JP7427049B2 - 基板処理装置及び基板処理システム - Google Patents

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Description

本発明は、基板処理装置及び基板処理システムに関するものである。
プラズマはイオンやラジカル、そして、電子などでなされたイオン化されたガス状態を言う。プラズマは非常に高い温度や、強い電界、あるいは、高周波電子系(RF Electromagnetic Fields)によって生成される。半導体素子製造工程はプラズマを利用してウェハーなどの基板上に形成された薄膜を除去するエッチング工程を含むことができる。エッチング工程はプラズマのイオン及び/またはラジカルらが基板上の薄膜と衝突するか、または薄膜と反応されることで遂行される。
プラズマを利用して基板を処理する装置は、工程チャンバ、工程チャンバ内で基板を支持してRF電源連結される支持チャック(例えば、ESC)と、支持チャックに安着された基板の外周を取り囲むフォーカスリングを含む。フォーカスリングは基板表面上でプラズマを均一性高く分布させるために設置され、プラズマによって基板と共にエッチングされる。基板に対するエッチングが繰り返し的に行われれば、フォーカスリングも共にエッチングされるが、フォーカスリングの形状は徐徐に変化される。このようなフォーカスリングの形状変化によってイオン及び/またはラジカルが基板に入射される方向が変化されて基板に対するエッチング特性が変化される。よって、基板に対するエッチング処理が所定枚数以上遂行される場合、または、フォーカスリングの形状が変化されて許容範囲の外にある場合にはフォーカスリングに対する交替が必要である。
一般に、フォーカスリングの交替は作業者が工程チャンバをオープンし、オープンされた工程チャンバで使用されたフォーカスリングを取り出し、不使用フォーカスリングを工程チャンバに装着することでなされる。しかし、このような交替方式は作業時間がたくさん所要されるだけでなく、工程チャンバ内にパーティクル(Particle)が流入される可能性が高い。これに、最近には基板処理装置の返送ロボットが使用されたフォーカスリングを工程チャンバで搬出してリングポッド(Ring Pod)に搬入し、以後、返送ロボットがリングポッドで新規フォーカスリングを搬出して工程チャンバに搬入する交替方式を使用する。
一方、フォーカスリングの返送は、基板を返送する返送ロボットが遂行する。返送ロボットはフォーカスリングを工程チャンバ内にあらかじめ決まった位置に返送する。そして、フォーカスリングがあらかじめ決まった位置に返送されたかを確認するために基板と類似な形状を有するビジョンウェハーを通じてフォーカスリングを撮像する。ビジョンウェハーは電力を消耗して駆動される。これに、ビジョンウェハー内にはバッテリーのような電源装置が設置され、ビジョンウェハー内の電源装置は充電が要求される。また、ビジョンウェハー内の電源装置はビジョンウェハーを収納するフープ(FOUP)と同じ容器内でなされることができる。容器内にはビジョンウェハーを充電できるようにバッテリーが具備されることができる。すなわち、ビジョンウェハーを充電するためには、フープ(FOUP)内に具備されたバッテリーの充電が必要である。
フープ(FOUP)内に具備されたバッテリーは、ロードポートに具備される充電ユニットと電源連結されて充電される。一般に、電源連結はコネクタ(Connector)を通じて直接(Direct)連結される。このような電源連結方式は、フープ(FOUP)がロードポートに安着されない場合、または、フープ(FOUP)がロードポートから分離される場合発生されることができるコネクタショート(Connector Short)を防止するための安全装置及び保護回路の具現が必要である。また、コネクタ(Connector)がフープ(FOUP)内に具備されたバッテリーと直接連結されるためには外部に露出しなければならない。しかし、フープ(FOUP)が安着されるロードポートにはフープ(FOUP)内の雰囲気を調節し、フープ(FOUP)のドアを開閉するための多様な基材らが設置される。すなわち、外部に露出しなければならないコネクタの設置位置はロードポートに設置される基材らによって相対的に制約を受ける。また、場合によってはフープ(FOUP)内に具備されたバッテリーの位置が変更されることができる。コネクタは外部に露出するように設置される構成であるので、その位置をバッテリーと対応されるように変更することが難しい。
韓国特許公開第10-2006-0135926号公報
本発明は、容器に設置される電源装置を効果的に充電することができる基板処理装置及び基板処理システムを提供することを一目的とする。
また、本発明は容器に設置される電源装置を充電時ショートが発生することを最小化することができる基板処理装置及び基板処理システムを提供することを一目的とする。
また、本発明は充電ユニットが有する送信部材の設置位置自由度を改善することができる基板処理装置及び基板処理システムを提供することを一目的とする。
本発明の目的はこれに制限されないし、言及されなかったまた他の目的らは下の記載から通常の技術者が明確に理解されることができるであろう。
本発明は、基板を処理する装置を提供する。基板処理装置は、ロードポートを有するインデックス部と、及び前記インデックス部から基板の返送を受けて前記基板を処理する工程処理部を含み、前記ロードポートは、前記内部空間を有するハウジングと、前記ハウジングの上部に配置され、基板型センサーを収納する容器が置かれる安着部と、及び前記容器に設置される電源装置を無線充電方式で充電する充電ユニットを含むことができる。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に提供され、前記電源装置に電力を伝達する送信部材と、前記内部空間に提供され、外部電源ラインと前記送信部材との間に提供される変換部材と、及び前記外部電源ラインの電源が前記送信部材に選択的に伝達されるようにするスイッチ部材を含むことができる。
一実施例によれば、前記変換部材は、前記外部電源ラインが伝達する交流電源を直流電源に変換することができる。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、前記スイッチ部材は、前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出する場合、前記外部電力ラインの電源が前記送信部材に伝達されるようにオン(On)になることがある。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、前記スイッチ部材は、前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出することができない場合、前記外部電力ラインの電源が前記送信部材に伝達されることを遮断するようにオフ(Off)になることがある。
一実施例によれば、前記安着部は、前記安着部に置かれる前記容器の位置を整列する少なくとも一つ以上の整列ピンを含み、前記送信部材は、上部から眺める時、前記整列ピンと重畳されない位置に設置されることができる。
また、本発明は基板を処理するシステムを提供する。基板処理システムは、ロードポートを有するインデックス部と、前記インデックス部から基板の返送を受けて前記基板を処理する工程処理部と、前記ロードポートに置かれて、前記工程処理部に搬入される基板型センサーを収納する容器を含み、前記容器は、一側が開放された収納空間を有する胴体と、前記収納空間を選択的に開閉するドアと、前記収納空間で前記基板型センサーを支持する棚部と、及び前記基板型センサーを充電する電力を伝達する電源装置を含み、前記ロードポートは、前記内部空間を有するハウジングと、前記ハウジングの上部に配置され、基板型センサーを収納する容器が置かれる安着部と、及び前記電源装置を無線充電方式で充電することができる。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に提供され、前記電源装置に電力を伝達する送信部材と、前記内部空間に提供され、外部電源ラインと前記送信部材との間に提供される変換部材と、及び前記外部電源ラインの電力が前記送信部材に選択的に伝達されるようにするスイッチ部材を含むことができる。
一実施例によれば、前記変換部材は、前記外部電源ラインが伝達する交流電源を直流電源に変換することができる。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、前記スイッチ部材は、前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出する場合、前記外部電力ラインの電源が前記送信部材に伝達されるようにオン(On)になることがある。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、前記スイッチ部材は、前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出することができない場合、前記外部電力ラインの電源が前記送信部材に伝達されることを遮断するようにオフ(Off)になることがある。
一実施例によれば、前記容器は、前記棚部に支持された前記基板型センサーを充電する充電モジュールをさらに含み、前記充電モジュールは、前記棚部に支持された前記基板型センサーを無線充電方式で充電することができる。
一実施例によれば、前記充電モジュールは、前記棚部に支持された前記基板型センサーを電磁気誘導方式で充電することができる。
一実施例によれば、前記棚部、そして、前記充電モジュールは複数で提供されることができる。
一実施例によれば、前記システムは、前記容器を保管する保管ユニットをさらに含み、前記保管ユニットは、前記容器が置かれる安着フレームと、前記安着フレームに設置され、前記電源装置に電力を伝達する送信装置と、外部電源ラインと前記送信装置との間に提供される変換装置と、及び前記外部電源ラインの電力が前記送信装置に選択的に伝達されるようにするスイッチ装置を含むことができる。
また、本発明は基板を処理するシステムにおいて、基板処理システムは、内部が大気圧雰囲気で維持されて第1返送ロボットが提供されるインデックスチャンバと、前記インデックスチャンバと接続されるロードポートを有するインデックス部と、前記インデックスチャンバと接続され、内部が大気圧雰囲気と真空圧雰囲気の間で転換されるロードロックチャンバと、前記ロードロックチャンバと接続されて第2返送ロボットが提供される返送チャンバと、前記返送チャンバと接続され、基板を処理する工程チャンバと、及び前記ロードポートに置かれて、前記工程チャンバに返送される消耗性部品の返送位置を収集する基板型センサーを収納する容器を含み、前記ロードポートは、前記内部空間を有するハウジングと、前記ハウジングの上部に配置され、前記容器が置かれる安着部と、及び前記容器に設置される電源装置を無線充電方式で充電する充電ユニットを含むことができる。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に提供され、前記電源装置に電力を伝達する送信部材と、前記内部空間に提供され、外部電源ラインと前記送信部材との間に提供される変換部材と、及び前記外部電源ラインの電力が前記送信部材に選択的に伝達されるようにするスイッチ部材を含むことができる。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、前記スイッチ部材は、前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出する場合、前記外部電力ラインの電源が前記送信部材に伝達されるようにオン(On)になることがある。
一実施例によれば、前記充電ユニットは、前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出することができない場合、前記外部電力ラインの電源が前記送信部材に伝達されることを遮断するようにオフ(Off)になることがある。
一実施例によれば、前記消耗性部品は、前記工程チャンバに提供されるリング部材であり、前記システムは、制御機をさらに含み、前記制御機は、前記消耗性部品が前記工程チャンバ内に返送されるように前記第1返送ロボットと前記第2返送ロボットを制御し、前記基板型センサーが前記工程チャンバ内に返送されるように前記第1返送ロボットと前記第2返送ロボットを制御し、前記基板型センサーは、前記消耗性部品と前記工程チャンバに提供されて基板を支持するチャックを含むイメージを獲得して前記制御機に送って、前記制御機は、前記イメージ内の前記消耗性部品と前記チャック間の間隔を測定し、測定された間隔を通じて前記消耗性部品の整列如何を判断することができる。
本発明の一実施例によれば、容器に設置される電源装置を効果的に充電することができる。
また、本発明の一実施例によれば、容器に設置される電源装置を充電時ショートが発生することを最小化することができる。
また、本発明は充電ユニットが有する送信部材の設置位置自由度を改善することができる。
本発明の効果が上述した効果らに限定されるものではなくて、言及されない効果らは本明細書及び添付された図面から本発明が属する技術分野で通常の知識を有した者に明確に理解されることができるであろう。
本発明の一実施例による基板処理システムを概略的に見せてくれる平面図である。 図1の第1容器の姿を見せてくれる斜視図である。 図2の第1容器に収納される基板の姿を見せてくれる図面である。 図1の第2容器の姿を見せてくれる平断面図である。 図4の支持スロットの姿を見せてくれる図面である。 図4の第2容器に収納されるリング部材の姿を見せてくれる図面である。 リング部材を返送することに使用されるリングキャリアの一例を見せてくれる斜視図である。 図7のリングキャリアの平面図である。 図8のリングキャリアの一部分を拡大して見せてくれる図面である。 図1の第1返送ハンドの姿を概略的に見せてくれる図面である。 図10の第1返送ハンドに基板が置かれた姿を見せてくれる図面である。 図10の第1返送ハンドにリング部材及びリングキャリアが置かれた姿を見せてくれる図面である。 図1の整列チャンバに提供される整列ユニットの姿を見せてくれる図面である。 図13の整列ユニットがリングキャリアを整列する姿を見せてくれる図面である。 同じく、図13の整列ユニットがリングキャリアを整列する姿を見せてくれる図面である。 図1のロードロックチャンバの姿を見せてくれる平断面図である。 図16の支持棚に基板が置かれた姿を見せてくれる図面である。 図16の支持棚にリング部材が置かれた姿を見せてくれる図面である。 図18のリングキャリアがロードロックチャンバから搬出される姿を見せてくれる図面である。 図1の第2返送ハンドの姿を見せてくれる図面である。 図20の第2返送ハンドに基板が置かれた姿を見せてくれる図面である。 図20の第2返送ハンドにリング部材が置かれた姿を見せてくれる図面である。 図1の工程チャンバに提供される基板処理装置の姿を見せてくれる図面である。 本発明の一実施例によるリング部材の位置合わせシーケンスを見せてくれるフローチャートである。 基板型センサーが獲得するイメージを通じてリング部材の中心位置を検出する姿を見せてくれる図面である。 同じく、基板型センサーが獲得するイメージを通じてリング部材の中心位置を検出する姿を見せてくれる図面である。 図1の第3容器を見せてくれる断面図である。 図27の充電モジュールを上部から眺めた図面である。 図1のロードポートに提供されるハウジング、安着部、そして、充電ユニットを見せてくれる図面である。 図29のロードポートを上部から眺めた図面である。 本発明の基板処理システムが含むことができる保管ユニットを見せてくれる図面である。 本発明の基板処理システムが含むことができる返送装置が第3容器を返送する姿を見せてくれる図面である。
以下では添付した図面を参照にして本発明の実施例に対して本発明が属する技術分野で通常の知識を有した者が容易に実施できるように詳しく説明する。しかし、本発明はいろいろ相異な形態で具現されることができるし、ここで説明する実施例で限定されない。また、本発明の望ましい実施例を詳細に説明するにおいて、関連される公知機能または構成に対する具体的な説明が本発明の要旨を不必要に曇ることがあると判断される場合にはその詳細な説明を略する。また、類似機能及び作用をする部分に対しては図面全体にかけて等しい符号を使用する。
ある構成要素を‘包含'するということは、特別に反対される記載がない限り他の構成要素を除くことではなく、他の構成要素をさらに含むことができるということを意味する。具体的に,“含む”または“有する”などの用語は明細書上に記載した特徴、数字、段階、動作、構成要素、部品またはこれらを組み合わせたものが存在することを指定しようとすることであって、一つまたはその以上の他の特徴らや数字、段階、動作、構成要素、部品またはこれらを組み合わせたものなどの存在または付加可能性をあらかじめ排除しないものとして理解されなければならない。
単数の表現は文脈上明白に異なるように志さない限り、複数表現を含む。また、図面で要素らの形状及び大きさなどはより明確な説明のために誇張されることがある。
第1、第2などの用語は多様な構成要素らを説明するのに使用されることができるが、前記構成要素らは前記用語によって限定されてはいけない。前記用語は一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的で使用されることができる。例えば、本発明の権利範囲から離脱されないまま第1構成要素は第2構成要素で命名されることができるし、類似第2構成要素も第1構成要素に命名されることができる。
ある構成要素が異なる構成要素に“連結されて”いるか、または“接続されて”いると言及された時には、その他の構成要素に直接的に連結されているか、または接続されていることもあるが、中間に他の構成要素が存在することもあると理解されなければならないであろう。反面に、ある構成要素が異なる構成要素に“直接連結されて”いるか、または“直接接続されて”いると言及された時には、中間に他の構成要素が存在しないことで理解されなければならないであろう。構成要素らとの関係を説明する他の表現ら、すなわち“~間に”と“すぐ~間に”または“~に隣合う”と“~に直接隣合う”なども同じく解釈されなければならない。
異なるように定義されない限り、技術的であるか科学的な用語を含んでここで使用されるすべての用語らは、本発明が属する技術分野で通常の知識を有した者によって一般的に理解されることと等しい意味である。一般に使用される前もって定義されているもののような用語は、関連技術の文脈上有する意味と一致する意味であることで解釈されなければならないし、本出願で明白に定義しない限り、理想的や過度に形式的な意味で解釈されない。
以下では、図1乃至図25を参照して本発明の実施例に対して説明する。
図1は、本発明の一実施例による基板処理システムを概略的に見せてくれる図面である。図1を参照すれば、本発明の一実施例による基板処理システムは、基板処理装置10、容器20、そして、リングキャリア30を含むことができる。
本発明の一実施例による容器20は基板処理装置10が有するロードポート110に置かれることができる。容器20は基板処理装置10が有するロードポート110に天井移送装置(Overhead Transport apparatus、OHT)によって基板処理装置10が有するロードポート110に置かれることができる。容器20内には多様な物品が収納されることができる。容器20は収納される物品の種類によって多様な種類の容器を含むことができる。容器20はFOUPまたはPODと呼ばれることもできる。
例えば、図2に示されたように容器20らのうちで何れか一つの第1容器21内には、基板処理装置10で処理される被処理物が収納されることができる。被処理物は図3に示されたウェハーと同じ基板(W)であることがある。また、基板(W)にはノッチ(Notch、N)が形成されることができる。基板(W)が基板処理装置10で適切に処理されるためには、基板(W)を基板処理装置10の所望の位置に正確に返送することが必要である。基板(W)に形成されたノッチ(N)は基板(W)の正確な返送のための基板(W)の整列に使用される。基板(W)の整列は後述するように整列ユニット200を通じて行われることができる。
また、図4に示されたように容器20らのうちで他のひとつである第2容器22内には、基板処理装置10に装着されて交替が必要な消耗性部品が収納されることができる。消耗性部品はフォーカスリング、誘電体リングのようなリング部材(R)であることがある。リング部材(R)の外周直径は、基板(W)の外周直径より大きい直径を有することができる。これに、第2容器22内の空間は第1容器21内の空間より少し大きい体積を有することができる。また、第2容器22内でリング部材(R)を支持するための支持スロット22a、22cは、上部から眺める時お互いに相異な位置に複数個が提供されることができる。また、支持スロット22a、22cらは後述するリングキャリア30に形成された開口32と対応する位置に配置されることができる。これはリングキャリア30を利用して第2容器22からリング部材(R)を搬出時、リングキャリア30が支持スロット22a、22cと干渉されることを防止するためである。
また、支持スロット22a、22cらのうち少なくとも一つ以上(例えば、複数)の支持スロット22aには図5に示されたように整列ピン22bが形成されることができる。このような整列ピン22bは図6に示されたリング部材(R)の下面に形成される整列溝(G)に挿入されることができる。リング部材(R)が基板処理装置10の所望の位置に適切に装着されるためには、リング部材(R)を正確な位置に返送することが重要である。リング部材(R)を正確な位置に返送するためには、後述するリング部材(R)が後述する第1返送ハンド152の等しい位置に置かれることが重要である。整列ピン22bはリング部材(R)の側方向の位置変更を制限してリング部材(R)が第1返送ハンド152に同じ位置に置かれることができるようにできる。
また、作業者(Operator)はリング部材(R)の下面に形成された整列溝(G)を整列ピン22bに差し入れることだけでリング部材(R)を第2容器22内に正確な位置に収納させることができる。作業者の熟練度によってリング部材(R)が第2容器22内に収納される位置は変わることができるが、整列ピン22bはこのような問題を最小化することができる。また、整列ピン22bによって整列されるリング部材(R)の方向はすべて同じ方向に整列されることができる。例えば、整列ピン22bによって整列されるリング部材(R)のフラットゾーン(Flat-Zone)はすべて同じ方向に整列されることができる。要するに、整列ピン22bによってリング部材(R)がすべて同じ方向に整列されるので、リング部材(R)をリングキャリア30に安着させるためのリング部材(R)の方向整列は別に必要なではないこともある。
本発明の一実施例によるリングキャリア30は、リング部材(R)を返送することに使用されることができる。例えば、リングキャリア30は後述するインデックスチャンバ130、整列チャンバ170、そして、ロードロックチャンバ310の間でリング部材(R)を返送することに使用されることができる。リングキャリア30は上述した容器20内に収納されることができる。例えば、リングキャリア30は上述した第2容器22内に収納されることができる。リングキャリア30は第2容器22内に収納されるリング部材(R)より下に収納されることができる。第2容器22内に収納されるリングキャリア30はその方向が整列された状態で第2容器22内に収納されることができる。リングキャリア30は後述する第1返送ロボット150がリング部材(R)を返送することに使用することができる。
図7は、リング部材を返送することに使用されるリングキャリアの一例を見せてくれる斜視図であり、図8は図7のリングキャリアの平面図であり、図9は図8のリングキャリアの一部分を拡大して見せてくれる図面である。図7乃至図9を参照すれば、本発明の一実施例によるリングキャリア30は胴体31、そして、ガイド部34を含むことができる。
胴体31はリング部材(R)が置かれる安着面を有することができる。胴体31の上面にはリング部材(R)が置かれることができる。胴体31は板形状を有することができる。胴体31は円板形状を有することができる。胴体31が円板形状を有することは、整列ユニット200によるリングキャリア30の方向整列動作を基板(W)の方向整列動作と等しくするか、または、少なくとも類似にさせるためのことである。
胴体31の中央領域はホールが形成されないブロッキングプレート(Blocking Plate)で提供されることができる。また、胴体31の縁領域には少なくとも一つ以上の開口32らが形成されることができる。開口32は胴体31の縁領域に複数個が形成されることができる。開口32は胴体31の上面から下面まで延長されて形成されることができる。すなわち、開口32は胴体31を貫通して形成されることができる。開口32は胴体31の縁領域に形成されるが、胴体31の外周を含む胴体31の縁領域に形成されることができる。すなわち、開口32は胴体31の外周まで延長されて形成されることができる。また、開口32らは上部から眺める時、ロードロックチャンバ310に提供される支持棚320らと重畳される位置に形成されることができる。また、開口32らは上部から眺める時、第2容器22の支持スロット22a、22cらと重畳される位置に形成されることができる。これはリングキャリア30を利用してリング部材(R)を返送時、リングキャリア30が支持棚320または支持スロット22a、22cらと重畳されることを防止するためである。
胴体31にはアラインホール33が形成されることができる。アラインホール33は、上部から眺める時後述する第1ガイド部35、そして、第2ガイド部36の間に形成されることができる。アラインホール33はリングキャリア30を後述する整列ユニット200が整列時使用されるホールであることができる。アラインホール33は胴体31の上面から下面まで延ばして形成されることができる。すなわち、アラインホール33は胴体31を貫通して形成されることができる。また、アラインホール33が形成される位置は、基板(W)に形成されたノッチ(N)と重畳される位置に形成されることができる。例えば、胴体31の中心からアラインホール33の中心までの距離は、基板(W)の中心からノッチ(N)の中心までの距離と同じであることがある。これは整列ユニット200によるリングキャリア30の方向整列動作を基板(W)の方向整列動作と等しくするか、または少なくとも類似にさせるためである。
リング部材(R)がリングキャリア30に安着され、リングキャリア30が第1返送ハンド152によって返送される場合、リング部材(R)は第1返送ハンド152の直線運動によってスライディングされるか、または、第1返送ハンド152の回転運動によって安着された位置が曲がることがある。ガイド部34はこのようなリング部材(R)のスライディングまたは曲がることを防止することができる。ガイド部34はガイド突起と称されることもある。
ガイド部34は胴体31の上面から突き出されて形成されることができる。ガイド部34は胴体31の上面から上の方向に突き出されて形成されることができる。リングキャリア30に置かれるリング部材(R)の内周は、フラット-ゾーン(Flat Zone、FZ)及びラウンド-ゾーン(Round Zone、RZ)を有することができる、ガイド部34はリング部材(R)のフラット-ゾーン(FZ)の内周と向い合う位置に形成されることができる。ガイド部34はリング部材(R)の内周と対応する形状を有することができる。ガイド部34はフラット-ゾーン(FZ)を含むリング部材(R)の内周と対応する形状を有することができる。
ガイド部34は第1ガイド部(第1ガイド突起)35、そして、第2ガイド部(第2ガイド突起)36を含むことができる。第1ガイド部35と第2ガイド部36はお互いに対称される形状を有することができる。例えば、第1ガイド部35と第2ガイド部36はその間に形成されるアラインホール33を基準にお互いに対称される形状を有することができる。
第1ガイド部35は第1フラット部(35F)と第1ラウンド部(35Z)を含むことができる。第2ガイド部36は第2フラット部(36F)と第2ラウンド部(36Z)を含むことができる。第1フラット部(35F)はフラット-ゾーン(FZ)の内周と対応する形状を有することができる。第1ラウンド部(35Z)は第1フラット部(35F)から折曲されて延長され、リング部材(R)が有するラウンド-ゾーン(RZ)の内周と対応する形状を有することができる。第1フラット部(35F)と第1ラウンド部(35Z)はそれぞれ第2フラット部(36F)と第2ラウンド部(36Z)と対称される形状を有し、繰り返される説明は略する。
ガイド部34はリング部材(R)のフラット-ゾーン(FZ)がリングキャリア30上で一定な方向に整列されるように助ける。また、第1ガイド部34と第2ガイド部35との間にはアラインホール33が形成される。これに、後述する整列ユニット200を利用してリングキャリア30を整列すれば、リングキャリア30に置かれたリング部材(R)のフラット-ゾーン(FZ)の方向も所望の方向に整列されることができる。また、第1ラウンド部(35Z)及び第2ラウンド部(36Z)の外周と、ラウンド-ゾーン(RZ)の内周はお互いに同じ曲率半径を有することができる。また、第1ラウンド部(35Z)及び第2ラウンド部(36Z)の外周と、基板(W)の外周はお互いに同じ曲率半径を有することができる。
再び図1を参照すれば、本発明の一実施例による基板処理装置10はインデックス部100、工程処理部300、そして、制御機700を含むことができる。インデックス部100と工程処理部300は上部から眺める時第1方向(X)に沿って配列されることができる。以下では、上部から眺める時、第1方向(X)と垂直な方向を第2方向(Y)で定義する。また、第1方向(X)及び第2方向(Y)と垂直な方向を第3方向(Z)で定義する。ここで、第3方向(Z)は地面に対して垂直な方向を意味することができる。
インデックス部100はロードポート110、インデックスチャンバ130、第1返送ロボット150、そして、整列チャンバ170を含むことができる。
ロードポート110には容器20が安着されることができる。容器20は上述したようにOHTによってロードポート110に返送されてロードポート110にローディング(Loading)されるか、または、ロードポート110からアンローディング(Unloading)されて返送されることができる。しかし、これに限定されるものではなくて、容器20を返送する多様な装置によって返送されることができる。また、作業者が容器20を直接ロードポート110にローディングさせるか、または、ロードポート110に安着された容器20をロードポート110からアンローディングさせることができる。
ロードポート110と工程処理部300との間にはインデックスチャンバ130が提供されることができる。すなわち、インデックスチャンバ130にはロードポート110が接続されることができる。インデックスチャンバ130は内部が大気圧雰囲気で維持されることができる。
また、インデックスチャンバ130には第1返送ロボット150が提供されることができる。第1返送ロボット150はロードポート110に安着された容器200、後述するロードロックチャンバ310、そして、整列チャンバ170の間で基板(W)、そして、リング部材(R)を返送することができる。また、第1返送ロボット150は第1返送ハンド152を有することができる。第1返送ハンド152の上面には図10に示されたように複数の第1支持パッド153が提供されることができる。例えば、第1支持パッド153は3個が提供され、第1返送ハンド152に置かれる返送対象物を3点支持することができる。第1支持パッド153は第1返送ハンド152に置かれる基板(W)またはリングキャリア30の滑ることを防止することができる。第1支持パッド153らは上部から眺める時、一半径を有する仮想の円の円周方向に沿って配列されることができる。また、第1返送ハンド152は上述した容器20に進入し易い大きさで提供されることができる。また、第1返送ハンド152上には図11に示されたように基板(W)が置かれることができるし、図12に示されたようにリング部材(R)を支持するリングキャリア30が置かれることができる。
インデックスチャンバ130の一側及び/または他の側には後述する整列ユニット200が提供される整列チャンバ170が設置されることができる。整列チャンバ170は基板(W)またはリングキャリア30を整列することができる。図13は、図1の整列チャンバに提供される整列ユニットの姿を見せてくれる図面である。図13を参照すれば、整列チャンバ170に提供される整列ユニット200は基板(W)に対する整列を遂行することができる。例えば、整列ユニット200は基板(W)に形成されたノッチ(N)の方向を整列することができる。また、整列ユニット200はリングキャリア30に形成されたアラインホール33の方向を整列することができる。
整列ユニット200はチャック210、支持機構220、照射部230、そして、受光部240を含むことができる。チャック210は基板(W)の中央領域を支持することができる。チャック210は真空吸着方式で基板(W)を支持することができる。これと異なりチャック210の上面には支持対象物の滑ることを防止するパッドが提供されることもできる。チャック210は基板(W)を回転させることができる。
支持機構220は照射部230、そして、受光部240を支持することができる。照射部230はチャック210に支持された基板(W)の上側で、下に向ける方向に光(L)を照射することができる。光(L)は一定幅を有するレーザーであることがある。受光部240は照射部230と向い合うように配置されることができる。例えば、受光部240は照射部230から照射される光(L)の照射経路上に配置されることができる。チャック210は照射部230から照射する光(L)が基板(W)に形成されたノッチ(N)を通じて受光部240に至るまで、基板(W)を回転させることができる。受光部240に光(L)が受光されれば、チャック210は基板(W)の回転を止めて、基板(W)の整列を完了することができる。
図14に示されたように整列ユニット200は上述した基板(W)整列方式と類似に、リングキャリア30に対する整列を遂行することができる。リングキャリア30には上述したようにアラインホール33が形成されている。リングキャリア30がチャック210に置かれれば、チャック210は照射部230から照射する光(L)がリングキャリア30に形成されたアラインホール33を通じて受光部240に至るまで、基板(W)を回転させることができる。受光部240に光(L)が受光されれば、チャック210はリングキャリア30の回転を止めて、リングキャリア30の整列を完了することができる。前述したようにアラインホール33が形成される位置は、基板(W)にノッチ(N)が形成された位置とお互いに重畳されることができるので、同じ整列ユニット200を利用してリングキャリア30及び基板(W)に対する整列を遂行することができるようになる。
図14ではリングキャリア30上にリング部材(R)が置かれた状態でリングキャリア30の整列が遂行されることを例に挙げて説明したが、これに限定されるものではない。必要によって、図15に示されたようにリングキャリア30上にリング部材(R)が置かれない状態でリングキャリア30の整列が遂行されることもできる。
再び図1を参照すれば、工程処理部300はロードロックチャンバ310、返送チャンバ330、第2返送ロボット350、そして、工程チャンバ370を含むことができる。
ロードロックチャンバ310はインデックスチャンバ130、そして、返送チャンバ330の間に配置されることができる。インデックスチャンバ130は上述したように内部雰囲気が大気圧雰囲気で維持されることができる。返送チャンバ330は後述するように内部雰囲気が真空圧雰囲気で維持されることができる。ロードロックチャンバ310はインデックスチャンバ130、そして、返送チャンバ330の間に配置され、その内部雰囲気が大気圧雰囲気と真空圧雰囲気との間で転換されることができる。
図16は、図1のロードロックチャンバの姿を見せてくれる平断面図である。図16を参照すれば、ロードロックチャンバ310はハウジング311、そして、支持棚320を含むことができる。
ハウジング311は内部空間312を有することができる。ハウジング311は基板(W)またはリング部材(R)が安着される内部空間312を有することができる。ハウジング311は上述したインデックスチャンバ130、そして、返送チャンバ330の間に配置されることができる。また、ハウジング311には開口が形成されることができる。ハウジング311に形成された開口は複数で提供されることができる。例えば、開口らのうちで第1開口311aはゲートバルブ(図示せず)によってインデックスチャンバ130と選択的に連通されることができる。また、開口らのうちで第2開口311bはゲートバルブ(図示せず)によって返送チャンバ330と選択的に連通されることができる。
また、ハウジング311にはハウジング311の内部空間312にベントガス(Bent Gas)を供給するベントホール313が形成されることができる。また、ハウジング311にはハウジング311の内部空間312を減圧する減圧ホールが形成されることができる。ベントガスは不活性ガスであることができる。例えば、ベントガスは窒素、アルゴンなどを含むガスであることができる。しかし、これに限定されるものではなくて、ベントガスは公知された不活性ガスで多様に変形されることができる。また、減圧ホール314は減圧部材(図示せず)と連結されることができる。減圧部材はポンプであることができる。しかし、これに限定されるものではなくて減圧部材は内部空間312を減圧させる公知された装置で多様に変形されることができる。ハウジング311にベントホール313及び減圧ホール314が形成されることによって、ハウジング311の内部空間の圧力は大気圧、そして、真空圧の間で自由に変形されることができる。
内部空間312には支持棚320が提供されることができる。支持棚320は内部空間312で基板(W)またはリング部材(R)を支持することができる。また、リング部材(R)が有する直径は、基板(W)の直径より大きくなることができる。
支持棚320は少なくとも一つ以上が提供されることができる。例えば、支持棚320は複数で提供されることができる。支持棚320は3個が提供されることができる。支持棚320は上部から眺める時、お互いに離隔されて提供されることができる。支持棚320は上部から眺める時、前述したリングキャリア30に形成された開口32と重畳される位置に配置されることができる。例えば、支持棚320は上部から眺める時、整列ユニット200によって方向が整列されたリングキャリア30に形成された開口32と重畳される位置に配置されることができる。また、支持棚320はその断面から眺める時、概して
形状を有することができる。
また、支持棚320は第1パッド324、そして、第2パッド326を含むことができる。第1パッド324、そして、第2パッド326は基板(W)またはリング部材(R)に対して耐摩擦性を有する材質で提供されることができる。例えば、第1パッド324、そして、第2パッド326は炭素充填されたPEEK(Poly Ether Ether Ketone)のような材質で提供されることができる。しかし、第1パッド324、そして、第2パッド326の材質で炭素充填されたPEEKが利用されることは一例に過ぎなくて、これと類似な性質を有する公知された他の材質で多様に変形されることができる。
第1パッド324は上部から眺める時、概して弧形状を有することができる。第1パッド324は第2パッド326より減圧ホール314に隣接するように配置されることができる。第1パッド324は上部から眺める時、基板(W)の外周より内側に配置されることができる。すなわち、第1パッド324は図17に示されたように基板(W)とリング部材(R)のうちで基板(W)を支持することができる。
第2パッド326は上部から眺める時、概して弧形状を有することができる。第2パッド326は第1パッド324より減圧ホール314から遠く配置されることができる。第2パッド326は上部から眺める時、基板(W)の外周及びリング部材(R)の内周より外側に配置されるが、リング部材(R)の外周よりは内側に配置されることができる。すなわち、第2パッド326は基板(W)とリング部材(R)のうちでリング部材(R)を支持することができる。
また、支持棚320は上部から眺める時、リングキャリア30に形成された開口32らと重畳される位置に配置される。これに、図18に示されたように第1返送ハンド152がリング部材(R)が置かれたリングキャリア30をロードロックチャンバ310内に搬入し、第1返送ハンド152が下の方向に移動すれば、リング部材(R)は支持棚320に置かれて、リングキャリア30は第1返送ハンド152に置かれた状態で下の方向に移動されることができる。以後、図19に示されたように第1返送ハンド152が後進すれば、リングキャリア30はリング部材(R)と分離されてロードロックチャンバ310から搬出されることができる。
再び図1を参照すれば、返送チャンバ330はロードロックチャンバ310、そして、工程チャンバ370の間に配置されることができる。返送チャンバ330は内部雰囲気が真空圧雰囲気で維持されることができる。返送チャンバ330には第2返送ロボット350が提供されることができる。第2返送ロボット350はロードロックチャンバ310と工程チャンバ370との間で基板(W)またはリング部材(R)を返送することができる。また、第2返送ロボット350は第2返送ハンド352を有することができる。
図20は、図1の第2返送ハンドの姿を見せてくれる図面である。図20を参照すれば、第2返送ロボット350が有する第2返送ハンド352は第1返送ハンド152より相対的に大きい大きさを有することができる。第2返送ハンド352上には一対の第1返送パッド353、一対の第2返送パッド354、一対の第3返送パッド355、そして、一対の第4返送パッド356が提供されることができる。第2返送パッド354及び第3返送パッド355は第1返送パッド353及び第4返送パッド356の間に配置されることができる。第2返送パッド354及び第3返送パッド355は上部から眺める時、基板(W)の外周より内側に配置されることができる。すなわち、第2返送パッド354及び第3返送パッド355は図21に示されたように基板(W)とリング部材(R)のうちで基板(W)を支持することができる。第1返送パッド353及び第4返送パッド356は上部から眺める時、基板(W)の外周及びリング部材(R)の内周より外側に配置されるが、リング部材(R)の外周よりは内側に配置されることができる。すなわち、第2パッド326は基板(W)とリング部材(R)のうちでリング部材(R)を支持することができる。
再び図1を参照すれば、返送チャンバ330には少なくとも一つ以上の工程チャンバ370が接続されることができる。工程チャンバ370は基板(W)に対して工程を遂行するチャンバであることがある。工程チャンバ370は基板(W)に処理液を供給して基板(W)を処理する液処理チャンバであることがある。また、工程チャンバ370はプラズマを利用して基板(W)を処理するプラズマチャンバであることがある。また、工程チャンバ370らのうちである一部は基板(W)に処理液を供給して基板(W)を処理する液処理チャンバであることがあるし、工程チャンバ370らのうちで他の一部はプラズマを利用して基板(W)を処理するプラズマチャンバであることがある。しかし、これに限定されるものではなくて、工程チャンバ370で遂行する基板(W)処理工程は公知された基板(W)処理工程で多様に変形されることができる。また、工程チャンバ370がプラズマを利用して基板(W)を処理するプラズマチャンバである場合、プラズマチャンバはプラズマを利用して基板(W)上の薄膜を除去するエッチングまたはアッシング工程を遂行するチャンバであることがある。しかし、これに限定されるものではなくて、工程チャンバ370で遂行するプラズマ処理工程は公知されたプラズマ処理工程で多様に変形されることができる。
図23は、図1の工程チャンバに提供される基板処理装置の姿を見せてくれる図面である。図23を参照し、工程チャンバ370に提供される基板処理装置500に対して詳しく説明する。基板処理装置500は基板(W)にプラズマを伝達して基板(W)を処理することができる。
基板処理装置500は処理容器510、ゲートバルブ520、排気ライン530、電源ユニット540、支持ユニット550、第1リフトピンモジュール560、第2リフトピンモジュール570、バッフル板580、そして、ガス供給ユニット590を含むことができる。
処理容器510は処理空間を有することができる。処理容器510は接地されることができる。処理容器510は基板(W)が処理される処理空間を提供することができる。処理容器510の処理空間は、基板(W)処理時に概して真空雰囲気で維持されることができる。処理容器510の一側には基板(W)及びリング部材(R)が搬入/搬出される搬入口512が形成されることができる。ゲートバルブ520は搬入口512を選択的に開閉させることができる。
処理容器510の底面には排気ホール514が形成されることができる。排気ホール514には排気ライン530が連結されることができる。排気ライン530は排気ホール514を通じて処理容器510の処理空間に供給された工程ガス、工程副産物などを処理容器510の外部に排気させることができる。また、排気ホール514の上部には処理空間に対する排気がより均一になされるようにする排気板532が提供されることができる。排気板532は上部から眺める時、概してリング形状を有することができる。また、排気板532には少なくとも一つ以上の排気ホールが形成されることができる。作業者は多様な形状、大きさなどで提供される複数の排気板532のうちで、処理空間を均一に排気することができる排気板532を選択して排気ホール514上部に設置することができる。
また、処理容器510は支持部材516をさらに含むことができる。支持部材516は後述する支持ユニット550が有する基材のうち少なくとも一部を支持することができる。例えば、支持部材516は支持ユニット550が有する絶縁板554の下部を支持できるように構成されることができる。
電源ユニット540は後述するガス供給ユニット590が供給する工程ガスをプラズマ状態で励起させるRFパワーを発生させることがある。電源ユニット540は電源542、そして、整合機544を含むことができる。電源542、そして、整合機544は電力伝達ライン上に設置されることができる。また、電力伝達ラインはチャック552と連結されることができる。
支持ユニット550は処理容器510の処理空間で基板(W)を支持することができる。支持ユニット550はチャック552、絶縁板554、そして、クオーツリング556を含むことができる。
チャック552は基板(W)を支持する支持面を有することができる。チャック552は基板(W)を支持し、支持された基板(W)をチャックキングすることができる。例えば、チャック552内には静電プレート(図示せず)が提供され、基板(W)を静電気力をチャックキングする静電チャックであることがある。例えば、チャック552はESC(Electrode Static Chuck)であることがある。しかし、これに限定されるものではなくて、チャック552は真空吸着方式で基板(W)をチャックキングすることもできる。
絶縁板554は上部から眺める時円板形状を有することができる。絶縁板554上には上述したチャック552、そして、後述するクオーツリング556が置かれることができる。絶縁板554は誘電体で提供されることができる。例えば、絶縁板554はセラミックスを含む材質で提供されることができる。
クオーツリング556はクオーツ(Quartz、石英)を含む材質で提供されることができる。クオーツリング556は上部から眺める時リング形状を有することができる。クオーツリング556は上部から眺める時チャック552を囲む形状を有することができる。クオーツリング556は上部から眺める時チャック552に支持された基板(W)を囲む形状で提供されることができる。また、クオーツリング556の内側上面にはリング部材(R、例えばフォーカスリング)が置かれることができる。
クオーツリング556の上面に置かれるリング部材(R)は上部から眺める時、リング形状を有することができる。リング部材(R)は内側上面の高さが外側上面の高さよりさらに低い形状を有することができる。リング部材(R)の内側上面には基板(W)の縁領域の下面が置かれることができる。また、リング部材(R)は内側上面と外側上面との間に基板(W)の中心で基板(W)の外側を向ける方向に上向き傾いた傾斜面を有することができる。これに、基板(W)がリング部材(R)の内側上面に置かれる時、置かれる位置が少し不正確であっても、基板(W)がリング部材(R)の傾斜面に沿ってスライディングされながら、基板(W)はリング部材(R)の内側上面に適切に置かれることができる。
第1リフトピンモジュール560はクオーツリング556の上面に置かれるリング部材(R)を昇降させることができる。第1リフトピンモジュール560は第1リフトピン562、そして、第1ピン駆動部564を含むことができる。第1リフトピン562は複数で提供されることができるし、それぞれの第1リフトピン562を上下方向に移動させる第1ピン駆動部564も複数で提供されることができる。また、第1リフトピン562は上部から眺める時、チャック552と重畳されないように配置されることができる。リフトピン562は絶縁板554及び/またはクオーツリング556に形成されたピンホールに沿って上下方向に移動されることができる。また、ピン駆動部564は空圧または油圧を利用したシリンダーであるか、または、モータであることがある。
第2リフトピンモジュール570は基板(W)を昇降させることができる。第2リフトピンモジュール570は第2リフトピン572、昇降プレート574、そして、第2ピン駆動部576を含むことができる。第2リフトピン572は昇降プレート574に結合されることができる。昇降プレート574は第2ピン駆動部576によって上下方向に移動されることができる。
バッフル板580は支持ユニット550の上部に提供されることができる。バッフル板580は電極材質で提供されることができる。バッフル板580には少なくとも一つ以上のバッフルホール582が形成されることができる。例えば、バッフルホール582は複数で形成されるが、上部から眺める時、バッフル板580の前領域に均一に形成されることができる。バッフル板580は後述するガス供給ユニット590が供給する工程ガスを基板(W)に均一に伝達することができるようにする。
ガス供給ユニット590は処理容器510の処理空間に工程ガスを供給することができる。工程ガスは上述した電源ユニット540によってプラズマ状態で励起されるガスであることができる。ガス供給ユニット590はガス供給源592、そして、ガス供給ライン594を含むことができる。ガス供給ライン594の一端はガス供給源592と連結され、ガス供給ライン594の他端は処理容器510の上部と連結されることができる。これに、ガス供給源592が伝達される工程ガスは、ガス供給ライン594を通じてバッフル板580の上部領域に供給されることができる。バッフル板580の上部領域に供給された工程ガスはバッフルホール582を通じて処理容器510の処理空間に流入されることができる。
再び図1を参照すれば、制御機700は基板処理装置10を制御することができる。制御機700はインデックス部100、そして、工程処理部300を制御することができる。制御機700は第1返送ロボット150、第2返送ロボット350を制御することができる。制御機700は工程チャンバ370でプラズマを利用して基板(W)を処理するように工程チャンバ370に提供される基板処理装置500を制御することができる。また、制御機700は以下で説明するリング部材(R)を返送する返送方法を基板処理装置10が遂行するように基板処理装置10が有する構成らを制御することができる。
また、制御機700は基板処理装置10の制御を行うマイクロプロセッサー(コンピューター)でなされるプロセスコントローラーと、オペレーターが基板処理装置10を管理するためにコマンド入力操作などを行うキーボードや、基板処理装置10の稼働状況を可視化して表示するディスプレイなどでなされるユーザーインターフェースと、基板処理装置10で実行される処理をプロセスコントローラーの制御で行うための制御プログラムや、各種データ及び処理条件によって各構成部に処理を実行させるためのプログラム、すなわち、処理レシピが保存された保存部を具備することができる。また、ユーザーインターフェース及び保存部はプロセスコントローラーに接続されてあり得る。処理レシピは保存部のうちで保存媒体に保存されてあり得て、保存媒体は、ハードディスクでも良く、CD-ROM、DVDなどの可搬性ディスクや、フラッシュメモリーなどの半導体メモリーであることもある。
以下では、本発明の一実施例によるリング部材(R)返送方法に対して説明する。具体的に、不使用リング部材(R)を工程チャンバ370で返送する返送シーケンスに対して説明する。
工程チャンバ370に装着されたリング部材(R)の交替時期に至れば、OHTはロードポート110に第2容器22を返送することができる。第2容器22がロードポート110に返送されれば、第1返送ロボット150は第1返送ハンド152を利用して第2容器22内に収納されたリングキャリア30を第2容器22から搬出することができる。この時、リングキャリア30の方向は整列された状態で第2容器22内に収納されてあり得る。もし、リングキャリア30の方向整列が必要な場合には第1返送ロボット150はリングキャリア30を整列チャンバ170に返送し、返送ユニット200はリング部材(R)が置かれていない状態のリングキャリア30を整列することもできる。
以後、第1返送ハンド152はリングキャリア30を支持した状態で第2容器22内に進入することができる。第1返送ハンド152が第2容器22内への進入が完了すれば、第1返送ハンド152は上の方向に移動して第2容器22内に収納された未使用リング部材(R)をリングキャリア30上に安着させることができる。この時、リング部材(R)は第2容器22内で整列ピン22bによって方向が整列された状態であることがある。これに、リング部材(R)はその方向が整列された状態でリングキャリア30上に安着されることができる。
リング部材(R)がリングキャリア30上に安着されれば、リングキャリア30は整列チャンバ170に返送され、整列ユニット200によって方向が整列されることができる。整列ユニット200によってリング部材(R)が置かれた状態のリングキャリア30の方向が整列された以後、第1返送ロボット150はリング部材(R)が置かれた状態のリングキャリア30をロードロックチャンバ310に返送することができる。
ロードロックチャンバ310内に第1返送ハンド152の進入が完了されれば、第1返送ハンド152は下の方向に移動されることができる。これに、リングキャリア30上のリング部材(R)は支持棚320上に安着され、リングキャリア30はリング部材(R)と分離されることができる。リングキャリア30がリング部材(R)と分離されれば、ロードロックチャンバ310から搬出されることができる。ロードロックチャンバ310の支持棚320上に安着されたリング部材(R)は第2返送ロボット350の第2返送ハンド352によって搬出されて工程チャンバ370内に返送されることができる。
工程チャンバ370で使用されたリング部材(R)の搬出は、前述した不使用リング部材(R)の搬入シーケンスの逆順で遂行されるので、繰り返される説明は略する。
以下では、本発明の一実施例によるリング部材(R)の位置合わせシーケンスに対して説明する。図24は、本発明の一実施例によるリング部材の位置合わせシーケンスを見せてくれるフローチャートである。前述したようにリング部材(R)が工程チャンバ370内に返送が完了されれば、容器20らのうちで何れか一つの第3容器23内に収納された基板型センサー(例えば、カメラのようなイメージ獲得モジュールを有するビジョンウェハー、VW)は工程チャンバ370内に返送されることができる。第3容器23はオーバーヘッドトランスファー装置(Overhead transport apparatus、OHT)によってロードポート110に返送されることができる。
基板型センサー(VW)が工程チャンバ370内に返送されれば、基板型センサー(VW)はリング部材(R)と工程チャンバ370に提供されるチャック552を含むイメージを撮像することができる。撮像されたイメージは制御機700に伝送されることができる。イメージが制御機700に伝送されれば基板型センサー(VW)は工程チャンバ370から搬出されることができる。以後、制御機700は基板型センサー(VW)から伝送を受けたイメージからリング部材(R)とチャック552との間の間隔を測定することができる。例えば、図25に示されたようにリング部材(R)とチャック552との間の間隔(G)が一定な場合、制御機700はリング部材(R)があらかじめ設定された位置に返送されたものとして判断する。この場合、工程チャンバ370では基板(W)に対する処理を始める。これと異なり、図26に示されたようにリング部材(R)とチャック552との間の間隔が第1間隔(G1)及び第1間隔(G1)と相異な第2間隔(G2)を含む場合、リング部材(R)があらかじめ設定された位置に適切に返送されないものとして判断し、第2返送ロボット350がリング部材(R)の位置合わせ(センタリング)を再び遂行することができる。必要によっては第1間隔(G1)及び第2間隔(G2)を通じて導出される曲がり値は根拠で、第1返送ロボット150及び第2返送ロボット350の返送動作をティーチング(Teaching)することもできる。位置合わせが適切に遂行される場合工程チャンバ370では基板(W)に対する処理を始める。これと異なり、位置合わせが適切に遂行されない場合基板型センサー(VW)は再び工程チャンバ370に返送されることができる。以後、基板型センサー(VW)が再び獲得するイメージを通じて制御機700はリング部材(R)の位置があらかじめ設定された位置であるかの如何を判断することができる。制御機700はリング部材(R)の位置があらかじめ決まった範囲を脱する場合、作業者がこれを分かるようにアラームを発生させることができる。
以下では、基板型センサー(VW)を充電することができる本発明の一実施例による容器20に対して説明する。以下で説明する基板型センサー(VW)を充電することができる容器20は、容器20らのうちで基板型センサー(VW)を収納する第3容器23であることがある。
図27は、図1の第3容器を見せてくれる断面図であり、図28は図27の充電モジュールを上部から眺めた図面である。図27、そして図28を参照すれば、本発明の一実施例による第3容器23は基板型センサー(VW)を収納することができる。第3容器23は基板型センサー(VW)を収納し、収納された基板型センサー(VW)を充電することができる。
第3容器23は胴体610、ドア620、ヘッド630、棚部640、充電モジュール650、そして、バッテリー部660を含むことができる。胴体610の上部に設置されるヘッド630によって、第3容器23はOHTのような移送装置に把持されることができる。胴体610は一側が開放された収納空間612を有することができる。胴体610は一側が開放された桶形状を有することができる。胴体610が有する収納空間612には上述した基板型センサー(VW)が収納されることができる。胴体610が有する収納空間612は胴体610の一側を選択的に遮蔽するドア620によって開閉されることができる。また、胴体610にはドア620によって収納空間612が開閉されたかの如何を検出する開閉センサー611が提供されることができる。開閉センサー611は磁性などを利用してドア620と胴体610の接触如何を判断する磁性センサーであることができる。
しかし、これに限定されるものではなくて、開閉センサー611は光を照射する照射部と光を受光する受光部を含むことができる。この場合、照射部が照射する光を受光部が受光するかの如何によって収納空間612の開閉如何を検出することができる。また、開閉センサー611の種類はこれに限定されるものではなくて、ドア620の遮蔽如何を検出することができる公知された装置で多様に変更されることができる。
収納空間612には複数の棚部640が提供されることができる。それぞれの棚部640は一対でなされることができる。例えば、それぞれの棚部640は上部から眺める時、基板型センサー(VW)の一側及び他の側を支持することができる。
また、棚部640内には棚部640に基板型センサー(VW)が安着されたかの如何を検出する第1位置センサー641が提供されることができる。第1位置センサー641は重さ感知センサーであることができる。これと異なり、第1位置センサー641は光センサーであることができる。これと異なり、第1位置センサー641は距離感知センサーであることがある。第1位置センサー641の種類はこれに限定されるものではなくて、棚部640に基板型センサー(VW)が安着されたかの如何を検出することができる公知された装置で多様に変形されることができる。
また、棚部640内には後述する充電モジュール650の充電部651の位置を検出することができる第2位置センサー642が提供されることができる。第2位置センサー642は後述する充電部651が充電位置に適切に位置されたかの如何を検出することができる。第2位置センサー642は光センサーであるか、または、距離監視センサーであるか、または、磁性センサーであることがある。第2位置センサー642の種類はこれに限定されるものではなくて、後述する充電部651の位置を検出することができる公知された装置で多様に変形されることができる。
充電モジュール650はバッテリー部660、電源装置の一例)から電力の伝達を受けて棚部650に安着される基板型センサー(VW)を充電することができる。充電モジュール650は基板型センサー(VW)を無線充電方式で充電することができる。充電モジュール650は複数で提供されることができる。例えば、充電モジュール650は収納空間612に収納されることができる基板型センサー(VW)の最大個数と同じ数で提供されることができる。充電モジュール650は複数の棚部650と同じ数で提供されることができる。すなわち、充電モジュール650が複数で提供されることによって複数の基板型センサー(VW)に対する同時充電が可能である。
充電モジュール650は充電部651、支持部652、ガイド部653、そして、駆動部654を含むことができる。充電部651は基板型センサー(VW)の電源装置(例えば、バッテリー)で直接的に電力を伝達する部分であることができる。例えば、充電部651は無線充電コイルを有することができる。充電部651は無線充電方式、例えば、電磁気誘導方式で基板型センサー(VW)を充電することができる。充電部651が電磁気誘導方式で基板型センサー(VW)を充電する場合、基板型センサー(VW)の急速充電が可能になって、送受信コイルの規格がお互いに違っても良い電磁気誘導方式の特性上充電部651の小型化が可能になる。
充電部651は支持部652、ガイド部653、そして、駆動部654によって待機位置(第1位置の一例)及び充電位置(第2位置の一例)の間で移動が可能であることができる。待機位置はドア620によって開閉される胴体610の一側から遠く離れている位置であることがある。例えば、胴体610の一側を胴体610の前方と言って、胴体610の一側と対応する面を胴体610の後方とする時、待機位置は胴体610の前方より後方にさらに近い位置であることができる。充電部651が待機位置にある場合、第1返送ハンド150が収納空間612に進入しても、第1返送ハンド150は充電部651と衝突しないこともある。充電位置は待機位置より、胴体610の前方にさらに近い位置であることができる。充電位置は基板型センサー(VW)を充電することに適切な位置であることができる。充電位置は充電部651が基板型センサー(VW)に対する充電を開始することができる位置であることができる。
ガイド部653は胴体610の内壁のうちで側壁に具備されることができる。ガイド部653は棚部640に支持される基板型センサー(VW)の上面または下面に平行な一方向に充電部651の移動をガイドすることができるガイドレールであることができる。支持部652は充電部651と結合され、ガイド部653に沿って移動することができるバー(Bar)形状を有することができる。駆動部654は支持部652と結合された充電部651をガイド部653に沿って一方向に移動させる駆動力を発生させることができる。
駆動部654は駆動源654a、駆動伝達源654b、そして、アーム654aを含むことができる。駆動源654aは駆動力を発生させることができる。駆動源654aはモータであることができる。アーム654aは駆動源654aから駆動力の伝達を受けることができる。アーム654aはパンタグラフであることがある。アーム654aは伸縮可能な構造を有することができる。アーム654aは充電部651に結合されることができる。アーム654aは駆動源654bが発生させる駆動力を駆動伝達源654cを媒介で伝達を受けることができる。駆動伝達源654bはリードスクリュー(Lead Screw)であることがある。駆動源654aが発生させる駆動力をアーム654aに伝達する駆動伝達源654cの種類はリードスクリューであることに限定されるものではなくて、駆動力を伝達することができる公知された装置で多様に変形されることができる。
図29は、図1のロードポートに提供されるハウジング、安着部、そして、充電ユニットを見せてくれる図面であり、図30は図29のロードポートを上部から眺めた図面である。図29、そして図30を参照すれば、ロードポート110は安着部111、そして、ハウジング116を含むことができる。安着部111はハウジング116の上部に配置されることができる。安着部111には容器20が置かれることができる。安着部111には上述した第3容器23が置かれることができる。安着部111には整列ピン112が提供されることができる。整列ピン112はロードポート110に置かれる第3容器23の位置を整列することができる。例えば、整列ピン112は3個が提供され、第3容器23の位置を3点整列することができる。また、整列ピン112は第3容器23の胴体610に形成されることができる整列溝に挿入されることができる。胴体610に形成される整列溝らは上部から眺める時整列ピン112らとそれぞれ対応する位置に形成されることができる。ハウジング116は内部空間117を有することができる。内部空間117には充電ユニットが含むことができる構成らが配置されることができる。
充電ユニットは、第3容器23に設置される電源装置であるバッテリー部660を無線充電方式で充電することができる。充電ユニットは、送信部材113、変換部材114、スイッチ部材115及び検出部材118を含むことができる。送信部材113は安着部111に提供されることができる。送信部材113は安着部111に提供されてバッテリー部660に電力を伝達することができる。変換部材114は外部電源ライン(PL)と送信部材113との間に提供されることができる。変換部材114は送信部材113と外部電源ライン(PL)との間に提供され、外部電源ライン(PL)が伝達する交流電源を直流電源に変換することができる電源供給装置であることができる。例えば、変換部材114はコンバータ(Converter)であることがある。
スイッチ部材115は変換部材114と送信部材113との間に提供されることができる。スイッチ部材115は外部電源ライン(PL)が伝達する電源が送信部材113に選択的に伝達されるようにできる。例えば、スイッチ部材115は変換部材114によって交流電源から直流電源に変換された電源を送信部材113に選択的に伝達されるようにできる。スイッチ部材115はリレー装置であることができる。
検出部材118は安着部111に提供されることができる。検出部材118は安着部111に提供され、安着部111に容器20、例えば、第3容器23が安着されたかの如何を検出することができる。検出部材118は重さセンサーであることがある。しかし、これに限定されるものではなくて、検出部材118は光を利用した光センサーであることができる。また、検出部材118は磁石を利用した距離感知センサーであることができる。また、検出部材118は安着部111に容器20が安着されたことを検出することができる公知された装置で多様に変形されることができる。
検出部材118が安着部111に第3容器23が安着されたことを検出する場合、外部電源ライン(PL)の電源が送信部材113に伝達されるように、スイッチ部材115はオン(On)になることがある。制御部700はスイッチ部材115にオン(On)になる制御信号を発生させることができる。これと異なり、検出部材118が安着部111に第3容器23が安着されたことを検出することができない場合、外部電源ライン(PL)の電源が送信部材113に伝達することを遮断するようにスイッチ部材115はオフ(Off)になることがある。制御部700はスイッチ部材115をオフ(Off)になる制御信号を発生させることができる。
前述したように、送信部材113は無線充電方式で第3容器23に具備される電源装置であるバッテリー部660を充電することができる。バッテリー部660は充電モジュール650に電力を伝達して基板型センサー(VW)を充電することができる。送信部材113が非接触式でバッテリー部660を充電するために、前で説明したコネクタショート(Connector Short)発生の問題を最小化することができる。これに、コネクタショートを防止するための安全装置及び/または保護回路の具現が不必要なことがある。また、コネクタを利用した接触式充電方式は、第3容器23がロードポート110に正位置に安着されなければならないだけでなく、第3容器23のバッテリー部660がコネクタに接続されればこそ、バッテリー部660の充電が開始される。この場合、第3容器23の位置が少しだけ曲がっても、バッテリー部660の充電が開始されないこともある。しかし、本発明は送信部材113が非接触式でバッテリー部660を充電するため、第3容器23の位置が少し曲がっても、バッテリー部660の充電が開始されることができる。また、送信部材113は非接触式でバッテリー部660を充電するため、送信部材113の設置位置に対する自由度も改善することができる効果がある。
前述した例では、第3容器23のバッテリー部660の充電がロードポート110でなされることを例に挙げて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、図31に示されたように、第3容器23のバッテリー部660の充電は、本発明の基板処理システムが含むことができる保管ユニット1000でなされることができる。保管ユニット1000は第3容器23が置かれることができる安着フレーム1010、安着フレーム1010に設置されてバッテリー部660に電力を伝達する送信装置1020、外部電源ライン(PL)と連結されて送信装置1020と外部電源ライン(PL)の間に提供される変換装置1040及び外部電源ライン(PL)の電力が送信装置1020で選択的に伝達されるようにするスイッチ装置1040を含むことができる。送信装置1020は上述した送信部材113と同一/類似機能を遂行することができる。変換装置1040は上述した変換部材114と同一/類似機能を遂行することができる。スイッチ装置1030は上述したスイッチ部材115と同一/類似機能を遂行することができる。保管ユニット1000でも上述したロードポート110と類似に、非接触方式で第3容器23に具備されるバッテリー部660を充電することができる。
前述した例ではロードポート110に第3容器23が置かれた状態で基板型センサー(VW)を充電することを例に挙げて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、図32に示されたように基板型センサー(VW)の充電は、基板処理システムが含むことができる返送装置1100が第3容器23を返送する間になされることができる。
以上の詳細な説明は本発明を例示するのである。また前述した内容は本発明の望ましい実施形態を示して説明することであり、本発明は多様な他の組合、変更及び環境で使用することができる。すなわち、本明細書に開示された発明の概念の範囲、著わした開示内容と均等な範囲及び/または当業界の技術または知識の範囲内で変更または修正が可能である。著わした実施例は、本発明の技術的思想を具現するための最善の状態を説明することであり、本発明の具体的な適用分野及び用途で要求される多様な変更も可能である。したがって、以上の発明の詳細な説明は開示された実施状態で本発明を制限しようとする意図ではない。また、添付された請求範囲は他の実施状態も含むことで解釈されなければならない。
10 基板処理装置
20 容器
21 第1容器
22 第2容器
W 基板
N ノッチ
R リング部材
FZ フラットゾーン
RZ ラウンドゾーン
G アライン溝
30 リングキャリア
31 胴体
32 開口
33 アラインホール
34 ガイド突起
35 第1ガイド突起
35F 第1フラット部
35R 第1ラウンド部
36 第2ガイド突起
36F 第2フラット部
36R 第2ラウンド部
110 ロードポート
111 安着部
112 整列ピン
113 送信部材
PL 外部電源ライン
114 変換部材
115 スイッチ部材
116 ハウジング
117 内部空間
118 検出部材
200 整列ユニット
210 チャック
220 照射部
230 受光部
310 ロードロックチャンバ
311 ハウジング
312 内部空間
313 ベントホール
314 減圧ホール
320 支持棚
510 処理容器
511 処理空間
512 搬入口
514 排気ホール
520 ゲートバルブ
530 排気ライン
540 電源ユニット
542 電源
544 整合機
550 支持ユニット
552 チャック
554 絶縁板
556 クオーツリング
R リング部材
560 第1リフトピンモジュール
570 第2リフトピンモジュール
580 バッフル板
582 バッフルホール
590 ガス供給ユニット
592 ガス供給源
594 ガス供給ライン
610 胴体
611 開閉センサー
612 収納空間
620 ドア
630 ヘッド
640 棚部
641 第1位置センサー
642 第2位置センサー
650 充電モジュール
651 充電部
652 支持部
653 ガイド部
654 駆動部
654a 駆動源
654b 駆動伝達源
654c アーム
660 バッテリー部
700 制御機


Claims (18)

  1. 基板を処理する装置において、
    ロードポートを有するインデックス部と、及び
    前記インデックス部から基板の返送を受けて前記基板を処理する工程処理部を含み、
    前記ロードポートは
    部空間を有するハウジングと、
    前記ハウジングの上部に配置され、基板型センサーを収納する容器が置かれる安着部と、及び
    前記容器に設置される電源装置を無線充電方式で充電する充電ユニットを含み、
    前記充電ユニットは、
    前記安着部に提供され、前記電源装置に電力を伝達する送信部材を含み、
    前記安着部は、
    前記安着部に置かれる前記容器の位置を整列する少なくとも一つ以上の整列ピンを含み、
    前記送信部材は、
    上部から眺める時、前記整列ピンと重畳されない位置に設置される
    ことを特徴とする基板処理装置。
  2. 前記充電ユニットは
    記内部空間に提供され、外部電源ラインと前記送信部材との間に提供される変換部材と、及び
    前記外部電源ラインの電源が前記送信部材で選択的に伝達されるようにするスイッチ部材をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。
  3. 前記変換部材は、
    前記外部電源ラインが伝達する交流電源を直流電源に変換することを特徴とする請求項2に記載の基板処理装置。
  4. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、
    前記スイッチ部材は、
    前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出する場合、前記外部電ラインの電源が前記送信部材に伝達されるようにオン(On)になることを特徴とする請求項乃至請求項3のうちで何れか一つに記載の基板処理装置。
  5. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、
    前記スイッチ部材は、
    前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出することができない場合、前記外部電ラインの電源が前記送信部材に伝達することを遮断するようにオフ(Off)になることを特徴とする請求項乃至請求項3のうちで何れか一つに記載の基板処理装置。
  6. 基板を処理するシステムにおいて、
    ロードポートを有するインデックス部と、
    前記インデックス部から基板の返送を受けて前記基板を処理する工程処理部と、
    前記ロードポートに置かれて、前記工程処理部に搬入される基板型センサーを収納する容器を含み、
    前記容器は、
    一側が開放された収納空間を有する胴体と、
    前記収納空間を選択的に開閉するドアと、
    前記収納空間で前記基板型センサーを支持する棚部と、及び
    前記基板型センサーを充電する電力を伝達する電源装置を含み、
    前記ロードポートは
    部空間を有するハウジングと、
    前記ハウジングの上部に配置され、基板型センサーを収納する容器が置かれる安着部と、及び
    前記電源装置を無線充電方式で充電する充電ユニットを含み、
    前記容器は、
    前記棚部に支持された前記基板型センサーを充電する充電モジュールをさらに含み、
    前記充電モジュールは、
    前記棚部に支持された前記基板型センサーを無線充電方式で充電する
    ことを特徴とする基板処理システム。
  7. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に提供され、前記電源装置に電力を伝達する送信部材と、
    前記内部空間に提供され、外部電源ラインと前記送信部材の間に提供される変換部材と、及び
    前記外部電源ラインの電力が前記送信部材で選択的に伝達されるようにするスイッチ部材を含むことを特徴とする請求項に記載の基板処理システム。
  8. 前記変換部材は、
    前記外部電源ラインが伝達する交流電源を直流電源に変換することを特徴とする請求項に記載の基板処理システム。
  9. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、
    前記スイッチ部材は、
    前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出する場合、前記外部電ラインの電源が前記送信部材に伝達するようにオン(On)になることを特徴とする請求項7乃至請求項のうちで何れか一つに記載の基板処理システム。
  10. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、
    前記スイッチ部材は、
    前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出することができない場合、前記外部電ラインの電源が前記送信部材に伝達することを遮断するようにオフ(Off)になることを特徴とする請求項7乃至請求項のうちで何れか一つに記載の基板処理システム。
  11. 前記充電モジュールは、
    前記棚部に支持された前記基板型センサーを電磁気誘導方式で前記充電することを特徴とする請求項に記載の基板処理システム。
  12. 前記棚部、そして、前記充電モジュールは複数で提供されることを特徴とする請求項11に記載の基板処理システム。
  13. 前記システムは、
    前記容器を保管する保管ユニットをさらに含み、
    前記保管ユニットは、
    前記容器が置かれる安着フレームと、
    前記安着フレームに設置され、前記電源装置に電力を伝達する送信装置と、
    外部電源ラインと前記送信装置の間に提供される変換装置と、及び
    前記外部電源ラインの電力が前記送信装置に選択的に伝達されるようにするスイッチ装置と、を含むことを特徴とする請求項7乃至請求項のうちで何れか一つに記載の基板処理システム。
  14. 基板を処理するシステムにおいて、
    内部が大気圧雰囲気で維持されて第1返送ロボットが提供されるインデックスチャンバと、
    前記インデックスチャンバと接続されるロードポートを有するインデックス部と、
    前記インデックスチャンバと接続され、内部が大気圧雰囲気と真空圧雰囲気との間で転換されるロードロックチャンバと、
    前記ロードロックチャンバと接続されて第2返送ロボットが提供される返送チャンバと、
    前記返送チャンバと接続され、基板を処理する工程チャンバと、及び
    前記ロードポートに置かれて、前記工程チャンバに返送される消耗性部品の返送位置を収集する基板型センサーを収納する容器を含み、
    前記ロードポートは
    部空間を有するハウジングと、
    前記ハウジングの上部に配置され、前記容器が置かれる安着部と、及び
    前記容器に設置される電源装置を無線充電方式で充電する充電ユニットを含む基板処理システム。
  15. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に提供され、前記電源装置に電力を伝達する送信部材と、
    前記内部空間に提供され、外部電源ラインと前記送信部材との間に提供される変換部材と、及び
    前記外部電源ラインの電力が前記送信部材に選択的に伝達されるようにするスイッチ部材を含むことを特徴とする請求項14に記載の基板処理システム。
  16. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、
    前記スイッチ部材は、
    前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出する場合、前記外部電ラインの電源が前記送信部材に伝達されるようにオン(On)になることを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。
  17. 前記充電ユニットは、
    前記安着部に前記容器が安着されたかの如何を検出する検出部材をさらに含み、
    前記検出部材が前記容器が前記安着部に安着されたことを検出することができない場合、前記外部電ラインの電源が前記送信部材に伝達されることを遮断するようにオフ(Off)になることを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。
  18. 前記消耗性部品は、
    前記工程チャンバに提供されるリング部材であり、
    前記システムは、
    制御機をさらに含み、
    前記制御機は、
    前記消耗性部品が前記工程チャンバ内に返送されるように前記第1返送ロボットと前記第2返送ロボットを制御し、
    前記基板型センサーが前記工程チャンバ内に返送されるように前記第1返送ロボットと前記第2返送ロボットを制御し、
    前記基板型センサーは、
    前記消耗性部品と前記工程チャンバに提供されて基板を支持するチャックを含むイメージを獲得して前記制御機に送って、
    前記制御機は、
    前記イメージ内の前記消耗性部品と前記チャックとの間の間隔を測定し、測定された間隔を通じて前記消耗性部品の整列如何を判断することを特徴とする請求項14乃至請求項17のうちで何れか一つに記載の基板処理システム。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7409800B2 (ja) * 2019-08-09 2024-01-09 川崎重工業株式会社 ロボット制御装置、ロボット、及びロボット制御方法
KR102652834B1 (ko) * 2020-08-07 2024-04-02 세메스 주식회사 용기 및 기판 처리 장치
KR102545754B1 (ko) * 2021-05-27 2023-06-20 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 상태 검출 방법

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261159A (ja) 2000-12-04 2002-09-13 Ebara Corp 基板搬送容器
JP2005202933A (ja) 2003-11-29 2005-07-28 Onwafer Technologies Inc センサー装置を制御する方法及び装置
JP2013506297A (ja) 2009-09-25 2013-02-21 ケーエルエー−テンカー・コーポレーション 非接触インタフェースシステム
JP2018129509A (ja) 2017-02-06 2018-08-16 ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation 半導体処理ツールとの随意の統合を伴うスマートバイブレーションウエハ
JP2018206821A (ja) 2017-05-30 2018-12-27 Tdk株式会社 ロードポート装置及びウエハ搬送容器
WO2021022291A1 (en) 2019-07-26 2021-02-04 Lam Research Corporation Integrated adaptive positioning systems and routines for automated wafer-handling robot teach and health check

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101085454B1 (ko) * 2008-12-24 2011-11-22 주식회사 에스에프에이 밀폐형 카세트 이송 시스템

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261159A (ja) 2000-12-04 2002-09-13 Ebara Corp 基板搬送容器
JP2005202933A (ja) 2003-11-29 2005-07-28 Onwafer Technologies Inc センサー装置を制御する方法及び装置
JP2013506297A (ja) 2009-09-25 2013-02-21 ケーエルエー−テンカー・コーポレーション 非接触インタフェースシステム
JP2018129509A (ja) 2017-02-06 2018-08-16 ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation 半導体処理ツールとの随意の統合を伴うスマートバイブレーションウエハ
JP2018206821A (ja) 2017-05-30 2018-12-27 Tdk株式会社 ロードポート装置及びウエハ搬送容器
WO2021022291A1 (en) 2019-07-26 2021-02-04 Lam Research Corporation Integrated adaptive positioning systems and routines for automated wafer-handling robot teach and health check

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