JP7257915B2 - 荷電粒子ビーム装置および真空用配管 - Google Patents

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Description

本実施形態は、荷電粒子ビーム装置および真空用配管に関する。
マスク描画装置やマスク検査装置等の荷電粒子ビーム装置は、荷電粒子ビームの照射空間として設けられている鏡筒内を真空引きし、該鏡筒内の減圧雰囲気中において荷電粒子ビームをマスクへ照射する。このとき、鏡筒内を真空引きするために、真空ポンプを鏡筒に接続する。
特開2007-165232号公報
しかし、真空ポンプは、真空配管を介して鏡筒に接続されている。従って、真空ポンプの振動が真空配管を伝わって鏡筒に伝わり、荷電粒子ビームの照射精度を悪化させる場合があった。また、真空配管で真空ポンプと鏡筒とを接続する際に、真空ポンプと鏡筒との位置合わせが難しく、真空ポンプおよび鏡筒の組み立てに時間がかかる、という問題もあった。
そこで、本実施形態の目的は、荷電粒子ビームの照射精度を維持し、かつ、真空ポンプと鏡筒とを容易に配管接続することができる荷電粒子ビーム装置および真空用配管を提供することである。
本実施形態による荷電粒子ビーム装置は、荷電粒子を処理対象に照射するチャンバと、チャンバに接続される真空用配管と、真空用配管に接続され、真空用配管を介してチャンバ内を減圧する減圧装置と、を備える。チャンバは、真空用配管と接続される排気部を有し、減圧装置は、真空用配管と接続される吸気部とを有する。真空用配管は、排気部と接続し、所定方向に伸縮可能な第1配管および第2配管と、第1配管と接続し、中心軸が所定方向と垂直な第3配管と、第2配管と接続し、中心軸が第3配管と平行で所定方向と垂直な第4配管と、それぞれ第3配管、第4配管と接続するとともに吸気部と接続し、それぞれ所定方向に伸縮可能な第5配管および第6配管と、を含む。
本実施形態による真空用配管は、減圧装置と排気部との間を配管接続する真空用配管であって、チャンバに接続される排気部と、排気部に接続され、所定方向に伸縮可能な第1配管および第2配管と、第1配管と接続され、中心軸が所定方向と垂直な第3配管と、第2配管と接続され、中心軸が所定方向と垂直な第4配管と、第3配管と接続され、所定方向に伸縮可能な第5配管と、第4配管と接続され、所定方向に伸縮可能な第6配管と、第5配管および第6配管と接続されるとともに、減圧装置に接続される吸気部と、を含む。
第1実施形態の電子ビーム描画装置の構成を示す図。 電子鏡筒、真空ポンプおよび真空用配管の構成を示す平面図。 第2実施形態による描画装置の構成例を示す断面図。 第3実施形態による描画装置の構成例を示す断面図。 第4実施形態による描画装置の構成例を示す図。
以下、図面を参照して本発明に係る実施形態を説明する。本実施形態は、本発明を限定するものではない。図面は模式的または概念的なものであり、各部分の比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。明細書と図面において、既出の図面に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
以下に示す本実施形態では、電子ビームを放射する電子銃を備えた電子ビーム描画装置の構成について説明する。但し、ビームは、電子ビームに限定するものではなく、イオンビーム等の他の荷電粒子を用いたビームでも構わない。また、本実施形態は、描画装置だけでなく、検査装置等に適用してもよい。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態の電子ビーム描画装置の構成を示す図である。図1において、電子ビーム描画装置(以下描画装置)100は、可変成形型の電子ビーム描画装置の一例であり、描画部150と制御演算部160とを備えている。
描画部150は、描画室101と、電子鏡筒102と、を備えている。
チャンバとしての電子鏡筒102は、電子銃201、照明レンズ202、ブランキング偏向器212、ブランキングアパーチャ214、成形アパーチャ203,206、投影レンズ204、成形偏向器205、対物レンズ207、偏向器208,209、電子銃室217を備える。電子鏡筒102は、真空ポンプ117に接続されており、真空ポンプ117によって真空引きされ減圧されている。電子銃201は、電子銃室217内に収容されおり、荷電粒子として電子ビームを発生する。
照明レンズ202、投影レンズ204および対物レンズ207は、いずれも励磁を変えて電子ビームを収束させ、結像位置(照射位置)を調節する電磁レンズである。これらのレンズは、電子銃201が配置された上流側の一端から、ステージ105が配置された下流側に向けて、電子ビーム200の軸方向に沿って配列されている。
照明レンズ202は、電子銃201から出射された電子ビーム200を成形アパーチャ203に照明する。成形アパーチャ203で成形された電子ビーム200は、投影レンズ204で成形アパーチャ206に投影される。成形アパーチャ206における成形アパーチャ像の位置は、成形偏向器205で制御される。これにより、電子ビームの形状と寸法が変化する。成形アパーチャ206を透過した電子ビーム200は、対物レンズ207で照射位置合わせが行われた後、偏向器208、209で偏向される。そして、偏向器208、209は、電子ビーム200の照射位置を修正し、描画室101に載置されたマスク216に電子ビーム200を照射する。
描画室101の内部には、ステージ105が配置されている。ステージ105は、制御部110によって、X方向、Y方向およびZ方向に駆動される。ステージ105上には、処理対象となるマスク216が載置される。マスク216は、例えば、石英等のマスク基板上に、クロム(Cr)膜やモリブデンシリコン(MoSi)膜等の遮光膜が形成され、さらにその上にレジスト膜が形成されたものでよい。このレジスト膜上に、電子ビーム200によって所定のパターンを描画する。マスク216は、例えば、まだパターンを有しないマスクブランクスであってもよい。
制御演算部160は、制御部110を備えている。
制御部110は、描画データを記憶する描画データ記憶部110aと、描画データを処理してショットデータを生成するショットデータ生成部110bと、電子鏡筒102を制御する描画制御部110cとを備えている。描画データ記憶部110aは、マスク216にパターンを描画するための描画データを記憶する記憶部である。ショットデータ生成部110bは、描画データにより規定される描画パターンを分割し、ショットデータを生成する。描画制御部110cは、ステージ105をストライプ領域の長手方向に移動させつつ、所定位置に生成されたショットデータに基づき描画パターンを描画するために制御を行う。
減圧装置としての真空ポンプ117は、電子鏡筒102に配管接続されており、電子鏡筒102内を減圧する。真空ポンプ117は、例えば、ロータリポンプ、イオンポンプ等でよい。真空ポンプ117によって、電子鏡筒102は、高い真空度に減圧されている。
このような構成を有する描画装置100は、電子ビームをマスク216に照射して、マスク216に所望の描画パターンを形成する。
図2は、電子鏡筒102、真空ポンプ117および真空用配管10の構成を示す平面図である。電子鏡筒102は、その内部を真空引きするために排気部としての排気管103を有する。排気管103の一端部は、電子鏡筒102の排気口OP1に連通するように接続されている。排気管103は、電子鏡筒102の排気方向D1に延伸しており、その両側壁に2つの排気口OP2,OP3を有する。排気口OP2,OP3は、D1方向に対して略垂直方向のD2方向およびD3方向に向かってそれぞれ開口している。排気管103の他端部は閉塞されており、排気口OP1からの気体は排気口OP2,OP3以外から排出されないように構成されている。
一方、真空ポンプ117は、電子鏡筒102の内部の気体を吸引するために吸気部としての吸気管104を有する。吸気管104の一端部は、真空ポンプ117の開口OP4に連通するように接続されている。吸気管104は、真空ポンプ117の吸気方向D4の逆方向に延伸しており、その両側壁に2つの開口OP5,OP6を有する。開口OP5,OP6は、D4方向に対して略垂直方向のD5方向およびD6方向の逆方向に向かってそれぞれ開口している。吸気管104の他端部は閉塞されており、開口OP5,OP6以外から気体は吸引されないように構成されている。
電子鏡筒102の排気管103と真空ポンプ117の吸気管104との間には、真空用配管10が配管接続されている。真空用配管10は、ベローズ管11~14と、リジッド管15,16と、プレートPL1,PL2とを備えている。
第1配管としてのベローズ管11は、排気管103の排気口OP2とリジッド管15との間に配管接続されており、電子鏡筒102からD1方向へ排気された気体をD2方向へ導出する。ベローズ管11は、例えば、中空の円筒形を有し、その側壁が蛇腹状に成形されている。これにより、ベローズ管11はD2方向に伸縮可能であり、真空ポンプ117からの振動が排気管103に伝達することを抑制することができる。
第2配管としてのベローズ管12は、排気管103の排気口OP3とリジッド管16との間に配管接続されており、電子鏡筒102からD1方向へ排気された気体をD3方向へ導出する。ベローズ管12も、ベローズ管11と同様の構成を有する。例えば、ベローズ管12は、中空の円筒形を有し、その側壁が蛇腹状に成形されている。これにより、ベローズ管12はD3方向に伸縮可能であり、真空ポンプ117からの振動が排気管103に伝達することを抑制することができる。
第5配管としてのベローズ管13は、吸気管104の開口OP5とリジッド管15との間に配管接続されており、電子鏡筒102からベローズ管11およびリジッド管15を介して流れてきた気体をD5方向へ導出する。ベローズ管13も、ベローズ管11,12と同様の構成を有する。例えば、ベローズ管13は、中空の円筒形を有し、その側壁が蛇腹状に成形されている。これにより、ベローズ管13はD5方向に伸縮可能であり、真空ポンプ117からの振動が排気管103に伝達することを抑制することができる。
第6配管としてのベローズ管14は、吸気管104の開口OP6とリジッド管16との間に配管接続されており、電子鏡筒102からベローズ管12およびリジッド管16を介して流れてきた気体をD6方向へ導出する。ベローズ管14も、ベローズ管11~13と同様の構成を有する。例えば、ベローズ管14は、中空の円筒形を有し、その側壁が蛇腹状に成形されている。これにより、ベローズ管14はD6方向に伸縮可能であり、真空ポンプ117からの振動が排気管103に伝達することを抑制することができる。
これらベローズ管11~14は、内外の差圧に対して耐性が高く、かつ、薬品に対する耐腐食性に優れた材料で構成されている。例えば、ステンレス等の金属材料で構成されている。これにより、ベローズ管11~14は、電子鏡筒102内を真空引きしたときに、それぞれの伸縮方向に伸縮するが、径方向に潰れることなく、排気経路を確保することができる。
第3配管としてのリジッド管15は、ベローズ管11とベローズ管13との間に配管接続されており、ベローズ管11からの気体をベローズ管13へ向かって流す。リジッド管15は、例えば、その両端が閉塞された中空の円筒形を有し、その両端近傍の側壁にそれぞれ排気口OP7,OP8を有する。リジッド管15の中心軸は、ベローズ管11~14の伸縮方向(所定方向)と略垂直である。
第4配管としてのリジッド管16は、ベローズ管12とベローズ管14との間に配管接続されており、ベローズ管12からの気体をベローズ管14へ向かって流す。リジッド管16は、リジッド管15と同様の構成を有する。例えば、リジッド管16は、その両端が閉塞された中空の円筒形を有し、その両端近傍の側壁にそれぞれ排気口OP9,OP10を有する。リジッド管16の中心軸は、リジッド管15の中心軸と略平行であり、かつ、ベローズ管11~14の伸縮方向と略垂直である。
これらリジッド管15,16は、その内外の差圧に対して耐性が高く、かつ、薬品に対する耐腐食性に優れた材料で構成されている。例えば、リジッド管15,16は、ステンレス等の金属材料で構成されており、側壁に蛇腹形状を有しない円柱状の鋼管である。これにより、リジッド管15,16は、電子鏡筒102内を真空引きしたときにほとんど変形することなく、排気経路を確保することができる。また、リジッド管15,16は、それぞれベローズ管11,13、ベローズ管12,14の伸縮によって、これらの伸縮方向へ移動することができる。
プレートPL1,PL2は、リジッド管15とリジッド管16との間に渡って設けられており、リジッド管15,16の上面に接続されている。ここで、プレートPL1,PL2はリジッド管15,16の下面に接続されてもよく、それぞれ上下に2枚ずつ接続されてもよい。プレートPL1,PL2は、ほとんど伸縮しない剛性を有する材質で構成されており、リジッド管15とリジッド管16との間の距離を固定する。プレートPL1,PL2は、リジッド管15とリジッド管16とに接続されているが、ベローズ管11~14、排気管103および吸気管104には接続されていない。従って、プレートPL1,PL2は、リジッド管15とリジッド管16との間の距離を維持しつつ、リジッド管15,16をD2またはD3方向(D5またはD6方向)へほぼ平行に移動させることができる。
例えば、プレートPL1,PL2が設けられていない場合、ベローズ管11~14の蛇腹部分が真空引きによって収縮して硬化してしまう。この場合、真空ポンプ117の振動がベローズ管11~14を伝わって電子鏡筒102へ伝導してしまう。これに対し、プレートPL1,PL2を設けることによって、ベローズ管11~14の蛇腹部分の収縮を抑制して蛇腹状態を維持し、真空ポンプ117から電子鏡筒102への振動の伝達を抑制することができる。
また、例えば、ベローズ管11~14はほぼ同一構成を有するが、製造誤差等のばらつきを幾分有する場合がある。この場合、電子鏡筒102内を真空引きしたときに、配管内外の差圧による圧力がベローズ管11~14にほぼ均等に印加される。しかし、ベローズ管11~14にばらつきがあると、ベローズ管11~14に圧力が均等に印加されたときに、ベローズ管11~14の長さが相互に相違する。このようにベローズ管11~14の長さが相違することによって、ベローズ管11~14に印加される圧力のバランスが維持され得る。このとき、プレートPL1,PL2がリジッド管15とリジッド管16との間の距離を固定しているので、例えば、ベローズ管11が伸びている場合には、その分、ベローズ管12が縮み、ベローズ管12が伸びている場合には、その分、ベローズ管11が縮む。同様に、例えば、ベローズ管13が伸びている場合には、その分、ベローズ管14が縮み、ベローズ管13が伸びている場合には、その分、ベローズ管14が縮む。このようにして、ベローズ管11~14は、リジッド管15とリジッド管16との間の距離を維持しつつ、印加される圧力のバランス(釣り合い)を維持している。
プレートPL1,PL2をベローズ管11~14およびリジッド管15,16の内部に設けてもよい。この場合、プレートPL1,PL2は、ベローズ管11~14、リジッド管15,16および開口OP2,OP3,OP7,OP9のコンダクタンスに影響を与えるおそれがある。
本実施形態においては、プレートPL1,PL2をリジッド管15,16の外側面に取り付けることによって、ベローズ管11~14、リジッド管15,16および開口OP2,OP3,OP5,OP6,OP7,OP8,OP9,OP10のコンダクタンスに影響を与えることなく、リジッド管15とリジッド管16との間隔を維持することができる。
排気管103の中心軸と吸気管104の中心軸は、軸A1とほぼ一致するように配置される。また、排気管103の開口OP2,OP3の中心軸、ベローズ管11,12の中心軸、および、リジッド管15,16の開口OP7,OP9の中心軸は、軸A2とほぼ一致するように配置される。ベローズ管11およびベローズ管12は、ほぼ同一の構成を有し、排気管103および吸気管104の中心軸である軸A1に関して対称となる位置に配置されている。
また、同様に、吸気管104の開口OP5,OP6の中心軸、ベローズ管13,14の中心軸、および、リジッド管15,16の開口OP8,OP10の中心軸も、軸A3とほぼ一致するように配置される。ベローズ管13およびベローズ管14は、ほぼ同一の構成を有し、排気管103および吸気管104の中心軸である軸A1に関して対称となる位置に配置されている。さらに、リジッド管15の中心軸A4およびリジッド管16の中心軸A5は、軸A1に関して対称となる位置に配置され、該軸A1に対して略平行である。電子鏡筒102がまだ真空引きされていないときに、リジッド管15と軸A1との距離は、リジッド管16と軸A1との距離とほぼ等しい。これにより、真空用配管10は、軸A1に関して対称な構成を有する。
次に、真空引きの動作について簡単に説明する。
まず、真空ポンプ117が駆動され、真空引きを開始する。電子鏡筒102内の気体は、開口OP1を介して排気管103へD1方向に排気される。排気管103内の気体は、開口OP2,OP3を介してベローズ管11,12へD2またはD3方向に流れ、開口OP7,OP9を介してリジッド管15,16へ流れる。
次に、リジッド管15,16内の気体は、開口OP8,OP10を介してベローズ管13,14へD5またはD6方向に流れ、開口OP5,OP6を介して吸気管104へ流れる。吸気管104内の気体は、開口OP4を介して真空ポンプ117へD4方向に吸引され、外部へ排気される。このように、電子鏡筒102内の気体は、真空用配管10を介して真空ポンプ117によって吸引され、電子鏡筒102の外部へ排気される。これにより、電子鏡筒102の内部は真空引きされ減圧状態となる。
(ベローズ管11~14の伸縮量と伸縮力との関係)
ベローズ管11に印加されるD2またはD3方向の伸縮力をF1とし、ベローズ管12に印加されるD2またはD3方向の伸縮力をF2とする。このとき、F1およびF2は、それぞれ式1および式2で表される。

F1=p×a1-k1×|Δx| (式1)
F2=p×a2-k2×|Δx| (式2)

k1およびk2は、ベローズ管11,12のそれぞれの蛇腹構造のばね定数を示す。
Δxは、ベローズ管11,12の伸縮量(長さ)を示す。尚、図2のxは、真空引き前において、ベローズ管11,12の内外の差圧が生じていないときもとの長さを示す。即ち、Δxは、xからの伸縮量(長さ)を示す。プレートPL1,PL2がリジッド管15とリジッド管16との間の距離を固定しているので、ベローズ管11の伸縮量の絶対値|Δx|は、ベローズ管12のそれと同じになる。図2では、ベローズ管11,12の収縮量を-Δxで示し、伸長量を+Δxで示している。
pは、ベローズ管11,12に印加される単位面積当たりの圧力を示す。圧力pは、ベローズ管11,12の内部と外部(大気圧)との差圧を示す。
a1およびa2は、ベローズ管11,12のそれぞれの開口面積を示す。ベローズ管11の開口面積は、D2またはD3方向に対して略垂直断面におけるベローズ管11の開口面積であり、例えば、開口OP2またはOP7の面積とほぼ等しくてもよい。ベローズ管12の開口面積は、D2またはD3方向に対して略垂直断面におけるベローズ管12の開口面積であり、例えば、開口OP3またはOP9の面積とほぼ等しくてもよい。
ここで、ベローズ管11,12は、それらの内部が減圧されると、F1とF2とを等しくするように、それぞれΔxだけ収縮/伸長する。例えば、ベローズ管11がΔxだけ収縮した場合、ベローズ管12は、Δxだけ伸長する。逆に、ベローズ管11がΔxだけ伸長した場合、ベローズ管12は、Δxだけ収縮する。もし、ベローズ管11,12が同一構成である場合には、F1=F2のときに、Δxはゼロになるが、ベローズ管11,12の構成は通常ばらつくので、Δxは何らかの値になる。ベローズ管11,12がΔxだけ収縮/伸長することにより、ベローズ管11,12の圧力F1,F2のバランスが維持される(F1=F2)。
以上のように、本実施形態による真空用配管10は、排気または吸気の方向に沿った軸A1に関してほぼ対称に対向する位置にベローズ管11とベローズ管12を備えている。ベローズ管11およびベローズ管12は、中心軸が軸A2とほぼ一致するように配置されている。また、真空用配管10は、軸A1に関してほぼ対称に対向する位置にベローズ管13とベローズ管14を備えている。ベローズ管13およびベローズ管14は、中心軸が軸A3とほぼ一致するように配置されている。さらに、真空用配管10は、軸A1に関してほぼ対称に対向する位置にリジッド管15とリジッド管16を備えている。ベローズ管11~14は、ほぼ同一の構成を有する。リジッド管15,16も、ほぼ同一の構成を有する。従って、真空用配管10は、全体として軸A1に関してほぼ対称の構成を有する。
これにより、ベローズ管11~14の伸縮方向は、電子鏡筒102と真空ポンプ117との間の排気管103および吸気管104の方向(排気または吸気方向に沿った軸A1の方向)に対してほぼ垂直方向となっている。電子鏡筒102内を真空引きしたときに、ベローズ管11~14の伸縮力は、軸A1の方向にはほとんど印加されず、電子鏡筒102と真空ポンプ117との間を引張したり、逆に押圧したりしない。さらに、ベローズ管11とベローズ管12は、軸A1に対してほぼ対称に対向する位置に配置されているので、それらの伸縮力はほぼ相殺される。ベローズ管13とベローズ管14も、軸A1に関してほぼ対称に対向する位置に配置されているので、それらの伸縮力もほぼ相殺される。これにより、ベローズ管11~14の伸縮力は、実質的に、軸A1に対して略垂直方向にもほとんど印加されない。
もし、ベローズ管の伸縮方向が軸A1の方向に沿っている場合あるいはベローズ管の伸縮力が軸A1に対して対称でない場合、電子鏡筒102と真空ポンプ117との間を引張したり、押圧する。この場合、電子鏡筒102が傾斜して描画精度に悪影響を与えるおそれがある。
これに対し、本実施形態による真空用配管10は、ベローズ管11~14の伸縮力を電子鏡筒102および真空ポンプ117に伝達せず、電子鏡筒102を傾斜させない。よって、電子鏡筒102における描画精度に影響を与えない。さらに、ベローズ管11~14は、蛇腹構造を有するので、真空ポンプ117の振動が電子鏡筒102へ伝達することを抑制することができる。その結果、電子鏡筒102における描画精度を向上させることができる。
また、上述のように、真空用配管10が軸A1に関してほぼ対称の構成を有するので、電子鏡筒102内を真空引きしたときに、配管内外の差圧による圧力がベローズ管11~14にほぼ均等に印加される。ベローズ管11~14はほぼ同一構成を有するが、製造誤差等のばらつきを幾分有する場合がある。この場合、真空引きしたときに、ベローズ管11~14の伸縮の長さが相互に幾分相違することによって、ベローズ管11~14に印加される圧力がほぼ均等になり、バランスをとることができる。このとき、プレートPL1、PL2によってリジッド管15とリジッド管16との間の距離を維持した状態で、ベローズ管11~14に印加される圧力はほぼ均等に印加される。また、プレートPL1,PL2は、ベローズ管11~14の蛇腹部分の蛇腹状態を維持し、真空ポンプ117から電子鏡筒102への振動伝達の抑制効果を確実にする役目も果たす。
また、真空用配管10にベローズ管11~14を用いることによって、ベローズ管11~14と開口OP2,OP3,OP5,OP6との位置合わせによる、真空用配管10と排気管103または吸気管104との配管接続が容易になる。その結果、電子鏡筒102、真空ポンプ117および真空用配管10の組み立てに掛かる時間が短縮され得る。
(第2実施形態)
図3(A)および図3(B)は、第2実施形態による描画装置の構成例を示す断面図である。図3(A)のB-B線に沿った断面を図3(B)に示し、図3(B)のC-C線に沿った断面を図3(A)に示す。第2実施形態では、真空用配管10は、図2の方向D1~D6がほぼ同一の水平面内にあるように横型配置されている。
描画装置100は、土台210と、ダンパ220と、支持台230とをさらに備えている。電子鏡筒102およびダンパ220は、土台210上に固定されている。ダンパ220上に支持台230が載置されており、ダンパ220が土台210からの振動を遮断する。支持台230上には、真空用配管10が固定されている。
真空用配管10は、支持台230上において、ベローズ管11~14およびリジッド管15,16がほぼ同一の水平面内に配置されるように、横向きに配置される。この場合、プレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bも略水平方向に延伸するように配置される。尚、プレートPL1,L2は、図2に示すように、それぞれリジッド管15,16の一側面にのみに設けられていてもよいが、図3(A)および図3(B)に示すように、それぞれリジッド管15,16の一側面とその反対側の面の両方に設けられていてもよい。以下、リジッド管15,16の一側面に設けられたプレートPL1,PL2を、PL1a,PL2aと呼び、リジッド管15,16の反対側の面に設けられたプレートPL1,PL2を、PL1b,PL2bと呼ぶ。
第2実施形態では、真空用配管10は、プレートPL1b,PL2bを支持台230に接触させるように配置されている。プレートPL1b,PL2bと支持台230の表面との間には、摩擦係数の低い平滑層240が設けられている。平滑層240は、プレートPL1b,PL2bと支持台230との間の摩擦を低下させ、ベローズ管11~14の伸縮方向(D2、D3)にリジッド管15,16およびプレートPL1a,PL2a,PL1b,PL2bを支持台230上で滑らかに移動可能にする。平滑層240は、例えば、テフロン等の摩擦係数の低い材料で構成されている。これにより、電子鏡筒102を真空引きしたときに、ベローズ管11,12が収縮/伸長することができ、ベローズ管11,12の圧力F1,F2のバランスを維持することができる。
第2実施形態のその他の構成は、第1実施形態の対応する構成と同様でよい。真空用配管10、電子鏡筒102および真空ポンプ117の構成も、第1実施形態のそれらの構成と同様でよい。また、第2実施形態の動作は、プレートPL1a,PL2a,PL1b,PL2bが指示台230上を移動する点以外は第1実施形態の動作と同様でよい。これにより、第2実施形態は、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第3実施形態)
図4(A)および図4(B)は、第3実施形態による描画装置の構成例を示す断面図である。図4(A)のB-B線に沿った断面を図4(B)に示し、図4(B)のC-C線に沿った断面を図4(A)に示す。第3実施形態は、ベローズ管11~14の伸縮方向にリジッド管15,16およびプレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bを移動可能にするガイド250を備えている。第3実施形態のその他の構成は、第2実施形態の対応する構成と同様でよい。
ガイド250は、例えば、支持台230上に固定されたガイドレール251と、プレートPL1b,PL2bに固定されたローラ252とを含む。ガイドレール251は、ベローズ管11~14の伸縮方向(D2、D3)に延伸するように設けられている。ローラ252は、ガイドレール251に沿ってベローズ管11~14の伸縮方向に移動可能である。
第3実施形態では、ローラ252がガイドレール251上を移動することによって、ベローズ管11,12が収縮/伸長することができ、ベローズ管11,12の圧力F1,F2のバランスを維持することができる。
第3実施形態のその他の構成は、第2実施形態の対応する構成と同様でよい。真空用配管10、電子鏡筒102および真空ポンプ117の構成は、第1実施形態のそれらの構成と同様でよい。また、第3実施形態の動作は、プレートPL1b,PL2bに固定されたローラ252がガイドレール251上を移動する点以外は第2実施形態の動作と同様でよい。これにより、第3実施形態は、第1または第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第4実施形態)
図5(A)および図5(B)は、第4実施形態による描画装置の構成例を示す図である。図5(A)は、描画装置の側面を示し、図5(B)は、図5(A)のB-B線に沿った断面を示す。第4実施形態による真空用配管10は、ベローズ管11~14の伸縮方向が略鉛直方向となるように縦向きに配置されている。リジッド管15,16およびプレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bを略鉛直方向に移動可能にするために、ガイド330a,330b,340a,340bがプレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bに沿ってそれぞれに対応するように設けられている。ガイド330a,330b,340a,340bは、それぞれ支持台230に固定された支柱331と、プレートPL1a~PL2bに固定され支柱331を挿入するリング332とを有する。ガイド330a,330b,340a,340bは、リング332が支柱331を略鉛直方向に滑動することによって、プレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bを移動させることができる。
しかし、真空用配管10を縦方向に配置した場合、電子鏡筒102内が減圧されていない状態であっても、リジッド管15,16およびプレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bの重さによって、ベローズ管11および13が収縮しかつベローズ管12および14が伸長してしまう。即ち、リジッド管15,16およびプレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bがその自重によって鉛直下方向へ移動し、オフセットが生じてしまう。
そこで、第4実施形態では、真空用配管10と支持台230との間に弾性部材としてのバネ構造体310,320が設けられている。バネ構造体310,320は、電子鏡筒102内が減圧されていない状態において、ベローズ管11~14の伸縮方向の長さをほぼ等しくするように、リジッド管15,16を支持する。これにより、リジッド管15,16およびプレートPL1a,PL1b,PL2a,PL2bのオフセットをキャンセルすることができる。第4実施形態のその他の構成は、第2または第3実施形態の対応する構成と同様である。尚、弾性部材は、ゴムやダンパ等の真空用配管10を弾性的に支持可能な部材であればよい。
第4実施形態のように、真空用配管10を縦型配置しても、本実施形態の効果は失われない。また、真空用配管10を縦型配置することによって、描画装置の設置面積を低減させることができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
100 描画装置、150 描画部、101 描画室、102 電子鏡筒、103 排気管、117 真空ポンプ、10 真空用配管、11~14 ベローズ管、15,16 リジッド管、PL1,PL2 プレート、240 平滑層、250,330a,330b,340a,340b ガイド、310,320 バネ構造体

Claims (11)

  1. 荷電粒子を処理対象に照射するチャンバと、
    前記チャンバに接続される真空用配管と、
    前記真空用配管に接続され、前記真空用配管を介して前記チャンバ内を減圧する減圧装置と、を備え、
    前記チャンバは、前記真空用配管と接続される排気部を有し、
    前記減圧装置は、前記真空用配管と接続される吸気部とを有し、
    前記真空用配管は、
    前記排気部と接続し、所定方向に伸縮可能な第1配管および第2配管と、
    前記第1配管と接続し、中心軸が前記所定方向と垂直な第3配管と、
    前記第2配管と接続し、中心軸が前記第3配管と平行で前記所定方向と垂直な第4配管と、
    それぞれ前記第3配管、前記第4配管と接続するとともに前記吸気部と接続し、それぞれ前記所定方向に伸縮可能な第5配管および第6配管と、を含み、
    前記第1配管の中心軸と前記第2配管の中心軸とは、ほぼ一致しており、
    前記第5配管の中心軸と前記第6配管の中心軸とは、ほぼ一致しており、
    前記第1配管および前記第2配管は、ほぼ同一の構成を有し、所定の軸に関して対称な位置に配置されており、
    前記第5配管および前記第6配管は、ほぼ同一の構成を有し、前記所定の軸に関して対称な位置に配置されている、荷電粒子ビーム装置。
  2. 前記第3配管と前記第4配管との間に設けられ、前記第3配管と前記第4配管との距離を固定するプレートをさらに備えた、請求項1に記載の荷電粒子ビーム装置。
  3. 前記プレートは、前記所定方向に移動可能である請求項2に記載の荷電粒子ビーム装置。
  4. 前記排気部は、一端部が前記チャンバに接続され、他端部が閉塞された排気管であり、前記排気管は前記チャンバの排気方向に延伸し、前記排気管の両側壁に、前記排気方向に対して略垂直方向に開口する二つの第1開口を有し、前記二つの第1開口には、それぞれ前記第1配管と前記第2配管が対向するように接続されている、請求項1に記載の荷電粒子ビーム装置。
  5. 前記吸気部は、一端部が前記減圧装置に接続され、他端部が閉塞された吸気管であり、前記吸気管は前記減圧装置の吸気方向の逆方向に延伸し、前記吸気管の両側壁に、前記吸気方向に対して略垂直方向に開口する二つの第2開口を有し、前記二つの第2開口はそれぞれ前記第5配管と前記第6配管が対向するように接続されている、請求項1に記載の荷電粒子ビーム装置。
  6. 前記真空用配管を支持する支持台と、
    前記支持台を搭載し、土台上に固定されたダンパと、
    前記支持台と前記真空用配管との間に設けられ、前記第3および第4配管を前記所定方向に滑らかに移動させる平滑層またはガイドと、をさらに備える、請求項1に記載の荷電粒子ビーム装置。
  7. 前記所定方向は、水平面内にある、請求項1に記載の荷電粒子ビーム装置。
  8. 前記所定方向は、鉛直方向である、請求項1に記載の荷電粒子ビーム装置。
  9. 減圧装置とチャンバとの間を配管接続する真空用配管であって、
    前記チャンバに接続される排気部と、
    前記排気部に接続され、所定方向に伸縮可能な第1配管および第2配管と、
    前記第1配管と接続され、中心軸が前記所定方向と垂直な第3配管と、
    前記第2配管と接続され、中心軸が前記所定方向と垂直な第4配管と、
    前記第3配管と接続され、前記所定方向に伸縮可能な第5配管と、
    前記第4配管と接続され、前記所定方向に伸縮可能な第6配管と、
    前記第5配管および前記第6配管と接続されるとともに、前記減圧装置に接続される吸気部と、を含み、
    前記第1配管の中心軸と前記第2配管の中心軸とは、ほぼ一致しており、
    前記第5配管の中心軸と前記第6配管の中心軸とは、ほぼ一致しており、
    前記第1配管および前記第2配管は、ほぼ同一の構成を有し、所定の軸に関して対称な位置に配置されており、
    前記第5配管および前記第6配管は、ほぼ同一の構成を有し、前記所定の軸に関して対称な位置に配置されている、真空用配管。
  10. 前記排気部は、一端部が前記チャンバに接続され、他端部が閉塞された排気管であり、前記排気管は前記チャンバの排気方向に延伸し、前記排気管の両側壁に、前記排気方向に対して略垂直方向に開口する二つの第1開口を有し、前記二つの第1開口には、それぞれ前記第1配管と前記第2配管が対向するように接続されている、請求項9に記載の真空用配管。
  11. 前記吸気部は、一端部が前記減圧装置に接続され、他端部が閉塞された吸気管であり、前記吸気管は前記減圧装置の吸気方向の逆方向に延伸し、前記吸気管の両側壁に、前記吸気方向に対して略垂直方向に開口する二つの第2開口を有し、前記二つの第2開口はそれぞれ前記第5配管と前記第6配管が対向するように接続されている、請求項9に記載の真空用配管。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004253374A (ja) 2003-01-28 2004-09-09 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JP2007165232A (ja) 2005-12-16 2007-06-28 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置
JP2018044474A (ja) 2016-09-13 2018-03-22 コベルコ建機株式会社 建設機械の排気管、その排気管の組付方法及びその排気管を備える建設機械
JP2019160449A (ja) 2018-03-08 2019-09-19 株式会社荏原製作所 真空用接続機構、電子光学装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5692396A (en) * 1979-12-26 1981-07-27 Hitachi Ltd Vacuum exhaust device
JPH04128578A (ja) * 1990-09-19 1992-04-30 Toyo Eng Corp 真空ポンプ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004253374A (ja) 2003-01-28 2004-09-09 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JP2007165232A (ja) 2005-12-16 2007-06-28 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置
JP2018044474A (ja) 2016-09-13 2018-03-22 コベルコ建機株式会社 建設機械の排気管、その排気管の組付方法及びその排気管を備える建設機械
JP2019160449A (ja) 2018-03-08 2019-09-19 株式会社荏原製作所 真空用接続機構、電子光学装置

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