JP2010217332A - 光ビーム走査装置、光ビーム走査方法、プログラム及び画像形成装置 - Google Patents

光ビーム走査装置、光ビーム走査方法、プログラム及び画像形成装置 Download PDF

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Abstract

【課題】複数ビームを有する半導体レーザにおいて、他チャンネルからのビームのオフセット発光の影響を一定にし、APC制御による光量誤差を一定にすることで、濃度むらをなくすことを目的とする。
【解決手段】レーザ光を発生する複数の光源と、複数の光源の点灯を制御する点灯制御手段と、複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出手段と、光量検出手段により検出された複数の光源の光量を記憶する光量記憶手段と、光量記憶手段により記憶された各光量に基づいて複数の光源の光量を制御する光量制御手段と、を備え、光量制御手段は、光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、複数の光源の光量を制御する。
【選択図】図7

Description

本発明は、感光体上を光ビームで走査する光ビーム走査装置、光ビーム走査方法、プログラム及び光ビーム走査装置を用いて画像を形成する画像形成装置に関する。
半導体レーザを使用した画像形成装置において画像を形成するには、感光体上を光ビームで走査し画像情報を露光させることで行っている。そのため感光体上での光量を常に一定としておかなければ、形成される画像が所望の画像よりも濃くなったり薄くなったり、又は濃淡のムラの原因となってしまう。そこで、通常画像形成に使用する光ビームは、半導体レーザの光量を一定に保つAPC(Auto Power Control)制御を行うことで、半導体レーザ出力される光量を一定とする方法がある。
しかし、今までの複数の発光素子をもち、複数のビームを出力することが出来る半導体レーザを用いた画像形成装置では、1つのビームをAPC制御している間に、他のビームが微弱に発光(オフセット発光)しており、その発光も拾ってしまうため精度の良いAPC制御動作が行えていないという問題があった。これは、発光させていないビームにおいてもバイアス電流を流しオフセット発光させておかなければ、ドループと呼ばれる光量低下が発生してしまうためである。
他のビームのオフセット発光量が常に一定であればAPC制御時の影響も一定なので、画像の濃度むらは発生しないが、LD(レーザダイオード)のオフセット発光量は温度により変化する。従い、LDの温度変化によりオフセット発光量が変動するため画像の濃度むらが生じるという問題があった。
例えば特許文献1においては、複数光源を有する装置において、1走査毎に複数光源のうち1光源のAPC制御を行い、複数回の走査において順番に光源のAPC制御を行う場合でも、ドループの影響を小さくし、濃度むらを抑制するという方法が開示されている。
特許文献1に記載されている方法では、LDのオフセット発光量は温度により変化するためLDアレイにおいて、1つのビームをAPC制御している間に、他チャンネルのオフセット発光も拾ってしまうため精度の良いAPC制御動作が行えていないというという問題は解消できていない。
そこで本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、複数ビームを有する半導体レーザにおいて、他チャンネルからのビームのオフセット発光の影響を一定にし、APC制御による光量誤差を一定にすることで、濃度むらをなくすことを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明に係る光ビーム走査装置は、レーザ光を発生する複数の光源と、複数の光源の点灯を制御する点灯制御手段と、複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出手段と、光量検出手段により検出された複数の光源の光量を記憶する光量記憶手段と、光量記憶手段により記憶された各光量に基づいて複数の光源の光量を制御する光量制御手段と、を備え、光量制御手段は、光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、複数の光源の光量を制御することを特徴とする。
また本発明に係る光ビーム走査方法は、レーザ光を発生する複数の光源の点灯を制御する点灯制御工程と、複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出工程と、光量検出工程により検出された複数の光源の光量を記憶する光量記憶工程と、光量記憶工程により記憶された各光量に基づいて、光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、複数の光源の光量を制御する光量制御工程と、を備えることを特徴とする。
また本発明に係るプログラムは、レーザ光を発生する複数の光源の点灯を制御する点灯制御処理と、複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出処理と、光量検出処理により検出された複数の光源の光量を記憶する光量記憶処理と、光量記憶処理により記憶された各光量に基づいて、光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、複数の光源の光量を制御する光量制御処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明により、複数ビームを有する半導体レーザにおいて、APC制御により濃度むらをなくすることが可能になる。
本発明の実施形態に係るタンデムタイプのカラー画像形成装置の構成図である。 本発明の実施形態に係る書込み装置内部の光学ユニットの構成図である。 本発明の実施形態に係るAPC制御フローチャート図である。 本発明の実施形態に係る4chのLDアレイを搭載した画像形成装置のブロック図である。 本発明の実施形態に係るAPC制御回路図である。 LD光量とPDに流れるモニタ電流の関係を示す図である。 APC光量を制御するアナログ電圧値を変化させる方法の構成を示す図である。 温度変化に伴うithの変化を示す図である。 LD温度から設定するVcont値を決定する方法の構成を示す図である。 APC制御の光量を変化させるときの、APCの制御フロー図である。 APC制御の光量を変化させるときの、APCの制御フロー図である。 APC制御の光量を変化させたときのAPC点灯信号のタイミングチャート図である。 本発明の実施形態に係る光ビーム検知手段に入射される光量を減ずる減光フィルタを備えた光ビーム走査装置を示す図である。
図1は、本発明の一実施形態に係る、タンデムタイプといわれるカラー画像形成装置の構成図である。
本実施形態において、図1に示すように搬送ベルトに沿って画像形成部が並んだタンデムタイプといわれるカラー画像形成装置の構成を説明する。
本実施形態における、カラー画像形成装置は、画像形成部Aと、搬送ベルト2と、搬送ローラ3、4と、給紙トレイ5と、露光器8と、定着器13と、レジストセンサ14と、を備える。
カラー画像形成部Aの第1の画像形成部(イエロー:Y)は、感光体ドラム6Yと、帯電器7Yと、露光器8と、現像器9Yと、感光体クリーナ10Yと、を備える。
様々な異なる色(イエロー:Y、マゼンタ:M、シアン:C、ブラック:K)の画像を形成する画像形成部Aが、転写紙1を搬送する搬送ベルト2に沿って一列に配置されている。搬送ベルト2は、その一方が駆動回転する駆動ローラと他方が従動回転する従動ローラである搬送ローラ3、4によって架設されており、搬送ローラの回転により矢印方向に回転駆動される。
搬送ベルトの下部には、転写紙1が収納された給紙トレイ5が備えられている。収納された転写紙1のうち最上位置にある転写紙は、画像形成時には給紙され、途中レジストセンサ14により各ユニットとのタイミングが取られ、静電吸着によって搬送ベルト上に吸着される。吸着された転写紙1は、第1の画像形成部(イエロー)に搬送され、ここでイエローの画像形成が行われる。
第1の画像形成部(イエロー)は、感光体ドラム6Yと感光体ドラムの周囲に配置された帯電器7Y、露光器8、現像器9Y、感光体クリーナ10Yから構成されている。感光体ドラム6Yの表面は、帯電器7Yで一様に帯電された後、露光器8によりイエローの画像に対応したレーザ光11Yで露光され、静電潜像が形成される。
形成された静電潜像は現像器9Yで現像され、感光体ドラム上にトナー像が形成される。このトナー像は感光体ドラムと搬送ベルト上の転写紙と接する位置(転写位置)で転写器12Yによって転写され、転写紙上に単色(イエロー)の画像を形成する。転写が終わった感光体ドラムは、ドラム表面に残った不要なトナーを感光体クリーナ10Yによってクリーニングされ、次の画像形成に備えることとなる。
このように、第1の画像形成部(イエロー)で単色(イエロー)を転写された転写紙1は、搬送ベルト2によって第2の画像形成部(マゼンタ)に搬送される。ここでも、同様に感光体ドラム6M上に形成されたトナー像(マゼンタ)は、転写紙上に重ねて転写される。転写紙は、さらに第3の画像形成部(シアン)第4の画像形成部(ブラック)に搬送され、同様に形成されたトナー像を形成されたトナー像を転写されてカラー画像を形成してゆく。第4の画像形成部を通過してカラー画像が形成された転写紙は、搬送ベルトから剥離され、定着器13にて定着された後、排紙される。
図2は、本実施形態に係わる書込み装置(図1の8)内部の光学ユニットの構成図である。書込み装置(図1の8)内部の光学ユニットの上から見た図を示す。
画像形成に必要となる光ビームは、LDユニットBK31、LDユニットY32、LDユニットC42、LDユニットM43中に存在するLD制御基板BK53、LD制御基板Y54、LD制御基板C52、LD制御基板M55、それぞれに搭載されるLDから出力される。
LDユニットBK31およびLDユニットY32からの光ビームはシリンダレンズCYL_BK33、CYL_Y34を通り、反射ミラーBK35および反射ミラーY36によってポリゴンミラー37の下方面に入射し、ポリゴンミラー37が回転することにより偏向され、fθレンズBKC38およびfθレンズYM39を通り、第1ミラーBK40および第1ミラーY41によって折り返される。
一方、LDユニットC42およびLDユニットM43からの光ビームは、CYL_C44およびCYL_M45を通り、ポリゴンミラー37の上方面に入射し、ポリゴンミラー37が回転することにより偏向され、fθレンズBKC38およびfθレンズYM39を通り、第1ミラーC46および第1ミラーM47によって折り返される。
主走査方向の書き出し位置(B、C)より上流側にシリンダミラーCYM_BKC48およびCYM_YM49さらにはセンサBKC50およびセンサYM51が備わっており、fθレンズBKC38およびfθレンズYM39を通った光ビームがCYM_BKC48およびCYM_YM49によって反射集光されて、センサBKC50およびセンサYM51に入射するような構成となっている。これらのセンサは、主走査方向の同期を取るための同期検知センサである。
また、LDユニットBK31およびLDユニットC42からの光ビームでは、共通のCYM_BKC48ならびにセンサBKC50を使用している。LDユニットY32およびLDユニットM43についても同様である。同じセンサに2色の光ビームが入射することとなるので、各色の光ビームのポリゴンミラー37への入射角を異なるようにすることで、それぞれの光ビームがセンサに入射するタイミングを変え、時系列的にパルス列として出力されるようになっている。図2からも分かるように、BKとCおよびYとMは逆方向に走査される。
図3は、APC制御フローチャート図である。
LDを使用した画像形成装置では、感光体上を光ビームで走査しながら、画像情報に応じてLDの点灯をON/OFFさせ露光させることで行っている。そのため、感光体上での光量を感光体感度に応じて一定に保っておく必要がある。通常画像形成に使用する光ビームは、LDの特性を検出する初期化動作及び光量を一定に保つAPC(Auto power control)制御を行うことで、LD(レーザダイオード)から出力される光量を一定とする制御をしている。まず画像形成のためにLDを点灯させる直前に初期化動作を実施し(ステップS101)、次に1ライン走査を行い(ステップS102)、APC制御(ステップS103)を行う。APC制御動作は1ライン走査ごとに画像領域外で行われる。次に1ライン走査が終了かを判断し(ステップS104)、終了していない場合(ステップS104、NO)は、判断を繰り返す。1ライン走査が終了した場合(ステップS104、YES)はAPC制御を終了する。
図4は、4チャンネル(ch)の半導体レーザ素子(LDアレイ)を搭載した画像形成装置のブロック図である。
次に、複数の光源を持つ半導体レーザ素子(以下、LDアレイとする)を使用した光ビーム走査装置の構成について説明する。図4に示すように画像を読取るスキャナ部21、スキャナで読取ったデータに応じて書込制御を行う書込制御部22、LDアレイのAPC動作を行うLD制御部23により構成される。また、LDアレイは図4に示すように複数の発光素子に対して1つの受光素子(PD)という構造をしている。(図4は4chのLDアレイの図である)
このようにLDアレイは複数のLD素子と1つのPD素子で構成されるため、発光素子を同時に光量調整制御することは困難である。また、画像作成時にはドループと呼ばれる経時の光量低下を抑制するために常にバイアス電流を流しておかなければならず、使用していない場合でも微弱に発光(以下オフセット発光とする)させている。そのため、LDアレイにおいて、APC制御動作する際には他ch(チャンネル)からのオフセット発光をPD素子で拾ってしまうため、精度の良い光量調整制御が行えていなかった。
図5は、APC制御回路を示す図である。
本実施形態では、複数の光源を有する半導体レーザにおいて1つのチャンネルの光量調整制御時に他チャンネルからのオフセット発光による影響を一定にさせる制御を行う光ビーム走査装置について説明する。
まず、その制御方法を説明する。APC制御は、LDアレイの発光量をPDで受光し、その結果流れる電流ImをモニタすることによりVpdを調節する制御である。ここでVcontは書込制御部12から与えられる基準電圧である。PDに流れる電流はIm=Vpd/Rpdで表され、モニタ電流Imによりフィードバック制御することで、VpdがVcontと等しくなる様にLD制御部で制御されている。
LDアレイの場合は、通常PDを1個しか持たないため、APC制御動作以外のchのLDが発光していると、その光(オフセット光)の光量も拾ってしまう。オフセット光の光量が常に一定であれば、APC制御によりLD光量も一定となり濃度ムラは生じないし、もし生じても、その補正は容易である。しかし、オフセット光にはLDの温度特性があるため、すなわちLDの温度変化に伴う濃度ムラが生じてしまうのである。
図6は、L−I特性を示す図である。t1及びt2は温度を示す。Ith_t1及びIth_t2は閾値電流を示す。Ith_t1−Isub1及びIth_t2−Isub2はバイアス電流を示す。Poffset_t1及びPoffset_t2はオフセット発光量を示す。Im_offset_t1及びIm_offset_t2は光量調整制御を行っていないchからのオフセット発光によるPD電流を示す。Papc_t1及びPapc_t2はAPC光量(他chからのオフセット光量を含む)を示す。Im_t1及びIm_t2は光量調整(APC)時のPDに流れるモニタ電流を示す。
温度変化により、図6のようにIthが変動する(Ith_t1とIth_t2)。バイアス電流をIth−Isub(定数)で決定するとき、Ithが変化するとバイアス電流も変化する。従って、バイアス電流によるオフセット発光量(Im_offset_t1、Im_offset_t2)も温度により異なり、APC光量を常に一定でAPC制御を行うと、APC光量/オフセット光量は温度により変動する。
そこで、全chの光量Papc/オフセット光量PapcがAPC制御毎に一定(ここではR0とする)になるAPC光量でAPC制御を行うことで、(オフセット光の影響は排除できないが、その程度が一定であるので)濃度むらをなくすことができる。
そのためにはAPC制御動作以前にAPC制御動作以外のLDのオフセット発光量を計測しておき、その光量に応じて、APC光量を制御するアナログ電圧Vcontの値を変化させる方法がある(図7)。
図7にAPC光量を制御するアナログ電圧Vcontの値を変化させる方法の構成を示す。ここで、全ch光量分の電流量とオフセット光量分の比を、Im_t1/Im_offset_t1=R1及びIm_t2/Im_offset_t2=R2とする。
LD温度T1のとき、LDのL−I特性は図6に示すようになる。そこで、図7において、APC制御前にオフセット発光分のPD電流量(Im_offset_t1)を計測し、レジスタに保存する。このとき、R1=R0にするためには、全ch光量分の電流量Im_t1=(R0/オフセット光量分の電流量Im_offset_t1)となるようなアナログ電圧値Vt1をVcont値に設定する必要がある。設定するアナログ電圧値はVt1=Rpd×Im_t1である。レジスタに保存されたデータからCPUにおいて本演算を行いVt1を算出し、アナログ電圧値Vcontを変化させる。
また、別の方法として、LD温度をモニタ(熱電対又はサーミスタなど)し、LD温度により設定するVcont値を決定する方法がある。(R0については上記の内容と同様である)。その構成は図9で説明する。
図8は、Ithの温度依存性を示したグラフである。
図9は、LD温度をモニタし、LD温度から設定するVcont値を決定する方法の構成を示す。
あらかじめ図8に示すような、Ithと温度の関係をメモリ(図9ではNVRAM)に記憶しておくことで、LD温度をモニタして、その温度からIthを決定することができる。
例えば、バイアス電流Ib_t1=Ith−Isub(定数)としたとき、レーザ発光閾値(Ith)以下の領域でのI−L特性より、Im_offset_t1がわかる。
このとき、Im_t1/Im_offset_t1=R0にするためには、全ch光量分の電流量Im_t1=(R0/Im_offset_t1)となるようなアナログ電圧値Vt1をVcont値に設定する必要がある。
設定するアナログ電圧値はVt1=Rpd×Im_t1である。そしてレジスタに保存されたデータからCPUにおいて本演算を行い、アナログ電圧値Vcontを変化させる。
図10は、APC制御の光量を変化させるときの、APCの制御フロー図である。図10は、有効走査領域よりも光源の大きさを変化させてラインAPCを行うときの制御を示すフローである。
まず画像形成のためにLDを点灯させる直前に初期化動作を実施(ステップS201)し、次に1ライン走査を行い(ステップS202)、APC制御動作以前にAPC制御対象以外のLDのオフセット発光量を計測(ステップS203)する。その光量に応じて、APC光量を制御するアナログ電圧Vcontの値を計算(ステップS204)し、Vcont値を設定する(ステップS205)。次に、対象chのAPC制御を行う(ステップS206)。次に設定したVcont値を初期値に戻す(ステップS207)。全chのAPC制御が完了したかを判断(ステップS208)し、完了していない場合(ステップS208、NO)は、ステップS203に戻る。完了している場合(ステップS208、YES)は、1ライン走査が終了かを判断(ステップS209)し、終了していない場合(ステップS209、NO)は、ステップS202に戻る。1ライン走査が終了した場合(ステップS209、YES)は、APC制御を終了する。
図11は、LD温度から設定するVcont値を決定する方法のAPCの制御フロー図である。
まず画像形成のためにLDを点灯させる直前に初期化動作を実施(ステップS301)し、次に1ライン走査を行い(ステップS302)、APC制御動作以前にAPC制御対象以外のLDの温度を計測(ステップS303)する。その光量に応じて、APC光量を制御するアナログ電圧Vcontの値を計算(ステップS304)し、Vcont値を設定する(ステップS305)。次に、対象chのAPC制御を行う(ステップS306)。次に設定したVcont値を初期値に戻す(ステップS307)。全chのAPC制御が完了したかを判断(ステップS308)し、完了していない場合(ステップS308、NO)は、ステップS303に戻る。完了している場合(ステップS308、YES)は、1ライン走査が終了かを判断(ステップS309)し、終了していない場合(ステップS309、NO)は、ステップS302に戻る。1ライン走査が終了した場合(ステップS309、YES)は、APC制御を終了する。
図12は、APC制御の光量を変化させるときの、APC点灯信号のタイミングチャート図である。
同期信号は、ライン間の同期を取るためのライン開始信号を示す。BD点灯信号は、同期信号を生成するために行う点灯(BD点灯)信号を示す。APC点灯信号は、APC点灯用信号を示す。Vcontは、APC光量を制御するアナログ電圧であり、この値が大きいほど、LDの光量が大きくなる。
また光ビーム走査装置において、APC点灯とは別に、装置に備えられた光ビーム検知手段(以下、同期検知板という)による光ビームの検知のための光ビーム点灯(以下、BD点灯という)が行われる。LDの光量を増加させてAPC点灯時を行った場合に、APC点灯とBD点灯とを異なるタイミングで行う。BD点灯は画像形成領域と同等レベルにすることで、同期検知板のPDに定格以上の光量が入射されて、劣化または破壊に至ることを防ぐようになっている。
図13は、光ビーム検知手段に入射される光量を減ずる減光フィルタを備えた光ビーム走査装置の図である。
図2の構成と同様なものについては、同じ符号を示す。図2の構成に加えて、センサに入射される手前に減光フィルタ60、61を設置し、PDに入射される光量を減らすような構成になっている。
また上記の実施形態によれば、光量調整を行う光源以外の微弱発光の影響を一定にする手段を備えているため、精度の高い光量調整行うことが出来る。
また上記の実施形態によれば、光量調整制御を行っている光源以外の微弱発光量を光量調整制御以前に計測しておき、光量調整制御時の光量を測定した微弱発光量に比例した大きさに変更するため、光量調整を行う光源以外の微弱発光の影響が一定になり、画像形成時の濃度ムラを無くすことができる。
また上記の実施形態によれば、LD温度をモニタし、その結果から、光量調整制御時の光量を微弱発光量に比例した大きさに変更するため、光量調整を行う光源以外の微弱発光の影響が一定になり、画像形成時の濃度ムラを無くすことができる。
また上記の実施形態によれば、装置に備えられた光ビーム検知手段による光ビームの検知のための光ビーム点灯と、光量調整制御点灯とを異なるタイミングで行うため、同期検知板のPDに定格以上の光量が入射され、劣化または破壊に至ることを防ぐことができる。
また上記の実施形態によれば、光ビーム検知手段に入射される光量を減ずる減光フィルタを、光ビーム検知手段直前に備えるため、光ビーム検知手段のPDに定格以上の光量が入射され、劣化または破壊に至ることを防ぐことができる。
また本発明は、複数の光源の温度を計測する温度計測手段を、有し、光量制御手段は、温度計測手段により計測された温度に基づいて複数の光源の光量を制御するようにしても良い。
また本発明の点灯制御手段は、光量検出手段により光量を検出するための光源の点灯と、光量制御手段により光量を制御した光源の点灯と、を異なるタイミングで行うようにしても良い。
また本発明は、光量検出手段に入射されるレーザ光の光量を減ずる減光フィルタを、有し、点灯制御手段は、光量検出手段により光量を検出するための光源の点灯と、光量制御手段により光量を制御した光源の点灯と、を同じタイミングで行うようにしても良い。
また本発明は、上記の光ビーム走査装置を搭載する画像形成装置であっても良い。
また本発明の光量制御工程は、複数の光源の温度を計測する温度計測工程により計測された温度に基づいて複数の光源の光量を制御するようにしても良い。
また本発明の点灯制御工程は、光量検出工程により光量を検出するための光源の点灯と、光量制御工程により光量を制御した光源の点灯と、を異なるタイミングで行うようにしても良い。
また本発明は、光量検出工程に入射されるレーザ光の光量を減ずる減光フィルタを、有し、点灯制御工程は、光量検出工程により光量を検出するための光源の点灯と、光量制御工程により光量を制御した光源の点灯と、を同じタイミングで行うようにしても良い。
本発明によれば、光ビーム走査装置及び画像形成装置などの用途に適用できる。
A 画像形成部
1 転写紙
2 搬送ベルト
3、4 搬送ローラ
5 給紙トレイ
6Y、6M 感光体ドラム
7Y 帯電器
8 露光器
9Y 現像器
10Y 感光体クリーナ
11Y レーザ光
13 定着器
14 レジストセンサ
21 スキャナ部
22 書込制御部
23 LD制御部
31、32、42、43 LDユニット
33、34 シリンダレンズ
35、36 反射ミラー
37 ポリゴンミラー
38、39 fθレンズ
40、41、46、47 第1ミラー
44、45、48、49 CLY
50、51 センサ
52、53、54、55 LD制御基板
特開2006−69205号公報

Claims (10)

  1. レーザ光を発生する複数の光源と、
    前記複数の光源の点灯を制御する点灯制御手段と、
    前記複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出手段と、
    前記光量検出手段により検出された前記複数の光源の光量を記憶する光量記憶手段と、
    前記光量記憶手段により記憶された各光量に基づいて前記複数の光源の光量を制御する光量制御手段と、
    を備え、
    前記光量制御手段は、前記光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、前記複数の光源の光量を制御することを特徴とする光ビーム走査装置。
  2. 前記複数の光源の温度を計測する温度計測手段を、有し、
    前記光量制御手段は、前記温度計測手段により計測された前記温度に基づいて前記複数の光源の光量を制御することを特徴とする請求項1に記載の光ビーム走査装置。
  3. 前記点灯制御手段は、前記光量検出手段により前記光量を検出するための前記光源の点灯と、前記光量制御手段により前記光量を制御した前記光源の点灯と、を異なるタイミングで行うことを特徴とする請求項1または2に記載の光ビーム走査装置。
  4. 前記光量検出手段に入射される前記レーザ光の光量を減ずる減光フィルタを、有し、
    前記点灯制御手段は、前記光量検出手段により前記光量を検出するための前記光源の点灯と、前記光量制御手段により前記光量を制御した前記光源の点灯と、を同じタイミングで行うことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光ビーム走査装置。
  5. 請求項1から4のいずれか1項に記載の光ビーム走査装置を備えることを特徴とする画像形成装置。
  6. レーザ光を発生する複数の光源の点灯を制御する点灯制御工程と、
    前記複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出工程と、
    前記光量検出工程により検出された前記複数の光源の光量を記憶する光量記憶工程と、
    前記光量記憶工程により記憶された各光量に基づいて、前記光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、前記複数の光源の光量を制御する光量制御工程と、を備えることを特徴とする光ビーム走査方法。
  7. 前記光量制御工程は、前記複数の光源の温度を計測する温度計測工程により計測された前記温度に基づいて前記複数の光源の光量を制御することを特徴とする請求項6に記載の光ビーム走査方法。
  8. 前記点灯制御工程は、前記光量検出工程により前記光量を検出するための前記光源の点灯と、前記光量制御工程により前記光量を制御した前記光源の点灯と、を異なるタイミングで行うことを特徴とする請求項6または7に記載の光ビーム走査方法。
  9. 前記光量検出工程に入射される前記レーザ光の光量を減ずる減光フィルタを、有し、
    前記点灯制御工程は、前記光量検出工程により前記光量を検出するための前記光源の点灯と、前記光量制御工程により前記光量を制御した前記光源の点灯と、を同じタイミングで行うことを特徴とする請求項6から8のいずれか1項に記載の光ビーム走査方法。
  10. レーザ光を発生する複数の光源の点灯を制御する点灯制御処理と、
    前記複数の光源のそれぞれのレーザ光の光量を検出する光量検出処理と、
    前記光量検出処理により検出された前記複数の光源の光量を記憶する光量記憶処理と、
    前記光量記憶処理により記憶された各光量に基づいて、前記光量を制御する光源以外のその他の光源からの微弱発光量の影響を一定となるように制御して、前記複数の光源の光量を制御する光量制御処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013055158A (ja) * 2011-09-01 2013-03-21 Canon Inc 露光装置及び画像形成装置
JP2017030234A (ja) * 2015-07-31 2017-02-09 株式会社リコー 光ビーム走査装置及び光ビーム走査方法

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