JP7257751B2 - 電磁波検出装置 - Google Patents

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Description

本開示は、電磁波検出装置および情報取得システムに関する。
特許文献1には、特定の波長帯域のレーザー光を測定対象に照射し、そのレーザー光が測定対象で反射した反射光を検出することで、測定対象の三次元画像情報を取得するシステムが開示されている。
特許第4401989号
上述したような、特定の波長帯域の電磁波を受光して、電磁波を検出する検出部に導く装置においては、検出部において良好な受信信号を得ることが有益である。
従って、上記のような問題点に鑑みてなされた本開示の目的は、検出部において良好な受光信号を得ることにある。
上述した諸課題を解決すべく、第1の観点による電磁波検出装置は、第1の波長帯域の電磁波の透過率が、前記第1の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい第1の透過部と、第2の波長帯域の電磁波の透過率が、前記第2の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい第2の透過部と、前記第1の透過部および前記第2の透過部を介して進行した電磁波を検出する第1の検出部と、を備え、前記第1の波長帯域と前記第2の波長帯域とは、一部が重複する。
また、第2の観点による情報取得システムは、上述した電磁波検出装置と、前記第1の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部と、を備える。
上述したように本開示の解決手段を装置、およびシステムとして説明してきたが、本開示は、これらを含む態様としても実現し得るものであり、また、これらに実質的に相当する方法、プログラム、プログラムを記録した記憶媒体としても実現し得るものであり、本開示の範囲にはこれらも包含されるものと理解されたい。
上記のように構成された本開示によれば、検出部において良好な受光信号を得ることができる。
従来の電磁波検出装置の概略構成を示す図である。 一般的なバンドパスフィルタの分光特性を示す図である。 本開示の第1の実施形態に係る電磁波検出装置を含む情報取得システムの概略構成を示す図である。 図3に示す電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部としてのロングパスフィルタ、および、波長選択部としてのショートパスフィルタの分光特性の一例を示す図である。 図3に示す電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部の一方がロングパスフィルタであり、他方がバンドパスフィルタである場合の分光特性の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部の一方がショートパスフィルタであり、他方がバンドパスフィルタである場合の分光特性の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部がバンドパスフィルタである場合の分光特性の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部がショートパスフィルタである場合の分光特性の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部がショートパスフィルタである場合の分光特性の他の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部がロングパスフィルタである場合の分光特性の一例を示す図である。 図4に示す波長分離部および波長選択部がロングパスフィルタである場合の分光特性の他の一例を示す図である。 本開示の第2の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第2の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第3の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第3の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第3の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第3の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。図である。 本開示の第4の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第4の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第4の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第4の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第5の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第5の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第5の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第6の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第6の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第7の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第7の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第7の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第7の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第8の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の一例を示す図である。 本開示の第8の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成の他の一例を示す図である。 本開示の第8の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成のさらに別の一例を示す図である。 本開示の第1の実施形態に係る電磁波検出装置の他の構成例を示す図である。
以下、本開示を適用した電磁波検出装置および情報取得システムの実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は、特許文献1に開示されているような、特定の波長帯域の電磁波を対象に照射し、その電磁波が対象で反射された電磁波を受光して、電磁波を検出する検出部に導く電磁波検出装置900の概略構成を示す図である。
図1に示す電磁波検出装置900は、バンドパスフィルタ911と、第1の結像部912と、プリズム913と、進行部914と、第2の結像部915と、検出部916とを備える。
バンドパスフィルタ911は、特定の波長帯域の電磁波を透過させ、それ以外の波長帯域の電磁波を遮断する狭帯域フィルタである。バンドパスフィルタ911は、対象に向けて放射された電磁波と同じ波長帯域の電磁波を透過させる。
第1の結像部912は、バンドパスフィルタ911を透過した電磁波をプリズム913の第1の面s1へ進行させ、対象の像を結像させる。
プリズム913は、第1の結像部912から進行した電磁波を進行部914に向けて射出する。また、プリズム913は、第1の進行部913により進行方向を変えられた電磁波を第2の結像部915に向けて射出する。プリズム913は、第1の面s1と、第2の面s2と、第3の面s3とを備える。第1の面s1と第2の面s2と第3の面s3とは、互いに交差してよい。
第1の面s1は、第1の結像部912から進行した電磁波を第2の方向d2へ進行させる。第2の面s2は、第2の方向dへ進行した電磁波を第4の方向d4へ進行させる。また、第2の面s2は、後述する進行部914により特定の方向へ進行した電磁波を射出する。第3の面s3は、第4の方向d4へ進行した電磁波を射出する。また、第3の面s3は、進行部914により特定の方向へ進行した電磁波をプリズム913に再入射させる。
進行部914は、プリズム913の第3の面s3から射出された電磁波を特定の方向へ進行させる。第2の結像部915は、プリズム913の第2の面s2から射出された電磁波としての対象の像を、検出部916へ進行させて、結像させる。検出部916は、第2の結像部915を介して進行した電磁波を検出する。
図1に示す電磁波検出装置900においては、第1の結像部912の前にバンドパスフィルタ911を配置することで、特定の波長帯域以外の電磁波を遮断し、検出部916に入射する不要光の低減を図っている。
図2は、一般的なバンドパスフィルタの分光特性を示す図である。図2において、縦軸は透過率を示す。また、横軸は波長帯域を示す。
一般に、バンドパスフィルタでは、半値帯域を狭めたり、分光特性の立ち上がりを急峻にしたりすることは困難である。そのため、検出部では、対象に照射した照射光以外の、ノイズとなる電磁波の光量が高くなり、受光S/N比が低下してしまう。また、バンドパスフィルタの半値帯域を狭めるような設計を行うと、検出部での受光信号レベルが低下してしてしまう。そのため、図1に示すように、バンドパスフィルタ911を配置した構成では、受光S/N比の低下、受光信号レベルの低下が発生し、良好な受光信号を得ることができない。
図3に示すように、本開示の第1の実施形態に係る電磁波検出装置100を含む情報取得システム11は、電磁波検出装置100と、放射部12と、走査部13と、制御部14とを含んで構成される。図3において、各機能ブロックを結ぶ破線は、制御信号または通信される情報の流れを示す。破線が示す通信は、有線通信であってもよいし、無線通信であってもよい。各機能ブロックから突出する実線は、ビーム状の電磁波を示す。
放射部12は、例えば、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかの電磁波を放射してよい。放射部12は、放射する電磁波を、対象obに向けて、直接または走査部13を介して間接的に放射してよい。
放射部12は、幅の細い、例えば、0.5°のレーザー状の電磁波を放射してよい。放射部12は、電磁波をパルス状に放射してよい。放射部12は、例えば、LED(Light Emitting Diode)およびLD(Laser Diode)などを含む。放射部12は、後述する制御部14の制御に基づいて、電磁波の放射および停止を切り替えてよい。
走査部13は、例えば、電磁波を反射する反射面を有する。走査部13は、放射部12から放射された電磁波を、反射面の向きを変えながら反射することにより、対象obに照射される電磁波の照射位置を変更してよい。すなわち、走査部13は、放射部12から放射される電磁波を用いて、対象obを走査してよい。走査部13は、一次方向または二次方向に対象obを走査してよい。
走査部13は、放射部12から放射され、反射面で反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、電磁波検出装置100における電磁波の検出範囲に含まれるように構成されてよい。したがって、走査部13を介して対象obに照射される電磁波の少なくとも一部は、電磁波検出装置100において検出され得る。
走査部13は、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー、ポリゴンミラー、およびガルバノミラーなどを含む。
走査部13は、後述する制御部14の制御に基づいて、電磁波を放射する向きを変えてよい。走査部13は、例えば、エンコーダなどの角度センサを有してよい。走査部13は、角度センサが検出する角度を、電磁波を反射する方向に関する方向情報として、制御部14に通知してよい。制御部14は、走査部13から取得する方向情報に基づいて、照射位置を算出し得る。また、制御部14は、電磁波を反射する向きを制御するために走査部13に入力する駆動信号に基づいて、照射位置を算出し得る。
電磁波検出装置100は、対象obから到来する電磁波を検出する。具体的には、電磁波検出装置100は、放射部12から放射され、対象obで反射した電磁波を検出する。また、電磁波検出装置100は、対象obが発する電磁波を検出してもよい。電磁波検出装置100の構成については後述する。
制御部14は、1以上のプロセッサおよびメモリを含む。プロセッサは、特定のプログラムを読み込ませて特定の機能を実行する汎用のプロセッサ、および特定の処理に特化した専用のプロセッサの少なくともいずれかを含んでよい。専用のプロセッサは、特定用途向けIC(ASIC;Application Specific Integrated Circuit)を含んでよい。プロセッサは、プログラマブルロジックデバイス(PLD;Programmable Logic Device)を含んでよい。PLDは、FPGA(Field-Programmable Gate Array)を含んでよい。制御部14は、1つまたは複数のプロセッサが協働するSoC(System-on-a-Chip)、およびSiP(System in a Package)の少なくともいずれかを含んでよい。
制御部14は、後述する電磁波検出装置100が備える検出部による電磁波の検出結果に基づいて、電磁波検出装置100の周囲に関する情報を取得してよい。周囲に関する情報は、例えば、画像情報、距離情報および温度情報などである。
制御部14は、例えば、ToF(Time-of-Flight)方式により、距離情報を取得する。具体的には、制御部14は、例えば、時間計測LSI(Large Scale Integrated circuit)を有しており、放射部12が電磁波を放射した時刻T1から、その電磁波が照射された照射位置で反射された反射波を電磁波検出装置100が検出した時刻T2までの時間ΔTを計測する。制御部14は、計測した時間ΔTに光速を乗算して2で除算することにより、照射位置までの距離を算出する。制御部14は、走査部13から取得する方向情報、または制御部14が走査部13に出力する駆動信号に基づいて、電磁波の照射位置を算出する。制御部14は、電磁波の照射位置を変えながら各照射位置までの距離を算出することにより、画像状の距離情報を取得する。
本実施形態においては、情報取得システム11は、電磁波を放射して、返ってくるまでの時間を直接計測するDirect ToFにより距離情報を取得する例を用いて説明したが、これに限られない。情報取得システム11は、例えば、電磁波を一定の周期で放射し、放射された電磁波と返ってきた電磁波との位相差から、電磁波が返ってくるまでの時間を間接的に計測するFlash ToFにより距離情報を取得してもよい。情報取得システム11は、他のToF方式、例えば、Phased ToFにより距離情報を取得してもよい。
次に、本実施形態に係る電磁波検出装置100の構成について図4を参照して説明する。
図4に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置100は、第1の結像部110と、プリズム120と、第1の検出部130と、第2の検出部140とを備える。
第1の結像部110は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第1の結像部110は、第1の方向d1から入射する、被写体となる対象obの電磁波の像を、プリズム120の第1の面s1へ進行させて、第1の面s1より離れた位置で結像させる。第1の方向d1は、第1の結像部110の主軸と平行であって、物体面から第1の結像部110に向かう方向かつ第1の結像部110から像面に向かう方向を含む。
プリズム120は、第1の結像部110から進行した電磁波を分離し、第1の検出部130と第2の検出部140とに向けて射出する。プリズム120は、第1のプリズム121と、第2のプリズム122と、波長分離部123と、波長選択部124とを備える。
第1のプリズム121は、第1の面s1、第2の面s2および第3の面s3を別々の異なる表面として有してよい。第1のプリズム121は、例えば、三角プリズムを含む。第1の面s1、第2の面s2および第3の面s3は、互いに交差してよい。
第1の面s1は、第1の方向d1からプリズム120に入射する電磁波を第2の方向d2へ進行させる。第1の面s1は、第1の方向d1から第1の面s1に入射する電磁波の進行軸に対して垂直であってよい。前述のように、第1の方向d1は、第1の結像部110の主軸と平行なので、第1の結像部110の主軸と第1の面s1とが垂直、言い換えると、第1の結像部110の主面と第1の面s1とが平行であってよい。第1の面s1は、第1の方向d1から入射する電磁波を透過または屈折させて、第2の方向d2へ進行させてよい。
第3の面s3は、後述する波長分離部123により第4の方向d4へ進行した電磁波を射出する。第3の面s3は、第4の方向d4へ進行した電磁波の進行軸に対して垂直、すなわち第3の方向d3に垂直であってよい。
第1のプリズム121は、第1の方向d1から第1の面s1に入射する電磁波の進行軸と第1の面s1とが垂直となるように配置されてよい。第1のプリズム121は、第1の方向d1から第1の面s1を透過または屈折して第1のプリズム121の内部を進行する電磁波の進行方向に第2の面s2が位置するように配置されてよい。
第2のプリズム122は、第4の面s4、第5の面s5および第6の面s6を別々の異なる表面として有してよい。第2のプリズム122は、例えば、三角プリズムを含む。第4の面s4、第5の面s5および第6の面s6は、互いに交差してよい。
第4の面s4は、後述する波長分離部123により第3の方向d3へ進行した電磁波を射出する。第4の面s4は、第4の方向d4へ進行した電磁波の進行軸に対して垂直、すなわち第4の方向d4に垂直であってよい。
第2のプリズム122は、第5の面s5が第1のプリズム121の第2の面s2に平行かつ対向するように配置されてよい。第2のプリズム122は、後述する波長分離部123を透過し、第5の面s5を介して第2のプリズム122の内部へ進行する電磁波の進行方向に第4の面s4が位置するように配置されてよい。
第1の透過部としての波長分離部123は、第1のプリズム121の第2の面s2と、第2のプリズム122の第5の面s5との間に配置されている。波長分離部123は、例えば、第2の面s2あるいは第5の面s5に蒸着された単層あるいは多層の薄膜により構成される。波長分離部123は、第1の波長帯域の電磁波を透過し、第1の波長帯域以外の電磁波を反射する。すなわち、波長分離部123は、第1の波長帯域の電磁波の透過率が、第1の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい。波長分離部123は、第1の波長帯域の電磁波を第3の方向d3へ透過させ、第1の波長帯域以外の電磁波を第4の方向d4へ反射する。波長分離部123は、所定のカットオフ波長よりも長波長側の波長帯域の電磁波を透過させるロングパスフィルタ、所定のカットオフ波長よりも短波長側の波長帯域の電磁波を透過させるショートパスフィルタおよびバンドパスフィルタのいずれかを含む。本実施形態においては、波長分離部123は、ロングパスフィルタであるとする。
第2の透過部としての波長選択部124は、第2のプリズム122の第4の面s4に配置されている。波長選択部124は、第4の面s4に蒸着された単層あるいは多層の薄膜により構成される。波長選択部124は、第2の波長帯域の電磁波を透過する。すなわち、波長選択部124は、第2の波長帯域の電磁波の透過率が、第2の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい。波長選択部124は、第3の方向d3へ進行した電磁波のうち、第2の波長帯域の電磁波を透過させる。波長選択部124は、ロングパスフィルタ、ショートパスフィルタおよびバンドパスフィルタのいずれかを含む。本実施形態においては、波長選択部124は、ショートパスフィルタであるとする。
図5は、波長分離部123としてのロングパスフィルタ、および、波長選択部124としてのショートパスフィルタの分光特性を示す図である。
上述したように、ロングパスフィルタは、所定のカットオフ周波数よりも長波長側の電磁波を透過させる。したがって、波長選択部123は、図5に示すように、所定のカットオフ周波数λ1よりも長波長側の波長帯域である第1の波長帯域の電磁波を透過する。また、波長分離部123は、第1の波長帯域以外の電磁波の反射率が、第1の波長帯域の電磁波の反射率よりも高い。
また、上述したように、ショートパスフィルタは、所定のカットオフ周波数よりも短波長側の電磁波を透過させる。したがって、波長選択部124は、図5に示すように、所定のカットオフ周波数λ2よりも短波長側の波長帯域である第2の波長帯域の電磁波を透過する。また、波長選択部124は、第2の波長帯域以外の電磁波の反射率が、第2の波長帯域の電磁波の反射率よりも高い。
本実施形態においては、波長選択部124のカットオフ周波数λ2を、波長選択部123のカットオフ周波数λ1よりも大きくする。したがって、図5に示すように、波長選択部123が電磁波を透過させる第1の波長帯域と、波長選択部124が電磁波を透過させる第2の波長帯域とは一部が重複する。そのため、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域の電磁波が、波長選択部124を透過し、後述する第1の検出部130に射出される。
ここで、一般に、ロングパスフィルタの分光特性の立ち上がり、および、ショートパスフィルタの分光特性の立ち下がりは、図5において破線で示すバンドパスフィルタの分光特性の立ち上がりおよび立ち下がりより急峻にすることが可能である。また、一般に、ロングパスフィルタおよびショートパスフィルタは、バンドパスフィルタよりも透過率を高くすることが可能である。したがって、カットオフ周波数λ1,λ2を調整することで、放射部12が放射するレーザー状の電磁波の波長帯域(レーザー帯域)の電磁波を選択的に、第1の検出部130に入射することができる。そのため、本実施形態に係る電磁波検出装置100は、第1の検出部130における受光S/N比の低下、および、受光信号レベルの低下を防ぎ、第1の検出部130において良好な受光信号を得ることができる。
また、波長分離部123および波長選択部124をプリズム120に蒸着することで、フィルタ面によるフレネル反射を防ぐことができる。そのため、本実施形態に係る電磁波検出装置100は、電磁波の透過率の確保、ゴーストの発生の抑制、および、結像レンズのバックフォーカスの短縮を図ることができる。
図4を再び参照すると、第1の検出部130は、波長分離部123および波長選択部124を介して進行した電磁波を検出する。具体的には、第1の検出部130は、第1の波長分離部123および波長選択部124をこの順に透過した電磁波を検出する。ここで、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域と、第1の検出部130が検出する電磁波の波長帯域とは、少なくとも一部が重複する。第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域は、第1の検出部130が検出する電磁波の波長帯域を全て含んでもよい。また、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域は、第1の検出部130が検出する電磁波の波長帯域と一致してよい。
第1の検出部130は、放射部12から対象obに向けて放射された電磁波の対象obからの反射波を検出するアクティブセンサまたはパッシブセンサを含む。第1の検出部130は、放射部12から放射され、かつ、走査部13により反射されることにより対象obに向けて放射された電磁波の対象obからの反射波を検出してよい。
第1の検出部130は、さらに具体的には、測距センサを構成する素子を含む。例えば、第1の検出部130は、APD(Avalanche PhotoDiode)、PD(PhotoDiode)、SPAD(Single Photon Avalanche Diode)、ミリ波センサ、サブミリ波センサ、および測距イメージセンサなどの単一の素子を含む。第1の検出部130は、APDアレイ、PDアレイ、MPPC(Multi Photon Pixel Counter)、測距イメージングアレイ、および測距イメージセンサなどの素子アレイを含むものであってもよい。第1の検出部130は、測距センサ、イメージセンサおよびサーモセンサの少なくともいずれかを含んでよい。
第1の検出部130は、被写体からの反射波を検出したことを示す検出情報を制御部14に送信してよい。制御部14は、第1の検出部130により検出された電磁波に基づいて、電磁波検出装置100の周囲の情報を取得する。具体的には、制御部14は、第1の検出部130から送信されてきた検出情報に基づいて、例えば、ToF方式により、放射部12から放射された電磁波の照射位置の距離情報を取得することができる。
第2の検出部140は、プリズム121の第3の面s3から射出された電磁波を検出する。すなわち、第2の検出部140は、波長分離部123により反射された電磁波を検出する。
第2の検出部140は、パッシブセンサを含む。第2の検出部140は、さらに具体的には、素子アレイを含む。例えば、第2の検出部140は、イメージセンサまたはイメージングアレイなどの撮像素子を含み、検出面において結像した電磁波による像を撮像し、撮像した対象obに相当する画像情報を生成してよい。第2の検出部140は、可視光の像を撮像してよい。第2の検出部140は、生成した画像情報を制御部14に送信してよい。制御部14は、第2の検出部140による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する。
第2の検出部140は、赤外線、紫外線および電波の像など、可視光以外の像を撮像してもよい。第2の検出部140は、測距センサを含んでよい。このような構成において、電磁波検出装置100は、第2の検出部140により画像状の距離情報を取得し得る。第2の検出部140は、測距センサまたはサーモセンサなどを含んでよい。このような構成において、電磁波検出装置100は、第2の検出部140により画像状の温度情報を取得し得る。
第2の検出部140は、第1の検出部130とは同種または異種のセンサを含んでよい。第2の検出部140は、第1の検出部130と同種または異種の電磁波を検出してよい。
上述したように、電磁波検出装置100は、放射部12から放射され、対象obで反射した反射波を検出する。また、第1の検出部130は、その反射波のうち、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域内の電磁波を検出する。第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域と、放射部12が放射する電磁波の波長帯域とは、少なくとも一部が重複する。第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域は、放射部12が放射する電磁波の波長帯域を全て含んでもよい。また、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域と、放射部12が放射する電磁波の波長帯域とは一致してもよい。
本実施形態に係る電磁波検出装置100の構成は、図3に示す構成に限られない。図6に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置100は、第1の進行部150と、第2の結像部160とをさらに備えてよい。
第1の進行部150は、プリズム120の第4の面s4から射出される電磁波の経路上に設けられている。第1の進行部150は、第1の結像部110から所定の距離だけ離れた対象obの一次結像位置または一次結像位置近傍に設けられてもよい。
第1の進行部150は、第1の結像部110およびプリズム120を通過した電磁波が入射する基準面ssを有している。基準面ssは、後述する第1の状態および第2の状態の少なくともいずれかにおいて、電磁波に、例えば、反射および透過などの作用を生じさせる面である。第1の進行部150は、第1の結像部110による対象obの電磁波の像を基準面ssに結像させてよい。基準面ssは、第4の面s4から射出された電磁波の進行軸に垂直であってよい。
第1の進行部150は、基準面ssに入射する電磁波を、特定の方向へ進行させる。第1の進行部150は、基準面ssに沿って配置された複数の画素pxを備える。第1の進行部150は、電磁波を特定の方向としての第1の選択方向ds1へ進行させる第1の状態と、別の特定の方向としての第2の選択方向ds2へ進行させる第2の状態とに、画素ごとに切替可能である。第1の進行部150は、波長分離部123を介して進行し、基準面ssに入射した電磁波を、画素pxごとに特定の方向としての第5の方向d5へ進行させる。第1の状態は、基準面ssに入射する電磁波を、第1の選択方向ds1に反射する第1の反射状態を含む。第2の状態は、基準面ssに入射する電磁波を、第2の選択方向ds2に反射する第2の反射状態を含む。
第1の進行部150は、画素pxごとに電磁波を反射する反射面を含んでよい。第1の進行部150は、画素pxごとに反射面の向きを変更することにより、第1の反射状態および第2の反射状態を画素pxごとに切り替えてよい。
第1の進行部150は、例えば、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD;Digital Micro mirror Device)を含んでよい。DMDは、基準面ssを構成する微小な反射面を駆動することにより、画素pxごとに反射面を基準面ssに対して+12°または-12°の傾斜状態に切替可能である。基準面ssは、DMDにおける微小な反射面を載置する基板の板面に平行であってよい。
第1の進行部150は、制御部14の制御に基づいて、第1の状態と第2の状態とを、画素pxごとに切替えてよい。例えば、第1の進行部150は、一部の画素pxを第1の状態に切替えることにより、当該画素pxに入射する電磁波を第1の選択方向ds1へ進行させ得る。第1の進行部150は、別の一部の画素pxを第2の状態に切替えることにより、当該画素pxに入射する電磁波を第2の選択方向ds2へ進行させ得る。
第2の結像部160は、第1の進行部150により第5の方向d5へ進行した電磁波の経路上に設けられてよい。第2の結像部160は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第2の結像部160は、第1の進行部150の基準面ssにおいて一次結像し、第5の方向d5へ進行する電磁波としての対象obの像を、第1の検出部130へ進行させて、結像させてよい。
第1の検出部130は、第1の進行部150により特定の方向としての第5の方向へ進行した電磁波を検出する。具体的には、第1の検出部130は、第1の進行部150により特定の方向へ進行し、第2の結像部160を経由した電磁波を検出する。
このように本実施形態においては、電磁波検出装置100は、第1の波長帯域の電磁波の透過率が、第1の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい波長分離部123と、第2の波長帯域の電磁波の透過率が、第2の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい波長選択部124と、波長分離部123および波長選択部124を介して進行した電磁波を検出する第1の検出部130と、を備える。そして、第1の波長帯域と第2の波長帯域とは、一部が重複する。
このような構成により、第1の検出部130には、第1の波長帯域と第2の波長帯域とにより制限される波長帯域の電磁波が入射される。フィルタとして機能する波長分離部123および波長選択部124により、第1の検出部130に入射される電磁波の波長帯域を制限することで、1つのバンドバスフィルタにより第1の検出部130に入射される電磁波の波長帯域を制限するよりも、より高い透過率、および、より急峻な分光特性を得ることができる。そのため、本実施形態に係る電磁波検出装置100は、第1の検出部130における受光S/N比の低下、および、受光信号レベルの低下を防ぎ、第1の検出部130において良好な受光信号を得ることができる。
また、本実施形態に係る情報取得システム11では、制御部14は、第1の検出部130および第2の検出部140により検出された電磁波に基づいて、電磁波検出装置100の周囲に関する情報を取得する。そのため、情報取得システム11は、検出した電磁波に基づく有益な情報を提供し得る。このような構成および効果は、後述する各実施形態の情報取得システムについても同じである。
本実施形態においては、波長分離部123がロングパスフィルタであり、波長選択部124がショートパスフィルタである例を用いて説明したが、波長分離部123および波長選択部124のフィルタの組み合わせはこれに限られない。例えば、波長分離部123がショートパスフィルタであり、波長選択部124がロングパスフィルタであってもよい。
また、波長分離部123および波長選択部124のうち、一方がロングパスフィルタであり、他方がバンドパスフィルタであってよい。この場合、図7に示すように、ロングパスフィルタのカットオフ周波数λ1は、レーザー帯域の低域側近傍の周波数とする。また、バンドパスフィルタの半値帯域が、レーザー帯域を含むようにする。こうすることで、カットオフ周波数λ1よりも長波長側の波長帯域とバンドパスフィルタの半値帯域とが重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
また、波長分離部123および波長選択部124のうち、一方がショートパスフィルタであり、他方がバンドパスフィルタであってよい。この場合、図8に示すように、ショートパスフィルタのカットオフ周波数λ2は、レーザー帯域の高域側近傍の周波数とする。また、バンドパスフィルタの半値帯域が、レーザー帯域を含むようにする。こうすることで、カットオフ周波数λ2よりも短波長側の波長帯域とバンドパスフィルタの半値帯域とが重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
また、波長分離部123および波長選択部124の両方が、バンドパスフィルタであってよい。この場合、図9に示すように、一方のバンドパスフィルタの半値帯域と、他方のバンドパスフィルタの半値帯域とをずらし、両方のバンドパスフィルタの半値帯域が重複する波長帯域に、レーザー帯域が含まれるようにする。こうすることで、2つのバンドパスフィルタの半値帯域が重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
また、波長分離部123および波長選択部124の両方が、ショートパスフィルタであってよい。この場合、図10に示すように、一方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ21は、レーザー帯域の高域側近傍の周波数とする。また、他方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ22は、一方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ21よりも高くする。こうすることで、カットオフ周波数λ21よりも短波長側の波長帯域と、カットオフ周波数λ22よりも短波長側の波長帯域とが重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
また、波長分離部123および波長選択部124の両方が、ショートパスフィルタである場合、図11に示すように、一方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ21は、レーザー帯域の低域側近傍の周波数とし、他方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ22は、レーザー帯域の高域側近傍の周波数とする。この場合、一方のショートパスフィルタによる反射、および、他方のショートパスフィルタによる透過を経た電磁波が第1の検出部130に入射される構成とする。このような構成は、例えば、波長分離部123を傾斜させ、波長分離部123を透過し、波長選択部124により反射された電磁波が第1の検出部130に入射されるようにすればよい。こうすることで、一方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ21よりも長波長側の波長帯域と、他方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ22よりも短波長側の波長帯域とが重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
また、波長分離部123および波長選択部124の両方が、ロングパスフィルタであってよい。この場合、図12に示すように、一方のロングパスフィルタのカットオフ周波数λ11は、レーザー帯域の低域側近傍の周波数とする。また、他方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ12は、一方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ11よりも低くする。こうすることで、カットオフ周波数λ11よりも長波長側の波長帯域と、カットオフ周波数λ12よりも長波長側の波長帯域とが重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
また、波長分離部123および波長選択部124の両方が、ロングパスフィルタである場合、図13に示すように、一方のロングパスフィルタのカットオフ周波数λ11は、レーザー帯域の高域側近傍の周波数とし、他方のロングパスフィルタのカットオフ周波数λ12は、レーザー帯域の低域側近傍の周波数とする。この場合、一方のロングパスフィルタによる反射、および、他方のロングパスフィルタによる透過を経た電磁波が第1の検出部130に入射される構成とする。このような構成は、例えば、波長選択部124を傾斜させ、波長分離部123を透過し、波長選択部124により反射された電磁波が第1の検出部130に入射されるようにすればよい。こうすることで、一方のロングパスフィルタのカットオフ周波数λ11よりも短波長側の波長帯域と、他方のショートパスフィルタのカットオフ周波数λ12よりも長波長側の波長帯域とが重複する波長帯域の電磁波を第1の検出部130に入射することができる。
次に、図14を参照して、本開示の第2の実施形態に係る電磁波検出装置101について説明する。図14において、第1の実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
図14に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置101は、図4に示す電磁波検出装置100と比較して、赤外線をカットするIRカットフィルタ125を追加した点が異なる。
第4の透過部としてのIRカットフィルタ125は、波長分離部123よりも後段に配置されている。具体的には、IRカットフィルタ125は、プリズム120の第3の面s3に蒸着して形成されている。IRカットフィルタ125は、第1の波長帯域以外の電磁の透過率が、波長分離部123の反射率よりも大きい。したがって、IRカットフィルタ125は、波長分離部123により第4の方向d4へ反射された電磁波を透過させる。IRカットフィルタ125を透過した電磁波は、第2の検出部140により検出される。
プリズム120の第3の面s3には、IRカットフィルタ125の代わりに、可視光をカットする可視光カットフィルタが配置されてもよい。すなわち、第4の透過部は、IRカットフィルタまたは可視光カットフィルタを含む。
本実施形態に係る電磁波検出装置101の構成は、図14に示す構成に限られない。図15に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置101は、図6に示す電磁波検出装置100にIRカットフィルタ125を追加した構成であってもよい。
次に、図16を参照して、本開示の第3の実施形態に係る電磁波検出装置102について説明する。図16において、上述した各実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
図16に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置102は、図14に示す電磁波検出装置101と比較して、可視光をカットする可視光カットフィルタ170を追加した点が異なる。
第3の透過部としての可視光カットフィルタ170は、波長分離部123よりも後段に配置されている。具体的には、可視光カットフィルタ170は、波長選択部124と第1の検出部130との間に配置されている。可視光カットフィルタ170は、波長分離部123および波長選択部124を透過した電磁波を透過させる。
可視光カットフィルタ170は、第1の波長帯域以外の電磁波の透過率が波長分離部123よりも小さい、および、第2の波長帯域以外の電磁波の透過率が波長選択部124よりも小さい。したがって、可視光カットフィルタ170は、波長分離部123および波長選択部124を透過した電磁波のうち、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域以外の電磁波をカットする。
あるいは、可視光カットフィルタ170は、第1の波長帯域以外の電磁波の透過率が波長分離部123よりも小さい、または、第2の波長帯域以外の電磁波の透過率が波長選択部124よりも小さい。したがって、可視光カットフィルタ170は、波長分離部123および波長選択部124を透過した電磁波のうち、第1の波長帯域と第2の波長帯域とが重複する波長帯域の両側の波長帯域のうち、一方の波長帯域の電磁波をカットする。
このように、可視光カットフィルタ170を設けることで、本実施形態に係る電磁波検出装置102は、第1の検出部120に入射される不要光の更なる低減および受光S/N比の向上を図り、第2の検出部140においてより良好な受光信号を得ることができる。
可視光カットフィルタ170の代わりに、IRカットフィルタが配置されてもよい。すなわち、第3の透過部は、IRカットフィルタまたは可視光カットフィルタを含む。
本実施形態に係る電磁波検出装置102の構成は、図16に示す構成に限られない。図17に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置102は、図15に示す電磁波検出装置101に可視光カットフィルタ170を追加した構成であってもよい。
図17においては、可視光カットフィルタ170が波長選択部124と第1の進行部150との間に配置されている例を示しているが、可視光カットフィルタ170の配置は、これに限られない。
例えば、図18に示すように、可視光カットフィルタ170は、第1の進行部150と第2の結像部160との間に配置されてもよい。また、図19に示すように、可視光カットフィルタ170は、第2の結像部160と第1の検出部130との間に配置されてももよい。
次に、図20を参照して、本開示の第4の実施形態に係る電磁波検出装置103について説明する。図20において、上述した各実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
図20に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置103は、図14に示す電磁波検出装置101と比較して、波長選択部124およびIRカットフィルタ125の配置が異なる。本実施形態においては、図20に示すように、波長選択部124およびIRカットフィルタ125は、プリズム120に蒸着されておらず、プリズム120から分離して、単独で配置されている。
本実施形態に係る電磁波検出装置103の構成は、図20に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係る電磁波検出装置103は、図21に示すように、図15に示す電磁波検出装置101において、波長選択部124およびIRカットフィルタ125が、プリズム120から分離して、単独で配置された構成でもよい。また、本実施形態に係る電磁波検出装置103は、図22に示すように、波長選択部124が、第1の進行部150と第2の結像部160との間に配置された構成でもよい。また、本実施形態に係る電磁波検出装置103は、図23に示すように、波長選択部124が、第2の結像部160と第1の検出部130との間に配置された構成でもよい。
本実施形態においては、波長選択部124およびIRカットフィルタ125が、プリズム120から分離して、単独で配置される例を用いて説明したが、これに限られない。波長選択部124およびIRカットフィルタ125の一方が、プリズム120から分離して、単独で配置されてもよい。
次に、図24を参照して、本開示の第5の実施形態に係る電磁波検出装置104について説明する。図24において、上述した各実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
図24に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置104は、図14に示す電磁波検出装置101と比較して、プリズム120(第1のプリズム121および第2のプリズム122)を削除した点が異なる。すなわち、本実施形態においては、波長分離部123、波長選択部124およびIRカットフィルタ125が、プリズム120に蒸着されておらず、単独で配置されている。この場合、波長分離部123、波長選択部124およびIRカットフィルタ125はそれぞれ、例えば、板状の素子として構成される。
図14に示す電磁波検出装置101のように、波長分離部123、波長選択部124およびIRカットフィルタ125をプリズム120に蒸着して形成する場合、位置合わせが容易になり、位置精度を向上させることができる。一方、本実施形態に係る電磁波検出装置104のように、波長分離部123、波長選択部124およびIRカットフィルタ125を単独で配置する場合、プリズム120が不要となるので、軽量化、部品数の削減を図ることができる。また、プリズム120を用いないため、本実施形態に係る電磁波検出装置104においては、プリズム120内での不要な反射などによるフレアあるいはゴーストの発生を防ぐことができる。
本実施形態に係る電磁波検出装置104の構成は、図24に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係る電磁波検出装置104は、図25に示すように、図15に示す電磁波検出101において、プリズム120を削除した構成でもよい。また、本実施形態に係る電磁波検出装置104は、図26に示すように、波長選択部124が、第1の進行部150と第2の結像部160との間に配置された構成でもよい。
次に、図27を参照して、本開示の第6の実施形態に係る電磁波検出装置105について説明する。図27において、上述した各実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
図27に示すように、本実施形態に係る電磁波検出装置105は、図14に示す電磁波検出装置101と比較して、波長選択部124の配置が異なる。本実施形態においては、図27に示すように、波長選択部124は、波長分離部123と第2のプリズム122との間に配置されている。波長選択部124は、例えば、第2のプリズム122の第5の面s5あるいは波長分離部123の第1のプリズム121の第2の面s2とは反対側の面に蒸着されて構成される。
本実施形態に係る電磁波検出装置105の構成は、図27に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係る電磁波検出装置105は、図28に示すように、図15に示す電磁波検出装置101において、波長選択部124が、波長分離部123と第2のプリズム122との間に配置された構成でもよい。
次に、図29を参照して、本開示の第7の実施形態に係る電磁波検出装置106について説明する。図29において、上述した各実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
本実施形態に係る電磁波検出装置106は、図6に示す電磁波検出装置100と比較して、プリズム120をプリズム120aに変更した点と、波長選択部124の配置とが異なる。
プリズム120aは、プリズム120と比較して、第2のプリズム122を第2のプリズム122aに変更した点が異なる。
第2のプリズム122aは、第4の面s46、第5の面s56および第6の面s66を別々の異なる表面として有してよい。第2のプリズム122aは、例えば、三角プリズムを含む。第4の面s46、第5の面s56および第6の面s66は、互いに交差してよい。
第4の面s46は、第3の方向d3へ進行した電磁波を第1の進行部150の基準面ssに射出する。また、第4の面s46は、第1の進行部150の基準面ssから再入射した電磁波を第5の方向d5へ進行させる。すなわち、本実施形態に係る電磁波検出装置106は、波長分離部123を介して進行した電磁波を第1の進行部150の基準面ssに射出し、基準面ssから特定の方向へ進行した電磁波が再入射する第1の射出面としての第4の面s46を備える。第4の面s46は、第3の方向d3へ進行した電磁波の進行軸に対して垂直、すなわち第3の方向d3に垂直であってよい。第4の面s46は、第1の進行部150の基準面ssに対して平行であってよい。第4の面s46は、基準面ssから再入射する電磁波を透過または屈折させて第5の方向d5へ進行させてよい。
第5の面s56は、第5の方向d5へ進行した電磁波を第6の方向d6へ進行させる。第5の面s56は、第5の方向d5へ進行した電磁波を内部反射して第6の方向d6へ進行させてよい。第5の面s56は、第5の方向d5へ進行した電磁波を内部全反射して第6の方向d6へ進行させてよい。第5の方向d5へ進行した電磁波の第5の面s56への入射角は臨界角以上であってよい。第5の方向d5へ進行した電磁波の第5の面s56への入射角は、第2の方向d2へ進行した電磁波の第2の面s2への入射角と異なってよい。第5の方向d5へ進行した電磁波の第5の面s56への入射角は、第2の方向d2へ進行した電磁波の第2の面s2への入射角より大きくてよい。
第6の面s66は、第6の方向d6へ進行した電磁波を射出する。すなわち、本実施形態に係る電磁波検出装置106は、第4の面s46から再入射した電磁波を射出する第2の射出面としての第6の面s66を備える。第6の面s66は、第6の方向d6へ進行した電磁波の進行軸に対して垂直、すなわち第6の方向d6に垂直であってよい。第6の面s66から射出された電磁波は、第1の検出部130により検出される。
第2のプリズム122aは、第5の面s56が第1のプリズム121の第2の面s2に平行かつ対向するように配置されてよい。第2のプリズム122aは、第1のプリズム121の第2の面s2を透過し、第5の面s56を介して第2のプリズム122aの内部を進行する電磁波の進行方向に第4の面s46が位置するように配置されてよい。
波長選択部124は、プリズム120aの第6の面s66と第1の検出部130との間に配置されてよい。例えば、波長選択部124は、図29に示すように、プリズム120aの第6の面s66と第2の結像部160との間に、単体の素子として配置されてよい。また、波長選択部124は、図30に示すように、第2の結像部160と第1の検出部130との間に、単体の素子として配置されてよい。また、波長選択部124は、図31に示すように、プリズム120aの第6の面s66に蒸着して構成されてよい。
また、波長選択部124は、プリズム120aの第4の面s46と第1の進行部150との間に配置されてよい。例えば、波長選択部124は、図32に示すように、プリズム120aの第4の面s46に蒸着して構成されてよい。
図32に示すように、プリズム120aの第4の面s46と第1の進行部150との間に波長選択部124が配置される場合、第1の検出部130には、波長選択部124を2回通過した電磁波が入射する。この場合、波長選択部124を2回通過することで、第1の検出部130に入射される電磁波の光量が低下するおそれがある。一方、図29~図31に示すように、プリズム120aの第6の面s66と第1の検出部130との間に波長選択部124が配置される場合、第1の検出部130には、波長選択部124を1回だけ通過した電磁波が入射する。そのため、第1の検出部130に入射される電磁波の光量の低下を抑制することができる。
次に、図33を参照して、本開示の第8の実施形態に係る電磁波検出装置107について説明する。図33において、上述した各実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
本実施形態に係る電磁波検出装置107は、図6に示す電磁波検出装置100と比較して、波長選択部124aおよび可視光カットフィルタ170と追加した点が異なる。可視光カットフィルタ170の構成および機能は、第3の実施形態と同様である。
第5の透過部としての波長選択部124aは、第1のプリズム121の第3の面s3に配置されている。波長選択部124aは、第4の面s4に蒸着された単層あるいは多層の薄膜により構成される。波長選択部124aは、第3の波長帯域の電磁波を透過する。すなわち、波長選択部124aは、第3の波長帯域の電磁波の透過率が、第3の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい。ここで、波長分離部123により反射された電磁波の波長帯域と第3の波長帯域とは一部重複する。波長選択部124aは、ロングパスフィルタ、ショートパスフィルタおよびバンドパスフィルタのいずれかを含む。
第2の検出部140は、波長分離部123により反射された後、波長選択部124aを透過した電磁波を検出する。ここで、第2の検出部140が検出する電磁波の波長帯域と、波長分離部123により反射された電磁波の波長帯域と、第3の波長帯域とは、少なくとも一部が重複する。第2の検出部140が検出する電磁波の波長帯域は、波長分離部123により反射された電磁波の波長帯域と第3の波長帯域とが重複する波長帯域を全て含んでもよい。また、第2の検出部140が検出する電磁波の波長帯域は、波長分離部123により反射された電磁波の波長帯域と第3の波長帯域とが重複する波長帯域と一致してもよい。したがって、第2の検出部140は、波長分離部123により反射された電磁波の波長帯域と第3の波長帯域とが重複する波長帯域の電磁波を検出する。
フィルタとして機能する波長分離部123および波長選択部124aにより、第2の検出部140に入射される電磁波の波長帯域を制限することで、1つのバンドバスフィルタにより第2の検出部140に入射される電磁波の波長帯域を制限するよりも、より高い透過率、および、より急峻な分光特性を得ることができる。そのため、本実施形態に係る電磁波検出装置107は、第2の検出部140における受光S/N比の低下、および、受光信号レベルの低下を防ぎ、第2の検出部140において良好な受光信号を得ることができる。
本実施形態に係る電磁波検出装置107の構成は、図33に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係る電磁波検出装置107は、図34に示すように、IRカットフィルタ125aを備えていてもよい。
第6の透過部としてのIRカットフィルタ125aは、波長選択部124aよりも後段に配置されている。具体的には、IRカットフィルタ125aは、波長選択部124aと第2の検出部140との間に配置されている。IRカットフィルタ125aは、波長分離部123により反射された後、波長選択部124aを透過した電磁波を透過させる。
ここで、IRカットフィルタ125aは、第1の波長帯域の電磁波の透過率が波長分離部123よりも小さい、および、第3の波長帯域以外の電磁波の透過率が波長選択部124aよりも小さい。したがって、IRカットフィルタ125aは、波長分離部123により反射された後、波長選択部124aを透過した電磁波のうち、第1の波長帯域の電磁波および第3の波長帯域以外の電磁波をカットする。
あるいは、IRカットフィルタ125aは、第1の波長帯域の電磁波の透過率が波長分離部123よりも小さい、または、第3の波長帯域以外の電磁波の透過率が波長選択部124aよりも小さい。したがって、IRカットフィルタ125aは、波長分離部123により反射された後、波長選択部124aを透過した電磁波のうち、第1の波長帯域の電磁波または第3の波長帯域以外の電磁波をカットする。
このように、IRカットフィルタ125aを設けることで、本実施形態に係る電磁波検出装置107は、第2の検出部140に入射される不要光の更なる低減および受光S/N比の向上を図り、第2の検出部140においてより良好な受光信号を得ることができる。
本実施形態に係る電磁波検出装置107の構成は、図33および図34に示す構成に限られない。例えば、本実施形態に係る電磁波検出装置107は、図35に示すように、第2の進行部151および第3の結像部180を備えていてもよい。
第2の進行部151の構成および機能は、第1の進行部150と同様である。第2の進行部151は、IRカットフィルタ125aを透過した電磁波を第7の方向d7へ進行させる。
第3の結像部180は、第2の進行部151により第7の方向d7へ進行した電磁波の経路上に設けられてよい。第3の結像部180は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第3の結像部180は、第7の方向d7へ進行する電磁波としての対象obの像を、第2の検出部140へ進行させて、結像させてよい。
本実施形態においては、IRカットフィルタ125aの代わりに、可視光カットフィルタが配置されてもよい。すなわち、第6の透過部は、IRカットフィルタまたは可視光カットフィルタを含む。
本開示を諸図面および実施例に基づき説明してきたが、当業者であれば本開示に基づき種々の変形および修正を行うことが容易であることに注意されたい。従って、これらの変形および修正は本開示の範囲に含まれることに留意されたい。
例えば、第1の実施形態から第8の実施形態において、放射部12、走査部13および制御部14が、電磁波検出装置100,101,102,103,104,105,106,107とともに情報取得システム11を構成しているが、電磁波検出装置100,101,102,103,104,105,106,107は、これらの少なくとも1つを含んで構成されてよい。
したがって、例えば、図6を参照して説明した、第1の進行部150を備える、第1の実施形態に係る電磁波検出装置100は、図36に示すように、放射部12、走査部13および制御部14を含んで構成されてよい。同様に、第2の実施形態から第8の実施形態に係る電磁波検出装置101,102,103,104,105,106,107は、放射部12、走査部13および制御部14を含んで構成されてよい。
また、第1の実施形態から第8の実施形態において、第1の進行部150は、基準面ssに入射する電磁波の進行方向を第1の選択方向ds1および第2の選択方向ds2の2方向に切替可能であるが、3以上の方向に切替可能であってよい。
また、第1の実施形態から第8の実施形態において、第1の進行部150の第1の状態および第2の状態は、基準面ssに入射する電磁波をそれぞれ、第1の選択方向ds1に反射する第1の反射状態、および第2の選択方向ds2に反射する第2の反射状態であるが、他の態様であってもよい。
例えば、第2の状態が、基準面ssに入射する電磁波を、透過させて第2の選択方向ds2へ進行させる透過状態であってもよい。第1の進行部150は、画素pxごとに電磁波を第1の選択方向ds1に反射する反射面を有するシャッタを含んでもよい。このような構成の第1の進行部150においては、画素pxごとのシャッタを開閉することにより、第1の状態としての反射状態および第2の状態としての透過状態を画素pxごとに切替えることができる。
第1の進行部150としては、例えば、開閉可能な複数のシャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む進行部が挙げられる。また、第1の進行部150として、電磁波を反射する反射状態と電磁波を透過する透過状態とを液晶配向に応じて切替え可能な液晶シャッタを含む進行部が挙げられる。このような構成の第1の進行部150においては、画素pxごとに液晶配向を切替えることにより、第1の状態としての反射状態および第2の状態としての透過状態を画素pxごとに切替えることができる。
また、第1の実施形態から第8の実施形態において、情報取得システム11は、放射部12から放射されるビーム状の電磁波を走査部13に走査させることにより、第1の検出部130を走査部13と協働させて走査型のアクティブセンサとして機能させる構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11は、放射状の電磁波を放射可能な複数の放射源を有する放射部12において、放射時期をずらしながら各放射源から電磁波を放射させるフェイズドスキャン方式により、走査部13を備えることなく、走査型のアクティブセンサとして機能させる構成を有してもよい。情報取得システム11は、走査部13を備えず、放射部12から放射状の電磁波を放射させ、走査なしで情報を取得する構成を有してもよい。
また、第1の実施形態から第8の実施形態において、情報取得システム11は、第1の検出部130がアクティブセンサであり、第2の検出部140がパッシブセンサである構成を有する。しかし、情報取得システム11は、このような構成に限られない。例えば、情報取得システム11は、第1の検出部130および第2の検出部140が共にアクティブセンサである構成を有してもよい。第1の検出部130および第2の検出部140が共にアクティブセンサである構成において、対象obに電磁波を放射する放射部12は異なっても、同一であってもよい。さらに、異なる放射部12は、それぞれ異種または同種の電磁波を放射してよい。
100~107 電磁波検出装置
11 情報取得システム
12 放射部
13 走査部
14 制御部
110 第1の結像部
120,120a プリズム
121 第1のプリズム
122,122a 第2のプリズム
123 波長分離部
124,124a 波長選択部
125,125a IRカットフィルタ
130 第1の検出部
140 第2の検出部
150 第1の進行部
151 第2の進行部
160 第2の結像部
170 可視光カットフィルタ
180 第3の結像部
900 電磁波検出装置
911 バンドパスフィルタ
912 第1の結像部
913 プリズム
914 進行部
915 第2の結像部
916 検出部
d1,d2,d3,d4,d5,d6,d7 第1の方向、第2の方向、第3の方向、第4の方向、第5の方向、第6の方向、第7の方向
s1 第1の面
s2 第2の面
s3 第3の面
s4,s46 第4の面
s5,s56 第5の面
s6,s66 第6の面
ob 対象
px 画素
ss 基準面

Claims (23)

  1. 電磁波を対象へ放射する放射部と、
    第1の波長帯域の電磁波の透過率が、前記第1の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい第1の透過部と、
    第2の波長帯域の電磁波の透過率が、前記第2の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい第2の透過部と、
    前記第1の透過部および前記第2の透過部を介して進行した電磁波を検出する第1の検出部と、
    前記第1の透過部により反射された電磁波を検出する第2の検出部と、
    前記放射部が放射した電磁波が前記対象で反射した反射波を含む電磁波を前記第1の透過部へ入射させる第1の結像部と、
    前記第1の検出部による前記反射波の検出結果に基づき前記対象までの距離を測定する制御部と、を備え、
    前記第1の結像部により、前記第1の透過部へは、前記放射部が放射した電磁波が前記対象で反射した反射波を含む電磁波が入射し、
    前記第1の透過部は、入射する電磁波のうち、第1のカットオフ周波数より長波長側の電磁波を透過させることで、少なくとも前記第1の波長帯域の電磁波を前記第2の透過部へ進行させ、且つ少なくとも前記第1の波長帯域以外の電磁波を前記第2の検出部へ進行させるロングパスフィルタであり、
    前記第2の透過部は、入射する電磁波のうち、前記第1のカットオフ周波数より長波長の第2のカットオフ周波数より短波長側の電磁波を透過させるショートパスフィルタであり、
    前記放射部は、前記第1のカットオフ周波数と前記第2のカットオフ周波数との間の波長の電磁波を放射し、
    前記第2の検出部は、可視光を検出して画像情報を生成し、
    前記第1の検出部は、前記第2の透過部が透過させた電磁波を検出するよう配置される、電磁波検出装置。
  2. 前記第1の波長帯域と前記第2の波長帯域とが重複する波長帯域と、前記第1の検出部が検出する電磁波の波長帯域とは、少なくとも一部が重複する、請求項1に記載の電磁波検出装置。
  3. 前記第1の波長帯域と前記第2の波長帯域とが重複する波長帯域は、前記第1の検出部が検出する電磁波の波長帯域を全て含む、請求項1または2に記載の電磁波検出装置。
  4. 前記第1の波長帯域と前記第2の波長帯域とが重複する波長帯域は、前記第1の検出部が検出する電磁波の波長帯域と一致する、請求項1から3のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  5. 前記第1の検出部は、前記第1の透過部および前記第2の透過部をこの順に透過した電磁波を検出する、請求項1から4のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  6. 前記第1の透過部は、前記第1の波長帯域以外の電磁波を反射し、
    前記第1の検出部は、前記第1の透過部で透過された後、前記第2の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項1から4のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  7. 前記第1の波長帯域以外の電磁波の透過率が前記第1の透過部よりも小さい、および、前記第2の波長帯域以外の電磁波の透過率が前記第2の透過部よりも小さい、第3の透過部をさらに備え、
    前記第3の透過部は、前記第1の透過部および前記第2の透過部を透過した電磁波を透過させ、
    前記第1の検出部は、前記第3の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項1から6のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  8. 前記第1の波長帯域以外の電磁波の透過率が前記第1の透過部よりも小さい、または、前記第2の波長帯域以外の電磁波の透過率が前記第2の透過部よりも小さい、第3の透過部をさらに備え、
    前記第3の透過部は、前記第1の透過部および前記第2の透過部を透過した電磁波を透過させ、
    前記第1の検出部は、前記第3の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項1から6のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  9. 前記第3の透過部は、IRカットフィルタまたは可視光カットフィルタを含む、請求項7または8に記載の電磁波検出装置。
  10. 前記第1の検出部は、前記放射部から対象に向けて放射された電磁波の前記対象からの反射波を検出するアクティブセンサまたはパッシブセンサを含む、請求項1から9のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  11. 基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の透過部を介して進行して前記基準面に入射した電磁波を前記画素ごとに特定の方向へ進行させる第1の進行部をさらに備え、
    前記第1の検出部は、前記特定の方向へ進行した電磁波を検出する、請求項1から10のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  12. 第1の射出面および第2の射出面を有するプリズムをさらに備え、
    前記第1の射出面は、前記第1の透過部を介して進行した電磁波を前記プリズムから前記基準面へ射出し、前記基準面から前記特定の方向へ進行した電磁波を前記プリズムに再入射させ、
    前記第2の射出面は、前記再入射した電磁波を前記プリズムから射出し、
    前記第1の検出部は、前記第2の射出面から射出された電磁波を検出する、請求項11に記載の電磁波検出装置。
  13. 前記第2の透過部は、前記第1の射出面と前記第1の進行部との間、または、前記第2の射出面と前記第1の検出部との間に配置されている、請求項12に記載の電磁波検出装置。
  14. 前記第1の進行部は、前記基準面に入射した電磁波を前記特定の方向へ反射する第1の反射状態と、前記特定の方向とは異なる方向へ反射する第2の反射状態とを、前記画素ごと切り替える、請求項11から13のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  15. 前記第1の透過部は、前記第1の波長帯域以外の電磁波の反射率が、前記第1の波長帯域の電磁波の反射率よりも高い、請求項1から14のいずれか一項に記載の電磁波検出装置。
  16. 前記第1の波長帯域以外の電磁波の透過率が、前記第1の透過部の反射率よりも大きい第4の透過部をさらに備え、
    前記第4の透過部は、前記第1の透過部により反射された電磁波を透過させ、
    前記第2の検出部は、前記第4の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項15に記載の電磁波検出装置。
  17. 前記第4の透過部は、IRカットフィルタまたは可視光カットフィルタを含む、請求項16に記載の電磁波検出装置。
  18. 第3の波長帯域の電磁波の透過率が、前記第3の波長帯域以外の電磁波の透過率よりも大きい第5の透過部をさらに備え、
    前記第1の透過部により反射された電磁波の波長帯域と前記第3の波長帯域とは、一部が重複し、
    前記第2の検出部は、前記第1の透過部により反射された後、前記第5の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項16または17に記載の電磁波検出装置。
  19. 前記第2の検出部が検出する電磁波の波長帯域と、前記第1の透過部により反射された電磁波の波長帯域と、前記第3の波長帯域とは、少なくとも一部が重複する、請求項18に記載の電磁波検出装置。
  20. 前記第1の波長帯域の電磁波の透過率が、前記第1の透過部の反射率よりも小さい、および、前記第3の波長帯域以外の電磁波の透過率が、前記第5の透過部の透過率よりも小さい、第6の透過部をさらに備え、
    前記第6の透過部は、前記第1の透過部により反射された後、前記第5の透過部を透過した電磁波を透過させ、
    前記第2の検出部は、前記第6の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項18又は19に記載の電磁波検出装置。
  21. 前記第1の波長帯域以外の電磁波の透過率が、前記第1の透過部の反射率よりも小さい、または、前記第3の波長帯域以外の電磁波の透過率が、前記第5の透過部の透過率よりも小さい、第6の透過部をさらに備え、
    前記第6の透過部は、前記第1の透過部により反射された後、前記第5の透過部を透過した電磁波を透過させ、
    前記第2の検出部は、前記第6の透過部を透過した電磁波を検出する、請求項18又は19に記載の電磁波検出装置。
  22. 前記放射部から放射される前記電磁波で前記対象を走査する走査部を有し、
    前記制御部は、前記走査部による前記電磁波の放射方向に基づき、前記電磁波の照射位置を取得し、前記照射位置までの距離を取得する、
    請求項に記載の電磁波検出装置。
  23. 基準面に複数の画素が配置され、前記第2の透過部から前記基準面に向けて入射する電磁波を、前記第1の検出部へ進行させる第1の状態と、前記第1の検出部へ進行させない第2の状態とを、前記画素ごとに切替える進行部を有し、
    前記進行部は、複数の前記画素の各々を前記第1の状態又は前記第2の状態に切り替えて、前記反射波を前記第1の検出部へ進行させる、
    請求項22に記載の電磁波検出装置。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3143769A1 (fr) * 2022-12-20 2024-06-21 Valeo Vision Système pour véhicule comprenant un module de réception d’un faisceau lumineux

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004325397A (ja) 2003-04-28 2004-11-18 Mitsubishi Electric Corp 測距装置
JP2005521276A (ja) 2001-11-27 2005-07-14 トムソン ライセンシング ソシエテ アノニム 特別効果ビデオカメラ
JP2006258464A (ja) 2005-03-15 2006-09-28 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 3次元画像情報取得装置
JP2008128792A (ja) 2006-11-20 2008-06-05 Fujifilm Corp 距離画像作成装置及び方法
JP2011199798A (ja) 2010-03-24 2011-10-06 Sony Corp 物理情報取得装置、固体撮像装置、物理情報取得方法
JP2014512525A (ja) 2011-03-17 2014-05-22 ウニベルジテート ポリテクニカ デ カタル−ニア 光ビームを受光するシステムと方法とコンピュータ・プログラム
US20140240721A1 (en) 2011-10-14 2014-08-28 Iee International Electronics & Engineerings S.A. Spatially selective detection using a dynamic mask in an image plane
US20150378023A1 (en) 2013-02-13 2015-12-31 Universitat Politecnica De Catalunya System and method for scanning a surface and computer program implementing the method
WO2017040066A1 (en) 2015-08-31 2017-03-09 The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Range-finder apparatus, methods, and applications
JP2017124790A (ja) 2016-01-15 2017-07-20 三菱重工業株式会社 移動物体観測システム、および、移動物体観測方法
WO2018034075A1 (ja) 2016-08-19 2018-02-22 ソニー株式会社 撮像システム

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL6814536A (ja) * 1967-10-13 1969-04-15
JP3585786B2 (ja) * 1999-10-13 2004-11-04 日本電信電話株式会社 有機材料の材質判別装置
JP2002077897A (ja) * 2000-08-25 2002-03-15 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> オブジェクト抽出型tvカメラ
JP2005352080A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Fujinon Corp プロジェクタ用全反射プリズム
JP4401989B2 (ja) 2005-03-15 2010-01-20 三井造船株式会社 3次元画像情報取得システム
JP5066420B2 (ja) * 2007-09-28 2012-11-07 富士フイルム株式会社 色分解光学系および撮像装置
US9551575B2 (en) * 2009-03-25 2017-01-24 Faro Technologies, Inc. Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver
JP5874116B2 (ja) * 2009-07-30 2016-03-02 国立研究開発法人産業技術総合研究所 画像撮影装置および画像撮影方法
US8570406B2 (en) * 2010-08-11 2013-10-29 Inview Technology Corporation Low-pass filtering of compressive imaging measurements to infer light level variation
KR101680762B1 (ko) * 2010-10-29 2016-11-29 삼성전자주식회사 3d 카메라용 빔스플리터 및 상기 빔스플리터를 채용한 3차원 영상 획득 장치
KR102153045B1 (ko) * 2013-12-04 2020-09-07 삼성전자주식회사 파장 분리 소자 및 이를 포함하는 3차원 영상 획득 장치
JP2017220439A (ja) * 2016-06-06 2017-12-14 ウシオ電機株式会社 レーザ駆動光源装置
US20170357000A1 (en) * 2016-06-09 2017-12-14 Texas Instruments Incorporated Processing techniques for lidar receiver using spatial light modulators

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005521276A (ja) 2001-11-27 2005-07-14 トムソン ライセンシング ソシエテ アノニム 特別効果ビデオカメラ
JP2004325397A (ja) 2003-04-28 2004-11-18 Mitsubishi Electric Corp 測距装置
JP2006258464A (ja) 2005-03-15 2006-09-28 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 3次元画像情報取得装置
JP2008128792A (ja) 2006-11-20 2008-06-05 Fujifilm Corp 距離画像作成装置及び方法
JP2011199798A (ja) 2010-03-24 2011-10-06 Sony Corp 物理情報取得装置、固体撮像装置、物理情報取得方法
JP2014512525A (ja) 2011-03-17 2014-05-22 ウニベルジテート ポリテクニカ デ カタル−ニア 光ビームを受光するシステムと方法とコンピュータ・プログラム
US20140240721A1 (en) 2011-10-14 2014-08-28 Iee International Electronics & Engineerings S.A. Spatially selective detection using a dynamic mask in an image plane
US20150378023A1 (en) 2013-02-13 2015-12-31 Universitat Politecnica De Catalunya System and method for scanning a surface and computer program implementing the method
WO2017040066A1 (en) 2015-08-31 2017-03-09 The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Range-finder apparatus, methods, and applications
JP2017124790A (ja) 2016-01-15 2017-07-20 三菱重工業株式会社 移動物体観測システム、および、移動物体観測方法
WO2018034075A1 (ja) 2016-08-19 2018-02-22 ソニー株式会社 撮像システム

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