angle ⁇ a (a direction at -12° relative to the longitudinal direction of the servo write head 80b) is defined as the longitudinal direction of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the longitudinal direction, and in this example, the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is longer than the length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the longitudinal component SL21 (Y" axis direction) of the servo write head 80b in the longitudinal length of the first servo element 82a ("/") and the longitudinal component SL22 (Y" axis direction) of the servo write head 80b in the longitudinal length of the second servo element 82b (“ ⁇ ") are also different.
  • FIG. 27 is an enlarged view of the right side of FIG. 23, showing an example of specific dimensions of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") (based on the X"Y"Z" coordinate system).
  • the width direction component SL1 (Y-axis direction) of the magnetic tape MT in the length of the servo element 82 is 96 ⁇ m
  • the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is 10°
  • the servo azimuth angle ⁇ a is 12°.
  • the right side of Figure 20 shows the servo pattern 47 written by the servo write head 80a of the first embodiment being read by the two servo read portions 62 of the data write head 60.
  • the servo write head 80a in the first embodiment is positioned without tilting it relative to the width direction of the magnetic tape MT, and uses a method of writing the servo pattern 47 by adjusting the phase of the pulse signal input to the servo element 82.
  • the magnetic tape MT may move slightly in the width direction (Y-axis direction).
  • the servo element 82 of servo band s0 writes a servo pattern 47 of a phase ph1 to servo band s0 at a certain time t1. Then, at a later time t2 (the time when the magnetic tape MT has been transported 504.08 ⁇ m in the transport direction), the servo element 82 of servo band s1 writes a servo pattern 47 of phase ph1 to servo band s1.
  • the distance (in the direction of the reference angle Ref ⁇ (10°)) between the position of the servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s0 and the position of the servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s1 will differ from the default value (the distance between the two servo lead portions 62: in the direction of the reference angle Ref ⁇ (10°)).
  • Figure 22 shows the servo pattern 47 written by the servo write head 80b in the second embodiment being read by the two servo read portions 62 of the data write head 60.
  • the servo write head 80b of the second embodiment is positioned at an angle to the width direction of the magnetic tape MT, and the servo pattern 47 is written with the same phase of the pulse signal input to the servo element 82.
  • the servo element 82 of the servo band s0 and the servo element 82 of the servo band s1 write servo patterns 47 of the same phase ph1 to the servo bands s0 and s1 at the same time t1.
  • the servo element 82 of servo band s0 and the servo element 82 of servo band s1 write servo patterns 47 of the same phase ph2 to servo bands s0 and s1 at the same time t2.
  • the distance (in the direction of reference angle Ref ⁇ (10°)) between the position of servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s0 and the position of servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s1 is the same as the distance between the position of servo pattern 47 of phase ph2 in servo band s0 and the position of servo pattern 47 of phase ph2 in servo band s1.
  • These distances are the same as the default value (distance between two servo lead portions 62: in the direction of reference angle Ref ⁇ (10°)), and are constant.
  • the spacing (in the direction of the reference angle Ref ⁇ ) between servo patterns 47 of the same phase in adjacent servo bands s can be made constant, regardless of slight movement in the width direction of the magnetic tape MT when writing the servo patterns 47. This allows the data write head 60 to accurately servo trace the servo patterns 47.
  • the second embodiment is more advantageous than the first embodiment.
  • this is not intended to mean that the method of the first embodiment cannot be adopted, and the first embodiment is also included as an example of the present technology.
  • the method of the first embodiment may be adopted.
  • the facing surface 81 of the servo write head 80 may be subjected to low-friction treatment in order to intentionally trap air between the facing surface 81 and the magnetic tape MT, thereby reducing frictional resistance.
  • FIG. 24 is a diagram showing the state when low-friction processing is applied to the facing surface 81 of the servo write head 80.
  • the left side of FIG. 24 shows the state when low-friction processing is applied to the facing surface 81 of the servo write head 80a according to the first embodiment.
  • the right side of FIG. 24 shows the state when low-friction processing is applied to the facing surface 81 of the servo write head 80b according to the second embodiment.
  • the facing surface 81 of the servo write head 80a has, in the longitudinal direction of the servo write head 80 (Y-axis direction: width direction of the magnetic tape MT), a first region 83 corresponding to the region where the servo elements 82 are provided, and a second region 84 corresponding to the region where the servo elements 82 are not provided.
  • multiple grooves are aligned along the width direction of the servo write head 80a (X-axis direction: longitudinal direction of the magnetic tape MT) and along the longitudinal direction of the servo write head 80a (Y-axis direction: width direction of the magnetic tape MT).
  • the facing surface 81 of the servo write head 80b has, in the longitudinal direction of the servo write head 80 (the direction of the reference angle Ref ⁇ relative to the width direction of the magnetic tape MT), a first region 83 corresponding to the region where the servo element 82 is provided, and a second region 84 corresponding to the region where the servo element 82 is not provided.
  • multiple grooves aligned along the direction of a reference angle Ref ⁇ (X-axis direction: longitudinal direction of the magnetic tape MT) relative to the width direction (X"-axis direction) of the servo write head 80b are aligned along the direction of a reference angle Ref ⁇ (Y-axis direction: width direction of the magnetic tape MT) relative to the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80.
  • multiple grooves parallel to the width direction of the servo write head 80a are aligned in a direction parallel to the longitudinal direction of the servo write head 80a.
  • multiple grooves non-parallel to the width direction of the servo write head 80b are aligned in a direction non-parallel to the longitudinal direction of the servo write head 80b.
  • the opposing surface 81 is treated with a low-friction treatment, so that vibration of the magnetic tape MT caused by friction can be suppressed, and thus the servo pattern 47 can be written accurately.
  • multiple grooves aligned along the direction of reference angle Ref ⁇ (X-axis direction: longitudinal direction of magnetic tape MT) relative to the width direction (X"-axis direction) of servo write head 80b are aligned along the direction of reference angle Ref ⁇ (Y-axis direction: width direction of magnetic tape MT) relative to the longitudinal direction (Y"-axis direction) of servo write head 80.
  • This makes it possible to appropriately reduce friction between the servo write head 80 and the magnetic tape MT even if the servo write head 80 is positioned tilted by the reference angle Ref ⁇ relative to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the first servo pattern 47a (“/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") that are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT can be written to each of the servo bands s0 to s4 by the servo write head 80.
  • the data write head 60 when the data write head 60 is disposed at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT, the data write head 60 can accurately read the servo pattern 47.
  • FIG. 25 is a diagram showing how the servo pattern 47 is read by the servo read portion 62 of the data write head 60 in the first comparative example, the second comparative example, and this embodiment.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") on the magnetic tape MT are symmetrical with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read portion 62 of the data write head 60 is the same for each group of servo patterns 47. Therefore, when the servo patterns 47 are read by the servo read portion 62 of the servo write head 80, the output of the servo signal is the same for each servo burst corresponding to the group of servo patterns 47.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are symmetrical with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is inclined with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read section 62 of the data write head 60 differs for each group of servo patterns 47. Therefore, when the servo patterns 47 are read by the servo read section 62 of the servo write head 80, the output of the servo burst corresponding to the group of servo patterns 47 with less azimuth loss in the servo signal is large, while the output of the servo burst corresponding to the group of servo patterns 47 with more azimuth loss is small. This can cause an error in the tracking reference position.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is non-parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read portion 62 of the data write head 60 is the same for each group of servo patterns 47. Therefore, when the servo patterns 47 are read by the servo read portion 62 of the servo write head 80, the output of the servo signal is the same for each servo burst corresponding to the group of servo patterns 47.
  • the first servo pattern 47a (“/") and the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT, so that even if the data write head 60 is positioned at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT, the data write head 60 can accurately read the servo pattern 47.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 in the data recording and reproducing device 50 is inclined at an azimuth angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT, and the azimuth angle ⁇ is adjusted. This makes it possible to accommodate variations in the width of the magnetic tape MT.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 in the data recording and reproducing device 50 is adjusted within the range of the reference angle Ref ⁇ x°.
  • the value of x is set to 0.7° or less, it is possible to reduce the azimuth loss L ⁇ while accommodating magnetic tapes MT with small playback track widths W (e.g., 0.5 ⁇ m or less). Also, by setting the reference angle Ref ⁇ to 8° or more, the above correction amount can be increased (e.g., 10 ⁇ m or more).
  • the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") are provided in the servo write head 80 so as to be asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT. This allows the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") to properly write a servo pattern 47 that is asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 with respect to the width direction of the magnetic tape MT
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2, which is different from the first angle ⁇ s1, in the opposite direction to the first angle ⁇ s1 with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the first angle ⁇ s1 and the second angle ⁇ s2 are related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60. This allows the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") to properly write an asymmetric servo pattern 47 that can be accurately read by the data write head 60.
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction, but the component of the length of the first servo element 82a ("/") in the width direction of the magnetic tape MT is the same as the component of the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the servo write head 80 may be arranged so as to be inclined at a predetermined angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT (see the second embodiment). In this case, it is possible to appropriately respond to slight movements in the width direction of the magnetic tape MT when writing the servo pattern 47.
  • the angle at which the longitudinal direction of the servo write head 80 is tilted with respect to the width direction of the magnetic tape MT may be related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60, and this angle may coincide with the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60. This makes it possible to properly write an asymmetric servo pattern 47 that can be accurately read by the tilted data write head 60.
  • the phase difference in the width direction of the magnetic tape MT between the servo patterns 47 in adjacent servo bands s is related to the reference angle Ref ⁇ of the servo write head 80 and is expressed as SP ⁇ tan(Ref ⁇ ). This allows the servo patterns 47 to be accurately read by the data write head 60, which is positioned at an angle.
  • First Example Fig. 28 is a diagram showing a first example of a method for verifying whether or not a magnetic tape MT is a magnetic tape MT used in a data recording/reproducing device 50 with a tilted data write head.
  • the following verification is performed based on the angle (first angle ⁇ s1) at which the first servo pattern 47a ("/") is tilted relative to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT, and the angle (second angle ⁇ s2) at which the second servo pattern 47b (" ⁇ ") is tilted relative to the width direction of the magnetic tape.
  • Figure 28 shows the magnetic tape MT as seen from the top (magnetic layer side) (therefore, in the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ "), the signs "/" and " ⁇ " are reversed from appearance).
  • a developer such as a ferricolloid developer (e.g., Sigmarca Q (registered trademark) manufactured by Sigma High Chemical Co.) is applied to the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT to perform development.
  • the developed magnetic layer 43 of the magnetic tape MT is then observed with an optical microscope to confirm the shape of the servo pattern 47.
  • the upper and lower ends of the first servo pattern 47a ("/") and the upper and lower ends of the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are measured as measurement points. Then, the distance a (corresponding to the servo band width) between the upper and lower ends of the servo pattern 47 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is measured.
  • the distance b between the upper end and the lower end of the first servo pattern 47a (“/") is measured.
  • the distance c between the upper end and the lower end of the second servo pattern 47b is measured.
  • the angle (first angle ⁇ s1) at which the first servo pattern 47a ("/") is inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is calculated by tan -1 (b/a).
  • the angle (second angle ⁇ s2) at which the second servo pattern 47b (" ⁇ ") is inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is calculated by tan -1 (c/a).
  • the angle calculated at this time corresponds to the angle at which the symmetry axes of the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read portion 62 of the data write head 60 is the same for each group of servo patterns 47.
  • the output of the servo signal is the same for each servo burst corresponding to the group of servo patterns 47.
  • this magnetic tape MT can be considered to be a magnetic tape MT used in a data recording and playback device 50 of a type in which the data write head 60 is positioned at an angle with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • FIG. 29 is a diagram showing a second example of the method for checking whether the magnetic tape MT is a magnetic tape MT to be used in a data recording/reproducing device 50 with a tilted data write head.
  • the above checking is performed based on the phase difference in the servo patterns 47 in adjacent servo bands.
  • a data recording and reproducing device in which the data write head 60 is positioned parallel to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the two servo read sections 62 of the data write head 60 read the servo patterns 47 in the adjacent servo bands, and reproduce the servo signals.
  • the phase of the servo signal reproduced by the lower servo read section 62 is ahead of the phase of the servo signal reproduced by the upper servo read section 62, resulting in a phase difference.
  • the difference in time at which the same LPOS (Longitudinal Position) information is read between the servo signal reproduced by the lower servo read section 62 and the servo signal reproduced by the upper servo read section 62 is found. This time difference is then converted into distance to find the phase difference d in the longitudinal direction of the magnetic tape (for example, 0.505 ⁇ m).
  • phase difference d eg, 0.505 ⁇ m
  • servo band pitch SP known
  • the magnetic tape MT can be regarded as a magnetic tape MT used in a data recording/reproducing device 50 of the type in which the data write head 60 is disposed at an angle with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the absolute value of the average width change amount ⁇ A of the magnetic tape MT before and after being left stationary for 40 hours in an environment of a temperature of 50° C. and a relative humidity of 40% RH with a tension of 0.55 N per 1 ⁇ 2 inch of the width of the magnetic tape MT applied in the longitudinal direction is 170 ppm or less, so that in addition to deformation of the magnetic tape MT caused by the environment, creep deformation of the magnetic tape MT in a high-temperature environment can be sufficiently suppressed for a long period of time (e.g., 10 years).
  • the width change of the magnetic tape MT can be suppressed. Furthermore, since the average tension response to tension in the longitudinal direction in an environment of a temperature of 50° C. and a relative humidity of 40% RH is 700 ppm/N or more, the width change of the magnetic tape MT can be well corrected in a high-temperature environment. Therefore, even if the magnetic tape MT is stored or run in a high temperature environment for a long period of time (for example, 10 years), the change in width of the magnetic tape MT can be corrected by adjusting the running tension of the magnetic tape MT.
  • the magnetic tape MT according to the first embodiment has a plurality of servo bands s in which the servo patterns 47, including the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b asymmetric with respect to the width direction, are written, and the servo patterns 47 in the servo bands s adjacent to each other have a phase difference. Therefore, the magnetic tape MT according to the first embodiment can be used in a data recording and reproducing device 50 that can respond to the change in width of the magnetic tape MT by adjusting the azimuth angle ⁇ of the data write head 60.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made small, and conversely, when the width of the magnetic tape MT becomes relatively narrow, the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made large.
  • the servo patterns 47 of the magnetic tape MT can be accurately read even when the width of the magnetic tape MT changes. Therefore, even if the width of the magnetic tape MT changes in a high temperature environment, the change in width can be accommodated by adjusting the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 .
  • the magnetic tape MT according to the first embodiment is capable of dealing with width changes that may occur in high-temperature environments. Therefore, the magnetic tape MT according to the first embodiment is suitable for storage and running in high-temperature environments.
  • the magnetic tape MT is described as a coated magnetic tape in which the underlayer and magnetic layer, etc. are produced by a coating process (wet process), but the magnetic tape may also be a vacuum thin-film type magnetic tape in which the underlayer and magnetic layer, etc. are produced by a vacuum thin-film production technique (dry process) such as sputtering.
  • FIG. 30 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a vacuum thin-film magnetic tape MT1 according to a second embodiment of the present technology.
  • the magnetic tape MT1 is a perpendicular recording type magnetic recording medium, and includes a film-like substrate 111, a soft magnetic underlayer (hereinafter referred to as "SUL") 112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first underlayer 114A, a second underlayer 114B, and a magnetic layer 115 as a recording layer.
  • the SUL 112, the first and second seed layers 113A and 113B, the first and second underlayers 114A and 114B, and the magnetic layer 115 are vacuum thin films such as sputtered films.
  • the SUL 112, the first and second seed layers 113A, 113B, and the first and second underlayers 114A, 114B are provided between one major surface (hereinafter referred to as the "surface") of the substrate 111 and the magnetic layer 115, and are stacked in the following order from the substrate 111 toward the magnetic layer 115: SUL 112, first seed layer 113A, second seed layer 113B, first underlayer 114A, second underlayer 114B.
  • the magnetic tape MT1 may further include a protective layer 116 provided on the magnetic layer 115 and a lubricating layer 117 provided on the protective layer 116, if necessary.
  • the magnetic tape MT1 may further include a back layer 118 provided on the other main surface (hereinafter referred to as the "rear surface") of the substrate 111, if necessary.
  • the longitudinal direction of the magnetic tape MT1 (the longitudinal direction of the substrate 111) (the longitudinal direction of the substrate 111) will be referred to as the MD (Machine Direction) direction.
  • the machine direction means the relative movement direction of the recording and reproducing heads with respect to the magnetic tape MT1, i.e., the direction in which the magnetic tape MT1 runs during recording and reproducing.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment is suitable for use as a storage medium for data archives, the demand of which is expected to increase in the future.
  • This magnetic tape MT1 can achieve an areal recording density of 50 Gb/ in2 or more, which is 10 times or more than that of current coating-type magnetic recording media for storage.
  • a general linear recording type data cartridge is configured using the magnetic tape MT1 having such an areal recording density, a large capacity recording capacity of 100 TB or more can be achieved per data cartridge.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment is suitable for use in a recording and reproducing device (a recording and reproducing device for recording and reproducing data) having a ring-type recording head and a Giant Magnetoresistive (GMR) type or Tunneling Magnetoresistive (TMR) type reproducing head.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment preferably uses a ring-type recording head as a servo signal writing head.
  • a data signal is recorded perpendicularly on the magnetic layer 115, for example, by a ring-type recording head.
  • a servo signal is recorded perpendicularly on the magnetic layer 115, for example, by a ring-type recording head.
  • the average thickness t T , average width change ⁇ A, average tension response, and average storage modulus of the substrate 111 of the magnetic tape MT1 in the second embodiment are similar to those in the first embodiment.
  • the base 111 is similar to the base 41 in the first embodiment.
  • the SUL 112 includes a soft magnetic material in an amorphous state.
  • the soft magnetic material includes at least one of a Co-based material and an Fe-based material.
  • the Co-based material includes, for example, CoZrNb, CoZrTa, or CoZrTaNb.
  • the Fe-based material includes, for example, FeCoB, FeCoZr, or FeCoTa.
  • SUL112 is a single layer SUL and is provided directly on the substrate 111.
  • the average thickness of SUL112 is preferably 10 nm or more and 50 nm or less, and more preferably 20 nm or more and 30 nm or less.
  • the average thickness of the SUL 112 is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment.
  • the average thicknesses of the layers other than the SUL 112 i.e., the average thicknesses of the first and second seed layers 113A, 113B, the first and second underlayers 114A, 114B, and the magnetic layer 115), which will be described later, are also determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment.
  • the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of each layer.
  • the first seed layer 113A includes an alloy containing Ti and Cr, and is in an amorphous state.
  • the alloy may further include O (oxygen).
  • the oxygen may be impurity oxygen contained in a small amount in the first seed layer 113A when the first seed layer 113A is formed by a film forming method such as a sputtering method.
  • alloy means at least one of a solid solution, a eutectic, and an intermetallic compound containing Ti and Cr.
  • Amorphous state means that a halo is observed by X-ray diffraction or electron beam diffraction, etc., and the crystal structure cannot be identified.
  • the atomic ratio of Ti to the total amount of Ti and Cr contained in the first seed layer 113A is preferably in the range of 30 atomic % or more and less than 100 atomic %, and more preferably 50 atomic % or more and less than 100 atomic %. If the atomic ratio of Ti is less than 30%, the (100) plane of the body-centered cubic lattice (bcc) structure of Cr will become oriented, and there is a risk that the orientation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the first seed layer 113A will decrease.
  • the atomic ratio of Ti is determined as follows. While ion milling the magnetic tape MT1 from the magnetic layer 115 side, a depth profile analysis (depth profile measurement) of the first seed layer 113A is performed by Auger Electron Spectroscopy (AES). Next, the average composition (average atomic ratio) of Ti and Cr in the film thickness direction is determined from the obtained depth profile. Next, the atomic ratio of Ti is determined using the obtained average composition of Ti and Cr.
  • the atomic ratio of O to the total amount of Ti, Cr and O contained in the first seed layer 113A is preferably 15 atomic % or less, more preferably 10 atomic % or less. If the atomic ratio of O exceeds 15 atomic %, TiO2 crystals are generated, which affects the crystal nucleation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the first seed layer 113A, and the orientation of the first and second underlayers 114A and 114B may be reduced.
  • the atomic ratio of O is determined using the same analysis method as the atomic ratio of Ti.
  • the alloy contained in the first seed layer 113A may further contain an element other than Ti and Cr as an additive element.
  • the additive element may be, for example, one or more elements selected from the group consisting of Nb, Ni, Mo, Al, W, etc.
  • the average thickness of the first seed layer 113A is preferably 2 nm or more and 15 nm or less, and more preferably 3 nm or more and 10 nm or less.
  • the second seed layer 113B contains, for example, NiW or Ta, and has a crystalline state.
  • the average thickness of the second seed layer 113B is preferably 3 nm or more and 20 nm or less, more preferably 5 nm or more and 15 nm or less.
  • the first and second seed layers 113A and 113B have a crystal structure similar to that of the first and second underlayers 114A and 114B, and are not seed layers provided for the purpose of crystal growth, but are seed layers that improve the vertical orientation of the first and second underlayers 114A and 114B due to the amorphous state of the first and second seed layers 113A and 113B.
  • the first and second underlayers 114A and 114B preferably have the same crystal structure as the magnetic layer 115.
  • the first and second underlayers 114A and 114B preferably contain a material having a hexagonal close-packed (hcp) structure similar to the Co-based alloy, and the c-axis of the structure is preferably oriented in a direction perpendicular to the film surface (i.e., in the film thickness direction). This is because it enhances the orientation of the magnetic layer 115 and can relatively well match the lattice constants of the second underlayer 114B and the magnetic layer 115.
  • Ru alloy oxides such as Ru-SiO 2 , Ru-TiO 2 or Ru-ZrO 2 can be mentioned.
  • the first and second underlayers 114A and 114B can be made of similar materials. However, the intended effects of the first and second underlayers 114A and 114B are different. Specifically, the second underlayer 114B has a film structure that promotes the granular structure of the magnetic layer 115 that is the layer above it, and the first underlayer 114A has a film structure with high crystal orientation. To obtain such a film structure, it is preferable to use different film formation conditions, such as sputtering conditions, for the first and second underlayers 114A and 114B.
  • different film formation conditions such as sputtering conditions
  • the average thickness of the first underlayer 114A is preferably 3 nm to 15 nm, more preferably 5 nm to 10 nm.
  • the average thickness of the second underlayer 114B is preferably 7 nm to 40 nm, more preferably 10 nm to 25 nm.
  • the magnetic layer 115 is a perpendicular magnetic recording layer in which the magnetic material is oriented perpendicularly.
  • the magnetic layer 115 may be a vacuum thin film such as a sputtered film.
  • the magnetic layer 115 is preferably a granular magnetic layer containing a Co-based alloy. This granular magnetic layer is composed of ferromagnetic crystal grains containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (non-magnetic material) surrounding the ferromagnetic crystal grains.
  • this granular magnetic layer is composed of columns (columnar crystals) containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (e.g., oxides such as SiO2 ) surrounding the columns and magnetically separating each column.
  • the magnetic layer 115 can be configured to have a structure in which each column is magnetically separated.
  • the Co-based alloy has a hexagonal close-packed (hcp) structure, with its c-axis oriented perpendicular to the film surface (film thickness direction).
  • hcp hexagonal close-packed
  • the CoCrPt-based alloy is not particularly limited, and the CoCrPt alloy may further contain an additive element.
  • the additive element include one or more elements selected from the group consisting of Ni, Ta, etc.
  • the non-magnetic grain boundaries surrounding the ferromagnetic crystal grains contain a non-magnetic metal material.
  • the metal includes a semi-metal.
  • at least one of a metal oxide and a metal nitride can be used as the non-magnetic metal material, and from the viewpoint of maintaining the granular structure more stably, it is preferable to use a metal oxide.
  • the metal oxide there is a metal oxide containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, and Hf, and a metal oxide containing at least Si oxide (i.e., SiO 2 ) is preferable.
  • the metal oxide examples include SiO 2 , Cr 2 O 3 , CoO, Al 2 O 3 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , ZrO 2 , or HfO 2 .
  • the metal nitride there is a metal nitride containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, and Hf.
  • metal nitrides include SiN, TiN, and AlN.
  • the CoCrPt alloy contained in the ferromagnetic crystal grains and the Si oxide contained in the non-magnetic grain boundaries have an average composition shown in the following formula (6), because this can suppress the influence of the demagnetizing field and realize a saturation magnetization Ms that can ensure sufficient reproduction output, thereby achieving further improvement in the recording and reproduction characteristics.
  • x, y, and z are values within the ranges of 69 ⁇ X ⁇ 75, 10 ⁇ y ⁇ 16, and 9 ⁇ Z ⁇ 12, respectively.
  • the above composition can be determined as follows. While ion milling the magnetic tape MT1 from the magnetic layer 115 side, AES is used to perform a depth direction analysis of the magnetic layer 115, and the average composition (average atomic ratio) of Co, Pt, Cr, Si, and O in the film thickness direction is determined.
  • the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 115 is, for example, 90 nm or less, preferably 80 nm or less, more preferably 70 nm or less, even more preferably 60 nm or less, and particularly preferably 50 nm or less, 20 nm or less, or 15 nm or less.
  • the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 115 is preferably 9 nm or more. When the average thickness of the magnetic layer 43 is 9 nm or more and 90 nm or less, the electromagnetic conversion characteristics can be improved.
  • the magnetic layer 115 has multiple data bands in which data is written, and multiple servo bands in which servo patterns are written.
  • the explanation of the data bands and servo bands in the first embodiment described in 1.5 above applies. Therefore, the explanation of the data bands and servo bands of the magnetic layer 115 is omitted.
  • the protective layer 116 contains, for example, a carbon material or silicon dioxide (SiO 2 ), and preferably contains a carbon material from the viewpoint of the film strength of the protective layer 116.
  • the carbon material include graphite, diamond-like carbon (DLC), diamond, and the like.
  • the lubricating layer 117 includes at least one lubricant.
  • the lubricating layer 117 may further include various additives, such as a rust inhibitor, as necessary.
  • the lubricant include the same lubricant as that used in the magnetic layer 43 in the first embodiment.
  • the lubricant may not only be held as a lubricating layer 117 on the surface of the magnetic tape MT1 as described above, but may also be contained and held in layers such as the magnetic layer 115 and protective layer 116 that make up the magnetic tape MT1.
  • the back layer 118 is similar to the back layer 44 in the first embodiment.
  • This sputtering device 120 is a continuous winding type sputtering device used to form the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115, and includes a film forming chamber 121, a drum 122 which is a metal can (rotating body), cathodes 123a to 123f, a supply reel 124, a take-up reel 125, and a plurality of guide rolls 127a to 127c, 128a to 128c.
  • the sputtering device 120 is, for example, a DC (direct current) magnetron sputtering type device, but the sputtering type is not limited to this type.
  • the film-forming chamber 121 is connected to a vacuum pump (not shown) via an exhaust port 126, and the atmosphere in the film-forming chamber 121 is set to a predetermined vacuum level by the vacuum pump.
  • a rotatable drum 122, a supply reel 124, and a take-up reel 125 are arranged inside the film-forming chamber 121.
  • a plurality of guide rolls 127a-127c are provided for guiding the transport of the substrate 111 between the supply reel 124 and the drum 122, and a plurality of guide rolls 128a-128c are provided for guiding the transport of the substrate 111 between the drum 122 and the take-up reel 125.
  • the substrate 111 unwound from the supply reel 124 is wound onto the take-up reel 125 via the guide rolls 127a-127c, the drum 122, and the guide rolls 128a-128c.
  • the drum 122 has a cylindrical shape, and the long substrate 111 is transported along the cylindrical peripheral surface of the drum 122.
  • the drum 122 is provided with a cooling mechanism (not shown), and is cooled to, for example, about ⁇ 20° C. during sputtering.
  • a plurality of cathodes 123a to 123f are arranged facing the peripheral surface of the drum 122. Targets are set on each of these cathodes 123a to 123f.
  • targets for forming the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are set on the cathodes 123a, 123b, 123c, 123d, 123e, and 123f, respectively.
  • These cathodes 123a-123f simultaneously deposit multiple types of films, namely, SUL 112, first seed layer 113A, second seed layer 113B, first underlayer 114A, second underlayer 114B, and magnetic layer 115.
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B and the magnetic layer 115 can be continuously formed by the roll-to-roll method.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment can be manufactured, for example, as follows.
  • the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are sequentially deposited on the surface of the substrate 111.
  • the deposition is performed as follows. First, the deposition chamber 121 is evacuated to a predetermined pressure. Then, while introducing a process gas such as Ar gas into the deposition chamber 121, the targets set on the cathodes 123a to 123f are sputtered. As a result, the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are sequentially deposited on the surface of the traveling substrate 111.
  • a process gas such as Ar gas
  • the atmosphere in the film formation chamber 121 during sputtering is set to, for example, about 1 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa to 5 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa.
  • the film thickness and characteristics of the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B and the magnetic layer 115 can be controlled by adjusting the tape line speed for winding up the substrate 111, the pressure of a process gas such as Ar gas introduced during sputtering (sputtering gas pressure), the input power, and the like.
  • the protective layer 116 is formed on the magnetic layer 115.
  • the protective layer 116 can be formed by, for example, chemical vapor deposition (CVD) or physical vapor deposition (PVD).
  • a paint for forming the back layer is prepared by kneading and dispersing a binder, inorganic particles, a lubricant, etc. in a solvent.
  • the paint for forming the back layer is applied to the back surface of the substrate 111 and dried to form the back layer 118 on the back surface of the substrate 111.
  • a lubricant is applied onto the protective layer 116 to form the lubricant layer 117.
  • various application methods such as gravure coating and dip coating can be used.
  • the magnetic tape MT1 is cut to a predetermined width. In this manner, the magnetic tape MT1 shown in FIG. 30 is obtained.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment can correct the width change of the magnetic tape MT1 by adjusting the running tension of the magnetic tape MT1, as in the first embodiment. Also, even if the width of the magnetic tape MT1 changes in a high-temperature environment, the width change can be accommodated by adjusting the azimuth angle ⁇ of the data write head. Thus, the magnetic tape MT1 according to the second embodiment can accommodate the width change that may occur in a high-temperature environment, so that the magnetic tape MT1 according to the second embodiment is suitable for storage and running in a high-temperature environment.
  • Third embodiment> [3.1 Structure of magnetic tape] 32 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a vacuum thin film magnetic tape MT2 according to a third embodiment of the present technology.
  • the magnetic tape MT2 includes a substrate 111, an SUL 112, a seed layer 131, a first underlayer 132A, a second underlayer 132B, and a magnetic layer 115. Note that in the third embodiment, the same reference numerals are used to designate the same parts as in the second embodiment, and the description thereof will be omitted.
  • the SUL 112, seed layer 131, first and second underlayers 132A and 132B are provided between one main surface of the substrate 111 and the magnetic layer 115, and are stacked in the order of SUL 112, seed layer 131, first underlayer 132A, and second underlayer 132B from the substrate 111 toward the magnetic layer 115.
  • the seed layer 131 contains Cr, Ni, and Fe, has a face-centered cubic lattice (fcc) structure, and is preferentially oriented so that the (111) plane of this face-centered cubic structure is parallel to the surface of the base 111.
  • the preferential orientation means a state in which the diffraction peak intensity from the (111) plane of the face-centered cubic lattice structure is greater than the diffraction peaks from other crystal planes in a ⁇ -2 ⁇ scan of an X-ray diffraction method, or a state in which only the diffraction peak intensity from the (111) plane of the face-centered cubic lattice structure is observed in a ⁇ -2 ⁇ scan of an X-ray diffraction method.
  • the intensity ratio of the X-ray diffraction of the seed layer 131 is preferably 60 cps/nm or more, more preferably 70 cps/nm or more, and even more preferably 80 cps/nm or more.
  • the intensity ratio of the X-ray diffraction of the seed layer 131 is a value (I/D (cps/nm)) obtained by dividing the intensity I (cps) of the X-ray diffraction of the seed layer 131 by the average thickness D (nm) of the seed layer 131.
  • the Cr, Ni, and Fe contained in the seed layer 131 preferably have an average composition represented by the following formula (7).
  • CrX NiYFe100 -Y ) 100-X ... (7)
  • X is within the range of 10 ⁇ X ⁇ 45
  • Y is within the range of 60 ⁇ Y ⁇ 90.
  • X is within the above range
  • the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe is improved, and a better SNR can be obtained.
  • Y is within the above range
  • the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe is improved, and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the seed layer 131 is preferably 5 nm or more and 40 nm or less. By setting the average thickness of the seed layer 131 within this range, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe can be improved, and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the seed layer 131 is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the seed layer 131.
  • the first underlayer 132A contains Co and O having a face-centered cubic lattice structure, and has a columnar (columnar crystal) structure.
  • the first underlayer 132A containing Co and O has substantially the same effect (function) as the second underlayer 132B containing Ru.
  • the concentration ratio of the average atomic concentration of O to the average atomic concentration of Co is 1 or more. When the concentration ratio is 1 or more, the effect of providing the first underlayer 132A is improved, and a better SNR can be obtained.
  • the direction of the inclination is preferably the longitudinal direction of the long magnetic tape MT2.
  • the longitudinal direction is preferable for the following reasons.
  • the magnetic tape MT2 according to this embodiment is a magnetic recording medium for so-called linear recording, and the recording tracks are parallel to the longitudinal direction of the magnetic tape MT2.
  • the magnetic tape MT2 according to this embodiment is also a so-called perpendicular magnetic recording medium, and from the viewpoint of recording characteristics, it is preferable that the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is vertical. However, due to the influence of the inclination of the column structure of the first underlayer 132A, the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 may be inclined.
  • a configuration in which the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is inclined in the longitudinal direction of the magnetic tape MT2 can reduce the influence of the inclination of the crystal orientation axis on the recording characteristics compared to a configuration in which the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is inclined in the width direction of the magnetic tape MT2.
  • the inclination angle of the column structure is preferably greater than 0° and equal to or less than 60°.
  • the change in the tip shape of the columns contained in the first underlayer 132A is large and becomes approximately triangular, which tends to enhance the effect of the granular structure, reduce noise, and improve the SNR.
  • the inclination angle exceeds 60°, the change in the tip shape of the columns contained in the first underlayer 132A is small and it is difficult to obtain an approximately triangular shape, which tends to weaken the low-noise effect.
  • the average grain size of the columnar structure is 3 nm or more and 13 nm or less. If the average grain size is less than 3 nm, the average grain size of the columnar structure contained in the magnetic layer 115 will be small, and there is a risk that the ability of current magnetic materials to retain records will decrease. On the other hand, if the average grain size is 13 nm or less, noise can be suppressed and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the first underlayer 132A is preferably 10 nm or more and 150 nm or less. If the average thickness of the first underlayer 132A is 10 nm or more, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of the first underlayer 132A is improved, and a better SNR can be obtained. On the other hand, if the average thickness of the first underlayer 132A is 150 nm or less, the column particle size can be prevented from increasing. Therefore, noise can be suppressed and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the first underlayer 132A is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the first underlayer 132A.
  • the second underlayer 132B preferably has the same crystal structure as the magnetic layer 115.
  • the second underlayer 132B preferably contains a material having a hexagonal close-packed (hcp) structure similar to the Co-based alloy, and the c-axis of the structure is preferably oriented perpendicular to the film surface (i.e., in the film thickness direction). This is because it enhances the orientation of the magnetic layer 115 and can relatively well match the lattice constants of the second underlayer 132B and the magnetic layer 115.
  • a material having a hexagonal close-packed structure it is preferable to use a material containing Ru, and specifically, Ru alone or a Ru alloy is preferable.
  • Ru alloy for example, Ru alloy oxides such as Ru-SiO 2 , Ru-TiO 2 , or Ru-ZrO 2 can be mentioned.
  • the average thickness of the second underlayer 132B may be thinner than that of an underlayer in a typical magnetic recording medium (e.g., an underlayer containing Ru), and can be, for example, 1 nm or more and 5 nm or less. Since the seed layer 131 and the first underlayer 132A having the above-mentioned configuration are provided under the second underlayer 132B, a good SNR can be obtained even if the average thickness of the second underlayer 132B is as thin as described above.
  • the average thickness of the second underlayer 132B is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the second underlayer 132B.
  • the average thickness t T , average width change ⁇ A, average tension response, and average storage modulus of the substrate 111 of the magnetic tape MT2 in the third embodiment are similar to those in the first embodiment.
  • the data band and servo band of the magnetic layer 115 in the third embodiment are the same as those in the first embodiment. That is, the details of the data band and servo band of the magnetic layer 115 in the third embodiment are as described in 1.5 above.
  • the magnetic tape MT2 according to the third embodiment can correct the width change of the magnetic tape MT2 by adjusting the running tension of the magnetic tape MT2, as in the first embodiment. Also, even if the width of the magnetic tape MT2 changes in a high-temperature environment, the width change can be accommodated by adjusting the azimuth angle ⁇ of the data write head. Thus, the magnetic tape MT2 according to the third embodiment can handle the width change that may occur in a high-temperature environment, so the magnetic tape MT2 according to the third embodiment is suitable for storage and running in a high-temperature environment.
  • the magnetic tape MT2 includes a seed layer 131 and a first underlayer 132A between the substrate 111 and the second underlayer 132B.
  • the seed layer 131 contains Cr, Ni, and Fe, has a face-centered cubic lattice structure, and is preferentially oriented so that the (111) plane of this face-centered cubic structure is parallel to the surface of the substrate 111.
  • the first underlayer 132A contains Co and O, and has a columnar structure in which the ratio of the average atomic concentration of O to the average atomic concentration of Co is 1 or more, and the average grain size is 3 nm or more and 13 nm or less. This makes it possible to realize a magnetic layer 115 with good crystal orientation and high coercivity by reducing the thickness of the second underlayer 132B and using as little Ru, which is an expensive material, as possible.
  • the Ru contained in the second underlayer 132B has the same hexagonal close-packed lattice structure as Co, the main component of the magnetic layer 115. Therefore, Ru has the effect of improving the crystal orientation of the magnetic layer 115 and promoting granularity at the same time.
  • the first underlayer 132A and the seed layer 131 are provided under the second underlayer 132B.
  • the first underlayer 132A containing inexpensive CoO with a face-centered cubic lattice structure achieves almost the same effect (function) as the second underlayer 132B containing Ru. Therefore, the thickness of the second underlayer 132B can be made thin.
  • the seed layer 131 containing Cr, Ni and Fe is provided.
  • the magnetic tape cartridge 10 is a one-reel type cartridge, but it may be a two-reel type cartridge.
  • FIG 33 is an exploded perspective view showing an example of the configuration of a two-reel type cartridge 321.
  • the cartridge 321 comprises an upper half 302 made of synthetic resin, a transparent window member 323 that fits into and is fixed to a window portion 302a opened on the upper surface of the upper half 302, a reel holder 322 that is fixed to the inside of the upper half 302 and prevents the reels 306 and 307 from floating up, a lower half 305 that corresponds to the upper half 302, the reels 306 and 307 that are stored in the space formed by combining the upper half 302 and the lower half 305, the magnetic tape MT wound on the reels 306 and 307, a front lid 309 that closes the front opening formed by combining the upper half 302 and the lower half 305, and a back lid 309A that protects the magnetic tape MT exposed at this front opening.
  • Reels 306 and 307 are used to wind magnetic tape MT.
  • Reel 306 comprises a lower flange 306b having a cylindrical hub portion 306a in the center around which magnetic tape MT is wound, an upper flange 306c of approximately the same size as lower flange 306b, and a reel plate 311 sandwiched between hub portion 306a and upper flange 306c.
  • Reel 307 has the same configuration as reel 306.
  • the window member 323 has mounting holes 323a at positions corresponding to the reels 306 and 307 for attaching reel holders 322, which are reel holding means for preventing the reels from floating up.
  • the magnetic tape MT is the same as the magnetic tape MT in the first embodiment.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment may further include an underlayer between the substrate 111 and the SUL 112. Since the SUL 112 has an amorphous state, it does not play a role in promoting epitaxial growth of the layer formed on the SUL 112, but it is required not to disturb the crystal orientation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the SUL 112.
  • the soft magnetic material has a fine structure that does not form columns, but if the influence of degassing such as moisture from the substrate 111 is large, the soft magnetic material may become coarse and disturb the crystal orientation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the SUL 112.
  • an underlayer having an amorphous state which contains an alloy containing Ti and Cr, between the substrate 111 and the SUL 112, as described above.
  • this underlayer a configuration similar to that of the first seed layer 113A of the second embodiment can be adopted.
  • the magnetic tape MT1 does not have to include at least one of the second seed layer 113B and the second underlayer 114B. However, from the viewpoint of improving the SNR, it is more preferable to include both the second seed layer 113B and the second underlayer 114B.
  • the magnetic tape MT1 may be provided with an APC-SUL (Antiparallel Coupled SUL) instead of a single-layer SUL.
  • APC-SUL Antiparallel Coupled SUL
  • Example 1 (SUL film formation process) First, a CoZrNb layer (SUL) having an average thickness of 10 nm was formed on one main surface of a long polymer film as a non-magnetic support under the following film formation conditions: A PEN film having an average thickness of 3.8 ⁇ m, an average longitudinal storage modulus of 5.5 GPa in an environment at a temperature of 50° C., and an average longitudinal Young's modulus of 6.3 GPa was used as the polymer film. Film formation method: DC magnetron sputtering method Target: CoZrNb target Gas type: Ar Gas pressure: 0.1 Pa
  • Step of forming first seed layer a TiCr layer (first seed layer) having an average thickness of 5 nm was formed on the CoZrNb layer under the following film formation conditions.
  • Sputtering method DC magnetron sputtering method
  • Target TiCr target Ultimate vacuum: 5 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa
  • Gas type Ar Gas pressure: 0.5 Pa
  • Step of forming second seed layer a NiW layer (second seed layer) having an average thickness of 10 nm was formed on the TiCr layer under the following film formation conditions.
  • Sputtering method DC magnetron sputtering method
  • Target NiW target Ultimate vacuum: 5 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa
  • Gas type Ar Gas pressure: 0.5 Pa
  • Step of forming the first underlayer a Ru layer (first underlayer) having an average thickness of 10 nm was formed on the NiW layer under the following film formation conditions.
  • Sputtering method DC magnetron sputtering method
  • Target Ru target Gas type: Ar Gas pressure: 0.5 Pa
  • Step of forming second underlayer a Ru layer (second underlayer) having an average thickness of 20 nm was formed on the Ru layer under the following film formation conditions.
  • Sputtering method DC magnetron sputtering method
  • Target Ru target Gas type: Ar Gas pressure: 1.5 Pa
  • the magnetic tape obtained as described above was cut into a width of 1/2 inch (12.65 mm). As a result, the desired long magnetic tape (average thickness: 4.2 ⁇ m) was obtained.
  • the servo pattern included a first servo pattern and a second servo pattern that were asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape.
  • the servo patterns in adjacent servo bands had a phase difference.
  • Example 1 a sputtered film was used as the magnetic layer, a PEN film was used as the polymer film, and the average width change ⁇ A and average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1 by adjusting the stretching strength of the PEN film in the width and length directions.
  • Example 2 The polymer film used was a reinforced PET film having an average thickness of 3.8 ⁇ m, an average longitudinal storage modulus of 3.9 GPa at a temperature of 50° C., and an average longitudinal Young's modulus of 4.6 GPa.
  • the reinforced PET film means a PET film reinforced by adding polyamide.
  • a sputtered film was used as the magnetic layer
  • a reinforced PET film was used as the polymer film
  • the average width change ⁇ A and average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1 by adjusting the stretching strength of the reinforced PET film in the width and length directions.
  • the same procedure as in Example 1 was repeated to obtain a magnetic tape having an average thickness of 4.2 ⁇ m.
  • Example 3 (Preparation process of paint for forming magnetic layer)
  • the magnetic layer coating material was prepared as follows. First, the first composition having the following composition was mixed with an extruder. Next, the mixed first composition and the second composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disperser and premixed. Then, the mixture was further mixed with a sand mill and filtered to prepare the magnetic layer coating material.
  • Aluminum oxide powder 6 parts by mass ( ⁇ -Al 2 O 3 , average particle size 0.1 ⁇ m)
  • the paint for forming the undercoat layer was prepared as follows. First, the third composition having the following composition was mixed with an extruder. Next, the mixed third composition and the fourth composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disperser and premixed. Then, further mixing was performed with a dyno mill and filtering was performed to prepare the paint for forming the undercoat layer.
  • Carbon black 30 parts by weight (manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80)
  • n-Butyl stearate 2 parts by mass Methyl ethyl ketone: 108.2 parts by mass Toluene: 108.2 parts by mass
  • Cyclohexanone 100.0 parts by mass
  • the paint for forming the back layer was prepared as follows. The following raw materials were mixed in a stirring tank equipped with a disperser and filtered to prepare the paint for forming the back layer.
  • Carbon black manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80
  • Polyester polyurethane 100 parts by mass
  • Methyl ethyl ketone 500 parts by weight
  • Toluene 400 parts by weight
  • Cyclohexanone 100 parts by weight
  • the base layer was formed by applying the base layer-forming paint onto the substrate and drying it.
  • the application conditions were adjusted so that the average thickness of the base layer after calendaring was 0.8 ⁇ m.
  • PEN with an average thickness of 4.0 ⁇ m was used as the polymer film.
  • the magnetic layer-forming paint was applied onto the underlayer and dried to form a magnetic layer on the underlayer.
  • the application conditions were adjusted so that the average thickness of the magnetic layer after calendaring was 0.08 ⁇ m.
  • the magnetic layer-forming paint was dried, the magnetic powder was magnetically oriented in the thickness direction of the polymer film by a neodymium magnet.
  • the drying conditions (drying temperature and drying time) of the magnetic layer-forming paint were adjusted, and the squareness ratio in the longitudinal direction was set to 33%.
  • a back layer was formed by applying a paint for forming a back layer to the other main surface of the PEN film on which the underlayer and magnetic layer were formed, and then drying it. At this time, the application conditions were adjusted so that the average thickness of the back layer after calendaring was 0.32 ⁇ m. In this way, a magnetic tape was obtained.
  • the magnetic tape was wound into a roll, and then subjected to a heat treatment in this state to harden the underlayer and the magnetic layer.
  • the magnetic tape obtained as described above was cut into a width of 1/2 inch (12.65 mm), thereby obtaining the desired long magnetic tape (average thickness 5.2 ⁇ m).
  • the servo pattern included a first servo pattern and a second servo pattern that were asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape.
  • the servo patterns in adjacent servo bands had a phase difference.
  • Example 3 a coating film was used as the magnetic layer, a PEN film was used as the polymer film, and the average width change ⁇ A and average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1 by adjusting the stretching strength of the PEN film in the width direction and length direction.
  • Example 4 The stretching strength of the PEN film in the width direction and the length direction was adjusted, and further, after the calendaring process, a strain relaxation treatment (maintained in a 60° C. environment for 48 hours) was performed, whereby the average width change ⁇ A and the average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1. Other than the above, the same procedure as in Example 3 was repeated to obtain a magnetic tape having an average thickness of 5.2 ⁇ m.
  • Example 1 As the polymer film, a PET film having an average thickness of 4.8 ⁇ m, an average storage modulus in the longitudinal direction in an environment at a temperature of 50° C. of 3.9 GPa, and an average Young's modulus in the longitudinal direction of 4.7 GPa was used. A sputtered film was used as the magnetic layer, a PET film was used as the polymer film, and the average width change ⁇ A and average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1 by adjusting the stretching strength of the PET film in the width and length directions. Other than the above, the same procedure as in Example 1 was repeated to obtain a magnetic tape having an average thickness of 5.2 ⁇ m.
  • Example 3 The polymer film used was a reinforced PET film having an average thickness of 4.6 ⁇ m. By adjusting the stretching strength in the transverse and longitudinal directions of the reinforced PET film, the average width change ⁇ A and the average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1. Other than the above, the same procedure as in Example 3 was repeated to obtain a magnetic tape having an average thickness of 5.6 ⁇ m.
  • Example 4 As the polymer film, a reinforced PET film having an average thickness of 4.0 ⁇ m was used. By adjusting the stretching strength in the transverse and longitudinal directions of the reinforced PET film, the average width change ⁇ A and the average tension response ⁇ W were set to the values shown in Table 1. Other than the above, the same procedure as in Example 3 was repeated to obtain a magnetic tape having an average thickness of 5.2 ⁇ m.
  • each of the magnetic recording tapes of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4 was evaluated. Specifically, for each of the magnetic recording tapes, the average width change ⁇ A, the average tension response ⁇ W, the average thickness of the magnetic tape, the average thickness of the substrate, the squareness ratio S2 of the magnetic layer in the longitudinal direction of the magnetic tape, and the average Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape were measured. These were determined by the measurement method described in 1.3 above. These measurement results are shown in Table 1. Also, Figure 34 is a graph showing the measurement results of the width change of the magnetic tape of Example 1.
  • FIG. 35 is a graph showing the width change amount assumed for 10 years in each example and comparative example.
  • the bandwidth measurement is performed as follows.
  • the method of measuring the servo band pitch using a tape drive device involves running the magnetic tape with the tape drive device, measuring the servo trace lines T on each servo band of the two servo read heads, and measuring the servo band pitch from the relative position of each measured servo trace line T to the servo pattern.
  • the interval between the servo trace lines T indicates the servo band pitch (the arrangement interval between the two servo read heads of the drive head) when the width of the magnetic tape is not changing.
  • the tape drive device corresponds to, for example, the data recording device 50 shown in FIG. 11
  • the drive head corresponds to, for example, the data write head 60 shown in FIG. 12
  • the servo read head corresponds to, for example, the servo read section 62 shown in FIG. 12.
  • the servo band SB will be described with reference to FIG. 36.
  • the servo band SB has a servo pattern formed thereon that is made up of multiple servo stripes (linear magnetized regions) 103 that are inclined with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the servo band SB includes multiple servo frames 100.
  • Each servo frame 100 is made up of 18 servo stripes 103.
  • each servo frame 100 is made up of a servo subframe 1 (101) and a servo subframe 2 (102).
  • Servo subframe 1 (101) is composed of A burst 101A and B burst 101B.
  • B burst 101B is disposed adjacent to A burst 101A.
  • a burst 101A has five servo stripes 103 formed at regular intervals and inclined at a predetermined angle ⁇ with respect to the width direction of magnetic tape MT. In FIG. 35, these five servo stripes 103 are indicated by symbols A1 , A2 , A3 , A4 , and A5 from EOT (End Of Tape) to BOT (Beginning Of Tape) of magnetic tape MT.
  • B burst 101B like A burst 101A, has five servo stripes 103 formed at regular intervals and inclined at a predetermined angle ⁇ with respect to the width direction of magnetic tape MT. 35, these five servo stripes 103 are denoted by symbols B1 , B2 , B3 , B4 , and B5 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the servo stripes 103 of the B burst 101B are inclined in the opposite direction to the servo stripes 103 of the A burst 101A.
  • the servo subframe 2 (102) is composed of a C burst 102C and a D burst 102D.
  • the D burst 102D is disposed adjacent to the C burst 102C.
  • the C burst 102C has four servo stripes 103 formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ with respect to the tape width direction. In FIG. 35, these four servo stripes 103 are indicated by the symbols C 1 , C 2 , C 3 , and C 4 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the D burst 102D like the C burst 102C, has four servo stripes 103 formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ with respect to the tape width direction.
  • these four servo stripes 103 are indicated by the symbols D 1 , D 2 , D 3 , and D 4 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the servo stripes 103 of the D burst 102D are slanted in the opposite direction to the servo stripes 103 of the C burst 102C.
  • the tape drive device outputs a servo playback signal with a waveform according to the position of the servo trace line T relative to the servo pattern.
  • the distance AC between A burst and C burst, which are arrays of inclination patterns of the same shape, and the distance AB between A burst and B burst, which are arrays of inclination patterns of different shapes are calculated, and the position of the servo trace line T of each servo read head 132 is measured using the following formula.
  • ⁇ is the azimuth angle of each of the above inclination patterns, which corresponds to the angle ⁇ in Figure 36, and is set to 12° in this example.
  • the distance AC may be the distance A 1 -C 1 between the first inclination portions of the A burst and the C burst, the distance A 2 -C 2 between their second inclination portions, the distance A 3 -C 3 between their third inclination portions, or the distance A 4 -C 4 between their fourth inclination portions.
  • These distances AC (AC 1 to AC 4 ) refer to the distances between positions (upper peak positions) showing the maximum positive values of the amplitude in the servo reproduction waveform.
  • the distance AB may be the distance A1 - B1 between the first inclined portions of the A burst and the B burst, the distance A2 - B2 between the second inclined portions thereof, the distance A3 - B3 between the third inclined portions thereof, or the distance A4 - B4 between the fourth inclined portions thereof.
  • the distance A1 - C1 is adopted
  • the distance A2- C2 is adopted
  • the distance A2 - B2 is adopted
  • the distance A3 - C3 is adopted
  • the distance A3 - B3 is adopted
  • the distance A4-C4 is adopted
  • the servo band pitch is calculated from the difference between the values representing the positions of the servo trace lines T on the servo pattern, which are calculated from the ratio of the distances AB and AC, calculated using the above formula.
  • the difference between the measured value of the servo band on the tape center side (for example, servo band s2 shown in FIG. 10) and the measured value of the servo band on the tape edge side (for example, servo band s3 shown in FIG. 10) is calculated from the measured value of the servo band on the tape center side (for example, servo band s2 shown in FIG. 10) of the two servo bands to be measured.
  • the positive and negative values of these values indicate the direction of change in the tape width, and a positive value corresponds to a narrowing of the servo band pitch, and a negative value corresponds to a widening of the servo band pitch. If the difference is zero, it means that there is no change in the tape width.
  • the servo band pitch is preferably calculated from the difference between many servo frames, and may be, for example, the average value of the measured values calculated from the difference between 100 to 100,000 servo frames.
  • the tape tension during measurement is 0.55 N, and the measurement is performed at a constant tension over the entire length of the magnetic tape MT.
  • (Method of calculating the movement angle of a drive head arranged at an angle) 37 is a schematic diagram for explaining a method for calculating the movement angle of a tilted drive head, which is the movement angle of the drive head required to deal with an assumed width change over 10 years.
  • the left side of Fig. 37 shows the distance (h) between the two servo read heads of the drive head, the servo band pitch (SP), and the tilt angle (10°) of the drive head for the initial (before width change) magnetic tape.
  • Cos10° SP/h.
  • the right side of Figure 37 shows the servo band pitch (SP- ⁇ SP), the drive head movement angle ( ⁇ ), and the tilt angle (10°+ ⁇ ) after the drive head moves on the magnetic tape after the servo band pitch has narrowed (after the width has changed).
  • Cos(10°+ ⁇ ) (SP- ⁇ SP)/h.
  • Examples 1 to 4 are magnetic tapes that satisfy the conditions that the absolute value of the average width change ⁇ A is 170 ppm or less and the average tension response ⁇ W is 700 ppm/N or more. Comparative Examples 1 to 4 are magnetic tapes that do not satisfy these conditions.
  • the estimated width change over 10 years exceeds -500 ppm (if the width narrows by more than 500 ppm), there is a risk that the movement angle of the drive head will become excessively large when all factors other than creep deformation that cause width change (such as changes in temperature and humidity) are taken into consideration.
  • the angle of the drive head will become too large. If the movement angle becomes too large, the tracking ability of the drive head will deteriorate, and it may not be possible to adequately accommodate the width change of the magnetic tape.
  • the magnetic tape of Examples 1 to 4 can accommodate width changes in the magnetic tape by adjusting the angle of the drive head, even if the magnetic tape is stored or run in a high-temperature environment for a long period of time (for example, 10 years).
  • the present technology is not limited to the above embodiments and variations, and various variations based on the technical ideas of the present technology are possible.
  • the configurations, methods, processes, shapes, materials, and numerical values, etc., given in the above embodiments and variations are merely examples, and different configurations, methods, processes, shapes, materials, and numerical values, etc., may be used as necessary.
  • the configurations, methods, processes, shapes, materials, and numerical values, etc., of the above embodiments and variations can be combined with each other as long as they do not deviate from the spirit of the present technology.
  • the present technology can also adopt the following configuration.
  • a relative humidity of 40% RH is 700 ppm/N or more; a plurality of servo bands in which servo patterns including a first servo pattern and a second servo pattern asymmetric with respect to a width direction of the magnetic recording medium are written; the servo patterns in adjacent servo bands have a phase difference; Magnetic recording media.
  • a substrate, an underlayer, and a magnetic layer are sequentially provided, The magnetic recording medium according to any one of (1) to (3), wherein the substrate contains polyesters.
  • the magnetic layer includes a magnetic powder, The magnetic recording medium according to any one of (4) to (7), wherein the magnetic powder includes ⁇ iron oxide magnetic powder, hexagonal ferrite magnetic powder, or Co-containing spinel ferrite magnetic powder.
  • the magnetic layer is configured to be capable of forming a plurality of data tracks;
  • the first servo pattern is inclined at a first angle with respect to a width direction of the magnetic recording medium,
  • the first servo pattern and the second servo pattern each have a longitudinal direction;

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Abstract

高温環境下での保存および走行に適した磁気記録媒体を提供する。　本技術に係る磁気記録媒体は、テープ状の磁気記録媒体である。前記磁気記録媒体は、前記磁気記録媒体の幅１／２インチ当たり０．５５Ｎのテンションが長手方向に加えられた状態で温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下に４０時間静置される前後の前記磁気記録媒体の平均幅変化量の絶対値が１７０ｐｐｍ以下であり、且つ、温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下における、長手方向のテンションに対する平均テンション応答性が７００ｐｐｍ／Ｎ以上である。さらに、前記磁気記録媒体は、前記磁気記録媒体の幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含むサーボパターンがそれぞれ書き込まれた複数のサーボバンドを有している。互いに隣接するサーボバンドにおける前記サーボパターンは、位相差を有している。

Description

磁気記録媒体およびカートリッジ
　本技術は、磁気記録媒体およびそれを備えるカートリッジに関する。
　アーカイブの需要が高まり、総容量の高いテープ状の磁気記録媒体がクラウドシステムに組み込まれるようになっている。現在のテープ状の磁気記録媒体は、実走行や保管の環境温度範囲がＨＤＤ（Hard Disk Drive）や半導体メモリ等より狭いため、テープ状の磁気記録媒体の実走行や保管の環境温度範囲を拡張することが望まれている。テープ状の磁気記録媒体がＨＤＤや半導体メモリ等と同様の温度環境で使用できるようになると、テープ状の磁気記録媒体の使用範囲が大きく広がると考えられている。
　テープ状の磁気記録媒体では、環境変化により磁気記録媒体の幅方向の寸法が大きく変化すると、オフトラックが発生し、安定した記録再生特性を確保することが困難になる。特許文献１では、環境変化によりテープ状の磁気記録媒体の幅方向の寸法が変化しても、記録再生装置によりテープ状の磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することで、幅変化を補正可能なテープ状の磁気記録媒体が提案されている。また、テープ状の磁気記録媒体における幅変化に対処するため、特許文献２では、データライドヘッドをテープ状の磁気記録媒体の幅方向に対して傾けて配置することが提案されている。
特開２０２０－１７３８８２号公報 特開２００５－２５９１９８号公報
　ＨＤＤでは、一般的に動作保証環境の上限温度として５０℃が想定されているが、従来のテープ状の磁気記録媒体では、このような高温環境での保存や走行は想定されていない。そこで、高温環境において起こりうる形状変化に対処可能なテープ状の磁気記録媒体が求められている。
　上記特許文献１において、テープ状の磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することにより幅変化を補正する技術が提案されているが、当該技術は高温環境下での保存や走行を想定していない。そのため、従来のテープ状の磁気記録媒体を高温環境下で保存や走行した場合、テープ状の磁気記録媒体の幅変化が走行テンションの調整により補正可能な範囲を超え、幅変化の補正が困難になる虞がある。
　一方、テープストレージシステムにおいては、ヘッドを傾斜させることによりテープ状の磁気記録媒体の幅方向の変形に対処する技術が提案されている。しかしながら、高温環境下では、特にクリープ特性による幅変化が大きいため、従来提案されている技術に基づいてヘッドを傾斜させると、傾斜量の変動が大きくなり、ヘッドの追従性が悪化する可能性がある。その結果、高温環境下における幅変化に十分に対処できない虞がある。
　そこで、本技術は、高温環境下での保存および走行に適した磁気記録媒体を提供することを主目的とする。
　本技術は、テープ状の磁気記録媒体であって、前記磁気記録媒体の幅１／２インチ当たり０．５５Ｎのテンションが長手方向に加えられた状態で温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下に４０時間静置される前後の前記磁気記録媒体の平均幅変化量の絶対値が１７０ｐｐｍ以下であり、且つ、温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下における、長手方向のテンションに対する平均テンション応答性が７００ｐｐｍ／Ｎ以上であり、前記磁気記録媒体の幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含むサーボパターンがそれぞれ書き込まれた複数のサーボバンドを有し、互いに隣接するサーボバンドにおける前記サーボパターンは、位相差を有する、磁気記録媒体を提供する。
　前記平均テンション応答性は、７１５ｐｐｍ／Ｎ以上１５０００ｐｐｍ／Ｎ以下であってよい。
　前記平均幅変化量の絶対値は、１５０ｐｐｍ以下であってよい。
　前記磁気記録媒体は、基体と、下地層と、磁性層とを順次備え、前記基体は、ポリエステル類を含んでいてよい。
　前記ポリエステル類は、ポリエチレンテレフタレートおよびポリエチレンナフタレートからなる群より選ばれた少なくとも１種を含んでいてよい。
　前記磁性層は、真空薄膜であってよい。
　前記磁性層は、塗布膜であってよい。
　前記磁性層は、磁性粉を含んでいてよく、前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、六方晶フェライト磁性粉またはＣｏ含有スピネルフェライト磁性粉を含んでいてよい。
　前記磁気記録媒体の平均厚みは、５．３μｍ以下であってよい。
　前記磁気記録媒体の長手方向における前記磁性層の角形比は、３５％以下であってよい。
　前記磁性層は、５以上のサーボバンドを有していてよい。
　前記サーボバンドの幅は、９８μｍ以下であってよい。
　前記磁性層は、複数のデータトラックを形成可能に構成され、前記データトラックの幅は、１１００ｎｍ以下であってよい。
　前記第１のサーボパターンは、前記磁気記録媒体の幅方向に対して第１の角度で傾斜していてよく、前記第２のサーボパターンは、前記磁気記録媒体の幅方向に対して、前記第１の角度とは逆向きに、前記第１の角度とは異なる第２の角度で傾斜していてよい。
　前記第１のサーボパターンおよび前記第２のサーボパターンは、それぞれ長手方向を有し、前記第１のサーボパターンの長手方向における長さと、前記第２のサーボパターンの長手方向における長さとは異なっていてよい。
　前記第１のサーボパターンの長さにおける前記磁気記録媒体の幅方向の成分と、前記第２のサーボパターンの長さにおける前記磁気記録媒体の幅方向の成分とは同じであってよい。
　前記磁気記録媒体は、前記磁気記録媒体の幅方向に対してその長手方向が第１のヘッドアジマス角傾斜するように配置されるデータライトヘッドを含むデータ記録装置に用いられてよい。
　前記第１のヘッドアジマス角は、基準角を基準とした所定の範囲内において調整されてよい。
　前記位相差は、前記基準角と関連していてよい。
　また、本技術は、前記磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体の長手方向にかかるテンションを調整するための調整情報を書き込み可能に構成された記憶部と、を備えるカートリッジも提供する。
第１の実施形態に係るカートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。 カートリッジメモリの構成の一例を示すブロック図である。 磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 粒子の形状の一例を示す斜視図である。 磁性層のＴＥＭ写真の一例を示す図である。 磁性層のＴＥＭ写真の一例を示す図である。 測定装置の構成を示す斜視図である。 強化ＰＥＴフィルムおよびＰＥＮフィルムの貯蔵弾性率Ｅ'の測定結果を示すグラフである。 磁気テープを側方から見た模式図である。 磁気テープを上方（磁性層側）から見た模式図である。 データ記録再生装置を示す図である。 データライトヘッドを下方（バック層側）から見た概略図である。 データライトヘッドのアジマス角の角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．１μｍ）。 データライトヘッドのアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、磁気テープの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量との関係を示す図である。 磁気テープの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量を示す図である。 データライトヘッドのアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．０７μｍ）。 サーボ記録再生装置を示す図である。 第１実施例に係るサーボライトヘッド及びサーボライトヘッドに入力されるパルス信号を示す図である。 第１実施例に係るサーボライトヘッドが有するサーボ素子の拡大図である。 第１実施例に係るサーボライトヘッドにより磁気テープにサーボパターンが書き込まれるときの様子を示す図である。 第２実施例に係るサーボライトヘッド及びサーボライトヘッドが有するサーボ素子の拡大図である。 第２実施例に係るサーボライトヘッドにより磁気テープにサーボパターンが書き込まれるときの様子を示す図である。 第２実施例において、サーボライトヘッドの座標系を基準としてサーボライトヘッドを表した図である。 サーボライトヘッドの対向面において低摩擦加工が施されたときの様子を示す図である。 第１比較例、第２比較例及び本実施形態において、データライトヘッドのサーボリード部によりサーボパターンを読み取ったときの様子を示す図である。 図２１の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子及び第２のサーボ素子における具体的な寸法の一例を示す図である（ＸＹＺ座標系基準）。 図２３の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子及び第２のサーボ素子における具体的な寸法の一例を示す図である（Ｘ"Ｙ"Ｚ"座標系基準）。 磁気テープがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置に用いられる磁気テープであるかどうかを確認する方法における第１の例を示す図である。 磁気テープがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置に用いられる磁気テープであるかどうかを確認する方法における第２の例を示す図である。 第２の実施形態に係る磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 スパッタ装置の構成を示す概略図である。 第３の実施形態に係る磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 第１の実施形態の変形例に係るカートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。 実施例１に係る磁気テープの幅変化量の測定結果を示すグラフである。 各実施例および比較例における１０年を想定した幅変化量を示すグラフである。 サーボバンドの構成の一例を示す拡大図である。 傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度の算出方法を説明するための模式図である。
　以下、本技術を実施するための好適な形態について図面を参照しながら説明する。以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態を示したものであり、本技術の範囲がこれらの実施形態のみに限定されることはない。本技術の説明は以下の順序で行う。
１　第１の実施形態（塗布型の磁気テープの例）
１．１　カートリッジの構成
１．２　カートリッジメモリの構成
１．３　磁気テープの構成
１．４　磁気テープの製造方法
１．５　磁気テープのデータバンドおよびサーボバンドの説明
１．６　作用効果
２　第２の実施形態（真空薄膜型の磁気テープの例）
２．１　磁気テープの構成
２．２　スパッタ装置の構成
２．３　磁気テープの製造方法
２．４　作用効果
３　第３の実施形態（真空薄膜型の磁気テープの例）
３．１　磁気テープの構成
３．２　作用効果
４　変形例
　本明細書において、測定方法の説明に関して測定環境が特に記載のない場合、測定は２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨの環境下にて行われるものとする。また、本明細書において、「から」を用いて示された数値範囲は、「から」の前後に記載された数値をそれぞれ最小値および最大値として含む範囲を示す。
＜１　第１の実施形態＞
［１．１　カートリッジの構成］
　図１は、カートリッジ１０の構成の一例を示す分解斜視図である。カートリッジ１０は、１リールタイプのカートリッジであり、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂとで構成されるカートリッジケース１２の内部に、テープ状の磁気記録媒体（以下「磁気テープ」という。）ＭＴが巻かれた1つのリール１３と、リール１３の回転をロックするためのリールロック１４およびリールスプリング１５と、リール１３のロック状態を解除するためのスパイダ１６と、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂに跨ってカートリッジケース１２に設けられたテープ引出口１２Ｃを開閉するスライドドア１７と、スライドドア１７をテープ引出口１２Ｃの閉位置に付勢するドアスプリング１８と、誤消去を防止するためのライトプロテクト１９と、カートリッジメモリ１１とを備える。磁気テープＭＴを巻くためのリール１３は、中心部に開口を有する略円盤状であって、プラスチック等の硬質の材料からなるリールハブ１３Ａとフランジ１３Ｂとにより構成される。磁気テープＭＴの外周側の端部には、リーダーテープＬＴが接続されている。リーダーテープＬＴの先端には、リーダーピン２０が設けられている。
　カートリッジ１０は、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に準拠した磁気テープカートリッジであってもよいし、ＬＴＯ規格とは別の規格に準拠した磁気テープカートリッジであってもよい。
　カートリッジメモリ１１は、カートリッジ１０の１つの角部の近傍に設けられている。カートリッジ１０が記録再生装置にロードされた状態において、カートリッジメモリ１１は、記録再生装置のリーダライタと対向するようになっている。カートリッジメモリ１１は、ＬＴＯ規格に準拠した無線通信規格で記録再生装置、具体的にはリーダライタと通信を行う。
［１．２　カートリッジメモリの構成］
　図２は、カートリッジメモリ１１の構成の一例を示すブロック図である。カートリッジメモリ１１は、規定の通信規格でリーダライタと通信を行うアンテナコイル（通信部）３１と、アンテナコイル３１により受信した電波から、誘導起電力を用いて発電、整流して電源を生成する整流・電源回路３２と、アンテナコイル３１により受信した電波から、同じく誘導起電力を用いてクロックを生成するクロック回路３３と、アンテナコイル３１により受信した電波の検波およびアンテナコイル３１により送信する信号の変調を行う検波・変調回路３４と、検波・変調回路３４から抽出されるデジタル信号から、コマンドおよびデータを判別し、これを処理するための論理回路等で構成されるコントローラ（制御部）３５と、情報を記憶するメモリ（記憶部）３６とを備える。また、カートリッジメモリ１１は、アンテナコイル３１に対して並列に接続されたキャパシタ３７を備え、アンテナコイル３１とキャパシタ３７により共振回路が構成される。
　メモリ３６は、カートリッジ１０に関連する情報等を記憶する。メモリ３６は、不揮発性メモリ（Non Volatile Memory：ＮＶＭ）である。メモリ３６の記憶容量は、好ましくは約３２ＫＢ以上である。
　メモリ３６は、第１の記憶領域３６Ａと第２の記憶領域３６Ｂとを有していてもよい。第１の記憶領域３６Ａは、第１の情報を記憶するための領域である。第１の情報は、例えば、カートリッジ１０の製造情報（例えばカートリッジ１０の固有番号）およびカートリッジ１０の使用履歴（例えば磁気テープＭＴの引出回数（Thread Count））等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。第２の記憶領域３６Ｂは、第２の情報を記憶するための領域である。第２の情報は、例えば、テンション調整情報、管理台帳データ、Index情報およびサムネイル情報等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　テンション調整情報は、磁気テープＭＴの長手方向にかかるテンションを調整するための情報である。テンション調整情報は、例えば、サーボバンド間の幅を磁気テープＭＴの長手方向に間欠的に測定して得られる情報、記録再生装置のテンション情報、および記録再生装置の温度と湿度の情報等からなる群より選ばれた少なくとも１種の情報を含む。これらの情報は、カートリッジ１０の使用状況に関する情報等と連携して管理されることもある。テンション調整情報は、磁気テープＭＴに対するデータ記録時、もしくはデータ記録前に取得されることが好ましい。記録再生装置のテンション情報とは、磁気テープＭＴの長手方向にかかるテンションの情報を意味する。
　管理台帳データは、磁気テープＭＴに記録されているデータファイルの容量、作成日、編集日および保管場所等のうちの少なくとも１種を含むデータである。Index情報は、データファイルの内容を検索するためのメタデータ等である。サムネイル情報は、磁気テープＭＴに記憶された動画または静止画のサムネイルである。以下の説明において、第１の記憶領域３６Ａに記憶される情報を「第１の情報」といい、第２の記憶領域３６Ｂに記憶される情報を「第２の情報」ということがある。
　メモリ３６は、複数のバンクを有していてもよい。この場合、複数のバンクうちの一部のバンクにより第１の記憶領域３６Ａが構成され、残りのバンクにより第２の記憶領域３６Ｂが構成されてもよい。
　アンテナコイル３１は、電磁誘導により誘起電圧を誘起する。コントローラ３５は、アンテナコイル３１を介して、規定の通信規格で記録再生装置と通信を行う。具体的には例えば、相互認証、コマンドの送受信またはデータのやり取り等を行う。
　コントローラ３５は、アンテナコイル３１を介して記録再生装置から受信した情報をメモリ３６に記憶する。例えば、アンテナコイル３１を介して記録再生装置から受信したテンション調整情報をメモリ３６の第２の記憶領域３６Ｂに記憶する。コントローラ３５は、記録再生装置の要求に応じて、メモリ３６から情報を読み出し、アンテナコイル３１を介して記録再生装置に送信する。例えば、記録再生装置の要求に応じて、メモリ３６の第２の記憶領域３６Ｂからテンション調整情報を読み出し、アンテナコイル３１を介して記録再生装置に送信する。
［１．３　磁気テープの構成］
　図３は、磁気テープＭＴの構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴは、長尺状の基体４１と、基体４１の一方の主面（第１の主面）上に設けられた下地層４２と、下地層４２上に設けられた磁性層４３と、基体４１の他方の主面（第２の主面）上に設けられたバック層４４とを備える。なお、下地層４２およびバック層４４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。磁気テープＭＴは、垂直記録型の磁気記録媒体であってもよいし、長手記録型の磁気記録媒体であってもよい。磁気テープＭＴは、走行性の向上の観点から、潤滑剤を含むことが好ましい。潤滑剤は、下地層４２および磁性層４３のうちの少なくとも１層に含まれていてもよい。
　磁気テープＭＴはＬＴＯ規格に準拠するものであってもよいし、ＬＴＯ規格とは別の規格に準拠するものであってもよい。磁気テープＭＴの幅は、１／２インチであってもよいし、１／２インチよりも広くてもよい。磁気テープＭＴがＬＴＯ規格に準拠するものである場合には、磁気テープＭＴの幅は、１／２インチである。磁気テープＭＴは、走行時に磁気テープＭＴの長手方向に加わるテンションを記録再生装置（ドライブ）により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つことが可能な構成を有していてもよい。
　磁気テープＭＴは長尺状を有し、記録再生の際には長手方向に走行される。磁気テープＭＴは、記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置で用いられることが好ましい。磁気テープＭＴは、１５００ｎｍ以下または１０００ｎｍ以下のデータトラック幅でデータを記録可能に構成された記録再生装置に用いられることが好ましい。
（基体）
　基体４１は、下地層４２および磁性層４３を支持する非磁性支持体である。基体４１は、長尺のフィルム状を有する。基体４１の平均厚みの上限値は、例えば４．４μｍ以下、好ましくは４．２μｍ以下、より好ましくは４．０μｍ以下、さらにより好ましくは３．８μｍ以下、特に好ましくは３．６μｍ以下、最も好ましくは３．４μｍ以下である。基体４１の平均厚みの上限値が４．４μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。基体４１の平均厚みの下限値は、好ましくは３．０μｍ以上、より好ましくは３．２μｍ以上である。基体４１の平均厚みの下限値が３．０μｍ以上であると、基体４１の強度低下を抑制することができる。
　基体４１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。本明細書において、"磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向"という場合の"長手方向"とは、リーダーテープＬＴ側の一端からそれとは反対側の他端に向かう方向を意味する。
　続いて、各サンプルの基体４１以外の層（すなわち下地層４２、磁性層４３およびバック層４４）をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、各サンプル（基体４１）の厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値（合計で１５点のサンプルの厚み）を算術平均して、基体４１の平均厚みを算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　基体４１は、例えば、ポリエステル類、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種を含む。基体４１が上記材料のうちの２種以上を含む場合、それらの２種以上の材料は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。
　基体４１は、上記の高分子樹脂のうち、ポリエステル類を含むことが好ましい。基体４１がポリエステル類を含むことで、基体４１の長手方向の貯蔵弾性率Ｅ'を、好ましくは９．０ＧＰａ以下、より好ましくは７．５ＧＰａ以下、さらにより好ましくは６．０ＧＰａ以下、特に好ましくは５．５ＧＰａ以下、最も好ましくは４．５ＧＰａ以下に低減することができる。したがって、走行時における磁気テープＭＴの長手方向のテンションを記録再生装置により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つ制御を特に行いやすい。基体４１の長手方向の貯蔵弾性率Ｅ'の測定方法については後述する。
　ポリエステル類は、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、ＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）、ＰＢＮ（ポリブチレンナフタレート）、ＰＣＴ（ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート）、ＰＥＢ（ポリエチレン－ｐ－オキシベンゾエート）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの少なくとも１種を含む。基体４１が２種以上のポリエステル類を含む場合、それらの２種以上のポリエステル類は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。ポリエステル類の末端および側鎖の少なくとも一方が変性されていてもよい。基体４１の強度を向上するために、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）にＰＡ（ポリアミド）が添加されていてもよい。
　基体４１にポリエステル類が含まれていることは、例えば、次のようにして確認される。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの範囲から磁気テープＭＴを切り出し、サンプルを作製した後、サンプルの基体４１以外の層を除去する。次に、赤外吸収分光法（Infrared Absorption Spectrometry：ＩＲ）によりサンプル（基体４１）のＩＲスペクトルを取得する。このＩＲスペクトルに基づき、基体４１にポリエステル類が含まれていることを確認することができる。
　ポリオレフィン類は、例えば、ＰＥ（ポリエチレン）およびＰＰ（ポリプロピレン）のうちの少なくとも１種を含む。セルロース誘導体は、例えば、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、ＣＡＢ（セルロースアセテートブチレート）およびＣＡＰ（セルロースアセテートプロピオネート）のうちの少なくとも１種を含む。ビニル系樹脂は、例えば、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）およびＰＶＤＣ（ポリ塩化ビニリデン）のうちの少なくとも１種を含む。
　その他の高分子樹脂は、例えば、ＰＡ（ポリアミド、ナイロン）、芳香族ＰＡ（芳香族ポリアミド、アラミド）、ＰＩ（ポリイミド）、芳香族ＰＩ（芳香族ポリイミド）、ＰＡＩ（ポリアミドイミド）、芳香族ＰＡＩ（芳香族ポリアミドイミド）、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール、例えばザイロン（登録商標））、ポリエーテル、ＰＥＫ（ポリエーテルケトン）、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）、ポリエーテルエステル、ＰＥＳ（ポリエーテルサルフォン）、ＰＥＩ（ポリエーテルイミド）、ＰＳＦ（ポリスルフォン）、ＰＰＳ（ポリフェニレンスルフィド）、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＡＲ（ポリアリレート）およびＰＵ（ポリウレタン）のうちの少なくとも１種を含む。
　基体４１は、長手方向および幅方向に二軸延伸されていてもよい。基体４１に含まれる高分子樹脂は、基体４１の幅方向に対して斜め方向に配向されていることが好ましい。
（磁性層）
　磁性層４３は、信号を磁化パターンにより記録するための記録層である。磁性層４３は、塗布膜であってもよい。磁性層４３は、垂直記録型の記録層であってもよいし、長手記録型の記録層であってもよい。磁性層４３は、例えば、磁性粉、結着剤、潤滑剤およびカーボンを含む。磁性層４３が、必要に応じて、帯電防止剤、研磨剤、硬化剤、防錆剤および非磁性補強粒子等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。磁性層４３は、凹凸形状を有する表面を有していてもよい。
　磁性層４３は、データが書き込まれる複数のデータバンドと、サーボパターンが書き込まれる複数のサーボバンドと、を有している。データバンドおよびサーボバンドの詳細については後述する。
　磁性層４３は、データバンドに複数のデータトラックを形成可能に構成されている。データトラック幅の平均値の上限値は、トラック記録密度を向上し、高記録容量を確保する観点から、好ましくは１１００ｎｍ以下、より好ましくは１０００ｎｍ以下、さらにより好ましくは８００ｎｍ以下、特に好ましくは６００ｎｍ以下ある。データトラック幅Ｗの平均値の下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。
　データトラック幅の平均値は以下のようにして求められる。まず、データが磁気テープＭＴの全面に記録されたカートリッジ１０を準備し、このカートリッジ１０から磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。続いて、各サンプルの磁性層４３のデータバンド部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は１０μｍ×１０μｍとし、当該１０μｍ×１０μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。各サンプルにおいて１０μｍ×１０μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られた３つのＭＦＭ像から、Dimension3100に付属の解析ソフトを用いて、トラック幅を１０ヶ所測定し平均値（単純平均である）をとる。当該平均値が、データトラック幅の平均値である。なお、上記ＭＦＭの測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。
　磁性層４３は、高記録容量を確保する観点から、磁化反転間距離の最小値Ｌが好ましくは４０ｎｍ以下、より好ましくは３６ｎｍ以下、さらにより好ましくは３２ｎｍ以下となるように、データを記録可能に構成されている。磁化反転間距離の最小値Ｌの下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。
　磁化反転間距離の最小値Ｌは以下のようにして求められる。まず、データが磁気テープＭＴの全面に記録されたカートリッジ１０を準備し、このカートリッジ１０から磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。続いて、各サンプルの磁性層４３のデータバンドＤＢ部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は２μｍ×２μｍとし、当該２μｍ×２μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。各サンプルにおいて２μｍ×２μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られたＭＦＭ像の記録パターンの二次元の凹凸チャートからビット間距離を５０個測定する。当該ビット間距離の測定は、Dimension3100に付属の解析ソフトを用いて行われる。測定された５０個のビット間距離のおよそ最大公約数となる値を磁化反転間距離の最小値Ｌとする。なお、測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。
　磁性層４３の平均厚みの上限値は、好ましくは９０ｎｍ以下、より好ましくは８０ｎｍ以下、さらにより好ましくは７０ｎｍ以下、特に好ましくは６０ｎｍ以下、最も好ましくは５０ｎｍ以下である。磁性層４３の平均厚みの上限値が９０ｎｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、反磁界の影響を軽減できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性層４３の平均厚みの下限値は、好ましくは３５ｎｍ以上である。磁性層４３の平均厚みの下限値が３５ｎｍ以上であると、再生ヘッドとしてはＭＲ型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性層４３の平均厚みは、以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。続いて、各サンプルをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた各薄片化サンプルの上記断面を、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、各薄片化サンプルのＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍
　次に、得られた各薄片化サンプルのＴＥＭ像を用い、各薄片化サンプルの１０点の位置で磁性層４３の厚みを測定する。なお、各薄片化サンプルの１０点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれる。得られた各薄片化サンプルの測定値（合計で３０点の磁性層４３の厚み）を算術平均して得られた平均値を磁性層４３の平均厚み［ｎｍ］とする。
（磁性粉）
　磁性粉は、複数の磁性粒子を含む。磁性粒子は、例えば、金属酸化物を含む粒子（以下「金属酸化物粒子」という。）である。金属酸化物粒子は、例えば、六方晶フェライトを含む粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）、イプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）を含む粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む粒子（以下「コバルトフェライト粒子」という。）である。磁性粉は、磁気テープＭＴの垂直方向に優先的に結晶配向していることが好ましい。本明細書において、磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）とは、平面状態にある磁気テープＭＴの厚み方向を意味する。
（六方晶フェライト粒子）
　六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状等の板状または六角柱状等の柱状（但し、厚さまたは高さが板面または底面の長径より小さい。）を有する。本明細書において、六角板状は、ほぼ六角板状を含むものとする。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ12Ｏ19で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１３ｎｍ以上２２ｎｍ以下、より好ましくは１３ｎｍ以上１９ｎｍ以下、さらにより好ましくは１３ｎｍ以上１８ｎｍ以下、特に好ましくは１４ｎｍ以上１７ｎｍ以下、最も好ましくは１４ｎｍ以上１６ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが２２ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴにおいて、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが１３ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．５以上２．８以下、さらにより好ましくは１．８以上２．７以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの範囲から磁気テープＭＴを切り出す。続いて、切り出された磁気テープＭＴをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製 H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。ＴＥＭ写真は、下記で示す板径ＤＢおよび板厚ＤＡ（図４参照）を測定できる粒子を５０個抽出できる枚数準備する。
　本明細書では、上記のＴＥＭ写真において観察される粒子の形状が、図４に示すように、板状または柱状（但し、厚さまたは高さが板面または底面の長径より小さい。）である場合には、粒子の板面または底面の長径を板径ＤＢの値とする。上記のＴＥＭ写真において観察される粒子の厚さまたは高さを板厚ＤＡの値とする。ＴＥＭ写真において観察される粒子の板面または底面が六角形状である場合には、長径は、最長の対角距離を意味する。一粒子内にて粒子の厚さまたは高さが一定でない場合には、最大の粒子の厚さまたは高さを板厚ＤＡとする。
　次に、撮影したＴＥＭ写真から抽出する５０個の粒子を、下記の基準に基づき選び出す。粒子の一部がＴＥＭ写真の視野の外にはみだしている粒子は測定せず、輪郭がはっきりしており、孤立して存在している粒子を測定する。粒子同士に重なりがある場合は、両者の境界が明瞭で、粒子全体の形状も判断可能な粒子は、それぞれの粒子を単独粒子として測定するが、境界がはっきりせず、粒子の全形も判らない粒子は、粒子の形状が判断できないものとして測定しない。
　図５、図６にＴＥＭ写真の一例を示す。図５、図６において、例えば矢印ａおよびｄで示される粒子が、その粒子の板厚（その粒子の厚さまたは高さ）ＤＡを明らかに確認できるので、選択される。選択された５０個の粒子それぞれの板厚ＤＡを測定する。このようにして求めた板厚ＤＡを算術平均して平均板厚ＤＡaveを求める。平均板厚ＤＡaveが平均粒子板厚である。続いて、各磁性粉の板径ＤＢを測定する。粒子の板径ＤＢを測定するために、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の板径ＤＢを明らかに確認できる粒子を５０個選び出す。例えば、図５、図６において、例えば矢印ｂおよびｃで示される粒子が、その板径ＤＢを明らかに確認できるので、選択される。選択された５０個の粒子それぞれの板径ＤＢを測定する。このようにして求めた板径ＤＢを単純平均（算術平均）して平均板径ＤＢaveを求める。平均板径ＤＢaveが、平均粒子サイズである。そして、平均板厚ＤＡaveおよび平均板径ＤＢavｅから粒子の平均アスペクト比（ＤＢave／ＤＡave）を求める。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５００ｎｍ3以上２５００ｎｍ3以下、より好ましくは５００ｎｍ3以上１６００ｎｍ3以下、さらに好ましくは５００ｎｍ3以上１５００ｎｍ3以下、特に好ましくは６００ｎｍ3以上１２００ｎｍ3以下、最も好ましくは６００ｎｍ3以上１０００ｎｍ3以下である。磁性粉の平均粒子体積が２５００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２２ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを１３ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。
　磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法に関して述べた通り、平均板厚ＤＡaveおよび平均板径ＤＢaveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。
（ε酸化鉄粒子）
　ε酸化鉄粒子は、微粒子でも高保磁力を得ることができる硬磁性粒子である。ε酸化鉄粒子は、球状を有しているか、または立方体状を有している。本明細書において、球状は、ほぼ球状を含むものとする。また、立方体状には、ほぼ立方体状を含むものとする。ε酸化鉄粒子が上記のような形状を有しているため、磁性粒子としてε酸化鉄粒子を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、磁気テープＭＴの厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制することができる。したがって、磁性粉の分散性を高め、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　ε酸化鉄粒子は、複合粒子の構造を有していてもよい。より具体的には、ε酸化鉄粒子は、ε酸化鉄部と、軟磁性を有する部分もしくは、ε酸化鉄より飽和磁化量σｓが高く、保磁力Ｈｃが小さい磁性を有する部分（以下「軟磁性を有する部分等」という。）とを備える。
　ε酸化鉄部は、ε酸化鉄を含む。ε酸化鉄部に含まれるε酸化鉄は、ε－Ｆｅ2Ｏ3結晶を主相とするものが好ましく、単相のε－Ｆｅ2Ｏ3からなるものがより好ましい。
　軟磁性を有する部分等は、少なくともε酸化鉄部と一部で接している。具体的には、軟磁性を有する部分等は、ε酸化鉄部を部分的に覆っていてもよいし、ε酸化鉄部の周囲全体を覆っていてもよい。
　軟磁性を有する部分（ε酸化鉄より飽和磁化量σｓが高く、保磁力Ｈｃが小さい磁性を有する部分）は、例えば、α－Ｆｅ、Ｎｉ－Ｆｅ合金またはＦｅ－Ｓｉ－Ａｌ合金等の軟磁性体を含む。α－Ｆｅは、ε酸化鉄部に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。
　また、軟磁性を有する部分は、例えば、Ｆｅ3Ｏ4、γ－Ｆｅ2Ｏ3、またはスピネルフェライト等を含んでいてもよい。
　ε酸化鉄粒子が、上記のように軟磁性を有する部分等を備えることで、熱安定性を確保するためにε酸化鉄部単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ、ε酸化鉄粒子（複合粒子）全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。
　ε酸化鉄粒子が、上記複合粒子の構造に代えて添加剤を含んでいてもよいし、上記複合粒子の構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。この場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎからなる群より選ばれた少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａからなる群より選ばれた少なくとも１種である。
　具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε－Ｆｅ2-xＭxＯ3結晶（但し、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎからなる群より選ばれた少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａからなる群より選ばれた少なくとも１種である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。
　磁性粉がε酸化鉄粒子を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上２０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上１８ｎｍ以下、さらにより好ましくは１０ｎｍ以上１６ｎｍ以下、特に好ましくは１０ｎｍ以上１５ｎｍ以下、最も好ましくは１０ｎｍ以上１４ｎｍ以下である。磁気テープＭＴでは、記録波長の１／２のサイズの領域が実際の磁化領域となる。このため、磁性粉の平均粒子サイズを最短記録波長の半分以下に設定することで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子サイズが２０ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴ（例えば４０ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成された磁気テープＭＴ）において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが１０ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　磁性粉がε酸化鉄粒子を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．０以上２．５以下、さらにより好ましくは１．０以上２．１以下、特に好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。
　磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は、以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの範囲から磁気テープＭＴを切り出す。続いて、切り出された磁気テープＭＴをＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護層としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿うかたちで行って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製 H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の形状を明らかに確認することができる５０個の粒子を選び出し、各粒子の長軸長ＤＬと短軸長ＤＳを測定する。ここで、長軸長ＤＬとは、各粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のもの（いわゆる最大フェレ径）を意味する。一方、短軸長ＤＳとは、粒子の長軸（ＤＬ）と直交する方向における粒子の長さのうち最大のものを意味する。続いて、測定した５０個の粒子の長軸長ＤＬを算術平均して平均長軸長ＤＬaveを求める。このようにして求めた平均長軸長ＤＬaveを磁性粉の平均粒子サイズとする。また、測定した５０個の粒子の短軸長ＤＳを算術平均して平均短軸長ＤＳaveを求める。そして、平均長軸長ＤＬaveおよび平均短軸長ＤＳaveから粒子の平均アスペクト比（ＤＬave／ＤＳave）を求める。
　磁性粉がε酸化鉄粒子を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５００ｎｍ3以上４０００ｎｍ3以下、より好ましくは５００ｎｍ3以上３０００ｎｍ3以下、さらにより好ましくは５００ｎｍ3以上２０００ｎｍ3以下、特に好ましくは６００ｎｍ3以上１６００ｎｍ3以下、最も好ましくは６００ｎｍ3以上１３００ｎｍ3以下である。一般的に磁気テープＭＴのノイズは粒子個数の平方根に反比例（すなわち粒子体積の平方根に比例）するため、粒子体積をより小さくすることで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子体積が４０００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２０ｎｍ以下とする場合と同様に、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを１０ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。
　ε酸化鉄粒子が球状を有している場合には、磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様にして、平均長軸長ＤＬaveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。
　Ｖ＝（π/６）×ＤＬave  3
　ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合、磁性粉の平均体積は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの範囲から磁気テープＭＴを切り出す。続いて、切り出された磁気テープＭＴをＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜およびタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルを透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。次に、撮影したＴＥＭ写真から粒子の形状が明らかである５０個の粒子を選び出し、各粒子の辺の長さＤＣを測定する。続いて、測定した５０個の粒子の辺の長さＤＣを算術平均して平均辺長ＤＣaveを求める。次に、平均辺長ＤＣaveを用いて以下の式から磁性粉の平均体積Ｖave（粒子体積）を求める。
　Ｖave＝ＤＣave 3
（コバルトフェライト粒子）
　コバルトフェライト粒子は、一軸結晶異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト粒子が一軸結晶異方性を有することで、磁性粉を磁気テープＭＴの垂直方向に優先的に結晶配向させることができる。コバルトフェライト粒子は、例えば、立方体状を有している。本明細書において、立方体状は、ほぼ立方体状を含むものとする。Ｃｏ含有スピネルフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　Ｃｏ含有スピネルフェライトは、例えば以下の式で表される平均組成を有する。
　ＣｏxＭyＦｅ2ＯZ
（但し、式中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ、ｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）
　磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは８ｎｍ以上１６ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上１３ｎｍ以下、さらにより好ましくは８ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが１６ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴにおいて、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。磁性粉の平均粒子サイズの算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様である。
　磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上２．５以下、より好ましくは１．０以上２．１以下、さらにより好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上２．５以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。磁性粉の平均アスペクト比の算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均アスペクト比の算出方法と同様である。
　磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５００ｎｍ3以上４０００ｎｍ3以下、より好ましくは６００ｎｍ3以上２０００ｎｍ3以下、さらにより好ましくは６００ｎｍ3以上１０００ｎｍ3以下である。磁性粉の平均粒子体積が４０００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを１６ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを８ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。磁性分の平均粒子体積の算出方法は、ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合の平均粒子体積の算出方法と同様である。
（結着剤）
　結着剤としては、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反応型樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂としては、例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、塩化ビニル－酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル－エチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム等が挙げられる。
　熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。
　上記の全ての結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、－ＳＯ3Ｍ、－ＯＳＯ3Ｍ、－ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）2（但し、式中Ｍは水素原子またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属を表す）や、－ＮＲ１Ｒ２、－ＮＲ１Ｒ２Ｒ３+Ｘ-で表される末端基を有する側鎖型アミン、＞ＮＲ１Ｒ２+Ｘ-で表される主鎖型アミン（但し、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は水素原子または炭化水素基を表し、Ｘ-はフッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン元素イオン、無機イオンまたは有機イオンを表す。）、さらに－ＯＨ、－ＳＨ、－ＣＮ、エポキシ基等の極性官能基が導入されていてもよい。これら極性官能基の結着剤への導入量は、１０-1モル／ｇ以上１０-8モル／ｇ以下であるのが好ましく、１０-2モル／ｇ以上１０-6モル／ｇ以下であるのがより好ましい。
（潤滑剤）
　潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルから選ばれる少なくとも１種、好ましくは脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含む。磁性層４３が潤滑剤を含むことが、特には磁性層４３が脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含むことが、磁気テープＭＴの走行安定性の向上に貢献する。
　脂肪酸は、好ましくは下記の一般式（１）または（２）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸として下記の一般式（１）により示される化合物および一般式（２）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
　また、脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式（３）または（４）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸エステルとして下記の一般式（３）により示される化合物および一般式（４）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
　潤滑剤が、一般式（１）に示される化合物および一般式（２）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式（３）に示される化合物および一般式（４）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、を含むことによって、磁気テープＭＴを繰り返しの記録または再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。
　ＣＨ3（ＣＨ2）kＣＯＯＨ　・・・（１）
（但し、一般式（１）において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ2）mＣＯＯＨ　・・・（２）
（但し、一般式（２）において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）pＣＯＯ（ＣＨ2）qＣＨ3 ・・・（３）
（但し、一般式（３）において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）rＣＯＯ－（ＣＨ2）sＣＨ（ＣＨ3）2 ・・・（４）
（但し、一般式（４）において、ｒは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｓは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）tＣＯＯ－（ＣＨ）（ＣＨ3）ＣＨ2（ＣＨ3）u　・・・（５）
（但し、一般式（５）において、ｔは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｕは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
（カーボン）
　磁性層４３に含まれるカーボンは、帯電防止剤および潤滑剤等として機能してもよい。磁性層４３に含まれるカーボンの一部は、磁性層４３の表面から露出している。磁性層４３の表面の凹凸が、カーボンや研磨剤等により形成されていてもよい。
　カーボンは、具体的には、カーボン粒子である。カーボン粒子は、例えば、カーボンブラック、アセチレンブラック、ケッチェンブラック、カーボンナノチューブおよびグラフェンからなる群より選ばれる１種以上を含む。
（帯電防止剤）
　帯電防止剤としては、例えば、天然界面活性剤、ノニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤等が挙げられる。
（研磨剤）
　研磨剤としては、例えば、α化率９０％以上のα－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ、炭化ケイ素、酸化クロム、酸化セリウム、α－酸化鉄、コランダム、窒化珪素、チタンカ－バイト、酸化チタン、二酸化珪素、酸化スズ、酸化マグネシウム、酸化タングステン、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、２硫化モリブデン、磁性酸化鉄の原料を脱水、アニール処理した針状α酸化鉄、必要によりそれらをアルミおよび／またはシリカで表面処理したもの等が挙げられる。
（硬化剤）
　硬化剤としては、例えば、ポリイソシアネート等が挙げられる。ポリイソシアネートとしては、例えば、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＭＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の脂肪族ポリイソシアネート等が挙げられる。これらポリイソシアネートの重量平均分子量は、１００以上３０００以下の範囲であることが望ましい。
（防錆剤）
　防錆剤としては、例えばフェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物等が挙げられる。
（非磁性補強粒子）
　非磁性補強粒子として、例えば、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等が挙げられる。
（下地層）
　下地層４２は、基体４１の表面の凹凸を緩和し、磁性層４３の表面の凹凸を調整するためのものである。下地層４２は、非磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む非磁性層である。下地層４２は、磁性層４３の表面に潤滑剤を供給する。下地層４２が、必要に応じて、帯電防止剤、硬化剤および防錆剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。
　下地層４２の平均厚みの上限値は、好ましくは１．０μｍ以下、より好ましくは０．９μｍ以下、さらにより好ましくは０．８μｍ以下、特により好ましくは０．７μｍ以下、最も好ましくは０．６μｍ以下である。下地層４２の平均厚みの上限値が１．０μｍ以下であると、磁気テープＭＴの厚みを低減することができるので、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。また、下地層４２の平均厚みが１．０μｍ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。下地層４２の平均厚みの下限値は、好ましくは０．３μｍ以上である。下地層４２の平均厚みの下限値が０．３μｍ以上であると、下地層４２としての機能低下を抑制することができる。なお、下地層４２の平均厚みは、磁性層４３の平均厚みと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層４２の厚みに応じて適宜調整される。
（非磁性粉）
　非磁性粉は、例えば無機粒子粉または有機粒子粉の少なくとも１種を含む。また、非磁性粉は、カーボンブラック等の炭素粉を含んでいてもよい。なお、１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。
（結着剤、潤滑剤）
　結着剤および潤滑剤は、上記の磁性層４３と同様である。
（添加剤）
　帯電防止剤、硬化剤および防錆剤はそれぞれ、上記の磁性層４３と同様である。
（バック層）
　バック層４４は、結着剤および非磁性粉を含む。バック層４４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。結着剤および非磁性粉は、上記の下地層４２と同様である。硬化剤および帯電防止剤は、上記の磁性層４３と同様である。
　非磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。非磁性粉の平均粒子サイズは、上記の磁性粉の平均粒子サイズと同様にして求められる。非磁性粉が、２以上の粒度分布を有する非磁性粉を含んでいてもよい。
　バック層４４の平均厚みの上限値は、好ましくは０．６μｍ以下である。バック層４４の平均厚みの上限値が０．６μｍ以下であると、磁気テープＭＴの平均厚みが５．３μｍ以下である場合でも、下地層４２や基体４１の厚みを厚く保つことができるので、磁気テープＭＴの記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層４４の平均厚みの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２μｍ以上である。
　バック層４４の平均厚みｔbは以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴの平均厚みｔTを測定する。平均厚みｔTの測定方法は、以下の「磁気テープの平均厚み」に記載されている通りである。続いて、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。次に、各サンプルのバック層４４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、Mitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、各サンプルの厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値（合計で１５点のサンプルの厚み）を算術平均して、平均値ｔB［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層４４の平均厚みｔb［μｍ］を求める。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　ｔb［μｍ］＝ｔT［μｍ］－ｔB［μｍ］
（平均幅変化量ΔＡ）
　磁気テープＭＴの幅１／２インチ当たり０．５５Ｎのテンションが長手方向に加えられた状態で温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下に４０時間静置される前後の磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡの絶対値が、０ｐｐｍ以上１７０ｐｐｍ以下、好ましくは０ｐｐｍ以上１５０ｐｐｍ以下、より好ましくは０ｐｐｍ以上７０ｐｐｍ以下、さらにより好ましくは０ｐｐｍ以上４０ｐｐｍ以下である。磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡの絶対値が１７０ｐｐｍを超えると、カートリッジ１０に巻き取られた磁気テープＭＴが高温環境下に長期間保管されたときの磁気テープＭＴのクリープ変化、および磁気テープＭＴが高温環境下で長期間走行されたときの磁気テープＭＴのクリープ変化が大きくなる。このため、カートリッジ１０に巻き取られた状態で高温環境下に長期間保管された磁気テープＭＴ、および高温環境下で長期間走行された磁気テープＭＴの幅変化が、長手方向の走行テンションの調整により補正可能な範囲を超える。したがって、長手方向の走行テンションの調整により上記幅変化を補正することが困難になる。本明細書において、高温環境とは、３５℃以上５０℃以下の環境のことをいう。
　従来の磁気テープでは、高温環境下において、クリープ特性による形状変化が大きくなる。このため、磁気テープの走行テンションの調整により磁気テープの幅変化を補正することは困難である。これに対して、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴでは、磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡの絶対値が１７０ｐｐｍ以下であるため、環境に起因する磁気テープＭＴの変形に加えて、高温環境下でのクリープ変形を低減することができる。したがって、磁気テープＭＴの走行テンションの調整により磁気テープＭＴの幅変化を補正することができる。
　平均幅変化量ΔＡは、基体４１および下地層４２の少なくとも一方の選択により所望の値に設定されてもよい。例えば、平均幅変化量ΔＡは、基体４１の厚みおよび基体４１の材料の少なくとも一方を選択することにより所望の値に設定されてもよい。また、平均幅変化量ΔＡは、基体４１の幅方向および長手方向の延伸強度を調整することによって、所望の値に設定されてもよい。また、平均幅変化量ΔＡは、磁性層４３の種類を塗布膜およびスパッタ膜のうちから選択することによって、所望の値に設定されてもよい。
　また、平均幅変化量ΔＡは、カレンダー工程後、裁断工程前にひずみ緩和工程を備え、当該ひずみ緩和工程における環境温度および保管時間を調整（例えば温度６５℃の環境下に４８時間保管）することによって、所望の値に設定されてもよい。また、平均幅変化量ΔＡは、消磁工程後、サーボパターンの書き込み工程前にひずみ緩和工程を備え、当該ひずみ緩和工程における環境温度および保管時間を調整（例えば温度５５℃の環境下に４８時間保管）することによって、所望の値に設定されてもよい。
　なお、上記の複数の選択例のうちの1つを選択することによって、平均幅変化量ΔＡが所望の値に設定されてもよいし、２以上を選択することによって、平均幅変化量ΔＡが所望の値に設定されてもよい。
　磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを取得する。
　次に、上記の３つのサンプルの幅変化量Δａをそれぞれに以下のようにして求める。まず、測定装置としてキーエンス社製のデジタル寸法測定器ＬＳ－７０００を組み込んだ、図７に示す測定装置を準備し、この測定装置にサンプル１０Ｓをセットする。具体的には、長尺状のサンプル（磁気テープＭＴ）１０Ｓの一端を固定部２３１により固定する。次に、図１０に示されるとおり、サンプル１０Ｓを、５本の略円柱状且つ棒状の支持部材２３２1～２３２5に乗せる。サンプル１０Ｓは、そのバック面が５本の支持部材２３２1～２３２5に接するように、これら支持部材２３２1～２３２5に乗せられる。５本の支持部材２３２1～２３２5（特にその表面）はいずれもステンレス鋼ＳＵＳ３０４から形成されており、その表面粗さＲｚ（最大高さ）は０．１５μｍから０．３μｍである。
　５本の棒状の支持部材２３２1～２３２5の配置を、図７を参照しながら説明する。図７に示されるとおり、サンプル１０Ｓは、５本の支持部材２３２1～２３２5に乗せられている。５本の支持部材２３２1～２３２5について、以下では、固定部２３１に最も近いほうから「第１支持部材２３２1」、「第２支持部材２３２2」、「第３支持部材２３２3」（スリット２３２Ａを有する）、「第４支持部材２３２4」、および「第５支持部材２３２5」（重り２３３に最も近い）という。これら５本の第１～第５支持部材２３２1～２３２5の直径はいずれも、７ｍｍである。第１支持部材２３２1と第２支持部材２３２2との距離ｄ１（特にはこれら支持部材の中心軸の間の距離）は２０ｍｍである。第２支持部材２３２2と第３支持部材２３２3との距離ｄ２は３０ｍｍである。第３支持部材２３２3と第４支持部材２３２4との距離ｄ３は３０ｍｍである。第４支持部材２３２4と第５支持部材２３２5との距離ｄ４は２０ｍｍである。
　また、サンプル１０Ｓのうち第２支持部材２３２2、第３支持部材２３２3、および第４支持部材２３２4の間に乗っている部分が、重力方向に対して略垂直な平面を形成するように、これら３つの支持部材２３２2～２３２4は配置されている。また、サンプル１０Ｓが、第１支持部材２３２1と第２支持部材２３２2との間では、上記略垂直の平面に対してθ１＝３０°の角度を形成するように、第１支持部材２３２1および第２支持部材２３２2は配置されている。さらに、サンプル１０Ｓが、第４支持部材２３２4と第５支持部材２３２5との間では、上記の略垂直な平面に対してθ２＝３０°の角度を形成するように、第４支持部材２３２4および第５支持部材２３２5は配置されている。また、５本の第１～第５支持部材２３２1～２３２5のうち、第３支持部材２３２3は回転しないように固定されているが、その他の４本の第１、第２、第４、第５支持部材２３２1、２３２2、２３２4、２３２5は全て回転可能である。上記のように支持部材２３２3は回転しないように固定されているため、支持体２３２3とサンプル１０Ｓとの摩擦の低減を考慮して、支持体２３２3とサンプル１０Ｓとの接触角を浅くしている。
　サンプル１０Ｓは、支持部材２３２1～２３２5上でサンプル１０Ｓの幅方向に移動しないように保持される。なお、支持部材２３２1～２３２5のうち、発光器２３４および受光器２３５の間に位置し、かつ、固定部２３１と荷重をかける部分とのほぼ中心に位置する支持部材２３２3にはスリット２３２Ａが設けられている。スリット２３２Ａを介して発光器２３４から受光器２３５に光Ｌが照射されるようになっている。スリット２３２Ａのスリット幅は１ｍｍであり、光Ｌは、スリット２３２Ａの枠に遮られることなく、当該スリット２３２Ａを通り抜けられる。
　続いて、室温環境（温度２５℃、相対湿度５０％ＲＨ）にあるチャンバ内に測定装置を収容したのち、サンプル１０Ｓの他端に、サンプル１０Ｓの幅１／２インチ当たり０．５５Ｎの荷重をかけるための重り２３３を取り付ける。すなわち、サンプル１０Ｓにかけられる荷重は、幅が１／２インチの場合は０．５５Ｎに設定され、幅が１／２インチではない場合は幅に比例した荷重が設定される。重り２３３を取り付けた後、サンプル１０Ｓを上記室温環境下に３０分間静置する。３０分間静置後、チャンバ内を昇温し、チャンバ内が規定環境（温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨ）になった時点からサンプル１０Ｓの幅の測定を開始する。チャンバ内を上記規定環境（温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨ）に維持しながら、上記測定開始から４０時間を超えるまでサンプル１０Ｓの幅の測定を継続する。
　上記測定装置は、上記規定環境にて０．５５Ｎの荷重が加えられた状態で、発光器２３４から受光器２３５に向けて光Ｌを照射し、長手方向に荷重が加えられたサンプル１０Ｓの幅を測定する。当該幅の測定は、サンプル１０Ｓがカールしていない状態で行われる。発光器２３４および受光器２３５は、デジタル寸法測定器ＬＳ－７０００に備えられているものである。
　次に、上記のようにして取得されたサンプル１０Ｓの幅の測定結果を用いて、上記測定開始の時点から１時間経過後（すなわち、チャンバ内が上記規定環境になった時点から１時間経過後）におけるサンプル１０Ｓの幅を基準として、上記測定開始の時点から４０時間経過後におけるサンプル１０Ｓの幅変化量Δａを算出する。すなわち、４０時間経過後におけるサンプル１０Ｓの幅から、１時間経過後におけるサンプルＳ１０の幅を差し引いて、サンプル１０Ｓの幅変化量Δａを求める。サンプル１０Ｓの幅変化量Δａの値の正負は、幅変化の方向を意味する。幅変化量Δａが正の場合はサンプル１０Ｓの幅が広がる方向に変化したことを表し、負の場合はサンプル１０Ｓの幅が狭まる方向に変化したことを表す。次に、上記のようにして算出された３つのサンプル１０Ｓの幅変化量Δａを算術平均し、磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡを得る。磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡの値の正負は、幅変化の方向を意味する。平均幅変化量ΔＡが正の場合は磁気テープＭＴの幅が広がる方向に変化したことを表し、負の場合は磁気テープＭＴの幅が狭まる方向に変化したことを表す。
（平均テンション応答性ΔＷ）
　温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下における、長手方向のテンションに対する平均テンション応答性ΔＷの下限値が、７００ｐｐｍ／Ｎ以上、好ましくは７１５ｐｐｍ／Ｎ以上、より好ましくは７５０ｐｐｍ／Ｎ以上、さらにより好ましくは８００ｐｐｍ／Ｎ以上である。平均テンション応答性ΔＷが７００ｐｐｍ／Ｎ未満であると、高温環境下における平均テンション応答性ΔＷが低いため、カートリッジ１０に巻き取られた磁気テープＭＴが高温環境下に長期間保管されたときの磁気テープＭＴのクリープ変化、および磁気テープＭＴが高温環境下で長期間走行されたときの磁気テープＭＴのクリープ変化を、走行テンションの調整により補正することが困難になる。上記のように、本明細書において、高温環境とは、３５℃以上５０℃以下の環境のことをいう。
　平均テンション応答性ΔＷの上限値は、例えば２００００ｐｐｍ／Ｎ以下、好ましくは１５０００ｐｐｍ／Ｎ以下、より好ましくは８０００ｐｐｍ／Ｎ以下、５０００ｐｐｍ／Ｎ以下、４０００ｐｐｍ／Ｎ以下、３０００ｐｐｍ／Ｎ以下、または２０００ｐｐｍ／Ｎ以下である。平均テンション応答性ΔＷが１５０００ｐｐｍ／Ｎ以下であると、記録再生装置のテンションコントロールにばらつきがある場合にも、当該ばらつきに対する磁気テープＭＴの幅の変化量を低減することができる。
　平均テンション応答性ΔＷは、基体４１および下地層４２の少なくとも一方の選択により所望の値に設定されてもよい。例えば、平均テンション応答性ΔＷは、基体４１の厚みおよび基体４１の材料の少なくとも一方を選択することにより所望の値に設定されてもよい。また、平均テンション応答性ΔＷは、基体４１の幅方向および長手方向の延伸強度を調整することによって、所望の値に設定されてもよい。例えば、基体４１の幅方向における延伸を強めることによって、平均テンション応答性ΔＷは低下し、反対に、基体４１の長手方向における延伸を強めることによって、平均テンション応答性ΔＷは上昇する。また、平均テンション応答性ΔＷは、磁性層４３の種類を塗布膜およびスパッタ膜のうちから選択することによって、所望の値に設定されてもよい。
　また、平均テンション応答性ΔＷは、カレンダー工程後、裁断工程前にひずみ緩和工程を備え、当該ひずみ緩和工程における環境温度および保管時間を調整（例えば温度６５℃の環境下に４８時間保管）することによって、所望の値に設定されてもよい。また、平均テンション応答性ΔＷは、消磁工程後、サーボパターンの書き込み工程前にひずみ緩和工程を備え、当該ひずみ緩和工程における環境温度および保管時間を調整（例えば温度５５℃の環境下に４８時間保管）することによって、所望の値に設定されてもよい。
　なお、上記の複数の選択例のうちの１つを選択することによって、平均テンション応答性ΔＷが所望の値に設定されてもよいし、２以上を選択することによって、平均テンション応答性ΔＷが所望の値に設定されてもよい。
　平均テンション応答性ΔＷは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された１／２インチ幅の磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを取得する。
　次に、３つのサンプルのテンション応答性Δｗを以下のようにして求める。サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎ、０．６Ｎ、１．０Ｎの順で荷重をかけ、０．２Ｎ、０．６Ｎ、および１．０Ｎの荷重におけるサンプル１０Ｓの幅を測定する。続いて、以下の式よりテンション応答性Δｗを求める。なお、０．６Ｎの荷重をかけた場合の測定は、測定において異常が生じていないかを確認するため（特にはこれら３つの測定結果が直線的になっていることを確認するため）に行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
（但し、式中、Ｄ（０．２Ｎ）およびＤ（１．０Ｎ）はそれぞれ、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎおよび１．０Ｎの荷重をかけたときのサンプル１０Ｓの幅を示す。）
　次に、上記のようにして求められた３つのサンプルのテンション応答性Δｗを算術平均することにより、平均テンション応答性ΔＷを求める。なお、上記の説明において、サンプル１０Ｓにかけられる荷重の値は、磁気テープＭＴ（サンプル１０Ｓ）の幅が１／２インチの場合における値である。磁気テープＭＴ（サンプル１０Ｓ）の幅が１／２インチではない場合、幅に比例した荷重がかけられる。すなわち、幅に比例した荷重をかけた条件下で３つのサンプルのテンション応答性Δｗを求め、それらを算術平均することにより平均テンション応答性ΔＷを算出する。
　各荷重をかけたときのサンプル１０Ｓの幅は以下のようにして測定される。まず、測定装置としてキーエンス社製のデジタル寸法測定器ＬＳ－７０００を組み込んだ、図７に示す測定装置を準備し、この測定装置にサンプル１０Ｓをセットする。測定装置の具体的な構成は、上記の平均幅変化量ΔＡの測定方法と同様である。また、測定装置に対するサンプル１０Ｓの具体的なセットの手順も、上記の平均幅変化量ΔＡの測定方法と同様である。
　続いて、温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの一定環境下に制御されたチャンバ内に測定装置を収容したのち、サンプル１０Ｓの他端に、０．２Ｎの荷重をかけるための重り２３３を取り付け、サンプル１０Ｓを上記環境内に２時間静置する。２時間置静置後に、サンプル１０Ｓの幅を測定する。次に、０．２Ｎの荷重をかけるための重りを、０．６Ｎの荷重をかけるための重り２３３に変更し、当該変更の５分後にサンプル１０Ｓの幅を測定する。最後に、１．０Ｎの荷重をかけるための重り２３３に変更し、当該変更の５分後にサンプル１０Ｓの幅を測定する。
　以上のとおり、重り２３３の重さを調整することによりサンプル１０Ｓの長手方向に加わる荷重を変化させることができる。温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの一定環境下において各荷重が加えられた状態で、発光器２３４から受光器２３５に向けて光Ｌを照射し、長手方向に荷重が加えられたサンプル１０Ｓの幅を測定する。当該幅の測定は、サンプル１０Ｓがカールしていない状態で行われる。発光器２３４および受光器２３５は、デジタル寸法測定器ＬＳ－７０００に備えられているものである。
（基体の長手方向の平均貯蔵弾性率）
　温度５０℃の環境下における基体４１の長手方向の平均貯蔵弾性率の上限値は、好ましくは９．０ＧＰａ以下、より好ましくは７．５ＧＰａ以下、さらにより好ましくは６．０ＧＰａ以下、特に好ましくは５．５ＧＰａ以下、最も好ましくは４．５ＧＰａ以下である。貯蔵弾性率の上限値が９．０ＧＰａ以下であると、高温環境下において、長手方向のテンションに対する磁気テープＭＴの伸縮性が高くなるため、平均テンション応答性ΔＷを向上することができる。
　温度５０℃の環境下における基体４１の長手方向の平均貯蔵弾性率の下限値は、好ましくは３．０ＧＰａ以上、より好ましくは３．５ＧＰａ以上である。貯蔵弾性率の上限値が３．０ＧＰａ以上であると、長手方向のテンションに対する磁気テープＭＴの伸縮性が過度に高くなることを抑制することができる。したがって、走行安定性の低下を抑制することができる。
　磁気テープＭＴの長手方向の平均貯蔵弾性率は、外力による磁気テープＭＴの長手方向における伸縮のし難さを示す値であり、この値が大きいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮し難く、この値が小さいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮しやすい。
　なお、磁気テープＭＴの長手方向の平均貯蔵弾性率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、磁気テープＭＴの長手方向の平均貯蔵弾性率は、上記のように小さく、９．０ＧＰａ以下であることが有利である。
　磁気テープＭＴの長手方向の平均貯蔵弾性率は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された１／２インチ幅の磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを規定サイズに打ち抜き、３つのサンプルを取得する。次に、上記の３つのサンプルについて、温度５０℃の環境下における基体４１の長手方向の貯蔵弾性率Ｅ'をそれぞれ測定する。次に、測定された３つのサンプルの貯蔵弾性率Ｅ'を算術平均することにより、温度５０℃の環境下における基体４１の長手方向の平均貯蔵弾性率を求める。
　上記の貯蔵弾性率Ｅ'は、動的粘弾性測定によって測定される。上記動的粘弾性測定は温度依存性測定であり、具体的には以下のとおりにして行われる。
　打ち抜き器により磁気テープＭＴを打ち抜き、テープ長手方向の長さ２２．０ｍｍおよび幅方向の幅４．０ｍｍを有するサンプルを取得する。当該サンプルの長手方向の両端が、動的粘弾性測定装置（ＲＳＡＩＩ、ＴＡインスツルメンツ社製）の測定部にクランプされる。そして、以下の測定条件で、動的粘弾性測定を行う。
　測定温度範囲：－１０℃以上１４０℃以下
　昇温速度：２℃／分
　振幅：テープ初期長に対して０．１％の振幅で伸び縮みさせる
　測定周波数：１０Ｈｚ
　Ｔｅｓｔ　Ｔｙｐｅ：「Ｓｔｒａｉｎ－Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ」
　Ｍｅａｓｕｒｍｅｎｔ　Ｔｙｐｅ：「Ｄｙｎａｍｉｃ」
　装置が置かれる環境：温度２５℃、相対湿度５０ＲＨ％
　測定部の湿度コントロール：無し
　上記装置の測定条件に関するより詳細な設定は以下のとおりである。すなわち、以下に記載されるとおり、上記測定において、テンションが０以下になることがないようにテンションが調整され、且つ、ひずみがトランスデューサーの下限値を下回らないように調整される。これらの調整のための測定条件は当業者により適宜設定されてよいが、上記動的粘弾性測定装置について例えば以下のとおりの設定が採用されてよい。
　Option設定
　Delay Before Test : OFF
　Auto Tension
　　　Mode Static Force Tracking Dynamic Force
　　　Auto Tension Direction Tension
　　　Initial Static Force 10.0g
　　　Static＞Dynamic Force by 5.0%
　　　Minimum Static Force 1.0g
　　　Auto Tension Sensitivity 1.0g
Auto Strain
　　　Max Applied Strain 0.1%
　　　Max Allowed Force 100.0g
　　　Min allowed Force 2.0g
　　　Strain Adjustment 3.0%
　　　Meas Ops: Default setting
　以上で説明した上記動的粘弾性測定を上記サンプルに対して行うことによって、各測定温度における貯蔵弾性率Ｅ'の値が得られる。測定温度５０℃における貯蔵弾性率Ｅ'も得られる。各測定温度にて得られた貯蔵弾性率Ｅ'の値を用いて、測定温度に対してプロットすることによって、温度変化に伴う貯蔵弾性率Ｅ'の変化の傾向を読み取ることができる。図８に、貯蔵弾性率Ｅ'の測定結果の一例を示す。
　磁気テープＭＴの貯蔵弾性率Ｅ'は、例えば基体４１を形成する材料の種類および／または磁性層４３、下地層４２、およびバック層４４（特には、これら３つの層のうち最も厚くなることが多い下地層４２）の組成およびこれらの組合せを変更することによって調整することができる。
　例えば、基体４１を形成する材料としてＰＥＮ、ＰＥＴ、またはＰＥＥＫを用いることによって、貯蔵弾性率Ｅ'を調整することができる。また、これら樹脂の選択によって、温度変化に対して貯蔵弾性率Ｅ'をプロットしたグラフの形状が変更されうる。
　また、例えば磁性層４３、下地層４２、およびバック層４４（特には下地層４２）を形成する塗料に含まれる樹脂成分の種類の変更および／または樹脂組成の調整によって、貯蔵弾性率Ｅ'を調整することができる。例えばこれらの層に含まれうる結着剤のガラス転移温度Ｔｇを調整することによって、貯蔵弾性率Ｅ'を調整することができる。ガラス転移温度Ｔｇの調整のしやすさの観点から、当該結着剤は、例えばポリウレタン系樹脂を含む。より好ましくは、下地層４２がポリウレタン系樹脂を含み、これにより貯蔵弾性率Ｅ'を調整しやすくなる。さらにより好ましくは、下地層４２に含まれるポリウレタン系樹脂のガラス転移温度Ｔｇは、好ましくは１０℃以上１４０℃以下、より好ましくは３０℃以上１３０℃以下、さらにより好ましくは３０℃以上１２０℃以下、特に好ましくは５５℃以上１２０℃以下である。ガラス転移温度Ｔｇが低すぎる場合、高温での保存時に粘着が発生する可能性が生じうる。ガラス転移温度Ｔｇが高すぎる場合、表面平滑化（カレンダー）での処理が困難になりうる。
（磁気テープの平均厚み）
　磁気テープＭＴの平均厚み（平均全厚）ｔTの上限値が、好ましくは５．３μｍ以下、より好ましくは５．１μｍ以下、さらにより好ましくは４．９μｍ以下、特に好ましくは４．６μｍ以下、最も好ましくは４．４μｍ以下である。磁気テープＭＴの平均厚みｔTが５．３μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。磁気テープＭＴの平均厚みｔTの下限値は特に限定されるものではないが、例えば３．５μｍ以上である。
　磁気テープＭＴの平均厚みｔTは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、各サンプルの厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値（合計で１５点のサンプルの厚み）を算術平均して、平均厚みｔT［μｍ］を算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
（磁性層の表面の算術平均粗さＲａ）
　磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの平均値は、１．９ｎｍ以下、好ましくは１．６ｎｍ以下、より好ましくは１．３ｎｍ以下である。算術平均粗さＲａの平均値が１．９ｎｍ以下であると、スペーシングロスによる出力低下を抑制することができるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの平均値の下限値は、好ましくは１．０ｎｍ以上、より好ましくは１．２ｎｍ以上である。磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの平均値の下限値が１．０ｎｍ以上であると、摩擦の増大による走行性の低下を抑制することができる。
　算術平均粗さＲａの平均値は次のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。次に、各サンプルの磁性層４３の表面をＡＦＭ（Atomic Force Microscope）により観察し、４０μｍ×４０μｍのＡＦＭ像を得る。ＡＦＭとしてはDigital Instruments社製、Nano Scope IIIa D3100を用い、カンチレバーとしてはシリコン単結晶製のものを用い（注１）、タッピング周波数として、２００Ｈｚから４００Ｈｚのチューニングにて測定を行う。次に、各ＡＦＭ像を５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割し、各測定点にて高さＺ（ｉ）（ｉ：測定点番号、ｉ＝１から２６２，１４４）を測定し、測定した各測定点の高さＺ（ｉ）を算術平均して平均高さ（平均面）Ｚave（＝（Ｚ（１）＋Ｚ（２）＋・・・＋Ｚ（２６２，１４４））／２６２，１４４）を求める。続いて、各測定点での平均中心線からの偏差Ｚ"（ｉ）（＝Ｚ（ｉ）－Ｚave）を求め、算術平均粗さＲａ［ｎｍ］（＝（Ｚ"（１）＋Ｚ"（２）＋・・・＋Ｚ"（２６２，１４４））／２６２，１４４）を算出する。この際には、画像処理として、Flatten order2、ならびに、planefit order 3 XYによりフィルタリング処理を行ったものをデータとして用いる。
（注１）Nano World社製 SPMプローブ NCH ノーマルタイプPointProbe L（カンチレバー長）＝１２５μｍ
　次に、３つサンプルの算術平均粗さＲａを算術平均して、算術平均粗さＲａの平均値を算出する。
（バック面の表面粗度Ｒb）
　バック面の表面粗度（バック層４４の表面粗度）Ｒbの平均値が、Ｒb≦６．０［ｎｍ］であることが好ましい。バック面の表面粗度Ｒbの平均値が上記範囲であると、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　バック面の表面粗度Ｒbの平均値は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを１００ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。次に、サンプルの被測定面（磁性層側の表面）が上になるようにスライドグラスに乗せ、サンプルの端部をメンディングテープで固定する。測定装置としてVertScanを用いて表面形状を測定し、ＩＳＯ　２５１７８の規格に基づいて以下の式からバック面の表面粗度Ｒbを求める。
　測定条件は以下のとおりである。
　装置：光干渉を用いた非接触粗度計
（株式会社菱化システム製 非接触表面・層断面形状計測システムVertScan R5500GL-M100-AC）
　対物レンズ：２０倍
　測定領域：６４０×４８０ピクセル（視野：約２３７μｍ×１７８μｍ視野）
　測定モード：ｐｈａｓｅ
　波長フィルター：５２０ｎｍ
　ＣＣＤ：１／３インチ
　ノイズ除去フィルター：スムージング３×３
　面補正：２次多項式近似面にて補正
　測定ソフトウエア：VS-Measure Version5.5.2
　解析ソフトウエア：VS-viewer Version5.5.5
　各サンプルについて、上記のようにして、磁気テープＭＴの長手方向に５点の位置にて面粗度を測定したのち、各位置で得られた表面プロファイルから自動計算されたそれぞれの算術平均粗さＳa（ｎｍ）の平均値をバック面の表面粗度Ｒb（ｎｍ）とする。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。次に、３つサンプルから求めた表面粗度Ｒbを算術平均して、表面粗度Ｒbの平均値を算出する。
（保磁力Ｈｃ２の平均値）
　磁気テープＭＴの長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の平均値の上限値が、好ましくは３０００Ｏｅ以下、より好ましくは２０００Ｏｅ以下、さらにより好ましくは１９００Ｏｅ以下、特に好ましくは１８００Ｏｅ以下である。磁気テープＭＴの長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の平均値が３０００Ｏｅ以下であると、高記録密度であっても十分な電磁変換特性を有することができる。
　磁気テープＭＴの長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の平均値の下限値が、好ましくは１０００Ｏｅ以上である。磁気テープＭＴの長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の平均値が１０００Ｏｅ以上であると、記録ヘッドからの漏れ磁束による減磁を抑制することができる。
　上記の保磁力Ｈｃ２の平均値は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出され、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴが２５０ｍｍの長さに切り出される。切り出された各磁気テープＭＴは、磁気テープＭＴの長手方向の向きが同じになるように、両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）に対応する測定サンプル（磁気テープＭＴ全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、上記で切り出した磁気テープＭＴの塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）を、アセトンまたはエタノール等を用いて払拭し、基体４１のみを残す。そして、得られた基体４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）が作製される。その後、ＶＳＭを用いて基体４１の長手方向（磁気テープＭＴの長手方向）に対応する補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが測定される。
　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループ、補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。
　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループから保磁力Ｈｃ２が求められる。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨの環境にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴの長手方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。次に、３つサンプルの保磁力Ｈｃ２を算術平均して、保磁力Ｈｃ２の平均値を算出する。
（角形比Ｓ１、Ｓ２の平均値）
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の角形比Ｓ１の平均値が、好ましくは６５％以上、より好ましくは７０％以上、さらにより好ましくは７５％以上、特に好ましくは８０％以上、最も好ましくは８５％以上である。角形比Ｓ１の平均値が６５％以上であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁気テープＭＴの垂直方向における角形比Ｓ１の平均値は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出され、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴが２５０ｍｍの長さに切り出される。切り出された各磁気テープＭＴは、磁気テープＭＴの長手方向の向きが同じになるように、両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、ＶＳＭを用いて磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）に対応する測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、上記で切り出した磁気テープＭＴの塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）を、アセトンまたはエタノール等を用いて払拭し、基体４１のみを残す。そして、得られた基体４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）が作製される。その後、ＶＳＭを用いて基体４１の垂直方向（磁気テープＭＴの垂直方向）に対応する補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが測定される。
　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループ、補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。
　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
　得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループの飽和磁化量Ｍｓ（ｅｍｕ）および残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）が以下の式に代入されて、角形比Ｓ１（％）が計算される。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨの環境にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴの垂直方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
　角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００
　次に、３つサンプルの角形比Ｓ１を算術平均して、角形比Ｓ１の平均値を算出する。
　磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２の平均値が、好ましくは３５％以下、より好ましくは３０％以下、さらにより好ましくは２５％以下、特に好ましくは２０％以下、最も好ましくは１５％以下である。角形比Ｓ２の平均値が３５％以下であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁気テープＭＴの長手方向における角形比Ｓ２の平均値は、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴおよび基体４１の長手方向（走行方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１の平均値と同様にして求められる。
（磁気テープの長手方向の平均ヤング率）
　磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率の上限値は、好ましくは９．０ＧＰａ以下、より好ましくは８．０ＧＰａ以下、さらにより好ましくは７．５ＧＰａ以下である。磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率が９．０ＧＰａ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。したがって、オフトラックをさらに適切に抑制することができ、磁気テープＭＴに記録されたデータをさらに正確に再生することが可能となる。磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率の下限値は、好ましくは３．０ＧＰａ以上、より好ましくは４．０ＧＰａ以上である。磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率の下限値が３．０ＧＰａ以上であると、走行安定性の低下を抑制することができる。
　磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率は、外力による磁気テープＭＴの長手方向における伸縮のし難さを示す値であり、この値が大きいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮し難く、この値が小さいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮しやすい。
　なお、磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率は、上記のように小さく、９．０ＧＰａ以下であることが有利である。
　磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを１８０ｍｍの長さに切り出し３つのサンプルを取得する。次に、３つのサンプルそれぞれの長手方向のヤング率を測定し、それらの測定値を算術平均することにより、磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率を求める。
　各サンプルのヤング率は、引っ張り試験機（島津製作所製、AG-100D）を用いて以下のようにして測定される。引っ張り試験機にテープの幅（１／２インチ）を固定できる冶具を取り付け、テープ幅の上下を固定する。距離（チャック間のテープの長さ）は１００ｍｍにする。テープサンプルをチャック後、サンプルを引っ張る方向(サンプル長手方向)に応力を徐々にかけていく。引っ張り速度は０．１ｍｍ／ｍｉｎとする。この時の応力の変化と伸び量から、以下の式を用いてヤング率を計算する。
　Ｅ（ＧＰａ）＝（（ΔＮ／Ｓ）／（Δｘ／Ｌ））×１０-3
　ΔＮ：応力の変化（Ｎ）
　Ｓ：試験片の断面積（ｍｍ2）
　Δｘ：伸び量（ｍｍ）
　Ｌ：つかみ治具間距離（ｍｍ）
　上記測定サンプルの断面積Ｓは、引張動作前の断面積であり、測定サンプルの幅（１／２インチ）と測定サンプルの厚さとの積で求められる。測定を行う際の引張応力の範囲は、磁気テープＭＴの厚み等に応じて線形領域の引張応力の範囲を設定する。ここでは、応力の範囲としては０．５Ｎから１．０Ｎとし、この時の応力変化（ΔＮ）と伸び量（Δｘ）を計算に使用する。なお、上記のヤング率の測定は、２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨにて行われるものとする。
（基体の長手方向の平均ヤング率）
　基体４１の長手方向の平均ヤング率は、好ましくは７．８ＧＰａ以下、より好ましくは７．０ＧＰａ以下、さらにより好ましくは６．６ＧＰａ以下、特に好ましくは６．４ＧＰａ以下である。基体４１の長手方向の平均ヤング率が７．８ＧＰａ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。したがって、オフトラックをさらに適切に抑制することができ、磁気テープＭＴに記録されたデータをさらに正確に再生することが可能となる。基体４１の長手方向の平均ヤング率の下限値は、好ましくは２．５ＧＰａ以上、より好ましくは３．０ＧＰａ以上である。基体４１の長手方向の平均ヤング率の下限値が２．５ＧＰａ以上であると、走行安定性の低下を抑制することができる。
　上記の基体４１の長手方向の平均ヤング率は、次のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを１８０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。続いて、切り出した各サンプルから下地層４２、磁性層４３およびバック層４４を除去し、基体４１を得る。これらの３つのサンプルの基体４１を用いて、上記の磁気テープＭＴの長手方向の平均ヤング率と同様の手順で基体４１の長手方向の平均ヤング率を求める。
　基体４１の厚みは、磁気テープＭＴの全体の厚みの半分以上を占めている。したがって、基体４１の長手方向の平均ヤング率は、外力による磁気テープＭＴの伸縮し難さと相関があり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。
　なお、基体４１の長手方向の平均ヤング率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、基体４１の長手方向の平均ヤング率は、上記のように小さく、７．８ＧＰａ以下であることが有利である。
［１．４　磁気テープの製造方法］
　次に、上記の構成を有する磁気テープＭＴの製造方法の一例について説明する。
（塗料の調製工程）
　まず、非磁性粉および結着剤等を溶剤に混練、分散させることにより、下地層形成用塗料を調製する。次に、磁性粉、結着剤、潤滑剤およびカーボン等を溶剤に混練、分散させることにより、磁性層形成用塗料を調製する。磁性層形成用塗料および下地層形成用塗料の調製には、例えば、以下の溶剤、分散装置および混練装置を用いることができる。
　上記の塗料調製に用いられる溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、メタノール、エタノール、プロパノール等のアルコール系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸プロピル、乳酸エチル、エチレングリコールアセテート等のエステル系溶媒、ジエチレングリコールジメチルエーテル、２－エトキシエタノール、テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル系溶媒、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒、メチレンクロライド、エチレンクロライド、四塩化炭素、クロロホルム、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素系溶媒等が挙げられる。これらは単独で用いてもよく、適宜混合して用いてもよい。
　上記の塗料調製に用いられる混練装置としては、例えば、連続二軸混練機、多段階で希釈可能な連続二軸混練機、ニーダー、加圧ニーダー、ロールニーダー等の混練装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。また、上記の塗料調製に用いられる分散装置としては、例えば、ロールミル、ボールミル、横型サンドミル、縦型サンドミル、スパイクミル、ピンミル、タワーミル、パールミル（例えばアイリッヒ社製「ＤＣＰミル」等）、ホモジナイザー、超音波分散機等の分散装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。
（塗布工程）
　次に、下地層形成用塗料を基体４１の一方の主面に塗布して乾燥させることにより、下地層４２を形成する。続いて、この下地層４２上に磁性層形成用塗料を塗布して乾燥させることにより、磁性層４３を下地層４２上に形成する。なお、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉を基体４１の厚み方向に磁場配向させてもよい。また、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉を基体４１の走行方向（長手方向）に磁場配向させたのちに、基体４１の厚み方向に磁場配向させるようにしてもよい。このように長手方向に磁性粉を一旦配向させる処理を施すことで、磁性粉の垂直配向度（すなわち角形比Ｓ１）をさらに向上することができる。磁性層４３の形成後、基体４１の他方の主面にバック層４４を形成する。これにより、磁気テープＭＴが得られる。
　角形比Ｓ１、Ｓ２は、例えば、磁性層形成用塗料の塗膜に印加される磁場の強度、磁性層形成用塗料中における固形分の濃度、磁性層形成用塗料の塗膜の乾燥条件（乾燥温度および乾燥時間）を調整することにより所望の値に設定される。塗膜に印加される磁場の強度は、磁性粉の保磁力の２倍以上３倍以下であることが好ましい。角形比Ｓ１をさらに高めるためには（すなわち角形比Ｓ２をさらに低めるためには）、磁性層形成用塗料中における磁性粉の分散状態を向上させることが好ましい。また、角形比Ｓ１をさらに高めるためには、磁性粉を磁場配向させるための配向装置に磁性層形成用塗料が入る前の段階で、磁性粉を磁化させておくことも有効である。なお、上記の角形比Ｓ１、Ｓ２の調整方法は単独で使用されてもよいし、２以上組み合わされて使用されてもよい。
（硬化工程）
　次に、磁気テープＭＴをロール状に巻き取ったのち、この状態で磁気テープＭＴに加熱処理を行うことにより、下地層４２および磁性層４３を硬化させる。
（カレンダー工程）
　次に、得られた磁気テープＭＴにカレンダー処理を行い、磁性層４３の表面を平滑化する。
（裁断工程）
　次に、磁気テープＭＴを所定の幅（例えば１／２インチ幅）に裁断する。以上により、磁気テープＭＴが得られる。
（消磁工程およびサーボパターンの書き込み工程）
　次に、必用に応じて、磁気テープＭＴの消磁を行ったのち、磁気テープＭＴにサーボパターンを書き込んでもよい。
［１．５　磁気テープのデータバンドおよびサーボバンドの説明］
　磁気テープＭＴにおいては、サーボ記録再生装置７０（サーボ記録装置）（図１７参照）が、データ記録再生装置５０（データ記録装置）（図１１参照）のデータライトヘッド６０により正確に読み取ることが可能なサーボパターン４７を磁気テープＭＴ（図１０参照）のサーボバンドｓ上に書き込むように構成されている。
　データ記録再生装置５０のデータライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜して配置される（図１２参照）。このため、本実施形態では、磁気テープの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）がサーボバンドｓに書き込まれる（図１０参照）。
　以下、データ記録再生装置５０の構成、サーボ記録再生装置７０の構成の順番で説明する。
（１）データバンドおよびサーボバンドの概要
　図９は、磁気テープＭＴを側方から見た模式図であり、図１０は、磁気テープＭＴを上方（磁性層４３側）からみた模式図である。図９及び図１０に示すように、磁気テープＭＴは、長手方向（Ｘ軸方向）に長く、幅方向（Ｙ軸方向）に短く、厚さ方向（Ｚ軸方向）に薄いテープ状に構成されている。
　図１０に示すように、磁性層４３は、データが書き込まれる複数のデータバンドｄ（データバンドｄ０～ｄ３）と、サーボパターン４７が書き込まれる複数のサーボバンドｓ（サーボバンドｓ０～ｓ４）とを有している。複数のデータバンドｄ及び複数のサーボバンドｓは、それぞれ、長手方向（Ｘ軸方向）に長く、幅方向（Ｙ軸方向）に短い形状を有している。サーボバンドｓは、幅方向（Ｙ軸方向）で各データバンドｄを挟み込む位置に配置される。
　図１０に示す例では、データバンドｄの本数が４本とされ、サーボバンドｓの本数が５本とされた場合の例が示されている。なお、データバンドｄの本数、サーボバンドｓの本数は、５＋４ｎ（但し、ｎは０以上の整数である。）以上であり、好ましくは５以上、より好ましくは９以上である。サーボバンドｓの本数が５以上であると、磁気テープＭＴの幅方向の寸法変化によるサーボ信号への影響を抑制し、よりオフトラックが少ない安定した記録再生特性を確保できる。サーボバンドＳＢの本数の上限値は特に限定されるものではないが、例えば３３以下である。
　サーボバンド幅の平均値の上限値は、高記録容量を確保する観点から、好ましくは９８μｍ以下、より好ましくは６０μｍ以下、さらにより好ましくは３０μｍ以下である。サーボバンド幅ＷSBの平均値の下限値は、好ましくは１０μｍ以上である。１０μｍ未満のサーボバンド幅のサーボ信号を読み取り可能なヘッドユニット５６は製造が困難である。
　磁性層４３の表面全体の面積に対するサーボバンドｓの面積の比率は、例えば、４．０％以下とされる。なお、サーボバンドｓの幅は、１／２インチのテープ幅で、例えば９６μｍ以下とされる。磁性層４３の表面全体の面積に対するサーボバンドｓの面積の比率は、例えば、磁気テープＭＴを、フェリコロイド現像液等の現像液を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴを光学顕微鏡で観察することで測定することができる。
　データバンドｄは、長手方向に長く、幅方向に整列された複数の記録トラック４６を含む。１本のデータバンドｄに含まれる記録トラック４６の本数は、例えば、１０００本から２５００本程度とされる。データは、この記録トラック４６に沿って、記録トラック４６内に記録される。データバンドｄに記録されるデータにおける長手方向の１ビット長は、例えば、４８ｎｍ以下とされる。
　また、記録トラック４６の幅（トラックピッチ：Ｙ軸方向）は、例えば、２．０μｍ以下とされる。なお、このような記録トラック幅は、例えば、磁気テープＭＴの磁性層４３を、フェリコロイド現像液等の現像液を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴの磁性層４３を光学顕微鏡で観察することで測定することができる。
　若しくは、記録トラック幅の測定方法として、データライトヘッド６０（後述の図１２参照）を利用した方法が用いられてもよい。この場合、磁気テープＭＴ走行時の変動を無視するため、データライトヘッド６０を記録及び再生状態とし、データライトヘッド６０のアジマス角θを変化させた場合の出力変化から記録トラック幅を測定することができる。（IEEE#Sept1996#Crosstrack Profiles of Thin Film MR Tape Heads Using the Azimuth Displacement Method）
　サーボバンドｓは、後述するサーボ記録再生装置７０（図１７参照）によって記録される所定形状のサーボパターン４７を含む。サーボパターン４７は、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）を含む。
　なお、本明細書中において、第１のサーボパターン４７ａ及び第２のサーボパターン４７ｂにおける、「／」、「＼」の符号は、磁気テープＭＴを下方（バック層側）から見た場合のサーボパターンの傾斜方向を示す符号として用いられる。従って、第１のサーボパターン４７ａ及び第２のサーボパターン４７ｂにおける、「／」、「＼」の符号は、図１０において、磁性層側から見た場合とは逆になる。一方、後述の図１８～図２７等では、ヘッド摺動面において、第１のサーボパターン４７a（「／」）を書き込む第１のサーボ素子８２ａ（「／」）、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）を書き込む第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）と、前記サーボ素子８２ａ、８２ｂによって磁性層に記録されるサーボパターン４７ａ、４７ｂとを、バック層側から見た様子として示している。
　本実施形態において、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して非対称となるようにサーボバンドｓに書き込まれている。なお、一般的なサーボパターンの場合、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して対称（線対称）となるようにサーボバンドｓに書き込まれている。
　第１のサーボパターン４７ａ（「／」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して第１の角度θｓ１で傾斜し、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに、第１の角度θｓ１とは異なる第２の角度θｓ２で傾斜する（後述の図１９、図２１を参照）。
　１群の第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び１群の第２サーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの長手方向で交互に配置される。１群の第１のサーボパターン４７ａ（「／」）に含まれる第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の数は、典型的には、４本又は５本とされ、同様に、１群の第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）に含まれる第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の数は、典型的には、４本又は５本とされる。
　サーボパターン４７の形状については、例えば、磁気テープＭＴの磁性層４３を、フェリコロイド現像液等の現像液を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴの磁性層４３を光学顕微鏡で観察することで測定することができる。
　なお、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の詳細については、このサーボパターン４７を書き込むサーボ記録再生装置７０のサーボライトヘッド８０の説明箇所において説明する。
　ここで、ＬＴＯ規格の磁気テープＭＴは、世代ごとに記録トラック４６の数が増加して記録容量が飛躍的に向上している。一例を挙げると、初代のＬＴＯ－１では記録トラック４６の数が３８４本であったが、ＬＴＯ－２からＬＴＯ－９では記録トラック４６の数がそれぞれ順に、５１２本、７０４本、８９６本、１２８０本、２１７６本、３５８４本及び６６５６本、８９６０本である。データの記録容量についても同様に、ＬＴＯ－１では１００ＧＢ（ギガバイト）であったのが、ＬＴＯ－２からＬＴＯ－９ではそれぞれ順に、２００ＧＢ、４００ＧＢ、８００ＧＢ、１．５ＴＢ（テラバイト）、２．５ＴＢ、６．０ＴＢ、１２ＴＢ、１８ＴＢである。
　本実施形態では、記録トラック４６の本数や記録容量は、特に限定されず、適宜変更可能である。但し、例えば、記録トラック４６の本数や記録容量が多く（例えば、６６５６本以上、１２ＴＢ以上：ＬＴＯ８以降）、磁気テープＭＴの幅の変動の影響を受けやすいような磁気テープＭＴに本技術が適用されると有利である。
（２）データ記録再生装置
　図１１は、データ記録再生装置５０を示す図である。データ記録再生装置５０は、磁気テープＭＴにデータを記録することが可能とされており、また、磁気テープＭＴに記録されたデータを再生することが可能とされている。
　データ記録再生装置５０は、カートリッジ１０を装填可能に構成されている。カートリッジ１０は、巻回された磁気テープＭＴをその内部において回転可能に収容可能に構成されている。データ記録再生装置５０は、１つのカートリッジ１０を装填可能に構成されていてもよいし、複数のカートリッジ１０を同時に装填可能に成されてもよい。
　データ記録再生装置５０は、スピンドル５１と、巻取りリール５２と、スピンドル駆動装置５３と、リール駆動装置５４と、データライトヘッド６０と、制御装置５５と、幅測定部５６と、角度調整部５７と、複数のガイドローラ５８とを備えている。
　スピンドル５１は、その回転により、カートリッジ１０内部に収容された磁気テープＭＴを回転させることが可能に構成されている。スピンドル駆動装置５３は、制御装置５５からの指令に応じて、スピンドル５１を回転させる。
　巻取りリール５２は、テープローディング機構（不図示）を介してカートリッジ１０から引き出された磁気テープＭＴの先端を固定可能に構成されている。リール駆動装置５４は、制御装置５５からの指令に応じて、巻取りリール５２を回転させる。
　複数のガイドローラ５８は、カートリッジ１０と巻取りリール５２との間に形成される搬送経路がデータライトヘッド６０に対して所定の相対位置関係となるように磁気テープＭＴの走行をガイドする。
　データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴがデータライトヘッド６０の下側を通過するときに、制御装置５５からの指令に応じて、磁気テープＭＴのデータバンドｄ（記録トラック４６）に対して、データを記録することが可能に構成されており、また、記録したデータを再生することが可能に構成されている。
　データライトヘッド６０により磁気テープＭＴに対してデータの記録／再生が行われるとき、スピンドル駆動装置５３及びリール駆動装置５４により、スピンドル５１及び巻取りリール５２が回転し、磁気テープＭＴが走行する。磁気テープＭＴの走行方向は、図１１において矢印Ａ１で示す順方向（スピンドル５１側から巻取りリール５２側へ巻き出す方向）、及び、矢印Ａ２で示す逆方向（巻取りリール５２側からスピンドル５１側へ巻き戻す方向）での往復が可能とされている。
　データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの順方向での走行及び逆方向での走行の両方向において、データの記録／再生が可能とされている。
　特に、本実施形態では、データライトヘッド６０は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して、所定の角度θ（第１のヘッドアジマス角θ）傾斜して配置される（後述の図１２参照）。
　本実施形態の説明において、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度を、データライトヘッド６０のアジマス角θと呼ぶ。なお、データライトヘッド６０の構成についての詳細は、図１２等を参照して後述する。
　幅測定部５６は、幅測定部５６の下側を磁気テープＭＴが通過するときの磁気テープＭＴの幅を測定することが可能に構成されている。つまり、幅測定部５６は、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴに対してデータの記録／再生を行うときの磁気テープＭＴの幅を測定することが可能に構成されている。幅測定部５６は、磁気テープＭＴの幅を測定して制御装置５５へと送信する。
　幅測定部５６は、例えば、光センサ等のような各種のセンサにより構成される。幅測定部５６は、磁気テープＭＴの幅を測定可能なセンサであればどのようなセンサが用いられてもよい。なお、磁気テープＭＴの幅は、それぞれ隣接するサーボパターン４７を読み取り、位置信号の差分を求めることで、予測することもできる。この場合、幅測定部５６は省略することができる。
　角度調整部５７は、データライトヘッド６０を上下方向の軸（Ｚ軸）周りに回動可能に保持することが可能に構成されている。角度調整部５７は、制御装置５５からの指令に応じて、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することが可能に構成されている。
　制御装置５５は、例えば、制御部、記憶部、通信部などを含む。制御部は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成されており、記憶部に記憶されたプログラムに従い、データ記録再生装置５０の各部を統括的に制御する。
　記憶部は、各種のデータや各種のプログラムが記録される不揮発性のメモリと、制御部の作業領域として用いられる揮発性のメモリとを含む。上記各種のプログラムは、光ディスク、半導体メモリ等の可搬性の記録媒体から読み取られてもよいし、ネットワーク上のサーバ装置からダウンロードされてもよい。通信部は、ＰＣ（Personal Computer）、サーバ装置等の他の装置との間で互いに通信可能に構成されている。
　特に、本実施形態では、制御装置５５（制御部）は、幅測定部５６から磁気テープＭＴの幅の情報を取得し（あるいは、サーボ信号から磁気テープの幅を予測し）、磁気テープＭＴの幅の情報に基づいて、角度調整部５７によりデータライトヘッド６０のアジマス角θ（図１２参照）を調整する。
　本実施形態では、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することで、磁気テープＭＴの幅の変動に対応している。典型的には、磁気テープＭＴの幅が相対的に広くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは小さくされ、逆に、磁気テープＭＴの幅が相対的に狭くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは大きくされる。
　磁気テープＭＴの幅は、例えば、温度、湿度、磁気テープＭＴの長手方向に加えられるテンション等、様々な理由で変動する場合がある。
（２－１）データライトヘッド
　次に、データライトヘッド６０の構成について詳細に説明する。図１２は、データライトヘッド６０を下方（バック層側）から見た概略図である。
　データライトヘッド６０の説明では、データライトヘッド６０の長手方向をＹ'軸方向とし、データライトヘッド６０の幅方向をＸ'軸方向とし、データライトヘッド６０の上下方向をＺ'軸方向とする。また、磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）をＸ軸方向とし、磁気テープＭＴの幅方向をＹ軸方向とし、磁気テープＭＴの厚さ方向をＺ軸方向とする。なお、磁気テープＭＴの方向は、データライトヘッド６０の下側を通過するときの磁気テープＭＴの方向が基準である。
　図１２に示すように、データライトヘッド６０は、第１のデータライトヘッド６０ａと、第２のデータライトヘッド６０ｂとを含む。なお、本明細書中の説明において、２つのデータライトヘッド６０を特に区別しない場合には、これらをまとめて単にデータライトヘッド６０と呼び、２つのデータライトヘッド６０を特に区別する場合に、これらを第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂと呼ぶ。
　第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂは、データライトヘッド６０の幅方向（Ｙ'軸方向）で対称に構成されているが、基本的に同様の構成である。第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂは、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に一体的に移動可能とされており、これにより、全てのデータバンドｄ０～ｄ３のうちいずれかのデータバンドｄに対してデータを書き込むことができる。
　第１のデータライトヘッド６０ａは、磁気テープＭＴが順方向（図１１においてＡ１方向）に走行しているときに使用されるヘッドである。一方、第２のデータライトヘッド６０ｂは、磁気テープＭＴが逆方向（図１１においてＡ２方向）に走行しているときに使用されるヘッドである。
　データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴに対向する対向面６１を有している。対向面６１は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）に長くデータライトヘッド６０の幅方向（Ｘ'軸方向）に短い形状を有している。対向面６１には、２つのサーボリード部６２と、複数のデータライト／リード部６３が設けられている。
　サーボリード部６２は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）の両端側にそれぞれ１つずつ設けられる。サーボリード部６２は、磁気テープＭＴのサーボバンドｓに記録されたサーボパターン４７による磁界をＭＲ素子（ＭＲ：Magneto Resistive effect）などにより読み取ることで、サーボ信号を再生可能に構成されている。
　ＭＲ素子としては、例えば、異方性磁気抵抗効果素子（ＡＭＲ：Anisotropic Magneto Resistive effect）、巨大磁気抵抗効果素子（ＧＭＲ：Giant Magneto Resistive effect）、トンネル磁気抵抗効果素子（ＴＭＲ：Tunnel Magneto Resistive effect）などが用いられる。
　データライト／リード部６３は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）に沿って、等間隔に配置されている。また、データライト／リード部６３は、２つのサーボリード部６２に挟み込まれる位置に配置されている。データライト／リード部６３の数は、例えば、２０個～４０個程度とされるが、この個数ついては特に限定されない。
　データライト／リード部６３は、データライト部６４と、データリード部６５とを含む。データライト部６４は、磁気ギャップから発生する磁界によって、磁気テープＭＴのデータバンドｄに対してデータを記録することが可能に構成されている。
　また、データリード部６５は、磁気テープＭＴのデータバンドｄに記録されたデータによる磁界をＭＲ素子などにより読み取ることで、データ信号を再生可能に構成されている。ＭＲ素子としては、異方性磁気抵抗効果素子（ＡＭＲ）、巨大磁気抵抗効果素子（ＧＭＲ）、トンネル磁気抵抗効果素子（ＴＭＲ）などが用いられる。
　第１のデータライトヘッド６０ａにおいては、データライト部６４が、データリード部６５の左側（磁気テープＭＴが順方向に流れる場合の上流側）に配置される。一方、第２のデータライトヘッド６０ｂにおいては、データライト部６４が、データリード部６５の右側（磁気テープＭＴが逆方向に流れる場合の上流側）に配置される。
　データリード部６５は、そのデータリード部６５と組とされるデータライト部６４が磁気テープＭＴにデータを書き込んだ直後に、そのデータ信号を再生可能とされている。なお、上記に代えて、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂのうち、一方のデータライトヘッド６０のデータライト部６４で書き込まれたデータが他方のデータライトヘッド６０のデータリード部６５で再生されてもよい。
　磁気テープＭＴは、順方向及び逆方向に走行方向が変えられて何往復もされながら、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂにより、記録トラック４６に対してデータが記録される。
　角度調整部５７（図１１参照）は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂを上下方向の軸（Ｚ'軸）回りに回動可能に保持することが可能とされている。また、角度調整部５７は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂを、上下方向の軸回りに個別に回動させることが可能とされている。
　角度調整部５７は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂの長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対して、アジマス角θ傾斜して配置されるように、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂの角度を調整する。
　ここで、第１のデータライトヘッド６０ａのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３におけるＹ軸方向（磁気テープＭＴの幅方向）の位置と、第２のデータライトヘッド６０ｂのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３のＹ軸方向の位置は、同じである。これらの位置関係は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂがＺ軸回りに回動しても変わらない。
　つまり、角度調整部５７は、第１のデータライトヘッド６０ａのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３におけるＹ軸方向（磁気テープＭＴの幅方向）の位置と、第２のデータライトヘッド６０ｂのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３のＹ軸方向の位置とが同じとなるように、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂを個別に回動可能とされる。
　本実施形態では、データライトヘッド６０のアジマス角θに対して、基準となる基準角Ｒｅｆθが設定されており、また、データライトヘッド６０のアジマス角θは、基準角Ｒｅｆθ±ｘ°で表される角度範囲が設定されている。
　図１２に示す例では、基準角Ｒｅｆθが、磁気テープＭＴの幅方向に対して時計回り（下側：磁気テープＭＴ側から見て）の方向に設定されている場合の一例が示されている。一方、基準角Ｒｅｆθは、磁気テープＭＴの幅方向に対して反時計回り（下側：磁気テープＭＴ側から見て）の方向に設定されていてもよい。
（２－２）基準角Ｒｅｆθ及び角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°等
　次に、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθ、並びに、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°について説明する。
　図１３は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．１μｍ）。図１３において、横軸は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を示しており、縦軸は、アジマス損失Ｌθを示している。
　アジマス損失Ｌθ［ｄＢ］は、以下の式により表される。
　Ｌθ＝－２０Ｌｏｇ10［ｓｉｎ｛（πＷ／λ）ｔａｎθ｝／（πＷ／λ）ｔａｎθ］　式中、Ｗは、再生トラック幅であり、λは、データの記録波長であり、θは、データライトヘッド６０のアジマス角である。
　図１３では、再生トラック幅Ｗが、それぞれ、０．８μｍ、０．５μｍ、０．４μｍ、０．３μｍ、０．２μｍとされた場合の５つのグラフが示されている。図１３では、記録波長λは、０．１μｍとされた。ここで、再生トラック幅Ｗが０．８μｍとされたグラフは、ＬＴＯ－９に対応しており、再生トラック幅Ｗが０．５μｍ、０．４μｍ、０．３μｍ、０．２μｍとされたグラフは、ＬＴＯ－１０以降（推定値）に対応している。
　図１３から理解されるように、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°が同じ場合、再生トラック幅Ｗが狭い方がアジマス損失Ｌθが小さいことが分かる。
　これは、つまり、本実施形態のように、データライトヘッド６０のアジマス角θの調整により、磁気テープＭＴの幅の変動に対処する形態の場合、アジマス損失Ｌθの観点からは記録トラック４６の数が多く、再生トラック幅Ｗが狭い磁気テープＭＴ（例えば、ＬＴＯ－１０以降）であるほど有利であることを意味している。
　ここで、アジマス損失Ｌθを許容することができる値が、０．０５［ｄＢ］以下であると仮定する。また、磁気テープＭＴにおける再生トラック幅Ｗが０．５μｍ以下であると仮定する（ＬＴＯ－１０以降（推定値））。
　この場合、図１３の点線で示されているように、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲は、最大でＲｅｆθ±０．７°とされる。このため、本実施形態では、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲において、Ｒｅｆθ±ｘ°のｘの値は、典型的には０．７°以下とされる。
　図１４は、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、磁気テープＭＴの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量との関係を示す図である。
　図１４において、横軸は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を示しており、縦軸は、磁気テープＭＴの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量を示している。
　図１５は、磁気テープＭＴの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量を示す図である。図１５に示すように、この補正量は、ａ－ｂで表される。
　ここで、ａの値は、データライトヘッド６０のアジマス角θがＲｅｆθ－ｘ°とされた場合における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での２つのサーボリード部６２間の距離である。一方、ｂの値は、データライトヘッド６０のアジマス角θがＲｅｆθ＋ｘ°とされた場合における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での２つのサーボリード部６２間の距離である。
　図１４に戻り、図１４では、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθが、２．５°、５°、７．５°、１０°、１２．５°、１５°で変化された場合における６つのグラフが示されている。
　図１４から、角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°が同じであれば、基準角Ｒｅｆθが大きくなるほど補正量が大きくなることが分かる。
　ここで、上述のように、アジマス損失Ｌθが０．０５［ｄＢ］以下であり、再生トラック幅Ｗが０．５μｍ以下であるとすると、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲は、最大でＲｅｆθ±０．７°である（図１４の縦の破線参照）。この条件に加えて、さらに、上記補正量が１０μｍ以上であるとする（図１４の横の破線参照）。
　図１４から理解されるように、これらの条件を満たすためには、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが７．５°では若干不足であり、基準角Ｒｅｆθが１０°であれば十分であることが分かる。つまり、上記条件を満たすためには、基準角Ｒｅｆθは、８°以上とされる。
　なお、ここでの説明は、本実施形態において、基準角Ｒｅｆθを８°以上にしなければならないといった趣旨ではない。つまり、本実施形態においては、基準角Ｒｅｆθは、２．５°以上、５°以上、７．５°以上、８°以上、１０°以上、１２．５°以上、１５°以上等、適宜設定することができる。
　図１６は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．０７μｍ）。図１６において、横軸は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を示しており、縦軸は、アジマス損失Ｌθを示している。図１６では、データの記録波長λが、０．０７μｍとされた。
　図１３及び図１６の違いは、図１３では、データの記録波長λが０．１μｍとされていたのに対して、図１６では、データの記録波長λが０．０７μｍとされている点である。なお、ＬＴＯ－１０以降では、データの記録波長λは、０．１μｍ以下、０．０７μｍ以下等とされることが推定される。
　図１３及び図１６の比較から理解されるように、データの記録波長λが小さくなるほどアジマス損失は増加することが分かる。
　図１６において、再生トラック幅Ｗが０．５μｍであるグラフに着目する。データの記録波長λが０．０７μｍであり、かつ、再生トラック幅Ｗが０．５μｍである場合において、アジマス損失を０．０５［ｄＢ］以下とするためには、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を０．４８°以下とすればよい。
　図１４において、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値が０．４８°である箇所に着目する（図１４の横軸参照）。データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲が、Ｒｅｆθ±０．４８°である場合において、上記補正量を１０μｍ以上とする場合、基準角Ｒｅｆθを１２．５°以上とすればよいことが分かる。
　また、図１６において、再生トラック幅Ｗが０．４μｍであるグラフに着目する。データの記録波長λが０．０７μｍであり、かつ、再生トラック幅Ｗが０．４μｍである場合において、アジマス損失を０．０５［ｄＢ］以下とするためには、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を０．６°以下とすればよい。
　図１４において、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値が０．６°である箇所に着目する（図１４の横軸参照）。データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲が、Ｒｅｆθ±０．６°である場合において、上記補正量を１０μｍ以上とする場合、基準角Ｒｅｆθを１０°以上とすればよいことが分かる。
　なお、ここでの説明から理解されるように、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°は、データの記録波長λが小さくなるほど小さくなる。また、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°は、再生トラック幅Ｗが小さくなるほど大きくなる（図１３、図１６参照）。
　また、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθは、データの記録波長λが小さくなるほど大きくなる。また、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθは、再生トラック幅Ｗが小さくなるほど小さくなる（図１４参照）。
　ここで、ＬＴＯの規格が、ＬＴＯ－９からＬＴＯ－１０、ＬＴＯ－１１、・・・と世代が進むに従って、データの記録波長λが順次小さくなることが予測され、また、再生トラック幅Ｗも順次小さくなることが予測される。これに応じて、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を適切な値に設定し（例えば、０．７°以下、０．６°以下、０．５°以下、０．４°以下・・・等）、また、データライトヘッド６０のアジマス角θの基準角Ｒｅｆθを適切な値に設定すればよい（例えば、２．５°以上、５°以上、７．５°以上、８°以上、１０°以上、１２．５°以上、１５°以上・・・等）。
（３）サーボ記録再生装置
　次に、サーボ記録再生装置７０について説明する。図１７は、サーボ記録再生装置７０を示す図である。
　図１７に示すように、サーボ記録再生装置７０は、送り出しローラ７１、消磁部７２、サーボライトヘッド８０、サーボリードヘッド７５、巻き取りローラ７６及び４対のキャプスタンローラ７７を備えている。
　送り出しローラ７１は、ロール状の磁気テープＭＴを回転可能に支持することが可能とされている。送り出しローラ７１は、モータ等の駆動に応じて回転され、回転に応じて磁気テープＭＴを下流側に向けて送り出す。
　巻き取りローラ７６は、ロール状の磁気テープＭＴを回転可能に支持することが可能とされている。巻き取りローラ７６は、モータ等の駆動に応じて回転し、回転に応じて磁気テープＭＴを巻き取っていく。
　４対のキャプスタンローラ７７は、それぞれ、磁気テープＭＴを上下方向の両側から挟み込むことが可能とされている。４対のキャプスタンローラ７７は、モータ等の駆動に応じて回転し、回転に応じて磁気テープＭＴを搬送経路において搬送する。
　送り出しローラ７１、巻き取りローラ７６及び４対のキャプスタンローラ７７は、搬送経路内において磁気テープＭＴを一定の速度で搬送させることが可能とされている。
　サーボライトヘッド８０は、例えば、磁気テープＭＴの上方側（磁性層４３側）に配置される。サーボライトヘッド８０は、矩形波のパルス信号に応じて所定のタイミングでサーボバンドｓに磁場を印加し、サーボバンドｓにサーボパターン４７を記録する。
　サーボライトヘッド８０は、サーボライトヘッド８０の下側を磁気テープＭＴが通過するときに、全てのサーボバンドｓ（ｓ０～ｓ４）に対してそれぞれサーボパターン４７を記録することが可能とされている。なお、サーボライトヘッド８０の構成についての詳細は、図１８～図２４を参照して後述する。
　消磁部７２は、例えば、サーボライトヘッド８０よりも上流側において、磁気テープＭＴの下側（基体４１側）に配置される。消磁部７２は、例えば、２つの永久磁石７３、７４により構成される。永久磁石７３、７４は、サーボライトヘッド８０によってサーボパターン４７が記録される前に、直流磁界によって磁性層４３の全体に対して磁場を印加して、磁性層４３の全体を消磁する。
　サーボリードヘッド７５は、サーボライトヘッド８０よりも下流側において、磁気テープＭＴの上側（磁性層４３側）に配置される。サーボリードヘッド７５は、磁気テープＭＴに記録されたサーボパターン４７から発生する磁界を読み取ることで、サーボパターン４７の情報を再生可能に構成されている。
　サーボリードヘッド７５は、サーボリードヘッド７５の下側を磁気テープＭＴが通過するときに、全てのサーボバンドｓ（ｓ０～ｓ４）からサーボパターン４７を読み取ることが可能とされている。サーボリードヘッド７５によって読み取られたサーボパターン４７の情報は、サーボパターン４７が正確に記録されたかどうかの確認のために用いられる。
　サーボリードヘッド７５のタイプは、例えば、インダクティブ型、ＭＲ型（Magneto Resistive）、ＧＭＲ型（Giant Magneto Resistive）、ＴＭＲ型（Tunnel Magneto Resistive）等である。
　図示は省略しているが、サーボ記録再生装置７０は、サーボ記録再生装置７０の各部を統括的に制御する制御装置を備えている。
　制御装置は、例えば、制御部、記憶部、通信部などを含む。制御部は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成されており、記憶部に記憶されたプログラムに従い、サーボ記録再生装置７０の各部を統括的に制御する。
　記憶部は、各種のデータや各種のプログラムが記録される不揮発性のメモリと、制御部の作業領域として用いられる揮発性のメモリとを含む。上記各種のプログラムは、光ディスク、半導体メモリ等の可搬性の記録媒体から読み取られてもよいし、ネットワーク上のサーバ装置からダウンロードされてもよい。通信部は、例えば、ＰＣやサーバ装置等の他の装置との間で互いに通信可能に構成されている。
（３－１）サーボライトヘッド
　次に、サーボライトヘッド８０の構成について詳細に説明する。上述のように、データ記録再生装置５０におけるデータライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾いて配置される。従って、データライトヘッド６０が正確にサーボパターン４７を読み取ることができるように、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称となるように書き込まれる。この非対称のサーボパターン４７の書き込みは、サーボライヘッド８０により実行される。
　サーボライトヘッド８０の形態について、第１実施例及び第２実施例の２種類が存在する。第１実施例では、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して平行に配置される（後述の図１８～図２０参照）。一方、第２実施例では、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して所定の角度傾斜して配置される（後述の図２１～図２４参照）。
（第１実施例）
　まず、サーボライトヘッド８０の第１実施例について説明する。図１８は、サーボライトヘッド８０ａと、サーボライトヘッド８０ａに入力されるパルス信号とを示す図である。図１９は、サーボライトヘッド８０ａが有するサーボ素子８２の拡大図である。図２０は、サーボライトヘッド８０ａにより磁気テープＭＴにサーボパターン４７が書き込まれるときの様子を示す図である。なお、図１８～図２０では、サーボライトヘッド８０ａの磁気テープＭＴと対向する面が示されている。
　これらの図に示すように、サーボライトヘッド８０ａは、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。なお、図１８～図２０では、サーボライトヘッド８０ａの長手方向がＹ"軸方向とされ、サーボライトヘッド８０ａの幅方向がＸ"軸方向とされ、サーボライトヘッド８０ａの上下方向がＺ"軸方向とされている。また、磁気テープＭＴの長手方向（搬送方向）がＸ軸方向とされ、磁気テープＭＴの幅方向がＹ軸方向とされ、磁気テープＭＴの厚さ方向がＺ軸方向とされている。なお、これについては、図２１～図２４においても同様である。
　第１実施例では、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）が磁気テープＭＴの方向（Ｙ軸方向）に一致しており、サーボライトヘッド８０ａの幅方向（Ｘ"軸方向）が磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）に一致している。
　サーボライトヘッド８０ａは、磁気テープＭＴに対向する対向面８１を有している。対向面８１は、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。
　サーボライトヘッド８０ａは、対向面８０ａ上において、５対のサーボ素子８２（磁気ギャップ）を有している。５対のサーボ素子８２は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）において、所定の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ）を開けて配置される。
　サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）において、互いに隣接する２対のサーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ）は、例えば、２８５８．８±４．６μｍとされる。なお、この値は、磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で互いに隣接する２本のサーボバンドｓの間隔（サーボバンドピッチ：ＳＰ）に対応する。
　一対のサーボ素子８２は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）に対して非対称に構成された第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）を含む（特に、図１９参照）。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１で傾斜する。第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに第２の角度θｓ２で傾斜する。
　第１の角度θｓ１及び第２の角度θｓ２は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、それぞれ以下の式により表される。
　　θｓ１＝Ｒｅｆθ＋θａ
　　θｓ２＝Ｒｅｆθ－θａ
　ここで、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθであり、θａは、サーボアジマス角である。
　仮に、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°とされ、サーボアジマス角θａが１２°とされた場合、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の第１の角度θｓ１は、２２°とされ、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の第２の角度θｓ２は、２°とされる。
　サーボライトヘッド８０ａの幅方向（Ｘ"軸方向）（磁気テープＭＴの長手方向：Ｘ軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の間隔は、例えば、サーボ素子の長さの幅方向成分ＳＬの１／２の位置において３８μｍとされる。
　ここで、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）において、第１の角度θｓ１に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して２２°の方向）を第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向とする。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）において、第２の角度θｓ２に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して－２°の方向）を第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向とする。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さとは異なっており、ここでの例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向での長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向での長さよりも長い。
　一方、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分ＳＬ（Ｙ軸方向）と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分ＳＬ（Ｙ軸方向）とは同じである。サーボ素子８２の長さの幅方向成分ＳＬは、例えば、９６±３μｍとされる。
　図１８には、５対のサーボ素子８２に対してそれぞれ入力されるパルス信号が示されている。また、図２０には、そのパルス信号が５対のサーボ素子８２に入力されることにより、磁気テープＭＴのサーボバンドｓに書き込まれたサーボパターン４７が示されている。
　ここで、上述のように、データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの幅方向に対して、アジマス角θ傾斜して配置される。この場合において、５対のサーボ素子８２に対して、同時刻に同位相のパルス信号が入力され、磁気テープＭＴの幅方向に平行な位置に同位相のサーボパターン４７が書き込まれた場合を想定する。この場合、傾斜して配置されたデータライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により同時刻に読み取られるサーボパターン４７の位相が異なってしまうことになる。
　そこで、第１実施例では、５対のサーボ素子８２に同時刻に入力されるパルス信号の位相を異ならせることで、同位相のサーボパターン４７を磁気テープＭＴの幅方向に対して非平行に書き込むこととしている。
　サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向：磁気テープＭＴの幅方向）で互いに隣接する２対のサーボ素子８２に対して入力されるパルス信号の位相差は、ＳＰ×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）に対応する。ここで、ＳＰ（サーボバンドピッチ＝サーボ素子ピッチ）は、互いに隣接する２つのサーボバンドｓにおける磁気テープＭＴの幅方向での間隔、または、互いに隣接する２対のサーボ素子８２における磁気テープＭＴの幅方向での間隔である。また、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０における基準角である。
　仮に、ＳＰの値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２対のサーボ素子８２に対して入力されるパルス信号の位相差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍに対応する。
　ここで、サーボバンドｓ４のサーボ素子８２の入力パルスを基準としたサーボバンドｓ３、サーボバンドｓ２、サーボバンドｓ１、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２の入力パルスの位相差は、順番に、５０４．０８μｍ、１００８．１７μｍ、１５１２．２５μｍ、２０１６．３３μｍに対応する位相とされる。
　５本のサーボバンドｓに対応する５対のサーボ素子８２に対して、同時刻に入力されるパルス信号の位相について、最も先に進んだ位相の入力パルスが入力されるのは、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２である。入力パルスの位相の順番は、次いで、サーボバンドｓ１のサーボ素子８２、サーボバンドｓ２のサーボ素子８２、サーボバンドｓ３のサーボ素子８２、サーボバンドｓ４のサーボ素子８２の順番である。
　例えば、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２及びサーボバンドｓ１のサーボ素子８２で説明すると、同時刻において、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２には、サーボバンドｓ１のサーボ素子８２よりも５０４．０８μｍに対応する位相分、先の位相のパルス信号が入力される。
　同様に、磁気テープＭＴの幅方向で互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書き込まれるサーボパターン４７の、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での位相差は、ＳＰ×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。
　仮に、ＳＰの値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書きこまれるサーボパターン４７における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での位相差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍに対応する。
　サーボバンドｓ４のサーボパターン４７を基準としたサーボバンドｓ３、サーボバンドｓ２、サーボバンドｓ１、サーボバンドｓ２のサーボパターン４７の位相差は、順番に、５０４．０８μｍ、１００８．１７μｍ、１５１２．２５μｍ、２０１６．３３μｍに対応する位相とされる。
　５本のサーボバンドｓにそれぞれ書き込まれたサーボパターン４７について、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で、最も先に進んだ位相となるのは、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７である。位相の順番は、次いで、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７、サーボバンドｓ２、のサーボパターン４７、サーボバンドｓ３のサーボパターン４７、サーボバンドｓ４のサーボパターン４７の順番である。
　例えば、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７及びサーボバンドｓ１のサーボパターン４７で説明すると、磁気テープＭＴの幅方向で、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７の位相は、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７よりも５０４．０８μｍに対応する位相分、先の位相とされる。
　磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対してデータライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向では、５本のサーボバンドｓに書きこまれたサーボパターン４７の位相は、同位相とされる。
（第２実施例）
　次に、サーボライトヘッド８０の第２実施例について説明する。図２１は、第２実施例に係るサーボライトヘッド８０ｂ及びサーボライトヘッド８０ｂが有するサーボ素子８２の拡大図である。図２２は、第２実施例に係るサーボライトヘッド８０ｂにより磁気テープＭＴにサーボパターン４７が書き込まれるときの様子を示す図である。図２１及び図２２では、サーボライトヘッド８０ｂの磁気テープＭＴと対向する面が示されている。なお、後述の図２３～図２７についても同様に、サーボライトヘッド８０の磁気テープＭＴと対向する面が示されている。
　これらの図に示すように、サーボライトヘッド８０ｂは、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。
　第２実施例では、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）が磁気テープＭＴの幅方向に対して所定の角度（第２のヘッドアジマス角）傾斜して配置される。サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと一致している（例えば、１０°）。
　サーボライトヘッド８０ｂは、磁気テープＭＴに対向する対向面８１を有している。対向面８１は、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。
　サーボライトヘッド８０ｂは、対向面８１上において、５対のサーボ素子８２（磁気ギャップ）を有している。５対のサーボ素子８２は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）において、所定の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ１）を開けて配置される。
　互いに隣接する２対のサーボ素子８２における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ１）は、例えば、２８５８．８±４．６μｍとされる。なお、この値は、磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で互いに隣接する２本のサーボバンドｓの間隔（サーボバンドピッチ：ＳＰ１）に対応する。
　また、互いに隣接する２対のサーボ素子８２において、磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）での位置の差は、ＳＰ１×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。ここで、ＳＰ１（サーボバンドピッチ＝サーボ素子ピッチ）は、互いに隣接する２つのサーボバンドｓにおける磁気テープＭＴの幅方向での間隔、または、互いに隣接する２対のサーボ素子８２における磁気テープＭＴの幅方向での間隔である。また、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０における基準角である。
　仮に、ＳＰ１の値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２対のサーボ素子８２において、磁気テープの長手方向（Ｘ軸方向）での位置の差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍである。
　一対のサーボ素子８２は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して非対称に構成された第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）を含む（特に、図２１の右側参照）。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１で傾斜する。第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに第２の角度θｓ２で傾斜する。
　第１の角度θｓ１及び第２の角度θｓ２は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、それぞれ以下の式により表される。
　　θｓ１＝Ｒｅｆθ＋θａ
　　θｓ２＝Ｒｅｆθ－θａ
　ここで、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθであり、θａは、サーボアジマス角である。
　仮に、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°とされ、サーボアジマス角θａが１２°とされた場合、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の第１の角度θｓ１は、２２°とされ、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の第２の角度θｓ２は、２°とされる。
　磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の間隔は、例えば、サーボ素子８２の長さの幅方向成分ＳＬの１／２の位置において、３８μｍとされる。
　ここで、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）において、第１の角度θｓ１に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して２２°の方向）を第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向とする。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）において、第２の角度θｓ２に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して－２°の方向）を第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向とする。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さとは異なっており、ここでの例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向での長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向での長さよりも長い。
　一方、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分（Ｙ軸方向）ＳＬ１と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分（Ｙ軸方向）ＳＬ１とは同じである。サーボ素子８２の長さの幅方向成分ＳＬ１は、例えば、９６±３μｍとされる。
　図２６は、図２１の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）における具体的な寸法の一例を示す図である（ＸＹＺ座標系基準）。
　図２６に示すように、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、１０３．５３９３μｍ（＝９６μｍ／ｃｏｓ２２°）とされる。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さは、９６．０５８５μｍ（＝９６μｍ／ｃｏｓ２°）とされる。
　また、第１のサーボ素子８２ａの上端部と、第２のサーボ素子８２ｂの上端部との間の間隔（Ｘ軸方向）は、１６．９３０６μｍ（＝３８μｍ－４８μｍ×ｔａｎ２２°－４８μｍ×ｔａｎ２°＝３８μｍ－１９．３９３２μｍ－１．６７６２μｍ）である。
　また、第１のサーボ素子８２ａの下端部と、第２のサーボ素子８２ｂの下端部との間の間隔（Ｘ軸方向）は、５９．０６９５μｍ（＝９６μｍ×ｔａｎ２２°＋１６．９３０６μｍ＋９６μｍ×ｔａｎ２°＝３８．７８６５μｍ＋１６．９３０６μｍ＋３．３５２４μｍ）である。
　ここで、上述の第１実施例では、５対のサーボ素子８２に対してそれぞれ入力されるパルス信号に位相差が設定されていた。一方、第２実施例においては、サーボライトヘッド８０ｂが傾けて配置されているので、パルス信号に対して位相差を設定する必要はない。つまり、５対のサーボ素子８２に対しては、同時刻に同位相に対応するパルス信号がそれぞれ入力される。
　図２２には、５対のサーボ素子８２によって５本のサーボバンドｓにそれぞれ書き込まれたサーボパターン４７が示されている。
　磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書き込まれるサーボパターン４７の、磁気テープＭＴの幅方向での位相差は、ＳＰ１×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。
　仮に、ＳＰ１の値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書きこまれるサーボパターン４７の位相差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍとされる。
　なお、サーボバンドｓ４のサーボパターン４７を基準としたサーボバンドｓ３、サーボバンドｓ２、サーボバンドｓ１、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７の位相差は、順番に、５０４．０８μｍ、１００８．１７μｍ、１５１２．２５μｍ、２０１６．３３μｍに対応する位相とされる。
　５本のサーボバンドｓにそれぞれ書き込まれたサーボパターン４７について、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で、最も先に進んだ位相となるのは、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７である。位相の順番は、次いで、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７、サーボバンドｓ２、のサーボパターン４７、サーボバンドｓ３のサーボパターン４７、サーボバンドｓ４のサーボパターン４７の順番である。
　例えば、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７及びサーボバンドｓ１のサーボパターン４７で説明すると、磁気テープＭＴの幅方向で、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７の位相は、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７よりも５０４．０８μｍに対応する位相分、先の位相とされる。
　磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対してデータライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向では、５本のサーボバンドｓに書きこまれたサーボパターン４７の位相は、同位相とされる。
　以上の説明では、磁気テープＭＴの座標系（ＸＹＺ座標系）を基準したサーボライトヘッド８０ｂの構成について説明した。以降では、サーボライトヘッド８０ｂの座標系（Ｘ"Ｙ"Ｚ"座標系）を基準したサーボライトヘッド８０ｂの構成について説明する。
　図２３は、第２実施例において、サーボライトヘッド８０ｂの座標系を基準としてサーボライトヘッド８０ｂを表した図である。
　図２３に示すように、５対のサーボ素子８２は、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、所定の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ２）を開けて配置される。サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、互いに隣接する２対の－１サーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ２）は、ＳＰ１×ｃｏｓ（Ｒｅｆθ）で表される。
　例えば、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）において、互いに隣接する２対のサーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ１）が、２８５８．８μｍであり、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、互いに隣接する２対のサーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ２）は、２９０２．９μｍとなる。
　ここで、上述の第１実施例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の対称軸は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に非平行とされており、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対しても非平行とされていた。一方、第２実施例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の対称軸は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して非平行とされ、一方でサーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対しては平行とされている。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対して、サーボアジマス角θａで傾斜する。一方、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対して、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）とは逆向きに、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）と同じサーボアジマス角θａで傾斜する。
　ここで、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）において、サーボアジマス角θａに沿う方向（サーボライトヘッド８０ｂの長手方向に対して＋１２°の方向）を第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向とする。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）において、サーボアジマス角θａに沿う方向（サーボライトヘッド８０ｂの長手方向に対して－１２°の方向）を第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向とする。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さとは異なっており、ここでの例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向での長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向での長さよりも長い。
　さらに、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向成分ＳＬ２１（Ｙ"軸方向）、及び、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂ長手方向成分ＳＬ２２（Ｙ"軸方向）も異なっている。
　図２７は、図２３の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）における具体的な寸法の一例を示す図である（Ｘ"Ｙ"Ｚ"座標系基準）。
　仮に、サーボ素子８２の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向成分ＳＬ１（Ｙ軸方向）が、９６μｍであり、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°であり、サーボアジマス角θａが１２°であるとする。この場合、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向成分ＳＬ２１（Ｙ"軸方向）は、１０１．２７６７μｍ（＝１０３．５０９３μｍ×ｃｏｓ１２°）である。また、この場合、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向成分ＳＬ２２（Ｙ"軸方向）は、９３．９５９μｍ（＝９６．０５８５μｍ×ｃｏｓ１２°）μｍである。
　また、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａの上端部と、第２のサーボ素子８２ｂの上端部との間の間隔は、１６．６７３μｍ（＝１６．９３０６μｍ×ｃｏｓ１０°）である。また、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の上端部の位置と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の上端部の位置との差は、２．９４μｍ（＝１６．９３０６μｍ×ｓｉｎ１０°）である。
　また、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａの下端部と、第２のサーボ素子８２ｂの下端部との間の間隔は、５８．１７２１μｍ（＝５９．０６９５μｍ×ｃｏｓ１０°）である。また、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の下端部の位置と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の下端部の位置との差は、１０．２５７３μｍ（＝５９．０６９５μｍ×ｓｉｎ１０°）である。
　また、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の間隔（中央）は、例えば、３８．８２５３μｍ（３８μｍ×ｃｏｓ１０°＋（３８μｍ×ｓｉｎ１０°）×ｔａｎ１２°＝３７．４２２７μｍ＋６．５９８６μｍ×ｔａｎ１２°＝３７．４２２７μｍ＋１．４０２６μｍ）である。
（第１実施例及び第２実施例の比較）
　次に、第１実施例及び第２実施例の比較について説明する。
　図２０の右側には、第１実施例に係るサーボライトヘッド８０ａにより書き込まれたサーボパターン４７を、データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により読み取っているときの様子が示されている。
　上述のように、第１実施例に係るサーボライトヘッド８０ａでは、サーボライトヘッド８０ａを磁気テープＭＴの幅方向に対して傾けずに配置し、サーボ素子８２に入力されるパルス信号の位相を調整することでサーボパターン４７を書き込むといった方法が用いられている。
　ここで、サーボライトヘッド８０ａによって磁気テープＭＴに対してサーボパターン４７を書き込むとき、磁気テープＭＴが幅方向（Ｙ軸方向に）に微動する場合がある。
　仮に、第１実施例のサーボライトヘッド８０ａにおいて、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ０に対して、或る時刻ｔ１に或る位相ｐｈ１のサーボパターン４７を書き込んだとする。その後の時刻ｔ２（磁気テープＭＴが搬送方向に５０４．０８μｍ搬送された時刻）に、サーボバンドｓ１のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ１に対して、その位相ｐｈ１のサーボパターン４７を書き込んだとする。
　この場合において、時刻ｔ１から時刻ｔ２の間に、磁気テープＭＴが幅方向に微動してしまった場合を想定する。この場合、サーボバンドｓ０での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置と、サーボバンドｓ１での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置との間隔（基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）が、既定の値（２つのサーボリード部６２の間隔：基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）とは異なってしまうことになる。
　これが原因で誤差が生じ、データライトヘッド６０がサーボパターン４７を正確にサーボトレースできない場合がある。
　一方、図２２の右側には、第２実施例に係るサーボライトヘッド８０ｂにより書き込まれたサーボパターン４７を、データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により読み取っているときの様子が示されている。
　第２実施例に係るサーボライトヘッド８０ｂでは、サーボライトヘッド８０ｂを磁気テープＭＴの幅方向に対して傾けて配置し、サーボ素子８２に入力されるパルス信号の位相を同位相としてサーボパターン４７を書き込むといった方法が用いられている。
　仮に、第２実施例のサーボライトヘッド８０ｂにおいて、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２及びサーボバンドｓ１のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ０及びサーボバンドｓ１に対して、同時刻ｔ１に同位相ｐｈ１のサーボパターン４７を書き込んだとする。
　その後、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２及びサーボバンドｓ１のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ０及びサーボバンドｓ１に対して、同時刻ｔ２に同位相ｐｈ２のサーボパターン４７を書き込んだとする。
　この場合において、時刻ｔ１から時刻ｔ２の間に、磁気テープＭＴが幅方向に微動してしまった場合を想定する。この場合、サーボバンドｓ０での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置と、サーボバンドｓ１での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置との間隔（基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）は、サーボバンドｓ０での位相ｐｈ２のサーボパターン４７の位置と、サーボバンドｓ１での位相ｐｈ２のサーボパターン４７の位置との間隔と同じである。これらの間隔は、既定の値（２つのサーボリード部６２の間隔：基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）と同じであり、一定である。
　つまり、第２実施例では、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動によらず、互いに隣接するサーボバンドｓにおける同位相のサーボパターン４７の間隔（基準角Ｒｅｆθの方向）を一定にすることができる。これにより、データライトヘッド６０がサーボパターン４７を正確にサーボトレースすることができる。
　ここでの説明から理解されるように、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動の観点からは、第１実施例よりも第２実施例の方が有利である。但し、これは、第１実施例による方法を採用することができないといった趣旨ではなく、第１実施例についても本技術の一例として含まれる。例えば、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動が無視できるレベルであったり、あるいは、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動を無視できる程度に抑制することができたりするのであれば、第１実施例による方法が採用されてもよい。
（３－２）対向面の低摩擦加工
　サーボライトヘッド８０は、その対向面８１において、磁気テープＭＴとの間に意図的に空気を巻き込み摩擦抵抗を低減するための低摩擦加工が施されていてもよい。
　図２４は、サーボライトヘッド８０の対向面８１において低摩擦加工が施されたときの様子を示す図である。図２４の左側には、第１実施例に係るサーボライトヘッド８０ａの対向面８１に低摩擦加工が施されたときの様子が示されている。また、図２４の右側には、第２実施例に係るサーボライトヘッド８０ｂの対向面８１に低摩擦加工が施されたときの様子が示されている。
　図２４の左側（第１実施例）を参照して、サーボライトヘッド８０ａの対向面８１は、サーボライトヘッド８０の長手方向（Ｙ軸方向：磁気テープＭＴの幅方向）において、サーボ素子８２が設けられた領域に対応する第１の領域８３と、サーボ素子８２が設けられていない領域に対応する第２の領域８４を有する。
　第２の領域８４には、サーボライトヘッド８０ａの幅方向（Ｘ軸方向：磁気テープＭＴの長手方向）に沿う複数の溝が、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ軸方向：磁気テープＭＴの幅方向）に沿って整列されている。
　図２４の右側（第２実施例）を参照して、サーボライトヘッド８０ｂの対向面８１は、サーボライトヘッド８０の長手方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して基準角Ｒｅｆθの方向）において、サーボ素子８２が設けられた領域に対応する第１の領域８３と、サーボ素子８２が設けられていない領域に対応する第２の領域８４を有する。
　第２の領域８４には、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）に対して基準角Ｒｅｆθの方向（Ｘ軸方向：磁気テープＭＴの長手方向）に沿う複数の溝が、サーボライトヘッド８０の長手方向（Ｙ"軸方向）に対して基準角Ｒｅｆθの方向（Ｙ軸方向：磁気テープＭＴの幅方向）に沿って整列されている。
　ここで、図２４の左側の例（第１実施例）では、サーボライトヘッド８０ａの幅方向に対して平行な方向に沿う複数の溝が、サーボライトヘッド８０ａの長手方向に対して平行な方向に沿って整列されている。これに対して、図２４の右側の例（第２実施例）では、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向に対して非平行な方向に沿う複数の溝が、サーボライトヘッド８０の長手方向に対して非平行な方向に沿って整列されている。
　図２４に示す２つの例（第１実施例及び第２実施例）では、対向面８１に低摩擦加工が施されているので、摩擦による磁気テープＭＴの振動を抑制することができ、これにより、サーボパターン４７を正確に書き込むことができる。
　特に、図２４の右側の例では、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）に対して基準角Ｒｅｆθの方向（Ｘ軸方向：磁気テープＭＴの長手方向）に沿う複数の溝が、サーボライトヘッド８０の長手方向（Ｙ"軸方向）に対して基準角Ｒｅｆθの方向（Ｙ軸方向：磁気テープＭＴの幅方向）に沿って整列されている。これにより、サーボライトヘッド８０を、磁気テープＭＴの幅方向に対して基準角Ｒｅｆθ傾けて配置したとしても、適切に磁気テープＭＴとの間の摩擦を低減させることができる。
（４）作用等
　以上説明したように、本実施形態では、サーボライトヘッド８０により、各サーボバンドｓ０～ｓ４に対して、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）をそれぞれ書き込むことができる。これにより、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向に対して傾いて配置された場合に、そのデータライトヘッド６０により、サーボパターン４７を正確に読み取ることができる。
　図２５は、第１比較例、第２比較例及び本実施形態において、データライトヘッド６０のサーボリード部６２によりサーボパターン４７を読み取ったときの様子を示す図である。
　図２５の左側を参照して、第１比較例では、磁気テープＭＴにおいて、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して対称とされている。また、データライトヘッド６０の長手方向は、磁気テープＭＴの幅方向に対して平行とされている。
　第１比較例では、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失は、サーボパターン４７群毎に同じである。従って、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号の出力は、サーボパターン４７群に対応するサーボバースト毎に同じとなる。
　図２５の中央を参照して、第２比較例では、磁気テープＭＴにおいて、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して対称とされている。一方、データライトヘッド６０の長手方向は、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜して配置されている。
　第２比較例では、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失は、サーボパターン４７群毎に異なる。従って、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号において、アジマス損失が少ないサーボパターン４７群に対応するサーボバーストの出力は大きくなり、一方で、アジマス損失が大きいサーボパターン４７群に対応するサーボバーストの出力は小さくなる。このため、トラッキング基準位置に誤差が生じてしまう可能性がある。
　図２５の右側を参照して、本実施形態では、磁気テープＭＴにおいて、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称とされている。また、データライトヘッド６０の長手方向は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非平行とされている。
　本実施形態では、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失は、サーボパターン４７群毎に同じである。従って、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号の出力は、サーボパターン４７群に対応するサーボバースト毎に同じとなる。
　このように、本実施形態では、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称とされているので、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向に対して傾いて配置された場合に、そのデータライトヘッド６０により、サーボパターン４７を正確に読み取ることができる。
　また、本実施形態では、データ記録再生装置５０におけるデータライトヘッド６０の長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対してアジマス角θ傾斜して配置され、そのアジマス角θが調整される。これにより、磁気テープＭＴの幅の変動に対応することができる。
　また、本実施形態では、データ記録再生装置５０におけるデータライトヘッド６０において、データライトヘッド６０のアジマス角θは、基準角Ｒｅｆθ±ｘ°の範囲で調整される。
　このとき、ｘの値を０．７°以下とすることで、再生トラック幅Ｗが小さな磁気テープＭＴ（例えば、０．５μｍ以下）に対応しつつ、アジマス損失Ｌθを小さくすることができる。また、このとき、基準角Ｒｅｆθを８°以上とすることで、上記補正量を大きくすることができる（例えば、１０μｍ以上）。
　また、本実施形態では、サーボ記録再生装置７０において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称となるようにサーボライトヘッド８０に設けられる。これにより、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）により、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称なサーボパターン４７を適切に書き込むことができる。
　また、本実施形態では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して第１の角度θｓ１で傾斜し、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに、第１の角度θｓ１とは異なる第２の角度θｓ２で傾斜する。
　そして、本実施形態では、この第１の角度θｓ１及び第２の角度θｓ２が、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連している。これにより、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）により、データライトヘッド６０が正確に読み取ることが可能な非対称なサーボパターン４７を適切に書き込むことができる。
　また、本実施形態では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さと、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さとは異なっているが、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長さにおける磁気テープＭＴの幅方向の成分と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長さにおける磁気テープＭＴの幅方向の成分とは同じである。これにより、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）により書き込まれる第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）について、磁気テープＭＴの幅方向の長さを揃えることができる。
　また、本実施形態おいて、サーボライトヘッド８０の長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定の角度傾斜するように配置されてもよく（第２実施例参照）、この場合、サーボパターン４７書き込み時における磁気テープＭＴの幅方向への微動に適切に対応することができる。
　また、本実施形態において、サーボライトヘッド８０の長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜する角度は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連していてもよく、また、この角度は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと一致していてもよい。これにより、傾斜して配置されたデータライトヘッド６０が正確に読み取ることが可能な非対称なサーボパターン４７を適切に書き込むことができる。
　また、本実施形態に係る磁気テープＭＴでは、互いに隣接するサーボバンドｓにおけるサーボパターン４７の、磁気テープＭＴの幅方向での位相差が、サーボライトヘッド８０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、ＳＰ×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。これにより、傾斜して配置されたデータライトヘッド６０により、サーボパターン４７を正確に読み取ることができる。
（５）磁気テープがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置に用いられる磁気テープであるかどうかの確認方法
　次に、磁気テープＭＴが、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜して配置されるタイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであるかどうかを確認するための方法について説明する。
（５－１）確認方法：第１の例
　図２８は、磁気テープＭＴがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであるかどうかを確認する方法における第１の例を示す図である。第１の例では、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第１の角度θｓ１）、及び、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が磁気テープの幅方向に対して傾斜する角度（第２の角度θｓ２）等に基づいて、下記確認が行われる。
　なお、図２８では、磁気テープＭＴを上側（磁性層側）から見た様子が示されている（従って、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）において、「／」「＼」の符号は、見た目とは逆になる）。
　図２８に示すように、まず、磁気テープＭＴの磁性層４３に対して、フェリコロイド現像液（例えば、シグマハイケミカル社製のシグマーカＱ（登録商標））等の現像液を塗布して現像を行う。その後、現像した磁気テープＭＴの磁性層４３を光学顕微鏡で観察することで、サーボパターン４７の形状を確認する。
　このとき、まず、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の上端部及び下端部、並びに、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の上端部及び下端部が測定点として測定される。そして、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）において、サーボパターン４７の上端部と、下端部との間の距離ａ（サーボバンド幅に対応）が測定される。
　また、磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）において、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の上端部と、下端部との間の距離ｂが測定される。また、磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）において、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の上端部と、下端部との間の距離ｃが測定される。
　この場合、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第１の角度θｓ１）は、ｔａｎ-1（ｂ／ａ）により求められる。また、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第２の角度θｓ２）は、ｔａｎ-1（ｃ／ａ）により求められる。
　例えば、ａの値が９６μｍであり、ｂの値が３９μｍであり、ｃの値が３μｍであったとする。この場合、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第１の角度θｓ１）は、ｔａｎ-1（３９／９６）＝２１．５９°で、約２２°である。また、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第２の角度θｓ２）は、ｔａｎ-1（３／９６）＝１．７９°で、約２°である。
　次に、（第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の傾斜角（第１の角度θｓ１）－第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の傾斜角（第２の角度θｓ２））／２により、所定の角度を求める（（２２－２）／２＝１０°）。このとき求められる角度は、第１のサーボパターン４７ａ及び第２のサーボパターン４７ｂの対称軸が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度に対応する。
　（第１の角度θｓ１－第２の角度θｓ２）／２により求められた角度が、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（基準角）と一致したとする（θｓ１－θｓ２）／２＝ｒｅｆθ）（ある程度の誤差を含んでいてもよい）。
　この場合、図２５の右側を参照して既に説明したように、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失が、サーボパターン４７群毎に同じとなる。これにより、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号の出力は、サーボパターン４７群に対応するサーボバースト毎に同じとなる。
　従って、（θｓ１－θｓ２）／２により求められた角度が、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（基準角）と一致した場合、この磁気テープＭＴは、データライトヘッド６０が磁気テーＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜して配置されるタイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであると見做すことができる。
（５－２）確認方法：第２の例
　図２９は、磁気テープＭＴがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであるかどうかを確認する方法における第２の例を示す図である。第２の例では、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターン４７における位相差に基づいて、上記確認が行われる。
　この第２の例では、データ記録再生装置が用いられるが、このデータ記録再生装置では、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して平行に配置される。
　まず、データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターン４７がそれぞれ読み取られ、サーボ信号がそれぞれ再生される。
　下側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号の位相は、上側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号の位相よりも先であり、位相差が生じる。このとき、下側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号と、上側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号との間で、同じＬＰＯＳ（Longitudinal Position）情報を読み取った時刻の差が求められる。そして、この時刻の差が、距離に換算されて、磁気テープの長さ方向における位相差ｄが求められる（例えば、０．５０５μｍ）。
　次に、求められた位相差ｄ（例えば、０．５０５μｍ）と、サーボバンドピッチＳＰ（既知）（例えば、２．８５８８μｍ）とに基づいて、ｔａｎ-1（ｄ／ＳＰ）により、所定の角度が求められる（ｔａｎ-1（０．５０５／２．８５８８）＝１０．０１７°）。
　このとき求められる角度は、一方のサーボバンドのサーボパターン４７と、他方のサーボバンドのサーボパターン４７とで同位相の情報が書き込まれた位置を結ぶ直線が、磁気テープの幅方向に対して成す角度に対応する。
　ｔａｎ-1（ｄ／ＳＰ）によりにより求められた角度が、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（基準角）と一致したとする（ｔａｎ-1（ｄ／ＳＰ）＝ｒｅｆθ）（ある程度の誤差を含んでいてもよい）。この場合、この磁気テープＭＴは、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜して配置されるタイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであると見做すことができる。
［１．６　作用効果］
　上記１．３において説明したとおり、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴでは、磁気テープＭＴの幅１／２インチ当たり０．５５Ｎのテンションが長手方向に加えた状態で温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下に４０時間静置される前後の磁気テープＭＴの平均幅変化量ΔＡの絶対値が１７０ｐｐｍ以下であるので、環境に起因する磁気テープＭＴの変形に加えて、高温環境下での磁気テープＭＴのクリープ変形を長期間（例えば１０年間）に亘って十分に抑制することができる。これにより、長期間（例えば１０年間）に亘って磁気テープＭＴを高温環境下で保存や走行した場合にも、磁気テープＭＴの幅変化を抑制することができる。
　また、温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下における、長手方向のテンションに対する平均テンション応答性が７００ｐｐｍ／Ｎ以上であるので、高温環境下において磁気テープＭＴの幅変化を良好に補正することができる。
　したがって、長期間（例えば１０年間）に亘って磁気テープＭＴを高温環境下で保存や走行した場合にも、磁気テープＭＴの走行テンションの調整により磁気テープＭＴの幅変化を補正することができる。
　上記１．５において説明したとおり、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴは、幅方向に対して非対称な第１のサーボパターン４７ａおよび第２のサーボパターン４７ｂを含むサーボパターン４７がそれぞれ書き込まれた複数のサーボバンドｓを有し、且つ、互いに隣接するサーボバンドｓにおけるサーボパターン４７は位相差を有している。そのため、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴは、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することにより磁気テープＭＴの幅変化に対応可能なデータ記録再生装置５０において用いられうる。データ記録再生装置５０において、典型的には、磁気テープＭＴの幅が相対的に広くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは小さくされ、逆に、磁気テープＭＴの幅が相対的に狭くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは大きくされる。これにより、磁気テープＭＴのサーボパターン４７は、磁気テープＭＴの幅が変化した場合にも、正確に読み取られる。
　したがって、磁気テープＭＴの幅が高温環境下で変化した場合にも、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することにより、幅変化に対応することができる。
　以上述べたとおり、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴによれば、高温環境下で起こりうる幅変化に対処可能である。したがって、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴは、高温環境下での保存および走行に適している。
＜２　第２の実施形態＞
　上記の第１の実施形態では、磁気テープＭＴが、下地層および磁性層等が塗布工程（ウエットプロセス）により作製された塗布型の磁気テープである場合について説明したが、下地層および磁性層等がスパッタリング等の真空薄膜の作製技術（ドライプロセス）により作製される真空薄膜型の磁気テープであってもよい。
［２．１　磁気テープの構成］
　図３０は、本技術の第２の実施形態に係る真空薄膜型の磁気テープＭＴ１の構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴ１は、垂直記録型の磁気記録媒体であり、フィルム状の基体１１１と、軟磁性裏打ち層（Soft magnetic underlayer、以下「ＳＵＬ」という。）１１２と、第１のシード層１１３Ａと、第２のシード層１１３Ｂと、第１の下地層１１４Ａと、第２の下地層１１４Ｂと、記録層としての磁性層１１５とを備える。ＳＵＬ１１２、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂおよび磁性層１１５は、例えば、スパッタ膜等の真空薄膜である。
　ＳＵＬ１１２、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂおよび第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、基体１１１の一方の主面（以下「表面」という。）と磁性層１１５との間に設けられ、基体１１１から磁性層１１５の方向に向かってＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂの順序で積層されている。
　磁気テープＭＴ１が、必要に応じて、磁性層１１５上に設けられた保護層１１６と、保護層１１６上に設けられた潤滑層１１７とをさらに備えるようにしてもよい。また、磁気テープＭＴ１が、必要に応じて、基体１１１の他方の主面（以下「裏面」という。）上に設けられたバック層１１８をさらに備えるようにしてもよい。
　以下では、磁気テープＭＴ１の長手方向（基体１１１の長手方向）をＭＤ（Machine Direction）方向という。ここで、機械方向とは、磁気テープＭＴ１に対する記録および再生ヘッドの相対的な移動方向、すなわち記録再生時に磁気テープＭＴ１が走行される方向を意味する。
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、今後ますます需要が高まることが期待されるデータアーカイブ用ストレージメディアとして用いて好適なものである。この磁気テープＭＴ１は、例えば、現在のストレージ用塗布型磁気記録媒体の１０倍以上の面記録密度、すなわち５０Ｇｂ／ｉｎ2以上の面記録密度を実現することが可能である。このような面記録密度を有する磁気テープＭＴ１を用いて、一般のリニア記録方式のデータカートリッジを構成した場合には、データカートリッジ１巻当たり１００ＴＢ以上の大容量記録が可能になる。
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、リング型の記録ヘッドと巨大磁気抵抗効果（Giant Magnetoresistive：ＧＭＲ）型またはトンネル磁気抵抗効果（Tunneling Magnetoresistive：ＴＭＲ）型の再生ヘッドとを有する記録再生装置（データを記録再生するための記録再生装置）に用いて好適なものである。また、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、サーボ信号書込ヘッドとしてリング型の記録ヘッドが用いられるものであることが好ましい。磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりデータ信号が垂直記録される。また、磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりサーボ信号が垂直記録される。
　第２の実施形態における磁気テープＭＴ１の平均厚みｔT、平均幅変化量ΔＡ、平均テンション応答性および基体１１１の平均貯蔵弾性率等は、第１の実施形態におけるものと同様である。
（基体）
　基体１１１は、第１の実施形態における基体４１と同様である。
（ＳＵＬ）
　ＳＵＬ１１２は、アモルファス状態の軟磁性材料を含む。軟磁性材料は、例えば、Ｃｏ系材料およびＦｅ系材料のうちの少なくとも１種を含む。Ｃｏ系材料は、例えば、ＣｏＺｒＮｂ、ＣｏＺｒＴａまたはＣｏＺｒＴａＮｂを含む。Ｆｅ系材料は、例えば、ＦｅＣｏＢ、ＦｅＣｏＺｒまたはＦｅＣｏＴａを含む。
　ＳＵＬ１１２は、単層のＳＵＬであり、基体１１１に直接設けられている。ＳＵＬ１１２の平均厚みは、好ましくは１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下、より好ましくは２０ｎｍ以上３０ｎｍ以下である。
　ＳＵＬ１１２の平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。なお、後述する、ＳＵＬ１１２以外の層の平均厚み（すなわち、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂおよび磁性層１１５の平均厚み）も、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、各層の厚みに応じて適宜調整される。
（第１、第２のシード層）
　第１のシード層１１３Ａは、ＴｉおよびＣｒを含む合金を含み、アモルファス状態を有している。また、この合金には、Ｏ（酸素）がさらに含まれていてもよい。この酸素は、スパッタリング法等の成膜法で第１のシード層１１３Ａを成膜する際に、第１のシード層１１３Ａ内に微量に含まれる不純物酸素であってもよい。
　ここで、"合金"とは、ＴｉおよびＣｒを含む固溶体、共晶体、および金属間化合物等の少なくとも一種を意味する。"アモルファス状態"とは、Ｘ線回折または電子線回折法等により、ハローが観測され、結晶構造を特定できないことを意味する。
　第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉおよびＣｒの総量に対するＴｉの原子比率は、好ましくは３０原子％以上１００原子％未満、より好ましくは５０原子％以上１００原子％未満の範囲内である。Ｔｉの原子比率が３０％未満であると、Ｃｒの体心立方格子（Body-Centered Cubic lattice：ｂｃｃ）構造の（１００）面が配向するようになり、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの配向性が低下する虞がある。
　上記Ｔｉの原子比率は次のようにして求められる。磁性層１１５側から磁気テープＭＴ１をイオンミリングしながら、オージェ電子分光法（Auger Electron Spectroscopy、以下「ＡＥＳ」という。）による第１のシード層１１３Ａの深さ方向分析（デプスプロファイル測定）を行う。次に、得られたデプスプロファイルから、膜厚方向におけるＴｉおよびＣｒの平均組成（平均原子比率）を求める。次に、求めたＴｉおよびＣｒの平均組成を用いて、上記Ｔｉの原子比率を求める。
　第１のシード層１１３ＡがＴｉ、ＣｒおよびＯを含む場合、第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉ、ＣｒおよびＯの総量に対するＯの原子比率は、好ましくは１５原子％以下、より好ましくは１０原子％以下である。Ｏの原子比率が１５原子％を超えると、ＴｉＯ2結晶が生成することにより、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶核形成に影響を与えるようになり、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの配向性が低下する虞がある。上記Ｏの原子比率は、上記Ｔｉの原子比率と同様の解析方法を用いて求められる。
　第１のシード層１１３Ａに含まれる合金が、ＴｉおよびＣｒ以外の元素を添加元素としてさらに含んでいてもよい。この添加元素としては、例えば、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｍｏ、ＡｌおよびＷ等からなる群より選ばれる１種以上の元素が挙げられる。
　第１のシード層１１３Ａの平均厚みは、好ましくは２ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは３ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。
　第２のシード層１１３Ｂは、例えば、ＮｉＷまたはＴａを含み、結晶状態を有している。第２のシード層１１３Ｂの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上２０ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１５ｎｍ以下である。
　第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂは、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂに類似した結晶構造を有し、結晶成長を目的として設けられるシード層ではなく、当該第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂのアモルファス状態によって第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの垂直配向性を向上するシード層である。
（第１、第２の下地層）
　第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。磁性層１１５の配向性を高め、かつ、第２の下地層１１４Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えば、Ｒｕ－ＳｉＯ2、Ｒｕ－ＴｉＯ2またはＲｕ－ＺｒＯ2等のＲｕ合金酸化物が挙げられる。
　上記のように、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの材料として同様のものを用いることができる。しかしながら、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂそれぞれの目的とする効果が異なっている。具体的には、第２の下地層１１４Ｂについてはその上層となる磁性層１１５のグラニュラ構造を促進する膜構造であり、第１の下地層１１４Ａについては結晶配向性の高い膜構造である。このような膜構造を得るためには、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂそれぞれのスパッタ条件等の成膜条件を異なるものとすることが好ましい。
　第１の下地層１１４Ａの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。第２の下地層１１４Ｂの平均厚みは、好ましくは７ｎｍ以上４０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上２５ｎｍ以下である。
（磁性層）
　磁性層１１５は、磁性材料が垂直に配向した垂直磁気記録層である。磁性層１１５は、スパッタ膜等の真空薄膜であってもよい。磁性層１１５は、記録密度を向上する観点からすると、Ｃｏ系合金を含むグラニュラ磁性層であることが好ましい。このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含む強磁性結晶粒子と、この強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界（非磁性体）とから構成されている。より具体的には、このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含むカラム（柱状結晶）と、このカラムを取り囲み、それぞれのカラムを磁気的に分離する非磁性粒界（例えばＳｉＯ2等の酸化物）とから構成されている。この構造では、それぞれのカラムが磁気的に分離した構造を有する磁性層１１５を構成することができる。
　Ｃｏ系合金は、六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有し、そのｃ軸が膜面に対して垂直方向（膜厚方向）に配向している。Ｃｏ系合金としては、少なくともＣｏ、ＣｒおよびＰｔを含有するＣｏＣｒＰｔ系合金を用いることが好ましい。ＣｏＣｒＰｔ系合金は、特に限定されるものではなく、ＣｏＣｒＰｔ合金がさらに添加元素を含んでいてもよい。添加元素としては、例えば、ＮｉおよびＴａ等からなる群より選ばれる１種以上の元素が挙げられる。
　強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界は、非磁性金属材料を含む。ここで、金属には半金属を含むものとする。非磁性金属材料としては、例えば、金属酸化物および金属窒化物のうちの少なくとも一方を用いることができ、グラニュラ構造をより安定に維持する観点からすると、金属酸化物を用いることが好ましい。金属酸化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、ＹおよびＨｆ等からなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属酸化物が挙げられ、少なくともＳｉ酸化物（すなわちＳｉＯ2）を含む金属酸化物が好ましい。金属酸化物の具体例としては、ＳｉＯ2、Ｃｒ2Ｏ3、ＣｏＯ、Ａｌ2Ｏ3、ＴｉＯ2、Ｔａ2Ｏ5、ＺｒＯ2またはＨｆＯ2等が挙げられる。金属窒化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、ＹおよびＨｆ等からなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属窒化物が挙げられる。金属窒化物の具体例としては、ＳｉＮ、ＴｉＮまたはＡｌＮ等が挙げられる。
　強磁性結晶粒子に含まれるＣｏＣｒＰｔ系合金と、非磁性粒界に含まれるＳｉ酸化物とが、以下の式（６）に示す平均組成を有していることが好ましい。反磁界の影響を抑え、かつ、十分な再生出力を確保できる飽和磁化量Ｍｓを実現でき、これにより、記録再生特性の更なる向上を実現できるからである。
　（ＣｏxＰｔyＣｒ100-x-y）100-z－（ＳｉＯ2）z　・・・（６）
（但し、式（６）中において、ｘ、ｙ、ｚはそれぞれ、６９≦Ｘ≦７５、１０≦ｙ≦１６、９≦Ｚ≦１２の範囲内の値である。）
　なお、上記組成は次のようにして求めることができる。磁性層１１５側から磁気テープＭＴ１をイオンミリングしながら、ＡＥＳによる磁性層１１５の深さ方向分析を行い、膜厚方向におけるＣｏ、Ｐｔ、Ｃｒ、ＳｉおよびＯの平均組成（平均原子比率）を求める。
　磁性層１１５の平均厚みの上限値は、例えば９０ｎｍ以下、好ましくは８０ｎｍ以下、より好ましくは７０ｎｍ以下、さらにより好ましくは６０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以下、２０ｎｍ以下または１５ｎｍ以下である。磁性層１１５の平均厚みの下限値は、好ましくは９ｎｍ以上である。磁性層４３の平均厚みが９ｎｍ以上９０ｎｍ以下であると、電磁変換特性を向上することができる。
　磁性層１１５は、データが書き込まれる複数のデータバンドと、サーボパターンが書き込まれる複数のサーボバンドと、を有している。磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドの詳細については、上記１．５において述べた第１の実施形態におけるデータバンドおよびサーボバンドに関する説明が当てはまる。そのため、磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドについての説明は省略する。
（保護層）
　保護層１１６は、例えば、炭素材料または二酸化ケイ素（ＳｉＯ2）を含み、保護層１１６の膜強度の観点からすると、炭素材料を含むことが好ましい。炭素材料としては、例えば、グラファイト、ダイヤモンド状炭素（Diamond-Like Carbon：ＤＬＣ）またはダイヤモンド等が挙げられる。
（潤滑層）
　潤滑層１１７は、少なくとも１種の潤滑剤を含む。潤滑層１１７は、必要に応じて各種添加剤、例えば防錆剤をさらに含んでいてもよい。潤滑剤としては、第１の実施形態における磁性層４３と同様のものを例示することができる。
　なお、潤滑剤は、上記のように磁気テープＭＴ１の表面に潤滑層１１７として保持されるのみならず、磁気テープＭＴ１を構成する磁性層１１５および保護層１１６等の層に含まれ、保有されていてもよい。
（バック層）
　バック層１１８は、第１の実施形態におけるバック層４４と同様である。
［２．２　スパッタ装置の構成］
　以下、図３１を参照して、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１の製造に用いられるスパッタ装置１２０の構成の一例について説明する。このスパッタ装置１２０は、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５の成膜に用いられる連続巻取式スパッタ装置であり、成膜室１２１と、金属キャン（回転体）であるドラム１２２と、カソード１２３ａ～１２３ｆと、供給リール１２４と、巻き取りリール１２５と、複数のガイドロール１２７ａ～１２７ｃ、１２８ａ～１２８ｃとを備える。スパッタ装置１２０は、例えばＤＣ（直流）マグネトロンスパッタリング方式の装置であるが、スパッタリング方式はこの方式に限定されるものではない。
　成膜室１２１は、排気口１２６を介して図示しない真空ポンプに接続され、この真空ポンプにより成膜室１２１内の雰囲気が所定の真空度に設定される。成膜室１２１の内部には、回転可能な構成を有するドラム１２２、供給リール１２４および巻き取りリール１２５が配置されている。成膜室１２１の内部には、供給リール１２４とドラム１２２との間における基体１１１の搬送をガイドするための複数のガイドロール１２７ａ～１２７ｃが設けられていると共に、ドラム１２２と巻き取りリール１２５との間における基体１１１の搬送をガイドするための複数のガイドロール１２８ａ～１２８ｃが設けられている。スパッタ時には、供給リール１２４から巻き出された基体１１１が、ガイドロール１２７ａ～１２７ｃ、ドラム１２２およびガイドロール１２８ａ～１２８ｃを介して巻き取りリール１２５に巻き取られる。ドラム１２２は円柱状の形状を有し、長尺状の基体１１１はドラム１２２の円柱面状の周面に沿わせて搬送される。ドラム１２２には、図示しない冷却機構が設けられており、スパッタ時には、例えば－２０℃程度に冷却される。成膜室１２１の内部には、ドラム１２２の周面に対向して複数のカソード１２３ａ～１２３ｆが配置されている。これらのカソード１２３ａ～１２３ｆにはそれぞれターゲットがセットされている。具体的には、カソード１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄ、１２３ｅ、１２３ｆにはそれぞれ、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、磁性層１１５を成膜するためのターゲットがセットされている。これらのカソード１２３ａ～１２３ｆにより複数の種類の膜、すなわちＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５が同時に成膜される。
　上記の構成を有するスパッタ装置１２０では、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５をRoll to Roll法により連続成膜することができる。
［２．３　磁気テープの製造方法］
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、例えば、以下のようにして製造することができる。
　まず、図３１に示したスパッタ装置１２０を用いて、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５を基体１１１の表面上に順次成膜する。具体的には以下のようにして成膜する。まず、成膜室１２１を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、成膜室１２１内にＡｒガス等のプロセスガスを導入しながら、カソード１２３ａ～１２３ｆにセットされたターゲットをスパッタする。これにより、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５が、走行する基体１１１の表面に順次成膜される。
　スパッタ時の成膜室１２１の雰囲気は、例えば、１×１０-5Ｐａから５×１０-5Ｐａ程度に設定される。ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５の膜厚および特性は、基体１１１を巻き取るテープライン速度、スパッタ時に導入するＡｒガス等のプロセスガスの圧力（スパッタガス圧）、および投入電力等を調整することにより制御可能である。
　次に、磁性層１１５上に保護層１１６を成膜する。保護層１１６の成膜方法としては、例えば化学気相成長（Chemical Vapor Deposition：ＣＶＤ）法または物理蒸着（physical vapor deposition：ＰＶＤ）法を用いることができる。
　次に、結着剤、無機粒子および潤滑剤等を溶剤に混練、分散させることにより、バック層成膜用の塗料を調製する。次に、基体１１１の裏面上にバック層成膜用の塗料を塗布して乾燥させることにより、バック層１１８を基体１１１の裏面上に成膜する。
　次に、例えば潤滑剤を保護層１１６上に塗布し、潤滑層１１７を成膜する。潤滑剤の塗布方法としては、例えば、グラビアコーティング、ディップコーティング等の各種塗布方法を用いることができる。次に、必要に応じて、磁気テープＭＴ１を所定の幅に裁断する。以上により、図３０に示した磁気テープＭＴ１が得られる。
［２．４　作用効果］
　上記１．６において述べた作用効果に関する説明が、第２の実施形態についても当てはまる。すなわち、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１では、第１の実施形態と同様に、長期間（例えば１０年間）に亘って磁気テープＭＴ１を高温環境下で保存や走行した場合にも、磁気テープＭＴ１の走行テンションの調整により磁気テープＭＴ１の幅変化を補正することができる。また、磁気テープＭＴ１の幅が高温環境下で変化した場合にも、データライトヘッドのアジマス角θ調整することにより、幅変化に対応することができる。このように、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１によれば、高温環境下で起こりうる幅変化に対処可能であるため、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、高温環境下での保存および走行に適している。
＜３　第３の実施形態＞
［３．１　磁気テープの構成］
　図３２は、本技術の第３の実施形態に係る真空薄膜型の磁気テープＭＴ２の構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴ２は、基体１１１と、ＳＵＬ１１２と、シード層１３１と、第１の下地層１３２Ａと、第２の下地層１３２Ｂと、磁性層１１５とを備える。なお、第３の実施形態において第２の実施形態と同様の箇所には同一の符号を付して説明を省略する。
　ＳＵＬ１１２、シード層１３１、第１、第２の下地層１３２Ａ、１３２Ｂは、基体１１１の基体１１１の一方の主面と磁性層１１５との間に設けられ、基体１１１から磁性層１１５の方向に向かってＳＵＬ１１２、シード層１３１、第１の下地層１３２Ａ、第２の下地層１３２Ｂの順序で積層されている。
（シード層）
　シード層１３１は、Ｃｒ、ＮｉおよびＦｅを含み、面心立方格子（ｆｃｃ）構造を有し、この面心立方構造の（１１１）面が基体１１１の表面に平行になるように優先配向している。ここで、優先配向とは、Ｘ線回折法のθ－２θスキャンにおいて面心立方格子構造の（１１１）面からの回折ピーク強度が他の結晶面からの回折ピークより大きい状態、またはＸ線回折法のθ－２θスキャンにおいて面心立方格子構造の（１１１）面からの回折ピーク強度のみが観察される状態を意味する。
　シード層１３１のＸ線回折の強度比率は、ＳＮＲの向上の観点から、好ましくは６０ｃｐｓ／ｎｍ以上、より好ましくは７０ｃｐｓ／ｎｍ以上、さらにより好ましくは８０ｃｐｓ／ｎｍ以上である。ここで、シード層１３１のＸ線回折の強度比率は、シード層１３１のＸ線回折の強度Ｉ（ｃｐｓ）をシード層１３１の平均厚みＤ（ｎｍ）で除算して求められる値（Ｉ／Ｄ（ｃｐｓ／ｎｍ））である。
　シード層１３１に含まれるＣｒ、ＮｉおよびＦｅは、以下の式（７）で表される平均組成を有することが好ましい。
　ＣｒX（ＮｉYＦｅ100-Y）100-X　・・・（７）
（但し、式（７）中において、Ｘは１０≦Ｘ≦４５、Ｙは６０≦Ｙ≦９０の範囲内である。）
　Ｘが上記範囲内であると、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。同様にＹが上記範囲内であると、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
　シード層１３１の平均厚みは、５ｎｍ以上４０ｎｍ以下であることが好ましい。シード層１３１の平均厚みをこの範囲内にすることで、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向を向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。なお、シード層１３１の平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、シード層１３１の厚みに応じて適宜調整される。
（第１、第２の下地層）
　第１の下地層１３２Ａは、面心立方格子構造を有するＣｏおよびＯを含み、カラム（柱状結晶）構造を有している。ＣｏおよびＯを含む第１の下地層１３２Ａでは、Ｒｕを含む第２の下地層１３２Ｂとほぼ同様の効果（機能）が得られる。Ｃｏの平均原子濃度に対するＯの平均原子濃度の濃度比（（Ｏの平均原子濃度）／（Ｃｏの平均原子濃度））が１以上である。濃度比が１以上であると、第１の下地層１３２Ａを設ける効果が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
　カラム構造は、ＳＮＲ向上の観点から、傾斜していることが好ましい。その傾斜の方向は、長尺状の磁気テープＭＴ２の長手方向であることが好ましい。このように長手方向が好ましいのは、以下の理由による。本実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、いわゆるリニア記録用の磁気記録媒体であり、記録トラックは磁気テープＭＴ２の長手方向に平行となる。また、本実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、いわゆる垂直磁気記録媒体でもあり、記録特性の観点からすると、磁性層１１５の結晶配向軸が垂直方向であることが好ましいが、第１の下地層１３２Ａのカラム構造の傾きの影響で、磁性層１１５の結晶配向軸に傾きが生じる場合がある。リニア記録用である磁気テープＭＴ２においては、記録時のヘッド磁界との関係上、磁気テープＭＴ２の長手方向に磁性層１１５の結晶配向軸が傾いている構成が、磁気テープＭＴ２の幅方向に磁性層１１５の結晶配向軸が傾いている構成に比べて、結晶配向軸の傾きによる記録特性への影響を低減できる。磁気テープＭＴ２の長手方向に磁性層１１５の結晶配向軸を傾かせるためには、上記のように第１の下地層１３２Ａのカラム構造の傾斜方向を磁気テープＭＴ２の長手方向とすることが好ましい。
　カラム構造の傾斜角は、好ましくは０°より大きく６０°以下であることが好ましい。傾斜角が０°より大きく６０°以下の範囲では、第１の下地層１３２Ａに含まれるカラムの先端形状の変化が大きくほぼ三角山状になるため、グラニュラ構造の効果が高まり、低ノイズ化し、ＳＮＲが向上する傾向がある。一方、傾斜角が６０°を超えると、第１の下地層１３２Ａに含まれるカラムの先端形状の変化が小さくほぼ三角山状とはなりにくいため、低ノイズ効果が薄れる傾向がある。
　カラム構造の平均粒径は、３ｎｍ以上１３ｎｍ以下である。平均粒径が３ｎｍ未満であると、磁性層１１５に含まれるカラム構造の平均粒径が小さくなるため、現在の磁性材料では記録を保持する能力が低下する虞がある。一方、平均粒径が１３ｎｍ以下であると、ノイズを抑制し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
　第１の下地層１３２Ａの平均厚みは、１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下であることが好ましい。第１の下地層１３２Ａの平均厚みが１０ｎｍ以上であると、第１の下地層１３２Ａの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。一方、第１の下地層１３２Ａの平均厚みが１５０ｎｍ以下であると、カラムの粒径が大きくなることを抑制できる。したがって、ノイズを抑制し、より良好なＳＮＲを得ることができる。なお、第１の下地層１３２Ａの平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、第１の下地層１３２Ａの厚みに応じて適宜調整される。
　第２の下地層１３２Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第２の下地層１３２Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。磁性層１１５の配向性を高め、かつ、第２の下地層１３２Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方細密充填構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えば、Ｒｕ－ＳｉＯ2、Ｒｕ－ＴｉＯ2またはＲｕ－ＺｒＯ2等のＲｕ合金酸化物が挙げられる。
　第２の下地層１３２Ｂの平均厚みは、一般的な磁気記録媒体における下地層（例えばＲｕを含む下地層）よりも薄くてもよく、例えば、１ｎｍ以上５ｎｍ以下とすることが可能である。第２の下地層１３２Ｂの下に上記の構成を有するシード層１３１および第１の下地層１３２Ａを設けているので、第２の下地層１３２Ｂの平均厚みが上記のように薄くても良好なＳＮＲが得られる。なお、第２の下地層１３２Ｂの平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、第２の下地層１３２Ｂの厚みに応じて適宜調整される。
　第３の実施形態における磁気テープＭＴ２の平均厚みｔT、平均幅変化量ΔＡ、平均テンション応答性および基体１１１の平均貯蔵弾性率等は、第１の実施形態におけるものと同様である。
　第３の実施形態における磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドは、第１の実施形態におけるものと同様である。すなわち、第３の実施形態における磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドの詳細については、上記１．５において述べた説明が当てはまる。
［３．２　作用効果］
　上記１．６において述べた作用効果に関する説明が、第３の実施形態についても当てはまる。すなわち、第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２では、第１の実施形態と同様に、長期間（例えば１０年間）に亘って磁気テープＭＴ２を高温環境下で保存や走行した場合にも、磁気テープＭＴ２の走行テンションの調整により磁気テープＭＴ２の幅変化を補正することができる。また、磁気テープＭＴ２の幅が高温環境下で変化した場合にも、データライトヘッドのアジマス角θ調整することにより、幅変化に対応することができる。このように、第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２によれば、高温環境下で起こりうる幅変化に対処可能であるため、第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、高温環境下での保存および走行に適している。
　第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、基体１１１と第２の下地層１３２Ｂとの間にシード層１３１および第１の下地層１３２Ａを備えている。シード層１３１は、Ｃｒ、ＮｉおよびＦｅを含み、面心立方格子構造を有し、この面心立方構造の（１１１）面が基体１１１の表面に平行になるように優先配向している。第１の下地層１３２Ａは、ＣｏおよびＯを含み、Ｃｏの平均原子濃度に対するＯの平均原子濃度の比が１以上であり、平均粒径が３ｎｍ以上１３ｎｍ以下であるカラム構造を有する。これにより、第２の下地層１３２Ｂの厚さを薄くして高価な材料であるＲｕをできるだけ使用せずに、良好な結晶配向を有し、かつ高い抗磁力を有する磁性層１１５を実現できる。
　第２の下地層１３２Ｂに含まれるＲｕは、磁性層１１５の主成分であるＣｏと同じ六方稠密格子構造を有する。このため、Ｒｕには、磁性層１１５の結晶配向性向上とグラニュラ性促進とを両立させる効果がある。また、第２の下地層１３２Ｂに含まれるＲｕの結晶配向を更に向上させるために、第２の下地層１３２Ｂの下に第１の下地層１３２Ａおよびシード層１３１を設けている。第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２においては、Ｒｕを含む第２の下地層１３２Ｂとほぼ同様の効果（機能）を、面心立方格子構造を有する安価なＣｏＯを含む第１の下地層１３２Ａで実現している。このため、第２の下地層１３２Ｂの厚さを薄くできる。また、第１の下地層１３２Ａの結晶配向を高めるために、Ｃｒ、ＮｉおよびＦｅを含むシード層１３１を設けている。
＜４　変形例＞
（変形例１）
　上記の第１の実施形態では、磁気テープカートリッジが、１リールタイプのカートリッジ１０である場合について説明したが、２リールタイプのカートリッジであってもよい。
　図３３は、２リールタイプのカートリッジ３２１の構成の一例を示す分解斜視図である。カートリッジ３２１は、合成樹脂製の上ハーフ３０２と、上ハーフ３０２の上面に開口された窓部３０２ａに嵌合されて固着される透明な窓部材３２３と、上ハーフ３０２の内側に固着されリール３０６、３０７の浮き上がりを防止するリールホルダー３２２と、上ハーフ３０２に対応する下ハーフ３０５と、上ハーフ３０２と下ハーフ３０５を組み合わせてできる空間に収納されるリール３０６、３０７と、リール３０６、３０７に巻かれた磁気テープＭＴと、上ハーフ３０２と下ハーフ３０５を組み合わせてできるフロント側開口部を閉蓋するフロントリッド３０９およびこのフロント側開口部に露出した磁気テープＭＴを保護するバックリッド３０９Ａとを備える。
　リール３０６、３０７は、磁気テープＭＴを巻くためのものである。リール３０６は、磁気テープＭＴが巻かれる円筒状のハブ部３０６ａを中央部に有する下フランジ３０６ｂと、下フランジ３０６ｂとほぼ同じ大きさの上フランジ３０６ｃと、ハブ部３０６ａと上フランジ３０６ｃの間に挟み込まれたリールプレート３１１とを備える。リール３０７はリール３０６と同様の構成を有している。
　窓部材３２３には、リール３０６、３０７に対応した位置に、これらリールの浮き上がりを防止するリール保持手段であるリールホルダー３２２を組み付けるための取付孔３２３ａが各々設けられている。磁気テープＭＴは、第１の実施形態における磁気テープＭＴと同様である。
（変形例２）
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１が、基体１１１とＳＵＬ１１２との間に下地層をさらに備えるようにしてもよい。ＳＵＬ１１２はアモルファス状態を有するため、ＳＵＬ１１２上に形成される層のエピタキシャル成長を促す役割を担わないが、ＳＵＬ１１２の上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶配向を乱さないことが求められる。そのためには、軟磁性材料がカラムを形成しない微細な構造を有していることが好ましいが、基体１１１からの水分等のデガスの影響が大きい場合、軟磁性材料が粗大化し、ＳＵＬ１１２上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶配向を乱してしまう虞がある。基体１１１からの水分等のデガスの影響を抑制するためには、上記のように、基体１１１とＳＵＬ１１２との間に、ＴｉおよびＣｒを含む合金を含み、アモルファス状態を有する下地層を設けることが好ましい。この下地層の具体的な構成としては、第２の実施形態の第１のシード層１１３Ａと同様の構成を採用することができる。
　磁気テープＭＴ１が、第２のシード層１１３Ｂおよび第２の下地層１１４Ｂのうちの少なくとも１つの層を備えていなくてもよい。但し、ＳＮＲの向上の観点からすると、第２のシード層１１３Ｂおよび第２の下地層１１４Ｂの両方の層を備えることがより好ましい。
　磁気テープＭＴ１が、単層のＳＵＬに代えて、ＡＰＣ－ＳＵＬ（Antiparallel Coupled ＳＵＬ）を備えるようにしてもよい。
　以下、実施例により本技術を具体的に説明するが、本技術はこれらの実施例に限定されるものではない。
［実施例１］
（ＳＵＬの成膜工程）
　まず、以下の成膜条件にて、非磁性支持体としての長尺の高分子フィルムの一方の主面上に、平均厚み１０ｎｍのＣｏＺｒＮｂ層（ＳＵＬ）を成膜した。高分子フィルムとしては、平均厚みが３．８μｍであり、温度５０℃の環境下における長手方向の平均貯蔵弾性率が５．５ＧＰａであり、長手方向の平均ヤング率が６．３ＧＰａであるＰＥＮフィルムが用いられた。
　成膜方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：ＣｏＺｒＮｂターゲット
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：０．１Ｐａ
（第１のシード層の成膜工程）
　次に、以下の成膜条件にて、ＣｏＺｒＮｂ層上に平均厚み５ｎｍのＴｉＣｒ層（第１のシード層）を成膜した。
　スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：ＴｉＣｒターゲット
　到達真空度：５×１０-5Ｐａ
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：０．５Ｐａ
（第２のシード層の成膜工程）
　次に、以下の成膜条件にて、ＴｉＣｒ層上に平均厚み１０ｎｍのＮｉＷ層（第２のシード層）を成膜した。
　スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：ＮｉＷターゲット
　到達真空度：５×１０-5Ｐａ
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：０．５Ｐａ
（第１の下地層の成膜工程）
　次に、以下の成膜条件にて、ＮｉＷ層上に平均厚み１０ｎｍのＲｕ層（第１の下地層）を成膜した。
　スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：Ｒｕターゲット
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：０．５Ｐａ
（第２の下地層の成膜工程）
　次に、以下の成膜条件にて、Ｒｕ層上に平均厚み２０ｎｍのＲｕ層（第２の下地層）を成膜した。
　スパッタリング方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：Ｒｕターゲット
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：１．５Ｐａ
（磁性層の成膜工程）
　次に、以下の成膜条件にて、Ｒｕ層上に平均厚み９ｎｍの（ＣｏＣｒＰｔ）－（ＳｉＯ2）層（磁性層）を成膜した。
　成膜方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：（ＣｏＣｒＰｔ）－（ＳｉＯ2）ターゲット
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：１．５Ｐａ
（保護層の成膜工程）
　次に、以下の成膜条件にて、磁性層上に平均厚み５ｎｍのカーボン層（保護層）を成膜した。
　成膜方式：ＤＣマグネトロンスパッタリング方式
　ターゲット：カーボンターゲット
　ガス種：Ａｒ
　ガス圧：１．０Ｐａ
（潤滑層の成膜工程）
　次に、潤滑剤を保護層上に塗布し、潤滑層を成膜した。
（バック層の成膜工程）
　次に、高分子フィルムの他方の主面上に、バック層形成用塗料を塗布し乾燥することにより、平均厚みｔbが０．３μｍのバック層を形成した。これにより、平均厚みｔTが４．２μｍの磁気テープが得られた。
（裁断の工程）
　上記のようにして得られた磁気テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断した。
　これにより、目的とする長尺状の磁気テープ（平均厚み４．２μｍ）が得られた。
（消磁工程およびサーボパターンの書き込み工程）
　磁気テープの消磁を行ったのち、磁気テープにサーボパターンを書き込んだ。当該サーボパターンは、磁気テープの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含んでいた。また、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターンは位相差を有していた。
　実施例１では、磁性層としてスパッタ膜を用い、高分子フィルムとしてＰＥＮフィルムを用い、ＰＥＮフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
［実施例２］
　高分子フィルムとして、平均厚みが３．８μｍであり、温度５０℃における長手方向の平均貯蔵弾性率が３．９ＧＰａであり、長手方向の平均ヤング率が４．６ＧＰａである強化ＰＥＴフィルムを用いた。ここで、強化ＰＥＴフィルムとは、ＰＥＴフィルムにポリアミドが添加されることにより強化されたものを意味する。
　磁性層としてスパッタ膜を用い、高分子フィルムとして強化ＰＥＴフィルムを用い、強化ＰＥＴフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定した。
　上記以外のことは実施例１と同様にして平均厚み４．２μｍの磁気テープを得た。
［実施例３］
（磁性層形成用塗料の調製工程）
　磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第１組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第１組成物と、下記配合の第２組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにサンドミル混合を行い、フィルター処理を行い、磁性層形成用塗料を調製した。
（第１組成物）
バリウムフェライト（ＢａＦｅ12Ｏ19）磁性粉（六角板状、平均アスペクト比３．０、平均粒子体積１６００ｎｍ3）：１００質量部
塩化ビニル系樹脂（シクロヘキサノン溶液３０質量％）：３５質量部
（塩化ビニル系樹脂：重合度３００、数平均分子量Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ3Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：１０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）酸化アルミニウム粉末：６質量部（α－Ａｌ2Ｏ3、平均粒径０．１μｍ）
（第２組成物）
カーボンブラック：２．０質量部（東海カーボン社製、商品名：シーストＳ、算術平均粒子径７０ｎｍ）
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：５．０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）ｎ－ブチルステアレート：２質量部
メチルエチルケトン：１２１．０質量部
トルエン：１２１．０質量部
シクロヘキサノン：１１６．０質量部
　上記のようにして調製した磁性層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：３．３質量部と、ステアリン酸：２質量部とを添加した。
（下地層形成用塗料の調製工程）
　下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第３組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第３組成物と、下記配合の第４組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
（第３組成物）
針状酸化鉄粉末：１００質量部
（α－Ｆｅ2Ｏ3、平均長軸長０．１１μｍ）
塩化ビニル系樹脂（シクロヘキサノン溶液３０質量％）：４６質量部
（塩化ビニル系樹脂：重合度３００、数平均分子量Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ3Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
酸化アルミニウム粉末：３質量部（α－Ａｌ2Ｏ3、平均粒径０．１μｍ）
（第４組成物）
カーボンブラック：３０質量部（旭カーボン社製、商品名：＃８０)
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：４０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝７０℃）ｎ－ブチルステアレート：２質量部
メチルエチルケトン：１０８．２質量部
トルエン：１０８．２質量部
シクロヘキサノン：１００．０質量部
　上記のようにして調製した下地層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：１．５質量部と、ステアリン酸：１．５質量部とを添加した。
（バック層形成用塗料の調製工程）
　バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。カーボンブラック（旭カーボン株式会社製、商品名：＃８０）：１００質量部
ポリエステルポリウレタン：１００質量部
（日本ポリウレタン社製、商品名：Ｎ－２３０４）
メチルエチルケトン：５００質量部
トルエン：４００質量部
シクロヘキサノン：１００質量部
（成膜工程）
　上記のようにして作製した塗料を用いて、非磁性支持体としての長尺の高分子フィルムの一方の主面上に下地層および磁性層を以下のようにして形成した。
　まず、基材上に下地層形成用塗料を塗布し乾燥させることにより、下地層を形成した。この際、塗布条件は、カレンダー処理後の下地層の平均厚みが０．８μｍとなるように調整された。高分子フィルムとしては、平均厚みが４．０μｍのＰＥＮを用いた。
　次に、下地層上に、磁性層形成用塗料を塗布し、乾燥させることにより、下地層上に磁性層を形成した。この際、塗布条件は、カレンダー処理後の磁性層の平均厚みが０．０８μｍとなるように調整された。磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ネオジム磁石により、磁性粉が高分子フィルムの厚み方向に磁場配向された。磁性層形成用塗料の乾燥条件（乾燥温度および乾燥時間）が調整され、長手方向における角形比が３３％に設定された。
　続いて、下地層および磁性層が形成されたＰＥＮフィルムの他方の主面上にバック層形成用塗料を塗布し乾燥させることにより、バック層を形成した。この際、塗布条件は、カレンダー処理後のバック層の平均厚みが０．３２μｍとなるように調整された。以上により、磁気テープが得られた。
（硬化工程）
　次に、磁気テープをロール状に巻き取ったのち、この状態で磁気テープに加熱処理を行うことにより、下地層および磁性層を硬化させた。
（カレンダー工程）
　次に、得られた磁気テープＭＴにカレンダー処理を行い、磁性層の表面を平滑化した。
（裁断の工程）
　上記のようにして得られた磁気テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断した。これにより、目的とする長尺状の磁気テープ（平均厚み５．２μｍ）が得られた。
（消磁工程およびサーボパターンの書き込み工程）
　磁気テープの消磁を行ったのち、磁気テープにサーボパターンを書き込んだ。当該サーボパターンは、磁気テープの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含んでいた。また、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターンは位相差を有していた。
　実施例３では、磁性層として塗布膜を用い、高分子フィルムとしてＰＥＮフィルムを用い、ＰＥＮフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
［実施例４］
　ＰＥＮフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整し、さらにカレンダー工程後にひずみ緩和処理（６０℃環境にて４８時間保持）を行った。これにより平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
　上記以外のことは実施例３と同様にして平均厚み５．２μｍの磁気テープを得た。
［比較例１］
　高分子フィルムとして、平均厚みが４．８μｍであり、温度５０℃の環境下における長手方向の平均貯蔵弾性率が３．９ＧＰａであり、長手方向の平均ヤング率が４．７ＧＰａであるＰＥＴフィルムを用いた。
　磁性層としてスパッタ膜を用い、高分子フィルムとしてＰＥＴフィルムを用い、ＰＥＴフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
　上記以外のことは実施例１と同様にして平均厚み５．２μｍの磁気テープを得た。
［比較例２］
　ＰＥＮフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
　上記以外のことは実施例３と同様にして平均厚み５．２μｍの磁気テープを得た。
［比較例３］
　高分子フィルムとして、平均厚みが４．６μｍの強化ＰＥＴフィルムを用いた。
　強化ＰＥＴフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
　上記以外のことは実施例３と同様にして平均厚み５．６μｍの磁気テープを得た。
［比較例４］
　高分子フィルムとして、平均厚みが４．０μｍの強化ＰＥＴフィルムを用いた。
　強化ＰＥＴフィルムの幅方向および長手方向の延伸強度を調整することにより、平均幅変化量ΔＡおよび平均テンション応答性ΔＷが表１に示す値に設定された。
　上記以外のことは実施例３と同様にして平均厚み５．２μｍの磁気テープを得た。
　実施例１～４および比較例１～４の各磁気記録テープについて、評価を行った。具体的には、当該各磁気記録テープについて、平均幅変化量ΔＡ、平均テンション応答性ΔＷ、磁気テープの平均厚み、基体の平均厚み、磁気テープの長手方向における磁性層の角形比Ｓ２、及び磁気テープの長手方向の平均ヤング率を測定した。これらは、上記１．３において説明した測定方法により求められたものである。これらの測定結果は表１に記載されている。また、図３４は、実施例１に係る磁気テープの幅変化量の測定結果を示すグラフである。
　実施例１～４および比較例１～４の各磁気記録テープについて、１０年を想定した幅変化量、１０年を想定した幅変化を調整するために必要なテンション、及び傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度を算出した。これらの算出方法について以下で説明する。
（１０年を想定した幅変化量の算出方法）
　上記１．３において説明した平均幅変化量ΔＡの測定方法に従って、磁気テープから取得した３つのサンプルについて、幅の測定開始から１時間後の幅変化量と４０時間後の幅変化量を測定した。３つのサンプルの１時間後の幅変化量を算術平均し、測定開始から１時間後の平均幅変化量を得た。また、３つのサンプルの４０時間後の幅変化量を算術平均し、測定開始から４０時間後の平均幅変化量を得た。時間軸Ｘを対数として、測定開始から１時間後の平均幅変化量（これを初期値０とする）と、４０時間後の平均幅変化量から外挿して、１０年後の幅変化を想定した。図３５は、各実施例および比較例における１０年を想定した幅変化量を示すグラフである。
（１０年を想定した幅変化を調整するために必要なテンションの算出方法）
　ＬＴＯ７　Ｄｒｉｖｅの測定環境は３２℃５５％で固定する。
　カートリッジの保存は、０．５５Ｎのテンションでカートリッジに巻き込んだ状態で実施する。なお、測定開始は、各環境下で１時間後から測定している。
　測定回数は１回／日で実施し、１４日間測定する。
　測定バンドは通常のＣｒｅｅｐ評価ではＤＢ０部を測定している。
　１０年後の想定
　保存時間とクリープ変化量から、測定開始時の点と、１４日後（３３６時間）の点から近似式にてＣｒｅｅｐ　ｒａｔｅを算出している。
　このＣｒｅｅｐ　ｒａｔｅから、１０年後（８７６００ｈｒｓ）を算出している。
　１０年後のクリープ変化量／張力応答性＝１０年を想定した幅変化を調整するために必要なテンションとなる。
（バンド幅の測定方法）
　バンド幅の測定は下記のようにして行われる。
　テープドライブ装置を用いたサーボバンドピッチの測定方法は、テープドライブ装置によって磁気テープを走行させ、２つのサーボリードヘッドの各サーボバンド上でのサーボトレースラインＴをそれぞれ測定し、測定した各サーボトレースラインＴのサーボパターンに対する相対位置からサーボバンドピッチを測定する。サーボトレースラインＴの間隔は、磁気テープの幅が変化していないときのサーボバンドピッチ（ドライブヘッドの２つのサーボリードヘッドの配置間隔）を示している。
　なお、本実施例に関する説明において、テープドライブ装置は、例えば図１１に示すデータ記録装置５０に相当し、ドライブヘッドは、例えば図１２に示すデータライトヘッド６０に相当し、サーボリードヘッドは、例えば図１２に示すサーボリード部６２に相当する。
　ここで、図３６を参照しながらサーボバンドＳＢについて説明する。ＬＴＯ規格では、サーボバンドＳＢには、図３６に示すように、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜した複数のサーボストライプ（線状の磁化領域）１０３からなるサーボパターンが形成されている。
　サーボバンドＳＢは、複数のサーボフレーム１００を含んでいる。各サーボフレーム１００は、１８本のサーボストライプ１０３から構成されている。具体的には、各サーボフレーム１００は、サーボサブフレーム１（１０１）およびサーボサブフレーム２（１０２）から構成される。
　サーボサブフレーム１（１０１）は、Ａバースト１０１ＡおよびＢバースト１０１Ｂから構成される。Ｂバースト１０１Ｂは、Ａバースト１０１Ａに隣接して配置されている。Ａバースト１０１Ａは、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１０３を備えている。図３５中では、これらの５本のサーボストライプ１０３に磁気テープＭＴのＥＯＴ（End Of Tape）からＢＯＴ（Beginning Of Tape）に向って符号Ａ1、Ａ2、Ａ3、Ａ4、Ａ5を付して示している。Ｂバースト１０１Ｂは、Ａバースト１０１Ａと同様に、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１０３を備えている。図３５中では、これらの５本のサーボストライプ１０３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｂ1、Ｂ2、Ｂ3、Ｂ4、Ｂ5を付して示している。Ｂバースト１０１Ｂのサーボストライプ１０３は、Ａバースト１０１Ａのサーボストライプ１０３とは逆向きに傾斜している。
　サーボサブフレーム２（１０２）は、Ｃバースト１０２ＣおよびＤバースト１０２Ｄから構成される。Ｄバースト１０２Ｄは、Ｃバースト１０２Ｃに隣接して配置されている。Ｃバースト１０２Ｃは、テープ幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１０３を備えている。図３５中では、これらの４本のサーボストライプ１０３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｃ1、Ｃ2、Ｃ3、Ｃ4を付して示している。Ｄバースト１０２Ｄは、Ｃバースト１０２Ｃと同様に、テープ幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１０３を備えている。図３５中では、これらの４本のサーボストライプ１０３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3、Ｄ4を付して示している。Ｄバースト１０２Ｄのサーボストライプ１０３は、Ｃバースト１０２Ｃのサーボストライプ１０３とは逆向きに傾斜している。
　テープドライブ装置は、サーボパターンに対するサーボトレースラインＴの位置に応じた波形のサーボ再生信号を出力する。典型的には、互いに同種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバーストおよびＣバースト間の距離ＡＣと、互いに異種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバーストおよびＢバースト間の距離ＡＢとを算出し、下記式で各サーボリードヘッド１３２のサーボトレースラインＴの位置を測定する。なお、θは、図３６における角度φに相当する上記各傾斜パターンのアジマス角であり、本例では、１２°とする。
　ここで、距離ＡＣは、ＡバーストおよびＣバーストの第１傾斜部同士の間の距離Ａ1－Ｃ1でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離Ａ2－Ｃ2でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離Ａ3－Ｃ3でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離Ａ4－Ｃ4でもよい。これらの距離ＡＣ（ＡＣ1～ＡＣ4）は、サーボ再生波形における振幅の正の最大値を示す位置（上ピーク位置）間の距離をいう。
　距離ＡＢについても同様に、ＡバーストおよびＢバーストの第１傾斜部同士の間の距離Ａ1－Ｂ1でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離Ａ2－Ｂ2でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離Ａ3－Ｂ3でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離Ａ4－Ｂ4でもよい。典型的には、距離Ａ1－Ｃ1が採用される場合は距離Ａ1－Ｂ1が採用され、距離Ａ2－Ｃ2が採用される場合は距離Ａ2－Ｂ2が採用され、距離Ａ3－Ｃ3が採用される場合は距離Ａ3－Ｂ3が採用され、距離Ａ4－Ｃ4が採用される場合は距離Ａ4－Ｂ4が採用される。
　そして、上記式を用いて算出された、距離ＡＢおよび距離ＡＣの割合から求められるサーボパターン上の各サーボトレースラインＴの位置を表す数値の差分から、サーボバンドピッチを求める。ここでは、測定する２つのサーボバンドのうち、テープエッジ側のサーボバンド（例えば、図１０に示すサーボバンドｓ３）の測定値からの、テープ中央側のサーボバンド（例えば、図１０に示すサーボバンドｓ２）の測定値の差分をとる。その値の正負は、テープ幅の変化の方向を意味し、正の場合はサーボバンドピッチが狭まったことに相当し、負の場合はサーボバンドピッチが広がったことに相当する。上記差分がゼロの場合は、テープ幅の変動が無いことを意味する。
　サーボバンドピッチは、多数のサーボフレームの差分から求めることが好ましく、例えば、１００～１０００００個のサーボフレームの差分から計算される測定値の平均値であってもよい。測定時におけるテープテンションは０．５５Ｎとし、磁気テープＭＴの全長にわたって一定のテンションで測定を行う。
（傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度の算出方法）
　図３７は、傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度の算出方法を説明するための模式図である。当該移動角度は、１０年を想定した幅変化に対処するために必要なドライブヘッドの移動角度である。
　図３７の左側には、初期（幅変化前）の磁気テープにおける、ドライブヘッドの２つのサーボリードヘッドの間隔（ｈ）、サーボバンドピッチ（ＳＰ）、及びドライブヘッドの傾斜角度（１０°）が示されている。図３７の左側の場合において、Ｃｏｓ１０°＝ＳＰ／ｈである。
　図３７の右側には、サーボバンドピッチが狭くなった後（幅変化後）の磁気テープにおける、サーボバンドピッチ（ＳＰ－ΔＳＰ）、ドライブヘッドの移動角度（α）、及びドライブヘッドの移動後の傾斜角度（１０°＋α）が示されている。図３７の右側の場合において、Ｃｏｓ（１０°＋α）＝（ＳＰ－ΔＳＰ）／ｈである。この式から、ドライブヘッドの移動角度（α）は次のとおり算出される。
　１０°＋α＝Ｃｏｓ-1［（ＳＰ－ΔＳＰ）／ｈ］
　α＝Ｃｏｓ-1［（ＳＰ－ΔＳＰ）／ｈ］－１０°
　これらの算出結果は表１に記載されている。
　表１に示されるとおり、実施例１～４は、平均幅変化量ΔＡの絶対値が１７０ｐｐｍ以下であり且つ平均テンション応答性ΔＷが７００ｐｐｍ／Ｎ以上の条件を満たす磁気テープである。比較例１～４は当該条件を満たさない磁気テープである。
　テープドライブ装置において、絶対値が０．７５Ｎを超えるテンションの調整は実際上困難であると考えられる。比較例１～４の場合、１０年を想定した幅変化を調整するために必要なテンションの絶対値は、０．７５Ｎを超えている。そのため、比較例１～４の磁気テープの場合、１０年後に想定される幅変化をテンションの調整により補正することは困難であると考えられる。一方、実施例１～４の場合、１０年を想定した幅変化を調整するために必要なテンションの絶対値は、０．５６Ｎ以下である。そのため、実施例１～４の磁気テープの場合、１０年後に想定される幅変化をテンションの調整により補正可能と考えられる。
　これらの結果から、平均幅変化量ΔＡの絶対値を１７０ｐｐｍ以下とし、平均テンション応答性ΔＷが７００ｐｐｍ／Ｎ以上とすることにより、長期間（例えば１０年間）に亘って磁気テープを高温環境下で保存または走行した場合にも、テンションの調整により磁気テープの幅変化を補正できると考えられる。
　１０年を想定した幅変化量が－５００ｐｐｍを超えると（幅が５００ｐｐｍを超えて狭まると）、幅変化をもたらすクリープ変形以外の要因（例えば温湿度変化など）をすべて考慮した場合に、ドライブヘッドの移動角度が過度に大きくなる虞がある。すなわち、クリープ変形とそれ以外（例えば温湿度変化など）とに起因する１０年後の幅変化に対して、ドライブヘッドの角度調整により対応しようとすると、ドライブヘッドの移動角度が大きくなり過ぎる虞がある。移動角度が大きくなり過ぎると、ドライブヘッドの追従性が悪化して、磁気テープの幅変化に十分に対応できない可能性がある。
　実施例１～４の磁気テープの場合、１０年を想定した幅変化量が－５００ｐｐｍを超えないため、１０年後に想定される幅変化に対して、ドライブヘッドの角度調整により対応することができると考えられる。したがって、本技術の磁気テープは、長期間（例えば１０年間）に亘って磁気テープを高温環境下で保存または走行した場合にも、ドライブヘッドの角度調整により磁気テープの幅変化に対応できると考えられる。
　以上、本技術の実施形態および変形例について具体的に説明したが、本技術は、上記の実施形態および変形例に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。例えば、上記の実施形態および変形例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値等はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値等を用いてもよい。上記の実施形態および変形例の構成、方法、工程、形状、材料および数値等は、本技術の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
　上記の実施形態および変形例にて例示した化合物等の化学式は代表的なものであって、同じ化合物の一般名称であれば、記載された価数等に限定されない。上記の実施形態および変形例で段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値または下限値は、他の段階の数値範囲の上限値または下限値に置き換えてもよい。上記の実施形態および変形例で例示した材料は、特に断らない限り、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いることができる。
　また、本技術は以下の構成を採用することもできる。
（１）
　テープ状の磁気記録媒体であって、
　前記磁気記録媒体の幅１／２インチ当たり０．５５Ｎのテンションが長手方向に加えられた状態で温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下に４０時間静置される前後の前記磁気記録媒体の平均幅変化量の絶対値が１７０ｐｐｍ以下であり、且つ、温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下における、長手方向のテンションに対する平均テンション応答性が７００ｐｐｍ／Ｎ以上であり、
　前記磁気記録媒体の幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含むサーボパターンがそれぞれ書き込まれた複数のサーボバンドを有し、
　互いに隣接するサーボバンドにおける前記サーボパターンは、位相差を有する、
　磁気記録媒体。
（２）
　前記平均テンション応答性は、７１５ｐｐｍ／Ｎ以上１５０００ｐｐｍ／Ｎ以下である、（１）に記載の磁気記録媒体。
（３）
　前記平均幅変化量の絶対値は、１５０ｐｐｍ以下である、（１）または（２）に記載の磁気記録媒体。
（４）
　基体と、下地層と、磁性層とを順次備え、
　前記基体は、ポリエステル類を含む、（１）から（３）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（５）
　前記ポリエステル類は、ポリエチレンテレフタレートおよびポリエチレンナフタレートからなる群より選ばれた少なくとも１種を含む、（４）に記載の磁気記録媒体。
（６）
　前記磁性層は、真空薄膜である、（４）または（５）に記載の磁気記録媒体。
（７）
　前記磁性層は、塗布膜である、（４）または（５）に記載の磁気記録媒体。
（８）
　前記磁性層は、磁性粉を含み、
　前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、六方晶フェライト磁性粉またはＣｏ含有スピネルフェライト磁性粉を含む、（４）から（７）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（９）
　前記磁気記録媒体の平均厚みは、５．３μｍ以下である、（１）から（８）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（１０）
　前記磁気記録媒体の長手方向における前記磁性層の角形比は、３５％以下である、（４）から（８）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（１１）
　前記磁性層は、５以上のサーボバンドを有する、（４）から（８）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（１２）
　前記サーボバンドの幅は、９８μｍ以下である、（１１）に記載の磁気記録媒体。
（１３）
　前記磁性層は、複数のデータトラックを形成可能に構成され、
　前記データトラックの幅は、１１００ｎｍ以下である、（４）から（８）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（１４）
　前記第１のサーボパターンは、前記磁気記録媒体の幅方向に対して第１の角度で傾斜し、
　前記第２のサーボパターンは、前記磁気記録媒体の幅方向に対して、前記第１の角度とは逆向きに、前記第１の角度とは異なる第２の角度で傾斜する、（１）から（１３）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（１５）
　前記第１のサーボパターンおよび前記第２のサーボパターンは、それぞれ長手方向を有し、
　前記第１のサーボパターンの長手方向における長さと、前記第２のサーボパターンの長手方向における長さとは異なる、（１）から（１４）のいずれかに記載の磁気記録媒体。
（１６）
　前記第１のサーボパターンの長さにおける前記磁気記録媒体の幅方向の成分と、前記第２のサーボパターンの長さにおける前記磁気記録媒体の幅方向の成分とは同じである、（１５）に記載の磁気記録媒体。
（１７）
　前記磁気記録媒体の幅方向に対してその長手方向が第１のヘッドアジマス角傾斜するように配置されるデータライトヘッドを含むデータ記録装置に用いられる、（１４）に記載の磁気記録媒体。
（１８）
　前記第１のヘッドアジマス角は、基準角を基準とした所定の範囲内において調整される、（１７）に記載の磁気記録媒体。
（１９）
　前記位相差は、前記基準角と関連する、（１８）に記載の磁気記録媒体。
（２０）
　（１）から（１９）のいずれかに記載の磁気記録媒体と、
　前記磁気記録媒体の長手方向にかかるテンションを調整するための調整情報を書き込み可能に構成された記憶部と、
　を備えるカートリッジ。
１０　カートリッジ
１１　カートリッジメモリ
３１　アンテナコイル
３２　整流・電源回路
３３　クロック回路
３４　検波・変調回路
３５　コントローラ
３６　メモリ
３６Ａ　第１の記憶領域
３６Ｂ　第２の記憶領域
４１　基体
４２　下地層
４３　磁性層
４４　バック層
４７　サーボパターン
４７ａ　第１のサーボパターン
４７ｂ　第２のサーボパターン
６０　データライトヘッド
８０　サーボライトヘッド
８２　サーボ素子
８２ａ　第１のサーボ素子
８２ｂ　第２のサーボ素子
５０　データ記録再生装置
７０　サーボ記録再生装置
１００　サーボフレーム
１０１　サーボサブフレーム１
１０１Ａ　Ａバースト
１０１Ｂ　Ｂバースト
１０２　サーボサブフレーム２
１０２Ｃ　Ｃバースト
１０２Ｄ　Ｄバースト
１０３　サーボストライプ
ＭＴ　磁気テープ
ＳＢ　サーボバンド
ＤＢ　データバインド

Claims (20)

  1. 　テープ状の磁気記録媒体であって、
    　前記磁気記録媒体の幅１／２インチ当たり０．５５Ｎのテンションが長手方向に加えられた状態で温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下に４０時間静置される前後の前記磁気記録媒体の平均幅変化量の絶対値が１７０ｐｐｍ以下であり、且つ、温度５０℃、相対湿度４０％ＲＨの環境下における、長手方向のテンションに対する平均テンション応答性が７００ｐｐｍ／Ｎ以上であり、
    　前記磁気記録媒体の幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含むサーボパターンがそれぞれ書き込まれた複数のサーボバンドを有し、
    　互いに隣接するサーボバンドにおける前記サーボパターンは、位相差を有する、
    　磁気記録媒体。
  2. 　前記平均テンション応答性は、７１５ｐｐｍ／Ｎ以上１５０００ｐｐｍ／Ｎ以下である、請求項１に記載の磁気記録媒体。
  3. 　前記平均幅変化量の絶対値は、１５０ｐｐｍ以下である、請求項１に記載の磁気記録媒体。
  4. 　基体と、下地層と、磁性層とを順次備え、
    　前記基体は、ポリエステル類を含む、請求項１に記載の磁気記録媒体。
  5. 　前記ポリエステル類は、ポリエチレンテレフタレートおよびポリエチレンナフタレートからなる群より選ばれた少なくとも１種を含む、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  6. 　前記磁性層は、真空薄膜である、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  7. 　前記磁性層は、塗布膜である、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  8. 　前記磁性層は、磁性粉を含み、
    　前記磁性粉は、ε酸化鉄磁性粉、六方晶フェライト磁性粉またはＣｏ含有スピネルフェライト磁性粉を含む、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  9. 　前記磁気記録媒体の平均厚みは、５．３μｍ以下である、請求項１に記載の磁気記録媒体。
  10. 　前記磁気記録媒体の長手方向における前記磁性層の角形比は、３５％以下である、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  11. 　前記磁性層は、５以上のサーボバンドを有する、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  12. 　前記サーボバンドの幅は、９８μｍ以下である、請求項１１に記載の磁気記録媒体。
  13. 　前記磁性層は、複数のデータトラックを形成可能に構成され、
    　前記データトラックの幅は、１１００ｎｍ以下である、請求項４に記載の磁気記録媒体。
  14. 　前記第１のサーボパターンは、前記磁気記録媒体の幅方向に対して第１の角度で傾斜し、
    　前記第２のサーボパターンは、前記磁気記録媒体の幅方向に対して、前記第１の角度とは逆向きに、前記第１の角度とは異なる第２の角度で傾斜する、請求項１に記載の磁気記録媒体。
  15. 　前記第１のサーボパターンおよび前記第２のサーボパターンは、それぞれ長手方向を有し、
    　前記第１のサーボパターンの長手方向における長さと、前記第２のサーボパターンの長手方向における長さとは異なる、請求項１に記載の磁気記録媒体。
  16. 　前記第１のサーボパターンの長さにおける前記磁気記録媒体の幅方向の成分と、前記第２のサーボパターンの長さにおける前記磁気記録媒体の幅方向の成分とは同じである、請求項１５に記載の磁気記録媒体。
  17. 　前記磁気記録媒体の幅方向に対してその長手方向が第１のヘッドアジマス角傾斜するように配置されるデータライトヘッドを含むデータ記録装置に用いられる、請求項１４に記載の磁気記録媒体。
  18. 　前記第１のヘッドアジマス角は、基準角を基準とした所定の範囲内において調整される、請求項１７に記載の磁気記録媒体。
  19. 　前記位相差は、前記基準角と関連する、請求項１８に記載の磁気記録媒体。
  20. 　請求項１に記載の磁気記録媒体と、
    　前記磁気記録媒体の長手方向にかかるテンションを調整するための調整情報を書き込み可能に構成された記憶部と、
    　を備えるカートリッジ。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013065381A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Fujifilm Corp 磁気記録媒体およびその製造方法
WO2020090124A1 (ja) * 2018-10-29 2020-05-07 ソニー株式会社 サーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、テープ状磁気記録媒体の製造方法及びテープ状磁気記録媒体
JP2020164795A (ja) * 2019-03-28 2020-10-08 東レ株式会社 寸法安定性に優れるポリエステルフィルムおよび塗布型磁気記録テープ
JP2021034114A (ja) * 2019-08-16 2021-03-01 ソニー株式会社 磁気記録媒体、テープカートリッジ、及びデータ処理方法
JP6885495B2 (ja) * 2020-06-17 2021-06-16 ソニーグループ株式会社 磁気記録媒体

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013065381A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Fujifilm Corp 磁気記録媒体およびその製造方法
WO2020090124A1 (ja) * 2018-10-29 2020-05-07 ソニー株式会社 サーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、テープ状磁気記録媒体の製造方法及びテープ状磁気記録媒体
JP2020164795A (ja) * 2019-03-28 2020-10-08 東レ株式会社 寸法安定性に優れるポリエステルフィルムおよび塗布型磁気記録テープ
JP2021034114A (ja) * 2019-08-16 2021-03-01 ソニー株式会社 磁気記録媒体、テープカートリッジ、及びデータ処理方法
JP6885495B2 (ja) * 2020-06-17 2021-06-16 ソニーグループ株式会社 磁気記録媒体

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