JP7233974B2 - Component mounting equipment and component mounting system - Google Patents

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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

この発明は、部品実装装置および部品実装システムに関し、特に、部品を基板に搭載するヘッドを備える部品実装装置および部品実装システムに関する。 The present invention relates to a component mounting apparatus and a component mounting system, and more particularly to a component mounting apparatus and a component mounting system having a head for mounting a component on a substrate.

従来、部品を基板に搭載するヘッドを備える部品実装装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a component mounting apparatus provided with a head for mounting a component on a substrate (see, for example, Patent Document 1).

上記特許文献1には、フィーダから供給される部品を基板に搭載する吸着ヘッド(ヘッド)を備える部品搭載装置(部品実装装置)が開示されている。また、上記特許文献1の部品搭載装置は、高さセンサと、制御部とを備えている。 The aforementioned Patent Document 1 discloses a component mounting apparatus (component mounting apparatus) having a suction head (head) that mounts a component supplied from a feeder onto a substrate. Further, the component mounting apparatus of Patent Document 1 includes a height sensor and a control section.

上記特許文献1の部品搭載装置では、制御部は、すべての部品に対して、吸着ヘッドにより部品を基板に搭載した後、部品を基板に搭載した搭載位置に高さセンサを移動させ、部品が基板に搭載されているか否かを検査する制御を行うように構成されている。上記特許文献1の部品搭載装置では、制御部は、すべての部品に対して、高さセンサにより部品が基板に搭載されているか否かの検査を行う制御を行うように構成されている。 In the component mounting apparatus disclosed in Patent Literature 1, the controller moves the height sensor to the mounting position where the components are mounted on the board after mounting the components on the board by the suction head for all the components. It is configured to perform control to inspect whether or not it is mounted on the board. In the component mounting apparatus of Patent Literature 1, the control section is configured to perform control for inspecting whether or not the components are mounted on the board by means of the height sensor for all the components.

特開2000-13097号公報JP-A-2000-13097

しかしながら、上記特許文献1の部品搭載装置では、基板に搭載されるすべての部品に対して、部品が基板に搭載されているか否かの検査を行っている。このため、上記特許文献1の部品搭載装置では、部品を搭載する毎に、部品を基板に搭載した搭載位置に移動して部品の検査を毎回行う分だけ、実装作業時間が増大するという問題点がある。 However, in the component mounting apparatus of Patent Literature 1, all components to be mounted on the board are inspected to determine whether or not the component is mounted on the board. Therefore, in the component mounting apparatus of Patent Document 1, every time a component is mounted, the component is moved to the mounting position where the component is mounted on the board and the component is inspected each time, which increases the mounting work time. There is

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、基板の部品搭載位置に移動して行われる部品の検査の回数を減少させることにより、実装作業時間が増大することを抑制することが可能な部品実装装置および部品実装システムを提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and aims to increase the mounting work time by reducing the number of component inspections performed by moving to a component mounting position on a substrate. It is an object of the present invention to provide a component mounting apparatus and a component mounting system that can be suppressed.

上記目的を達成するために、この発明の第1の局面による部品実装装置は、部品を保持するとともに、基板の目標位置に部品を設置することにより部品を搭載するヘッドを含むヘッドユニットと、部品の搭載経路に基づいて部品が基板に設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを検査する第1検査を行うとともに、第1検査の結果、搭載位置が正常となる場合、部品の実際の搭載位置を検査する第2検査を行わず、第1検査の結果、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、2検査を行う制御部とを備える。 In order to achieve the above object, a component mounting apparatus according to a first aspect of the present invention comprises a head unit that holds a component and mounts the component by placing the component at a target position on a board; A first inspection is performed for inspecting whether or not there is a possibility that the mounting position when the component is mounted on the substrate is defective based on the mounting path of , and as a result of the first inspection, the mounting position is normal. In the case, the second inspection for inspecting the actual mounting position of the component is not performed, and if there is a possibility that the mounting position is defective as a result of the first inspection, the second inspection is performed.

この発明の第1の局面による部品実装装置では、上記のように、部品の搭載経路に基づいて部品が基板に設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを検査する第1検査の結果、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、部品の実際の搭載位置を検査する第2検査を行う制御部を設ける。これにより、基板に搭載される部品のうち第1検査において部品の搭載位置が不良と判断された部品に対してのみ部品の実際の搭載位置に移動して検査する第2検査を行うことができるので、部品の実際の搭載位置に移動して検査する第2検査を行う回数を減少させることができる。その結果、基板の部品搭載位置に移動して行われる部品の第2検査の回数を減少させることにより、実装作業時間の増大を抑制することができる。また、第2検査よりも前に第1検査を行うことにより、部品を基板に搭載した実際の搭載位置に移動して検査を行うよりも早期に部品の実際の搭載位置が不良である可能性があることを発見することができる。 In the component mounting apparatus according to the first aspect of the present invention, as described above, it is inspected based on the component mounting path whether or not there is a possibility that the mounting position when the component is mounted on the substrate will be defective. A control unit is provided that performs a second inspection for inspecting the actual mounting position of the component when there is a possibility that the mounting position is defective as a result of the first inspection. As a result, it is possible to perform the second inspection in which only the components, among the components to be mounted on the board, which have been determined to be defective in the component mounting position in the first inspection, are moved to the actual component mounting position and inspected. Therefore, it is possible to reduce the number of times of performing the second inspection in which the component is inspected by moving to the actual mounting position. As a result, it is possible to suppress an increase in the mounting work time by reducing the number of times of the second inspection of the component that is performed by moving to the component mounting position on the board. Also, by performing the first inspection before the second inspection, there is a possibility that the actual mounting position of the component is defective earlier than moving the component to the actual mounting position where the component is mounted on the board and performing the inspection. can be discovered that there is

この発明の第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、基板の目標位置および目標位置の周辺を撮像する撮像部をさらに備え、制御部は、第1検査の結果、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、第2検査において部品の実際の搭載位置を撮像部により撮像する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、撮像部を移動させて検査を行う分だけ第1検査よりも検査時間を必要とする第2検査の回数を減少させることができるので、撮像部による第2検査を行う場合でも実装作業時間の増大を抑制することができる。 The component mounting apparatus according to the first aspect of the present invention preferably further includes an imaging section for imaging the target position of the board and the periphery of the target position, and the control section determines that the mounting position is defective as a result of the first inspection. When there is a possibility, it is configured to perform control for imaging the actual mounting position of the component by the imaging unit in the second inspection. With this configuration, it is possible to reduce the number of times of the second inspection, which requires an inspection time longer than that of the first inspection, by moving the imaging unit and performing the inspection. Therefore, the imaging unit performs the second inspection. Even in such a case, it is possible to suppress an increase in mounting work time.

この発明の第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、制御部は、基板の上面位置よりも上方の高さ位置に対応させて設けられた設置位置検査区間に部品が位置したことに基づいて第1検査を開始する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、基板の上面の高さ位置において第1検査を行う場合と異なり、反りを有する基板の上面に部品が設置された場合においても第1検査を行うことができる。その結果、基板の上面の状態によらず第1検査を行うことができるので、第1検査による基板に設置された際の部品の搭載位置の判断を確実に行うことができる。 In the component mounting apparatus according to the first aspect of the present invention, preferably, the control unit detects that the component is positioned in the installation position inspection section provided corresponding to the height position above the upper surface position of the board. is configured to perform control to start the first inspection. With this configuration, unlike the case where the first inspection is performed at the height position of the upper surface of the substrate, the first inspection can be performed even when the component is placed on the upper surface of the substrate having warpage. As a result, since the first inspection can be performed regardless of the state of the upper surface of the board, it is possible to reliably determine the mounting position of the component when it is placed on the board by the first inspection.

この場合、好ましくは、制御部は、部品の搭載経路のうち設置位置検査区間を通過する際の部品の位置に基づいて、第1検査を行う制御を行うように構成されている。このように構成すれば、部品の搭載経路の全体にわたって第1検査を行うことなく、部品の搭載経路のうち部品が基板に設置された可能性がある箇所を特定して第1検査を行うことができるので、第1検査を効率的に行うことができる。 In this case, preferably, the control unit is configured to perform control to perform the first inspection based on the position of the component when it passes through the installation position inspection section in the component mounting path. With this configuration, the first inspection can be performed by specifying a portion of the component mounting path where the component may have been placed on the substrate without performing the first inspection over the entire component mounting path. can be performed, the first inspection can be performed efficiently.

上記制御部が設置位置検査区間に部品が位置したことに基づいて第1検査を開始する構成の部品実装装置において、好ましくは、制御部は、設置位置検査区間における不良位置範囲に対応する部分に部品が位置したことに基づいて、第1検査において部品が基板に搭載された際の搭載位置を不良と判断する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、不良位置範囲が基板の上面位置よりも上方の高さ位置に対応させて設けられることにより、反りを有する基板の上面に部品が設置され、略平坦な基板の上面に部品が設置された場合よりも部品の高さ位置が上方に位置する場合でも、第1検査により部品が基板に設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを検査することができる。その結果、基板の上面の状態によらず第1検査を行うことができるので、第1検査における基板に設置された際の搭載位置の不良の判断を確実に行うことができる。 In the component mounting apparatus having a configuration in which the control unit starts the first inspection based on the component being positioned in the installation position inspection section, preferably, the control unit controls the portion corresponding to the defective position range in the installation position inspection section. Based on the position of the component, control is performed to determine that the mounting position of the component mounted on the substrate in the first inspection is defective. With this configuration, the defective position range is provided corresponding to the height position above the upper surface position of the substrate, so that the component is installed on the upper surface of the substrate having warpage, and the component is placed on the upper surface of the substantially flat substrate. Even if the height position of the component is positioned higher than when the component is installed, it is inspected whether there is a possibility that the mounting position when the component is installed on the substrate will be defective by the first inspection. be able to. As a result, since the first inspection can be performed regardless of the state of the upper surface of the substrate, it is possible to reliably determine whether the mounting position is defective when the device is installed on the substrate in the first inspection.

この場合、好ましくは、制御部は、第1検査において、目標位置に搭載された場合の部品の水平方向における目標水平位置と、ヘッドに保持された部品の水平方向における部品水平位置との差に基づいて、設置位置検査区間における不良位置範囲に対応する部分に部品が位置したか否かを判断する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、第1検査において、目標水平位置に対するヘッドに保持された部品の水平方向における部品水平位置の位置ずれにより、部品が基板に設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを検査することができる。これにより、容易に第1検査を行うことができる。 In this case, preferably, in the first inspection, the control unit determines the difference between the target horizontal position in the horizontal direction of the component when mounted at the target position and the component horizontal position in the horizontal direction of the component held by the head. Based on this, it is configured to perform control to determine whether or not the component is positioned in the portion corresponding to the defective position range in the installation position inspection section. With this configuration, in the first inspection, there is a possibility that the mounting position of the component when it is mounted on the board may be defective due to the displacement of the component horizontal position in the horizontal direction of the component held by the head with respect to the target horizontal position. It is possible to check whether there is This makes it possible to easily perform the first inspection.

この発明の第1の局面による部品実装装置おいて、好ましくは、制御部は、基板に部品が設置されたことに基づいて、第1検査を終了する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、基板に部品が設置するまで第1検査を行うことができるので、部品が基板に設置された際の搭載位置に対する第1検査による判断をより正確に行うことができる。 In the component mounting apparatus according to the first aspect of the present invention, preferably the control section is configured to perform control to end the first inspection based on the placement of the component on the board. With this configuration, the first inspection can be performed until the component is installed on the board, so that the mounting position of the component when installed on the board can be determined more accurately by the first inspection.

上記撮像部を備える構成の部品実装装置において、好ましくは、制御部は、第2検査において撮像部により撮像した目標位置および目標位置の周辺画像により、部品の実際の搭載位置が不良と判断されたことに基づいて、オペレータへ報知するとともに実装作業を停止する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、オペレータによる部品実装装置に対する復旧作業を早急に行うことができるので、実装作業の停止時間を短くすることができる。 In the component mounting apparatus having the configuration including the imaging unit, preferably, the control unit determines that the actual mounting position of the component is defective based on the target position and the peripheral image of the target position captured by the imaging unit in the second inspection. Based on this fact, it is configured to perform control to notify the operator and stop the mounting work. With this configuration, the operator can quickly perform recovery work on the component mounting apparatus, so that the downtime of the mounting work can be shortened.

上記撮像部を備える構成の部品実装装置において、好ましくは、撮像部により撮像された目標位置および目標位置の周辺画像を表示する表示部をさらに備え、制御部は、オペレータが部品の実際の搭載位置を判断可能なように、表示部に第2検査において撮像部により撮像した画像を表示する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、オペレータは表示部に表示された画像を実際に見ることにより、目標位置および部品の実際の搭載位置を確認することができるので、部品の実際の搭載位置に対する正常または不良の判断をオペレータが適切に行うことができる。 The component mounting apparatus having the configuration including the imaging unit preferably further includes a display unit for displaying the target position imaged by the imaging unit and an image around the target position. is configured to display an image captured by the imaging unit in the second examination on the display unit so that the determination can be made. With this configuration, the operator can confirm the target position and the actual mounting position of the component by actually looking at the image displayed on the display unit, so that the operator can check whether the component is normal or defective with respect to the actual mounting position of the component. can be appropriately determined by the operator.

上記第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、制御部は、第2検査の結果において部品の実際の搭載位置が不良であると判断された場合、不良と判断された実際の搭載位置に基づいて、基板の不良個所を示すマップを更新する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、部品実装装置において更新されたマップを部品実装装置よりも下流に配置される作業装置が参照することができるので、マップに示された不良個所に応じて部品実装装置よりも下流に配置される作業装置における基板に対する作業を適切に変更することができる。たとえば、マップに不良個所が示された場合、マップに示された基板の不良個所に対して、部品実装装置よりも下流に配置される作業装置において作業を行わないように変更することができる。これにより、部品実装装置の実装作業だけでなく、部品実装装置よりも下流に配置される作業装置における基板に対する作業も効率化することができるので、基板を生産する作業時間が増大することを抑制することができる。 In the component mounting apparatus according to the first aspect, preferably, when the result of the second inspection determines that the actual mounting position of the component is defective, the control section moves the component to the actual mounting position determined to be defective. Based on this, it is configured to perform control to update the map showing the defective locations on the board. With this configuration, the map updated by the component mounting apparatus can be referred to by the working device arranged downstream of the component mounting apparatus. It is possible to appropriately change the work on the substrate in the work device arranged downstream. For example, when a defective portion is indicated on the map, it is possible to change the defective portion of the board indicated on the map so that the work device arranged downstream of the component mounting apparatus does not work on the defective portion. As a result, not only the mounting work of the component mounting apparatus, but also the work for the board in the working device arranged downstream from the component mounting apparatus can be made more efficient, thereby suppressing an increase in the work time for producing the board. can do.

この発明の第2の局面による部品実装システムは、上記第1の局面による部品実装装置を備える部品実装システムであって、部品実装装置は、第2検査の結果において部品の実際の搭載位置が不良であると判断された場合、不良と判断された実際の搭載位置に基づいて、基板の不良個所を示すマップを更新する制御を行う制御部を含む。 A component mounting system according to a second aspect of the present invention is a component mounting system comprising the component mounting apparatus according to the first aspect, wherein the component mounting apparatus has a defect in the actual mounting position of the component as a result of the second inspection. a control unit for updating a map showing defective locations on the board based on the actual mounting position determined to be defective when it is determined to be defective.

この発明の第2の局面による部品実装システムでは、上記のように、部品の搭載経路に基づいて部品が基板に設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを検査する第1検査の結果、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、部品の実際の搭載位置を検査する第2検査を行う制御部を設けた部品実装装置を設ける。そして、制御部を、第2検査の結果において不良と判断された実際の搭載位置に基づいて、基板の不良個所を示すマップを更新するように構成する。これにより、基板に搭載される部品のうち第1検査において部品の搭載位置が不良と判断された部品に対してのみ第2検査を行うことができるので、部品の実際の搭載位置に移動して検査する第2検査を行う回数を減少させることができる。その結果、基板の部品搭載位置に移動して行われる部品の第2検査の回数を減少させることにより、実装作業時間の増大を抑制することが可能な部品実装システムを得ることができる。また、部品実装装置において更新されたマップを部品実装装置よりも下流に配置される作業装置が参照することができるので、マップに示された不良個所に応じて部品実装装置よりも下流に配置される作業装置における基板に対する作業を適切に変更することができる。たとえば、マップに不良個所が示された場合、マップに示された基板の不良個所に対して、部品実装装置よりも下流に配置される作業装置において作業を行わないように変更することができる。これにより、部品実装装置の実装作業だけでなく、部品実装装置よりも下流に配置される作業装置における基板に対する作業も効率化することができるので、基板を生産する作業時間の増大を抑制することが可能な部品実装システムを得ることができる。 In the component mounting system according to the second aspect of the present invention, as described above, it is inspected based on the component mounting path whether or not there is a possibility that the mounting position when the component is mounted on the substrate will be defective. A component mounting apparatus having a control unit for performing a second inspection for inspecting an actual mounting position of a component when there is a possibility that the mounting position is defective as a result of the first inspection. Then, the control unit is configured to update the map showing the defective locations of the board based on the actual mounting position determined to be defective in the result of the second inspection. As a result, it is possible to perform the second inspection only on the components to be mounted on the substrate that are determined to be defective in the component mounting position in the first inspection. It is possible to reduce the number of times the second inspection is performed. As a result, it is possible to obtain a component mounting system capable of suppressing an increase in mounting work time by reducing the number of times the component is moved to the component mounting position on the substrate and subjected to the second inspection. Further, since the map updated by the component mounting apparatus can be referred to by the work apparatus arranged downstream of the component mounting apparatus, the work apparatus arranged downstream of the component mounting apparatus can be arranged according to the defective portion shown in the map. It is possible to appropriately change the work on the substrate in the working device that For example, when a defective portion is indicated on the map, it is possible to change the defective portion of the board indicated on the map so that the work device arranged downstream of the component mounting apparatus does not work on the defective portion. As a result, not only the mounting work of the component mounting apparatus, but also the work for the board in the working device arranged downstream from the component mounting apparatus can be made efficient, so that the increase in the work time for producing the board can be suppressed. It is possible to obtain a component mounting system capable of

上記第2の局面による部品実装システムにおいて、好ましくは、部品実装装置の制御部にネットワークを介して接続され、部品実装装置の制御部において更新されたマップを取得する制御を行うサーバをさらに備える。このように構成すれば、サーバによりマップを一括管理させることができるので、サブマップの利便性を向上させることができる。 The component mounting system according to the second aspect preferably further comprises a server connected to the control unit of the component mounting apparatus via a network and controlling acquisition of the map updated by the control unit of the component mounting apparatus. With this configuration, maps can be collectively managed by the server, so the convenience of submaps can be improved.

本発明によれば、上記のように、基板の部品搭載位置に移動して行われる部品の検査の回数を減少させることにより、実装作業時間が増大することを抑制することができる。 According to the present invention, as described above, it is possible to suppress an increase in the mounting work time by reducing the number of component inspections performed by moving to the component mounting position on the board.

第1~第3実施形態による部品実装装置の概略を示した平面図である。1 is a plan view showing an outline of a component mounting apparatus according to first to third embodiments; FIG. 第1~第3実施形態による部品実装装置の概略を示した側面図である。1 is a side view showing an outline of a component mounting apparatus according to first to third embodiments; FIG. 第1~第3実施形態による部品実装装置の制御的な構成を示したブロック図である。1 is a block diagram showing a control configuration of a component mounting apparatus according to first to third embodiments; FIG. 第1実施形態による部品実装装置における実装ヘッドにより保持された電子部品の吸着位置から基板の所定箇所までの移動を示した平面図である。FIG. 4 is a plan view showing movement of an electronic component held by a mounting head in the component mounting apparatus according to the first embodiment from a suction position to a predetermined position on the substrate; 図4のZ部分の拡大図である。FIG. 5 is an enlarged view of the Z portion of FIG. 4; 第1実施形態による部品実装装置において行われる第1検査処理について示した模式的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a first inspection process performed in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において行われる第1検査処理の第1検査区間について示した模式的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a first inspection section of a first inspection process performed in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において行われる第1検査処理の第2検査区間について示した模式的な図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing a second inspection interval of the first inspection process performed in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において行われる第2検査処理について示した模式的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a second inspection process performed in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置の基板認識カメラにより撮像された基板の所定箇所の画像を示した模式的な図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing an image of a predetermined portion of a board captured by a board recognition camera of the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において一例として第1経路により電子部品を基板に搭載した場合を示した模式的な図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a case where an electronic component is mounted on a board by a first route as an example in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において一例として第2経路により電子部品を基板に搭載した場合を示した模式的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a case where an electronic component is mounted on a board by a second route as an example in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において一例として第3経路により電子部品を基板に搭載した場合を示した模式的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a case where an electronic component is mounted on a board by a third route as an example in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置において一例として第4経路により電子部品を基板に搭載した場合を示した模式的な図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a case where an electronic component is mounted on a board by a fourth route as an example in the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置の制御部において実施される実装処理を示したフローチャートである。4 is a flow chart showing mounting processing performed in the control unit of the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第1実施形態による部品実装装置の制御部において実施される搭載処理を示したフローチャートである。4 is a flowchart showing mounting processing performed by a control unit of the component mounting apparatus according to the first embodiment; 第2実施形態による部品実装装置の制御部において実施される実装処理を示したフローチャートである。10 is a flow chart showing mounting processing performed by a control unit of the component mounting apparatus according to the second embodiment; 第3実施形態による部品実装システムを示したブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing a component mounting system according to a third embodiment; FIG. 図19(A)は印刷装置において更新したサブマップをサーバに送信する状態を示した模式的な図である。図19(B)は部品実装装置においてサブマップをサーバから取得して参照する状態を示した模式的な図である。図19(C)は部品実装装置において更新したサブマップをサーバに送信する状態を示した模式的な図である。FIG. 19A is a schematic diagram showing a state in which the updated submap is transmitted to the server in the printing apparatus. FIG. 19B is a schematic diagram showing a state in which a submap is acquired from a server and referred to in the component mounting apparatus. FIG. 19C is a schematic diagram showing a state in which the updated submap is transmitted to the server in the component mounting apparatus. 第3実施形態による部品実装装置の制御部において実施される実装処理を示したフローチャートである。10 is a flow chart showing mounting processing performed by a control unit of a component mounting apparatus according to a third embodiment;

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。 Embodiments embodying the present invention will be described below with reference to the drawings.

[第1実施形態]
図1~図14を参照して、第1実施形態による部品実装装置1の構成について説明する。
[First embodiment]
The configuration of a component mounting apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 14. FIG.

図1に示すように、部品実装装置1は、IC、トランジスタ、コンデンサおよび抵抗などの電子部品Eをプリント基板などの基板Bに実装するように構成されている。なお、電子部品Eは、特許請求の範囲の「部品」の一例である。 As shown in FIG. 1, the component mounting apparatus 1 is configured to mount electronic components E such as ICs, transistors, capacitors and resistors on a substrate B such as a printed circuit board. Note that the electronic component E is an example of the "component" in the scope of claims.

ここで、部品実装装置1において、基板Bを搬送する搬送方向をX1方向とし、基板Bを搬送する搬送方向の逆方向をX2方向とし、水平方向におけるX方向に直交する方向をY方向とする。また、部品実装装置1において、X方向およびY方向に直交する上下方向をZ方向とする。 Here, in the component mounting apparatus 1, the transport direction in which the board B is transported is the X1 direction, the direction opposite to the transport direction in which the board B is transported is the X2 direction, and the direction orthogonal to the X direction in the horizontal direction is the Y direction. . Further, in the component mounting apparatus 1, the vertical direction orthogonal to the X direction and the Y direction is defined as the Z direction.

部品実装装置1は、基台2と、フィーダ配置部3と、基板搬送部4と、ヘッドユニット5と、支持部6と、レール部7と、部品認識カメラ8と、基板認識カメラ9と、表示部10と、制御部11とを備えている。なお、基板認識カメラ9は、特許請求の範囲の「撮像部」の一例である。 The component mounting apparatus 1 includes a base 2, a feeder placement section 3, a board transfer section 4, a head unit 5, a support section 6, a rail section 7, a component recognition camera 8, a board recognition camera 9, A display unit 10 and a control unit 11 are provided. Note that the substrate recognition camera 9 is an example of the "imaging unit" in the scope of claims.

(基台)
基台2は、部品実装装置1において各構成要素を配置する基礎となる台である。基台2上には、構成要素として、基板搬送部4、レール部7、および、部品認識カメラ8が設けられている。また、基台2内には、制御部11が設けられている。また、基台2には、Y方向の両側(Y1方向側およびY2方向側)に、複数のテープフィーダ12を配置可能なフィーダ配置部3が設けられている。
(base)
The base 2 is a base on which components are arranged in the component mounting apparatus 1 . A board transfer section 4, a rail section 7, and a component recognition camera 8 are provided on the base 2 as constituent elements. Further, a control unit 11 is provided inside the base 2 . Further, the base 2 is provided with feeder arrangement portions 3 on which a plurality of tape feeders 12 can be arranged on both sides in the Y direction (the Y1 direction side and the Y2 direction side).

(テープフィーダ)
テープフィーダ12は、基板Bに実装される電子部品Eを供給する装置である。テープフィーダ12は、複数の電子部品Eを所定の間隔を隔てて保持したテープを巻き回したリール(図示せず)を保持している。また、テープフィーダ12は、ヘッドユニット5による電子部品Eの取り出しのための部品保持動作に応じて、保持されたリールを回転させてテープを送り出すように構成されている。テープフィーダ12は、テープを送り出すことにより、作業位置W側の先端部(吸着位置A)から電子部品Eを供給するように構成されている。
(tape feeder)
The tape feeder 12 is a device that supplies the electronic components E mounted on the substrate B. As shown in FIG. The tape feeder 12 holds a reel (not shown) wound with a tape holding a plurality of electronic components E at predetermined intervals. Further, the tape feeder 12 is configured to rotate the held reel and feed the tape according to the component holding operation for taking out the electronic component E by the head unit 5 . The tape feeder 12 is configured to feed the electronic component E from the leading end (suction position A) on the working position W side by feeding the tape.

(基板搬送部)
基板搬送部4は、部品実装装置1の外部から基板Bを搬入し、基板Bを搬送方向(X1方向)に搬送するように構成されている。基板搬送部4は、一対のコンベア部41と、一対のコンベア部41を回転駆動させるための駆動モータ42とを含んでいる。一対のコンベア部41は、それぞれ、プーリ(図示せず)と、プーリに掛け回された輪状の搬送ベルトとを有している。制御部11は、駆動モータ42を制御することにより、一対のコンベア部41上に載置された基板Bの搬送速度を制御するように構成されている。
(substrate transfer section)
The board transfer section 4 is configured to load the board B from the outside of the component mounting apparatus 1 and transfer the board B in the transfer direction (X1 direction). The substrate transfer section 4 includes a pair of conveyor sections 41 and a drive motor 42 for rotating the pair of conveyor sections 41 . Each of the pair of conveyor sections 41 has a pulley (not shown) and a loop-shaped conveying belt looped around the pulley. The control unit 11 is configured to control the transport speed of the substrate B placed on the pair of conveyor units 41 by controlling the drive motor 42 .

(ヘッドユニット)
ヘッドユニット5は、図2に示すように、部品実装用のヘッドユニット5であり、作業位置Wにおいて固定された基板Bに電子部品Eを実装するように構成されている。具体的には、ヘッドユニット5は、電子部品Eを保持するとともに、基板Bの目標搭載位置C(図5参照)に電子部品Eを設置することにより電子部品Eを搭載する複数(4つ)の実装ヘッド51を含んでいる。なお、実装ヘッド51は、特許請求の範囲の「ヘッド」の一例である。
(head unit)
The head unit 5 is a head unit 5 for component mounting, and is configured to mount an electronic component E on a substrate B fixed at a working position W, as shown in FIG. Specifically, the head unit 5 holds the electronic component E, and installs the electronic component E at the target mounting position C (see FIG. 5) of the substrate B, thereby mounting the electronic component E on a plurality of (four) head units. mounting head 51. The mounting head 51 is an example of the "head" in the claims.

複数の実装ヘッド51は、各々、圧力発生装置(図示せず)に接続されており、圧力発生装置により生じる負圧によって、先端に装着されたノズルに電子部品Eを保持(吸着)可能に構成されている。また、複数の実装ヘッド51は、各々、圧力発生装置による負圧を正圧に切り換えることによって、電子部品Eを基板Bに設置可能に構成されている。 Each of the plurality of mounting heads 51 is connected to a pressure generator (not shown), and is configured to be able to hold (adsorb) the electronic component E to the nozzle attached to the tip by the negative pressure generated by the pressure generator. It is Further, each of the plurality of mounting heads 51 is configured to be able to mount the electronic component E on the substrate B by switching the negative pressure generated by the pressure generating device to positive pressure.

複数の実装ヘッド51は、各々、Z軸モータ52によりZ方向(上下方向)に移動可能に構成されている。また、複数の実装ヘッド51は、各々、R軸モータ53(図3参照)により回転軸回りに回転可能に構成されている。ここで、複数の実装ヘッド51は、各々、基板Bに電子部品Eが接触したタイミングを正確に検知可能なように、基板Bに電子部品Eが接触した際に生じる負荷を抑制するスプリングを有していない。なお、複数の実装ヘッド51は、各々、基板Bに電子部品Eが接触した際に生じる負荷を抑制するスプリングを有していてもよい。 Each of the plurality of mounting heads 51 is configured to be movable in the Z direction (vertical direction) by a Z-axis motor 52 . Moreover, each of the plurality of mounting heads 51 is configured to be rotatable around the rotation axis by an R-axis motor 53 (see FIG. 3). Here, each of the plurality of mounting heads 51 has a spring that suppresses the load generated when the electronic component E contacts the board B so that the timing at which the electronic component E contacts the board B can be accurately detected. not. In addition, each of the plurality of mounting heads 51 may have a spring that suppresses a load generated when the electronic component E contacts the substrate B. FIG.

(支持部)
支持部6は、図1に示すように、ヘッドユニット5を搬送方向(X1方向)および搬送方向とは逆方向(X2方向)に移動可能に支持するように構成されている。具体的には、支持部6は、搬送方向に延びるボールねじ軸61と、ボールねじ軸61を回転させるX軸モータ62とを含んでいる。ヘッドユニット5には、支持部6のボールねじ軸61と係合するボールナット(図示せず)が設けられている。ヘッドユニット5は、X軸モータ62によりボールねじ軸61が回転されることにより、ボールねじ軸61と係合するボールナットとともに、搬送方向に移動可能に構成されている。
(support part)
As shown in FIG. 1, the support section 6 is configured to support the head unit 5 so as to be movable in the transport direction (X1 direction) and in the direction opposite to the transport direction (X2 direction). Specifically, the support section 6 includes a ball screw shaft 61 extending in the transport direction and an X-axis motor 62 that rotates the ball screw shaft 61 . The head unit 5 is provided with a ball nut (not shown) that engages with the ball screw shaft 61 of the support portion 6 . When the ball screw shaft 61 is rotated by the X-axis motor 62 , the head unit 5 is configured to be movable in the transport direction together with the ball nut that engages with the ball screw shaft 61 .

(レール部)
一対のレール部7は、支持部6をY方向に移動可能に支持するように構成されている。具体的には、レール部7は、Y方向に延びるボールねじ軸71と、ボールねじ軸71を回転させるY軸モータ72とを含んでいる。支持部6には、レール部7のボールねじ軸71と係合するボールナット(図示せず)が設けられている。支持部6は、Y軸モータ72によりボールねじ軸71が回転されることにより、ボールねじ軸71と係合するボールナットとともに、Y方向に移動可能に構成されている。
(Rail part)
The pair of rail portions 7 are configured to support the support portion 6 so as to be movable in the Y direction. Specifically, the rail portion 7 includes a ball screw shaft 71 extending in the Y direction and a Y-axis motor 72 that rotates the ball screw shaft 71 . The support portion 6 is provided with a ball nut (not shown) that engages with the ball screw shaft 71 of the rail portion 7 . When the ball screw shaft 71 is rotated by the Y-axis motor 72 , the support portion 6 is configured to be movable in the Y direction together with the ball nut that engages with the ball screw shaft 71 .

このような構成により、ヘッドユニット5は、基台2上を水平面内で(X方向およびY方向に)移動可能に構成されている。これにより、ヘッドユニット5は、作業位置Wにおいて位置固定された基板Bの上方に移動して、実装ヘッド51に保持された電子部品Eを目標搭載位置C(図5参照)が設定された基板B上の所定箇所B1(図5参照:部品搭載位置)に実装することが可能である。 With such a configuration, the head unit 5 is configured to be movable on the base 2 in the horizontal plane (in the X direction and the Y direction). As a result, the head unit 5 moves above the substrate B fixed at the working position W, and the electronic component E held by the mounting head 51 is placed on the substrate where the target mounting position C (see FIG. 5) is set. It can be mounted at a predetermined position B1 (see FIG. 5: component mounting position) on B.

ここで、目標搭載位置Cとは、所定箇所B1の平面視における中心において、XY(水平)方向における目標水平位置C1(図5参照)と、基板BのZ1方向側(上方向側)の位置(目標高さ位置C2(図6参照))とにより表される座標である。また、目標高さ位置C2とは、基板Bに搭載する電子部品Eの高さに応じて設定される基板Bの上面位置B2を基準とした電子部品Eの上端部の高さ位置近傍を示す。なお、目標搭載位置Cは、特許請求の範囲の「目標位置」の一例である。 Here, the target mounting position C is the target horizontal position C1 (see FIG. 5) in the XY (horizontal) direction at the center of the predetermined position B1 in plan view, and the position of the substrate B on the Z1 direction side (upward direction side). (target height position C2 (see FIG. 6)). Further, the target height position C2 indicates the vicinity of the height position of the upper end of the electronic component E based on the upper surface position B2 of the board B set according to the height of the electronic component E mounted on the board B. . The target mounting position C is an example of the "target position" in the scope of claims.

(部品認識カメラ)
部品認識カメラ8は、図2に示すように、基板Bへの電子部品Eの実装に先立って実装ヘッド51に保持(吸着)された電子部品Eを撮像する部品撮像用のカメラである。部品認識カメラ8は、基台2上に固定されており、電子部品Eの下方(Z2方向)から、実装ヘッド51に保持(吸着)された電子部品Eを撮像するように構成されている。
(Component recognition camera)
The component recognition camera 8 is a camera for capturing an image of the electronic component E held (adsorbed) by the mounting head 51 prior to mounting the electronic component E on the board B, as shown in FIG. The component recognition camera 8 is fixed on the base 2 and configured to capture an image of the electronic component E held (adsorbed) by the mounting head 51 from below the electronic component E (Z2 direction).

(基板認識カメラ)
基板認識カメラ9は、ヘッドユニット5に取り付けられ、基板Bへの電子部品Eの実装に先立って、基板Bの上面に付されたFIマーク(Fiducial Mark(フィデューシャルマーク))(図示せず)を撮像するマーク撮像用のカメラである。FIマークは、基板Bの位置を確認するためのマークである。
(PCB recognition camera)
The board recognition camera 9 is attached to the head unit 5, and prior to mounting the electronic component E on the board B, the FI mark (fiducial mark) (not shown) attached to the upper surface of the board B is ) is a camera for capturing a mark. The FI mark is a mark for confirming the position of the substrate B. FIG.

また、基板認識カメラ9は、基板Bの目標搭載位置Cを含む目標搭載位置Cの周辺を撮像するように構成されている。なお、目標搭載位置Cの周辺とは、基板B上の所定箇所B1(図5参照)を含む所定箇所B1近傍の領域を示している。 Further, the board recognition camera 9 is configured to capture an image of the target mounting position C and the surroundings of the target mounting position C of the board B. FIG. Note that the periphery of the target mounting position C indicates an area in the vicinity of the predetermined location B1 including the predetermined location B1 on the substrate B (see FIG. 5).

(表示部)
表示部10は、基板Bに実装された電子部品Eに関する情報などを、オペレータに報知するように構成されている。つまり、表示部10は、基板認識カメラ9により撮像された周辺画像M(図10参照)を表示する機能を有している。具体的には、表示部10は、液晶ディスプレイなどから構成され、制御部11から送信された情報を画面に表示するように構成されている。
(Display part)
The display unit 10 is configured to notify the operator of information regarding the electronic component E mounted on the board B, and the like. That is, the display unit 10 has a function of displaying the peripheral image M (see FIG. 10) captured by the board recognition camera 9. FIG. Specifically, the display unit 10 is composed of a liquid crystal display or the like, and is configured to display information transmitted from the control unit 11 on a screen.

(制御部)
制御部11は、図3に示すように、CPU11a(Central Processing Unit)および記憶部11bなどを含み、部品実装装置1の動作を制御する制御回路である。制御部11は、テープフィーダ12、基板搬送部4、ヘッドユニット5、部品認識カメラ8、基板認識カメラ9、X軸モータ62、Y軸モータ72および表示部10に電気的に接続されている。
(control part)
The control unit 11 is a control circuit that controls the operation of the component mounting apparatus 1, including a CPU 11a (Central Processing Unit), a storage unit 11b, and the like, as shown in FIG. The control section 11 is electrically connected to the tape feeder 12 , the board transfer section 4 , the head unit 5 , the component recognition camera 8 , the board recognition camera 9 , the X-axis motor 62 , the Y-axis motor 72 and the display section 10 .

記憶部11bには、基板B上に実装される電子部品Eを検査する第1検査処理(第1検査P1)および第2検査処理(第2検査P2)を含む電子部品Eの実装処理に基づく実装プログラムPが記憶されている。さらに、記憶部11bには、第1検査P1および第2検査P2を行うための情報を含む検査データKが記憶されている。 Based on the mounting process of the electronic component E including the first inspection process (first inspection P1) and the second inspection process (second inspection P2) for inspecting the electronic component E mounted on the board B, the storage unit 11b stores An implementation program P is stored. Further, the storage unit 11b stores inspection data K including information for performing the first inspection P1 and the second inspection P2.

(検査データ)
検査データKは、目標搭載位置C、目標水平位置C1、目標高さ位置C2、部品中心位置D、部品水平位置D1、ヘッド高さ位置D2、不良位置範囲F、正常位置範囲N、設置位置検査区間S、搭載位置V(想定搭載位置)、不良予想情報T、周辺画像Mおよび実搭載位置Rを有している。以下に、目標搭載位置C、目標水平位置C1、目標高さ位置C2、部品中心位置D、部品水平位置D1、ヘッド高さ位置D2、不良位置範囲F、正常位置範囲N、設置位置検査区間S、搭載位置V、不良予想情報T、周辺画像Mおよび実搭載位置Rの各々について、電子部品Eの実装処理と関連させて説明する。なお、部品中心位置Dは、特許請求の範囲の「設置位置検査区間を通過する際の部品の位置」の一例である。搭載位置Vは、特許請求の範囲の「部品が基板に設置された際の搭載位置」の一例である。また、実搭載位置Rは、特許請求の範囲の「実際の搭載位置」の一例である。
(examination data)
The inspection data K includes a target mounting position C, a target horizontal position C1, a target height position C2, a component center position D, a component horizontal position D1, a head height position D2, a defective position range F, a normal position range N, and an installation position inspection. It has a section S, a mounting position V (assumed mounting position), failure prediction information T, a peripheral image M, and an actual mounting position R. Target mounting position C, target horizontal position C1, target height position C2, component center position D, component horizontal position D1, head height position D2, defective position range F, normal position range N, installation position inspection section S , the mounting position V, the failure prediction information T, the peripheral image M, and the actual mounting position R will be described in relation to the mounting process of the electronic component E. FIG. Note that the component center position D is an example of "the position of the component when passing through the installation position inspection section" in the scope of claims. The mounting position V is an example of "the mounting position when the component is mounted on the substrate" in the scope of claims. Also, the actual mounting position R is an example of the "actual mounting position" in the claims.

図4に示すように、部品実装装置1では、実装処理を実行することにより、基板B上に電子部品Eが実装される。実装処理は、吸着処理と、部品認識処理と、第1検査処理を有する搭載処理と、第2検査処理とを有している。 As shown in FIG. 4, the electronic component E is mounted on the board B by executing the mounting process in the component mounting apparatus 1 . The mounting process includes a suction process, a component recognition process, a mounting process including a first inspection process, and a second inspection process.

吸着処理は、テープフィーダ12の吸着位置Aに配置された電子部品Eを実装ヘッド51に負圧を発生させて保持させる処理である。部品認識処理は、実装ヘッド51に保持された電子部品Eを部品認識カメラ8に撮像させることにより、電子部品Eの姿勢およびXY方向(水平方向)の中心位置を制御部11に認識(取得)させる処理である。ここで、部品認識処理において取得される電子部品EのXY方向(水平方向)の中心位置が、部品中心位置D(図5参照)である。 The suction process is a process of causing the mounting head 51 to generate a negative pressure to hold the electronic component E placed at the suction position A of the tape feeder 12 . In the component recognition process, the electronic component E held by the mounting head 51 is imaged by the component recognition camera 8, and the posture of the electronic component E and the center position in the XY direction (horizontal direction) are recognized (obtained) by the control unit 11. It is a process to let Here, the center position in the XY direction (horizontal direction) of the electronic component E acquired in the component recognition process is the component center position D (see FIG. 5).

図5に示すように、部品中心位置Dとは、実装ヘッド51により保持された電子部品Eの平面視における中心において、XY(水平)方向における部品水平位置D1と、実装ヘッド51のZ2方向側(下方向側)の下端位置とにより表される座標である。また、実装ヘッド51のZ2方向側(下方向側)の下端位置とは、ヘッド高さ位置D2(図6参照)を示す。部品中心位置Dの座標は、実装ヘッド51の移動に合わせて変化する。 As shown in FIG. 5, the component center position D is defined as the component horizontal position D1 in the XY (horizontal) direction and the Z2 direction side of the mounting head 51 at the center of the electronic component E held by the mounting head 51 in plan view. (downward side) and the lower end position. The lower end position of the mounting head 51 in the Z2 direction (downward direction) indicates the head height position D2 (see FIG. 6). The coordinates of the component center position D change as the mounting head 51 moves.

図4および図6に示すように、搭載処理は、部品認識処理において部品中心位置Dを認識させた後、基板Bの所定箇所B1に電子部品Eを実装ヘッド51により設置させる処理である。すなわち、搭載処理は、部品認識カメラ8のZ1方向側(上方向側)に位置する実装ヘッド51に保持された電子部品Eを、基板Bの所定箇所B1にまで移動させて電子部品Eの保持を解除して基板B上に設置する処理である。 As shown in FIGS. 4 and 6, the mounting process is a process of recognizing the component center position D in the component recognition process and then placing the electronic component E at a predetermined location B1 on the board B using the mounting head 51 . That is, in the mounting process, the electronic component E held by the mounting head 51 positioned on the Z1 direction side (upward side) of the component recognition camera 8 is moved to a predetermined position B1 on the board B, and the electronic component E is held. is released and placed on the substrate B.

ここで、設置とは、電子部品Eの実装ヘッド51による保持を解除して電子部品Eを基板Bに載置させることを示す。 Here, "placement" indicates that the electronic component E is placed on the substrate B by releasing the electronic component E from the mounting head 51 that is held by the mounting head 51 .

また、図5および図6に示すように、搭載処理は、部品中心位置Dと基板Bの所定箇所B1の目標搭載位置Cとを合わせるように、実装ヘッド51に保持された電子部品Eを移動させる処理である。すなわち、搭載処理は、実装ヘッド51に保持された電子部品Eを、XY方向およびZ方向に移動させる処理である。 5 and 6, in the mounting process, the electronic component E held by the mounting head 51 is moved so that the component center position D and the target mounting position C at the predetermined location B1 of the board B are aligned. It is a process to let That is, the mounting process is a process of moving the electronic component E held by the mounting head 51 in the XY and Z directions.

ここで、実装ヘッド51に保持された電子部品EのXY方向の移動は、部品中心位置Dの部品水平位置D1と目標搭載位置Cの目標水平位置C1との差に基づくXY移動時間により設定されている。また、実装ヘッド51に保持された電子部品EのZ方向の移動は、部品中心位置Dのヘッド高さ位置D2と目標搭載位置Cの目標高さ位置C2との差に基づくZ移動時間により設定されている。また、XY移動時間およびZ移動時間により、実装ヘッド51に保持された電子部品Eの下降を開始する下降開始位置(図4参照)が設定されている。これらにより、実装ヘッド51に保持された電子部品Eは、XY移動時間、Z移動時間および下降開始位置にしたがって、部品認識処理において取得された部品中心位置Dから目標搭載位置Cに移動している。ここで、実装ヘッド51に保持された電子部品Eの移動した経路を、搭載経路U(移動経路)と定義する。 Here, the movement of the electronic component E held by the mounting head 51 in the XY directions is set by the XY movement time based on the difference between the component horizontal position D1 of the component center position D and the target horizontal position C1 of the target mounting position C. ing. Further, the movement of the electronic component E held by the mounting head 51 in the Z direction is set by the Z movement time based on the difference between the head height position D2 of the component center position D and the target height position C2 of the target mounting position C. It is Also, the descent start position (see FIG. 4) at which the electronic component E held by the mounting head 51 starts to be lowered is set by the XY movement time and the Z movement time. As a result, the electronic component E held by the mounting head 51 moves from the component center position D obtained in the component recognition process to the target mounting position C according to the XY movement time, Z movement time, and descent start position. . Here, the path along which the electronic component E held by the mounting head 51 moves is defined as a mounting path U (moving path).

実装ヘッド51に保持された電子部品Eの目標搭載位置Cへの到達は、Z軸モータ52に供給される電流値の変化または実装ヘッド51にかかる荷重の変化などを計測することにより検知されている。 The arrival of the electronic component E held by the mounting head 51 at the target mounting position C is detected by measuring a change in the current value supplied to the Z-axis motor 52 or a change in the load applied to the mounting head 51. there is

第1検査処理は、仮想的に電子部品Eの部品中心位置Dと所定箇所B1の目標搭載位置Cとの位置ずれを検査する処理である。つまり、第1検査P1とは、電子部品Eの搭載経路Uに基づいて電子部品Eが基板Bに設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを判断する検査を示す。なお、仮想的とは、制御部11により記憶部11bに記憶された検査データKの数値データを用いて行われる処理を示す。 The first inspection process is a process of virtually inspecting positional deviation between the component center position D of the electronic component E and the target mounting position C of the predetermined location B1. That is, the first inspection P1 is an inspection for determining whether or not there is a possibility that the mounting position of the electronic component E when it is mounted on the substrate B will be defective based on the mounting path U of the electronic component E. . It should be noted that the term "virtual" refers to processing performed using the numerical data of the inspection data K stored in the storage unit 11b by the control unit 11. FIG.

第1検査処理は、基板Bに設置された電子部品Eを基板認識カメラ9により実際に認識しない処理である。詳細には、第1検査処理は、正常位置範囲N、不良位置範囲F、設置位置検査区間Sおよび搭載位置Vにより仮想的に位置ずれを検査する処理である。すなわち、第1検査処理は、仮想的に、正常位置範囲Nおよび不良位置範囲Fのいずれに電子部品Eの部品中心位置Dが位置しているかを検査する処理である。 The first inspection process is a process in which the electronic component E placed on the board B is not actually recognized by the board recognition camera 9 . Specifically, the first inspection process is a process of virtually inspecting the positional deviation using the normal position range N, the defective position range F, the installation position inspection section S, and the mounting position V. FIG. That is, the first inspection process is a process of virtually inspecting in which of the normal position range N and the defective position range F the component center position D of the electronic component E is located.

ここで、正常位置範囲Nとは、基板Bの所定箇所B1に電子部品Eが実際に設置された状態において、部品中心位置Dと目標搭載位置Cとの位置ずれが許容される範囲を示した数値範囲である。すなわち、正常位置範囲Nとは、基板Bの所定箇所B1に電子部品Eが実際に設置された状態において、部品中心位置Dと目標搭載位置Cとの位置ずれがしきい値内の範囲を示す。なお、正常とは、正常位置範囲N内に部品中心位置Dが位置した状態を示す。 Here, the normal position range N indicates the range in which the positional deviation between the component center position D and the target mounting position C is allowed when the electronic component E is actually installed on the predetermined position B1 of the board B. Numeric range. That is, the normal position range N indicates a range in which the positional deviation between the component center position D and the target mounting position C is within the threshold value when the electronic component E is actually installed on the predetermined position B1 of the board B. . Note that normal means a state in which the component center position D is positioned within the normal position range N.

不良位置範囲Fとは、基板Bの所定箇所B1に電子部品Eが実際に設置された状態において、部品中心位置Dと目標搭載位置Cとの位置ずれが許容されない範囲を示した数値範囲である。すなわち、不良位置範囲Fとは、基板Bの所定箇所B1に電子部品Eが実際に設置された状態において、部品中心位置Dと目標搭載位置Cとの位置ずれがしきい値外の範囲を示す。なお、異常とは、不良位置範囲F内に部品中心位置Dが位置した状態を示す。 The defective position range F is a numerical range indicating a range in which positional deviation between the component center position D and the target mounting position C is not allowed when the electronic component E is actually installed on the predetermined location B1 of the board B. . That is, the defective position range F indicates the range in which the positional deviation between the component center position D and the target mounting position C is outside the threshold when the electronic component E is actually installed on the predetermined position B1 of the board B. . It should be noted that "abnormality" means a state in which the component center position D is positioned within the defective position range F.

設置位置検査区間Sとは、電子部品Eを基板Bに設置した可能性のある状態において、部品中心位置Dが位置するZ方向(上下方向)の範囲を示した数値範囲である。なお、電子部品Eを基板Bに設置した可能性のある状態とは、略平坦な基板Bの上面に電子部品Eを設置させた状態か、または、反りなどがある基板Bの上面に電子部品Eを設置させた状態かを示す。 The installation position inspection section S is a numerical range indicating the range in the Z direction (vertical direction) where the component center position D is located in a state where the electronic component E may be installed on the board B. The state in which the electronic component E may be installed on the substrate B means the state in which the electronic component E is installed on the upper surface of the substrate B that is substantially flat, or the state in which the electronic component E is installed on the upper surface of the substrate B that has a warp or the like. Indicates whether E is installed.

具体的には、設置位置検査区間Sは、基板Bの上面位置B2よりもZ1方向(上方向)の高さ位置Upに対応させて設けられている。ここで、設置位置検査区間Sの高さ位置Upは、電子部品Eを基板Bに設置した可能性のある状態において、想定される部品中心位置Dの最大高さ位置により設定されている。 Specifically, the installation position inspection section S is provided so as to correspond to the height position Up in the Z1 direction (upward direction) from the upper surface position B2 of the substrate B. As shown in FIG. Here, the height position Up of the installation position inspection section S is set by the maximum height position of the assumed component center position D in a state where the electronic component E may be installed on the board B.

設置位置検査区間Sは、第1検査区間S1と第2検査区間S2とを合わせた区間である。第1検査区間S1と第2検査区間S2とは、Z方向において連続した区間である。第2検査区間S2は、第1検査区間S1のZ1方向側(上方向側)に設定されている。 The installation position inspection section S is a section obtained by combining the first inspection section S1 and the second inspection section S2. The first inspection section S1 and the second inspection section S2 are continuous sections in the Z direction. The second inspection section S2 is set on the Z1 direction side (upward direction side) of the first inspection section S1.

図7に示すように、第1検査区間S1とは、電子部品Eを基板Bに設置した可能性のある状態として略平坦(理想的)な基板Bの上面に電子部品Eを設置させた状態において、基板Bの上面と電子部品Eの高さ位置(目標高さ位置C2)とに対応する範囲を示した数値範囲である。ここで、第1検査区間S1の高さ位置は、電子部品Eを略平坦な基板Bに設置した可能性のある状態において、想定される電子部品Eの最大高さ位置により設定されている。第1検査区間S1には、正常位置範囲Nと不良位置範囲Fとが設定されている。 As shown in FIG. 7, the first inspection section S1 is a state in which the electronic component E is installed on the upper surface of the substrate B which is substantially flat (ideal) as a state in which the electronic component E may be installed on the substrate B. , is a numerical range indicating a range corresponding to the upper surface of the substrate B and the height position of the electronic component E (target height position C2). Here, the height position of the first inspection section S1 is set based on the assumed maximum height position of the electronic component E in a state where the electronic component E may be placed on the substantially flat board B. A normal position range N and a defective position range F are set in the first inspection section S1.

図8に示すように、第2検査区間S2とは、電子部品Eを基板Bに設置した可能性のある状態として反りなどがある基板Bの上面に電子部品Eを設置させた状態において、第1検査区間S1の高さ位置と電子部品Eの高さ位置とに対応する範囲を示した数値範囲である。ここで、第2検査区間S2の高さ位置は、電子部品Eを反りのある基板Bに設置した可能性のある状態において、想定される電子部品Eの最大高さ位置により設定されている。第2検査区間S2には、第1検査区間S1と同じ正常位置範囲Nと不良位置範囲Fとが設定されている。 As shown in FIG. 8, the second inspection section S2 is a state in which the electronic component E is installed on the upper surface of the substrate B, which may be warped as a state in which the electronic component E may be installed on the substrate B. It is a numerical range showing the range corresponding to the height position of one inspection section S1 and the height position of the electronic component E. FIG. Here, the height position of the second inspection section S2 is set based on the assumed maximum height position of the electronic component E in a state where the electronic component E may be installed on the board B having warpage. The same normal position range N and defective position range F as in the first inspection section S1 are set in the second inspection section S2.

図6に示すように、搭載位置Vとは、電子部品Eを基板Bに設置した可能性のある状態の電子部品Eの部品中心位置Dを示す。すなわち、搭載位置Vとは、搭載経路Uのうち設置位置検査区間Sの部分の座標を示す。搭載位置Vは、設置位置検査区間Sの部分の実装ヘッド51に保持された部品中心位置Dの移動により変わる。 As shown in FIG. 6, the mounting position V indicates the component center position D of the electronic component E in a state where the electronic component E may be mounted on the substrate B. As shown in FIG. That is, the mounting position V indicates the coordinates of the installation position inspection section S of the mounting route U. FIG. The mounting position V changes as the component center position D held by the mounting head 51 in the installation position inspection section S moves.

第1検査処理は、搭載位置Vが不良位置範囲Fに位置する場合、記憶部11bに不良予想情報Tを記憶させる処理である。ここで、不良予想情報Tとは、電子部品Eの搭載位置が不良である可能性があることを示すデータである。 The first inspection process is a process of storing failure prediction information T in the storage unit 11b when the mounting position V is located in the failure position range F. FIG. Here, the defect prediction information T is data indicating that the mounting position of the electronic component E may be defective.

第2検査処理は、図9および図10に示すように、実際に電子部品Eの部品中心位置Dと所定箇所B1の目標搭載位置Cとの位置ずれを検査する処理である。つまり、第2検査処理とは、電子部品Eの実搭載位置Rを検査する処理を示す。 The second inspection process, as shown in FIGS. 9 and 10, is a process of actually inspecting the positional deviation between the component center position D of the electronic component E and the target mounting position C of the predetermined location B1. In other words, the second inspection process indicates the process of inspecting the actual mounting position R of the electronic component E. FIG.

第2検査処理は、基板Bの所定箇所B1のZ1方向側(上方向側)に配置した基板認識カメラ9により撮像させる処理である。第2検査処理は、基板認識カメラ9により実際に撮像された周辺画像M上の部品中心位置Dと周辺画像M上の目標搭載位置Cとの位置ずれを検査する処理である。このように、第2検査処理は、周辺画像M上において、正常位置範囲Nおよび不良位置範囲Fのいずれかに電子部品Eの部品中心位置Dが位置しているかを検査する処理である。 The second inspection process is a process in which an image is captured by the board recognition camera 9 arranged on the Z1 direction side (upward side) of the predetermined portion B1 of the board B. FIG. The second inspection process is a process of inspecting positional deviation between the component center position D on the peripheral image M actually captured by the board recognition camera 9 and the target mounting position C on the peripheral image M. FIG. As described above, the second inspection process is a process of inspecting whether the component center position D of the electronic component E is located in either the normal position range N or the defective position range F on the peripheral image M.

ここで、周辺画像Mとは、図10に示すように、基板B上の所定箇所B1(ランド)を含む所定箇所B1近傍の領域を撮像したイメージデータを示す。また、実搭載位置Rとは、周辺画像M上の部品中心位置Dを示す。 Here, the peripheral image M indicates image data obtained by imaging an area in the vicinity of a predetermined location B1 including a predetermined location B1 (land) on the substrate B, as shown in FIG. Further, the actual mounting position R indicates the component center position D on the peripheral image M. As shown in FIG.

(実装プログラム)
図9~図14を参照して、実装プログラムPについて説明する。実装プログラムPの説明において、第1検査処理を第1検査P1と、第2検査処理を第2検査P2と略して示す。なお、図11~図14は、それぞれ、第1~第4経路を示しているが、以下では図11の第1経路を参照して実装プログラムPについて説明する。
(Implementation program)
The implementation program P will be described with reference to FIGS. 9 to 14. FIG. In the description of the implementation program P, the first inspection process is abbreviated as a first inspection P1 and the second inspection process as a second inspection P2. Although FIGS. 11 to 14 show the first to fourth paths, respectively, the implementation program P will be described below with reference to the first path in FIG.

図11に示すように、本実施形態の制御部11は、実装プログラムPを実施することにより、搭載経路Uに基づいて搭載位置Vが不良となる可能性があるか否かを検査する第1検査P1を行うとともに、第1検査P1の結果、搭載位置Vが不良となる可能性がある場合に、第2検査P2を行うように構成されている。すなわち、制御部11は、第1検査P1において搭載位置Vが不良であると判断された場合に、実搭載位置Rを検査する制御を行うように構成されている。 As shown in FIG. 11, the control unit 11 of the present embodiment executes the mounting program P to check whether or not the mounting position V may become defective based on the mounting path U. The configuration is such that the inspection P1 is performed, and the second inspection P2 is performed when there is a possibility that the mounting position V is defective as a result of the first inspection P1. That is, the control unit 11 is configured to perform control to inspect the actual mounting position R when the mounting position V is determined to be defective in the first inspection P1.

このように、制御部11は、事前検査として行った第1検査P1の検査結果に基づいて、基板認識カメラ9を移動させて電子部品Eの実搭載位置Rを検査する第2検査P2を選択的に行う制御を行うように構成されている。具体的には、制御部11は、第1検査P1の結果、搭載位置Vが不良となった場合に、第2検査P2において電子部品Eの実搭載位置Rを基板認識カメラ9により認識させる制御を行うように構成されている。 In this manner, the control unit 11 selects the second inspection P2 for inspecting the actual mounting position R of the electronic component E by moving the board recognition camera 9 based on the inspection result of the first inspection P1 performed as a preliminary inspection. It is configured to perform control that is performed systematically. Specifically, when the mounting position V is found to be defective as a result of the first inspection P1, the control unit 11 controls the board recognition camera 9 to recognize the actual mounting position R of the electronic component E in the second inspection P2. is configured to do

制御部11は、設置位置検査区間Sに電子部品Eが位置したことに基づいて第1検査P1を開始する制御を行うように構成されている。つまり、制御部11は、電子部品Eが基板Bに設置されたと想定されるタイミングに基づいて第1検査P1を開始する制御を行うように構成されている。具体的には、制御部11は、電子部品Eの部品中心位置D(基準部)が第2検査区間S2に位置したことに基づいて第1検査P1を開始する制御を行うように構成されている。 The control unit 11 is configured to perform control to start the first inspection P1 based on the fact that the electronic component E is positioned in the installation position inspection section S. In other words, the control unit 11 is configured to perform control to start the first inspection P1 based on the timing at which the electronic component E is assumed to be installed on the board B. Specifically, the control unit 11 is configured to perform control to start the first inspection P1 based on the fact that the component center position D (reference portion) of the electronic component E is positioned in the second inspection section S2. there is

制御部11は、第1検査P1を開始した後、搭載位置Vと所定箇所B1の目標搭載位置Cとの位置ずれがしきい値内か否かを逐一検査するように構成されている。つまり、制御部11は、電子部品Eの搭載経路Uのうち設置位置検査区間Sを通過する際の電子部品Eの位置(部品中心位置D)に基づいて、第1検査P1を行う制御を行うように構成されている。具体的には、制御部11は、第1検査P1を開始した後、設置位置検査区間Sにおける不良位置範囲Fに電子部品Eの搭載経路Uが進入しているか否かを逐一検査する制御を行うように構成されている。 After starting the first inspection P1, the control unit 11 is configured to inspect one by one whether or not the positional deviation between the mounting position V and the target mounting position C of the predetermined portion B1 is within a threshold value. That is, the control unit 11 performs control to perform the first inspection P1 based on the position (component center position D) of the electronic component E when passing through the installation position inspection section S in the mounting route U of the electronic component E. is configured as Specifically, after starting the first inspection P1, the control unit 11 controls to inspect one by one whether or not the mounting path U of the electronic component E enters the defective position range F in the installation position inspection section S. configured to do so.

制御部11は、設置位置検査区間Sにおける不良位置範囲Fに対応する部分に電子部品Eが位置したことに基づいて、第1検査P1において電子部品Eが基板Bに搭載された際の搭載位置Vを不良と判断する制御を行うように構成されている。すなわち、制御部11は、第1検査P1を開始した後、搭載位置Vと所定箇所B1の目標搭載位置Cとの位置ずれがしきい値外であることに基づいて、第1検査P1において電子部品Eの搭載位置Vを不良と判断する制御を行うように構成されている。 Based on the position of the electronic component E in the portion corresponding to the defective position range F in the installation position inspection section S, the control unit 11 determines the mounting position when the electronic component E is mounted on the board B in the first inspection P1. It is configured to perform control for judging V to be defective. That is, after starting the first inspection P1, the control unit 11 determines that the positional deviation between the mounting position V and the target mounting position C of the predetermined location B1 is outside the threshold. It is configured to perform control to determine that the mounting position V of the component E is defective.

具体的には、制御部11は、第1検査P1において、目標水平位置C1(図5参照)と、部品中心位置Dにおける部品水平位置D1(図5参照)との差に基づいて、設置位置検査区間Sにおける不良位置範囲Fに対応する部分に電子部品Eが位置したか否かを判断する制御を行うように構成されている。そして、制御部11は、設置位置検査区間Sにおける不良位置範囲Fに対応する部分に電子部品Eが位置したことに基づいて、不良予想情報Tを記憶部11bに記憶させる制御を行うように構成されている。また、目標水平位置C1の座標と部品中心位置Dにおける部品水平位置D1の座標との差が、搭載位置Vと所定箇所B1の目標搭載位置Cとの位置ずれである。 Specifically, in the first inspection P1, the control unit 11 determines the installation position based on the difference between the target horizontal position C1 (see FIG. 5) and the component horizontal position D1 (see FIG. 5) at the component center position D. It is configured to perform control to determine whether or not the electronic component E is positioned in the portion corresponding to the defective position range F in the inspection section S. Then, the control unit 11 is configured to perform control to store the failure prediction information T in the storage unit 11b based on the fact that the electronic component E is positioned in the portion corresponding to the failure position range F in the installation position inspection section S. It is Also, the difference between the coordinates of the target horizontal position C1 and the coordinates of the component horizontal position D1 at the component center position D is the positional deviation between the mounting position V and the target mounting position C of the predetermined location B1.

制御部11は、基板Bに電子部品Eが設置されたことに基づいて、第1検査P1を終了する制御を行うように構成されている。ここで、基板Bの目標搭載位置Cに電子部品Eが位置するとは、電子部品Eの部品中心位置DのZ方向(上下方向)における高さ位置が、目標搭載位置Cの目標高さ位置C2に位置することを示す。すなわち、第1検査P1は、設置位置検査区間Sに電子部品Eが位置した時点から目標搭載位置Cに電子部品Eの部品中心位置Dが位置する時点とにわたって行われている。 The control unit 11 is configured to perform control to end the first inspection P1 when the electronic component E is placed on the board B. As shown in FIG. Here, the position of the electronic component E at the target mounting position C of the board B means that the height position in the Z direction (vertical direction) of the component center position D of the electronic component E is the target height position C2 of the target mounting position C. indicates that it is located in That is, the first inspection P1 is performed from when the electronic component E is located in the installation position inspection section S to when the component center position D of the electronic component E is located in the target mounting position C.

図9および図10に示すように、制御部11は、記憶部11bに不良予想情報Tが記憶されていることに基づいて、第1検査P1の終了後に第2検査P2を行う制御を行うように構成されている。すなわち、第2検査P2は、設置位置検査区間Sに電子部品Eが位置した時点から基板Bに電子部品Eが設置される時点との間に、1度でも搭載位置Vが不良位置範囲F(しきい値外)に位置した場合に行われている。また、制御部11は、記憶部11bに不良予想情報Tが記憶されていないことに基づいて、第1検査P1の終了後に吸着処理を行う制御を行うように構成されている。 As shown in FIGS. 9 and 10, the control unit 11 performs control to perform the second inspection P2 after the first inspection P1 is completed, based on the fact that the failure prediction information T is stored in the storage unit 11b. is configured to That is, in the second inspection P2, the mounting position V is in the defective position range F ( outside the threshold). Further, the control unit 11 is configured to perform control to perform the suction process after the end of the first inspection P1 based on the fact that the failure prediction information T is not stored in the storage unit 11b.

制御部11は、第1検査P1において不良と判断された電子部品Eに対応する所定箇所B1の周辺画像Mにより、実搭載位置Rが不良位置範囲Fに位置しているか否かを判断する制御を行うように構成されている。 The control unit 11 performs control to determine whether or not the actual mounting position R is positioned within the defective position range F based on the peripheral image M of the predetermined location B1 corresponding to the electronic component E determined to be defective in the first inspection P1. is configured to do

具体的には、制御部11は、第1検査P1において不良と判断された電子部品Eに対応する所定箇所B1を基板認識カメラ9により撮像させて周辺画像Mを取得する制御を行うように構成されている。そして、制御部11は、周辺画像M上の実搭載位置Rと周辺画像M上の目標搭載位置Cとの位置ずれを検査する制御を行うように構成されている。つまり、制御部11は、周辺画像M上において、正常位置範囲Nおよび不良位置範囲Fのいずれかに実搭載位置Rが位置しているかを検査する制御を行うように構成されている。 Specifically, the control unit 11 is configured to perform control for obtaining a peripheral image M by causing the substrate recognition camera 9 to image a predetermined location B1 corresponding to the electronic component E determined to be defective in the first inspection P1. It is The control unit 11 is configured to perform control for inspecting the positional deviation between the actual mounting position R on the peripheral image M and the target mounting position C on the peripheral image M. FIG. That is, the control unit 11 is configured to perform control to inspect whether the actual mounting position R is located in either the normal position range N or the defective position range F on the peripheral image M.

このように、制御部11は、第2検査P2において、電子部品Eの部品中心位置Dと所定箇所B1の目標搭載位置Cとの位置ずれを実際に検査する制御を行うように構成されている。 In this way, the control unit 11 is configured to actually inspect the positional deviation between the component center position D of the electronic component E and the target mounting position C of the predetermined location B1 in the second inspection P2. .

ここで、制御部11は、第2検査P2において基板認識カメラ9により撮像した目標搭載位置Cの周辺画像Mにより、電子部品Eの実搭載位置Rが不良と判断されたことに基づいて、オペレータへ報知するとともに実装作業を停止する制御を行うように構成されている。つまり、制御部11は、不良であることをオペレータに報知するために、周辺画像Mと不良である旨を伝えるメッセージを表示部10に表示する制御を行うように構成されている。さらに、制御部11は、実装処理を一時的に止める制御を行うように構成されている。そして、オペレータが、実搭載位置Rが不良と判断された基板Bの所定箇所B1を登録した後に、所定箇所B1に搭載された電子部品Eを取り除く、電子部品Eを移動させて実搭載位置Rを正常に修正するなどの復旧作業を行う。 Here, the control unit 11 determines that the actual mounting position R of the electronic component E is defective based on the peripheral image M of the target mounting position C captured by the board recognition camera 9 in the second inspection P2. It is configured to perform control to notify to and stop the mounting work. In other words, the control unit 11 is configured to perform control to display the peripheral image M and a message to the effect that it is defective on the display unit 10 in order to notify the operator of the defect. Furthermore, the control unit 11 is configured to perform control to temporarily stop the mounting process. Then, after the operator registers the predetermined location B1 of the board B where the actual mounting position R is determined to be defective, the electronic component E mounted at the predetermined location B1 is removed, and the electronic component E is moved to the actual mounting position R. perform recovery work such as correcting

制御部11は、基板Bに電子部品Eを搭載するごとに、第1検査P1により不良と判断された電子部品Eに対して第2検査P2を行う制御を行うように構成されている。なお、制御部11は、基板Bにすべての電子部品Eを搭載した後に、第1検査P1により不良と判断された電子部品Eに対して第2検査P2を行う制御を行うように構成されていてもよい。 The control unit 11 is configured to perform control to perform the second inspection P2 on the electronic component E determined to be defective by the first inspection P1 every time the electronic component E is mounted on the board B. Note that the control unit 11 is configured to perform control to perform the second inspection P2 on the electronic components E determined to be defective by the first inspection P1 after all the electronic components E are mounted on the board B. may

〈第1経路〉
実装ヘッド51に保持された電子部品Eの部品中心位置Dが、搭載経路Uとして図11に示す第1経路を移動した場合を一例として、実装プログラムPにおける第1検査P1および第2検査P2について説明する。なお、図6に示す搭載経路Uを理想経路として示している。
<First route>
The first inspection P1 and the second inspection P2 in the mounting program P will be described by taking as an example the case where the component center position D of the electronic component E held by the mounting head 51 moves along the first path shown in FIG. 11 as the mounting path U. explain. Note that the mounting path U shown in FIG. 6 is shown as an ideal path.

図11に示すように、第1経路は、予定よりも実装ヘッド51の移動速度が遅いことに起因して理想経路よりもY2方向側に位置した場合の搭載経路Uである。第1経路では、搭載位置Vが第2検査区間S2の不良位置範囲Fに位置しているので、第1検査P1において搭載位置Vが不良と制御部11により判断される。第1経路では、第1検査P1において搭載位置Vが不良と判断されたので第2検査P2が行われる。第1経路では、実搭載位置Rが第1検査区間S1の不良位置範囲Fに位置しているので、第2検査P2において実搭載位置Rが不良と制御部11により判断される。 As shown in FIG. 11, the first path is the mounting path U when the mounting head 51 is positioned on the Y2 direction side of the ideal path due to the slower moving speed of the mounting head 51 than expected. On the first path, the mounting position V is located in the defective position range F of the second inspection section S2, so the control unit 11 determines that the mounting position V is defective in the first inspection P1. In the first route, the second inspection P2 is performed because the mounting position V is determined to be defective in the first inspection P1. In the first path, the actual mounting position R is located in the defective position range F of the first inspection section S1, so the controller 11 determines that the actual mounting position R is defective in the second inspection P2.

このように第1経路では、第1検査P1の検査結果と第2検査P2の検査結果とが一致している。この場合、実際に基板Bの所定箇所B1の検査をすることなく、第1検査P1の検査結果において正しい判断が行われている。 Thus, in the first route, the inspection result of the first inspection P1 and the inspection result of the second inspection P2 match. In this case, the correct judgment is made based on the inspection result of the first inspection P1 without actually inspecting the predetermined portion B1 of the board B. FIG.

〈第2経路〉
実装ヘッド51に保持された電子部品Eの部品中心位置Dが、搭載経路Uとして図12に示す第2経路を移動した場合を一例として、実装プログラムPにおける第1検査P1および第2検査P2について説明する。なお、図6に示す搭載経路Uを理想経路として示している。
<Second route>
The first inspection P1 and the second inspection P2 in the mounting program P will be described by taking as an example the case where the component center position D of the electronic component E held by the mounting head 51 moves along the second path shown in FIG. 12 as the mounting path U. explain. Note that the mounting path U shown in FIG. 6 is shown as an ideal path.

図12に示すように、第2経路は、予定よりも実装ヘッド51の移動速度が遅いことに起因して理想経路よりもY2方向側に位置した場合の搭載経路Uである。第2経路では、搭載位置Vが第2検査区間S2の不良位置範囲Fに位置しているので、第1検査P1において搭載位置Vが不良と制御部11により判断される。第2経路では、第1検査P1において搭載位置Vが不良と判断されたので第2検査P2が行われる。第2経路では、実搭載位置Rが第1検査区間S1の正常位置範囲Nに位置しているので、第2検査P2において実搭載位置Rが正常と制御部11により判断される。 As shown in FIG. 12, the second path is the mounting path U when the mounting head 51 is positioned on the Y2 direction side of the ideal path due to the slower moving speed of the mounting head 51 than expected. On the second path, the mounting position V is located in the defective position range F of the second inspection section S2, so the control unit 11 determines that the mounting position V is defective in the first inspection P1. In the second route, the second inspection P2 is performed because the mounting position V is determined to be defective in the first inspection P1. Since the actual mounting position R is located in the normal position range N of the first inspection section S1 on the second path, the control unit 11 determines that the actual mounting position R is normal in the second inspection P2.

このように第2経路では、第1検査P1の検査結果と第2検査P2の検査結果とが異なっている。この場合、第1検査P1の検査結果が第2検査P2の検査結果により正しい判断に修正されている。 Thus, in the second route, the inspection result of the first inspection P1 and the inspection result of the second inspection P2 are different. In this case, the inspection result of the first inspection P1 is corrected to a correct judgment based on the inspection result of the second inspection P2.

〈第3経路〉
実装ヘッド51に保持された電子部品Eの部品中心位置Dが、搭載経路Uとして図13に示す第3経路を移動した場合を一例として、実装プログラムPにおける第1検査P1および第2検査P2について説明する。なお、図6に示す搭載経路Uを理想経路として示している。
<Third route>
The first inspection P1 and the second inspection P2 in the mounting program P will be described by taking as an example the case where the component center position D of the electronic component E held by the mounting head 51 moves along the third path shown in FIG. 13 as the mounting path U. explain. Note that the mounting path U shown in FIG. 6 is shown as an ideal path.

図13に示すように、第3経路は、理想経路よりもY1方向側にオーバーシュートした搭載経路Uである。また、第3経路は、オーバーシュートしたことに起因して蛇行している。第3経路では、搭載位置Vが第2検査区間S2の不良位置範囲Fに位置しているので、第1検査P1において搭載位置Vが不良と制御部11により判断される。第3経路では、第1検査P1において搭載位置Vが不良と判断されたので第2検査P2が行われる。第3経路では、実搭載位置Rが第1検査区間S1の不良位置範囲Fに位置しているので、第2検査P2において実搭載位置Rが不良と制御部11により判断される。 As shown in FIG. 13, the third path is a mounting path U that overshoots the ideal path in the Y1 direction. Also, the third path meanders due to overshoot. On the third path, the mounting position V is located in the defective position range F of the second inspection section S2, so the control unit 11 determines that the mounting position V is defective in the first inspection P1. In the third route, the second inspection P2 is performed because the mounting position V is determined to be defective in the first inspection P1. On the third path, the actual mounting position R is located in the defective position range F of the first inspection section S1, so the controller 11 determines that the actual mounting position R is defective in the second inspection P2.

このように第1経路では、第1検査P1の検査結果と第2検査P2の検査結果とが一致している。この場合、実際に基板Bの所定箇所B1の検査をすることなく、第1検査P1の検査結果において正しい判断が行われている。 Thus, in the first route, the inspection result of the first inspection P1 and the inspection result of the second inspection P2 match. In this case, the correct judgment is made based on the inspection result of the first inspection P1 without actually inspecting the predetermined portion B1 of the board B. FIG.

〈第4経路〉
実装ヘッド51に保持された電子部品Eの部品中心位置Dが、搭載経路Uとして図14に示す第4経路を移動した場合を一例として、実装プログラムPにおける第1検査P1および第2検査P2について説明する。なお、図6に示す搭載経路Uを理想経路として示している。
<Fourth route>
The first inspection P1 and the second inspection P2 in the mounting program P will be described by taking as an example the case where the component center position D of the electronic component E held by the mounting head 51 moves along the fourth path shown in FIG. 14 as the mounting path U. explain. Note that the mounting path U shown in FIG. 6 is shown as an ideal path.

図14に示すように、第4経路は、理想経路よりもY2方向側に位置した搭載経路Uである。第4経路では、搭載位置Vが第2検査区間S2の正常位置範囲Nに位置しているので、第1検査P1において搭載位置Vが正常と制御部11により判断される。第4経路では、第1検査P1において搭載位置Vが正常と判断されたので第2検査P2が行われない。 As shown in FIG. 14, the fourth path is the mounting path U located on the Y2 direction side of the ideal path. On the fourth path, the mounting position V is positioned within the normal position range N of the second inspection section S2, so the control unit 11 determines that the mounting position V is normal in the first inspection P1. In the fourth route, the second inspection P2 is not performed because the mounting position V was determined to be normal in the first inspection P1.

このように第4経路では、第1検査P1のみが行われて第2検査P2が行われていないが、第1検査P1の検査結果において正しい判断が行われている。 As described above, in the fourth route, only the first inspection P1 is performed and the second inspection P2 is not performed, but a correct judgment is made based on the inspection result of the first inspection P1.

(実装処理)
以下に、実装処理について図15を参照して説明する。実装処理は、作業位置Wに位置固定された基板Bに電子部品Eを実装する処理である。実装処理は、制御部11により実装プログラムPを実行することによって行われる。
(implementation processing)
The mounting process will be described below with reference to FIG. The mounting process is a process of mounting the electronic component E on the board B fixed at the work position W. FIG. The mounting process is performed by executing the mounting program P by the control unit 11 .

ステップS1において、実装ヘッド51により電子部品Eが吸着される。すなわち、制御部11により、吸着処理が行われる。ステップS2において、吸着した電子部品Eが部品認識カメラ8により撮像される。すなわち、制御部11により、認識処理が行われる。ステップS3において、搭載処理が行われる。搭載処理については、後に詳細に説明する。 In step S<b>1 , the electronic component E is picked up by the mounting head 51 . That is, the adsorption process is performed by the control unit 11 . In step S2, the component recognition camera 8 captures an image of the electronic component E that has been picked up. That is, the control unit 11 performs recognition processing. In step S3, mounting processing is performed. The mounting process will be described later in detail.

ステップS4において、搭載位置Vが不良であったか否かが判断される。搭載位置Vが不良であった場合はステップS5に進み、搭載位置Vが正常であった場合はステップS9に進む。 In step S4, it is determined whether or not the mounting position V is defective. If the mounting position V is defective, the process proceeds to step S5, and if the mounting position V is normal, the process proceeds to step S9.

ステップS5において、レール部7および支持部6により、基板認識カメラ9が基板Bの所定箇所B1に移動する。ステップS6において、基板認識カメラ9により、基板Bの所定箇所B1が撮像される。すなわち、所定箇所B1の目標搭載位置Cおよび所定箇所B1の周辺を基板認識カメラ9により撮像することによって、制御部11が周辺画像Mを取得する。ステップS7において、周辺画像M上において電子部品Eの位置ずれがしきい値内か否かが判断される。すなわち、周辺画像M上における電子部品Eの実搭載位置Rが周辺画像M上における不良位置範囲Fに位置しているか否かが、制御部11により判断される。周辺画像M上において電子部品Eの位置ずれしきい値内である場合は、ステップS8に進み、表示部10にエラー出力をした後に実装処理を終了する。また、周辺画像M上において電子部品Eの位置ずれがない場合は、ステップS8に進み、表示部10にエラー出力をした後に実装処理を終了する。 In step S<b>5 , the board recognition camera 9 is moved to a predetermined position B<b>1 on the board B by the rail part 7 and the support part 6 . In step S6, the substrate recognition camera 9 captures an image of a predetermined portion B1 of the substrate B. As shown in FIG. That is, the control unit 11 acquires the peripheral image M by capturing the image of the target mounting position C of the predetermined location B1 and the periphery of the predetermined location B1 with the substrate recognition camera 9 . In step S7, it is determined whether or not the displacement of the electronic component E on the peripheral image M is within a threshold value. That is, the control unit 11 determines whether or not the actual mounting position R of the electronic component E on the peripheral image M is positioned within the defective position range F on the peripheral image M. If it is within the positional deviation threshold value of the electronic component E on the peripheral image M, the process proceeds to step S8, an error is output to the display unit 10, and the mounting process is terminated. If there is no positional deviation of the electronic component E on the peripheral image M, the process proceeds to step S8, an error is output to the display unit 10, and the mounting process ends.

ステップS9において、すべての電子部品Eの搭載が完了したか否かが判断され、搭載が完了した場合は実装処理を終了する。すべての電子部品Eの搭載が完了していない場合はステップS1に戻る。 At step S9, it is determined whether or not the mounting of all the electronic components E has been completed. If the mounting has been completed, the mounting process is terminated. If the mounting of all the electronic components E has not been completed, the process returns to step S1.

(搭載処理)
以下に、搭載処理について図16を参照して説明する。搭載処理は、基板Bの所定箇所B1の目標搭載位置Cに合わせて電子部品Eを搭載する処理である。搭載処理は、制御部11により実装プログラムPを実行することによって行われる。
(Mounting process)
The mounting process will be described below with reference to FIG. The mounting process is a process of mounting the electronic component E in accordance with the target mounting position C of the predetermined portion B1 of the board B. FIG. The mounting process is performed by executing the mounting program P by the control unit 11 .

ステップS31において、レール部7および支持部6により、電子部品EがXY方向(水平方向)に移動する。ステップS32において、電子部品Eが下降開始位置に移動したか否かが判断される。すなわち、電子部品Eの部品中心位置Dが下降開始位置に到達したか否が判断される。電子部品Eが下降開始位置に位置する場合は、ステップS33に進み、電子部品Eが下降開始位置に移動していない場合は、ステップS31に戻る。ステップS33において、Z軸モータ52、レール部7および支持部6により、目標搭載位置Cに向かって電子部品EがXYZ方向(水平および上下方向)に移動する。 In step S31, the electronic component E is moved in the XY direction (horizontal direction) by the rail portion 7 and the support portion 6. As shown in FIG. In step S32, it is determined whether or not the electronic component E has moved to the lowering start position. That is, it is determined whether or not the component center position D of the electronic component E has reached the lowering start position. If the electronic component E is positioned at the lowering start position, the process proceeds to step S33, and if the electronic component E has not moved to the lowering start position, the process returns to step S31. In step S<b>33 , the electronic component E is moved in the XYZ directions (horizontal and vertical directions) toward the target mounting position C by the Z-axis motor 52 , the rail portion 7 and the support portion 6 .

ステップS34において、電子部品Eが設置位置検査区間S内に移動したか否かが判断される。すなわち、電子部品Eの部品中心位置Dが設置位置検査区間Sに位置する(到達した)か否が判断される。電子部品Eが設置位置検査区間Sに位置する場合は、ステップS35に進み、電子部品Eが設置位置検査区間Sに位置していない場合は、ステップS33に戻る。 In step S34, it is determined whether or not the electronic component E has moved into the installation position inspection section S. That is, it is determined whether or not the component center position D of the electronic component E is positioned (reached) in the installation position inspection section S. If the electronic component E is located in the installation position inspection section S, the process proceeds to step S35, and if the electronic component E is not located in the installation position inspection section S, the process returns to step S33.

ステップS35において、電子部品Eの部品中心位置Dが不良位置範囲F内にあるか否かが判断される。すなわち、搭載位置Vと目標搭載位置Cとの位置ずれがしきい値外か否かが判断される。電子部品Eの部品中心位置Dが不良位置範囲F内にある場合は、ステップS36に進み、電子部品Eの部品中心位置Dが不良位置範囲F内にない場合は、ステップ39に進む。 In step S35, it is determined whether or not the component center position D of the electronic component E is within the defect position range F. That is, it is determined whether or not the positional deviation between the mounting position V and the target mounting position C is outside the threshold value. When the component center position D of the electronic component E is within the defect position range F, the process proceeds to step S36.

ステップS39において、搭載位置Vが不良と記憶される。すなわち、制御部11により、不良と判断された搭載位置Vが不良予想情報Tとして記憶部11bに記憶された後、ステップS36に進む。 In step S39, the mounting position V is stored as defective. That is, after the mounting position V determined to be defective is stored in the storage unit 11b as the defect prediction information T by the control unit 11, the process proceeds to step S36.

ステップS36において、電子部品Eの部品中心位置Dが目標搭載位置Cに到達した(位置する)か否かが判断される。電子部品Eの部品中心位置Dが目標搭載位置Cに到達した場合は、ステップS37に進み、電子部品Eの部品中心位置Dが目標搭載位置Cに到達していない場合は、ステップ35に戻る。 In step S36, it is determined whether or not the component center position D of the electronic component E has reached (is positioned at) the target mounting position C. As shown in FIG. If the component center position D of the electronic component E has reached the target mounting position C, the process proceeds to step S37.If the component center position D of the electronic component E has not reached the target mounting position C, the process returns to step S35.

ステップS37において、電子部品Eが基板Bに搭載される。すなわち、実装ヘッド51の負圧を正圧に切り換えることにより、実装ヘッド51に保持された電子部品Eを基板B上に設置する。ステップS38において、実装ヘッド51を上昇させた後、搭載処理を終了する。そして、実装処理のステップS4に進む。 The electronic component E is mounted on the substrate B in step S37. That is, the electronic component E held by the mounting head 51 is placed on the substrate B by switching the negative pressure of the mounting head 51 to the positive pressure. In step S38, after the mounting head 51 is raised, the mounting process is terminated. Then, the process proceeds to step S4 of the mounting process.

(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of the first embodiment)
The following effects can be obtained in the first embodiment.

第1実施形態では、上記のように、部品実装装置1に、搭載経路Uに基づいて搭載位置Vが不良となる可能性があるか否かを検査する第1検査P1の結果、搭載位置Vが不良となる可能性がある場合に、電子部品Eの実搭載位置Rを検査する第2検査P2を行う制御部11を設ける。これにより、基板Bに搭載される電子部品Eのうち第1検査P1において電子部品Eの搭載位置Vが不良と判断された電子部品Eに対してのみ電子部品Eの実搭載位置Rに移動して検査する第2検査P2を行うので、電子部品Eの実搭載位置Rに移動して検査する第2検査P2を行う回数を減少させることができる。この結果、基板Bの所定箇所B1に移動して行われる電子部品Eの第2検査P2の回数を減少させることにより、実装作業時間の増大を抑制することができる。また、第2検査P2よりも前に第1検査P1を行うことにより、電子部品Eを基板Bに搭載した実搭載位置Rに移動して検査を行うよりも早期に電子部品Eの実搭載位置Rが不良である可能性があることを発見することができる。 In the first embodiment, as described above, as a result of the first inspection P1 for inspecting whether or not the mounting position V is likely to be defective based on the mounting path U, the component mounting apparatus 1 determines that the mounting position V A control unit 11 is provided to perform a second inspection P2 for inspecting the actual mounting position R of the electronic component E when there is a possibility that the electronic component E is defective. As a result, of the electronic components E mounted on the board B, only the electronic components E whose mounting position V is determined to be defective in the first inspection P1 are moved to the actual mounting position R of the electronic component E. Since the second inspection P2 is performed by moving to the actual mounting position R of the electronic component E, the number of times the second inspection P2 is performed can be reduced. As a result, by reducing the number of times the electronic component E is subjected to the second inspection P2 while moving to the predetermined location B1 of the board B, an increase in mounting work time can be suppressed. Further, by performing the first inspection P1 before the second inspection P2, the actual mounting position of the electronic component E can be detected earlier than the inspection by moving the electronic component E to the actual mounting position R mounted on the board B. It can be discovered that R can be bad.

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、第1検査P1の結果、搭載位置Vが不良となる可能性がある場合に、第2検査P2において電子部品Eの実搭載位置Rを基板認識カメラ9により撮像する制御を行うように構成する。これにより、基板認識カメラ9を移動させて検査を行う分だけ第1検査P1よりも検査時間を必要とする第2検査P2の回数を減少させることができるので、基板認識カメラ9による第2検査P2を行う場合でも実装作業時間の増大を抑制することができる。 Further, in the first embodiment, as described above, the controller 11 controls the actual mounting of the electronic component E in the second inspection P2 when there is a possibility that the mounting position V may be defective as a result of the first inspection P1. It is configured to perform control to image the position R with the substrate recognition camera 9 . As a result, the number of times of the second inspection P2, which requires more inspection time than the first inspection P1, can be reduced by the amount of inspection performed by moving the board recognition camera 9, so the second inspection by the board recognition camera 9 can be performed. Even when performing P2, it is possible to suppress an increase in mounting work time.

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、設置位置検査区間Sに電子部品Eが位置したことに基づいて第1検査P1を開始する制御を行うように構成する。これにより、基板の上面位置B2において第1検査P1を行う場合と異なり、反りを有する基板Bの上面に電子部品Eが設置された場合においても第1検査P1を行うことができる。この結果、基板Bの上面の状態によらず第1検査P1を行うことができるので、第1検査P1による基板Bに設置された際の搭載位置Vの判断を確実に行うことができる。 Further, in the first embodiment, the control unit 11 is configured to perform control to start the first inspection P1 based on the fact that the electronic component E is positioned in the installation position inspection section S, as described above. Accordingly, unlike the case where the first inspection P1 is performed at the upper surface position B2 of the substrate, the first inspection P1 can be performed even when the electronic component E is placed on the upper surface of the substrate B having warpage. As a result, since the first inspection P1 can be performed regardless of the state of the upper surface of the board B, the mounting position V when installed on the board B can be reliably determined by the first inspection P1.

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、電子部品Eの搭載経路Uのうち設置位置検査区間Sを通過する際の電子部品Eの位置に基づいて、第1検査P1を行う制御を行うように構成する。これにより、電子部品Eの搭載経路Uの全体にわたって第1検査P1を行うことなく、電子部品Eの搭載経路Uのうち電子部品Eが基板Bに設置された可能性がある箇所を特定して第1検査P1を行うことができるので、第1検査P1を効率的に行うことができる。 Further, in the first embodiment, as described above, the controller 11 performs the first inspection P1 based on the position of the electronic component E when it passes through the installation position inspection section S in the mounting route U of the electronic component E. configured to perform control. As a result, without performing the first inspection P1 over the entire mounting route U of the electronic component E, the portion of the mounting route U of the electronic component E where there is a possibility that the electronic component E was installed on the board B can be specified. Since the first inspection P1 can be performed, the first inspection P1 can be efficiently performed.

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、設置位置検査区間Sにおける不良位置範囲Fに対応する部分に電子部品Eが位置したことに基づいて、第1検査P1において電子部品Eの搭載位置Vを不良と判断する制御を行うように構成する。これにより、不良位置範囲Fが基板Bの上面位置B2よりもZ1方向(上方向)の高さ位置Upに対応させて設けられることにより、反りを有する基板Bの上面に電子部品Eが設置され、略平坦な基板Bの上面に電子部品が設置された場合よりも電子部品の高さ位置がZ1方向(上方)に位置する場合でも、第1検査P1により電子部品Eが基板Bに設置された際の搭載位置Vが不良となる可能性があるか否かを検査することができる。この結果、基板Bの上面の状態によらず第1検査P1を行うことができるので、第1検査P1における基板Bに設置された際の搭載位置Vの不良の判断を確実に行うことができる。 Further, in the first embodiment, as described above, the controller 11 controls the electronic component E in the first inspection P1 based on the position of the electronic component E in the portion corresponding to the defective position range F in the installation position inspection section S. It is configured to perform control to determine that the mounting position V of the component E is defective. As a result, the defective position range F is provided so as to correspond to the height position Up in the Z1 direction (upward direction) from the upper surface position B2 of the substrate B, so that the electronic component E is installed on the upper surface of the substrate B having warpage. , even if the height position of the electronic component is positioned in the Z1 direction (upper) than when the electronic component is placed on the upper surface of the substantially flat board B, the electronic component E is placed on the board B by the first inspection P1. It is possible to inspect whether or not there is a possibility that the mounting position V at the time of mounting is defective. As a result, since the first inspection P1 can be performed regardless of the state of the upper surface of the board B, it is possible to reliably determine the defect of the mounting position V when installed on the board B in the first inspection P1. .

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、第1検査P1において、目標水平位置C1と、部品水平位置D1との差に基づいて、設置位置検査区間Sにおける不良位置範囲Fに対応する部分に電子部品Eが位置したか否かを判断する制御を行うように構成する。これにより、第1検査P1において、目標水平位置C1に対する部品水平位置D1の位置ずれにより、電子部品Eが基板Bに設置された際の搭載位置Vが不良となる可能性があるか否かを検査することができる。この結果、容易に第1検査P1を行うことができる。 In the first embodiment, as described above, the controller 11 controls the defective position range in the installation position inspection section S based on the difference between the target horizontal position C1 and the component horizontal position D1 in the first inspection P1. It is configured to perform control to determine whether or not the electronic component E is positioned at the portion corresponding to F. As a result, in the first inspection P1, it is determined whether or not there is a possibility that the mounting position V when the electronic component E is mounted on the board B becomes defective due to the displacement of the component horizontal position D1 with respect to the target horizontal position C1. can be inspected. As a result, the first inspection P1 can be easily performed.

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、基板Bに電子部品Eが設置したことに基づいて、第1検査P1を終了する制御を行うように構成する。これにより、基板Bに電子部品Eが設置するまで第1検査P1を行うことができるので、電子部品Eが基板Bに設置された際の搭載位置Vに対する第1検査P1による判断をより正確に行うことができる。 Further, in the first embodiment, as described above, the control unit 11 is configured to perform control to end the first inspection P1 based on the placement of the electronic component E on the substrate B. FIG. As a result, the first inspection P1 can be performed until the electronic component E is installed on the board B, so that the mounting position V when the electronic component E is installed on the board B can be more accurately determined by the first inspection P1. It can be carried out.

また、第1実施形態では、上記のように、制御部11を、第2検査P2において周辺画像Mにより、電子部品Eの実搭載位置Rが不良と判断されたことに基づいて、オペレータへ報知するとともに実装作業を停止する制御を行うように構成する。これにより、オペレータによる部品実装装置1に対する復旧作業を早急に行うことができるので、実装作業の停止時間を短くすることができる。 Further, in the first embodiment, as described above, the control unit 11 notifies the operator based on the fact that the actual mounting position R of the electronic component E is determined to be defective by the peripheral image M in the second inspection P2. It is configured to perform control to stop the mounting work as well. As a result, the operator can quickly perform recovery work on the component mounting apparatus 1, so that the stop time of the mounting work can be shortened.

[第2実施形態]
次に、図1~図3および図16を参照して、第2実施形態の部品実装装置201について説明する。第2実施形態の部品実装装置201は、制御部11により実搭載位置Rが不良位置範囲Fに位置しているか否かが判断される上記第1実施形態の部品実装装置1とは異なり、オペレータにより実搭載位置Rが不良位置範囲Fに位置しているか否かが判断されるように構成されている。なお、第2実施形態において、上記第1実施形態と同様の構成に関しては、同じ符号を付して説明を省略する。
[Second embodiment]
Next, a component mounting apparatus 201 according to a second embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3 and 16. FIG. The component mounting apparatus 201 of the second embodiment is different from the component mounting apparatus 1 of the first embodiment in which the controller 11 determines whether or not the actual mounting position R is located within the defective position range F. is configured to determine whether or not the actual mounting position R is located in the defective position range F by means of. In addition, in 2nd Embodiment, the same code|symbol is attached|subjected regarding the structure similar to the said 1st Embodiment, and description is abbreviate|omitted.

図1~図3に示すように、部品実装装置201は、基台2と、フィーダ配置部3と、基板搬送部4と、ヘッドユニット5と、支持部6と、レール部7と、部品認識カメラ8と、基板認識カメラ9と、表示部10と、制御部211とを備えている。なお、基板認識カメラ9は、特許請求の範囲の「撮像部」の一例である。 As shown in FIGS. 1 to 3, the component mounting apparatus 201 includes a base 2, a feeder placement section 3, a substrate transfer section 4, a head unit 5, a support section 6, a rail section 7, a component recognition A camera 8 , a board recognition camera 9 , a display section 10 and a control section 211 are provided. Note that the substrate recognition camera 9 is an example of the "imaging unit" in the scope of claims.

(制御部)
制御部211は、図3に示すように、CPU11a(Central Processing Unit)および記憶部11bなどを含み、部品実装装置201の動作を制御する制御回路である。制御部211は、テープフィーダ12、基板搬送部4、ヘッドユニット5、支持部6、レール部7、部品認識カメラ8、基板認識カメラ9、X軸モータ62、Y軸モータ72および表示部10に電気的に接続されている。
(control part)
The control unit 211 is a control circuit that controls the operation of the component mounting apparatus 201, including a CPU 11a (Central Processing Unit), a storage unit 11b, and the like, as shown in FIG. The control unit 211 controls the tape feeder 12 , substrate transport unit 4 , head unit 5 , support unit 6 , rail unit 7 , component recognition camera 8 , substrate recognition camera 9 , X-axis motor 62 , Y-axis motor 72 and display unit 10 . electrically connected.

記憶部11bには、基板B上に実装される電子部品Eを検査する第1検査処理(第1検査P1)および第2検査処理(第2検査P2)を含む電子部品Eの実装処理に基づく実装プログラムPが記憶されている。さらに、記憶部11bには、第1検査P1および第2検査P2を行うための情報を含む検査データKが記憶されている。 Based on the mounting process of the electronic component E including the first inspection process (first inspection P1) and the second inspection process (second inspection P2) for inspecting the electronic component E mounted on the board B, the storage unit 11b stores An implementation program P is stored. Further, the storage unit 11b stores inspection data K including information for performing the first inspection P1 and the second inspection P2.

(実装プログラム)
制御部211は、実装プログラムPを実施することにより、第1検査P1を行うとともに、第1検査P1の結果、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、第2検査P2を行うように構成されている。
(Implementation program)
By executing the mounting program P, the control unit 211 performs the first inspection P1, and if the result of the first inspection P1 indicates that the mounting position may be defective, the second inspection P2 is performed. It is configured.

制御部211は、記憶部11bに不良予想情報Tが記憶されていることに基づいて、第1検査P1の終了後に第2検査P2を行う制御を行うように構成されている。 The control unit 211 is configured to perform control to perform the second inspection P2 after the end of the first inspection P1 based on the fact that the failure prediction information T is stored in the storage unit 11b.

第2実施形態の制御部211は、オペレータが電子部品Eの実搭載位置Rを判断可能なように、表示部10に第2検査P2において基板認識カメラ9により撮像した目標搭載位置Cの周辺画像Mを表示する制御を行うように構成されている。すなわち、実搭載位置Rが不良位置範囲Fに位置しているか否かの判断が、制御部211ではなくオペレータにより行われる。なお、第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。 The control unit 211 of the second embodiment displays a peripheral image of the target mounting position C captured by the board recognition camera 9 in the second inspection P2 on the display unit 10 so that the operator can determine the actual mounting position R of the electronic component E. It is configured to perform control to display M. That is, the operator, not the control unit 211, determines whether or not the actual mounting position R is located in the defective position range F. Other configurations of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

(実装処理)
以下に、実装処理について図17を参照して説明する。実装処理は、作業位置Wに位置固定された基板Bに電子部品Eを実装する処理である。実装処理は、制御部211により実装プログラムPを実行することによって行われる。なお、ステップS1~ステップS6およびステップS9は、各々、第1実施形態の実装処理と同じであるので説明を省略する。
(implementation processing)
The mounting process will be described below with reference to FIG. The mounting process is a process of mounting the electronic component E on the board B fixed at the work position W. FIG. The mounting process is performed by executing the mounting program P by the control unit 211 . Note that steps S1 to S6 and step S9 are each the same as the mounting process of the first embodiment, so description thereof will be omitted.

ステップ207において、基板Bの所定箇所B1の周辺画像Mが表示部10に表示される。詳細には、基板Bの所定箇所B1の周辺画像Mには、撮像された基板Bの所定箇所B1の目標搭載位置Cおよび目標搭載位置Cの周辺が含まれている。ステップ208において、オペレータにより電子部品Eの位置ずれがありの指示があったか否かが判断される。すなわち、実搭載位置Rが不良位置範囲F内に位置しているとオペレータにより判断され、オペレータにより電子部品Eの位置ずれありの指示があった場合、ステップS9に進む。また、実搭載位置Rが正常位置範囲N内に位置しているオペレータにより判断され、オペレータにより電子部品Eの位置ずれがなしの指示があった場合、実装処理が終了する。 In step 207, the peripheral image M of the predetermined portion B1 of the substrate B is displayed on the display section 10. FIG. Specifically, the peripheral image M of the predetermined location B1 of the board B includes the target mounting position C of the predetermined location B1 of the board B and the surroundings of the target mounting position C. FIG. At step 208, it is determined whether or not the operator has given an instruction that the electronic component E is out of position. That is, when the operator determines that the actual mounting position R is located within the defective position range F and gives an instruction that there is a positional deviation of the electronic component E, the process proceeds to step S9. Further, when the operator determines that the actual mounting position R is within the normal position range N and the operator instructs that there is no positional deviation of the electronic component E, the mounting process ends.

(第2実施形態の効果)
第2実施形態の効果について説明する。
(Effect of Second Embodiment)
Effects of the second embodiment will be described.

第2実施形態では、上記のように、部品実装装置201に、第1検査P1の結果、搭載位置Vが不良となる可能性がある場合に、電子部品Eの実搭載位置Rを検査する第2検査P2を行う制御部211を設ける。これにより、基板Bの所定箇所B1に移動して行われる電子部品Eの第2検査P2の回数を減少させることにより、実装作業時間の増大を抑制することができる。 In the second embodiment, as described above, the component mounting apparatus 201 inspects the actual mounting position R of the electronic component E when there is a possibility that the mounting position V is defective as a result of the first inspection P1. A control unit 211 is provided to perform the second inspection P2. As a result, the number of times the second inspection P2 of the electronic component E is performed while moving to the predetermined location B1 of the board B is reduced, thereby suppressing an increase in mounting work time.

また、第2実施形態では、上記のように、制御部211を、オペレータが電子部品Eの実搭載位置Rを判断可能なように、表示部10に第2検査P2において周辺画像Mを表示する制御を行うように構成する。これにより、オペレータは表示部10に表示された周辺画像Mを実際に見ることにより、目標搭載位置Cおよび電子部品Eの実搭載位置Rを確認することができるので、電子部品Eの実搭載位置Rに対する正常または不良の判断をオペレータが適切に行うことができる。なお、第2実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。 Further, in the second embodiment, as described above, the control unit 211 displays the surrounding image M on the display unit 10 in the second inspection P2 so that the operator can determine the actual mounting position R of the electronic component E. Configure to control. As a result, the operator can confirm the target mounting position C and the actual mounting position R of the electronic component E by actually looking at the peripheral image M displayed on the display unit 10, so that the actual mounting position of the electronic component E can be confirmed. The operator can appropriately determine whether R is normal or defective. Other effects of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

[第3実施形態]
次に、図1~図3、図18および図19を参照して、第3実施形態の部品実装装置301を備える部品実装システム300について説明する。第3実施形態の部品実装装置301は、制御部11により実搭載位置Rが不良位置範囲Fに位置しているか否かを判断するのみの上記第1実施形態の部品実装装置1とは異なり、実搭載位置Rが不良位置範囲Fに位置していると判断された場合、制御部311によりサブマップデータH(以下、サブマップH)を更新するように構成されている。なお、第3実施形態において、上記第1実施形態と同様の構成に関しては、同じ符号を付して説明を省略する。
[Third Embodiment]
Next, a component mounting system 300 including a component mounting apparatus 301 of the third embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3, 18 and 19. FIG. The component mounting apparatus 301 of the third embodiment differs from the component mounting apparatus 1 of the first embodiment in that the controller 11 only determines whether or not the actual mounting position R is located within the defective position range F. When it is determined that the actual mounting position R is located in the defective position range F, the control unit 311 is configured to update the sub map data H (hereinafter referred to as the sub map H). In addition, in 3rd Embodiment, the same code|symbol is attached|subjected regarding the structure similar to the said 1st Embodiment, and description is abbreviate|omitted.

図18に示すように、部品実装システム300は、IC、トランジスタ、コンデンサおよび抵抗などの電子部品Eを、プリント基板などの基板Bに搭載して、電子部品Eが実装された基板Bを生産するシステムである。詳細には、部品実装システム300は、基板Bとして割り基板などに電子部品Eを搭載するシステムとして用いられる。 As shown in FIG. 18, the component mounting system 300 mounts electronic components E such as ICs, transistors, capacitors, and resistors on a board B such as a printed circuit board to produce the board B on which the electronic components E are mounted. System. Specifically, the component mounting system 300 is used as a system for mounting an electronic component E on a split board as a board B or the like.

部品実装システム300は、印刷装置302と、部品実装装置301と、リフロー前の検査装置303と、リフロー炉304と、リフロー後の検査装置305と、サーバ306とを備える。印刷装置302、部品実装装置301、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305は、上流側から下流側に向かって、この順に並んでいる。 The component mounting system 300 includes a printing device 302 , a component mounting device 301 , a pre-reflow inspection device 303 , a reflow furnace 304 , a post-reflow inspection device 305 , and a server 306 . The printing device 302, the component mounting device 301, the reflow furnace 304, and the post-reflow inspection device 305 are arranged in this order from upstream to downstream.

印刷装置302は、基板Bの生産作業として、はんだなどの接合材を基板Bにスクリーン印刷する印刷作業を行う。部品実装装置301は、基板Bの生産作業として、電子部品Eを印刷装置302により印刷作業が行われた基板Bに実装する実装作業を行う。リフロー前の検査装置303は、基板Bの検査作業として、部品実装装置301により実装作業が行われた基板Bを検査する検査作業を行う。リフロー炉304は、基板Bの生産作業として、基板Bに印刷された接合材を溶融させて固化させることにより、電子部品Eを基板Bに接合するリフロー作業を行う。リフロー後の検査装置305は、基板Bの検査作業として、リフロー炉304によりリフロー作業が行われた基板Bを検査する検査作業を行う。 The printing apparatus 302 performs a printing operation of screen-printing a joining material such as solder onto the substrate B as a production operation of the substrate B. FIG. The component mounting apparatus 301 performs the mounting work of mounting the electronic component E on the board B printed by the printing device 302 as the board B production work. The pre-reflow inspection device 303 performs inspection work for inspecting the board B on which the component mounting work has been performed by the component mounting device 301 as the inspection work for the board B. FIG. The reflow furnace 304 performs a reflow operation for bonding the electronic component E to the substrate B by melting and solidifying the bonding material printed on the substrate B as the substrate B production operation. The post-reflow inspection device 305 performs an inspection operation of inspecting the substrate B on which the reflow operation has been performed by the reflow furnace 304 as the inspection operation of the substrate B. FIG.

サーバ306は、サブマップHを管理するように構成されている。すなわち、サーバ306は、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305の各々に対してサブマップHの送信および受信の少なくともいずれかを行う制御を行うように構成されている。なお、サブマップHは、特許請求の範囲の「マップ」の一例である。 Server 306 is configured to manage submap-H. That is, the server 306 at least either transmits or receives the submap H to each of the printing device 302, the component mounting device 301, the pre-reflow inspection device 303, the reflow furnace 304, and the post-reflow inspection device 305. configured to control. Note that the submap H is an example of a "map" in the scope of claims.

具体的には、サーバ306は、図示はしないが、CPUおよび記憶部などを含んでいる。また、サーバ306は、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305にネットワークを介して通信可能に接続されている。 Specifically, the server 306 includes a CPU, a storage unit, and the like, although not shown. The server 306 is communicably connected to the printer 302, the component mounting apparatus 301, the pre-reflow inspection apparatus 303, the reflow oven 304, and the post-reflow inspection apparatus 305 via a network.

サブマップHは、割り基板などの基板Bの所定箇所B1の作業結果を記録したデータにより構成されている。詳細には、サブマップHは、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305の各々の作業後の検査結果を記録したデータである。 The submap H is composed of data recording the work results of a predetermined portion B1 of the board B such as a split board. Specifically, the submap H is data recording the inspection results after each operation of the printing apparatus 302, the component mounting apparatus 301, the pre-reflow inspection apparatus 303, the reflow oven 304, and the post-reflow inspection apparatus 305. FIG.

ここで、サーバ306は、部品実装装置301の制御部311にネットワークを介して接続され、部品実装装置301の制御部311において更新されたサブマップHを取得する制御を行うように構成されている。なお、サーバ306は、部品実装装置301の制御部311だけでなく、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305の各々の制御部311にネットワークを介して接続され、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305の各々の制御部311において更新されたサブマップHを取得する制御を行うように構成されている。 Here, the server 306 is connected to the control unit 311 of the component mounting apparatus 301 via a network, and is configured to perform control to acquire the updated submap H in the control unit 311 of the component mounting apparatus 301. . The server 306 controls not only the control unit 311 of the component mounting apparatus 301, but also the control units 311 of the printing apparatus 302, the component mounting apparatus 301, the pre-reflow inspection apparatus 303, the reflow furnace 304, and the post-reflow inspection apparatus 305. is connected via a network, and the updated submap H is obtained in each of the control units 311 of the printing device 302, the component mounting device 301, the pre-reflow inspection device 303, the reflow furnace 304, and the post-reflow inspection device 305. configured to control.

図19(A)~図19(C)を参照して、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305の各々の作業後の検査結果をサブマップHへ記録する方法について説明する。なお、印刷装置302および部品実装装置301の2つを例示して、作業後の検査結果をサブマップHへ記録する方法について説明する。また、作業後の検査結果の記録について、1を良判定、2を工程前不良および5を不良とする。 19(A) to 19(C), inspection results after work of printing device 302, component mounting device 301, pre-reflow inspection device 303, reflow furnace 304, and post-reflow inspection device 305. to the submap H will be described. A method of recording the inspection result after work on the submap H will be described by exemplifying the printing apparatus 302 and the component mounting apparatus 301 . Regarding the recording of the inspection results after the work, 1 is judged to be good, 2 is judged to be defective before the process, and 5 is judged to be defective.

図19(A)に示すように、印刷装置302において作業後の検査結果に基づいて、サブマップHに基板Bの所定箇所B1において不良と判断された所定箇所B1に対応する数値データが、5という数値データに更新される。そして、印刷装置302において更新されたサブマップHが、サーバ306に送信される。この際、サーバ306において、印刷装置302から取得したサブマップHの5という数値データが2という数値データに更新される。 As shown in FIG. 19A, based on the inspection results after work in the printing device 302, the numerical data corresponding to the predetermined location B1 of the substrate B determined to be defective in the submap H is 5. is updated to numerical data. The submap H updated in the printing device 302 is then sent to the server 306 . At this time, in the server 306, the numerical data of 5 of the submap H acquired from the printing device 302 is updated to the numerical data of 2. FIG.

図19(B)に示すように、サーバ306において更新されたサブマップHが、サーバ306から部品実装装置301に送信される。そして、図19(C)に示すように、部品実装装置301において作業後の検査結果に基づいて、サブマップHに基板Bの所定箇所B1において不良と判断された所定箇所B1に対応する数値データが、5という数値データに更新される。そして、印刷装置302において更新されたサブマップHが、サーバ306に送信される。以上のような作業が、サーバ306と、印刷装置302、部品実装装置301、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305とにより随時行われている。 As shown in FIG. 19B, submap H updated by server 306 is transmitted from server 306 to component mounting apparatus 301 . Then, as shown in FIG. 19(C), based on the inspection result after work in the component mounting apparatus 301, numerical data corresponding to the predetermined location B1 of the substrate B determined to be defective is displayed on the submap H. is updated to numerical data of 5. The submap H updated in the printing device 302 is then sent to the server 306 . The above operations are performed by the server 306, the printer 302, the component mounting apparatus 301, the pre-reflow inspection apparatus 303, the reflow oven 304, and the post-reflow inspection apparatus 305 as needed.

図1~図3に示すように、第3実施形態の部品実装装置301は、基台2と、フィーダ配置部3と、基板搬送部4と、ヘッドユニット5と、支持部6と、レール部7と、部品認識カメラ8と、基板認識カメラ9と、表示部10と、制御部311とを備えている。なお、基板認識カメラ9は、特許請求の範囲の「撮像部」の一例である。 As shown in FIGS. 1 to 3, a component mounting apparatus 301 of the third embodiment includes a base 2, a feeder placement section 3, a board transfer section 4, a head unit 5, a support section 6, a rail section 7 , a component recognition camera 8 , a board recognition camera 9 , a display section 10 and a control section 311 . Note that the substrate recognition camera 9 is an example of the "imaging unit" in the scope of claims.

(制御部)
制御部311は、図3に示すように、CPU11a(Central Processing Unit)および記憶部11bなどを含み、部品実装装置301の動作を制御する制御回路である。制御部311は、テープフィーダ12、基板搬送部4、ヘッドユニット5、支持部6、レール部7、部品認識カメラ8、基板認識カメラ9、X軸モータ62、Y軸モータ72および表示部10に電気的に接続されている。
(control part)
The control unit 311 is a control circuit that controls the operation of the component mounting apparatus 301, including a CPU 11a (Central Processing Unit), a storage unit 11b, and the like, as shown in FIG. The control unit 311 controls the tape feeder 12 , substrate transport unit 4 , head unit 5 , support unit 6 , rail unit 7 , component recognition camera 8 , substrate recognition camera 9 , X-axis motor 62 , Y-axis motor 72 and display unit 10 . electrically connected.

記憶部11bには、基板B上に実装される電子部品Eを検査する第1検査処理および第2検査処理を含む電子部品Eの実装処理に基づく実装プログラムPが記憶されている。さらに、記憶部11bには、第1検査P1および第2検査P2を行うための情報を含む検査データKが記憶されている。 The storage unit 11b stores a mounting program P based on the mounting process of the electronic component E including the first inspection process and the second inspection process for inspecting the electronic component E mounted on the board B. FIG. Further, the storage unit 11b stores inspection data K including information for performing the first inspection P1 and the second inspection P2.

(実装プログラム)
制御部311は、実装プログラムPを実施することにより、第1検査P1を行うとともに、第1検査P1の結果、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、第2検査P2を行うように構成されている。
(Implementation program)
By executing the mounting program P, the control unit 311 performs the first inspection P1, and if the result of the first inspection P1 indicates that the mounting position may be defective, the second inspection P2 is performed. It is configured.

制御部311は、記憶部11bに不良予想情報Tが記憶されていることに基づいて、第1検査P1の終了後に第2検査P2を行う制御を行うように構成されている。 The control unit 311 is configured to perform control to perform the second inspection P2 after the end of the first inspection P1 based on the fact that the failure prediction information T is stored in the storage unit 11b.

第3実施形態の制御部311は、第2検査P2の結果において電子部品Eの実搭載位置Rが不良であると判断された場合、不良と判断された実搭載位置Rに基づいて、基板Bの不良個所を示すサブマップHを更新する制御を行うように構成されている。また、制御部311は、サーバ306から取得したサブマップHに基づいて、基板Bの所定箇所B1に電子部品Eを搭載するか否かを判断する制御を行うように構成されていることが好ましい。すなわち、制御部311は、サーバ306から取得したサブマップHを参照したことに基づいて、前工程において不良が生じた基板Bの所定箇所B1に電子部品Eを搭載しない制御を行うように構成されていてもよい。なお、第3実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。 When it is determined that the actual mounting position R of the electronic component E is defective in the result of the second inspection P2, the control unit 311 of the third embodiment controls the board B based on the actual mounting position R determined to be defective. It is configured to perform control to update the submap H indicating the defective portion of the . Further, it is preferable that the control unit 311 is configured to perform control to determine whether or not to mount the electronic component E on the predetermined location B1 of the board B based on the submap H obtained from the server 306. . That is, the control unit 311 is configured to perform control so that the electronic component E is not mounted on the predetermined location B1 of the substrate B where the defect occurred in the previous process, based on the reference to the submap H obtained from the server 306. may be Other configurations of the third embodiment are the same as those of the first embodiment.

(実装処理)
以下に、実装処理について図20を参照して説明する。実装処理は、作業位置Wに位置固定された基板Bに電子部品Eを実装する処理である。実装処理は、制御部311により実装プログラムPを実行することによって行われる。なお、ステップS1~ステップS7およびステップS9は、各々、第1実施形態の実装処理と同じであるので説明を省略する。
(implementation processing)
The mounting process will be described below with reference to FIG. The mounting process is a process of mounting the electronic component E on the board B fixed at the work position W. FIG. The mounting process is performed by executing the mounting program P by the control unit 311 . Note that steps S1 to S7 and step S9 are each the same as the mounting process of the first embodiment, so description thereof will be omitted.

ステップS300において、制御部311により、サブマップHが参照される。すなわち、サーバ306から取得したサブマップHの不良判定があるか否かを制御部311により調べられる。ステップ308において、ステップS7の第2検査P2の検査結果に基づいて、サブマップHが更新される。すなわち、ステップS7の第2検査P2の検査結果が不良の場合は、サブマップHが更新される。ステップ309において、制御部311により、更新されたサブマップHがサーバ306に送信された後、実装処理が終了する。 In step S300, the submap H is referenced by the control unit 311. FIG. That is, the control unit 311 checks whether or not the submap H obtained from the server 306 is determined to be defective. At step 308, the submap H is updated based on the inspection results of the second inspection P2 of step S7. That is, if the inspection result of the second inspection P2 in step S7 is unsatisfactory, the submap H is updated. In step 309, after the updated submap H is transmitted to the server 306 by the control unit 311, the mounting process ends.

(第3実施形態の効果)
第3実施形態の効果について説明する。
(Effect of the third embodiment)
Effects of the third embodiment will be described.

第3実施形態では、上記のように、第1検査P1の結果、部品実装システム300に、搭載位置が不良となる可能性がある場合に、部品の実搭載位置Rを検査する第2検査P2を行う制御部311を設けた部品実装装置301を設ける。これにより、基板Bの所定箇所B1に移動して行われる電子部品Eの第2検査P2の回数を減少させることにより、実装作業時間の増大を抑制することができる。 In the third embodiment, as described above, as a result of the first inspection P1, when there is a possibility that the mounting position of the component mounting system 300 is defective, the second inspection P2 inspects the actual mounting position R of the component. A component mounting apparatus 301 having a control unit 311 for performing is provided. Accordingly, by reducing the number of times the electronic component E is subjected to the second inspection P2 by moving to the predetermined location B1 of the board B, an increase in mounting work time can be suppressed.

また、第3実施形態では、上記のように、制御部311を、第2検査P2の結果において不良と判断された実際の実搭載位置Rに基づいて、基板Bの不良個所を示すサブマップHを更新するように構成する。これにより、部品実装装置301において更新されたサブマップHを部品実装装置301よりも下流に配置される作業装置が参照することができるので、サブマップHに示された不良個所に応じて部品実装装置301よりも下流に配置される作業装置における基板Bに対する作業を適切に変更することができる。たとえば、サブマップHに不良個所が示された場合、サブマップHに示された基板Bの不良個所に対して、部品実装装置301よりも下流に配置される作業装置(リフロー炉304など)において作業を行わないように変更することができる。この結果、部品実装装置301の実装作業だけでなく、部品実装装置301よりも下流に配置される作業装置における基板Bに対する作業も効率化することができるので、基板Bを生産する作業時間が増大することを抑制することが可能な部品実装システム300を得ることができる。 Further, in the third embodiment, as described above, the control unit 311 controls the submap H indicating the defective locations of the board B based on the actual mounting position R determined to be defective in the result of the second inspection P2. to update. As a result, the submap H updated in the component mounting apparatus 301 can be referred to by the work device arranged downstream of the component mounting apparatus 301, so that the component mounting operation can be performed according to the defective portion shown in the submap H. It is possible to appropriately change the work on the substrate B in the work device arranged downstream of the device 301 . For example, when the submap H indicates a defective portion, a working device (reflow furnace 304 or the like) arranged downstream of the component mounting apparatus 301 with respect to the defective portion of the board B indicated on the submap H You can change it so that it doesn't work. As a result, not only the mounting work of the component mounting apparatus 301, but also the work for the board B in the working device arranged downstream from the component mounting apparatus 301 can be made efficient, so that the work time for producing the board B increases. It is possible to obtain the component mounting system 300 capable of suppressing the mounting.

また、第3実施形態では、上記のように、部品実装システム300に、部品実装装置301の制御部311にネットワークを介して接続され、部品実装装置301の制御部311において更新されたサブマップHを取得する制御を行うサーバ306を設ける。これにより、サーバ306によりサブマップHを一括管理させることができるので、サブマップHの利便性を向上させることができる。なお、第3実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。 Further, in the third embodiment, as described above, the component mounting system 300 is connected to the control unit 311 of the component mounting apparatus 301 via the network, and the submap H updated by the control unit 311 of the component mounting apparatus 301 is updated. is provided. As a result, the server 306 can collectively manage the submap H, so that the convenience of the submap H can be improved. Other effects of the third embodiment are the same as those of the first embodiment.

[変形例]
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
[Modification]
It should be noted that the embodiments disclosed this time should be considered as examples and not restrictive in all respects. The scope of the present invention is indicated by the scope of the claims rather than the description of the above-described embodiments, and includes all modifications (modifications) within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims.

たとえば、上記第1~第3実施形態では、制御部11(211、311)は、電子部品E(部品)の搭載経路Uのうち設置位置検査区間Sを通過する際の部品中心位置D(部品の位置)に基づいて、第1検査P1を行う制御を行うように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、制御部は、部品の搭載経路の終端の位置に基づいて、第1検査P1を行う制御を行うように構成されていてもよい。 For example, in the above-described first to third embodiments, the control unit 11 (211, 311) controls the component center position D (component Although an example is shown in which control is performed to perform the first inspection P1 based on the position of the first inspection P1, the present invention is not limited to this. In the present invention, the control unit may be configured to perform control to perform the first inspection P1 based on the position of the end of the component mounting path.

また、上記第3実施形態では、サーバ306は、部品実装装置301、印刷装置302、リフロー前の検査装置303、リフロー炉304およびリフロー後の検査装置305の各々に対してサブマップHの送受信を行う制御を行うように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、部品実装装置、印刷装置、リフロー炉およびリフロー後の検査装置は、各々、サブマップの送受信を直接行う制御を行うように構成されていてもよい。 In the third embodiment, the server 306 transmits and receives the submap H to and from each of the component mounting apparatus 301, the printing apparatus 302, the pre-reflow inspection apparatus 303, the reflow furnace 304, and the post-reflow inspection apparatus 305. Although an example configured to perform control to be performed has been shown, the present invention is not limited to this. For example, the component mounting apparatus, printing apparatus, reflow oven, and post-reflow inspection apparatus may each be configured to directly transmit and receive submaps.

また、上記第1~第3実施形態では、実装ヘッド51(ヘッド)に保持された電子部品E(部品)は、XY移動時間、Z移動時間および下降開始位置にしたがって、部品認識処理において取得された部品中心位置Dから目標搭載位置C(目標位置)に移動している例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、ヘッドに保持された部品は、部品中心位置の座標および目標位置の座標にしたがって、部品認識処理において取得された部品中心位置から目標位置に移動してもよい。 Further, in the first to third embodiments, the electronic component E (component) held by the mounting head 51 (head) is acquired in the component recognition process according to the XY movement time, the Z movement time, and the descent start position. Although an example has been shown in which the component is moved from the part center position D to the target mounting position C (target position), the present invention is not limited to this. For example, the part held by the head may be moved from the part center position acquired in the part recognition process to the target position according to the coordinates of the part center position and the coordinates of the target position.

また、上記第1~第3実施形態では、設置位置検査区間Sは、第1検査区間S1と第2検査区間S2とを合わせた区間である例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、設置位置検査区間は、第1検査区間だけでもよい。 Further, in the first to third embodiments, the installation position inspection section S is a section including the first inspection section S1 and the second inspection section S2, but the present invention is not limited to this. do not have. For example, the installation position inspection section may be only the first inspection section.

また、第1~第3実施形態では、部品中心位置Dは、部品水平位置D1と、ヘッド高さ位置D2とにより表される座標である例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、部品中心位置は、部品水平位置と、実装ヘッドに保持された電子部品の下端位置とにより表される座標であってもよい。この場合、目標搭載位置の目標高さ位置が、基板の上面を基準とした電子部品の上端部の高さ位置近傍ではなく、基板の上面の高さ位置になる。 In the first to third embodiments, the component center position D is represented by the component horizontal position D1 and the head height position D2. However, the present invention is not limited to this. . For example, the component center position may be coordinates represented by the component horizontal position and the lower end position of the electronic component held by the mounting head. In this case, the target height position of the target mounting position is not the vicinity of the height position of the upper end of the electronic component with respect to the upper surface of the board, but the height position of the upper surface of the board.

また、上記第1~第3実施形態では、説明の便宜上、制御部11(211、311)の制御処理を、処理フローに沿って順番に処理を行うフロー駆動型のフローチャートを用いて説明した例について示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、制御部の制御処理を、イベント単位で処理を実行するイベント駆動型(イベントドリブン型)の処理により行ってもよい。この場合、完全なイベント駆動型で行ってもよいし、イベント駆動およびフロー駆動を組み合わせて行ってもよい。 Further, in the first to third embodiments, for convenience of explanation, the control processing of the control unit 11 (211, 311) is explained using a flow-driven flowchart in which processing is performed in order along the processing flow. , the present invention is not limited to this. In the present invention, the control processing of the control unit may be performed by event-driven processing that executes processing on an event-by-event basis. In this case, it may be completely event-driven, or a combination of event-driven and flow-driven.

1、201、301 部品実装装置
5 ヘッドユニット
9 基板認識カメラ(撮像部)
10 表示部
11、211、311 制御部
51 ヘッド(実装ヘッド)
300 部品実装システム
305 サーバ
B 基板
B2 (基板の)上面位置
C 目標搭載位置(目標位置)
C1 目標水平位置
D 部品中心位置(設置位置検査区間を通過する際の部品の位置)
D1 部品水平位置
E 電子部品(部品)
F 不良位置範囲
H サブマップ(マップ)
M 周辺画像
P1 第1検査
P2 第2検査
R 実搭載位置(実際の搭載位置)
S 設置位置検査区間
U 搭載経路
Up 高さ位置
V 搭載位置(基板に設置された際の搭載位置)
Reference Signs List 1, 201, 301 Component mounting device 5 Head unit 9 Board recognition camera (imaging unit)
10 display unit 11, 211, 311 control unit 51 head (mounting head)
300 component mounting system 305 server B substrate B2 (substrate) upper surface position C target mounting position (target position)
C1 Target horizontal position D Part center position (part position when passing through the installation position inspection section)
D1 Component horizontal position E Electronic component (component)
F Defective position range H Submap (map)
M Peripheral image P1 First inspection P2 Second inspection R Actual mounting position (actual mounting position)
S Installation position inspection section U Mounting path Up Height position V Mounting position (mounting position when installed on the board)

Claims (12)

部品を保持するとともに、基板の目標位置に前記部品を設置することにより前記部品を搭載するヘッドを含むヘッドユニットと、
前記部品の搭載経路に基づいて前記部品が前記基板に設置された際の搭載位置が不良となる可能性があるか否かを検査する第1検査を行うとともに、前記第1検査の結果、前記搭載位置が正常となる場合、前記部品の実際の搭載位置を検査する第2検査を行わず、前記第1検査の結果、前記搭載位置が不良となる可能性がある場合に、前記第2検査を行う制御部とを備える、部品実装装置。
a head unit that includes a head that holds a component and mounts the component by placing the component at a target position on a substrate;
performing a first inspection for inspecting whether or not there is a possibility that the mounting position of the component when the component is mounted on the board may be defective based on the mounting path of the component, and as a result of the first inspection, When the mounting position is normal, the second inspection for inspecting the actual mounting position of the component is not performed. A component mounting apparatus, comprising: a control unit that performs inspection.
前記基板の前記目標位置および前記目標位置の周辺を撮像する撮像部をさらに備え、
前記制御部は、前記第1検査の結果、前記搭載位置が不良となる可能性がある場合に、前記第2検査において前記部品の前記実際の搭載位置を前記撮像部により撮像する制御を行うように構成されている、請求項1に記載の部品実装装置。
further comprising an imaging unit for imaging the target position of the substrate and the periphery of the target position;
When the mounting position is likely to be defective as a result of the first inspection, the control unit controls the imaging unit to image the actual mounting position of the component in the second inspection. 2. The component mounting apparatus according to claim 1, wherein:
前記制御部は、前記基板の上面位置よりも上方の高さ位置に対応させて設けられた設置位置検査区間に前記部品が位置したことに基づいて前記第1検査を開始する制御を行うように構成されている、請求項1または2に記載の部品実装装置。 The control unit performs control to start the first inspection based on the component being positioned in an installation position inspection section provided corresponding to a height position above the upper surface position of the substrate. 3. The component mounting apparatus according to claim 1, wherein the component mounting apparatus is configured as follows. 前記制御部は、前記部品の搭載経路のうち前記設置位置検査区間を通過する際の前記部品の位置に基づいて、前記第1検査を行う制御を行うように構成されている、請求項3に記載の部品実装装置。 4. The control unit according to claim 3, wherein the control unit is configured to perform control to perform the first inspection based on the position of the component when passing through the installation position inspection section in the mounting route of the component. Component mounter as described. 前記制御部は、前記設置位置検査区間における不良位置範囲に対応する部分に前記部品が位置したことに基づいて、前記第1検査において前記部品が基板に搭載された際の前記搭載位置を不良と判断する制御を行うように構成されている、請求項3または4に記載の部品実装装置。 The control unit considers the mounting position of the component mounted on the board to be defective in the first inspection based on the fact that the component is positioned in a portion corresponding to the defective position range in the installation position inspection section. 5. The component mounting apparatus according to claim 3, configured to perform determination control. 前記制御部は、前記第1検査において、前記目標位置に搭載された場合の前記部品の水平方向における目標水平位置と、前記ヘッドに保持された前記部品の水平方向における部品水平位置との差に基づいて、前記設置位置検査区間における前記不良位置範囲に対応する部分に前記部品が位置したか否かを判断する制御を行うように構成されている、請求項5に記載の部品実装装置。 In the first inspection, the control unit determines a difference between a target horizontal position in the horizontal direction of the component when mounted at the target position and a component horizontal position in the horizontal direction of the component held by the head. 6. The component mounting apparatus according to claim 5, wherein the component mounting apparatus according to claim 5 is configured to determine whether or not the component is positioned in the portion corresponding to the defective position range in the installation position inspection section. 前記制御部は、前記基板に前記部品が設置されたことに基づいて、前記第1検査を終了する制御を行うように構成されている、請求項1~6のいずれか1項に記載の部品実装装置。 The component according to any one of claims 1 to 6, wherein the control unit is configured to perform control to end the first inspection based on the component being installed on the board. mounting equipment. 前記制御部は、前記第2検査において前記撮像部により撮像した前記目標位置および前記目標位置の周辺画像により、前記部品の前記実際の搭載位置が不良と判断されたことに基づいて、オペレータへ報知するとともに実装作業を停止する制御を行うように構成されている、請求項2に記載の部品実装装置。 The control unit notifies an operator based on the determination that the actual mounting position of the component is defective based on the target position and the surrounding image of the target position captured by the imaging unit in the second inspection. 3. The component mounting apparatus according to claim 2, wherein the component mounting apparatus is configured to perform control to stop the mounting work as well as to stop the mounting work. 前記撮像部により撮像された前記目標位置および前記目標位置の周辺画像を表示する表示部をさらに備え、
前記制御部は、オペレータが前記部品の前記実際の搭載位置を判断可能なように、前記表示部に前記第2検査において前記撮像部により撮像した前記画像を表示する制御を行うように構成されている、請求項2に記載の部品実装装置。
further comprising a display unit that displays the target position captured by the imaging unit and a peripheral image of the target position;
The control unit is configured to perform control to display the image captured by the imaging unit in the second inspection on the display unit so that an operator can determine the actual mounting position of the component. 3. The component mounting apparatus according to claim 2, wherein
前記制御部は、前記第2検査の結果において前記部品の前記実際の搭載位置が不良であると判断された場合、不良と判断された前記実際の搭載位置に基づいて、前記基板の不良個所を示すマップを更新する制御を行うように構成されている、請求項1~9のいずれか1項に記載の部品実装装置。 When the actual mounting position of the component is determined to be defective as a result of the second inspection, the control unit determines the defective portion of the board based on the actual mounting position determined to be defective. 10. The component mounting apparatus according to any one of claims 1 to 9, configured to perform control for updating the indicated map. 請求項1~9のいずれか1項に記載の部品実装装置を備える部品実装システムであって、
前記部品実装装置は、
前記第2検査の結果において前記部品の前記実際の搭載位置が不良であると判断された場合、不良と判断された前記実際の搭載位置に基づいて、前記基板の不良個所を示すマップを更新する制御を行う前記制御部を含む、部品実装システム。
A component mounting system comprising the component mounting apparatus according to any one of claims 1 to 9,
The component mounting device is
When the actual mounting position of the component is determined to be defective as a result of the second inspection, updating a map indicating defective locations on the board based on the actual mounting position determined to be defective. A component mounting system including the control unit that performs control.
前記部品実装装置の前記制御部にネットワークを介して接続され、前記部品実装装置の前記制御部において更新された前記マップを取得する制御を行うサーバをさらに備える、請求項11に記載の部品実装システム。 12. The component mounting system according to claim 11, further comprising a server connected to said control unit of said component mounting apparatus via a network and performing control for obtaining said map updated by said control unit of said component mounting apparatus. .
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