JP7280348B2 - 基板容器用の膜ディフューザ - Google Patents
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Description
「一体の」または「一体構造」という語句は、単一の部品である構造を指すが、それは個別に名づけられ得る要素、単一の部材である要素、または、複数の部品から形成され、複数の部品は単一の部品の構造を形成するために、(溶接、恒久的な接着剤、恒久的な留め具、または非破壊的に元に戻すことができない方法などによって)恒久的に接合される要素、を含み得る。
以下の詳細な説明は、異なる図面内の同様の要素が同じ番号を付けられた図面を参照して読まれるべきである。詳細な説明および必ずしも縮尺どおりではない図面は、例示的な実施形態を示し、発明の範囲を限定するように意図されていない。典型的な実施形態は、例示としてのみ意図されている。任意の例示的な実施形態の選択された特徴は、反対に明確に述べられていない限り、追加の実施形態に取り込まれ得る。
以下の番号が振られた実施形態は、本開示をさらに説明することを意図しているが、本開示を過度に限定するように解釈されるべきではない。
a)開口を備える容器部、開口を密閉するように適合された扉、およびパージガスを基板容器の内部に入れるためのパージポート、を備える基板容器と、
b)パージポートに取付けられるパージディフューザであって、パージディフューザは、
i)内部パージガスチャネル、1つ以上のディフューザポート、および外表面、を有するパージディフューザコアと、
ii)パージディフューザコアの外表面に固定される濾過材と、を備え、
内部パージガスチャネルへ流入し、ディフューザポートを通って内部パージガスチャネルから流出し、そして濾過材を通って基板容器の内部へ流入するように、パージポートを通って流入するパージガスのための、連続した通路が存在するように配置されるパージディフューザと、を備える、システム。
実施形態3 パージディフューザコアが、射出成形可能な材料からなり、一回の成形で製造される単一の部材である、実施形態1に記載のシステム。
実施形態5 濾過材がパージディフューザコアの外表面に直接接合される、実施形態1から4のいずれかに記載のシステム。
実施形態7 濾過材が、熱溶接接合、インパルス溶着、および超音波溶接接合から選択される溶接接合によって、パージディフューザコアの外表面に直接接合される、実施形態5に記載のシステム。
実施形態9 濾過材が、濾過材ブラケットによってパージディフューザコアの外表面に固定され、濾過材はパージディフューザコアと濾過材ブラケットとの間に固定され、濾過材ブラケットはパージディフューザコアに取付けられる、実施形態1から4のいずれかに記載のシステム。
実施形態12 パージポートが、基板容器の内部を挟んで基板容器の反対側の壁に面する基板容器の第1の壁に含まれ、パージポートと反対側の壁との最小の距離は基板容器の内部の高さであり、パージディフューザは、パージディフューザがパージポートに取付けられる際に反対側の壁に向けて延びる距離であるパージディフューザの長さを有し、パージディフューザの長さは基板容器の内部の高さの85パーセント以下である、実施形態1から11のいずれかに記載のシステム。
実施形態14 パージディフューザの長さが基板容器の内部の高さの少なくとも20パーセントである、実施形態12または13に記載のシステム。
実施形態17 内部パージガスチャネルの長さが基板容器の内部の高さの少なくとも20パーセントである、実施形態14または15に記載のシステム。
実施形態22 パージポートコネクタに最も近いディフューザポートとパージポートコネクタから最も離れたディフューザポートとの間の内部パージガスチャネルの各部分が、パージディフューザの長さに対して垂直な線に沿ってディフューザポートを介してアクセスされるように、ディフューザポートが互い違いに配置される、実施形態1から21のいずれかに記載のシステム。
実施形態24 基板が半導体ウエハである、実施形態1から23のいずれかに記載のシステム。
i)内部パージガスチャネル、1つ以上のディフューザポート、および外表面、を有するパージディフューザコアと、
ii)パージディフューザコアの外表面に固定される濾過材と、
iii)基板を搬送するための基板容器のパージポートにパージディフューザを取付けるための、パージポートコネクタと、を備え、
内部パージガスチャネルへ流入し、ディフューザポートを通って内部パージガスチャネルから流出し、そして濾過材を通るように、パージポートコネクタを通って流入するパージガスのための、連続した通路が存在するように配置される、パージディフューザ。
実施形態27 パージディフューザコアが単一の部材である、実施形態25に記載のパージディフューザ。
実施形態30 濾過材がパージディフューザコアの外表面に直接接合される、実施形態25から29のいずれかに記載のパージディフューザ。
実施形態32 濾過材が、熱溶接接合、インパルス溶着、および超音波溶接接合から選択される溶接接合によって、パージディフューザコアの外表面に直接接合される、実施形態31に記載のパージディフューザ。
実施形態34 濾過材が、濾過材ブラケットによってパージディフューザコアの外表面に固定され、濾過材はパージディフューザコアと濾過材ブラケットとの間に固定され、濾過材ブラケットはパージディフューザコアに取付けられる、実施形態25から29のいずれかに記載のパージディフューザ。
実施形態37 パージディフューザコアがさらに、内部パージガスチャネルに接するパージディフューザコアの内面から内部パージガスチャネルへ突出する1つ以上の分流加減器を備える、実施形態25から36のいずれかに記載のパージディフューザ。
実施形態41 パージポートコネクタに最も近いディフューザポートとパージポートコネクタから最も離れたディフューザポートとの間の内部パージガスチャネルの各部分が、パージディフューザの長さに対して垂直な線に沿ってディフューザポートを介してアクセスされるように、ディフューザポートが互い違いに配置される、実施形態25から40のいずれかに記載のパージディフューザ。
a)パージディフューザコアを一つの単一の部材として成形することと、
b)濾過材をパージディフューザコアの外表面に固定することと、を含む方法。
実施形態44 ステップb)が溶接によって達成される、実施形態42または43に記載の方法。
実施形態46 ステップb)が濾過材ブラケットを取付けることによって達成され、濾過材はパージディフューザコアと濾過材ブラケットとの間に固定され、濾過材ブラケットはパージディフューザコアに取付けられる、実施形態42または43に記載の方法。
実施形態49 パージガスが清潔な乾いた空気(CDA)である、実施形態45に記載の方法。
Claims (10)
- 基板を搬送するためのシステムで使用されるためのパージディフューザであって、
i)内部パージガスチャネル、1つ以上のディフューザポート、および外表面、を有するパージディフューザコアと、
ii)前記パージディフューザコアの前記外表面に固定される濾過材と、
iii)基板を搬送するための基板容器のパージポートに前記パージディフューザを取付けるための、パージポートコネクタと、を備え、
前記基板容器は、前記基板の保管のために前記パージディフューザコアの長手方向に沿って配列された複数のスロットを規定する基板支持部を備え、
前記パージディフューザコアの長さは、前記複数のスロットにおける最下段のスロットから最上段のスロットまでの距離よりも短くなっており、
前記内部パージガスチャネルへ流入し、前記ディフューザポートを通って前記内部パージガスチャネルから流出し、そして前記濾過材を通るように、前記パージポートコネクタを通って流入するパージガスのための、連続した通路が存在するように配置される、パージディフューザ。 - 前記パージディフューザコアが単一の部材である、請求項1に記載のパージディフューザ。
- 前記濾過材が、前記パージディフューザコアの前記外表面に直接接合される、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 前記濾過材上に配置されるスクリムをさらに備える、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 前記濾過材が、ポリオレフィン、ポリエステル、ポリスルホン、またはフルオロポリマを含む多孔性で疎水性のフィルムである、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 前記濾過材が、ポリオレフィン、ポリエステル、ポリスルホン、またはフルオロポリマを含む疎水性の膜である、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 前記濾過材が、疎水性の超高分子量ポリエチレン膜である、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 前記パージディフューザコアがさらに、前記内部パージガスチャネルに接する前記パージディフューザコアの内面から前記内部パージガスチャネルへ突出する1つ以上の分流加減器を備える、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 前記パージポートコネクタに最も近い前記ディフューザポートと前記パージポートコネクタから最も離れた前記ディフューザポートとの間の前記内部パージガスチャネルの各部分が、前記パージディフューザの長さに対して垂直な線に沿って前記ディフューザポートを介してアクセスされるように、前記ディフューザポートが互い違いに配置される、請求項1または2に記載のパージディフューザ。
- 基板を搬送するためのシステムであって、
a)基板容器であって、開口を備える容器部、前記開口に受け取られるように適合された扉、およびパージガスを前記基板容器の内部に入れるためのパージポート、を備える基板容器と、
b)前記パージポートコネクタによって前記パージポートに取付けられる、請求項1または2に記載のパージディフューザであって、前記内部パージガスチャネルへ流入し、前記ディフューザポートを通って前記内部パージガスチャネルから流出し、そして前記濾過材を通って前記基板容器の内部へ流入するように、前記パージポートを通って流入するパージガスのための、連続した通路が存在するように配置されるパージディフューザと、を備える、システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023078652A JP7529849B2 (ja) | 2018-08-28 | 2023-05-11 | 基板容器用の膜ディフューザ |
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201862723979P | 2018-08-28 | 2018-08-28 | |
US62/723,979 | 2018-08-28 | ||
US201962837389P | 2019-04-23 | 2019-04-23 | |
US62/837,389 | 2019-04-23 | ||
US201962874647P | 2019-07-16 | 2019-07-16 | |
US62/874,647 | 2019-07-16 | ||
PCT/US2019/048247 WO2020046867A1 (en) | 2018-08-28 | 2019-08-27 | Membrane diffuser for a substrate container |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023078652A Division JP7529849B2 (ja) | 2018-08-28 | 2023-05-11 | 基板容器用の膜ディフューザ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022517892A JP2022517892A (ja) | 2022-03-11 |
JP7280348B2 true JP7280348B2 (ja) | 2023-05-23 |
Family
ID=69640054
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021505233A Active JP7280348B2 (ja) | 2018-08-28 | 2019-08-27 | 基板容器用の膜ディフューザ |
JP2023078652A Active JP7529849B2 (ja) | 2018-08-28 | 2023-05-11 | 基板容器用の膜ディフューザ |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023078652A Active JP7529849B2 (ja) | 2018-08-28 | 2023-05-11 | 基板容器用の膜ディフューザ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11610795B2 (ja) |
JP (2) | JP7280348B2 (ja) |
KR (2) | KR20230134612A (ja) |
CN (1) | CN112640079A (ja) |
SG (1) | SG11202100743XA (ja) |
TW (1) | TWI726402B (ja) |
WO (1) | WO2020046867A1 (ja) |
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-
2019
- 2019-08-27 KR KR1020237030360A patent/KR20230134612A/ko not_active Application Discontinuation
- 2019-08-27 SG SG11202100743XA patent/SG11202100743XA/en unknown
- 2019-08-27 JP JP2021505233A patent/JP7280348B2/ja active Active
- 2019-08-27 CN CN201980055888.XA patent/CN112640079A/zh active Pending
- 2019-08-27 US US16/552,005 patent/US11610795B2/en active Active
- 2019-08-27 WO PCT/US2019/048247 patent/WO2020046867A1/en active Application Filing
- 2019-08-27 KR KR1020217005299A patent/KR20210027495A/ko not_active IP Right Cessation
- 2019-08-28 TW TW108130748A patent/TWI726402B/zh active
-
2023
- 2023-02-14 US US18/109,756 patent/US11901205B2/en active Active
- 2023-05-11 JP JP2023078652A patent/JP7529849B2/ja active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP3198841U (ja) | 2014-06-09 | 2015-07-23 | 家登精密工業股▲ふん▼有限公司 | ウエハポッドの気体拡散装置 |
JP2016105443A (ja) | 2014-12-01 | 2016-06-09 | ミライアル株式会社 | 基板収納容器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11901205B2 (en) | 2024-02-13 |
US11610795B2 (en) | 2023-03-21 |
WO2020046867A1 (en) | 2020-03-05 |
KR20210027495A (ko) | 2021-03-10 |
JP7529849B2 (ja) | 2024-08-06 |
JP2022517892A (ja) | 2022-03-11 |
JP2023099621A (ja) | 2023-07-13 |
US20230197490A1 (en) | 2023-06-22 |
TW202012288A (zh) | 2020-04-01 |
TWI726402B (zh) | 2021-05-01 |
SG11202100743XA (en) | 2021-02-25 |
CN112640079A (zh) | 2021-04-09 |
US20200075374A1 (en) | 2020-03-05 |
KR20230134612A (ko) | 2023-09-21 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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