JP7425617B2 - 被覆Cu基合金粉末 - Google Patents
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- Powder Metallurgy (AREA)
Description
元素M:0.0質量%以上10.0質量%以下
Si:0.0質量%以上0.20質量%以下
P:0.0質量%以上0.10質量%以下
及び
S:0.0質量%以上0.10質量%以下
である。
元素M:0.0質量%以上5.0質量%以下
Si:0.0質量%以上0.10質量%以下
P:0.0質量%以上0.010質量%以下
及び
S:0.0質量%以上0.010質量%以下
である。
急速溶融急冷凝固を伴うプロセスでは、この被覆粉末に、レーザービーム又は電子ビームが照射される。炭素層は、レーザー照射によりもたらされる熱を効率的に吸収する。この炭素層を有する被覆粒子は、エネルギー密度が低いレーザー照射により、急速に溶融されうる。この被覆粉末によれば、溶融金属の突沸を招来することなく、高密度の造形物が得られる。
この被覆粉末において、炭素層の厚みは、1nm以上500nm以下である。炭素層の厚みが1nm以上の被覆粉末では、レーザー光の反射率が低減され、熱が効率よく吸収される。この観点から、炭素層の厚みは3nm以上が好ましく、5nm以上がより好ましい。炭素層の厚みが500nm以下である被覆粉末によれば、得られる造形物の内部に残存する炭素が少ない。この観点から、炭素層の厚みは300nm以下が好ましく、100nm以下がより好ましい。炭素層の厚みは、透過型電子顕微鏡を用いて測定される。
この被覆粉末において、その平均粒子径dC(μm)と、そのタップ密度TD(Mg/m3)との比dC/TDは、0.2×10-5・m4/Mg以上20×10-5・m4/Mg以下である。この比dC/TDが0.2×10-5・m4/Mg以上である粉末は、流動性に優れる。この観点から、比dC/TDは0.5×10-5・m4/Mg以上が好ましく、5.0×10-5・m4/Mg以上がより好ましい。比dC/TDが20×10-5・m4/Mg以下である粉末から、相対密度が大きい造形物が得られうる。この観点から、比dC/TDは18×10-5・m4/Mg以下が好ましく、15×10-5・m4/Mg以下がより好ましい。
前述した比dC/TDが得られる限り、被覆粉末のタップ密度TDは特に限定されない。造形物の製造容易の観点から、この被覆粉末のタップ密度TDは、0.10Mg/m3以上0.40Mg/m3以下が好ましく、0.15Mg/m3以上0.35Mg/m3以下が特に好ましい。
落下高さ:10mm
タップ回数:200
前述した比dC/TDが得られる限り、被覆粉末の平均粒子径dCは特に限定されない。製造容易の観点から、この被覆粉末の平均粒子径dCは、10μm以上が好ましく、15μm以上がより好ましい。造形物の高密度化の観点から、被覆粉末の平均粒子径は、50μm以下が好ましく、40μm以下がより好ましい。
この被覆粉末の球形度は、0.80以上0.95以下である。球形度が0.80以上である被覆粉末は、流動性に優れる。この観点から、球形度は0.83以上が好ましく、0.85以上がより好ましい。球形度が0.95以下である被覆粉末では、レーザーの反射が抑制されうる。この観点から、球形度は0.93以下が好ましく、0.90以下がより好ましい。
この被覆粉末において、各Cu基合金粒子の表面の少なくとも一部を被覆する炭素層は、真密度がρAであり、かつ、平均粒子径dAであるCu基合金粉末Aと、真密度がρBであり、かつ、平均粒子径がdBである炭素粉末Bと、を用いて形成される。この炭素層は、非化学的反応層である。換言すれば、この炭素層は、実質的に化学結合を介することなく、Cu基合金粒子表面を被覆している。
この被覆粉末では、Cu基合金粉末Aの平均粒子径dAと、炭素粉末Bの平均粒子径dBとの比dA/dBが、1~400とされる。比dA/dBが1以上であるCu基合金粉末Aと炭素粉末Bとから得られる被覆粉末は、製造容易である。この観点から、比dA/dBは、20以上が好ましく、50以上がより好ましい。比dA/dBを400以下として得られる被覆粉末は、比較的均一な炭素層を有しうる。この観点から、比dA/dBは、300以下が好ましく、100以下がより好ましい。
この被覆粉末では、Cu基合金粉末Aの真密度ρAと、炭素粉末Bの真密度ρBとの比ρA/ρBが、4~55とされる。比ρA/ρBが4以上であるCu基合金粉末Aと炭素粉末Bとから得られる被覆粉末は、比較的均一な炭素層を有しうる。この観点から、比ρA/ρBは、5以上が好ましく、15以上がより好ましい。比ρA/ρBを55以下として得られる被覆粉末は、付着性の高い炭素層を有しうる。この観点から、比ρA/ρBは、45以下が好ましく、35以下がより好ましい。
Cu基合金粉末Aの平均粒子径dAは、10μm以上100μm以下が好ましい。平均粒子径dAが10μm以上であるCu基合金粉末Aを用いて得られる被覆粉末は、流動性に優れる。この観点から、平均粒子径dAは20μm以上がより好ましく、30μm以上が特に好ましい。平均粒子径dAが100μm以下であるCu基合金粉末Aを用いて得られる被覆粉末から、相対密度が大きい造形物が得られうる。この観点から、平均粒子径dAは80μm以下がより好ましく、60μm以下が特に好ましい。Cu基合金粉末Aの平均粒子径は、前述した被覆粉末の平均粒子径dCと同様にして測定される。
炭素粉末Bの平均粒子径dBは、0.25μm以上10μm以下が好ましい。平均粒子径dBが0.25μm以上である炭素粉末Bは、凝集しにくい。この観点から、平均粒子径dBは0.30μm以上がより好ましく、0.50μm以上が特に好ましい。平均粒子径dBが10μm以下である炭素粉末Bを用いて得られる被覆粉末から、相対密度が大きい造形物が得られうる。この観点から、平均粒子径D50は7μm以下がより好ましく、5μm以下が特に好ましい。炭素粉末Bの平均粒子径dBは、前述した被覆粉末の平均粒子径dCと同様にして測定される。
Cu基合金粉末Aの真密度ρAは、3.0Mg/m3以上6.0Mg/m3以下が好ましい。真密度ρAが3.0Mg/m3以上であるCu基合金粉末Aを用いて得られる被覆粉末は、充填性に優れる。この観点から、真密度ρAは3.5Mg/m3以上がより好ましく、4.0Mg/m3以上が特に好ましい。真密度ρAが6.0Mg/m3以下であるCu基合金粉末Aを用いて得られる被覆粉末は、スキージ性に優れる。この観点から,真密度ρAは5.8Mg/m3以下がより好ましく、5.5Mg/m3以下が特に好ましい。
炭素粉末Bの真密度ρBは、0.12Mg/m3以上0.75Mg/m3以下が好ましい。真密度ρBが0.12Mg/m3以上である炭素粉末Bは、Cu基合金粉末Aとの付着性に優れる。この観点から、真密度ρBは0.13Mg/m3以上が特に好ましい。真密度ρBが0.75Mg/m3以下である粉末は、凝集せずにCu基合金粉末Aに均一に付着する。この観点から,真密度ρBは0.65Mg/m3以下がより好ましく、0.50Mg/m3以下が特に好ましい。
Cu基合金粉末Aは、その材質がCu基合金である多数の粒子からなる。それぞれの粒子の表面の少なくとも一部が炭素層で被覆されることにより、本発明に係る被覆粉末が得られる。好ましくは、それぞれの粒子の材質は、主成分であるCuと、元素Mと、Si、P及びSからなる群から選択される1又は2以上と、不可避的不純物と、を含有するCu基合金である。Cu基合金中の、元素M、Si、P及びSは、Cu基合金粉末Aの製造時に意図的に配合されたものであってもよく、製造原料に由来して検出されるものであってもよい。例えば、Cu基合金粉末A中に、元素M、Si、P又はSが検出される場合(定量限界値以下の場合も含む)、意図的な配合量がゼロであってもよい。
元素M:0.0質量%以上10.0質量%以下
Si(ケイ素):0.0質量%以上0.20質量%以下
P(リン):0.0質量%以上0.10質量%以下
S(硫黄):0.0質量%以上0.10質量%以下
及び不可避的不純物
を含む。より好ましくは、このCu基合金は、
元素M:0.0質量%以上10.0質量%以下
Si(ケイ素):0.0質量%以上0.20質量%以下
P(リン):0.0質量%以上0.10質量%以下
及び
S(硫黄):0.0質量%以上0.10質量%以下
を含み、その残部が、Cu(銅)及び不可避的不純物である。なお、本願明細書における「Cu基合金」は、元素M、Si、P及びSの含有率がいずれも0.0質量%であり、実質的にCu及び不可避的不純物からなる金属を含む概念である。
元素Mは、Cr(クロム)、Fe(鉄)、Ni(ニッケル)、Zr(ジルコニウム)及びNb(ニオブ)からなる群から選択される1又は2以上である。Cr、Fe、Ni、Zr及びNbのそれぞれの、平衡状態図上のCuへの固溶限は、小さい。しかし、Cu基合金粉末Aがアトマイズ法のような急冷凝固を伴う方法で得られると、元素MがCuに過飽和に固溶する。この過飽和固溶体では、レーザー反射率が抑制される。
元素Mの含有率は、10.0質量%以下が好ましい。Cu基合金が、Cr、Fe、Ni、Zr及びNbから選択される2以上の元素Mを含む場合、その合計含有率が、10.0質量%以下であることが好ましい。元素Mの含有率が、10.0質量%以下であるCu基合金粉末Aから得られる被覆粉末により、導電性に優れた造形物が得られうる。この観点から、元素Mの含有率は5.0質量%以下がより好ましく、3.0質量%が特に好ましい。元素Mの含有率は、0.0質量%であってもよいが、より低いエネルギー密度のレーザーで、相対密度が大きい造形物が得られるとの観点から、元素Mの含有率は0.1質量%以上がより好ましく、0.2質量%以上がさらに好ましく、0.5質量%以上が特に好ましい。
SiはCuに固溶し、Cu基合金の電気伝導及び熱伝導を阻害する。この観点から、Siの含有率は0.20質量%以下が好ましく、0.10質量%以下がより好ましく、0.05質量%以下が特に好ましい。Siの含有率が、ゼロであってもよい。
PはCuに固溶し、Cu基合金の電気伝導及び熱伝導を阻害する。この観点から、Pの含有率は0.10質量%以下が好ましく、0.010質量%以下がより好ましく、0.005質量%以下が特に好ましい。Pの含有率が、ゼロであってもよい。
SはCuに固溶し、Cu基合金の電気伝導及び熱伝導を阻害する。この観点から、Sの含有率は0.10質量%以下が好ましく、0.010質量%以下がより好ましく、0.005質量%以下が特に好ましい。Sの含有率が、ゼロであってもよい。
炭素粉末Bは、Cu基合金からなる粒子上に炭素層を形成して、その表面の少なくとも一部を被覆する。炭素粉末Bは、カーボンブラック、活性炭及びグラファイトからなる群から選択される1又は2以上である。好ましい炭素粉末Bは、カーボンブラックである。カーボンブラックの例として、サーマルブラック、ファーネスブラック、チャンネルブラック、アセチレンブラックが挙げられる。ストラクチャーの小さいサーマルブラック、ファーストブラック、チャンネルブラックが好ましい。ストラクチャーが小さい炭素粉末Bにより、形成される炭素層の導電性が低下する。導電性が低い炭素相では、レーザー吸収率が向上する。この炭素層が形成された被覆粉末によれば、急速溶融急冷凝固を伴うプロセスにおいて、照射するレーザーのエネルギー密度がさらに低減される。炭素粉末Bとして、2種以上が併用されてもよい。
Cu基合金粉末Aの製造方法は特に限定されず、水アトマイズ法、単ロール急冷法、双ロール急冷法、ガスアトマイズ法、ディスクアトマイズ法及び遠心アトマイズ法が例示される。好ましい製造方法は、単ロール冷却法、ガスアトマイズ法及びディスクアトマイズ法である。炭素層形成前に、Cu基合金粉末Aにメカニカルミリング等が施されてもよい。ミリング方法として、ボールミル法、ビーズミル法、遊星ボールミル法、アトライタ法及び振動ボールミル法が例示される。
Cu基合金が元素Mを含む場合、被覆粉末をなす被覆粒子の組織は、
(1)炭素を多く含む炭素層
(2)Cuを多く含むマトリクス相、
(3)元素Mを多く含む粒界相、
及び
(4)マトリクス相に分散し、かつそのサイズが1nm以上である化合物CumMn
を有する。この化合物CumMnの化学式において、m及びnはそれぞれ自然数を表す。
本発明に係る被覆Cu基合金粉末から、種々の造形物が製造されうる。この造形物の製造方法は、
(1)被覆粉末を準備する工程、
及び
(2)この被覆粉末を溶融及び凝固し、未熱処理の造形物を得る工程
を含む。被覆粉末を溶融及び凝固する工程として、急速溶融急冷凝固プロセスが挙げられる。このプロセスの具体例として、三次元積層造形法、溶射法、レーザーコーティング法及び肉盛法が挙げられる。特に、三次元積層造形法に、この被覆粉末は適している。
従来、その表面に炭素層が形成されていないCu基合金粉末を用いて、急速溶融急冷凝固プロセスで焼結をおこなう場合、結合層の形成には、120J/mm3以上のエネルギー密度E.D.が必要であった。これに対し、本発明に係る被覆Cu基合金粉末によれば、焼結時のエネルギー密度E.D.の低減が可能である。即ち、本発明に係る被覆粉末を用いて、急速溶融急冷凝固プロセスで焼結をおこなう場合、好ましいエネルギー密度E.D.は、80J/mm3以上180J/mm3以下である。エネルギー密度E.D.が80J/mm3以上である場合、十分な熱が被覆粉末に与えられる。従って、造形物内部における未溶融の被覆粉末の残存が抑制される。この造形物の相対密度は、大きい。この観点から、エネルギー密度E.D.は100J/mm3以上がより好ましく、120J/mm3以上が特に好ましい。エネルギー密度E.D.が180J/mm3以下である場合、過剰な熱が被覆粉末に与えられない。従って、溶融金属の突沸が抑制され、造形物の内部における空孔が抑制される。この観点から、エネルギー密度E.D.は170J/mm3以下がより好ましく、160J/mm3以下が特に好ましい。
急速溶融急冷凝固プロセスで得られた造形物(すなわち、後述される熱処理が施される前の造形物)の相対密度は、90%以上が好ましい。この未熱処理の造形物は、寸法精度及び導電性に優れる。この観点から、相対密度は93%以上がより好ましく、95%以上がさらに好ましい。
好ましくは、造形物の製造方法は、
(3)上記工程(2)で得られた未熱処理造形物に熱処理を施して造形物を得る工程
をさらに含む。好ましい熱処理は、時効処理である。時効処理により、元素Mの単相及び/又はCuと元素Mとの化合物が、粒界に析出する。この析出により、マトリクス相におけるCuの純度が高められる。このマトリクス相は、造形物の導電性に寄与しうる。
時効では、未処理造形物が、所定温度下に所定時間保持される。時効温度は、350℃以上1000℃以下が好ましい。温度が350℃以上である時効により、元素Mの単相及び/又はCuと元素Mとの化合物が十分に析出した組織が得られる。この観点から、時効温度は400℃以上がより好ましく、450℃以上が特に好ましい。温度が1000℃以下である時効では、元素Mのマトリクス相への固溶が抑制される。この観点から、時効温度は950℃以下がより好ましく、900℃以下が特に好ましい。元素Mが0.0質量%であるときは、析出させる組織がないため熱処理は不要である。
熱処理後の造形物の電気伝導度は、30IACS%以上が好ましい。電気伝導度が30IACS%以上である造形物は、導電性に優れる。この観点から、電気伝導度は40IACS%以上がより好ましく、50IACS%以上が特に好ましい。電気伝導度の測定方法及び測定条件については、実施例にて後述する。
真空中にて、アルミナ製坩堝で、原料粉末を高周波誘導加熱で加熱し、溶解した。坩堝の底に形成されておりその直径が5mmであるノズルから、溶湯を落下させた。この溶湯に、アルゴンガスを噴霧し、多数の粒子を得た。これらの粒子に分級を施して直径が63μmを超える粒子を除去することにより、Cu基合金粉末Aを得た。このCu基合金粉末Aの材質は、実質的にCuである。
仕様を下表1-3に示される通りとした他は実施例1と同様にして、実施例2-36及び比較例1-19の被覆Cu基合金粉末を得た。比較例20では、乾式攪拌機に炭素粉末Bを投入せず、実施例1と同様の条件で撹拌処理をおこなった。各粉末について、前述した方法により求めた比ρA/ρB、比dA/dB、比dC/TD、炭素層の厚さ及び球形度が、下表1-3に示されている。
実施例1-36及び比較例1-20の被覆Cu基合金粉末を原料として、それぞれ、3次元積層造形装置(EOS-M280)による積層造形法を実施し、造形物(未熱処理造形物)を得た。積層造形法におけるエネルギー密度E.D.(J/mm3)と、得られた造形物の相対密度(%)が、下表1-3に示されている。造形物の形状は、いずれも一辺の長さが10mmの立方体であった。
実施例14-28及び比較例7-13の被覆Cu基合金粉末を原料として得られた造形物に、熱処理(時効処理)を施した。時効温度及び時効時間が、下表1-3に示されている。
実施例1-36及び比較例1-20の被覆Cu基合金粉末を原料として得た造形物又は熱処理後の造形物から、それぞれ、FIB(集束イオンビーム)加工にて、薄膜状の試験片を作製した。各試験片を透過電子顕微鏡(TEM)で観察し、無作為で抽出された10箇所(1箇所は2μm×2μmの領域)で化合物の組成を特定した。各Cu基合金が、マトリクス相(1)、粒界相(2)及び化合物(3)を含む金属組織であることが、確認できた。さらに、比m/nを算出した。この結果が、下表1-3に示されている。
実施例1-36及び比較例1-20の被覆Cu基合金粉末を原料として得た造形物又は熱処理後の造形物について、それぞれ、試験片(3×2×60mm)を作製し、「JIS C 2525」に準拠した4端子法で、電気抵抗値(Ω)を測定した。測定には、アルバック理工社の装置「TER-2000RH型」を用いた。測定条件は、以下の通りである。
温度:25℃
電流:4A
電圧降下間距離:40mm
下記数式に基づき、電気抵抗率ρ(Ωm)を算出した。
ρ = R / I × S
この数式において、Rは試験片の電気抵抗値(Ω)であり、Iは電流(A)であり、Sは試験片の料断面積(m2)である。電気伝導度(S/m)は、電気抵抗率ρの逆数から算出した。また、5.9×107(S/m)を100%IACSとして、各試験片の電気伝導度(%IACS)を算出した。この結果が、下表1-3に示されている。
造形物の電気伝導度に関する下記の基準に基づき、各粉末を格付けした。
評価A:電気伝導度が95%IACS以上である。
評価B:電気伝導度が90%IACS以上95%IACS未満である。
評価C:電気伝導度が80%IACS以上90%IACS未満である。
評価D:電気伝導度が60%IACS以上80%IACS未満である。
評価E:電気伝導度が60%IACS未満である。
この結果が、下表1-3に示されている。
UM:定量限界値以下(ICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析計)にて測定)
TB:サーマルブラック
FB:ファーネスブラック
CB:チャンネルブラック
AB:アセチレンブラック
G:グラファイト
表中、Cu基合金粉末Aの組成欄に示された「-」は、0.0質量%を意味する。
Claims (7)
- 多数の被覆粒子からなり、
それぞれの被覆粒子が、その材質がCu基合金である合金粒子と、この合金粒子の少なくとも一部を被覆する炭素層と、を有しており、
上記炭素層が非化学的反応層であり、
それぞれの合金粒子の表面に形成された炭素層の厚さが1nm以上500nm以下であり、
その平均粒子径dC(μm)と、そのタップ密度TD(Mg/m3)との比dC/TDが、0.2×10-5・m4/Mg以上20×10-5・m4/Mg以下であり、
その球形度が、0.80以上0.95以下であり、
それぞれの被覆粒子が、真密度がρAであり、かつ、平均粒子径dAであるCu基合金粉末Aと、真密度がρBであり、かつ、平均粒子径がdBである炭素粉末Bと、から得られたものであり、この真密度ρAと真密度ρBとの比ρA/ρBが、4~55であり、この平均粒子径dAと平均粒子径dBとの比dA/dBが、1~400である、被覆Cu基合金粉末。 - 上記Cu基合金が、Cuと、元素M、Si、P及びSからなる群から選択される1又は2以上と、不可避的不純物と、を含有し、
上記元素Mが、Cr、Fe、Ni、Zr及びNbから選択される1又は2以上である請求項1に記載の被覆Cu基合金粉末。 - 上記Cu基合金において、
元素M:0.0質量%以上10.0質量%以下
Si:0.0質量%以上0.20質量%以下
P:0.0質量%以上0.10質量%以下
及び
S:0.0質量%以上0.10質量%以下
である請求項2に記載の被覆Cu基合金粉末。 - 上記Cu基合金において、
元素M:0.0質量%以上5.0質量%以下
Si:0.0質量%以上0.10質量%以下
P:0.0質量%以上0.010質量%以下
及び
S:0.0質量%以上0.010質量%以下
である請求項2に記載の被覆Cu基合金粉末。 - 上記炭素粉末Bが、カーボンブラック、活性炭及びグラファイトから選択される1又は2以上である請求項1から4のいずれかに記載の被覆Cu基合金粉末。
- 上記Cu基合金粉末Aの平均粒子径d A が10μm以上100μm以下である、請求項1に記載の被覆Cu基合金粉末。
- 上記炭素粉末Bの平均粒子径d B が0.25μm以上10μm以下である、請求項1に記載の被覆Cu基合金粉末。
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