JP7423145B2 - レーザー加工装置及び方法 - Google Patents
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Description
4 :基台
10 :Y軸方向移動ユニット
20 :X軸方向移動ユニット
30 :テーブル基台
32 :チャックテーブル
32a :保持面
32b :クランプ
40 :支持部
42 :Z軸方向移動ユニット
44 :Z軸パルスモータ
46 :Z軸移動板
48 :ホルダ
50 :レーザービーム照射ユニット
52 :ケーシング
54 :集光器
56 :カメラユニット(撮像ユニット)
58 :入出力装置
60 :制御部
62 :処理部
64 :ヒストグラム作成部
66 :決定部
68 :輪郭検出部
70 :画像
72 :第1位置
74 :第2位置
11 :被加工物,11a:一面,11b:他面
13 :保護テープ
15 :フレーム
17 :被加工物ユニット
A,A1,A2,A3,A4,A5,A6,A7,A8,A9,A10,A11,A12,A13,A14,A15,A16,A17,A18,A19,A20,A21:加工痕
B1 :第1ヒストグラム
B2 :第2ヒストグラム
B3,B3-1,B3-2,B3-3:第3ヒストグラム
B4,B4-1,B4-2,B4-3:第4ヒストグラム
B5 :第5ヒストグラム
B6 :第6ヒストグラム
C :値
DX1,DX2,DX3,DX4,DY1,DY2,DY3,DY4:直線
E :小領域(領域)
F,F1,F2,F3,G,G1,G2,G3,H1,H2:直線
Claims (6)
- 被加工物に吸収される波長を有するレーザービームを照射することにより該被加工物を加工するレーザービーム照射ユニットと、
該被加工物を撮像するための撮像ユニットと、
該撮像ユニットで該被加工物を撮像することにより取得された画像を処理する処理部と、を備え、
該処理部は、
該レーザービーム照射ユニットから1つの該被加工物の一面側にレーザービームを照射することで該一面側に形成された複数の加工痕を該撮像ユニットで撮像して得られた画像から、該画像の第1方向に沿う複数の第1位置と各第1位置での明るさとを含む第1ヒストグラムと、該第1方向に直交する第2方向に沿う複数の第2位置と各第2位置での明るさとを含む第2ヒストグラムと、を作成するヒストグラム作成部と、
該ヒストグラム作成部によって作成された該第1ヒストグラム及び該第2ヒストグラムに基づいて、各加工痕が形成されている領域の境界を決定する決定部と、
を有し、
該ヒストグラム作成部は、
各第1位置において、第1位置を通り該第2方向に平行な直線上に位置する複数の画素の明るさの尺度を示す値を積算することにより該第1ヒストグラムを作成し、
各第2位置において、第2位置を通り該第1方向に平行な直線上に位置する複数の画素の明るさの尺度を示す値を積算することにより該第2ヒストグラムを作成することを特徴とするレーザー加工装置。 - 該処理部は、該領域に対して、該第2方向の異なる位置にそれぞれ位置し該第1方向に平行な複数の直線の各直線上で、複数の画素の明るさを示す第3ヒストグラムと、該第1方向の異なる位置にそれぞれ位置し該第2方向に平行な複数の直線の各直線上で、複数の画素の明るさを示す第4ヒストグラムと、を作成することにより、加工痕の輪郭を検出する輪郭検出部を更に含むことを特徴とする請求項1に記載のレーザー加工装置。
- 該処理部は、各加工痕の重心、又は、各加工痕の真円からのずれを算出することを特徴とする請求項1又は2に記載のレーザー加工装置。
- レーザー加工装置を用いて被加工物の一面側にレーザービームを照射することで複数の加工痕を形成した後、各加工痕が形成されている領域を確認するための方法であって、
該被加工物に吸収される波長を有する該レーザービームを該被加工物に照射して1つの該被加工物の該一面側に該複数の加工痕を形成する加工痕形成ステップと、
該加工痕形成ステップで形成された該複数の加工痕を撮像して画像を取得する撮像ステップと、
該レーザー加工装置の処理部が、該画像の第1方向に沿う複数の第1位置と各第1位置での明るさとを含む第1ヒストグラムと、該第1方向と直交する第2方向に沿う複数の第2位置と各第2位置での明るさとを含む第2ヒストグラムと、を作成するヒストグラム作成ステップと、
該処理部が、該ヒストグラム作成ステップで作成された該第1ヒストグラム及び該第2ヒストグラムに基づいて、各加工痕が形成されている領域の境界を決定する決定ステップと、
を備え、
該ヒストグラム作成ステップでは、該処理部が、
各第1位置において、第1位置を通り該第2方向に平行な直線上に位置する複数の画素の明るさの尺度を示す値を積算することにより該第1ヒストグラムを作成し、
各第2位置において、第2位置を通り該第1方向に平行な直線上に位置する複数の画素の明るさの尺度を示す値を積算することにより該第2ヒストグラムを作成することを特徴とする方法。 - 該領域に対して、該処理部が、該第2方向の異なる位置にそれぞれ位置し該第1方向に平行な複数の直線の各直線上で、複数の画素の明るさを示す第3ヒストグラムと、該第1方向の異なる位置にそれぞれ位置し該第2方向に平行な複数の直線の各直線上で、複数の画素の明るさを示す第4ヒストグラムと、を作成することにより、各加工痕の輪郭を検出する輪郭検出ステップを更に備えることを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 該輪郭検出ステップの後、該処理部が、各加工痕の重心、又は、各加工痕の真円からのずれを算出する算出ステップを更に備えることを特徴とする請求項5に記載の方法。
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