WO2024090258A1 - 磁気記録カートリッジ - Google Patents

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WO2024090258A1
WO2024090258A1 PCT/JP2023/037333 JP2023037333W WO2024090258A1 WO 2024090258 A1 WO2024090258 A1 WO 2024090258A1 JP 2023037333 W JP2023037333 W JP 2023037333W WO 2024090258 A1 WO2024090258 A1 WO 2024090258A1
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WO
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servo
magnetic
magnetic tape
magnetic recording
write head
Prior art date
Application number
PCT/JP2023/037333
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English (en)
French (fr)
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実 山鹿
貴広 高山
昇 関口
太 佐々木
Original Assignee
ソニーグループ株式会社
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Publication date
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    • G11B23/02—Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
    • G11B23/037—Single reels or spools
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
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    • G11B5/78—Tape carriers
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers

Definitions

  • This technology relates to magnetic recording cartridges.
  • tape-type magnetic recording media With high total capacity are being incorporated into cloud systems.
  • Current tape-type magnetic recording media have a narrower environmental temperature range for actual operation and storage than HDDs (Hard Disk Drives) and semiconductor memory, so there is a demand for expanding the environmental temperature range for actual operation and storage of tape-type magnetic recording media. It is believed that if tape-type magnetic recording media could be used in the same temperature environment as HDDs and semiconductor memory, the range of uses for tape-type magnetic recording media would be greatly expanded.
  • Patent Document 1 proposes a tape-type magnetic recording medium that can correct width changes by adjusting the longitudinal tension of the tape-type magnetic recording medium using a recording and playback device, even if the width dimension of the tape-type magnetic recording medium changes due to environmental changes. Furthermore, in order to deal with width changes in tape-type magnetic recording media, Patent Document 2 proposes positioning the data write head at an angle relative to the width direction of the tape-type magnetic recording medium.
  • the aim of this technology is to provide a magnetic recording cartridge that is suitable for storage and transportation in high-temperature environments.
  • This technology is A cartridge case; Reel and a magnetic recording medium wound around the reel and housed within the cartridge case; When the magnetic recording medium was stored wound on the reel at 65° C. for 360 hours, the amount of change in width of the magnetic recording medium was measured over the entire length.
  • the sign of the width change amount ⁇ out on the outer side of the magnetic recording medium is different from the sign of the width change amount ⁇ in on the inner side of the magnetic recording medium, and
  • the amount of change in width is 0 ppm at any one of two regions on either side of a center line of the entire length of the magnetic recording medium when the entire length of the magnetic recording medium is divided into four equal regions, and
  • the magnetic recording medium includes a magnetic layer, the magnetic layer has an uneven surface; a height range ⁇ H calculated from statistical information on the height of the uneven shape is 3.00 nm ⁇ H ⁇ 6.00 nm; a gradient range ⁇ A calculated from statistical information on the gradient of the uneven shape is 3.80 degrees ⁇ A ⁇ 9.00 degrees,
  • the magnetic recording medium has a base layer having a loss modulus of 0.40 GPa or less at 65° C.
  • a magnetic recording cartridge is provided.
  • the amount of width change ⁇ in of the magnetic recording medium may be a positive value, and the amount of width change ⁇ out of the magnetic recording medium may be a negative value.
  • the width change ⁇ of the magnetic recording medium after storage at 65° C. for 360 hours can be 0 ppm at a position 25% to 75% from the outer end of the magnetic recording medium.
  • the magnetic recording medium may have a width change amount ⁇ in of the magnetic recording medium minus (width change amount ⁇ out of the magnetic recording medium) of 800 ppm or less.
  • the base layer may have a storage modulus at 65° C. of 8.0 GPa or less.
  • the base layer may be formed from PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene naphthalate), or PEEK (polyether ether ketone).
  • the average thickness tT of the magnetic recording medium may be 5.4 ⁇ m or less.
  • the base layer may have an average thickness tB of 4.6 ⁇ m or less.
  • the magnetic layer may include magnetic powder.
  • the magnetic layer includes magnetic particles, first particles having electrical conductivity, and second particles having an abrasive effect
  • the uneven shape includes first protrusions formed by the first particles and second protrusions formed by the second particles
  • a ratio H1/H2 of an average height H1 of the first protrusions to an average height H2 of the second protrusions may be H1/H2 ⁇ 2.3.
  • the ratio H1/H2 may be 1.0 ⁇ H1/H2 ⁇ 1.7 or less.
  • the height range ⁇ H may be 3.00 nm ⁇ H ⁇ 4.00 nm.
  • the average height H1 of the first protrusions may be 5.0 nm or more and 12.0 nm or less, and the average height H2 of the second protrusions may be 2.0 nm or more and 7.0 nm or less.
  • the first particles may be carbon particles.
  • the second particles may be alumina particles.
  • the average thickness of the magnetic layer can be 80 nm or less.
  • the magnetic recording medium may further have an underlayer having an average thickness of 0.9 ⁇ m or less.
  • the magnetic particles may have an average particle volume of 1600 nm3 or less.
  • the magnetic layer includes magnetic particles, carbon particles, and an abrasive, the uneven shape includes first protrusions formed by the carbon particles and second protrusions formed by the abrasive, and a ratio H1/H2 of an average height H1 of the first protrusions to an average height H2 of the second protrusions may be H1/H2 ⁇ 2.3.
  • This technology is A magnetic recording medium wound on a reel of a magnetic recording cartridge and accommodated in a cartridge case of the magnetic recording cartridge, When the magnetic recording medium was stored wound on the reel at 65° C.
  • the magnetic recording medium includes a magnetic layer, the magnetic layer has an uneven surface; a height range ⁇ H calculated from statistical information on the height of the uneven shape is 3.00 nm ⁇ H ⁇ 6.00 nm; a gradient range ⁇ A calculated from statistical information on the gradient of the uneven shape is 3.80 degrees ⁇ A ⁇ 9.00 degrees,
  • the magnetic recording medium has a base layer having a loss modulus of 0.40 GPa or less at 65° C. A magnetic recording medium is provided.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of the configuration of a magnetic recording cartridge according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of a configuration of a cartridge memory.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape.
  • FIG. 2 is a perspective view showing an example of a particle shape.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a TEM photograph of a magnetic layer.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a TEM photograph of a magnetic layer.
  • 1 is a diagram for explaining a method for measuring a servo band pitch using a data recording and reproducing device.
  • 11A and 11B are diagrams for explaining a method of measuring a servo trace line.
  • FIG. 1 is a diagram for explaining a method for measuring a servo band pitch using a data recording and reproducing device.
  • 11A and 11B are diagrams for explaining a method of measuring a serv
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a magnetic tape seen from the side.
  • 1 is a schematic diagram of a magnetic tape viewed from above (magnetic layer side).
  • FIG. 1 illustrates a data recording and reproducing device.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a data write head as viewed from below (the back layer side).
  • 13 is a diagram showing the relationship between the angular range Ref ⁇ x° of the azimuth angle of the data write head and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.1 ⁇ m).
  • 13 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° at the azimuth angle ⁇ of the data write head and the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width fluctuation of the magnetic tape.
  • FIG. 11 is a diagram showing the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width fluctuation of the magnetic tape.
  • FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.07 ⁇ m).
  • FIG. 1 illustrates a servo recording and reproducing device.
  • 5A and 5B are diagrams showing a servo write head according to embodiment A and a pulse signal input to the servo write head.
  • 4 is an enlarged view of a servo element included in the servo write head according to embodiment A.
  • 11A and 11B are diagrams showing how a servo pattern is written onto a magnetic tape by a servo write head according to embodiment A.
  • 13 is an enlarged view of a servo write head and a servo element included in the servo write head according to embodiment B.
  • 13A and 13B are diagrams showing how a servo pattern is written onto a magnetic tape by a servo write head according to embodiment B.
  • FIG. 13 is a diagram showing a servo write head based on a coordinate system of the servo write head in embodiment B.
  • 11A and 11B are diagrams showing how servo patterns are read by a servo read portion of a data write head in the first comparative example, the second comparative example, and the first embodiment.
  • FIG. 22 is an enlarged view of the diagram on the right side of FIG. 21, showing an example of specific dimensions of the first servo element and the second servo element (based on the XYZ coordinate system).
  • FIG. 24 is an enlarged view of the diagram on the right side of FIG. 23, showing an example of specific dimensions of the first servo element and the second servo element (based on the X"Y"Z" coordinate system).
  • FIG. 11 is a diagram showing a first example of a method for checking whether a magnetic tape is a magnetic tape used in a data recording/reproducing device with a tilted data write head.
  • FIG. 11 is a diagram showing a second example of a method for checking whether a magnetic tape is a magnetic tape used in a data recording/reproducing device with a tilted data write head.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape according to a second embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a sputtering apparatus.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape according to a third embodiment.
  • FIG. 13 is an exploded perspective view showing an example of a configuration of a cartridge according to a modified example of the first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a state in which the entire length of a magnetic tape is divided into four equal regions.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a sputtering apparatus.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape according to a third embodiment
  • FIG. 2 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of the magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Example 1.
  • FIG. 13 is a graph showing the amount of width change in the longitudinal direction of the magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Example 2a.
  • FIG. 11 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of the magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Example 3.
  • FIG. 13 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of the magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Comparative Example 1a.
  • FIG. 13 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of a magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Comparative Example 2.
  • FIG. 13 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of a magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Comparative Example 2.
  • FIG. 13 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of a magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Comparative Example 3.
  • FIG. 13 is a graph showing the amount of change in width in the longitudinal direction of a magnetic tape after storage at 65° C. for 360 hours in Comparative Example 4.
  • 11 is a schematic diagram for explaining a method of calculating the movement angle of a drive head that is disposed at an angle.
  • FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a magnetic surface.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of an FE-SEM image of the surface of a magnetic layer.
  • FIG. 13 is a diagram showing an example of a composite image obtained by superimposing an AFM image and an FE-SEM image.
  • FIG. 1 is an enlarged view showing an example of a composite image obtained by superimposing an AFM image and an FE-SEM image.
  • FIG. 46 is a diagram showing an example of a cross-sectional profile along Line 1 in FIG. 45 .
  • 11 is a graph showing a first example of a change over time in standard deviation ⁇ PES.
  • 13 is a graph showing a second example of the change over time in the standard deviation ⁇ PES.
  • 13 is a graph showing a third example of the change over time in the standard deviation ⁇ PES and a cross-sectional view showing a schematic change in the state of secondary protrusions on the surface of the magnetic layer.
  • FIG. 11 is a diagram showing a schematic diagram of a relationship between a first protrusion, a second protrusion, and a data write head;
  • FIG. FIG. 2 is an enlarged view showing an example of a configuration of a servo band used to explain a method for measuring a PES.
  • FIG. 1 is a diagram for explaining a method for measuring PES.
  • 11 is a graph for explaining correction of the movement of a magnetic tape in the width direction.
  • 54A shows an example of a two-dimensional surface profile image after filtering
  • FIG 54B shows an example of a numerical data matrix of height ⁇ (L,W).
  • FIG. 13 is a diagram showing an example of a numerical data matrix of relative height Z(L, W).
  • FIG. 13 is a diagram for explaining a method for calculating gradients G L (L, W) and G W (L, W) at each point (L, W).
  • Fig. 57A is a diagram showing an example of a numerical data matrix of a gradient G L (L, W)
  • Fig. 57B is a diagram showing an example of a numerical data matrix of a gradient G W (L, W).
  • Fig. 58A is a diagram showing a method for calculating the gradient G L (L, W)
  • Fig. 58B is a diagram showing a method for calculating the gradient G W (L, W).
  • 13 is a diagram for explaining statistical processing of data on relative height Z(L, W) and gradient G L (L, W).
  • FIG. 13 is a diagram for explaining statistical processing of data on relative height Z(L, W) and gradient G W (L, W).
  • FIG. 13 is a diagram for explaining statistical processing of data on relative height Z(L,W), gradient G L (L,W), and gradient G W (L,W).
  • FIG. 13 is a diagram for explaining a procedure for creating a distribution diagram from a numerical data matrix of data number M(H, A).
  • 11 is a diagram for explaining a method of calculating a height range ⁇ H.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining a method of calculating a height range ⁇ H.
  • FIG. FIG. 13 is a diagram for explaining a method of calculating a gradient range ⁇ A.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining a method of calculating a gradient range ⁇ A.
  • First embodiment (example of magnetic recording cartridge including coated magnetic tape) (1) Structure of the magnetic recording cartridge (2) Structure of the magnetic tape (3) Manufacturing method of the magnetic tape (4) Description of the data band and servo band of the magnetic tape (5) Function and effect 3.
  • Second embodiment (Example of a magnetic recording cartridge including a vacuum thin film type magnetic tape) (1) Structure of the magnetic recording cartridge (2) Structure of the magnetic tape (3) Structure of the sputtering device (4) Manufacturing method of the magnetic tape (5) Function and effect 4.
  • Third embodiment (Example of a magnetic recording cartridge including a vacuum thin film type magnetic tape) (1) Structure of the magnetic recording cartridge (2) Structure of the magnetic tape (3) Function and effect 5. Modifications 6. Examples
  • magnetic tape magnetic recording medium contained in the magnetic recording cartridge
  • magnetic tape thinner (reducing the total thickness) and thereby increase the tape length per magnetic recording cartridge.
  • dimensional changes in the track width direction may occur more easily.
  • Dimensional changes in the width direction may cause undesirable phenomena in magnetic recording, such as off-track phenomena.
  • the off-track phenomenon refers to a situation in which the target track does not exist at the track position where the magnetic head should read, or the magnetic head reads the wrong track position.
  • the magnetic tape contained in a magnetic recording cartridge has a narrower usable temperature range than a HDD, and has been used in a temperature range up to 45° C.
  • a magnetic recording cartridge in a high-temperature environment of 60° C. or higher, similar to a HDD, it is expected that temperature environment management will become easier when incorporating a magnetic recording cartridge into a data storage system such as a cloud system, and the range of use of tape storage systems will be greatly expanded.
  • a data storage system such as a cloud system
  • the portion on the inside of the winding that is subjected to high winding stress expands in the width direction of the magnetic tape, while the portion on the outside of the winding that is pulled in the longitudinal direction by the tension on the magnetic tape narrows in the width direction due to the creep phenomenon, and the difference in width between the inside and outside of the winding tends to become large.
  • a layer for suppressing dimensional changes in magnetic tapes has been added.
  • the addition of such layers may increase the thickness of the magnetic tape and does not increase the tape length per cartridge product.
  • the present inventors have studied magnetic recording cartridges with a high recording capacity per cartridge. As a result, the present inventors have found that a magnetic recording cartridge having a specific configuration has a high recording capacity, and that even when stored in a high-temperature environment of 60° C. or higher, the width in the longitudinal direction can be corrected by adjusting the running tension of the tape system or changing the winding direction.
  • the magnetic tape in order to change the winding direction, for example, in a one-reel cartridge, the magnetic tape can be wound on the reel on the drive side, and in a two-reel cartridge, the magnetic tape can be changed by rewinding it on the reel opposite to the stored state.
  • the present technology provides a magnetic recording cartridge having a cartridge case, a reel, and a magnetic tape wound on the reel and housed in the cartridge case.
  • the magnetic tape has a base layer having a loss modulus of 0.40 GPa or less at 65° C. When the magnetic tape is wound on the reel and stored at 65° C.
  • the sign of the width change amount ⁇ out on the outside of the magnetic tape is different from the sign of the width change amount ⁇ in on the inside of the magnetic tape, and the width change amount is 0 ppm at any of two regions sandwiching the center line of the entire length of the magnetic tape when the entire length of the magnetic tape is divided into four equal regions.
  • a method for measuring the width change amount of the magnetic tape will be described below in 2. (2).
  • the base layer of the magnetic tape included in the magnetic recording cartridge of the present technology may have a loss modulus at 65° C. of 0.40 GPa or less, preferably 0.35 GPa or less, more preferably 0.30 GPa or less, even more preferably 0.25 GPa or less, and even more preferably 0.20 GPa or less.
  • a loss modulus at 65° C. of the base layer of the magnetic tape within the above numerical range, even when stored in a high-temperature environment of 60° C. or more, the width in the longitudinal direction can be corrected by adjusting the running tension of the tape system or changing the winding direction.
  • the storage modulus of the base layer of the magnetic tape included in the magnetic recording cartridge of the present technology may be preferably 8.0 GPa or less, more preferably 7.0 GPa or less, and even more preferably 6.0 GPa or less at 65° C.
  • the storage modulus of the base layer of the magnetic tape at 65° C. is within the above numerical range, it is possible to provide a magnetic recording cartridge in which the width of the magnetic tape in the longitudinal direction can be corrected by adjusting the running tension of the tape system or changing the winding direction even after storage in a high-temperature environment.
  • the sign of the amount of width change ⁇ out on the outside of the magnetic tape winding is different from the sign of the amount of width change ⁇ in on the inside of the magnetic tape winding.
  • the amount of width change ⁇ can be expressed by the following formula.
  • Width change amount ⁇ (width change amount after storage at 65°C and 360°C ⁇ initial state width change amount)/(initial state width change amount)
  • width change amount ⁇ is a negative value, it indicates that the width after storage is narrower than the width in the initial state, and when the width change amount ⁇ is a positive value, it indicates that the width after storage is wider than the width in the initial state.
  • magnetic recording cartridges having one reel and two reels in the cartridge.
  • a magnetic tape is wound around a reel and housed in the magnetic cartridge.
  • the magnetic tape is stacked to form a magnetic tape stack.
  • the inner side of the magnetic tape refers to the area on the innermost layer side of the magnetic tape stack in a state where the magnetic tape is wound around one reel to form a stack on the reel before the first data is recorded in the magnetic cartridge
  • the outer side of the magnetic tape refers to the area on the outermost layer side of the magnetic tape stack.
  • the inside of a magnetic tape winding refers to the area starting from the end (hereinafter also referred to as the "inner end” (EOT)) that is attached to a reel inside a magnetic recording cartridge (the reel onto which the magnetic tape is wound before the first data is recorded onto the magnetic cartridge) and extending a predetermined distance from that position toward the end opposite the inner end (hereinafter also referred to as the "outer end” (BOT)).
  • EOT inner end
  • BOT outer end
  • the inside of the magnetic tape refers to the area starting from the end attached to the reel 13 before the first data recording (hereinafter also referred to as the "inner end” (EOT)) and proceeding a predetermined distance from that position toward the end opposite the inner end (hereinafter also referred to as the “outer end” (BOT)).
  • the outside of the magnetic tape refers to the area starting from the outer end of the two ends of the magnetic tape and proceeding a predetermined distance from that position toward the inner end.
  • the inside of the magnetic tape refers to the area starting from the end (hereinafter also referred to as the "inner end” (EOT)) attached to the reel 307 before the first data recording is performed, and proceeding a predetermined distance from that position toward the end opposite the inner end (hereinafter also referred to as the "outer end” (BOT)).
  • the outside of the magnetic tape refers to the area starting from the outer end of the two ends of the magnetic tape, and proceeding a predetermined distance from that position toward the inner end.
  • Figure 33 is a schematic diagram showing how the entire length of a magnetic tape is divided into four equal parts from the inside end of the roll (EOT) to the outside end of the roll (BOT). As shown in Figure 33, from EOT to BOT, the entire length of the tape is divided into four areas, namely Area D, Area C, Area B, and Area A. In this specification, Area A in Figure 33 is referred to as the outside side of the roll, and Area D is referred to as the inside side of the roll.
  • FIG. 33 is a schematic diagram showing the state in which the entire length of the magnetic tape is divided into four equal parts from the end of the inner side of the winding (EOT) to the end of the outer side of the winding (BOT).
  • EOT inner side of the winding
  • BOT outer side of the winding
  • the entire length of the tape is divided into four regions, namely, region D, region C, region B, and region A, from EOT to BOT.
  • the center line of the entire length of the magnetic tape is located between region B and region C, and is the boundary line that separates region B and region C, and the two regions that sandwich the center line are region B and region C.
  • the width change is 0 ppm in either region B or region C.
  • the amount of width change ⁇ in on the inside of the magnetic tape may be a positive value.
  • the amount of width change ⁇ in on the inside of the magnetic tape means the maximum amount of width change on the inside of the magnetic tape.
  • the amount of width change ⁇ in on the inside of the magnetic tape being a positive value means that the width on the inside of the magnetic tape after storage is wider than the width in the initial state.
  • the amount of width change ⁇ out on the outside of the magnetic tape may be a negative value.
  • the amount of width change ⁇ out on the outside of the magnetic tape means the minimum value of the amount of width change on the outside of the magnetic tape.
  • a negative value for the amount of width change ⁇ out on the outside of the magnetic tape means that the width after storage on the outside of the magnetic tape is narrower than the width in the initial state. Furthermore, when the entire length of the magnetic tape in the longitudinal direction is taken as 100%, preferably at a position 25% to 75% from the BOT of the magnetic tape, the amount of width change ⁇ of the magnetic tape after storage for 360 hours at 65° C. may be 0 ppm. In the magnetic tape shown in FIG 33, the amount of width change ⁇ of the magnetic tape after storage for 360 hours at 65° C. may be 0 ppm at either region B or region C, which corresponds to a position 25% to 75% from the BOT of the magnetic tape.
  • the average value of the width change ⁇ in region A which corresponds to 1/4 of the outer side of the magnetic tape, may be a negative value
  • the average value of the width change ⁇ in region D which corresponds to 1/4 of the inner side of the magnetic tape
  • (amount of width change ⁇ in on the inside of the magnetic tape roll) ⁇ (amount of width change ⁇ out on the outside of the magnetic tape roll) may be 800 ppm or less.
  • the magnetic tape included in the magnetic recording cartridge of the present technology is preferably a long magnetic tape, and may be, for example, a magnetic recording tape (particularly a long magnetic recording tape).
  • the magnetic tape included in the magnetic recording cartridge of the present technology may have a magnetic layer, a base layer, and a back layer, and may include other layers in addition to these layers.
  • the other layers may be selected appropriately depending on the type of magnetic tape.
  • the magnetic tape may be, for example, a coated magnetic tape or a vacuum thin-film magnetic tape.
  • the coated magnetic tape will be described in more detail in 2. below.
  • the vacuum thin-film magnetic tape will be described in more detail in 3. below. Please refer to these descriptions for layers included in the magnetic tape other than the above three layers.
  • the magnetic tape included in the magnetic recording cartridge of the present technology may have, for example, at least one data band and at least two servo bands.
  • the number of data bands may be, for example, 2 to 10, particularly 3 to 6, and more particularly 4 or 5.
  • the number of servo bands may be, for example, 3 to 11, particularly 4 to 7, and more particularly 5 or 6.
  • These servo bands and data bands may be arranged, for example, to extend in the longitudinal direction of the long magnetic tape, particularly to be substantially parallel.
  • the data band and the servo band may be provided on the magnetic layer.
  • An example of a magnetic tape having such a data band and servo band is a magnetic recording tape conforming to the LTO (Linear Tape-Open) standard.
  • the magnetic tape may be a magnetic recording tape conforming to the LTO standard.
  • the magnetic tape may be a magnetic recording tape conforming to the LTO9 standard or a later standard (for example, LTO10, LTO11, or LTO12).
  • the width of the long magnetic tape (particularly the magnetic recording tape) may be, for example, 5 mm to 30 mm, particularly 7 mm to 25 mm, more particularly 10 mm to 20 mm, and even more particularly 11 mm to 19 mm.
  • the length of the long magnetic tape may be, for example, 500 m to 1500 m.
  • the tape width according to the LTO8 standard is 12.65 mm and the length is 960 m.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of a magnetic recording cartridge 10 according to the present technology.
  • a magnetic recording cartridge conforming to the LTO standard will be taken as an example of the magnetic recording cartridge 10.
  • the magnetic recording cartridge 10 is a one-reel type cartridge, and is equipped with one reel 13 on which a tape-like magnetic tape MT is wound inside a cartridge case 12 composed of a lower shell 12A and an upper shell 12B, a reel lock 14 and a reel spring 15 for locking the rotation of the reel 13, a spider 16 for unlocking the locked state of the reel 13, a slide door 17 for opening and closing the tape outlet 12C provided in the cartridge case 12 across the lower shell 12A and the upper shell 12B, a door spring 18 for biasing the slide door 17 to the closed position of the tape outlet 12C, a write protector 19 for preventing accidental erasure, and a cartridge memory 11.
  • the reel 13 for winding the magnetic tape MT is approximately disc-shaped with an opening in the center, and is composed of a reel hub 13A and a flange 13B made of a hard material such as plastic.
  • a leader tape LT is connected to the outer peripheral end of the magnetic tape MT.
  • a leader pin 20 is provided at the tip of the leader tape LT.
  • the magnetic recording cartridge 10 may be a magnetic tape cartridge that complies with the LTO (Linear Tape-Open) standard, or it may be a magnetic tape cartridge that complies with a standard other than the LTO standard.
  • LTO Linear Tape-Open
  • the cartridge memory 11 is provided near one corner of the magnetic recording cartridge 10. When the magnetic recording cartridge 10 is loaded into the recording and playback device, the cartridge memory 11 faces the reader/writer of the recording and playback device.
  • the cartridge memory 11 communicates with the recording and playback device, specifically the reader/writer, using a wireless communication standard that complies with the LTO standard.
  • [Cartridge memory] 2 is a block diagram showing an example of the configuration of the cartridge memory 11.
  • the cartridge memory 11 includes an antenna coil (communication unit) 31 that communicates with a reader/writer using a prescribed communication standard, a rectification/power circuit 32 that generates power from radio waves received by the antenna coil 31 using induced electromotive force and rectifies the power to generate power, a clock circuit 33 that generates a clock from the radio waves received by the antenna coil 31 using induced electromotive force, a detection/modulation circuit 34 that detects the radio waves received by the antenna coil 31 and modulates the signal to be transmitted by the antenna coil 31, a controller (control unit) 35 consisting of a logic circuit for determining commands and data from the digital signal extracted from the detection/modulation circuit 34 and processing the commands and data, and a memory (storage unit) 36 that stores information.
  • the cartridge memory 11 also includes a capacitor 37 connected in parallel to the antenna coil 31, and the antenna coil 31 and the capacitor 37 form a resonant circuit.
  • Memory 36 stores information related to magnetic recording cartridge 10.
  • Memory 36 is non-volatile memory (NVM).
  • the storage capacity of memory 36 is preferably approximately 32 KB or more.
  • the memory 36 may have a first memory area 36A and a second memory area 36B.
  • the first memory area 36A is an area for storing first information.
  • the first information includes at least one type selected from the group consisting of, for example, manufacturing information of the magnetic recording cartridge 10 (e.g., a unique number of the magnetic recording cartridge 10) and a usage history of the magnetic recording cartridge 10 (e.g., the number of times the magnetic tape MT has been pulled out (Thread Count)).
  • the second memory area 36B is an area for storing second information.
  • the second information includes at least one type selected from the group consisting of, for example, tension adjustment information, management ledger data, index information, thumbnail information, etc.
  • Tension adjustment information is information for adjusting the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • Tension adjustment information includes, for example, at least one type of information selected from the group consisting of information obtained by intermittently measuring the width between servo bands in the longitudinal direction of the magnetic tape MT, tension information of the recording and playback device, and temperature and humidity information of the recording and playback device. This information may be managed in conjunction with information on the usage status of the magnetic recording cartridge 10. It is preferable that tension adjustment information is obtained when recording data on the magnetic tape MT or before recording data.
  • Tension information of the recording and playback device means information on the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the management ledger data is data that includes at least one of the following information for the data files recorded on the magnetic tape MT: capacity, creation date, editing date, and storage location.
  • Index information is metadata for searching the contents of the data files.
  • Thumbnail information is a thumbnail of the video or still image stored on the magnetic tape MT.
  • Memory 36 may have multiple banks. In this case, some of the multiple banks may form a first memory area 36A, and the remaining banks may form a second memory area 36B.
  • the antenna coil 31 induces an induced voltage by electromagnetic induction.
  • the controller 35 communicates with the recording and playback device via the antenna coil 31 using a specified communication standard. Specifically, for example, it performs mutual authentication, sending and receiving commands, and exchanging data.
  • the controller 35 stores information received from the recording and playback device via the antenna coil 31 in the memory 36.
  • the controller 35 stores tension adjustment information received from the recording and playback device via the antenna coil 31 in the second storage area 36B of the memory 36.
  • the controller 35 reads information from the memory 36 and transmits it to the recording and playback device via the antenna coil 31.
  • the controller 35 reads tension adjustment information from the second storage area 36B of the memory 36 and transmits it to the recording and playback device via the antenna coil 31.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of the magnetic tape MT.
  • the magnetic tape MT includes a long base layer 41, an underlayer 42 provided on one main surface (first main surface) of the base layer 41, a magnetic layer 43 provided on the underlayer 42, and a back layer 44 provided on the other main surface (second main surface) of the base layer 41.
  • the underlayer 42 and the back layer 44 are provided as necessary and may be omitted.
  • the magnetic tape MT may be a perpendicular recording type magnetic tape or a longitudinal recording type magnetic tape. From the viewpoint of improving running performance, the magnetic tape MT preferably contains a lubricant.
  • the lubricant may be included in at least one of the underlayer 42 and the magnetic layer 43.
  • the magnetic tape MT may be one that complies with the LTO standard, or one that complies with a standard other than the LTO standard.
  • the width of the magnetic tape MT may be 1/2 inch, or may be wider than 1/2 inch. If the magnetic tape MT complies with the LTO standard, the width of the magnetic tape MT is 1/2 inch.
  • the magnetic tape MT may have a configuration that allows the width of the magnetic tape MT to be kept constant or nearly constant by adjusting the tension applied to the magnetic tape MT in the longitudinal direction during running using a recording/playback device (drive).
  • the magnetic tape MT is long and runs in the longitudinal direction during recording and playback.
  • the magnetic tape MT is preferably used in a recording and playback device equipped with a ring-type head as a recording head.
  • the magnetic tape MT is preferably used in a recording and playback device configured to be able to record data with a data track width of 1500 nm or less or 1000 nm or less.
  • the base layer 41 is a non-magnetic support that supports the underlayer 42 and the magnetic layer 43.
  • the base layer 41 has a long film shape.
  • the upper limit of the average thickness of the base layer 41 is, for example, preferably 4.6 ⁇ m or less, more preferably 4.4 ⁇ m or less, 4.2 ⁇ m or less, 4.0 ⁇ m or less, even more preferably 3.8 ⁇ m or less, particularly preferably 3.6 ⁇ m or less, and most preferably 3.4 ⁇ m or less.
  • the upper limit of the average thickness of the base layer 41 is 4.6 ⁇ m or less, the recording capacity that can be recorded in one data cartridge can be increased compared to that of a general magnetic tape.
  • the lower limit of the average thickness of the base layer 41 is preferably 3.0 ⁇ m or more, more preferably 3.2 ⁇ m or more. When the lower limit of the average thickness of the base layer 41 is 3.0 ⁇ m or more, the strength reduction of the base layer 41 can be suppressed.
  • the average thickness of the base layer 41 is determined as follows. First, the magnetic tape MT contained in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into lengths of 250 mm from each of the ranges of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples.
  • "longitudinal direction" in the "longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT” means the direction from one end on the leader tape LT side to the other end on the opposite side.
  • each sample i.e., the undercoat layer 42, the magnetic layer 43, and the back layer 44
  • a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • the thickness of each sample (base layer 41) is measured at five positions using a Mitutoyo Laser Hologram (LGH-110C) as a measuring device, and the average thickness of the base layer 41 is calculated by arithmetically averaging these measurements (a total of 15 sample thicknesses). Note that the five measurement positions are selected randomly from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the base layer 41 contains, for example, at least one of polyesters, polyolefins, cellulose derivatives, vinyl resins, and other polymer resins.
  • the base layer 41 contains two or more of the above materials, the two or more materials may be mixed, copolymerized, or laminated.
  • the base layer 41 preferably contains polyesters.
  • the storage modulus E' in the longitudinal direction of the base layer 41 can be reduced to preferably 9.0 GPa or less, more preferably 7.5 GPa or less, even more preferably 6.0 GPa or less, particularly preferably 5.5 GPa or less, and most preferably 4.5 GPa or less. Therefore, by adjusting the longitudinal tension of the magnetic tape MT during running using a recording and playback device, it is particularly easy to control the width of the magnetic tape MT to be constant or nearly constant. A method for measuring the storage modulus E' in the longitudinal direction of the base layer 41 will be described later.
  • the polyesters include, for example, at least one of PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene naphthalate), PBT (polybutylene terephthalate), PBN (polybutylene naphthalate), PCT (polycyclohexylene dimethylene terephthalate), PEB (polyethylene-p-oxybenzoate), and polyethylene bisphenoxycarboxylate.
  • PET polyethylene terephthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • PBT polybutylene terephthalate
  • PBN polybutylene naphthalate
  • PCT polycyclohexylene dimethylene terephthalate
  • PEB polyethylene-p-oxybenzoate
  • polyethylene bisphenoxycarboxylate polyethylene bisphenoxycarboxylate.
  • PA polyamide
  • PET polyethylene terephthalate
  • polyesters in the base layer 41 can be confirmed, for example, as follows. First, the magnetic tape MT contained in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out from a range of 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare a sample, after which all layers of the sample other than the base layer 41 are removed. Next, an IR spectrum of the sample (base layer 41) is obtained by infrared absorption spectrometry (IR). Based on this IR spectrum, it can be confirmed that the base layer 41 contains polyesters.
  • IR infrared absorption spectrometry
  • the polyolefins include, for example, at least one of PE (polyethylene) and PP (polypropylene).
  • the cellulose derivatives include, for example, at least one of cellulose diacetate, cellulose triacetate, CAB (cellulose acetate butyrate) and CAP (cellulose acetate propionate).
  • the vinyl resins include, for example, at least one of PVC (polyvinyl chloride) and PVDC (polyvinylidene chloride).
  • polymer resins include, for example, at least one of PA (polyamide, nylon), aromatic PA (aromatic polyamide, aramid), PI (polyimide), aromatic PI (aromatic polyimide), PAI (polyamideimide), aromatic PAI (aromatic polyamideimide), PBO (polybenzoxazole, e.g.
  • Zylon (registered trademark)), polyether, PEK (polyetherketone), PEEK (polyetheretherketone), polyetherester, PES (polyethersulfone), PEI (polyetherimide), PSF (polysulfone), PPS (polyphenylene sulfide), PC (polycarbonate), PAR (polyarylate), and PU (polyurethane).
  • the base layer 41 may be biaxially stretched in the longitudinal and width directions.
  • the polymer resin contained in the base layer 41 is preferably oriented in a direction oblique to the width direction of the base layer 41.
  • the magnetic layer 43 is a recording layer for recording signals by magnetization patterns.
  • the magnetic layer 43 may be a coating film.
  • the magnetic layer 43 may be a perpendicular recording type recording layer or a longitudinal recording type recording layer.
  • the magnetic layer 43 includes, for example, magnetic powder, a binder, a lubricant, and carbon.
  • the magnetic layer 43 may further include at least one additive selected from antistatic agents, abrasives, hardeners, rust inhibitors, and non-magnetic reinforcing particles, as necessary.
  • the magnetic layer 43 may have a surface having an uneven shape.
  • the magnetic layer 43 has multiple data bands in which data is written, and multiple servo bands in which servo patterns are written. Details of the data bands and servo bands will be described later.
  • the magnetic layer 43 is configured so that multiple data tracks can be formed in the data band.
  • the upper limit of the average value of the data track width is preferably 1100 nm or less, more preferably 1000 nm or less, even more preferably 800 nm or less, and particularly preferably 600 nm or less.
  • the lower limit of the average value of the data track width W is preferably 20 nm or more.
  • the average data track width is obtained as follows. First, a magnetic recording cartridge 10 is prepared on which data is recorded over the entire surface of the magnetic tape MT. The magnetic tape MT is unwound from the magnetic recording cartridge 10, and the magnetic tape MT is cut into lengths of 250 mm from the longitudinal range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples. Next, the data recording pattern of the data band portion of the magnetic layer 43 of each sample is observed using a magnetic force microscope (MFM) to obtain an MFM image.
  • MFM magnetic force microscope
  • MFM measurements were performed on a 10 ⁇ m x 10 ⁇ m measurement area, meaning that three MFM images were obtained. From the three MFM images obtained, the track width was measured at 10 locations using the analysis software provided with the Dimension3100, and the average value (simple average) was calculated. This average value is the average data track width.
  • the measurement conditions for the above MFM were sweep speed: 1 Hz, chip used: MFMR-20, lift height: 20 nm, correction: Flatten order 3.
  • the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is preferably 90 nm or less, more preferably 80 nm or less, even more preferably 70 nm or less, particularly preferably 60 nm or less, and most preferably 50 nm or less. If the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is 90 nm or less, when a ring-type head is used as the recording head, the effect of the demagnetizing field can be reduced, and even better electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is preferably 35 nm or more. If the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 43 is 35 nm or more, output can be ensured when an MR head is used as the reproducing head, and therefore even better electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the average thickness of the magnetic layer 43 is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 250 mm lengths from the longitudinal range of 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to prepare three samples. Next, each sample is processed by the FIB method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective films as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • the carbon layer is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. That is, this slicing creates a cross section that is parallel to both the longitudinal and thickness directions of the magnetic tape MT.
  • the thickness of the magnetic layer 43 is measured at 10 positions on each thinned sample.
  • the 10 measurement positions on each thinned sample are randomly selected from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the average value obtained by arithmetically averaging the measured values of each obtained thinned sample (a total of 30 thicknesses of the magnetic layer 43) is defined as the average thickness [nm] of the magnetic layer 43.
  • the magnetic powder includes a plurality of magnetic particles.
  • the magnetic particles are, for example, particles containing a metal oxide (hereinafter referred to as “metal oxide particles”).
  • the metal oxide particles are, for example, particles containing hexagonal ferrite (hereinafter referred to as “hexagonal ferrite particles”), particles containing epsilon-type iron oxide ( ⁇ iron oxide) (hereinafter referred to as “ ⁇ iron oxide particles”), or particles containing Co-containing spinel ferrite (hereinafter referred to as "cobalt ferrite particles”).
  • the magnetic powder is preferentially crystalline oriented in the perpendicular direction of the magnetic tape MT.
  • the perpendicular direction (thickness direction) of the magnetic tape MT means the thickness direction of the magnetic tape MT in a flat state.
  • the hexagonal ferrite particles have, for example, a plate shape such as a hexagonal plate shape or a column shape such as a hexagonal column shape (however, the thickness or height is smaller than the major axis of the plate surface or bottom surface).
  • the hexagonal plate shape includes a substantially hexagonal plate shape.
  • the hexagonal ferrite preferably contains at least one of Ba, Sr, Pb, and Ca, more preferably at least one of Ba and Sr.
  • the hexagonal ferrite may specifically be, for example, barium ferrite or strontium ferrite.
  • the barium ferrite may further contain at least one of Sr, Pb, and Ca in addition to Ba.
  • the strontium ferrite may further contain at least one of Ba, Pb, and Ca in addition to Sr.
  • the hexagonal ferrite has an average composition represented by the general formula MFe 12 O 19.
  • M is, for example, at least one metal selected from Ba, Sr, Pb, and Ca, preferably at least one metal selected from Ba and Sr.
  • M may be a combination of Ba and one or more metals selected from the group consisting of Sr, Pb, and Ca.
  • M may also be a combination of Sr and one or more metals selected from the group consisting of Ba, Pb, and Ca.
  • a part of Fe may be substituted with another metal element.
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 13 nm or more and 22 nm or less, more preferably 13 nm or more and 19 nm or less, even more preferably 13 nm or more and 18 nm or less, particularly preferably 14 nm or more and 17 nm or less, and most preferably 14 nm or more and 16 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is 22 nm or less, even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained in a high recording density magnetic tape MT.
  • the average particle size of the magnetic powder is 13 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1.0 or more and 3.0 or less, more preferably 1.5 or more and 2.8 or less, and even more preferably 1.8 or more and 2.7 or less.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the range of 1.0 or more and 3.0 or less, aggregation of the magnetic powder can be suppressed.
  • the magnetic powder is vertically oriented in the process of forming the magnetic layer 43, the resistance applied to the magnetic powder can be suppressed. Therefore, the vertical orientation of the magnetic powder can be improved.
  • the average particle size and the average aspect ratio of the magnetic powder are obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out from a range of 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Next, the cut magnetic tape MT is processed by the FIB method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective films as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • the carbon layer is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed by deposition or sputtering on the surface on the magnetic layer 43 side.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. In other words, the thinning forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic tape MT.
  • the cross section of the obtained thin sample is observed using a transmission electron microscope (Hitachi High-Technologies Corporation H-9500) at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times in the thickness direction of the magnetic layer 43 so as to include the entire magnetic layer 43, and a TEM photograph is taken.
  • the TEM photographs are prepared in such a way that 50 particles can be extracted that allow the plate diameter DB and plate thickness DA (see Figure 4) shown below to be measured.
  • the major axis of the plate surface or bottom surface of the particle is taken as the plate diameter DB value.
  • the thickness or height of the particle observed in the above TEM photograph is taken as the plate thickness DA value.
  • the thickness or height of a particle is not constant within a single particle, the thickness or height of the maximum particle is taken as the plate thickness DA.
  • 50 particles are selected from the TEM photograph based on the following criteria. Particles that are partially outside the field of view of the TEM photograph are not measured, and only particles that have a clear outline and exist in isolation are measured. If there are overlapping particles, those with a clear boundary between them and whose overall shape can be determined are measured as individual particles, but particles with unclear boundaries and whose overall shape cannot be determined are not measured as their shape cannot be determined.
  • FIG. 5 and 6 show an example of a TEM photograph.
  • the particles indicated by the arrows a and d are selected because the plate thickness (thickness or height) DA of the particle can be clearly confirmed.
  • the plate thickness DA of each of the selected 50 particles is measured.
  • the plate thickness DA thus obtained is arithmetically averaged to obtain the average plate thickness DA ave .
  • the average plate thickness DA ave is the average particle plate thickness.
  • the plate diameter DB of each magnetic powder is measured.
  • 50 particles whose plate diameter DB of the particle can be clearly confirmed are selected from the TEM photograph taken. For example, in FIG. 5 and FIG.
  • the particles indicated by the arrows b and c are selected because the plate diameter DB can be clearly confirmed.
  • the plate diameter DB of each of the selected 50 particles is measured.
  • the plate diameter DB thus obtained is simply averaged (arithmetic averaged) to obtain the average plate diameter DB ave .
  • the average plate diameter DB ave is the average particle size.
  • the average aspect ratio of the particles ( DBave / DAave ) is calculated from the average plate thickness DAave and the average plate diameter DBave .
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 500 nm3 or more and 2500 nm3 or less, more preferably 500 nm3 or more and 1600 nm3 or less, even more preferably 500 nm3 or more and 1500 nm3 or less, particularly preferably 600 nm3 or more and 1200 nm3 or less, and most preferably 600 nm3 or more and 1000 nm3 or less.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 2500 nm3 or less, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 22 nm or less can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 500 nm3 or more, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 13 nm or more can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is calculated as follows. First, the average plate thickness DA ave and the average plate diameter DB ave are calculated as described above in relation to the method for calculating the average particle size of the magnetic powder. Next, the average volume V of the magnetic powder is calculated using the following formula.
  • the ⁇ -iron oxide particles are hard magnetic particles that can obtain high coercivity even in the case of fine particles.
  • the ⁇ -iron oxide particles are spherical or cubic.
  • the term “spherical” includes “approximately spherical”.
  • the term “cubic” includes “approximately cubic”. Since the ⁇ -iron oxide particles have the above-mentioned shape, when the ⁇ -iron oxide particles are used as the magnetic particles, the contact area between the particles in the thickness direction of the magnetic tape MT can be reduced and the aggregation between the particles can be suppressed compared to when hexagonal plate-shaped barium ferrite particles are used as the magnetic particles. Therefore, the dispersibility of the magnetic particles can be improved, and further excellent electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • SNR electromagnetic conversion characteristics
  • the ⁇ -iron oxide particles may have a composite particle structure. More specifically, the ⁇ -iron oxide particles include an ⁇ -iron oxide portion and a portion having soft magnetism or a portion having a higher saturation magnetization ⁇ s and a smaller coercive force Hc than ⁇ -iron oxide (hereinafter referred to as the "soft magnetic portion, etc.”).
  • the ⁇ -iron oxide portion contains ⁇ -iron oxide.
  • the ⁇ -iron oxide contained in the ⁇ -iron oxide portion preferably has ⁇ -Fe 2 O 3 crystals as a main phase, and more preferably is made of single-phase ⁇ -Fe 2 O 3 .
  • the soft magnetic portion is in contact with at least a portion of the ⁇ -iron oxide portion. Specifically, the soft magnetic portion may partially cover the ⁇ -iron oxide portion, or may cover the entire periphery of the ⁇ -iron oxide portion.
  • the soft magnetic portion (the magnetic portion having a higher saturation magnetization ⁇ s and a smaller coercive force Hc than ⁇ -iron oxide) includes, for example, a soft magnetic material such as ⁇ -Fe, a Ni-Fe alloy, or an Fe-Si-Al alloy.
  • ⁇ -Fe may be obtained by reducing the ⁇ -iron oxide contained in the ⁇ -iron oxide portion.
  • the portion having soft magnetic properties may contain, for example, Fe 3 O 4 , ⁇ -Fe 2 O 3 , or spinel ferrite.
  • the coercive force Hc of the ⁇ -iron oxide portion alone can be kept high to ensure thermal stability, while the coercive force Hc of the ⁇ -iron oxide particle (composite particle) as a whole can be adjusted to a coercive force Hc suitable for recording.
  • the ⁇ iron oxide particles may contain an additive instead of the structure of the composite particles, or may have the structure of the composite particles and contain an additive. In this case, part of the Fe in the ⁇ iron oxide particles is replaced with the additive.
  • the additive is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably at least one selected from the group consisting of Al, Ga and In, and even more preferably at least one selected from the group consisting of Al and Ga.
  • the ⁇ -iron oxide containing the additive is an ⁇ -Fe2 - xMxO3 crystal (wherein M is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably at least one selected from the group consisting of Al, Ga and In, and even more preferably at least one selected from the group consisting of Al and Ga; x is, for example, 0 ⁇ x ⁇ 1).
  • the average particle size of the magnetic particles is preferably 10 nm to 20 nm, more preferably 10 nm to 18 nm, even more preferably 10 nm to 16 nm, particularly preferably 10 nm to 15 nm, and most preferably 10 nm to 14 nm.
  • the area with a size of 1/2 the recording wavelength becomes the actual magnetization area. Therefore, by setting the average particle size of the magnetic particles to half or less of the shortest recording wavelength, even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the average particle size of the magnetic particles is 20 nm or less, even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained in a high recording density magnetic tape MT (e.g., a magnetic tape MT configured to be able to record signals at the shortest recording wavelength of 40 nm or less).
  • a high recording density magnetic tape MT e.g., a magnetic tape MT configured to be able to record signals at the shortest recording wavelength of 40 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic particles is 10 nm or more, the dispersibility of the magnetic particles is further improved, and even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the average aspect ratio of the magnetic particles is preferably 1.0 to 3.0, more preferably 1.0 to 2.5, even more preferably 1.0 to 2.1, and particularly preferably 1.0 to 1.8.
  • the average aspect ratio of the magnetic particles is within the range of 1.0 to 3.0, aggregation of the magnetic particles can be suppressed.
  • the magnetic particles are vertically oriented in the process of forming the magnetic layer 43, the resistance applied to the magnetic particles can be suppressed. Therefore, the vertical orientation of the magnetic particles can be improved.
  • the average particle size and average aspect ratio of the magnetic particles can be found as follows. First, the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection between the magnetic tape MT and the leader tape. Next, the magnetic tape MT to be measured is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective layers as a pretreatment for observing the cross-sectional TEM image described later.
  • FIB Fluorused Ion Beam
  • the carbon layer is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. That is, this slicing creates a cross section that is parallel to both the longitudinal and thickness directions of the magnetic tape MT.
  • the cross section of the obtained thin sample is observed with a transmission electron microscope (H-9500 manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation) at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times so that the entire magnetic layer 43 is included in the thickness direction of the magnetic layer 43, and a TEM image is taken.
  • 50 particles whose particle shape can be clearly confirmed are selected from the taken TEM image, and the long axis length DL and short axis length DS of each particle are measured.
  • the long axis length DL means the maximum distance between two parallel lines drawn from all angles so as to be in contact with the contour of each particle (so-called maximum Feret diameter).
  • the short axis length DS means the maximum length of the particle in the direction perpendicular to the long axis (DL) of the particle.
  • the long axis lengths DL of the measured 50 particles are simply averaged (arithmetic average) to obtain the average long axis length DL ave .
  • the average long axis length DL ave thus obtained is the average particle size of the magnetic particles.
  • the minor axis lengths DS of the 50 particles are simply averaged (arithmetic mean) to determine the average minor axis length DSave .
  • the average aspect ratio of the particles ( DLave / DSave ) is then calculated from the average major axis length DLave and the average minor axis length DSave .
  • the average particle volume of the magnetic particles is preferably 500 nm3 or more and 4000 nm3 or less, more preferably 500 nm3 or more and 3000 nm3 or less, even more preferably 500 nm3 or more and 2000 nm3 or less, particularly preferably 600 nm3 or more and 1600 nm3 or less, and most preferably 600 nm3 or more and 1300 nm3 or less. Since the noise of a magnetic tape MT is generally inversely proportional to the square root of the number of particles (i.e., proportional to the square root of the particle volume), by making the particle volume smaller, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR).
  • SNR electromagnetic conversion characteristics
  • the average particle volume of the magnetic particles is 4000 nm3 or less, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) in the same way as when the average particle size of the magnetic particles is 20 nm or less.
  • the average particle volume of the magnetic particles is 500 nm3 or more, it is possible to obtain the same effect as when the average particle size of the magnetic particles is 10 nm or more.
  • the average volume of the magnetic particles is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection between the magnetic tape MT and the leader tape LT. Next, the cut magnetic tape MT is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon film and a tungsten thin film are formed as protective films as a pretreatment for observing the TEM image of the cross section described later.
  • FIB Fluorused Ion Beam
  • the carbon film is formed by deposition on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten thin film is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. In other words, the thinning forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic tape MT.
  • the obtained thin sample is observed in cross section in the thickness direction of the magnetic layer 43 at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times to include the entire magnetic layer 43, and a TEM image is obtained.
  • the magnification and acceleration voltage may be adjusted appropriately depending on the type of device.
  • 50 particles whose particle shapes are clear are selected from the TEM image taken, and the side length DC of each particle is measured.
  • the side lengths DC of the 50 particles measured are simply averaged (arithmetic average) to obtain the average side length DC ave .
  • the average volume V ave (particle volume) of the magnetic particles is calculated from the following formula using the average side length DC ave .
  • V ave DC ave 3
  • the cobalt ferrite particles preferably have uniaxial crystal anisotropy.
  • the cobalt ferrite particles have uniaxial crystal anisotropy, so that the magnetic powder can be preferentially crystal oriented in the perpendicular direction of the magnetic tape MT.
  • the cobalt ferrite particles have, for example, a cubic shape. In this specification, the cubic shape includes an almost cubic shape.
  • the Co-containing spinel ferrite may further contain at least one of Ni, Mn, Al, Cu, and Zn in addition to Co.
  • the Co-containing spinel ferrite has, for example, an average composition represented by the following formula.
  • Co x M y Fe 2 O Z (In the formula, M is, for example, at least one metal selected from Ni, Mn, Al, Cu, and Zn.
  • x is a value within the range of 0.4 ⁇ x ⁇ 1.0.
  • y is a value within the range of 0 ⁇ y ⁇ 0.3.
  • x and y satisfy the relationship of (x+y) ⁇ 1.0.
  • z is a value within the range of 3 ⁇ z ⁇ 4.
  • a part of Fe may be substituted with another metal element.
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 8 nm or more and 16 nm or less, more preferably 8 nm or more and 13 nm or less, and even more preferably 8 nm or more and 10 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is 16 nm or less, it is possible to obtain even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) in a high recording density magnetic tape MT.
  • the average particle size of the magnetic powder is 8 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and even better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) can be obtained.
  • the method of calculating the average particle size of the magnetic powder is the same as the method of calculating the average particle size of the magnetic powder when the magnetic powder contains ⁇ iron oxide particles.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1.0 to 2.5, more preferably 1.0 to 2.1, and even more preferably 1.0 to 1.8.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the range of 1.0 to 2.5, aggregation of the magnetic powder can be suppressed.
  • the magnetic powder is vertically oriented in the process of forming the magnetic layer 43, the resistance applied to the magnetic powder can be suppressed. Therefore, the vertical orientation of the magnetic powder can be improved.
  • the method of calculating the average aspect ratio of the magnetic powder is the same as the method of calculating the average aspect ratio of the magnetic powder when the magnetic powder contains ⁇ iron oxide particles.
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 500 nm3 or more and 4000 nm3 or less, more preferably 600 nm3 or more and 2000 nm3 or less, and even more preferably 600 nm3 or more and 1000 nm3 or less.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 4000 nm3 or less, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 16 nm or less can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 500 nm3 or more, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 8 nm or more can be obtained.
  • the method of calculating the average particle volume of the magnetic component is the same as the method of calculating the average particle volume when the ⁇ iron oxide particles have a cubic shape.
  • the magnetic layer may include first particles, a portion of which protrudes from the magnetic surface. 42, some of the first particles 91A contained in the magnetic layer 43 protrude from the magnetic surface to form first protrusions 91B. When the data write head 60 slides over the magnetic tape MT, the first protrusions 91B come into contact with the data write head 60.
  • the first particles 91A are conductive.
  • the first particles 91A are preferably an antistatic agent and a solid lubricant.
  • the first particles 91A are particles containing carbon.
  • the particles containing carbon for example, at least one selected from the group consisting of carbon particles and hybrid particles can be used, and it is preferable to use carbon particles.
  • carbon particles for example, one or more selected from the group consisting of carbon black, acetylene black, ketjen black, carbon nanotubes, and graphene can be used, and among these carbon particles, it is preferable to use carbon black.
  • carbon black for example, Seast TA manufactured by Tokai Carbon Co., Ltd., Asahi #15, #15HS, etc., manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd. can be used.
  • the hybrid particles include carbon and a material other than carbon.
  • the material other than carbon is, for example, an organic material or an inorganic material.
  • the hybrid particles may be hybrid particles in which carbon is attached to the surface of an inorganic particle.
  • the hybrid particles may be hybrid carbon in which carbon is attached to the surface of a silica particle.
  • the magnetic layer may include second particles, a portion of which protrudes from the magnetic surface. 42, some of the second particles 92A contained in the magnetic layer 43 protrude from the magnetic surface to form second protrusions 92B. When the data write head 60 slides over the magnetic tape MT, the second protrusions 92B come into contact with the data write head 60.
  • the second particles 92A may be an abrasive.
  • the lower limit of the Mohs hardness of the second particles 92A is 7.0 or more, preferably 7.5 or more, more preferably 8.0 or more, and even more preferably 8.5 or more, from the viewpoint of suppressing deformation due to contact with the data write head 60.
  • the upper limit of the Mohs hardness of the second particles 92A is preferably 9.5 or less, from the viewpoint of suppressing wear of the data write head 60.
  • the second particles 92A are preferably inorganic particles.
  • inorganic particles include ⁇ -alumina with an ⁇ conversion rate of 90% or more, ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, silicon carbide, chromium oxide, cerium oxide, ⁇ -iron oxide, corundum, silicon nitride, titanium carbide, titanium oxide, silicon dioxide, tin oxide, magnesium oxide, tungsten oxide, zirconium oxide, boron nitride, zinc oxide, calcium carbonate, calcium sulfate, barium sulfate, molybdenum disulfide, needle-shaped ⁇ -iron oxide obtained by dehydrating and annealing the raw material of magnetic iron oxide, and those surface-treated with aluminum and/or silica as necessary, diamond powder, etc.
  • alumina particles such as ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, and ⁇ -alumina, and silicon carbide are preferably used.
  • the second particles 92A may be of any shape such as needle-shaped, spherical, or cubic, but those having corners on some parts of the shape are preferable because they have high abrasiveness.
  • binder examples include thermoplastic resins, thermosetting resins, and reactive resins.
  • thermoplastic resin examples include vinyl chloride, vinyl acetate, vinyl chloride-vinyl acetate copolymers, vinyl chloride-vinylidene chloride copolymers, vinyl chloride-acrylonitrile copolymers, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymers, acrylic acid ester-vinyl chloride-vinylidene chloride copolymers, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymers, acrylic acid ester-vinylidene chloride copolymers, methacrylic acid ester-vinylidene chloride copolymers, methacrylic acid ester-vinyl chloride copolymers, methacrylic acid ester-ethylene copolymers, polyvinyl fluoride, vinylidene chloride-acrylonitrile copolymers, acrylonitrile-butadiene copolymers, polyamide resins, polyvinyl fluoride, vinyliden
  • thermosetting resins examples include phenolic resins, epoxy resins, polyurethane curing resins, urea resins, melamine resins, alkyd resins, silicone resins, polyamine resins, and urea formaldehyde resins.
  • the amount of these polar functional groups introduced into the binder is preferably 10 -1 mol/g or more and 10 -8 mol/g or less, and more preferably 10 -2 mol/g or more and 10
  • the lubricant contains at least one selected from, for example, a fatty acid and a fatty acid ester, and preferably both a fatty acid and a fatty acid ester.
  • a lubricant in the magnetic layer 43 and in particular the inclusion of both a fatty acid and a fatty acid ester in the magnetic layer 43, contributes to improving the running stability of the magnetic tape MT.
  • the fatty acid may preferably be a compound represented by the following general formula (1) or (2).
  • the fatty acid may contain either a compound represented by the following general formula (1) or a compound represented by the following general formula (2), or may contain both.
  • the fatty acid ester may preferably be a compound represented by the following general formula (3) or (4).
  • the fatty acid ester may contain either a compound represented by the following general formula (3) or a compound represented by the following general formula (4), or may contain both.
  • the lubricant contains either or both of a compound represented by general formula (1) and a compound represented by general formula (2), either or both of a compound represented by general formula (3) and a compound represented by general formula (4), or a compound represented by general formula (5), thereby making it possible to suppress an increase in the dynamic friction coefficient due to repeated recording or playback of the magnetic tape MT.
  • k is an integer selected from the range of 14 or more and 22 or less, more preferably from the range of 14 or more and 18 or less.
  • antistatic agent examples include natural surfactants, nonionic surfactants, and cationic surfactants.
  • Examples of the curing agent include polyisocyanates.
  • Examples of the polyisocyanates include aromatic polyisocyanates such as an adduct of tolylene diisocyanate (TDI) and an active hydrogen compound, and aliphatic polyisocyanates such as an adduct of hexamethylene diisocyanate (HMDI) and an active hydrogen compound.
  • the weight average molecular weight of these polyisocyanates is preferably in the range of 100 to 3,000.
  • anti-rust examples include phenols, naphthols, quinones, heterocyclic compounds containing a nitrogen atom, heterocyclic compounds containing an oxygen atom, and heterocyclic compounds containing a sulfur atom.
  • Non-magnetic reinforcing particles examples include aluminum oxide ( ⁇ , ⁇ or ⁇ alumina), chromium oxide, silicon oxide, diamond, garnet, emery, boron nitride, titanium carbide, silicon carbide, titanium carbide, titanium oxide (rutile or anatase type titanium oxide), and the like.
  • the underlayer 42 serves to reduce the unevenness of the surface of the base layer 41 and adjust the unevenness of the surface of the magnetic layer 43.
  • the underlayer 42 is a non-magnetic layer containing non-magnetic powder, a binder, and a lubricant.
  • the underlayer 42 supplies the lubricant to the surface of the magnetic layer 43.
  • the underlayer 42 may further contain at least one additive selected from the group consisting of an antistatic agent, a hardener, and an anti-rust agent, as necessary.
  • the upper limit of the average thickness of the underlayer 42 is preferably 1.0 ⁇ m or less, more preferably 0.9 ⁇ m or less, even more preferably 0.8 ⁇ m or less, particularly preferably 0.7 ⁇ m or less, and most preferably 0.6 ⁇ m or less. If the upper limit of the average thickness of the underlayer 42 is 1.0 ⁇ m or less, the thickness of the magnetic tape MT can be reduced, so that the recording capacity that can be recorded in one data cartridge can be increased compared to that of a general magnetic tape. If the average thickness of the underlayer 42 is 1.0 ⁇ m or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to external forces is further increased, so that the width of the magnetic tape MT can be further adjusted by adjusting the tension.
  • the lower limit of the average thickness of the underlayer 42 is preferably 0.3 ⁇ m or more. If the lower limit of the average thickness of the underlayer 42 is 0.3 ⁇ m or more, the deterioration of the function as the underlayer 42 can be suppressed.
  • the average thickness of the underlayer 42 is determined in the same manner as the average thickness of the magnetic layer 43. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the underlayer 42.
  • the non-magnetic powder includes at least one of inorganic particle powder and organic particle powder.
  • the non-magnetic powder may also include carbon powder such as carbon black.
  • One type of non-magnetic powder may be used alone, or two or more types of non-magnetic powder may be used in combination.
  • the inorganic particles include, for example, metals, metal oxides, metal carbonates, metal sulfates, metal nitrides, metal carbides, metal sulfides, etc.
  • the shape of the non-magnetic powder may be, for example, various shapes such as needle-like, spherical, cubic, plate-like, etc., but is not limited to these shapes.
  • the average particle size of the non-magnetic powder is preferably 10 nm or more and 150 nm or less, more preferably 15 nm or more and 110 nm or less.
  • the average particle size of the non-magnetic powder is determined in the same manner as the average particle size of the magnetic powder described above.
  • the non-magnetic powder may contain non-magnetic powder having two or more particle size distributions.
  • Binding agent, lubricant The binder and lubricant are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the antistatic agent, hardener and rust inhibitor are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the back layer 44 contains a binder and a non-magnetic powder.
  • the back layer 44 may further contain at least one additive selected from the group consisting of a lubricant, a hardener, and an antistatic agent, if necessary.
  • the binder and the non-magnetic powder are the same as those in the underlayer 42 described above.
  • the hardener and the antistatic agent are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the upper limit of the average thickness tb of the back layer 44 is preferably 0.6 ⁇ m or less. If the upper limit of the average thickness tb of the back layer 44 is 0.6 ⁇ m or less, the thickness of the underlayer 42 and the base layer 41 can be kept thick even when the average thickness of the magnetic tape MT is 5.3 ⁇ m or less, so that the running stability of the magnetic tape MT in a recording and reproducing device can be maintained.
  • the lower limit of the average thickness tb of the back layer 44 is not particularly limited, but is, for example, 0.2 ⁇ m or more.
  • the average thickness t b of the back layer 44 is obtained as follows. First, the average thickness t T of the magnetic tape MT is measured. The method for measuring the average thickness t T is as described in the "Average Thickness of Magnetic Tape" below. Next, the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into 250 mm lengths from the range of 10 m to 20 m, the range of 30 m to 40 m, and the range of 50 m to 60 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT, respectively, to prepare three samples.
  • the back layer 44 of each sample is removed with a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • the thickness of each sample is measured at five positions using a Mitutoyo laser hologram (LGH-110C), and the measured values (total thicknesses of 15 samples) are arithmetically averaged to calculate the average value t B [ ⁇ m].
  • the average thickness t b [ ⁇ m] of the back layer 44 is obtained from the following formula.
  • the five measurement positions are selected at random from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • tb [ ⁇ m] tT [ ⁇ m] ⁇ tB [ ⁇ m]
  • the width change amount ⁇ being 0 ppm in a specific region in the longitudinal direction of the magnetic tape, excellent running stability can be obtained even when stored in a high-temperature environment.
  • the width change amount ⁇ in any of the four regions is preferably 300 ppm or less, more preferably 250 ppm or less, even more preferably 200 ppm or less, and even more preferably 150 ppm or less.
  • the change in width of the magnetic tape, ⁇ is measured as follows:
  • the servo band pitch in the longitudinal direction of the magnetic tape in its initial state before storage for 360 hours at 65° C. is measured using the data recording/reproducing device 50.
  • the servo band pitch means the arrangement interval of the servo bands.
  • the magnetic tape MT is wound into the magnetic recording cartridge 10 with a tension of 0.55 N, and the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is run so as to be wound into the data recording/reproducing device 50 (running in a so-called forward direction) in an environment of 32° C. and 55% RH, and the servo band pitch is measured at each position in the longitudinal direction of the magnetic tape MT over the entire length of the magnetic tape MT.
  • the tension applied to the magnetic tape MT is 0.55 N
  • the running speed is 3 to 6 m/s.
  • the magnetic tape MT is wound into the magnetic recording cartridge 10 with a tension of 0.55 N and stored at 65°C and 40 RH% for 24 hours, then run once back and forth at a tension of 0.55 N in the data recording and reproducing device 50 in an environment of 32°C and 55 RH%, and then stored again for 24 hours in an environment of 65°C and 40 RH%, after which it is run once back and forth at a tension of 0.55 N in the data recording and reproducing device 50 in an environment of 32°C and 55 RH%, repeating this process for a total of 360 hours of storage.
  • the ratio of the servo band pitch at each position in the longitudinal direction of the magnetic tape MT after storage to the servo band pitch at the corresponding position in the longitudinal direction in the initial state is defined as the width change amount ⁇ .
  • the portion where the width change amount ⁇ is minimum and the portion where the width change amount ⁇ is maximum are identified, and the difference between the maximum width change amount ⁇ max and the minimum width change amount ⁇ min is calculated.
  • the method for measuring the servo band pitch will be described in more detail below.
  • FIG. 7 an example will be described in which the data write head 60 tracks a data band d0 sandwiched between a servo band s2 and a servo band s3.
  • the method of measuring the servo band pitch using the data recording and reproducing device 50 involves running the magnetic tape MT over its entire length using the data recording and reproducing device 50, measuring the numerical values representing the relative positions of the servo trace lines T on each servo band of the two servo read sections 62 with respect to the servo pattern 47, and calculating the servo band pitch from the measured relative positions of each servo trace line T with respect to the servo pattern 47, as described above.
  • the spacing between the servo trace lines T shown by solid lines in FIG. 7 indicates the servo band pitch when the width of the magnetic tape MT has not changed (the first pitch P1, which is the spacing between the two servo read sections 62 of the data write head 60).
  • the spacing between the servo trace lines T shown by dashed lines in FIG. 7 corresponds to the servo band pitch (P2') when the width of the magnetic tape MT has expanded.
  • FIG. 8 is a diagram explaining a method for measuring the servo trace line T.
  • the data recording and reproducing device 50 outputs a servo reproduction signal having a waveform according to the position of the servo trace line T relative to the servo pattern 47.
  • the distance AC between the A burst and the C burst, which are arrays of inclination patterns of the same shape, and the distance AB between the A burst and the B burst, which are arrays of inclination patterns of different shapes are calculated, and a numerical value representing the relative position of the servo trace line T of each servo lead portion 62 with respect to the servo pattern 47 is calculated using the following formula [Equation 1].
  • ⁇ is the azimuth angle of each of the inclination patterns, and is set to 12° in this example.
  • the distance AC may be the distance AC1 between the first slope portions of the A burst and the C burst, the distance AC2 between their second slope portions, the distance AC3 between their third slope portions, or the distance AC4 between their fourth slope portions.
  • These distances AC (AC1 to AC4) refer to the distances between the positions (upper peak positions) that indicate the maximum positive amplitude values in the servo playback waveform.
  • the distance AB may be the distance AB1 between the first inclined portions of the A burst and the B burst, the distance AB2 between their second inclined portions, the distance AB3 between their third inclined portions, or the distance AB4 between their fourth inclined portions.
  • distance AB1 when distance AC1 is adopted, distance AB1 is adopted, when distance AC2 is adopted, distance AB2 is adopted, when distance AC3 is adopted, distance AB3 is adopted, and when distance AC4 is adopted, distance AB4 is adopted.
  • the servo band pitch is calculated from the difference in the values representing the position of each servo trace line T on the servo pattern, which is calculated from the ratio of distances AB and AC, using equation 1.
  • the difference is taken between the measurement value of the servo band on the tape edge side (servo band s3) and the measurement value of the servo band on the tape center side (servo band s2).
  • the positive or negative value indicates the direction of change in the tape width, with a positive value corresponding to a narrowing of the servo band pitch and a negative value corresponding to a widening of the servo band pitch. If the difference is zero, it means that there is no change in the tape width.
  • the servo band pitch is preferably determined from the difference between a large number of servo frames, and may be, for example, the average of measured values calculated from the difference between 100 and 100,000 servo frames.
  • the tape tension during measurement is the tension during recording of the servo pattern 47 (reference tension, for example, 0.55 N), and the measurement is performed at a constant tension over the entire length of the magnetic tape MT.
  • the method of measuring the servo trace line T is not limited to the above example.
  • the distance CA between the C burst and the A burst and the distance CD between the C burst and the D burst may be calculated, and the position of the servo trace line T may be measured using the following formula [Equation 2].
  • the distance CA may be the distance CA1 between the first inclined portions of the C burst and the A burst, the distance CA2 between their second inclined portions, the distance CA3 between their third inclined portions, or the distance CA4 between their fourth inclined portions.
  • These distances CA (CA1 to CA4) refer to the distances between the positions that indicate the maximum positive amplitude values in the servo playback waveform.
  • the distance CD may be the distance CD1 between the first inclined portions of the C burst and the D burst, the distance CD2 between their second inclined portions, the distance CD3 between their third inclined portions, or the distance CD4 between their fourth inclined portions.
  • distance CD1 when distance CA1 is adopted, distance CD1 is adopted, when distance CA2 is adopted, distance CD2 is adopted, when distance CA3 is adopted, distance CD3 is adopted, and when distance CA4 is adopted, distance CD4 is adopted.
  • the servo band pitch may be measured by using the average value of the measurement value using the formula [1] and the measurement value using the formula [2].
  • the distance between the positions (lower peak positions) showing the maximum negative value of the amplitude in the servo reproduction waveform may be used as the distances AC and AB in the formula [1] and the distances CA and CD in the formula [2].
  • the average value of the distance between the positions (upper peak positions) showing the maximum positive value of the amplitude in the servo reproduction waveform and the distance between the positions (lower peak positions) showing the maximum negative value may be used as the distances AC and AB in the formula [1] and the distances CA and CD in the formula [2].
  • the distance AB is 38.5 ⁇ m and the distance AC is 76 ⁇ m in the servo band s2, and the distance AB is 37.5 ⁇ m and the distance AC is 76 ⁇ m in the servo band s3.
  • x (76/2 tan 12°) 90.5641 [ ⁇ m]
  • x (76/2 tan 12°) 88.2118 [ ⁇ m]
  • the distance AB is 38 ⁇ m and the distance AC is 76 ⁇ m for both servo band s2 and servo band s3.
  • the distances are 89.3880 [ ⁇ m] for both servo band s2 and servo band s3, and the difference between them is 0 [ ⁇ m].
  • the servo band pitch in this case is the same as the servo read head pitch P1.
  • the data recording/reproducing device 50 may control the tension of the magnetic tape MT based on the servo pattern pitch measured as described above so that the measured servo pattern pitch becomes equal to the servo read head pitch P1.
  • servo signals may be read from two servo bands sandwiching one data band for recording or reproducing data, and it may be determined from each read servo signal whether the pitch of these two servo bands is wider or narrower than the servo read head pitch P1. If the servo band pitch is wider than the servo read head pitch P1, the tension may be increased, and if the servo band pitch is narrower than the servo read head pitch P1, the tension may be decreased. In this way, by adjusting the magnitude of the tension according to the magnitude of the servo band pitch, it is possible to stably perform the desired tracking control for the data band.
  • the data recording and reproducing device 50 may obtain the relationship between the servo band pitch and tension for one data band by running the tape once back and forth, and record the obtained data in the cartridge memory 11.
  • the data recording and reproducing device 50 may similarly apply the relationship between the servo band pitch and tension measured for the one data band when recording and reproducing data for other data bands.
  • the amount of width change in the longitudinal direction of the magnetic tape MT can be adjusted, for example, as follows.
  • the material of the base layer, the longitudinal and transverse strength of the base layer (longitudinal and transverse stretching conditions), the type of magnetic layer (coated magnetic layer, vacuum thin-film magnetic layer), and in the case of a coated layer, the Tg of the binder and the amount of hardener, etc. may be appropriately selected.
  • the magnetic tape MT may be stored for a long period of time at a temperature of 65°C or higher before cutting, and further may be stored for a long period of time at a temperature of 55°C or higher before servo writing.
  • the loss modulus of the base layer 41 at 65° C. can be 0.40 GPa or less, preferably 0.35 GPa or less, more preferably 0.30 GPa or less, even more preferably 0.25 GPa or less, and preferably 0.20 GPa or less.
  • the loss modulus within this range, it is possible to provide a magnetic recording cartridge that allows the width of the magnetic tape in the longitudinal direction to be adjusted by adjusting the running tension of the tape system or changing the winding direction, even when stored in a high-temperature environment of 60° C. or more.
  • the storage modulus of the base layer 41 at 65° C. can be preferably 8.0 GPa or less, more preferably 7.0 GPa or less, and even more preferably 6.0 GPa or less. By having the storage modulus within the above numerical range, it is possible to provide a magnetic recording cartridge in which the width of the magnetic tape in the longitudinal direction can be adjusted by adjusting the running tension of the tape system or changing the winding direction even after storage in a high-temperature environment.
  • the lower limit of the storage modulus of the base layer at 65° C. is not particularly limited, but may be, for example, preferably 0.01 GPa or more, more preferably 0.02 GPa or more, and even more preferably 0.03 GPa or more.
  • the loss modulus and storage modulus are measured by dynamic viscoelasticity measurement.
  • the dynamic viscoelasticity measurement is a temperature-dependent measurement, and is specifically performed as follows.
  • the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and cut into 250 mm lengths from three positions, 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection between the magnetic tape MT and the leader tape LT, and the cut magnetic tape MT is cut into a measuring tape length of 22.0 mm and width of 4.0 mm using a punch to prepare a sample.
  • the layers other than the base layer 41 of the sample i.e., the non-magnetic layer (undercoat layer) 42, the magnetic layer 43, and the back layer 44
  • acetone or ethanol i.e., the non-magnetic layer (undercoat layer) 42, the magnetic layer 43, and the back layer 44
  • Test Type "Strain-Controlled” Measurement Type: "Dynamic" Environment in which the device is placed: Temperature 25°C, humidity 50RH% Humidity control of the measurement section: None Number of measurements: 3 More detailed settings regarding the measurement conditions of the device are as follows. That is, as described below, in the measurement, the tension is adjusted so that it does not become 0 or less, and the strain is adjusted so that it does not fall below the lower limit of the transducer. The measurement conditions for these adjustments may be appropriately set by those skilled in the art, but for example, the following settings may be adopted for the dynamic viscoelasticity measuring device.
  • Option settings Delay Before Test: OFF Auto Tension (Setting to adjust tension so that it never falls below 0) Mode Static Force Tracking Dynamic Force Auto Tension Direction Tension Initial Static Force 10.0g Static>Dynamic Force by 5.0% Minimum Static Force 1.0g Auto Tension Sensitivity 1.0g Auto Strain (Setting to adjust the strain so that it does not fall below the lower limit of the transducer) Max Applied Strain 0.1% Maximum Allowed Force 100.0g Min allowed force 2.0g Strain Adjustment 3.0% Meas Ops: Default setting
  • the loss modulus and storage modulus values at a measurement temperature of 65°C can be obtained.
  • the loss modulus and storage modulus of the base layer 41 can be adjusted, for example, by the type of material forming the base layer, the stretching state of the base layer in the longitudinal and transverse directions, and/or the coating and drying process, calendaring process, curing process, aging process, etc.
  • the loss modulus and storage modulus can be reduced compared to other materials.
  • the arithmetic mean roughness Ra of the magnetic surface is preferably 2.5 nm or less, and more preferably 2.0 nm or less. If Ra is 2.5 nm or less, a better SNR can be obtained.
  • the arithmetic mean roughness Ra is determined as follows. First, an AFM (Atomic Force Microscope) (Dimension Icon, manufactured by Bruker) is used to observe the surface on which the magnetic layer 43 is provided, and a cross-sectional profile is obtained. Next, the arithmetic mean roughness Ra is determined from the obtained cross-sectional profile in accordance with JIS B0601:2001.
  • AFM Anamic Force Microscope
  • the average thickness tT of the magnetic tape MT is preferably 5.6 ⁇ m or less, more preferably 5.4 ⁇ m or less, even more preferably 5.0 ⁇ m or less, and particularly preferably 4.6 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the average thickness tT of the magnetic tape MT is not particularly limited, but is, for example, 3.5 ⁇ m ⁇ tT .
  • the average thickness tT of the magnetic tape MT is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the magnetic recording cartridge 10 is unwound, and samples are cut out to a length of 250 mm from three positions, 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from the connection between the magnetic tape MT and the leader tape LT, to prepare samples. Next, the thickness of each sample is measured at five positions using a Mitutoyo laser hologram (LGH-110C) as a measuring device, and the measured values (15 points in total) are simply averaged (arithmetic average) to calculate the average thickness tT [ ⁇ m]. The five measurement positions are selected randomly from each sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • LGH-110C Mitutoyo laser hologram
  • the upper limit of the ratio H1/H2 of the average height H1 of the primary projections 91B to the average height H2 of the second protrusions 92B (hereinafter referred to as the "average height ratio of protrusions H1/H2") is H1/H2 ⁇ 2.3, preferably H1/H2 ⁇ 2.0, more preferably H1/H2 ⁇ 1.7, and even more preferably H1/H2 ⁇ 1.5.
  • the contact area between the first protrusions 91B and the data write head 60 can be adjusted to an appropriate range, and the contact opportunity between the second protrusions 92B and the data write head 60 can be adjusted to an appropriate range, so that wear of the first protrusions 91B accompanying the running of the magnetic tape MT can be suppressed. Therefore, the increase in friction of the magnetic surface due to multiple runs can be suppressed. Therefore, the increase in the standard deviation ⁇ PES of the PES value due to multiple runs can be suppressed.
  • the lower limit of the average height ratio H1/H2 of the protrusions is preferably 1.0 ⁇ H1/H2, more preferably 1.1 ⁇ H1/H2, and even more preferably 1.2 ⁇ H1/H2.
  • the second protrusions 92B are more easily crushed than the first protrusions 91B, so the average height H2 of the second protrusions 92B is lower than the average height H1 of the first protrusions 91B. Therefore, it is difficult to adjust the average height ratio H1/H2 of the protrusions on the magnetic surface after calendar processing to H1/H2 ⁇ 1.0.
  • the upper limit of the average height H1 of the first protrusions 91B is preferably 12.0 nm or less, more preferably 11.5 nm or less, and even more preferably 10.5 nm or less, 9.5 nm or less, or 8.5 nm or less. If the average height H1 of the first protrusions 91B exceeds 12.0 nm, the spacing between the data write head 60 and the magnetic tape MT becomes large, and there is a risk that it will not be possible to obtain the specified electromagnetic conversion characteristics.
  • the lower limit of the average height H1 of the first protrusions 91B is not particularly limited, but is preferably 5.0 nm or more, more preferably 5.5 nm or more, and even more preferably 6.0 nm or more.
  • the upper limit of the average height H2 of the second protrusions 92B is preferably 7.0 nm or less, more preferably 6.5 nm or less, and even more preferably 6.0 nm or less, 5.5 nm or less, or 5.3 nm or less. If the average height H2 of the second protrusions 92B exceeds 7.0 nm, the spacing between the data write head 60 and the magnetic tape MT becomes large, and there is a risk that it will not be possible to obtain the specified electromagnetic conversion characteristics.
  • the lower limit of the average height H2 of the second protrusions 92B is not particularly limited, but is preferably 2.0 nm or more, more preferably 2.5 nm or more, and even more preferably 3.0 nm or more.
  • the average height H1 of the first protrusions 91B, the average height H2 of the second protrusions 92B and the average height ratio of the protrusions H1/H2 are determined by obtaining an AFM image taken by an atomic force microscope (AFM) and an FE-SEM image taken by a field-emission scanning electron microscope (FE-SEM) at the same location on the measurement sample, and correlating these AFM images with the FE-SEM images, as described below.
  • AFM atomic force microscope
  • FE-SEM field-emission scanning electron microscope
  • the height of each protrusion can be measured by AFM, and it can be determined by FE-SEM whether each protrusion is formed by the first particle 91A or the second particle 92A.
  • a composite image can be obtained by overlaying an image obtained by AFM and an image obtained by FE-SEM for the same location, and the type of particle that forms each protrusion (whether it is the first particle 91A or the second particle 92A) can be associated with the height of each protrusion from the composite image obtained.
  • the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from the connection part 21 between the magnetic tape MT and the leader tape LT to a size that can be placed on the AFM observation sample stage and the SEM observation sample stage, to prepare a measurement sample.
  • marking is performed on the surface of the measurement sample, avoiding the center part of the measurement sample.
  • Examples of marking methods include a method of forming a linear or dot-like recess on the magnetic tape MT using a manipulator or a nine denter, and a method of forming a convex part on the magnetic tape MT using silver paste or the like.
  • the tip of the probe may become dirty and an accurate AFM image may not be obtained, so it is preferable to make the marking small and shallow so that the probe is not contaminated.
  • the markings on the surface of the measurement sample are subjected to shape analysis using an AFM. Since the marked areas are either recessed or protruding, the surface of the measurement sample is measured with an AFM at a viewing angle of 5 ⁇ m x 5 ⁇ m so that the markings are as close to the edge of the field of view as possible. Note that protrusions around the periphery of the markings are excluded from the measurement. Specifically, measurements are performed at a viewing angle of 10 ⁇ m x 10 ⁇ m to determine the part that will serve as a landmark, and the unmarked part of the measurement sample surface is measured at a viewing angle of 5 ⁇ m x 5 ⁇ m to match this part that will serve as a landmark.
  • the measurement conditions for the above shape analysis are as described below.
  • ⁇ AFM measurement conditions Measurement equipment: AFM Dimension 3100 microscope with NanoscopeIV controller (Digital Instruments) Measurement mode: Tapping frequency during tapping tuning: 200 kHz to 400 kHz Cantilever: SNL-10 (manufactured by Bruker) Scan size: 5 ⁇ m ⁇ 5 ⁇ m Scan rate: 1Hz Scan line: 256
  • FIG. 43 is an example of an FE-SEM image.
  • the type of particle that forms the protrusions can be identified by utilizing the brightness difference due to the difference in the amount of secondary electron emission of the first particle 91A and the second particle 92A. Image processing for this identification will be described later.
  • the positions of the protrusions formed by each of the first particle 91A and the second particle 92A in the FE-SEM image are identified.
  • the obtained FE-SEM image ( Figure A in Figure 43) is binarized using the image processing software Image J under the two processing conditions described below. From the image obtained by the binarization process, information on the number of protrusions for the first protrusions 91B and second protrusions 92B formed by the first particles 91A and second particles 92A, respectively, is obtained. Note that during the binarization process, the conditions are changed as follows for the high-luminance second particles 92A (white areas in Figure A in Figure 43) and the low-luminance first particles 91A (black areas in Figure A in Figure 43).
  • Figure 43B is an image obtained by binarizing the FE-SEM image of Figure 43A under the binarization conditions for the second particles (alumina particles) 92A, that is, an image showing the position distribution of the second protrusions 92B formed by the second particles (alumina particles) 92A.
  • the following information about the second particles 92A can be obtained from the obtained image.
  • C in Figure 43 is an image obtained by binarizing the FE-SEM image of A in Figure 43 under the binarization conditions for the first particles (carbon black particles) 91A, that is, an image showing the position distribution of the first protrusions 91B formed by the first particles (carbon black particles) 91A.
  • the following information about the first particles 91A can be obtained from the obtained image.
  • Figure C in Figure 44 is a composite image in which an AFM image ( Figure B) and an FE-SEM image ( Figure A) are superimposed so that the positions of the corresponding protrusions match.
  • FE-SEM image Figure A in Figure 44
  • different marks are added at each position so that the positions of the first protrusions 91B and the second protrusions 92B determined by the above-mentioned binarization process can be distinguished.
  • the marked area was measured with an AFM at a viewing angle of 10 ⁇ m x 10 ⁇ m, and then the area without the marking was measured at a viewing angle of 5 ⁇ m x 5 ⁇ m, so the marking is not present in the image.
  • Figure 45 is an enlarged view of a composite image obtained by superimposing an AFM image and an FE-SEM image.
  • Figure 46 is a diagram showing the results of an AFM analysis (measurement results of protrusion height) for Line 1 (Line 1) set at an arbitrary position in Figure 45.
  • the heights of the first protrusions 91B and second protrusions 92B formed by the first particles (carbon black particles) 91A and second particles (alumina particles) 92A present on Line 1, respectively can be identified.
  • the heights of the first protrusions 91B and second protrusions 92B are identified from the composite image and the AFM analysis results.
  • first protrusion 91B and the second protrusion 92B For each of the first protrusion 91B and the second protrusion 92B, if 20 or more protrusions can be identified in one AFM field of view from one measurement sample, one field of view is measured with the AFM. If fewer than 20 protrusions can be identified in one AFM field of view from each of the first protrusion 91B and the second protrusion 92B, multiple fields of view (e.g., 3 to 5) are measured from one measurement sample. This ensures that for each of the first protrusion 91B and the second protrusion 92B, 20 points are identified as the first protrusion 91B and the second protrusion 92B by the above-mentioned binarization process. Note that when multiple fields of view are measured from one measurement sample as described above, the multiple fields of view are selected randomly from one measurement sample.
  • the standard deviation ⁇ PES of the PES value of the magnetic tape MT is preferably less than 50 nm within 40 FVnumbers, more preferably 40 nm or less, even more preferably 30 nm or less, and particularly preferably 25 nm or less.
  • PES Part Error Signal
  • the linearity of the servo band when the servo pattern is read by the data recording and reproducing device is as high as possible, that is, the standard deviation ⁇ PES of the PES value indicating the deviation of the read position is as low as possible.
  • the standard deviation ⁇ PES of the PES value of the magnetic tape MT is a low value as described above, the linearity of the servo band is high, and the tension of the magnetic tape MT can be adjusted with high precision.
  • the standard deviation ⁇ PES is related to the friction of the magnetic surface, and as the friction of the magnetic surface increases, the standard deviation ⁇ PES tends to increase.
  • Figure 47 shows a first example of the change over time in the standard deviation ⁇ PES of the PES values as the magnetic tape MT runs. As shown in Figure 47, if ⁇ PES is less than 50 nm within 40 FV numbers, no track misalignment occurs. In addition, an increase in friction on the magnetic surface is suppressed and kept almost constant.
  • Figure 48 shows a second example of the change over time in the standard deviation ⁇ PES of the PES values as the magnetic tape MT runs. As shown in Figure 48, if ⁇ PES exceeds 50 nm within 40 FV numbers, frequent track misalignments occur, causing the magnetic tape MT to stop running. In addition, friction on the magnetic surface increases.
  • the upper diagram in FIG. 49 shows a third example of the change over time in the standard deviation ⁇ PES as the magnetic tape MT runs.
  • the lower left diagram in FIG. 49 is a cross-sectional view showing a schematic relationship between the first protrusion 91B and the second protrusion 92B and the data write head 60 in region A (stable friction) where the ⁇ PES in the upper diagram is a nearly constant value.
  • the dashed line in the diagram is an imaginary line showing the contact position between the first protrusion 91B and the surface of the data write head 60.
  • FIG 49 is a cross-sectional view showing a schematic relationship between the first protrusion 91B and the second protrusion 92B and the data write head 60 in region B (rising friction) where the ⁇ PES in the upper diagram shows an increasing trend.
  • the dashed line in the diagram is an imaginary line showing the contact position between the first protrusion 91B and the surface of the data write head 60.
  • the standard deviation ⁇ PES is almost constant in region A, but increases in region B. This is presumably because in region A, the contact area between the first protrusions 91B and the surface of the data write head 60 is small and friction is constant, whereas in region B, as the magnetic tape MT runs, the first particles 91A (carbon particles) are worn down by the magnetic tape MT, causing the first protrusions 91B to gradually crumble, increasing the contact area between the first protrusions 91B and the surface of the data write head 60 and increasing friction.
  • Figure 50 is a cross-sectional view that shows a schematic relationship between the first protrusion 91B and the second protrusion 92B on the magnetic surface and the data write head 60.
  • the dashed lines in Figure 50 are imaginary lines that indicate the contact position between the first protrusion 91B on the magnetic surface and the surface of the data write head 60.
  • the upper diagram in Figure 50 is a schematic diagram showing the relationship between the first protrusion 91B and second protrusion 92B and the data write head 60 before the magnetic tape MT starts running.
  • the height of the first protrusion 91B is greater than the height of the second protrusion 92B
  • the amount of spacing between the data write head 60 and the magnetic tape MT is large
  • the contact area between the first protrusion 91B and the data write head 60 is small, and it is presumed that there is little opportunity for contact between the second protrusion 92B and the data write head 60.
  • the middle diagram in Figure 50 is a schematic diagram showing the relationship between the first protrusion 91B and second protrusion 92B and the data write head 60 after the magnetic tape MT has run.
  • the first protrusion 91B is gradually worn down by contact with the magnetic tape MT, and the height of the first protrusion 91B becomes higher than or equal to the height of the second protrusion 92B, reducing the spacing between the data write head 60 and the magnetic tape MT, increasing the contact area between the first protrusion 91B and the data write head 60, and increasing the chances of contact between the second protrusion 92B and the data write head 60.
  • This state results in high friction and a deterioration in the standard deviation ⁇ PES.
  • the lower diagram in FIG. 50 is a schematic diagram showing the relationship between the first protrusions 91B and second protrusions 92B and the data write head 60 in this embodiment.
  • the shape in this embodiment an uneven shape with an average protrusion height ratio H1/H2 ⁇ 2.3
  • the contact area between the first protrusions 91B and the data write head 60 is reduced, and the contact opportunity between the second protrusions 92B and the data write head 60 is increased, which is presumably to suppress wear of the first protrusions 91B as the magnetic tape MT runs, and as a result, suppress the increase in the standard deviation ⁇ PES.
  • a method for measuring the standard deviation ⁇ PES will be described with reference to Figs. 51 and 52.
  • the PES value is measured to obtain the standard deviation ⁇ PES.
  • a data write head 60 for measuring PES is prepared.
  • An LTO2 head (a head conforming to the LTO2 standard) manufactured by HPE (Hewlett Packard Enterprise) is used as the data write head 60.
  • the data write head 60 has two data write head sections 60A and 60B arranged side by side along the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • Each head section has a plurality of data write sections 64 for recording data signals on the magnetic tape MT, a plurality of data read sections 65 for reproducing the data signals recorded on the magnetic tape MT, and a plurality of servo read sections 62 for reproducing the servo signals recorded on the magnetic tape MT. Note that when the data write head 60 is used only for measuring the PES value, the data write section 64 and the data read section 65 do not have to be included in the data write head.
  • a servo band to explain a method for measuring PES.
  • a servo pattern consisting of multiple servo stripes (linear magnetized regions) 1130 inclined with respect to the width direction of the magnetic tape MT is formed on the servo band.
  • the servo band includes multiple servo frames 1100.
  • Each servo frame 1100 is composed of 18 servo stripes 1130.
  • each servo frame 1100 is composed of a servo subframe 1 (1110) and a servo subframe 2 (1120).
  • Servo subframe 1 (1110) is composed of A burst 1110A and B burst 1110B.
  • B burst 1110B is disposed adjacent to A burst 1110A.
  • a burst 1110A has five servo stripes 1130 formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • these five servo stripes 1130 are indicated by the symbols A1, A2, A3, A4, and A5 from the EOT (End Of Tape) to the BOT (Beginning Of Tape) of the magnetic tape MT.
  • B burst 1110B has five servo stripes formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • these five servo stripes are indicated by the symbols B1, B2, B3, B4, and B5 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the servo stripes 1130 of the B burst 1110B are inclined in the opposite direction to the servo stripes 1130 of the A burst 1110A.
  • the servo stripes 1130 of the A burst 1110A and the servo stripes 1130 of the B burst 1110B are arranged in a V-shape.
  • Servo subframe 2 (1120) is composed of C burst 1120C and D burst 1120D.
  • D burst 1120D is disposed adjacent to C burst 1120C.
  • C burst 1120C has four servo stripes 1130 formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ with respect to the tape width direction. In FIG. 51, these four servo stripes 1130 are indicated with the symbols C1, C2, C3, and C4 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • D burst 1120D has four servo stripes formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ with respect to the tape width direction. In FIG.
  • these four servo stripes 1130 are indicated with the symbols D1, D2, D3, and D4 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the servo stripes 1130 of the D burst 1120D are inclined in the opposite direction to the servo stripes 1130 of the C burst 1120C.
  • the servo stripes 1130 of the C burst 1120C and the servo stripes 1130 of the D burst 1120D are arranged in a V-shape.
  • the above-mentioned predetermined angle ⁇ of the servo stripe 1130 in the A burst 1110A, the B burst 1110B, the C burst 1120C, and the D burst 1120D can be, for example, 11° or more and 40° or less, preferably 11° or more and 36° or less, more preferably 11° or more and 25° or less, and even more preferably 17° or more and 25° or less.
  • the servo bands are read by the data write head 60 to obtain information for determining the tape speed and the longitudinal position of the data write head 60.
  • the tape speed is calculated from the time between four timing signals (A1-C1, A2-C2, A3-C3, A4-C4).
  • the head position is calculated from the time between the aforementioned four timing signals and the time between another four timing signals (A1-B1, A2-B2, A3-B3, A4-B4).
  • the servo pattern may be a shape that includes two parallel lines.
  • the servo pattern i.e., the multiple servo stripes 1130
  • the servo band is preferably linear in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the data write head 60 is used to reproduce (read) the servo pattern in a predetermined servo band provided on the magnetic tape MT.
  • the servo read portion 62 of the data write head portion 60A and the servo read portion 62 of the data write head portion 60B sequentially face each servo pattern in the predetermined servo band, and the servo patterns are sequentially reproduced by these two servo read portions 62.
  • the portion of the servo pattern recorded on the magnetic tape MT that faces the servo read portion 62 is read and output as a servo signal.
  • the PES value for each head part is calculated for each servo frame using the following formula, as shown in Figure 51.
  • the center line shown in FIG. 51 is the center line of the servo band.
  • X [ ⁇ m] is the distance between servo pattern A1 and servo pattern B1 on the center line shown in FIG. 51
  • Y [ ⁇ m] is the distance between servo pattern A1 and servo pattern C1 on the center line shown in FIG. 51.
  • X and Y are found by developing the magnetic tape MT with a ferricolloid developer and using a universal tool microscope (TOPCON TUM-220ES) and a data processing device (TOPCON CA-1B). At any point along the tape length, 50 servo frames are selected, X and Y are found for each servo frame, and the simple average of the 50 data is used as X and Y in the above calculation formula.
  • the difference (B a1 -A a1 ) indicates the time [sec] on the actual path between the two corresponding servo patterns B1 and A1.
  • the other difference terms also indicate the time [sec] on the actual path between the two corresponding servo patterns. These times are obtained from the time between the timing signals obtained from the waveform of the servo signal and the tape running speed.
  • the actual path means the position where the data write head actually runs on the servo signal.
  • ⁇ is the azimuth angle. ⁇ is obtained by developing the magnetic tape MT with a ferricolloid developer and using a universal tool microscope (TOPCON TUM-220ES) and a data processing device (TOPCON CA-1B).
  • the standard deviation ⁇ PES of the PES values is calculated using a servo signal that has been corrected for the lateral movement of the tape.
  • the servo signal is also subjected to high pass filtering to reflect the tracking ability of the head.
  • the standard deviation ⁇ PES is calculated using the signal obtained by performing the above correction and high pass filtering on the servo signal, and is the so-called Written in PES ⁇ . The method for measuring the standard deviation ⁇ PES of the PES values is explained below.
  • the data write head 60 reads the servo signal from any 1 m range of the data recording area of the magnetic tape MT.
  • the signals acquired by the data write heads 60A and 60B are subtracted as shown in FIG. 53 to obtain a servo signal in which the lateral movement of the magnetic tape MT has been corrected.
  • high pass filter processing is performed on the corrected servo signal.
  • the data write head mounted on the drive moves in the width direction of the magnetic tape MT by an actuator so as to follow the servo signal. Since Written in PES ⁇ is a noise value after taking into account the lateral tracking ability of this head, the above high pass filter processing is required.
  • the high pass filter is not particularly limited, but needs to be a function that can reproduce the lateral tracking ability of the data write head.
  • the PES value is calculated for each servo frame according to the above formula.
  • the standard deviation of the PES values calculated over the above 1 m (Written in PES ⁇ ) is the standard deviation ⁇ PES of the PES values in this technology.
  • the height range ⁇ H (see FIG. 62) obtained from the statistical information (distribution) of the height of the unevenness on the magnetic surface is 3.00 nm ⁇ H ⁇ 6.00 nm, preferably 3.00 nm ⁇ H ⁇ 4.00 nm, and more preferably 3.00 nm ⁇ H ⁇ 3.50 nm. If the height range ⁇ H is ⁇ H ⁇ 3.00 nm, friction is high and the data write head 60 sticks to the magnetic tape MT, making it difficult for the magnetic tape MT to run. On the other hand, if the height range ⁇ H is 6.00 nm ⁇ H, the electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR) decrease due to spacing loss.
  • SNR electromagnetic conversion characteristics
  • the gradient range ⁇ A (see FIG. 62) obtained from statistical information (distribution) of the gradient of the uneven shape on the magnetic surface is 3.80 degrees ⁇ A ⁇ 9.00 degrees, and preferably 4.00 degrees ⁇ A ⁇ 9.00 degrees. If the gradient range ⁇ A is ⁇ A ⁇ 3.80 degrees, the gradient of the protrusions (protrusions including first protrusions 91B and second protrusions 92B, etc.) on the magnetic surface becomes too steep, and friction increases. Therefore, the standard deviation ⁇ PES of the PES value increases.
  • the gradient range ⁇ A is 9.00 degrees ⁇ A
  • the gradient of the protrusions protrusions including first protrusions 91B and second protrusions 92B, etc.
  • A Surface profile measurement
  • B Calculation of relative height at each point.
  • C Calculation of gradient at each point.
  • D Statistical processing of height and gradient data.
  • E Calculation of height range ⁇ H.
  • F Calculation of gradient range ⁇ A.
  • AFM Surface profile measurement
  • FIG. 54A is a diagram showing an example of a two-dimensional surface profile image after filtering.
  • FIG. 54B is a diagram showing an example of a numerical data matrix of height ⁇ (L,W) at each point (L,W).
  • the coordinate L indicates the coordinate in the longitudinal direction of the magnetic tape MT
  • the coordinate W indicates the coordinate in the width direction of the magnetic tape MT.
  • the height ⁇ (L,W) at each point (L,W) is recorded in each cell of the numerical data matrix. In the example shown in FIG. 54B, for example, the height ⁇ (1,3) at measurement point (1,3) is "0.50".
  • the total number of numerical data i.e., heights ⁇ (L,W)
  • is 256 x 256 65,536.
  • FIG. 55 is a diagram showing an example of a numerical data matrix of height Z(L,W).
  • the gradient G L (L, W) indicates the gradient in the longitudinal direction of the magnetic tape MT
  • the gradient G W (L, W) indicates the gradient in the width direction of the magnetic tape MT.
  • Fig. 57A is a diagram showing an example of the numerical data matrix of the gradient G L (L,W).
  • Fig. 57B is a diagram showing an example of the numerical data matrix of the gradient G W (L,W).
  • the gradient GW (L,W) is calculated as follows.
  • the gradient GW (L,W) is calculated using the height ⁇ (L,W) at a certain point (L,W) and the height ⁇ (L,W+1) at a point (L,W+1) adjacent to the point (L,W) in the width direction of the magnetic tape MT.
  • the "neighboring point” used in calculating G L (L, W) for each point (L, W) is point (L+1, W).
  • the neighboring point in the opposite direction, i.e., point (L-1, W), must not be used.
  • the "neighboring point” used in calculating G W (L, W) for each point (L, W) is point (L, W+1).
  • the neighboring point in the opposite direction, i.e., point (L, W-1), must not be used.
  • Fig. 58A is a diagram showing a method for calculating the gradient G L (L, W).
  • Fig. 58B is a diagram showing a method for calculating the gradient G W (L, W).
  • the calculation methods for the gradients G L (L, W) and G W (L, W) are expressed by the following formulas.
  • FIGS 59, 60, and 61 are diagrams for explaining statistical processing of data on height Z(L,W), gradient G L (L,W), and gradient G W (L,W).
  • the numerical data matrix of height Z(L,W) and gradient G L (L,W) obtained as described above is organized, and a table showing the relationship between height Z(L,W) and gradient G L (L,W) (see Figure 59) is created.
  • the numerical data matrix of height Z(L,W) and gradient GW (L,W) is organized to create a table (see FIG. 60) showing the relationship between height Z(L,W) and gradient GW (L,W).
  • the range of height Z(L,W) and its representative value H are listed alongside the columns of the numeric data matrix with the number of data items M(H,A). Also, the range of gradient G(L,W) and its representative value A are listed alongside the rows of the numeric data matrix with the number of data items M(H,A). Note that when there is no particular distinction between gradient G L (L,W) and gradient G W (L,W), gradient G L (L,W) and gradient G W (L,W) are collectively referred to as gradient G(L,W).
  • the numerical value of each cell of the numerical data matrix of the number of data M(H,A) represents the number of data M(H,A) that falls within the range of the specified height Z(L,W) and the range of the specified gradient G (L,W) (specifically, gradient G L (L,W) or gradient G W (L,W)).
  • FIGs 63 and 64 are diagrams for explaining the calculation method of height range ⁇ H.
  • H numerical data matrix of data number M
  • the reason why only components in the range of 0 ⁇ H are used for height H is to take into account only the convex parts of the magnetic surface. In other words, it is considered that the concave parts of the magnetic surface do not affect the electromagnetic conversion characteristics or friction.
  • the reason why only components in the range of 0.00 ⁇ A ⁇ 1.20 are used for gradient A is that it is considered that using only this range for calculation is sufficient to define the approximate outline of the distribution (see Figure 62).
  • the average value in each row (height H) of the numerical data matrix with the number of data items M(H, A) is taken as M ave (H), and calculations are performed in order from the average value M ave (0) to the average value M ave (40.0).
  • the average value M ave (H) only columns (angles A) in the range of 0.00 ⁇ A ⁇ 1.20 are used.
  • the height H when the average value M ave (H) falls below the threshold value (however, the threshold value is set to "2") for the first time is taken as the height H high , and the average value M ave (H) at that time is taken as the average value M ave (H high ). Furthermore, the height H just before that is taken as the height H low , and the average value M ave (H) at that time is taken as the average value M ave (H low ). Setting the threshold value to "1" results in poor reproducibility; in other words, the element of chance has a large influence. Therefore, the threshold value is set to "2", which is the lowest frequency that ensures reproducibility.
  • FIGS 65 and 66 are diagrams for explaining a method of calculating the gradient range ⁇ A.
  • ⁇ A only components (cells) in the ranges of 0 ⁇ H ⁇ H, 0.00 ⁇ A ⁇ 16.00 are used from the numerical data matrix of the number of data M(H, A).
  • ⁇ H the value obtained in "(5) Calculation of height range ⁇ H" above is used.
  • the reason why only components in the range of 0.00 ⁇ A ⁇ 16.00 are used for the gradient A is that the gradient A is usually 0.00 ⁇ A ⁇ 16.00, and it is considered that it is sufficient to use only this range for the calculation.
  • the average value of M(H,A) in each column (angle A) of a numerical data matrix with the number of data items M(H,A) is taken as M ave (A), and calculations are performed in order from the average value M ave (0) to the average value M ave (16.00).
  • M ave (A) the average value of M(H,A) in each column (angle A) of a numerical data matrix with the number of data items M(H,A) is taken as M ave (A), and calculations are performed in order from the average value M ave (0) to the average value M ave (16.00).
  • the average value M ave (A) only the components of the row (height H) in the range of 0.00 ⁇ H ⁇ H are used.
  • the average value M ave (A) is calculated using row (height H) components in the range up to the height H low used in the calculation of the height range ⁇ H. For example, as shown in Fig. 65, if the height range ⁇ H is between 11.0 and 11.5, row (height H) components in the range 0.00 ⁇ H ⁇ 11.0 are used.
  • the angle A when the average value M ave (A) falls below the threshold value (however, the threshold value is set to "2") for the first time is designated as A high , and the average value M ave (A) at that time is designated as the average value M ave (A high ). Furthermore, the angle A immediately before that is designated as the angle A low , and the average value M ave (A) at that time is designated as the average value M ave (A low ).
  • the reason for setting the threshold value for the average value M ave (A) to "2" is the same as the reason for setting the threshold value for the average value M ave (H) to "2".
  • a method for manufacturing the magnetic tape MT having the above-mentioned configuration will be described.
  • a paint for forming the base layer is prepared by kneading and/or dispersing non-magnetic powder, binder, etc. in a solvent.
  • a paint for forming the magnetic layer is prepared by kneading and/or dispersing magnetic powder, binder, etc. in a solvent.
  • the following solvents, dispersing devices, and kneading devices can be used, for example, to prepare the paint for forming the magnetic layer and the paint for forming the base layer.
  • Solvents used in the preparation of the above-mentioned paints include, for example, ketone-based solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; alcohol-based solvents such as methanol, ethanol, and propanol; ester-based solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, propyl acetate, ethyl lactate, and ethylene glycol acetate; ether-based solvents such as diethylene glycol dimethyl ether, 2-ethoxyethanol, tetrahydrofuran, and dioxane; aromatic hydrocarbon-based solvents such as benzene, toluene, and xylene; and halogenated hydrocarbon-based solvents such as methylene chloride, ethylene chloride, carbon tetrachloride, chloroform, and chlorobenzene.
  • the kneading device used in the above-mentioned paint preparation may be, for example, a continuous twin-screw kneader, a continuous twin-screw kneader capable of dilution in multiple stages, a kneader, a pressure kneader, a roll kneader, or other kneading device, but is not limited to these devices.
  • the dispersing device used in the above-mentioned paint preparation may be, for example, a roll mill, a ball mill, a horizontal sand mill, a vertical sand mill, a spike mill, a pin mill, a tower mill, a pearl mill (such as the "DCP Mill” manufactured by Eirich), a homogenizer, or an ultrasonic dispersing machine, but is not limited to these devices.
  • a paint for forming a base layer is applied to one main surface of the base layer 41 and dried to form a non-magnetic layer (hereinafter also referred to as a base layer) 42.
  • a paint for forming a magnetic layer is applied to this base layer 42 and dried to form a magnetic layer 43 on the base layer 42.
  • the magnetic powder is magnetically oriented in the thickness direction of the base layer 41, for example, by a solenoid coil.
  • the magnetic powder may be magnetically oriented in the longitudinal direction (running direction) of the base layer 41, for example, by a solenoid coil, and then magnetically oriented in the thickness direction of the base layer 41.
  • a back layer 44 is formed on the other main surface of the base layer 41. This results in a magnetic tape MT.
  • the resulting magnetic tape MT is rewound around a large diameter core and undergoes a hardening process. Finally, the magnetic tape MT is calendered and then cut to a specified width (e.g., 1/2 inch width). This results in the desired long, thin magnetic recording tape MT.
  • a servo recording and reproducing device 70 (servo recording device) (see FIG. 17) is configured to write a servo pattern 47 onto the servo band s of the magnetic tape MT (see FIG. 10) that can be accurately read by a data write head 60 of a data recording and reproducing device 50 (data recording device) (see FIG. 11).
  • the data write head 60 of the data recording and reproducing device 50 is positioned at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT (see FIG. 12). Therefore, in this embodiment, a first servo pattern 47a ("/") and a second servo pattern 47b (" ⁇ ") that are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape are written in the servo band s (see FIG. 10).
  • the following describes the configuration of the data recording and reproducing device 50, followed by the configuration of the servo recording and reproducing device 70.
  • FIG. 9 is a schematic diagram of the magnetic tape MT as viewed from the side
  • Fig. 10 is a schematic diagram of the magnetic tape MT as viewed from above (the magnetic layer 43 side).
  • the magnetic tape MT is configured in the shape of a tape that is long in the longitudinal direction (X-axis direction), short in the width direction (Y-axis direction), and thin in the thickness direction (Z-axis direction).
  • the magnetic layer 43 has a number of data bands d (data bands d0 to d3) in which data is written, and a number of servo bands s (servo bands s0 to s4) in which servo patterns 47 are written.
  • Each of the multiple data bands d and the multiple servo bands s is long in the longitudinal direction (X-axis direction) and short in the width direction (Y-axis direction).
  • the servo bands s are positioned so as to sandwich each data band d in the width direction (Y-axis direction).
  • the number of data bands d is four and the number of servo bands s is five.
  • the number of data bands d and the number of servo bands s are 5+4n or more (where n is an integer equal to or greater than 0), preferably 5 or more, and more preferably 9 or more. If the number of servo bands s is 5 or more, the effect of dimensional changes in the width direction of the magnetic tape MT on the servo signal can be suppressed, ensuring stable recording and playback characteristics with less off-track.
  • the upper limit of the number of servo bands SB is not particularly limited, but is, for example, 33 or less.
  • the upper limit of the average value of the servo band width is preferably 98 ⁇ m or less, more preferably 60 ⁇ m or less, and even more preferably 30 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the average value of the servo band width WSB is preferably 10 ⁇ m or more. It is difficult to manufacture a head unit 56 that can read a servo signal with a servo band width of less than 10 ⁇ m.
  • the ratio of the area of the servo band s to the total surface area of the magnetic layer 43 is, for example, 4.0% or less.
  • the width of the servo band s is, for example, 96 ⁇ m or less for a 1/2 inch tape width.
  • the ratio of the area of the servo band s to the total surface area of the magnetic layer 43 can be measured, for example, by developing the magnetic tape MT using a developer such as a ferricolloid developer, and then observing the developed magnetic tape MT with an optical microscope.
  • the data band d includes a plurality of recording tracks 46 that are long in the longitudinal direction and aligned in the width direction.
  • the number of recording tracks 46 included in one data band d is, for example, about 1000 to 2500. Data is recorded along and within these recording tracks 46.
  • the length of one bit in the longitudinal direction of the data recorded in the data band d is, for example, 48 nm or less.
  • the width of the recording track 46 (track pitch: Y-axis direction) is, for example, 2.0 ⁇ m or less. Note that such a recording track width can be measured, for example, by developing the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT using a developing solution such as a ferric colloid developing solution, and then observing the developed magnetic layer 43 of the magnetic tape MT with an optical microscope.
  • a method using the data write head 60 may be used to measure the recording track width.
  • the data write head 60 in order to ignore fluctuations during the running of the magnetic tape MT, the data write head 60 is in a recording and reproducing state, and the recording track width can be measured from the change in output when the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is changed.
  • the servo band s includes a servo pattern 47 of a predetermined shape that is recorded by a servo recording and reproducing device 70 (see FIG. 17) described later.
  • the servo pattern 47 includes a first servo pattern 47a ("/") and a second servo pattern 47b (" ⁇ ").
  • the symbols "/" and “ ⁇ ” in the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are used as symbols indicating the inclination direction of the servo pattern when the magnetic tape MT is viewed from below (the back layer side). Therefore, the symbols “/" and “ ⁇ ” in the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are reversed from when viewed from the magnetic layer side in FIG. 10.
  • FIGS. 10 are used as symbols indicating the inclination direction of the servo pattern when the magnetic tape MT is viewed from below (the back layer side). Therefore, the symbols “/” and “ ⁇ ” in the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are reversed from when viewed from the magnetic layer side in FIG. 10.
  • the first servo element 82a (“/") that writes the first servo pattern 47a (“/")
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") that writes the second servo pattern 47b (“ ⁇ ")
  • the servo patterns 47a and 47b recorded on the magnetic layer by the servo elements 82a and 82b are shown as viewed from the back layer side on the head sliding surface.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are written in the servo band s so as to be asymmetric with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT. Note that in the case of a typical servo pattern, the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are written in the servo band s so as to be symmetric (line symmetric) with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the first servo pattern 47a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 with respect to the width direction of the magnetic tape MT
  • the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2 different from the first angle ⁇ s1 in the opposite direction with respect to the width direction of the magnetic tape MT (see Figures 19 and 21 described below).
  • a group of first servo patterns 47a (“/") and a group of second servo patterns 47b (“ ⁇ ") are arranged alternately in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the number of first servo patterns 47a (“/") included in a group of first servo patterns 47a (“/”) is typically four or five, and similarly, the number of second servo patterns 47b (“ ⁇ ") included in a group of second servo patterns 47b (“ ⁇ ”) is typically four or five.
  • the shape of the servo pattern 47 can be measured, for example, by developing the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT using a developer such as a ferric colloid developer, and then observing the developed magnetic layer 43 of the magnetic tape MT with an optical microscope.
  • a developer such as a ferric colloid developer
  • the number of recording tracks 46 increases with each generation of LTO-standard magnetic tape MT, dramatically improving recording capacity.
  • the original LTO-1 had 384 recording tracks 46, but the numbers of recording tracks 46 in LTO-2 to LTO-9 are 512, 704, 896, 1280, 2176, 3584, 6656, and 8960, respectively.
  • data recording capacity was 100GB (gigabytes) in LTO-1, but is 200GB, 400GB, 800GB, 1.5TB (terabytes), 2.5TB, 6.0TB, 12TB, and 18TB, respectively, in LTO-2 to LTO-9.
  • the number of recording tracks 46 and the recording capacity are not particularly limited and can be changed as appropriate. However, it is advantageous to apply this technology to a magnetic tape MT that has a large number of recording tracks 46 and a large recording capacity (e.g., 6,656 tracks or more, 12 TB or more: LTO8 and later) and is susceptible to variations in the width of the magnetic tape MT.
  • a large number of recording tracks 46 and a large recording capacity e.g., 6,656 tracks or more, 12 TB or more: LTO8 and later
  • [Data recording and reproducing device] 11 is a diagram showing a data recording/reproducing device 50.
  • the data recording/reproducing device 50 is capable of recording data on a magnetic tape MT, and is also capable of reproducing the data recorded on the magnetic tape MT.
  • the data recording and reproducing device 50 is configured so that a magnetic recording cartridge 10 can be loaded into it.
  • the magnetic recording cartridge 10 is configured so that a wound magnetic tape MT can be rotatably accommodated inside it.
  • the data recording and reproducing device 50 may be configured so that one magnetic recording cartridge 10 can be loaded into it, or it may be configured so that multiple magnetic recording cartridges 10 can be loaded into it simultaneously.
  • the data recording and reproducing device 50 includes a spindle 51, a take-up reel 52, a spindle drive unit 53, a reel drive unit 54, a data write head 60, a control unit 55, a width measuring unit 56, an angle adjustment unit 57, and a number of guide rollers 58.
  • the spindle 51 is configured so that its rotation can rotate the magnetic tape MT housed inside the magnetic recording cartridge 10.
  • the spindle drive unit 53 rotates the spindle 51 in response to commands from the control unit 55.
  • the take-up reel 52 is configured to be able to fix the tip of the magnetic tape MT that is pulled out from the magnetic recording cartridge 10 via a tape loading mechanism (not shown).
  • the reel drive device 54 rotates the take-up reel 52 in response to commands from the control device 55.
  • the multiple guide rollers 58 guide the magnetic tape MT so that the transport path formed between the magnetic recording cartridge 10 and the take-up reel 52 has a predetermined relative positional relationship with the data write head 60.
  • the data write head 60 is configured to be able to record data to the data band d (recording track 46) of the magnetic tape MT in response to a command from the control device 55 when the magnetic tape MT passes underneath the data write head 60, and is also configured to be able to play back the recorded data.
  • the spindle 51 and take-up reel 52 are rotated by the spindle drive unit 53 and reel drive unit 54, causing the magnetic tape MT to run.
  • the magnetic tape MT can run back and forth in the forward direction (the direction in which it unwinds from the spindle 51 side to the take-up reel 52 side) indicated by the arrow A1 in FIG. 11, and in the reverse direction (the direction in which it rewinds from the take-up reel 52 side to the spindle 51 side) indicated by the arrow A2.
  • the data write head 60 is capable of recording/playing back data in both the forward and reverse directions of the magnetic tape MT.
  • the data write head 60 is positioned such that the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60 is inclined at a predetermined angle ⁇ (first head azimuth angle ⁇ ) with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT (see FIG. 12 described below).
  • the angle at which the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60 is inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is referred to as the azimuth angle ⁇ of the data write head 60. Details of the configuration of the data write head 60 will be described later with reference to FIG. 12 etc.
  • the width measurement unit 56 is configured to be capable of measuring the width of the magnetic tape MT when the magnetic tape MT passes below the width measurement unit 56. In other words, the width measurement unit 56 is configured to be capable of measuring the width of the magnetic tape MT when the data write head 60 records/plays data on the magnetic tape MT. The width measurement unit 56 measures the width of the magnetic tape MT and transmits it to the control device 55.
  • the width measurement unit 56 is composed of various sensors, such as an optical sensor. Any sensor capable of measuring the width of the magnetic tape MT may be used as the width measurement unit 56.
  • the width of the magnetic tape MT can also be predicted by reading adjacent servo patterns 47 and determining the difference in position signals. In this case, the width measurement unit 56 can be omitted.
  • the angle adjustment unit 57 is configured to be able to hold the data write head 60 rotatably around an axis (Z-axis) in the vertical direction.
  • the angle adjustment unit 57 is configured to be able to adjust the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 in response to a command from the control device 55.
  • the control device 55 includes, for example, a control unit, a memory unit, a communication unit, etc.
  • the control unit is composed of, for example, a CPU (Central Processing Unit), etc., and performs overall control of each part of the data recording and playback device 50 according to a program stored in the memory unit.
  • CPU Central Processing Unit
  • the storage unit includes a non-volatile memory in which various data and programs are recorded, and a volatile memory used as a working area for the control unit.
  • the above-mentioned various programs may be read from a portable recording medium such as an optical disk or semiconductor memory, or may be downloaded from a server device on a network.
  • the communication unit is configured to be capable of communicating with other devices such as a PC (Personal Computer) or a server device.
  • control device 55 acquires information on the width of the magnetic tape MT from the width measurement unit 56 (or predicts the width of the magnetic tape from the servo signal), and adjusts the azimuth angle ⁇ (see FIG. 12) of the data write head 60 using the angle adjustment unit 57 based on the information on the width of the magnetic tape MT.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is adjusted to accommodate variations in the width of the magnetic tape MT.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made smaller, and conversely, when the width of the magnetic tape MT becomes relatively narrower, the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made larger.
  • the width of the magnetic tape MT may vary for various reasons, such as temperature, humidity, and tension applied to the magnetic tape MT in the longitudinal direction.
  • Fig. 12 is a schematic diagram of the data write head 60 as viewed from below (the back layer side).
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is defined as the Y'-axis direction, the width direction of the data write head 60 as the X'-axis direction, and the up-down direction of the data write head 60 as the Z'-axis direction.
  • the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT is defined as the X-axis direction, the width direction of the magnetic tape MT as the Y-axis direction, and the thickness direction of the magnetic tape MT as the Z-axis direction. Note that the direction of the magnetic tape MT is based on the direction of the magnetic tape MT when it passes under the data write head 60.
  • the data write head 60 includes a first data write head 60a and a second data write head 60b.
  • the two data write heads 60 are not particularly distinguished from each other, they are collectively referred to simply as data write heads 60, and when the two data write heads 60 are particularly distinguished from each other, they are referred to as the first data write head 60a and the second data write head 60b.
  • the first data write head 60a and the second data write head 60b are configured symmetrically in the width direction (Y' axis direction) of the data write head 60, but are basically configured the same.
  • the first data write head 60a and the second data write head 60b are movable together in the width direction (Y axis direction) of the magnetic tape MT, which allows data to be written to any one of the data bands d out of all data bands d0 to d3.
  • the first data write head 60a is a head that is used when the magnetic tape MT is running in the forward direction (direction A1 in FIG. 11).
  • the second data write head 60b is a head that is used when the magnetic tape MT is running in the reverse direction (direction A2 in FIG. 11).
  • the data write head 60 has a facing surface 61 that faces the magnetic tape MT.
  • the facing surface 61 is long in the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60 and short in the width direction (X'-axis direction) of the data write head 60.
  • the facing surface 61 is provided with two servo read sections 62 and multiple data write/read sections 63.
  • the servo read sections 62 are provided on both ends of the data write head 60 in the longitudinal direction (Y'-axis direction).
  • the servo read sections 62 are configured to be able to reproduce servo signals by reading the magnetic field generated by the servo pattern 47 recorded on the servo band s of the magnetic tape MT using an MR element (MR: Magneto Resistive effect) or the like.
  • MR Magneto Resistive effect
  • MR elements examples include anisotropic magnetoresistive effect elements (AMR: Anisotropic Magneto Resistive effect), giant magnetoresistive effect elements (GMR: Giant Magneto Resistive effect), and tunnel magnetoresistive effect elements (TMR: Tunnel Magneto Resistive effect).
  • AMR Anisotropic Magnetoresistive effect elements
  • GMR giant magnetoresistive effect elements
  • TMR tunnel magnetoresistive effect elements
  • the data write/read sections 63 are arranged at equal intervals along the longitudinal direction (Y'-axis direction) of the data write head 60. Furthermore, the data write/read sections 63 are arranged at positions sandwiched between two servo read sections 62.
  • the number of data write/read sections 63 is, for example, about 20 to 40, but there is no particular limit to this number.
  • the data write/read section 63 includes a data write section 64 and a data read section 65.
  • the data write section 64 is configured to be able to record data onto the data band d of the magnetic tape MT by the magnetic field generated from the magnetic gap.
  • the data read section 65 is also configured to be able to reproduce data signals by reading the magnetic field caused by the data recorded on the data band d of the magnetic tape MT using an MR element or the like.
  • an MR element an anisotropic magnetoresistance effect element (AMR), a giant magnetoresistance effect element (GMR), a tunnel magnetoresistance effect element (TMR), or the like is used.
  • the data write section 64 is located to the left of the data read section 65 (upstream when the magnetic tape MT flows in the forward direction).
  • the data write section 64 is located to the right of the data read section 65 (upstream when the magnetic tape MT flows in the reverse direction).
  • the data read section 65 is capable of reproducing the data signal immediately after the data write section 64 paired with the data read section 65 writes the data to the magnetic tape MT.
  • data written by the data write section 64 of one of the data write heads 60, the first data write head 60a and the second data write head 60b, may be reproduced by the data read section 65 of the other data write head 60.
  • the magnetic tape MT travels back and forth multiple times, forward and reverse, while data is recorded on the recording track 46 by the first data write head 60a and the second data write head 60b.
  • the angle adjustment unit 57 (see FIG. 11) is capable of holding the first data write head 60a and the second data write head 60b rotatably around an axis (Z' axis) in the vertical direction.
  • the angle adjustment unit 57 is also capable of rotating the first data write head 60a and the second data write head 60b individually around the axis in the vertical direction.
  • the angle adjustment unit 57 adjusts the angles of the first data write head 60a and the second data write head 60b so that the longitudinal directions of the first data write head 60a and the second data write head 60b are inclined by the azimuth angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the first data write head 60a in the Y-axis direction are the same as the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the second data write head 60b in the Y-axis direction. This positional relationship does not change even if the first data write head 60a and the second data write head 60b rotate around the Z-axis.
  • the angle adjustment unit 57 can rotate the first data write head 60a and the second data write head 60b individually so that the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the first data write head 60a in the Y-axis direction (the width direction of the magnetic tape MT) are the same as the positions of the servo read section 62 and data write/read section 63 of the second data write head 60b in the Y-axis direction.
  • a reference angle Ref ⁇ is set for the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, and the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is set to an angle range represented by the reference angle Ref ⁇ x°.
  • FIG. 12 shows an example in which the reference angle Ref ⁇ is set in a clockwise direction (as viewed from the bottom side of the magnetic tape MT) relative to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the reference angle Ref ⁇ may be set in a counterclockwise direction (as viewed from the bottom side of the magnetic tape MT) relative to the width direction of the magnetic tape MT.
  • FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.1 ⁇ m).
  • the horizontal axis represents the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60
  • the vertical axis represents the azimuth loss L ⁇ .
  • L ⁇ [dB] The azimuth loss L ⁇ [dB] is expressed by the following formula.
  • L ⁇ ⁇ 20 Log 10 [sin ⁇ ( ⁇ W/ ⁇ ) tan ⁇ /( ⁇ W/ ⁇ ) tan ⁇ ]
  • W is the reproducing track width
  • ⁇ is the recording wavelength of data
  • ⁇ is the azimuth angle of the data write head 60 .
  • the reproduction track width W is set to 0.8 ⁇ m, 0.5 ⁇ m, 0.4 ⁇ m, 0.3 ⁇ m, and 0.2 ⁇ m.
  • the recording wavelength ⁇ is set to 0.1 ⁇ m.
  • the graph where the reproduction track width W is 0.8 ⁇ m corresponds to LTO-9
  • the graphs where the reproduction track width W is 0.5 ⁇ m, 0.4 ⁇ m, 0.3 ⁇ m, and 0.2 ⁇ m correspond to LTO-10 and later (estimated values).
  • the allowable value of the azimuth loss L ⁇ is 0.05 [dB] or less, and that the reproducing track width W of the magnetic tape MT is 0.5 ⁇ m or less (LTO-10 or later (estimated value)).
  • the angular range of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is a maximum of Ref ⁇ 0.7°. Therefore, in this embodiment, in the angular range of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, the value of x in Ref ⁇ x° is typically set to 0.7° or less.
  • Figure 14 shows the relationship between the angle range Ref ⁇ x° at the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 and the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width variation of the magnetic tape MT.
  • the horizontal axis indicates the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, and the vertical axis indicates the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width variation of the magnetic tape MT.
  • Figure 15 shows the amount of correction for the servo band pitch difference based on the width variation of the magnetic tape MT. As shown in Figure 15, this amount of correction is expressed as a-b.
  • the value of a is the distance between the two servo read sections 62 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT when the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is Ref ⁇ -x°.
  • the value of b is the distance between the two servo read sections 62 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT when the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is Ref ⁇ +x°.
  • the angular range of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is Ref ⁇ 0.7° at most (see the vertical dashed line in FIG. 14).
  • the correction amount is 10 ⁇ m or more (see the horizontal dashed line in FIG. 14).
  • a reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 of 7.5° is slightly insufficient, and a reference angle Ref ⁇ of 10° is sufficient.
  • the reference angle Ref ⁇ should be 8° or more.
  • the explanation here does not mean that the reference angle Ref ⁇ must be 8° or more in this embodiment.
  • the reference angle Ref ⁇ can be set appropriately to 2.5° or more, 5° or more, 7.5° or more, 8° or more, 10° or more, 12.5° or more, 15° or more, etc.
  • Fig. 16 is a diagram showing the relationship between the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 and the azimuth loss L ⁇ (recording wavelength: 0.07 ⁇ m).
  • the horizontal axis indicates the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60, and the vertical axis indicates the azimuth loss L ⁇ .
  • the recording wavelength ⁇ of the data is set to 0.07 ⁇ m.
  • the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes smaller as the data recording wavelength ⁇ becomes smaller. Also, the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes larger as the reproduction track width W becomes smaller (see Figures 13 and 16).
  • the reference angle Ref ⁇ at the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes larger as the data recording wavelength ⁇ becomes smaller.Furthermore, the reference angle Ref ⁇ at the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 becomes smaller as the reproduction track width W becomes smaller (see FIG. 14).
  • the value of x in the angle range Ref ⁇ x° of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 can be set to an appropriate value (e.g., 0.7° or less, 0.6° or less, 0.5° or less, 0.4° or less, etc.), and the reference angle Ref ⁇ of the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 can be set to an appropriate value (e.g., 2.5° or more, 5° or more, 7.5° or more, 8° or more, 10° or more, 12.5° or more, 15° or more, etc.).
  • the servo recording and reproducing device 70 includes a feed roller 71, a degaussing unit 72, a servo write head 80, a servo read head 75, a take-up roller 76, and four pairs of capstan rollers 77.
  • the feed roller 71 is capable of rotatably supporting the rolled magnetic tape MT.
  • the feed roller 71 is rotated in response to the drive of a motor or the like, and feeds out the magnetic tape MT downstream in response to the rotation.
  • the winding roller 76 is capable of rotatably supporting the rolled magnetic tape MT.
  • the winding roller 76 rotates in response to the drive of a motor or the like, and winds up the magnetic tape MT as it rotates.
  • the four pairs of capstan rollers 77 are each capable of clamping the magnetic tape MT from both the top and bottom sides.
  • the four pairs of capstan rollers 77 rotate in response to the drive of a motor or the like, and transport the magnetic tape MT along the transport path in response to the rotation.
  • the feed roller 71, take-up roller 76, and four pairs of capstan rollers 77 are capable of transporting the magnetic tape MT at a constant speed within the transport path.
  • the servo write head 80 is disposed, for example, on the upper side (magnetic layer 43 side) of the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80 applies a magnetic field to the servo band s at a predetermined timing in response to a square wave pulse signal, and records the servo pattern 47 on the servo band s.
  • the servo write head 80 is capable of recording servo patterns 47 for each of the servo bands s (s0 to s4) when the magnetic tape MT passes underneath the servo write head 80. Details of the configuration of the servo write head 80 will be described later with reference to Figures 18 to 23.
  • the demagnetizing unit 72 is disposed, for example, upstream of the servo write head 80 and below the magnetic tape MT (toward the base layer 41).
  • the demagnetizing unit 72 is composed, for example, of two permanent magnets 73 and 74.
  • the permanent magnets 73 and 74 apply a magnetic field to the entire magnetic layer 43 using a DC magnetic field, thereby demagnetizing the entire magnetic layer 43 before the servo pattern 47 is recorded by the servo write head 80.
  • the servo read head 75 is positioned downstream of the servo write head 80 and above the magnetic tape MT (on the magnetic layer 43 side).
  • the servo read head 75 is configured to be able to reproduce the information of the servo pattern 47 by reading the magnetic field generated from the servo pattern 47 recorded on the magnetic tape MT.
  • the servo read head 75 is capable of reading the servo patterns 47 from all servo bands s (s0 to s4) when the magnetic tape MT passes underneath the servo read head 75.
  • the information on the servo pattern 47 read by the servo read head 75 is used to confirm whether the servo pattern 47 has been recorded accurately.
  • the types of servo read head 75 include, for example, inductive type, MR type (Magneto Resistive), GMR type (Giant Magneto Resistive), TMR type (Tunnel Magneto Resistive), etc.
  • the servo recording and reproducing device 70 is equipped with a control device that comprehensively controls each part of the servo recording and reproducing device 70.
  • the control device includes, for example, a control unit, a memory unit, a communication unit, etc.
  • the control unit is composed of, for example, a CPU (Central Processing Unit), etc., and performs overall control of each part of the servo recording and reproduction device 70 according to the program stored in the memory unit.
  • a CPU Central Processing Unit
  • the storage unit includes a non-volatile memory in which various data and programs are recorded, and a volatile memory used as a working area for the control unit.
  • the above-mentioned various programs may be read from a portable recording medium such as an optical disk or semiconductor memory, or may be downloaded from a server device on a network.
  • the communication unit is configured to be capable of communicating with other devices such as a PC or server device.
  • the configuration of the servo write head 80 will be described in detail.
  • the data write head 60 in the data recording and reproducing device 50 is disposed at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT. Therefore, the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are written asymmetrically with respect to the width direction of the magnetic tape MT so that the data write head 60 can accurately read the servo patterns 47.
  • the writing of the asymmetric servo patterns 47 is performed by the servo write head 80.
  • servo write head 80 configurations There are two types of servo write head 80 configurations: embodiment A and embodiment B.
  • embodiment A the longitudinal direction (Y" axis direction) of servo write head 80a is arranged parallel to the width direction (Y axis direction) of magnetic tape MT (see Figures 18 to 20 described below).
  • embodiment B the longitudinal direction (Y" axis direction) of servo write head 80b is arranged at a predetermined angle inclined to the width direction (Y axis direction) of magnetic tape MT (see Figures 21 to 23 described below).
  • Fig. 18 is a diagram showing the servo write head 80a and a pulse signal input to the servo write head 80a.
  • Fig. 19 is an enlarged view of a servo element 82 of the servo write head 80a.
  • Fig. 20 is a diagram showing a state in which the servo write head 80a writes a servo pattern 47 onto the magnetic tape MT. Note that Figs. 18 to 20 show the surface of the servo write head 80a that faces the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80a is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the longitudinal direction of the servo write head 80a is the Y" axis direction
  • the width direction of the servo write head 80a is the X" axis direction
  • the up-down direction of the servo write head 80a is the Z" axis direction.
  • the longitudinal direction (transport direction) of the magnetic tape MT is the X axis direction
  • the width direction of the magnetic tape MT is the Y axis direction
  • the thickness direction of the magnetic tape MT is the Z axis direction. This is also true in Figures 21 to 23.
  • the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a coincides with the direction of the magnetic tape MT (Y axis direction), and the width direction (X" axis direction) of the servo write head 80a coincides with the longitudinal direction (X axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80a has a facing surface 81 that faces the magnetic tape MT.
  • the facing surface 81 is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the servo write head 80a has five pairs of servo elements 82 (magnetic gaps) on the opposing surface 80a.
  • the five pairs of servo elements 82 are arranged at a predetermined interval (servo element pitch: SP) in the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a.
  • the distance (servo element pitch) between two pairs of adjacent servo elements 82 is, for example, 2858.8 ⁇ 4.6 ⁇ m. Note that this value corresponds to the distance (servo band pitch: SP) between two adjacent servo bands s in the width direction (Y axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the pair of servo elements 82 includes a first servo element 82a ("/") and a second servo element 82b (" ⁇ ") that are configured asymmetrically with respect to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a (width direction of the magnetic tape MT: Y axis direction) (see FIG. 19 in particular).
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a (width direction of the magnetic tape MT: Y axis direction).
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2 in the opposite direction to the first angle ⁇ s1 relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80a (width direction of the magnetic tape MT: Y axis direction).
  • the first angle ⁇ s1 and the second angle ⁇ s2 are related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60, and are expressed by the following equations, respectively.
  • ⁇ s1 Ref ⁇ + ⁇ a
  • ⁇ s2 Ref ⁇ a
  • Ref ⁇ is the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60
  • ⁇ a is the servo azimuth angle.
  • the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is set to 10° and the servo azimuth angle ⁇ a is set to 12°
  • the first angle ⁇ s1 of the first servo element 82a ("/") is set to 22°
  • the second angle ⁇ s2 of the second servo element 82b (“ ⁇ ") is set to 2°.
  • the distance between the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is, for example, 38 ⁇ m at a position that is 1/2 the width direction component SL of the length of the servo element.
  • the direction along the first angle ⁇ s1 (a direction at 22° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the first servo element 82a ("/").
  • the direction along the second angle ⁇ s2 (a direction at -2° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the second servo element 82b (“ ⁇ ").
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the longitudinal direction, and in this example, the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is longer than the length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component SL (Y-axis direction) of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the first servo element 82a is the same as the width component SL (Y-axis direction) of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component SL of the length of the servo element 82 is, for example, 96 ⁇ 3 ⁇ m.
  • FIG. 18 shows the pulse signals input to each of the five pairs of servo elements 82.
  • FIG. 20 shows the servo pattern 47 written in the servo band s of the magnetic tape MT by inputting the pulse signals to the five pairs of servo elements 82.
  • the data write head 60 is positioned at an inclination of the azimuth angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • pulse signals of the same phase are input to five pairs of servo elements 82 at the same time, and servo patterns 47 of the same phase are written at positions parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the phases of the servo patterns 47 read at the same time by the two servo read portions 62 of the data write head 60 positioned at an angle will be different.
  • the phases of the pulse signals input to five pairs of servo elements 82 at the same time are made different, so that servo patterns 47 of the same phase are written non-parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • phase difference between the pulse signals input to two pairs of servo elements 82 adjacent to each other in the longitudinal direction of the servo write head 80a corresponds to SP x tan(Ref ⁇ ).
  • Ref ⁇ is the reference angle in the data write head 60.
  • phase differences of the input pulses of the servo elements 82 of servo bands s3, s2, s1, and s0 based on the input pulse of the servo element 82 of servo band s4 correspond to phases of 504.08 ⁇ m, 1008.17 ⁇ m, 1512.25 ⁇ m, and 2016.33 ⁇ m, respectively.
  • the servo element 82 in servo band s0 receives the input pulse with the most advanced phase of the pulse signal input at the same time.
  • the order of the input pulse phase is then the servo element 82 in servo band s1, the servo element 82 in servo band s2, the servo element 82 in servo band s3, and the servo element 82 in servo band s4.
  • a pulse signal with a phase that is 504.08 ⁇ m ahead of the servo element 82 of servo band s1 is input to the servo element 82 of servo band s0.
  • phase difference in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT between the servo patterns 47 written in two servo bands s adjacent to each other in the width direction of the magnetic tape MT is expressed as SP x tan(Ref ⁇ ).
  • phase differences of the servo patterns 47 of servo bands s3, s2, s1, and s2 based on the servo pattern 47 of servo band s4 correspond to 504.08 ⁇ m, 1008.17 ⁇ m, 1512.25 ⁇ m, and 2016.33 ⁇ m, respectively.
  • the servo pattern 47 in servo band s0 is the one that has the most advanced phase in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the order of phases is the servo pattern 47 in servo band s1, the servo pattern 47 in servo band s2, the servo pattern 47 in servo band s3, and the servo pattern 47 in servo band s4.
  • the phase of the servo pattern 47 of servo band s0 is set to be ahead of the servo pattern 47 of servo band s1 by a phase corresponding to 504.08 ⁇ m.
  • the phases of the servo patterns 47 written in the five servo bands s are in phase.
  • FIG. 21 is an enlarged view of a servo write head 80b according to embodiment B and a servo element 82 that the servo write head 80b has.
  • Fig. 22 is a view showing a state in which a servo pattern 47 is written on a magnetic tape MT by the servo write head 80b according to embodiment B.
  • Figs. 21 and 22 show the surface of the servo write head 80b that faces the magnetic tape MT.
  • Figs. 23 to 26 described below also show the surface of the servo write head 80 that faces the magnetic tape MT.
  • the servo write head 80b has a shape that is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b is tilted at a predetermined angle (second head azimuth angle) with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the angle at which the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b is tilted with respect to the width direction (Y axis direction) of the magnetic tape MT is related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 and coincides with the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 (e.g., 10°).
  • the servo write head 80b has a facing surface 81 that faces the magnetic tape MT.
  • the facing surface 81 is long in the longitudinal direction (Y" axis direction) and short in the width direction (X" axis direction).
  • the servo write head 80b has five pairs of servo elements 82 (magnetic gaps) on the opposing surface 81.
  • the five pairs of servo elements 82 are arranged at a predetermined interval (servo element pitch: SP1) in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the spacing (servo element pitch: SP1) between two pairs of adjacent servo elements 82 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is, for example, 2858.8 ⁇ 4.6 ⁇ m. This value corresponds to the spacing (servo band pitch: SP1) between two servo bands s that are adjacent to each other in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • SP1 x tan(Ref ⁇ ) The difference in position between two pairs of adjacent servo elements 82 in the longitudinal direction (X-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • Ref ⁇ is the reference angle in the data write head 60.
  • the pair of servo elements 82 includes a first servo element 82a ("/") and a second servo element 82b (" ⁇ ") that are configured asymmetrically with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT (see particularly the right side of Figure 21).
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 relative to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2 in the opposite direction to the first angle ⁇ s1 relative to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the first angle ⁇ s1 and the second angle ⁇ s2 are related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60, and are expressed by the following equations, respectively.
  • ⁇ s1 Ref ⁇ + ⁇ a
  • ⁇ s2 Ref ⁇ a
  • Ref ⁇ is the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60
  • ⁇ a is the servo azimuth angle.
  • the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is set to 10° and the servo azimuth angle ⁇ a is set to 12°
  • the first angle ⁇ s1 of the first servo element 82a ("/") is set to 22°
  • the second angle ⁇ s2 of the second servo element 82b (“ ⁇ ") is set to 2°.
  • the distance between the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is, for example, 38 ⁇ m at a position that is 1/2 the width component SL of the length of the servo element 82.
  • the direction along the first angle ⁇ s1 (a direction at 22° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the first servo element 82a ("/").
  • the direction along the second angle ⁇ s2 (a direction at -2° relative to the width direction of the magnetic tape MT) is defined as the longitudinal direction of the second servo element 82b (“ ⁇ ").
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the longitudinal direction, and in this example, the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is longer than the length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component (Y-axis direction) SL1 of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the first servo element 82a is the same as the width component (Y-axis direction) SL1 of the magnetic tape MT in the longitudinal length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the width component SL1 of the length of the servo element 82 is, for example, 96 ⁇ 3 ⁇ m.
  • FIG. 25 is an enlarged view of the right side of FIG. 21, showing an example of specific dimensions of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") (based on the XYZ coordinate system).
  • FIG. 22 shows a servo pattern 47 written in five servo bands s by five pairs of servo elements 82.
  • phase difference in the width direction of the magnetic tape MT between the servo patterns 47 written in two servo bands s adjacent to each other in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is expressed as SP1 x tan(Ref ⁇ ).
  • phase differences of the servo patterns 47 of servo bands s3, s2, s1, and s2, based on the servo pattern 47 of servo band s4, correspond to 504.08 ⁇ m, 1008.17 ⁇ m, 1512.25 ⁇ m, and 2016.33 ⁇ m, respectively.
  • the servo pattern 47 in servo band s0 is the one that has the most advanced phase in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the order of phases is the servo pattern 47 in servo band s1, the servo pattern 47 in servo band s2, the servo pattern 47 in servo band s3, and the servo pattern 47 in servo band s4.
  • the phase of the servo pattern 47 of servo band s0 is set to be ahead of the servo pattern 47 of servo band s1 by a phase corresponding to 504.08 ⁇ m.
  • the phases of the servo patterns 47 written in the five servo bands s are in phase.
  • FIG. 23 shows the servo write head 80b in embodiment B, based on the coordinate system of the servo write head 80b.
  • the five pairs of servo elements 82 are arranged at a predetermined interval (servo element pitch: SP2) in the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b.
  • the interval (servo element pitch: SP2) between two adjacent pairs of -1 servo elements 82 in the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b is expressed as SP1 x cos(Ref ⁇ ).
  • the spacing (servo element pitch: SP1) between two adjacent pairs of servo elements 82 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is 2858.8 ⁇ m, and the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is 10°.
  • the spacing (servo element pitch: SP2) between two adjacent pairs of servo elements 82 in the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80b is 2902.9 ⁇ m.
  • the axis of symmetry of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is non-parallel to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT, and is also non-parallel to the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80b.
  • the axis of symmetry of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") is non-parallel to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT, but is parallel to the longitudinal direction (Y"-axis direction) of the servo write head 80b.
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a servo azimuth angle ⁇ a relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b.
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined in the opposite direction to the first servo element 82a ("/") at the same servo azimuth angle ⁇ a as the first servo element 82a ("/") relative to the longitudinal direction (Y" axis direction) of the servo write head 80b.
  • the direction along the servo azimuth angle ⁇ a (a direction at +12° relative to the longitudinal direction of the servo write head 80b) is defined as the longitudinal direction of the first servo element 82a ("/").
  • the direction along the servo azimuth angle ⁇ a (a direction at -12° relative to the longitudinal direction of the servo write head 80b) is defined as the longitudinal direction of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the longitudinal direction, and in this example, the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is longer than the length of the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the longitudinal component SL21 (Y" axis direction) of the servo write head 80b in the longitudinal length of the first servo element 82a ("/") and the longitudinal component SL22 (Y" axis direction) of the servo write head 80b in the longitudinal length of the second servo element 82b (“ ⁇ ") are also different.
  • FIG. 26 is an enlarged view of the right side of FIG. 23, showing an example of specific dimensions of the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") (based on the X"Y"Z" coordinate system).
  • the width direction component SL1 (Y-axis direction) of the magnetic tape MT in the length of the servo element 82 is 96 ⁇ m
  • the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60 is 10°
  • the servo azimuth angle ⁇ a is 12°.
  • FIG. 20 The right side of Figure 20 shows the servo pattern 47 written by the servo write head 80a in embodiment A being read by the two servo read portions 62 of the data write head 60.
  • the servo write head 80a of embodiment A is positioned without being tilted in the width direction of the magnetic tape MT, and the servo pattern 47 is written by adjusting the phase of the pulse signal input to the servo element 82.
  • the magnetic tape MT may move slightly in the width direction (Y-axis direction).
  • the servo element 82 of servo band s0 writes a servo pattern 47 of a phase ph1 to servo band s0 at a certain time t1. Then, at a later time t2 (the time when the magnetic tape MT has been transported 504.08 ⁇ m in the transport direction), the servo element 82 of servo band s1 writes a servo pattern 47 of phase ph1 to servo band s1.
  • the distance (in the direction of the reference angle Ref ⁇ (10°)) between the position of the servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s0 and the position of the servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s1 will differ from the default value (the distance between the two servo lead portions 62: in the direction of the reference angle Ref ⁇ (10°)).
  • Figure 22 shows the servo pattern 47 written by the servo write head 80b in embodiment B being read by the two servo read portions 62 of the data write head 60.
  • the servo write head 80b of embodiment B is positioned at an angle to the width of the magnetic tape MT, and the servo pattern 47 is written with the same phase of the pulse signal input to the servo element 82.
  • the servo element 82 of servo band s0 and the servo element 82 of servo band s1 write servo patterns 47 of the same phase ph1 to servo band s0 and servo band s1 at the same time t1.
  • the servo element 82 of servo band s0 and the servo element 82 of servo band s1 write servo patterns 47 of the same phase ph2 to servo bands s0 and s1 at the same time t2.
  • the distance (in the direction of reference angle Ref ⁇ (10°)) between the position of servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s0 and the position of servo pattern 47 of phase ph1 in servo band s1 is the same as the distance between the position of servo pattern 47 of phase ph2 in servo band s0 and the position of servo pattern 47 of phase ph2 in servo band s1.
  • These distances are the same as the default value (distance between two servo lead portions 62: in the direction of reference angle Ref ⁇ (10°)), and are constant.
  • the spacing (in the direction of the reference angle Ref ⁇ ) between servo patterns 47 of the same phase in adjacent servo bands s can be made constant, regardless of slight movement in the width direction of the magnetic tape MT when writing the servo patterns 47. This allows the data write head 60 to accurately servo trace the servo patterns 47.
  • embodiment B is more advantageous than embodiment A.
  • this is not intended to mean that the method of embodiment A cannot be adopted, and embodiment A is also included as an example of the present technology.
  • the method of embodiment A may be adopted.
  • the first servo pattern 47a (“/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") that are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT can be written to each of the servo bands s0 to s4 by the servo write head 80.
  • This allows the data write head 60 to accurately read the servo patterns 47 when the data write head 60 is disposed at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • FIG. 24 is a diagram showing the state when the servo pattern 47 is read by the servo read portion 62 of the data write head 60 in the first comparative example, the second comparative example, and the first embodiment.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are symmetrical with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read portion 62 of the data write head 60 is the same for each group of servo patterns 47. Therefore, when the servo patterns 47 are read by the servo read portion 62 of the servo write head 80, the output of the servo signal is the same for each servo burst corresponding to the group of servo patterns 47.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") are symmetrical with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is arranged at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read section 62 of the data write head 60 differs for each group of servo patterns 47. Therefore, when the servo patterns 47 are read by the servo read section 62 of the servo write head 80, the output of the servo burst in the servo signal corresponding to the group of servo patterns 47 with less azimuth loss is large, while the output of the servo burst corresponding to the group of servo patterns 47 with more azimuth loss is small. This can cause an error in the tracking reference position.
  • the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ ") on the magnetic tape MT are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 is non-parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read portion 62 of the data write head 60 is the same for each group of servo patterns 47. Therefore, when the servo patterns 47 are read by the servo read portion 62 of the servo write head 80, the output of the servo signal is the same for each servo burst corresponding to the group of servo patterns 47.
  • the first servo pattern 47a (“/") and the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT, so that when the data write head 60 is positioned at an angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT, the data write head 60 can accurately read the servo pattern 47.
  • the longitudinal direction of the data write head 60 in the data recording and reproducing device 50 is inclined at an azimuth angle ⁇ with respect to the width direction of the magnetic tape MT, and the azimuth angle ⁇ is adjusted. This makes it possible to accommodate variations in the width of the magnetic tape MT.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 in the data recording and reproducing device 50 is adjusted within the range of the reference angle Ref ⁇ x°.
  • the value of x is set to 0.7° or less, it is possible to reduce the azimuth loss L ⁇ while accommodating magnetic tapes MT with small playback track widths W (e.g., 0.5 ⁇ m or less). Also, by setting the reference angle Ref ⁇ to 8° or more, the above correction amount can be increased (e.g., 10 ⁇ m or more).
  • the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (“ ⁇ ") are provided in the servo write head 80 so as to be asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT. This makes it possible to properly write a servo pattern 47 that is asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape MT by the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ").
  • the first servo element 82a (“/") is inclined at a first angle ⁇ s1 with respect to the width direction of the magnetic tape MT
  • the second servo element 82b (“ ⁇ ") is inclined at a second angle ⁇ s2, which is different from the first angle ⁇ s1, in the opposite direction to the first angle ⁇ s1 with respect to the width direction of the magnetic tape MT.
  • the first angle ⁇ s1 and the second angle ⁇ s2 are related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60. This allows the first servo element 82a ("/") and the second servo element 82b (" ⁇ ") to properly write an asymmetric servo pattern 47 that can be accurately read by the data write head 60.
  • the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction is different from the length of the first servo element 82a ("/") in the longitudinal direction, but the component of the length of the first servo element 82a ("/") in the width direction of the magnetic tape MT is the same as the component of the length of the second servo element 82b (" ⁇ ") in the width direction of the magnetic tape MT.
  • the longitudinal direction of the servo write head 80 may be arranged so as to be inclined at a predetermined angle with respect to the width direction of the magnetic tape MT (see embodiment B). In this case, it is possible to appropriately respond to slight movements in the width direction of the magnetic tape MT when writing the servo pattern 47.
  • the angle at which the longitudinal direction of the servo write head 80 is tilted with respect to the width direction of the magnetic tape MT may be related to the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60, and this angle may coincide with the reference angle Ref ⁇ of the data write head 60. This makes it possible to properly write an asymmetric servo pattern 47 that can be accurately read by the tilted data write head 60.
  • the phase difference in the width direction of the magnetic tape MT between the servo patterns 47 in adjacent servo bands s is related to the reference angle Ref ⁇ of the servo write head 80 and is expressed as SP ⁇ tan(Ref ⁇ ). This allows the servo patterns 47 to be accurately read by the data write head 60, which is positioned at an angle.
  • FIG. 27 is a diagram showing a first example of a method for checking whether a magnetic tape MT is a magnetic tape MT used in a data write head tilt type data recording and reproducing device 50.
  • the following check is performed based on the angle (first angle ⁇ s1) at which the first servo pattern 47a ("/") is tilted with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT, and the angle (second angle ⁇ s2) at which the second servo pattern 47b (" ⁇ ") is tilted with respect to the width direction of the magnetic tape.
  • Figure 27 shows the magnetic tape MT as seen from the top (magnetic layer side) (therefore, in the first servo pattern 47a ("/") and the second servo pattern 47b (" ⁇ "), the signs "/" and " ⁇ " are reversed from appearance).
  • a developer such as a ferricolloid developer (e.g., Sigmarca Q (registered trademark) manufactured by Sigma High Chemical Co.) is applied to the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT to perform development.
  • the developed magnetic layer 43 of the magnetic tape MT is then observed with an optical microscope to confirm the shape of the servo pattern 47.
  • the upper and lower ends of the first servo pattern 47a ("/") and the upper and lower ends of the second servo pattern 47b (“ ⁇ ") are measured as measurement points. Then, the distance a (corresponding to the servo band width) between the upper and lower ends of the servo pattern 47 in the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is measured.
  • the distance b between the upper end and the lower end of the first servo pattern 47a (“/") is measured.
  • the distance c between the upper end and the lower end of the second servo pattern 47b is measured.
  • the angle (first angle ⁇ s1) at which the first servo pattern 47a ("/") is inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is calculated by tan -1 (b/a).
  • the angle (second angle ⁇ s2) at which the second servo pattern 47b (" ⁇ ") is inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT is calculated by tan -1 (c/a).
  • the angle calculated at this time corresponds to the angle at which the axes of symmetry of the first servo pattern 47a and the second servo pattern 47b are inclined with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the azimuth loss of the servo patterns 47 relative to the servo read portion 62 of the data write head 60 is the same for each group of servo patterns 47.
  • the output of the servo signal is the same for each servo burst corresponding to the group of servo patterns 47.
  • this magnetic tape MT can be considered to be a magnetic tape MT used in a data recording and playback device 50 of a type in which the data write head 60 is positioned at an angle with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • [Confirmation method: second example] 28 is a diagram showing a second example of a method for checking whether a magnetic tape MT is a magnetic tape MT used in a data recording/reproducing device 50 with a tilted data write head.
  • the above checking is performed based on a phase difference between the servo patterns 47 in adjacent servo bands.
  • a data recording and reproducing device in which the data write head 60 is positioned parallel to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the two servo read sections 62 of the data write head 60 read the servo patterns 47 in the adjacent servo bands, and reproduce the servo signals.
  • the phase of the servo signal reproduced by the lower servo read section 62 is ahead of the phase of the servo signal reproduced by the upper servo read section 62, resulting in a phase difference.
  • the difference in time at which the same LPOS (Longitudinal Position) information is read between the servo signal reproduced by the lower servo read section 62 and the servo signal reproduced by the upper servo read section 62 is found. This time difference is then converted into distance to find the phase difference d in the longitudinal direction of the magnetic tape (for example, 0.505 ⁇ m).
  • phase difference d eg, 0.505 ⁇ m
  • servo band pitch SP known
  • the angle found in this case corresponds to the angle that a straight line connecting the positions where in-phase information is written in the servo pattern 47 of one servo band and the servo pattern 47 of the other servo band makes with respect to the width direction of the magnetic tape.
  • the magnetic tape MT can be regarded as a magnetic tape MT used in a data recording/reproducing device 50 of the type in which the data write head 60 is disposed at an angle with respect to the width direction (Y-axis direction) of the magnetic tape MT.
  • the sign of the width change ⁇ out on the outer side of the magnetic tape MT is different from the sign of the width change ⁇ in on the inner side of the magnetic tape MT. Since the sign of the width change ⁇ out on the outer side of the magnetic tape MT is different from the sign of the width change ⁇ in on the inner side of the magnetic tape MT, excellent running stability can be obtained even when stored in a high-temperature environment.
  • the width change ⁇ is 0 ppm in either of the two regions that sandwich the center line of the entire length of the magnetic tape MT when the entire length of the magnetic tape MT is divided into four equal regions. This allows excellent running stability to be obtained even when stored in a high-temperature environment. Furthermore, the width change ⁇ may be 300 ppm or less in any of the four regions in the longitudinal direction of the magnetic tape. This allows the azimuth angle ⁇ of the data write head to be adjusted to accommodate changes in shape due to changes in temperature and humidity, even if the width of the magnetic tape MT changes in a high-temperature environment.
  • the magnetic tape MT according to the first embodiment has a plurality of servo bands s in which servo patterns 47 including a first servo pattern 47a and a second servo pattern 47b asymmetrical with respect to the width direction of the magnetic tape MT are written, and the servo patterns 47 in the servo bands s adjacent to each other may have a phase difference. Therefore, the magnetic tape MT according to the first embodiment can be used in a data recording and reproducing device 50 that can respond to a change in the width of the magnetic tape MT by adjusting the azimuth angle ⁇ of the data write head 60.
  • the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made small, and conversely, when the width of the magnetic tape MT becomes relatively narrow, the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 is made large.
  • the servo patterns 47 of the magnetic tape MT can be accurately read even when the width of the magnetic tape MT changes. Therefore, even if the width of the magnetic tape MT changes in a high temperature environment, the change in width can be accommodated by adjusting the azimuth angle ⁇ of the data write head 60 .
  • the magnetic tape MT according to the first embodiment is capable of dealing with width changes that may occur in high-temperature environments. Therefore, the magnetic tape MT according to the first embodiment is suitable for storage and running in high-temperature environments.
  • the magnetic recording cartridge of this embodiment is the same as the magnetic recording cartridge 10 described in 2. "(1) Configuration of the magnetic cartridge" above, except that it includes a vacuum thin-film type magnetic tape MT1 instead of a coating type magnetic tape MT.
  • the vacuum thin-film type magnetic tape MT1 is described below.
  • the magnetic tape MT is a coated magnetic tape in which the underlayer and magnetic layer are produced by a coating process (wet process), but the magnetic tape may be a vacuum thin-film type magnetic tape in which the underlayer and magnetic layer are produced by a vacuum thin-film production technique (dry process) such as sputtering.
  • dry process a vacuum thin-film production technique
  • FIG 29 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a vacuum thin-film type magnetic tape MT1 according to a second embodiment of the present technology.
  • the magnetic tape MT1 is a perpendicular recording type magnetic recording medium, and includes a film-like base layer 111, a soft magnetic underlayer (hereinafter referred to as "SUL") 112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first underlayer 114A, a second underlayer 114B, and a magnetic layer 115 as a recording layer.
  • the SUL 112, the first and second seed layers 113A and 113B, the first and second underlayers 114A and 114B, and the magnetic layer 115 are vacuum thin films such as sputtered films.
  • the SUL 112, the first and second seed layers 113A, 113B, and the first and second underlayers 114A, 114B are provided between one major surface (hereinafter referred to as the "surface") of the base layer 111 and the magnetic layer 115, and are stacked in the following order from the base layer 111 toward the magnetic layer 115: SUL 112, first seed layer 113A, second seed layer 113B, first underlayer 114A, second underlayer 114B.
  • the magnetic tape MT1 may further include a protective layer 116 provided on the magnetic layer 115 and a lubricating layer 117 provided on the protective layer 116, if necessary.
  • the magnetic tape MT1 may further include a back layer 118 provided on the other main surface (hereinafter referred to as the "back surface") of the base layer 111, if necessary.
  • the longitudinal direction of the magnetic tape MT1 (the longitudinal direction of the base layer 111) is referred to as the MD (machine direction).
  • the MD direction refers to the relative movement direction of the recording and reproducing heads with respect to the magnetic tape MT1, i.e., the direction in which the magnetic tape MT1 runs during recording and reproducing.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment is suitable for use as a storage medium for data archives, the demand of which is expected to increase in the future.
  • This magnetic tape MT1 can achieve an areal recording density of 50 Gb/ in2 or more, which is 10 times or more than that of current coating-type magnetic recording media for storage.
  • a general linear recording type data cartridge is configured using the magnetic tape MT1 having such an areal recording density, a large capacity recording capacity of 100 TB or more can be achieved per data cartridge.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment is suitable for use in a recording and reproducing device (a recording and reproducing device for recording and reproducing data) having a ring-type recording head and a Giant Magnetoresistive (GMR) type or Tunneling Magnetoresistive (TMR) type reproducing head.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment preferably uses a ring-type recording head as a servo signal writing head.
  • a data signal is vertically recorded on the magnetic layer 115, for example, by a ring-type recording head.
  • a servo signal is vertically recorded on the magnetic layer 115, for example, by a ring-type recording head.
  • the average thickness t T , width change, storage modulus, loss modulus, etc. of the magnetic tape MT1 in the second embodiment are similar to those in the first embodiment.
  • the base layer 111 is similar to the base layer 41 in the first embodiment.
  • the SUL 112 includes a soft magnetic material in an amorphous state.
  • the soft magnetic material includes at least one of a Co-based material and an Fe-based material.
  • the Co-based material includes, for example, CoZrNb, CoZrTa, or CoZrTaNb.
  • the Fe-based material includes, for example, FeCoB, FeCoZr, or FeCoTa.
  • SUL 112 is a single layer SUL and is provided directly on base layer 111.
  • the average thickness of SUL 112 is preferably 10 nm or more and 50 nm or less, and more preferably 20 nm or more and 30 nm or less.
  • the average thickness of the SUL 112 is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment.
  • the average thicknesses of the layers other than the SUL 112 i.e., the average thicknesses of the first and second seed layers 113A, 113B, the first and second underlayers 114A, 114B, and the magnetic layer 115), which will be described later, are also determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment.
  • the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of each layer.
  • the first seed layer 113A includes an alloy containing Ti and Cr, and is in an amorphous state.
  • the alloy may further include O (oxygen).
  • the oxygen may be impurity oxygen contained in a small amount in the first seed layer 113A when the first seed layer 113A is formed by a film forming method such as a sputtering method.
  • alloy refers to at least one of a solid solution, a eutectic, and an intermetallic compound containing Ti and Cr.
  • Amorphous state means that a halo is observed by X-ray diffraction or electron beam diffraction, etc., and the crystal structure cannot be identified.
  • the atomic ratio of Ti to the total amount of Ti and Cr contained in the first seed layer 113A is preferably in the range of 30 atomic % or more and less than 100 atomic %, and more preferably 50 atomic % or more and less than 100 atomic %. If the atomic ratio of Ti is less than 30%, the (100) plane of the body-centered cubic lattice (bcc) structure of Cr will become oriented, and there is a risk that the orientation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the first seed layer 113A will decrease.
  • the atomic ratio of Ti is determined as follows. While ion milling the magnetic tape MT1 from the magnetic layer 115 side, a depth profile analysis (depth profile measurement) of the first seed layer 113A is performed by Auger Electron Spectroscopy (AES). Next, the average composition (average atomic ratio) of Ti and Cr in the film thickness direction is determined from the obtained depth profile. Next, the atomic ratio of Ti is determined using the obtained average composition of Ti and Cr.
  • the atomic ratio of O to the total amount of Ti, Cr and O contained in the first seed layer 113A is preferably 15 atomic % or less, more preferably 10 atomic % or less. If the atomic ratio of O exceeds 15 atomic %, TiO2 crystals are generated, which may affect the crystal nucleation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the first seed layer 113A, and may reduce the orientation of the first and second underlayers 114A and 114B.
  • the atomic ratio of O is determined using the same analytical method as the atomic ratio of Ti.
  • the alloy contained in the first seed layer 113A may further contain an element other than Ti and Cr as an additive element.
  • the additive element may be, for example, one or more elements selected from the group consisting of Nb, Ni, Mo, Al, W, etc.
  • the average thickness of the first seed layer 113A is preferably 2 nm or more and 15 nm or less, and more preferably 3 nm or more and 10 nm or less.
  • the second seed layer 113B contains, for example, NiW or Ta, and has a crystalline state.
  • the average thickness of the second seed layer 113B is preferably 3 nm or more and 20 nm or less, more preferably 5 nm or more and 15 nm or less.
  • the first and second seed layers 113A and 113B have a crystal structure similar to that of the first and second underlayers 114A and 114B, and are not seed layers provided for the purpose of crystal growth, but are seed layers that improve the vertical orientation of the first and second underlayers 114A and 114B due to the amorphous state of the first and second seed layers 113A and 113B.
  • the first and second underlayers 114A and 114B preferably have the same crystal structure as the magnetic layer 115.
  • the first and second underlayers 114A and 114B preferably contain a material having a hexagonal close-packed (hcp) structure similar to the Co-based alloy, and the c-axis of the structure is preferably oriented perpendicular to the film surface (i.e., in the film thickness direction). This is because it enhances the orientation of the magnetic layer 115 and can relatively well match the lattice constants of the second underlayer 114B and the magnetic layer 115.
  • the material having the hexagonal close-packed (hcp) structure it is preferable to use a material containing Ru, and specifically, Ru alone or a Ru alloy is preferable.
  • Ru alloy for example, Ru alloy oxides such as Ru-SiO 2 , Ru-TiO 2 or Ru-ZrO 2 can be mentioned.
  • the first and second underlayers 114A and 114B can be made of similar materials. However, the intended effects of the first and second underlayers 114A and 114B are different. Specifically, the second underlayer 114B has a film structure that promotes the granular structure of the magnetic layer 115 that is the layer above it, and the first underlayer 114A has a film structure with high crystal orientation. To obtain such a film structure, it is preferable to use different film formation conditions, such as sputtering conditions, for the first and second underlayers 114A and 114B.
  • different film formation conditions such as sputtering conditions
  • the average thickness of the first underlayer 114A is preferably 3 nm to 15 nm, more preferably 5 nm to 10 nm.
  • the average thickness of the second underlayer 114B is preferably 7 nm to 40 nm, more preferably 10 nm to 25 nm.
  • the magnetic layer 115 is a perpendicular magnetic recording layer in which the magnetic material is oriented perpendicularly.
  • the magnetic layer 115 may be a vacuum thin film such as a sputtered film.
  • the magnetic layer 115 is preferably a granular magnetic layer containing a Co-based alloy. This granular magnetic layer is composed of ferromagnetic crystal grains containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (non-magnetic material) surrounding the ferromagnetic crystal grains.
  • this granular magnetic layer is composed of columns (columnar crystals) containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (e.g., oxides such as SiO2 ) surrounding the columns and magnetically separating each column.
  • the magnetic layer 115 can be configured to have a structure in which each column is magnetically separated.
  • the Co-based alloy has a hexagonal close-packed (hcp) structure, with its c-axis oriented perpendicular to the film surface (film thickness direction).
  • hcp hexagonal close-packed
  • the CoCrPt-based alloy is not particularly limited, and the CoCrPt alloy may further contain an additive element.
  • the additive element include one or more elements selected from the group consisting of Ni, Ta, etc.
  • the non-magnetic grain boundaries surrounding the ferromagnetic crystal grains contain a non-magnetic metal material.
  • the metal includes a semi-metal.
  • at least one of a metal oxide and a metal nitride can be used as the non-magnetic metal material, and from the viewpoint of maintaining the granular structure more stably, it is preferable to use a metal oxide.
  • the metal oxide there is a metal oxide containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, and Hf, and a metal oxide containing at least Si oxide (i.e., SiO 2 ) is preferable.
  • the metal oxide examples include SiO 2 , Cr 2 O 3 , CoO, Al 2 O 3 , TiO 2 , Ta 2 O 5 , ZrO 2 , or HfO 2 .
  • the metal nitride there is a metal nitride containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, and Hf.
  • metal nitrides include SiN, TiN, and AlN.
  • the CoCrPt alloy contained in the ferromagnetic crystal grains and the Si oxide contained in the non-magnetic grain boundaries have an average composition shown in the following formula (5), because this can suppress the influence of the demagnetizing field and realize a saturation magnetization Ms that can ensure sufficient reproduction output, thereby achieving further improvement in the recording and reproduction characteristics.
  • x, y, and z are values within the ranges of 69 ⁇ X ⁇ 75, 10 ⁇ y ⁇ 16, and 9 ⁇ Z ⁇ 12, respectively.
  • the above composition can be determined as follows. While ion milling the magnetic tape MT1 from the magnetic layer 115 side, AES is used to perform a depth direction analysis of the magnetic layer 115, and the average composition (average atomic ratio) of Co, Pt, Cr, Si, and O in the film thickness direction is determined.
  • the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 115 is, for example, 90 nm or less, preferably 80 nm or less, more preferably 70 nm or less, even more preferably 60 nm or less, and particularly preferably 50 nm or less, 20 nm or less, or 15 nm or less.
  • the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 115 is preferably 9 nm or more. When the average thickness of the magnetic layer 115 is 9 nm or more and 90 nm or less, the electromagnetic conversion characteristics can be improved.
  • the magnetic layer 115 has multiple data bands in which data is written, and multiple servo bands in which servo patterns are written.
  • the explanation of the data bands and servo bands in the first embodiment described in 1. (2) above applies. Therefore, the explanation of the data bands and servo bands of the magnetic layer 115 is omitted.
  • the protective layer 116 contains, for example, a carbon material or silicon dioxide (SiO 2 ), and preferably contains a carbon material from the viewpoint of the film strength of the protective layer 116.
  • the carbon material include graphite, diamond-like carbon (DLC), diamond, and the like.
  • the lubricating layer 117 includes at least one lubricant.
  • the lubricating layer 117 may further include various additives, such as a rust inhibitor, as necessary.
  • the lubricant include the same lubricant as that used in the magnetic layer 43 in the first embodiment.
  • the lubricant may not only be held as a lubricating layer 117 on the surface of the magnetic tape MT1 as described above, but may also be contained and held in layers such as the magnetic layer 115 and protective layer 116 that make up the magnetic tape MT1.
  • the back layer 118 is similar to the back layer 44 in the first embodiment.
  • the sputtering apparatus 120 includes a SUL 112, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first underlayer 113C, and a second underlayer 113D. 14A, the second underlayer 114B and the magnetic layer 115, and includes a film-forming chamber 121, a drum 122 which is a metal can (rotating body), cathodes 123a to 123f, a supply reel 124, a take-up reel 125, and a plurality of guide rolls 127a to 127c and 128a to 128c.
  • the sputtering device 120 is, for example, a DC (direct current) magnetron sputtering type device, but the sputtering type is not limited to this type.
  • the film-forming chamber 121 is connected to a vacuum pump (not shown) via an exhaust port 126, and the atmosphere in the film-forming chamber 121 is set to a predetermined vacuum level by the vacuum pump.
  • a rotatable drum 122, a supply reel 124, and a take-up reel 125 are arranged inside the film-forming chamber 121.
  • a plurality of guide rolls 127a-127c are provided for guiding the transport of the base layer 111 between the supply reel 124 and the drum 122, and a plurality of guide rolls 128a-128c are provided for guiding the transport of the base layer 111 between the drum 122 and the take-up reel 125.
  • the base layer 111 unwound from the supply reel 124 is wound onto the take-up reel 125 via the guide rolls 127a-127c, the drum 122, and the guide rolls 128a-128c.
  • the drum 122 has a cylindrical shape, and the long base layer 111 is transported along the cylindrical peripheral surface of the drum 122.
  • the drum 122 is provided with a cooling mechanism (not shown), and is cooled to, for example, about ⁇ 20° C. during sputtering.
  • a plurality of cathodes 123a to 123f are arranged facing the peripheral surface of the drum 122. Targets are set on each of these cathodes 123a to 123f.
  • targets for forming the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are set on the cathodes 123a, 123b, 123c, 123d, 123e, and 123f, respectively.
  • These cathodes 123a-123f simultaneously deposit multiple types of films, namely, SUL 112, first seed layer 113A, second seed layer 113B, first underlayer 114A, second underlayer 114B, and magnetic layer 115.
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B and the magnetic layer 115 can be continuously formed by the roll-to-roll method.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment can be manufactured, for example, as follows.
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are sequentially deposited on the surface of the base layer 111.
  • the deposition is performed as follows. First, the deposition chamber 121 is evacuated to a predetermined pressure. Then, while introducing a process gas such as Ar gas into the deposition chamber 121, the targets set on the cathodes 123a to 123f are sputtered.
  • a process gas such as Ar gas
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are sequentially deposited on the surface of the running base layer 111.
  • the atmosphere in the film formation chamber 121 during sputtering is set to, for example, about 1 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa to 5 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa.
  • the film thickness and characteristics of the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B and the magnetic layer 115 can be controlled by adjusting the tape line speed for winding up the base layer 111, the pressure of the process gas such as Ar gas introduced during sputtering (sputtering gas pressure), the input power, and the like.
  • the protective layer 116 is formed on the magnetic layer 115.
  • the protective layer 116 can be formed by, for example, chemical vapor deposition (CVD) or physical vapor deposition (PVD).
  • a paint for forming the back layer is prepared by kneading and dispersing a binder, inorganic particles, a lubricant, etc. in a solvent.
  • the paint for forming the back layer is applied to the back surface of the base layer 111 and dried, thereby forming the back layer 118 on the back surface of the base layer 111.
  • a lubricant is applied onto the protective layer 116 to form the lubricant layer 117.
  • various application methods such as gravure coating and dip coating can be used.
  • the magnetic tape MT1 is cut to a predetermined width. In this manner, the magnetic tape MT1 shown in FIG. 29 is obtained.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment can cope with width changes that may occur in a high-temperature environment. Therefore, the magnetic tape MT1 according to the second embodiment is suitable for storage and running in a high-temperature environment.
  • the magnetic recording cartridge of this embodiment is the same as the magnetic recording cartridge 10 described in "(1) Configuration of the magnetic cartridge" in 2. above, except that it includes a vacuum thin-film type magnetic tape MT2 instead of the coated magnetic tape MT.
  • the vacuum thin-film type magnetic tape MT2 is described below.
  • FIG. 31 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of a vacuum thin-film magnetic tape MT2 according to a third embodiment of the present technology.
  • the magnetic tape MT2 includes a base layer 111, an SUL 112, a seed layer 131, a first underlayer 132A, a second underlayer 132B, and a magnetic layer 115. Note that in the third embodiment, parts that are the same as those in the second embodiment are given the same reference numerals and will not be described.
  • the SUL 112, seed layer 131, first and second underlayers 132A and 132B are provided between one major surface of the base layer 111 and the magnetic layer 115, and are stacked in the order of SUL 112, seed layer 131, first underlayer 132A, and second underlayer 132B from the base layer 111 toward the magnetic layer 115.
  • the seed layer 131 contains Cr, Ni, and Fe, has a face-centered cubic lattice (fcc) structure, and is preferentially oriented so that the (111) plane of this face-centered cubic structure is parallel to the surface of the base layer 111.
  • the preferential orientation means a state in which the diffraction peak intensity from the (111) plane of the face-centered cubic lattice structure is greater than the diffraction peaks from other crystal planes in a ⁇ -2 ⁇ scan of an X-ray diffraction method, or a state in which only the diffraction peak intensity from the (111) plane of the face-centered cubic lattice structure is observed in a ⁇ -2 ⁇ scan of an X-ray diffraction method.
  • the intensity ratio of the X-ray diffraction of the seed layer 131 is preferably 60 cps/nm or more, more preferably 70 cps/nm or more, and even more preferably 80 cps/nm or more.
  • the intensity ratio of the X-ray diffraction of the seed layer 131 is a value (I/D (cps/nm)) obtained by dividing the intensity I (cps) of the X-ray diffraction of the seed layer 131 by the average thickness D (nm) of the seed layer 131.
  • the Cr, Ni, and Fe contained in the seed layer 131 preferably have an average composition represented by the following formula (6).
  • CrX NiYFe100 -Y ) 100-X ... (6)
  • X is within the range of 10 ⁇ X ⁇ 45
  • Y is within the range of 60 ⁇ Y ⁇ 90.
  • X is within the above range
  • the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe is improved, and a better SNR can be obtained.
  • Y is within the above range
  • the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe is improved, and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the seed layer 131 is preferably 5 nm or more and 40 nm or less. By setting the average thickness of the seed layer 131 within this range, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of Cr, Ni, and Fe can be improved, and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the seed layer 131 is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the seed layer 131.
  • the first underlayer 132A contains Co and O having a face-centered cubic lattice structure, and has a columnar (columnar crystal) structure.
  • the first underlayer 132A containing Co and O has substantially the same effect (function) as the second underlayer 132B containing Ru.
  • the concentration ratio of the average atomic concentration of O to the average atomic concentration of Co is 1 or more. When the concentration ratio is 1 or more, the effect of providing the first underlayer 132A is improved, and a better SNR can be obtained.
  • the direction of the inclination is preferably the longitudinal direction of the long magnetic tape MT2.
  • the longitudinal direction is preferable for the following reasons.
  • the magnetic tape MT2 according to this embodiment is a magnetic recording medium for so-called linear recording, and the recording tracks are parallel to the longitudinal direction of the magnetic tape MT2.
  • the magnetic tape MT2 according to this embodiment is also a so-called perpendicular magnetic recording medium, and from the viewpoint of recording characteristics, it is preferable that the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is vertical. However, due to the influence of the inclination of the column structure of the first underlayer 132A, the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 may be inclined.
  • a configuration in which the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is inclined in the longitudinal direction of the magnetic tape MT2 can reduce the influence of the inclination of the crystal orientation axis on the recording characteristics compared to a configuration in which the crystal orientation axis of the magnetic layer 115 is inclined in the width direction of the magnetic tape MT2.
  • the inclination angle of the column structure is preferably greater than 0° and equal to or less than 60°.
  • the change in the tip shape of the columns contained in the first underlayer 132A is large and becomes approximately triangular, which tends to enhance the effect of the granular structure, reduce noise, and improve the SNR.
  • the inclination angle exceeds 60°, the change in the tip shape of the columns contained in the first underlayer 132A is small and it is difficult to obtain an approximately triangular shape, which tends to weaken the low-noise effect.
  • the average grain size of the columnar structure is 3 nm or more and 13 nm or less. If the average grain size is less than 3 nm, the average grain size of the columnar structure contained in the magnetic layer 115 will be small, and there is a risk that the ability of current magnetic materials to retain records will decrease. On the other hand, if the average grain size is 13 nm or less, noise can be suppressed and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the first underlayer 132A is preferably 10 nm or more and 150 nm or less. If the average thickness of the first underlayer 132A is 10 nm or more, the (111) orientation of the face-centered cubic lattice structure of the first underlayer 132A is improved, and a better SNR can be obtained. On the other hand, if the average thickness of the first underlayer 132A is 150 nm or less, the column particle size can be prevented from increasing. Therefore, noise can be suppressed and a better SNR can be obtained.
  • the average thickness of the first underlayer 132A is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the first underlayer 132A.
  • the second underlayer 132B preferably has the same crystal structure as the magnetic layer 115.
  • the second underlayer 132B preferably contains a material having a hexagonal close-packed (hcp) structure similar to the Co-based alloy, and the c-axis of the structure is preferably oriented perpendicular to the film surface (i.e., in the film thickness direction). This is because it can increase the orientation of the magnetic layer 115 and relatively well match the lattice constants of the second underlayer 132B and the magnetic layer 115.
  • a material having a hexagonal close-packed structure it is preferable to use a material containing Ru, and specifically, Ru alone or a Ru alloy is preferable.
  • Ru alloy for example, Ru alloy oxides such as Ru-SiO 2 , Ru-TiO 2 , or Ru-ZrO 2 can be mentioned.
  • the average thickness of the second underlayer 132B may be thinner than that of an underlayer in a typical magnetic recording medium (e.g., an underlayer containing Ru), and can be, for example, 1 nm or more and 5 nm or less. Since the seed layer 131 and the first underlayer 132A having the above-mentioned configuration are provided under the second underlayer 132B, a good SNR can be obtained even if the average thickness of the second underlayer 132B is as thin as described above.
  • the average thickness of the second underlayer 132B is determined in the same manner as the magnetic layer 43 in the first embodiment. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the second underlayer 132B.
  • the average thickness t T , the width change, and the loss modulus of the base layer 111 of the magnetic tape MT2 in the third embodiment are similar to those in the first embodiment.
  • the data band and servo band of the magnetic layer 115 in the third embodiment are the same as those in the first embodiment. That is, the details of the data band and servo band of the magnetic layer 115 in the third embodiment are as described in 2. (2) above.
  • the magnetic tape MT2 according to the third embodiment is capable of dealing with width changes that may occur in high-temperature environments. Therefore, the magnetic tape MT2 according to the third embodiment is suitable for storage and running in high-temperature environments.
  • the magnetic tape MT2 includes a seed layer 131 and a first underlayer 132A between a base layer 111 and a second underlayer 132B.
  • the seed layer 131 contains Cr, Ni, and Fe, has a face-centered cubic lattice structure, and is preferentially oriented so that the (111) plane of this face-centered cubic structure is parallel to the surface of the base layer 111.
  • the first underlayer 132A contains Co and O, and has a columnar structure in which the ratio of the average atomic concentration of O to the average atomic concentration of Co is 1 or more, and the average grain size is 3 nm or more and 13 nm or less. This makes it possible to realize a magnetic layer 115 with good crystal orientation and high coercivity by reducing the thickness of the second underlayer 132B and using as little Ru, which is an expensive material, as possible.
  • the Ru contained in the second underlayer 132B has the same hexagonal close-packed lattice structure as Co, the main component of the magnetic layer 115. Therefore, Ru has the effect of improving the crystal orientation of the magnetic layer 115 and promoting granularity at the same time.
  • the first underlayer 132A and the seed layer 131 are provided under the second underlayer 132B.
  • the first underlayer 132A containing inexpensive CoO with a face-centered cubic lattice structure achieves almost the same effect (function) as the second underlayer 132B containing Ru. Therefore, the thickness of the second underlayer 132B can be made thin.
  • the seed layer 131 containing Cr, Ni and Fe is provided.
  • the magnetic tape cartridge 10 is a one-reel type cartridge, but it may be a two-reel type cartridge.
  • FIG 32 is an exploded perspective view showing an example of the configuration of a two-reel type cartridge 321.
  • the cartridge 321 comprises an upper half 302 made of synthetic resin, a transparent window member 323 that fits into and is fixed to a window portion 302a opened on the upper surface of the upper half 302, a reel holder 322 that is fixed to the inside of the upper half 302 and prevents the reels 306 and 307 from floating up, a lower half 305 that corresponds to the upper half 302, the reels 306 and 307 that are stored in the space formed by combining the upper half 302 and the lower half 305, the magnetic tape MT wound on the reels 306 and 307, a front lid 309 that closes the front opening formed by combining the upper half 302 and the lower half 305, and a back lid 309A that protects the magnetic tape MT exposed at this front opening.
  • Reels 306 and 307 are used to wind magnetic tape MT.
  • Reel 306 comprises a lower flange 306b having a cylindrical hub portion 306a in the center around which magnetic tape MT is wound, an upper flange 306c of approximately the same size as lower flange 306b, and a reel plate 311 sandwiched between hub portion 306a and upper flange 306c.
  • Reel 307 has the same configuration as reel 306.
  • the window member 323 has mounting holes 323a at positions corresponding to the reels 306 and 307 for attaching reel holders 322, which are reel holding means for preventing the reels from floating up.
  • the magnetic tape MT is the same as the magnetic tape MT in the first embodiment.
  • the magnetic tape MT1 according to the second embodiment may further include an underlayer between the base layer 111 and the SUL 112. Since the SUL 112 has an amorphous state, it does not play a role in promoting epitaxial growth of the layer formed on the SUL 112, but it is required not to disturb the crystal orientation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the SUL 112.
  • the soft magnetic material has a fine structure that does not form columns, but if the influence of degassing such as moisture from the base layer 111 is large, the soft magnetic material may become coarse and disturb the crystal orientation of the first and second underlayers 114A and 114B formed on the SUL 112.
  • an underlayer having an amorphous state which contains an alloy containing Ti and Cr, between the base layer 111 and the SUL 112, as described above.
  • this underlayer a configuration similar to that of the first seed layer 113A of the second embodiment can be adopted.
  • the magnetic tape MT1 does not have to include at least one of the second seed layer 113B and the second underlayer 114B. However, from the viewpoint of improving the SNR, it is more preferable to include both the second seed layer 113B and the second underlayer 114B.
  • the magnetic tape MT1 may be provided with an APC-SUL (Antiparallel Coupled SUL) instead of a single-layer SUL.
  • APC-SUL Antiparallel Coupled SUL
  • the loss modulus of the base layer of the magnetic tape is a value determined by the measurement method described in the first embodiment.
  • FIG. 41 is a schematic diagram for explaining a method for calculating the movement angle of a tilted drive head, which is the movement angle of the drive head required to deal with width changes assumed when the disk is stored in a high-temperature environment.
  • the left side of Fig. 41 shows the distance (h) between the two servo read heads of the drive head, the servo band pitch (SP), and the tilt angle (10°) of the drive head for the initial (before width change) magnetic tape.
  • Cos10° SP/h.
  • Example 1 (Preparation process of paint for forming magnetic layer)
  • the magnetic layer coating material was prepared as follows. First, the first composition having the following composition was mixed with an extruder. Next, the mixed first composition and the second composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disperser and premixed. Then, further mixing was performed with a dyno mill and filtering was performed to prepare the magnetic layer coating material.
  • Aluminum oxide powder 7.5 parts by mass ( ⁇ -Al 2 O 3 , average particle size 80 ⁇ m)
  • the paint for forming the undercoat layer was prepared as follows. First, the third composition having the following composition was mixed with an extruder. Next, the mixed third composition and the fourth composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disperser and premixed. Then, further mixing was performed with a dyno mill and filtering was performed to prepare the paint for forming the undercoat layer.
  • Carbon black 30 parts by weight (manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80)
  • n-Butyl stearate 2 parts by mass Methyl ethyl ketone: 108.2 parts by mass Toluene: 108.2 parts by mass
  • Cyclohexanone 100.0 parts by mass
  • the paint for forming the back layer was prepared as follows. The following raw materials were mixed in a stirring tank equipped with a disperser and filtered to prepare the paint for forming the back layer.
  • Carbon black manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80
  • Polyester polyurethane 100 parts by mass
  • Methyl ethyl ketone 500 parts by weight
  • Toluene 400 parts by weight
  • Cyclohexanone 100 parts by weight
  • the base layer was formed by applying the paint for forming the base layer onto the polymer film that would become the base layer and drying it.
  • the application conditions were adjusted so that the average thickness of the base layer after calendaring would be 0.82 ⁇ m.
  • the polymer film used was reinforced PET (trade name "SPALTAN” (registered trademark), manufactured by Toray Industries, Inc.) with an average thickness of 4.0 ⁇ m.
  • the magnetic layer-forming paint was applied onto the underlayer and dried to form a magnetic layer on the underlayer.
  • the application conditions were adjusted so that the average thickness of the magnetic layer after calendaring would be 0.08 ⁇ m.
  • the magnetic layer-forming paint was dried, the magnetic powder was magnetically oriented in the thickness direction of the polymer film by a neodymium magnet.
  • the drying conditions (drying temperature and drying time) of the magnetic layer-forming paint were adjusted, and the squareness ratio in the longitudinal direction was set to 34%.
  • a back layer was formed by applying a paint for forming a back layer to the other main surface of the reinforced PET film on which the undercoat layer and magnetic layer were formed, and then drying it. At this time, the application conditions were adjusted so that the average thickness of the back layer after calendaring was 0.3 ⁇ m. In this way, a magnetic tape was obtained.
  • the magnetic tape was wound into a roll, and then subjected to a heat treatment in this state to harden the underlayer and the magnetic layer.
  • the magnetic tape obtained as described above was cut to a width of 1/2 inch (12.65 mm). As a result, the desired long magnetic tape (average thickness 5.3 ⁇ m) was obtained.
  • the magnetic tape obtained as described above had the properties shown in Tables 1 and 2. For example, the loss modulus of the base layer of the magnetic tape at 65° C. was 0.07 GPa.
  • the 1/2 inch wide magnetic tape was wound around a reel provided in a cartridge case to obtain a magnetic recording cartridge. After demagnetizing the magnetic tape, a servo pattern was written on the magnetic tape.
  • the servo pattern included a first servo pattern and a second servo pattern that were asymmetric with respect to the width direction of the magnetic tape.
  • the servo patterns in the adjacent servo bands had a phase difference.
  • the magnetic tape housed in the magnetic recording cartridge was run so as to be wound into a magnetic recording and reproducing device (running in the so-called forward direction) and the servo band pitch was measured.
  • the servo band pitch in the longitudinal direction was also measured for the magnetic tape housed in the magnetic recording cartridge in the initial state before storage, and the width change amount represented by the ratio of the servo band pitch after storage to the servo band pitch in the initial state was calculated.
  • FIG. 34 the horizontal axis indicates the position in the longitudinal direction of the magnetic tape.
  • the position of the end (BOT) on the outer periphery side (outside of the winding) of the magnetic tape wound on the tape reel is set to 0, and the position of the end (hereinafter also referred to as EOT) on the inner periphery side (inside of the winding) of the magnetic tape wound on the tape reel is set to 84, and the total length of the magnetic tape is divided into 84 equal parts.
  • the vertical axis indicates the amount of width change after storage at 65° C., 40 RH%, and 360 hours, and indicates width after storage/width before storage.
  • Example 2a A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that a polyethylene naphthalate film (hereinafter referred to as "PEN film”) was used as the base layer material.
  • PEN film polyethylene naphthalate film
  • a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • the results of the width change in the longitudinal direction of the magnetic tape are shown in FIG. 35. As shown in FIG. 35, the width change on the outer side of the winding at positions 0 to 20 was a negative value, the width change on the inner side of the winding at positions 60 to 84 was a positive value, and the width change was 0 ppm between positions 59 and 60.
  • Example 2b A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that the amount of aluminum oxide powder added to the magnetic layer was 5.0 parts by mass, and the calendering temperature was 10° C. higher than in Example 2a. In the same manner as in Example 1, a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • Example 2c A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that the size of the aluminum oxide powder in the magnetic layer was 50 nm and the calendering temperature was 10° C. higher than that in Example 2a.
  • a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape in the same manner as in Example 1, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • Example 2d A magnetic tape was obtained in the same manner as in Comparative Example 1a, except that the amount of aluminum oxide powder added to the magnetic layer was 5.0 parts by mass, and the calendering temperature was 5° C. lower than that of Comparative Example 1a. In the same manner as in Example 1, a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • Example 3 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that a polyether ether ketone film (hereinafter referred to as "PEEK film”) was used as the base layer material, the average thickness of the back layer was 0.4 ⁇ m, and the average total thickness was 5.3 ⁇ m.
  • PEEK film a polyether ether ketone film
  • a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape. The results of the width change in the longitudinal direction of the magnetic tape are shown in FIG. 36. As shown in FIG.
  • the width change on the outer side of the winding at positions 0 to 20 was a negative value
  • the width change on the inner side of the winding at positions 60 to 84 was a positive value
  • the width change was 0 ppm between positions 37 and 38.
  • Example 1a A tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that the size of the aluminum oxide powder in the magnetic layer was set to 50 nm, and the calendering temperature was set to 10° C. lower than in Comparative Example 1.
  • the results of the width change in the longitudinal direction of the magnetic tape are shown in Figure 37. As shown in Figure 37, the width change on the outside of the winding at positions 0 to 20 was a positive value, and the width change on the inside of the winding at positions 60 to 84 was also a positive value.
  • Comparative Example 1b A tape was obtained in the same manner as in Comparative Example 1a, except that the size of the aluminum oxide powder in the magnetic layer was 50 nm, the amount added was 5.0 parts by mass, and the calendering temperature was 5° C. lower than in Comparative Example 1a.
  • the average thickness of the base layer was 4.0 ⁇ m
  • the average thickness of the magnetic layer and the underlayer was 1.2 ⁇ m
  • the average thickness of the back layer was 0.4 ⁇ m
  • the average total thickness was 5.6 ⁇ m
  • a magnetic tape was manufactured in the same manner as in Example 1.
  • a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape in the same manner as in Example 1, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • the results of the width change in the longitudinal direction of the magnetic tape are shown in FIG. 38. As shown in FIG. 38, the width change on the outer side of the winding at positions 0 to 20 was a positive value, and the width change on the inner side of the winding at positions 60 to 84 was also a positive value.
  • Example 3 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that a polyurethane resin with a Tg of 70° C. was used as the resin blended in the paint for forming the magnetic layer and the paint for forming the undercoat layer, and polyisocyanate was not added as a curing agent to the paint for forming the undercoat layer.
  • a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape in the same manner as in Example 2a, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • the results of the width change in the longitudinal direction of the magnetic tape are shown in FIG. 39. As shown in FIG. 39, the width change on the outer side of the winding at positions 0 to 20 was a negative value, and the width change on the inner side of the winding at positions 60 to 84 was also a negative value.
  • Example 4 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that an aramid film (hereinafter referred to as "ARAMID film") was used as the base layer, a polyurethane resin with a Tg of 70°C was used as the resin blended in the paint for forming the magnetic layer and the paint for forming the undercoat layer, and no polyisocyanate was added as a hardener to the paint for forming the undercoat layer.
  • a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape in the same manner as in Example 2, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape. The results of the width change in the longitudinal direction of the magnetic tape are shown in Figure 40.
  • Example 5 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that the average thickness of the base layer was 4.0 ⁇ m, the average thickness of the magnetic layer and the undercoat layer was 1.2 ⁇ m, the average thickness of the back layer was 0.4 ⁇ m, the average total thickness was 5.6 ⁇ m, the polyurethane resin blended in the magnetic layer forming paint and the undercoat layer forming paint had a Tg of 70° C., and no polyisocyanate was added as a hardener to the undercoat layer forming paint.
  • a magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 2a, except that a magnetic recording cartridge was manufactured using the magnetic tape, and a servo pattern was recorded on the magnetic tape.
  • Tables 1 and 2 show the configurations and evaluation results of the magnetic tapes of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1a to 5. Also, Figures 34 to 40 show the amount of width change in the longitudinal direction of each of the magnetic tapes of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1a to 4.
  • Comparing Example 2a with Comparative Example 4 it can be seen that by having a base layer with a loss modulus of 0.40 GPa or less at 65°C, the running characteristics can be improved after rewinding and long-term storage.
  • Example 2a shows that by setting the gradient range ⁇ A to 3.80 degrees ⁇ ⁇ A ⁇ 9.00 degrees, the electromagnetic conversion characteristics are excellent and the increase in friction can be suppressed.
  • the configurations, methods, steps, shapes, materials, and values given in the above-mentioned embodiments and examples are merely examples, and different configurations, methods, steps, shapes, materials, and values may be used as necessary.
  • the chemical formulas of compounds, etc. are representative, and are not limited to the valences, etc. given as long as they are general names for the same compounds.
  • a numerical range indicated using “ ⁇ ” indicates a range that includes the numerical values before and after " ⁇ " as the minimum and maximum values, respectively.
  • the upper or lower limit of a numerical range of a certain stage may be replaced with the upper or lower limit of a numerical range of another stage.
  • the materials exemplified in this specification may be used alone or in combination of two or more types.
  • the present technology can also be configured as follows. [1] A cartridge case; Reel and a magnetic recording medium wound around the reel and housed within the cartridge case; When the magnetic recording medium was stored at 65° C. for 360 hours in a wound state on the reel, the amount of change in width of the magnetic recording medium was measured over the entire length of the magnetic recording medium.
  • the sign of the width change amount ⁇ out on the outer side of the magnetic recording medium is different from the sign of the width change amount ⁇ in on the inner side of the magnetic recording medium, and
  • the amount of change in width is 0 ppm at any one of two regions on either side of a center line of the entire length of the magnetic recording medium when the entire length of the magnetic recording medium is divided into four equal regions, and
  • the magnetic recording medium includes a magnetic layer, the magnetic layer has an uneven surface; a height range ⁇ H obtained from statistical information on the height of the uneven shape is 3.00 nm ⁇ H ⁇ 6.00 nm; a gradient range ⁇ A calculated from statistical information on the gradient of the uneven shape is 3.80 degrees ⁇ A ⁇ 9.00 degrees,
  • the magnetic recording medium has a base layer having a loss modulus of 0.40 GPa or less at 65° C.
  • Magnetic recording cartridge [2] 2. The magnetic recording cartridge according to claim 1, wherein the amount of width change ⁇ in of the magnetic recording medium is a positive value, and the amount of width change ⁇ out of the magnetic recording medium is a negative value. [3] The magnetic recording cartridge according to [1] or [2], wherein, when the total length of the magnetic recording medium in the longitudinal direction is taken as 100%, the amount of width change ⁇ of the magnetic recording medium after storage for 360 hours at 65° C. is 0 ppm at a position 25% to 75% from the outer end of the magnetic recording medium.
  • the magnetic recording cartridge according to any one of [1] to [9], wherein the magnetic layer contains magnetic particles, first particles having electrical conductivity, and second particles having an abrasive effect, the uneven shape contains first protrusions formed by the first particles and second protrusions formed by the second particles, and a ratio H1/H2 of an average height H1 of the first protrusions to an average height H2 of the second protrusions satisfies H1/H2 ⁇ 2.3.
  • the ratio H1/H2 is 1.0 ⁇ H1/H2 ⁇ 1.7 or less.
  • the magnetic recording cartridge according to any one of [1] to [18], wherein the magnetic layer contains magnetic particles, carbon particles, and an abrasive, the uneven shape contains first protrusions formed by the carbon particles and second protrusions formed by the abrasive, and a ratio H1/H2 of an average height H1 of the first protrusions to an average height H2 of the second protrusions satisfies H1/H2 ⁇ 2.3.
  • a magnetic recording medium wound on a reel of a magnetic recording cartridge and accommodated in a cartridge case of the magnetic recording cartridge When the magnetic recording medium was stored at 65° C. for 360 hours in a wound state on the reel, the amount of change in width of the magnetic recording medium was measured over the entire length of the magnetic recording medium.
  • the sign of the width change amount ⁇ out on the outer side of the magnetic recording medium is different from the sign of the width change amount ⁇ in on the inner side of the magnetic recording medium, and
  • the amount of change in width is 0 ppm at any one of two regions on either side of a center line of the entire length of the magnetic recording medium when the entire length of the magnetic recording medium is divided into four equal regions, and
  • the magnetic recording medium includes a magnetic layer, the magnetic layer has an uneven surface; a height range ⁇ H obtained from statistical information on the height of the uneven shape is 3.00 nm ⁇ H ⁇ 6.00 nm; a gradient range ⁇ A calculated from statistical information on the gradient of the uneven shape is 3.80 degrees ⁇ A ⁇ 9.00 degrees,
  • the magnetic recording medium has a base layer having a loss modulus of 0.40 GPa or less at 65° C. Magnetic recording media.

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  • Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

高温環境下での保存および走行に適した磁気記録カートリッジを提供することを目的とする。　カートリッジケースと、リールと、磁気記録媒体と、を有し、磁気記録媒体がリールに巻かれた状態で、磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、巻外側の幅変化量Δoutの符号が巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、幅変化量が、磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、磁気記録媒体は、磁性層を備え、磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、凹凸形状の高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、凹凸形状の勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、磁気記録媒体は、ベース層を有する、磁気記録カートリッジ。

Description

磁気記録カートリッジ
　本技術は、磁気記録カートリッジに関する。
　アーカイブの需要が高まり、総容量の高いテープ状の磁気記録媒体がクラウドシステムに組み込まれるようになっている。現在のテープ状の磁気記録媒体は、実走行や保管の環境温度範囲がＨＤＤ（Hard Disk Drive）や半導体メモリ等より狭いため、テープ状の磁気記録媒体の実走行や保管の環境温度範囲を拡張することが望まれている。テープ状の磁気記録媒体がＨＤＤや半導体メモリ等と同様の温度環境で使用できるようになると、テープ状の磁気記録媒体の使用範囲が大きく広がると考えられている。
　テープ状の磁気記録媒体では、環境変化により磁気記録媒体の幅方向の寸法が大きく変化すると、オフトラックが発生し、安定した記録再生特性を確保することが困難になる。特許文献１では、環境変化によりテープ状の磁気記録媒体の幅方向の寸法が変化しても、記録再生装置によりテープ状の磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することで、幅変化を補正可能なテープ状の磁気記録媒体が提案されている。また、テープ状の磁気記録媒体における幅変化に対処するため、特許文献２では、データライドヘッドをテープ状の磁気記録媒体の幅方向に対して傾けて配置することが提案されている。
特開２０２０－１７３８８２号公報 特開２００５－２５９１９８号公報
　本技術は、高温環境下での保存および走行に適した磁気記録カートリッジを提供することを目的とする。
　本技術は、
　カートリッジケースと、
　リールと、
　前記リールに巻かれた状態で前記カートリッジケース内に収容された磁気記録媒体と、を有し、
　前記磁気記録媒体が前記リールに巻かれた状態で、６５℃で３６０時間保存後に全長にわたって前記磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、
　前記磁気記録媒体の巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気記録媒体の巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、
　前記幅変化量が、前記磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、
　前記磁気記録媒体は、磁性層を備え、
　前記磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、
　前記凹凸形状の高さの統計情報から求められた高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、
　前記凹凸形状の勾配の統計情報から求められた勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、
　前記磁気記録媒体は、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を有する、
磁気記録カートリッジを提供する。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δinが正の値であり、且つ、前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δoutが負の値でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁気記録媒体の長手方向の全長を１００％としたときに、前記磁気記録媒体の巻外側端部から２５％～７５％の位置において、６５℃で３６０時間保存後における前記磁気記録媒体の幅変化量Δが０ｐｐｍでありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁気記録媒体は、（前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δin）－（前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δout）が、８００ｐｐｍ以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記ベース層の６５℃における貯蔵弾性率が８．０ＧＰａ以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記ベース層がＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、又はＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）から形成されうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁気記録媒体の平均厚みｔＴが５．４μｍ以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記ベース層の平均厚みｔＢが４．６μｍ以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁性層が磁性粉を含みうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁性層は、磁性粒子、導電性を有する第１粒子および研磨効果のある第２粒子を含み、前記凹凸形状は、前記第１粒子により形成された第１突起と、前記第２粒子により形成された第２突起とを含み、前記第１突起の平均高さＨ１と前記第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２が、Ｈ１／Ｈ２≦２．３でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記比Ｈ１／Ｈ２が、１．０≦Ｈ１／Ｈ２≦１．７以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦４．００ｎｍでありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記第１突起の平均高さＨ１が、５．０ｎｍ以上１２．０ｎｍ以下であり、前記第２突起の平均高さＨ２が、２．０ｎｍ以上７．０ｎｍ以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記第１粒子が、カーボン粒子でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記第２粒子が、アルミナ粒子でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁性層の平均厚みは、８０ｎｍ以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁気記録媒体は、さらに、平均厚みが０．９μｍ以下である下地層を有しうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁性粒子の平均粒子体積が、１６００ｎｍ３以下でありうる。
　本技術に従う、磁気記録カートリッジにおいて、前記磁性層は、磁性粒子、カーボン粒子および研磨剤を含み、前記凹凸形状は、前記カーボン粒子により形成された第１突起と、前記研磨剤により形成された第２突起とを含み、前記第１突起の平均高さＨ１と前記第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２が、Ｈ１／Ｈ２≦２．３でありうる。
　本技術は、
　磁気記録カートリッジのリールに巻かれた状態で当該磁気記録カートリッジのカートリッジケース内に収容された磁気記録媒体であって、
　前記磁気記録媒体が前記リールに巻かれた状態で、６５℃で３６０時間保存後に全長にわたって前記磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、
　前記磁気記録媒体の巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気記録媒体の巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、
　前記幅変化量が、前記磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、
　前記磁気記録媒体は、磁性層を備え、
　前記磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、
　前記凹凸形状の高さの統計情報から求められた高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、
　前記凹凸形状の勾配の統計情報から求められた勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、
　前記磁気記録媒体は、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を有する、
磁気記録媒体を提供する。
第１の実施形態に係る磁気記録カートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。 カートリッジメモリの構成の一例を示すブロック図である。 磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 粒子の形状の一例を示す斜視図である。 磁性層のＴＥＭ写真の一例を示す図である。 磁性層のＴＥＭ写真の一例を示す図である。 データ記録再生装置を用いたサーボバンドピッチの測定方法を説明する図である。 サーボトレースラインの測定方法を説明する図である。 磁気テープを側方から見た模式図である。 磁気テープを上方（磁性層側）から見た模式図である。 データ記録再生装置を示す図である。 データライトヘッドを下方（バック層側）から見た概略図である。 データライトヘッドのアジマス角の角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．１μｍ）。 データライトヘッドのアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、磁気テープの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量との関係を示す図である。 磁気テープの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量を示す図である。 データライトヘッドのアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．０７μｍ）。 サーボ記録再生装置を示す図である。 実施形態Ａに係るサーボライトヘッド及びサーボライトヘッドに入力されるパルス信号を示す図である。 実施形態Ａに係るサーボライトヘッドが有するサーボ素子の拡大図である。 実施形態Ａに係るサーボライトヘッドにより磁気テープにサーボパターンが書き込まれるときの様子を示す図である。 実施形態Ｂに係るサーボライトヘッド及びサーボライトヘッドが有するサーボ素子の拡大図である。 実施形態Ｂに係るサーボライトヘッドにより磁気テープにサーボパターンが書き込まれるときの様子を示す図である。 実施形態Ｂにおいて、サーボライトヘッドの座標系を基準としてサーボライトヘッドを表した図である。 第１対照例、第２対照例及び第１の実施形態において、データライトヘッドのサーボリード部によりサーボパターンを読み取ったときの様子を示す図である。 図２１の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子及び第２のサーボ素子における具体的な寸法の一例を示す図である（ＸＹＺ座標系基準）。 図２３の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子及び第２のサーボ素子における具体的な寸法の一例を示す図である（Ｘ"Ｙ"Ｚ"座標系基準）。 磁気テープがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置に用いられる磁気テープであるかどうかを確認する方法における第１の例を示す図である。 磁気テープがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置に用いられる磁気テープであるかどうかを確認する方法における第２の例を示す図である。 第２の実施形態に係る磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 スパッタ装置の構成を示す概略図である。 第３の実施形態に係る磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 第１の実施形態の変形例に係るカートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。 磁気テープ全長を４等分して４つの領域に分割した様子を示す図である。 実施例１に関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 実施例２ａに関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 実施例３に関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 比較例１ａに関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 比較例２に関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 比較例３に関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 比較例４に関する、６５℃、３６０時間保存後の磁気テープの長手方向における幅変化量を示す図である。 傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度の算出方法を説明するための模式図である。 磁性面の構成の一例を示す断面図である。 磁性層の表面のＦＥ－ＳＥＭ像の一例を示す図である。 ＡＦＭ像とＦＥ－ＳＥＭ像を重ね合わせた合成画像の一例を示す図である。 ＡＦＭ像とＦＥ－ＳＥＭ像を重ね合わせた合成画像の一例を示す拡大図である。 図４５中のライン１（Ｌｉｎｅ１）における断面プロファイルの一例を示す図である。 標準偏差σＰＥＳの経時変化の第１の例を示すグラフである。 標準偏差σＰＥＳの経時変化の第２の例を示すグラフである。 標準偏差σＰＥＳの経時変化の第３の例を示すグラフと、磁性層の表面における第２突起の状態の変化を摸式的に示す断面図である。 第１突起および第２突起と、データライトヘッドとの関係を摸式的に示す図である。 ＰＥＳの測定法を説明するために使用するサーボバンドの構成の一例を示す拡大図である。 ＰＥＳの測定法を説明するための図である。 磁気テープの幅方向の動きの補正を説明するためのグラフである。 図５４Ａは、フィルター作用後の２次元表面プロファイル像の一例を示す図である。図５４Ｂは、高さζ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。 相対高さＺ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。 各点（Ｌ，Ｗ）における勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）、ＧＷ（Ｌ，Ｗ）を算出する方法を説明するための図である。 図５７Ａは、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。図５７Ｂは、勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。 図５８Ａは、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の計算方法を示す図である。図５８Ｂは、勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の計算方法を示す図である。 相対高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）のデータの統計処理を説明するための図である。 相対高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）のデータの統計処理を説明するための図である。 相対高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）のデータの統計処理を説明するための図である。 データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスから分布図を作成する手順を説明する図である。 高さ範囲ΔＨの算出方法を説明するための図である。 高さ範囲ΔＨの算出方法を説明するための図である。 勾配範囲ΔＡの算出方法を説明するための図である。 勾配範囲ΔＡの算出方法を説明するための図である。
　以下、本技術を実施するための好適な形態について説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態を示したものであり、本技術の範囲がこれらの実施形態のみに限定されることはない。
　本技術について、以下の順序で説明を行う。
１．本技術の説明
２．第１の実施形態（塗布型の磁気テープを含む磁気記録カートリッジの例）
（１）磁気記録カートリッジの構成
（２）磁気テープの構成
（３）磁気テープの製造方法
（４）磁気テープのデータバンドおよびサーボバンドの説明
（５）作用効果
３．第２の実施形態（真空薄膜型の磁気テープを含む磁気記録カートリッジの例）
（１）磁気記録カートリッジの構成
（２）磁気テープの構成
（３）スパッタ装置の構成
（４）磁気テープの製造方法
（５）作用効果
４．第３の実施形態（真空薄膜型の磁気テープを含む磁気記録カートリッジの例）
（１）磁気記録カートリッジの構成
（２）磁気テープの構成
（３）作用効果
５．変形例
６．実施例
１．本技術の説明
　磁気記録カートリッジ１つ当たりの記録容量をさらに増やすことが求められている。例えば、記録容量を増やすために、磁気記録カートリッジに含まれる磁気記録媒体（以下、「磁気テープ」という）をより薄くして（全厚を低減して）、磁気記録カートリッジ１つ当たりのテープ長を増加させることが考えられる。
　しかしながら、磁気記録媒体がより薄くなることによって、トラック幅方向の寸法変化が起こり易くなりうる。幅方向の寸法変化は、例えばオフトラック現象など、磁気記録にとって望ましくない現象を引き起こしうる。オフトラック現象は、磁気ヘッドが読み取るべきトラック位置に対象のトラックが存在しないこと、又は、磁気ヘッドが間違ったトラック位置を読み取ることをいう。
　磁気記録カートリッジに含まれる磁気テープはＨＤＤより使用可能な温度範囲が狭く、４５℃までの温度領域で使用されてきた。磁気記録カートリッジをＨＤＤと同様の６０℃以上の高温環境で使用可能とすることで、クラウドシステム等のデータストレージシステムに磁気記録カートリッジを組み込むに際しての温度環境管理が容易になり、テープストレージシステムの使用範囲が大きく広がることが期待される。
　しかしながら、磁気記録カートリッジのリールに巻かれている磁気テープは、６０℃以上の高温環境下での保存により、巻内側の高い巻き応力を受ける部分は、磁気テープの幅方向に広がり、磁気テープにかかる張力で長手方向に引っ張られる巻外側の部分は、クリープ現象により幅方向に狭くなり、巻内側と巻外側での幅の差が大きくなる傾向がある。
　従来は、磁気テープの寸法変化抑制のために、例えば磁気テープの寸法変化抑制のための層を追加するなどの手法が行われていた。
　しかしながら、当該層の追加は磁気テープの厚みを高める場合があり、前記カートリッジ製品１つ当たりのテープ長を増加させない。
　以上の状況を踏まえ、本発明者らは、カートリッジ１つ当たりの記録容量が高い磁気記録カートリッジについて検討した。その結果、本発明者らは、特定の構成を有する磁気記録カートリッジが、記録容量が高く、且つ、６０℃以上の高温環境下で保存してもテープシステムの走行張力調整や巻き方向を変更することで長手方向における幅修正が可能であることを見出した。なお、巻き方向を変更するためには、例えば、１リールのカートリッジでは、磁気テープをドライブ側のリールに巻き込んでおくことにより実現され、２リールのカートリッジでは、保存された状態と反対のリールに巻き替えることにより実現され得る。例えば、左リールに巻かれた状態で保存されていたものであれば、右リールに巻き替えることにより実現され得る。
　すなわち、本技術は、カートリッジケースと、リールと、前記リールに巻かれた状態で前記カートリッジケース内に収容された磁気テープと、を有する磁気記録カートリッジを提供する。前記磁気テープは、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を備える。前記磁気テープは、前記リールに巻き取られた状態で、６５℃で３６０時間保存後に前記磁気テープの全長にわたって前記磁気テープの幅変化量を測定したときに、前記磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気テープの巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ前記幅変化量が、前記磁気テープの全長を４等分して４つの領域に分割した場合の前記磁気テープの全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍである。前記磁気テープの幅変化量の測定方法は、以下２．の（２）において説明する。
　本技術の磁気記録カートリッジに含まれる磁気テープのベース層の６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下、好ましくは０．３５ＧＰａ以下、より好ましくは０．３０ＧＰａ以下、さらに好ましくは０．２５ＧＰａ以下、さらにより好ましくは０．２０ＧＰａ以下であってもよい。前記磁気テープのベース層の６５℃における損失弾性率が上記数値範囲内にあることによって、６０℃以上の高温環境下で保存してもテープシステムの走行張力調整や巻き方向を変えることで長手方向における幅修正が可能である。
　また、前記ベース層の６５℃における損失弾性率の下限は、特に限定されるものではないが、例えば、好ましくは０．０１ＧＰａ以上、より好ましくは０．０２ＧＰａ以上、さらに好ましくは０．０３ＧＰａ以上であってよい。前記ベース層の６５℃における損失弾性率の測定方法は、以下２．の（２）において説明する。
　本技術の磁気記録カートリッジに含まれる磁気テープのベース層の６５℃における貯蔵弾性率が好ましくは８．０ＧＰａ以下、より好ましくは７．０ＧＰａ以下、さらに好ましくは６．０ＧＰａ以下であってもよい。前記磁気テープのベース層の６５℃における貯蔵弾性率が上記数値範囲内にあることによって高温環境下で保存後もテープシステムの走行張力調整や巻き方向を変更することで磁気テープの長手方向における幅修正が可能な磁気記録カートリッジを提供することができる。
　また、前記ベース層の６５℃における貯蔵弾性率の下限は、特に限定されるものではないが、例えば、好ましくは０．０１ＧＰａ以上、より好ましくは０．０２ＧＰａ以上、さらに好ましくは０．０３ＧＰａ以上であってよい。前記ベース層の６５℃における貯蔵弾性率の測定方法は、以下２．の（２）において説明する。
　本技術の磁気記録カートリッジは、前記磁気テープが、リールに巻き取られており、且つ、６５℃で３６０時間保存後に前記磁気テープの全長にわたって前記磁気テープの幅変化量を測定したときに、前記磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気テープの巻内側の幅変化量Δinの符号と異なる。なお、前記幅変化量Δは、下記式で表現され得る。
　幅変化量Δ＝（６５℃３６０℃保存後幅変化量－初期状態幅変化量）／（初期状態幅変化量）
　前記幅変化量Δが負の値の場合、初期状態の幅よりも保存後の幅が狭くなっていることを示し、前記幅変化量Δが正の値の場合、初期状態の幅よりも保存後の幅が広くなっていることを示す。
　磁気記録カートリッジはカートリッジ内に１つのリールを有するものと、２つのリールを有するものがある。いずれのタイプの磁気記録カートリッジにおいても、リールに磁気テープが巻き取られて、当該磁気テープが前記磁気カートリッジ内に収容されている。磁気カートリッジ製造時に磁気テープがリールに巻き取られるにつれて、前記磁気テープが積層され、当該磁気テープの積層体が形成される。本明細書において、磁気テープの巻内側とは、磁気カートリッジに最初のデータ記録が行われる前の、一つのリールに巻き取られて一つのリール上で積層体を形成している状態における、前記磁気テープの積層体の最内層側の領域をいい、磁気テープの巻外側とは、前記磁気テープの積層体の最外層側の領域をいう。より具体的には、磁気テープの巻内側とは、前記磁気テープの２つの端部のうち、磁気記録カートリッジ内のリール（磁気カートリッジに最初のデータ記録が行われる前に磁気テープが巻き取られるリール）に取り付けられる端部（以下「内側端部」（ＥＯＴ）ともいう）を起点として、当該位置から、当該内側端部と反対側の端部（以下「外側端部」（ＢＯＴ）ともいう）の方向へ所定距離進んだ位置までの領域をいう。
　図１に示す１つのリールを有する磁気記録カートリッジでは、磁気テープの巻内側とは、最初のデータ記録が行われる前のリール１３に取り付けられる端部（以下「内側端部」（ＥＯＴ）ともいう）を起点として、当該位置から、当該内側端部と反対側の端部（以下「外側端部」（ＢＯＴ）ともいう）の方向へ所定距離進んだ位置までの領域をいう。磁気テープの巻外側とは、前記磁気テープの２つの端部のうち、当該外側端部を起点として、当該位置から当該内側端部の方向へ所定距離進んだ位置までの領域をいう。
　図１８に示す２つのリールを有する磁気記録カートリッジでは、磁気テープの巻内側とは、最初のデータ記録が行われる前のリール３０７に取り付けられる端部（以下「内側端部」（ＥＯＴ）ともいう）を起点として、当該位置から、当該内側端部と反対側の端部（以下「外側端部」（ＢＯＴ）ともいう）の方向へ所定距離進んだ位置までの領域をいう。磁気テープの巻外側とは、前記磁気テープの２つの端部のうち、当該外側端部を起点として、当該位置から当該内側端部の方向へ所定距離進んだ位置までの領域をいう。
　図３３を参照して磁気テープにおける巻内側及び巻外側についてより具体的に説明する。図３３は、磁気テープ全長を巻内側端部（ＥＯＴ）から巻外側端部（ＢＯＴ）まで均等に４等分して４つの領域に分割した様子を示す摸式図である。図３３に示すように、ＥＯＴからＢＯＴに向けて、順にＤ領域、Ｃ領域、Ｂ領域、Ａ領域の４つの領域にテープ全長が分割されている。本明細書では、図３３におけるＡ領域を巻外側とし、Ｄ領域を巻内側とする。
　本技術の磁気記録カートリッジは、前記幅変化量が、前記磁気テープの全長を４等分して４つの領域に分割した場合の前記磁気テープの全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍである。これについて図３３を参照して説明する。図３３は、磁気テープ全長を巻内側端部（ＥＯＴ）から巻外側端部（ＢＯＴ）まで均等に４等分して４つの領域に分割した様子を示す摸式図である。図３３に示すように、ＥＯＴからＢＯＴに向けて、順にＤ領域、Ｃ領域、Ｂ領域、Ａ領域の４つの領域にテープ全長が分割されている。図３３に示すように、磁気テープの全長の中心線はＢ領域とＣ領域の間に位置して、当該Ｂ領域とＣ領域を区切る境界線であり、当該中心線を挟む２つの領域は、Ｂ領域とＣ領域である。本技術の磁気記録カートリッジは、前記幅変化量がＢ領域又はＣ領域のいずれかの位置において０ｐｐｍとなる。
　本技術の磁気記録カートリッジは磁気テープの巻内側の幅変化量Δinが正の値であってもよい。ここで磁気テープの巻内側の幅変化量Δinとは、磁気テープの巻内側の幅変化量の最大値を意味する。磁気テープの巻内側の幅変化量Δinが正の値であるとは、巻内側では初期状態の幅よりも保存後の幅が広くなっていることを示す。
　本技術の磁気記録カートリッジは磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutが負の値であってもよい。ここで磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutとは、磁気テープの巻外側の幅変化量の最小値を意味する。磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutが負の値であるとは、巻外側では初期状態の幅よりも保存後の幅が狭くなっていることを示す。
　また、前記磁気テープの長手方向の全長を１００％としたときに、好ましくは磁気テープの巻外側端部（ＢＯＴ）から２５％～７５％の位置において、６５℃で３６０時間保存後における前記磁気テープの幅変化量Δは０ｐｐｍであってもよい。図３３に示す磁気テープにおいては、磁気テープの巻外側端部（ＢＯＴ）から２５％～７５％の位置に相当するＢ領域、Ｃ領域のいずれかの位置において６５℃で３６０時間保存後における前記磁気テープの幅変化量Δは０ｐｐｍであってよい。
　また、図３３に示すように全長を４等分して４つの領域に分割した磁気テープにおいて、好ましくは磁気テープの巻外側の１／４部分に相当するＡ領域における幅変化量Δの平均値が負の値であり、磁気テープの巻内側の１／４部分に相当するＤ領域における幅変化量Δの平均値が正の値であってもよい。
　また、前記磁気テープにおいて、（磁気テープの巻内側の幅変化量Δin）－（磁気テープの巻外側の幅変化量Δout）は、８００ｐｐｍ以下であってもよい。
　本技術の磁気記録カートリッジに含まれる磁気テープは、好ましくは長尺状の磁気テープであり、例えば磁気記録テープ（特には長尺状の磁気記録テープ）でありうる。
　本技術の磁気記録カートリッジに含まれる磁気テープは、磁性層、ベース層、及びバック層を備えていてもよく、これらの層に加えて、他の層を含んでいてよい。当該他の層は、磁気テープの種類に応じて適宜選択されてよい。前記磁気テープは、例えば塗布型の磁気テープであってよく又は真空薄膜型の磁気テープであってよい。前記塗布型の磁気テープについて、以下２．においてより詳細に説明する。真空薄膜型の磁気テープについて、以下３．においてより詳細に説明する。上記３つの層以外に前記磁気テープに含まれる層については、これらの説明を参照されたい。
　本技術の磁気記録カートリッジに含まれる磁気テープは、例えば少なくとも一つのデータバンドと少なくとも二つのサーボバンドとを有しうる。データバンドの数は例えば２～１０であり、特には３～６、より特には４又は５でありうる。サーボバンドの数は、例えば３～１１であり、特には４～７であり、より特には５又は６でありうる。これらサーボバンド及びデータバンドは、例えば長尺状の磁気テープの長手方向に延びるように、特には略平行となるように配置されていてよい。前記データバンド及び前記サーボバンドは、前記磁性層に設けられうる。このようにデータバンド及びサーボバンドを有する磁気テープとして、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に従う磁気記録テープを挙げることができる。すなわち、前記磁気テープは、ＬＴＯ規格に従う磁気記録テープであってよい。例えば、前記磁気テープは、ＬＴＯ９又はそれ以降の規格（例えばＬＴＯ１０、ＬＴＯ１１、又はＬＴＯ１２など）に従う磁気記録テープであってよい。
　前記長尺状の磁気テープ（特には磁気記録テープ）の幅は、例えば５ｍｍ～３０ｍｍであり、特には７ｍｍ～２５ｍｍであり、より特には１０ｍｍ～２０ｍｍ、さらにより特には１１ｍｍ～１９ｍｍでありうる。長尺状の磁気テープの長さは、例えば５００ｍ～１５００ｍでありうる。例えばＬＴＯ８規格に従うテープ幅は１２．６５ｍｍであり、長さは９６０ｍである。
２．第１の実施形態（塗布型の磁気テープを含む磁気記録カートリッジの例）
（１）磁気記録カートリッジの構成
［磁気記録カートリッジ］
　まず図１を参照して、本技術に従う磁気記録カートリッジの構成を説明する。図１は、本技術の従う磁気記録カートリッジ１０の一例を示す分解斜視図である。本技術の説明では、磁気記録カートリッジ１０として、ＬＴＯ規格に準拠する磁気記録カートリッジを例に挙げて説明する。
　磁気記録カートリッジ１０は、１リールタイプのカートリッジであり、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂとで構成されるカートリッジケース１２の内部に、テープ状の磁気テープＭＴが巻かれた1つのリール１３と、リール１３の回転をロックするためのリールロック１４およびリールスプリング１５と、リール１３のロック状態を解除するためのスパイダ１６と、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂに跨ってカートリッジケース１２に設けられたテープ引出口１２Ｃを開閉するスライドドア１７と、スライドドア１７をテープ引出口１２Ｃの閉位置に付勢するドアスプリング１８と、誤消去を防止するためのライトプロテクト１９と、カートリッジメモリ１１とを備える。磁気テープＭＴを巻くためのリール１３は、中心部に開口を有する略円盤状であって、プラスチック等の硬質の材料からなるリールハブ１３Ａとフランジ１３Ｂとにより構成される。磁気テープＭＴの外周側の端部には、リーダーテープＬＴが接続されている。リーダーテープＬＴの先端には、リーダーピン２０が設けられている。
　磁気記録カートリッジ１０は、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に準拠した磁気テープカートリッジであってもよいし、ＬＴＯ規格とは別の規格に準拠した磁気テープカートリッジであってもよい。
　カートリッジメモリ１１は、磁気記録カートリッジ１０の１つの角部の近傍に設けられている。磁気記録カートリッジ１０が記録再生装置にロードされた状態において、カートリッジメモリ１１は、記録再生装置のリーダライタと対向するようになっている。カートリッジメモリ１１は、ＬＴＯ規格に準拠した無線通信規格で記録再生装置、具体的にはリーダライタと通信を行う。
［カートリッジメモリ］
　図２は、カートリッジメモリ１１の構成の一例を示すブロック図である。カートリッジメモリ１１は、規定の通信規格でリーダライタと通信を行うアンテナコイル（通信部）３１と、アンテナコイル３１により受信した電波から、誘導起電力を用いて発電、整流して電源を生成する整流・電源回路３２と、アンテナコイル３１により受信した電波から、同じく誘導起電力を用いてクロックを生成するクロック回路３３と、アンテナコイル３１により受信した電波の検波およびアンテナコイル３１により送信する信号の変調を行う検波・変調回路３４と、検波・変調回路３４から抽出されるデジタル信号から、コマンドおよびデータを判別し、これを処理するための論理回路等で構成されるコントローラ（制御部）３５と、情報を記憶するメモリ（記憶部）３６とを備える。また、カートリッジメモリ１１は、アンテナコイル３１に対して並列に接続されたキャパシタ３７を備え、アンテナコイル３１とキャパシタ３７により共振回路が構成される。
　メモリ３６は、磁気記録カートリッジ１０に関連する情報等を記憶する。メモリ３６は、不揮発性メモリ（Non Volatile Memory：ＮＶＭ）である。メモリ３６の記憶容量は、好ましくは約３２ＫＢ以上である。
　メモリ３６は、第１の記憶領域３６Ａと第２の記憶領域３６Ｂとを有していてもよい。第１の記憶領域３６Ａは、第１の情報を記憶するための領域である。第１の情報は、例えば、磁気記録カートリッジ１０の製造情報（例えば磁気記録カートリッジ１０の固有番号）および磁気記録カートリッジ１０の使用履歴（例えば磁気テープＭＴの引出回数（Thread Count））等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。第２の記憶領域３６Ｂは、第２の情報を記憶するための領域である。第２の情報は、例えば、テンション調整情報、管理台帳データ、Index情報およびサムネイル情報等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　テンション調整情報は、磁気テープＭＴの長手方向にかかるテンションを調整するための情報である。テンション調整情報は、例えば、サーボバンド間の幅を磁気テープＭＴの長手方向に間欠的に測定して得られる情報、記録再生装置のテンション情報、および記録再生装置の温度と湿度の情報等からなる群より選ばれた少なくとも１種の情報を含む。これらの情報は、磁気記録カートリッジ１０の使用状況に関する情報等と連携して管理されることもある。テンション調整情報は、磁気テープＭＴに対するデータ記録時、もしくはデータ記録前に取得されることが好ましい。記録再生装置のテンション情報とは、磁気テープＭＴの長手方向にかかるテンションの情報を意味する。
　管理台帳データは、磁気テープＭＴに記録されているデータファイルの容量、作成日、編集日および保管場所等のうちの少なくとも１種を含むデータである。Index情報は、データファイルの内容を検索するためのメタデータ等である。サムネイル情報は、磁気テープＭＴに記憶された動画または静止画のサムネイルである。以下の説明において、第１の記憶領域３６Ａに記憶される情報を「第１の情報」といい、第２の記憶領域３６Ｂに記憶される情報を「第２の情報」ということがある。
　メモリ３６は、複数のバンクを有していてもよい。この場合、複数のバンクうちの一部のバンクにより第１の記憶領域３６Ａが構成され、残りのバンクにより第２の記憶領域３６Ｂが構成されてもよい。
　アンテナコイル３１は、電磁誘導により誘起電圧を誘起する。コントローラ３５は、アンテナコイル３１を介して、規定の通信規格で記録再生装置と通信を行う。具体的には例えば、相互認証、コマンドの送受信またはデータのやり取り等を行う。
　コントローラ３５は、アンテナコイル３１を介して記録再生
装置から受信した情報をメモリ３６に記憶する。例えば、アンテナコイル３１を介して記録再生装置から受信したテンション調整情報をメモリ３６の第２の記憶領域３６Ｂに記憶する。コントローラ３５は、記録再生装置の要求に応じて、メモリ３６から情報を読み出し、アンテナコイル３１を介して記録再生装置に送信する。例えば、記録再生装置の要求に応じて、メモリ３６の第２の記憶領域３６Ｂからテンション調整情報を読み出し、アンテナコイル３１を介して記録再生装置に送信する。
（２）磁気テープの構成
　図３は、磁気テープＭＴの構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴは、長尺状のベース層４１と、ベース層４１の一方の主面（第１の主面）上に設けられた下地層４２と、下地層４２上に設けられた磁性層４３と、ベース層４１の他方の主面（第２の主面）上に設けられたバック層４４とを備える。なお、下地層４２およびバック層４４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。磁気テープＭＴは、垂直記録型の磁気テープであってもよいし、長手記録型の磁気テープであってもよい。磁気テープＭＴは、走行性の向上の観点から、潤滑剤を含むことが好ましい。潤滑剤は、下地層４２および磁性層４３のうちの少なくとも１層に含まれていてもよい。
　磁気テープＭＴはＬＴＯ規格に準拠するものであってもよいし、ＬＴＯ規格とは別の規格に準拠するものであってもよい。磁気テープＭＴの幅は、１／２インチであってもよいし、１／２インチよりも広くてもよい。磁気テープＭＴがＬＴＯ規格に準拠するものである場合には、磁気テープＭＴの幅は、１／２インチである。磁気テープＭＴは、走行時に磁気テープＭＴの長手方向に加わるテンションを記録再生装置（ドライブ）により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つことが可能な構成を有していてもよい。
　磁気テープＭＴは長尺状を有し、記録再生の際には長手方向に走行される。磁気テープＭＴは、記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置で用いられることが好ましい。磁気テープＭＴは、１５００ｎｍ以下または１０００ｎｍ以下のデータトラック幅でデータを記録可能に構成された記録再生装置に用いられることが好ましい。
［ベース層］
　ベース層４１は、下地層４２および磁性層４３を支持する非磁性支持体である。ベース層４１は、長尺のフィルム状を有する。ベース層４１の平均厚みの上限値は、例えば好ましくは４．６μｍ以下、より好ましくは４．４μｍ以下、４．２μｍ以下、４．０μｍ以下、さらにより好ましくは３．８μｍ以下、特に好ましくは３．６μｍ以下、最も好ましくは３．４μｍ以下である。ベース層４１の平均厚みの上限値が４．６μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。ベース層４１の平均厚みの下限値は、好ましくは３．０μｍ以上、より好ましくは３．２μｍ以上である。ベース層４１の平均厚みの下限値が３．０μｍ以上であると、ベース層４１の強度低下を抑制することができる。
　ベース層４１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。本明細書において、“磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向”という場合の“長手方向”とは、リーダーテープＬＴ側の一端からそれとは反対側の他端に向かう方向を意味する。
　続いて、各サンプルのベース層４１以外の層（すなわち下地層４２、磁性層４３およびバック層４４）をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、各サンプル（ベース層４１）の厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値（合計で１５点のサンプルの厚み）を算術平均して、ベース層４１の平均厚みを算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　ベース層４１は、例えば、ポリエステル類、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種を含む。ベース層４１が上記材料のうちの２種以上を含む場合、それらの２種以上の材料は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。
　ベース層４１は、上記の高分子樹脂のうち、ポリエステル類を含むことが好ましい。ベース層４１がポリエステル類を含むことで、ベース層４１の長手方向の貯蔵弾性率Ｅ’を、好ましくは９．０ＧＰａ以下、より好ましくは７．５ＧＰａ以下、さらにより好ましくは６．０ＧＰａ以下、特に好ましくは５．５ＧＰａ以下、最も好ましくは４．５ＧＰａ以下に低減することができる。したがって、走行時における磁気テープＭＴの長手方向のテンションを記録再生装置により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つ制御を特に行いやすい。ベース層４１の長手方向の貯蔵弾性率Ｅ’の測定方法については後述する。
　ポリエステル類は、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、ＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）、ＰＢＮ（ポリブチレンナフタレート）、ＰＣＴ（ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート）、ＰＥＢ（ポリエチレン－ｐ－オキシベンゾエート）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの少なくとも１種を含む。ベース層４１が２種以上のポリエステル類を含む場合、それらの２種以上のポリエステル類は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。ポリエステル類の末端および側鎖の少なくとも一方が変性されていてもよい。ベース層４１の強度を向上するために、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）にＰＡ（ポリアミド）が添加されていてもよい。
　ベース層４１にポリエステル類が含まれていることは、例えば、次のようにして確認される。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの範囲から磁気テープＭＴを切り出し、サンプルを作製した後、サンプルのベース層４１以外の層を除去する。次に、赤外吸収分光法（Infrared Absorption Spectrometry：ＩＲ）によりサンプル（ベース層４１）のＩＲスペクトルを取得する。このＩＲスペクトルに基づき、ベース層４１にポリエステル類が含まれていることを確認することができる。
　ポリオレフィン類は、例えば、ＰＥ（ポリエチレン）およびＰＰ（ポリプロピレン）のうちの少なくとも１種を含む。セルロース誘導体は、例えば、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、ＣＡＢ（セルロースアセテートブチレート）およびＣＡＰ（セルロースアセテートプロピオネート）のうちの少なくとも１種を含む。ビニル系樹脂は、例えば、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）およびＰＶＤＣ（ポリ塩化ビニリデン）のうちの少なくとも１種を含む。
　その他の高分子樹脂は、例えば、ＰＡ（ポリアミド、ナイロン）、芳香族ＰＡ（芳香族ポリアミド、アラミド）、ＰＩ（ポリイミド）、芳香族ＰＩ（芳香族ポリイミド）、ＰＡＩ（ポリアミドイミド）、芳香族ＰＡＩ（芳香族ポリアミドイミド）、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール、例えばザイロン（登録商標））、ポリエーテル、ＰＥＫ（ポリエーテルケトン）、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）、ポリエーテルエステル、ＰＥＳ（ポリエーテルサルフォン）、ＰＥＩ（ポリエーテルイミド）、ＰＳＦ（ポリスルフォン）、ＰＰＳ（ポリフェニレンスルフィド）、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＡＲ（ポリアリレート）およびＰＵ（ポリウレタン）のうちの少なくとも１種を含む。
　ベース層４１は、長手方向および幅方向に二軸延伸されていてもよい。ベース層４１に含まれる高分子樹脂は、ベース層４１の幅方向に対して斜め方向に配向されていることが好ましい。
［磁性層］
　磁性層４３は、信号を磁化パターンにより記録するための記録層である。磁性層４３は、塗布膜であってもよい。磁性層４３は、垂直記録型の記録層であってもよいし、長手記録型の記録層であってもよい。磁性層４３は、例えば、磁性粉、結着剤、潤滑剤およびカーボンを含む。磁性層４３が、必要に応じて、帯電防止剤、研磨剤、硬化剤、防錆剤および非磁性補強粒子等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。磁性層４３は、凹凸形状を有する表面を有していてもよい。
　磁性層４３は、データが書き込まれる複数のデータバンドと、サーボパターンが書き込まれる複数のサーボバンドと、を有している。データバンドおよびサーボバンドの詳細については後述する。
　磁性層４３は、データバンドに複数のデータトラックを形成可能に構成されている。データトラック幅の平均値の上限値は、トラック記録密度を向上し、高記録容量を確保する観点から、好ましくは１１００ｎｍ以下、より好ましくは１０００ｎｍ以下、さらにより好ましくは８００ｎｍ以下、特に好ましくは６００ｎｍ以下ある。データトラック幅Ｗの平均値の下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。
　データトラック幅の平均値は以下のようにして求められる。まず、データが磁気テープＭＴの全面に記録された磁気記録カートリッジ１０を準備し、この磁気記録カートリッジ１０から磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。続いて、各サンプルの磁性層４３のデータバンド部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は１０μｍ×１０μｍとし、当該１０μｍ×１０μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。各サンプルにおいて１０μｍ×１０μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られた３つのＭＦＭ像から、Dimension3100に付属の解析ソフトを用いて、トラック幅を１０ヶ所測定し平均値（単純平均である）をとる。当該平均値が、データトラック幅の平均値である。なお、上記ＭＦＭの測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。
　磁性層４３の平均厚みの上限値は、好ましくは９０ｎｍ以下、より好ましくは８０ｎｍ以下、さらにより好ましくは７０ｎｍ以下、特に好ましくは６０ｎｍ以下、最も好ましくは５０ｎｍ以下である。磁性層４３の平均厚みの上限値が９０ｎｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、反磁界の影響を軽減できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性層４３の平均厚みの下限値は、好ましくは３５ｎｍ以上である。磁性層４３の平均厚みの下限値が３５ｎｍ以上であると、再生ヘッドとしてはＭＲ型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性層４３の平均厚みは、以下のようにして求められる。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。続いて、各サンプルをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた各薄片化サンプルの上記断面を、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、各薄片化サンプルのＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍
　次に、得られた各薄片化サンプルのＴＥＭ像を用い、各薄片化サンプルの１０点の位置で磁性層４３の厚みを測定する。なお、各薄片化サンプルの１０点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれる。得られた各薄片化サンプルの測定値（合計で３０点の磁性層４３の厚み）を算術平均して得られた平均値を磁性層４３の平均厚み［ｎｍ］とする。
［磁性粉］
　磁性粉は、複数の磁性粒子を含む。磁性粒子は、例えば、金属酸化物を含む粒子（以下「金属酸化物粒子」という。）である。金属酸化物粒子は、例えば、六方晶フェライトを含む粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）、イプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）を含む粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む粒子（以下「コバルトフェライト粒子」という。）である。磁性粉は、磁気テープＭＴの垂直方向に優先的に結晶配向していることが好ましい。本明細書において、磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）とは、平面状態にある磁気テープＭＴの厚み方向を意味する。
［六方晶フェライト粒子］
　六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状等の板状または六角柱状等の柱状（但し、厚さまたは高さが板面または底面の長径より小さい。）を有する。本明細書において、六角板状は、ほぼ六角板状を含むものとする。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ１２Ｏ１９で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１３ｎｍ以上２２ｎｍ以下、より好ましくは１３ｎｍ以上１９ｎｍ以下、さらにより好ましくは１３ｎｍ以上１８ｎｍ以下、特に好ましくは１４ｎｍ以上１７ｎｍ以下、最も好ましくは１４ｎｍ以上１６ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが２２ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴにおいて、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが１３ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．５以上２．８以下、さらにより好ましくは１．８以上２．７以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は以下のようにして求められる。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの範囲から磁気テープＭＴを切り出す。続いて、切り出された磁気テープＭＴをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製 H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。ＴＥＭ写真は、下記で示す板径ＤＢおよび板厚ＤＡ（図４参照）を測定できる粒子を５０個抽出できる枚数準備する。
　本明細書では、上記のＴＥＭ写真において観察される粒子の形状が、図４に示すように、板状または柱状（但し、厚さまたは高さが板面または底面の長径より小さい。）である場合には、粒子の板面または底面の長径を板径ＤＢの値とする。上記のＴＥＭ写真において観察される粒子の厚さまたは高さを板厚ＤＡの値とする。一粒子内にて粒子の厚さまたは高さが一定でない場合には、最大の粒子の厚さまたは高さを板厚ＤＡとする。
　次に、撮影したＴＥＭ写真から抽出する５０個の粒子を、下記の基準に基づき選び出す。粒子の一部がＴＥＭ写真の視野の外にはみだしている粒子は測定せず、輪郭がはっきりしており、孤立して存在している粒子を測定する。粒子同士に重なりがある場合は、両者の境界が明瞭で、粒子全体の形状も判断可能な粒子は、それぞれの粒子を単独粒子として測定するが、境界がはっきりせず、粒子の全形も判らない粒子は、粒子の形状が判断できないものとして測定しない。
　図５、図６にＴＥＭ写真の一例を示す。図５、図６において、例えば矢印ａおよびｄで示される粒子が、その粒子の板厚（その粒子の厚さまたは高さ）ＤＡを明らかに確認できるので、選択される。選択された５０個の粒子それぞれの板厚ＤＡを測定する。このようにして求めた板厚ＤＡを算術平均して平均板厚ＤＡａｖｅを求める。平均板厚ＤＡａｖｅが平均粒子板厚である。続いて、各磁性粉の板径ＤＢを測定する。粒子の板径ＤＢを測定するために、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の板径ＤＢを明らかに確認できる粒子を５０個選び出す。例えば、図５、図６において、例えば矢印ｂおよびｃで示される粒子が、その板径ＤＢを明らかに確認できるので、選択される。選択された５０個の粒子それぞれの板径ＤＢを測定する。このようにして求めた板径ＤＢを単純平均（算術平均）して平均板径ＤＢａｖｅを求める。平均板径ＤＢａｖｅが、平均粒子サイズである。そして、平均板厚ＤＡａｖｅおよび平均板径ＤＢａｖｅから粒子の平均アスペクト比（ＤＢａｖｅ／ＤＡａｖｅ）を求める。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５００ｎｍ３以上２５００ｎｍ３以下、より好ましくは５００ｎｍ３以上１６００ｎｍ３以下、さらに好ましくは５００ｎｍ３以上１５００ｎｍ３以下、特に好ましくは６００ｎｍ３以上１２００ｎｍ３以下、最も好ましくは６００ｎｍ３以上１０００ｎｍ３以下である。磁性粉の平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２２ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ３以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを１３ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。
　磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法に関して述べた通り、平均板厚ＤＡａｖｅおよび平均板径ＤＢａｖｅを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。
 
［ε酸化鉄粒子］
ε酸化鉄粒子は、微粒子でも高保磁力を得ることができる硬磁性粒子である。ε酸化鉄粒子は、球状を有しているか、または立方体状を有している。本明細書において、球状は、ほぼ球状を含むものとする。また、立方体状には、ほぼ立方体状を含むものとする。ε酸化鉄粒子が上記のような形状を有しているため、磁性粒子としてε酸化鉄粒子を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、磁気テープＭＴの厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制することができる。したがって、磁性粒子の分散性を高め、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　ε酸化鉄粒子は、複合粒子の構造を有していてもよい。より具体的には、ε酸化鉄粒子は、ε酸化鉄部と、軟磁性を有する部分もしくは、ε酸化鉄より飽和磁化量σｓが高く、保磁力Ｈｃが小さい磁性を有する部分（以下「軟磁性を有する部分等」という。）とを備える。
　ε酸化鉄部は、ε酸化鉄を含む。ε酸化鉄部に含まれるε酸化鉄は、ε－Ｆｅ２Ｏ３結晶を主相とするものが好ましく、単相のε－Ｆｅ２Ｏ３からなるものがより好ましい。
　軟磁性を有する部分等は、少なくともε酸化鉄部と一部で接している。具体的には、軟磁性を有する部分等は、ε酸化鉄部を部分的に覆っていてもよいし、ε酸化鉄部の周囲全体を覆っていてもよい。
　軟磁性を有する部分（ε酸化鉄より飽和磁化量σｓが高く、保磁力Ｈｃが小さい磁性を有する部分）は、例えば、α－Ｆｅ、Ｎｉ－Ｆｅ合金またはＦｅ－Ｓｉ－Ａｌ合金等の軟磁性体を含む。α－Ｆｅは、ε酸化鉄部に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。
　また、軟磁性を有する部分は、例えば、Ｆｅ３Ｏ４、γ－Ｆｅ２Ｏ３、またはスピネルフェライト等を含んでいてもよい。
　ε酸化鉄粒子が、上記のように軟磁性を有する部分等を備えることで、熱安定性を確保するためにε酸化鉄部単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ、ε酸化鉄粒子（複合粒子）全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。
　ε酸化鉄粒子が、上記複合粒子の構造に代えて添加剤を含んでいてもよいし、上記複合粒子の構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。この場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎからなる群より選ばれた少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａからなる群より選ばれた少なくとも１種である。
　具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε－Ｆｅ２－ｘＭｘＯ３結晶（但し、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎからなる群より選ばれた少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａからなる群より選ばれた少なくとも１種である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。
　磁性粒子がε酸化鉄粒子である場合、磁性粒子の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上２０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上１８ｎｍ以下、さらにより好ましくは１０ｎｍ以上１６ｎｍ以下、特に好ましくは１０ｎｍ以上１５ｎｍ以下、最も好ましくは１０ｎｍ以上１４ｎｍ以下である。磁気テープＭＴでは、記録波長の１／２のサイズの領域が実際の磁化領域となる。このため、磁性粒子の平均粒子サイズを最短記録波長の半分以下に設定することで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粒子の平均粒子サイズが２０ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴ（例えば４０ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成された磁気テープＭＴ）において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粒子の平均粒子サイズが１０ｎｍ以上であると、磁性粒子の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　磁性粒子がε酸化鉄粒子である場合、磁性粒子の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．０以上２．５以下、さらにより好ましくは１．０以上２．１以下、特に好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粒子の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粒子の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粒子を垂直配向させる際に、磁性粒子に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粒子の垂直配向性を向上することができる。
　磁性粒子がε酸化鉄粒子である場合、磁性粒子の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は、以下のようにして求められる。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープとの接続部から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを切り出す。続いて、測定対象となる磁気テープＭＴをＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護層としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿うかたちで行って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製 H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ像を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ像から、粒子の形状を明らかに確認することができる５０個の粒子を選び出し、各粒子の長軸長ＤＬと短軸長ＤＳを測定する。ここで、長軸長ＤＬとは、各粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のもの（いわゆる最大フェレ径）を意味する。一方、短軸長ＤＳとは、粒子の長軸（ＤＬ）と直交する方向における粒子の長さのうち最大のものを意味する。続いて、測定した５０個の粒子の長軸長ＤＬを単純に平均（算術平均）して平均長軸長ＤＬaveを求める。このようにして求めた平均長軸長ＤＬaveを磁性粒子の平均粒子サイズとする。また、測定した５０個の粒子の短軸長ＤＳを単純に平均（算術平均）して平均短軸長ＤＳaveを求める。そして、平均長軸長ＤＬaveおよび平均短軸長ＤＳaveから粒子の平均アスペクト比（ＤＬave／ＤＳave）を求める。
　磁性粒子がε酸化鉄粒子である場合、磁性粒子の平均粒子体積は、好ましくは５００ｎｍ３以上４０００ｎｍ３以下、より好ましくは５００ｎｍ３以上３０００ｎｍ３以下、さらにより好ましくは５００ｎｍ３以上２０００ｎｍ３以下、特に好ましくは６００ｎｍ３以上１６００ｎｍ３以下、最も好ましくは６００ｎｍ３以上１３００ｎｍ３以下である。一般的に磁気テープＭＴのノイズは粒子個数の平方根に反比例（すなわち粒子体積の平方根に比例）するため、粒子体積をより小さくすることで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粒子の平均粒子体積が４０００ｎｍ３以下であると、磁性粒子の平均粒子サイズを２０ｎｍ以下とする場合と同様に、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粒子の平均粒子体積が５００ｎｍ３以上であると、磁性粒子の平均粒子サイズを１０ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。
　ε酸化鉄粒子が球状を有している場合には、磁性粒子の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粒子の平均粒子サイズの算出方法と同様にして、平均長軸長ＤＬaveを求める。次に、以下の式により、磁性粒子の平均体積Ｖを求める。
Ｖ＝（π/６）×ＤＬave ３
　ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合、磁性粒子の平均体積は以下のようにして求められる。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを切り出す。続いて、切り出された磁気テープＭＴをＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜およびタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルを透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製 H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。次に、撮影したＴＥＭ像から粒子の形状が明らかである５０個の粒子を選び出し、各粒子の辺の長さＤＣを測定する。続いて、測定した５０個の粒子の辺の長さＤＣを単純に平均（算術平均）して平均辺長ＤＣaveを求める。次に、平均辺長ＤＣaveを用いて以下の式から磁性粒子の平均体積Ｖave（粒子体積）を求める。
　Ｖave＝ＤＣave ３
［コバルトフェライト粒子］
　コバルトフェライト粒子は、一軸結晶異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト粒子が一軸結晶異方性を有することで、磁性粉を磁気テープＭＴの垂直方向に優先的に結晶配向させることができる。コバルトフェライト粒子は、例えば、立方体状を有している。本明細書において、立方体状は、ほぼ立方体状を含むものとする。Ｃｏ含有スピネルフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　Ｃｏ含有スピネルフェライトは、例えば以下の式で表される平均組成を有する。
　ＣｏｘＭｙＦｅ２ＯＺ
（但し、式中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ、ｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）
　磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは８ｎｍ以上１６ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上１３ｎｍ以下、さらにより好ましくは８ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが１６ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴにおいて、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。磁性粉の平均粒子サイズの算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様である。
　磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上２．５以下、より好ましくは１．０以上２．１以下、さらにより好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上２．５以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。磁性粉の平均アスペクト比の算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均アスペクト比の算出方法と同様である。
　磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５００ｎｍ３以上４０００ｎｍ３以下、より好ましくは６００ｎｍ３以上２０００ｎｍ３以下、さらにより好ましくは６００ｎｍ３以上１０００ｎｍ３以下である。磁性粉の平均粒子体積が４０００ｎｍ３以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを１６ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ３以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを８ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。磁性分の平均粒子体積の算出方法は、ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合の平均粒子体積の算出方法と同様である。
［第１粒子］
　磁性層はその一部が磁性面から突出する第１粒子を含んでいてもよい。
　図４２に示すように、磁性層４３に含まれる第１粒子９１Ａのうちの一部の粒子は、磁性面から突出し、第１突起９１Ｂを形成している。データライトヘッド６０と磁気テープＭＴの摺動時に、第１突起９１Ｂは、データライトヘッド６０と接触する。
　第１粒子９１Ａは、導電性を有する。第１粒子９１Ａは、帯電防止剤であり、かつ、固体潤滑剤であることが好ましい。第１粒子９１Ａは、カーボンを含む粒子である。カーボンを含む粒子としては、例えば、カーボン粒子、およびハイブリッド粒子からなる群より選ばれた少なくとも１種を用いることができ、カーボン粒子を用いることが好ましい。
　カーボン粒子としては、例えば、カーボンブラック、アセチレンブラック、ケッチェンブラック、カーボンナノチューブおよびグラフェンからなる群より選ばれる１種以上を用いることができ、これらのカーボン粒子の
うちでもカーボンブラックを用いることが好ましい。カーボンブラックとしては、例えば、東海カーボン社製のシーストＴＡ、旭カーボン社の旭＃１５、＃１５ＨＳ等を用いることができる。
　ハイブリッド粒子は、カーボンとカーボン以外の材料とを含む。カーボン以外の材料は、例えば、有機材料または無機材料である。ハイブリッド粒子は、無機粒子表面にカーボンが付着されたハイブリッド粒子であってもよい。具体的には例えば、シリカ粒子表面にカーボンが付着されたハイブリッドカーボンであってもよい。
［第２粒子］
　磁性層はその一部が磁性面から突出する第２粒子を含んでいてもよい。
　図４２に示すように、磁性層４３に含まれる第２粒子９２Ａのうちの一部の粒子は、磁性面から突出し、第２突起９２Ｂを形成している。データライトヘッド６０と磁気テープＭＴの摺動時に、第２突起９２Ｂは、データライトヘッド６０と接触する。
　第２粒子９２Ａは、研磨剤であってもよい。第２粒子９２Ａのモース硬度の下限値は、データライトヘッド６０との接触による変形を抑制する観点から、７．０以上、好ましくは７．５以上、より好ましくは８．０以上、さらにより好ましくは８．５以上である。第２粒子９２Ａのモース硬度の上限値は、データライトヘッド６０の摩耗を抑制する観点から、好ましくは９．５以下である。
　第２粒子９２Ａは、無機粒子であることが好ましい。無機粒子としては、例えば、α化率９０％以上のα－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ、炭化ケイ素、酸化クロム、酸化セリウム、α－酸化鉄、コランダム、窒化珪素、チタンカ－バイト、酸化チタン、二酸化珪素、酸化スズ、酸化マグネシウム、酸化タングステン、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、２硫化モリブデン、磁性酸化鉄の原料を脱水、アニール処理した針状α酸化鉄、必要によりそれらをアルミおよび／またはシリカで表面処理したもの、ダイヤモンド粉末等が挙げられる。無機粒子としては、α－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ等のアルミナ粒子、炭化ケイ素を用いることが好ましい。第２粒子９２Ａは、針状、球状、サイコロ状等のいずれの形状でもよいが、形状の一部に角を有するものが、高いアブラシビティを有するので好ましい。
［結着剤］
　結着剤としては、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反応型樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂としては、例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、塩化ビニル－酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル－エチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム等が挙げられる。
　熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。
　上記の全ての結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、－ＳＯ３Ｍ、－ＯＳＯ３Ｍ、－ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）２（但し、式中Ｍは水素原子またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属を表す）や、－ＮＲ１Ｒ２、－ＮＲ１Ｒ２Ｒ３＋Ｘ－で表される末端基を有する側鎖型アミン、＞ＮＲ１Ｒ２＋Ｘ－で表される主鎖型アミン（但し、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は水素原子または炭化水素基を表し、Ｘ－はフッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン元素イオン、無機イオンまたは有機イオンを表す。）、さらに－ＯＨ、－ＳＨ、－ＣＮ、エポキシ基等の極性官能基が導入されていてもよい。これら極性官能基の結着剤への導入量は、１０－１モル／ｇ以上１０－８モル／ｇ以下であるのが好ましく、１０－２モル／ｇ以上１０－６モル／ｇ以下であるのがより好ましい。
［潤滑剤］
　潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルから選ばれる少なくとも１種、好ましくは脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含む。磁性層４３が潤滑剤を含むことが、特には磁性層４３が脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含むことが、磁気テープＭＴの走行安定性の向上に貢献する。
　脂肪酸は、好ましくは下記の一般式（１）または（２）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸として下記の一般式（１）により示される化合物および一般式（２）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
　また、脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式（３）または（４）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸エステルとして下記の一般式（３）により示される化合物および一般式（４）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
　潤滑剤が、一般式（１）に示される化合物および一般式（２）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式（３）に示される化合物および一般式（４）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、又は一般式（５）に示される化合物を含むことによって、磁気テープＭＴを繰り返しの記録または再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。
　ＣＨ3（ＣＨ2）kＣＯＯＨ ・・・（１）
（但し、一般式（１）において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ2）mＣＯＯＨ ・・・（２）
（但し、一般式（２）において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）pＣＯＯ（ＣＨ2）qＣＨ3 ・・・（３）
（但し、一般式（３）において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）rＣＯＯ－（ＣＨ2）sＣＨ（ＣＨ3）2・・・（４）
（但し、一般式（４）において、ｒは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｓは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ３（ＣＨ２）ｔＣＯＯ－（ＣＨ）（ＣＨ３）ＣＨ２（ＣＨ３）ｕ・・・（５）
（但し、一般式（５）において、ｔは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｕは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
［帯電防止剤］
　帯電防止剤としては、例えば、天然界面活性剤、ノニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤等が挙げられる。
［硬化剤］
　硬化剤としては、例えば、ポリイソシアネート等が挙げられる。ポリイソシアネートとしては、例えば、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＭＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の脂肪族ポリイソシアネート等が挙げられる。これらポリイソシアネートの重量平均分子量は、１００以上３０００以下の範囲であることが望ましい。
［防錆剤］
　防錆剤としては、例えばフェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物等が挙げられる。
［非磁性補強粒子］
　非磁性補強粒子として、例えば、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等が挙げられる。
［下地層］
　下地層４２は、ベース層４１の表面の凹凸を緩和し、磁性層４３の表面の凹凸を調整するためのものである。下地層４２は、非磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む非磁性層である。下地層４２は、磁性層４３の表面に潤滑剤を供給する。下地層４２が、必要に応じて、帯電防止剤、硬化剤および防錆剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。
　下地層４２の平均厚みの上限値は、好ましくは１．０μｍ以下、より好ましくは０．９μｍ以下、さらにより好ましくは０．８μｍ以下、特により好ましくは０．７μｍ以下、最も好ましくは０．６μｍ以下である。下地層４２の平均厚みの上限値が１．０μｍ以下であると、磁気テープＭＴの厚みを低減することができるので、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。また、下地層４２の平均厚みが１．０μｍ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。下地層４２の平均厚みの下限値は、好ましくは０．３μｍ以上である。下地層４２の平均厚みの下限値が０．３μｍ以上であると、下地層４２としての機能低下を抑制することができる。なお、下地層４２の平均厚みは、磁性層４３の平均厚みと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層４２の厚みに応じて適宜調整される。
［非磁性粉］
　非磁性粉は、例えば無機粒子粉または有機粒子粉の少なくとも１種を含む。また、非磁性粉は、カーボンブラック等の炭素粉を含んでいてもよい。なお、１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。
　非磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。非磁性粉の平均粒子サイズは、上記の磁性粉の平均粒子サイズと同様にして求められる。非磁性粉が、２以上の粒度分布を有する非磁性粉を含んでいてもよい。
［結着剤、潤滑剤］
　結着剤および潤滑剤は、上記の磁性層４３と同様である。
［添加剤］
　帯電防止剤、硬化剤および防錆剤はそれぞれ、上記の磁性層４３と同様である。
［バック層］
　バック層４４は、結着剤および非磁性粉を含む。バック層４４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。結着剤および非磁性粉は、上記の下地層４２と同様である。硬化剤および帯電防止剤は、上記の磁性層４３と同様である。
　バック層４４の平均厚みｔｂの上限値は、好ましくは０．６μｍ以下である。バック層４４の平均厚みｔｂの上限値が０．６μｍ以下であると、磁気テープＭＴの平均厚みが５．３μｍ以下である場合でも、下地層４２やベース層４１の厚みを厚く保つことができるので、磁気テープＭＴの記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層４４の平均厚みｔｂの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２μｍ以上である。
　バック層４４の平均厚みｔｂは以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴの平均厚みｔＴを測定する。平均厚みｔＴの測定方法は、以下の「磁気テープの平均厚み」に記載されている通りである。続いて、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に１０ｍから２０ｍの範囲、３０ｍから４０ｍの範囲、５０ｍから６０ｍの範囲それぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、３つのサンプルを作製する。次に、各サンプルのバック層４４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、Mitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、各サンプルの厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値（合計で１５点のサンプルの厚み）を算術平均して、平均値ｔＢ［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層４４の平均厚みｔｂ［μｍ］を求める。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　ｔｂ［μｍ］＝ｔＴ［μｍ］－ｔＢ［μｍ］
［磁気テープの幅変化量Δ］
　６５℃で３６０時間保存後に前記磁気テープの全長にわたって前記磁気テープの幅変化量Δを測定したときに、磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutの符号が磁気テープの巻内側の幅変化量Δinの符号と異なる。磁気テープの巻外側の幅変化量Δoutの符号が磁気テープの巻内側の幅変化量Δinの符号と異なることにより、高温環境下で保存を行っても優れた走行安定性を得ることができる。また、前記幅変化量Δが、前記磁気テープの全長を４等分して４つの領域に分割した場合の前記磁気テープの全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍである。このように磁気テープの長手方向における特定の領域で幅変化量Δが０ｐｐｍとなることにより、高温環境下で保存を行っても優れた走行安定性を得ることができる。さらに、磁気テープの長手方向において、４つの領域のうちのいずれかの領域においても幅変化量Δが好ましくは３００ｐｐｍ以下、より好ましくは２５０ｐｐｍ以下、さらに好ましくは２００ｐｐｍ以下、さらにより好ましくは１５０ｐｐｍ以下である。
　磁気テープの幅変化量Δは、以下のようにして測定される。
　まず、データ記録再生装置５０を用いて、６５℃で３６０時間保存前の初期状態にある磁気テープの長手方向におけるサーボバンドピッチを測定する。なお、サーボバンドピッチとは、サーボバンドの配列間隔を意味する。
　なお、サーボバンドピッチの測定に際し、磁気テープＭＴを０．５５Ｎのテンションで磁気記録カートリッジ１０に巻き込んだ状態で、３２℃、５５ＲＨ％の環境下、磁気記録カートリッジ１０内に収容されている磁気テープＭＴを、データ記録再生装置５０へと巻き込むように走行させながら（いわゆる順方向に走行させながら）、磁気テープＭＴの全長にわたって磁気テープＭＴの長手方向の各位置におけるサーボバンドピッチの測定が行われる。当該測定において、磁気テープＭＴにかかるテンションは０．５５Ｎであり、且つ、走行速度は３～６ｍ／ｓである。
　次に、磁気テープＭＴを０．５５Ｎのテンションで磁気記録カートリッジ１０に巻き込んだ状態で、６５℃、４０ＲＨ％で２４時間保存後、３２℃、５５ＲＨ％の環境下で、データ記録再生装置５０において０．５５Ｎのテンションで１往復走行させ、再び６５℃、４０ＲＨ％環境で２４時間保存した後に３２℃、５５ＲＨ％の環境下で、データ記録再生装置５０において０．５５Ｎのテンションで１往復走行することを繰り返し、合計３６０時間保存する。
　磁気テープＭＴの長手方向の各位置における保存後のサーボバンドピッチと初期状態の長手方向における対応する位置（長手方向における対応する位置は、全長における同じ長さ比率となる位置を意味する。）のサーボバンドピッチの比を幅変化量Δとする。幅変化量Δが最小になる部分と幅変化量Δが最大になる部分を特定し、さらに幅変化量最大値Δｍａｘと幅変化量最小値Δｍｉｎとの差を求める。
　サーボバンドピッチの測定方法について、以下により具体的に説明する。
　ここでは、図７に示すように、サーボバンドｓ２とサーボバンドｓ３との間に挟まれたデータバンドｄ０をデータライトヘッド６０がトラッキングする例について説明する。
　データ記録再生装置５０を用いたサーボバンドピッチの測定方法は、上述のように、データ記録再生装置５０によって磁気テープＭＴを全長にわたって走行させ、２つのサーボリード部６２の各サーボバンド上でのサーボトレースラインＴのサーボパターン４７に対する相対位置を表す数値をそれぞれ測定し、測定した各サーボトレースラインＴのサーボパターン４７に対する相対位置からサーボバンドピッチを算出する。図７において実線で示すサーボトレースラインＴの間隔は、磁気テープＭＴの幅が変化していないときのサーボバンドピッチ（データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２の配置間隔である第１のピッチＰ１）を示している。また、図７において破線で示すサーボトレースラインＴの間隔は、磁気テープＭＴの幅が広がったときのサーボバンドピッチ（Ｐ２’）に相当する。
　図８は、サーボトレースラインＴの測定方法を説明する図である。データ記録再生装置５０は、サーボパターン４７に対するサーボトレースラインＴの位置に応じた波形のサーボ再生信号を出力する。典型的には、互いに同種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト及びＣバースト間の距離ＡＣと、互いに異種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト及びＢバースト間の距離ＡＢとを算出し、下記［数１］式で各サーボリード部６２のサーボトレースラインＴのサーボパターン４７に対する相対位置を表す数値を算出する。なお、θは、上記各傾斜パターンのアジマス角であり、本例では、１２°とする。
 
　ここで、距離ＡＣは、ＡバーストおよびＣバーストの第１傾斜部同士の間の距離ＡＣ１でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離ＡＣ２でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離ＡＣ３でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離ＡＣ４でもよい。これらの距離ＡＣ（ＡＣ１～ＡＣ４）は、サーボ再生波形における振幅の正の最大値を示す位置（上ピーク位置）間の距離をいう。
　距離ＡＢについても同様に、ＡバーストおよびＢバーストの第１傾斜部同士の間の距離ＡＢ１でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離ＡＢ２でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離ＡＢ３でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離ＡＢ４でもよい。典型的には、距離ＡＣ１が採用される場合は距離ＡＢ１が採用され、距離ＡＣ２が採用される場合は距離ＡＢ２が採用され、距離ＡＣ３が採用される場合は距離ＡＢ３が採用され、距離ＡＣ４が採用される場合は距離ＡＢ４が採用される。
　そして、［数１］式を用いて算出された、距離ＡＢおよび距離ＡＣの割合から求められるサーボパターン上の各サーボトレースラインＴの位置を表す数値の差分から、サーボバンドピッチを求める。ここでは、測定する２つのサーボバンドのうち、テープエッジ側のサーボバンド（サーボバンドｓ３）の測定値からの、テープ中央側のサーボバンド（サーボバンドｓ２）の測定値の差分をとる。その値の正負は、テープ幅の変化の方向を意味し、正の場合はサーボバンドピッチが狭まったことに相当し、負の場合はサーボバンドピッチが広がったことに相当する。上記差分がゼロの場合は、テープ幅の変動が無いことを意味する。
　サーボバンドピッチは、多数のサーボフレームの差分から求めることが好ましく、例えば、１００～１０００００個のサーボフレームの差分から計算される測定値の平均値であってもよい。測定時におけるテープテンションは、サーボパターン４７の記録時のテンション（基準テンション、例えば、０．５５Ｎ）とし、磁気テープＭＴの全長にわたって一定のテンションで測定を行う。
　なお、サーボトレースラインＴの測定方法は上記の例に限られず、例えば、ＣバーストおよびＡバースト間の距離ＣＡと、ＣバーストおよびＤバースト間の距離ＣＤとを算出し、下記［数２］式でサーボトレースラインＴの位置を測定してもよい。
 
　ここで、距離ＣＡは、ＣバーストおよびＡバーストの第１傾斜部同士の間の距離ＣＡ１でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離ＣＡ２でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離ＣＡ３でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離ＣＡ４でもよい。これらの距離ＣＡ（ＣＡ１～ＣＡ４）は、サーボ再生波形における振幅の正の最大値を示す位置間の距離をいう。
　距離ＣＤについても同様に、ＣバーストおよびＤバーストの第１傾斜部同士の間の距離ＣＤ１でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離ＣＤ２でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離ＣＤ３でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離ＣＤ４でもよい。典型的には、距離ＣＡ１が採用される場合は距離ＣＤ１が採用され、距離ＣＡ２が採用される場合は距離ＣＤ２が採用され、距離ＣＡ３が採用される場合は距離ＣＤ３が採用され、距離ＣＡ４が採用される場合は距離ＣＤ４が採用される。
　さらに、サーボバンドピッチの測定には、［数１］式を用いた測定値と［数２］式を用いた測定値との平均値が用いられてもよい。さらに、［数１］式における距離ＡＣ，ＡＢおよび［数２］式における距離ＣＡ，ＣＤとして、サーボ再生波形における振幅の負の最大値を示す位置（下ピーク位置）間の距離が採用されてもよい。あるいは、［数１］式における距離ＡＣ，ＡＢおよび［数２］式における距離ＣＡ，ＣＤとして、サーボ再生波形における振幅の正の最大値を示す位置（上ピーク位置）間の距離と負の最大値を示す位置（下ピーク位置）間の距離との平均値が採用されてもよい。
　図７に示すように、サーボトレースラインＴが破線で示す位置にある場合、サーボバンドｓ２においては距離ＡＢが３８．５μｍ、距離ＡＣが７６μｍ、サーボバンドｓ３においては距離ＡＢが３７．５μｍ、距離ＡＣが７６μｍであるとする。
　サーボバンドｓ２においては、
　（３８．５／７６）×（７６／２ｔａｎ１２°）＝９０．５６４１［μｍ］
　サーボバンドｓ３においては、
　（３７．５／７６）×（７６／２ｔａｎ１２°）＝８８．２１１８［μｍ］
となる。これらの値の差分は、
　８８．２１１８－９０．５６４１＝－２．３５２３［μｍ］
となる。
　したがって、この場合におけるサーボバンドピッチＰ２は、サーボリードヘッドピッチＰ１より、２．３５２３μｍだけ広い値として求められる。
　なお、図７に示すように、サーボトレースラインＴが実線で示す位置にある場合、サーボバンドｓ２およびサーボバンドｓ３のいずれにおいても距離ＡＢが３８μｍ、距離ＡＣが７６μｍとなる。この場合、サーボバンドｓ２およびサーボバンドｓ３のいずれにおいても８９．３８８０［μｍ］であり、それらの差分は０［μｍ］となる。つまり、この場合のサーボバンドピッチは、サーボリードヘッドピッチＰ１と同一を意味する。
［テンション制御］
　データ記録再生装置５０は、上述のようにして測定されたサーボパターンピッチに基づき、測定されたサーボパターンピッチがサーボリードヘッドピッチＰ１と同一となるように磁気テープＭＴのテンションを制御してもよい。
　本実施形態では、磁気テープＭＴへのデータの記録あるいは磁気テープＭＴからのデータの再生に先立って、データを記録あるいは再生する１つのデータバンドを挟む２つのサーボバンドからサーボ信号を読み取り、読み取った各サーボ信号からこれら２つのサーボバンドピッチがサーボリードヘッドピッチＰ１よりも広いか狭いかを判定してもよい。サーバンドピッチがサーボリードヘッドピッチＰ１よりも広い場合にはテンションを高くし、サーボバンドピッチがサーボリードヘッドピッチＰ１よりも狭い場合にはテンションを低くしてもよい。このようにサーボバンドピッチの大きさに応じてテンションの大きさを調整することで、当該データバンドについて所望とするトラッキング制御を安定に行うことができる。
　データ記録再生装置５０は、１つのデータバンドについてのサーボバンドピッチとテンションとの関係を１往復のテープ走行により取得し、その取得データをカートリッジメモリ１１へ記録してもよい。データ記録再生装置５０は、上記１つのデータバンドについて測定したサーボバンドピッチとテンションとの関係を、他のデータバンドに対するデータの記録再生時にも同様に適用してもよい。
　なお、磁気テープＭＴの長手方向における幅変化量は、例えば、以下のとおりに調整することができる。磁気テープＭＴに生じるひずみやクリープを減少させるために、ベース層の材質と、ベース層の縦横強度（縦横延伸条件）、磁性層種類（塗布型磁性層、真空薄膜型磁性層）、塗布層の場合は、結合剤のＴｇ、硬化剤の量などを適宜選択してもよい。また、ひずみ緩和のために磁気テープＭＴの裁断前に、６５℃以上の温度で長時間保管してもよく、さらにサーボライト前に、５５℃以上の温度で長時間保管してもよい。
［損失弾性率、貯蔵弾性率］
　ベース層４１の６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下、好ましくは０．３５ＧＰａ以下、より好ましくは０．３０ＧＰａ以下、さらに好ましくは０．２５ＧＰａ以下、好ましくは０．２０ＧＰａ以下でありうる。損失弾性率が当該範囲内であることにより、６０℃以上の高温環境下で保存を行っても、テープシステムの走行張力の調整や巻き方向を変更することで磁気テープの長手方向における幅修正が可能な磁気記録カートリッジを提供することができる。
　ベース層４１の６５℃における貯蔵弾性率が好ましくは８．０ＧＰａ以下、より好ましくは７．０ＧＰａ以下、さらに好ましくは６．０ＧＰａ以下でありうる。貯蔵弾性率が上記数値範囲内にあることによって高温環境下で保存後もテープシステムの走行張力調整や巻き方向を変更することで磁気テープの長手方向における幅修正が可能な磁気記録カートリッジを提供することができる。
　また、前記ベース層の６５℃における貯蔵弾性率の下限は、特に限定されるものではないが、例えば、好ましくは０．０１ＧＰａ以上、より好ましくは０．０２ＧＰａ以上、さらに好ましくは０．０３ＧＰａ以上でありうる。
　損失弾性率及び貯蔵弾性率は、動的粘弾性測定によって測定される。前記動的粘弾性測定は温度依存性測定であり、具体的には以下のとおりにして行われる。
　磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部から１０ｍから２０ｍ、３０ｍから４０ｍ、及び５０ｍから６０ｍの３か所の位置からそれぞれ２５０ｍｍの長さに切り出し、切り出された磁気テープＭＴを打ち抜き器にて測定テープ長２２．０ｍｍ、幅４．０ｍｍに切り出し、サンプルを作製する。サンプルのベース層４１以外の層（すなわち非磁性層（下地層）４２、磁性層４３およびバック層４４）をアセトンまたはエタノール等で除去する。当該サンプルの長手方向の両端が、動的粘弾性測定装置（ＲＳＡ　ＩＩ、ＴＡインスツルメンツ社製）の測定部にクランプされる。そして、以下の測定条件で、動的粘弾性測定を行う。ｎ数３で各サンプルについて５点の位置で測定し、それらの測定値（合計１５点）を単純に平均（算術平均）して、損失弾性率及び貯蔵弾性率を算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
測定温度範囲：－１０℃～１８０℃
昇温速度：２℃／分
振幅：テープ初期長に対して０．１％の振幅で伸び縮みさせる
測定周波数：１０Ｈｚ
Ｔｅｓｔ　Ｔｙｐｅ：「Ｓｔｒａｉｎ－Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ」
Ｍｅａｓｕｒｍｅｎｔ　Ｔｙｐｅ：「Ｄｙｎａｍｉｃ」
装置が置かれる環境：温度２５℃、湿度５０ＲＨ％
測定部の湿度コントロール：無し
測定Ｎ数：３
　前記装置の測定条件に関するより詳細な設定は以下のとおりである。すなわち、以下に記載されるとおり、前記測定において、張力が０以下になることがないように張力が調整され、且つ、ひずみがトランスデューサーの下限値を下回らないように調整される。これらの調整のための測定条件は当業者により適宜設定されてよいが、上記動的粘弾性測定装置について例えば以下のとおりの設定が採用されてよい。
Option設定
Delay Before Test : OFF
Auto Tension（張力が0以下になることがないように張力を調整するための設定）
Mode Static Force Tracking Dynamic Force
　　　Auto Tension Direction Tension
　　　Initial Static Force 10.0g
　　　Static>Dynamic Force by 5.0%
　　　Minimum Static Force 1.0g
　　　Auto Tension Sensitivity 1.0g
Auto Strain（ひずみがトランスデューサーの下限を下回らないように調整するための設定）
　　　Max Applied Strain 0.1%
　　　Max Allowed Force 100.0g
　　　Min allowed Force 2.0g
　　　Strain Adjustment 3.0%
Meas Ops: Default setting
　以上で説明した前記動的粘弾性測定をベース層４１に対して行うことによって、測定温度６５℃における損失弾性率及び貯蔵弾性率の値が得られる。
　ベース層４１の損失弾性率及び貯蔵弾性率は、例えばベース層を形成する材料の種類及びベース層の長手方向と幅方向の延伸状態及び／又は塗布乾燥工程、カレンダー工程、硬化工程、Ａｇｉｎｇ工程などによって調整することができる。
　例えば、ベース層を形成する材料としてＰＥＮ、ＰＥＴ、又はＰＥＥＫを用いることによって、他の材料と比べて損失弾性率及び貯蔵弾性率を小さくすることができる。
［算術平均粗さＲａ］
　磁性面の算術平均粗さＲａは、好ましくは２．５ｎｍ以下、より好ましくは２．０ｎｍ以下である。Ｒａが２．５ｎｍ以下であると、より優れたＳＮＲを得ることができる。
　上記の算術平均粗さＲａは以下のようにして求められる。まず、ＡＦＭ（Atomic Force Microscope）（ブルカー製、Dimension Icon）を用いて磁性層４３が設けられている側の表面を観察して、断面プロファイルを取得する。次に、取得した断面プロファイルから、ＪＩＳ Ｂ０６０１：２００１に準拠して算術平均粗さＲａを求める。
［磁気テープの平均厚みｔＴ］
　磁気テープＭＴの平均厚みｔＴは、好ましくは５．６μｍ以下、より好ましくは５．４μｍ以下、さらに好ましくは５．０μｍ以下、特に好ましくは４．６μｍ以下でありうる。磁気テープＭＴの平均厚みｔＴがｔＴ≦５．６μｍであると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を従来よりも高めることができる。磁気テープＭＴの平均厚みｔＴの下限値は特に限定されるものではないが、例えば、３．５μｍ≦ｔＴである。
　磁気テープＭＴの平均厚みｔＴは以下のようにして求められる。まず、磁気記録カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部から１０ｍから２０ｍ、３０ｍから４０ｍ、及び５０ｍから６０ｍの３か所の位置からそれぞれ２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、各サンプルの厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値（合計１５点）を単純に平均（算術平均）して、平均厚みｔＴ［μｍ］を算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、各サンプルから無作為に選ばれるものとする。
［第１突起の平均高さＨ１と第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２］
　第１突起９１Ｂの平均高さＨ１と第２突起９２Ｂの平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２（以下「突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２」という。）の上限値は、Ｈ１／Ｈ２≦２．３、好ましくはＨ１／Ｈ２≦２．０、より好ましくはＨ１／Ｈ２≦１．７、さらにより好ましくはＨ１／Ｈ２≦１．５である。突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２がＨ１／Ｈ２≦２．３であると、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０との接触面積を適切な範囲に調整することができると共に、第２突起９２Ｂとデータライトヘッド６０との接触機会を適切な範囲に調整することができるので、磁気テープＭＴの走行に伴う第１突起９１Ｂの摩耗を抑制することができる。したがって、多数回走行による磁性面の摩擦上昇を抑制することができる。よって、多数回走行によるＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳの上昇を抑制することができる。
　突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２の下限値は、好ましくは１．０≦Ｈ１／Ｈ２、より好ましくは１．１≦Ｈ１／Ｈ２、さらに好ましくは１．２≦Ｈ１／Ｈ２である。磁性面のカレンダー処理の際に、第２突起９２Ｂは第１突起９１Ｂに比べて押しつぶされやすいため、第２突起９２Ｂの平均高さＨ２は、第１突起９１Ｂの平均高さＨ１に比べて低くなる。したがって、カレンダー処理後の磁性面における突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２をＨ１／Ｈ２＜１．０に調整することは困難である。
［第１突起の平均高さＨ１］
　第１突起９１Ｂの平均高さＨ１の上限値は、好ましくは１２．０ｎｍ以下、より好ましくは１１．５ｎｍ以下、さらにより好ましくは１０．５ｎｍ以下、９．５ｎｍ以下または８．５ｎｍ以下である。第１突起９１Ｂの平均高さＨ１が１２．０ｎｍを超えると、データライトヘッド６０と磁気テープＭＴとの間のスペーシング量が大きくなり、所定の電磁変換特性を得ることができなくなる虞がある。
　第１突起９１Ｂの平均高さＨ１の下限値は、特に限定されるものではないが、好ましくは５．０ｎｍ以上、より好ましくは５．５ｎｍ以上、さらに好ましくは６．０ｎｍ以上である。
［第２突起の平均高さＨ２］
　第２突起９２Ｂの平均高さＨ２の上限値は、好ましくは７．０ｎｍ以下、より好ましくは６．５ｎｍ以下、さらにより好ましくは６．０ｎｍ以下、５．５ｎｍ以下または５．３ｎｍ以下である。第２突起９２Ｂの平均高さＨ２が７．０ｎｍを超えると、データライトヘッド６０と磁気テープＭＴとの間のスペーシング量が大きくなり、所定の電磁変換特性を得ることができなくなる虞がある。
　第２突起９２Ｂの平均高さＨ２の下限値は、特に限定されるものではないが、好ましくは２．０ｎｍ以上、より好ましくは２．５ｎｍ以上、さらに好ましくは３．０ｎｍ以上である。
［第１突起の平均高さＨ１、第２突起の平均高さＨ２および突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２の測定方法］
　第１突起９１Ｂの平均高さＨ１、第２突起９２Ｂの平均高さＨ２および突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２は、以下に説明するとおり、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：ＡＦＭ）によるＡＦＭ像と、電界放射型走査電子顕微鏡（Field-Emission Scanning Electron Microscope：ＦＥ－ＳＥＭ）によるＦＥ－ＳＥＭ像を測定サンプルの同一箇所において取得し、これらのＡＦＭ像とＦＥ－ＳＥＭ像と対応付けることにより求められる。
　
　ＡＦＭにより、各突起の高さを測定することができ、且つ、ＦＥ－ＳＥＭにより、各突起が第１粒子９１Ａおよび第２粒子９２Ａのいずれによって形成されたものであるかを特定することができる。同一箇所についてのＡＦＭにより得られた画像とＦＥ－ＳＥＭにより得られた画像とを重ね合わせて合成画像を得て、得られた合成画像から、各突起を形成する粒子の種類（第１粒子９１Ａおよび第２粒子９２Ａのいずれであるか）と各突起の高さとを対応付けることができる。
　以下、（Ａ）測定サンプルの作製およびＡＦＭ像の取得、（Ｂ）ＦＥ－ＳＥＭを用いた突起を形成する粒子の種類の特定方法、（Ｃ）突起の高さと突起を形成する粒子の種類との対応付け方法、（Ｄ）ＡＦＭを用いた突起の高さの測定方法、および（Ｅ）第１突起の平均高さＨ１、第２突起の平均高さＨ２および突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２の算出方法について順次説明する。
（Ａ）測定サンプルの作製およびＡＦＭ像の取得
　まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴとリーダーテープＬＴとの接続部２１から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴをＡＦＭ観察用試料台およびＳＥＭ観察用試料台に乗るサイズに切り出し、測定サンプルを作製する。次に、測定サンプルの中央部を避けて、測定サンプル表面にマーキングする。マーキング法としては、マニュピレーターやナインデンター等にて線状または点状に磁気テープＭＴ上に凹みを形成する方法、銀ペースト等で磁気テープＭＴ上に凸部を形成する方法等が挙げられる。なお、ＡＦＭでは、マーキング部をプローブで走査するため、マーキング部の状態によってはプローブ先端が汚れて正確なＡＦＭ像が得られない場合があるので、プローブが汚染されないようにマーキングは小さく、浅くすることが好ましい。
　次に、測定サンプル表面のマーキング部をＡＦＭによって形状解析する。マーキングされたマーキング部は凹んでいるか、もしくは突出しているので、マーキング部が視野のできるだけ端となるようにＡＦＭにて５μｍ×５μｍの視野角で測定サンプル表面を測定する。なお、マーキング部の周辺部の突起は測定対象外とする。具体的には、１０μｍ×１０μｍの視野角で測定し、目印となる部分を決定し、その目印となる部分に合せて、マーキングのない部分を５μｍ×５μｍの視野角で測定サンプル表面を測定する。上記形状解析のための測定条件は以下に記載されたとおりである。
＜ＡＦＭ測定条件＞
測定装置：AFM Dimension 3100 顕微鏡（NanoscopeIV コントローラを有する）（Digital Instruments社製）
測定モード：タッピング
チューニング時のタッピング周波数：２００ｋＨｚ以上４００ｋＨｚ以下
カンチレバー：ＳＮＬ－１０（Ｂｒｕｋｅｒ社製）
Scan size：５μｍ×５μｍ
Scan rate：１Ｈｚ
Scan line：２５６
＜突起高さを算出する際の基準面の算出方法＞
　ＡＦＭ像を２５６×２５６（＝６５，５３６）個の測定点に分割し、各測定点にて高さＺ（ｉ）（ｉ：測定点番号、ｉ＝１から６５，５３６）を測定し、測定した各測定点の高さＺ（ｉ）を単純に平均（算術平均）して平均高さ（基準面）Ｚａｖｅ（＝（Ｚ（１）＋Ｚ（２）＋・・・＋Ｚ（６５，５３６））／６５，５３６）を求める。
（Ｂ）ＦＥ－ＳＥＭを用いた突起を形成する粒子の種類の特定方法
　上記測定サンプルの上記マーキング部を、ＦＥ－ＳＥＭを用いて、以下に記載されたＦＥ－ＳＥＭ測定条件で撮像して、ＦＥ－ＳＥＭ画像を得る。図４３中のＡ図はＦＥ－ＳＥＭ画像の一例である。得られたＦＥ－ＳＥＭ像から、第１粒子９１Ａおよび第２粒子９２Ａのそれぞれの２次電子放出量の差異による輝度差を利用し、突起を形成する粒子の種類を特定することができる。当該特定のための画像処理については後述する。また、ＦＥ－ＳＥＭ像中の第１粒子９１Ａと第２粒子９２Ａのそれぞれによって形成された突起の位置を識別する。
＜ＦＥ－ＳＥＭ測定条件＞
測定装置：HITACHI S-4800（株式会社日立ハイテクノロジーズ製）
視野角：５．１μｍ×３．８μｍ
加速電圧：５ｋＶ
測定倍率：２５０００倍
　得られたＦＥ－ＳＥＭ像（図４３中のＡ図）を、画像処理ソフトＩｍａｇｅ Ｊを用いて、以下に記載した２つの処理条件のそれぞれで二値化処理を行う。二値化処理によって得られた画像から、第１粒子９１Ａ、第２粒子９２Ａのそれぞれによって形成された第１突起９１Ｂ、第２突起９２Ｂについて、突起の個数の情報が得られる。なお、二値化処理に際しては、輝度の高い第２粒子９２Ａ（図４３中のＡ図における白色箇所）と輝度の低い第１粒子９１Ａ（図４３中のＡ図における黒色箇所）とで下記のとおり条件を変更する。
＜第１粒子に関する情報を得るための二値化処理条件＞
ソフトウエア：Ｉｍａｇｅ Ｊ Ｖｅｒ １．４４ｐ
二値化閾値：Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ（０．６５）
二値化対象サイズ：０．００２μｍ－ｉｎｆｉｎｉｔｙ
＜第２粒子に関する情報を得るための二値化処理条件＞
ソフトウエア：Ｉｍａｇｅ Ｊ Ｖｅｒ １．４４ｐ
二値化閾値：Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ（２２０，２５５）
二値化対象サイズ：０．００１μｍ－ｉｎｆｉｎｉｔｙ
　図４３中のＢ図は、図４３中のＡ図のＦＥ－ＳＥＭ像を第２粒子（アルミナ粒子）９２Ａの二値化処理条件で二値化処理することにより得られたる画像、すなわち、第２粒子（アルミナ粒子）９２Ａによって形成された第２突起９２Ｂの位置分布を示す画像である。得られた画像から第２粒子９２Ａに関する以下の情報が得られる。
＜得られた第２粒子に関する情報＞
個数：５８個
　図４３中のＣ図は、図４３中のＡ図のＦＥ－ＳＥＭ像を第１粒子（カーボンブラック粒子）９１Ａの二値化処理条件で二値化処理することにより得られたる画像、すなわち、第１粒子（カーボンブラック粒子）９１Ａによって形成された第１突起９１Ｂの位置分布を示す画像である。得られた画像から第１粒子９１Ａに関する以下の情報が得られる。
＜得られた第１粒子に関する情報＞
個数：５５個
（Ｃ）突起の高さと突起を形成する粒子の種類との対応付け方法
　得られたＡＦＭ像と二値化処理前のＦＥ－ＳＥＭ像を重ね合わせて合成画像を得る。合成された画像を用いて、各突起を形成する粒子が、第１粒子９１Ａおよび第２粒子９２Ａのいずれかであるかを特定する。
　例えば、図４４中のＣ図は、ＡＦＭ像（Ｂ図）とＦＥ－ＳＥＭ像（Ａ図）とを、それぞれの対応する突起の位置が一致するように重ね合わせた合成画像である。画像合成前のＦＥ－ＳＥＭ像（図４４中のＡ図）には、上記二値化処理によって判別された第１突起９１Ｂの位置と第２突起９２Ｂの位置とを判別できるように、それぞれの位置において異なる印（「〇」印または「□」印）が付けられている。同様に画像合成前のＡＦＭ像（図４４中のＢ図）には、上記二値化処理によって判別された第１突起９１Ｂの位置と第２突起９２Ｂの位置とを判別できるように、それぞれの位置において異なる印（「〇」印または「□」印）が付けられている。ＡＦＭ像（Ｂ図）とＦＥ－ＳＥＭ像（Ａ図）とを、それぞれの対応する突起の位置が一致するように重ね合わせた合成画像（Ｃ図）から、各突起が第１粒子９１Ａまたは第２粒子９２Ａのいずれの粒子から形成されたかを判別する。なお、図４４中のＢ図は、マーキング部をＡＦＭにて１０μｍ×１０μｍの視野角で測定し、その後、マーキングのない部分を５μｍ×５μｍの視野角で測定しているので、マーキングが画像内に存在しない。
（Ｄ）ＡＦＭを用いた突起の高さの測定方法
　ＡＦＭ解析ソフト（Dimension 3100用Software version 5.12 Rev.B Veeco社製）を用いて、合成画像中の２０個の第１突起９１Ｂの高さを計測すると共に、２０個の第２突起９２Ｂの高さを計測する。
　例えば図４５は、ＡＦＭ像とＦＥ－ＳＥＭ像を重ね合わせた合成画像の拡大図である。図４６は、図４５中において任意の位置に設定されたライン１（Ｌｉｎｅ１）についてのＡＦＭによる分析結果（突起高さの測定結果）を示す図である。図４６に示されるとおり、ライン１上に存在する第１粒子（カーボンブラック粒子）９１Ａ、第２粒子（アルミナ粒子）９２Ａそれぞれによって形成された第１突起９１Ｂ、第２突起９２Ｂの高さを特定することができる。このように、合成画像とＡＦＭ分析結果とから、第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂの高さが特定される。
　第１突起９１Ｂと第２突起９２Ｂのそれぞれについて、１つの測定サンプルからＡＦＭの１視野で２０個以上の突起を特定できる場合には、ＡＦＭにて１視野を測定する。第１突起９１Ｂと第２突起９２Ｂのそれぞれについて、ＡＦＭの１視野で特定できる突起が２０個に満たない場合、１つの測定サンプルから複数（例えば、３から５）の視野を測定する。これにより、第１突起９１Ｂと第２突起９２Ｂのそれぞれについて、上記の二値化処理によって第１突起９１Ｂと第２突起９２Ｂと特定されるポイントを２０個確保する。なお、上記のように１つの測定サンプルから複数の視野を測定する場合には、それらの複数の視野は１つの測定サンプから無作為に選ばれるものとする。
（Ｅ）第１突起の平均高さＨ１、第２突起の平均高さＨ２および突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２の算出方法
　上記のとおりに得られた２０個の第１突起９１Ｂの高さを単純に平均（算術平均）して平均値を求め、第１突起の平均高さＨ１とする。同様に、上記のとおりに得られた２０個の第２突起９２Ｂの高さを単純に平均（算術平均）して平均値を求め、第２突起の平均高さＨ２とする。このようにして求められた第１突起９１Ｂの平均高さＨ１および第２突起９２Ｂの平均高さＨ２を用いて、突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２を算出する。
［ＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳ］
　磁気テープＭＴのＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳは、好ましくは４０ＦＶｎｕｍｂｅｒ以内にσＰＥＳが５０ｎｍ未満であり、より好ましくは４０ｎｍ以下であり、さらにより好ましくは３０ｎｍ以下であり、特に好ましくは２５ｎｍ以下である。
　ＰＥＳ（Position Error Signal）は、データ記録再生装置によりサーボパターンが再生される際（読み取られる際）の該サーボパターンの磁気テープＭＴの幅方向における読み取り位置のずれ量（誤差）を示す。磁気テープＭＴの長手方向のテンションの調整を精度良く行うためには、データ記録再生装置によりサーボパターンが読み取られる際のサーボバンドの直線性ができるだけ高いこと、すなわち上記読み取り位置のずれ量を示すＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳができるだけ低いことが好ましい。磁気テープＭＴのＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳは上記のとおり低い値であると、サーボバンドの直線性が高く、磁気テープＭＴのテンション調整を精度よく行うことができる。また、標準偏差σＰＥＳは、磁性面の摩擦に関係しており、磁性面の摩擦が上昇すると、標準偏差σＰＥＳが上昇する傾向がある。
　図４７は、磁気テープＭＴの走行に伴うＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳの経時変化の第１の例を示す図である。図４７に示されるように、４０ＦＶ ｎｕｍｂｅｒ以内にσＰＥＳが５０ｎｍ未満であると、トラックずれが発生しない。また、磁性面の摩擦上昇が抑制され、ほぼ一定に保たれる。図４８は、磁気テープＭＴの走行に伴うＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳの経時変化の第２の例を示す図である。図４８に示されるように、４０ＦＶ ｎｕｍｂｅｒ以内にσＰＥＳが５０ｎｍを超えると、トラックずれが多発するため磁気テープＭＴの走行が停止する。また、磁性面の摩擦が上昇する。
　図４９中の上図は、磁気テープＭＴの走行に伴う、標準偏差σＰＥＳの経時変化の第３の例を示す図である。図４９中の下左図は、上記上図のσＰＥＳがほぼ一定値である領域Ａ（摩擦安定）における第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂと、データライトヘッド６０との関係を摸式的に示す断面図である。同図中における破線は、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０の表面との接触位置を示す仮想線である。図４９中の下右図は、上記上図のσＰＥＳが上昇傾向にある、領域Ｂ（摩擦上昇）における第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂと、データライトヘッド６０との関係を摸式的に示す断面図である。同図中における破線は、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０の表面との接触位置を示す仮想線である。
　図４９に示されるように、領域Ａでは標準偏差σＰＥＳがほぼ一定であるのに、領域Ｂでは標準偏差σＰＥＳが上昇するのは、領域Ａでは第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０の表面との接触面積が小さく、摩擦が一定であるのに対し、領域Ｂでは磁気テープＭＴの走行に伴い、磁気テープＭＴによって第１粒子９１Ａ（カーボン粒子）が磨耗し、第１突起９１Ｂが徐々に崩れ、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０の表面との接触面積が大きくなり、摩擦が上昇するためであると推測される。
　図５０は、磁性面における第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂと、データライトヘッド６０との関係を摸式的に示す断面図である。図５０中における破線は、磁性面における第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０の表面との接触位置を示す仮想線である。
　図５０中の上図は、磁気テープＭＴの走行前の第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂと、データライトヘッド６０との関係を摸式的に示す図である。図５０中の上図に示されるように磁気テープＭＴの走行前は、第１突起９１Ｂの高さが第２突起９２Ｂの高さより大きく、データライトヘッド６０と磁気テープＭＴとの間のスペーシング量が大となり、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０との接触面積が小さく、また、第２突起９２Ｂとデータライトヘッド６０との接触機会が少ないと推測される。
　図５０中の中図は、磁気テープＭＴの走行後の第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂと、データライトヘッド６０との関係を摸式的に示す図である。図５０中の中図に示されるように磁気テープＭＴの走行後は、磁気テープＭＴとの接触により第１突起９１Ｂが次第に削られ、第１突起９１Ｂの高さが第２突起９２Ｂの高さより高くなるか、または等しくなり、データライトヘッド６０と磁気テープＭＴとの間のスペーシング量が小となり、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０との接触面積が大きくなり、また、第２突起９２Ｂとデータライトヘッド６０との接触機会が多くなると推測される。この状態は摩擦が高く、標準偏差σＰＥＳが悪化することになる。
　図５０中の下図は、本実施形態における第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂと、データライトヘッド６０との関係を摸式的に示す図である。図５０中の下図に示されるように、第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂの高さの関係を本実施形態における形状（突起の平均高さ比Ｈ１／Ｈ２≦２．３の凹凸形状）とすることにより、第１突起９１Ｂとデータライトヘッド６０との接触面積を小さくすると共に、第２突起９２Ｂとデータライトヘッド６０との接触機会を多くすることで、磁気テープＭＴの走行に伴う第１突起９１Ｂの摩耗を抑制し、結果、標準偏差σＰＥＳの上昇を抑制するものと推測される。
　以下、標準偏差σＰＥＳの測定方法について、図５１および図５２を参照して説明する。標準偏差σＰＥＳを求めるためにＰＥＳ値が測定される。ＰＥＳ値の測定のために、例えば図５２に示されるＰＥＳ測定用データライトヘッド６０を用意する。データライトヘッド６０として、ＨＰＥ（Hewlett Packard Enterprise）社製のＬＴＯ２用ヘッド（ＬＴＯ２規格に従うヘッド）が用いられる。データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの長手方向に沿って並べて配置される２つのデータライトヘッド部６０Ａ、６０Ｂを有する。各ヘッド部は、磁気テープＭＴにデータ信号を記録するための複数のデータライト部６４と、磁気テープＭＴに記録されているデータ信号を再生するための複数のデータリード部６５と、磁気テープＭＴに記録されているサーボ信号を再生するための複数のサーボリード部６２とを備える。なお、データライトヘッド６０をＰＥＳ値の測定のみに用いる場合は、データライト部６４およびデータリード部６５は、データライトヘッドに含まれていなくてもよい。
　ここで、図５１を参照して、ＰＥＳを測定する方法を説明するためのサーボバンドを説明する。サーボバンドには、図５１に示すように、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜した複数のサーボストライプ（線状の磁化領域）１１３０からなるサーボパターンが形成されている。
　サーボバンドは、複数のサーボフレーム１１００を含んでいる。各サーボフレーム１１００は、１８本のサーボストライプ１１３０から構成されている。具体的には、各サーボフレーム１１００は、サーボサブフレーム１（１１１０）およびサーボサブフレーム２（１１２０）から構成される。
　サーボサブフレーム１（１１１０）は、Ａバースト１１１０ＡおよびＢバースト１１１０Ｂから構成される。Ｂバースト１１１０Ｂは、Ａバースト１１１０Ａに隣接して配置されている。Ａバースト１１１０Ａは、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１１３０を備えている。図５１中では、これらの５本のサーボストライプ１１３０に磁気テープＭＴのＥＯＴ（End Of Tape）からＢＯＴ（Beginning Of Tape）に向って符号Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４、Ａ５を付して示している。Ｂバースト１１１０Ｂは、Ａバースト１１１０Ａと同様に、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプを備えている。図５１中では、これらの５本のサーボストライプに磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５を付して示している。Ｂバースト１１１０Ｂのサーボストライプ１１３０は、Ａバースト１１１０Ａのサーボストライプ１１３０とは逆向きに傾斜している。すなわち、Ａバースト１１１０Ａのサーボストライプ１１３０とＢバースト１１１０Ｂのサーボストライプ１１３０はハの字状に配置されている。
　サーボサブフレーム２（１１２０）は、Ｃバースト１１２０ＣおよびＤバースト１１２０Ｄから構成される。Ｄバースト１１２０Ｄは、Ｃバースト１１２０Ｃに隣接して配置されている。Ｃバースト１１２０Ｃは、テープ幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１１３０を備えている。図５１中では、これらの４本のサーボストライプ１１３０に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４を付して示している。Ｄバースト１１２０Ｄは、Ｃバースト１１２０Ｃと同様に、テープ幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプを備えている。図５１中では、これらの４本のサーボストライプ１１３０に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４を付して示している。Ｄバースト１１２０Ｄのサーボストライプ１１３０は、Ｃバースト１１２０Ｃのサーボストライプ１１３０とは逆向きに傾斜している。すなわち、Ｃバースト１１２０Ｃのサーボストライプ１１３０とＤバースト１１２０Ｄのサーボストライプ１１３０はハの字状に配置されている。
　Ａバースト１１１０Ａ、Ｂバースト１１１０Ｂ、Ｃバースト１１２０Ｃ、Ｄバースト１１２０Ｄにおけるサーボストライプ１１３０の上記所定角度φは、例えば１１°以上４０°以下、好ましくは１１°以上３６°以下、より好ましくは１１°以上２５°以下、さらにより好ましくは１７°以上２５°以下でありうる。
　サーボバンドをデータライトヘッド６０で読み取ることにより、テープ速度およびデータライトヘッド６０の縦方向の位置を取得するための情報が得られる。テープ速度は、４つのタイミング信号（Ａ１－Ｃ１、Ａ２－Ｃ２、Ａ３－Ｃ３、Ａ４－Ｃ４）間の時間から計算される。ヘッド位置は、前述の４つのタイミング信号間の時間および別の４つのタイミング信号（Ａ１－Ｂ１、Ａ２－Ｂ２、Ａ３－Ｂ３、Ａ４－Ｂ４）間の時間から計算される。サーボパターンは、平行な２本の線を含む形状でもよい。
　図５１に示すように、サーボパターン（すなわち複数のサーボストライプ１１３０）は、磁気テープＭＴの長手方向に向って直線的に配列されていることが好ましい。すなわち、サーボバンドは、磁気テープＭＴの長手方向に直線状を有していることが好ましい。
　以下、図５２を参照して標準偏差σＰＥＳの測定方法について詳細に説明する。先ず、データライトヘッド６０を用いて、磁気テープＭＴに設けられる所定のサーボバンド内のサーボパターンの再生（読み取り）を行う。この際、所定のサーボバンドの各サーボパターンに対して、データライトヘッド部６０Ａのサーボリード部６２とデータライトヘッド部６０Ｂのサーボリード部６２とが順次対向し、これら２つのサーボリード部６２により該サーボパターンの再生を順次行う。この際、磁気テープＭＴに記録されたサーボパターンにおけるサーボリード部６２に対向した部分が読み取られ、サーボ信号として出力される。
　ヘッド部毎のＰＥＳ値の値は、図５１に示すように、１サーボフレーム毎に、以下の計算式によって算出される。
 
　ここで、図５１に示すセンターラインは、サーボバンドの中心線である。Ｘ［μｍ］は、図５１に示すセンターライン上におけるサーボパターンＡ１とサーボパターンＢ１との距離であり、Ｙ［μｍ］は、図５１に示すセンターライン上におけるサーボパターンＡ１とサーボパターンＣ１との距離である。ＸおよびＹは、磁気テープＭＴをフェリコロイド現像液で現像し、万能工具顕微鏡（TOPCON TUM-220ES）およびデータ処理装置（TOPCON CA-1B）を用いて求められる。テープ長さ方向の任意の箇所において、５０個のサーボフレームを選択し、各々のサーボフレームにおいてＸおよびＹを求め、５０個のデータを単純平均したものを、上記計算式において用いるＸおよびＹとする。
　上記差分（Ｂａ１－Ａａ１）は、対応する２つのサーボパターンＢ１とサーボパターンＡ１との間のアクチュアルパス上における時間［ｓｅｃ］を示す。同様に、他の差分の項も、対応する２つのサーボパターン間のアクチュアルパス上における時間［ｓｅｃ］を示す。これらの時間は、サーボ信号の波形から得られるタイミング信号間の時間とテープ走行速度とから求められる。本明細書内において、アクチュアルパスは、データライトヘッドがサーボ信号上を実際に走行する位置を意味する。φは、アジマス角である。φは、磁気テープＭＴをフェリコロイド現像液で現像し、万能工具顕微鏡（TOPCON TUM-220ES）およびデータ処理装置（TOPCON CA-1B）を用いて求められる。
　本技術において、ＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳは、テープの横方向の動きを補正したサーボ信号を用いて算出される。また、当該サーボ信号は、ヘッドの追従性を反映するためにHigh Pass Filter処理が行われる。本技術において、標準偏差σＰＥＳは、サーボ信号に対して上記補正および上記High Pass Filter処理を行って得られた信号を用いて求められるものであり、所謂Written in PESσである。以下で、ＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳの測定方法を説明する。
　まず、磁気テープＭＴのうちデータ記録エリアの任意の１ｍ分の範囲について、データライトヘッド６０によりサーボ信号の読み取りを行う。データライトヘッド部６０Ａおよび６０Ｂによりそれぞれ取得された信号を、図５３に示されるように引き算して、磁気テープＭＴの横方向の動きを補正したサーボ信号が得られる。そして、当該補正されたサーボ信号に対して、High PassFilter処理を行う。実際に磁気テープＭＴをドライブで走行させる際は、当該ドライブに搭載されているデータライトヘッドがアクチュエーターにより、サーボ信号に追従するように磁気テープＭＴの幅方向に動く。Written in PESσは、このヘッドの幅方向の追従性を加味した後のノイズ値であることから、上記High Pass Filter処理が必要となる。したがって、High Pass Filterとしては、特に限定されないが、上記データライトヘッドの幅方向追従性を再現できる関数とする必要がある。当該High Pass Filter処理によって得られた信号を用いて、サーボフレーム毎に、上記計算式に従いＰＥＳの値を算出する。上記１ｍ分にわたって算出されたＰＥＳの値の標準偏差（Written in PESσ）が、本技術におけるＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳである。
［高さ範囲ΔＨ、勾配範囲ΔＡ］
　磁性面における凹凸形状の高さの統計情報（分布）から求められた高さ範囲ΔＨ（図６２参照）が、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍ、好ましくは３．００ｎｍ≦ΔＨ≦４．００ｎｍ、より好ましくは３．００ｎｍ≦ΔＨ≦３．５０ｎｍである。高さ範囲ΔＨがΔＨ＜３．００ｎｍであると、摩擦が高くデータライトヘッド６０が磁気テープＭＴに張り付くため、磁気テープＭＴの走行が困難になる。一方、高さ範囲ΔＨが６．００ｎｍ＜ΔＨであると、スペーシングロスにより電磁変換特性（例えばＳＮＲ）が低下する。
　磁性面における凹凸形状の勾配の統計情報（分布）から求められた勾配範囲ΔＡ（図６２参照）が、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度、好ましくは４．００度≦ΔＡ≦９．００度である。勾配範囲ΔＡがΔＡ＜３．８０度であると、磁性面における突起（第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂ等を含む突起）の勾配がならだかになりすぎ、摩擦が上昇する。したがって、ＰＥＳ値の標準偏差σＰＥＳが上昇する。一方、勾配範囲ΔＡが９．００度＜ΔＡであると、磁性面における突起（第１突起９１Ｂおよび第２突起９２Ｂ等を含む突起）の勾配が急峻になりすぎ、磁気テープＭＴの走行時に突部が削れるため、粉落ちする。
　高さ範囲ΔＨおよび勾配範囲ΔＡの算出方法について以下の順序で説明する。
（Ａ）表面プロファイル計測（ＡＦＭ）
（Ｂ）各点における相対高さの算出
（Ｃ）各点における勾配の算出
（Ｄ）高さ、勾配のデータの統計処理
（Ｅ）高さ範囲ΔＨの算出
（Ｆ）勾配範囲ΔＡの算出
（Ａ）表面プロファイル計測（ＡＦＭ）
　磁気テープＭＴの磁性面の２次元表面プロファイルを測定することにより、フィルター作用後の２次元表面プロファイル像から高さζ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスを得る。なお、測定条件は以下のとおりである。
・測定装置:AFM（装置名:Digital Instruments 社製Nanoscope Dimension 3100）
・測定範囲:10μｍ×10μｍ
・測定ポイント数:256 points×256 points
・スキャンレート:1Hz
・フィルター条件:[Flatten] order 2
[Plane Fit] 行わない
　図５４Ａは、フィルター作用後の２次元表面プロファイル像の一例を示す図である。図５４Ｂは、各点（Ｌ，Ｗ）における高さζ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。座標Ｌは、磁気テープＭＴの長手方向における座標を示し、座標Ｗは、磁気テープＭＴの幅方向における座標を示す。数値データマトリクスの各セル内には、各点（Ｌ，Ｗ）における高さζ（Ｌ，Ｗ）が記載されている。図５４Ｂに示す例では、例えば測定点（１，３）における高さζ（１，３）は“０．５０”となっている。数値データ（すなわち高さζ（Ｌ，Ｗ））の数は、全部で２５６×２５６＝６５，５３６個である。
（Ｂ）各点における相対高さの算出
　高さζ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスから、各点（Ｌ，Ｗ）における相対高さＺ（Ｌ，Ｗ）（以下単に「高さＺ（Ｌ，Ｗ）」という。）を算出し、高さＺ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスを得る。各点（Ｌ，Ｗ）における高さＺ（Ｌ，Ｗ）は、具体的には、以下のようにして求められる。すなわち、全ての高さζ（Ｌ，Ｗ）を単純に平均（算術平均）して平均値を求め、平均中心高さζaveとする。そして、各点（Ｌ，Ｗ）における高さζ（Ｌ，Ｗ）を、平均中心高さζaveを基準とする相対的な高さに換算し、各点（Ｌ，Ｗ）における高さＺ（Ｌ，Ｗ）を得る。高さＺ（Ｌ，Ｗ）の算出方法を式で表すと、以下のとおりである。図５５は、高さＺ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。
 
 
（Ｃ）各点における勾配の算出
　図５６は、各点（Ｌ，Ｗ）における勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）、ＧＷ（Ｌ，Ｗ）を算出する方法を説明するための図である。ここで、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）は、磁気テープＭＴの長手方向における勾配を示し、勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）は、磁気テープＭＴの幅方向における勾配を示す。
　高さζ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスから、各点（Ｌ，Ｗ）において２方向の勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）、ＧＷ（Ｌ，Ｗ）を算出することにより、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）、ＧＷ（Ｌ，Ｗ）それぞれの数値データマトリクスを得る。図５７Ａは、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。図５７Ｂは、勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスの一例を示す図である。
　勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）は、以下のようにして算出される。勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）は、或る点（Ｌ，Ｗ）における高さζ（Ｌ，Ｗ）と、その点（Ｌ，Ｗ）と磁気テープＭＴの長手方向に隣接する点（Ｌ＋１，Ｗ）における高さζ（Ｌ＋１，Ｗ）を用いて算出される。図５６に示すように、例えば勾配ＧＬ（２，２）は、点（２，２）の高さζ（２，２）（＝０．３０）と点（３，２）の高さζ（３，２）（＝０．１０）を用いて算出される。
　勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）は、以下のようにして算出される。勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）は、或る点（Ｌ，Ｗ）における高さζ（Ｌ，Ｗ）と、その点（Ｌ，Ｗ）と磁気テープＭＴの幅方向に隣接する点（Ｌ，Ｗ＋１）における高さζ（Ｌ，Ｗ＋１）を用いて算出される。図５６に示すように、例えば勾配ＧＷ（２，２）は、点（２，２）の高さζ（２，２）（＝０．３０）と点（２，３）の高さζ（２，３）（＝０．１０）を用いて算出される。
　上記のように、各点（Ｌ，Ｗ）におけるＧＬ（Ｌ，Ｗ）の算出に際し使用される“隣接点”は、点（Ｌ＋１，Ｗ）である。逆方向の隣接点、すなわち点（Ｌ－１，Ｗ）を使用してはいけない。同様に、各点（Ｌ，Ｗ）におけるＧＷ（Ｌ，Ｗ）の算出に際し使用される“隣接点”は、点（Ｌ，Ｗ＋１）である。逆方向の隣接点、すなわち点（Ｌ，Ｗ－１）を使用してはいけない。
　図５６に示すように、数値データマトリクスのＬ＝２５６（すなわち図５６中の最右列）の各点（２５６，Ｗ）では、勾配ＧＬ（２５６，Ｗ）を算出することができない。このため、図５７Ａに示すように、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスでは、Ｌ＝２５６の各点（２５６，Ｗ）は、値を持たない。一方、図５６に示すように、数値データマトリクスのＷ＝２５６（すなわち図５６中の最下行）の各点（Ｌ，２５６）では、勾配ＧＷ（Ｌ，２５６）を算出することができない。このため、図５７Ｂに示すように、勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスでは、Ｗ＝２５６の各点（Ｌ，２５６）は、値を持たない。
　但し、図５６に示すように、数値データマトリクスのＬ＝２５６，Ｗ＝２５６（最右下列、かつ、最下行）の点（Ｌ，Ｗ）では、勾配ＧＬ（２５６，２５６）および勾配ＧＷ（２５６，２５６）何れも算出できないため、点（２５６，２５６）は、勾配ＧＬ（２５６，２５６）および勾配ＧＷ（２５６，２５６）の何れの勾配も持たないことになる。
　図５８Ａは、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の計算方法を示す図である。図５８Ｂは、勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の計算方法を示す図である。勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）、ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の計算方法を式で表すと、以下のとおりである。
 
 
（Ｄ）高さ、勾配のデータの統計処理
　図５９、図６０、図６１は、高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）のデータの統計処理を説明するための図である。上記のようにして得られた高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスを整理し、高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の関係を示す表（図５９参照）を作成する。但し、勾配ＧＬ（２５６，Ｗ）は存在しないため、作成された表中のデータ総数は、２５５×２５６＝６５，２８０個である。
　また、高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の数値データマトリクスを整理し、高さＺ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の関係を示す表（図６０参照）を作成する。但し、ＧＷ（Ｌ，２５６）は存在しないため、作成された表中のデータ総数は、２５６×２５５＝６５，２８０個である。
　作成された２つの表の全てのデータ（すなわち１３０，５６０個＝６５，２８０＋６５，２８０）を集計し、図６１に示すように、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスを作成する。データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスの各セルの数値を全て足すと、総データ数である１３０，５６０となる。
　図６１では、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスの列に並んで、高さＺ（Ｌ，Ｗ）の範囲とその代表値Ｈが記載されている。また、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスの行に並んで、勾配Ｇ（Ｌ，Ｗ）の範囲とその代表値Ａが記載されている。なお、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）を特に区別しない場合には、勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）と勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ）を総称して勾配Ｇ（Ｌ，Ｗ）という。
　データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスの各セルの数値（図６１参照）は、規定の高さＺ（Ｌ，Ｗ）の範囲に該当し、かつ、規定の勾配Ｇ（Ｌ，Ｗ）（具体的には勾配ＧＬ（Ｌ，Ｗ）または勾配ＧＷ（Ｌ，Ｗ））の範囲に該当するデータ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）を表す。例えば、Ｚ（Ｌ，Ｗ）ｖｓ．ＧＬ（Ｌ，Ｗ）の表の１行目のデータは、Ｍ（Ｈ，Ａ）中の（Ｈ，Ａ）＝（０．０，０．００）セルにカウントされる。また、Ｚ（Ｌ，Ｗ）ｖｓ．ＧＷ（Ｌ，Ｗ）の表の６５２７８番目のデータは、Ｍ（Ｈ，Ａ）中の（Ｈ，Ａ）＝（－０．５，０．００）セルにカウントされる。
　上記のようにして得られた数値データマトリクスＭ（Ｈ，Ａ）（図６１参照）を横軸Ａ、縦軸Ｈの分布図として描くと、図６２のようになる。
（Ｅ）高さ範囲ΔＨの算出
　図６３、図６４は、高さ範囲ΔＨの算出方法を説明するための図である。高さ範囲ΔＨの算出の際には、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスのうち、０≦Ｈ、０．００≦Ａ≦１．２０の範囲の成分（セル）のみが用いられる。高さＨに関しては０≦Ｈの範囲の成分のみが用いられるのは、磁性面の凸部のみを考慮するためである。すなわち、磁性面の凹部は、電磁変換特性や摩擦に影響しないと考えられるためである。一方、勾配Ａに関しては０．００≦Ａ≦１．２０の範囲の成分のみが用いられるのは、この範囲さえ演算に用いれば、分布（図６２参照）の大凡の輪郭を規定するのに十分であると考えられるためである。
　図６３に示すように、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスの各行（高さＨ）における平均値をＭave（Ｈ）とし、平均値Ｍave（０）から平均値Ｍave（４０．０）へ向けて、順番に計算して行く。但し、平均値Ｍave（Ｈ）の算出には、列（角度Ａ）は、０．００≦Ａ≦１．２０の範囲の列（角度Ａ）の成・BR>ェのみが用いられる。
　平均値Ｍave（Ｈ）が閾値（但し、閾値は“２”に設定される。）を初めて下回った際の高さＨを高さＨhighとし、その際の平均値Ｍave（Ｈ）を平均値Ｍave（Ｈhigh）とする。さらに、その一つ前の高さＨを高さＨlowとし、その際の平均値Ｍave（Ｈ）を平均値Ｍave（Ｈlow）とする。閾値を“１”に設定すると再現性が悪くなる。すなわち、偶然の要素が大きく影響する。したがって、再現性を確保できる最も少ない頻度である“２”を閾値とする。
　図６３の例では、高さＨhigh、平均値Ｍave（Ｈhigh）、高さＨlow、平均値Ｍave（Ｈlow）は、以下のとおりである。
　　Ｈhigh＝１１．５、Ｍave（Ｈhigh）＝１．９
　　Ｈlow＝１１．０、Ｍave（Ｈlow）＝４．２
　図６４に示すように、上記４つの値を用い、Ｍave（Ｈ）＝閾値＝２となる際の高さＨを算出し、高さ範囲ΔＨと定義する。なお、高さＨの算出の際には、２点間直線近似が用いられる。
（Ｆ）勾配範囲ΔＡの算出
　図６５、図６６は、勾配範囲ΔＡの算出方法を説明するための図である。勾配範囲ΔＡの算出の際には、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスのうち、０≦Ｈ≦ΔＨ、０．００≦Ａ≦１６．００の範囲の成分（セル）のみが用いられる。ΔＨは、上記の“（５）高さ範囲ΔＨの算出”にて求められた値が使用される。勾配Ａに関しては０．００≦Ａ≦１６．００の範囲の成分のみが用いられるのは、通常、勾配Ａは０．００≦Ａ≦１６．００であり、当該範囲さえ演算に用いれば十分であると考えられるためである。
　図６５に示すように、データ個数Ｍ（Ｈ，Ａ）の数値データマトリクスの各列（角度Ａ）におけるＭ（Ｈ，Ａ）の平均値をＭave（Ａ）とし、平均値Ｍave（０）から平均値Ｍave（１６．００）へ向けて、順番に計算して行く。但し、平均値Ｍave（Ａ）の算出には、行（高さＨ）は、０．００≦Ｈ≦ΔＨの範囲の行（高さＨ）の成分のみが用いられる。
　高さ範囲ΔＨが０．５の倍数でない場合には、平均値Ｍave（Ａ）の算出には、高さ範囲ΔＨの計算で使用した高さＨlowまでの範囲の行（高さＨ）の成分が用いられる。例えば、図６５に示すように、高さ範囲ΔＨが１１．０と１１．５の間に存在するような場合には、０．００≦Ｈ≦１１．０の範囲の行（高さＨ）の成分が用いられる。
　平均値Ｍave（Ａ）が閾値（但し、閾値は“２”に設定される。）を初めて下回った際のＡをＡhighとし、その際の平均値Ｍave（Ａ）を平均値Ｍave（Ａhigh）とする。さらに、その一つ前の角度Ａを角度Ａlowとし、その際の平均値Ｍave（Ａ）を平均値Ｍave（Ａlow）とする。平均値Ｍave（Ａ）の閾値を“２”に設定する理由は、平均値Ｍave（Ｈ）の閾値を“２”に設定する理由と同様である。
　図６５の例では、Ａhigh、Ｍave（Ａhigh）、Ａlow、Ｍave（Ａlow）は、以下のとおりである。
　Ａhigh＝３．５、Ｍave（Ａhigh）＝１．９
　Ａlow＝３．４、Ｍave（Ａlow）＝２．２
　図６６に示すように、上記４つの値を用い、Ｍave（Ａ）＝閾値＝２となる際の角度Ａを算出し、勾配範囲ΔＡと定義する。なお、角度Ａの算出の際には、２点間直線近似が用いられる。
（３）磁気テープの製造方法
　次に、上述の構成を有する磁気テープＭＴの製造方法について説明する。まず、非磁性粉及び結着剤などを溶剤に混練及び／又は分散させることにより、下地層形成用塗料を調製する。次に、磁性粉及び結着剤などを溶剤に混練及び／又は分散させることにより、磁性層形成用塗料を調製する。磁性層形成用塗料及び下地層形成用塗料の調製には、例えば、以下の溶剤、分散装置、及び混練装置を用いることができる。
　上述の塗料調製に用いられる溶剤としては、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、及びシクロヘキサノンなどのケトン系溶媒；例えばメタノール、エタノール、及びプロパノールなどのアルコール系溶媒；例えば酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸プロピル、乳酸エチル、及びエチレングリコールアセテートなどのエステル系溶媒；ジエチレングリコールジメチルエーテル、２－エトキシエタノール、テトラヒドロフラン、及びジオキサンなどのエーテル系溶媒；ベンゼン、トルエン、及びキシレンなどの芳香族炭化水素系溶媒；並びに、メチレンクロライド、エチレンクロライド、四塩化炭素、クロロホルム、及びクロロベンゼンなどのハロゲン化炭化水素系溶媒などが挙げられる。これらのうちの１つが用いられてもよく、又は、２以上の混合物が用いられてもよい。
　上述の塗料調製に用いられる混練装置としては、例えば連続二軸混練機、多段階で希釈可能な連続二軸混練機、ニーダー、加圧ニーダー、及びロールニーダーなどの混練装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。また、上述の塗料調製に用いられる分散装置としては、例えばロールミル、ボールミル、横型サンドミル、縦型サンドミル、スパイクミル、ピンミル、タワーミル、パールミル（例えばアイリッヒ社製「ＤＣＰミル」など）、ホモジナイザー、及び超音波分散機などの分散装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。
　次に、下地層形成用塗料をベース層４１の一方の主面に塗布して乾燥させることにより、非磁性層（以下、下地層ともいう）４２を形成する。続いて、この下地層４２上に磁性層形成用塗料を塗布して乾燥させることにより、磁性層４３を下地層４２上に形成する。なお、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉をベース層４１の厚み方向に磁場配向させる。また、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉をベース層４１の長手方向（走行方向）に磁場配向させたのちに、ベース層４１の厚み方向に磁場配向させるようにしてもよい。磁性層４３の形成後、ベース層４１の他方の主面にバック層４４を形成する。これにより、磁気テープＭＴが得られる。
　その後、得られた磁気テープＭＴを大径コアに巻き直し、硬化処理を行う。最後に、磁気テープＭＴに対してカレンダー処理を行った後、所定の幅（例えば１／２インチ幅）に裁断する。以上により、目的とする細長い長尺状の磁気記録テープＭＴが得られる。
（４）磁気テープのデータバンドおよびサーボバンドの説明
　磁気テープＭＴにおいては、サーボ記録再生装置７０（サーボ記録装置）（図１７参照）が、データ記録再生装置５０（データ記録装置）（図１１参照）のデータライトヘッド６０により正確に読み取ることが可能なサーボパターン４７を磁気テープＭＴ（図１０参照）のサーボバンドｓ上に書き込むように構成されている。
　データ記録再生装置５０のデータライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜して配置される（図１２参照）。このため、本実施形態では、磁気テープの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）がサーボバンドｓに書き込まれる（図１０参照）。
　以下、データ記録再生装置５０の構成、サーボ記録再生装置７０の構成の順番で説明する。
［データバンドおよびサーボバンドの概要］
　図９は、磁気テープＭＴを側方から見た模式図であり、図１０は、磁気テープＭＴを上方（磁性層４３側）からみた模式図である。図９及び図１０に示すように、磁気テープＭＴは、長手方向（Ｘ軸方向）に長く、幅方向（Ｙ軸方向）に短く、厚さ方向（Ｚ軸方向）に薄いテープ状に構成されている。
　図１０に示すように、磁性層４３は、データが書き込まれる複数のデータバンドｄ（データバンドｄ０～ｄ３）と、サーボパターン４７が書き込まれる複数のサーボバンドｓ（サーボバンドｓ０～ｓ４）とを有している。複数のデータバンドｄ及び複数のサーボバンドｓは、それぞれ、長手方向（Ｘ軸方向）に長く、幅方向（Ｙ軸方向）に短い形状を有している。サーボバンドｓは、幅方向（Ｙ軸方向）で各データバンドｄを挟み込む位置に配置される。
　図１０に示す例では、データバンドｄの本数が４本とされ、サーボバンドｓの本数が５本とされた場合の例が示されている。なお、データバンドｄの本数、サーボバンドｓの本数は、５＋４ｎ（但し、ｎは０以上の整数である。）以上であり、好ましくは５以上、より好ましくは９以上である。サーボバンドｓの本数が５以上であると、磁気テープＭＴの幅方向の寸法変化によるサーボ信号への影響を抑制し、よりオフトラックが少ない安定した記録再生特性を確保できる。サーボバンドＳＢの本数の上限値は特に限定されるものではないが、例えば３３以下である。
　サーボバンド幅の平均値の上限値は、高記録容量を確保する観点から、好ましくは９８μｍ以下、より好ましくは６０μｍ以下、さらにより好ましくは３０μｍ以下である。サーボバンド幅ＷＳＢの平均値の下限値は、好ましくは１０μｍ以上である。１０μｍ未満のサーボバンド幅のサーボ信号を読み取り可能なヘッドユニット５６は製造が困難である。
　磁性層４３の表面全体の面積に対するサーボバンドｓの面積の比率は、例えば、４．０％以下とされる。なお、サーボバンドｓの幅は、１／２インチのテープ幅で、例えば９６μｍ以下とされる。磁性層４３の表面全体の面積に対するサーボバンドｓの面積の比率は、例えば、磁気テープＭＴを、フェリコロイド現像液等の現像液を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴを光学顕微鏡で観察することで測定することができる。
　データバンドｄは、長手方向に長く、幅方向に整列された複数の記録トラック４６を含む。１本のデータバンドｄに含まれる記録トラック４６の本数は、例えば、１０００本から２５００本程度とされる。データは、この記録トラック４６に沿って、記録トラック４６内に記録される。データバンドｄに記録されるデータにおける長手方向の１ビット長は、例えば、４８ｎｍ以下とされる。
　また、記録トラック４６の幅（トラックピッチ：Ｙ軸方向）は、例えば、２．０μｍ以下とされる。なお、このような記録トラック幅は、例えば、磁気テープＭＴの磁性層４３を、フェリコロイド現像液等の現像液を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴの磁性層４３を光学顕微鏡で観察することで測定することができる。
　若しくは、記録トラック幅の測定方法として、データライトヘッド６０（後述の図１２参照）を利用した方法が用いられてもよい。この場合、磁気テープＭＴ走行時の変動を無視するため、データライトヘッド６０を記録及び再生状態とし、データライトヘッド６０のアジマス角θを変化させた場合の出力変化から記録トラック幅を測定することができる。（IEEE_Sept1996_Crosstrack Profiles of Thin Film MR Tape Heads Using the Azimuth Displacement Method）
　サーボバンドｓは、後述するサーボ記録再生装置７０（図１７参照）によって記録される所定形状のサーボパターン４７を含む。サーボパターン４７は、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）を含む。
　なお、本明細書中において、第１のサーボパターン４７ａ及び第２のサーボパターン４７ｂにおける、「／」、「＼」の符号は、磁気テープＭＴを下方（バック層側）から見た場合のサーボパターンの傾斜方向を示す符号として用いられる。従って、第１のサーボパターン４７ａ及び第２のサーボパターン４７ｂにおける、「／」、「＼」の符号は、図１０において、磁性層側から見た場合とは逆になる。一方、後述の図１８～図２６等では、ヘッド摺動面において、第１のサーボパターン４７a（「／」）を書き込む第１のサーボ素子８２ａ（「／」）、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）を書き込む第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）と、前記サーボ素子８２ａ、８２ｂによって磁性層に記録されるサーボパターン４７ａ、４７ｂとを、バック層側から見た様子として示している。
　本実施形態において、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して非対称となるようにサーボバンドｓに書き込まれている。なお、一般的なサーボパターンの場合、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して対称（線対称）となるようにサーボバンドｓに書き込まれている。
　第１のサーボパターン４７ａ（「／」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して第１の角度θｓ１で傾斜し、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに、第１の角度θｓ１とは異なる第２の角度θｓ２で傾斜する（後述の図１９、図２１を参照）。
　１群の第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び１群の第２サーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの長手方向で交互に配置される。１群の第１のサーボパターン４７ａ（「／」）に含まれる第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の数は、典型的には、４本又は５本とされ、同様に、１群の第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）に含まれる第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の数は、典型的には、４本又は５本とされる。
　サーボパターン４７の形状については、例えば、磁気テープＭＴの磁性層４３を、フェリコロイド現像液等の現像液を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴの磁性層４３を光学顕微鏡で観察することで測定することができる。
　なお、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の詳細については、このサーボパターン４７を書き込むサーボ記録再生装置７０のサーボライトヘッド８０の説明箇所において説明する。
　ここで、ＬＴＯ規格の磁気テープＭＴは、世代ごとに記録トラック４６の数が増加して記録容量が飛躍的に向上している。一例を挙げると、初代のＬＴＯ－１では記録トラック４６の数が３８４本であったが、ＬＴＯ－２からＬＴＯ－９では記録トラック４６の数がそれぞれ順に、５１２本、７０４本、８９６本、１２８０本、２１７６本、３５８４本及び６６５６本、８９６０本である。データの記録容量についても同様に、ＬＴＯ－１では１００ＧＢ（ギガバイト）であったのが、ＬＴＯ－２からＬＴＯ－９ではそれぞれ順に、２００ＧＢ、４００ＧＢ、８００ＧＢ、１．５ＴＢ（テラバイト）、２．５ＴＢ、６．０ＴＢ、１２ＴＢ、１８ＴＢである。
　本実施形態では、記録トラック４６の本数や記録容量は、特に限定されず、適宜変更可能である。但し、例えば、記録トラック４６の本数や記録容量が多く（例えば、６６５６本以上、１２ＴＢ以上：ＬＴＯ８以降）、磁気テープＭＴの幅の変動の影響を受けやすいような磁気テープＭＴに本技術が適用されると有利である。
［データ記録再生装置］
　図１１は、データ記録再生装置５０を示す図である。データ記録再生装置５０は、磁気テープＭＴにデータを記録することが可能とされており、また、磁気テープＭＴに記録されたデータを再生することが可能とされている。
　データ記録再生装置５０は、磁気記録カートリッジ１０を装填可能に構成されている。磁気記録カートリッジ１０は、巻回された磁気テープＭＴをその内部において回転可能に収容可能に構成されている。データ記録再生装置５０は、１つの磁気記録カートリッジ１０を装填可能に構成されていてもよいし、複数の磁気記録カートリッジ１０を同時に装填可能に成されてもよい。
　データ記録再生装置５０は、スピンドル５１と、巻取りリール５２と、スピンドル駆動装置５３と、リール駆動装置５４と、データライトヘッド６０と、制御装置５５と、幅測定部５６と、角度調整部５７と、複数のガイドローラ５８とを備えている。
　スピンドル５１は、その回転により、磁気記録カートリッジ１０内部に収容された磁気テープＭＴを回転させることが可能に構成されている。スピンドル駆動装置５３は、制御装置５５からの指令に応じて、スピンドル５１を回転させる。
　巻取りリール５２は、テープローディング機構（不図示）を介して磁気記録カートリッジ１０から引き出された磁気テープＭＴの先端を固定可能に構成されている。リール駆動装置５４は、制御装置５５からの指令に応じて、巻取りリール５２を回転させる。
　複数のガイドローラ５８は、磁気記録カートリッジ１０と巻取りリール５２との間に形成される搬送経路がデータライトヘッド６０に対して所定の相対位置関係となるように磁気テープＭＴの走行をガイドする。
　データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴがデータライトヘッド６０の下側を通過するときに、制御装置５５からの指令に応じて、磁気テープＭＴのデータバンドｄ（記録トラック４６）に対して、データを記録することが可能に構成されており、また、記録したデータを再生することが可能に構成されている。
　データライトヘッド６０により磁気テープＭＴに対してデータの記録／再生が行われるとき、スピンドル駆動装置５３及びリール駆動装置５４により、スピンドル５１及び巻取りリール５２が回転し、磁気テープＭＴが走行する。磁気テープＭＴの走行方向は、図１１において矢印Ａ１で示す順方向（スピンドル５１側から巻取りリール５２側へ巻き出す方向）、及び、矢印Ａ２で示す逆方向（巻取りリール５２側からスピンドル５１側へ巻き戻す方向）での往復が可能とされている。
　データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの順方向での走行及び逆方向での走行の両方向において、データの記録／再生が可能とされている。
　特に、本実施形態では、データライトヘッド６０は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して、所定の角度θ（第１のヘッドアジマス角θ）傾斜して配置される（後述の図１２参照）。
　本実施形態の説明において、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度を、データライトヘッド６０のアジマス角θと呼ぶ。なお、データライトヘッド６０の構成についての詳細は、図１２等を参照して後述する。
　幅測定部５６は、幅測定部５６の下側を磁気テープＭＴが通過するときの磁気テープＭＴの幅を測定することが可能に構成されている。つまり、幅測定部５６は、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴに対してデータの記録／再生を行うときの磁気テープＭＴの幅を測定することが可能に構成されている。幅測定部５６は、磁気テープＭＴの幅を測定して制御装置５５へと送信する。
　幅測定部５６は、例えば、光センサ等のような各種のセンサにより構成される。幅測定部５６は、磁気テープＭＴの幅を測定可能なセンサであればどのようなセンサが用いられてもよい。なお、磁気テープＭＴの幅は、それぞれ隣接するサーボパターン４７を読み取り、位置信号の差分を求めることで、予測することもできる。この場合、幅測定部５６は省略することができる。
　角度調整部５７は、データライトヘッド６０を上下方向の軸（Ｚ軸）周りに回動可能に保持することが可能に構成されている。角度調整部５７は、制御装置５５からの指令に応じて、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することが可能に構成されている。
　制御装置５５は、例えば、制御部、記憶部、通信部などを含む。制御部は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成されており、記憶部に記憶されたプログラムに従い、データ記録再生装置５０の各部を統括的に制御する。
　記憶部は、各種のデータや各種のプログラムが記録される不揮発性のメモリと、制御部の作業領域として用いられる揮発性のメモリとを含む。上記各種のプログラムは、光ディスク、半導体メモリ等の可搬性の記録媒体から読み取られてもよいし、ネットワーク上のサーバ装置からダウンロードされてもよい。通信部は、ＰＣ（Personal Computer）、サーバ装置等の他の装置との間で互いに通信可能に構成されている。
　特に、本実施形態では、制御装置５５（制御部）は、幅測定部５６から磁気テープＭＴの幅の情報を取得し（あるいは、サーボ信号から磁気テープの幅を予測し）、磁気テープＭＴの幅の情報に基づいて、角度調整部５７によりデータライトヘッド６０のアジマス角θ（図１２参照）を調整する。
　本実施形態では、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することで、磁気テープＭＴの幅の変動に対応している。典型的には、磁気テープＭＴの幅が相対的に広くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは小さくされ、逆に、磁気テープＭＴの幅が相対的に狭くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは大きくされる。
　磁気テープＭＴの幅は、例えば、温度、湿度、磁気テープＭＴの長手方向に加えられるテンション等、様々な理由で変動する場合がある。
［データライトヘッド］
　次に、データライトヘッド６０の構成について詳細に説明する。図１２は、データライトヘッド６０を下方（バック層側）から見た概略図である。
　データライトヘッド６０の説明では、データライトヘッド６０の長手方向をＹ'軸方向とし、データライトヘッド６０の幅方向をＸ'軸方向とし、データライトヘッド６０の上下方向をＺ'軸方向とする。また、磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）をＸ軸方向とし、磁気テープＭＴの幅方向をＹ軸方向とし、磁気テープＭＴの厚さ方向をＺ軸方向とする。なお、磁気テープＭＴの方向は、データライトヘッド６０の下側を通過するときの磁気テープＭＴの方向が基準である。
　図１２に示すように、データライトヘッド６０は、第１のデータライトヘッド６０ａと、第２のデータライトヘッド６０ｂとを含む。なお、本明細書中の説明において、２つのデータライトヘッド６０を特に区別しない場合には、これらをまとめて単にデータライトヘッド６０と呼び、２つのデータライトヘッド６０を特に区別する場合に、これらを第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂと呼ぶ。
　第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂは、データライトヘッド６０の幅方向（Ｙ'軸方向）で対称に構成されているが、基本的に同様の構成である。第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂは、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に一体的に移動可能とされており、これにより、全てのデータバンドｄ０～ｄ３のうちいずれかのデータバンドｄに対してデータを書き込むことができる。
　第１のデータライトヘッド６０ａは、磁気テープＭＴが順方向（図１１においてＡ１方向）に走行しているときに使用されるヘッドである。一方、第２のデータライトヘッド６０ｂは、磁気テープＭＴが逆方向（図１１においてＡ２方向）に走行しているときに使用されるヘッドである。
　データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴに対向する対向面６１を有している。対向面６１は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）に長くデータライトヘッド６０の幅方向（Ｘ'軸方向）に短い形状を有している。対向面６１には、２つのサーボリード部６２と、複数のデータライト／リード部６３が設けられている。
　サーボリード部６２は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）の両端側にそれぞれ１つずつ設けられる。サーボリード部６２は、磁気テープＭＴのサーボバンドｓに記録されたサーボパターン４７による磁界をＭＲ素子（ＭＲ：Magneto Resistive effect）などにより読み取ることで、サーボ信号を再生可能に構成されている。
　ＭＲ素子としては、例えば、異方性磁気抵抗効果素子（ＡＭＲ：Anisotropic Magneto Resistive effect）、巨大磁気抵抗効果素子（ＧＭＲ：Giant Magneto Resistive effect）、トンネル磁気抵抗効果素子（ＴＭＲ：Tunnel Magneto Resistive effect）などが用いられる。
　データライト／リード部６３は、データライトヘッド６０の長手方向（Ｙ'軸方向）に沿って、等間隔に配置されている。また、データライト／リード部６３は、２つのサーボリード部６２に挟み込まれる位置に配置されている。データライト／リード部６３の数は、例えば、２０個～４０個程度とされるが、この個数ついては特に限定されない。
　データライト／リード部６３は、データライト部６４と、データリード部６５とを含む。データライト部６４は、磁気ギャップから発生する磁界によって、磁気テープＭＴのデータバンドｄに対してデータを記録することが可能に構成されている。
　また、データリード部６５は、磁気テープＭＴのデータバンドｄに記録されたデータによる磁界をＭＲ素子などにより読み取ることで、データ信号を再生可能に構成されている。ＭＲ素子としては、異方性磁気抵抗効果素子（ＡＭＲ）、巨大磁気抵抗効果素子（ＧＭＲ）、トンネル磁気抵抗効果素子（ＴＭＲ）などが用いられる。
　第１のデータライトヘッド６０ａにおいては、データライト部６４が、データリード部６５の左側（磁気テープＭＴが順方向に流れる場合の上流側）に配置される。一方、第２のデータライトヘッド６０ｂにおいては、データライト部６４が、データリード部６５の右側（磁気テープＭＴが逆方向に流れる場合の上流側）に配置される。
　データリード部６５は、そのデータリード部６５と組とされるデータライト部６４が磁気テープＭＴにデータを書き込んだ直後に、そのデータ信号を再生可能とされている。なお、上記に代えて、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂのうち、一方のデータライトヘッド６０のデータライト部６４で書き込まれたデータが他方のデータライトヘッド６０のデータリード部６５で再生されてもよい。
　磁気テープＭＴは、順方向及び逆方向に走行方向が変えられて何往復もされながら、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂにより、記録トラック４６に対してデータが記録される。
　角度調整部５７（図１１参照）は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂを上下方向の軸（Ｚ'軸）回りに回動可能に保持することが可能とされている。また、角度調整部５７は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂを、上下方向の軸回りに個別に回動させることが可能とされている。
　角度調整部５７は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂの長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対して、アジマス角θ傾斜して配置されるように、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂの角度を調整する。
　ここで、第１のデータライトヘッド６０ａのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３におけるＹ軸方向（磁気テープＭＴの幅方向）の位置と、第２のデータライトヘッド６０ｂのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３のＹ軸方向の位置は、同じである。これらの位置関係は、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂがＺ軸回りに回動しても変わらない。
　つまり、角度調整部５７は、第１のデータライトヘッド６０ａのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３におけるＹ軸方向（磁気テープＭＴの幅方向）の位置と、第２のデータライトヘッド６０ｂのサーボリード部６２及びデータライト／リード部６３のＹ軸方向の位置とが同じとなるように、第１のデータライトヘッド６０ａ及び第２のデータライトヘッド６０ｂを個別に回動可能とされる。
　本実施形態では、データライトヘッド６０のアジマス角θに対して、基準となる基準角Ｒｅｆθが設定されており、また、データライトヘッド６０のアジマス角θは、基準角Ｒｅｆθ±ｘ°で表される角度範囲が設定されている。
　図１２に示す例では、基準角Ｒｅｆθが、磁気テープＭＴの幅方向に対して時計回り（下側：磁気テープＭＴ側から見て）の方向に設定されている場合の一例が示されている。一方、基準角Ｒｅｆθは、磁気テープＭＴの幅方向に対して反時計回り（下側：磁気テープＭＴ側から見て）の方向に設定されていてもよい。
［基準角Ｒｅｆθ及び角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°等］
　次に、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθ、並びに、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°について説明する。
　図１３は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．１μｍ）。図１３において、横軸は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を示しており、縦軸は、アジマス損失Ｌθを示している。
　アジマス損失Ｌθ［ｄＢ］は、以下の式により表される。
　Ｌθ＝－２０Ｌｏｇ１０［ｓｉｎ｛（πＷ／λ）ｔａｎθ｝／（πＷ／λ）ｔａｎθ］　式中、Ｗは、再生トラック幅であり、λは、データの記録波長であり、θは、データライトヘッド６０のアジマス角である。
　図１３では、再生トラック幅Ｗが、それぞれ、０．８μｍ、０．５μｍ、０．４μｍ、０．３μｍ、０．２μｍとされた場合の５つのグラフが示されている。図１３では、記録波長λは、０．１μｍとされた。ここで、再生トラック幅Ｗが０．８μｍとされたグラフは、ＬＴＯ－９に対応しており、再生トラック幅Ｗが０．５μｍ、０．４μｍ、０．３μｍ、０．２μｍとされたグラフは、ＬＴＯ－１０以降（推定値）に対応している。
　図１３から理解されるように、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°が同じ場合、再生トラック幅Ｗが狭い方がアジマス損失Ｌθが小さいことが分かる。
　これは、つまり、本実施形態のように、データライトヘッド６０のアジマス角θの調整により、磁気テープＭＴの幅の変動に対処する形態の場合、アジマス損失Ｌθの観点からは記録トラック４６の数が多く、再生トラック幅Ｗが狭い磁気テープＭＴ（例えば、ＬＴＯ－１０以降）であるほど有利であることを意味している。
　ここで、アジマス損失Ｌθを許容することができる値が、０．０５［ｄＢ］以下であると仮定する。また、磁気テープＭＴにおける再生トラック幅Ｗが０．５μｍ以下であると仮定する（ＬＴＯ－１０以降（推定値））。
　この場合、図１３の点線で示されているように、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲は、最大でＲｅｆθ±０．７°とされる。このため、本実施形態では、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲において、Ｒｅｆθ±ｘ°のｘの値は、典型的には０．７°以下とされる。
　図１４は、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、磁気テープＭＴの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量との関係を示す図である。
　図１４において、横軸は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を示しており、縦軸は、磁気テープＭＴの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量を示している。
　図１５は、磁気テープＭＴの幅変動に基づくサーボバンドピッチ差に対する補正量を示す図である。図１５に示すように、この補正量は、ａ－ｂで表される。
　ここで、ａの値は、データライトヘッド６０のアジマス角θがＲｅｆθ－ｘ°とされた場合における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での２つのサーボリード部６２間の距離である。一方、ｂの値は、データライトヘッド６０のアジマス角θがＲｅｆθ＋ｘ°とされた場合における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での２つのサーボリード部６２間の距離である。
　図１４に戻り、図１４では、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθが、２．５°、５°、７．５°、１０°、１２．５°、１５°で変化された場合における６つのグラフが示されている。
　図１４から、角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°が同じであれば、基準角Ｒｅｆθが大きくなるほど補正量が大きくなることが分かる。
　ここで、上述のように、アジマス損失Ｌθが０．０５［ｄＢ］以下であり、再生トラック幅Ｗが０．５μｍ以下であるとすると、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける角度範囲は、最大でＲｅｆθ±０．７°である（図１４の縦の破線参照）。この条件に加えて、さらに、上記補正量が１０μｍ以上であるとする（図１４の横の破線参照）。
　図１４から理解されるように、これらの条件を満たすためには、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが７．５°では若干不足であり、基準角Ｒｅｆθが１０°であれば十分であることが分かる。つまり、上記条件を満たすためには、基準角Ｒｅｆθは、８°以上とされる。
　なお、ここでの説明は、本実施形態において、基準角Ｒｅｆθを８°以上にしなければならないといった趣旨ではない。つまり、本実施形態においては、基準角Ｒｅｆθは、２．５°以上、５°以上、７．５°以上、８°以上、１０°以上、１２．５°以上、１５°以上等、適宜設定することができる。
　図１６は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°と、アジマス損失Ｌθとの関係を示す図である（記録波長：０．０７μｍ）。図１６において、横軸は、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を示しており、縦軸は、アジマス損失Ｌθを示している。図１６では、データの記録波長λが、０．０７μｍとされた。
　図１３及び図１６の違いは、図１３では、データの記録波長λが０．１μｍとされていたのに対して、図１６では、データの記録波長λが０．０７μｍとされている点である。なお、ＬＴＯ－１０以降では、データの記録波長λは、０．１μｍ以下、０．０７μｍ以下等とされることが推定される。
　図１３及び図１６の比較から理解されるように、データの記録波長λが小さくなるほどアジマス損失は増加することが分かる。
　図１６において、再生トラック幅Ｗが０．５μｍであるグラフに着目する。データの記録波長λが０．０７μｍであり、かつ、再生トラック幅Ｗが０．５μｍである場合において、アジマス損失を０．０５［ｄＢ］以下とするためには、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を０．４８°以下とすればよい。
　図１４において、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範
囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値が０．４８°である箇所に着目する（図１４の横軸参照）。データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲が、Ｒｅｆθ±０．４８°である場合において、上記補正量を１０μｍ以上とする場合、基準角Ｒｅｆθを１２．５°以上とすればよいことが分かる。
　また、図１６において、再生トラック幅Ｗが０．４μｍであるグラフに着目する。データの記録波長λが０．０７μｍであり、かつ、再生トラック幅Ｗが０．４μｍである場合において、アジマス損失を０．０５［ｄＢ］以下とするためには、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を０．６°以下とすればよい。
　図１４において、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値が０．６°である箇所に着目する（図１４の横軸参照）。データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲が、Ｒｅｆθ±０．６°である場合において、上記補正量を１０μｍ以上とする場合、基準角Ｒｅｆθを１０°以上とすればよいことが分かる。
　なお、ここでの説明から理解されるように、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°は、データの記録波長λが小さくなるほど小さくなる。また、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°は、再生トラック幅Ｗが小さくなるほど大きくなる（図１３、図１６参照）。
　また、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθは、データの記録波長λが小さくなるほど大きくなる。また、データライトヘッド６０のアジマス角θにおける基準角Ｒｅｆθは、再生トラック幅Ｗが小さくなるほど小さくなる（図１４参照）。
　ここで、ＬＴＯの規格が、ＬＴＯ－９からＬＴＯ－１０、ＬＴＯ－１１、・・・と世代が進むに従って、データの記録波長λが順次小さくなることが予測され、また、再生トラック幅Ｗも順次小さくなることが予測される。これに応じて、データライトヘッド６０のアジマス角θの角度範囲Ｒｅｆθ±ｘ°におけるｘの値を適切な値に設定し（例えば、０．７°以下、０．６°以下、０．５°以下、０．４°以下・・・等）、また、データライトヘッド６０のアジマス角θの基準角Ｒｅｆθを適切な値に設定すればよい（例えば、２．５°以上、５°以上、７．５°以上、８°以上、１０°以上、１２．５°以上、１５°以上・・・等）。
［サーボ記録再生装置］
　次に、サーボ記録再生装置７０について説明する。図１７は、サーボ記録再生装置７０を示す図である。
　図１７に示すように、サーボ記録再生装置７０は、送り出しローラ７１、消磁部７２、サーボライトヘッド８０、サーボリードヘッド７５、巻き取りローラ７６及び４対のキャプスタンローラ７７を備えている。
　送り出しローラ７１は、ロール状の磁気テープＭＴを回転可能に支持することが可能とされている。送り出しローラ７１は、モータ等の駆動に応じて回転され、回転に応じて磁気テープＭＴを下流側に向けて送り出す。
　巻き取りローラ７６は、ロール状の磁気テープＭＴを回転可能に支持することが可能とされている。巻き取りローラ７６は、モータ等の駆動に応じて回転し、回転に応じて磁気テープＭＴを巻き取っていく。
　４対のキャプスタンローラ７７は、それぞれ、磁気テープＭＴを上下方向の両側から挟み込むことが可能とされている。４対のキャプスタンローラ７７は、モータ等の駆動に応じて回転し、回転に応じて磁気テープＭＴを搬送経路において搬送する。
　送り出しローラ７１、巻き取りローラ７６及び４対のキャプスタンローラ７７は、搬送経路内において磁気テープＭＴを一定の速度で搬送させることが可能とされている。
　サーボライトヘッド８０は、例えば、磁気テープＭＴの上方側（磁性層４３側）に配置される。サーボライトヘッド８０は、矩形波のパルス信号に応じて所定のタイミングでサーボバンドｓに磁場を印加し、サーボバンドｓにサーボパターン４７を記録する。
　サーボライトヘッド８０は、サーボライトヘッド８０の下側を磁気テープＭＴが通過するときに、全てのサーボバンドｓ（ｓ０～ｓ４）に対してそれぞれサーボパターン４７を記録することが可能とされている。なお、サーボライトヘッド８０の構成についての詳細は、図１８～図２３を参照して後述する。
　消磁部７２は、例えば、サーボライトヘッド８０よりも上流側において、磁気テープＭＴの下側（ベース層４１側）に配置される。消磁部７２は、例えば、２つの永久磁石７３、７４により構成される。永久磁石７３、７４は、サーボライトヘッド８０によってサーボパターン４７が記録される前に、直流磁界によって磁性層４３の全体に対して磁場を印加して、磁性層４３の全体を消磁する。
　サーボリードヘッド７５は、サーボライトヘッド８０よりも下流側において、磁気テープＭＴの上側（磁性層４３側）に配置される。サーボリードヘッド７５は、磁気テープＭＴに記録されたサーボパターン４７から発生する磁界を読み取ることで、サーボパターン４７の情報を再生可能に構成されている。
　サーボリードヘッド７５は、サーボリードヘッド７５の下側を磁気テープＭＴが通過するときに、全てのサーボバンドｓ（ｓ０～ｓ４）からサーボパターン４７を読み取ることが可能とされている。サーボリードヘッド７５によって読み取られたサーボパターン４７の情報は、サーボパターン４７が正確に記録されたかどうかの確認のために用いられる。
　サーボリードヘッド７５のタイプは、例えば、インダクティブ型、ＭＲ型（Magneto Resistive）、ＧＭＲ型（Giant Magneto Resistive）、ＴＭＲ型（Tunnel Magneto Resistive）等である。
　図示は省略しているが、サーボ記録再生装置７０は、サーボ記録再生装置７０の各部を統括的に制御する制御装置を備えている。
　制御装置は、例えば、制御部、記憶部、通信部などを含む。制御部は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成されており、記憶部に記憶されたプログラムに従い、サーボ記録再生装置７０の各部を統括的に制御する。
　記憶部は、各種のデータや各種のプログラムが記録される不揮発性のメモリと、制御部の作業領域として用いられる揮発性のメモリとを含む。上記各種のプログラムは、光ディスク、半導体メモリ等の可搬性の記録媒体から読み取られてもよいし、ネットワーク上のサーバ装置からダウンロードされてもよい。通信部は、例えば、ＰＣやサーバ装置等の他の装置との間で互いに通信可能に構成されている。
［サーボライトヘッド］
　次に、サーボライトヘッド８０の構成について詳細に説明する。上述のように、データ記録再生装置５０におけるデータライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾いて配置される。従って、データライトヘッド６０が正確にサーボパターン４７を読み取ることができるように、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称となるように書き込まれる。この非対称のサーボパターン４７の書き込みは、サーボライヘッド８０により実行される。
　サーボライトヘッド８０の形態について、実施形態Ａ及び実施形態Ｂの２種類が存在する。実施形態Ａでは、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して平行に配置される（後述の図１８～図２０参照）。一方、実施形態Ｂでは、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して所定の角度傾斜して配置される（後述の図２１～図２３参照）。
（実施形態Ａ）
　まず、サーボライトヘッド８０の実施形態Ａについて説明する。図１８は、サーボライトヘッド８０ａと、サーボライトヘッド８０ａに入力されるパルス信号とを示す図である。図１９は、サーボライトヘッド８０ａが有するサーボ素子８２の拡大図である。図２０は、サーボライトヘッド８０ａにより磁気テープＭＴにサーボパターン４７が書き込まれるときの様子を示す図である。なお、図１８～図２０では、サーボライトヘッド８０ａの磁気テープＭＴと対向する面が示されている。
　これらの図に示すように、サーボライトヘッド８０ａは、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。なお、図１８～図２０では、サーボライトヘッド８０ａの長手方向がＹ"軸方向とされ、サーボライトヘッド８０ａの幅方向がＸ"軸方向とされ、サーボライトヘッド８０ａの上下方向がＺ"軸方向とされている。また、磁気テープＭＴの長手方向（搬送方向）がＸ軸方向とされ、磁気テープＭＴの幅方向がＹ軸方向とされ、磁気テープＭＴの厚さ方向がＺ軸方向とされている。なお、これについては、図２１～図２３においても同様である。
　実施形態Ａでは、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）が磁気テープＭＴの方向（Ｙ軸方向）に一致しており、サーボライトヘッド８０ａの幅方向（Ｘ"軸方向）が磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）に一致している。
　サーボライトヘッド８０ａは、磁気テープＭＴに対向する対向面８１を有している。対向面８１は、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。
　サーボライトヘッド８０ａは、対向面８０ａ上において、５対のサーボ素子８２（磁気ギャップ）を有している。５対のサーボ素子８２は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）において、所定の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ）を開けて配置される。
　サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）において、互いに隣接する２対のサーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ）は、例えば、２８５８．８±４．６μｍとされる。なお、この値は、磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で互いに隣接する２本のサーボバンドｓの間隔（サーボバンドピッチ：ＳＰ）に対応する。
　一対のサーボ素子８２は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）に対して非対称に構成された第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）を含む（特に、図１９参照）。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１で傾斜する。第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向）（磁気テープＭＴの幅方向：Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに第２の角度θｓ２で傾斜する。
　第１の角度θｓ１及び第２の角度θｓ２は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、それぞれ以下の式により表される。
　　θｓ１＝Ｒｅｆθ＋θａ
　　θｓ２＝Ｒｅｆθ－θａ
　ここで、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθであり、θａは、サーボアジマス角である。
　仮に、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°とされ、サーボアジマス角θａが１２°とされた場合、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の第１の角度θｓ１は、２２°とされ、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の第２の角度θｓ２は、２°とされる。
　サーボライトヘッド８０ａの幅方向（Ｘ"軸方向）（磁気テープＭＴの長手方向：Ｘ軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の間隔は、例えば、サーボ素子の長さの幅方向成分ＳＬの１／２の位置において３８μｍとされる。
　ここで、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）において、第１の角度θｓ１に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して２２°の方向）を第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向とする。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）において、第２の角度θｓ２に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して－２°の方向）を第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向とする。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さとは異なっており、ここでの例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向での長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向での長さよりも長い。
　一方、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分ＳＬ（Ｙ軸方向）と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分ＳＬ（Ｙ軸方向）とは同じである。サーボ素子８２の長さの幅方向成分ＳＬは、例えば、９６±３μｍとされる。
　図１８には、５対のサーボ素子８２に対してそれぞれ入力されるパルス信号が示されている。また、図２０には、そのパルス信号が５対のサーボ素子８２に入力されることにより、磁気テープＭＴのサーボバンドｓに書き込まれたサーボパターン４７が示されている。
　ここで、上述のように、データライトヘッド６０は、磁気テープＭＴの幅方向に対して、アジマス角θ傾斜して配置される。この場合において、５対のサーボ素子８２に対して、同時刻に同位相のパルス信号が入力され、磁気テープＭＴの幅方向に平行な位置に同位相のサーボパターン４７が書き込まれた場合を想定する。この場合、傾斜して配置されたデータライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により同時刻に読み取られるサーボパターン４７の位相が異なってしまうことになる。
　そこで、実施形態Ａでは、５対のサーボ素子８２に同時刻に入力されるパルス信号の位相を異ならせることで、同位相のサーボパターン４７を磁気テープＭＴの幅方向に対して非平行に書き込むこととしている。
　サーボライトヘッド８０ａの長手方向（Ｙ"軸方向：磁気テープＭＴの幅方向）で互いに隣接する２対のサーボ素子８２に対して入力されるパルス信号の位相差は、ＳＰ×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）に対応する。ここで、ＳＰ（サーボバンドピッチ＝サーボ素子ピッチ）は、互いに隣接する２つのサーボバンドｓにおける磁気テープＭＴの幅方向での間隔、または、互いに隣接する２対のサーボ素子８２における磁気テープＭＴの幅方向での間隔である。また、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０における基準角である。
　仮に、ＳＰの値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２対のサーボ素子８２に対して入力されるパルス信号の位相差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍに対応する。
　ここで、サーボバンドｓ４のサーボ素子８２の入力パルスを基準としたサーボバンドｓ３、サーボバンドｓ２、サーボバンドｓ１、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２の入力パルスの位相差は、順番に、５０４．０８μｍ、１００８．１７μｍ、１５１２．２５μｍ、２０１６．３３μｍに対応する位相とされる。
　５本のサーボバンドｓに対応する５対のサーボ素子８２に対して、同時刻に入力されるパルス信号の位相について、最も先に進んだ位相の入力パルスが入力されるのは、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２である。入力パルスの位相の順番は、次いで、サーボバンドｓ１のサーボ素子８２、サーボバンドｓ２のサーボ素子８２、サーボバンドｓ３のサーボ素子８２、サーボバンドｓ４のサーボ素子８２の順番である。
　例えば、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２及びサーボバンドｓ１のサーボ素子８２で説明すると、同時刻において、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２には、サーボバンドｓ１のサーボ素子８２よりも５０４．０８μｍに対応する位相分、先の位相のパルス信号が入力される。
　同様に、磁気テープＭＴの幅方向で互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書き込まれるサーボパターン４７の、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での位相差は、ＳＰ×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。
　仮に、ＳＰの値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書きこまれるサーボパターン４７における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での位相差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍに対応する。
　サーボバンドｓ４のサーボパターン４７を基準としたサーボバンドｓ３、サーボバンドｓ２、サーボバンドｓ１、サーボバンドｓ２のサーボパターン４７の位相差は、順番に、５０４．０８μｍ、１００８．１７μｍ、１５１２．２５μｍ、２０１６．３３μｍに対応する位相とされる。
　５本のサーボバンドｓにそれぞれ書き込まれたサーボパターン４７について、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で、最も先に進んだ位相となるのは、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７である。位相の順番は、次いで、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７、サーボバンドｓ２、のサーボパターン４７、サーボバンドｓ３のサーボパターン４７、サーボバンドｓ４のサーボパターン４７の順番である。
　例えば、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７及びサーボバンドｓ１のサーボパターン４７で説明すると、磁気テープＭＴの幅方向で、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７の位相は、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７よりも５０４．０８μｍに対応する位相分、先の位相とされる。
　磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対してデータライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向では、５本のサーボバンドｓに書きこまれたサーボパターン４７の位相は、同位相とされる。
（実施形態Ｂ）
　次に、サーボライトヘッド８０の実施形態Ｂについて説明する。図２１は、実施形態Ｂに係るサーボライトヘッド８０ｂ及びサーボライトヘッド８０ｂが有するサーボ素子８２の拡大図である。図２２は、実施形態Ｂに係るサーボライトヘッド８０ｂにより磁気テープＭＴにサーボパターン４７が書き込まれるときの様子を示す図である。図２１及び図２２では、サーボライトヘッド８０ｂの磁気テープＭＴと対向する面が示されている。なお、後述の図２３～図２６についても同様に、サーボライトヘッド８０の磁気テープＭＴと対向する面が示されている。
　これらの図に示すように、サーボライトヘッド８０ｂは、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。
　実施形態Ｂでは、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）が磁気テープＭＴの幅方向に対して所定の角度（第２のヘッドアジマス角）傾斜して配置される。サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと一致している（例えば、１０°）。
　サーボライトヘッド８０ｂは、磁気テープＭＴに対向する対向面８１を有している。対向面８１は、長手方向（Ｙ"軸方向）に長く、幅方向（Ｘ"軸方向）に短い形状を有している。
　サーボライトヘッド８０ｂは、対向面８１上において、５対のサーボ素子８２（磁気ギャップ）を有している。５対のサーボ素子８２は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）において、所定の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ１）を開けて配置される。
　互いに隣接する２対のサーボ素子８２における、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）での間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ１）は、例えば、２８５８．８±４．６μｍとされる。なお、この値は、磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で互いに隣接する２本のサーボバンドｓの間隔（サーボバンドピッチ：ＳＰ１）に対応する。
　また、互いに隣接する２対のサーボ素子８２において、磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）での位置の差は、ＳＰ１×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。ここで、ＳＰ１（サーボバンドピッチ＝サーボ素子ピッチ）は、互いに隣接する２つのサーボバンドｓにおける磁気テープＭＴの幅方向での間隔、または、互いに隣接する２対のサーボ素子８２における磁気テープＭＴの幅方向での間隔である。また、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０における基準角である。
　仮に、ＳＰ１の値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２対のサーボ素子８２において、磁気テープの長手方向（Ｘ軸方向）での位置の差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍである。
　一対のサーボ素子８２は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して非対称に構成された第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）を含む（特に、図２１の右側参照）。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１で傾斜する。第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに第２の角度θｓ２で傾斜する。
　第１の角度θｓ１及び第２の角度θｓ２は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、それぞれ以下の式により表される。
　　θｓ１＝Ｒｅｆθ＋θａ
　　θｓ２＝Ｒｅｆθ－θａ
　ここで、Ｒｅｆθは、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθであり、θａは、サーボアジマス角である。
　仮に、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°とされ、サーボアジマス角θａが１２°とされた場合、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の第１の角度θｓ１は、２２°とされ、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の第２の角度θｓ２は、２°とされる。
　磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の間隔は、例えば、サーボ素子８２の長さの幅方向成分ＳＬの１／２の位置において、３８μｍとされる。
　ここで、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）において、第１の角度θｓ１に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して２２°の方向）を第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向とする。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）において、第２の角度θｓ２に沿う方向（磁気テープＭＴの幅方向に対して－２°の方向）を第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向とする。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さとは異なっており、ここでの例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向での長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向での長さよりも長い。
　一方、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分（Ｙ軸方向）ＳＬ１と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向の成分（Ｙ軸方向）ＳＬ１とは同じである。サーボ素子８２の長さの幅方向成分ＳＬ１は、例えば、９６±３μｍとされる。
　図２５は、図２１の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）における具体的な寸法の一例を示す図である（ＸＹＺ座標系基準）。
　図２５に示すように、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、１０３．５３９３μｍ（＝９６μｍ／ｃｏｓ２２°）とされる。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さは、９６．０５８５μｍ（＝９６μｍ／ｃｏｓ２°）とされる。
　また、第１のサーボ素子８２ａの上端部と、第２のサーボ素子８２ｂの上端部との間の間隔（Ｘ軸方向）は、１６．９３０６μｍ（＝３８μｍ－４８μｍ×ｔａｎ２２°－４８μｍ×ｔａｎ２°＝３８μｍ－１９．３９３２μｍ－１．６７６２μｍ）である。
　また、第１のサーボ素子８２ａの下端部と、第２のサーボ素子８２ｂの下端部との間の間隔（Ｘ軸方向）は、５９．０６９５μｍ（＝９６μｍ×ｔａｎ２２°＋１６．９３０６μｍ＋９６μｍ×ｔａｎ２°＝３８．７８６５μｍ＋１６．９３０６μｍ＋３．３５２４μｍ）である。
　ここで、上述の実施形態Ａでは、５対のサーボ素子８２に対してそれぞれ入力されるパルス信号に位相差が設定されていた。一方、実施形態Ｂにおいては、サーボライトヘッド８０ｂが傾けて配置されているので、パルス信号に対して位相差を設定する必要はない。つまり、５対のサーボ素子８２に対しては、同時刻に同位相に対応するパルス信号がそれぞれ入力される。
　図２２には、５対のサーボ素子８２によって５本のサーボバンドｓにそれぞれ書き込まれたサーボパターン４７が示されている。
　磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書き込まれるサーボパターン４７の、磁気テープＭＴの幅方向での位相差は、ＳＰ１×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。
　仮に、ＳＰ１の値が２８５８．８μｍであるとし、データライトヘッド６０における基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、互いに隣接する２つのサーボバンドｓに書きこまれるサーボパターン４７の位相差は、２８５８．８μｍ×ｔａｎ１０°＝５０４．０８μｍとされる。
　なお、サーボバンドｓ４のサーボパターン４７を基準としたサーボバンドｓ３、サーボバンドｓ２、サーボバンドｓ１、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７の位相差は、順番に、５０４．０８μｍ、１００８．１７μｍ、１５１２．２５μｍ、２０１６．３３μｍに対応する位相とされる。
　５本のサーボバンドｓにそれぞれ書き込まれたサーボパターン４７について、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）で、最も先に進んだ位相となるのは、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７である。位相の順番は、次いで、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７、サーボバンドｓ２、のサーボパターン４７、サーボバンドｓ３のサーボパターン４７、サーボバンドｓ４のサーボパターン４７の順番である。
　例えば、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７及びサーボバンドｓ１のサーボパターン４７で説明すると、磁気テープＭＴの幅方向で、サーボバンドｓ０のサーボパターン４７の位相は、サーボバンドｓ１のサーボパターン４７よりも５０４．０８μｍに対応する位相分、先の位相とされる。
　磁気テープＭＴにおいて、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対してデータライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向では、５本のサーボバンドｓに書きこまれたサーボパターン４７の位相は、同位相とされる。
　以上の説明では、磁気テープＭＴの座標系（ＸＹＺ座標系）を基準したサーボライトヘッド８０ｂの構成について説明した。以降では、サーボライトヘッド８０ｂの座標系（Ｘ"Ｙ"Ｚ"座標系）を基準したサーボライトヘッド８０ｂの構成について説明する。
　図２３は、実施形態Ｂにおいて、サーボライトヘッド８０ｂの座標系を基準としてサーボライトヘッド８０ｂを表した図である。
　図２３に示すように、５対のサーボ素子８２は、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、所定の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ２）を開けて配置される。サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、互いに隣接する２対の－１サーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ２）は、ＳＰ１×ｃｏｓ（Ｒｅｆθ）で表される。
　例えば、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）において、互いに隣接する２対のサーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ１）が、２８５８．８μｍであり、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°であるとする。この場合、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、互いに隣接する２対のサーボ素子８２の間隔（サーボ素子ピッチ：ＳＰ２）は、２９０２．９μｍとなる。
　ここで、上述の実施形態Ａでは、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の対称軸は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に非平行とされており、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対しても非平行とされていた。一方、実施形態Ｂでは、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の対称軸は、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して非平行とされ、一方でサーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対しては平行とされている。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対して、サーボアジマス角θａで傾斜する。一方、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）に対して、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）とは逆向きに、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）と同じサーボアジマス角θａで傾斜する。
　ここで、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）において、サーボアジマス角θａに沿う方向（サーボライトヘッド８０ｂの長手方向に対して＋１２°の方向）を第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向とする。また、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）において、サーボアジマス角θａに沿う方向（サーボライトヘッド８０ｂの長手方向に対して－１２°の方向）を第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向とする。
　第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向における長さとは異なっており、ここでの例では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向での長さは、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向での長さよりも長い。
　さらに、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向成分ＳＬ２１（Ｙ"軸方向）、及び、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長手方向の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂ長手方向成分ＳＬ２２（Ｙ"軸方向）も異なっている。
　図２６は、図２３の右側の図の拡大図であって、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）における具体的な寸法の一例を示す図である（Ｘ"Ｙ"Ｚ"座標系基準）。
　仮に、サーボ素子８２の長さにおける、磁気テープＭＴの幅方向成分ＳＬ１（Ｙ軸方向）が、９６μｍであり、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθが１０°であり、サーボアジマス角θａが１２°であるとする。この場合、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向成分ＳＬ２１（Ｙ"軸方向）は、１０１．２７６７μｍ（＝１０３．５０９３μｍ×ｃｏｓ１２°）である。また、この場合、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長さにおける、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向成分ＳＬ２２（Ｙ"軸方向）は、９３．９５９μｍ（＝９６．０５８５μｍ×ｃｏｓ１２°）である。
　また、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａの上端部と、第２のサーボ素子８２ｂの上端部との間の間隔は、１６．６７３μｍ（＝１６．９３０６μｍ×ｃｏｓ１０°）である。また、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の上端部の位置と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の上端部の位置との差は、２．９４μｍ（＝１６．９３０６μｍ×ｓｉｎ１０°）である。
　また、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａの下端部と、第２のサーボ素子８２ｂの下端部との間の間隔は、５８．１７２１μｍ（＝５９．０６９５μｍ×ｃｏｓ１０°）である。また、サーボライトヘッド８０ｂの長手方向（Ｙ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の下端部の位置と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の下端部の位置との差は、１０．２５７３μｍ（＝５９．０６９５μｍ×ｓｉｎ１０°）である。
　また、サーボライトヘッド８０ｂの幅方向（Ｘ"軸方向）において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の間隔（中央）は、例えば、３８．５８６２８２５３μｍ（３８μｍ×ｃｏｓ１０°＋（３８μｍ×ｓｉｎ１０°）×ｔａｎ１０２°＝３７．４２２７μｍ＋６．５９８６μｍ×ｔａｎ１０２°＝３７．４２２７μｍ＋１．１６３５４０２６μｍ）である。
（実施形態Ａ及び実施形態Ｂの比較）
　次に、実施形態Ａ及び実施形態Ｂの比較について説明する。
　図２０の右側には、実施形態Ａに係るサーボライトヘッド８０ａにより書き込まれたサーボパターン４７を、データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により読み取っているときの様子が示されている。
　上述のように、実施形態Ａに係るサーボライトヘッド８０ａでは、サーボライトヘッド８０ａを磁気テープＭＴの幅方向に対して傾けずに配置し、サーボ素子８２に入力されるパルス信号の位相を調整することでサーボパターン４７を書き込むといった方法が用いられている。
　ここで、サーボライトヘッド８０ａによって磁気テープＭＴに対してサーボパターン４７を書き込むとき、磁気テープＭＴが幅方向（Ｙ軸方向に）に微動する場合がある。
　仮に、実施形態Ａのサーボライトヘッド８０ａにおいて、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ０に対して、或る時刻ｔ１に或る位相ｐｈ１のサーボパターン４７を書き込んだとする。その後の時刻ｔ２（磁気テープＭＴが搬送方向に５０４．０８μｍ搬送された時刻）に、サーボバンドｓ１のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ１に対して、その位相ｐｈ１のサーボパターン４７を書き込んだとする。
　この場合において、時刻ｔ１から時刻ｔ２の間に、磁気テープＭＴが幅方向に微動してしまった場合を想定する。この場合、サーボバンドｓ０での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置と、サーボバンドｓ１での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置との間隔（基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）が、既定の値（２つのサーボリード部６２の間隔：基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）とは異なってしまうことになる。
　これが原因で誤差が生じ、データライトヘッド６０がサーボパターン４７を正確にサーボトレースできない場合がある。
　一方、図２２の右側には、実施形態Ｂに係るサーボライトヘッド８０ｂにより書き込まれたサーボパターン４７を、データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により読み取っているときの様子が示されている。
　実施形態Ｂに係るサーボライトヘッド８０ｂでは、サーボライトヘッド８０ｂを磁気テープＭＴの幅方向に対して・BR>Xけて配置し、サーボ素子８２に入力されるパルス信号の位相を同位相としてサーボパターン４７を書き込むといった方法が用いられている。
　仮に、実施形態Ｂのサーボライトヘッド８０ｂにおいて、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２及びサーボバンドｓ１のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ０及びサーボバンドｓ１に対して、同時刻ｔ１に同位相ｐｈ１のサーボパターン４７を書き込んだとする。
　その後、サーボバンドｓ０のサーボ素子８２及びサーボバンドｓ１のサーボ素子８２が、サーボバンドｓ０及びサーボバンドｓ１に対して、同時刻ｔ２に同位相ｐｈ２のサーボパターン４７を書き込んだとする。
　この場合において、時刻ｔ１から時刻ｔ２の間に、磁気テープＭＴが幅方向に微動してしまった場合を想定する。この場合、サーボバンドｓ０での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置と、サーボバンドｓ１での位相ｐｈ１のサーボパターン４７の位置との間隔（基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）は、サーボバンドｓ０での位相ｐｈ２のサーボパターン４７の位置と、サーボバンドｓ１での位相ｐｈ２のサーボパターン４７の位置との間隔と同じである。これらの間隔は、既定の値（２つのサーボリード部６２の間隔：基準角Ｒｅｆθ（１０°）の方向）と同じであり、一定である。
　つまり、実施形態Ｂでは、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動によらず、互いに隣接するサーボバンドｓにおける同位相のサーボパターン４７の間隔（基準角Ｒｅｆθの方向）を一定にすることができる。これにより、データライトヘッド６０がサーボパターン４７を正確にサーボトレースすることができる。
　ここでの説明から理解されるように、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動の観点からは、実施形態Ａよりも実施形態Ｂの方が有利である。但し、これは、実施形態Ａによる方法を採用することができないといった趣旨ではなく、実施形態Ａについても本技術の一例として含まれる。例えば、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動が無視できるレベルであったり、あるいは、サーボパターン４７書き込み時の磁気テープＭＴの幅方向への微動を無視できる程度に抑制することができたりするのであれば、実施形態Ａによる方法が採用されてもよい。
［作用等］
　以上説明したように、本実施形態では、サーボライトヘッド８０により、各サーボバンドｓ０～ｓ４に対して、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）をそれぞれ書き込むことができる。これにより、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向に対して傾いて配置された場合に、そのデータライトヘッド６０により、サーボパターン４７を正確に読み取ることができる。
　図２４は、第１対照例、第２対照例及び第１の実施形態において、データライトヘッド６０のサーボリード部６２によりサーボパターン４７を読み取ったときの様子を示す図である。
　図２４の左側を参照して、第１対照例では、磁気テープＭＴにおいて、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して対称とされている。また、データライトヘッド６０の長手方向は、磁気テープＭＴの幅方向に対して平行とされている。
　第１対照例では、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失は、サーボパターン４７群毎に同じである。従って、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号の出力は、サーボパターン４７群に対応するサーボバースト毎に同じとなる。
　図２４の中央を参照して、第２対照例では、磁気テープＭＴにおいて、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して対称とされている。一方、データライトヘッド６０の長手方向は、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜して配置されている。
　第２対照例では、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失は、サーボパターン４７群毎に異なる。従って、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号において、アジマス損失が少ないサーボパターン４７群に対応するサーボバーストの出力は大きくなり、一方で、アジマス損失が大きいサーボパターン４７群に対応するサーボバーストの出力は小さくなる。このため、トラッキング基準位置に誤差が生じてしまう可能性がある。
　図２４の右側を参照して、本実施形態では、磁気テープＭＴにおいて、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称とされている。また、データライトヘッド６０の長手方向は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非平行とされている。
　第１の実施形態では、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失は、サーボパターン４７群毎に同じである。従って、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号の出力は、サーボパターン４７群に対応するサーボバースト毎に同じとなる。
　このように、第１の実施形態では、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称とされているので、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向に対して傾いて配置された場合に、そのデータライトヘッド６０により、サーボパターン４７を正確に読み取ることができる。
　また、第１の実施形態では、データ記録再生装置５０におけるデータライトヘッド６０の長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対してアジマス角θ傾斜して配置され、そのアジマス角θが調整される。これにより、磁気テープＭＴの幅の変動に対応することができる。
　また、第１の実施形態では、データ記録再生装置５０におけるデータライトヘッド６０において、データライトヘッド６０のアジマス角θは、基準角Ｒｅｆθ±ｘ°の範囲で調整される。
　このとき、ｘの値を０．７°以下とすることで、再生トラック幅Ｗが小さな磁気テープＭＴ（例えば、０．５μｍ以下）に対応しつつ、アジマス損失Ｌθを小さくすることができる。また、このとき、基準角Ｒｅｆθを８°以上とすることで、上記補正量を大きくすることができる（例えば、１０μｍ以上）。
　また、第１の実施形態では、サーボ記録再生装置７０において、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称となるようにサーボライトヘッド８０に設けられる。これにより、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）により、磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称なサーボパターン４７を適切に書き込むことができる。
　また、第１の実施形態では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して第１の角度θｓ１で傾斜し、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）は、磁気テープＭＴの幅方向に対して、第１の角度θｓ１とは逆向きに、第１の角度θｓ１とは異なる第２の角度θｓ２で傾斜する。
　そして、第１の実施形態では、この第１の角度θｓ１及び第２の角度θｓ２が、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連している。これにより、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）により、データライトヘッド６０が正確に読み取ることが可能な非対称なサーボパターン４７を適切に書き込むことができる。
　また、第１の実施形態では、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さと、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長手方向における長さとは異なっているが、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）の長さにおける磁気テープＭＴの幅方向の成分と、第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）の長さにおける磁気テープＭＴの幅方向の成分とは同じである。これにより、第１のサーボ素子８２ａ（「／」）及び第２のサーボ素子８２ｂ（「＼」）により書き込まれる第１のサーボパターン４７ａ（「／」）及び第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）について、磁気テープＭＴの幅方向の長さを揃えることができる。
　また、第１の実施形態おいて、サーボライトヘッド８０の長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定の角度傾斜するように配置されてもよく（実施形態Ｂ参照）、この場合、サーボパターン４７書き込み時における磁気テープＭＴの幅方向への微動に適切に対応することができる。
　また、第１の実施形態において、サーボライトヘッド８０の長手方向が、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜する角度は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと関連していてもよく、また、この角度は、データライトヘッド６０の基準角Ｒｅｆθと一致していてもよい。これにより、傾斜して配置されたデータライトヘッド６０が正確に読み取ることが可能な非対称なサーボパターン４７を適切に書き込むことができる。
　また、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴでは、互いに隣接するサーボバンドｓにおけるサーボパターン４７の、磁気テープＭＴの幅方向での位相差が、サーボライトヘッド８０の基準角Ｒｅｆθと関連しており、ＳＰ×ｔａｎ（Ｒｅｆθ）で表される。これにより、傾斜して配置されたデータライトヘッド６０により、サーボパターン４７を正確に読み取ることができる。
［磁気テープがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置に用いられる磁気テープであるかどうかの確認方法］
　次に、磁気テープＭＴが、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜して配置されるタイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであるかどうかを確認するための方法について説明する。
［確認方法：第１の例］
　図２７は、磁気テープＭＴがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであるかどうかを確認する方法における第１の例を示す図である。第１の例では、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第１の角度θｓ１）、及び、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が磁気テープの幅方向に対して傾斜する角度（第２の角度θｓ２）等に基づいて、下記確認が行われる。
　なお、図２７では、磁気テープＭＴを上側（磁性層側）から見た様子が示されている（従って、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）において、「／」「＼」の符号は、見た目とは逆になる）。
　図２７に示すように、まず、磁気テープＭＴの磁性層４３に対して、フェリコロイド現像液（例えば、シグマハイケミカル社製のシグマーカＱ（登録商標））等の現像液を塗布して現像を行う。その後、現像した磁気テープＭＴの磁性層４３を光学顕微鏡で観察することで、サーボパターン４７の形状を確認する。
　このとき、まず、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の上端部及び下端部、並びに、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の上端部及び下端部が測定点として測定される。そして、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）において、サーボパターン４７の上端部と、下端部との間の距離ａ（サーボバンド幅に対応）が測定される。
　また、磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）において、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の上端部と、下端部との間の距離ｂが測定される。また、磁気テープＭＴの長手方向（Ｘ軸方向）において、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の上端部と、下端部との間の距離ｃが測定される。
　この場合、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第１の角度θｓ１）は、ｔａｎ－１（ｂ／ａ）により求められる。また、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第２の角度θｓ２）は、ｔａｎ－１（ｃ／ａ）により求められる。
　例えば、ａの値が９６μｍであり、ｂの値が３９μｍであり、ｃの値が３μｍであったとする。この場合、第１のサーボパターン４７ａ（「／」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第１の角度θｓ１）は、ｔａｎ－１（３９／９６）＝２１．５９°で、約２２°である。また、第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）が、磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（第２の角度θｓ２）は、ｔａｎ－１（３／９６）＝１．７９°で、約２°である。
　次に、（第１のサーボパターン４７ａ（「／」）の傾斜角（第１の角度θｓ１）－第２のサーボパターン４７ｂ（「＼」）の傾斜角（第２の角度θｓ２））／２により、所定の角度を求める（（２２－２）／２＝１０°）。このとき求められる角度は、第１のサーボパターン４７ａ及び第２のサーボパターン４７ｂの対称軸が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度に対応する。
　（第１の角度θｓ１－第２の角度θｓ２）／２により求められた角度が、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（基準角）と一致したとする（θｓ１－θｓ２）／２＝ｒｅｆθ）（ある程度の誤差を含んでいてもよい）。
　この場合、図２４の右側を参照して既に説明したように、データライトヘッド６０のサーボリード部６２に対するサーボパターン４７のアジマス損失が、サーボパターン４７群毎に同じとなる。これにより、サーボライトヘッド８０のサーボリード部６２によりそのサーボパターン４７を読み取ったとき、そのサーボ信号の出力は、サーボパターン４７群に対応するサーボバースト毎に同じとなる。
　従って、（θｓ１－θｓ２）／２により求められた角度が、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（基準角）と一致した場合、この磁気テープＭＴは、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜して配置されるタイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであると見做すことができる。
［確認方法：第２の例］
　図２８は、磁気テープＭＴがデータライトヘッド傾斜タイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであるかどうかを確認する方法における第２の例を示す図である。第２の例では、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターン４７における位相差に基づいて、上記確認が行われる。
　この第２の例では、データ記録再生装置が用いられるが、このデータ記録再生装置では、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して平行に配置される。
　まず、データライトヘッド６０の２つのサーボリード部６２により、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターン４７がそれぞれ読み取られ、サーボ信号がそれぞれ再生される。
　下側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号の位相は、上側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号の位相よりも先であり、位相差が生じる。このとき、下側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号と、上側のサーボリード部６２により再生されるサーボ信号との間で、同じＬＰＯＳ（Longitudinal Position）情報を読み取った時刻の差が求められる。そして、この時刻の差が、距離に換算されて、磁気テープの長さ方向における位相差ｄが求められる（例えば、０．５０５μｍ）。
　次に、求められた位相差ｄ（例えば、０．５０５μｍ）と、サーボバンドピッチＳＰ（既知）（例えば、２．８５８８μｍ）とに基づいて、ｔａｎ－１（ｄ／ＳＰ）により、所定の角度が求められる（ｔａｎ－１（０．５０５／２．８５８８）＝１０．０１７°）。
　このとき求められる角度は、一方のサーボバンドのサーボパターン４７と、他方のサーボバンドのサーボパターン４７とで同位相の情報が書き込まれた位置を結ぶ直線が、磁気テープの幅方向に対して成す角度に対応する。
　ｔａｎ－１（ｄ／ＳＰ）により求められた角度が、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜する角度（基準角）と一致したとする（ｔａｎ－１（ｄ／ＳＰ）＝ｒｅｆθ）（ある程度の誤差を含んでいてもよい）。この場合、この磁気テープＭＴは、データライトヘッド６０が磁気テープＭＴの幅方向（Ｙ軸方向）に対して傾斜して配置されるタイプのデータ記録再生装置５０に用いられる磁気テープＭＴであると見做すことができる。
（５）作用効果
　上記２．の（２）において説明したとおり、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴでは、６５℃で３６０時間保存後に磁気テープＭＴの全長にわたって磁気テープＭＴの幅変化量Δを測定したときに、前記磁気テープＭＴの巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気テープＭＴの巻内側の幅変化量Δinの符号と異なる。磁気テープＭＴの巻外側の幅変化量Δoutの符号が磁気テープＭＴの巻内側の幅変化量Δinの符号と異なることにより、高温環境下で保存を行っても優れた走行安定性を得ることができる。また、前記幅変化量Δが、前記磁気テープＭＴの全長を４等分して４つの領域に分割した場合の前記磁気テープＭＴの全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍである。これにより、高温環境下で保存を行っても優れた走行安定性を得ることができる。さらに、磁気テープの長手方向において、４つの領域のうちのいずれの領域においても幅変化量Δが３００ｐｐｍ以下であってもよい。これにより、磁気テープＭＴの幅が高温環境下で変化した場合にも、データライトヘッドのアジマス角θを調整することにより、温湿度変化による形状変化に対応することができる。
　上記２．の（４）において説明したとおり、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴは、前記磁気テープＭＴの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターン４７ａおよび第２のサーボパターン４７ｂを含むサーボパターン４７がそれぞれ書き込まれた複数のサーボバンドｓを有し、且つ、互いに隣接するサーボバンドｓにおけるサーボパターン４７は位相差を有していてもよい。そのため、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴは、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することにより磁気テープＭＴの幅変化に対応可能なデータ記録再生装置５０において用いられうる。データ記録再生装置５０において、典型的には、磁気テープＭＴの幅が相対的に広くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは小さくされ、逆に、磁気テープＭＴの幅が相対的に狭くなったとき、データライトヘッド６０のアジマス角θは大きくされる。これにより、磁気テープＭＴのサーボパターン４７は、磁気テープＭＴの幅が変化した場合にも、正確に読み取られる。
　したがって、磁気テープＭＴの幅が高温環境下で変化した場合にも、データライトヘッド６０のアジマス角θを調整することにより、幅変化に対応することができる。
　以上述べたとおり、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴによれば、高温環境下で起こりうる幅変化に対処可能である。したがって、第１の実施形態に係る磁気テープＭＴは、高温環境下での保存および走行に適している。
３．第２の実施形態（真空薄膜型の磁気テープを含む磁気記録カートリッジの例）
（１）磁気記録カートリッジの構成
　本実施形態の磁気記録カートリッジは、塗布型の磁気テープＭＴの代わりに真空薄膜型の磁気テープＭＴ１を含むこと以外は、上記２．の「（１）磁気カートリッジの構成」において述べた磁気記録カートリッジ１０と同じである。以下で、真空薄膜型の磁気テープＭＴ１について説明する。
（２）磁気テープの構成
　上記の第１の実施形態では、磁気テープＭＴが、下地層および磁性層等が塗布工程（ウエットプロセス）により作製された塗布型の磁気テープである場合について説明したが、下地層および磁性層等がスパッタリング等の真空薄膜の作製技術（ドライプロセス）により作製される真空薄膜型の磁気テープであってもよい。
　図２９は、本技術の第２の実施形態に係る真空薄膜型の磁気テープＭＴ１の構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴ１は、垂直記録型の磁気記録媒体であり、フィルム状のベース層１１１と、軟磁性裏打ち層（Soft magnetic underlayer、以下「ＳＵＬ」という。）１１２と、第１のシード層１１３Ａと、第２のシード層１１３Ｂと、第１の下地層１１４Ａと、第２の下地層１１４Ｂと、記録層としての磁性層１１５とを備える。ＳＵＬ１１２、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂおよび磁性層１１５は、例えば、スパッタ膜等の真空薄膜である。
　ＳＵＬ１１２、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂおよび第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、ベース層１１１の一方の主面（以下「表面」という。）と磁性層１１５との間に設けられ、ベース層１１１から磁性層１１５の方向に向かってＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂの順序で積層されている。
　磁気テープＭＴ１が、必要に応じて、磁性層１１５上に設けられた保護層１１６と、保護層１１６上に設けられた潤滑層１１７とをさらに備えるようにしてもよい。また、磁気テープＭＴ１が、必要に応じて、ベース層１１１の他方の主面（以下「裏面」という。）上に設けられたバック層１１８をさらに備えるようにしてもよい。
　以下では、磁気テープＭＴ１の長手方向（ベース層１１１の長手方向）をＭＤ（Machine Direction、機械方向）方向という。ここで、ＭＤ方向とは、磁気テープＭＴ１に対する記録および再生ヘッドの相対的な移動方向、すなわち記録再生時に磁気テープＭＴ１が走行される方向を意味する。
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、今後ますます需要が高まることが期待されるデータアーカイブ用ストレージメディアとして用いて好適なものである。この磁気テープＭＴ１は、例えば、現在のストレージ用塗布型磁気記録媒体の１０倍以上の面記録密度、すなわち５０Ｇｂ／ｉｎ２以上の面記録密度を実現することが可能である。このような面記録密度を有する磁気テープＭＴ１を用いて、一般のリニア記録方式のデータカートリッジを構成した場合には、データカートリッジ１巻当たり１００ＴＢ以上の大容量記録が可能になる。
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、リング型の記録ヘッドと巨大磁気抵抗効果（Giant Magnetoresistive：ＧＭＲ）型またはトンネル磁気抵抗効果（Tunneling Magnetoresistive：ＴＭＲ）型の再生ヘッドとを有する記録再生装置（データを記録再生するための記録再生装置）に用いて好適なものである。また、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、サーボ信号書込ヘッドとしてリング型の記録ヘッドが用いられるものであることが好ましい。磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりデータ信号が垂直記録される。また、磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりサーボ信号が垂直記録される。
　第２の実施形態における磁気テープＭＴ１の平均厚みｔＴ、幅変化量、およびベース層１１１の貯蔵弾性率、損失弾性率等は、第１の実施形態におけるものと同様である。
［ベース層］
　ベース層１１１は、第１の実施形態におけるベース層４１と同様である。
［ＳＵＬ］
　ＳＵＬ１１２は、アモルファス状態の軟磁性材料を含む。軟磁性材料は、例えば、Ｃｏ系材料およびＦｅ系材料のうちの少なくとも１種を含む。Ｃｏ系材料は、例えば、ＣｏＺｒＮｂ、ＣｏＺｒＴａまたはＣｏＺｒＴａＮｂを含む。Ｆｅ系材料は、例えば、ＦｅＣｏＢ、ＦｅＣｏＺｒまたはＦｅＣｏＴａを含む。
　ＳＵＬ１１２は、単層のＳＵＬであり、ベース層１１１に直接設けられている。ＳＵＬ１１２の平均厚みは、好ましくは１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下、より好ましくは２０ｎｍ以上３０ｎｍ以下である。
　ＳＵＬ１１２の平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。なお、後述する、ＳＵＬ１１２以外の層の平均厚み（すなわち、第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂ、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂおよび磁性層１１５の平均厚み）も、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、各層の厚みに応じて適宜調整される。
［第１、第２のシード層］
　第１のシード層１１３Ａは、ＴｉおよびＣｒを含む合金を含み、アモルファス状態を有している。また、この合金には、Ｏ（酸素）がさらに含まれていてもよい。この酸素は、スパッタリング法等の成膜法で第１のシード層１１３Ａを成膜する際に、第１のシード層１１３Ａ内に微量に含まれる不純物酸素であってもよい。
　ここで、“合金”とは、ＴｉおよびＣｒを含む固溶体、共晶体、および金属間化合物等の少なくとも一種を意味する。“アモルファス状態”とは、Ｘ線回折または電子線回折法等により、ハローが観測され、結晶構造を特定できないことを意味する。
　第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉおよびＣｒの総量に対するＴｉの原子比率は、好ましくは３０原子％以上１００原子％未満、より好ましくは５０原子％以上１００原子％未満の範囲内である。Ｔｉの原子比率が３０％未満であると、Ｃｒの体心立方格子（Body-Centered Cubic lattice：ｂｃｃ）構造の（１００）面が配向するようになり、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの配向性が低下する虞がある。
　上記Ｔｉの原子比率は次のようにして求められる。磁性層１１５側から磁気テープＭＴ１をイオンミリングしながら、オージェ電子分光法（Auger Electron Spectroscopy、以下「ＡＥＳ」という。）による第１のシード層１１３Ａの深さ方向分析（デプスプロファイル測定）を行う。次に、得られたデプスプロファイルから、膜厚方向におけるＴｉおよびＣｒの平均組成（平均原子比率）を求める。次に、求めたＴｉおよびＣｒの平均組成を用いて、上記Ｔｉの原子比率を求める。
　第１のシード層１１３ＡがＴｉ、ＣｒおよびＯを含む場合、第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉ、ＣｒおよびＯの総量に対するＯの原子比率は、好ましくは１５原子％以下、より好ましくは１０原子％以下である。Ｏの原子比率が１５原子％を超えると、ＴｉＯ２結晶が生成することにより、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶核形成に影響を与えるようになり、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの配向性が低下する虞がある。上記Ｏの原子比率は、上記Ｔｉの原子比率と同様の解析方法を用いて求められる。
　第１のシード層１１３Ａに含まれる合金が、ＴｉおよびＣｒ以外の元素を添加元素としてさらに含んでいてもよい。この添加元素としては、例えば、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｍｏ、ＡｌおよびＷ等からなる群より選ばれる１種以上の元素が挙げられる。
　第１のシード層１１３Ａの平均厚みは、好ましくは２ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは３ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。
　第２のシード層１１３Ｂは、例えば、ＮｉＷまたはＴａを含み、結晶状態を有している。第２のシード層１１３Ｂの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上２０ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１５ｎｍ以下である。
　第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂは、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂに類似した結晶構造を有し、結晶成長を目的として設けられるシード層ではなく、当該第１、第２のシード層１１３Ａ、１１３Ｂのアモルファス状態によって第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの垂直配向性を向上するシード層である。
［第１、第２の下地層］
　第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。磁性層１１５の配向性を高め、かつ、第２の下地層１１４Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えば、Ｒｕ－ＳｉＯ２、Ｒｕ－ＴｉＯ２またはＲｕ－ＺｒＯ２等のＲｕ合金酸化物が挙げられる。
　上記のように、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの材料として同様のものを用いることができる。しかしながら、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂそれぞれの目的とする効果が異なっている。具体的には、第２の下地層１１４Ｂについてはその上層となる磁性層１１５のグラニュラ構造を促進する膜構造であり、第１の下地層１１４Ａについては結晶配向性の高い膜構造である。このような膜構造を得るためには、第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂそれぞれのスパッタ条件等の成膜条件を異なるものとすることが好ましい。
　第１の下地層１１４Ａの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。第２の下地層１１４Ｂの平均厚みは、好ましくは７ｎｍ以上４０ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上２５ｎｍ以下である。
［磁性層］
　磁性層１１５は、磁性材料が垂直に配向した垂直磁気記録層である。磁性層１１５は、スパッタ膜等の真空薄膜であってもよい。磁性層１１５は、記録密度を向上する観点からすると、Ｃｏ系合金を含むグラニュラ磁性層であることが好ましい。このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含む強磁性結晶粒子と、この強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界（非磁性体）とから構成されている。より具体的には、このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含むカラム（柱状結晶）と、このカラムを取り囲み、それぞれのカラムを磁気的に分離する非磁性粒界（例えばＳｉＯ２等の酸化物）とから構成されている。この構造では、それぞれのカラムが磁気的に分離した構造を有する磁性層１１５を構成することができる。
　Ｃｏ系合金は、六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有し、そのｃ軸が膜面に対して垂直方向（膜厚方向）に配向している。Ｃｏ系合金としては、少なくともＣｏ、ＣｒおよびＰｔを含有するＣｏＣｒＰｔ系合金を用いることが好ましい。ＣｏＣｒＰｔ系合金は、特に限定されるものではなく、ＣｏＣｒＰｔ合金がさらに添加元素を含んでいてもよい。添加元素としては、例えば、ＮｉおよびＴａ等からなる群より選ばれる１種以上の元素が挙げられる。
　強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界は、非磁性金属材料を含む。ここで、金属には半金属を含むものとする。非磁性金属材料としては、例えば、金属酸化物および金属窒化物のうちの少なくとも一方を用いることができ、グラニュラ構造をより安定に維持する観点からすると、金属酸化物を用いることが好ましい。金属酸化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、ＹおよびＨｆ等からなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属酸化物が挙げられ、少なくともＳｉ酸化物（すなわちＳｉＯ２）を含む金属酸化物が好ましい。金属酸化物の具体例としては、ＳｉＯ２、Ｃｒ２Ｏ３、ＣｏＯ、Ａｌ２Ｏ３、ＴｉＯ２、Ｔａ２Ｏ５、ＺｒＯ２またはＨｆＯ２等が挙げられる。金属窒化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、ＹおよびＨｆ等からなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属窒化物が挙げられる。金属窒化物の具体例としては、ＳｉＮ、ＴｉＮまたはＡｌＮ等が挙げられる。
　強磁性結晶粒子に含まれるＣｏＣｒＰｔ系合金と、非磁性粒界に含まれるＳｉ酸化物とが、以下の式（５）に示す平均組成を有していることが好ましい。反磁界の影響を抑え、かつ、十分な再生出力を確保できる飽和磁化量Ｍｓを実現でき、これにより、記録再生特性の更なる向上を実現できるからである。
　（ＣｏｘＰｔｙＣｒ１００－ｘ－ｙ）１００－ｚ－（ＳｉＯ２）ｚ　・・・（５）
（但し、式（５）中において、ｘ、ｙ、ｚはそれぞれ、６９≦Ｘ≦７５、１０≦ｙ≦１６、９≦Ｚ≦１２の範囲内の値である。）
　なお、上記組成は次のようにして求めることができる。磁性層１１５側から磁気テープＭＴ１をイオンミリングしながら、ＡＥＳによる磁性層１１５の深さ方向分析を行い、膜厚方向におけるＣｏ、Ｐｔ、Ｃｒ、ＳｉおよびＯの平均組成（平均原子比率）を求める。
　磁性層１１５の平均厚みの上限値は、例えば９０ｎｍ以下、好ましくは８０ｎｍ以下、より好ましくは７０ｎｍ以下、さらにより好ましくは６０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以下、２０ｎｍ以下または１５ｎｍ以下である。磁性層１１５の平均厚みの下限値は、好ましくは９ｎｍ以上である。磁性層１１５の平均厚みが９ｎｍ以上９０ｎｍ以下であると、電磁変換特性を向上することができる。
　磁性層１１５は、データが書き込まれる複数のデータバンドと、サーボパターンが書き込まれる複数のサーボバンドと、を有している。磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドの詳細については、上記１．（２）において述べた第１の実施形態におけるデータバンドおよびサーボバンドに関する説明が当てはまる。そのため、磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドについての説明は省略する。
［保護層］
　保護層１１６は、例えば、炭素材料または二酸化ケイ素（ＳｉＯ２）を含み、保護層１１６の膜強度の観点からすると、炭素材料を含むことが好ましい。炭素材料としては、例えば、グラファイト、ダイヤモンド状炭素（Diamond-Like Carbon：ＤＬＣ）またはダイヤモンド等が挙げられる。
［潤滑層］
　潤滑層１１７は、少なくとも１種の潤滑剤を含む。潤滑層１１７は、必要に応じて各種添加剤、例えば防錆剤をさらに含んでいてもよい。潤滑剤としては、第１の実施形態における磁性層４３と同様のものを例示することができる。
　なお、潤滑剤は、上記のように磁気テープＭＴ１の表面に潤滑層１１７として保持されるのみならず、磁気テープＭＴ１を構成する磁性層１１５および保護層１１６等の層に含まれ、保有されていてもよい。
［バック層］
　バック層１１８は、第１の実施形態におけるバック層４４と同様である。
（３）スパッタ装置の構成
　以下、図３０を参照して、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１の製造に用いられるスパッタ装置１２０の構成の一例について説明する。このスパッタ装置１２０は、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１
１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５の成膜に用いられる連続巻取式スパッタ装置であり、成膜室１２１と、金属キャン（回転体）であるドラム１２２と、カソード１２３ａ～１２３ｆと、供給リール１２４と、巻き取りリール１２５と、複数のガイドロール１２７ａ～１２７ｃ、１２８ａ～１２８ｃとを備える。スパッタ装置１２０は、例えばＤＣ（直流）マグネトロンスパッタリング方式の装置であるが、スパッタリング方式はこの方式に限定されるものではない。
　成膜室１２１は、排気口１２６を介して図示しない真空ポンプに接続され、この真空ポンプにより成膜室１２１内の雰囲気が所定の真空度に設定される。成膜室１２１の内部には、回転可能な構成を有するドラム１２２、供給リール１２４および巻き取りリール１２５が配置されている。成膜室１２１の内部には、供給リール１２４とドラム１２２との間におけるベース層１１１の搬送をガイドするための複数のガイドロール１２７ａ～１２７ｃが設けられていると共に、ドラム１２２と巻き取りリール１２５との間におけるベース層１１１の搬送をガイドするための複数のガイドロール１２８ａ～１２８ｃが設けられている。スパッタ時には、供給リール１２４から巻き出されたベース層１１１が、ガイドロール１２７ａ～１２７ｃ、ドラム１２２およびガイドロール１２８ａ～１２８ｃを介して巻き取りリール１２５に巻き取られる。ドラム１２２は円柱状の形状を有し、長尺状のベース層１１１はドラム１２２の円柱面状の周面に沿わせて搬送される。ドラム１２２には、図示しない冷却機構が設けられており、スパッタ時には、例えば－２０℃程度に冷却される。成膜室１２１の内部には、ドラム１２２の周面に対向して複数のカソード１２３ａ～１２３ｆが配置されている。これらのカソード１２３ａ～１２３ｆにはそれぞれターゲットがセットされている。具体的には、カソード１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄ、１２３ｅ、１２３ｆにはそれぞれ、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、磁性層１１５を成膜するためのターゲットがセットされている。これらのカソード１２３ａ～１２３ｆにより複数の種類の膜、すなわちＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５が同時に成膜される。
　上記の構成を有するスパッタ装置１２０では、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５をRoll to Roll法により連続成膜することができる。
（４）磁気テープの製造方法
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、例えば、以下のようにして製造することができる。
　まず、図３０に示したスパッタ装置１２０を用いて、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５をベース層１１１の表面上に順次成膜する。具体的には以下のようにして成膜する。まず、成膜室１２１を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、成膜室１２１内にＡｒガス等のプロセスガスを導入しながら、カソード１２３ａ～１２３ｆにセットされたターゲットをスパッタする。これにより、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５が、走行するベース層１１１の表面に順次成膜される。
　スパッタ時の成膜室１２１の雰囲気は、例えば、１×１０－５Ｐａから５×１０－５Ｐａ程度に設定される。ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂおよび磁性層１１５の膜厚および特性は、ベース層１１１を巻き取るテープライン速度、スパッタ時に導入するＡｒガス等のプロセスガスの圧力（スパッタガス圧）、および投入電力等を調整することにより制御可能である。
　次に、磁性層１１５上に保護層１１６を成膜する。保護層１１６の成膜方法としては、例えば化学気相成長（Chemical Vapor Deposition：ＣＶＤ）法または物理蒸着（physical vapor deposition：ＰＶＤ）法を用いることができる。
　次に、結着剤、無機粒子および潤滑剤等を溶剤に混練、分散させることにより、バック層成膜用の塗料を調製する。次に、ベース層１１１の裏面上にバック層成膜用の塗料を塗布して乾燥させることにより、バック層１１８をベース層１１１の裏面上に成膜する。
　次に、例えば潤滑剤を保護層１１６上に塗布し、潤滑層１１７を成膜する。潤滑剤の塗布方法としては、例えば、グラビアコーティング、ディップコーティング等の各種塗布方法を用いることができる。次に、必要に応じて、磁気テープＭＴ１を所定の幅に裁断する。以上により、図２９に示した磁気テープＭＴ１が得られる。
（５）作用効果
　上記２．の（５）において述べた作用効果に関する説明が、第２の実施形態についても当てはまる。すなわち、第１の実施形態と同様に、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１によれば、高温環境下で起こりうる幅変化に対処可能である。したがって、第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１は、高温環境下での保存および走行に適している。
４．第３の実施形態（真空薄膜型の磁気テープを含む磁気記録カートリッジの例）
（１）磁気記録カートリッジの構成
　本実施形態の磁気記録カートリッジは、塗布型の磁気テープＭＴの代わりに真空薄膜型の磁気テープＭＴ２を含むこと以外は、上記２．の「（１）磁気カートリッジの構成」において述べた磁気記録カートリッジ１０と同じである。以下で、真空薄膜型の磁気テープＭＴ２について説明する。
（２）磁気テープの構成
　図３１は、本技術の第３の実施形態に係る真空薄膜型の磁気テープＭＴ２の構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴ２は、ベース層１１１と、ＳＵＬ１１２と、シード層１３１と、第１の下地層１３２Ａと、第２の下地層１３２Ｂと、磁性層１１５とを備える。なお、第３の実施形態において第２の実施形態と同様の箇所には同一の符号を付して説明を省略する。
　ＳＵＬ１１２、シード層１３１、第１、第２の下地層１３２Ａ、１３２Ｂは、ベース層１１１の一方の主面と磁性層１１５との間に設けられ、ベース層１１１から磁性層１１５の方向に向かってＳＵＬ１１２、シード層１３１、第１の下地層１３２Ａ、第２の下地層１３２Ｂの順序で積層されている。
［シード層］
　シード層１３１は、Ｃｒ、ＮｉおよびＦｅを含み、面心立方格子（ｆｃｃ）構造を有し、この面心立方構造の（１１１）面がベース層１１１の表面に平行になるように優先配向している。ここで、優先配向とは、Ｘ線回折法のθ－２θスキャンにおいて面心立方格子構造の（１１１）面からの回折ピーク強度が他の結晶面からの回折ピークより大きい状態、またはＸ線回折法のθ－２θスキャンにおいて面心立方格子構造の（１１１）面からの回折ピーク強度のみが観察される状態を意味する。
　シード層１３１のＸ線回折の強度比率は、ＳＮＲの向上の観点から、好ましくは６０ｃｐｓ／ｎｍ以上、より好ましくは７０ｃｐｓ／ｎｍ以上、さらにより好ましくは８０ｃｐｓ／ｎｍ以上である。ここで、シード層１３１のＸ線回折の強度比率は、シード層１３１のＸ線回折の強度Ｉ（ｃｐｓ）をシード層１３１の平均厚みＤ（ｎｍ）で除算して求められる値（Ｉ／Ｄ（ｃｐｓ／ｎｍ））である。
　シード層１３１に含まれるＣｒ、ＮｉおよびＦｅは、以下の式（６）で表される平均組成を有することが好ましい。
　ＣｒＸ（ＮｉＹＦｅ１００－Ｙ）１００－Ｘ　・・・（６）
（但し、式（６）中において、Ｘは１０≦Ｘ≦４５、Ｙは６０≦Ｙ≦９０の範囲内である。）
　Ｘが上記範囲内であると、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。同様にＹが上記範囲内であると、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
　シード層１３１の平均厚みは、５ｎｍ以上４０ｎｍ以下であることが好ましい。シード層１３１の平均厚みをこの範囲内にすることで、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅの面心立方格子構造の（１１１）配向を向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。なお、シード層１３１の平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、シード層１３１の厚みに応じて適宜調整される。
［第１、第２の下地層］
　第１の下地層１３２Ａは、面心立方格子構造を有するＣｏおよびＯを含み、カラム（柱状結晶）構造を有している。ＣｏおよびＯを含む第１の下地層１３２Ａでは、Ｒｕを含む第２の下地層１３２Ｂとほぼ同様の効果（機能）が得られる。Ｃｏの平均原子濃度に対するＯの平均原子濃度の濃度比（（Ｏの平均原子濃度）／（Ｃｏの平均原子濃度））が１以上である。濃度比が１以上であると、第１の下地層１３２Ａを設ける効果が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
　カラム構造は、ＳＮＲ向上の観点から、傾斜していることが好ましい。その傾斜の方向は、長尺状の磁気テープＭＴ２の長手方向であることが好ましい。このように長手方向が好ましいのは、以下の理由による。本実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、いわゆるリニア記録用の磁気記録媒体であり、記録トラックは磁気テープＭＴ２の長手方向に平行となる。また、本実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、いわゆる垂直磁気記録媒体でもあり、記録特性の観点からすると、磁性層１１５の結晶配向軸が垂直方向であることが好ましいが、第１の下地層１３２Ａのカラム構造の傾きの影響で、磁性層１１５の結晶配向軸に傾きが生じる場合がある。リニア記録用である磁気テープＭＴ２においては、記録時のヘッド磁界との関係上、磁気テープＭＴ２の長手方向に磁性層１１５の結晶配向軸が傾いている構成が、磁気テープＭＴ２の幅方向に磁性層１１５の結晶配向軸が傾いている構成に比べて、結晶配向軸の傾きによる記録特性への影響を低減できる。磁気テープＭＴ２の長手方向に磁性層１１５の結晶配向軸を傾かせるためには、上記のように第１の下地層１３２Ａのカラム構造の傾斜方向を磁気テープＭＴ２の長手方向とすることが好ましい。
　カラム構造の傾斜角は、好ましくは０°より大きく６０°以下であることが好ましい。傾斜角が０°より大きく６０°以下の範囲では、第１の下地層１３２Ａに含まれるカラムの先端形状の変化が大きくほぼ三角山状になるため、グラニュラ構造の効果が高まり、低ノイズ化し、ＳＮＲが向上する傾向がある。一方、傾斜角が６０°を超えると、第１の下地層１３２Ａに含まれるカラムの先端形状の変化が小さくほぼ三角山状とはなりにくいため、低ノイズ効果が薄れる傾向がある。
　カラム構造の平均粒径は、３ｎｍ以上１３ｎｍ以下である。平均粒径が３ｎｍ未満であると、磁性層１１５に含まれるカラム構造の平均粒径が小さくなるため、現在の磁性材料では記録を保持する能力が低下する虞がある。一方、平均粒径が１３ｎｍ以下であると、ノイズを抑制し、より良好なＳＮＲを得ることができる。
　第１の下地層１３２Ａの平均厚みは、１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下であることが好ましい。第１の下地層１３２Ａの平均厚みが１０ｎｍ以上であると、第１の下地層１３２Ａの面心立方格子構造の（１１１）配向が向上し、より良好なＳＮＲを得ることができる。一方、第１の下地層１３２Ａの平均厚みが１５０ｎｍ以下であると、カラムの粒径が大きくなることを抑制できる。したがって、ノイズを抑制し、より良好なＳＮＲを得ることができる。なお、第１の下地層１３２Ａの平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、第１の下地層１３２Ａの厚みに応じて適宜調整される。
　第２の下地層１３２Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第２の下地層１３２Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方細密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。磁性層１１５の配向性を高め、かつ、第２の下地層１３２Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方細密充填構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えば、Ｒｕ－ＳｉＯ２、Ｒｕ－ＴｉＯ２またはＲｕ－ＺｒＯ２等のＲｕ合金酸化物が挙げられる。
　第２の下地層１３２Ｂの平均厚みは、一般的な磁気記録媒体における下地層（例えばＲｕを含む下地層）よりも薄くてもよく、例えば、１ｎｍ以上５ｎｍ以下とすることが可能である。第２の下地層１３２Ｂの下に上記の構成を有するシード層１３１および第１の下地層１３２Ａを設けているので、第２の下地層１３２Ｂの平均厚みが上記のように薄くても良好なＳＮＲが得られる。なお、第２の下地層１３２Ｂの平均厚みは、第１の実施形態における磁性層４３と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、第２の下地層１３２Ｂの厚みに応じて適宜調整される。
　第３の実施形態における磁気テープＭＴ２の平均厚みｔＴ、幅変化量およびベース層１１１の損失弾性率等は、第１の実施形態におけるものと同様である。
　第３の実施形態における磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドは、第１の実施形態におけるものと同様である。すなわち、第３の実施形態における磁性層１１５のデータバンドおよびサーボバンドの詳細については、上記２．（２）において述べた説明が当てはまる。
（３）作用効果
　上記２．の（５）において述べた作用効果に関する説明が、第３の実施形態についても当てはまる。すなわち、第１の実施形態と同様に、第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２によれば、高温環境下で起こりうる幅変化に対処可能である。したがって、第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、高温環境下での保存および走行に適している。
　第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２は、ベース層１１１と第２の下地層１３２Ｂとの間にシード層１３１および第１の下地層１３２Ａを備えている。シード層１３１は、Ｃｒ、ＮｉおよびＦｅを含み、面心立方格子構造を有し、この面心立方構造の（１１１）面がベース層１１１の表面に平行になるように優先配向している。第１の下地層１３２Ａは、ＣｏおよびＯを含み、Ｃｏの平均原子濃度に対するＯの平均原子濃度の比が１以上であり、平均粒径が３ｎｍ以上１３ｎｍ以下であるカラム構造を有する。これにより、第２の下地層１３２Ｂの厚さを薄くして高価な材料であるＲｕをできるだけ使用せずに、良好な結晶配向を有し、かつ高い抗磁力を有する磁性層１１５を実現できる。
　第２の下地層１３２Ｂに含まれるＲｕは、磁性層１１５の主成分であるＣｏと同じ六方稠密格子構造を有する。このため、Ｒｕには、磁性層１１５の結晶配向性向上とグラニュラ性促進とを両立させる効果がある。また、第２の下地層１３２Ｂに含まれるＲｕの結晶配向を更に向上させるために、第２の下地層１３２Ｂの下に第１の下地層１３２Ａおよびシード層１３１を設けている。第３の実施形態に係る磁気テープＭＴ２においては、Ｒｕを含む第２の下地層１３２Ｂとほぼ同様の効果（機能）を、面心立方格子構造を有する安価なＣｏＯを含む第１の下地層１３２Ａで実現している。このため、第２の下地層１３２Ｂの厚さを薄くできる。また、第１の下地層１３２Ａの結晶配向を高めるために、Ｃｒ、ＮｉおよびＦｅを含むシード層１３１を設けている。
５．変形例
［変形例１］
　上記の第１の実施形態では、磁気テープカートリッジが、１リールタイプのカートリッジ１０である場合について説明したが、２リールタイプのカートリッジであってもよい。
　図３２は、２リールタイプのカートリッジ３２１の構成の一例を示す分解斜視図である。カートリッジ３２１は、合成樹脂製の上ハーフ３０２と、上ハーフ３０２の上面に開口された窓部３０２ａに嵌合されて固着される透明な窓部材３２３と、上ハーフ３０２の内側に固着されリール３０６、３０７の浮き上がりを防止するリールホルダー３２２と、上ハーフ３０２に対応する下ハーフ３０５と、上ハーフ３０２と下ハーフ３０５を組み合わせてできる空間に収納されるリール３０６、３０７と、リール３０６、３０７に巻かれた磁気テープＭＴと、上ハーフ３０２と下ハーフ３０５を組み合わせてできるフロント側開口部を閉蓋するフロントリッド３０９およびこのフロント側開口部に露出した磁気テープＭＴを保護するバックリッド３０９Ａとを備える。
　リール３０６、３０７は、磁気テープＭＴを巻くためのものである。リール３０６は、磁気テープＭＴが巻かれる円筒状のハブ部３０６ａを中央部に有する下フランジ３０６ｂと、下フランジ３０６ｂとほぼ同じ大きさの上フランジ３０６ｃと、ハブ部３０６ａと上フランジ３０６ｃの間に挟み込まれたリールプレート３１１とを備える。リール３０７はリール３０６と同様の構成を有している。
　窓部材３２３には、リール３０６、３０７に対応した位置に、これらリールの浮き上がりを防止するリール保持手段であるリールホルダー３２２を組み付けるための取付孔３２３ａが各々設けられている。磁気テープＭＴは、第１の実施形態における磁気テープＭＴと同様である。
［変形例２］
　第２の実施形態に係る磁気テープＭＴ１が、ベース層１１１とＳＵＬ１１２との間に下地層をさらに備えるようにしてもよい。ＳＵＬ１１２はアモルファス状態を有するため、ＳＵＬ１１２上に形成される層のエピタキシャル成長を促す役割を担わないが、ＳＵＬ１１２の上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶配向を乱さないことが求められる。そのためには、軟磁性材料がカラムを形成しない微細な構造を有していることが好ましいが、ベース層１１１からの水分等のデガスの影響が大きい場合、軟磁性材料が粗大化し、ＳＵＬ１１２上に形成される第１、第２の下地層１１４Ａ、１１４Ｂの結晶配向を乱してしまう虞がある。ベース層１１１からの水分等のデガスの影響を抑制するためには、上記のように、ベース層１１１とＳＵＬ１１２との間に、ＴｉおよびＣｒを含む合金を含み、アモルファス状態を有する下地層を設けることが好ましい。この下地層の具体的な構成としては、第２の実施形態の第１のシード層１１３Ａと同様の構成を採用することができる。
　磁気テープＭＴ１が、第２のシード層１１３Ｂおよび第２の下地層１１４Ｂのうちの少なくとも１つの層を備えていなくてもよい。但し、ＳＮＲの向上の観点からすると、第２のシード層１１３Ｂおよび第２の下地層１１４Ｂの両方の層を備えることがより好ましい。
　磁気テープＭＴ１が、単層のＳＵＬに代えて、ＡＰＣ－ＳＵＬ（Antiparallel Coupled ＳＵＬ）を備えるようにしてもよい。
６．実施例
　以下、実施例により本技術を具体的に説明するが、本技術はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
　以下の実施例及び比較例において、磁気テープのベース層の損失弾性率は、第１の実施形態にて説明した測定方法により求められた値である。
［幅変化量］
　幅変化量を、第１の実施形態にて説明した測定方法により求めた。
［傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度の算出方法］
　図４１は、傾斜して配置されたドライブヘッドの移動角度の算出方法を説明するための模式図である。当該移動角度は、高温環境での保存を想定した幅変化に対処するために必要なドライブヘッドの移動角度である。
　図４１の左側には、初期（幅変化前）の磁気テープにおける、ドライブヘッドの２つのサーボリードヘッドの間隔（ｈ）、サーボバンドピッチ（ＳＰ）  、及びドライブヘッドの傾斜角度（１０°）が示されている。図３５の左側の場合において、Ｃｏｓ１０°＝ＳＰ／ｈである。
　図４１の右側には、サーボバンドピッチが狭くなった後（幅変化後）の磁気テープにおける、サーボバンドピッチ（ＳＰ－ΔＳＰ）、ドライブヘッドの移動角度（α）、及びドライブヘッドの移動後の傾斜角度（１０°＋α）が示されている。図４１の右側の場合において、Ｃｏｓ（１０°＋α）＝（ＳＰ－ΔＳＰ）／ｈである。この式から、ドライブヘッドの移動角度（α）は次のとおり算出される。
　１０°＋α＝Ｃｏｓ－１［（ＳＰ－ΔＳＰ）／ｈ］
　α＝Ｃｏｓ－１［（ＳＰ－ΔＳＰ）／ｈ］－１０°
［巻き直し長期間保存後の走行特性］
　６５℃、４０ＲＨ％で磁気記録カートリッジを２週間保存後、磁気テープをデータ記録再生装置５０の巻き取りリール５２に巻き取った状態で巻き外巻き内を逆転させて、さらに２週間保存後、データ記録再生装置５０を用いて磁気テープの全面記録再生を行い、走行特性について、下記３段階の基準に基づいて判定値をそれぞれ付与した。なお、評価「Ｂ、Ｃ」が望ましくない判定結果を示すものとした。磁気テープの全面記録再生を行うことができた場合、磁気テープの幅方向中央部のデータバンドの幅方向における保存前からの幅変化量を測定し、幅が最小になる部分と幅が最大になる部分の差を算出した。
Ａ：何も異常が発生しない（Ｆａｉｌ発生無し）。
Ｂ：数回走行後、サーボが読めず、システムエラーで停止する。
Ｃ：サーボが読めず、システムエラーで即時に停止する。
［実施例１］
（磁性層形成用塗料の調製工程）
　磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第１組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第１組成物と、下記配合の第２組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、磁性層形成用塗料を調製した。
（第１組成物）
バリウムフェライト（ＢａＦｅ１２Ｏ１９）磁性粉（六角板状、平均アスペクト比３．０、平均粒子体積１６００ｎｍ３）：１００質量部
塩化ビニル系樹脂（シクロヘキサノン溶液３０質量％）：３５質量部
（塩化ビニル系樹脂：重合度３００、数平均分子量Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ３Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：１０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）酸化アルミニウム粉末：７．５質量部（α－Ａｌ２Ｏ３、平均粒径８０μｍ）
（第２組成物）
カーボンブラック：２．０質量部（東海カーボン社製、商品名：シーストＳ、算術平均粒子径７０ｎｍ）
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：５．０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）ｎ－ブチルステアレート：２質量部
メチルエチルケトン：１２１．０質量部
トルエン：１２１．０質量部
シクロヘキサノン：１１６．０質量部
　上記のようにして調製した磁性層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：３．３質量部と、ステアリン酸：２質量部とを添加した。
（下地層形成用塗料の調製工程）
　下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第３組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第３組成物と、下記配合の第４組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
（第３組成物）
針状酸化鉄粉末：１００質量部
（α－Ｆｅ２Ｏ３、平均長軸長０．１１μｍ）
塩化ビニル系樹脂（シクロヘキサノン溶液３０質量％）：４６質量部
（塩化ビニル系樹脂：重合度３００、数平均分子量Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ３Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
酸化アルミニウム粉末：３質量部（α－Ａｌ２Ｏ３、平均粒径０．１μｍ）
（第４組成物）
カーボンブラック：３０質量部（旭カーボン社製、商品名：＃８０)
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：４０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）ｎ－ブチルステアレート：２質量部
メチルエチルケトン：１０８．２質量部
トルエン：１０８．２質量部
シクロヘキサノン：１００．０質量部
　上記のようにして調製した下地層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：１．５質量部と、ステアリン酸：１．５質量部とを添加した。
（バック層形成用塗料の調製工程）
　バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。カーボンブラック（旭カーボン株式会社製、商品名：＃８０）：１００質量部
ポリエステルポリウレタン：１００質量部
（日本ポリウレタン社製、商品名：Ｎ－２３０４）
メチルエチルケトン：５００質量部
トルエン：４００質量部
シクロヘキサノン：１００質量部
（成膜工程）
　上記のようにして作製した塗料を用いて、非磁性支持体としての長尺の高分子フィルムの一方の主面上に下地層および磁性層を以下のようにして形成した。
　まず、ベース層となる高分子フィルム上に下地層形成用塗料を塗布し乾燥させることにより、下地層を形成した。この際、塗布条件は、カレンダー処理後の下地層の平均厚みが０．８２μｍとなるように調整された。高分子フィルムとしては、平均厚みが４．０μｍの強化ＰＥＴ（商品名「ＳＰＡＬＴＡＮ」（登録商標）、東レ社製）を用いた。
　次に、下地層上に、磁性層形成用塗料を塗布し、乾燥させることにより、下地層上に磁性層を形成した。この際、塗布条件は、カレンダー処理後の磁性層の平均厚みが０．０８μｍとなるように調整された。磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ネオジム磁石により、磁性粉が高分子フィルムの厚み方向に磁場配向された。磁性層形成用塗料の乾燥条件（乾燥温度および乾燥時間）が調整され、長手方向における角形比が３４％に設定された。
　続いて、下地層および磁性層が形成された強化ＰＥＴフィルムの他方の主面上にバック層形成用塗料を塗布し乾燥させることにより、バック層を形成した。この際、塗布条件は、カレンダー処理後のバック層の平均厚みが０．３μｍとなるように調整された。以上により、磁気テープが得られた。 
（硬化工程）
　次に、磁気テープをロール状に巻き取ったのち、この状態で磁気テープに加熱処理を行うことにより、下地層および磁性層を硬化させた。
（カレンダー工程）
　次に、得られた磁気テープにカレンダー処理を行い、磁性層の表面を平滑化した。
（裁断の工程）
　上記のようにして得られた磁気テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断した。これにより、目的とする長尺状の磁気テープ（平均厚み５．３μｍ）が得られた。以上のとおりにして得られた磁気テープは、表１及び表２に示す特性を有した。例えば、当該磁気テープのベース層の６５℃における損失弾性率は０．０７ＧＰａであった。
（消磁工程およびサーボパターンの書き込み工程）
　当該１／２インチ幅の磁気テープをカートリッジケース内に設けられたリールに巻き付けて、磁気記録カートリッジを得た。磁気テープの消磁を行ったのち、磁気テープにサーボパターンを書き込んだ。当該サーボパターンは、磁気テープの幅方向に対して非対称な第１のサーボパターンおよび第２のサーボパターンを含んでいた。また、互いに隣接するサーボバンドにおけるサーボパターンは位相差を有していた。磁気テープを０．５５Ｎのテンションで磁気記録カートリッジに巻き込んだ状態で、６５℃、４０ＲＨ％、３６０時間保存後、磁気記録カートリッジ内に収容されている磁気テープを、磁気記録再生装置へと巻き込むように走行させながら（いわゆる順方向に走行させながら）サーボバンドピッチの測定を行った。また、保存前の初期状態にある磁気記録カートリッジ内に収容されている磁気テープについても同様に長手方向におけるサーボバンドピッチの測定を行い、保存後サーボバンドピッチと初期状態サーボバンドピッチの比で表される幅変化量を算出した。その結果を図３４に示す。図３４において、横軸は、磁気テープの長手方向における位置を示す。図３４では、テープリールに巻回された磁気テープの外周側（巻外側）の端部（ＢＯＴ）の位置を０とし、テープリールに巻回された磁気テープの内周側（巻内側）の端部（以下、ＥＯＴともいう）の位置を８４とし、磁気テープ全長が８４等分された。図３４において、縦軸は、６５℃、４０ＲＨ％、３６０時間保存後の幅変化量を示し、保存後幅／保存前幅を示す。図３４において、幅変化量が負の値を示す場合、保存前よりも保存後、磁気テープの幅が狭くなっていることを意味し、幅変化量が正の値を示す場合、保存前よりも保存後、磁気テープの幅が広くなっていることを意味する。なお、図３５～４０においても横軸及び縦軸については、図３４の説明があてはまる。図３４に示すように、位置０～２０の巻外側の幅変化量は負の値であり、位置６０～８４の巻内側の幅変化量は正の値であり、位置５５～５６の間で、幅変化量が０ｐｐｍとなった。
［実施例２ａ］
　ベース層材料として、ポリエチレンナフタレートフィルム（以下「ＰＥＮフィルム」という。）を用いる以外は実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。実施例１と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。磁気テープ長手方向における幅変化量の結果を図３５に示す。図３５に示すように、位置０～２０の巻外側の幅変化量は負の値であり、位置６０～８４の巻内側の幅変化量は正の値であり、位置５９～６０の間で、幅変化量が０ｐｐｍとなった。
［実施例２ｂ］
　磁性層の酸化アルミニウム粉末の添加量を５．０質量部、カレンダー温度を実施例２ａより１０℃高くし処理した点以外は実施例２ａと同じ方法で磁気テープを得た。実施例１と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。
［実施例２ｃ］
　磁性層の酸化アルミニウム粉末のサイズを５０ｎｍにして、カレンダー温度を実施例２ａより１０℃高くし処理した点以外は実施例２ａと同じ方法で磁気テープを得た。実施例１と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。
［実施例２ｄ］
　磁性層の酸化アルミニウム粉末の添加量を５．０質量部、カレンダー温度を比較例１ａより５℃低くし処理した点以外は比較例１ａと同じ方法で磁気テープを得た。実施例１と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。
［実施例３］
　ベース層材料として、ポリエーテルエーテルケトンフィルム（以下「ＰＥＥＫフィルム」という。）を用い、バック層の平均厚みが０．４μｍとし、平均全厚みを５．３μｍとする点以外は実施例１と同じ方法で磁気テープを得た。実施例１と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。磁気テープ長手方向における幅変化量の結果を図３６に示す。図３６に示すように、位置０～２０の巻外側の幅変化量は負の値であり、位置６０～８４の巻内側の幅変化量は正の値であり、位置３７～３８の間で、幅変化量が０ｐｐｍとなった。
［比較例１ａ］
　磁性層の酸化アルミニウム粉末のサイズを５０ｎｍにして、カレンダー温度を比較例１より１０℃低くし処理をした点以外は実施例２ａと同じ方法でテープを得た。磁気テープ長手方向における幅変化量の結果を図３７に示す。図３７に示すように、位置０～２０の巻外側の幅変化量は正の値であり、位置６０～８４の巻内側の幅変化量も正の値であった。
［比較例１ｂ］
　磁性層の酸化アルミニウム粉末のサイズを５０ｎｍにして添加量を５．０質量部、カレンダー温度を比較例１ａより５℃低くし処理をした点以外は比較例1ａと同じ方法でテープを得た。
［比較例２］
　ベース層の平均厚みを４．０μｍ、磁性層と下地層の平均厚みを１．２μｍ、バック層の平均厚みを０．４μｍとし、平均全厚みを５．６μｍとし、磁性層形成用塗料と下地層形成用塗料に配合するポリウレタン系樹脂として、Ｔｇが７０℃のものを使用し、磁性層形成用塗料に硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）１．７質量部、下地層形成用塗料に硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）０．７５質量部添加する以外は、実施例１と同じ方法で磁気テープを製造した。実施例１と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。磁気テープ長手方向における幅変化量の結果を図３８に示す。図３８に示すように、位置０～２０の巻外側の幅変化量は正の値であり、位置６０～８４の巻内側の幅変化量も正の値であった。
［比較例３］
　磁性層形成用塗料と下地層形成用塗料に配合するポリウレタン系樹脂として、Ｔｇが７０℃のものを使用し、下地層形成用塗料に硬化剤としてポリイソシアネートを添加しない以外は、実施例２ａと同じ方法で磁気テープを得た。実施例２ａと同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。磁気テープ長手方向における幅変化量の結果を図３９に示す。図３９に示すように、位置０～２０の巻外側の幅変化量は負の値であり、位置６０～８４の巻内側の幅変化量も負の値であった。
［比較例４］
　ベース層としてアラミドフィルム（以下「ＡＲＡＭＩＤフィルム」という。）を用い、磁性層形成用塗料と下地層形成用塗料に配合するポリウレタン系樹脂として、Ｔｇが７０℃のものを使用し、下地層形成用塗料に硬化剤としてポリイソシアネートを添加しない以外は、実施例２ａと同じ方法で磁気テープを得た。実施例２と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。磁気テープ長手方向における幅変化量の結果を図４０に示す。
［比較例５］
　ベース層の平均厚みを４．０μｍ、磁性層と下地層の平均厚みを１．２μｍ、バック層の平均厚みを０．４μｍとし、平均全厚みを５．６μｍとし、磁性層形成用塗料と下地層形成用塗料に配合するポリウレタ・BR>東N樹脂として、Ｔｇが７０℃のものを使用し、下地層形成用塗料に硬化剤としてポリイソシアネートを添加しない以外は、実施例２ａと同じ方法で磁気テープを得た。実施例２と同じように、当該磁気テープを用いて磁気記録カートリッジを製造し、そして、当該磁気テープにサーボパターンを記録した。
　表１及び表２は、実施例１～３及び比較例１ａ～５の磁気テープの構成及び評価結果を示す。また、図３４～４０は、実施例１～３及び比較例１ａ～４の磁気テープのそれぞれの長手方向における幅変化量を示す図である。
 
 
 
　表１に示される結果より、以下のことが分かる。
　実施例１～３の磁気テープはいずれも、６５℃、４０ＲＨ％環境下で２週間保存後、巻外、巻内を逆転させるようにまき直し、さらに前記環境下で２週間保存後、磁気記録再生装置で全面再生を行ったところ、走行特性の評価がＡであり、Ｆａｉｌが発生せず、良好な走行特性を示していた。よって、本技術に従う磁気記録カートリッジは、６０℃以上の高温環境下での保存、使用に適していることがわかる。
　実施例１及び比較例２ａについての磁気テープの長手方向におけるテープ幅の変化量の結果より、巻外側の幅変化量Δoutの符号が巻内側の幅変化量Δinの符号と異なることによって、当該磁気テープは、前記まき直し長期間保存による走行特性を向上させることができることが分かる。
　実施例２ａと比較例３との比較から、６５℃、３６０時間保存後の（磁気テープの巻内側の幅変化量Δin）－（磁気テープの巻外側の幅変化量Δout）が、８００ｐｐｍ以下であると前記まき直し長期間保存による走行特性を向上させることができることが分かる。
　実施例１と比較例３との比較から、磁気テープの長手方向の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の磁気テープの全長の中心線を挟む２つの領域であるＣ領域において、６５℃で３６０時間保存後における前記磁気テープの幅変化量Δが０ｐｐｍであることにより、前記まき直し長期間保存による走行特性を向上させることができることが分かる。
　実施例２ａと比較例４との比較から、ベース層の６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であることにより、前記まき直し長期間保存による走行特性を向上させることができることが分かる。
　実施例２ｃと比較例１ｂとの比較から、高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであることにより、電磁変換特性に優れ、摩擦上昇を抑制できることが分かる。
　実施例２ａと比較例１ａとの比較から、勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であることにより、電磁変換特性に優れ、摩擦上昇を抑制できることが分かる。
　以上、本技術の実施形態及び実施例について具体的に説明したが、本技術は、上述の実施形態及び実施例に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
　例えば、上述の実施形態及び実施例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料、及び数値等はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料、及び数値等を用いてもよい。また、化合物等の化学式は代表的なものであって、同じ化合物の一般名称であれば、記載された価数等に限定されない。
　また、上述の実施形態及び実施例の構成、方法、工程、形状、材料、及び数値等は、本技術の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
　また、本明細書において、「～」を用いて示された数値範囲は、「～」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。本明細書に段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値または下限値は、他の段階の数値範囲の上限値または下限値に置き換えてもよい。本明細書に例示する材料は、特に断らない限り、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いることができる。
　なお、本技術は、以下のような構成をとることもできる。
〔１〕
　カートリッジケースと、
　リールと、
　前記リールに巻かれた状態で前記カートリッジケース内に収容された磁気記録媒体と、を有し、
　前記磁気記録媒体が前記リールに巻かれた状態で、６５℃で３６０時間保存後に全長にわたって前記磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、
　前記磁気記録媒体の巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気記録媒体の巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、
　前記幅変化量が、前記磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、
　前記磁気記録媒体は、磁性層を備え、
　前記磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、
　前記凹凸形状の高さの統計情報から求められた高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、
　前記凹凸形状の勾配の統計情報から求められた勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、
　前記磁気記録媒体は、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を有する、
磁気記録カートリッジ。
〔２〕
　前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δinが正の値であり、且つ、前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δoutが負の値である、〔１〕に記載の磁気記録カートリッジ。
〔３〕
　前記磁気記録媒体の長手方向の全長を１００％としたときに、前記磁気記録媒体の巻外側端部から２５％～７５％の位置において、６５℃で３６０時間保存後における前記磁気記録媒体の幅変化量Δが０ｐｐｍである、〔１〕又は〔２〕に記載の磁気記録カートリッジ。
〔４〕
　前記磁気記録媒体は、（前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δin）－（前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δout）が、８００ｐｐｍ以下である、〔１〕～〔３〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔５〕
　前記ベース層の６５℃における貯蔵弾性率が８．０ＧＰａ以下である、〔１〕～〔４〕のいずれか１つ請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
〔６〕
　前記ベース層がＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、又はＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）から形成されている、〔１〕～〔５〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔７〕
　前記磁気記録媒体の平均厚みｔＴが５．４μｍ以下である、〔１〕～〔６〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔８〕
　前記ベース層の平均厚みｔＢが４．６μｍ以下である、〔１〕～〔７〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔９〕
　前記磁性層が磁性粉を含む、〔１〕～〔８〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１０〕
　前記磁性層は、磁性粒子、導電性を有する第１粒子および研磨効果のある第２粒子を含み、前記凹凸形状は、前記第１粒子により形成された第１突起と、前記第２粒子により形成された第２突起とを含み、前記第１突起の平均高さＨ１と前記第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２が、Ｈ１／Ｈ２≦２．３である、〔１〕～〔９〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。　
〔１１〕
　前記比Ｈ１／Ｈ２が、１．０≦Ｈ１／Ｈ２≦１．７以下である、〔１０〕に記載の磁気記録カートリッジ。
〔１２〕
　前記高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦４．００ｎｍである、〔１〕～〔１１〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１３〕
　前記第１突起の平均高さＨ１が、５．０ｎｍ以上１２．０ｎｍ以下であり、前記第２突起の平均高さＨ２が、２．０ｎｍ以上７．０ｎｍ以下である、〔１０〕～〔１２〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１４〕
　前記第１粒子が、カーボン粒子である、〔１０〕～〔１３〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１５〕
　前記第２粒子が、アルミナ粒子である、〔１０〕～〔１４〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１６〕
　前記磁性層の平均厚みは、８０ｎｍ以下である、〔１〕～〔１５〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１７〕
　前記磁気記録媒体は、さらに、平均厚みが０．９μｍ以下である下地層を有する、〔１〕～〔１６〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１８〕
　前記磁性粒子の平均粒子体積が、１６００ｎｍ３以下である、〔１０〕～〔１７〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。
〔１９〕
　前記磁性層は、磁性粒子、カーボン粒子および研磨剤を含み、前記凹凸形状は、前記カーボン粒子により形成された第１突起と、前記研磨剤により形成された第２突起とを含み、前記第１突起の平均高さＨ１と前記第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２が、Ｈ１／Ｈ２≦２．３である、〔１〕～〔１８〕のいずれか１つに記載の磁気記録カートリッジ。〔２０〕
　磁気記録カートリッジのリールに巻かれた状態で当該磁気記録カートリッジのカートリッジケース内に収容された磁気記録媒体であって、
　前記磁気記録媒体が前記リールに巻かれた状態で、６５℃で３６０時間保存後に全長にわたって前記磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、
　前記磁気記録媒体の巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気記録媒体の巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、
　前記幅変化量が、前記磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、
　前記磁気記録媒体は、磁性層を備え、
　前記磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、
　前記凹凸形状の高さの統計情報から求められた高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、
　前記凹凸形状の勾配の統計情報から求められた勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、
　前記磁気記録媒体は、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を有する、
磁気記録媒体。
ＭＴ　磁気テープ
１０　磁気記録カートリッジ
１３　リール
４１　ベース層
４２　下地層
４３　磁性層
４４　バック層 

Claims (20)

  1. 　カートリッジケースと、
    　リールと、
    　前記リールに巻かれた状態で前記カートリッジケース内に収容された磁気記録媒体と、を有し、
    　前記磁気記録媒体が前記リールに巻かれた状態で、６５℃で３６０時間保存後に全長にわたって前記磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、
    　前記磁気記録媒体の巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気記録媒体の巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、
    　前記幅変化量が、前記磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、
    　前記磁気記録媒体は、磁性層を備え、
    　前記磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、
    　前記凹凸形状の高さの統計情報から求められた高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、
    　前記凹凸形状の勾配の統計情報から求められた勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、
    　前記磁気記録媒体は、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を有する、
    磁気記録カートリッジ。
  2. 　前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δinが正の値であり、且つ、前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δoutが負の値である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  3. 　前記磁気記録媒体の長手方向の全長を１００％としたときに、前記磁気記録媒体の巻外側端部から２５％～７５％の位置において、６５℃で３６０時間保存後における前記磁気記録媒体の幅変化量Δが０ｐｐｍである、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  4. 　前記磁気記録媒体は、（前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δin）－（前記磁気記録媒体の前記幅変化量Δout）が、８００ｐｐｍ以下である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  5. 　前記ベース層の６５℃における貯蔵弾性率が８．０ＧＰａ以下である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  6. 　前記ベース層がＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、又はＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）から形成されている、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  7. 　前記磁気記録媒体の平均厚みｔＴが５．４μｍ以下である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  8. 　前記ベース層の平均厚みｔＢが４．６μｍ以下である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  9. 　前記磁性層が磁性粉を含む、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  10. 　前記磁性層は、磁性粒子、導電性を有する第１粒子および研磨効果のある第２粒子を含み、前記凹凸形状は、前記第１粒子により形成された第１突起と、前記第２粒子により形成された第２突起とを含み、前記第１突起の平均高さＨ１と前記第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２が、Ｈ１／Ｈ２≦２．３である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。　
  11. 　前記比Ｈ１／Ｈ２が、１．０≦Ｈ１／Ｈ２≦１．７以下である、請求項１０に記載の磁気記録カートリッジ。
  12. 　前記高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦４．００ｎｍである、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  13. 　前記第１突起の平均高さＨ１が、５．０ｎｍ以上１２．０ｎｍ以下であり、前記第２突起の平均高さＨ２が、２．０ｎｍ以上７．０ｎｍ以下である、請求項１０に記載の磁気記録カートリッジ。
  14. 　前記第１粒子が、カーボン粒子である、請求項１０に記載の磁気記録カートリッジ。
  15. 　前記第２粒子が、アルミナ粒子である、請求項１０に記載の磁気記録カートリッジ。
  16. 　前記磁性層の平均厚みは、８０ｎｍ以下である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  17. 　前記磁気記録媒体は、さらに、平均厚みが０．９μｍ以下である下地層を有する、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  18. 　前記磁性粒子の平均粒子体積が、１６００ｎｍ３以下である、請求項１０に記載の磁気記録カートリッジ。
  19. 　前記磁性層は、磁性粒子、カーボン粒子および研磨剤を含み、前記凹凸形状は、前記カーボン粒子により形成された第１突起と、前記研磨剤により形成された第２突起とを含み、前記第１突起の平均高さＨ１と前記第２突起の平均高さＨ２の比Ｈ１／Ｈ２が、Ｈ１／Ｈ２≦２．３である、請求項１に記載の磁気記録カートリッジ。
  20. 　磁気記録カートリッジのリールに巻かれた状態で当該磁気記録カートリッジのカートリッジケース内に収容された磁気記録媒体であって、
    　前記磁気記録媒体が前記リールに巻かれた状態で、６５℃で３６０時間保存後に全長にわたって前記磁気記録媒体の幅変化量を測定したときに、
    　前記磁気記録媒体の巻外側の幅変化量Δoutの符号が前記磁気記録媒体の巻内側の幅変化量Δinの符号と異なり、且つ、
    　前記幅変化量が、前記磁気記録媒体の全長を４等分して４つの領域に分割した場合の全長の中心線を挟む２つの領域のいずれかの位置において、０ｐｐｍであり、且つ、
    　前記磁気記録媒体は、磁性層を備え、
    　前記磁性層は、凹凸形状を磁性面に有し、
    　前記凹凸形状の高さの統計情報から求められた高さ範囲ΔＨが、３．００ｎｍ≦ΔＨ≦６．００ｎｍであり、
    　前記凹凸形状の勾配の統計情報から求められた勾配範囲ΔＡが、３．８０度≦ΔＡ≦９．００度であり、
    　前記磁気記録媒体は、６５℃における損失弾性率が０．４０ＧＰａ以下であるベース層を有する、
    磁気記録媒体。
      
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