JP7364934B2 - 1×n光スイッチ - Google Patents

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Description

本開示は、大容量光通信ネットワークを支えるための重要な光部品である光スイッチ素子に関する発明である。
近年、多様なネットワークサービスの進展によって、通信トラフィックは急激に増大しており、波長多重化技術による伝送容量の拡張や帯域利用効率の高い位相変調、多値変調の検討が進み、高度化された多種多様な大容量光信号が光通信ネットワーク上で転送されている。
ネットワークは複数のリンク、ノードで構成されており、それぞれにおいて高速、大容量通信に向けた研究開発が行われている。リンクでは信号の高速化や波長の多重化などが進む一方で、ノードでは効率的なトラフィックを実現すべく、ノード間を接続する経路を柔軟に変更する技術が重要とされている。ノードの入力端で光/電気変換をして電気信号の状態でスイッチングして、ノードの出力端で再度、電気/光変換してリンクを伝送される一般的なネットワークの場合、光/電気変換を行うためのバッファリングに対して、遅延の発生や膨大な電力を消費するなど様々な問題がある。そこで、ノード技術としては様々な転送方法が検討されており、光/電気変換を必要としない光スイッチング技術は、ネットワーク機器の消費電力や遅延等の面において有効な技術であり、光スイッチング技術を主体とした光伝送方式が盛んに研究されている。
このような光スイッチは平面光波回路(Planar Lightwave Circuit:PLC)上に構成した熱光学(Thermooptic:TO)スイッチ、InP系の電界吸収型光変調器(EAM)やマッハツェンダ干渉計(Mach-Zehnder interferometer:MZI)や半導体光増幅器(Semiconductor Optical Amplifier:SOA)を用いたスイッチ、LiNbO系の位相変調器型のスイッチなどが研究開発されている。PLC上に構成した例として、非特許文献1に示す光スイッチが提案されている。図1に光スイッチ100の主な構成例を示す。N×N光スイッチは、たとえばN個の1×N光スイッチ101(Nは自然数)とN個のN×1光スイッチ102(Nは自然数)を図1に示すように接続することで構成可能である。入力ポートPI(Nは自然数)より入力された光信号は、1×N光スイッチ素子101により、所望の出力ポートPO(Nは自然数)に接続されたN×1光スイッチに向けて出力される。これによって他ポートの接続状態によらず任意の接続が可能な、ノンブロッキング型N×N光スイッチ100を実現することができる。
化合物半導体材料を用いた光スイッチとして、図2のように2×2光スイッチ201(Nは自然数)をツリー状に配置し、N個の各光出力には光ゲートを設ける手法が提案されている。光入力ポートPI(Nは自然数)から入力される入力信号光は、2×2光スイッチの光路切り替えにより所望の光出力ポートPO(Nは自然数)に導波され、一方で、それ以外のポートに漏れ出たクロストーク光は、光ゲートにより遮断され、スイッチングが実現される。上記の2×2光スイッチ201(Nは自然数)には、MZIなどが用いられ、光ゲート202(Nは自然数)にはEAMやSOAなどが用いられる。
通常、ルータ等の装置内で電界印加型の光デバイスを駆動する場合、図3に示すようにFPGA(field programmable gate array)301やASIC(application specific integrated circuit)、外部からの信号、たとえばTTL(transistor-transistor logic)などのデジタル回路からの信号をデジタル-アナログ変換回路、オペアンプ等の電子回路を用いて所望の電圧振幅を持つアナログ信号を生成する。例えば、図3に示すように、FPGA301からの信号を、バッファ302N(Nは自然数)、ドライバ303N(Nは自然数)を用いて、所望の電圧振幅を持つアナログ信号を生成する。PCB(Printed Circuit Board)上に上記N×N光スイッチと駆動回路とを実装する場合、独立に電圧制御が必要な端子は上記の数となり、電子回路規模は必然的に大きくなり、光スイッチと駆動回路との物理的な距離は少なくとも数~数十 cmは必要となる。一方、100 Gbit/sといった高速なビットレートを有する光パケットをスイッチングするには、1 ns以下の高速なOn/Offスイッチングが求められる。すなわち1 GHz程度の帯域をもつスイッチング信号をFPGA301から光スイッチ304まで伝送させる必要があるが、上記数十cmといった距離ではもはや集中定数回路としての扱いが困難である。そのため、光スイッチ304までの伝送路の特性インピーダンス(例えば50 Ω)を光スイッチのインピーダンスと整合させた分布定数回路として実装することが考えられる。
上記の従来技術として、たとえば特許文献1のような光スイッチが提案されている。図4に従来の光スイッチ駆動構造を示す。図4(a)は、信号光遮断時における、駆動回路の動作を説明する図である。図4(b)は、信号光通過時における、駆動回路の動作を説明する図である。FPGAからのLVDS(low voltage differential signaling)信号をLVDS終端回路401で終端し、トランジスタT11を用いたインバータ回路402によって光スイッチD11を駆動している。LVDS伝送線路403は分布定数線路であり、LVDS終端回路401からトランジスタT11を制御し、光スイッチD11を駆動することができる。特許文献1では、光スイッチD11と上記トランジスタT11を含む駆動回路を集積しているため、駆動回路と光スイッチD11の制御端子の距離が近く、集中定数として扱うことができるため、高速なスイッチングが可能である。
特開2016-218297号公報
T. Watanabe他、"Silica-based PLC 1×128 thermo-optic switch" 27th European Conference on Optical Communication (ECOC) , 2001, Vol.2, pp.134-135.
図2に示した光スイッチにおいて、2×2光スイッチ201(Nは自然数)にはMZIを用い、光ゲート202(Nは自然数)にはEAMを用いた場合、MZI及びEAMは逆バイアスで動作するため、駆動回路(ドライバ)からは正負逆の信号を与える必要がある。上記のMZIとEAMは、同時に制御する必要があるため、制御信号の生成元であるFPGA等は同一となるが、正負逆の信号を与えるドライバを個別に必要とするため、ドライバに必要な電源も含め、光スイッチ駆動に係る面積が大規模化する。図3に示すように、ドライバ304(Nは自然数)から光スイッチ304の制御端子までの距離が長くなれば、電気波形の劣化によるスイッチング速度の低下が懸念される。また、個別の駆動ドライバとして、別の電源等を要した場合、消費電力が増大するため、好ましくない。
本開示では上記課題に鑑み、FPGAからの分布定数線路を通して制御可能なMZIとEAMに対して、ドライバの高密度集積により高速かつ低消費電力な駆動が可能な光スイッチ技術を提供することを目的とする。
本開示に係る1×N光スイッチは、光スイッチに対して、前記光スイッチの駆動回路を前記光スイッチの制御電極の近傍に集積された構造を有する1×N光スイッチであって、前記光スイッチは、複数の2×2光スイッチとN個の光ゲートとを備え、前記2×2光スイッチと前記光ゲートとに異なるバイアス電圧(Vb)を設定し、前記駆動回路の2×2光スイッチ用のドライバと光ゲート用のドライバとが、前記2×2光スイッチと前記光ゲートとが排他的に動作するように構成された同一の回路を共有していることを特徴とする。

本開示に係る光スイッチにおいては、同一のFPGAおよび、同一の駆動回路構成により駆動制御が可能であるため、高速かつ低消費電力で駆動可能な光スイッチを提供する。また、小振幅で低消費電力なLVDS信号を用いて光スイッチを直接駆動でき、MZIとEAMに個別の電源等も必要としないため、低消費電力での駆動が可能である。
N×N光スイッチの構成を示す図である。 2×2光スイッチをツリー状に配置し、N個の各光出力には光ゲートを設ける構成を示す図である。 従来の光スイッチ及びその光スイッチの駆動回路の構造を示す図である。 (a)信号光遮断時における、駆動回路の動作を説明する図である。(b)信号光通過時における、駆動回路の動作を説明する図である。 本発明の実施形態における光スイッチ及びその光スイッチの駆動回路の構造を示す図である。 本発明の実施形態にかかるHEMTの層構造を示す断面図である。 本発明の実施形態で用いる2×2MZIの注入電流に対する透過率を示すグラフである。 本発明の実施形態で用いる光吸収ゲートの印加電圧に対する透過率を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる光スイッチの素子を構成する光導波路を示す断面図である。 本発明の実施例にかかる光スイッチ及びその光スイッチの駆動回路の構造を示す図である。
以下、本発明の実施形態における光スイッチを、図面を用いて詳細に説明する。
図5に本実施形態における光スイッチ駆動構造を示す。光スイッチ駆動ドライバとして、例えば高速な電圧増幅回路を実現可能な高電子移動度トランジスタ(High Electron Mobility Transistor: HEMT)を用いた駆動回路を用いる。ドライバ一体型の光スイッチ502の形態としては、光スイッチに対して、その駆動回路を光スイッチの制御電極の近傍に高密度に集積された構造であり、同一のInP基板上への集積、あるいは、光スイッチチップとドライバチップを個別作製しフリップチップ実装などによって一体型としてもよい。本実施形態では分布定数線路の一例として、2本の伝送路を使用した差動信号方式であるLVDS伝送線路503を用い、ドライバ一体型の光スイッチ502を動作させる。この動作により数 GHzまでの高速信号伝送、低消費電力(3.5 mA駆動、信号振幅350 mV)、高ノイズ耐性(差動信号により同相ノイズをキャンセル)を可能としている。
本実施形態で用いるHEMTの層構造を図6に示す。半絶縁性(semi insulator: SI)基板601上にバッファ層602として、例えば、i-InAlAsを含む層と、i-InAlAsを含む層上にi-InGaAsを含む層とを形成し、チャネル層603として、例えば、下層から、i-InAlAsを含む層、Si δドープ層、i-InAlAsを含む層、及びi-InPを含む層を順に形成する。チャネル層603の上にゲート電極605gと、n-InAlAsを含む層、n-InAlAsを含む層上にn-InGaAsを含む層が積層されたキャップ層604を介してソース電極605s、ドレイン電極605dを形成した構造を作製する。本実施形態に係るHEMTにおいてはゲート長0.1μm、ゲート幅25 μmとする。これらの設計値は、HEMTの特性を決める重要なパラメータとなる。ゲート長によってHEMTの応答速度が決まるが、本実施形態のゲート長0.1 μmでは、GHzまでの高速信号に対応した動作を実現することがわかっている。また、ゲート幅の大小によってソース、ドレイン間に流れる電流値を決定できる。
光スイッチ構造は、図2に示したものと同様とする。MZI等を用いた2×2光スイッチ201を多段で接続し、最終段に光ゲート202を設けた構造とする。
MZIの光スイッチの動作について説明する。入力光に対してマルチモード干渉(Multi-Mode Interference:MMI)型光カプラを用いて、2つの光導波路を合波した後に2つの光導波路に分岐し、2分岐された入力光は2つの光導波路位相差を受けた後に再度、MMI光カプラを用いて結合される。すると干渉効果により、2つの光導波路間の位相差が、±nπであれば光入力と反対側の光導波路から出力し、±(2n+1)π/2であれば、光入力と同じ側の光導波路から出力される。従って、片方の光導波路内に位相変調領域を配置して制御すれば、2×2のスイッチング動作が得られる。位相変調を得るには光導波路の屈折率を変化させれば良い。InP系の光導波路では、電圧印加によるFK効果やQCSE効果もしくは電流注入によるプラズマ効果を用いて光導波路の屈折率を変化させ、LN系では電圧印加によるポッケルス効果を用いて光導波路の屈折率を変化させれば、スイッチング動作を行うことができる。また、光強度を2等分するMMI光カプラは方向性結合器などを用いても良い。2つのアーム光導波路への注入電流が0 mAの場合、入力信号光は2×2スイッチのクロスポート側に出力される。図7に示すように、どちらか一方の制御電極(MZIを構成する導波路上に設置される制御電極)に電流を注入すると、注入した方のアーム光導波路の屈折率が変化し、伝搬する光の位相が変化する。アーム光導波路への注入電流が5mA程度となったとき、光出力ポートPOからの出力は最小となり、光出力ポートPOへの光出力が最大となる。このとき、光出力ポートPOへの光出力と光出力ポートPOへの光出力との比は20dB以上が得られる。
光ゲート202の動作について説明する。2×2光スイッチ202の最終段に設けられた光ゲート202では、出力を望まない漏れ光の遮断を行う。2×2光スイッチのスイッチングにおいて、大部分の光は所望のポートへと導かれるが、一部の光がその他のポートへと漏れる。漏れ光は、伝送信号の品質を劣化させるため、極力抑える必要がある。InPのEAMを用いた光ゲートの場合、p型電極とn型電極の間に逆バイアス電圧を印加することでフランツケルディッシュ(Franz-Keldysh:FK)効果により、導波路コアの吸収端がシフトし、光ゲートを伝搬する光の吸収係数を増加させることができる。図8に示すように、たとえば印加電圧-3Vで消光比20dB以上、印加電圧-7Vで消光比40dB以上を得ることができる。光ゲート202としては、同じInP材料により実現可能なSOAなどを用いてもよい。
図9に導波路の断面構造を示す。光スイッチを構成する導波路はInGaAsPを含むコア層904の下部までエッチングすることで作製し、pinダブルヘテロ接合構造を有するハイメサ導波路とした。導波路の高さを4 μm、幅を1.4 μmとした。従来の光スイッチは、通常n基板上で作製されるが、本実施形態ではSI基板上に光スイッチを作製することで、MZIとEAMの基板電位を分離している。n基板上の光スイッチでは基板裏面が共通の電極となっていたが、抵抗率の高いSI基板上で作製することで、絶縁分離が可能となる。
本実施形態に係る光スイッチの作製方法について述べる。
まず、例えば、SI-InPを含む半絶縁性基板901上に、n+-InGaAsPを含むコンタクト層902、n-InPを含む下部クラッド層903と、1.4Q組成0.3 μm膜厚のバルクi-InGaAsPを含むコア層904と、p-InPを含む上部クラッド層905と、p+-InGaAsPを含むコンタクト層906とは、有機金属気相成長法(Metal Organic Vapor Phase Epitaxy:MOVPE)により成長により形成される。次いで、フォトリソグラフィとドライエッチングにより、ハイメサ導波路構造を一括形成し、MZI領域とEAM領域の間にSI基板まで到達する溝を形成する。その後局所領域への埋め込みが可能で平坦化に優れた有機材料であるベンゾシクロブテン(Benzocyclobutene: BCB)をスピンコートにより塗布し、O/C混合ガスを用いたRIE(Reactive Ion Etching)により基板表面が露出するまでエッチバックし、基板表面を平坦化する。そして、フォトリソグラフィとドライエッチングにより、グランド電極用の電極形成のための井戸を作製し、n型電極を形成する。最後に、光ゲート上に、p型電極を形成する。以上説明したように、MOVPE成長および光導波路構造の形成を一括に行えるようになる。
本実施形態では、膜厚0.3 μm、幅1.4 μmの1.4Q組成InGaAsPを含む層を用いている。これらの設計値は、光スイッチ素子の光学的特性を決める重要なパラメータとなる。入力信号光波長がたとえば1.53 μmから1.57 μmで動作し、低損失、高速、かつ低消費電力な動作を実現するためには、下記の条件が満たされることが好ましい。
第一に、InGaAsPを含むコア層904の厚さは、入力信号光に対してシングルモード導波条件で、かつInGaAsPを含むコア層904への十分な光閉じ込めを有する条件であり、0.1 μm~0.4 μmの範囲が望ましい。
第二に、InGaAsPを含むコア層904の幅は、入力信号光に対してシングルモード導波条件であり、0.8 μm~3 μmの範囲が望ましい。
第三に、駆動回路の消費電力を低減する観点から、光ゲートへの印加電圧が7 V以下となる条件であり、InGaAsPを含むコア層904の組成は1.3Q~1.5Qで、各電極長は100 μm~2000 μmの範囲が望ましい。
本実施形態における光スイッチ素子では、光ゲート202のInGaAsPを含むコア層904としてバルク層を用いるように説明してきたが、多重量子井戸構造としてもよい。その場合は、量子閉じ込めシュタルク効果により光ゲートにおいて高効率に消光できるようになる。また、光導波路構造をリッジ導波路構造としているが、それ以外の構造、例えばハイメサ型光導波路構造として作製してもよい。あるいはInGaAsPを含むコア層の両横が半導体で埋め込まれた埋め込み型光導波路構造やリブ型光導波路構造などであってもよい。
本実施形態では、InP系の化合物半導体を用いて説明してきたが、GaAs系の化合物半導体を用いてもよい。また、シリコン細線導波路などのナノ秒オーダの屈折率および吸収係数の変化が可能な材料系を用いても、同様に実現できる。
[実施例]
図10に、本発明の実施例に係る光スイッチとその駆動回路の例を示す。
駆動回路の構成について図10を用いて説明する。FPGA501は、第一のLVDS伝送線路503aと第二のLVDS伝送線路503bとに接続する。第一のLVDS伝送線路503aは、トランジスタ1003のゲートと終端抵抗の一方の端子とに接続する。トランジスタ1003のドレインは、トランジスタ1001のゲートと抵抗の一方の端子とに接続する。また、第二のLVDS伝送線路503bは、トランジスタ1004のゲートと終端抵抗の他方の端子とに接続する。トランジスタ1004のドレインは、トランジスタ1002のゲートと抵抗の一方の端子とに接続する。抵抗の他方の端子にVdd(2.2v)を設け、トランジスタ1003、トランジスタ1004のソースにVss(1.2v)を設ける。トランジスタ1001とトランジスタ1002との間の中点をトーテム・ポール出力として、MZI201aとEAM202aとに電圧を印加する。
駆動回路のHEMTにおけるドレイン電圧V、およびソース電圧Vは駆動回路毎に設定できるものである。MZI201aとEAM202aとで共通した振幅を有するFPGA501からの信号を、LVDS伝送線路503によってドライバ一体型の光スイッチ502に入力する。Vは光スイッチのMZIとEAMにおけるn型電極のバイアス電位を表す。図9に示した光スイッチの構造から、MZIとEAMとを個別に作製し、MZIとEAMとで異なるVを設定可能とすることで共通のFPGAおよびドライバ回路での駆動が可能となる。
駆動回路の動作について図10を用いて説明する。
LVDS信号は1.2 Vを中心とした350 mV振幅の差動信号であり、トランジスタ1003のゲートに1.375 V印加されるとき、トランジスタ1004のゲートには1.025 Vが印加される。このとき、トランジスタ1001のゲートは開き、トランジスタ1002のゲートが閉じた状態となる。トランジスタ1001のソース、ドレイン間に電流が流れて、光スイッチにVの電圧がかかる。一方、トランジスタ1003のゲートに1.025 V印加されるとき、トランジスタ1004のゲートに1.375 V印加される。このとき、トランジスタ1001のゲートは閉じ、トランジスタ1002のゲートが開いた状態となる。トランジスタ1002のソース、ドレイン間に電流が流れて、光スイッチにVsの電圧がかかる。このように、LVDS差動信号を切り替えることで、トランジスタ1001とトランジスタ1002のゲートの開閉を行い、光スイッチに印加する電圧を切り替え、スイッチング動作を実現する。
例えば、MZI201aの駆動回路において、V=3V、V=1Vに設定し、V=1Vをかけた場合、FPGA501からの信号によりトランジスタ1001のゲートが開いたとき、MZI201aには正方向に2Vの電位差がかかり電流が流れる。トランジスタ1002のゲートが開いたとき、MZI201aには電位差が発生しないため、電流は流れない。上述のトランジスタ1001とトランジスタ1002のゲートの開け閉めによってMZIの電流を調整し、出力ポートのスイッチングが可能となる。
一方で、EAM202aの駆動回路において、V=4.5V、V=1Vに設定し、V=4.5Vをかけた場合、FPGA502からの信号によりトランジスタ1001のゲートが開いたとき、EAM202aには電位差が発生しないため光の消光は行われない。トランジスタ1002のゲートが開いたとき、EAM202aに対して負方向に3.5Vの電位差が発生するため、消光が行われる。上述のトランジスタ1001とトランジスタ1002のゲートの開け閉めによってEAM202aのゲートの開け閉めが可能となる。
本実施形態より、光スイッチに対して、光スイッチの駆動回路を光スイッチの制御電極の近傍に集積された構造を有する1×N光スイッチであって、光スイッチは、複数の2×2光スイッチとN個の光ゲートとを備え、光スイッチと光ゲートとに異なるバイアス電圧(Vb)を設定し、駆動回路の2×2光スイッチ用のドライバと光ゲート用のドライバとが同一の回路形式である1×N光スイッチが得られる。
また、本実施形態より、光スイッチに対して、光スイッチの駆動回路を光スイッチの制御電極の近傍に集積させた構造を有する1×N光スイッチであって、光スイッチは、複数の2×2光スイッチとN個の光ゲートとを備え、駆動回路の2×2光スイッチ用のドライバの電源電圧(V-V)と光ゲート用のドライバの電源電圧とが同一である1×N光スイッチが得られる。
上述の1×N光スイッチにおいて、MZIとEAMとを個別に作製し、MZIとEAMとで異なるVを設定可能とすることで、同一のFPGAおよび、同一の駆動回路の構成を用いて制御が可能であるため、駆動回路の高密度集積が可能となり、光スイッチの高速動作が実現される。また、小振幅で低消費電力なLVDS信号を用いて光スイッチを直接駆動でき、MZIとEAMに個別の電源等も必要としないため、低消費電力での駆動が可能である。
本開示は、大容量光通信ネットワークを支えるための重要な光部品である光スイッチ素子の技術分野に適用できる。

Claims (7)

  1. 光スイッチに対して、前記光スイッチの駆動回路を前記光スイッチの制御電極の近傍に集積された構造を有する1×N光スイッチであって、
    前記光スイッチは、複数の2×2光スイッチとN個の光ゲートとを備え、
    前記2×2光スイッチと前記光ゲートとに異なるバイアス電圧(Vb)を設定し、
    前記駆動回路の2×2光スイッチ用のドライバと光ゲート用のドライバとが、前記2×2光スイッチと前記光ゲートとが排他的に動作するように構成された同一の回路を共有していることを特徴とする1×N光スイッチ。
  2. 請求項1に記載の光スイッチにおいて、
    前記2×2光スイッチには、マッハツェンダ干渉計(MZI)が用いられ、
    前記MZIの2本の導波路のそれぞれに電圧あるいは電流を付与するための電極を備えた複数の2×2MZIを多段に配設した構造を有し、前段の2×2MZIの2つの出力ポートのそれぞれに対して、後段の2×2MZIの2つの入力ポートの一方がツリー状に接続された構造を特徴とする1×N光スイッチ。
  3. 請求項1又は2に記載の光スイッチにおいて、
    前記光ゲートは電界吸収型の光ゲートであることを特徴とする1×N光スイッチ。
  4. 請求項1乃至3いずれか一項に記載の光スイッチにおいて、
    前記光スイッチと前記駆動回路が同一基板上に集積されていることを特徴とする1×N光スイッチ。
  5. 請求項1乃至4いずれか一項に記載の光スイッチにおいて、
    前記光スイッチと前記駆動回路がフリップチップ実装によって集積されていることを特徴とする1×N光スイッチ。
  6. 請求項1乃至5いずれか一項に記載の光スイッチにおいて、さらに、
    前記駆動回路と接続する分布定数線路と、
    前記分布定数線路と接続するFPGAと、
    を備え、
    前記駆動回路に入力される前記光スイッチの制御信号として、FPGAからのLVDS信号を用いるように構成されていることを特徴とする1×N光スイッチ。
  7. 請求項1乃至5いずれか一項に記載の光スイッチにおいて、
    FPGAからのLVDS信号を終端する終端回路と、ハイメサ導波路構造を有するトランジスタとを用いた前記駆動回路とにより、前記2×2光スイッチ及び前記光ゲートを駆動するように構成されていることを特徴とする1×N光スイッチ。
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