JP2023170915A - 画像形成方法及び補正方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】より適切に補正された画像を形成できる画像形成方法を提供する。【解決手段】画像形成方法は、被加工物を保持した保持テーブルとカメラとを第1方向及び第2方向に沿わないように相対的に移動させながらカメラで被加工物を順に撮像することにより、補正用画像を形成する補正用画像形成ステップと、補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、複数の補正値を取得する補正値取得ステップと、カメラの直線状の撮像領域に対して垂直な方向に沿うように保持テーブルとカメラとを相対的に移動させながらカメラで被加工物を順に撮像することにより、補正前画像を形成する補正前画像形成ステップと、複数の補正値を利用して補正前画像を構成する複数の画素の輝度を補正することにより、補正後画像を形成する補正後画像形成ステップと、を含む。【選択図】図7

Description

本発明は、被加工物の検査に適した画像を形成できる画像形成方法、及び画像を補正する際に用いられる補正方法に関する。
携帯電話機やパーソナルコンピュータに代表される電子機器では、電子回路等のデバイスを備えるデバイスチップが必須の構成要素になっている。デバイスチップは、例えば、シリコン(Si)等の材料でなるウェーハの表面側を直線状のストリート(分割予定ライン)で複数の領域に区画し、各領域にデバイスを形成した後、このストリートに沿ってウェーハを分割することで得られる。
ウェーハを複数のデバイスチップへと分割する際には、例えば、結合材に砥粒が分散されてなる切削ブレードと呼ばれる円盤状の工具が使用される。切削ブレードを高速に回転させて、純水等の液体を供給しながらウェーハのストリートに切り込ませることで、ウェーハは、ストリートで切断され、複数のデバイスチップが得られる(例えば、特許文献1参照)。
ところで、ウェーハが複数のデバイスチップへと分割される際には、工具との接触等に起因してチッピングと呼ばれる破損がデバイスチップに生じる可能性がある。そして、デバイスチップに生じるチッピングの数が増えると、デバイスチップの強度が大幅に低下して、製品に求められる品質が得られなくなる。そのため、ウェーハが複数のデバイスチップへと分割された後には、ウェーハを撮像して得られる画像に基づき品質が検査されている。
この品質の検査では、通常、検査対象のウェーハで反射した光をレンズでイメージセンサに集めて画像を形成するカメラが使用される。しかしながら、この種のカメラでは、周辺光量が不足した場合等に、明暗の斑が画像に現れ検査の精度が低下し易い。そこで、明暗の斑により低下する画質を補うために、シェーディング補正等と呼ばれる補正が行われる(例えば、特許文献2参照)。
シェーディング補正では、例えば、ウェーハを保持するためのテーブルの上面を撮像して得られた画像から、明暗の斑により低下した画質を補うための輝度の補正値が算出される。この補正値を、検査対象のウェーハを撮像して得られる画像に適用すれば、ある程度の明暗の斑が画像から取り除かれ、検査の精度が高い状態に保たれる。
特開平3-198363号公報 特開2020-57985号公報
ところが、上述の方法では、テーブルの上面を撮像して得られる画像から補正値が算出されるので、テーブルとは異なる光学特性を持つウェーハを撮像して得られる画像は、必ずしも適切に補正されない。検査対象のウェーハを撮像して得られる画像が適切に補正されるためには、この検査対象のウェーハを撮像して得られる画像から補正値が算出される必要がある。
一方で、ウェーハを撮像して画像を形成する際に、ラインセンサ等と呼ばれる1次元イメージセンサを含むカメラが使用されることがある。この場合には、例えば、カメラの直線状の撮像領域と、検査対象のウェーハと、を直線状の撮像領域に対して垂直な方向に相対的に且つ直線的に移動させながら、検査対象のウェーハをカメラで連続的に撮像することにより、所望の範囲が写る帯状の画像が得られる。
しかしながら、検査対象のウェーハには、上述のように、ストリートに沿った直線状の加工痕が形成されている。そのため、検査対象のウェーハと、カメラの撮像領域と、を相対的に且つ直線的に移動させながら、カメラで検査対象のウェーハを撮像すると、得られる画像の中で明暗の斑と加工痕とが区別できず、適正な補正値を算出できないことがあった。
よって、本発明の目的は、より適切に補正された画像を形成できる画像形成方法、及び画像をより適切に補正できる補正方法を提供することである。
本発明の一側面によれば、第1方向に沿う直線状の第1分割予定ライン及び該第1方向と交差する第2方向に沿う直線状の第2分割予定ラインの一方又は両方で加工された状態の板状の被加工物の表面側を、1次元イメージセンサを含むカメラで撮像して該被加工物の写った画像を形成する画像形成方法であって、該被加工物を保持テーブルで保持する保持ステップと、該保持ステップの後に、該第1方向及び該第2方向に沿わないように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させながら該カメラで該被加工物を順に撮像することにより、補正用画像を形成する補正用画像形成ステップと、該補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、該カメラにより形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する際に用いられる複数の補正値を取得する補正値取得ステップと、該保持ステップの後に、該カメラの直線状の撮像領域に対して垂直な方向に沿うように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させながら該カメラで該被加工物を順に撮像することにより、補正前画像を形成する補正前画像形成ステップと、該補正値取得ステップ及び該補正前画像形成ステップの後に、該複数の補正値を利用して該補正前画像を構成する複数の画素の輝度を補正することにより、補正後画像を形成する補正後画像形成ステップと、を含む画像形成方法が提供される。
本発明の別の一側面によれば、第1方向に沿う直線状の第1分割予定ライン及び該第1方向と交差する第2方向に沿う直線状の第2分割予定ラインの一方又は両方で加工された状態の板状の被加工物の表面側を、1次元イメージセンサを含むカメラで撮像して該被加工物の写った画像を形成する際に用いられる補正方法であって、該被加工物を保持テーブルで保持する保持ステップと、該保持ステップの後に、該第1方向及び該第2方向に沿わないように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させながら該カメラで該被加工物を順に撮像することにより、補正用画像を形成する補正用画像形成ステップと、該補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、該カメラにより形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する際に用いられる複数の補正値を取得する補正値取得ステップと、該補正値取得ステップの後に、該複数の補正値を利用して該カメラにより形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する補正ステップと、を含む補正方法が提供される。
本発明の各側面において、該補正用画像形成ステップでは、例えば、該カメラの該撮像領域が該第1方向及び該第2方向に対して交差する直線状の軌跡を描いて該被加工物の該表面を移動するように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させる。又は、該補正用画像形成ステップでは、該カメラの該撮像領域が渦巻き状の軌跡を描いて該被加工物の該表面を移動するように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させる。
本発明の一側面にかかる画像形成方法、及び別の一側面にかかる補正方法では、第1方向及び第2方向に沿わないように保持テーブルとカメラとを相対的に移動させながらカメラで被加工物を順に撮像することにより、補正用画像が形成される。そのため、この補正用画像を形成する際に、カメラの直線状の撮像領域の一部だけで第1分割予定ラインや第2分割予定ラインが撮像されたり、カメラの全体で第1分割予定ラインや第2分割予定ラインだけが撮像されたりすることがない。
つまり、第1分割予定ラインや第2分割予定ラインが補正用画像の一部の狭い領域だけに写ったり、第1分割予定ラインや第2分割予定ラインだけが補正用画像に写ったりすることがないので、この補正用画像から、画像を構成する複数の画素の輝度の補正に適した補正値を取得することができる。このように、本発明の各側面によれば、より適切に補正された画像を形成できる画像形成方法、及び画像をより適切に補正できる補正方法が提供される。
図1は、検査装置の一例を示す斜視図である。 図2は、板状の被加工物の一例を示す平面図である。 図3は、イメージセンサ内の複数の受光素子の配列を模式的に示す図である。 図4は、カメラによって画像が形成される様子を模式的に示す平面図である。 図5は、形成された補正前画像の各画素の輝度を模式的に示す図である。 図6は、形成された補正前画像の一例である。 図7は、補正用画像が形成される様子を模式的に示す平面図である。 図8は、形成された補正用画像の各画素の輝度を模式的に示す図である。 図9は、補正値を適用することで除去される明暗の斑を模式的に示す図である。 図10は、形成された補正後画像の各画素の輝度を模式的に示す図である。 図11は、形成された補正後画像の一例である。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。図1は、本実施形態にかかる画像形成方法及び補正方法に使用される検査装置2の一例を示す斜視図である。なお、図1では、検査装置2の一部の構成要素が機能ブロックで表現されている。また、以下の説明で用いられるX方向(前後方向)、Y方向(左右方向)、及びZ方向(鉛直方向)は、互いに垂直な方向である。
図1に示されるように、検査装置2は、種々の構成要素を支持する基台4を含む。基台4の上面には、テーブル移動機構6が配置されている。テーブル移動機構6は、例えば、基台4の上面に固定されX方向に対して概ね平行な一対のX軸ガイドレール8を有している。X軸ガイドレール8には、X軸移動テーブル10がX方向に沿ってスライドできる態様で取り付けられている。
X軸移動テーブル10の下面側には、ボールねじを構成するナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、X軸ガイドレール8に対して概ね平行なねじ軸12が、回転できる態様で連結されている。ねじ軸12の一端部には、モーター等の回転駆動源14が接続されている。回転駆動源14によってねじ軸12を回転させることで、X軸移動テーブル10は、X軸ガイドレール8に沿って、すなわち、X方向に沿って移動する。
X軸移動テーブル10の上部には、検査対象である板状の被加工物を保持することができる保持テーブル16が配置されている。図2は、板状の被加工物11の一例を示す平面図である。図2に示されるように、被加工物11は、例えば、シリコン等の半導体材料で構成される円盤状のウェーハである。つまり、この被加工物11は、円形状の表面11aと、表面11aとは反対側の円形状の裏面(不図示)と、を有している。
被加工物11の表面11a側は、この表面11aに対して概ね平行な第1方向D1に沿う直線状の複数の第1ストリート(第1分割予定ライン)13aと、表面11aに対して概ね平行で第1方向D1に対して概ね垂直な第2方向D2に沿う直線状の複数の第2ストリート(第2分割予定ライン)13bと、で複数の小領域に区画されている。各小領域には、集積回路(IC:Integrated Circuit)等のデバイス15が形成されている。
また、この被加工物11は、直線状の複数の第1ストリート13aと、直線状の複数の第2ストリート13bと、において切断されており、各デバイス15に対応する複数のデバイスチップへと分割された状態になっている。そのため、この被加工物11を検査する際には、被加工物11の全体をまとめて取り扱うことができるように、例えば、樹脂等の材料で構成されたダイシングテープ等の支持部材が被加工物11の裏面側に貼付されることが望ましい。
なお、本実施形態では、シリコン等の半導体材料で構成される円盤状のウェーハが被加工物11として用いられているが、被加工物11の材質、形状、構造、大きさ等は、この態様に制限されない。例えば、他の半導体、セラミックス、樹脂、金属等の材料で構成される基板等が被加工物11として用いられ得る。同様に、デバイス15の種類、数量、形状、構造、大きさ、配置等も、上述の態様に制限されない。被加工物11には、デバイス15が形成されていなくてもよい。
また、第1ストリート13aと、第2ストリート13bとは、互いに交差していれば、必ずしも直交していなくてよい。言い換えれば、第1方向D1と、第2方向D2とは、互いに直交していなくても、交差していればよい。更に、被加工物11は、第1ストリート13aと、第2ストリート13bと、のいずれか一方で加工されていれば、必ずしも、第1ストリート13aと、第2ストリート13bと、の両方で切断されていなくてよい。
図1に示される検査装置2の保持テーブル16は、モーター等の回転駆動源(不図示)に接続されており、Z方向に対して概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、保持テーブル16は、上述したテーブル移動機構6によって、X軸移動テーブル10とともにX方向に移動する。保持テーブル16の上面16aの一部は、例えば、多孔質状に構成されており、この上面16aの多孔質状の部分には、保持テーブル16の内部に設けられている流路等を介して、外部の吸引源(不図示)が接続されている。
そのため、保持テーブル16の上面16aに被加工物11を載せて、吸引源の負圧を上面16aの多孔質状の部分に作用させると、被加工物11は、この負圧に伴う吸引力によって、保持テーブル16に保持される。なお、吸引源としては、例えば、エアーの供給源とエジェクタとを組み合わせた真空ポンプが用いられる。ただし、吸引源として、ロータリーポンプ等の他の真空ポンプが用いられてもよい。
Y方向に沿ってテーブル移動機構6の隣の位置には、カメラ移動機構18が配置されている。カメラ移動機構18は、例えば、基台4の上面に固定されY方向に対して概ね平行な一対のY軸ガイドレール20を有している。Y軸ガイドレール20には、Y軸移動テーブル22がY方向に沿ってスライドできる態様で取り付けられている。
Y軸移動テーブル22の下面側には、ボールねじを構成するナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Y軸ガイドレール20に対して概ね平行なねじ軸24が、回転できる態様で連結されている。ねじ軸24の一端部には、モーター等の回転駆動源26が接続されている。回転駆動源26によってねじ軸24を回転させることで、Y軸移動テーブル22は、Y軸ガイドレール20に沿って、すなわち、Y方向に沿って移動する。
Y軸移動テーブル22の上面には、Z方向に対して概ね平行に配置される側面を持つ支持構造28が設けられている。この支持構造28の側面には、Z方向に対して概ね平行な一対のZ軸ガイドレール30が固定されている。また、Z軸ガイドレール30には、カメラ固定具32がZ方向に沿ってスライドできる態様で取り付けられている。
カメラ固定具32の支持構造28側には、ボールねじを構成するナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Z軸ガイドレール30に対して概ね平行なねじ軸(不図示)が、回転できる態様で連結されている。ねじ軸の一端部には、モーター等の回転駆動源34が接続されている。回転駆動源34によってねじ軸を回転させることで、カメラ固定具32は、Z軸ガイドレール30に沿って、すなわち、Z方向に沿って移動する。
カメラ固定具32には、保持テーブル16に保持された被加工物11等を撮像するためのカメラ36が固定されている。カメラ移動機構18でY軸移動テーブル22をY方向に沿って移動させれば、カメラ36もY方向に沿って移動する。また、カメラ移動機構18でカメラ固定具32をZ方向に沿って移動させれば、カメラ36もZ方向に沿って移動する。
このカメラ36は、ラインセンサ等と呼ばれる1次元イメージセンサと、集光用のレンズと、を含んでおり、対象の被加工物11で反射した光をレンズで1次元イメージセンサに集めることで、1次元的な画像を形成する。図3は、カメラ36を構成する1次元イメージセンサ38内の複数の受光部(画素)の配列を模式的に示す図であり、図4は、カメラ36によって画像が形成される様子を模式的に示す平面図である。
カメラ36を構成する1次元イメージセンサ38は、代表的には、可視光に感度を持つCMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)イメージセンサやCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ等である。この1次元イメージセンサ38は、図3に示されるように、1~n(nは自然数)の番号で示されるn個の受光部が直線的に配列された構造を有している。なお、図3の番号は、便宜的に受光部に付されているに過ぎず、現実の受光部に番号が付されているわけではない。
また、図4に示されるように、本実施形態のカメラ36は、1次元イメージセンサ38によって被加工物11上に実現される直線状の撮像領域17が、X方向に沿うように配置されている。そのため、保持テーブル16で保持された被加工物11をカメラ36で撮像すると、あるタイミングにおいて、X方向に沿ってn個の画素が直線的に並んだ1次元的な画像が得られる。
そして、図4に示されるように、保持テーブル16と、カメラ36とを、直線状の撮像領域17に対して垂直な方向、つまり、Y方向に沿って相対的に移動させながら、カメラ36で被加工物11を連続的に撮像すると、複数の1次元的な画像がY方向に沿って連結された帯状の画像が得られる。なお、このようにして得ることができる帯状の画像のY方向に沿う長さには、原理的な制限がない。
検査装置2を構成するテーブル移動機構6、カメラ移動機構18、カメラ36等の構成要素には、制御ユニット40が接続されている。制御ユニット40は、例えば、処理装置42と、記憶装置44と、を含むコンピュータによって構成され、被加工物11がカメラ36で適切に撮像されるように、上述した各構成要素の動作等を制御する。
処理装置42は、代表的には、CPU(Central Processing Unit)であり、上述した構成要素を制御するために必要な種々の処理を行う。記憶装置44は、例えば、DRAM(Dynamic Random Access Memory)等の主記憶装置と、ハードディスクドライブやフラッシュメモリ等の補助記憶装置と、を含む。この制御ユニット40の機能は、例えば、記憶装置44に記憶されているプログラム等のソフトウェアに従い処理装置42が動作することによって実現される。
本実施形態にかかる画像形成方法では、上述した検査装置2によって、被加工物11が写る画像が形成される。その際に、被加工物11が写る画像が、本実施形態にかかる補正方法で補正される。つまり、本実施形態にかかる補正方法は、本実施形態にかかる画像形成方法の一部に相当する。
本実施形態にかかる画像形成方法では、まず、検査対象である被加工物11が、検査装置2の保持テーブル16により保持される(保持ステップ)。つまり、保持テーブル16の上面16aに被加工物11が載せられる。本実施形態では、表面11aが上を向くように、被加工物11が保持テーブル16の上面16aに載せられる。そして、制御ユニット40が、この上面16aの多孔質状の部分に吸引源の負圧を作用させる。これにより、被加工物11は、吸引源の負圧に伴う吸引力によって、保持テーブル16に保持される。
本実施形態では、検査対象である被加工物11が保持テーブル16に保持された後に、例えば、制御ユニット40が回転駆動源で保持テーブル16を回転させて、第1方向D1をX方向に対して平行にし、第2方向D2をY方向に対して平行にする。つまり、図4に示されるように、被加工物11の第1ストリート13aがX方向に対して平行になり、被加工物11の第2ストリート13bがY方向に対して平行になる。
ただし、本発明の被加工物11の向きは、この態様に制限されない。例えば、第1方向D1をY方向に対して平行にし、第2方向D2をX方向に対して平行にするように、制御ユニット40が回転駆動源で保持テーブル16を回転させてもよい。また、第1方向D1や第2方向D2をX方向やY方向に対して任意の角度で傾斜させるように、制御ユニット40が回転駆動源で保持テーブル16を回転させてもよい。
その後、被加工物11の検査に用いられる補正前画像が形成される(補正前画像形成ステップ)。具体的には、まず、制御ユニット40がテーブル移動機構6とカメラ移動機構18とを動作させて、被加工物11の撮像の対象の領域がカメラ36に写るように、保持テーブル16とカメラ36との位置の関係を調整する。
そして、制御ユニット40がカメラ36で被加工物11を連続的に撮像しながら、カメラ移動機構18でカメラ36をY方向に沿って移動させる。すなわち、制御ユニット40は、カメラ36の直線状の撮像領域17に対して垂直な方向に沿うように保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させながらカメラ36で被加工物11を順に撮像する。これにより、帯状の補正前画像が形成される。
図5は、形成された帯状の補正前画像の各画素の輝度を模式的に示す図である。なお、図5では、Y方向に沿って繰り返し取得されたm個(mは自然数)の1次元的な画像(X方向に沿ってn個の画素が並んだ画像)を連結して得られる帯状の補正前画像が模式的に示されている。
上述のような動作を撮像領域17の分だけX方向に沿ってずれた別の位置で行うと、この別の位置に対応する帯状の補正前画像が更に得られる。そして、得られた複数の帯状の補正前画像をX方向において連結すると、X方向及びY方向に沿って広い範囲が写った補正前画像が得られる。図6は、複数の帯状の補正前画像を連結して形成された補正前画像の一例である。
図5及び図6に示されるように、帯状の補正前画像のX方向に沿った両端部では、周辺光量が不足して画素の輝度が低下し易い。図5では、X方向に沿って両端部に位置する第1画素、第2画素、第n-1画素、及び第n画素において、画素の輝度が低下し、明暗の斑が発生した様子が示されている。なお、この図5では、X方向の第1画素及び第n画素の輝度の低下量が、X方向の第2画素及び第n-1画素の輝度の低下量より大きくなっている。
よって、各画素の輝度の低下量を打ち消すような補正を行うことができれば、明暗の斑を画像から取り除いて、検査の精度を高い状態に保つことができると考えられる。しかしながら、上述のように、被加工物11は、第1ストリート13aと第2ストリート13bとで加工されており、第1ストリート13a及び第2ストリート13bには、加工痕が形成されている。
そのため、上述のような一般的な撮像の手順で画像が取得されると、第1ストリート13aや第2ストリート13bが画像の一部の狭い領域だけに写ってしまうことがある。例えば、上述の手順では、保持テーブル16とカメラ36とを第2ストリート13bに沿って相対的に移動させているので、第2ストリート13bがX方向の一部の領域だけに写ってしまうことがあった。なお、図5では、X方向の第3画素及び第4画素だけに第2ストリート13bが写っている。
そして、このような画像では、第1ストリート13aや第2ストリート13bの加工痕に起因する明暗と、除去されるべき明暗の斑と、が明確に区別されない。すなわち、上述のような一般的な撮像の手順で取得された画像から、補正に適した輝度の補正値等の情報を抽出することは、極めて難しかった。
保持テーブル16とカメラ36とをX方向に沿って相対的に移動させることにより、補正用の画像を取得することも考えられる。しかしながら、例えば、保持テーブル16とカメラ36とを第1ストリート13aに沿って相対的に移動させる場合には、第1ストリート13aと撮像領域17とが偶然に重なって、画像の全体に第1ストリート13aだけが写ってしまうことがある。
そして、このような画像では、第1ストリート13aや第2ストリート13bの加工痕に起因する明暗と、除去されるべき明暗の斑と、が明確に区別されない。このように、第1ストリート13aや第2ストリート13bに沿って保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させて画像を取得する方法では、必ずしも、補正用の情報の抽出に適した画像を取得することができなかった。
そこで、本実施形態にかかる画像形成方法では、検査対象である被加工物11が保持テーブル16に保持された後に、画像の補正に用いられる補正用画像が形成される(補正用画像形成ステップ)。具体的には、制御ユニット40がカメラ36で被加工物11を連続的に撮像しながら、テーブル移動機構6で保持テーブル16をX方向に沿って移動させ、カメラ移動機構18でカメラ36をY方向に沿って移動させる。
すなわち、制御ユニット40は、第1方向D1及び第2方向D2に沿わないように保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させながら、カメラ36で被加工物11を順に撮像する。これにより、帯状の補正用画像が形成される。図7は、補正用画像が形成される様子を模式的に示す平面図である。
図7に示されるように、本実施形態では、カメラ36の撮像領域17が第1方向D1及び第2方向D2に対して交差する直線状の軌跡を描いて被加工物11の表面11aを移動するように、制御ユニット40は、保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させる。図8は、形成された補正用画像の各画素の輝度を模式的に示す図である。この手順で取得される補正用画像では、画像の輪郭に対し、第1ストリート13aや第2ストリート13bが傾く。例えば、図8の画像には、傾斜した第2ストリート13bが写っている。
このように、本実施形態では、第1方向D1及び第2方向D2に沿わないように保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させるので、撮像領域17の一部だけで第1ストリート13aや第2ストリート13bが撮像されたり、カメラ36の全体で第1ストリート13aや第2ストリート13bだけが撮像されたりすることがない。
つまり、第1ストリート13aや第2ストリート13bが補正用画像の一部の狭い領域だけに写ったり、第1ストリート13aや第2ストリート13bだけが補正用画像に写ったりすることがない。よって、この補正用画像から、画像の補正に適した補正用の情報を抽出することができる。
なお、この補正用画像は、補正前画像が形成される前に形成されてもよいし、補正前画像が形成された後に形成されてもよい。また、本実施形態では、撮像領域17が第1方向D1及び第2方向D2に対して交差する直線状の軌跡を描くように保持テーブル16とカメラ36とが相対的に移動しているが、保持テーブル16とカメラ36との相対的な移動の態様は、これに限定されない。
保持テーブル16とカメラ36とは、少なくとも、第1方向D1及び第2方向D2に沿わないように相対的に移動していればよい。例えば、カメラ36の撮像領域17が渦巻き状の軌跡を描いて被加工物11の表面11aを移動するように、制御ユニット40は、保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させることがある。
なお、この変形例では、保持テーブル16とカメラ36との相対的な移動の方向が、瞬間的に、第1方向D1や第2方向D2に対して平行になるが、このような相対的な移動の態様は、「第1方向D1及び第2方向D2に沿った相対的な移動」ではない。つまり、上述した変形例にかかる相対的な移動の態様は、本発明の「第1方向D1及び第2方向D2に沿わないような相対的な移動」に含まれる。
補正用画像が形成された後には、補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、カメラ36により形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する際に用いられる複数の補正値に関する情報が取得される(補正値取得ステップ)。具体的には、制御ユニット40は、同じ列の全ての画素の輝度の平均値を算出し、これを基準値と比較して、対応する列の輝度の補正値を取得する。
例えば、図8に示されるm行n列の補正用画像が形成されている場合には、制御ユニット40は、第k列を構成するm個の画素(kは、n以下の自然数)の輝度の平均値を算出する。つまり、制御ユニット40は、第1行から第m行までのそれぞれに存在する第k画素の輝度の総和を算出し、これをmで除する。平均値は、全ての列に対して算出される。これにより、各列に対応するn個の平均値が得られる。
また、制御ユニット40は、任意の方法で基準値を取得する。例えば、制御ユニット40は、補正用画像を構成する全ての画素の輝度の平均値を、基準値として算出する。つまり、制御ユニット40は、m行n列の補正用画像を構成する全ての画素の輝度の総和を算出し、これをm×nで除する。これにより、基準値が得られる。
そして、制御ユニット40は、各列の輝度の平均値と、基準値と、から、各列の輝度の補正値を算出する。例えば、制御ユニット40は、各列の輝度の平均値から基準値を減ずることで、各列の輝度の補正値を算出する。これにより、各列に対応するn個の補正値が得られる。図9は、このようにして得られる補正値を適用することで除去される明暗の斑を模式的に示す図である。言い換えれば、図9は、各画素の輝度の補正値を模式的に表している。
本実施形態では、第1ストリート13aや第2ストリート13bが補正用画像の一部の狭い領域だけに写ることがないので、第k列を構成するm個の画素の平均値が第1ストリート13aや第2ストリート13bの影響を受けて、異常な補正値が算出されることがない。また、本実施形態では、第1ストリート13aや第2ストリート13bだけが補正用画像に写ることがないので、第k列を構成するm個の画素の平均値が第1ストリート13aや第2ストリート13bの影響を受けて、異常な補正値が算出されることがない。
複数の補正値が取得された後、且つ補正前画像が形成された後には、取得された複数の補正値を利用して補正前画像の複数の画素の輝度が補正されることにより、補正後画像が形成される(補正後画像形成ステップ)。例えば、制御ユニット40は、補正前画像の複数の画素の輝度を補正値に従って増減させることで、補正後画像を形成する。図10は、形成された補正後画像の各画素の輝度を模式的に示す図であり、図11は、形成された補正後画像の一例である。
以上のように、本実施形態にかかる画像形成方法では、第1方向D1及び第2方向D2に沿わないように保持テーブル16とカメラ36とを相対的に移動させながらカメラ36で被加工物11を順に撮像することにより、補正用画像が形成される。そのため、この補正用画像を形成する際に、カメラ36の直線状の撮像領域17の一部だけで第1ストリート(第1分割予定ライン)13aや第2ストリート(第2分割予定ライン)13bが撮像されたり、カメラ36の全体で第1ストリート13aや第2ストリート13bだけが撮像されたりすることがない。
つまり、第1ストリート13aや第2ストリート13bが補正用画像の一部の狭い領域だけに写ったり、第1ストリート13aや第2ストリート13bだけが補正用画像に写ったりすることがないので、この補正用画像から、画像を構成する複数の画素の輝度の補正に適した補正値を取得することができる。このように、本実施形態によれば、より適切に補正された画像を形成できる画像形成方法が提供される。
なお、本実施形態にかかる補正方法は、上述の通り、本実施形態にかかる画像形成方法の一部に相当する。すなわち、本実施形態にかかる補正方法では、検査対象である被加工物11が、検査装置2の保持テーブル16により保持される(保持ステップ)。また、検査対象である被加工物11が保持テーブル16に保持された後に、画像の補正に用いられる補正用画像が形成される(補正用画像形成ステップ)。
更に、補正用画像が形成された後に、補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、カメラ36により形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する際に用いられる複数の補正値に関する情報が取得される(補正値取得ステップ)。そして、複数の補正値が取得された後に、取得された複数の補正値を利用して、カメラ36により形成された任意の画像を構成する複数の画素の輝度が補正される(補正ステップ:画像形成方法の補正後画像形成ステップに相当)。
なお、本発明は、上述した実施形態の記載に制限されず種々変更して実施可能である。例えば、上述した実施形態の画像形成方法では、同じ被加工物11を撮像することで補正前画像と補正用画像との両方が形成されているが、例えば、同じ種類の被加工物11を続けて検査するような場合には、ある被加工物11を撮像することで形成される補正用画像を利用して、別の被加工物11を撮像することで形成される補正前画像が補正されてもよい。
その他、上述の実施形態及び変形例にかかる構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
11 :被加工物
11a :表面
13a :第1ストリート(第1分割予定ライン)
13b :第2ストリート(第2分割予定ライン)
15 :デバイス
17 :撮像領域
2 :検査装置
4 :基台
6 :テーブル移動機構
8 :X軸ガイドレール
10 :X軸移動テーブル
12 :ねじ軸
14 :回転駆動源
16 :保持テーブル
16a :上面
18 :カメラ移動機構
20 :Y軸ガイドレール
22 :Y軸移動テーブル
24 :ねじ軸
26 :回転駆動源
28 :支持構造
30 :Z軸ガイドレール
32 :カメラ固定具
34 :回転駆動源
36 :カメラ
38 :1次元イメージセンサ
40 :制御ユニット
42 :処理装置
44 :記憶装置

Claims (6)

  1. 第1方向に沿う直線状の第1分割予定ライン及び該第1方向と交差する第2方向に沿う直線状の第2分割予定ラインの一方又は両方で加工された状態の板状の被加工物の表面側を、1次元イメージセンサを含むカメラで撮像して該被加工物の写った画像を形成する画像形成方法であって、
    該被加工物を保持テーブルで保持する保持ステップと、
    該保持ステップの後に、該第1方向及び該第2方向に沿わないように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させながら該カメラで該被加工物を順に撮像することにより、補正用画像を形成する補正用画像形成ステップと、
    該補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、該カメラにより形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する際に用いられる複数の補正値を取得する補正値取得ステップと、
    該保持ステップの後に、該カメラの直線状の撮像領域に対して垂直な方向に沿うように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させながら該カメラで該被加工物を順に撮像することにより、補正前画像を形成する補正前画像形成ステップと、
    該補正値取得ステップ及び該補正前画像形成ステップの後に、該複数の補正値を利用して該補正前画像を構成する複数の画素の輝度を補正することにより、補正後画像を形成する補正後画像形成ステップと、を含む画像形成方法。
  2. 該補正用画像形成ステップでは、該カメラの該撮像領域が該第1方向及び該第2方向に対して交差する直線状の軌跡を描いて該被加工物の該表面を移動するように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させる請求項1に記載の画像形成方法。
  3. 該補正用画像形成ステップでは、該カメラの該撮像領域が渦巻き状の軌跡を描いて該被加工物の該表面を移動するように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させる請求項1に記載の画像形成方法。
  4. 第1方向に沿う直線状の第1分割予定ライン及び該第1方向と交差する第2方向に沿う直線状の第2分割予定ラインの一方又は両方で加工された状態の板状の被加工物の表面側を、1次元イメージセンサを含むカメラで撮像して該被加工物の写った画像を形成する際に用いられる補正方法であって、
    該被加工物を保持テーブルで保持する保持ステップと、
    該保持ステップの後に、該第1方向及び該第2方向に沿わないように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させながら該カメラで該被加工物を順に撮像することにより、補正用画像を形成する補正用画像形成ステップと、
    該補正用画像を構成する複数の画素の輝度に基づき、該カメラにより形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する際に用いられる複数の補正値を取得する補正値取得ステップと、
    該補正値取得ステップの後に、該複数の補正値を利用して該カメラにより形成される画像を構成する複数の画素の輝度を補正する補正ステップと、を含む補正方法。
  5. 該補正用画像形成ステップでは、該カメラの撮像領域が該第1方向及び該第2方向に対して交差する直線状の軌跡を描いて該被加工物の該表面を移動するように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させる請求項4に記載の補正方法。
  6. 該補正用画像形成ステップでは、該カメラの撮像領域が渦巻き状の軌跡を描いて該被加工物の該表面を移動するように該保持テーブルと該カメラとを相対的に移動させる請求項4に記載の補正方法。
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