JP5566268B2 - 発光装置及びパッケージ部品 - Google Patents

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Description

発光装置及び発光素子を実装するためのパッケージ部品に関する。
従来、半導体レーザ技術の進歩は目覚しく,光ディスクの記録/再生や光ファイバによる情報通信などの各種のエレクトロニクス機器に応用されている。近年では、複数の半導体レーザ素子を水平方向に積層して配置することにより高出力レーザを得る積層型の半導体レーザ装置が開発されている。
積層型の半導体レーザ装置では、各半導体レーザ素子を銅・タングステン部材で挟んで水平方向に積層し、半導体レーザ素子の上に光収束用のレンズがそれぞれ配置される。
特表2009−524223号公報
銅・タングステン部材は厚み精度や面精度(表面粗さ)が十分に得られないため、複数の半導体レーザ素子を狭ピッチで精度よく積層することは困難である。このため、特に半導体レーザ素子の配置ピッチが狭くなると、各半導体レーザ素子の上にレンズを配置する際に、位置ずれが生じ易くなり、積層型の半導体レーザ装置を高精度に構築することが困難になる。
複数の発光素子を狭ピッチで精度よく積層できる発光装置及び発光素子を実装するためのパッケージ部品を提供することを目的とする。
以下の開示の一観点によれば、底部と、前記底部の両端にそれぞれ立設する側壁部と、前記底部の奥端に立設する後壁部とを備えて内側にキャビティが設けられ、絶縁層で被覆されたシリコン立体部材から形成されたパッケージ部品と、前記パッケージ部品の後壁部の内側面に実装され、上側端部に光出射面を備えた発光素子とを有する複数の発光素子実装部品が、同一方向を向いて前記キャビティの奥行き方向に積層されており、前記パッケージ部品は、前記後壁部の厚み方向に前記絶縁層を介して形成された貫通電極と、前記後壁部の内側面及び外側面にそれぞれ設けられて前記貫通電極を介して相互接続された配線層を有し、前記発光素子の一方の側面は第1導電性接合材を介して前記後壁部の内側面の前記配線層に接続されており、前記発光素子の他方の側面は第2導電性接合材を介して他の前記パッケージ部品の後壁部の外側面の前記配線層に接続されている発光装置が提供される。
また、その開示の他の観点によれば、底部と、前記底部の両端にそれぞれ立設する側壁部と、前記底部の奥端に立設する後壁部とを備えて内側にキャビティが設けられ、絶縁層で被覆されたシリコン立体部材から形成されたパッケージ部品であって、前記後壁部の厚み方向に前記絶縁層を介して形成された貫通電極と、前記後壁部の外側面及び内側面にそれぞれ設けられ、前記貫通電極を介して相互接続された配線層と、前記後壁部の内側面に設けられた前記配線層の上に形成され、発光素子を接合するための第1導電性接合材と、前記後壁部の外側面に設けられた前記配線層の上に形成された第2導電性接合材とを有するパッケージ部品が提供される。
以下の開示によれば、複数の発光素子がシリコン立体部材から形成されるパッケージ部を介して水平方向に積層されている。シリコン立体部材は高精度に微細加工されて作成されるので、十分な厚み精度や面精度が得られる。従って、発光素子を狭ピッチで精度よく積層できるので、小型化された積層型の発光装置を精度よく構築することができる。
さらには、パッケージ部の側壁部の上面にレンズ位置決め用の段差部を発光素子に対応するように位置精度よく形成することができる。従って、複雑なアライメント機構を採用することなく、円柱状レンズを発光素子に容易に位置合わせして配置することができ、コスト削減を図ることができる。
図1は関連技術の半導体レーザ装置を示す断面図である。 図2(a)は実施形態のパッケージ部品を示す斜視図、図2(b)は図2(a)のI−Iに沿った断面の様子を示す部分斜視図である。 図3は実施形態の発光装置の製造方法を示す断面図(その1)である。 図4は実施形態の発光装置の製造方法を示す断面図(その2)である。 図5は実施形態の発光装置の製造方法を示す断面図(その3)である。 図6は実施形態の発光装置の製造方法を示す断面図(その4)である。 図7は実施形態の発光装置を示す断面図である。 図8は実施形態の発光装置を示す斜視図である。 図9は実施形態の第1変形例の発光装置を示す部分断面図である。 図10は実施形態の第2変形例の発光装置を示す部分断面図である。
以下、実施形態について、添付の図面を参照して説明する。
本実施形態の説明の前に、基礎となる関連技術(予備的事項)について説明する。
図1に示すように、関連技術の半導体レーザ装置では、銅(Cu)・タングステン(W)部材200の間に半導体レーザ素子100がそれぞれ配置されており、半導体レーザ素子100が銅・タングステン部材200を介して水平方向に積層されている。半導体レーザ素子100はその上側端部に光出射面Aを備えている。
各半導体レーザ素子100はその光出射面Aが上側を向いた状態で一方の側面が金(Au)・錫(Sn)はんだ層120によって銅・タングステン部材200にそれぞれ接合されている。また、各半導体レーザ素子100の他方の側面がインジウム(In)はんだ層140によって銅・タングステン部材200にそれぞれ接合されている。
また、各半導体レーザ素子100の上に円柱状レンズ300がそれぞれ独立して配置されている。複数の半導体レーザ素子100を積層した銅・タングステン部材200はAlN基板やBeO基板などの絶縁基板を介して金属製の放熱板(ヒートブロック)に搭載される。
各半導体レーザ素子100は銅・タングステン部材200を介して電気的に直列に接続されており、右側の半導体レーザ素子100から左側の半導体レーザ素子100に電流が供給される。
これにより、各半導体レーザ素子100の光出射面Aから上側に向けて光がそれぞれ放出され、放出された光は円柱状レンズ300でそれぞれ収束されて、高出力レーザとして外部に出射される。
このように、関連技術の半導体レーザ装置では、複数の半導体レーザ素子100を積層する中間部材として銅・タングステン部材200を使用している。銅・タングステン部材200は加工精度が悪いため十分な厚み精度が得られないと共に、十分な面精度(平滑度)も得られない。
従って、特に銅・タングステン部材200の厚みを400〜100μmに設定して半導体レーザ素子100の配置ピッチを狭くする場合、半導体レーザ素子100の配置ピッチのばらつきが許容値を超えてしまうことが多い。
このため、半導体レーザ素子100の設計上の配置ピッチで円柱状レンズ300を配置すると、半導体レーザ素子100と円柱状レンズ300との間で位置ずれが発生し、積層型の半導体レーザ装置を高精度に構築することが困難になる。
また、銅・タングステン部材200は導電体であるため、絶縁基板を介して金属製の放熱板に搭載する必要があり、部品数が多くなる問題もある。
このように、銅・タングステン部材200を使用する場合、半導体レーザ素子100を狭ピッチで精度よく配置するためには、銅・タングステン部材200の厚み精度の改善や円柱状レンズ300の位置合わせの工夫などが必要になり、コスト高を招くおそれがある。
以下に説明する実施形態では、上記した不具合を解消することができる。
(実施の形態)
図2(a)は実施形態の発光素子を実装するためのパッケージ部品を示す斜視図、図2(b)は図2(a)の斜視図のI−Iに沿った断面の様子を示す部分斜視図である。
図2(a)に示すように、実施形態のパッケージ部品5は、シリコンウェハが3次元的に加工されて個片化されたシリコン立体部材から形成される。パッケージ部品5は、底部10と、底部10の両端にそれぞれ立設する第1側壁部12a及び第2側壁部12bと、底部10の奥端に立設して第1、第2側壁部12a,12bに繋がる後壁部14とを備えている。後壁部14の高さは第1、第2側壁部12a,12bの高さより低く設定されており、後壁部14の上方が開口部9aとなっている。
また、後壁部14に対向する前壁部は存在せず、第1側壁部12aと第2側壁部12bとが対向する領域の前方が開口部9bとなっている。さらに、底部10に対向する天井部は存在せず、天井部が開口部9cとなっている。これにより、第1側壁部12a、第2側壁部12b及び後壁部14の内側にシリコン基板が掘り込まれたキャビティC(立体空間)が設けられている。
このようにして、パッケージ部品5は、底部10、第1、第2側壁部12a,12b、及び後壁部14から形成されるシリコン立体部材からなり、その表面(全露出面)がシリコン酸化層などの絶縁層20(図2(b)の斜視図)で被覆されている。所望の形状のシリコン立体部材を作成した後に、それを熱酸化することにより表面に絶縁層20を形成することができる。
さらに、第1、第2側壁部12a,12bの上面の前方部(キャビティCに対応する部分)が下側に部分的に切削されてレンズ位置決め用の段差部Sがそれぞれ形成されている。段差部Sとして階段状の段差を例示しているが、レンズが配置される位置に凹部(U字状又はV字状の切込部など)を形成してレンズ位置決め用の段差部Sとしてもよい。
図2(b)の斜視図を加えて参照すると、後壁部14には内側面から外側面まで貫通するスルーホールTHが設けられており、スルーホールTH内には絶縁層20を介して銅(Cu)などからなる貫通電極TEが充填されている。貫通電極TEは絶縁層20によって後壁部14(シリコン)と電気的に絶縁されている。
後壁部14の内側面全体に第1配線層30が形成され、後壁部14の外側面全体に第2配線層40が形成されており、第1配線層30と第2配線層40とは貫通電極TEを介して相互接続されている。
さらに、後壁部14の内側面の第1配線層30の上部側にインジウム(In)層32(第1導電性接合材)が形成されている。また、後壁部14の外側面の第2配線層40の上部側に金(Au)・錫(Sn)合金層42(第2導電性接合材)が形成されている。
第1、第2配線層30,40は少なくとも表面が金(Au)層から形成されていればよく、金層の下に銅層などが形成された積層金属膜から形成してもよい。
このようにして、後壁部14の外側面の金・錫合金層42は、第2配線層40、貫通電極TE及び第1配線層30を介して後壁部14の内側面のインジウム層32に電気的に接続されている。
そして、後述するように、後壁部14の内側面のインジウム層32に発光素子(半導体レーザ素子など)の側面が接合されて実装される。
なお、本実施形態では、発光素子をパッケージ部品5に実装するための第1導電性接合材としてインジウム層32を例示するが、各種のはんだ層又は銀ペーストなどの導電性ペーストを使用してもよい。
また、パッケージ部品5の後壁部14の外側面に形成する第2導電性接合材として金・錫合金層42を例示するが、同様に、各種のはんだ層又は銀ペーストなどの導電性ペーストを使用してもよい。
図2(a)のパッケージ部品5のキャビティCの深さD(奥行き)は、発光素子を実装したパッケージ部品5を水平方向(奥行き方向)に積層する際に、発光素子が他のパッケージ部品5と隙間なく積層される深さに設定される。
つまり、パッケージ部品5のキャビティCの深さDは、第1配線層30及びインジウム層32と、発光素子と、第2配線層40及び金・錫合金層42とのトータルの厚みに概ね対応するように設定される。
また、パッケージ部品の厚みTは好適には400〜100μmに設定され、発光素子を実装したパッケージ部品5を水平方向に積層する際に、パッケージ部品5の厚みTによって発光素子の配置ピッチが概ね決定される。
本実施形態のパッケージ部品5は、シリコンウェハをフォトリソグラフィ及びウェットエッチング又はドライエッチングに基づいて精度よく微細加工して作成できるため、銅・タングステン部材を使用する場合より厚み精度や面精度を格段に向上させることができる。
従って、複数のパッケージ部品5の間でそれらの厚みT(図2(a))のばらつきを設計スペック内に抑えることができる。
従って、本実施形態のパッケージ部品5を介して発光素子を積層することにより、複数の発光素子を狭小ピッチで精度よく配置することができる。
次に、前述したパッケージ部品5を使用して発光素子を水平方向に積層することにより発光装置を製造する方法について説明する。
図3に示すように、前述した図2(a)のパッケージ部品5を用意する。図3では図2(a)のパッケージ部品5を横方向に倒して配置した様子を模式的に示している。
次いで、図4に示すように、チップ状の発光素子50を用意する。発光素子50は一方の端部に光出射面Aを備える端面出射型の光デバイスであり、光出射面Aから外側に光が放出される。発光素子50として、例えば、GaAs/AlGaAs系のダブルヘテロ接合構造の半導体レーザ素子が使用される。発光素子50の両側面には電極(不図示)がそれぞれ設けられている。
そして、発光素子50の光出射面Aが外側を向くようにして、発光素子50の一方の側面の電極をパッケージ部品5のインジウム層32の上に配置する。さらに、発光素子50をインジウム層32側に押圧しながら200℃程度の温度雰囲気で加熱することにより、発光素子50をインジウム層32に接合する。
このとき、インジウム層32はその下の第1配線層30(金層)と合金化してインジウム・金合金層32xとなる。インジウム層32の融点は180〜200℃と比較的低いが、インジウム・金合金層32xとなることにより融点が500℃程度まで上昇する。
これにより、一つのパッケージ部品5に発光素子50が実装されて一つの発光素子実装部品6が得られる。そして、このような発光素子実装部品6を所定数用意する。
前述したように、インジウム層32以外のはんだ層や導電性ペーストによって発光素子50をパッケージ部品5に実装してもよい。
続いて、図5に示すように、下側の発光素子実装部品6の発光素子50の他方の側面の電極に、上側の発光素子実装部品6の金・錫合金層42が配置されるようにして、複数の発光素子実装部品6を処理ステージ8の上で積層する。各発光素子実装部品6は同一方向を向いて積層される。
さらに、最上の発光素子実装部品6の上に配線部品60を積層する。配線部品60では、シリコン基板62にスルーホールTHが設けられており、シリコン基板62の両面及びスルーホールTHの内面に絶縁層63が設けられている。そして、スルーホールTHに銅などからなる貫通電極TEが充填されている。
さらに、シリコン基板62の上面側には貫通電極TEに接続される第1配線層64が形成されている。上面側の第1配線層64の上に形成されたインジウム層65に第1接続ピン70が接合されている。
また、シリコン基板62の下面側には貫通電極TEに接続される第2配線層66が形成されている。下面側の第2配線層66の上に金・錫合金層67が形成されている。
そして、配線部品60の下面側の金・錫合金層67が最上の発光素子実装部品6の発光素子50の側面の電極に対応するように、配線部品60を最上の発光素子実装部品6の上に積層する。
この状態で、図5の積層構造体をプレス装置によって下側に押圧しながら、300℃程度の温度雰囲気で加熱する。これにより、下側の発光素子実装部品6の発光素子50と上側の発光素子実装部品6の金・錫合金層42とが接合される。これと同時に、最上の発光素子実装部品6の発光素子50と配線部品60の金・錫合金層67とが接合される。
このとき、発光素子実装部品6のパッケージ部5の底部10及び第1、第2側壁部12a,12bは、他のパッケージ部品5と単に接触した状態となっている。
またこのとき、前述したようにパッケージ部品5のキャビティCの深さD(図2(a))は、発光素子50が隙間なくキャビティCの深さD方向に配置されるように設定されているので、複数の発光素子実装部品6及び配線部品60は傾くことなく水平方向を向いて積層される。
積層される発光素子50の配置ピッチはパッケージ部品5の厚みT(図2(a))で概ね決定される。前述したようにパッケージ部品5はシリコンウェハが高精度に微細加工されて作成されるので、複数の発光素子50を狭ピッチで精度よく配置することができる。
またこのとき、前述したように、各発光素子実装部品6のインジウム層32は発光素子50を実装する際に高融点(500℃程度)のインジウム・金合金層32xになっているので、上記した加熱処理(300℃程度)で再溶融することはなく、接合の不具合が発生するおそれはない。
前述したように、金・錫合金層42,67以外のはんだ層や導電性ペーストによって、一方の発光素子実装部品6の発光素子50と他方の発光素子実装部品6とを接合してもよい。
図6には、上記した方法で4つの発光素子実装部品6を積層し、積層方向を水平方向にして配置した様子が示されている。図6に示すように、図5の方法で発光素子実装部品6を積層した後に、配線部品60と反対の端側(図5の積層時では最下)の発光素子実装部品6の金・錫合金層42に第2接続ピン72が接合される。
そして、銅などの金属製の放熱板80(ヒートブロック)の上にインジウム層82を形成し、発光素子実装部品6の積層体をインジウム層82に押し込んで配置する。
本実施形態のパッケージ部品5は絶縁層20で被覆されたシリコン立体部材から形成されるので、絶縁基板を介すことなく発光素子実装部品6の積層体を放熱板80に搭載することができる。
その後に、図7に示すように、各発光素子実装部品6のレンズ位置決め用の段差部Sにエポキシ樹脂を塗布し、円柱状レンズ84を段差部Sの垂直面に押し当てて配置した後に、加熱処理によってエポキシ樹脂を硬化させて円柱状レンズ84を固定する。このとき、段差部Sは発光素子50の光出射面Aに対応する位置に精度よく形成できるので、円柱状レンズ84が発光素子50に高精度で位置合わせされて配置される。
このため、複雑なアライメント機構を使用することなく、極めて簡易な方法によって円柱状レンズ84を発光素子50に位置合わせして搭載することができる。なお、段差部Sとして凹部を形成する場合は、円柱状レンズ84を凹部に配置することで発光素子50に位置合わせして搭載することができる。
以上により実施形態の発光装置1が得られる。
図8には説明を容易にするために図7の発光装置1から配線部品60と第2接続ピン72を省略した構造体の斜視図が示されている。
図7及び図8に示すように、実施形態の発光装置1では、前述した構造の複数の発光素子実装部品6がパッケージ部品5のキャビティCの奥行き方向(水平方向)に積層されている。図7及び図8の例では4つの発光素子実装部品6が水平方向に積層されているが、発光素子実装部品6の水平方向へ積層数は任意に設定することができる。
さらに、最端の発光素子実装部品6の発光素子50に前述した構造の配線部品60が電気的に接続されて積層されている(図7)。
また、各発光素子実装部品6のレンズ位置決め用の段差部Sに円柱状レンズ84がそれぞれ配置されている。円柱状レンズ84は段差部Sに押し当てられることで発光素子50の光出射面Aに位置合わせされて配置されている。
そして、発光装置1はインジウム層82を介して金属製の放熱板80の上に搭載されている。
本実施形態の発光装置1では、図7に示すように、水平方向に並んで配置された複数の発光素子50は電気的に直列に接続されている。右側の第2接続ピン72から供給される電流は、金・錫合金層42、第2配線層40、貫通電極TE、第1配線層30、及びインジウム・金合金層32xを介して発光素子50に供給される。さらに同様な電流経路によって次の発光素子50に電流が順次供給され、配線部品60の第1接続ピン70側に電流が流れる。
これにより、各発光素子50の光出射面Aから光がそれぞれ放出され、放出された光は円柱状レンズ84でそれぞれ収束されて、高出力レーザとして外部に出射される。各発光素子50から発する熱は、下側のインジウム層82を介して放熱板80に放熱される。
本実施形態では、放熱経路に絶縁基板が存在しないので良好な放熱特性が得られる。これにより、発光装置1の信頼性が向上すると共に、部品点数を削減できるという観点からも有利である。
なお、本実施形態では、パッケージ部5の後壁部14に貫通電極TEを設けることに基づいて隣接する発光素子50同士を電気的に直列に接続して電流を供給しているが、パッケージ部5に必ずしも貫通電極TEを設ける必要はない。
パッケージ部5に貫通電極TEを設けない場合は、各パッケージ部5に発光素子50に接続されるリード端子などがそれぞれ装着されて個別に電流が供給される。
本実施形態の発光装置1では、複数の発光素子50はシリコン立体部材から形成されるパッケージ部5を介して水平方向に積層されている。シリコン立体部材は高精度に微細加工されて作成されるので、十分な厚み精度や面精度が得られる。従って、発光素子50を狭ピッチで精度よく積層できるので、小型化された積層型の発光装置を精度よく構築することができる。
さらには、実装される発光素子50の光出射面Aの位置に合わせてパッケージ部5にレンズ位置決め用の段差部Sを設けることができる。従って、複雑なアライメント機構を採用することなく、円柱状レンズ84を発光素子50に容易に位置合わせして配置することができ、コスト削減を図ることができる。
図9は実施形態の第1変形例の発光装置1aの部分拡大断面図である。図9に示すように、第1変形例の発光装置1aでは、パッケージ部5の後壁部14の外側面において、金・錫合金層42の下側に、溶融する金・錫合金層42を流し込むための凹部14xが設けられている。
図9では、複数の発光素子実装部品6を水平方向に積層した後の様子が示されており、接合時に溶融した金・錫合金層42が後壁部14の凹部14xに流れ込んで溜まっている。
これにより、余分な金・錫合金層42が凹部14xに流れて収容されるため、各発光素子50を接合する金・錫合金層42の厚みのばらつきが抑制され、発光素子50の配置ピッチの精度をさらに向上させることができる。
また、図10は実施形態の第2変形例の発光装置1bの部分拡大断面図である。図10に示すように、第2変形例の発光装置1bでは、一方のパッケージ部5の底部10の後方の外側面に嵌合用の凹部10xが設けられている。そして、他方のパッケージ部5の底部10の前方の外側面に嵌合用の凸部10yが水平方向に突出して設けられている。
複数の発光素子実装部品6を積層する際に、一方のパッケージ部5の底部10の凹部10xに他方のパッケージ部5の底部10の凸部10yを嵌合させる。これにより、複数の発光素子実装部品6の間で水平方向に配置される際の上下方向の位置ずれが防止され、発光装置の信頼性をさらに向上させることができる。
1,1a,1b…発光装置、5…パッケージ部品、6…発光素子実装部品、8…処理ステージ、9a,9b、9c…開口部、10…底部、10x,14x…凹部、10y…凸部、12a…第1側壁部、12b…第2側壁部、14…後壁部、20,63…絶縁層、30,64…第1配線層、32,65,82…インジウム層、32x…インジウム・金合金層、40,66…第2配線層、42,67…金・錫合金層、50…発光素子、60…配線部品、70…第1接続ピン、72…第2接続ピン、80…放熱板、84…円柱状レンズ、A…光出射面、C…キャビティ、TE…貫通電極、TH…スルーホール、S…段差部。

Claims (8)

  1. 底部と、前記底部の両端にそれぞれ立設する側壁部と、前記底部の奥端に立設する後壁部とを備えて内側にキャビティが設けられ、絶縁層で被覆されたシリコン立体部材から形成されたパッケージ部品と、
    前記パッケージ部品の後壁部の内側面に実装され、上側端部に光出射面を備えた発光素子とを有する複数の発光素子実装部品が、
    同一方向を向いて前記キャビティの奥行き方向に積層されており、
    前記パッケージ部品は、前記後壁部の厚み方向に前記絶縁層を介して形成された貫通電極と、前記後壁部の内側面及び外側面にそれぞれ設けられて前記貫通電極を介して相互接続された配線層を有し、
    前記発光素子の一方の側面は第1導電性接合材を介して前記後壁部の内側面の前記配線層に接続されており、前記発光素子の他方の側面は第2導電性接合材を介して他の前記パッケージ部品の後壁部の外側面の前記配線層に接続されていることを特徴とする発光装置。
  2. 前記パッケージ部品の各々の前記側壁部の上面に段差部がそれぞれ設けられており、
    前記段差部の各々に位置決めされてそれぞれ配置され、前記発光素子から放出される光を収束する円柱状レンズをさらに有することを特徴とする請求項に記載の発光装置。
  3. 前記第1導電性接合材はインジウム・金合金層であり、前記第2導電性接合材は金・錫合金層であることを特徴とする請求項に記載の発光装置。
  4. 最端の前記発光素子実装部品の発光素子の側面に配線部品が接続されて積層されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発光装置。
  5. 前記発光素子実装部品の積層体がインジウム層を介して放熱板の上に搭載されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の発光装置。
  6. 底部と、前記底部の両端にそれぞれ立設する側壁部と、前記底部の奥端に立設する後壁部とを備えて内側にキャビティが設けられ、絶縁層で被覆されたシリコン立体部材から形成されたパッケージ部品であって、
    前記後壁部の厚み方向に前記絶縁層を介して形成された貫通電極と、
    前記後壁部の外側面及び内側面にそれぞれ設けられ、前記貫通電極を介して相互接続された配線層と、
    前記後壁部の内側面に設けられた前記配線層の上に形成され、発光素子を接合するための第1導電性接合材と、
    前記後壁部の外側面に設けられた前記配線層の上に形成された第2導電性接合材と
    を有することを特徴とするパッケージ部品。
  7. 前記側壁部の上面には、前記発光素子から放出される光を収束する円柱状レンズを位置決めして配置するための段差部が設けられていることを特徴とする請求項に記載のパッケージ部品。
  8. 前記後壁部の内側面の前記配線層は少なくとも表面が金層から形成され、前記第1導電性接合材はインジウム層であり、前記第2導電性接合材は金・錫合金層であることを特徴とする請求項6又は7に記載のパッケージ部品。
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