JP7280977B2 - 荷電粒子ビーム装置 - Google Patents
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Description
(実施の形態1)
ある。図1に示すように、荷電粒子ビーム装置は、カラム(電子光学鏡筒)100、電子ビーム(荷電粒子ビーム)102を照射(射出)する荷電粒子銃(電子銃)101、および、電子ビーム102を集束する集束レンズ103を備えている。荷電粒子ビーム装置は、さらに、電子ビーム102の方向を変え、電子ビーム102を測定対象物である試料109上で走査する位置を制御する偏向電極107、電子ビーム102を偏向してアパーチャ111に当てることにより試料109上への照射を遮断する複数のブランキング電極104、および、電子ビーム102を再び集束させる対物レンズ108を備えている。荷電粒子ビーム装置は、さらに、試料109を搭載して移動可能なステージ110、および、電子ビーム102が照射されて走査された試料109から放出される2次電子106を検出する検出器105を備えている。
<本実施の形態の効果>
<変形例1>
<変形例2>
<変形例3>
(実施の形態2)
(実施の形態3)
<変形例>
(実施の形態4)
(実施の形態5)
(実施の形態6)
13、14、22、25、33、34、53、54 PチャンネルMOSFET
101 電子銃
102 電子ビーム
104 ブランキング電極
104a 第1電極
104b 第2電極
110 ステージ
111 アパーチャ
201 ブランキング制御回路
202~205 スイッチング回路
206 電圧源
208 共通のグランド
209 電源ノイズ
210 GNDノイズ
Claims (11)
- 試料を搭載可能なステージと、
前記試料に対し荷電粒子を射出する荷電粒子銃と、
電圧源と、
ブランキング制御回路と、
を有し、
前記ブランキング制御回路は:
共通グランドと、
前記電圧源から電圧が供給される第1スイッチング回路と、
一端が前記共通グランドに接続された第2スイッチング回路と、
一端が前記共通グランドに接続された第3スイッチング回路と、
前記電圧源から電圧が供給される第4スイッチング回路と、
前記第1スイッチング回路と前記第2スイッチング回路とに接続された、第1ブランキング電極と、
前記第1ブランキング電極と対向し、前記第3スイッチング回路と前記第4スイッチング回路とに接続された、第2ブランキング電極と、
前記第1スイッチング回路、前記第2スイッチング回路、前記第3スイッチング回路および前記第4スイッチング回路を制御する制御回路と、
を有し、
前記制御回路は、
ブランキングをONするときは、前記第1スイッチング回路および前記第3スイッチング回路を導通状態とし、且つ、前記第2スイッチング回路および前記第4スイッチング回路を非導通状態とし、
ブランキングをOFFするときは、前記第2スイッチング回路および前記第3スイッチング回路を導通状態とし、且つ、前記第1スイッチング回路および第4スイッチング回路を非導通状態とする、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項1記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記第1スイッチング回路、前記第2スイッチング回路、前記第3スイッチング回路および前記第4スイッチング回路のそれぞれは、MOSFETまたはバイポーラトランジスタで構成されたトランジスタ素子であり、
前記第2スイッチング回路および前記第3スイッチング回路のそれぞれの、前記共通グランドに接続された端子は、ソース端子またはエミッタ端子であり、
前記第1スイッチング回路および前記第4スイッチング回路のそれぞれの、前記電圧源に接続された端子は、ソース端子またはエミッタ端子である、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項2記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記電圧源は、負の電圧を生成し、
前記第1スイッチング回路は、第1NチャンネルMOSFETで構成され、
前記第2スイッチング回路は、第1PチャンネルMOSFETで構成され、
前記第3スイッチング回路は、第2PチャンネルMOSFETで構成され、
前記第4スイッチング回路は、第2NチャンネルMOSFETで構成されている、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項2記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記電圧源は、正の電圧を生成し、
前記第1スイッチング回路は、第1PチャンネルMOSFETで構成され、
前記第2スイッチング回路は、第1NチャンネルMOSFETで構成され、
前記第3スイッチング回路は、第2NチャンネルMOSFETで構成され、
前記第4スイッチング回路は、第2PチャンネルMOSFETで構成されている、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項1記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記第1スイッチング回路または前記第4スイッチング回路に、容量値を調整可能な可変容量コンデンサが並列に接続され、
前記第2スイッチング回路または前記第3スイッチング回路に、抵抗値を調整可能な可変抵抗が直列に接続されている、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項3記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記第1PチャンネルMOSFETのドレイン端子にアノードが接続され、前記第1PチャンネルMOSFETのソース端子にカソードが接続された第1ダイオードと、
前記第2PチャンネルMOSFETのドレイン端子にアノードが接続され、前記第2PチャンネルMOSFETのソース端子にカソードが接続された第2ダイオードと、
をさらに有する、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項4記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記第1NチャンネルMOSFETのソース端子にアノードが接続され、前記第1NチャンネルMOSFETのドレイン端子にカソードが接続された第3ダイオードと、
前記第2NチャンネルMOSFETのソース端子にアノードが接続され、前記第2NチャンネルMOSFETのドレイン端子にカソードが接続された第4ダイオードと、
をさらに有する、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項1記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記電圧源は、負の電圧を生成し、
前記第1スイッチング回路は、第1抵抗で構成され、
前記第2スイッチング回路は、第1トランジスタ素子で構成され、
前記第3スイッチング回路は、第2トランジスタ素子で構成され、
前記第4スイッチング回路は、第2抵抗で構成され、
前記第2スイッチング回路および前記第3スイッチング回路のそれぞれの、前記共通グランドに接続された端子は、ソース端子またはエミッタ端子である、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項1記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記電圧源は、負の電圧を生成し、
前記第1スイッチング回路は、第3トランジスタ素子で構成され、
前記第2スイッチング回路は、第3抵抗で構成され、
前記第3スイッチング回路は、第4抵抗で構成され、
前記第4スイッチング回路は、第4トランジスタ素子で構成され、
前記第1スイッチング回路および前記第4スイッチング回路のそれぞれの、前記電圧源に接続された端子は、ソース端子またはエミッタ端子である、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項1記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記第1スイッチング回路および前記第2スイッチング回路の相互間の第1接続点と、前記第1ブランキング電極との間に第5抵抗が直列に接続され、
前記第3スイッチング回路および前記第4スイッチング回路の相互間の第2接続点と、前記第1ブランキング電極との間に第6抵抗が直列に接続されている、荷電粒子ビーム装置。 - 請求項1記載の荷電粒子ビーム装置において、
前記電圧源から電圧が供給される第5スイッチング回路と、
一端が前記共通グランドに接続された第6スイッチング回路と、
一端が前記共通グランドに接続された第7スイッチング回路と、
前記電圧源から電圧が供給される第8スイッチング回路と、
前記第5スイッチング回路と前記第6スイッチング回路とに接続された、第3ブランキング電極と、
前記第3ブランキング電極と対向し、前記第7スイッチング回路と前記第8スイッチング回路とに接続された、第4ブランキング電極と、
をさらに有し、
前記制御回路は、前記第5スイッチング回路、前記第6スイッチング回路、前記第7スイッチング回路および前記第8スイッチング回路を制御し、
前記制御回路は、ブランキングをOFFするときは、前記第6スイッチング回路および前記第7スイッチング回路を導通状態とし、且つ、前記第5スイッチング回路および前記第8スイッチング回路を非導通状態とする、荷電粒子ビーム装置。
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