JP7379486B2 - 表示ドライバ、半導体装置及び増幅回路 - Google Patents

表示ドライバ、半導体装置及び増幅回路 Download PDF

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Description

本発明は、映像信号に応じて表示デバイスを駆動する表示ドライバ、当該表示ドライバが形成されている半導体装置、及び増幅回路に関する。
表示デバイスとしての表示パネルを含む表示装置には、この表示パネルと共に、以下の階調電圧生成回路及びデコーダを含む表示ドライバが搭載されている。階調電圧生成回路は、輝度レベルを64階調で表す64個の階調電圧を生成し、デコーダは、これら64個の階調電圧のうちから表示データに対応した1つの階調電圧を選択し、これを表示パネルの信号線に供給する(例えば、特許文献1参照)。
尚、当該階調電圧生成回路は、所望のガンマ特性に沿った電圧を夫々受けて利得1で増幅するガンマバッファとしての複数のオペアンプと、オペアンプ各々の出力電圧同士の間を分圧することで64個の階調電圧を生成するラダー抵抗と、を含む。
特開2012-137783号公報
近年、表示装置の大画面化及び高精細化に伴う1水平走査期間の短縮により、表示ドライバ内での高速処理が求められている。つまり、デコーダに供給される表示データが、次の1水平走査期間分の表示データに切り替わった時点から当該1水平走査期間が経過する迄の間に、当該デコーダが出力する階調電圧の電圧値が表示データに対応した目標の電圧値に到らせる必要がある。
ところで、デコーダに供給される表示データが次の1水平走査期間に対応した表示データに切り替わる際には、それに追従してデコーダ内に流れる電流が一時的に大幅に増加又は低下する場合がある。それに伴い、階調電圧生成回路が当該デコーダに供給する階調電圧の電圧値が一時的に低下又は増加する。つまり、階調電圧生成回路の負荷となるデコーダ内に流れる電流の変動、いわゆる負荷変動に伴い、本来、一定の電圧値を維持しているべき階調電圧の電圧値が変動してしまう。
よって、例えば階調電圧の電圧値が一時的に低下した場合、これが元の電圧値に戻るまでに掛かる時間の分だけ、デコーダから出力された階調電圧の電圧値が表示データに対応した目標の電圧値に到るまでに費やされる時間も長くなる。従って、1水平走査期間が短縮されると、デコーダから出力された階調電圧の電圧値をその1水平走査期間内に目標の電圧値に到らせることが出来なくなり、画質劣化を招く虞が生じる。
そこで、階調電圧の電圧変動を迅速に抑える為に、ガンマバッファ(オペアンプ)内部の動作電流を増加することが考えられる。しかしながら、動作電流を増加した分だけ消費電力の増加、並びに発熱量の増加に伴う特性悪化を招くという問題が生じる。
また、ガンマバッファ内部の動作電流を増加すると低電圧時にトランジスタの飽和領域に対する動作マージンが少なくなる。よって、それを補う為にガンマバッファを構成する各トランジスタのゲート幅を大きくする必要があり、チップサイズの増加及びコスト高を招くという問題も生じる。
そこで、本発明は、発熱量、消費電力、及び装置規模の増大を抑えて、表示ドライバを高速駆動することが可能な表示ドライバ、半導体装置及び増幅回路を提供することを目的とする。
本発明に係る表示ドライバは、映像信号に基づく各画素の輝度レベルを示す画素データ片に応じて表示デバイスを駆動する駆動信号を生成する表示ドライバであって、互いに異なる電圧値を有する第1~第k(kは2以上の整数)の基準電圧が個別に入力され、前記第1~第kの基準電圧を増幅して出力する第1~第kのアンプを含み、前記第1~第kのアンプから出力された電圧各々の間を分圧することで複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、前記複数の階調電圧のうちから前記画素データ片にて示される輝度レベルに対応した1の階調電圧を選択し、前記1の階調電圧を有する信号を前記駆動信号として生成するデコーダ部と、を含み、前記階調電圧生成部は、前記第1~第kのアンプの各々に夫々接続されている複数の高速応答回路を含み、前記高速応答回路は、前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に所定電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加される、少なくとも1つのトランジスタを含む。
本発明に係る半導体装置は、映像信号に基づく各画素の輝度レベルを示す画素データ片に応じて表示デバイスを駆動する駆動信号を生成する表示ドライバが形成されている半導体装置であって、前記表示ドライバは、互いに異なる電圧値を有する第1~第k(kは2以上の整数)の基準電圧が個別に入力され、前記第1~第kの基準電圧を増幅して出力する第1~第kのアンプを含み、前記第1~第kのアンプから出力された電圧の各々の間を分圧することで複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、前記複数の階調電圧のうちから前記画素データ片にて示される輝度レベルに対応した1の階調電圧を選択し、前記1の階調電圧を有する信号を前記駆動信号として生成するデコーダ部と、を含み、前記階調電圧生成部は、前記第1~第kのアンプの各々に夫々接続されている複数の高速応答回路を含み、前記高速応答回路は、前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に所定電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加される、少なくとも1つのトランジスタを含む。
本発明に係る増幅回路は、反転入力端子が自身の出力端子に接続されており、非反転入力端子で入力電圧を受けるオペアンプと、前記オペアンプの前記出力端子にソース及びバックゲートが接続されていると共に電源電位がドレインに印加されており、前記入力電圧がゲートに印加されるnチャネル型MOSトランジスタと、前記オペアンプの前記出力端子にソース及びバックゲートが接続されていると共に接地電位がドレインに印加されており、前記入力電圧がゲートに印加されるpチャネル型MOSトランジスタと、を含む。
本発明に係る表示ドライバは、複数の基準電圧を増幅する第1~第k(kは2以上の整数)のアンプを含み、各アンプから出力された電圧各々の間を分圧することで複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部に、以下の高速応答化回路を設ける。つまり、アンプの出力端子にソース及びバックゲートが接続されており、所定電位がドレインに印加されており、このアンプが受けた基準電圧をゲートで受ける、少なくとも1つのトランジスタを含む高速応答化回路を各アンプに設ける。
これにより、アンプに入力される基準電圧と、このアンプの出力電圧との差、つまり出力電圧の変動量が当該トランジスタの閾値よりも大きくなると、このトランジスタがオン状態となる。つまり、この間、かかるトランジスタが所定電位をアンプの出力端子に印加することで、当該出力端子に電荷を充電又は放電させる。これにより、アンプの出力電圧に生じた電圧変動量が抑えられ、その分だけ当該出力電圧に基づいて生成される階調電圧の変動量も減るので、当該階調電圧を用いて生成される、表示デバイスを駆動する為の駆動信号のレベルの立ち上がり又は立ち下がりが高速化する。
よって、この高速応答化回路によれば、アンプの出力電圧の変動を抑えるために当該アンプの内部電流を増加する場合に比べて、発熱量、消費電力及び装置規模の増大を抑えることが可能となる。
本発明に係る表示ドライバを含む表示装置の構成を示すブロック図である。 ソースドライバの内部構成を示すブロック図である。 階調電圧生成部の内部構成の一例を示す回路図である。 ガンマバッファの内部構成の一例を示す回路図である。 高速応答化回路の動作を説明する為の波形図である。 高速応答化回路の動作を説明する為の波形図である。 階調電圧生成部の内部構成の他の一例を示す回路図である。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳細に説明する。
図1は、本発明に係る表示ドライバを含む表示装置100の構成を示すブロック図である。図1に示すように、表示装置100は、駆動制御部11、ゲートドライバ12、ソースドライバ13、及び液晶又は有機ELパネルからなる表示デバイス20を有する。
表示デバイス20には、夫々が2次元画面の水平方向に伸張するm個(mは2以上の整数)の水平走査ラインS1~Smと、夫々が2次元画面の垂直方向に伸張するn個(nは2以上の整数)のソースラインD1~Dnとが形成されている。更に、水平走査ラインS及びソースラインDの各交叉部の領域(破線にて囲まれた領域)には、画素を担う表示セルPCが形成されている。
駆動制御部11は、入力映像信号VSを受け、当該入力映像信号VSに基づき、画素毎にその画素の輝度レベルを例えば6ビットのデータで表す画素データPDの系列、及び水平同期信号を生成する。駆動制御部11は、当該水平同期信号をゲートドライバ12に供給すると共に、上記した画素データPDの系列及び水平同期信号に対応したクロック情報を含む映像データ信号VPDを生成しこれをソースドライバ13に供給する。
ゲートドライバ12は、駆動制御部11から供給された水平同期信号に同期させてゲートパルスを生成し、これを表示デバイス20の水平走査ラインS1~Smの各々に順に印加する。
ソースドライバ13は、映像データ信号VPDに基づき表示デバイス20のソースラインD1~Dnに夫々対応した画素駆動信号G1~Gnを生成し、夫々を対応するソースラインD1~Dnに個別に供給する。尚、ソースドライバ13は、単一の半導体チップ、或いは複数の半導体チップに分割して形成されている。
図2は、ソースドライバ13の内部構成を示すブロック図である。
図2に示すように、ソースドライバ13は、クロック生成部130、データラッチ部131、基準電圧生成部132、階調電圧生成部133、デコーダE1~En、出力アンプA1~Anを含む。
クロック生成部130は、映像データ信号VPDに含まれるクロック情報に基づき、1水平走査期間毎に1つのパルスが表れるクロック信号CLKを生成し、これをデータラッチ部131に供給する。
データラッチ部131は、映像データ信号VPDに含まれる画素データPDの系列を順次取り込む。この際、1水平走査ライン分(n個)の画素データPDが取り込まれる度に、データラッチ部131は、クロック信号CLKに同期したタイミングでn個の画素データPDを画素データP1~Pnとして、デコーダE1~Enに夫々供給する。
基準電圧生成部132は、表示デバイス20のガンマ特性に対する逆ガンマ特性に沿った9個の直流電圧を基準電圧VG1~VG9として生成し、階調電圧生成部133に供給する。
尚、基準電圧VG1~VG9の各電圧値は、例えば以下のような大小関係を有する。
VG1<VG2<VG3<VG4<VG5<VG6<VG7<VG8<VG9
階調電圧生成部133は、基準電圧VG1~VG9に基づき、表示デバイス20で表示可能な輝度レベルを256階調で表す階調電圧V1~V256を生成し、デコーダE1~Enの各々に供給する。
デコーダE1~Enの各々は、階調電圧V1~V256のうちから、自身が受けた画素データPにて示される輝度レベルに対応した少なくとも1つの階調電圧を選択し、これを出力する。
出力アンプA1~Anの各々は、例えば自身の出力端子が自身の反転入力端子(-)と接続されている、いわゆるオペアンプからなるボルテージフォロワ回路である。
出力アンプA1~Anは、デコーダE1~Enから出力された各階調電圧を夫々の非反転入力端子(+)で受け、夫々が受けた階調電圧に応じた電流を自身の出力端子に出力することで、各階調電圧に対応した画素駆動信号G1~Gnを生成する。当該画素駆動信号G1~Gnは、半導体チップの外部端子を介して表示デバイス20のソースラインS1~Snに供給される。
図3は、階調電圧生成部133の内部構成の一例を示す回路図である。図3に示すように、階調電圧生成部133は、ガンマバッファGB1~GB9、高速応答化回路SP1~SP9、及びラダー抵抗LDを含む。
ガンマバッファGB1~GB9の各々は、例えばオペアンプからなる。
図4は、オペアンプとしてのガンマバッファGB1~GB9各々の内部構成の一例を示す回路図である。
図4に示すように、ガンマバッファGB1~GB9の各々は、差動段DFP、カレントミラー段CMR及び出力段OUPから構成される。
差動段DFPは、nチャネルMOS(metal oxide semiconductor)型のトランジスタJ1及びJ2、電流源CGを含む。
差動段DFPは、反転入力端子(-)に印加された電位に対応した第1の電流をカレントミラー段CMRの一次側電流路から引き抜き、非反転入力端子(+)に印加された電位に対応した第2の電流をカレントミラー段CMRの二次側電流路から引き抜く。尚、差動段DFPでは、電流源CGが生成する所定の一定電流を、非反転入力端子(+)に印加された電位と、反転入力端子(-)に印加された電位との比で2分割した電流が夫々上記した第1及び第2の電流となる。
カレントミラー段CMRは、一次側電流路としてのpチャネルMOS型のトランジスタU1及びU2、抵抗R1、nチャネルMOS型のトランジスタX1及びX2と、二次側電流路としてのpチャネルMOS型のトランジスタU3及びU4、抵抗R2、nチャネルMOS型のトランジスタX3及びX4と、を有する。
カレントミラー段CMRでは、反転入力端子(-)及び非反転入力端子(+)の各々に印加された電位同士の差に対応した電圧が抵抗R2に生じる。この際、抵抗R2の一端の電位が正側駆動電位PG、他端の電位が負側駆動電位NGとして出力段OUPに供給される。
出力段OUPは、pチャネMOS型のトランジスタU11、nチャネルMOS型のトランジスタJ11、位相補償用のコンデンサC1及びC2を含む。
出力段OUPのトランジスタU11は、正側駆動電位PGに応じた電流を出力端子Yに送出し、トランジスタJ11は、出力端子Yから、負側駆動電位NGに応じた電流を接地電位VSSに向けて引きぬく。
ここで、夫々が図4に示すような内部構成を有するオペアンプからなるガンマバッファGB1~GB9の各々は、図3に示すように、自身の反転入力端子(-)が自身の出力端子Yと接続されている、いわゆるボルテージフォロワ回路からなる。
ガンマバッファGB1~GB9は、基準電圧生成部132から供給された基準電圧VG1~VG9を夫々の非反転入力端子(+)で個別に受ける。また、ガンマバッファGB1~GB9各々の出力端子Yは、夫々電圧供給ラインL1~L9に個別に接続されており、当該電圧供給ラインL1~L9を介してラダー抵抗LDの9カ所の異なる第1~第9の接続点に接続されている。
ガンマバッファGB1は、基準電圧VG1を利得1で増幅して得られた電圧をガンマ基準電圧GOUT1として生成し、これを自身の出力端子Yを介して電圧供給ラインL1に印加する。これにより、当該ガンマ基準電圧GOUT1は、電圧供給ラインL1を介してラダー抵抗LDの第1の接続点に印加される。
ガンマバッファGB2は、基準電圧VG2を利得1で増幅して得られた電圧をガンマ基準電圧GOUT2として生成し、これを自身の出力端子Yを介して電圧供給ラインL2に印加する。これにより、当該ガンマ基準電圧GOUT2は、電圧供給ラインL2を介してラダー抵抗LDの第2の接続点に印加される。
同様にして、ガンマバッファGB(i)(iは、3~9の整数)は、基準電圧VG(i)を利得1で増幅して得られた電圧をガンマ基準電圧GOUT(i)として生成し、これを電圧供給ラインL(i)を介してラダー抵抗LDの第(i)の接続点に印加する。
ラダー抵抗LDは、ガンマ基準電圧GOUT1~GOUT9の各々の間の電圧を分圧することで、互いに電圧値が異なる階調電圧V1~V256を生成する。尚、本実施例では、階調電圧V1~V256のうちのV256が例えば最大の輝度レベルに対応した最大の電圧値を有し、V1が最低の輝度レベルに対応した最低の電圧値を有するものとする。尚、図3に示す構成では、ガンマ基準電圧GOUT1がそのまま最低の階調電圧V1となり、ガンマ基準電圧GOUT9がそのまま最大の階調電圧V256となる。
ここで、ガンマバッファGB1~GB9の各々には、ガンマ基準電圧GOUT1~GOUT9の電圧変動量を抑えることで、1水平走査期間毎の画素データの変化に対する画素駆動信号G1~Gnの応答速度を高速化する高速応答化回路SP1~SP9が設けられている。
図3に示すように、高速応答化回路SP1~SP9は例えば同一の内部構成を有し、夫々がnチャネルMOS型のトランジスタQ1及びpチャネルMOS型のトランジスタQ2を含む。
以下に、高速応答化回路SP1~SP9のうちからSP2を抜粋してその内部構成について説明する。
図3に示すように、トランジスタQ1のドレインには電源電位VDDが印加されており、そのゲートには基準電圧VG2が印加されている。当該トランジスタQ1のバックゲート及びソースは電圧供給ラインL2を介してガンマバッファGB2の出力端子Yに接続されている。
トランジスタQ2のドレインには接地電位VSSが印加されており、そのゲートには基準電圧VG2が印加されている。また、トランジスタQ2のバックゲート及びソースは電圧供給ラインL2を介してガンマバッファGB2の出力端子Yに接続されている。
すなわち、階調電圧生成部133には、図3に示すように、反転入力端子(-)が自身の出力端子Yに接続されており、入力電圧(例えばVG1)を非反転入力端子(+)で受けるオペアンプ(例えばGB1)と、以下の高速応答化回路(例えばSP1)と、からなる増幅回路が、基準電圧の各々毎に設けられている。
各高速応答化回路は、以下のnチャネル型MOSトランジスタ、及びpチャネル型MOSトランジスタを含む。つまり、nチャネル型MOSトランジスタ(Q1)は、オペアンプ(例えばGB1)の出力端子(Y)に自身のソース及びバックゲートが接続されていると共に電源電位(VDD)がドレインに印加されており、自身のゲートで入力電圧(例えばVG1)を受ける。pチャネル型MOSトランジスタ(Q2)は、このオペアンプの出力端子(Y)に自身のソース及びバックゲートが接続されていると共に接地電位(VSS)がドレインに印加されており、自身のゲートで入力電圧(例えばVG1)を受ける。
次に、高速応答化回路SP1~SP9のうちからSP2を抜粋してその内部動作について、図5及び図6を参照しつつ説明する。
図5は、ガンマ基準電圧GOUT2が一時的に低下方向に変動した場合での波形と、トランジスタQ1及びQ2の状態と、画素データP1に応じてレベルが増加しそのレベルが目標電位Vtgに到る画素駆動信号G1の波形と、を対応付けて示す波形図である。
つまり、クロック信号CLKに応じて画素データP1~Pnが時点t0で変化すると、デコーダE2の状態遷移に伴う負荷変動の影響で、図5に示すようにガンマ基準電圧GOUT2の電圧値が一時的に低下する場合がある。
ここで、図3に示す高速応答化回路SP2が設けられていないと、ガンマ基準電圧GOUT2の電圧値は、図5の一点鎖線に示すように電圧値W1まで低下し、引き続き徐々に増加して本来の電圧値、つまり基準電圧VG2に対応した電圧値に到る。このように、ガンマ基準電圧GOUT2の電圧値が電圧値W1まで低下すると、当該ガンマ基準電圧GOUT2に基づいて生成される画素駆動信号G1のレベル上昇の速度が遅くなる。よって、図5の二点鎖線に示すように、画素駆動信号G1のレベル上昇が開始されてから、そのレベルが目標電位Vtgに到る時点が、1水平走査期間を超えた時点t4まで遅れてしまう虞が生じる。
一方、高速応答化回路SP2が設けられていると、図5に示すようにガンマ基準電圧GOUT2の電圧値と基準電圧VG2との差がトランジスタQ1の閾値Vthを超えた時点t1でトランジスタQ1がオン状態となる。
これにより、トランジスタQ1は、電源電位VDDを電圧供給ラインL2に印加して当該電圧供給ラインL2を充電せしめて、ガンマ基準電圧GOUT2の低下を抑制する。
したがって、図5の太実線に示すように、ガンマ基準電圧GOUT2の低下は電圧値W1よりも高い電圧値W2に留まり、そこから増加してゆく。尚、この間、ガンマ基準電圧GOUT2の電圧値と基準電圧VG2との差が閾値Vth以下となった時点t2でトランジスタQ1はオフ状態となりその充電動作が停止する。
よって、当該充電動作によれば、高速応答化回路SP2を設けなかった場合に比べてガンマ基準電圧GOUT2の低下を抑えることができるので、迅速にガンマ基準電圧GOUT2の電圧値を基準電圧VG2と同一の電圧値に復帰させることが可能となる。これにより、図5に示すように、時点t4よりも早い時点t3で画素駆動信号G1のレベルを目標電位Vtgに到らせることが可能となる。
図6は、ガンマ基準電圧GOUT2が一時的に増加方向に変動した場合での波形と、トランジスタQ1及びQ2の状態と、画素データP1~Pnに応じてレベルが低下しそのレベルが目標電位Vtgに到る画素駆動信号G1の波形と、を対応付けて示す波形図である。
つまり、クロック信号CLKに応じて画素データP1~Pnが時点t0にて変化すると、デコーダE2の状態遷移に伴う負荷変動の影響で、図6に示すようにガンマ基準電圧GOUT2の電圧値が一時的に増加する場合がある。
ここで、図3に示す高速応答化回路SP2が設けられていないと、ガンマ基準電圧GOUT2の電圧値は、図6の一点鎖線に示すように電圧値B1まで増加し、引き続き徐々に低下して本来の電圧値、つまり基準電圧VG2に対応した電圧値に到る。このように、ガンマ基準電圧GOUT2の電圧値が電圧値B1まで増加することで、当該ガンマ基準電圧GOUT2に基づいて生成される画素駆動信号G1のレベル低下の速度が遅くなる。よって、図6の二点鎖線に示すように、画素駆動信号G1のレベル低下が開始されてから、そのレベルが目標電位Vtgに到る時点が、1水平走査期間を超えた時点t4まで遅れてしまう虞が生じる。
一方、高速応答化回路SP2が設けられていると、図6に示すようにガンマ基準電圧GOUT2の電圧値と基準電圧VG2との差がトランジスタQ2の閾値Vthを超えた時点t1でトランジスタQ2がオン状態となる。
これにより、トランジスタQ2は、接地電位VSSを電圧供給ラインL2に印加して当該電圧供給ラインL2を放電せしめることで、ガンマ基準電圧GOUT2の上昇を抑制する。
したがって、図6の太実線に示すように、ガンマ基準電圧GOUT2の増加は電圧値B1よりも低い電圧値B2に留まり、そこから低下してゆく。尚、この間、ガンマ基準電圧GOUT2の電圧値と基準電圧VG2との差が閾値Vth以下となった時点t2でトランジスタQ2はオフ状態となりその放電処理を停止する。
よって、当該放電処理によれば、高速応答化回路SP2を設けなかった場合に比べてガンマ基準電圧GOUT2の上昇を抑えることができるので、迅速にガンマ基準電圧GOUT2の電圧値を基準電圧VG2と同一の電圧値に復帰させることが可能となる。これにより、図6に示すように、時点t4よりも早い時点t3で画素駆動信号G1のレベルを目標電位Vtgに到らせることが可能となる。
このように、図3に示す階調電圧生成部133では、高速応答化回路SP1~SP9を設けることで、負荷(デコーダE1~En)に流れる電流の大幅な変動に伴うガンマ基準電圧GOUT1~GOUT9の変動量を抑えるようにしている。これにより、ガンマ基準電圧GOUT1~GOUT9を分圧して得られる階調電圧V1~V256の変動量も少なくなるので、それに伴い、1水平走査期間毎に表れる画素駆動信号G1~Gn各々のレベルの立ち上がり又は立ち下がり速度が速くなる。つまり、高速応答化回路SP1~SP9を設けることにより、表示デバイス20を高速駆動することが可能な画素駆動信号G1~Gnが得られるようになる。
更に、図3に示す高速応答化回路SP1~SP9によれば、ガンマ基準電圧GOUT1~GOUT9に生じる電圧変動を抑える為にガンマバッファGB1~GB9各々の内部動作電流を増加する場合に比べて、消費電力及び発熱量を抑えることが可能となる。また、ガンマバッファ内部の動作電流を増加させるには、低電圧時におけるトランジスタの飽和動作マージンを確保する為に、ガンマバッファを構成する各トランジスタのサイズ(ゲート幅)を大きくする必要がある。これに対して、階調電圧生成部133では、高速応答化回路SP1~SP9の分だけ回路規模が増加するものの、上記したように各ガンマバッファ内のトランジスタ各々のサイズを増加した場合に比べて、回路規模の増加分が小さい。
よって、図3に示す階調電圧生成部133を採用することにより、発熱量、消費電力、及び装置規模の増大を招くことなく、表示デバイス20を高速駆動することが可能となる。
尚、図3に示す一例では、2つのトランジスタQ1及びQ2を含む高速応答化回路SPを各ガンマバッファGB1~GB9に設けている。
しかしながら、基準電圧VG1~VG9のうちで最大の電圧値を有するVG9に対応したガンマ基準電圧GOUT9は、負荷変動によってその電圧値が基準電圧VG9よりも低い方向に変動することはあっても高い方に変動することはない。また、基準電圧VG1~VG9のうちで最低の電圧値を有するVG1に対応したガンマ基準電圧GOUT1は、負荷変動に伴いその電圧値が基準電圧VG1よりも高い方向に変動することはあっても低い方に変動することはない。
そこで、高速応答化回路SP1では、トランジスタQ1及びQ2のうちのQ1を削除し、高速応答化回路SP9では、トランジスタQ1及びQ2のうちのQ2を削除しても良い。
図7は、かかる点に鑑みて為された階調電圧生成部133の他の内部構成の一例を示す回路図である。
図7に示す構成では、図3に示す高速応答化回路SP1に代えて、トランジスタQ1を削除した高速応答化回路SP1aを採用し、高速応答化回路SP9に代えて、トランジスタQ2を削除した高速応答化回路SP9aを採用した点を除く他の構成は、図3に示すものと同一である。
図7に示す構成を採用することで、図3に示す構成を採用した場合に比べて、2つのトランジスタ(Q1、Q2)を削除した分だけ回路規模が縮小化される。
要するに、各画素の輝度レベルを示す画素データ片P1~Pnに応じて表示デバイス20を駆動する画素駆動信号G1~Gnを生成するソースドライバ13としては、以下のような階調電圧生成部と、デコーダ部とを含むものであれば良い。
すなわち、階調電圧生成部(133)は、互いに異なる電圧値を有する第1~第kの基準電圧(例えばVG1~VG9)を個別に受け、第1~第kの基準電圧を夫々個別に利得1で増幅して出力する第1~第kのアンプ(例えばGB1~GB9)を含む。そして、階調電圧生成部は、これら第1~第kのアンプから出力された電圧(例えばGOUT1~GOUT9)各々の間を分圧することで複数の階調電圧(例えばV1~V256)を生成する。
デコーダ部(例えばE1~En)は、かかる複数の階調電圧のうちから画素データ片(P)にて示される輝度レベルに対応した1の階調電圧を選択し、この1の階調電圧を有する画素駆動信号(例えばG1~Gn)を生成する。
第1~第kのアンプの各々には、そのアンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に所定電位(例えば、VDD又はVSS)がドレインに印加されており、このアンプが受けた基準電圧(例えばVG1)をゲートで受ける、少なくとも1つのトランジスタ(Q1、Q2)を含む高速応答化回路(例えばSP1)が設けられている。
更に、階調電圧生成部(133)は、第1~第kのアンプの各々に夫々接続されている複数の高速応答回路(例えばSP1~SP9)を含む。各高速応答回路は、アンプの出力端(Y)にソース及びバックゲートが接続されていると共に所定電位(例えば、VDD又はVSS)がドレインに印加されており、このアンプが受けた基準電圧(例えばVG1)をゲートで受ける、少なくとも1つのトランジスタ(Q1、Q2)を含む。
13 ソースドライバ
133 階調電圧生成部
E1~En デコーダ
GB1~GB9 ガンマバッファ
LD ラダー抵抗
Q1、Q2 トランジスタ
SP1~SP9 高速応答化回路

Claims (6)

  1. 映像信号に基づく各画素の輝度レベルを示す画素データ片に応じて表示デバイスを駆動する駆動信号を生成する表示ドライバであって、
    互いに異なる電圧値を有する第1~第k(kは2以上の整数)の基準電圧が個別に入力され、前記第1~第kの基準電圧を増幅して出力する第1~第kのアンプを含み、前記第1~第kのアンプから出力された電圧各々の間を分圧することで複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、
    前記複数の階調電圧のうちから前記画素データ片にて示される輝度レベルに対応した1の階調電圧を選択し、前記1の階調電圧を有する信号を前記駆動信号として生成するデコーダ部と、を含み、
    前記階調電圧生成部は、前記第1~第kのアンプの各々に夫々接続されている複数の高速応答回路を含み、
    前記高速応答回路は、
    前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に所定電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加される、少なくとも1つのトランジスタを含むことを特徴とする表示ドライバ。
  2. 前記第1~第kのアンプの各々は所定の電源電位及び接地電位の供給によって動作し、
    前記高速応答化回路は、
    前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に前記電源電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加されるnチャネル型MOSトランジスタと、
    前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に前記接地電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加されるpチャネル型MOSトランジスタと、を含むことを特徴とする請求項1に記載の表示ドライバ。
  3. 前記第1~第kのアンプの各々は所定の電源電位及び接地電位の供給によって動作し、
    前記第1のアンプには前記第1~第kの基準電圧のうちで最も低い電圧値を有する基準電圧が入力され、前記第kのアンプには前記第1~第kの基準電圧のうちで最も高い電圧値を有する基準電圧が入力され、
    前記第2~第(k-1)のアンプの各々に設けられている前記高速応答化回路は、
    前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に前記電源電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加されるnチャネル型MOSトランジスタと、
    前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に前記接地電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加されるpチャネル型MOSトランジスタと、を含み、
    前記第1のアンプに設けられている前記高速応答化回路は、前記nチャネル型MOSトランジスタ及び前記pチャネル型MOSトランジスタのうち、少なくとも前記pチャネル型MOSトランジスタのみを含み、
    前記第kのアンプに設けられている前記高速応答化回路は、
    前記nチャネル型MOSトランジスタ及び前記pチャネル型MOSトランジスタのうち、少なくとも前記nチャネル型MOSトランジスタのみを含むことを特徴とする請求項1に記載の表示ドライバ。
  4. 前記アンプは、オペアンプによるボルテージフォロワ回路であることを特徴とする請求項1~3のいずれか1に記載の表示ドライバ。
  5. 映像信号に基づく各画素の輝度レベルを示す画素データ片に応じて表示デバイスを駆動する駆動信号を生成する表示ドライバが形成されている半導体装置であって、
    前記表示ドライバは、
    互いに異なる電圧値を有する第1~第k(kは2以上の整数)の基準電圧が個別に入力され、前記第1~第kの基準電圧を増幅して出力する第1~第kのアンプを含み、前記第1~第kのアンプから出力された電圧の各々の間を分圧することで複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、
    前記複数の階調電圧のうちから前記画素データ片にて示される輝度レベルに対応した1の階調電圧を選択し、前記1の階調電圧を有する信号を前記駆動信号として生成するデコーダ部と、を含み、
    前記階調電圧生成部は、前記第1~第kのアンプの各々に夫々接続されている複数の高速応答回路を含み、
    前記高速応答回路は、
    前記アンプの出力端にソース及びバックゲートが接続されていると共に所定電位がドレインに印加されており、前記アンプに入力された前記基準電圧がゲートに印加される、少なくとも1つのトランジスタを含むことを特徴とする半導体装置。
  6. 映像信号に基づく各画素の輝度レベルを示す画素データ片に応じて表示デバイスを駆動する駆動信号を生成する表示ドライバであって、
    互いに異なる電圧値を有する第1~第k(kは2以上の整数)の基準電圧が個別に入力され、前記第1~第kの基準電圧を増幅して出力する第1~第kのアンプを含み、前記第1~第kのアンプから出力された電圧各々の間を分圧することで複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、
    前記複数の階調電圧のうちから前記画素データ片にて示される輝度レベルに対応した1の階調電圧を選択し、前記1の階調電圧を有する信号を前記駆動信号として生成するデコーダ部と、を含み、
    前記階調電圧生成部は、前記第1~第kのアンプの各々に夫々接続されている複数の高速応答化回路を含み、
    前記第1~第kのアンプの各々は、反転入力端子が自身の出力端子に接続されており、非反転入力端子で入力電圧を受けるオペアンプであり、
    前記高速応答化回路は、
    前記オペアンプの前記出力端子にソース及びバックゲートが接続されていると共に電源電位がドレインに印加されており、前記入力電圧がゲートに印加されるnチャネル型MOSトランジスタと、
    前記オペアンプの前記出力端子にソース及びバックゲートが接続されていると共に接地電位がドレインに印加されており、前記入力電圧がゲートに印加されるpチャネル型MOSトランジスタと、を含むことを特徴とする表示ドライバ
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