JP7260990B2 - 撮像装置及び撮像システム - Google Patents

撮像装置及び撮像システム Download PDF

Info

Publication number
JP7260990B2
JP7260990B2 JP2018201644A JP2018201644A JP7260990B2 JP 7260990 B2 JP7260990 B2 JP 7260990B2 JP 2018201644 A JP2018201644 A JP 2018201644A JP 2018201644 A JP2018201644 A JP 2018201644A JP 7260990 B2 JP7260990 B2 JP 7260990B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
pixels
determination
long
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018201644A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020068501A (ja
Inventor
寿士 高堂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2018201644A priority Critical patent/JP7260990B2/ja
Priority to US16/598,574 priority patent/US10979647B2/en
Publication of JP2020068501A publication Critical patent/JP2020068501A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7260990B2 publication Critical patent/JP7260990B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/58Control of the dynamic range involving two or more exposures
    • H04N25/587Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired sequentially, e.g. using the combination of odd and even image fields
    • H04N25/589Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired sequentially, e.g. using the combination of odd and even image fields with different integration times, e.g. short and long exposures
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/73Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the exposure time
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/89Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • H01L27/14607Geometry of the photosensitive area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/59Control of the dynamic range by controlling the amount of charge storable in the pixel, e.g. modification of the charge conversion ratio of the floating node capacitance
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Description

本発明は、撮像装置及び撮像システムに関する。
車載用カメラや監視用カメラなどに用いられる撮像装置では、相対的に露光時間の長い画像(長秒画像)と相対的に露光時間の短い画像(短秒画像)とを合成してダイナミックレンジの広い画像を生成する手法が一般的に用いられている。特許文献1には、長秒画像と短秒画像とを合成する際に、長秒画像の信号が飽和しているか否かを示す飽和フラグを参照し、長秒画像の信号が飽和している場合には長秒画像の信号に換えて短秒画像の信号を用いて合成処理を行う方法が記載されている。
特開2006-191536号公報
しかしながら、特許文献1に記載の方法では、長秒画像と短秒画像とのつなぎ部分に発生するオフセットに起因して、長秒画像と短秒画像とを合成した画像の画質が劣化することがあった。
本発明の目的は、高品質のハイダイナミックレンジ画像を取得しうる撮像装置及び撮像システムを提供することにある。
本発明の一観点によれば、
複数の行及び複数の列に渡って配され、各々が光電変換部を有する複数の画素と、前記複数の画素の各々から、第1の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第1の信号と、前記第1の露光時間よりも短い第2の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第2の信号と、を出力するように、前記複数の画素を制御する制御部と、前記複数の画素から出力される前記第1の信号の各々に対して、所定の値を超えているか否かを判定する判定処理を実行し、判定の結果を示す判定信号を出力する判定部と、前記複数の画素の各々の画像形成用の信号として、前記第1の信号及び前記第2の信号のうちの一方をそれぞれ選択する信号選択部と、を有し、前記信号選択部は、対象となる画素の前記判定信号及び前記対象となる画素を含む所定の領域に配された他の画素の前記判定信号前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択し、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している場合、及び、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示しており、且つ、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第2の信号を選択する撮像装置が提供される。
また、本発明の他の一観点によれば、各々が光電変換部を有する複数の画素を有し、前記複数の画素の各々から、第1の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第1の信号と、前記第1の露光時間よりも短い第2の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第2の信号と、を出力する撮像素子から出力される信号を処理する信号処理装置であって、前記複数の画素から出力される前記第1の信号の各々に対して、所定の値を超えているか否かを判定し、判定の結果を示す判定信号を出力する判定部と、前記複数の画素の各々の画像形成用の信号として、前記第1の信号及び前記第2の信号のうちの一方をそれぞれ選択する信号選択部と、を有し、前記信号選択部は、対象となる画素の前記判定信号及び前記対象となる画素を含む所定の領域に配された他の画素の前記判定信号前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択し、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している場合、及び、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示しており、且つ、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第2の信号を選択する信号処理装置が提供される。
また、本発明の更に他の一観点によれば、各々が光電変換部を有する複数の画素を有し、前記複数の画素の各々から、第1の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第1の信号と、前記第1の露光時間よりも短い第2の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第2の信号と、を出力する撮像素子を有する撮像装置と、前記撮像装置から出力される信号を処理する信号処理部と、を有し、前記信号処理部は、前記複数の画素から出力される前記第1の信号の各々に対して、所定の値を超えているか否かを判定し、判定の結果を示す判定信号を出力する判定部と、前記複数の画素の各々の画像形成用の信号として、前記第1の信号及び前記第2の信号のうちの一方をそれぞれ選択する信号選択部と、を有し、前記信号選択部は、対象となる画素の前記判定信号及び前記対象となる画素を含む所定の領域に配された他の画素の前記判定信号前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択し、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している場合、及び、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示しており、且つ、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第2の信号を選択する撮像システムが提供される。
本発明によれば、長秒画像と短秒画像とを用いてハイダイナミックレンジ画像を合成する際に、長秒画像と短秒画像との間のつなぎ部分における画質を向上することができる。
本発明の第1実施形態による撮像装置の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置における撮像素子の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置における撮像素子の画素の構成例を示す回路図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置における撮像素子の読み出し動作を示すタイミング図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置における長秒飽和判定部の動作を説明する図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置における信号選択部の構成及び動作を説明する図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置におけるHDR合成部の動作を説明する図である。 本発明の第1実施形態による撮像装置の効果を説明する図である。 本発明の第2実施形態による撮像装置における長短選択信号の生成方法を説明する図(その1)である。 本発明の第2実施形態による撮像装置における長短選択信号の生成方法を説明する図(その2)である。 本発明の第3実施形態による撮像装置における撮像素子の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第3実施形態による撮像装置における撮像素子の画素の構成例を示す回路図である。 本発明の第3実施形態による撮像装置における撮像素子の読み出し動作を示すタイミング図である。 本発明の第3実施形態による撮像装置における撮像素子の1行分の読み出し動作を示すタイミング図である。 本発明の第3実施形態による撮像装置における信号処理部の構成及び動作を説明する図である。 本発明の第4実施形態による撮像装置における撮像素子の概略構成を示すブロック図である。 本発明の第4実施形態による撮像装置における撮像素子の1行分の読み出し動作を示すタイミング図である。 本発明の第4実施形態による撮像装置における撮像素子の信号処理部の構成例を示す回路図である。 本発明の第5実施形態による撮像システムの概略構成を示すブロック図である。 本発明の第6実施形態による撮像システム及び移動体の構成例を示す図である。
[第1実施形態]
本発明の第1実施形態による撮像装置の構造について、図1乃至図3を用いて説明する。図1は、本実施形態による撮像装置の概略構成を示すブロック図である。図2は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の概略構成を示すブロック図である。図3は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の画素の構成例を示す回路図である。
本実施形態による撮像装置300は、図1に示すように、撮像素子100と、信号処理部200と、を有する。
撮像素子100は、図示しない光学系を介して入射した光信号(被写体像)を電気信号に変換して出力する。撮像素子100は、例えば、CMOSイメージセンサ又はCCDイメージセンサ上にカラーフィルタ(以下、「CF」とも表記する)が配置された、いわゆる単板式のカラーセンサにより構成されうる。撮像素子100は、必ずしもカラーセンサである必要はなく、モノクロセンサであってもよい。
撮像素子100は、第1の露光時間の間に生成された電荷に基づく信号と、第2の露光時間の間に生成された電荷に基づく信号と、を出力する。第1の露光時間は、第2の露光時間と比較して相対的に長い時間である。第2の露光時間は、第1の露光時間と比較して相対的に短い時間である。以後の説明においては、第1の露光時間の間に生成された電荷に基づく信号を「長秒信号」と呼び、第2の露光時間の間に生成された電荷に基づく信号を「短秒信号」と呼ぶことがある。長秒信号及び短秒信号は、ダイナミックレンジの広い画像信号を得るために用いられる信号である。
信号処理部200は、前段処理部210と、長秒飽和判定部220と、長秒信号・判定信号保持部230と、短秒信号保持部240と、信号選択部250と、HDR合成部260と、を有する。
前段処理部210は、撮像素子100からの出力信号に対して、信号処理の前処理を実施する。撮像素子100からの出力信号がアナログ信号の場合には、撮像素子100の出力信号に対するA/D変換処理を前段処理部210で実施してもよい。本実施形態では、撮像素子100の出力信号に対して12ビットのA/D変換を行うものとする。前段処理部210は、撮像素子100の出力信号(入力信号Din)に対して、オフセット(OFFSET)補正、ゲイン(GAIN)補正、等の補正(前段処理)を適宜実施して、補正後の出力信号(データDout)を作成する。この処理は、典型的には以下の式(1)のように表される。
Dout=(Din-OFFSET)×GAIN …(1)
前段処理部210における補正は、さまざまな単位で行うことが可能である。例えば、画素12毎に補正を行う場合、列増幅器毎に補正を行う場合、アナログデジタル変換部(ADC)部毎に補正を行う場合、出力増幅器毎に補正を行う場合、等が挙げられる。撮像素子100の出力信号の補正を行うことで、いわゆる固定パターンノイズを低減することができ、より高品質な画像を得ることができる。
前段処理部210は、撮像素子100から出力される長秒信号及び短秒信号の各々に対して前段処理を行い、処理後の長秒信号と短秒信号とを分離して後段の処理部へと送信する。具体的には、前段処理部210は、処理後の長秒信号を長秒飽和判定部220に送信し、処理後の短秒信号を短秒信号保持部240に送信する。
長秒飽和判定部220は、長秒信号が飽和しているか否かを判定する判定処理を実行し、判定結果を示す飽和判定信号を長秒信号とともに後段の処理部に送信する。
長秒信号・判定信号保持部230は、長秒飽和判定部220から送信される長秒信号と飽和判定信号とを保持する。また、短秒信号保持部240は、前段処理部210から送信される短秒信号を保持する。同じ画素12から長秒信号が送信されるタイミングと短秒信号が送信されるタイミングとは異なる。長秒信号・判定信号保持部230は、同じ画素の長秒信号と短秒信号とを後段の処理部に同時に出力するために長秒信号及び判定信号を一時的に保持するメモリである。同様に、短秒信号保持部240は、同じ画素の長秒信号と短秒信号とを後段の処理部に同時に出力するために短秒信号を一時的に保持するメモリである。長秒信号・判定信号保持部230及び短秒信号保持部240は、例えば、SRAMで構成される10行分のラインメモリを有する。
信号選択部250は、長秒信号・判定信号保持部230が保持する飽和判定信号に基づいて、長秒飽和判定部220から送信される長秒信号及び短秒信号保持部240から送信される短秒信号のうちの一方を選択し、選択した信号をHDR合成部260に出力する。選択された信号は、当該画素における画像形成用の信号として用いられる。
HDR合成部260は、信号選択部250から送信される選択フラグと選択された信号とを用いてハイダイナミックレンジ画像を合成するハイダイナミックレンジ処理を行い、HDR圧縮データを出力する。
撮像素子100は、図2に示すように、画素部10と、垂直走査回路20と、読み出し回路部30と、メモリ部40と、カウンタ46と、水平走査回路50と、信号処理部60と、タイミング発生回路70と、を有する。
画素部10には、複数の行及び複数の列に渡ってマトリクス状に配された複数の画素12が設けられている。画素部10には、例えば、列方向に1920画素、行方向に1080画素の合計2073600画素が配される。画素部10に配される画素数は限定されず、より多い画素数、若しくはより少ない画素数でもよい。
画素部10の各行には、第1の方向(図2において横方向)に延在して、制御線14が配されている。制御線14は、第1の方向に並ぶ画素12にそれぞれ接続され、これら画素12に共通の信号線をなしている。制御線14の延在する第1の方向は、行方向或いは水平方向と呼ぶことがある。
画素部10の各列には、第1の方向と交差する第2の方向(図2において縦方向)に延在して、垂直信号線16が配されている。垂直信号線16は、第2の方向に並ぶ画素12にそれぞれ接続され、これら画素12に共通の信号線をなしている。垂直信号線16の延在する第2の方向は、列方向或いは垂直方向と呼ぶことがある。
図2では、画素部10が第1列から第n列までのn列の画素12を有する場合を想定し、各列の垂直信号線16の符号に列番号を付記している。例えば、第1列の垂直信号線16には「16-1」の符号を付し、第n列の垂直信号線16には「16-n」の符号を付している。以後の説明において、画素部10の列に対応して設けられた要素については、同様の表記を用いるものとする。
各行の制御線14は、垂直走査回路20に接続されている。垂直走査回路20は、画素信号を読み出す際に画素12内の読み出し回路を駆動するための制御信号を、制御線14を介して行単位で画素12に供給する制御部である。垂直走査回路20から供給される制御信号によって選択された行(選択行)に属する画素12の画素信号は、これら画素12の各々に対応する列の垂直信号線16に同時に出力される。
各列の垂直信号線16は、読み出し回路部30に接続されている。読み出し回路部30は、増幅部32と、比較部34と、参照信号発生回路36と、を有する。増幅部32は、画素部10の各列に対応して設けられたn個の増幅器33-1~33-nを有する。増幅器33-1~33-nは、各々に対応する列の垂直出力線16-1~16-nを介して画素12から出力される画素信号を増幅する。比較部34は、画素部10の各列に対応して設けられたn個の比較器35-1~35-nを有する。比較器35-1~35-nは、各々に対応する列の増幅器33-1~33-nから出力される画素信号のレベルと、参照信号発生回路36から出力される参照信号のレベルとを比較し、比較結果を出力する。
メモリ部40は、画素部10の各列に対応して設けられたn個のメモリ42-1~42-nを有する。メモリ42-1~42-nは、各々に対応する列の比較器35-1~35-nから出力される信号を受信し、受信した信号に応じてカウンタ46から出力されるカウント信号をラッチし保持する。参照信号発生回路36から出力される参照信号は、時間の経過とともに信号レベルが一定の割合で変化する信号である。メモリ42-1~42-nに保持されるカウント信号は、画素12から出力されるアナログの画素信号をAD変換したデジタル画素信号に相当する。
水平走査回路50は、メモリ部40の各列のメモリ42-1~42-nを順次選択するための制御信号をメモリ部40に供給する制御部である。水平走査回路50から制御信号を受信したメモリ42-1~42-nは、保持するデジタル画素信号を信号処理部60へと転送する。信号処理部60は、メモリ部40から転送される各列のデジタル画素信号に対して、所定のデジタル信号処理を実行し、撮像素子100の外部へと出力する。
タイミング発生回路70は、垂直走査回路20、読み出し回路部30、メモリ部40及び水平走査回路50等に、それらの動作やタイミングを制御する制御信号を供給するための回路部である。垂直走査回路20、読み出し回路部30、メモリ部40及び水平走査回路50等に供給する制御信号の一部又は総ては、撮像素子100の外部から供給してもよい。
各々の画素12は、図3に示すように、フォトダイオードPDと、転送トランジスタMTXと、リセットトランジスタMRSと、増幅トランジスタMSFと、選択トランジスタMSELと、を有する。フォトダイオードPDは、アノードが基準電圧ノードに接続され、カソードが転送トランジスタMTXのソースに接続されている。転送トランジスタMTXのドレインは、リセットトランジスタMRSのソース及び増幅トランジスタMSFのゲートに接続されている。転送トランジスタMTXのドレイン、リセットトランジスタMRSのソース及び増幅トランジスタMSFのゲートの接続ノードは、いわゆるフローティングディフュージョンFDである。フローティングディフュージョンFDは、容量成分を含み、電荷保持部として機能するとともに、この容量成分からなる電荷電圧変換部を構成する。リセットトランジスタMRSのドレイン及び増幅トランジスタMSFのドレインは、電源電圧ノード(電圧VDD)に接続されている。増幅トランジスタMSFのソースは、選択トランジスタMSELのドレインに接続されている。画素12の出力ノードでもある選択トランジスタMSELのソースは、垂直信号線16に接続されている。
フォトダイオードPDは、入射光の光量に応じた電荷を生じる光電変換部である。被写体の光学像が画素部10に入射すると、各画素12のフォトダイオードPDは、入射光をその光量に応じた量の電荷に変換(光電変換)するとともに、生じた電荷を蓄積する。転送トランジスタMTXは、オンすることによりフォトダイオードPDが保持する電荷をフローティングディフュージョンFDに転送する。フローティングディフュージョンFDは、その容量成分による電荷電圧変換によって、フォトダイオードPDから転送された電荷の量に応じた電圧となる。増幅トランジスタMSFは、ドレインに電圧VDDが供給され、ソースに選択トランジスタMSELを介して図示しない電流源からバイアス電流が供給される構成となっており、ゲートを入力ノードとする増幅部(ソースフォロワ回路)を構成している。これにより増幅トランジスタMSFは、フローティングディフュージョンFDの電圧に基づく信号を、選択トランジスタMSELを介して垂直信号線16に出力する。リセットトランジスタMRSは、オンすることによりフローティングディフュージョンFDを電圧VDDに応じた電圧にリセットする。
図3に示す回路構成の画素12の場合、各行の制御線14は、転送トランジスタMTXのゲートに接続された信号線と、リセットトランジスタMRSのゲートに接続された信号線と、選択トランジスタMSELのゲートに接続された信号線と、を含む。転送トランジスタMTXには、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φTXが供給される。リセットトランジスタMRSには、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φRESが供給される。選択トランジスタMSELには、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φSELが供給される。画素部10内の複数の画素12は、垂直走査回路20から供給される制御信号φTX,φRES,φSELにより、行単位で制御される。画素12の各トランジスタがN型トランジスタで構成される場合、これら制御信号がHighレベル(Hレベル)のときに対応するトランジスタはオン状態となり、これら制御信号がLowレベル(Lレベル)のときに対応するトランジスタはオフ状態となる。
次に、撮像素子100の動作タイミングについて、図4を用いて説明する。図4は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の読み出し動作を示すタイミング図である。
撮像素子100は、図4に示すように、1フレームの間に長秒信号の読み出し動作と短秒信号の読み出し動作とを行単位で交互に行うラインインターリーブ駆動を行う。
あるフレームにおける信号の読み出し動作は、例えば時刻T40から開始される。時刻T40は、当該フレームにおける1行目の画素12の長秒信号の読み出し動作が開始する時刻である。2行目以降の画素12の長秒信号の読み出し動作は、1行毎に所定の間隔を開けて順次行われる。
1行目の画素12の短秒信号の読み出し動作は、例えば3行目の画素12の長秒信号の読み出し動作が終了した後の時刻T41から開始される。4行目の画素12の長秒信号の読み出し動作は、1行目の画素12の短秒信号の読み出し動作が終了した後の時刻T42に開始する。
このようにして、時刻T41以降、1行目の画素12の短秒信号の読み出し、4行目の画素12の長秒信号の読み出し、2行目の短秒信号の読み出し、5行目の長秒信号の読み出し、の順に、長秒信号と短秒信号の読み出し動作を行単位で交互に行う。最終行であるm行目の画素12の短秒信号の読み出し動作が終了することで、当該フレームの読み出し動作が完了する。
m行目の画素12の短秒信号の読み出し動作が終了した後の時刻T43において、次のフレームの読み出し動作が開始する。時刻T43以降の動作は、前のフレーム、すなわち時刻T40から時刻T43までの期間における読み出し動作と同様である。時刻T43から時刻T44までの期間が、1行目の画素12の長秒信号の読み出し動作が行われる期間である。時刻T42から時刻T44までの期間の長さが、1行目の画素12において長秒信号となる信号電荷を生成するための露光時間(蓄積時間)T1である。時刻T45から時刻T46までの期間が、1行目の画素12の短秒信号の読み出し動作が行われる期間である。時刻T44から時刻T46までの期間の長さが、1行目の画素12において短秒信号となる信号電荷を生成するための露光時間(蓄積時間)T2である。
このようにして撮像素子100から読み出された長秒信号及び短秒信号は、信号処理部200の前段処理部210に入力される。前段処理部210は、長秒信号及び短秒信号の各々に対して所定の前段処理を行ったのち、処理後の長秒信号を長秒飽和判定部220へと送信し、処理後の短秒信号を短秒信号保持部240へと送信する。
次に、長秒飽和判定部220の動作について、図5を用いて説明する。図5は、本実施形態による撮像装置における長秒飽和判定部220の動作を説明する図である。
図5に示すように、長秒信号及び短秒信号の信号レベルは、画素12への入射光量が多いほど増加する。フォトダイオードPDで生成される信号電荷の量がフォトダイオードPDに蓄積可能な電荷量の上限(飽和電荷量)を超えると、信号レベルは飽和する。短秒信号に対して信号電荷の蓄積時間が相対的に長い長秒信号は、同一光量における信号レベルが短秒信号よりも大きいため、短秒信号と比較してより少ない光量で飽和する。
長秒飽和判定部220には、出力信号が飽和しているかどうかを判定するための基準となる飽和閾値が予め設定されている。飽和閾値は、例えば図5に示すように、フォトダイオードPDの飽和電荷量に対応する出力信号レベルよりも若干低い信号レベルに設定することができる。
長秒飽和判定部220は、前段処理部210から受信した長秒信号のデータと、予め設定されている飽和閾値とを比較する。その結果、長秒信号のデータの値が飽和閾値を超えている場合には飽和判定信号JLを1に設定し、長秒信号のデータの値が閾値以下の場合には飽和判定信号JLを0に設定する。その後、長秒飽和判定部220は、長秒信号と、その判定結果を示す飽和判定信号JLとを、長秒信号・判定信号保持部230へと送信する。長秒信号・判定信号保持部230は、長秒飽和判定部220から受信した長秒信号及び飽和判定信号を保持する。
次に、信号選択部250の動作について、図6を用いて説明する。図6は、本実施形態による撮像装置における信号選択部250の構成例及び動作を説明する図である。
信号選択部250は、図6(a)に示すように、長短選択信号生成部252と、セレクタ254と、を有する。長短選択信号生成部252は、長秒信号・判定信号保持部230から受信した飽和判定信号JLを、複数画素分保持する。モノクロセンサの場合、長短選択信号生成部252は、隣り合う複数列を含む所定の領域の画素12に対応する飽和判定信号JLを保持する。例えば、長短選択信号生成部252は、N-1列目の画素12に対応する飽和判定信号JL(N-1)と、N列目の画素12に対応する飽和判定信号JL(N)と、N+1列目の画素12に対応する飽和判定信号JL(N+1)と、を保持する。そして、長短選択信号生成部252は、飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)に基づき、N列目の画素12に対応する長短選択信号JJ(N)を生成し、セレクタ254に送信する。
図6(b)は、入力信号である飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)と出力信号である長短選択信号JJ(N)との関係を表す真理値表の一例である。表中、φはドントケアである。
長短選択信号生成部252は、飽和判定信号JL(N)が1の場合は、無条件で長短選択信号JJ(N)として1を出力する。飽和判定信号JL(N)が0の場合でも、飽和判定信号JL(N-1)及び飽和判定信号JL(N+1)のうちの一方が1であれば、長短選択信号JJ(N)として1を出力する。飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)の総てが0の場合にだけ、長短選択信号JJ(N)として0を出力する。
セレクタ254は、長短選択信号生成部252から受信した長短選択信号JJ(N)に応じて、長秒信号・判定信号保持部230から受信した長秒信号(N)及び短秒信号保持部240から受信した短秒信号(N)のうちの一方を選択して出力する。例えば、長短選択信号JJ(N)が0の場合には長秒信号(N)を出力し、長短選択信号JJ(N)が1の場合には短秒信号(N)を出力する。
すなわち、信号選択部250は、N列目の画素12の長秒信号(N)が飽和判定されている場合には、N列目の画素12の短秒信号(N)を選択する。N列目の画素12の長秒信号(N)が飽和判定されていない場合でも、隣り合う列の画素12の長秒信号(N-1)又は長秒信号(N+1)が飽和判定されている場合は、短秒信号を選択する。信号選択部250は、N列目の画素12の長秒信号(N)と、これに隣り合う画素12の長秒信号(N-1)及び長秒信号(N+1)とが飽和判定されていない場合にだけ、N列目の画素12の長秒信号(N)を選択する。
図6(c)は、信号選択部250における処理の一例を示している。図6(c)には、N-3列目からN+3列目までの画素12から出力される長秒信号及び短秒信号の値、これら長秒信号に対応する飽和判定信号JL、長短選択信号生成部252が生成する長短選択信号JJの一例を示している。図6(c)の例において、飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)は、点線で囲まれた枠内に示されるように、1,0,1である。この場合、長短選択信号JJ(N)は、図6(b)の真理値表に示されるように、1となる。
このようにして、信号選択部250は、長短選択信号生成部252が生成した長短選択信号JJ(N)と、長秒信号(N)及び短秒信号(N)のうちセレクタ254により選択された信号と、をHDR合成部260に出力する。
次に、HDR合成部260の動作について、図7を用いて説明する。図7は、本実施形態による撮像装置におけるHDR合成部260の動作を説明する図である。
HDR合成部260では、まず、HDR合成処理が行われる。図7(a)は、HDR合成部260において行われるHDR合成処理の概略を示す模式図である。HDR合成処理では、画素12毎に、長短選択信号JJに応じたデータを生成する。すなわち、長短選択信号JJが0の場合には、対応する画素12のデータとして、長秒信号D1の値をそのまま用いる。長短選択信号JJが1の場合には、対応する画素12のデータとして、短秒信号D2に比率T1/T2を掛けた値を用いる。ここで、T1は長秒信号の元となる信号電荷の蓄積時間であり、T2は短秒信号の元となる信号電荷の蓄積時間である。
HDR合成部260では、HDR合成処理に続いて、HDR圧縮処理が行われる。図7(b)は、HDR合成部260において行われるHDR圧縮処理の概略を示す模式図である。HDR圧縮処理では、HDR合成処理によって生成されるデータ(例えば20ビット)を、例えば12ビット(=4096[LSB])のデータに圧縮する。図7(b)には、HDR合成処理によって生成されるデータを、4回の折れ線圧縮により12ビットのデータに圧縮する例を示している。
次に、本実施形態による撮像装置の効果について、図8を用いて説明する。図8は、本実施形態による撮像装置の効果を説明する図である。
長秒信号D1の値と、短秒信号D2に比率T1/T2を掛けた値とは、理想的には等しくなるはずである。しかしながら、実際には回路のリニアリティのずれや黒レベルのずれ等により、これらは必ずしも等しくはならない。
このような場合、例えば図7(a)に示すように、D1で示される直線とD2×T1/T2で示される直線との間のつなぎ目には段差が生じることになる。直線のつなぎ目に段差が生じると、飽和閾値の近傍において、長秒信号D1に基づく値と、短秒信号D2に基づく値との間のばらつきが目立つことになる。
図8(a)は、図6(c)のN-3列目からN+3列目までの画素12の信号を、飽和判定信号JLを用いてHDR合成処理した結果を示すグラフである。この例では、N-1列目からN+3列目までの画素12の値として、短秒信号D2に基づく値と、長秒信号D1に基づく値と、が交互に現れている。このような場合に直線のつなぎ目に図7(a)に示すような段差が生じていると、隣接する画素12間における値のばらつきが強調されてしまう。
図8(b)は、図6(c)のN-3列目からN+3列目までの画素12の信号を、長短選択信号JJを用いてHDR合成処理した結果を示すグラフである。本実施形態では、長秒信号D1が飽和していない画素12の信号であっても、隣接する画素12の長秒信号D1が飽和している場合には、短秒信号D2の値を用いて画素値を算出している。したがって、N-1列目からN+3列目までの画素12の値は、いずれも短秒信号D2に基づく値となる。したがって、本実施形態による撮像装置では、図8(b)に示すように、空間的なばらつきの小さいHDR合成信号を得ることができる。
このように、本実施形態によれば、長秒画像と短秒画像とを用いてハイダイナミックレンジ画像を合成する際に、長秒画像と短秒画像との間のつなぎ部分における画質を向上することができる。
[第2実施形態]
本発明の第2実施形態による撮像装置について、図9及び図10を用いて説明する。第1実施形態による撮像装置と同様の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略し或いは簡潔にする。図9及び図10は、本実施形態による撮像装置における長短選択信号の生成方法を説明する図である。
本実施形態による撮像装置は、長短選択信号JJを生成する際に用いる飽和判定信号JLを提供する画素12が異なるほかは、第1実施形態による撮像装置と同様である。すなわち、第1実施形態では、対象となる画素12と同じ行に配された隣接する2つの画素12の飽和判定信号JLに基づいて生成した長短選択信号JJを考慮してHDR合成処理を行う例を示した。これに対し、本実施形態では、対象となる画素12を含む所定の領域に含まれる他の画素12の飽和判定信号JLに基づいて生成した長短選択信号JJを考慮してHDR合成処理を行う。当該所定の領域は、隣り合う複数列及び隣り合う複数行を含む。
図9は、モノクロセンサへの適用例を示している。図9(a)は、モノクロセンサにおける画素配列を示している。モノクロセンサの画素部10には、可視波長域に渡って感度を有する画素(図9(a)中、Wで表す)が行列状に配されている。図9(a)には、画素部10を構成する複数の画素12のうち、M-4行~M+3行、N-3列~N+4列に配された64個の画素12を示している。なお、モノクロセンサの総ての画素12は、同じ色のカラーフィルタを備えていると考えることもできる。
ここで、M行N列に配された画素(図9(a)中、太線で囲った画素)に着目すると、この画素の周囲には、8個の画素12が隣接している。これら8個の画素12から提供される飽和判定信号JLに基づいて長短選択信号JJを生成することで、より空間的なばらつきの小さいHDR合成信号を得ることが可能となる。
図9(b)は、モノクロセンサの場合における信号選択部250の処理の一例を示している。図9(b)の例では、注目画素を中心に含む3行3列の領域を抽出し、注目画素の周囲の8つの画素のうち1つでも飽和判定信号JLが1の画素があれば長短選択信号JJを1に設定するように構成している。
図10は、カラーセンサへの適用例を示している。図10(a)は、カラーセンサにおける画素配列を示している。カラーセンサの画素部10には、例えば、赤色に高い感度を有するR画素、緑色に高い感度を有するG画素、青色の高い感度を有するB画素が、図10(a)に示すような、いわゆるRGBベイヤーカラーフィルタ配列に従って配されている。図10(a)には、画素部10を構成する複数の画素12のうち、M-4行~M+3行、N-4列~N+3列に配された64個の画素12を示している。
図10(b)は、カラーセンサの場合における信号選択部250の処理の一例を示している。図10(b)の例においても、注目画素を中心に含む3行3列の領域を抽出している。ただし、カラーセンサでは、同じ色のカラーフィルタを備えた画素毎に処理を行うため、飽和判定信号JLを取得する画素は、注目画素と同じ色のカラーフィルタを備えた画素から選択する。例えばR画素に着目すると、R画素は、M-4行、M-2行、M行及びM+2行の、N-4列、N-2列、N列及びN+2列に配されている。そこで、例えばM行N列に配されたR画素(図9(a)中、太線で囲った画素)を注目画素とした場合には、このR画素の周囲の行としてM-2行とM+2行を選択し、このR画素の周囲の列としてN-2列とN+2列を選択する。
このようにして選択された3行3列の領域には、注目画素を中心として、その周囲に8個のR画素が配置されている。したがって、これら8個のR画素から提供される飽和判定信号JLに基づいて長短選択信号JJを生成することにより、より空間的なばらつきの小さいHDR合成信号を得ることが可能となる。図10(b)の例では、注目画素の周囲の8つの画素のうち1つでも飽和判定信号JLが1の画素があれば長短選択信号JJを1に設定するように構成している。
ここではR画素の場合について説明したが、G画素及びB画素についても同様に処理することができる。
なお、本実施形態では、注目画素を中心に含む3行3列の領域を抽出し、この領域に含まれる他の画素の飽和判定信号JLに基づいて長短選択信号JJを取得する例を示したが、飽和判定信号JLを取得する領域はこれに限定されるものではない。例えば、5行5列の領域を抽出し、より多くの画素から飽和判定信号JLを取得するようにしてもよい。
また、本実施形態では、抽出した領域に含まれる他の画素のうち1つでも飽和判定信号JLが1の画素があれば長短選択信号JJを1に設定するように構成したが、長短選択信号JJを生成する基準もこれに限定されるものではない。例えば、飽和判定信号JLが0である画素の数よりも飽和判定信号JLが1である画素の数が多い場合に、長短選択信号JJを1に設定するようにしてもよい。
このように、本実施形態によれば、長秒画像と短秒画像とを用いてハイダイナミックレンジ画像を合成する際に、長秒画像と短秒画像との間のつなぎ部分における画質を向上することができる。
[第3実施形態]
本発明の第3実施形態による撮像装置について、図11乃至図15を用いて説明する。第1及び第2実施形態による撮像装置と同様の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略し或いは簡潔にする。
はじめに、本実施形態による撮像装置の構造について、図11及び図12を用いて説明する。図11は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の概略構成を示すブロック図である。図12は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の画素の構成例を示す回路図である。なお、本実施形態による撮像装置の全体構成は、図1に示す第1実施形態による撮像装置と基本的には同じである。
本実施形態による撮像装置の撮像素子100は、図11に示すように、画素部10の各列に対応して長秒飽和判定部38を更に有するほかは、図2に示す第1実施形態による撮像装置の撮像素子100と基本的に同様である。すなわち、本実施形態による撮像装置は、長秒信号の飽和判定を撮像素子100において列並列で行う点で、長秒信号の飽和判定を信号処理部200において行う第1実施形態による撮像装置とは異なっている。
各列のメモリ42は、JLメモリ44-1、Nメモリ44-2、Sメモリ44-3、Nメモリ44-4、Sメモリ44-5を有している。JLメモリ44-1は、長秒飽和判定部38から出力される飽和判定信号JLを保持するためのメモリである。Nメモリ44-2は、画素12から出力される長秒信号のN信号をデジタル信号N1として保持するためのメモリである。Sメモリ44-3は、画素12から出力される長秒信号のS信号をデジタル信号S1として保持するためのメモリである。Nメモリ44-4は、画素12から出力される短秒信号のN信号をデジタル信号N2として保持するためのメモリである。Sメモリ44-5は、画素12から出力される短秒信号のS信号をデジタル信号S2として保持するためのメモリである。
各々の画素12の信号Vvlは、垂直走査回路20によって行毎に対応する列の垂直信号線16へと読み出される。各列の増幅器33は、対応する列の垂直信号線16を介して画素12から読み出された信号Vvlを所定のゲインで増幅し、増幅した信号Vampを比較器35及び長秒飽和判定部38に出力する。各列の長秒飽和判定部38は、対応する列の増幅器33で増幅された長秒信号のレベルが予め設定された所定の飽和閾値のレベルを超えたか否かを判定し、判定結果を示す飽和判定信号JLを出力する。飽和判定信号JLは、対応する列のメモリ42のJLメモリ44-1に保持される。
参照信号発生回路36は、時間とともに信号レベルが一定の変化量で変化する参照信号Vrを比較器35に出力する。各列の比較器35は、対応する列の増幅器33から出力される信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、比較結果を示す信号Vcmpを出力する。カウンタ46は、クロック信号の計数値であるカウント値を示すカウント信号を、各列のメモリ42に出力する。各列のメモリ42は、信号Vcmpの信号レベルが変化したときにカウンタ46から受信しているカウント信号を、信号VcmpをAD変換したデジタル信号として保持する。メモリ42は、AD変換したデジタル信号を、信号の種類に応じて、Nメモリ44-2、Sメモリ44-3、Nメモリ44-4及びSメモリ44-5の何れかに保持する。
各々の画素12は、図12に示すように、フォトダイオードPDと、転送トランジスタMGS1,MGS2,MTX1,MTX2と、電荷排出トランジスタMOFDと、を有する。また、各々の画素12は、リセットトランジスタMRSと、増幅トランジスタMSFと、選択トランジスタMSELと、を更に有する。
フォトダイオードPDは、アノードが基準電圧ノードに接続され、カソードが転送トランジスタMGS1のソース、転送トランジスタMGS2のソース、及び電荷排出トランジスタMOFDのソースに接続されている。転送トランジスタMGS1のドレインは、転送トランジスタMTX1のソースに接続されている。転送トランジスタMGS1のドレインと転送トランジスタMTX1のソースとの接続ノードは、容量成分を含み、電荷保持部MEM1として機能する。転送トランジスタMGS2のドレインは、転送トランジスタMTX2のソースに接続されている。転送トランジスタMGS2のドレインと転送トランジスタMTX2のソースとの接続ノードは、容量成分を含み、電荷保持部MEM2として機能する。
転送トランジスタMTX1のドレイン及び転送トランジスタMTX2のドレインは、リセットトランジスタMRSのソース及び増幅トランジスタMSFのゲートに接続されている。転送トランジスタMTX1のドレイン、転送トランジスタMTX2のドレイン、リセットトランジスタMRSのソース及び増幅トランジスタMSFのゲートの接続ノードは、いわゆるフローティングディフュージョンFDである。フローティングディフュージョンFDは、容量成分を含み、電荷保持部として機能するとともに、この容量成分からなる電荷電圧変換部を構成する。電荷排出トランジスタMOFDのドレイン、リセットトランジスタMRSのドレイン及び増幅トランジスタMSFのドレインは、電源ノード(電圧VDD)に接続されている。増幅トランジスタMSFのソースは、選択トランジスタMSELのドレインに接続されている。画素12の出力ノードでもある選択トランジスタMSELのソースは、垂直信号線16に接続されている。
被写体の光学像が画素部10に入射すると、各画素12のフォトダイオードPDは、入射光をその光量に応じた量の電荷に変換(光電変換)するとともに、生じた電荷を蓄積する。電荷排出トランジスタMOFDは、オンすることによりフォトダイオードPDの電荷を排出し、フォトダイオードPDを電圧VDDに応じた電圧にリセットする。電荷排出トランジスタMOFDをオフにすることで、フォトダイオードPDにおける電荷の蓄積を開始することができる。転送トランジスタMGS1は、オンすることによりフォトダイオードPDの電荷を電荷保持部MEM1に転送する。転送トランジスタMTX1は、オンすることにより電荷保持部MEM1の電荷をフローティングディフュージョンFDに転送する。同様に、転送トランジスタMGS2は、オンすることによりフォトダイオードPDの電荷を電荷保持部MEM2に転送する。転送トランジスタMTX2は、オンすることにより電荷保持部MEM2の電荷をフローティングディフュージョンFDに転送する。
フローティングディフュージョンFDは、その容量成分による電荷電圧変換によって、電荷保持部MEM1,MEM2から転送された電荷の量に応じた電圧となる。増幅トランジスタMSFは、ドレインに電圧VDDが供給され、ソースに選択トランジスタMSELを介して図示しない電流源からバイアス電流が供給される構成となっており、ゲートを入力ノードとする増幅部(ソースフォロワ回路)を構成する。これにより増幅トランジスタMSFは、フローティングディフュージョンFDの電圧に基づく信号Vvlを、選択トランジスタMSELを介して垂直信号線16に出力する。リセットトランジスタMRSは、オンすることによりフローティングディフュージョンFDを電圧VDDに応じた電圧にリセットする。
図12に示す回路構成の画素12の場合、各行の制御線14は、転送トランジスタMGS1のゲートに接続された信号線と、転送トランジスタMGS2のゲートに接続された信号線と、を含む。また、各行の制御線14は、転送トランジスタMTX1のゲートに接続された信号線と、転送トランジスタMTX2のゲートに接続された信号線と、を更に含む。また、各行の制御線14は、電荷排出トランジスタMOFDのゲートに接続された信号線と、リセットトランジスタMRSのゲートに接続された信号線と、選択トランジスタMSELのゲートに接続された信号線と、を更に含む。
転送トランジスタMGS1には、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φGS1が供給される。転送トランジスタMGS2には、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φGS2が供給される。転送トランジスタMTX1には、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φTX1が供給される。転送トランジスタMTX2には、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φTX2が供給される。電荷排出トランジスタMOFDには、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φOFDが供給される。リセットトランジスタMRSには、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φRESが供給される。選択トランジスタMSELには、制御線14を介して垂直走査回路20から制御信号φSELが供給される。画素部10内の複数の画素12は、垂直走査回路20から供給される制御信号φGS1,φGS2,φTX1,φTX2,φRES,φSELにより、行単位で制御される。画素12の各トランジスタがN型トランジスタで構成される場合、これら制御信号がHighレベル(Hレベル)のときに対応するトランジスタはオン状態となり、これら制御信号がLowレベル(Lレベル)のときに対応するトランジスタはオフ状態となる。
次に、撮像素子100の動作タイミングについて、図13を用いて説明する。図13は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の読み出し動作を示すタイミング図である。
あるフレームにおける信号の読み出し動作は、例えば時刻T40から開始される。時刻T40は、当該フレームにおける1行目の画素12の長秒信号の読み出し動作が開始する時刻である。
時刻T40において、制御信号φOFDをHレベルとし、フォトダイオードPDをリセットしたのち、制御信号φOFDをLレベルとし、フォトダイオードPDにおける電荷の蓄積を開始する。
次いで、時刻T41において、制御信号φGS1をHレベルとし、時刻T40から時刻T41までの期間の間にフォトダイオードPDに蓄積した電荷を電荷保持部MEM1に転送する。ここで、時刻T40から時刻T41までの期間が、長秒信号に対応する蓄積時間T1である。制御信号φGS1をLレベルとして電荷保持部MEM1への電荷の転送を終了したのち、制御信号φOFDをHレベルとし、フォトダイオードPDをリセットする。その後、制御信号φOFDをLレベルとし、フォトダイオードPDにおける電荷の蓄積を再度開始する。
次いで、時刻T42において、制御信号φGS2をHレベルとし、時刻T41から時刻T42までの期間の間にフォトダイオードPDに蓄積した電荷を電荷保持部MEM2に転送する。ここで、時刻T41から時刻T42までの期間が、短秒信号に対応する蓄積時間T2である。制御信号φGS2をLレベルとして電荷保持部MEM2への電荷の転送を終了したのち、制御信号φOFDをHレベルとし、フォトダイオードPDをリセットする。その後、制御信号φOFDをLレベルとし、フォトダイオードPDにおける電荷の蓄積を再度開始する。
次いで、時刻T42から時刻T45の期間において、各々の画素12に対し、電荷保持部MEM1に保持された電荷に基づく信号(長秒信号)の読み出しと、電荷保持部MEM2に保持された電荷に基づく信号(短秒信号)の読み出しと、を行毎に順次行う。例えば、時刻T42から時刻T43の期間が、1行目の画素12の電荷保持部MEM1に蓄積された電荷に基づく信号(長秒信号)の読み出しを行う期間である。時刻T43から時刻T44の期間が、1行目の画素12の電荷保持部MEM2に蓄積された電荷に基づく信号(短秒信号)の読み出しを行う期間である。2行目以降の画素12からの長秒信号及び短秒信号の読み出しは、時刻T44以降、行毎に順次行う。
長秒信号の読み出しでは、フローティングディフュージョンFDをリセットしたのち、電荷保持部MEM1に蓄積された電荷をフローティングディフュージョンFDに転送し、フローティングディフュージョンFDの電圧に応じた信号を垂直信号線16に出力する。短秒信号の読み出しでは、フローティングディフュージョンFDをリセットしたのち、電荷保持部MEM2に蓄積された電荷をフローティングディフュージョンFDに転送し、フローティングディフュージョンFDの電圧に応じた信号を垂直信号線16に出力する。この一連の読み出し動作を、垂直走査回路20による制御のもとで各行に対して行い、最終行であるm行目の画素12の読み出しが終了した時刻が、時刻T45である。
次に、撮像素子100における1行分の読み出し動作について、図14を用いてより具体的に説明する。図14は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の1行分の読み出し動作を示すタイミング図である。
前述のように、1行目の画素において、時刻T42から時刻T43は蓄積時間T1に対応する長秒信号の読み出し期間であり、時刻T43から時刻T44は蓄積時間T2に対応する短秒信号の読み出し期間である。なお、ここでは長秒信号を読み出した後に短秒信号を読み出す例を説明するが、短秒信号を読み出した後に長秒信号を読み出すようにしてもよい。
まず、1行目の画素12の長秒信号の読み出し期間である時刻T42から時刻T43までの動作について説明する。
1行目の画素12が選択された初期状態において、垂直走査回路20により、制御信号φRESが一時的にHレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDの電圧がリセットされる。これにより、フローティングディフュージョンFDのリセット電圧に応じた信号(N信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。なお、ここでは長秒信号に対応するN信号を、「N1信号」と呼ぶものとする。
また、フローティングディフュージョンFDのリセットと並行して、増幅器33のリセット信号が一時的にHレベルへと制御され、増幅器33の出力(信号Vamp)がリセットされる。垂直走査回路20により制御信号φRESがLレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDのリセットが終了した後、増幅器33のリセット信号がLレベルへと制御され、増幅器33のリセットが終了する。これにより、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたN1信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理を行う。以下、N1信号に対して行うAD変換を、「N1変換」と呼ぶものとする。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を示すカウント信号を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングでラッチ信号Vcmpをメモリ42に出力する。メモリ42は、比較器35からラッチ信号Vcmpを受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をNメモリ44-2に保持する。Nメモリ44-2に保持されたカウント値が、N1信号をAD変換したデジタルN1信号である。
次いで、垂直走査回路20により、制御信号φTX1が一時的にHレベルに制御され、電荷保持部MEM1に保持されている電荷がフローティングディフュージョンFDへと転送される。これにより、フローティングディフュージョンFDに転送された電荷の量に応じた信号(S信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。なお、ここでは長秒信号に対応するS信号を、「S1信号」と呼ぶものとする。そして、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたS1信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。これにより、信号Vampの出力電圧は、S1信号に対応する電圧ΔV1だけ増加する。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理を行う。以下、S1信号に対して行うAD変換を、「S1変換」と呼ぶものとする。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングでラッチ信号Vcmpをメモリ42に出力する。メモリ42は、比較器35からラッチ信号Vcmpを受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をSメモリ44-3に保持する。Sメモリ44-3に保持されたカウント値が、S1信号をAD変換したデジタルS1信号である。
一方、信号Vampの信号レベルが予め設定されている飽和レベル以上であり、S1変換期間において常にVamp>Vrとなる場合には、長秒飽和判定部38は、S1変換期間の終了時にHレベルの飽和判定信号JLをメモリ42に出力する。飽和判定信号JLは、メモリ42のJLメモリ44-1に保持される。
次に、1行目の画素12の短秒信号の読み出し期間である時刻T43から時刻T44までの動作について説明する。
長秒信号の読み出し期間に引き続き、1行目の画素12が選択された状態である。この状態で、垂直走査回路20により、制御信号φRESが一時的にHレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDの電圧がリセットされる。これにより、フローティングディフュージョンFDのリセット電圧に応じた信号(N信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。なお、ここでは短秒信号に対応するN信号を、「N2信号」と呼ぶものとする。
また、フローティングディフュージョンFDのリセットと並行して、増幅器33のリセット信号が一時的にHレベルへと制御され、増幅器33の出力(信号Vamp)がリセットされる。垂直走査回路20により制御信号φRESがLレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDのリセットが終了した後、増幅器33のリセット信号がLレベルへと制御され、増幅器33のリセットが終了する。これにより、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたN2信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理を行う。以下、N2信号に対して行うAD変換を、「N2変換」と呼ぶものとする。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を示すカウント信号を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングでラッチ信号Vcmpをメモリ42に出力する。メモリ42は、比較器35からラッチ信号Vcmpを受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をNメモリ44-4に保持する。Nメモリ44-4に保持されたカウント値が、N2信号をAD変換したデジタルN2信号である。
次いで、垂直走査回路20により、制御信号φTX2が一時的にHレベルに制御され、電荷保持部MEM2に保持されている電荷がフローティングディフュージョンFDへと転送される。これにより、フローティングディフュージョンFDに転送された電荷の量に応じた信号(S信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。なお、ここでは短秒信号に対応するS信号を、「S2信号」と呼ぶものとする。そして、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたS2信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。これにより、信号Vampの出力電圧は、S2信号に対応する電圧ΔV2だけ増加する。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理を行う。以下、S2信号に対して行うAD変換を、「S2変換」と呼ぶものとする。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を示すカウント信号を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングでラッチ信号Vcmpをメモリ42に出力する。メモリ42は、比較器35からラッチ信号Vcmpを受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をSメモリ44-5に保持する。Sメモリ44-5に保持されたカウント値が、S2信号をAD変換したデジタルS2信号である。
このようにして、各列のメモリ42に、飽和判定信号JL、デジタルN1信号、デジタルS1信号、デジタルN2信号及びデジタルS2信号が保持される。各列のメモリ42に保持されたこれらデジタル信号は、水平走査回路50から供給される制御信号に応じて列毎に順次、信号処理部60へと転送される。
次に、信号処理部200の構成及び動作について、図15を用いて説明する。図15は、本実施形態による撮像装置における信号処理部200の構成及び動作を説明する図である。
本実施形態による撮像装置の信号処理部200は、図15に示すように、信号選択部250と、HDR合成部260と、を有する。信号選択部250は、長短選択信号生成部252と、セレクタ254と、を有する。
長短選択信号生成部252は、撮像素子100から受信した飽和判定信号JLを、複数画素分保持する。モノクロセンサの場合、長短選択信号生成部252は、N-1列目の画素12に対応する飽和判定信号JL(N-1)と、N列目の画素12に対応する飽和判定信号JL(N)と、N+1列目の画素12に対応する飽和判定信号JL(N+1)と、を保持する。そして、長短選択信号生成部252は、飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)に基づき、N列目の画素12に対応する長短選択信号JJ(N)を生成し、セレクタ254に送信する。
飽和判定信号JL(N)が1の場合は、無条件で長短選択信号JJ(N)として1を出力する。飽和判定信号JL(N)が0の場合でも、飽和判定信号JL(N-1)及び飽和判定信号JL(N+1)のうちの一方が1であれば、長短選択信号JJ(N)として1を出力する。飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)の総てが0の場合にだけ、長短選択信号JJ(N)として0を出力する。
セレクタ254は、長短選択信号生成部252から受信した長短選択信号JJ(N)に応じて、撮像素子100から受信した長秒信号(N)及び短秒信号(N)のうちの一方を選択して出力する。ここで、長秒信号(N)は、Nメモリ44-2から転送されるデジタルN1信号と、Sメモリ44-3から転送されるデジタルS1信号である。また、短秒信号(N)は、Nメモリ44-4から転送されるデジタルN2信号と、Sメモリ44-5から転送されるデジタルS2信号である。例えば、長短選択信号JJ(N)が0の場合には長秒信号(N)を出力し、長短選択信号JJ(N)が1の場合には短秒信号を出力する。
このようにして、信号選択部250は、長短選択信号生成部252が生成した長短選択信号JJ(N)と、長秒信号(N)及び短秒信号(N)のうちセレクタ254により選択された信号と、をHDR合成部260に出力する。
HDR合成部260は、S信号からN信号を減算する演算処理を行ってノイズ成分を除去した後、例えば第1実施形態において説明した手法により、HDR合成処理とHDR圧縮処理とを行い、HDR圧縮データを出力する。
本実施形態による撮像装置においても、第1実施形態と同様、長秒信号が飽和していない画素の信号であっても、隣接する画素の長秒信号が飽和している場合には、短秒信号を用いて画素値を算出する。したがって、本実施形態の撮像装置によっても、空間的なばらつきの小さいHDR合成信号を得ることができる。更に、本実施形態においては撮像素子の内部で列並列により飽和判定処理を行うため、判定処理の高速化が可能となる。また、撮像装置の内部で信号選択処理を行うため、撮像装置の外部へ送信するデータの帯域を削減することも可能である。
このように、本実施形態によれば、長秒画像と短秒画像とを用いてハイダイナミックレンジ画像を合成する際に、長秒画像と短秒画像との間のつなぎ部分における画質を向上することができる。
[第4実施形態]
本発明の第4実施形態による撮像装置について、図16乃至図18を用いて説明する。第1乃至第3実施形態による撮像装置と同様の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略し或いは簡潔にする。
はじめに、本実施形態による撮像装置の構造について、図16を用いて説明する。図16は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の概略構成を示すブロック図である。なお、本実施形態による撮像装置の全体構成は、図1に示す第1実施形態による撮像装置と基本的には同じである。
本実施形態による撮像装置の撮像素子100は、図16に示すように、第1乃至第3実施形態における信号選択部250に対応する信号選択部48を各列に有している。また、JLメモリ44-1は、メモリ42とは別に設けられており、信号選択部48を介してメモリ42に接続されている。また、メモリ42は、長秒信号のN1信号及び短秒信号のN2信号を保持するためのメモリとしてNメモリ44-2を共用し、長秒信号のS1信号及び短秒信号のS2信号を保持するためのメモリとしてSメモリ44-3を共用するように構成されている。また、メモリ42は、JJメモリ44-6を更に有している。その他の点は、図11に示す第3実施形態による撮像装置の撮像素子と基本的には同じである。
画素12の各々から出力される信号Vvlは、垂直走査回路20によって行毎に対応する列の垂直信号線16へと読み出される。各列の増幅器33は、対応する列の垂直信号線16を介して画素12から読み出された信号Vvlを所定のゲインで増幅し、増幅した信号Vampを比較器35及び長秒飽和判定部38に出力する。各列の長秒飽和判定部38は、対応する列の増幅器33で増幅された信号のレベルが予め設定された所定の飽和閾値のレベルを超えたか否かを判定し、判定結果を示す飽和判定信号JLを対応する列のJLメモリ44-1に出力する。JLメモリ44-1は、長秒飽和判定部38から受信した飽和判定信号JLを保持する。
参照信号発生回路36は、時間とともに信号レベルが一定の変化量で変化する参照信号Vrを比較器35に出力する。各列の比較器35は、対応する列の増幅器33から受信した信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、比較結果を示す信号Vcmpをメモリ42及び信号選択部48に出力する。カウンタ46は、クロック信号の計数値であるカウント値を示すカウント信号を、各列のメモリ42に出力する。
信号選択部48は、比較器35から受信したラッチ信号Vcmp及びJLメモリ44-1に保持されている飽和判定信号JLに基づき長短選択信号JJを生成し、メモリ42に出力する。メモリ42は、信号選択部48により生成された長短選択信号JJをJJメモリ44-6に保持する。
各列のメモリ42は、信号Vcmpの信号レベルが変化したときにカウンタ46から受信しているカウント信号を、信号VcmpをAD変換したデジタル信号として保持する。メモリ42は、AD変換したデジタル信号を、信号の種類に応じて、Nメモリ44-2又はSメモリ44-3に保持する。
水平走査回路50は、各列のメモリ42に保持された長短選択信号JJ及びデジタル信号N,Sを列毎に順次読み出し、信号処理部60へと転送する。信号処理部60は、メモリ42から順次読み出された長短選択信号JJ及びデジタル信号N,Sに対して演算処理を行い、デジタル信号Dを出力する。
次に、撮像素子100における1行分の読み出し動作について、図17を用いて説明する。図17は、本実施形態による撮像装置における撮像素子の1行分の読み出し動作を示すタイミング図である。
まず、1行目の画素12の長秒信号の読み出し期間である時刻T52から時刻T53までの動作について説明する。
1行目の画素12が選択された初期状態において、垂直走査回路20により、制御信号φRESが一時的にHレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDの電圧がリセットされる。これにより、フローティングディフュージョンFDのリセット電圧に応じた信号(N1信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。
また、フローティングディフュージョンFDのリセットと並行して、増幅器33のリセット信号が一時的にHレベルへと制御され、増幅器33の出力(信号Vamp)がリセットされる。垂直走査回路20により制御信号φRESがLレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDのリセットが終了した後、増幅器33のリセット信号がLレベルへと制御され、増幅器33のリセットが終了する。これにより、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたN1信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理(N1変換)を行う。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を示すカウント信号を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングでラッチ信号Vcmpをメモリ42に出力する。メモリ42は、比較器35からラッチ信号Vcmpを受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をNメモリ44-2に保持する。Nメモリ44-2に保持されたカウント値が、N1信号をAD変換したデジタルN1信号である。
次いで、垂直走査回路20により、制御信号φTX1が一時的にHレベルに制御され、電荷保持部MEM1に保持されている電荷がフローティングディフュージョンFDへと転送される。これにより、フローティングディフュージョンFDに転送された電荷の量に応じた信号(S1信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。そして、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたS1信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。これにより、信号Vampの出力電圧は、S1信号に対応する電圧ΔV1だけ増加する。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理(S1変換)を行う。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングでラッチ信号Vcmpをメモリ42に出力する。メモリ42は、比較器35からラッチ信号Vcmpを受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をSメモリ44-3に保持する。Sメモリ44-3に保持されたカウント値が、S1信号をAD変換したデジタルS1信号である。
一方、信号Vampの信号レベルが予め設定されている飽和レベル以上であり、S1変換期間において常にVamp>Vrとなる場合には、長秒飽和判定部38は、S1変換期間の終了時にHレベルの飽和判定信号JLをJLメモリ44-1に出力する。
次に、時刻T53から時刻T54の期間において、Nメモリ44-2及びSメモリ44-3に長秒信号を保持するか短秒信号を保持するかの基準となる長短選択信号JJを生成する。信号選択部48は、飽和判定信号JLに基づき長短選択信号JJを生成し、メモリ42のJJメモリ44-6に保持する。例えばモノクロセンサの場合、信号選択部48は、飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)に基づき、N列目の画素12に対応する長短選択信号JJ(N)を生成し、N列目のメモリのJJメモリ44-6に保持する。飽和判定信号JL(N)が1の場合は、無条件で長短選択信号JJ(N)として1を出力する。飽和判定信号JL(N)が0の場合でも、飽和判定信号JL(N-1)及び飽和判定信号JL(N+1)のうちの一方が1であれば、長短選択信号JJ(N)として1を出力する。飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)の総てが0の場合にだけ、長短選択信号JJ(N)として0を出力する。
例えば、信号選択部48は、Nメモリ44-2及びSメモリ44-3に短秒信号を保持する場合にはHレベルの長短選択信号JJ(N)を出力する。Nメモリ44-2及びSメモリ44-3に長秒信号を保持する場合にはLレベルの長短選択信号JJ(N)を出力する。
次に、1行目の画素12の短秒信号の読み出し期間である時刻T54から時刻T55までの動作について説明する。
長秒信号の読み出し期間に引き続き、1行目の画素12が選択された状態である。この状態で、垂直走査回路20により、制御信号φRESが一時的にHレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDの電圧がリセットされる。これにより、フローティングディフュージョンFDのリセット電圧に応じた信号(N2信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。
また、フローティングディフュージョンFDのリセットと並行して、増幅器33のリセット信号が一時的にHレベルへと制御され、増幅器33の出力(信号Vamp)がリセットされる。垂直走査回路20により制御信号φRESがLレベルに制御され、画素12のフローティングディフュージョンFDのリセットが終了した後、増幅器33のリセット信号がLレベルへと制御され、増幅器33のリセットが終了する。これにより、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたN2信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理(N2変換)を行う。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を示すカウント信号を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングで信号選択部48にラッチ信号Vcmpを出力する。信号選択部48は、ラッチ信号Vcmp及びJJメモリ44-6に保持されている長短選択信号JJに応じた書き込み信号Vcmp2を生成し、メモリ42に出力する。メモリ42は、信号選択部48からHレベルの書き込み信号Vcmp2を受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をNメモリ44-2に保持する。
具体的には、信号選択部48は、ラッチ信号Vcmp及び長短選択信号JJがともにHレベルの場合に、Hレベルの書き込み信号Vcmp2を出力する。つまり、メモリ42は、長短選択信号JJがHレベルの場合に、ラッチ信号Vcmpの出力タイミングに応じたカウント値(デジタルN2信号)を、Nメモリ44-2に保持する。一方、長短選択信号JJがLレベルの場合には、デジタルN2信号はNメモリ44-2に保持されない。
次いで、垂直走査回路20により、制御信号φTX2が一時的にHレベルに制御され、電荷保持部MEM2に保持されている電荷がフローティングディフュージョンFDへと転送される。これにより、フローティングディフュージョンFDに転送された電荷の量に応じた信号(S2信号)が、垂直信号線16に信号Vvlとして出力される。そして、増幅器33に設定された所定のゲイン(ここでは1倍とする)で増幅されたS2信号が、信号Vampとして増幅器33から出力される。これにより、信号Vampの出力電圧は、S2信号に対応する電圧ΔV2だけ増加する。
次いで、増幅器33から出力された信号Vampに対してAD変換処理(S2変換)を行う。参照信号発生回路36は、一定の変化量で参照信号Vrの変化を開始する。また、カウンタ46は、参照信号Vrの変化の開始と同期してカウントを開始し、カウント値を示すカウント信号を各列のメモリ42へと出力する。
比較器35は、信号Vampの信号レベルと参照信号Vrの信号レベルとを比較し、これらの信号レベルが同じになったタイミングで信号選択部48にラッチ信号Vcmpを出力する。信号選択部48は、ラッチ信号Vcmp及びJJメモリ44-6に保持されている長短選択信号JJに応じた書き込み信号Vcmp2を生成し、メモリ42に出力する。メモリ42は、信号選択部48からHレベルの書き込み信号Vcmp2を受信したタイミングにおいてカウンタ46から受信しているカウント値をラッチし、その値をSメモリ44-3に保持する。
具体的には、信号選択部48は、ラッチ信号Vcmp及び長短選択信号JJがともにHレベルの場合に、Hレベルの書き込み信号Vcmp2を出力する。つまり、メモリ42は、長短選択信号JJがHレベルの場合に、ラッチ信号Vcmpの出力タイミングに応じたカウント値(デジタルS2信号)を、Sメモリ44-3に保持する。一方、長短選択信号JJがLレベルの場合には、デジタルS2信号はSメモリ44-3に保持されない。
この結果、長短選択信号JJがHレベルの場合、Nメモリ44-2には、デジタルN信号としてデジタルN2信号が保持され、Sメモリ44-3にはデジタルS信号としてデジタルS2信号が保持される。また、長短選択信号JJがLレベルの場合、Nメモリ44-2には、デジタルN信号としてデジタルN1信号が保持され、Sメモリ44-3にはデジタルS信号としてデジタルS1信号が保持される。
各列のメモリ42に保持された長短選択信号JJ、デジタルN信号及びデジタルS信号は、水平走査回路50から供給される制御信号に応じて列毎に順次、信号処理部60へと転送される。信号処理部60は、第3実施形態におけるHDR合成部260と同じ処理を行い、HDR圧縮データDを出力する。
次に、信号選択部48の構成例について、図18を用いて説明する。図18は、信号選択部48の構成例を示す回路図である。図18(a)が長短選択信号JJの生成回路であり、図18(b)が書き込み信号Vcmp2の生成回路である。
信号選択部48は、長短選択信号JJの生成回路と、書き込み信号Vcmp2の生成回路と、を有する。長短選択信号JJの生成回路は、例えば図18(a)に示すように、隣り合う3列毎の飽和判定信号JLの論理積をとる複数のOR回路により構成される。例えば、飽和判定信号JL(N-1),JL(N),JL(N+1)に対する論理積が、N列目の長短選択信号JJ(N)となる。書き込み信号Vcmp2の生成回路は、例えば図18(b)に示すように、長短選択信号JJとラッチ信号Vcmpとの論理和をとるAND回路により構成される。例えば、長短選択信号JJ(N)及びラッチ信号Vcmp(N)に対する論理積が、N列目の書き込み信号Vcmp2(N)となる。
本実施形態による撮像装置においても、第1実施形態と同様、長秒信号が飽和していない画素の信号であっても、隣接する画素の長秒信号が飽和している場合には、短秒信号を用いて画素値を算出する。したがって、本実施形態の撮像装置によっても、空間的なばらつきの小さいHDR合成信号を得ることができる。更に、本実施形態においては撮像素子の内部で列並列により飽和判定と信号選択とを行うため、判定処理の高速化が可能となる。また、長秒信号及び短秒信号の各々に対応して列メモリを設ける必要はないため、撮像素子の周辺回路面積を削減することができる。また、撮像装置の内部で信号選択処理を行うため、撮像装置の外部へ送信するデータの帯域を削減することも可能である。
このように、本実施形態によれば、長秒画像と短秒画像とを用いてハイダイナミックレンジ画像を合成する際に、長秒画像と短秒画像との間のつなぎ部分における画質を向上することができる。
[第5実施形態]
本発明の第5実施形態による撮像システムについて、図19を用いて説明する。図19は、本実施形態による撮像システムの概略構成を示すブロック図である。
上記第1乃至第4実施形態で述べた撮像装置300は、種々の撮像システムに適用可能である。適用可能な撮像システムの例としては、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダ、監視カメラ、複写機、ファックス、携帯電話、車載カメラ、観測衛星などが挙げられる。また、レンズなどの光学系と撮像装置とを備えるカメラモジュールも、撮像システムに含まれる。図19には、これらのうちの一例として、デジタルスチルカメラのブロック図を例示している。
図19に例示した撮像システム400は、撮像装置401、被写体の光学像を撮像装置401に結像させるレンズ402、レンズ402を通過する光量を可変にするための絞り404、レンズ402の保護のためのバリア406を有する。レンズ402及び絞り404は、撮像装置401に光を集光する光学系である。撮像装置401は、第1乃至第4実施形態のいずれかで説明した撮像装置300であって、レンズ402により結像された光学像を画像データに変換する。
撮像システム400は、また、撮像装置401から出力される出力信号の処理を行う信号処理部408を有する。信号処理部408は、必要に応じて入力信号に対して各種の補正、圧縮を行って出力する信号処理の動作を行う。例えば、信号処理部408は、入力信号に対して、RGBの画素出力信号をY,Cb,Cr色空間へ変換する変換処理や、ガンマ補正などの所定の画像処理を施す。また、信号処理部408は、第1乃至第4実施形態において説明した撮像装置300における信号処理部200の一部又は総ての機能を備えていてもよい。
撮像システム400は、更に、画像データを一時的に記憶するためのメモリ部410、外部コンピュータ等と通信するための外部インターフェース部(外部I/F部)412を有する。さらに撮像システム400は、撮像データの記録又は読み出しを行うための半導体メモリ等の記録媒体414、記録媒体414に記録又は読み出しを行うための記録媒体制御インターフェース部(記録媒体制御I/F部)416を有する。なお、記録媒体414は、撮像システム400に内蔵されていてもよく、着脱可能であってもよい。
更に撮像システム400は、各種演算を行うとともにデジタルスチルカメラ全体を制御する全体制御・演算部418、撮像装置401と信号処理部408に各種タイミング信号を出力するタイミング発生部420を有する。ここで、タイミング信号などは外部から入力されてもよく、撮像システム400は少なくとも撮像装置401と、撮像装置401から出力された出力信号を処理する信号処理部408とを有すればよい。全体制御・演算部418及びタイミング発生部420は、撮像装置401の制御機能の一部又は総てを実施するように構成してもよい。
撮像装置401は、画像用信号を信号処理部408に出力する。信号処理部408は、撮像装置401から出力される画像用信号に対して所定の信号処理を実施し、画像データを出力する。信号処理部408は、画像用信号を用いて、画像を生成する。信号処理部408で生成された画像は、例えば記録媒体414に記録される。また、信号処理部408で生成された画像は、液晶ディスプレイなどからなるモニターに動画或いは静止画として映し出される。記録媒体414に記憶された画像は、プリンタなどによってハードコピーすることができる。
なお、信号処理部408が備える機能は、撮像装置300とは別の信号処理装置により実現してもよい。また、信号処理部408が備える機能を、撮像装置300が有していてもよい。
このように、本実施形態によれば、第1乃至第4実施形態による撮像装置300を適用した撮像システムを実現することができる。
[第6実施形態]
本発明の第6実施形態による撮像システム及び移動体について、図20を用いて説明する。図20は、本実施形態による撮像システム及び移動体の構成例を示す概略図である。
図20(a)は、車載カメラに関する撮像システムの一例を示したものである。撮像システム500は、撮像装置510を有する。撮像装置510は、上記第1乃至第4実施形態のいずれかに記載の撮像装置300である。撮像システム500は、撮像装置510により取得された複数の画像データに対し、画像処理を行う画像処理部512と、撮像装置510により取得された複数の画像データから視差(視差画像の位相差)の算出を行う視差取得部514を有する。また、撮像システム500は、算出された視差に基づいて対象物までの距離を算出する距離取得部516と、算出された距離に基づいて衝突可能性があるか否かを判定する衝突判定部518と、を有する。ここで、視差取得部514や距離取得部516は、対象物までの距離情報を取得する距離情報取得手段の一例である。すなわち、距離情報とは、視差、デフォーカス量、対象物までの距離等に関する情報である。衝突判定部518はこれらの距離情報のいずれかを用いて、衝突可能性を判定してもよい。距離情報取得手段は、専用に設計されたハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアモジュールによって実現されてもよい。また、FPGA(Field Programmable Gate Array)やASIC(Application Specific Integrated circuit)等によって実現されてもよいし、これらの組合せによって実現されてもよい。
撮像システム500は、車両情報取得装置520と接続されており、車速、ヨーレート、舵角などの車両情報を取得することができる。また、撮像システム500は、衝突判定部518での判定結果に基づいて、車両に対して制動力を発生させる制御信号を出力する制御装置である制御ECU530が接続されている。すなわち、制御ECU530は、距離情報に基づいて移動体を制御する移動体制御手段の一例である。また、撮像システム500は、衝突判定部518での判定結果に基づいて、ドライバーへ警報を発する警報装置540とも接続されている。例えば、衝突判定部518の判定結果として衝突可能性が高い場合、制御ECU530はブレーキをかける、アクセルを戻す、エンジン出力を抑制するなどして衝突を回避、被害を軽減する車両制御を行う。警報装置540は音等の警報を鳴らす、カーナビゲーションシステムなどの画面に警報情報を表示する、シートベルトやステアリングに振動を与えるなどしてユーザに警告を行う。
本実施形態では、車両の周囲、例えば前方又は後方を撮像システム500で撮像する。図20(b)に、車両前方(撮像範囲550)を撮像する場合の撮像システム500を示した。車両情報取得装置520は、撮像システム500を動作させ撮像を実行させるように指示を送る。このような構成により、測距の精度をより向上させることができる。第1乃至第4実施形態の撮像装置を撮像装置510として用いることにより、本実施形態の撮像システム500は、測距の精度をより向上させることができる。
以上の説明では、他の車両と衝突しないように制御する例を述べたが、他の車両に追従して自動運転する制御、車線からはみ出さないように自動運転する制御等にも適用可能である。更に、撮像システムは、自車両等の車両に限らず、例えば、船舶、航空機あるいは産業用ロボットなどの移動体(移動装置)に適用することができる。加えて、移動体に限らず、高度道路交通システム(ITS)等、広く物体認識を利用する機器に適用することができる。
[変形実施形態]
本発明は、上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。
例えば、いずれかの実施形態の一部の構成を他の実施形態に追加した例や、他の実施形態の一部の構成と置換した例も、本発明の実施形態である。
また、上記第5及び第6実施形態に示した撮像システムは、本発明の撮像装置を適用しうる撮像システム例を示したものであり、本発明の撮像装置を適用可能な撮像システムは図19及び図20に示した構成に限定されるものではない。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
100…撮像素子
200…信号処理部
210…前段処理部
220,38…長秒飽和判定部
230…長秒信号・判定信号保持部
240…短秒信号保持部
250,48…信号選択部
252…長短選択信号生成部
260…HDR合成部
300…撮像装置
400,500…撮像システム

Claims (15)

  1. 複数の行及び複数の列に渡って配され、各々が光電変換部を有する複数の画素と、
    前記複数の画素の各々から、第1の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第1の信号と、前記第1の露光時間よりも短い第2の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第2の信号と、を出力するように、前記複数の画素を制御する制御部と、
    前記複数の画素から出力される前記第1の信号の各々に対して、所定の値を超えているか否かを判定する判定処理を実行し、判定の結果を示す判定信号を出力する判定部と、
    前記複数の画素の各々の画像形成用の信号として、前記第1の信号及び前記第2の信号のうちの一方をそれぞれ選択する信号選択部と、を有し、
    前記信号選択部は、
    対象となる画素の前記判定信号及び前記対象となる画素を含む所定の領域に配された他の画素の前記判定信号前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択し、
    前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している場合、及び、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示しており、且つ、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第2の信号を選択する
    ことを特徴とする撮像装置。
  2. 前記所定の領域は、隣り合う複数列を含む
    ことを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
  3. 前記所定の領域は、隣り合う複数行を含む
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の撮像装置。
  4. 前記他の画素は、前記対象となる画素に隣接する画素である
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
  5. 前記他の画素は、前記対象となる画素と同じ色のカラーフィルタを備えた画素である
    ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。
  6. 前記信号選択部は、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示しており、且つ、前記他の画素のうち、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している前記判定信号が得られた前記他の画素の数が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している前記判定信号が得られた前記他の画素の数以上の場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択する
    ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記所定の値は、前記第1の信号の飽和閾値である
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記複数の列の各々に対応して設けられた複数のメモリを更に有し、
    前記複数のメモリの各々は、対応する列に配された前記画素から出力される前記第1の信号及び前記第2の信号を保持する
    ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
  9. 前記複数の列の各々に対応して設けられた複数のメモリを更に有し、
    前記複数のメモリの各々は、対応する列に配された前記画素から出力される前記第1の信号及び前記第2の信号のうち、前記信号選択部により前記画像形成用の信号として選択された信号を保持する
    ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
  10. 前記信号選択部は、各列の前記画素から出力される信号に対して列並列で信号選択処理を実行する
    ことを特徴とする請求項9記載の撮像装置。
  11. 前記判定部は、各列の前記画素から出力される前記第1の信号に対して列並列で前記判定処理を実行する
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の撮像装置。
  12. 前記複数の画素の前記画像形成用の信号として選択された前記第1の信号及び前記第2の信号を用いてハイダイナミックレンジ画像を合成する合成部を更に有する
    ことを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の撮像装置。
  13. 各々が光電変換部を有する複数の画素を有し、前記複数の画素の各々から、第1の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第1の信号と、前記第1の露光時間よりも短い第2の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第2の信号と、を出力する撮像素子から出力される信号を処理する信号処理装置であって、
    前記複数の画素から出力される前記第1の信号の各々に対して、所定の値を超えているか否かを判定し、判定の結果を示す判定信号を出力する判定部と、
    前記複数の画素の各々の画像形成用の信号として、前記第1の信号及び前記第2の信号のうちの一方をそれぞれ選択する信号選択部と、を有し、
    前記信号選択部は、
    対象となる画素の前記判定信号及び前記対象となる画素を含む所定の領域に配された他の画素の前記判定信号前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択し、
    前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している場合、及び、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示しており、且つ、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第2の信号を選択する
    ことを特徴とする信号処理装置。
  14. 各々が光電変換部を有する複数の画素を有し、前記複数の画素の各々から、第1の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第1の信号と、前記第1の露光時間よりも短い第2の露光時間の間に前記光電変換部で生じる電荷に基づく第2の信号と、を出力する撮像素子を有する撮像装置と、
    前記撮像装置から出力される信号を処理する信号処理部と、を有し、
    前記信号処理部は、
    前記複数の画素から出力される前記第1の信号の各々に対して、所定の値を超えているか否かを判定し、判定の結果を示す判定信号を出力する判定部と、
    前記複数の画素の各々の画像形成用の信号として、前記第1の信号及び前記第2の信号のうちの一方をそれぞれ選択する信号選択部と、を有し、
    前記信号選択部は、
    対象となる画素の前記判定信号及び前記対象となる画素を含む所定の領域に配された他の画素の前記判定信号前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第1の信号を選択し、
    前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示している場合、及び、前記対象となる画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていることを示しており、且つ、前記他の画素の前記判定信号が、前記第1の信号が前記所定の値を超えていないことを示している場合に、前記対象となる画素の前記画像形成用の信号として前記第2の信号を選択する
    ことを特徴とする撮像システム。
  15. 移動体であって、
    請求項1乃至12のいずれか1項に記載の撮像装置と、
    前記撮像装置の前記画素から出力される信号に基づく視差画像から、対象物までの距離情報を取得する距離情報取得手段と、
    前記距離情報に基づいて前記移動体を制御する制御手段と
    を有することを特徴とする移動体。
JP2018201644A 2018-10-26 2018-10-26 撮像装置及び撮像システム Active JP7260990B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018201644A JP7260990B2 (ja) 2018-10-26 2018-10-26 撮像装置及び撮像システム
US16/598,574 US10979647B2 (en) 2018-10-26 2019-10-10 Imaging device and imaging system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018201644A JP7260990B2 (ja) 2018-10-26 2018-10-26 撮像装置及び撮像システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020068501A JP2020068501A (ja) 2020-04-30
JP7260990B2 true JP7260990B2 (ja) 2023-04-19

Family

ID=70325644

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018201644A Active JP7260990B2 (ja) 2018-10-26 2018-10-26 撮像装置及び撮像システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10979647B2 (ja)
JP (1) JP7260990B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7157529B2 (ja) 2017-12-25 2022-10-20 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、および撮像装置の駆動方法
JP2020088464A (ja) * 2018-11-19 2020-06-04 キヤノン株式会社 撮像装置、画像処理装置、および画像処理方法
JP7237622B2 (ja) 2019-02-05 2023-03-13 キヤノン株式会社 光電変換装置
JP2021027543A (ja) * 2019-08-08 2021-02-22 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 信号処理装置、信号処理方法、および撮像装置
JP2022051134A (ja) * 2020-09-18 2022-03-31 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006148743A (ja) 2004-11-24 2006-06-08 Seiko Epson Corp 撮像装置
JP2009273119A (ja) 2008-04-07 2009-11-19 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および電子機器

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4399693B2 (ja) 2000-09-21 2010-01-20 ソニー株式会社 撮像装置
JP3731729B2 (ja) 2000-12-20 2006-01-05 松下電器産業株式会社 画像合成回路
JP4379408B2 (ja) 2004-12-07 2009-12-09 セイコーエプソン株式会社 信号処理部および撮像装置
JP2007194687A (ja) 2006-01-17 2007-08-02 Seiko Epson Corp 撮像装置
US7978239B2 (en) * 2007-03-01 2011-07-12 Eastman Kodak Company Digital camera using multiple image sensors to provide improved temporal sampling
US20090073293A1 (en) * 2007-06-27 2009-03-19 Yoel Yaffe CMOS image sensors with increased dynamic range and methods of operating the same
JP2013026722A (ja) * 2011-07-19 2013-02-04 Toshiba Corp 画像処理装置
JP5978949B2 (ja) * 2012-03-16 2016-08-24 富士通株式会社 画像合成装置及び画像合成用コンピュータプログラム
TWI645707B (zh) * 2013-10-21 2018-12-21 索尼半導體解決方案公司 Solid-state imaging device and electronic device
KR102149187B1 (ko) * 2014-02-21 2020-08-28 삼성전자주식회사 전자 장치와, 그의 제어 방법
US9342871B2 (en) * 2014-05-30 2016-05-17 Apple Inc. Scene motion correction in fused image systems
US9392160B2 (en) * 2014-06-20 2016-07-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit and method providing wide dynamic-range operation of auto-focus(AF) focus state sensor elements, digital imaging device, and computer system including same
JP6541324B2 (ja) 2014-10-17 2019-07-10 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに、撮像システム
JP6448340B2 (ja) 2014-12-10 2019-01-09 キヤノン株式会社 固体撮像装置、撮像システム及び固体撮像装置の駆動方法
US9912886B2 (en) 2014-12-17 2018-03-06 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus and driving method of image sensor
JP6584131B2 (ja) 2015-05-08 2019-10-02 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、および信号処理方法
JP6628497B2 (ja) 2015-05-19 2020-01-08 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、および画像処理方法
JP6436953B2 (ja) 2016-09-30 2018-12-12 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに撮像システム
US10701277B2 (en) * 2017-05-31 2020-06-30 Fotonation Limited Automatic exposure module for an image acquisition system
JP7075208B2 (ja) 2017-12-22 2022-05-25 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像システム

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006148743A (ja) 2004-11-24 2006-06-08 Seiko Epson Corp 撮像装置
JP2009273119A (ja) 2008-04-07 2009-11-19 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
US20200137286A1 (en) 2020-04-30
JP2020068501A (ja) 2020-04-30
US10979647B2 (en) 2021-04-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7260990B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP6740067B2 (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
JP7046551B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
JP7439325B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP7091080B2 (ja) 装置、システム、および移動体
JP6806553B2 (ja) 撮像装置、撮像装置の駆動方法及び撮像システム
JP2019110387A (ja) 撮像装置及びその駆動方法
CN107666570B (zh) 成像设备、成像系统和移动体
JP6929114B2 (ja) 光電変換装置及び撮像システム
JP7263080B2 (ja) 撮像装置及び信号処理装置
JP6643291B2 (ja) 撮像装置及びその駆動方法
US20190253067A1 (en) Image pickup device, image pickup system, and moving apparatus
JP7353752B2 (ja) 光電変換装置及び撮像システム
JP6938352B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP6976776B2 (ja) 固体撮像装置、撮像システム、及び移動体
JP6904772B2 (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
US20100271518A1 (en) Solid-state imaging device and camera system
JP2019036770A (ja) 撮像装置及び撮像システム
US11700467B2 (en) Photoelectric conversion device, photoelectric conversion system, and movable body
JP2019129491A (ja) 光電変換装置、撮像システム、移動体
US11418733B2 (en) Imaging device and imaging system
JP7299711B2 (ja) 光電変換装置及びその駆動方法
JP2019153985A (ja) 撮像装置
JP2023000287A (ja) 光電変換装置、光電変換システム、輸送機器および信号処理装置
JP2023023214A (ja) 光電変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210930

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20220630

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220909

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220920

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221118

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230309

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230407

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7260990

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151