JP7325493B2 - 記録材判定装置及び画像形成装置 - Google Patents

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Description

本発明は、記録材の特性の判定技術に関する。
画像形成装置は、画像データに基づき記録材に画像を形成する。記録材には特性の異なる様々な種別が存在する。様々な種別の記録材に対して適切な画像形成条件を使用して画像形成を行うため、画像形成装置には、記録材の種別又は特性を判定するための記録材判定装置を備えているものがある。特許文献1は、記録材の表面に光を照射し、CMOSセンサ等の撮像素子で記録材の表面を撮像することで、記録材の種別を判定する構成を開示している。
特許第4427351号公報
しかしながら、特許文献1の構成では、撮像素子の出力に含まれるノイズ成分(フォトンショットノイズ、暗電流ノイズ等)や、撮像素子の出力をデジタル処理する際に生じるノイズ成分(抵抗ノイズ、熱雑音ノイズ等)の影響により判定精度が低下し得る。
本発明は、記録材の特性を精度良く判定する技術を提供するものである。
本発明の一態様によると、記録材判定装置は、記録材に向けて光を射出する光源と、複数の受光素子を含み、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルに応じた出力値を出力する受光手段であって、前記複数の受光素子の内の1つ以上の第1受光素子は、前記光源が前記記録材に向けて射出した前記光の前記記録材での反射光を受光する様に構成され、前記複数の受光素子の内の前記1つ以上の第1受光素子とは異なる1つ以上の第2受光素子には、前記記録材での反射光が入射しない様に構成されている受光手段と、前記記録材の表面の特性を示す表面性特性値を求める取得手段と、を備え、前記1つ以上の第1受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している期間において第1出力値を出力し、前記1つ以上の第2受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している期間において第2出力値を出力し、前記1つ以上の第1受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出していない期間において第3出力値を出力し、前記1つ以上の第2受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出していない期間において第4出力値を出力し、前記取得手段は、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの前記第1出力値に基づき第1特性値を求め、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの前記第2出力値に基づき第2特性値を求め、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの前記第3出力値に基づき第3特性値を求め、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの前記第4出力値に基づき第4特性値を求め、前記第1特性値と前記第2特性値と、前記第3特性値と、前記第4特性値と、に基づき前記表面性特性値を求める。


本発明によると、記録材の特性を精度良く判定することができる。
一実施形態による画像形成装置の概略的な構成図。 一実施形態による記録材判定部及び制御部の機能ブロック図。 一実施形態による記録材判定部の断面図及び斜視図。 一実施形態による各受光素子の出力値の例を示す図。 一実施形態による特性値の算出方法の説明図。 一実施形態による表面性特性値と、その比較例を示す図。 一実施形態による制御部が実行する処理のフローチャート。 一実施形態による制御部が実行する処理のフローチャート。 一実施形態による制御部が実行する処理のフローチャート。 特性値の様々な例を示す図。
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
<第一実施形態>
図1は、本実施形態による画像形成装置1の概略的な構成図である。なお、図1の参照符号の末尾の文字Y、M、C及びKは、それぞれ、参照符号により示される部材が形成に関わるトナー像の色がイエロー、マゼンタ、シアン及びブラックであることを示している。但し、以下の説明において、トナー像の色を区別する必要が無い場合には、末尾の文字を省略した参照符号を使用する。画像形成時、感光体7は、図の時計回り方向に回転駆動される。帯電ローラ8は、対応する感光体7の表面を一様な電位に帯電させる。露光部9は、画像データに基づき対応する感光体7を露光することで、対応する感光体7に静電潜像を形成する。現像部10は、対応する感光体7の静電潜像をトナーで現像することで、対応する感光体7にトナー像を形成する。一次転写ローラ12は、対応する感光体7のトナー像を中間転写ベルト13に転写する。なお、各感光体7のトナー像を中間転写ベルト13に重ねて転写することで、イエロー、マゼンタ、シアン及びブラックとは異なる色を再現することができる。中間転写ベルト13は、画像形成時、図の反時計回り方向に回転駆動される。したがって、中間転写ベルト13のトナー像は、二次転写ローラ15の対向位置に搬送される。
一方、カセット2に格納されている記録材Pは、給送ローラ3により搬送路に給送され、さらに、搬送ローラ対4及びレジストレーションローラ対5によって二次転写ローラ15の対向位置に搬送される。二次転写ローラ15は、中間転写ベルト13のトナー像を記録材Pに転写する。トナー像の転写後、記録材Pは、定着部16に搬送される。定着部16は、記録材Pを加熱・加圧することで、記録材Pにトナー像を定着させる。トナー像の定着後、記録材Pは、排出ローラ18によって画像形成装置1の外部に排出される。なお、レジストレーションローラ対5の下流側近傍には、記録材Pを検出するセンサ6が設けられ、センサ6の下流側には、記録材判定部19が設けられている。記録材判定部19は、記録材Pの表面の特性、例えば、記録材Pの表面の凹凸の程度を示す値(以下、表面性特性値)を検知するために使用される。
制御部20は、画像形成装置1の全体を制御する。制御部20は、1つ以上のプロセッサと、当該1つ以上のプロセッサが実行する制御プログラムや各種データを格納する不揮発性メモリと、画像形成装置1を制御するのに必要なデータや、一時的な値を格納するために使用される揮発性メモリと、を備えている。制御部20は、記録材判定部19が検知した記録材Pの表面性特性値に基づき当該記録材Pの種別を判定し得る。また、制御部20は、記録材判定部19が検知した記録材Pの表面性特性値に基づき、当該記録材Pに適した画像形成条件を設定する。例えば、記録材Pの電気抵抗値は、記録材Pの種別に応じて異なる。したがって、記録材Pにトナー像を転写する際に二次転写ローラ15が出力する転写バイアス、つまり、転写条件は、記録材の電気抵抗値、つまり、記録材の種別によって異ならせる必要がある。さらに、記録材Pのトナー像を記録材Pに定着させるための定着温度や定着時間(記録材の搬送速度)といった定着条件は、記録材Pの厚みや表面の滑らかさ等、つまり、記録材Pの種別によって異ならせる必要がある。なお、転写条件や定着条件は、記録材Pに画像形成する際の画像形成条件の例である。
図2は、記録材判定部19及び制御部20の機能ブロック図である。なお、制御部20の機能ブロックは、本実施形態の説明に必要な部分のみを示している。図2の記録材判定部19及び制御部20は、記録材判定装置を構成している。記録材判定部19の光源19aは、例えば、発光ダイオードであり、その発光面から面法線方向を光軸として放射状に光束を射出する。なお、光源制御部19bは、制御部20からの発光制御信号に基づき、光源19aの発光・消灯を制御する。照明導光体19cは、樹脂により形成された光学部材であり、光源19aからの光の一部を記録材Pの表面に射出する。結像部材19dは、光源19aが射出し、記録材Pの表面で反射した反射光を受光し撮像部19eに入射させる。撮像部19eは、例えば、CMOSセンサであり、一列に配置された複数の受光素子を有する。複数の受光素子は、例えば、記録材Pの搬送方向とは直交する方向に沿って配置され得る。なお、記録材Pの搬送方向は副走査方向としても参照され、記録材Pの搬送方向と直交する方向は主走査方向としても参照される。
本実施形態において、撮像部19eの複数の受光素子は、範囲A内の受光素子と、範囲B内の受光素子と、それ以外の受光素子と、に分類される。なお、それ以外の受光素子については、その数を0とすることもできる。範囲A内の受光素子には結像部材19dからの光、つまり、光源19aが射出し、記録材Pで反射した反射光が入射する様に撮像部19eは構成されている。一方、範囲B内の受光素子には、結像部材19dからの光、つまり、光源19aが射出し、記録材Pで反射した反射光が入射しない様に撮像部19eは構成されている。さらに、範囲B内の受光素子には光が入射しない様に撮像部19eは構成され得る。なお、本例においては、範囲A内の受光素子の数をm(mは1以上の整数)とし、範囲B内の受光素子の数をn(nは1以上の整数)とする。
図3(A)は記録材判定部19の断面図であり、図3(B)は記録材判定部19の斜視図である。なお、図3(A)及び図3(B)においては、各部材の配置を分かり易くするため、記録材判定部19の筐体については省略している。照明導光体19cと結像部材19dは、図示していない筐体に保持されている。一方、光源19a及び撮像部19eは、基板19fに実装されている。基板19fは筐体に固定されている。図3(A)及び図3(B)では、照明光束の一部を点線で示しているが、点線はあくまで照明光束の一部を示すものであり、照明光束はこれら以外に多様な光路を有する。
図3(A)及び図3(B)に示す様に、光源19aが出射した照明光束の一部は、照明導光体19cを透過し、記録材Pを照射する。記録材Pで反射した散乱光の一部は、結像部材19dによって、撮像部19eの範囲Aの受光素子に入射する。なお、上述した様に、範囲Bの受光素子には、記録材Pでの反射光、或いは、外部からの光が入射しないように筐体は構成されている。
図2に戻り、撮像部19eは、制御部20からの撮像制御信号に基づき、各受光素子の受光レベルに応じたアナログ電圧の出力信号を制御部20に出力する。出力信号は、各受光素子の受光レベルに応じたアナログ値(出力値)を示す信号である。なお、撮像部19eは、各受光素子の受光感度のムラ等の影響をキャンセルするためにシェーディング補正を行い得る。
制御部20のAD変換部20aは、撮像部19eからの出力信号が示す各受光素子の受光レベルに応じたアナログ値をデジタル値に変換し、当該デジタル値を受光レベルに応じたデータ(出力値)として出力する。なお、AD変換部20aは、範囲Aの受光素子の受光レベルに応じた出力値を演算部20bに出力し、範囲Bの受光素子の受光レベルに応じた出力値を演算部20cに出力する。演算部20bは、範囲Aの受光素子からの出力値に基づき特性値Aを求める。同様に、演算部20cは、範囲Bの受光素子からの出力値に基づき特性値Bを求める。特性値算出部20dは、特性値A及び特性値Bに基づき、記録材Pの表面の特性を示す表面性特性値を算出する。
図4は、撮像部19eがあるタイミングで出力した各受光素子の出力値を示している。図4(A)は、光源19aを消灯した際の撮像部19eの各受光素子の出力値であり、これは、各受光素子のノイズ成分を示している。図4(A)のグラフの一部の拡大図に示すように、各受光素子のノイズ成分は受光素子毎に異なる。なお、ノイズ成分は、撮像部19eの出力に含まれるノイズ(フォトンショットノイズ、暗電流ノイズ等)に加えて、撮像部19eからの出力信号をAD変換部20aでデジタル値に変換する際に生じるノイズ(抵抗ノイズ、熱雑音ノイズ等)も含む。本実施形態では、これらの各種のノイズを総称して暗ノイズと表記する。暗ノイズは、範囲A及び範囲Bの両方に存在し、時間と共にランダムに変化する。また、熱雑音による暗ノイズは、周囲の温度が高くなる程、大きくなる傾向がある。なお、暗ノイズは、撮像部19e及び制御部20への電源ノイズによっても変化する等、多様な条件で変化する。
図4(B)及び図4(C)は、それぞれ、光源19aにより記録材Pを照射し、その反射光を撮像部19eが受光した際の各受光素子の出力値を示している。なお、図4(B)は、記録材Pとして平滑紙を使用し、図4(C)は、記録材Pとして普通紙を使用した場合の結果である。平滑紙は、記録材Pの表面にコート剤を塗布することで、普通紙より表面の凹凸を小さくした記録材Pである。図4(B)及び図4(C)に示す様に、表面の凹凸の大きい普通紙の場合、表面の凹凸の小さい平滑紙よりも範囲Aの受光素子の受光レベルの変動が大きくなるため出力値も大きく変動する。よって、範囲Aの受光素子からの受光レベルに応じた出力値の変動に基づく特性値を算出することで、記録材の表面の凹凸の様子を評価・検知することができる。なお、範囲Bには、反射光が入射しないため、図4(B)及び図4(C)に示す様に、光源19aを点灯させても範囲Bの受光素子の出力値は暗ノイズを示すものとなる。
図5は、演算部20b及び演算部20cによる特性値A及び特性値Bの算出処理の説明図である。なお、演算部20b及び演算部20cにおける処理は基本的に同様であるため、以下では、演算部20bによる特性値Aの算出について説明する。制御部20は、記録材Pを一定の速度で搬送させながら、記録材判定部19に複数回の受光レベルの測定を行わせる。なお、1回の測定で、記録材判定部19の撮像部19eは、各受光素子の受光レベルに応じた出力信号を1回出力する。以下では、記録材Pを一定の速度で搬送させながら、記録材判定部19にK回(Kは2以上の整数)の測定を行わせたものとする。
図5は、範囲Aのm個の受光素子の内の1つの受光素子の、各回の測定における出力値を示している。図5に示す様に、記録材Pの表面の凹凸と暗ノイズの影響により、各回の測定において出力値は変化する。演算部20bは、k回目の測定での出力値と、k+1回目の測定での出力値の差を差分値(k)として求める。なお、kは、1~K-1までの整数である。これにより、演算部20bは、範囲Aのm個の受光素子それぞれについてK-1個の差分値を得る。続いて、演算部20bは、範囲Aの1つの受光素子について求めたK-1個の差分値の平均値を求める。したがって、演算部20bは、範囲Aのm個の受光素子それぞれについて1つの平均値を得る。最後に、演算部20bは、範囲Aのm個の受光素子それぞれの平均値の平均値を求め、これを特性値Aとする。演算部20cは、範囲Bのn個の受光素子に対して同様の処理を行うことで、特性値Bを求める。なお、範囲Bのn個の受光素子の各回の測定における出力値も変動するが、この変動は、暗ノイズの影響によるものであり、記録材Pの表面の凹凸によるものではない。
特性値算出部20dは、演算部20b及び演算部20cから特性値A及び特性値Bを受信し、特性値Aから特性値Bを減ずることで記録材Pの表面性特性値を算出する。特性値Aは、記録材Pの表面の凹凸の程度を示すが、その値は暗ノイズによる影響を含む。一方、特性値Bは暗ノイズに基づく値である。そのため、特性値Aから特性値Bを減ずることで、暗ノイズの影響を押さえ、記録材Pの表面の凹凸による受光レベルの変化の大きさを精度良く判定することができる。
図6は、異なる周囲の環境温度において表面性特性値を算出した例を示している。なお、図6(A)は、特性値Aをそのまま表面性特性値とした場合を示し、図6(B)は、上述した様に、特性値Aから特性値Bを減じた値を表面性特性値とした場合を示している。図6(A)に示す様に、周囲の環境温度が高くなると熱雑音に基づく暗ノイズ成分が増えるため、表面性特性値が高い値に変化してしまう。一方、図6(B)に示す様に、特性値Bを減ずることで、周囲の温度が変化することで暗ノイズが変化したとしても、暗ノイズの影響を抑えた表面性特性値を算出することができる。したがって、図6(B)に示す表面性特性値を使用することで、記録材Pの表面の凹凸の程度の検出精度を向上させることができる。したがった、記録材Pの種別を精度良く判定でき、よって、記録材Pに適切な画像形成条件を設定することができる。
図7は、制御部20が実行する処理のフローチャートである。制御部20は、記録材Pに画像を形成するため、S10で、当該記録材Pの給送及び搬送を開始する。制御部20は、記録材Pの先端が記録材判定部19に到達したと判定するとS11で光源19aを発光させる。記録材Pの先端が記録材判定部19に到達したタイミングは、センサ6が記録材Pを検出したタイミングに基づき判定され得る。なお、制御部20は、記録材Pの先端が記録材判定部19に到達する前の所定タイミングで光源19aを発光させても良い。制御部20は、S12で、記録材Pが記録材判定部19の測定領域を通過している間、撮像部19eに複数回の測定を行わせる。制御部20の演算部20b及び演算部20cは、S13において、各回の測定における出力信号に基づき図5を用いて説明した様に特性値A及び特性値Bを判定する。制御部20の特性値算出部20dは、S14において、特性値A及び特性値Bに基づき表面性特性値を判定する。その後、制御部20は、S15で光源19aを消灯し、S16で、表面性特性値に基づき画像形成条件を設定する。なお、表面性特性値と画像形成条件との関係を示す情報は、事前に制御部20に格納しておく。
以上、記録材Pからの反射光の変化に基づく特性値Aから暗ノイズに基づく特性値Bを減ずることで、記録材Pの凹凸に基づく反射光の変化を主に示す表面性特性値を算出することができる。この表面性特性値は、記録材Pの凹凸の程度を精度良く示すものであるため、記録材Pの種別を精度良く判定できる。したがって、記録材Pの種別に応じた適切な画像形成条件を設定することができる。
なお、図7のフローチャートでは、光源19aを発光させている期間に撮像部19eが複数回出力する出力信号に基づき特性値A及び特性値Bを判定していた。つまり、特性値Aを判定するための範囲Aの受光素子の出力値と、特性値Bを判定するための範囲Bの受光素子の出力値とを、制御部20は同じタイミングで取得していた。熱雑音による暗ノイズは撮像部19eの測定タイミング毎に異なり得るため、特性値A及び特性値Bの判定に使用する出力値を同じタイミングで取得することで、精度良く特性値Aに含まれる暗ノイズ成分を相殺することできる。しかしながら、画像形成装置1内の時間による温度変化が大きくない場合には、特性値Bを判定するための範囲Bの受光素子の出力値と、特性値Aを判定するための範囲Aの受光素子の出力値とを制御部20が異なるタイミングで取得する構成とすることができる。例えば、制御部20が、特性値Bを判定するための範囲Bの受光素子の出力値を、S11で光源19aを発光させる前や、S15で光源19aを消灯した後のタイミングで取得する構成とすることができる。また、本実施形態において、制御部20は、特性値Aを判定するための範囲Aのm個の受光素子の出力値と、特性値Bを算出するための範囲Bのn個の受光素子の出力値とをそれぞれK回取得していた。しかしながら、特性値Aを判定するための範囲Aのm個の受光素子の出力値と、特性値Bを算出するための範囲Bのn個の受光素子の出力値との取得回数は同じでなくても良い。
<第二実施形態>
第一実施形態では、撮像部19eの複数の受光素子の内の範囲B内のn個の受光素子を使用して暗ノイズを示す特性値Bを取得していた。なお、範囲Bの受光素子には、記録材Pでの反射光が入射しない様に撮像部19eを構成していた。本実施形態では、この様な範囲Bの受光素子を設けることを不要にする。代わりに、本実施形態では、記録材Pからの反射光が入射する範囲Aのm個の受光素子を使用して、暗ノイズを示す特性値(以下では、第一実施形態での特性値Bと区別するため特性値ADと表記する。)を判定する。
図8は、本実施形態において制御部20が実行する処理のフローチャートである。制御部20は、記録材Pに画像を形成するため、S20で、当該記録材Pの給送及び搬送を開始する。なお、この時点において光源19aは消灯している。制御部20は、S21で、撮像部19eに複数回の測定を行わせる。演算部20bは、S22で、範囲Aの受光素子からの出力値に基づき図5を用いて説明した様に特性値ADを判定する。光源19aは消灯しているため、図4(A)に示す様に範囲Aの受光素子から出力値は暗ノイズを示すものとなる。したがって、S21での測定に基づく特性値ADは、特性値Bと同様に暗ノイズの特性値となる。その後、制御部20は、S23で光源19aを発光させる。制御部20は、S24で、記録材Pが記録材判定部19の測定領域を通過している間、撮像部19eに複数回の測定を行わせる。制御部20の演算部20bは、S25において、各回の測定における範囲Aの受光素子の出力値に基づき図5を用いて説明した様に特性値Aを判定する。制御部20の特性値算出部20dは、S26において、特性値Aから特性値ADを減ずることで表面性特性値を判定する。その後、制御部20は、S27で光源19aを消灯し、S28で、表面性特性値に基づき画像形成条件を設定する。
以上、本実施形態では、反射光が入射しない受光素子を撮像部19eに設けることを必要とすることなく、記録材Pの凹凸の変化を主に示す表面性特性値を算出することができる。また、範囲Bを設ける必要がないため、範囲Aの大きさを広げること、つまり、範囲Aの受光素子数を多くすることができ、より安定した記録材Pの表面性特性値を得ることができる。
<第三実施形態>
続いて、第三実施形態について第一実施形態及び第二実施形態との相違点を中心に説明する。暗ノイズは、撮像部19eの受光素子毎に異なり得る。また、画像形成装置1内の温度により、熱雑音による暗ノイズは撮像部19eの測定タイミング毎に異なり得る。本実施形態では、特性値Aに含まれる暗ノイズ成分を精度良く推定し、これにより、記録材Pの表面性特性値を精度よく検知する。
図9は、本実施形態において制御部20が実行する処理のフローチャートである。制御部20は、記録材Pに画像を形成するため、S30で、当該記録材Pの給送及び搬送を開始する。なお、この時点において光源19aは消灯している。制御部20は、S31で、撮像部19eに複数回の測定を行わせる。演算部20bは、S32で、範囲Aの受光素子の出力値に基づき図5を用いて説明した様に特性値ADを判定する。同様に、演算部20cは、S32で、範囲Bの受光素子の出力値に基づき図5を用いて説明した様に特性値BDを判定する。特性値ADは、第二実施形態と同様に範囲Aの受光素子の暗ノイズに対応する。特性値BDは、範囲Bの受光素子の暗ノイズに対応する。その後、制御部20は、S33で光源19aを発光させる。制御部20は、S34で、記録材Pが記録材判定部19の測定領域を通過している間、撮像部19eに複数回の測定を行わせる。制御部20の演算部20bは、S35において、各回の測定における範囲Aの受光素子の出力値に基づき図5を用いて説明した様に特性値Aを判定する。また、第一実施形態と同様に、演算部20cは、S35において、各回の測定における範囲Bの受光素子の出力値に基づき特性値Bを判定する。
制御部20の特性値算出部20dは、S36において、特性値A、特性値B、特性値AD及び特性値BDに基づき表面性特性値を判定する。本実施形態において、特性値算出部20dは、以下の式により表面性特性値を求める。
表面性特性値=特性値A-特性値B×特性値AD/特性値BD
特性値BDに対する特性値ADの比は、範囲Bの受光素子の暗ノイズに対する範囲Aの受光素子の暗ノイズの比である。よって、特性値Bに特性値BDに対する特性値ADの比を乗ずることで、S34の各回の測定における範囲Bの受光素子の暗ノイズに基づき、S34の各回の測定における範囲Aの受光素子の暗ノイズを推定することができる。したがって、特性値Aに含まれる範囲Aの受光素子の暗ノイズ成分を精度良く減少させることができ、記録材Pの凹凸の程度を示す表面性特性値を精度良く検出することができる。その後、制御部20は、S37で光源19aを消灯し、S38で、表面性特性値に基づき画像形成条件を設定する。
以上、本実施形態では、特性値Aに含まれる暗ノイズ成分を精度良く推定し、よって、精度の良い表面性特性値を求めることができる。
<その他>
上記各実施形態において、特性値A及び特性値B等は、連続する2つのタイミングにおける同じ受光素子の出力値の差分に基づく値であった。しかしながら、特性値は、記録材Pの表面の凹凸量に応じて変化する値であれば良く、本発明は、上記各実施形態における算出方法により求めた特性値を使用することに限定されない。図10は、特性値の他の例を示している。なお、図10は、演算部20bによる特性値A又は特性値ADの算出方法を示しているが、演算部20cによる特性値B又は特性値BDの算出方法も同様である。なお、表面性特性値を算出する際に使用する各特性値の算出方法については同じにし得る。
図10(A)に示す様に、演算部20bは、ある受光素子のK回の測定における各出力値の最大値と最小値との差分(以下、PP値)に基づき特性値を算出することができる。この場合、演算部20bは、各受光素子について1つのPP値を得る。例えば、演算部20bは、m個の受光素子のPP値の平均値を特性値A又は特性値ADとすることができる。
図10(B)及び図10(C)は、範囲Aの受光素子数m及び範囲Bの受光素子数nをそれぞれ2以上とする場合の例を示している。図10(B)に示す様に、演算部20bは、互いに隣接する2つの受光素子の出力値の差分に基づき特性値を算出することができる。範囲Aの受光素子数はmであるため、演算部20bは、各回の測定においてm-1個の差分値を得る。この場合、演算部20bは、同じ回の測定で得たm-1個の差分値の平均値を求め、さらに、K回の測定に渡る平均値を求めることで、特性値A又は特性値ADを判定することができる。
さらに、図10(C)に示す様に、演算部20bは、ある回の測定におけるm個の受光素子の出力値の最大値と最小値との差分(以下、PP値)に基づき特性値を算出することができる。この場合、演算部20bは、各回の測定において1つのPP値を得る。例えば、演算部20bは、K回の測定におけるPP値の平均値を特性値A又は特性値ADとすることができる。なお、図10(B)及び図10(C)の例においては測定回数Kを1とすることができる。
また、本実施形態における撮像部19eは、CMOSセンサを有するものであった。しかしながら、CCD(Charge Coupled Device)センサやフォトダイオード等、光量(受光レベル)を検知できる任意の素子を撮像部19eに使用する構成とすることができる。また、本実施形態での撮像部19eは、主走査方向に沿って一列に配置された受光素子を有するものであったが、副走査方向の位置が異なる複数の列に沿って配置された、つまり、面状に配置された複数の受光素子を有するものであっても良い。さらに、本実施形態では、各受光素子の出力値(アナログ値)をAD変換部20aでデジタルの出力値に変換して演算部20b、20cに出力していたが、各受光素子の出力値をそのまま演算部20b、20cに出力する構成とすることもできる。また、AD変換部20aは制御部20ではなく、撮像部19eに設ける構成とすることもできる。いずれにしても、撮像部19e、或いは、撮像部19e及びAD変換部20aは、受光素子の受光レベルに応じた出力値を出力する受光部を構成する。
[その他の実施形態]
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。
19a:光源、19e:撮像部、20b、20c:演算部、20d:特性値算出部

Claims (20)

  1. 記録材に向けて光を射出する光源と、
    複数の受光素子を含み、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルに応じた出力値を出力する受光手段であって、前記複数の受光素子の内の1つ以上の第1受光素子は、前記光源が前記記録材に向けて射出した前記光の前記記録材での反射光を受光する様に構成され、前記複数の受光素子の内の前記1つ以上の第1受光素子とは異なる1つ以上の第2受光素子には、前記記録材での反射光が入射しない様に構成されている受光手段と、
    前記記録材の表面の特性を示す表面性特性値を求める取得手段と、
    を備え、
    前記1つ以上の第1受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している期間において第1出力値を出力し、
    前記1つ以上の第2受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している期間において第2出力値を出力し、
    前記1つ以上の第1受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出していない期間において第3出力値を出力し、
    前記1つ以上の第2受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出していない期間において第4出力値を出力し、
    前記取得手段は、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの前記第1出力値に基づき第1特性値を求め、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの前記第2出力値に基づき第2特性値を求め、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの前記第3出力値に基づき第3特性値を求め、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの前記第4出力値に基づき第4特性値を求め、前記第1特性値と前記第2特性値と、前記第3特性値と、前記第4特性値と、に基づき前記表面性特性値を求める、記録材判定装置。
  2. 前記取得手段は、前記第1特性値と、前記第2特性値と、前記第4特性値に対する前記第3特性値の比と、に基づき前記表面性特性値を求める、請求項に記載の記録材判定装置。
  3. 前記取得手段は、前記第4特性値に対する前記第3特性値の比を前記第2特性値に乗じた値を前記第1特性値から減ずることで、前記表面性特性値を求める、請求項に記載の記録材判定装置。
  4. 前記受光手段は、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルに応じたアナログ値をデジタル値に変換し、前記デジタル値を前記出力値として前記取得手段に出力する変換手段を備えている、請求項1からのいずれか1項に記載の記録材判定装置。
  5. 記録材に向けて光を射出する光源と、
    複数の受光素子を含み、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルに応じた出力値を出力する受光手段であって、前記複数の受光素子の内の複数の第1受光素子は、前記光源が前記記録材に向けて射出した前記光の前記記録材での反射光を受光する様に構成され、前記複数の受光素子の内の前記複数の第1受光素子とは異なる複数の第2受光素子には、前記記録材での反射光が入射しない様に構成されている受光手段と、
    前記記録材の表面の特性を示す表面性特性値を求める取得手段と、
    を備え、
    前記複数の第1受光素子それぞれは、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している期間において第1出力値を出力し、
    前記複数の第2受光素子それぞれは第2出力値を出力し、
    前記取得手段は、前記複数の第1受光素子それぞれの前記第1出力値の差に基づき第1特性値を求め、前記複数の第2受光素子それぞれの前記第2出力値の差に基づき第2特性値を求め、前記第1特性値と前記第2特性値とに基づき前記表面性特性値を求める、記録材判定装置。
  6. 前記第1特性値は、前記複数の第1受光素子それぞれの前記第1出力値の最大値と最小値との差に基づく値であり、
    前記第2特性値は、前記複数の第2受光素子それぞれの前記第2出力値の最大値と最小値との差に基づく値である、請求項に記載の記録材判定装置。
  7. 前記第1特性値は、前記複数の第1受光素子の内の隣接する2つの第1受光素子の前記第1出力値の差に基づく値であり、
    前記第2特性値は、前記複数の第2受光素子の内の隣接する2つの第2受光素子の前記第2出力値の差に基づく値である、請求項に記載の記録材判定装置。
  8. 前記1つ以上の第1受光素子それぞれは、異なる複数のタイミングで複数の前記第1出力値を出力し、
    前記1つ以上の第2受光素子それぞれは、異なる複数のタイミングで複数の前記第2出力値を出力し、
    前記第1特性値は、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの同じ第1受光素子について取得した複数の前記第1出力値の差に基づく値であり、
    前記第2特性値は、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの同じ第2受光素子について取得した複数の前記第2出力値の差に基づく値である、請求項1からのいずれか1項に記載の記録材判定装置。
  9. 前記第1特性値は、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの同じ第1受光素子について取得した複数の前記第1出力値の最大値と最小値との差に基づく値であり、
    前記第2特性値は、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの同じ第2受光素子について取得した複数の前記第2出力値の最大値と最小値との差に基づく値である、請求項に記載の記録材判定装置。
  10. 前記第1特性値は、前記1つ以上の第1受光素子それぞれの同じ第1受光素子について取得した複数の前記第1出力値の内の隣接するタイミングで取得した2つの第1出力値の差に基づく値であり、
    前記第2特性値は、前記1つ以上の第2受光素子それぞれの同じ第2受光素子について取得した複数の前記第2出力値の内の隣接するタイミングで取得した2つの第2出力値の差に基づく値である、請求項に記載の記録材判定装置。
  11. 前記1つ以上の第2受光素子それぞれが複数の前記第2出力値を出力する前記複数のタイミングは、前記1つ以上の第1受光素子それぞれが複数の前記第1出力値を出力する前記複数のタイミングと同じである、請求項から10のいずれか1項に記載の記録材判定装置。
  12. 記録材に向けて光を射出する光源と、
    前記光源が前記記録材に向けて射出した前記光の前記記録材での反射光を受光する様に構成された複数の受光素子を含み、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルに応じた出力値を出力する受光手段と、
    前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している間の前記複数の受光素子それぞれの第1出力値の差に基づき第1特性値を判定し、前記光源が前記光を射出していない間の前記複数の受光素子それぞれの第2出力値の差に基づき第2特性値を判定し、前記第1特性値と前記第2特性値とに基づき前記記録材の表面の特性を示す表面性特性値を判定する判定手段と、
    を備えている、記録材判定装置。
  13. 記録材に向けて光を射出する光源と、
    前記光源が前記記録材に向けて射出した前記光の前記記録材での反射光を受光する様に構成された1つ以上の受光素子を含み、前記1つ以上の受光素子それぞれの受光レベルに応じた出力値を出力する受光手段と、
    前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している間、前記1つ以上の受光素子それぞれについて異なる複数のタイミングで複数の第1出力値を取得し、前記光源が前記光を射出していない間、前記1つ以上の受光素子それぞれについて異なる複数のタイミングで複数の第2出力値を取得し、前記1つ以上の受光素子それぞれの同じ受光素子について取得した前記複数の第1出力値の差に基づき第1特性値を判定し、前記1つ以上の受光素子それぞれの同じ受光素子について取得した前記複数の第2出力値の差に基づき第2特性値を判定し、前記第1特性値と前記第2特性値とに基づき前記記録材の表面の特性を示す表面性特性値を判定する判定手段と、
    を備えている、記録材判定装置
  14. 前記判定手段は、前記第1特性値から前記第2特性値を減ずることで前記表面性特性値を判定する、請求項12又は13に記載の記録材判定装置。
  15. 記録材に向けて光を射出する光源と、
    複数の受光素子を含み、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルとノイズ成分とに応じた出力値を出力する受光手段と、
    前記複数の受光素子の内、前記光源が前記記録材に向けて射出し、前記記録材の表面で反射した反射光を受光している1つ以上の第1受光素子それぞれが出力する受光レベル及びノイズ成分に応じた第1出力値に基づき第1特性値を判定し、前記複数の受光素子の内の1つ以上の第2受光素子それぞれが出力するノイズ成分に応じた第2出力値に基づき第2特性値を判定し、前記第1特性値と前記第2特性値とに基づき前記記録材の表面の特性を示す表面性特性値を判定する判定手段と、
    を備え
    前記1つ以上の第1受光素子と前記1つ以上の第2受光素子は異なる受光素子である、記録材判定装置。
  16. 前記受光手段は、前記複数の受光素子それぞれの受光レベルとノイズ成分とに応じたアナログ値をデジタル値に変換し、前記デジタル値を前記出力値として前記判定手段に出力する変換手段を備えている、請求項15に記載の記録材判定装置。
  17. 前記1つ以上の第2受光素子には前記反射光が入射しない様に前記受光手段は構成されている、請求項15又は16に記載の記録材判定装置。
  18. 前記判定手段は、前記1つ以上の第1受光素子それぞれが出力するノイズ成分に応じた第3出力値に基づき第3特性値を判定し、前記第3特性値にさらに基づき前記表面性特性値を判定する、請求項15から17のいずれか1項に記載の記録材判定装置。
  19. 前記判定手段は、前記1つ以上の第2受光素子それぞれが出力する更なるノイズ成分に応じた第4出力値に基づき第4特性値を判定し、前記第4特性値にさらに基づき前記表面性特性値を判定し、
    前記1つ以上の第1受光素子それぞれが出力する前記第1出力値及び前記1つ以上の第2受光素子それぞれが出力する前記第2出力値は、前記光源が前記記録材に向けて前記光を射出している第1タイミングで前記受光手段から出力された前記出力値であり、
    前記1つ以上の第1受光素子それぞれが出力する前記第3出力値及び前記1つ以上の第2受光素子それぞれが出力する前記第4出力値は、前記光源が前記光を射出していない第2タイミングで前記受光手段から出力された前記出力値である、請求項18に記載の記録材判定装置。
  20. 記録材を搬送する搬送手段と、
    前記搬送手段により搬送される前記記録材に画像を形成する画像形成手段と、
    請求項1から19のいずれか1項に記載の記録材判定装置と、
    前記記録材判定装置が判定した表面性特性値に基づき前記記録材への画像形成条件を制御する制御手段と、
    を備えている、画像形成装置。
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