JP7440492B2 - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7440492B2
JP7440492B2 JP2021508918A JP2021508918A JP7440492B2 JP 7440492 B2 JP7440492 B2 JP 7440492B2 JP 2021508918 A JP2021508918 A JP 2021508918A JP 2021508918 A JP2021508918 A JP 2021508918A JP 7440492 B2 JP7440492 B2 JP 7440492B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
laser device
laser elements
lens
axis direction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021508918A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2020195659A1 (ja
JPWO2020195659A5 (ja
Inventor
雅春 深草
秀雄 山口
亘志 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Publication of JPWO2020195659A1 publication Critical patent/JPWO2020195659A1/ja
Publication of JPWO2020195659A5 publication Critical patent/JPWO2020195659A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7440492B2 publication Critical patent/JP7440492B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures
    • H01S5/4062Edge-emitting structures with an external cavity or using internal filters, e.g. Talbot filters
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/02Simple or compound lenses with non-spherical faces
    • G02B3/06Simple or compound lenses with non-spherical faces with cylindrical or toric faces
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/02Simple or compound lenses with non-spherical faces
    • G02B3/08Simple or compound lenses with non-spherical faces with discontinuous faces, e.g. Fresnel lens
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/08Construction or shape of optical resonators or components thereof
    • H01S3/08059Constructional details of the reflector, e.g. shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/08Construction or shape of optical resonators or components thereof
    • H01S3/081Construction or shape of optical resonators or components thereof comprising three or more reflectors
    • H01S3/0811Construction or shape of optical resonators or components thereof comprising three or more reflectors incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection
    • H01S3/0812Construction or shape of optical resonators or components thereof comprising three or more reflectors incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection using a diffraction grating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/02218Material of the housings; Filling of the housings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/023Mount members, e.g. sub-mount members
    • H01S5/02325Mechanically integrated components on mount members or optical micro-benches
    • H01S5/02326Arrangements for relative positioning of laser diodes and optical components, e.g. grooves in the mount to fix optical fibres or lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4012Beam combining, e.g. by the use of fibres, gratings, polarisers, prisms
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/08Construction or shape of optical resonators or components thereof
    • H01S3/081Construction or shape of optical resonators or components thereof comprising three or more reflectors
    • H01S3/0813Configuration of resonator
    • H01S3/0815Configuration of resonator having 3 reflectors, e.g. V-shaped resonators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/02208Mountings; Housings characterised by the shape of the housings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02253Out-coupling of light using lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/023Mount members, e.g. sub-mount members
    • H01S5/02325Mechanically integrated components on mount members or optical micro-benches
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/02345Wire-bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management
    • H01S5/02469Passive cooling, e.g. where heat is removed by the housing as a whole or by a heat pipe without any active cooling element like a TEC
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/14External cavity lasers
    • H01S5/141External cavity lasers using a wavelength selective device, e.g. a grating or etalon
    • H01S5/143Littman-Metcalf configuration, e.g. laser - grating - mirror
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4087Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

本開示は、複数の半導体レーザ素子を備える半導体レーザ装置に関する。
指向性の優れた半導体レーザ素子として、1ワットを超える光出力が得られるものが開発されており、多数の半導体レーザ素子からのレーザ光を束ねることで、数百ワット以上数千ワット以下程度の光を出力できるレーザ光源装置が提案されている。これらの高い光出力を得られる半導体レーザ装置は、例えば、被加工物に照射することによって、加工を行う熱源として利用されている。例えば、これらの半導体レーザ装置は、金属材料の溶接、金属板の切断などに利用されている。多数の半導体レーザ素子からのレーザ光を束ねる方法としては、例えば、空間結合又は波長結合があり、高輝度のレーザ光を得るために、結合光学系の工夫がなされている。
例えば、特許文献1に記載されたレーザ・アセンブリにおいては、複数の半導体レーザ素子がそのファースト軸(つまり、速軸)を含む平面内において、所定の位置を中心として放射状に配置される。これにより、所定の位置にレーザ光を集光しようとしている。
また、特許文献2に記載されたレーザ装置においては、複数のレーザモジュールからの異なる波長のレーザ光をレンズを用いて回折格子上に集光して波長結合している。
特開2011-86905号公報 国際公開第2017/134911号
しかしながら、特許文献1に記載されたレーザ・アセンブリにおいては、複数の半導体レーザ素子が、放射状に配置されているため、複数のレーザ・アセンブリ間を乖離して配置しなければならない。これに伴い、所定の角度範囲内に配置できるレーザ素子の数が制限されるため、光出力も制限される。
また、特許文献2に記載されたレーザ装置においては、レンズで集光された各モジュールからのレーザ光が回折格子に入射する。回折格子に入射するレーザ光は、それぞれ平行光ではなく収束光である。回折格子で波長結合されるレーザ光は、各モジュールの発振波長に対応した入射角を有するレーザ光のみであるので、収束光のうち所定の角度を有しないレーザ光の成分は、回折格子から出射した後に発散してしまう。このため、回折格子から出射したレーザ光をレンズで集光して光ファイバに入射させる際に結合ロスが発生する。さらに、より径の小さい光ファイバへの結合においては、より一層結合ロスが増大する。また、回折格子にレンズでレーザ光を集光しているために、回折格子上での光密度が非常に高く、回折格子を破壊してしまうおそれがある。このため、結合できるレーザ光の数にも制約があり、高出力化が難しい。
本開示は、このような課題を解決するものであり、波長分散素子によって波長結合を行う半導体レーザ装置において、波長分散素子における光密度を抑制しつつ、高輝度なレーザ光を出射できる半導体レーザ装置を提供する。
上記課題を解決するために、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様は、互いに異なる波長の光を出射する複数の半導体レーザ素子と、前記複数の出射光の少なくとも一つを偏向する偏向素子と、前記複数の半導体レーザ素子からの複数の出射光を同一光軸上に波長結合する波長分散素子とを備え、前記偏向素子は、複数の出射光にそれぞれ対応した複数の平面を有し、前記複数の出射光は、前記波長分散素子上で互いに重なる。
これにより、複数の半導体レーザ素子の間隔を小さく配置しても、偏向素子の複数の平面の傾斜を適切に設定することで、波長分散素子上で、複数の出射光を重ねることができる。これにより、単位面積当たりの半導体レーザ素子の数を増やすことができるため、半導体レーザ装置の中に配置できる半導体レーザ素子の数も大きくすることができ、半導体レーザ装置の高出力化を実現できる。また、複数の出射光は、偏向素子によって、収束されないため、平行光の状態で波長分散素子に入射することが可能となる。したがって、波長分散素子上でのビーム径を大きくすることができるため、複数の出射光を重ねても、複数の収束光を重ねる場合より、光密度を抑制できる。これにより波長分散素子へのダメージを抑制しつつ、より多くの半導体レーザ素子からの出射光を重ねることができるため、半導体レーザ装置の高出力化を実現できる。
また、波長分散素子に入射する各レーザ光を入射角度分布が小さい平行光とすることができるため、波長分散素子によって、各レーザ光を平行光の状態で結合できる。これにより部分反射ミラーから出力される出射光として、ビーム品質の高い高輝度のレーザ光を得ることができる。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数の出射光は、第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する第2軸方向に発散角を有し、前記半導体レーザ装置は、前記発散角を変換する複数のレンズをさらに備え、前記複数の平面のうち少なくとも一つの平面は、対応する出射光の光軸に対して傾斜しており、前記複数の半導体レーザ素子は、前記第1軸方向及び前記第2軸方向の一方の軸方向に配列されてもよい。
このように、複数の平面のうち少なくとも一つの平面が、対応する出射光の光軸に対して傾斜していることで、対応する出射光を偏向することができる。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様は、前記波長分散素子によって波長結合された前記複数の出射光の一部を反射し、他の一部を透過し、前記複数の半導体レーザ素子との間で外部共振器を形成する部分反射ミラーをさらに備えてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数のレンズは、前記第軸方向のレーザ光の発散角を低減する第1レンズを含んでもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数のレンズは、前記第2軸方向における前記複数の出射光の発散角を低減する第2レンズを含んでもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記第2レンズは、前記第1レンズと前記波長分散素子との間に配置されてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記一方の軸方向において、前記複数の出射光の各々のビームパラメータ積が1[mm・mrad]以下であってもよい。
この場合、複数の出射光の二つの軸方向のうち、複数の出射光を重ねる軸方向におけるビームパラメータ積が1[mm・mrad]以下となるため、各出射光の重なりのずれが発生する場合にも、ずれの許容範囲が大きくなる。これにより、波長分散によって結合される軸方向のビーム品質の劣化を抑制できるため、高輝度なレーザ光を出力可能な半導体レーザ装置を実現できる。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記偏向素子は、前記複数の出射光が入射する入射面、及び、前記入射面から入射した前記複数の出射光が出射する出射面を有し、前記複数の平面は、前記複数の出射光をそれぞれ透過する透過面であり、前記入射面及び前記出射面の少なくとも一方に含まれていてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数の平面は、前記複数の出射光をそれぞれ反射する反射面であってもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記一方の軸方向は、前記第1軸方向であり、前記第1レンズは、ファースト軸コリメータであり、前記第2レンズは、スロー軸コリメータであってもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様は、前記複数の半導体レーザ素子がそれぞれ実装され、金属材料で形成された複数のパッケージをさらに備え、前記複数のパッケージの各々は、前記複数の半導体レーザ素子のうち、当該パッケージに実装される半導体レーザ素子に電力を供給する複数のリードピンを有し、前記複数のパッケージの各々の光出射部には、前記第1レンズが配置され、前記複数のパッケージの各々は、前記複数の半導体レーザ素子の各々が実装される実装面を有し、前記複数のパッケージの各々は、前記実装面に平行な二つの平面を有し、前記二つの平面間の距離は当該パッケージの厚さに相当し、前記複数の半導体レーザ素子が配置される間隔に等しくてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数の半導体レーザ素子は、それぞれ、導電性材料で形成されたサブマウントを介して前記複数のパッケージに実装されており、前記複数のリードピンの一つは、前記複数のパッケージと同電位であり、前記複数の半導体レーザ素子は、電圧駆動されてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数の半導体レーザ素子は、それぞれ、電気絶縁性材料で形成されたサブマウントを介して前記複数のパッケージに実装されており、前記複数のリードピンと前記複数のパッケージとは絶縁されており、前記複数の半導体レーザ素子は、電流駆動されてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数のパッケージは、それぞれ、前記複数の半導体レーザ素子を気密封止してもよい。
これにより、パッケージ内の雰囲気をコントロールできるため、半導体レーザ素子の劣化を抑制できる。特に、半導体レーザ素子が青色光、紫外光などの比較的短波長のレーザ光を出射する場合には、パッケージ内へのシロキサンの流入を抑制することで、半導体レーザ素子などへのシロキサンの堆積を低減できる。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数の出射光の各々の前記第1軸方向及び前記第2軸方向におけるビームパラメータ積は、1[mm・mrad]以下であり、前記複数の半導体レーザ素子は、前記第2軸方向に配列され、前記第1レンズは、ファースト軸コリメータであり、前記第2レンズは、スロー軸コリメータであってもよい。
この場合、複数の出射光の二つの軸方向のうち、出射光を重ねる軸方向におけるビームパラメータ積が1[mm・mrad]以下となるため、各出射光の重なりのずれが発生した場合にも、ずれの許容範囲が大きくなる。これにより、波長分散によって結合される軸方向のビーム品質を維持できるため、高輝度なレーザ光を出力可能な半導体レーザ装置を実現できる。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様は、前記複数の半導体レーザ素子が実装され、金属材料で形成された一つのパッケージをさらに備え、前記一つのパッケージは、前記複数の半導体レーザ素子に電力を供給する複数のリードピンを有し、前記一つのパッケージには、前記第1レンズが配置されていてもよい。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記複数の半導体レーザ素子は、一つのサブマウントを介して前記一つのパッケージに実装されてもよい。
このように、一つのサブマウントに複数の半導体レーザ素子を実装することにより、複数の出射光の光軸のずれを低減できる。したがって、半導体レーザ装置は、より高輝度なレーザ光を出力できる。
また、本開示に係る半導体レーザ装置の一態様において、前記一つのパッケージは、前記複数の半導体レーザ素子を気密封止してもよい。
これにより、パッケージ内の雰囲気をコントロールできるため、半導体レーザ素子の劣化を抑制できる。特に、半導体レーザ素子が青色光、紫外光などの比較的短波長のレーザ光を出射する場合には、パッケージ内へのシロキサンの流入を抑制することで、半導体レーザ素子などへのシロキサンの堆積を低減できる。
本開示によれば、波長分散素子によって波長結合を行う半導体レーザ装置において、波長分散素子における光密度を抑制しつつ、高輝度なレーザ光を出射できる半導体レーザ装置を提供できる。
図1Aは、実施の形態1に係る半導体レーザ装置の全体構成を示す模式的な上面図である。 図1Bは、実施の形態1に係る半導体レーザ装置の全体構成を示す模式的な側面図である。 図2Aは、実施の形態1に係る光源ユニットの上面側の外観を示す斜視図である。 図2Bは、実施の形態1に係る光源ユニットの下面側の外観を示す斜視図である。 図2Cは、本実施の形態1に係る光源ユニットの構成を示す分解斜視図である。 図3Aは、実施の形態1に係る光源モジュールの外観を示す斜視図である。 図3Bは、実施の形態1に係る光源モジュールの構成を示す部品展開図である。 図4Aは、実施の形態1に係る偏向素子の外観を示す斜視図である。 図4Bは、実施の形態1に係る偏向素子の形状を示す側面図及び上面図である。 図5は、実施の形態1に係る半導体レーザ装置の作用及び効果を説明するための図である。 図6Aは、実施の形態1に係る偏向素子の複数の平面の第1の設計例を示すグラフである。 図6Bは、実施の形態1に係る偏向素子の複数の平面の第2の設計例を示すグラフである。 図6Cは、実施の形態1に係る偏向素子の複数の平面の第3の設計例を示すグラフである。 図6Dは、実施の形態1に係る偏向素子の複数の平面の第4の設計例を示すグラフである。 図7は、実施の形態2に係る光源ユニットの構成を示す模式的な上面図である。 図8は、実施の形態2に係る半導体レーザ装置の構成を示す模式的な上面図である。 図9は、実施の形態3に係る半導体レーザ装置の構成を示す模式的な上面図である。 図10は、実施の形態4に係る光源ユニットの外観を示す模式的な斜視図である。 図11は、実施の形態4に係る光源ユニットの構成を示す分解斜視図である。 図12は、実施の形態4に係る光源モジュールの構成を示す分解斜視図である。 図13は、実施の形態4に係る複数の半導体レーザ素子及びサブマウントの外観を示す斜視図である。
以下、本開示の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本開示の一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される、数値、形状、材料、構成要素、及び、構成要素の配置位置や接続形態などは、一例であって本開示を限定する主旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本開示の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
また、各図は模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。したがって、各図において縮尺等は必ずしも一致していない。なお、各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。
また、本明細書及び図面において、X軸、Y軸及びZ軸は、三次元直交座標系の三軸を表している。X軸及びY軸は、互いに直交し、かつ、いずれもZ軸に直交する軸である。
(実施の形態1)
実施の形態1に係る半導体レーザ装置について説明する。
[全体構成]
まず、本実施の形態に係る半導体レーザ装置の全体構成について図1A及び図1Bを用いて説明する。図1A及び図1Bは、それぞれ、本実施の形態に係る半導体レーザ装置1の全体構成を示す模式的な上面図及び側面図である。
本実施の形態に係る半導体レーザ装置1は、波長分散素子によって複数の出射光の波長結合を行うレーザ光源である。半導体レーザ装置1は、図1A及び図1Bに示されるように、光源ユニット300と、波長分散素子70と、部分反射ミラー80とを備える。
光源ユニット300は、複数の半導体レーザ素子を有するユニットである。光源ユニット300について、図2A~図2Cを用いて説明する。図2A及び図2Bは、それぞれ、本実施の形態に係る光源ユニット300の上面側及び下面側の外観を示す斜視図である。図2Cは、本実施の形態に係る光源ユニット300の構成を示す分解斜視図である。
図2A及び図2Cに示されるように、光源ユニット300は、複数の光源モジュール200a~200iと、第2レンズ40と、レンズホルダ41と、偏向素子50と、ユニットベース301とを有する。なお、上述の図1Bにおいては、簡略化のために、ユニットベース301及びレンズホルダ41の図示が省略されている。また、図2Cにおいては、複数の光源モジュール200a~200iのうち、光源モジュール200iだけが示されている。また、図2B及び図2Cに示されるように、光源ユニット300は、回路基板310をさらに有する。
ユニットベース301は、光源ユニット300の基台であり、複数の光源モジュール200a~200iなどが取り付けられる。図2Cに示されるように、ユニットベース301は、板状の形状を有する。ユニットベース301には、固定穴304及び305、貫通孔302及び303が形成されている。固定穴304は、複数の光源モジュール200a~200iの各々を固定するためのネジ90がねじ込まれるネジ穴である。固定穴305は、レンズホルダ41を固定するためのネジ90がねじ込まれるネジ穴である。貫通孔302は、複数の光源モジュール200a~200iの各々のリードピン23及び24が挿入される長孔である。貫通孔303は、ユニットベース301を固定するためのネジなどが挿入される孔である。
回路基板310は、複数の光源モジュール200a~200iに電力を供給する基板である。図2B及び図2Cに示されるように、回路基板310は、ユニットベース301の裏面(つまり、各光源モジュールなどが配置される面の裏側の面)に配置される。回路基板310には、回路基板310に電力を供給するリード線である電力供給リード313が接続される。回路基板310には、複数の光源モジュール200a~200iの各リードピン23及び23を接続するための貫通孔311が形成されている。また、回路基板310には、電力供給リード313から貫通孔311までのプリント配線312などが形成され、当該プリント配線312を介して電力供給リード313からリードピン23及び24に電力が供給される。図2Bに示される例では、複数の光源モジュール200a~200iが直列に接続されて、同一の電流が供給される場合、つまり、電流駆動の場合のプリント配線312が図示されている。なお、回路基板310は、電力供給リード313から供給された電圧及び電流の少なくとも一方を変換するための回路を有してもよい。
複数の光源モジュール200a~200iの各々は、半導体レーザ素子を有するモジュールである。なお、本実施の形態に係る光源ユニット300は、9個の光源モジュール200a~200iを有するが、光源モジュールの個数は複数であれば特に限定されない。以下、複数の光源モジュール200a~200iの構成について、図3A及び図3Bを用いて説明する。図3Aは、本実施の形態に係る光源モジュール200の外観を示す斜視図である。図3Bは、本実施の形態に係る光源モジュール200の構成を示す部品展開図である。図3Bにおいては、半導体レーザ素子10付近の破線枠内の拡大図も併せて示されている。図1Aに示される複数の光源モジュール200a~200iの各々は、図3A及び図3Bに示される光源モジュール200と同様の構成を有する。
図3A及び図3Bに示されるように、光源モジュール200は、パッケージ20と、第1レンズ30とを有する。本実施の形態では、図3Bに示されるように、光源モジュール200は、半導体レーザ素子10と、サブマウント11とカバーガラス26とを有する。パッケージ20は、半導体レーザ素子10が実装され、金属材料で形成されたケースである。パッケージ20は、枠体22と、蓋29と、複数のリードピン23及び24とを有する。
枠体22は、パッケージ20の本体部であり、開口部22aと、光出射部25と、貫通孔21とが形成されている。開口部22aは、パッケージ20の内部とつながる開口であり、半導体レーザ素子10などをパッケージ20内に挿入するための挿入口である。本実施の形態では、開口部22aは、矩形状の形状を有する。光出射部25は、枠体22の一面に形成された開口であり、パッケージ20の内部に実装された半導体レーザ素子10からの出射光が通る。光出射部25には、第1レンズ30が配置される。蓋29は、枠体22の開口部22aを塞ぐ板状部材であり、開口部22aと同様に矩形状の形状を有する。リードピン23及び24の各々は、半導体レーザ素子10に電力を供給する端子である。貫通孔21は、パッケージ20をユニットベース301に固定するためのネジ90が挿入される孔である。貫通孔21に挿入されたネジ90は、図2Cに示されるようにユニットベース301に形成されたネジ穴である固定穴304にねじ込まれる。これにより、光源モジュール200がユニットベース301に固定される。また、光源モジュール200がユニットベース301に固定される際に、リードピン23及び24は、ユニットベース301の貫通孔302に挿入され、図2Cに示される回路基板310の貫通孔311にさらに挿入される。回路基板310の貫通孔311に挿入されたリードピン23及び24は、半田などを用いて回路基板310に固定され、かつ、プリント配線312に電気的に接続される。
図3Bに示されるように、パッケージ20は、半導体レーザ素子10が実装される実装面27を有する。また、パッケージ20は、実装面27に平行な二つの平面201a及び201bを有し、二つの平面201a及び201b間の距離はパッケージ20の厚さH(図3A参照)に相当する。本実施の形態では、図1A及び図2Aに示されるように、複数の光源モジュール200a~200iは、パッケージ20の厚さ方向にほぼ隙間なく配列される。つまり、パッケージ20の厚さHは、複数の半導体レーザ素子10が配置される間隔に等しい。ここで、パッケージ20の厚さHが、複数の半導体レーザ素子10が配置される間隔に等しいとの記載が意味する構成には、パッケージ20の厚さHが半導体レーザ素子10が配置される間隔と完全に一致する構成だけでなく、パッケージ20の厚さHが半導体レーザ素子10が配置される間隔とほぼ一致する構成も含まれる。パッケージ20の厚さHが、複数の半導体レーザ素子10が配置される間隔に等しいとの記載が意味する構成には、例えば、パッケージ20の厚さHと半導体レーザ素子10が配置される間隔との誤差が5%以内である構成が含まれてもよい。
また、光源モジュール200a~200iが、上述したようにユニットベース301上に配置されることにより、複数の半導体レーザ素子10からの複数の出射光の光軸は、同一平面内に存在する。図1Aなどに示される例では、複数の出射光の光軸は、ZX平面に平行な平面内に存在する。ここで、複数の出射光の光軸が、同一平面内に存在するとの記載が意味する構成には、各光軸が完全に同一平面内に存在する構成だけでなく、各光軸が完全に略同一平面内に存在する構成も含まれる。複数の出射光の光軸が、同一平面内に存在するとの記載が意味する構成には、複数の出射光の光軸が、製造誤差、組立誤差などに起因する程度だけ所定の平面からずれる構成も含まれてもよい。例えば、各光軸の方向のずれが5°程度以下である構成も含まれてもよいし、各光軸の位置の所定の平面からのずれが、各出射光のスポットサイズの20%程度以下である構成も含まれてもよい。
パッケージ20は、例えば、金属材料で形成される。なおリードピン23及び24と枠体22との間には、絶縁部材が挿入される。これにより、リードピン23及び24と枠体22などとが導通することを抑制できる。リードピン23及び24はそれぞれ棒状の形状を有し、パッケージ20の枠体22を貫通して、一端がパッケージ20に内部に、他端がパッケージ20の外部に配置される。リードピン23及び24のパッケージ20の内部に配置される一端には、平面状の形状を有するボンディング面23b及び24bがそれぞれ形成されている。ボンディング面23bには、第1導電ワイヤ23wの一端がボンディングされ、ボンディング面24bには、第2導電ワイヤ24wの一端がボンディングされる。第1導電ワイヤ23wの他端は、サブマウント11に形成された導電膜12にボンディングされる。これにより、第1導電ワイヤ23wは、導電膜12を介して、半導体レーザ素子10のn側電極に接続される。また、第2導電ワイヤ24wの他端は、半導体レーザ素子10に接続される。より具体的には、第2導電ワイヤ24wの他端は、半導体レーザ素子10のp側電極に接続される。
また、本実施の形態では、パッケージ20は、半導体レーザ素子10を気密封止する。つまり、枠体22の開口部22aと蓋29との間、光出射部25とカバーガラス26との間などはシールされる。これにより、パッケージ20内の雰囲気をコントロールできるため、半導体レーザ素子10の劣化を抑制できる。特に、半導体レーザ素子10が青色光、紫外光などの比較的短波長のレーザ光を出射する場合には、パッケージ20内へのシロキサンの流入を抑制することで、半導体レーザ素子10などへのシロキサンの堆積を低減できる。
半導体レーザ素子10は、出射光を出射する半導体発光素子であり、互いに異なる波長の光を出射する。本実施の形態では、半導体レーザ素子10は、レーザ共振方向における一方の端部において高反射率の反射膜(不図示)が形成されており、他方の端部においては、図3Bに示されるように低反射膜13が形成されている。
複数の半導体レーザ素子10からの複数の出射光は、第1軸方向及び第2軸方向に発散角を有する。本実施の形態では、第1軸方向及び第2軸方向は、それぞれ、ファースト軸方向及びスロー軸方向である。また、図3Bなどに示される例では、第1軸方向は、X軸方向に平行であり、第2軸方向は、第1軸方向と直交し、Y軸方向に平行である。本実施の形態では、複数の半導体レーザ素子10は、図1A及び図2Aに示されるように、第1軸方向に配列される。より詳しくは、複数の半導体レーザ素子10は、第1軸方向に等間隔に配置される。半導体レーザ素子10の構成は特に限定されないが、例えば、半導体レーザ素子10は、GaN系の半導体材料からなるレーザ素子である。
サブマウント11は、パッケージ20の実装面27に実装される部材である。サブマウント11には、半導体レーザ素子10が実装される。つまり、半導体レーザ素子10は、サブマウント11を介してパッケージ20に実装される。より詳しくは、半導体レーザ素子10は、サブマウント11の一つの主面に実装される。本実施の形態では、半導体レーザ素子10のn側電極がサブマウント11の上面11mに実装される。サブマウント11の上面11mには、導電膜12が形成されており、半導体レーザ素子10のn側電極と接続される。
本実施の形態では、サブマウント11は、熱伝導率が高い電気絶縁性材料で形成される。サブマウント11は、例えば、SiC、AlN、ダイヤモンドなどで形成される。サブマウント11の熱伝導率が高いことで、半導体レーザ素子10で発生する熱を速やかに放散できるため、半導体レーザ素子10の熱に起因する出力低下などの悪影響を抑制できる。また、サブマウント11を電気絶縁性材料で形成することにより、半導体レーザ素子10のn側電極と、パッケージ20とを絶縁できる。これにより、例えば、複数の半導体レーザ素子10を直列接続して、電流駆動することが可能となる。
カバーガラス26は、パッケージ20の光出射部25に配置される透光性の板状部材である。本実施の形態では、カバーガラス26は、光出射部25を覆う透明なガラス板である。
第1レンズ30は、半導体レーザ素子10からの出射光の発散角を変換する複数のレンズの一つであり、第1軸方向における出射光の発散角を低減する。本実施の形態では、第1レンズ30は、半導体レーザ素子10のファースト軸方向の発散を低減する。本実施の形態では、第1レンズ30は、半導体レーザ素子10の出射光をファースト軸方向において平行光にする。つまり、第1レンズ30は、ファースト軸コリメータである。また、第1軸方向は、ファースト軸方向である。第1レンズ30は、例えば、ガラス、石英などで形成されたシリンドリカルレンズである。第1レンズ30は、カバーガラス26を介してパッケージ20の光出射部25に配置される。
第2レンズ40は、半導体レーザ素子10からの出射光の発散角を変換する複数のレンズの一つであり、第1レンズ30と波長分散素子70との間に配置され、第2軸方向のレーザ光の発散角を低減する。本実施の形態では、第2レンズ40は、半導体レーザ素子10のスロー軸方向の発散を低減する。本実施の形態では、第2レンズ40は、半導体レーザ素子10の出射光をスロー軸方向において平行光にする。つまり、第2レンズ40は、スロー軸コリメータである。また、第2軸方向は、スロー軸方向である。第2レンズ40は、例えば、ガラス、石英などで形成されたシリンドリカルレンズである。
レンズホルダ41は、第2レンズ40を保持するホルダである。レンズホルダ41は、ネジ90によってユニットベース301に固定される。つまり、第2レンズ40は、レンズホルダ41を介してユニットベース301に固定される。レンズホルダ41は、例えば、パッケージ20と同様に金属材料で構成される。
偏向素子50は、複数の半導体レーザ素子10からの複数の出射光の少なくとも一つを偏向する光学素子である。偏向素子50は、ユニットベース301に固定される。偏向素子50のユニットベース301への固定態様は特に限定されない。本実施の形態では、偏向素子50の底面(つまり、ユニットベース301と対向する面)がユニットベース301に接合される。偏向素子50は、例えば接着剤などを用いてユニットベース301に接合される。
以下、偏向素子50について、図1A、図4A及び図4Bを用いて詳細に説明する。図4Aは、本実施の形態に係る偏向素子50の外観を示す斜視図である。図4Bは、本実施の形態に係る偏向素子50の形状を示す側面図及び上面図である。図4Bにおいては、左側及び右側にそれぞれ偏向素子50の側面図及び上面図が示されている。
図1Aに示されるように、偏向素子50は、複数の半導体レーザ素子10からの複数の出射光60a~60iが入射する入射面52、及び、入射面52から入射した複数の出射光60a~60iが出射する出射面53とを有する。また、偏向素子50は、複数の出射光にそれぞれ対応した複数の平面51a~51iを有する。本実施の形態では、複数の平面51a~51iは、複数の出射光60a~60iをそれぞれ透過する透過面である。なお、本実施の形態では、複数の平面51a~51iは、入射面52に含まれるが、複数の平面51a~51iは、出射面53に含まれてもよい。複数の平面51a~51iは、入射面52及び出射面53の少なくとも一方に含まれてもよい。
偏向素子50の複数の平面51a~51iのうち少なくとも一つの平面の各々は、複数の出射光60a~60iのうち、少なくとも一つの平面の各々に対応する出射光の光軸に対して傾斜している。本実施の形態では、図1Aに示されるように、平面51a~51d及び51f~51iは、それぞれ、対応する出射光60a~60d、60f~60iに対して傾斜している(つまり、垂直でない)。また、各平面の傾斜は、平面51eから遠ざかるにしたがって大きくなる。これにより、偏向素子50において、出射光60eから遠い位置にある出射光ほど、偏向素子50によって大きく偏向される。また、複数の出射光60a~60iは、同一平面内に存在するため、偏向素子50によって、複数の出射光60a~60iを波長分散素子70上で重ねることが可能となる。偏向素子50の詳細な作用については、後述する。偏向素子50は、例えば、ガラス、石英などの透光性材料で形成される。偏向素子50の傾斜面形状は、例えば、金型を用いてガラス材料を成型することで形成が可能である。又は、傾斜面形状に応じた透過率を持つグレースケールマスクなどを用いて、ステッパ装置などで、ガラス基板上に塗布したレジストに形状を転写し、その後反応性エッチング装置(RIE)などでガラス基板をエッチングして形成する方法でも形成が可能である。このように形成された偏向素子50の入射面52及び出射面53には、透過率を高めるための反射防止膜が形成されている。反射防止膜は、屈折率の異なる複数の誘電体材料(例えば、SiO、TiO、Al、Ta、Nbなどの材料)を、例えば、スパッタ又は蒸着によって多層に成膜したものが用いられる。
波長分散素子70は、偏向素子50からの複数の出射光60a~60iを同一光軸上に波長結合して結合光61とする光学素子である。波長分散素子70の構成は、複数の出射光60a~60iを同一光軸上に波長結合できる光学素子であれば特に限定されないが、本実施の形態では、波長分散素子70は、反射型の回折格子である。ここで、複数の出射光60a~60iを同一光軸上に波長結合するとの記載が意味する構成には、複数の出射光60a~60iが完全に同一の光軸上に結合される構成だけでなく、複数の出射光60a~60iが略同一の光軸上に結合される構成も含まれる。複数の出射光60a~60iを同一光軸上に波長結合するとの記載が意味する構成には、波長結合された複数の出射光60a~60iの各光軸が製造誤差、組立誤差に起因する程度ずれている構成も含まれてもよい。例えば、各光軸の方向のずれが5°程度以下である場合も含まれてもよいし、各光軸の位置のずれが、各出射光のスポットサイズの20%程度以下である場合も含まれてもよい。
波長分散素子70に入射する複数の出射光60a~60iの各波長は、互いに異なり、波長分散素子70への入射角度と、結合光61の出射角度と、波長分散素子70の特性とに基づいて決定される。
部分反射ミラー80は、波長分散素子70からの結合光61の一部を反射し、他の一部を透過し、複数の半導体レーザ素子10との間で外部共振器を形成する素子である。より詳しくは、部分反射ミラー80は、複数の半導体レーザ素子10に形成された高反射膜との間で外部共振器を形成する。本実施の形態では、部分反射ミラー80は、平面ミラーである。部分反射ミラー80の部分反射特性を持つ反射膜は、部分反射ミラー80のいずれか一方の面に形成されており、他方の面には反射防止膜が形成されている。反射膜及び反射防止膜としては、例えば、屈折率の異なる複数の誘電体材料(例えば、SiO、TiO、Al、Ta、Nbなどの材料)をスパッタや蒸着によって多層に成膜した誘電体多層膜が用いられる。部分反射ミラー80の反射率は、複数の半導体レーザ素子10の特性などに応じて適宜設定されるが、複数の半導体レーザ素子10の各々が発振する波長の幅において、ほぼ一定であってもよく、具体的には、中心波長-20nm以上、中心波長+20nm以下の幅で、ほぼ一定であってもよい。半導体レーザ装置1の高出力化のためには、部分反射ミラー80を透過して出力されるレーザ光62はできるだけ大きい方が良い。レーザ光62の高出力化のために、部分反射ミラー80の反射率を、5%~50%範囲で設定してもよい。
[作用及び効果]
次に、本実施の形態に係る半導体レーザ装置1の作用及び効果について図5を用いて説明する。図5は、本実施の形態に係る半導体レーザ装置1の作用及び効果を説明するための図である。図5においては、簡略化のため、複数の光源モジュール200a~200iのうち、光源モジュール200a及び200eだけが示されている。
図5に示されるように、半導体レーザ装置1の光源モジュール200a及び200eが有する各半導体レーザ素子10からの出射光60a及び60eは、同一平面内において、同一方向(図5のZ軸方向)に伝播する。そして、出射光60a及び60eは、各光源モジュールが有する第1レンズ30によって、ファースト軸方向である第1軸方向(図5のX軸方向)における発散角が低減される。続いて、出射光60a及び60eは、第2レンズ40によって、スロー軸方向である第2軸方向(図5のY軸方向)における発散角が低減される。第1レンズ30及び第2レンズ40によって略平行光となった出射光60a及び60eは、偏向素子50に入射される。出射光60aは、偏向素子50の入射面52に含まれる平面51aによって偏向され、波長分散素子70上において、同一平面内を伝播する出射光60eと重なる。偏向素子50の各平面の各出射光に対する傾きは、偏向素子50の入射面から波長分散素子70までの距離Lと、隣り合う半導体レーザ素子10の間隔Pとに応じて、各出射光が波長分散素子70上で重なるように定められる。なお、偏向素子50の入射面52の位置は、実質的に出射光入射する位置である入射基準位置として定義される。ここで、本実施の形態に係る偏向素子50の設計例について図6A~図6Dを用いて説明する。図6A~図6Dは、本実施の形態に係る偏向素子50の複数の平面の設計例を示すグラフである。図6A及び図6Bには、隣り合う半導体レーザ素子10の間隔Pが10mmであって、偏向素子50の入射面から波長分散素子70までの距離Lが500mmである場合の偏向素子50の入射面位置が示されている。図6Bには、間隔Pが10mmであって、距離Lが1000mmである場合の偏向素子50の入射面位置が示されている。図6Cには、間隔Pが5mmであって、距離Lが500mmである場合の偏向素子50の入射面位置が示されている。図6Dには、間隔Pが5mmであって、距離Lが1000mmである場合の偏向素子50の入射面位置が示されている。図6A~図6Dに示されるように、間隔Pが小さいほど、また、距離Lが小さいほど、偏向素子50の平面の傾斜を大きくする必要がある。図6A~図6Dに示されるように、入射面52の各平面を間隔P及び距離Lに応じて設計することで、本実施の形態に係る偏向素子50を実現できる。
偏向素子50は、平面51aによって出射光60aを偏向するため、収束されることなく略平行光のままで出射光60eと重なる。このようにして波長分散素子70に入射した出射光60a及び60eは、波長分散素子70によって波長結合されて結合光61となる。結合光61は、部分反射ミラー80に入射し、一部が反射し、他の一部が透過する。部分反射ミラー80で反射した結合光61は、再度波長分散素子70に戻り、出射光60a及び60eに分離される。出射光60a及び60eは、それぞれ、光源モジュール200a及び200eに入射し、半導体レーザ素子10に設けられた高反射膜で反射されて、再度半導体レーザ素子10から出射される。
このように、出射光60a及び60eは、半導体レーザ素子10と部分反射ミラー80との間で形成される外部共振器内で共振する。これにより、部分反射ミラー80から、結合光61の一部であるレーザ光62が出射される。
以上のように、本実施の形態では、偏向素子50によって、各出射光を偏向するため、複数の半導体レーザ素子10の間隔(図5に示される間隔Pに相当)を小さく配置しても、偏向素子50の複数の平面の傾斜を適切に設定することで、波長分散素子70上で、複数の出射光を重ねることができる。これにより、単位面積当たりの半導体レーザ素子10の数を増やすことができるため、半導体レーザ装置1の中に配置できる半導体レーザ素子10の数も大きくすることができ、半導体レーザ装置1の高出力化を実現できる。また、複数の出射光は、偏向素子50によって、収束されないため、略平行光の状態で波長分散素子に入射することが可能となる。したがって、波長分散素子70上でのビーム径を大きくすることができるため、複数の出射光60a~60iを重ねても、複数の収束光を重ねる場合より、光密度を抑制できる。これにより波長分散素子70へのダメージを抑制しつつ、より多くの半導体レーザ素子からの出射光を重ねることができるため、半導体レーザ装置1の高出力化を実現できる。
また、波長分散素子70に入射する各出射光を入射角度分布が小さい平行光とすることができるため、波長分散素子70によって、各レーザ光を平行光の状態で結合できる。これにより部分反射ミラーから出力される出射光として、ビーム品質の高い高輝度のレーザ光を得ることができる。
また、本実施の形態では、複数の半導体レーザ素子10は、ファースト軸方向である第1軸方向に等間隔に配置される。ここで、半導体レーザ素子10の出射光のファースト軸方向におけるビームパラメータ積は、1[mm・mrad]以下であってもよい。この場合、複数の出射光の二つの軸方向のうち、複数の出射光を重ねる軸方向におけるビームパラメータ積が1[mm・mrad]以下となるため、各出射光の重なりのずれが発生する場合にも、ずれの許容範囲が大きくなる。これにより、波長分散によって結合される軸方向のビーム品質の劣化を抑制できるため、高輝度なレーザ光を出力可能な半導体レーザ装置1を実現できる。
また、本実施の形態では、図3Bに示されるように、複数の半導体レーザ素子10は、それぞれ、電気絶縁性材料で形成されたサブマウント11を介して複数のパッケージ20に実装されている。複数のリードピン23及び24と複数のパッケージ20とは絶縁されており、複数の半導体レーザ素子10は、直列接続されて、電流駆動される。これにより、複数の半導体レーザ素子10に同一の電流を供給することができるため、各半導体レーザ素子10の出力を揃えることができる。
(実施の形態2)
実施の形態2に係る半導体レーザ装置について説明する。本実施の形態に係る半導体レーザ装置は、主に、偏向素子50及び第2レンズ40の配置において、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1と相違する。以下、本実施の形態に係る半導体レーザ装置について、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1との相違点を中心に図7及び図8を用いて説明する。
図7は、本実施の形態に係る光源ユニット1300の構成を示す模式的な上面図である。図8は、本実施の形態に係る半導体レーザ装置1001の構成を示す模式的な上面図である。
図8に示されるように、本実施の形態に係る半導体レーザ装置1001は、三つの光源ユニット1300a、1300b及び1300cと、波長分散素子70と、反射ミラー401a、401b、401c及び402と、部分反射ミラー80とを備える。
三つの光源ユニット1300a、1300b及び1300cは、いずれも、図7に示される光源ユニット1300と同様の構成を有する。
図7に示されるように、本実施の形態に係る光源ユニット1300は、ユニットベース1301と、複数の光源モジュール200a~200iと、偏向素子50と、第2レンズ40と、レンズホルダ41とを有する。なお、図示しないが、光源ユニット1300は、実施の形態1に係る光源ユニット300と同様に回路基板310を有する。
図7に示されるように、本実施の形態に係る光源ユニット1300は、第2レンズ40及びレンズホルダ41と偏向素子50との位置が入れ替わっている点において、実施の形態1に係る光源ユニット300と相違する。これに伴い、ユニットベース1301のネジ穴の位置などの構成が、実施の形態1に係るユニットベース301の構成から変更される。
本実施の形態に係る光源ユニット1300a、1300b及び1300cによっても、実施の形態1に係る光源ユニット300と同様に、略平行光である出射光60aa~60ai、60ba~60bi及び60ca~60ciを反射ミラー401a、401b及び401cを介して波長分散素子70上に重ねることができる。また、本実施の形態では、三つの光源ユニット1300a、1300b及び1300cからの出射光を重ねるため、実施の形態1より一層高輝度のレーザ光を得られる。
また、本実施の形態では、波長分散素子70として、透過型の回折格子を用いる例、及び、外部共振器内に反射ミラー401a、401b、401c及び402を備える例を示したが、このような構成によっても、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1と同様の効果が奏される。また、外部共振器内に反射ミラー401a、401b及び401cを用いることで、半導体レーザ装置1001の寸法の拡大を抑制しつつ、偏向素子50から波長分散素子70までの距離を大きくできる。これにより、半導体レーザ装置1001の寸法の拡大を抑制しつつ、偏向素子50の各平面の傾斜を低減できる。
(実施の形態3)
実施の形態3に係る半導体レーザ装置について説明する。本実施の形態に係る半導体レーザ装置は、主に、偏向素子の複数の平面がそれぞれ複数の出射光を反射する点において、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1と相違する。以下、本実施の形態に係る半導体レーザ装置について、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1との相違点を中心に図9を用いて説明する。図9は、本実施の形態に係る半導体レーザ装置2001の構成を示す模式的な上面図である。
図9に示されるように、本実施の形態に係る半導体レーザ装置2001は、光源ユニット2300と、波長分散素子70と、部分反射ミラー80とを備える。
本実施の形態に係る光源ユニット2300は、偏向素子2050の構成において実施の形態1に係る光源ユニット300と相違する。
本実施の形態に係る偏向素子2050は、実施の形態1に係る偏向素子50と同様に、複数の出射光60a~60iにそれぞれ対応した複数の平面2052a~2052iを有する。複数の平面2052a~2052iは、それぞれ、複数の出射光60a~60iの光軸に対して傾斜している。本実施の形態においては、複数の平面2052a~2052iは、複数の出射光60a~60iをそれぞれ反射する反射面である。偏向素子2050は、例えば、複数の平面を形成したガラスなどに反射膜となる金属膜を形成することによって、形成される。
このような構成を有する偏向素子2050によっても、平面2052a~2052iの各傾斜を調整することにより、波長分散素子70上に、複数の出射光60a~60iを重ねることができる。したがって、本実施の形態に係る半導体レーザ装置2001においても、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1と同様の効果が奏される。
(実施の形態4)
実施の形態4に係る半導体レーザ装置について説明する。本実施の形態に係る半導体レーザ装置は、複数の半導体レーザ素子が第2軸方向に配列される点、及び、複数の半導体レーザ素子が一つのパッケージ内に配置される点において、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1と相違する。本実施の形態に係る半導体レーザ装置は、光源ユニット以外の構成においては、実施の形態1に係る半導体レーザ装置1と同様の構成を有するため、以下では、本実施の形態に係る半導体レーザ装置の光源ユニットについて、実施の形態1に係る光源ユニット300との相違点を中心に図10~図13を用いて説明する。
図10は、本実施の形態に係る光源ユニット3300の外観を示す模式的な斜視図である。図11は、本実施の形態に係る光源ユニット3300の構成を示す分解斜視図である。図12は、本実施の形態に係る光源モジュール3200の構成を示す分解斜視図である。図13は、本実施の形態に係る複数の半導体レーザ素子3010a~3010g及びサブマウント3011の外観を示す斜視図である。
図10に示されるように、本実施の形態に係る光源ユニット3300は、光源モジュール3200と、第2レンズ3040と、レンズホルダ3041と、偏向素子3050と、ユニットベース3301とを備える。
本実施の形態に係る偏向素子3050は、入射面において7個の平面を含む点以外は、実施の形態1に係る偏向素子50と同様の構成を有する。図10及び図11に示されるように、偏向素子3050の底面が、ユニットベース3301に接合される。
本実施の形態に係る光源モジュール3200は、複数の半導体レーザ素子を有するモジュールである。本実施の形態に係る光源モジュール3200は、図12に示されるように、パッケージ3020と、第1レンズ3030とを有する。また、光源モジュール3200は、図13に示される複数の半導体レーザ素子3010a~3010gと、一つのサブマウント3011とをさらに有する。本実施の形態では、7個の半導体レーザ素子3010a~3010gを有する。複数の半導体レーザ素子3010a~3010gがそれぞれ出射する複数の出射光の各々の第1軸方向及び第2軸方向におけるビームパラメータ積は、1[mm・mrad]以下である。このように、複数の出射光の第2軸方向におけるビームパラメータ積が十分に小さいため、図13に示されるように、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gは、第2軸方向に配列されてもよい。本実施の形態では、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gは、第2軸方向に配列される。より詳しくは、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gは、第2軸方向に等間隔に配置される。この場合にも、半導体レーザ素子3010a~3010gの複数の出射光を重ねる軸方向におけるビームパラメータ積が1[mm・mrad]以下となるため、各出射光の重なりのずれが発生する場合にも、ずれの許容範囲が大きくなる。これにより、波長分散によって結合される軸方向のビーム品質の劣化を抑制できるため、高輝度なレーザ光を出力可能な半導体レーザ装置を実現できる。
図12に示されるように、本実施の形態に係るパッケージ3020は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gが実装され、金属材料で形成されたケースである。本実施の形態では、パッケージ3020は、直方体状の外形を有し、蓋3029を有する。なお、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gは、サブマウント3011にジャンクションダウン実装される。つまり、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gのp側電極(不図示)がサブマウント3011に接続される。
本実施の形態に係るパッケージ3020は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gを気密封止する。これにより、パッケージ3020内の雰囲気をコントロールできるため、半導体レーザ素子3010a~3010gの劣化を抑制できる。特に、半導体レーザ素子3010a~3010gが青色光、紫外光などの比較的短波長のレーザ光を出射する場合には、パッケージ3020内へのシロキサンの流入を抑制することで、半導体レーザ素子3010a~3010gなどへのシロキサンの堆積を低減できる。
パッケージ3020は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gに電力を供給する複数のリードピン3023及び3024を有する。リードピン3023とリードピン3024とによって、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gに電力が供給される。
パッケージ3020には、第1レンズ3030が配置されている。第1レンズ3030は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gの第1軸方向における発散を低減するシリンドリカルレンズである。本実施の形態では、第1レンズ3030は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gからの出射光を略平行光化するファースト軸コリメータである。
本実施の形態では、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gは、一つのサブマウント3011を介して一つのパッケージ3020に実装される。このように、一つのサブマウント3011に複数の半導体レーザ素子3010a~3010gを実装することにより、複数の出射光の光軸のずれを低減できる。したがって、半導体レーザ装置は、より高輝度なレーザ光を出力できる。
複数の半導体レーザ素子3010a~3010gは、互いに導電ワイヤ3023wによって直列接続される。より具体的には、リードピン3023と半導体レーザ素子3010aのn側電極とが導電ワイヤ3023wによって接続され、半導体レーザ素子3010aのp側電極と接続された導電膜3012aと半導体レーザ素子3010bのn側電極とが導電ワイヤ3023wによって接続される。以下同様に、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gが直列接続され、半導体レーザ素子3010gのp側電極と接続された導電膜3012gとリードピン3024とが導電ワイヤ3023wによって接続される。これにより、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gの電流駆動が可能となる。
本実施の形態に係るサブマウント3011は、熱伝導率が高く、電気絶縁性の材料で形成される。サブマウント3011は、例えば、SiC、AlN、ダイヤモンドなどで形成される。サブマウント3011の上面3011mには、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gがそれぞれ実装される位置に複数の導電膜3012a~3012gが形成されている。複数の導電膜3012a~3012gは、互いに絶縁されている。複数の導電膜3012a~3012gの絶縁をより確実にするために、図13に示されるように、サブマウント3011の上面3011mの隣り合う導電膜の間に溝を形成してもよい。
第2レンズ3040は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gの第2軸方向における発散をそれぞれ低減する複数のシリンドリカルレンズが一体化された光学素子である。本実施の形態では、第2レンズ3040は、複数の半導体レーザ素子3010a~3010gからの出射光を第2軸方向において略平行光化するスロー軸コリメータである。第2レンズ3040は、レンズホルダ3041を介してユニットベース3301に固定される。レンズホルダ3041には、貫通孔が形成されており、貫通孔に挿入されたネジ90がユニットベース3301に形成された固定穴3305にねじ込まれることによって、レンズホルダ3041及び第2レンズ3040がユニットベース3301に対して固定される。
図12に示されるように、光源モジュール3200は、板状の固定部3028を有する。固定部3028には、貫通孔3021が形成されており、貫通孔3021にネジ90を挿入して、ネジ90をユニットベース3301に形成された固定穴3304(図11参照)にねじ込むことによって、光源モジュール3200がユニットベース3301に固定される。
本実施の形態に係る光源ユニット3300を備える半導体レーザ装置によっても、実施の形態1に係ると同様の効果が奏される。
なお、本実施の形態では、複数の半導体レーザ素子をサブマウントに実装する形態であったが、出射する複数の出射光の各々の第1軸方向及び第2軸方向におけるビームパラメータ積は、1[mm・mrad]以下であれば、同一基板上に複数の半導体レーザ素子を形成したアレイ状の半導体レーザ素子を用いることもできる。
(変形例など)
以上、本開示に係る半導体レーザ装置について、各実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、上記各実施の形態に限定されるものではない。
例えば、上記各実施の形態においては、複数の半導体レーザ素子が電流駆動されたが、複数の半導体レーザ素子は、電圧駆動されてもよい。具体的には、複数の半導体レーザ素子は、それぞれ、導電性材料で形成されたサブマウントを介して複数のパッケージに実装され、複数のリードピンの一つは、複数のパッケージと同電位であり、複数の半導体レーザ素子は、電圧駆動されてもよい。例えば、複数の半導体レーザ素子のn側電極が導電性材料で形成されたサブマウントに実装され、サブマウントが実装されたパッケージと同電位となる。この場合、複数の半導体レーザ素子のp側電極にパッケージの電位より高い電位を印加することで、複数の半導体レーザ素子を電圧駆動してもよい。
また、上記各実施の形態では、複数の半導体レーザ素子の各々は、半導体発光素子単体で構成されたが、複数の半導体レーザ素子の構成はこれに限定されない。例えば、複数の半導体レーザ素子の各々は、半導体発光素子と、外部共振器を構成する反射部材とを有してもよい。また、外部共振器には、出射光の波長を選択する波長選択部材が含まれてもよい。例えば、外部共振器は、部分反射ミラーとして機能する波長選択部材として、透過型の回折格子などを含んでもよい。この場合、透過型の回折格子と、半導体発光素子の一方の端部との間で外部共振器が構成されてもよい。
また、上記各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で上記各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含まれる。
本開示の半導体レーザ装置は、例えば、高出力かつ高効率な光源としてレーザ加工機などに適用できる。
1、1001、2001 半導体レーザ装置
10、3010a、3010b、3010c、3010d、3010e、3010f、3010g 半導体レーザ素子
11、3011 サブマウント
11m、3011m 上面
12、3012a、3012b、3012c、3012d、3012e、3012f、3012g 導電膜
20、3020 パッケージ
21、302、303、311、3021 貫通孔
22 枠体
22a 開口部
23、24、3023、3024 リードピン
23b、24b ボンディング面
23w 第1導電ワイヤ
24w 第2導電ワイヤ
25 光出射部
26 カバーガラス
27 実装面
29、3029 蓋
30、3030 第1レンズ
40、3040 第2レンズ
41、3041 レンズホルダ
50、2050、3050 偏向素子
51a、51b、51c、51d、51e、51f、51g、51h、51i、2052a、2052b、2052c、2052d、2052e、2052f、2052g、2052h、2052i 平面
52 入射面
53 出射面
60a、60b、60c、60d、60e、60f、60g、60h、60i、60aa、60ae、60ai、60ba、60be、60bi、60ca、60ce、60ci 出射光
61 結合光
62 レーザ光
70 波長分散素子
80 部分反射ミラー
90 ネジ
200、200a、200b、200c、200d、200e、200f、200g、200h、200i、3200 光源モジュール
201a、201b 平面
300、1300、1300a、1300b、1300c、2300、3300 光源ユニット
301、1301、3301 ユニットベース
304、305、3304、3305 固定穴
310 回路基板
312 プリント配線
313 電力供給リード
401a、401b、401c、402 反射ミラー
3028 固定部

Claims (18)

  1. 半導体レーザ装置であって、
    互いに異なる波長の光を出射する複数の半導体レーザ素子と、
    前記複数の半導体レーザ素子からの複数の出射光の少なくとも一つを偏向する偏向素子と、
    前記複数の出射光を同一光軸上に波長結合する波長分散素子とを備え、
    前記偏向素子は、複数の出射光にそれぞれ対応した複数の平面を有し、
    前記複数の出射光は、前記波長分散素子上で互いに重なり、
    前記複数の出射光は、第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する第2軸方向に発散角を有し、
    前記半導体レーザ装置は、前記複数の出射光の、前記第1軸方向及び前記第2軸方向における前記発散角を低減する複数のレンズをさらに備え、
    前記発散角を低減された前記複数の出射光の各々は、前記波長分散素子に入射するまで収束されない
    半導体レーザ装置。
  2. 記複数の平面のうち少なくとも一つの平面は、対応する出射光の光軸に対して傾斜しており、
    前記複数の半導体レーザ素子は、前記第1軸方向及び前記第2軸方向の一方の軸方向に配列される
    請求項1に記載の半導体レーザ装置。
  3. 前記波長分散素子によって波長結合された前記複数の出射光の一部を反射し、他の一部を透過し、前記複数の半導体レーザ素子との間で外部共振器を形成する部分反射ミラーをさらに備える
    請求項1又は2に記載の半導体レーザ装置。
  4. 前記複数のレンズは、前記第1軸方向のレーザ光の発散角を低減する第1レンズを含む
    請求項2に記載の半導体レーザ装置。
  5. 前記複数のレンズは、前記第2軸方向における前記複数の出射光の発散角を低減する第2レンズを含む
    請求項4に記載の半導体レーザ装置。
  6. 前記第2レンズは、前記第1レンズと前記波長分散素子との間に配置される
    請求項5に記載の半導体レーザ装置。
  7. 前記一方の軸方向において、前記複数の出射光の各々のビームパラメータ積が1[mm・mrad]以下である
    請求項2、4~6のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
  8. 前記偏向素子は、前記複数の出射光が入射する入射面、及び、前記入射面から入射した前記複数の出射光が出射する出射面を有し、
    前記複数の平面は、前記複数の出射光をそれぞれ透過する透過面であり、前記入射面及び前記出射面の少なくとも一方に含まれている
    請求項1~7のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
  9. 前記複数の平面は、前記複数の出射光をそれぞれ反射する反射面である
    請求項1~7のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
  10. 前記一方の軸方向は、前記第1軸方向であり、
    前記第1レンズは、ファースト軸コリメータであり、
    前記第2レンズは、スロー軸コリメータである
    請求項5又は6に記載の半導体レーザ装置。
  11. 前記複数の半導体レーザ素子がそれぞれ実装され、金属材料で形成された複数のパッケージをさらに備え、
    前記複数のパッケージの各々は、前記複数の半導体レーザ素子のうち、当該パッケージに実装される半導体レーザ素子に電力を供給する複数のリードピンを有し、
    前記複数のパッケージの各々の光出射部には、前記第1レンズが配置され、
    前記複数のパッケージの各々は、前記複数の半導体レーザ素子の各々が実装される実装面を有し、
    前記複数のパッケージの各々は、前記実装面に平行な二つの平面を有し、前記二つの平面間の距離は当該パッケージの厚さに相当し、前記複数の半導体レーザ素子が配置される間隔に等しい
    請求項10に記載の半導体レーザ装置。
  12. 前記複数の半導体レーザ素子は、それぞれ、導電性材料で形成されたサブマウントを介して前記複数のパッケージに実装されており、
    前記複数のリードピンの一つは、前記複数のパッケージと同電位であり、
    前記複数の半導体レーザ素子は、電圧駆動される
    請求項11に記載の半導体レーザ装置。
  13. 前記複数の半導体レーザ素子は、それぞれ、電気絶縁性材料で形成されたサブマウントを介して前記複数のパッケージに実装されており、
    前記複数のリードピンと前記複数のパッケージとは絶縁されており、
    前記複数の半導体レーザ素子は、電流駆動される
    請求項11に記載の半導体レーザ装置。
  14. 前記複数のパッケージは、それぞれ、前記複数の半導体レーザ素子を気密封止する
    請求項11~13のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
  15. 前記複数の出射光の各々の前記第1軸方向及び前記第2軸方向におけるビームパラメータ積は、1[mm・mrad]以下であり、
    前記複数の半導体レーザ素子は、前記第2軸方向に配列され、
    前記第1レンズは、ファースト軸コリメータであり、
    前記第2レンズは、スロー軸コリメータである
    請求項5又は6に記載の半導体レーザ装置。
  16. 前記複数の半導体レーザ素子が実装され、金属材料で形成された一つのパッケージをさらに備え、
    前記一つのパッケージは、前記複数の半導体レーザ素子に電力を供給する複数のリードピンを有し、
    前記一つのパッケージには、前記第1レンズが配置されている
    請求項15に記載の半導体レーザ装置。
  17. 前記複数の半導体レーザ素子は、一つのサブマウントを介して前記一つのパッケージに実装される
    請求項16に記載の半導体レーザ装置。
  18. 前記一つのパッケージは、前記複数の半導体レーザ素子を気密封止する
    請求項16又は17に記載の半導体レーザ装置。
JP2021508918A 2019-03-25 2020-03-05 半導体レーザ装置 Active JP7440492B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019056901 2019-03-25
JP2019056901 2019-03-25
PCT/JP2020/009309 WO2020195659A1 (ja) 2019-03-25 2020-03-05 半導体レーザ装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JPWO2020195659A1 JPWO2020195659A1 (ja) 2020-10-01
JPWO2020195659A5 JPWO2020195659A5 (ja) 2023-01-31
JP7440492B2 true JP7440492B2 (ja) 2024-02-28

Family

ID=72611331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021508918A Active JP7440492B2 (ja) 2019-03-25 2020-03-05 半導体レーザ装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20220149596A1 (ja)
JP (1) JP7440492B2 (ja)
CN (1) CN113615018A (ja)
DE (1) DE112020001418T5 (ja)
WO (1) WO2020195659A1 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007165578A (ja) 2005-12-14 2007-06-28 Fuji Xerox Co Ltd 面発光型半導体レーザ
WO2014192944A1 (ja) 2013-05-30 2014-12-04 古河電気工業株式会社 半導体レーザモジュール
JP2017130365A (ja) 2016-01-21 2017-07-27 日亜化学工業株式会社 光源装置
JP6293385B1 (ja) 2017-03-17 2018-03-14 三菱電機株式会社 レーザ発振装置
WO2018173109A1 (ja) 2017-03-21 2018-09-27 三菱電機株式会社 レーザ発振器及びレーザ加工装置

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6553044B1 (en) * 1998-10-20 2003-04-22 Quantum Devices, Inc. Method and apparatus for reducing electrical and thermal crosstalk of a laser array
JP2001284706A (ja) * 2000-03-31 2001-10-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザ発光装置
JP4427280B2 (ja) * 2002-07-10 2010-03-03 新日本製鐵株式会社 半導体レーザ装置およびそれを用いた固体レーザ装置
EP1544923A3 (de) * 2003-12-19 2007-03-14 Osram Opto Semiconductors GmbH Strahlungemittierendes Halbleiterbauelement und Verfahren zum Befestigen eines Halbleiterchips auf einem Leiterrahmen
US20090122272A1 (en) * 2007-11-09 2009-05-14 Silverstein Barry D Projection apparatus using solid-state light source array
JP2011077458A (ja) * 2009-10-01 2011-04-14 Panasonic Corp レーザー装置
JP4742330B2 (ja) 2009-10-13 2011-08-10 ナルックス株式会社 レーザ・アセンブリ
JP5566268B2 (ja) * 2010-11-19 2014-08-06 新光電気工業株式会社 発光装置及びパッケージ部品
GB201107948D0 (en) * 2011-05-12 2011-06-22 Powerphotonic Ltd Multi-wavelength diode laser array
JP6006547B2 (ja) * 2011-07-06 2016-10-12 ミネベア株式会社 照明装置及びこれに用いるレンズシート
JP6103179B2 (ja) * 2012-09-13 2017-03-29 株式会社リコー 距離測定装置
CN102931585A (zh) * 2012-10-31 2013-02-13 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种外腔合束半导体激光光纤耦合模块
JP5892918B2 (ja) * 2012-12-14 2016-03-23 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置およびレーザ光発生方法
US9690107B2 (en) * 2013-03-15 2017-06-27 Trumpf Laser Gmbh Device for wavelength combining of laser beams
US9903987B2 (en) * 2014-09-05 2018-02-27 Funai Electric Co., Ltd. Laser optical device and image projection device
JP6463111B2 (ja) * 2014-09-16 2019-01-30 三菱電機株式会社 レーザ光源装置および映像表示装置
JP6072177B2 (ja) * 2014-09-30 2017-02-01 キヤノン株式会社 光学ユニット、光学装置およびこれを用いた光源装置、投射型表示装置
JP2016096333A (ja) * 2014-11-10 2016-05-26 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置
WO2017022142A1 (ja) * 2015-08-04 2017-02-09 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置
JP6718224B2 (ja) * 2015-11-30 2020-07-08 フォトンリサーチ株式会社 半導体レーザー光源モジュール、レーザー光源装置、半導体レーザー光源モジュールの製造方法、及びレーザー光源装置の製造方法
CN108604775B (zh) 2016-02-03 2020-10-30 古河电气工业株式会社 激光装置
EP3506437A4 (en) * 2016-08-26 2019-11-27 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. LASER MODULE
DE112017005700B4 (de) * 2017-03-01 2021-12-30 Mitsubishi Electric Corporation Laseroszillator

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007165578A (ja) 2005-12-14 2007-06-28 Fuji Xerox Co Ltd 面発光型半導体レーザ
WO2014192944A1 (ja) 2013-05-30 2014-12-04 古河電気工業株式会社 半導体レーザモジュール
JP2017130365A (ja) 2016-01-21 2017-07-27 日亜化学工業株式会社 光源装置
JP6293385B1 (ja) 2017-03-17 2018-03-14 三菱電機株式会社 レーザ発振装置
WO2018173109A1 (ja) 2017-03-21 2018-09-27 三菱電機株式会社 レーザ発振器及びレーザ加工装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN113615018A (zh) 2021-11-05
JPWO2020195659A1 (ja) 2020-10-01
US20220149596A1 (en) 2022-05-12
DE112020001418T5 (de) 2021-12-16
WO2020195659A1 (ja) 2020-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6888871B1 (en) VCSEL and VCSEL array having integrated microlenses for use in a semiconductor laser pumped solid state laser system
US6314117B1 (en) Laser diode package
US20120177074A1 (en) High reliability laser emitter modules
EP3687008B1 (en) Light source unit
JP2014095916A (ja) レーザエミッタモジュール及び構築方法
KR101729341B1 (ko) 레이저 빔 인터리빙
US20210336411A1 (en) Method of manufacturing laser light source
US20230059013A1 (en) Light source module
JP7488445B2 (ja) 光源ユニット
JP7440492B2 (ja) 半導体レーザ装置
US7339719B1 (en) Packaging of frequency-doubled, extended-cavity, surface-emitting laser components on a common substrate
US20230035957A1 (en) Light source device
JP2020145355A (ja) 半導体レーザ装置
WO2021256421A1 (ja) 半導体発光装置およびそれを備える光源装置
JP2023161108A (ja) レーザ光源およびその製造方法
JP7316098B2 (ja) 半導体レーザモジュール及びレーザ加工装置
TWI667506B (zh) 具有高輸出功率的光源裝置
JP2012098756A (ja) 光路変換体及びその実装構造並びに光モジュール
JP7525780B2 (ja) 光源ユニット
US20240039249A1 (en) Light-emitting module
JP2023021899A (ja) 光源装置
WO2024075595A1 (ja) 半導体レーザ装置
JP7041362B2 (ja) 光源ユニット
JP2023146339A (ja) レーザモジュール
WO2024024734A1 (ja) 発光モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230120

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230120

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240215

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7440492

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151