JP7263517B2 - スピン軌道トルクmramおよびその製造 - Google Patents
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Description
[0002] 磁気抵抗ランダムアクセスメモリ(MRAM)は、磁気記憶素子を使用してデータを記憶する。MRAMは、磁気トンネル接合(MTJ)スタックを用いたスピン偏極電流を利用して電子のスピン方向を反転させるスピン移行トルク(STT)MRAMを含む、種々の形態をとることができる。MTJスタックに対して面内方向または垂直方向で、スピン偏極電流がSTT‐MRAMデバイスに印加される。これとは対照的に、スピン軌道トルク(SOT)MRAMは、重金属層、すなわちMTJスタックに隣接するスピン軌道トルク(SOT)層に電流を印加することにより、電子のスピン方向の切替を引き起こす。電流は、MTJスタックに対して面内方向で、SOT層に印加される。従来のSOT‐MRAM構造は、MTJスタックとSOT層との間のサイズの不整合により熱安定性が悪く、電流フロー損失が起こりうるため、SOT‐MRAMデバイスの製造は困難になりうる。
Claims (15)
- メモリデバイスを形成する方法であって、
磁気トンネル接合スタックと、前記磁気トンネル接合スタックの上に形成されるスピン軌道トルク層と、前記スピン軌道トルク層の上に形成される誘電体キャッピング層とを備える第1の構造の上にカプセル化層を堆積させることと、
前記カプセル化層の上に誘電体層を堆積させることと、
前記誘電体層の部分および前記カプセル化層の部分を除去することによって、前記誘電体層内にトレンチを形成することと、
化学気相堆積(CVD)または物理気相堆積(PVD)のうちの少なくとも1つによって、前記トレンチ内に金属層を堆積させることであって、前記金属層は、前記誘電体層の最上部に堆積され、前記スピン軌道トルク層および前記誘電体キャッピング層を取り囲み、前記金属層は、前記スピン軌道トルク層の側壁に直接接触する、金属層を堆積させることと、
を含む方法。 - 前記スピン軌道トルク層が、タングステン(W)、タンタル(Ta)、白金(Pt)、またはこれらの組み合わせ、またはこれらの合金から、約3mm~約10mmの厚さに形成される、請求項1に記載の方法。
- 前記トレンチを形成することにより、前記誘電体キャッピング層および前記スピン軌道トルク層の前記側壁の第1の側壁部分を露出させ、前記トレンチを形成することに続いて、前記カプセル化層は、前記スピン軌道トルク層の第2の側壁部分に直接接触し、前記第2の側壁部分は、前記磁気トンネル接合スタックに隣接する、請求項1に記載の方法。
- 前記トレンチを形成することは、前記誘電体層の前記部分および前記カプセル化層の前記部分を、前記スピン軌道トルク層の少なくとも2つの側面から除去することを含む、請求項1に記載の方法。
- ターゲットスタックを形成することをさらに含み、前記ターゲットスタックを形成することは、
真空圧下で処理チャンバ内に配置された基板の上に前記磁気トンネル接合スタックを堆積させることであって、前記磁気トンネル接合スタックを形成することは、
基板の上にピン止め層を堆積させること、
前記ピン止め層の上に基準層を堆積させること、
前記基準層の上にトンネルバリア層を堆積させること、および、
前記トンネルバリア層の上に自由層を堆積させること
を含む、前記磁気トンネル接合スタックを堆積させることと、
前記磁気トンネル接合スタックが真空圧下に留まる間に、前記磁気トンネル接合スタックの前記自由層の上に前記スピン軌道トルク層を堆積させることと、
前記スピン軌道トルク層の上に前記誘電体キャッピング層を堆積させることと、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記ターゲットスタックをパターニングして、前記第1の構造を含む複数の構造を形成することをさらに含む、請求項5に記載の方法。
- メモリデバイスを形成する方法であって、
第1の構造の上に形成されたカプセル化層の上に第1の誘電体層を堆積させることであって、前記第1の構造は、磁気トンネル接合スタックと、前記磁気トンネル接合スタックの上に形成されるスピン軌道トルク層と、前記スピン軌道トルク層の上に形成される誘電体キャッピング層とを備える、第1の誘電体層を堆積させることと、
前記第1の誘電体層の部分および前記カプセル化層の部分を除去することによって、前記第1の誘電体層内にトレンチを形成することと、
化学気相堆積(CVD)または物理気相堆積(PVD)のうちの少なくとも1つによって、前記トレンチ内に金属層を堆積させることであって、前記金属層は、前記第1の誘電体層の最上部に堆積され、前記スピン軌道トルク層および前記誘電体キャッピング層を取り囲み、前記金属層は、前記スピン軌道トルク層の側壁に直接接触する、金属層を堆積させることと、
前記金属層の上に第2の誘電体充填層を堆積させることと、
を含む方法。 - 前記トレンチ内に前記金属層を堆積させることは、前記金属層の第1の部分、および前記第1の部分を越えて所定の距離にわたって延在する前記金属層の第2の部分を含むように前記金属層を堆積させることを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記第1の部分は前記第2の誘電体充填層の上に形成され、前記第2の部分は前記誘電体キャッピング層の上に形成され、前記第1の部分はさらに前記スピン軌道トルク層に接触する、請求項8に記載の方法。
- 前記誘電体キャッピング層を露出するために第2の誘電体層を平坦化することをさらに含み、前記第2の誘電体層の平坦化後、前記第2の誘電体層の第1の最上面は前記誘電体キャッピング層の第2の最上面と同一平面になる、請求項7に記載の方法。
- 前記第2の誘電体層を平坦化することは、前記誘電体キャッピング層に隣接する前記金属層の部分を露出することをさらに含む、請求項10に記載の方法。
- メモリデバイスを形成する方法であって、
真空圧下で処理チャンバ内に配置された基板の上に、磁気トンネル接合スタックを堆積させることと、
前記磁気トンネル接合スタックが真空圧下に留まる間に、前記磁気トンネル接合スタックの自由層の上にスピン軌道トルク層を堆積させることと、
前記スピン軌道トルク層の上に誘電体キャッピング層を堆積させることと、
第1の構造の上にカプセル化層を堆積させることであって、前記第1の構造が、前記磁気トンネル接合スタック、前記スピン軌道トルク層、及び前記スピン軌道トルク層の上に形成される前記誘電体キャッピング層を備える、第1の構造の上にカプセル化層を堆積させること、
前記カプセル化層の上に第1の誘電体層を堆積させることと、
前記第1の誘電体層の部分および前記カプセル化層の部分を除去することによって、前記第1の誘電体層内にトレンチを形成することと、
化学気相堆積(CVD)または物理気相堆積(PVD)のうちの少なくとも1つによって、前記トレンチ内に金属層を堆積させることであって、前記金属層は、前記第1の誘電体層の最上部に堆積され、前記スピン軌道トルク層および前記誘電体キャッピング層を取り囲み、前記金属層は、前記スピン軌道トルク層の側壁に直接接触する、金属層を堆積させることと、
を含む方法。 - 前記トレンチ内に前記金属層を堆積させることは、前記金属層の第1の部分、および前記第1の部分を越えて所定の距離にわたって延在する前記金属層の第2の部分を含むように前記金属層を堆積させることを含む、請求項12に記載の方法。
- 前記第1の部分は前記第1の誘電体層の上に形成され、前記第2の部分は前記誘電体キャッピング層の上に形成され、前記第1の部分はさらに前記スピン軌道トルク層に接触する、請求項13に記載の方法。
- 前記金属層の上に第2の誘電体層を堆積させることと、
前記誘電体キャッピング層を露出するために前記第2の誘電体層を平坦化することであって、前記第2の誘電体層の平坦化後、前記第2の誘電体層の第1の最上面は前記誘電体キャッピング層の第2の最上面と同一平面になる、前記第2の誘電体層を平坦化することと、
をさらに含む、請求項13に記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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US62/770,011 | 2018-11-20 | ||
US16/290,621 US10756259B2 (en) | 2018-11-20 | 2019-03-01 | Spin orbit torque MRAM and manufacture thereof |
US16/290,621 | 2019-03-01 | ||
PCT/US2019/055886 WO2020106378A1 (en) | 2018-11-20 | 2019-10-11 | Spin orbit torque mram and manufacture thereof |
Publications (2)
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JP2022507841A JP2022507841A (ja) | 2022-01-18 |
JP7263517B2 true JP7263517B2 (ja) | 2023-04-24 |
Family
ID=70728430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021528332A Active JP7263517B2 (ja) | 2018-11-20 | 2019-10-11 | スピン軌道トルクmramおよびその製造 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10756259B2 (ja) |
EP (1) | EP3884530A4 (ja) |
JP (1) | JP7263517B2 (ja) |
KR (1) | KR102527755B1 (ja) |
CN (1) | CN113272983A (ja) |
TW (1) | TWI819146B (ja) |
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JP7313748B2 (ja) | 2020-03-09 | 2023-07-25 | エイエムティ カンパニー リミテッド | 微細ピッチを有するデバイスのアライン装置及びその方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3884530A1 (en) | 2021-09-29 |
KR20210080579A (ko) | 2021-06-30 |
TW202036944A (zh) | 2020-10-01 |
KR102527755B1 (ko) | 2023-04-28 |
CN113272983A (zh) | 2021-08-17 |
US20200161542A1 (en) | 2020-05-21 |
JP2022507841A (ja) | 2022-01-18 |
US10756259B2 (en) | 2020-08-25 |
TWI819146B (zh) | 2023-10-21 |
EP3884530A4 (en) | 2022-11-09 |
WO2020106378A1 (en) | 2020-05-28 |
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