JP7313297B2 - イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7313297B2 JP7313297B2 JP2020021196A JP2020021196A JP7313297B2 JP 7313297 B2 JP7313297 B2 JP 7313297B2 JP 2020021196 A JP2020021196 A JP 2020021196A JP 2020021196 A JP2020021196 A JP 2020021196A JP 7313297 B2 JP7313297 B2 JP 7313297B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solid electrolyte
- ion
- layer
- ions
- behavior
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 27
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 190
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 131
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 claims description 78
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 50
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 16
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 6
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 28
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 13
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 12
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 6
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 239000007773 negative electrode material Substances 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 239000007774 positive electrode material Substances 0.000 description 6
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 5
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000003487 electrochemical reaction Methods 0.000 description 4
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 4
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 239000013543 active substance Substances 0.000 description 2
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 2
- 229910000625 lithium cobalt oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- GELKBWJHTRAYNV-UHFFFAOYSA-K lithium iron phosphate Chemical compound [Li+].[Fe+2].[O-]P([O-])([O-])=O GELKBWJHTRAYNV-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- BFZPBUKRYWOWDV-UHFFFAOYSA-N lithium;oxido(oxo)cobalt Chemical compound [Li+].[O-][Co]=O BFZPBUKRYWOWDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000733 Li alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KFDQGLPGKXUTMZ-UHFFFAOYSA-N [Mn].[Co].[Ni] Chemical compound [Mn].[Co].[Ni] KFDQGLPGKXUTMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910003480 inorganic solid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010416 ion conductor Substances 0.000 description 1
- 239000001989 lithium alloy Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007086 side reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/266—Measurement of magnetic or electric fields in the object; Lorentzmicroscopy
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/425—Structural combination with electronic components, e.g. electronic circuits integrated to the outside of the casing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/44—Methods for charging or discharging
- H01M10/443—Methods for charging or discharging in response to temperature
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
本発明は、イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡に関する。
特許文献１は、検出対象物４に対して接触又は非接触で配置される少なくとも１つの検出子２０を有する検出部２と、検出部２を制御する制御部３と、を備え、検出子２０は、少なくとも先端部２０ａが、内側から順に、金属からなる金属層２１と、イオンを吸放出するイオン吸放出物質からなるイオン吸放出物質層２２と、固体電解質からなる固体電解質層２３と、を含んで構成され、検出部２は、制御部３により制御されて、検出対象物４から先端部２０ａに移動するイオンの量、及び／又は、検出対象物４と先端部２０ａとの間で検出対象物４におけるイオンの状態に相関のある値を検出することにより、検出対象物４におけるイオンの挙動を検出する、イオン挙動検出装置１を開示している。ここで示した部品又は部材の符号は、特許文献１において使用されたものである。
しかしながら、検出部のイオン吸放出物質層にイオンが吸収あるいは放出することにより、それ自体の体積が変化したり、電位が変化したりする。また、イオンが吸収あるいは放出することにより、イオン吸放出物質層のイオン吸放出する能力も変化する。そのため、ソフトウェアによる補正が必要である。
本発明は、ソフトウェアによる補正がなくても安定な検出を行うことができるイオン挙動検出装置を提供することを目的とする。
（１） 本発明は、検出対象物におけるイオンの挙動を検出するイオン挙動検出装置であって、前記検出対象物に対して接触又は非接触で配置される少なくとも１つの検出子を有する検出部と、前記検出部を制御する制御部と、を備え、前記検出子は、内側の第一イオン吸放出物質層及び外側の第一固体電解質層から構成される先端部と、第二固体電解質層を介して前記第一イオン吸放出物質層と接続する第二イオン吸放出物質層と、前記第二イオン吸放出物質層の前記第二固体電解質層と接する側と対向する側に設けられた金属層と、を含み、前記第二イオン吸放出物質層と前記第一イオン吸放出物質層との間に、イオンの授受ができるように、電源が設けられており、前記検出部は、前記制御部により制御されて、前記検出対象物から前記先端部に移動するイオンの量、及び／又は、前記検出対象物と前記先端部との間で前記検出対象物におけるイオンの状態に相関のある値を検出することにより、前記検出対象物におけるイオンの挙動を検出する、イオン挙動検出装置を提供する。
（２） （１）のイオン挙動検出装置において、前記検出対象物は、二次電池の電極層又は固体電解質層であり、前記検出部は、少なくとも２つの前記検出子を有するとともに、前記制御部により制御されて、少なくとも２つの前記検出子の先端部が前記電極層又は固体電解質層の表面、表面近傍又は内部に配置された状態で、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出することが好ましい。
（３） （２）のイオン挙動検出装置において、前記検出部は、前記制御部により制御されて、少なくとも１つの前記検出子が前記電極層又は固体電解質層の面方向に沿って移動することにより、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出することが好ましい。
（４） （１）のイオン挙動検出装置において、前記検出対象物は、二次電池の電極層又は固体電解質層であり、前記検出部は、少なくとも１つの集電体をさらに有するとともに、前記制御部により制御されて、少なくとも１つの前記検出子の先端部が前記電極層又は固体電解質層の表面、表面近傍又は内部に配置され、且つ、少なくとも１つの前記集電体が前記電極層又は固体電解質層に接触した状態で、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出することが好ましい。
（５） （４）のイオン挙動検出装置において、前記検出部は、前記制御部により制御されて、少なくとも１つの前記検出子の先端部が前記電極層又は固体電解質層の表面又は表面近傍に配置され、且つ、少なくとも１つの前記集電体が前記電極層又は固体電解質層の内部に挿入された状態で、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出することが好ましい。
（６） 本発明は、（１）から（５）のいずれかのイオン挙動検出装置と、二次電池の充電、放電及び温度を制御する二次電池制御部と、を備え、前記検出対象物は、二次電池の電極層又は固体電解質層であり、前記二次電池制御部は、前記検出部により検出された前記電極層又は前記固体電解質層におけるイオンの挙動に基づいて、前記二次電池の充電、放電及び温度を制御する、二次電池装置を提供する。
（７） 本発明は、（１）から（５）のいずれかのイオン挙動検出装置を備え、前記検出子は、前記先端部が探針で構成されるカンチレバーである、走査型プローブ顕微鏡を提供する。
本発明は、特許文献１にかかる発明の改良発明である。本発明によれば、特許文献１にかかる発明の効果を奏する他に、検出部の第二イオン吸放出物質層と第一イオン吸放出物質層との間のイオンの授受によって、第一イオン吸放出物質層のイオンが常に一定に保つことができるので、ソフトウェアによる補正がなくても安定な検出を行うことができる。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
［イオン挙動検出装置］
図１は、本発明の一実施形態に係るイオン挙動検出装置の構成を示す図であり、検出子が検出対象物の表面に接触した状態を示す図である。図２は、本発明の一実施形態に係るイオン挙動検出装置の構成を示す図であり、検出子が検出対象物の表面近傍に配置された状態を示す図である。
図１は、本発明の一実施形態に係るイオン挙動検出装置の構成を示す図であり、検出子が検出対象物の表面に接触した状態を示す図である。図２は、本発明の一実施形態に係るイオン挙動検出装置の構成を示す図であり、検出子が検出対象物の表面近傍に配置された状態を示す図である。
図１及び図２に示すように、本実施形態に係るイオン挙動検出装置１は、検出対象物４におけるイオンＩの挙動を検出するものである。イオン挙動検出装置１は、検出部２と、制御部３と、を備える。
検出対象物４としては、特に限定されないが、例えば固体二次電池、中でも固体リチウム二次電池４０が好ましく用いられる。図１及び図２に示すように、固体リチウム二次電池４０は、正極層４１と、負極層４２と、固体電解質層４３と、参照極４４ａ，４４ｂと、を備える。
正極層４１は、正極活物質を有する層である。正極活物質としては、リチウムイオン二次電池や固体リチウム二次電池の正極活物質として従来公知の正極活物質が用いられる。具体的には、ＬＦＰ（リン酸鉄リチウム）、三元系（ニッケル・マンガン・コバルト三元系）、ＬＣＯ（コバルト酸リチウム）等が好ましく用いられる。
負極層４２は、負極活物質を有する層である。負極活物質としては、リチウムイオン二次電池や固体リチウム二次電池の負極活物質として従来公知の負極活物質が用いられる。具体的には、Ｌｉ金属やＬｉ合金、グラファイト、ＬＴＯ（チタン酸リチウム）等が好ましく用いられる。
固体電解質層４３は、固体電解質を有する層である。固体電解質としては、固体リチウム二次電池の固体電解質として従来公知の固体電解質が用いられる。具体的には、酸化物系固体電解質や硫化物系固体電解質が挙げられる。
参照極４４ａ，４４ｂは、正極層及び負極層それぞれの電位を正確に測定するためのものである。例えば、これら参照極４４ａ，４４ｂは、二次電池の充放電や温度等を制御する二次電池制御部（不図示）に電気的に接続されることで、正極層及び負極層それぞれの電位が正確に測定される。これにより、精度良く固体リチウム二次電池４０を制御できるようになっている。
固体リチウム二次電池４０は、図１及び図２に示すように、固体電解質層４３の両側に配置された正極層４１及び負極層４２で固体電解質層４３を挟持する構造となっており、正極層４１及び負極層４２の両外側から荷重Ｆが付加される構造となっている（図１及び図２中の矢印参照）。これにより、各層間の接触性（接触面積）が向上することで、より効率的な充放電が可能となっている。
検出部２は、検出対象物４におけるイオンの挙動（状態）を検出する。より詳しくは、検出部２は、後段で詳述する制御部３により制御（移動機構による位置制御、直流電源、交流電源、パルス電源による電流の供給制御、電流計や電圧計による電流値及び電圧値の取得）されて、検出対象物４におけるイオンの挙動（状態）を検出する。図１及び図２に示すように検出対象物として固体リチウム二次電池を用いた場合には、電極層を構成する正極層４１や負極層４２又は固体電解質層４３におけるイオンの挙動（状態）を検出する。
検出部２は、検出対象物４に対して接触又は非接触で配置される少なくとも１つの検出子２０を有する。なお、図１及び図２では、便宜上、１つの検出子２０のみを示しているが、検出子２０を複数有していてもよい。即ち、所謂シングルプローブ型に限られず、マルチプローブ型でもよい。
検出子２０は、例えば図１及び図２に示すようなカンチレバーが好ましく用いられる。ただし、これに限定されるものではなく、例えばレバーの先端部の形状が針状ではなく、矩形状であってもよい。この場合には、矩形状の検出子２０の平面状の先端面が検出対象物の表面に対して接触又は非接触するため、より広範囲のイオンの挙動を検出することが可能である。
検出子２０は、先端部２０ａと、第二イオン吸放出物質層２５と、金属層２１と、を含む。先端部２０ａは、内側の第一イオン吸放出物質層２２及び外側の第一固体電解質層２３から構成される。第二イオン吸放出物質層２５は、第二固体電解質層２６を介して第一イオン吸放出物質層２２と接続する。金属層２１は、第二イオン吸放出物質層２５の第二固体電解質層２６と接する側と対向する側に設けられる。
金属層２１は、金属からなる層である。金属の種類としては、特に限定されない。この金属層２１を構成する金属としては、例えばカンチレバーのレバー部２０ｂを構成する金属と同一の金属が好ましく用いられる。
第一イオン吸放出物質層２２及び第二イオン吸放出物質層２５は、イオンを吸放出するイオン吸放出物質からなる層である。イオン吸放出物質としては、上述の正極活物質や負極活物質が用いられる他、卑金属等のＨ＋系酸化還元活性物質やＯ２－系酸化還元活性物質が用いられる。検出対象物４として固体リチウム二次電池が用いられる場合には、イオン吸放出物質としてはリチウムイオン吸放出物質である必要があり、上述の正極活物質や負極活物質が用いられる。
第一固体電解質層２３及び第二固体電解質層２６は、固体電解質からなる層である。第一固体電解質層２３は、イオンのみが通過するため、イオンの移動により生じるイオン電流の検出が可能となっている。固体電解質としては、Ｌｉ＋伝導性電解質、ゲル＋溶液、ドライゲル、無機固体、酸化物系、硫化物系、高分子、水素化物、窒化物、ハロゲン化物等の種々の固体電解質を用いることができる。上述のイオン吸放出物質としてＨ＋系酸化還元活性物質が用いられる場合には、固体電解質としてプロトン伝導体が用いられ、上述のイオン吸放出物質としてＯ２－系酸化還元活性物質が用いられる場合には、固体電解質として酸素イオン伝導体が用いられる。
検出対象物４として固体リチウム二次電池が用いられる場合には、第一固体電解質層２３及び第二固体電解質層２６の固体電解質としては、上述の固体リチウム二次電池の固体電解質として従来公知の固体電解質が好ましく用いられ、酸化物系や硫化物系がより好ましく用いられる。酸化物系固体電解質の場合には、大気安定性に優れる気相法を利用することで、検出子２０の先端部２０ａの表面にコーティングすることが可能である。また、硫化物系固体電解質の場合には、大気安定性に難点があるものの、高いイオン導電率が得られる。
第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間に、イオンの授受ができるように、第一イオン吸放出物質層２２と金属層２１の間にパワーソースとなる電源１０が設けられている。イオン挙動検出装置１は、検出する前に、予め第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間のイオンの授受によって、第一イオン吸放出物質層２２のイオン濃度を調整してから、検出を開始する。なお、検出中においても、第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間のイオンの授受によって、第一イオン吸放出物質層２２のイオン濃度を調整することが好ましい。
上記構成を有する検出部２は、後段で詳述する制御部３により制御（移動機構による位置制御、直流電源、交流電源、パルス電源による電流の供給制御、電流計や電圧計による電流値及び電圧値の取得）されて、検出対象物４から先端部２０ａに移動するイオンの量、及び／又は、検出対象物４と先端部２０ａとの間で検出対象物４におけるイオンの状態に相関のある値を検出することにより、検出対象物４におけるイオンの挙動を検出する。
ここで、検出対象物４におけるイオンの状態に相関のある値とは、例えば、検出対象物４と先端部２０ａとの間に生じる静電力が例示される。この静電力の検出については、後段の本実施形態の変形例２で詳述する。
制御部３は、上述の検出部２を制御する。より詳しくは、例えば制御部３は、移動機構による位置制御、直流電源、交流電源、パルス電源による電流の供給制御、及び、電流計や電圧計による電流値及び電圧値の取得を、上述の検出部２に対して実行する。そのため、制御部３は、移動機構、電源、電流計及び電圧計（いずれも不図示）を備えている。
移動機構は、上述の検出子２０を、検出対象物４の表面に接触する位置又は表面近傍の位置に移動させる。具体的な移動機構は特に限定されず、例えば、ピエゾ素子、サーボモータ等の駆動源が用いられる。
制御部３が備える電源は、検出子２０に対して直流、交流、パルス電圧を印加する。本実施形態の検出子２０は、その先端部２０ａに第一イオン吸放出物質層２２を備えているため、直流電流を印加することにより、この第一イオン吸放出物質層２２からイオンが吸放出される。吸放出されるイオンは、第一イオン吸放出物質層２２の外側に積層されている第一固体電解質層２３を介して、検出対象物４との間を移動する。即ち、本実施形態のイオン挙動検出装置１によれば、持続的にイオンを検出対象物４に対して供給可能である結果、検出対象物４におけるイオンの挙動の検出を精度良く行うことが可能となっている。
しかし、第一イオン吸放出物質層２２は、イオンを吸放出することによって、それ自体の体積が変化したり、電位が変化したりすることがある。なお、イオンを吸放出することによって、第一イオン吸放出物質層２２のイオン吸放出する能力も変化する。そのため、従来はソフトウェアによる補正が必要であった。本実施形態では、第二固体電解質層２６を介して第一イオン吸放出物質層２２と接続する第二イオン吸放出物質層２５が設けられており、且つ、第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間に、イオンの授受ができるように、電源１０が設けられているため、第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間のイオン授受によって、第一イオン吸放出物質層２２におけるイオンを常に一定に保つことができるので、ソフトウェアによる補正がなくても安定にイオンの挙動を検出することができる。電源１０は、制御部３によって制御されてもよく、制御部３の一部としてもよい。
制御部３の電流計は、検出子２０を流れる直流電流値を測定して取得する。電圧計は、検出子２０に印加されている電圧値を測定して取得する。
なお、本実施形態に係るイオン挙動検出装置１は、さらに集電体（不図示）を備えていてもよい。この集電体と上述の検出子２０を検出対象物４に接触させることにより、検出対象物４から先端部２０ａに移動するイオンの量、及び／又は、検出対象物４と先端部２０ａとの間で検出対象物４におけるイオンの状態に相関のある値を検出することが可能である。
また、本実施形態では、検出対象物４には、電気化学反応、例えば電池反応が起こるように、電位や電流を制御できるような装置、例えばポテンショスタット等が接続されていてもよい。例えば、内部に電極が備えられ、内部の電位、電流の計測、制御が行われる構造となっていてもよい。また、通常の大気下以外に、例えば固体電解質層４３として硫化物系が用いられている場合等には、不活性雰囲気あるいは真空状態での検出が可能となるように隔離された構造になっていてもよい。検出対象物４に応力を発生させることが可能なアクチュエータ等が設置されていてもよい。
以上の構成を備える本実施形態に係るイオン挙動検出装置１は、図１に示すように検出子２０を検出対象物４の表面に接触させることで、検出対象物４から先端部２０ａに移動するイオンの量（イオン電流）を検出可能である。また、図２に示すように、検出子２０を検出対象物４の表面近傍に配置させることで、検出子２０と検出対象物４との間に隙間がある場合であってもイオンがホッピングして隙間（空間）を飛行して移動するため、イオンの量（イオン電流）を検出可能である。ただし、この場合にはイオンのホッピングが可能な位置に検出子２０を配置する必要がある。
以上により、検出されたイオン電流に基づいて、オームの法則によりイオン伝導抵抗を求めることができる。これにより、検出対象物４のイオンの挙動（状態）を検出することができる。
ここで、本実施形態の変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａについて、図３を参照して説明する。
図３は、本実施形態の変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａの構成を示す図である。図３に示すように、変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａは、上述のイオン挙動検出装置１に対して、ガス捕集部７を備える点が相違する。
図３は、本実施形態の変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａの構成を示す図である。図３に示すように、変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａは、上述のイオン挙動検出装置１に対して、ガス捕集部７を備える点が相違する。
ガス捕集部７は、図３に示すようにガス捕集管を備えており、発生したガスをこのガス捕集管により捕集する。
この変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａでは、例えば本装置を固体電池の開発時にＬｉイオン測定用ツールとして使う場合に、電気化学反応の副反応として発生するガスを捕集してその種類を分析して特定することにより、その分析結果を開発にフィードバックでき、効率的な開発が可能となる。
この変形例１に係るイオン挙動検出装置１Ａでは、例えば本装置を固体電池の開発時にＬｉイオン測定用ツールとして使う場合に、電気化学反応の副反応として発生するガスを捕集してその種類を分析して特定することにより、その分析結果を開発にフィードバックでき、効率的な開発が可能となる。
また、本実施形態の変形例２に係るイオン挙動検出装置１Ｂについて、図４を参照して説明する。
図４は、本実施形態の変形例２に係るイオン挙動検出装置１Ｂの構成を示す図である。図４に示すように、変形例２に係るイオン挙動検出装置１Ｂは、上述のイオン挙動検出装置１に対して、検出子２０のレバー部２０ｂが回動軸部２０ｃを備える点と、レーザ変位測定装置８を備える点が相違する。
図４は、本実施形態の変形例２に係るイオン挙動検出装置１Ｂの構成を示す図である。図４に示すように、変形例２に係るイオン挙動検出装置１Ｂは、上述のイオン挙動検出装置１に対して、検出子２０のレバー部２０ｂが回動軸部２０ｃを備える点と、レーザ変位測定装置８を備える点が相違する。
本変形例２の検出子２０の回動軸部２０ｃは、レバー部２０ｂの延びる方向に直交して設けられ、先端部２０ａを回動可能に支持している。
レーザ変位測定装置８は、検出子２０の先端部２０ａの変位を測定する。例えば、レーザ変位測定装置８は、レーザ出射部と、レーザ受光部とを有し、検出子２０の先端部２０ａと検出対象物４との間に生じる静電力によって回動して変位する先端部２０ａの位置を検出する。
本変形例では、検出対象物４と先端部２０ａとの間で検出対象物４におけるイオンの状態に相関のある値に相当する、先端部２０ａと検出対象物４との間に生じる静電力を検出することができ、これにより、検出対象物４におけるイオンの挙動を検出可能である。
次に、本実施形態の測定例１～６について、図面を参照して詳しく説明する。
ここで、図５は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例１を示す図である。図６は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例２を示す図である。図７は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例３を示す図である。図８は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例４を示す図である。図９は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例５を示す図である。図１０は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例６を示す図である。図１１は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例７を示す図である。図１２は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例８を示す図である。
なお、図５～図１２では、イオン挙動検出装置１を例に挙げて示しているが、変形例のイオン挙動検出装置１Ａ，１Ｂでも同様である。
ここで、図５は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例１を示す図である。図６は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例２を示す図である。図７は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例３を示す図である。図８は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例４を示す図である。図９は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例５を示す図である。図１０は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例６を示す図である。図１１は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例７を示す図である。図１２は、本実施形態に係るイオン挙動検出装置の測定例８を示す図である。
なお、図５～図１２では、イオン挙動検出装置１を例に挙げて示しているが、変形例のイオン挙動検出装置１Ａ，１Ｂでも同様である。
図５に示す測定例１では、２つの検出子２０をそれぞれ正極層４１の表面に接触した状態で互いに離隔して固定配置させ、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。これにより、正極層４１の内部におけるイオン伝導抵抗を検出することができる。なお、正極層４１と負極層４２の配置を逆とすることにより、負極層４２の内部におけるイオン伝導抵抗を検出することができる。
図６に示す測定例２では、２つの検出子２０をそれぞれ検出対象物４（正極層４１や負極層４２の電極層、あるいは固体電解質層４３等）の表面に接触した状態で互いに離隔して配置させ、一方のみを表面に沿って移動させながら、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。これにより、検出対象物４におけるイオン伝導分布を検出することができる。
図７に示す測定例３では、２つの検出子２０をそれぞれ正極層４１の内部まで挿入した状態で互いに離隔して固定配置させ、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。これにより、正極層４１のより内部におけるイオン伝導抵抗を検出することができる。なお、正極層４１と負極層４２の配置を逆とすることにより、負極層４２のより内部におけるイオン伝導抵抗を検出することができる。
図８に示す測定例４では、２つの検出子２０をそれぞれ検出対象物４（正極層４１や負極層４２の電極層、あるいは固体電解質層４３等）の内部まで挿入した状態で互いに離隔して配置させ、一方のみを検出対象物４の面方向に沿って移動させながら、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。これにより、検出対象物４におけるイオン伝導分布を検出することができる。
図９に示す測定例５では、１つの検出子２０と１つの集電体６をそれぞれ正極層４１あるいは負極層４２の表面に接触した状態で互いに離隔して配置させ、検出子２０のみを表面に沿って移動させながら、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。これにより、正極層４１あるいは負極層４２における活物質の活性を検出することができる。
図１０に示す測定例６では、１つの検出子２０と１つの集電体６をそれぞれ正極層４１あるいは負極層４２中の活物質単粒子に接触した状態で互いに離隔して配置させ、検出子２０のみを移動させながら、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。これにより、正極層４１あるいは負極層４２における活物質単粒子の活性を検出することができる。
図１１に示す測定例７では、１つの検出子２０と１つの集電体６をそれぞれ正極層４１あるいは負極層４２の表面に接触した状態で互いに離隔して配置させ、検出子２０のみを表面に沿って移動させながら、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加しないときの電圧値のみを電圧計３３により測定する。これにより、正極層４１あるいは負極層４２における活物質の局所電位を検出することができる。この場合検出部２は参照極としての機能も有するため、高精度の電位を検出することができる。
図１２に示す測定例８では、１つの検出子２０と１つの集電体６を検出対象物に接触した状態で互いに離隔して配置させ、検出子２０のみを移動させながら、電源３１により直流、交流、パルス電圧を印加したときの電流値及び電圧値を電流計３２及び電圧計３３により測定する。このとき、集電体６の先端を検出対象物の内部に挿入配置する。これにより、イオンの挙動（状態）を検出することができるうえ、その立体構造を検出できる。なお、この場合、集電体６は、先端以外を絶縁部材で被覆するのが好ましい。
本実施形態によれば、以下の効果が奏される。
本実施形態によれば、検出対象物から先端部に移動するイオンの量、及び／又は、検出対象物と先端部との間で検出対象物におけるイオンの状態に相関のある値を検出するため、検出対象物におけるイオンの挙動（状態）を精度良く検出できる。
特に、本実施形態では、第二固体電解質層２６を介して第一イオン吸放出物質層２２と接続する第二イオン吸放出物質層２５が設けられており、且つ、第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間に、イオンの授受ができるように、電源１０が設けられているため、第二イオン吸放出物質層２５と第一イオン吸放出物質層２２との間のイオン授受によって、第一イオン吸放出物質層２２におけるイオンが常に一定に保つことができるので、ソフトウェアによる補正がなくても安定にイオンの挙動を検出することができ、検出精度を更に高めた。
例えば走査型プローブ顕微鏡等では、プローブと試料間に流れる電流や原子間力を測定することで試料表面状態を観察するものであったが、本実施形態のイオン挙動検出装置によれば、イオン（陽イオン、陰イオン）の挙動（状態）を非溶液環境下で検出できる。加えて、電気化学反応を測定する場合には、荷電粒子が移動可能な電解液を用いることが必要であったが、本実施形態によれば、電解液を使用しないため、固体状態であってもイオンの挙動（状態）を検出できる。
また、本実施形態によれば、検出子の位置を制御しながら測定すれば、例えば微小な部分の電圧、電流分布を高精度に、位置情報とともに測定できる。従って、例えば固体二次電池の、電極層（正極層、負極層）や固体電解質層の電圧、電流分布を測定し、内部のイオン（荷電粒子）の状態や抵抗を高精度に検出することができるため、これら検出結果を電圧、電流、温度制御等にフィードバックさせることで、固体二次電池の性能や耐久性を向上させることができる。即ち、従来は電圧だけで判断していた電池の劣化状態を、本実施形態によれば、電極（活物質）や固体電解質の劣化状態を直接検出することができるため、精度良く固体二次電池の劣化抑制制御が可能である。
［二次電池装置］
図１３は、本実施形態に係る二次電池装置９の構成を示す図である。本実施形態に係る二次電池装置９は、上述の各イオン挙動検出装置を備えることを特徴とする。本実施形態に係る二次電池装置９は、例えば車両用の蓄電池を構成し、車両に搭載されてオンボードで機能する。
図１３は、本実施形態に係る二次電池装置９の構成を示す図である。本実施形態に係る二次電池装置９は、上述の各イオン挙動検出装置を備えることを特徴とする。本実施形態に係る二次電池装置９は、例えば車両用の蓄電池を構成し、車両に搭載されてオンボードで機能する。
図１３に示す通り、本実施形態に係る二次電池装置９は、二次電池制御部５を備える。二次電池制御部５は、二次電池の充電、放電及び温度を制御する。二次電池制御部５は、検出部２により検出された電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動に基づいて、二次電池の充電、放電及び温度を制御する。
従って本実施形態によれば、例えば検出子の位置を制御しながら測定すれば、例えば微小な部分の電圧、電流分布を高精度に、位置情報とともに測定できることから、固体二次電池の、電極層（正極層、負極層）や固体電解質層の電圧、電流分布を測定し、内部のイオン（荷電粒子）の状態や抵抗を高精度に検出することができるため、これら検出結果を電圧、電流、温度制御等にフィードバックさせることで、固体二次電池の性能や耐久性を向上させることができる。即ち、従来は電圧だけで判断していた電池の劣化状態を、本発明によれば、電極（活物質）や固体電解質の劣化状態を直接検出することができるため、精度良く固体二次電池の劣化抑制制御が可能である。
［走査型プローブ顕微鏡］
本実施形態に係る走査型プローブ顕微鏡は、上述の各イオン挙動検出装置を備えることを特徴とする。また、検出子２０は、先端部２０ａが探針で構成されるカンチレバーであることを特徴とする。
本実施形態に係る走査型プローブ顕微鏡は、上述の各イオン挙動検出装置を備えることを特徴とする。また、検出子２０は、先端部２０ａが探針で構成されるカンチレバーであることを特徴とする。
ここで、従来の走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）は、探針（プローブ）と試料間に作用する種々の物理量、例えばトンネル電流や原子間力を検出する等して、微小領域の表面形状や物性を測定するものである。しかしながら、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）では、プローブ（探針）と試料間に流れるトンネル電流、即ち電子を検出するものであり、イオンのような荷電粒子の発生、消失、移動等を直接観察することはできない。
また、試料で起こる電気化学反応を観察するために、試料の電位を制御しながら表面を観察可能な電気化学走査型トンネル顕微鏡が考案されている。しかしながら、電気化学走査型トンネル顕微鏡は、イオン伝導性を確保するため、イオン伝導性のある電解液を接触させる必要があり、検出対象物が溶液系に限定される。そのため、固体二次電池等の固体系への適用が不可能である。また、電解液を用いるため、減圧状態、低温環境下での測定が不可能であり、イオン伝導用電解液を充填させたプローブは絶縁性の高いガラスキャピラリーが使用されてきたことから、レーザ光等による変位測定で誤差が大きく正確な測定が不可能である。さらには、試料内に応力を発生させた状態での観察は不可能である。
これに対して本実施形態に係る走査型プローブ顕微鏡によれば、固体状態であってもイオンの挙動（状態）を検出できる。
これに対して本実施形態に係る走査型プローブ顕微鏡によれば、固体状態であってもイオンの挙動（状態）を検出できる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良は本発明に含まれる。
１ イオン挙動検出装置
１０ 電源
２ 検出部
２０ 検出子
２０ａ 先端部
２１ 金属層
２２ 第一イオン吸放出物質層
２３ 第一固体電解質層
２５ 第二イオン吸放出物質層
２６ 第二固体電解質層
３ 制御部
３１ 電源
３２ 電流計
３３ 電圧計
４ 検出対象物
４０ 固体リチウム二次電池
４１ 正極層
４２ 負極層
４３ 固体電解質層
４４ａ、４４ｂ 参照極
５ 二次電池制御部
６ 集電体
７ ガス捕集部
８ レーザ変位測定装置
９ 二次電池装置
１０ 電源
２ 検出部
２０ 検出子
２０ａ 先端部
２１ 金属層
２２ 第一イオン吸放出物質層
２３ 第一固体電解質層
２５ 第二イオン吸放出物質層
２６ 第二固体電解質層
３ 制御部
３１ 電源
３２ 電流計
３３ 電圧計
４ 検出対象物
４０ 固体リチウム二次電池
４１ 正極層
４２ 負極層
４３ 固体電解質層
４４ａ、４４ｂ 参照極
５ 二次電池制御部
６ 集電体
７ ガス捕集部
８ レーザ変位測定装置
９ 二次電池装置
Claims (7)
- 検出対象物におけるイオンの挙動を検出するイオン挙動検出装置であって、
前記検出対象物に対して接触又は非接触で配置される少なくとも１つの検出子を有する検出部と、
前記検出部を制御する制御部と、を備え、
前記検出子は、内側の第一イオン吸放出物質層及び外側の第一固体電解質層から構成される先端部と、第二固体電解質層を介して前記第一イオン吸放出物質層と接続する第二イオン吸放出物質層と、前記第二イオン吸放出物質層の前記第二固体電解質層と接する側と対向する側に設けられた金属層と、を含み、
前記第二イオン吸放出物質層と前記第一イオン吸放出物質層との間に、イオンの授受ができるように、電源が設けられており、
前記検出部は、前記制御部により制御されて、前記検出対象物から前記先端部に移動するイオンの量、及び／又は、前記検出対象物と前記先端部との間で前記検出対象物におけるイオンの状態に相関のある値を検出することにより、前記検出対象物におけるイオンの挙動を検出する、イオン挙動検出装置。 - 前記検出対象物は、二次電池の電極層又は固体電解質層であり、
前記検出部は、少なくとも２つの前記検出子を有するとともに、前記制御部により制御されて、少なくとも２つの前記検出子の先端部が前記電極層又は固体電解質層の表面、表面近傍又は内部に配置された状態で、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出する、請求項１に記載のイオン挙動検出装置。 - 前記検出部は、前記制御部により制御されて、少なくとも１つの前記検出子が前記電極層又は固体電解質層の面方向に沿って移動することにより、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出する、請求項２に記載のイオン挙動検出装置。
- 前記検出対象物は、二次電池の電極層又は固体電解質層であり、
前記検出部は、少なくとも１つの集電体をさらに有するとともに、前記制御部により制御されて、少なくとも１つの前記検出子の先端部が前記電極層又は固体電解質層の表面、表面近傍又は内部に配置され、且つ、少なくとも１つの前記集電体が前記電極層又は固体電解質層に接触した状態で、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出する、請求項１記載のイオン挙動検出装置。 - 前記検出部は、前記制御部により制御されて、少なくとも１つの前記検出子の先端部が前記電極層又は固体電解質層の表面又は表面近傍に配置され、且つ、少なくとも１つの前記集電体が前記電極層又は固体電解質層の内部に挿入された状態で、前記電極層又は固体電解質層におけるイオンの挙動を検出する、請求項４に記載のイオン挙動検出装置。
- 請求項１から５のいずれかに記載のイオン挙動検出装置と、
二次電池の充電、放電及び温度を制御する二次電池制御部と、を備え、
前記検出対象物は、二次電池の電極層又は固体電解質層であり、
前記二次電池制御部は、前記検出部により検出された前記電極層又は前記固体電解質層におけるイオンの挙動に基づいて、前記二次電池の充電、放電及び温度を制御する、二次電池装置。 - 請求項１から５のいずれかに記載のイオン挙動検出装置を備え、
前記検出子は、前記先端部が探針で構成されるカンチレバーである、走査型プローブ顕微鏡。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020021196A JP7313297B2 (ja) | 2020-02-12 | 2020-02-12 | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 |
| CN202110138556.7A CN113257652B (zh) | 2020-02-12 | 2021-02-01 | 离子行为检测装置、二次电池装置及扫描型探针显微镜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020021196A JP7313297B2 (ja) | 2020-02-12 | 2020-02-12 | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2021128009A JP2021128009A (ja) | 2021-09-02 |
| JP7313297B2 true JP7313297B2 (ja) | 2023-07-24 |
Family
ID=77180823
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020021196A Active JP7313297B2 (ja) | 2020-02-12 | 2020-02-12 | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7313297B2 (ja) |
| CN (1) | CN113257652B (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004167643A (ja) | 2002-11-21 | 2004-06-17 | Japan Science & Technology Agency | 微細金属原子構造物の作製方法及び装置 |
| JP2014502354A (ja) | 2010-11-24 | 2014-01-30 | ユーティー−バッテル， リミテッド ライアビリティ カンパニー | エネルギー貯蔵材料及びエネルギー変換材料におけるイオン拡散及び電気化学的活性の実空間マッピング |
| JP2019215187A (ja) | 2018-06-11 | 2019-12-19 | 本田技研工業株式会社 | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2653575B2 (ja) * | 1991-08-30 | 1997-09-17 | 株式会社東芝 | カンチレバー体及びこれを用いた表面修正装置 |
| JPH0964131A (ja) * | 1995-08-22 | 1997-03-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体の不純物濃度分布の測定方法 |
| US6583412B2 (en) * | 2000-03-17 | 2003-06-24 | University Of Utah Research Foundation | Scanning tunneling charge transfer microscope |
| US7554097B2 (en) * | 2003-10-16 | 2009-06-30 | Alis Corporation | Ion sources, systems and methods |
| JP3996134B2 (ja) * | 2004-02-18 | 2007-10-24 | 松下電器産業株式会社 | 顕微鏡装置 |
| US7612570B2 (en) * | 2006-08-30 | 2009-11-03 | Ricoh Company, Limited | Surface-potential distribution measuring apparatus, image carrier, and image forming apparatus |
| CN104715998B (zh) * | 2013-12-13 | 2017-02-15 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种离子信号强度在线自动校正系统及校正方法 |
-
2020
- 2020-02-12 JP JP2020021196A patent/JP7313297B2/ja active Active
-
2021
- 2021-02-01 CN CN202110138556.7A patent/CN113257652B/zh active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004167643A (ja) | 2002-11-21 | 2004-06-17 | Japan Science & Technology Agency | 微細金属原子構造物の作製方法及び装置 |
| JP2014502354A (ja) | 2010-11-24 | 2014-01-30 | ユーティー−バッテル， リミテッド ライアビリティ カンパニー | エネルギー貯蔵材料及びエネルギー変換材料におけるイオン拡散及び電気化学的活性の実空間マッピング |
| JP2019215187A (ja) | 2018-06-11 | 2019-12-19 | 本田技研工業株式会社 | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2021128009A (ja) | 2021-09-02 |
| CN113257652B (zh) | 2024-05-03 |
| CN113257652A (zh) | 2021-08-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Kalinin et al. | Li-ion dynamics and reactivity on the nanoscale | |
| JP6943811B2 (ja) | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 | |
| Dees et al. | Electrochemical modeling of lithium-ion positive electrodes during hybrid pulse power characterization tests | |
| Gao et al. | Synergetic effects of K+ and Mg 2+ ion intercalation on the electrochemical and actuation properties of the two-dimensional Ti 3 C 2 MXene | |
| US20140349211A1 (en) | Proton-Battery Based on Graphene Derivatives | |
| Chan et al. | Reliability and accuracy of measured overpotential in a three-electrode fuel cell system | |
| US6177799B1 (en) | Rechargeable battery electrode testing device | |
| Demirocak et al. | In situ atomic force microscopy analysis of morphology and particle size changes in lithium iron phosphate cathode during discharge | |
| Singer et al. | Kinetic study of low temperature capacity fading in Li-ion cells | |
| Wang et al. | Clear representation of surface pathway reactions at ag nanowire cathodes in all-solid Li–O2 batteries | |
| EP2172945A1 (en) | Solid ion-conducting material, electrochemical device utilizing the solid ion-conducting material, and method for production of the electrochemical device | |
| Ariyoshi et al. | Electrochemical Impedance Spectroscopy Part 2: Applications | |
| JP7313297B2 (ja) | イオン挙動検出装置、二次電池装置及び走査型プローブ顕微鏡 | |
| JP2007309797A (ja) | 抵抗測定装置及び抵抗測定方法 | |
| Wang et al. | Solid-state potentiometric CO 2 sensor combining Li 3 PO 4 with MoO 3-doped Li 2 CO 3 sensing electrode | |
| Huey et al. | Multi-modal characterization methods of solid-electrolyte interphase in silicon-graphite composite electrodes | |
| Hong et al. | Relationship Between Calorimetric and Structural Characteristics of Lithium‐Ion Cells II. Determination of Li Transport Properties | |
| Freiberg et al. | Surface Oxygen Depletion of Layered Transition Metal Oxides in Li-Ion Batteries Studied by Operando Ambient Pressure X-ray Photoelectron Spectroscopy | |
| Kalinin et al. | ESM of Ionic and Electrochemical Phenomena on the Nanoscale | |
| Liu et al. | ϑ-Sensors: A new concept for advanced solid-state ionic gas sensors | |
| Nozu et al. | Investigation of the life process of the electric double layer capacitor during float charging | |
| Korchagin et al. | Evaluation of components of Li-O2 battery positive electrode capacitance by a voltammetric method | |
| JP7304623B2 (ja) | オペランド計測を可能とした走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 | |
| JP3206964B2 (ja) | 電気化学メモリ素子の読みだし装置 | |
| Liu et al. | Application of the Laser Feedback Interferometry Technique to Expansion Measurement of Lithium-ion Battery (LIB). |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221128 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230627 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230628 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230711 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7313297 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |