JP7240466B2 - 3次元測量装置 - Google Patents
3次元測量装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7240466B2 JP7240466B2 JP2021159482A JP2021159482A JP7240466B2 JP 7240466 B2 JP7240466 B2 JP 7240466B2 JP 2021159482 A JP2021159482 A JP 2021159482A JP 2021159482 A JP2021159482 A JP 2021159482A JP 7240466 B2 JP7240466 B2 JP 7240466B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- distance measuring
- internal reference
- reflected
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 114
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 85
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 39
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 46
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 13
- 230000008859 change Effects 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 9
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
- G01S7/4817—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements relating to scanning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J3/108—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry for measurement in the infrared range
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/42—Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
- G01S17/89—Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/497—Means for monitoring or calibrating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/069—Supply of sources
- G01N2201/0696—Pulsed
- G01N2201/0697—Pulsed lasers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
- G01S7/4811—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements common to transmitter and receiver
- G01S7/4813—Housing arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
前記構成によれば、透過率可変フィルタは、液晶パネルであるため、受信した電気信号に応じて透過率可変フィルタに対する内部参照光の透過率を変更できる。
なお、以下に説明する実施形態は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。また、各図面中、同様の構成要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
本実施形態の説明では、3次元測量装置が3次元レーザスキャナである場合を例に挙げる。
制御演算部15には、操作部26と、鉛直角検出器18と、水平角検出器14と、が電気的に接続されている。制御演算部15には、鉛直角検出器18および水平角検出器14のそれぞれから出力された角度検出信号が入力されるとともに、作業者の操作に基づいて操作部26から出力された操作信号が入力される。
図4は、本実施形態の比較例に係る3次元測量装置を説明する図である。
なお、図3では、説明の便宜上、撮像部23を省略している。これは、図7および図8においても同様である。
図5は、本実施形態に係る3次元測量装置の距離計算処理を例示するフローチャートである。
図6は、本比較例に係る3次元測量装置の距離計算処理を例示するフローチャートである。
なお、変形例に係る3次元測量装置の構成要素が、図1~図3に関して前述した本実施形態に係る3次元測量装置の構成要素と同様である場合には、重複する説明は適宜省略し、以下、相違点を中心に説明する。
本変形例の参照光光学部24Aは、濃度可変フィルタ246と、反射シート244と、フィルタ245と、を有する。反射シート244およびフィルタ245は、図3に関して前述した通りである。濃度可変フィルタ246は、フィルタ245と、反射シート244と、の間に設けられている。モータ241および濃度勾配付フィルタ243ではなく濃度可変フィルタ246が設けられている点において、本変形例の参照光光学部24Aは、図1および図3に関して前述した参照光光学部24とは異なる。
本変形例の参照光光学部24Bは、モータ241と、反射率勾配付シート248と、フィルタ245と、を有する。モータ241およびフィルタ245は、図3に関して前述した通りである。濃度勾配付フィルタ243および反射シート244ではなく反射率勾配付シート248が設けられている点において、本変形例の参照光光学部24Bは、図1および図3に関して前述した参照光光学部24とは異なる。
Claims (2)
- 測定対象物に測距光を照射し、前記測距光が前記測定対象物で反射した反射測距光と内部参照光とに基づいて前記測定対象物までの距離を測定するとともに前記測距光の照射方向を検出することにより前記測定対象物の3次元データを取得する3次元測量装置であって、
前記測距光を射出する光源部と、
前記光源部から射出された前記測距光を測距光軸上に照射する投光光学部と、
回転軸の軸心に対して傾いた状態で前記回転軸を中心として回転可能に設けられ、前記投光光学部から導かれた前記測距光を前記回転軸に交差する面内で回転照射させる走査ミラーと、
前記測定対象物で反射し前記走査ミラーを介して導かれた前記反射測距光を受光する受光光学部と、
前記測距光が前記走査ミラーにより回転照射される照射範囲のうちで前記測距光が前記測定対象物に照射される測定範囲以外の範囲に設けられ、前記走査ミラーで反射した前記測距光を前記内部参照光として受光するとともに反射し、反射する前記内部参照光の光量を変更可能な参照光光学部と、
前記反射測距光と前記参照光光学部から導かれた前記内部参照光とを受光する受光素子と、
を備え、
前記参照光光学部は、
受信した電気信号に応じて前記内部参照光の透過率を変更可能な透過率可変フィルタと、
前記透過率可変フィルタを透過した前記内部参照光を反射する再帰反射の反射シートと、
を有し、前記内部参照光を取得するための前記測距光の前記照射範囲を抑えつつ、前記光量が互いに異なる前記内部参照光を取得することを特徴とする3次元測量装置。 - 前記透過率可変フィルタは、液晶パネルであることを特徴とする請求項1に記載の3次元測量装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021159482A JP7240466B2 (ja) | 2017-08-24 | 2021-09-29 | 3次元測量装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017161303A JP6953233B2 (ja) | 2017-08-24 | 2017-08-24 | 3次元測量装置 |
JP2021159482A JP7240466B2 (ja) | 2017-08-24 | 2021-09-29 | 3次元測量装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017161303A Division JP6953233B2 (ja) | 2017-08-24 | 2017-08-24 | 3次元測量装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021193398A JP2021193398A (ja) | 2021-12-23 |
JP7240466B2 true JP7240466B2 (ja) | 2023-03-15 |
Family
ID=63350442
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017161303A Active JP6953233B2 (ja) | 2017-08-24 | 2017-08-24 | 3次元測量装置 |
JP2021159482A Active JP7240466B2 (ja) | 2017-08-24 | 2021-09-29 | 3次元測量装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017161303A Active JP6953233B2 (ja) | 2017-08-24 | 2017-08-24 | 3次元測量装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11520015B2 (ja) |
EP (1) | EP3447535B1 (ja) |
JP (2) | JP6953233B2 (ja) |
CN (2) | CN109425296B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7084177B2 (ja) * | 2018-03-28 | 2022-06-14 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
JP7391650B2 (ja) | 2019-08-06 | 2023-12-05 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
JP7452044B2 (ja) * | 2020-01-31 | 2024-03-19 | 株式会社デンソー | 光検出装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007093306A (ja) | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報の検出装置 |
US20150309175A1 (en) | 2014-04-23 | 2015-10-29 | Hexagon Technology Center Gmbh | Distance measuring module comprising a variable optical attenuation unit including an lc cell |
JP2016211873A (ja) | 2015-04-30 | 2016-12-15 | 株式会社トプコン | 3次元測量装置及び3次元測量方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0829537A (ja) | 1994-07-13 | 1996-02-02 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
DE19607345A1 (de) * | 1996-02-27 | 1997-08-28 | Sick Ag | Laserabstandsermittlungsvorrichtung |
DE19647152A1 (de) * | 1996-11-14 | 1998-05-28 | Sick Ag | Laserabstandsermittlungsvorrichtung |
JPH1123709A (ja) | 1997-07-07 | 1999-01-29 | Nikon Corp | 距離測定装置 |
JP4531950B2 (ja) * | 2000-08-25 | 2010-08-25 | 株式会社トプコン | 眼科用測定装置 |
JP4228132B2 (ja) * | 2002-10-18 | 2009-02-25 | 株式会社トプコン | 位置測定装置 |
JP4260180B2 (ja) * | 2006-11-02 | 2009-04-30 | パナソニック株式会社 | 三次元形状測定装置及び三次元形状測定装置用プローブ |
US8305561B2 (en) | 2010-03-25 | 2012-11-06 | Hokuyo Automatic Co., Ltd. | Scanning-type distance measuring apparatus |
JP5912234B2 (ja) * | 2010-07-16 | 2016-04-27 | 株式会社トプコン | 測定装置 |
EP2469295A1 (en) * | 2010-12-23 | 2012-06-27 | André Borowski | 3D landscape real-time imager and corresponding imaging methods |
US9404792B2 (en) * | 2013-07-01 | 2016-08-02 | Raytheon Company | Auto-alignment system for high precision masted head mirror |
JP6324270B2 (ja) * | 2014-08-28 | 2018-05-16 | 株式会社トプコン | 測定装置および傾斜センサ装置 |
JP6315722B2 (ja) * | 2016-09-20 | 2018-04-25 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
CN114777686A (zh) * | 2017-10-06 | 2022-07-22 | 先进扫描仪公司 | 生成一个或多个亮度边缘以形成物体的三维模型 |
-
2017
- 2017-08-24 JP JP2017161303A patent/JP6953233B2/ja active Active
-
2018
- 2018-08-21 EP EP18190024.2A patent/EP3447535B1/en active Active
- 2018-08-21 US US16/106,309 patent/US11520015B2/en active Active
- 2018-08-23 CN CN201810970279.4A patent/CN109425296B/zh active Active
- 2018-08-23 CN CN202210114560.4A patent/CN114485405A/zh active Pending
-
2021
- 2021-09-29 JP JP2021159482A patent/JP7240466B2/ja active Active
-
2022
- 2022-10-28 US US18/050,962 patent/US11733357B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007093306A (ja) | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報の検出装置 |
US20150309175A1 (en) | 2014-04-23 | 2015-10-29 | Hexagon Technology Center Gmbh | Distance measuring module comprising a variable optical attenuation unit including an lc cell |
JP2016211873A (ja) | 2015-04-30 | 2016-12-15 | 株式会社トプコン | 3次元測量装置及び3次元測量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11733357B2 (en) | 2023-08-22 |
US20190064326A1 (en) | 2019-02-28 |
US20230077077A1 (en) | 2023-03-09 |
JP6953233B2 (ja) | 2021-10-27 |
CN114485405A (zh) | 2022-05-13 |
CN109425296A (zh) | 2019-03-05 |
JP2019039770A (ja) | 2019-03-14 |
JP2021193398A (ja) | 2021-12-23 |
US11520015B2 (en) | 2022-12-06 |
EP3447535B1 (en) | 2021-05-19 |
EP3447535A1 (en) | 2019-02-27 |
CN109425296B (zh) | 2022-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7240466B2 (ja) | 3次元測量装置 | |
JP5469843B2 (ja) | レーザ測量装置及び距離測定方法 | |
JP2019052867A (ja) | 測量装置 | |
US10261186B2 (en) | Three-dimensional surveying instrument and three-dimensional surveying method | |
JP7138525B2 (ja) | 測量装置及び測量装置システム | |
JP7314447B2 (ja) | スキャナシステム及びスキャン方法 | |
JP2022023609A (ja) | 測量装置 | |
US10895456B1 (en) | Three-dimensional survey apparatus, three-dimensional survey method, and three-dimensional survey program | |
US11692823B2 (en) | Three-dimensional survey apparatus, three-dimensional survey method, and three-dimensional survey program | |
US20210080577A1 (en) | Three-dimensional survey apparatus, three-dimensional survey method, and three-dimensional survey program | |
JP6423032B2 (ja) | 3次元測量装置 | |
JP2017058142A (ja) | 投影装置及び投影システム | |
JP6749191B2 (ja) | スキャナ装置および測量装置 | |
WO2024058148A1 (ja) | 3次元測量装置、3次元測量装置駆動方法および3次元測量装置駆動プログラム | |
JP7416647B2 (ja) | 測量装置 | |
JP7421437B2 (ja) | 測量装置 | |
JP7344732B2 (ja) | 測量装置及び測量装置システム | |
JP2021063678A (ja) | 測量装置 | |
JPS6161077A (ja) | レ−ザ測距装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210929 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210929 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220803 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220922 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230303 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7240466 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |