JP7294620B2 - インターフェースユニット - Google Patents
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Description
本発明のインターフェースユニットにおいて、前記第1開口部は、前記第1領域に設けられるものである。
図2は、本発明の一実施形態によるインターフェースユニット100の縦断面図である。
本発明は、前述した寸法に限定されず、本発明が具現される多様な環境などによって多様に変更されうる。
1)試料の製造
2)実験の条件
3)実験の遂行
1)試料の製造
実施例1と同様に製造された試料が使われた。
レーザパワーは、180mW、連続波であり、DC電圧は、0~1.5kVであって、ニードルに印加され、DARTソース温度は、400℃であり、質量分析ユニット20は、positive mode(ionization mode)、FTMS(analyzer)、240,000(resolution)とした。突出管131は、備えられず、図3に示したように、長手方向に内径が均一なインターフェースユニット100が適用された。
実施例1と同じ実験方法で行われた。
図10は、光学ユニット40の概略図を示す。
レンズ45は、試料2の表面でのレーザビームのフォーカシング程度を調節することができる。
Claims (13)
- インターフェースユニットにおいて、
DARTイオン化ユニットの放出口と質量分析ユニットのインレットとの間に位置する管状の本体と、
前記本体の一側面に備えられる第1開口部であって、試料から脱着された被分析物が、前記本体内に流入されるように設けられた前記第1開口部と、を含み、
前記インターフェースユニットは、レーザーアブレーション-DART-MSシステムに使われ、
前記本体は、前記DARTイオン化ユニットから放出されるヘリウムビームと前記試料から脱着された被分析物とを流入されて、前記質量分析ユニットに伝達し、
レーザユニットから放出されるレーザビームが通過するように設けられた第2開口部をさらに含み、
前記第2開口部は、前記本体の側面のうち、前記第1開口部に対向する地点に位置し、
前記レーザビームは、前記第2開口部を及び第1開口部を通って前記試料に照射され、
コロナピンの端部が、前記インターフェースユニットの前記本体の内部に挿入されるように設けられた1つ以上の第3開口部をさらに含み、
前記第3開口部は、前記第2開口部付近に位置し、
前記コロナピンの端部が前記第3開口部を通じて前記インターフェースユニットの内部に挿入され、
前記コロナピンは、コロナ放電ユニットの高電圧の供給を通じて試料から脱着された被分析物のイオン化を促進するインターフェースユニット。 - 前記本体は、前記DARTイオン化ユニットから放出されるヘリウムビームと前記試料から脱着された被分析物とが流入される第1領域と、前記第1領域に連結され、前記第1領域のガスストリームを注入されて、前記質量分析ユニットに伝達する第2領域と、を含み、
前記第1領域の一端部に前記DARTイオン化ユニットから放出されるヘリウムビームが流入され、
前記第1領域の他端部は、前記第2領域と連結され、
前記第1領域での前記本体の内径は、前記第1領域の前記一端部から前記第1領域の前記他端部に向かうほど減る請求項1に記載のインターフェースユニット。 - 前記第1領域で前記本体の内部空間は、テーパー状に形成される請求項2に記載のインターフェースユニット。
- 前記第1開口部は、前記第1領域に設けられる請求項2または3に記載のインターフェースユニット。
- 前記第1開口部から前記インターフェースユニットの長手方向に垂直に試料装着ユニット側に延びた突出管をさらに含み、
前記試料装着ユニットに装着された前記試料から脱着された被分析物が、前記突出管を通って前記第1開口部を通って前記インターフェースユニットの内部に流入される請求項4に記載のインターフェースユニット。 - 前記第1領域の前記本体の他側面には、レーザユニットから放出されるレーザビームが通過するように設けられた第2開口部が設けられ、
前記第2開口部は、前記第1開口部と対面し、
前記レーザビームは、前記第1開口部及び前記第2開口部を貫通して前記試料に照射される請求項4または5に記載のインターフェースユニット。 - 前記第1領域には、コロナピンが前記本体の内部に挿入されるための少なくとも1つ以上の第3開口部が設けられる請求項6に記載のインターフェースユニット。
- 前記質量分析ユニットの前記インレットは、前記質量分析ユニットの内部に設けられる分析空間に前記質量分析ユニットの外部の被分析物が流入される穴が設けられるオリフィスと、前記オリフィスに連結されるインターフェースフランジと、を含み、
前記第2領域の一端部は、前記第1領域の前記他端部と連結され、
前記第2領域の他端部は、前記質量分析ユニットのインレットに連結され、
前記第2領域の前記他端部の前記本体の外径は、前記インターフェースフランジに前記オリフィスの前記穴と対面するように形成される吸入ホールの内径よりも小さい請求項2から7の何れか一項に記載のインターフェースユニット。 - 請求項1から請求項8のうち何れか一項に記載のインターフェースユニットを使用するレーザーアブレーション-DART-MSシステムにおいて、
前記試料が上に装着される試料装着ユニットと、
前記試料から被分析物を脱着させるように、前記試料にレーザビームを照射するレーザユニットを含む光学ユニットと、
前記試料から脱着された被分析物をイオン化させるようにヘリウムビームを提供するDARTイオン化ユニットと、
前記イオン化された被分析物に対して分析を行う質量分析ユニット(MS)と、を含み、
予め定められた位置に前記光学ユニットが装着され、前記光学ユニットを支持することができる光学ユニット支持部材をさらに含み、前記光学ユニット支持部材は、前記質量分析ユニットに固定されるレーザーアブレーション-DART-MSシステム。 - 前記質量分析ユニットのインレットは、前記質量分析ユニットの内部に設けられる分析空間に前記質量分析ユニットの外部の被分析物が流入される穴が設けられるオリフィスと、前記オリフィスに連結されるインターフェースフランジと、を含み、
前記インターフェースフランジは、前記オリフィスが設けられる前記質量分析ユニットの面に固定され、
前記光学ユニット支持部材は、前記インターフェースフランジに固定される、請求項9に記載のレーザーアブレーション-DART-MSシステム。 - 前記光学ユニット支持部材は、複数個の締結部を含み、
前記複数個の締結部は、前記インターフェースフランジのタップ部に対応する位置に設けられる少なくとも1つのインターフェースフランジ連結部を含み、
それぞれのインターフェースフランジ連結部は、それぞれのインターフェースフランジのタップ部に第1締結部材で結合される、請求項10に記載のレーザーアブレーション-DART-MSシステム。 - 前記複数個の締結部は、前記光学ユニットが結合される少なくとも1つの光学ユニット連結部をさらに含み、
それぞれの光学ユニット連結部は、光学ユニットの締結部に第2締結部材で結合され、
前記光学ユニットは、ミラー、移動ステージ、絞り、レンズのうち少なくとも何れか1つをさらに含む、請求項11に記載のレーザーアブレーション-DART-MSシステム。 - 前記光学ユニット支持部材は、上端プレートと下端プレートとを含み、
前記複数個の締結部は、前記上端プレートと前記下端プレートとが互いに結合される少なくとも1つの上下端プレート結合部を含み、
前記下端プレートの上下端プレート結合部と前記上端プレートの上下端プレート結合部とが重なる部分に第3締結部材で固定させる、請求項11または12に記載のレーザーアブレーション-DART-MSシステム。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070164209A1 (en) | 2002-05-31 | 2007-07-19 | Balogh Michael P | High speed combination multi-mode ionization source for mass spectrometers |
US20080048107A1 (en) | 2006-08-22 | 2008-02-28 | Mcewen Charles Nehemiah | Ion source for a mass spectrometer |
US20090272893A1 (en) | 2008-05-01 | 2009-11-05 | Hieftje Gary M | Laser ablation flowing atmospheric-pressure afterglow for ambient mass spectrometry |
US20100288920A1 (en) | 2007-12-18 | 2010-11-18 | Science & Engineering Services, Inc. | Method and apparatus for ion fragmentation in mass spectrometry |
JP2011232180A (ja) | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2015165243A (ja) | 2014-02-04 | 2015-09-17 | 株式会社バイオクロマト | 質量分析装置用連結デバイス |
JP2016519393A (ja) | 2013-03-22 | 2016-06-30 | イーティーエイチ・チューリッヒ | レーザ・アブレーション・セル |
JP2016522887A (ja) | 2013-04-17 | 2016-08-04 | フリューダイム カナダ インコーポレイテッド | マス・サイトメトリーのための試料分析 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2731512B2 (ja) * | 1994-10-07 | 1998-03-25 | 株式会社日立製作所 | プラズマ質量分析計 |
KR19990041082U (ko) | 1998-05-13 | 1999-12-15 | 구자홍 | 레이저 가공기의 레이저 가공부 지지장치 |
US7388195B2 (en) * | 2004-09-30 | 2008-06-17 | Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Apparatus and systems for processing samples for analysis via ion mobility spectrometry |
US7262841B2 (en) * | 2005-03-17 | 2007-08-28 | Agilent Technologies, Inc. | Laser alignment for ion source |
JP4866098B2 (ja) | 2006-02-21 | 2012-02-01 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 質量分析装置 |
CN101520432B (zh) * | 2008-02-28 | 2013-04-24 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 用于质谱仪的解吸电离装置 |
JP2010014539A (ja) | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Tokyo Metropolitan Univ | 液体試料イオン化法、質量分析法及びそれらの装置 |
JP2010271219A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Fujifilm Corp | 質量分析装置、及びそれを用いた質量分析方法 |
JP6253893B2 (ja) | 2013-04-16 | 2017-12-27 | 株式会社 資生堂 | 質量分析方法、イオン生成装置及び質量分析システム |
CN108807131B (zh) | 2013-07-19 | 2021-09-14 | 史密斯探测公司 | 具有降低平均流速的质谱仪入口 |
US9691598B2 (en) | 2013-08-02 | 2017-06-27 | Shimadzu Corporation | Ionizer and mass spectrometer including first section for ionizing sample under atmospheric pressure while vaporizing or desorbing the sample component and second section for generating corona discharge |
CN103698385B (zh) * | 2013-12-06 | 2015-09-23 | 宁波检验检疫科学技术研究院 | 一种固体样品的直接分析装置 |
WO2015118681A1 (ja) | 2014-02-10 | 2015-08-13 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
WO2015140491A1 (en) * | 2014-03-18 | 2015-09-24 | Micromass Uk Limited | Liquid extraction matrix assisted laser desorption ionisation ion source |
CN105021718B (zh) | 2014-04-28 | 2017-06-30 | 南京工业大学 | 一种液相色谱与敞开式离子化质谱在线联用接口和检测方法 |
DE102014226039A1 (de) | 2014-12-16 | 2016-06-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ionisierungseinrichtung und Massenspektrometer damit |
CN110057901B (zh) | 2015-03-06 | 2022-07-01 | 英国质谱公司 | 拭子和活检样品的快速蒸发电离质谱和解吸电喷雾电离质谱分析 |
CN107548516B (zh) | 2015-03-06 | 2019-11-15 | 英国质谱公司 | 用于改进电离的碰撞表面 |
KR101748525B1 (ko) | 2016-02-02 | 2017-06-16 | 주식회사 엘지화학 | 질량 분석 이미징에 의해 시료 표면의 물질 분포를 분석하는 방법 및 시스템 |
KR101787579B1 (ko) | 2016-03-31 | 2017-10-19 | 주식회사 아스타 | 근적외선 형광을 이용한 질량 분석 장치 및 방법 |
KR101845733B1 (ko) | 2016-04-22 | 2018-04-05 | 주식회사 아스타 | 레이저의 빔 크기 및 강도 조절이 가능한 질량 분석 장치 및 질량 분석용 시료에 레이저를 조사하는 방법 |
EP3240014A1 (en) * | 2016-04-29 | 2017-11-01 | ETH Zurich | Laser ablation cell |
EP3585516A4 (en) | 2017-02-22 | 2020-08-19 | BASF Corporation | EMISSION TREATMENT CATALYST FOR THE REMOVAL OF NITROGEN OXIDES |
KR102375568B1 (ko) | 2017-03-24 | 2022-03-16 | 도레이첨단소재 주식회사 | 2가 양이온에 대한 선택적 제거능을 가지는 코팅 조성물 및 이를 이용한 분리막 |
KR102171076B1 (ko) | 2018-03-21 | 2020-10-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 광전자 소자용 조성물, 유기 광전자 소자 및 표시 장치 |
KR102532321B1 (ko) | 2018-03-23 | 2023-05-15 | 현대자동차주식회사 | 무단변속기 차량의 풀리 제어방법 |
KR102143093B1 (ko) | 2018-10-12 | 2020-08-10 | (주) 세종이엠씨 | 전자파 공급장치 |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070164209A1 (en) | 2002-05-31 | 2007-07-19 | Balogh Michael P | High speed combination multi-mode ionization source for mass spectrometers |
US20080048107A1 (en) | 2006-08-22 | 2008-02-28 | Mcewen Charles Nehemiah | Ion source for a mass spectrometer |
US20100288920A1 (en) | 2007-12-18 | 2010-11-18 | Science & Engineering Services, Inc. | Method and apparatus for ion fragmentation in mass spectrometry |
US20090272893A1 (en) | 2008-05-01 | 2009-11-05 | Hieftje Gary M | Laser ablation flowing atmospheric-pressure afterglow for ambient mass spectrometry |
JP2011232180A (ja) | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
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