JP6587871B2 - Component mounting apparatus and component mounting system - Google Patents

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Description

本発明は、部品実装装置および部品実装システムに関し、特に、基板に部品を実装する実装部を備える部品実装装置および部品実装システムに関する。   The present invention relates to a component mounting apparatus and a component mounting system, and more particularly to a component mounting apparatus and a component mounting system that include a mounting unit that mounts a component on a board.

従来、基板に部品を実装する実装部を備える部品実装装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, a component mounting apparatus including a mounting unit that mounts a component on a board is known (see, for example, Patent Document 1).

上記特許文献1には、基板に部品を実装する移載ヘッド(実装部)と、基板上の半田の高さの計測結果に基づいて、移載ヘッドの吸着ノズルの下降動作を制御する制御部とを備えた電子部品の実装装置(部品実装装置)が開示されている。   In Patent Document 1, a transfer head (mounting unit) for mounting components on a substrate and a control unit for controlling the lowering operation of the suction nozzle of the transfer head based on the measurement result of the height of solder on the substrate. An electronic component mounting apparatus (component mounting apparatus) is disclosed.

また、従来では、複数のリードを有するIC(集積回路)チップなどの部品を基板に実装する場合に、基板上の複数の半田配置領域の半田厚みを測定して、半田厚みがしきい値未満である場合は、基板上に部品を実装することができないとして基板を廃棄する技術が知られている。また、部品の複数のリードの高さを測定して、個々のリードの高さにバラツキがある場合にも、基板上に部品を実装することができないとして部品を廃棄する技術が知られている。   Conventionally, when a component such as an IC (integrated circuit) chip having a plurality of leads is mounted on a substrate, the solder thickness in a plurality of solder placement areas on the substrate is measured, and the solder thickness is less than a threshold value. In such a case, a technique for discarding the board is known as a component cannot be mounted on the board. In addition, a technique is known in which the height of a plurality of leads of a component is measured, and the component is discarded because the component cannot be mounted on the board even when there is a variation in the height of each lead. .

特開2000−151196号公報JP 2000-151196 A

上記特許文献1の電子部品の実装装置(部品実装装置)において、上記従来の技術を適用した場合には、複数のリード(接続部)を有する部品を実装しようとする場合に、基板の半田厚み、および、部品の複数のリードの高さに基づいて、基板上に部品を実装可能か否かをそれぞれ判断すると考えられる。この場合、部品実装の質を担保するために、実装可能となるそれぞれの基準(半田厚みの基準および部品の複数のリードの高さの基準)を厳格にする必要がある。このため、半田厚みの基準を満たさない基板と、部品の複数のリードの高さ基準を満たさに部品とが、それぞれ増加するため、基板上に部品を実装可能でないと判断された基板および部品が廃棄される量がそれぞれ増加するという問題点がある。   In the electronic component mounting apparatus (component mounting apparatus) disclosed in Patent Document 1, when the above-described conventional technique is applied, the solder thickness of the board is required when mounting a component having a plurality of leads (connection portions). It is considered that whether or not the component can be mounted on the substrate is determined based on the heights of the plurality of leads of the component. In this case, in order to guarantee the quality of component mounting, it is necessary to strictly set each standard (standard of solder thickness and standard of the height of a plurality of leads of a component) that enables mounting. For this reason, since the number of boards that do not satisfy the solder thickness standard and the number of parts that satisfy the height standard of the leads of the component increase, respectively, the board and components that are determined not to be mountable on the board There is a problem that the amount to be discarded increases.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、複数の接続部を有する部品を実装する場合に、廃棄される基板および部品が増加するのを抑制することが可能な部品実装装置および部品実装システムを提供することである。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to increase the number of discarded boards and components when mounting components having a plurality of connecting portions. It is an object of the present invention to provide a component mounting apparatus and a component mounting system that can suppress this.

上記目的を達成するために、この発明の第1の局面における部品実装装置は、基板に部品を実装する実装部と、基板の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、複数の半田配置領域に対応する部品の複数の接続部の接続部高さ情報とに基づいて、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断する制御部とを備え、制御部は、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、基板の半田と、対応する部品の接続部との隙間を算出して、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断するとともに、複数の半田配置領域を含む一の搭載点への部品の実装が否である場合に、複数の半田配置領域を含む他の搭載点への部品の実装の可否を判断するように構成されている。 In order to achieve the above object, a component mounting apparatus according to a first aspect of the present invention includes a mounting portion for mounting a component on a substrate, solder thickness information for a plurality of solder placement regions on the substrate, and a plurality of solder placement regions. A control unit that determines whether or not the component can be mounted on the plurality of solder placement regions of the board based on the connection part height information of the plurality of connection parts of the corresponding component , and the control unit includes solder thickness information and The gap between the solder on the board and the connection part of the corresponding component is calculated based on the connection part height information to determine whether or not the component can be mounted on the plurality of solder placement areas on the board. of if it is not the component mounting of the first mounting points including a solder arrangement region, that is configured to determine a plurality of whether the implementation of parts of the solder arrangement region other mounting points including.

この発明の第1の局面による部品実装装置では、上記のように、基板の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、複数の半田配置領域に対応する部品の複数の接続部の接続部高さ情報とに基づいて、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断する制御部を設ける。これにより、半田配置領域の半田厚みと、対応する接続部の高さとの相性を加味して、複数の接続部を有する部品の実装の可否を判断することができる。たとえば、基板の複数の半田の凹凸と、部品の複数の接続部の凹凸との対応する隙間の大きさに基づいて、複数の接続部を有する部品の実装の可否を判断することができる。これにより、基板の半田厚み、および、部品の複数の接続部の高さに基づいて、基板上に部品を実装可能か否かをそれぞれ判断する場合と比べて、個々の基準を厳格にしなくても、部品実装の質を担保することができる。その結果、複数の接続部を有する部品を実装する場合に、廃棄される基板および部品が増加するのを抑制することができる。これにより、歩留りを向上させることができる。また、基板上に部品を実装可能か否かを精度よく判断することができるので、部品の接続部と半田との接合不良の発生を抑制することができる。   In the component mounting apparatus according to the first aspect of the present invention, as described above, the solder thickness information of the plurality of solder placement regions of the substrate and the connection portion height of the plurality of connection portions of the component corresponding to the plurality of solder placement regions. Based on the information, a control unit is provided for determining whether or not components can be mounted on a plurality of solder placement regions of the board. Accordingly, it is possible to determine whether or not a component having a plurality of connection portions can be mounted in consideration of the compatibility between the solder thickness in the solder placement region and the height of the corresponding connection portion. For example, whether or not a component having a plurality of connection portions can be mounted can be determined based on the size of a gap corresponding to the unevenness of a plurality of solders on the substrate and the unevenness of a plurality of connection portions of the component. As a result, the individual standards must be stricter than when determining whether or not a component can be mounted on the substrate based on the solder thickness of the substrate and the height of the plurality of connecting portions of the component. Even the quality of component mounting can be ensured. As a result, when mounting a component having a plurality of connection portions, it is possible to suppress an increase in the number of discarded boards and components. Thereby, a yield can be improved. In addition, since it is possible to accurately determine whether or not a component can be mounted on the substrate, it is possible to suppress the occurrence of defective bonding between the connection portion of the component and the solder.

上記第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、制御部は、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、部品の複数の接続部のうちの一部を対応する半田に接触させた場合の、基板の他の半田と、対応する部品の接続部との隙間を算出して、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断するように構成されている。このように構成すれば、部品の複数の接続部のうちの一部を対応する半田に接触させた場合の、基板の他の半田と、対応する部品の接続部との隙間に基づいて、複数の接続部を有する部品の実装の可否を精度よく判断することができる。   In the component mounting apparatus according to the first aspect, preferably, the control unit contacts a part of the plurality of connection portions of the component with the corresponding solder based on the solder thickness information and the connection portion height information. In this case, the gap between the other solder of the substrate and the connection part of the corresponding component is calculated, and it is configured to determine whether or not the component can be mounted in a plurality of solder placement regions of the substrate. If comprised in this way, based on the clearance gap between the other solder of a board | substrate and the connection part of a corresponding component when a part of the connection part of a part is made to contact corresponding solder, a plurality Therefore, it is possible to accurately determine whether or not a component having the connection portion can be mounted.

この場合、好ましくは、制御部は、算出した基板の半田と部品の対応する接続部との隙間が、全ての接続部についてしきい値以下であれば、部品が基板の複数の半田配置領域へ実装可能であると判断し、算出した基板の半田と部品の対応する接続部との隙間が、一部または全ての接続部についてしきい値より大きければ、部品が基板の複数の半田配置領域へ実装可能でないと判断するように構成されている。このように構成すれば、算出した基板の半田と部品の対応する接続部との隙間が、一部または全ての接続部についてしきい値より大きい場合にだけ、部品が基板の複数の半田配置領域へ実装可能でないと判断される。これにより、部品の複数の接続部の高さに基づいて、基板上に部品を実装可能か否かをそれぞれ判断する場合と比べて、廃棄される基板および部品が増加するのを効果的に抑制することができる。   In this case, preferably, if the calculated gap between the solder on the board and the corresponding connection part of the component is equal to or less than the threshold value for all the connection parts, the component moves to a plurality of solder placement regions on the board. If it is determined that mounting is possible and the calculated gap between the solder on the board and the corresponding connection part of the component is larger than a threshold value for some or all of the connection parts, the component is moved to multiple solder placement areas on the board. It is configured to determine that it cannot be implemented. With this configuration, the component is placed on the plurality of solder placement regions on the substrate only when the calculated gap between the solder on the substrate and the corresponding connection portion of the component is larger than the threshold value for some or all of the connection portions. It is determined that it cannot be implemented. This effectively suppresses the increase in the number of discarded boards and components compared to the case where it is determined whether or not a component can be mounted on the substrate based on the height of a plurality of connection parts of the component. can do.

上記第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、接続部高さ情報は、部品の複数の接続部の平坦度情報を含む。このように構成すれば、接続部の数が多くなった場合でも、部品の複数の接続部の平坦度情報に基づいて、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を容易に判断することができる。   In the component mounting apparatus according to the first aspect, preferably, the connection portion height information includes flatness information of a plurality of connection portions of the component. With this configuration, even when the number of connection portions increases, it is easily determined whether or not components can be mounted on a plurality of solder placement regions of the board based on the flatness information of the plurality of connection portions of the component. can do.

上記第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、半田厚み情報は、外部記憶装置に記憶されるか、または、上流の部品実装装置から下流の部品実装装置へ転送されるように構成されている。このように構成すれば、半田厚み情報を外部記憶装置に記憶させた場合、下流側の部品実装装置において、外部記憶装置に記憶された半田厚み情報を用いて、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を容易に判断することができる。また、半田厚み情報を上流の部品実装装置から下流の部品実装装置へ転送させた場合、基板の搬送とともに、半田厚み情報を下流側の部品実装装置に移転させることができるので、下流側の部品実装装置において、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を容易に判断することができる。   In the component mounting apparatus according to the first aspect, preferably, the solder thickness information is stored in an external storage device or is configured to be transferred from an upstream component mounting apparatus to a downstream component mounting apparatus. Yes. According to this configuration, when the solder thickness information is stored in the external storage device, the downstream component mounting apparatus uses the solder thickness information stored in the external storage device to the plurality of solder placement areas on the board. It is possible to easily determine whether or not the component can be mounted. In addition, when the solder thickness information is transferred from the upstream component mounting apparatus to the downstream component mounting apparatus, the solder thickness information can be transferred to the downstream component mounting apparatus along with the conveyance of the board. In the mounting apparatus, it is possible to easily determine whether or not components can be mounted on a plurality of solder placement regions of the board.

上記第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、半田厚み情報、および、接続部高さ情報は、部品実装装置または外部装置により部品の実装動作よりも事前に測定されるように構成されている。このように構成すれば、部品を実装する際に、半田厚みの測定および接続部の高さの測定を行う必要がないので、その分、サイクルタイムを短縮させることができる。 In the component mounting apparatus according to the first aspect, preferably, the solder thickness information and the connection portion height information are configured to be measured in advance of the component mounting operation by the component mounting apparatus or the external apparatus. Yes. With this configuration, when mounting the component, it is not necessary to measure the thickness of the solder and the height of the connection portion, so that the cycle time can be shortened accordingly.

上記第1の局面による部品実装装置において、好ましくは、基板に複数の同種の部品を実装する場合、基板の複数の半田配置領域に部品を実装可能か否かを識別して順次実装するように構成されている。このように構成すれば、部品を実装可能な位置に順次実装するので、実装部が実装可能な部品を吸着し直してから実装する場合に比べて、サイクルタイムを短縮させることができる。 In the component mounting apparatus according to the first aspect, preferably, when implementing a plurality of the same type components on a substrate, so as to sequentially implement to identify whether it is possible to mount components to a plurality of solder arrangement region of board It is configured. With this configuration, since the components are sequentially mounted at the mountable positions, the cycle time can be shortened as compared with the case where the mounting portion remounts the mountable components and then mounts them.

この場合、好ましくは、基板に複数の同種の部品を実装する場合、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、複数の部品基板の複数の半田配置領域のそれぞれ適する位置に実装される第1モードと、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、実装部に保持される部品実装可能な基板の複数の半田配置領域順次実装される第2モードとを選択可能に構成されている。このように構成すれば、複数の部品を基板の複数の半田配置領域のそれぞれ適する位置に実装する第1モードの場合、部品の接続部と半田との接合不良の発生を効果的に抑制することができる。また、部品を実装可能な基板の複数の半田配置領域を識別して順次実装する第2モードの場合、部品を実装可能な位置に順次実装するので、実装部が実装可能な部品を吸着し直してから実装する場合に比べて、サイクルタイムを短縮させることができる。 In this case, preferably, when mounting a plurality of the same type of components on the substrate, the plurality of components are mounted at appropriate positions in the plurality of solder placement regions of the substrate based on the solder thickness information and the connection portion height information. a first mode that is, a solder thickness information, based on the connection section height information, and a second mode in which parts to be held in the mounting portion are successively mounted on the plurality of solder arrangement areas of possible mounting board It is configured to be selectable. With this configuration, in the first mode in which a plurality of components are mounted at appropriate positions in a plurality of solder placement regions of the substrate, it is possible to effectively suppress the occurrence of defective bonding between the connection portions of the components and the solder. Can do. In addition, in the second mode in which a plurality of solder placement areas on a board on which a component can be mounted is identified and sequentially mounted, the components are sequentially mounted at a position where they can be mounted. The cycle time can be shortened compared to the case of mounting after.

この発明の第2の局面における部品実装システムは、基板に部品を実装する実装部を含む部品実装装置と、基板の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、複数の半田配置領域に対応する部品の複数の接続部の接続部高さ情報とに基づいて、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断する制御部とを備え、制御部は、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、基板の半田と、対応する部品の接続部との隙間を算出して、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断するとともに、複数の半田配置領域を含む一の搭載点への部品の実装が否である場合に、複数の半田配置領域を含む他の搭載点への部品の実装の可否を判断するように構成されている。 A component mounting system according to a second aspect of the present invention includes a component mounting apparatus including a mounting portion for mounting a component on a board, solder thickness information of a plurality of solder placement areas of the board, and a component corresponding to the plurality of solder placement areas. And a control unit that determines whether or not a component can be mounted on a plurality of solder placement regions of the board based on the connection part height information of the plurality of connection parts. Based on the height information, the gap between the solder of the board and the connection part of the corresponding part is calculated, and it is judged whether or not the component can be mounted on the plurality of solder placement areas of the board. when mounting of components on one mounting points including a region is negative, that is configured to determine whether the component mounting to other mounting points including a plurality of solder placement area.

この発明の第2の局面による部品実装システムでは、上記のように、基板の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、複数の半田配置領域に対応する部品の複数の接続部の接続部高さ情報とに基づいて、基板の複数の半田配置領域への部品の実装の可否を判断する制御部を設ける。これにより、半田配置領域の半田厚みと、対応する接続部の高さとの相性を加味して、複数の接続部を有する部品の実装の可否を判断することができる。たとえば、基板の複数の半田の凹凸と、部品の複数の接続部の凹凸との対応する隙間の大きさに基づいて、複数の接続部を有する部品の実装の可否を判断することができる。これにより、基板の半田厚み、および、部品の複数の接続部の高さに基づいて、基板上に部品を実装可能か否かをそれぞれ判断する場合と比べて、個々の基準を厳格にしなくても、部品実装の質を担保することができる。その結果、複数の接続部を有する部品を実装する場合に、廃棄される基板および部品が増加するのを抑制することができる。これにより、歩留りを向上させることができる。また、基板上に部品を実装可能か否かを精度よく判断することができるので、部品の接続部と半田との接合不良の発生を抑制することができる。   In the component mounting system according to the second aspect of the present invention, as described above, the solder thickness information of the plurality of solder placement regions of the substrate and the connection portion height of the plurality of connection portions of the component corresponding to the plurality of solder placement regions. Based on the information, a control unit is provided for determining whether or not components can be mounted on a plurality of solder placement regions of the board. Accordingly, it is possible to determine whether or not a component having a plurality of connection portions can be mounted in consideration of the compatibility between the solder thickness in the solder placement region and the height of the corresponding connection portion. For example, whether or not a component having a plurality of connection portions can be mounted can be determined based on the size of a gap corresponding to the unevenness of a plurality of solders on the substrate and the unevenness of a plurality of connection portions of the component. As a result, the individual standards must be stricter than when determining whether or not a component can be mounted on the substrate based on the solder thickness of the substrate and the height of the plurality of connecting portions of the component. Even the quality of component mounting can be ensured. As a result, when mounting a component having a plurality of connection portions, it is possible to suppress an increase in the number of discarded boards and components. Thereby, a yield can be improved. In addition, since it is possible to accurately determine whether or not a component can be mounted on the substrate, it is possible to suppress the occurrence of defective bonding between the connection portion of the component and the solder.

本発明によれば、上記のように、複数の接続部を有する部品を実装する場合に、廃棄される基板および部品が増加するのを抑制することができる。   According to the present invention, as described above, it is possible to suppress an increase in the number of discarded boards and components when mounting a component having a plurality of connection portions.

本発明の一実施形態による部品実装システムの全体構成を概略的に示した図である。1 is a diagram schematically showing an overall configuration of a component mounting system according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態による部品実装システムの部品実装装置を概略的に示した図である。It is the figure which showed roughly the component mounting apparatus of the component mounting system by one Embodiment of this invention. 基板の半田厚みを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the solder thickness of a board | substrate. 部品の複数のリードの高さを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the height of the some lead | read | reed of components. 基板の半田と部品のリードとの隙間を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the clearance gap between the solder of a board | substrate, and the lead of components. 本発明の一実施形態による部品実装システムにおいて、基板に複数の同種の部品を実装する場合を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the case where several same kind components are mounted in a board | substrate in the component mounting system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による部品実装システムによる接続部毎の隙間の計算処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the calculation process of the clearance gap for every connection part by the component mounting system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による部品実装システムによる接続部毎の隙間の計算処理を説明するための基板および部品の図である。It is a figure of the board | substrate and components for demonstrating the calculation process of the clearance gap for every connection part by the component mounting system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による部品実装システムによる部品の搭載処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the mounting process of the components by the component mounting system by one Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1を参照して、本発明の一実施形態による部品実装システム100の構成について説明する。   With reference to FIG. 1, the structure of the component mounting system 100 by one Embodiment of this invention is demonstrated.

(部品実装システムの構成)
本実施形態による部品実装システム100は、基板10に部品431および432を実装して、部品431および432が実装された基板10を製造するように構成されている。部品実装システム100は、図1に示すように、制御装置1と、印刷機2と、検査装置3と、実装装置4(4a、4b、4c)とを備えている。部品実装装置4(4a、4b、4c)は、基板製造ラインに沿って複数設けられている。なお、制御装置1は、特許請求の範囲の「外部記憶装置」の一例である。
(Configuration of component mounting system)
The component mounting system 100 according to the present embodiment is configured to mount the components 431 and 432 on the substrate 10 and manufacture the substrate 10 on which the components 431 and 432 are mounted. As shown in FIG. 1, the component mounting system 100 includes a control device 1, a printing machine 2, an inspection device 3, and mounting devices 4 (4a, 4b, 4c). A plurality of component mounting apparatuses 4 (4a, 4b, 4c) are provided along the board production line. The control device 1 is an example of the “external storage device” in the claims.

また、部品実装システム100では、基板製造ラインに沿って上流側(左側)から下流側(右側)に向かって基板10が搬送されるように構成されている。また、部品実装システム100を構成する各装置(印刷機2、検査装置3、部品実装装置4)は、各々が制御部を有する自立型の装置であり、各装置の動作は、各々の制御部により個別に制御されている。また、制御装置1は、制御プログラム(生産プログラム)を実行して部品実装システム100全体を統括する役割を有している。つまり、制御装置1と各装置とが生産計画に関する情報を随時送受信することにより、部品実装システム100において部品431および432が実装された基板10の生産が行われるように構成されている。   Further, the component mounting system 100 is configured such that the board 10 is transported from the upstream side (left side) to the downstream side (right side) along the board manufacturing line. Further, each device (printing machine 2, inspection device 3, component mounting device 4) constituting the component mounting system 100 is a self-supporting device having a control unit, and the operation of each device is performed by each control unit. Are controlled individually. The control device 1 has a role of executing the control program (production program) to control the entire component mounting system 100. That is, the control device 1 and each device are configured to perform production of the substrate 10 on which the components 431 and 432 are mounted in the component mounting system 100 by transmitting and receiving information on the production plan as needed.

次に、部品実装システム100を構成する各装置の構成について説明を行う。   Next, the configuration of each device constituting the component mounting system 100 will be described.

制御装置1は、部品実装システム100の各装置を制御するように構成されている。また、制御装置1は、記憶部1aを備えている。また、制御装置1は、たとえば、部品実装システム100を管理する管理パソコンなどである。   The control device 1 is configured to control each device of the component mounting system 100. Moreover, the control apparatus 1 is provided with the memory | storage part 1a. The control device 1 is, for example, a management personal computer that manages the component mounting system 100.

印刷機2は、スクリーン印刷機であり、クリーム半田を基板10の実装面上に塗布する機能を有する。また、印刷機2は、印刷後の基板10を下流の検査装置3に受け渡すように構成されている。具体的には、印刷機2は、基板10を搬送する搬送部と、所定の位置において固定された基板10にクリーム半田の印刷を行う作業部とを備えている。   The printing machine 2 is a screen printing machine and has a function of applying cream solder onto the mounting surface of the substrate 10. The printing machine 2 is configured to deliver the printed substrate 10 to the downstream inspection apparatus 3. Specifically, the printing machine 2 includes a transport unit that transports the substrate 10 and a working unit that prints cream solder on the substrate 10 fixed at a predetermined position.

検査装置3は、可視光により基板10の外観を検査する機能を有する。具体的には、検査装置3は、基板10に印刷された半田11の状態を検査するように構成されている。また、検査装置3は、基板10に印刷された半田11の高さを計測して、半田厚み情報を取得することが可能に構成されている。また、検査装置3は、検査後の基板10を下流の部品実装装置4(4a)に受け渡すように構成されている。   The inspection device 3 has a function of inspecting the appearance of the substrate 10 with visible light. Specifically, the inspection apparatus 3 is configured to inspect the state of the solder 11 printed on the substrate 10. Further, the inspection device 3 is configured to measure the height of the solder 11 printed on the substrate 10 and obtain solder thickness information. The inspection device 3 is configured to deliver the substrate 10 after inspection to the downstream component mounting device 4 (4a).

部品実装装置4は、クリーム半田が印刷された基板10の所定の実装位置に部品を実装(搭載)する機能を有する。なお、部品は、LSI、IC、トランジスタ、コンデンサおよび抵抗器などの小片状の電子部品を含む。また、部品実装装置4(4a〜4c)は、基板10の搬送方向に沿って複数配置されている。複数の部品実装装置4は、基板10の搬送方向上流から、部品実装装置4a、部品実装装置4b、部品実装装置4cの順で配置されている。部品実装装置4a〜4cは、同様の構成を有している。また、部品実装装置4(4a〜4c)は、図2に示すように、基台41と、一対のコンベア42と、部品供給部43と、ヘッドユニット44と、支持部45と、一対のレール部46と、部品認識撮像部47と、制御部48とを備えている。なお、ヘッドユニット44は、特許請求の範囲の「実装部」の一例である。   The component mounting apparatus 4 has a function of mounting (mounting) a component at a predetermined mounting position of the substrate 10 on which cream solder is printed. Note that the components include small pieces of electronic components such as LSIs, ICs, transistors, capacitors, and resistors. A plurality of component mounting apparatuses 4 (4 a to 4 c) are arranged along the conveyance direction of the substrate 10. The plurality of component mounting apparatuses 4 are arranged in the order of the component mounting apparatus 4a, the component mounting apparatus 4b, and the component mounting apparatus 4c from the upstream in the conveyance direction of the substrate 10. The component mounting apparatuses 4a to 4c have the same configuration. As shown in FIG. 2, the component mounting apparatus 4 (4a to 4c) includes a base 41, a pair of conveyors 42, a component supply unit 43, a head unit 44, a support unit 45, and a pair of rails. Unit 46, component recognition imaging unit 47, and control unit 48. The head unit 44 is an example of the “mounting unit” in the claims.

一対のコンベア42は、基台41上に設置され、基板10をX方向に搬送するように構成されている。また、一対のコンベア42は、搬送中の基板10を実装作業位置で停止させた状態で保持するように構成されている。また、一対のコンベア42は、基板10の寸法に合わせてY方向の間隔を調整可能に構成されている。   The pair of conveyors 42 is installed on the base 41 and configured to transport the substrate 10 in the X direction. Further, the pair of conveyors 42 is configured to hold the substrate 10 being transported in a state of being stopped at the mounting work position. The pair of conveyors 42 is configured to be able to adjust the interval in the Y direction according to the dimensions of the substrate 10.

部品供給部43は、一対のコンベア42の外側(Y1側およびY2側)に配置されている。また、部品供給部43には、複数のテープフィーダ43aまたは部品供給トレイ43bが配置されている。   The component supply unit 43 is disposed outside the pair of conveyors 42 (Y1 side and Y2 side). The component supply unit 43 is provided with a plurality of tape feeders 43a or component supply trays 43b.

テープフィーダ43aは、複数の部品431を所定の間隔を隔てて保持したテープが巻き付けられたリール(図示せず)を保持している。テープフィーダ43aは、リールを回転させて部品431を保持するテープを送出することにより、テープフィーダ43aの先端から部品431を供給するように構成されている。部品供給トレイ43bは、大型の部品432を供給するように構成されている。具体的には、部品供給トレイ43bには、部品432が所定の間隔を隔てて配置されている。なお、部品432は、複数のリード432a(接続部)(図4参照)を有する電子部品である。   The tape feeder 43a holds a reel (not shown) on which a tape holding a plurality of components 431 at a predetermined interval is wound. The tape feeder 43a is configured to supply the component 431 from the tip of the tape feeder 43a by feeding a tape that holds the component 431 by rotating the reel. The component supply tray 43 b is configured to supply a large component 432. Specifically, the parts 432 are arranged at a predetermined interval on the parts supply tray 43b. The component 432 is an electronic component having a plurality of leads 432a (connection portions) (see FIG. 4).

ヘッドユニット44は、一対のコンベア42の上方と部品供給部43の上方との間を移動するように設けられており、ノズルが下端に取り付けられた複数(5つ)の実装ヘッド441と、基板認識カメラ442と、撮像ユニット443とを含んでいる。   The head unit 44 is provided so as to move between the pair of conveyors 42 and the component supply unit 43, and a plurality (five) of mounting heads 441 having nozzles attached to the lower end, a board, A recognition camera 442 and an imaging unit 443 are included.

実装ヘッド441は、昇降可能(Z方向に移動可能)に構成され、負圧発生機(図示せず)によりノズルの先端部に発生された負圧によって、テープフィーダ43aまたは部品供給トレイ43bから供給される部品(部品431または部品432)を吸着して保持し、基板10における実装位置に部品を装着(実装)するように構成されている。   The mounting head 441 is configured to be movable up and down (movable in the Z direction), and is supplied from the tape feeder 43a or the component supply tray 43b by the negative pressure generated at the tip of the nozzle by a negative pressure generator (not shown). The component (component 431 or the component 432) to be held is sucked and held, and the component is mounted (mounted) at the mounting position on the substrate 10.

基板認識カメラ442は、基板10の位置および姿勢を認識するために、基板10のフィデューシャルマークFを撮像するように構成されている。そして、フィデューシャルマークFの位置を撮像して認識することにより、基板10における部品(部品431および432)の実装位置を正確に取得することが可能である。   The substrate recognition camera 442 is configured to image the fiducial mark F of the substrate 10 in order to recognize the position and posture of the substrate 10. Then, by imaging and recognizing the position of the fiducial mark F, it is possible to accurately acquire the mounting position of the components (components 431 and 432) on the substrate 10.

撮像ユニット443は、ヘッドユニット44に取り付けられている。これにより、撮像ユニット443は、ヘッドユニット44がXY方向に移動することにより、ヘッドユニット44と共にXY方向に移動するように構成されている。また、撮像ユニット443は、基板10の実装位置を複数の方向(角度)から撮像することが可能である。たとえば、撮像ユニット443は、ステレオカメラを含む。また、撮像ユニット443は、撮像により基板10の実装位置の高さを測定することが可能に構成されている。また、撮像ユニット443は、基板10に印刷された半田11の高さを計測して、半田厚み情報を取得することが可能に構成されている。   The imaging unit 443 is attached to the head unit 44. As a result, the imaging unit 443 is configured to move in the XY direction together with the head unit 44 when the head unit 44 moves in the XY direction. Further, the imaging unit 443 can image the mounting position of the substrate 10 from a plurality of directions (angles). For example, the imaging unit 443 includes a stereo camera. The imaging unit 443 is configured to be able to measure the height of the mounting position of the substrate 10 by imaging. Further, the imaging unit 443 is configured to measure the height of the solder 11 printed on the substrate 10 and acquire solder thickness information.

具体的には、図3に示すように、撮像ユニット443は、基板10の実装位置12の複数の半田配置領域の半田11の厚み(高さ)(ha1〜ha12)を測定可能に構成されている。半田11の厚み(ha1〜ha12)は、時間経過による半田粘度の変化や、半田品種、印刷機2のマスク開口部方向とスキージ移動方向などにより、それぞれ異なる場合がある。   Specifically, as shown in FIG. 3, the imaging unit 443 is configured to be able to measure the thickness (height) (ha1 to ha12) of the solder 11 in a plurality of solder arrangement regions at the mounting position 12 of the substrate 10. Yes. The thickness (ha1 to ha12) of the solder 11 may be different depending on changes in the solder viscosity over time, the solder type, the mask opening direction of the printing machine 2 and the squeegee movement direction, and the like.

図2に示すように、支持部45は、モータ451を含んでいる。支持部45は、モータ451を駆動させることにより、支持部45に沿ってヘッドユニット44をX方向に移動させるように構成されている。支持部45は、両端部が一対のレール部46により支持されている。   As shown in FIG. 2, the support portion 45 includes a motor 451. The support unit 45 is configured to move the head unit 44 in the X direction along the support unit 45 by driving a motor 451. Both ends of the support portion 45 are supported by a pair of rail portions 46.

一対のレール部46は、基台41上に固定されている。X1側のレール部46は、モータ461を含んでいる。レール部46は、モータ461を駆動させることにより、支持部45を一対のレール部46に沿ってX方向と直交するY方向に移動させるように構成されている。ヘッドユニット44が支持部45に沿ってX方向に移動可能であるとともに、支持部45がレール部46に沿ってY方向に移動可能であることによって、ヘッドユニット44はXY方向に移動可能である。   The pair of rail portions 46 are fixed on the base 41. The rail portion 46 on the X1 side includes a motor 461. The rail portion 46 is configured to move the support portion 45 in the Y direction perpendicular to the X direction along the pair of rail portions 46 by driving the motor 461. The head unit 44 is movable in the X direction along the support portion 45, and the support portion 45 is movable in the Y direction along the rail portion 46, whereby the head unit 44 is movable in the XY direction. .

部品認識撮像部47は、基台41の上面上に固定されている。部品認識撮像部47は、一対のコンベア42の外側(Y1側およびY2側)に配置されている。部品認識撮像部47は、部品(部品431および432)の実装に先立って部品の吸着状態(吸着姿勢)を認識するために、実装ヘッド441のノズルに吸着された部品を下側(Z2側)から撮像するように構成されている。これにより、実装ヘッド441のノズルに吸着された部品(部品431および432)の吸着状態を取得することが可能である。また、部品認識撮像部47は、部品432の複数のリード432aの高さを測定して、部品432の接続部高さ情報を取得することが可能に構成されている。具体的には、図4に示すように、部品認識撮像部47は、部品432の複数のリード432aの高さ(hb1〜hb12)を測定可能に構成されている。また、部品認識撮像部47は、部品432を複数の方向(角度)から撮像することが可能である。たとえば、部品認識撮像部47は、ステレオカメラを含む。   The component recognition imaging unit 47 is fixed on the upper surface of the base 41. The component recognition imaging unit 47 is disposed outside the pair of conveyors 42 (Y1 side and Y2 side). The component recognition imaging unit 47 lowers (Z2 side) the component sucked by the nozzle of the mounting head 441 in order to recognize the suction state (suction posture) of the component prior to mounting of the components (components 431 and 432). It is comprised so that it may image from. Thereby, it is possible to acquire the suction state of the parts (parts 431 and 432) sucked by the nozzles of the mounting head 441. In addition, the component recognition imaging unit 47 is configured to be able to measure the heights of the plurality of leads 432a of the component 432 and acquire the connection portion height information of the component 432. Specifically, as illustrated in FIG. 4, the component recognition imaging unit 47 is configured to be able to measure the heights (hb1 to hb12) of the plurality of leads 432a of the component 432. The component recognition imaging unit 47 can image the component 432 from a plurality of directions (angles). For example, the component recognition imaging unit 47 includes a stereo camera.

制御部48は、CPUを含んでおり、一対のコンベア2による基板10の搬送動作、ヘッドユニット44による実装動作、部品認識撮像部47や撮像ユニット443による撮像動作などの部品実装装置4の全体の動作を制御するように構成されている。   The control unit 48 includes a CPU and controls the entire component mounting apparatus 4 such as a transport operation of the substrate 10 by the pair of conveyors 2, a mounting operation by the head unit 44, and an imaging operation by the component recognition imaging unit 47 and the imaging unit 443. It is configured to control the operation.

ここで、本実施形態では、制御部48は、基板10の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、複数の半田配置領域に対応する部品432の複数のリード432aの接続部高さ情報とに基づいて、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を判断するように構成されている。   Here, in the present embodiment, the control unit 48 converts the solder thickness information of the plurality of solder placement regions of the substrate 10 and the connection portion height information of the plurality of leads 432a of the component 432 corresponding to the plurality of solder placement regions. Based on this, it is configured to determine whether or not the component 432 can be mounted on a plurality of solder placement regions of the substrate 10.

具体的には、図5に示すように、制御部48は、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、部品432の複数のリード432aのうちの一部を対応する半田11に接触させた場合の、基板10の他の半田11と、対応する部品432のリード432aとの隙間(d1〜d5)を算出して、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を判断するように構成されている。   Specifically, as shown in FIG. 5, the control unit 48 transfers a part of the plurality of leads 432 a of the component 432 to the corresponding solder 11 based on the solder thickness information and the connection portion height information. When the contact is made, the gaps (d1 to d5) between the other solder 11 of the substrate 10 and the leads 432a of the corresponding component 432 are calculated, and the mounting of the component 432 in a plurality of solder placement regions of the substrate 10 is performed. It is configured to determine whether it is possible.

また、制御部48は、算出した基板10の半田11と部品432の対応するリード432aとの隙間が、全てのリード432aについてしきい値以下であれば、部品432が基板10の複数の半田配置領域へ実装可能であると判断するように構成されている。なお、しきい値は、部品432を半田11に対して押し込んで実装(搭載)した場合に、リード432aが半田11と接合可能となるような値に設定されている。また、制御部48は、算出した基板10の半田11と部品432の対応するリード432aとの隙間が、一部または全てのリード432aについてしきい値より大きければ、部品432が基板10の複数の半田配置領域へ実装可能でないと判断するように構成されている。   Further, if the calculated gap between the solder 11 of the substrate 10 and the corresponding lead 432a of the component 432 is equal to or less than the threshold value for all the leads 432a, the control unit 48 places the plurality of solder placements on the substrate 10 on the component 432. It is configured to determine that the area can be mounted. Note that the threshold value is set to such a value that the lead 432a can be joined to the solder 11 when the component 432 is pressed (mounted) onto the solder 11. If the calculated gap between the solder 11 of the substrate 10 and the corresponding lead 432a of the component 432 is larger than the threshold value for some or all of the leads 432a, the control unit 48 determines that the component 432 is a plurality of the plurality of substrates 10. It is configured to determine that mounting on the solder placement area is not possible.

また、本実施形態では、接続部高さ情報は、部品432の複数のリード432aの平坦度情報を含む。平坦度(コプラナリティ)情報は、部品432の複数のリード432aがある平面に対して、それぞれどの程度ズレているかを示す情報である。なお、平坦度情報を含む接続部高さ情報は、部品実装装置4または外部装置により事前に測定されるように構成されている。たとえば、部品実装装置4により接続部高さ情報を事前に測定する場合は、部品実装装置4に基板10を搬入・搬出する時、基板10の搬送待ちの時に、行われる。また、事前に接続部高さ情報が測定された部品432は、測定結果が紐付された状態で、部品供給トレイ43bの所定の位置に載置される。   In the present embodiment, the connection portion height information includes flatness information of the plurality of leads 432a of the component 432. The flatness (coplanarity) information is information indicating how much each of the leads 432a of the component 432 is displaced from a plane. The connection part height information including the flatness information is configured to be measured in advance by the component mounting apparatus 4 or an external apparatus. For example, when connecting part height information is measured in advance by the component mounting apparatus 4, it is performed when the board 10 is carried in and out of the component mounting apparatus 4 or when the board 10 is waiting to be transported. In addition, the component 432 whose connection portion height information has been measured in advance is placed at a predetermined position on the component supply tray 43b in a state where the measurement result is linked.

また、半田厚み情報は、部品実装装置4または外部装置により事前に測定されるように構成されている。たとえば、外部装置により半田厚み情報を事前に測定する場合は、印刷機2により半田11が印刷された後の検査装置3により行われる。また、半田厚み情報は、外部の制御装置1に記憶されるか、または、上流の部品実装装置4(4aまたは4b)から下流の部品実装装置4(4bまたは4c)へ転送されるように構成されている。つまり、半田厚み情報が上流側の装置により取得された場合、外部の制御装置1の記憶部1aに記憶されるか、または、基板10の搬送とともに、下流の装置に転送されるように構成されている。   The solder thickness information is configured to be measured in advance by the component mounting apparatus 4 or an external apparatus. For example, when the solder thickness information is measured in advance by an external device, it is performed by the inspection device 3 after the solder 11 is printed by the printing machine 2. Also, the solder thickness information is stored in the external control device 1 or transferred from the upstream component mounting device 4 (4a or 4b) to the downstream component mounting device 4 (4b or 4c). Has been. That is, when the solder thickness information is acquired by the upstream device, the solder thickness information is stored in the storage unit 1a of the external control device 1 or transferred to the downstream device as the substrate 10 is transported. ing.

また、本実施形態では、部品実装装置4は、基板10に複数の同種の部品432を実装する場合、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、複数の部品432を基板10の複数の半田配置領域のそれぞれ適する位置に実装する第1モードと、部品432を実装可能な基板10の複数の半田配置領域を識別して順次実装する第2モードとを選択可能に構成されている。具体的には、図6に示すように、基板10に複数の同種の部品432を実装する実装位置12がある場合、第1モードでは、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、複数の部品432が基板10の複数の実装位置12のそれぞれ最適な位置に実装(搭載)される。また、第2モードでは、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、ヘッドユニット44に保持される部品432が実装可能な実装位置12に順次実装(搭載)される。   In this embodiment, when mounting a plurality of the same type of components 432 on the substrate 10, the component mounting apparatus 4 attaches the plurality of components 432 to the substrate 10 based on the solder thickness information and the connection portion height information. A first mode for mounting at a suitable position in each of the plurality of solder placement areas and a second mode for identifying and sequentially mounting the plurality of solder placement areas on the substrate 10 on which the component 432 can be mounted can be selected. . Specifically, as shown in FIG. 6, when there is a mounting position 12 where a plurality of similar components 432 are mounted on the substrate 10, in the first mode, based on the solder thickness information and the connection portion height information. The plurality of components 432 are mounted (mounted) at the optimum positions of the plurality of mounting positions 12 on the substrate 10. In the second mode, the components 432 held by the head unit 44 are sequentially mounted (mounted) on the mounting position 12 where the components 432 held by the head unit 44 can be mounted based on the solder thickness information and the connection portion height information.

(接続部毎の隙間の計算処理)
次に、図7および図8を参照して、本実施形態の部品実装装置4の制御部48による接続部毎の隙間の計算処理について説明する。
(Calculation process for gaps at each connection)
Next, with reference to FIG. 7 and FIG. 8, the calculation process of the clearance for each connection part by the control part 48 of the component mounting apparatus 4 of this embodiment is demonstrated.

ステップS1において、基板10に部品432が実装される実装領域12の複数の半田11(図3参照)のうち、最も厚い(高い)ものから順に3点抽出される。ステップS2において、抽出された3点の半田11の先端を通る半田側の面が算出される。   In step S1, three points are extracted in order from the thickest (highest) solder among the plurality of solders 11 (see FIG. 3) in the mounting region 12 where the component 432 is mounted on the substrate 10. In step S2, a solder side surface passing through the tips of the three extracted solders 11 is calculated.

ステップS3において、図8に示すように、算出された半田側の面に対して各半田11の凹凸量が算出される。つまり、抽出された3点以外の半田11と、半田側の面との差が算出される。この場合、半田11が半田側の面より下にある場合、負の値となり、半田11が半田側の面より上にある場合、正の値となる。   In step S3, as shown in FIG. 8, the unevenness amount of each solder 11 is calculated with respect to the calculated solder side surface. That is, the difference between the solder 11 other than the extracted three points and the solder side surface is calculated. In this case, a negative value is obtained when the solder 11 is below the solder side surface, and a positive value is obtained when the solder 11 is above the solder side surface.

図7のステップS4において、半田側の面の算出に使用された3点の半田11に対応する点を使用して部品側の面が算出される。つまり、半田側の面に用いられた半田11に対応する部品432のリード432a(接続部)の先端を通る部品側の面が算出される。   In step S4 of FIG. 7, the component-side surface is calculated using points corresponding to the three solders 11 used to calculate the solder-side surface. That is, the component side surface passing through the tip of the lead 432a (connection portion) of the component 432 corresponding to the solder 11 used for the solder side surface is calculated.

ステップS5において、図8に示すように、算出された部品側の面に対して各リード432aの凹凸量が算出される。つまり、部品側の面を算出するために用いられた3点以外のリード432aと、部品側の面との差が算出される。この場合、リード432aが部品側の面より下にある場合、負の値となり、リード432aが部品側の面より上にある場合、正の値となる。   In step S5, as shown in FIG. 8, the unevenness amount of each lead 432a is calculated with respect to the calculated component side surface. That is, the difference between the lead 432a other than the three points used for calculating the component-side surface and the component-side surface is calculated. In this case, a negative value is obtained when the lead 432a is below the component side surface, and a positive value is obtained when the lead 432a is above the component side surface.

図7のステップS6において、接続部(リード432a)毎の隙間が算出される。なお、接続部の隙間は、部品側のリード432aの凹凸量から対応する半田側の凹凸量が引かれることにより算出される。値が正であれば、隙間があることを示している。一方、値が負であれば、半田11にリード432aがめり込むことを示している。   In step S6 of FIG. 7, a gap for each connection portion (lead 432a) is calculated. The gap between the connecting portions is calculated by subtracting the corresponding unevenness on the solder side from the unevenness on the component side lead 432a. A positive value indicates that there is a gap. On the other hand, if the value is negative, it indicates that the lead 432a is embedded in the solder 11.

ステップS7において、全ての隙間が0以上か否かが判断される。全ての隙間が0以上であれば、接続部毎の隙間の計算処理が終了される。一方、一部の隙間が0未満である場合、ステップS8に進む。ステップS8において、隙間が小さい方から抽出する3点を選び直す。そして、ステップS2に戻る。その後、全ての隙間が0以上となるまで、ステップS2〜S8の処理が繰り返される。   In step S7, it is determined whether all the gaps are 0 or more. If all the gaps are equal to or greater than 0, the gap calculation process for each connection portion is terminated. On the other hand, if some of the gaps are less than 0, the process proceeds to step S8. In step S8, the three points to be extracted are selected again from the one with the smaller gap. Then, the process returns to step S2. Thereafter, the processes in steps S2 to S8 are repeated until all the gaps become 0 or more.

(部品搭載処理)
次に、図9を参照して、本実施形態の部品実装装置4の制御部48による部品搭載処理について説明する。
(Parts mounting process)
Next, with reference to FIG. 9, the component mounting process by the control part 48 of the component mounting apparatus 4 of this embodiment is demonstrated.

ステップS11において、注目搭載点(実装領域12)の半田厚み情報が取得される。ステップS12において、コプラナリティ情報(平坦度情報)が取得された部品432があるか否かが判断される。部品432があれば、ステップS13に進み、部品432がなければ、ステップS17に進む。   In step S11, the solder thickness information of the target mounting point (mounting region 12) is acquired. In step S12, it is determined whether or not there is a component 432 from which coplanarity information (flatness information) has been acquired. If there is a component 432, the process proceeds to step S13, and if there is no component 432, the process proceeds to step S17.

ステップS13において、注目部品(平坦度情報が取得された部品432)が注目搭載点(実装領域12)に搭載可能か否かが判断される。具体的には、基板10の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、対応する部品432の複数のリード432aの接続部高さ情報とに基づいて、基板10への部品432の実装の可否が判断される。搭載可能であれば、ステップS14に進み、搭載可能でなければ、ステップS25に進む。ステップS14において、ヘッドユニット44により部品432が吸着される。また、吸着された部品432の位置決め認識が行われ、基板10に部品432が搭載(実装)される。   In step S13, it is determined whether or not the target component (component 432 for which flatness information has been acquired) can be mounted on the target mounting point (mounting region 12). Specifically, whether or not the component 432 can be mounted on the substrate 10 is determined based on the solder thickness information of the plurality of solder placement regions of the substrate 10 and the connection portion height information of the plurality of leads 432a of the corresponding component 432. To be judged. If it can be mounted, the process proceeds to step S14, and if it cannot be mounted, the process proceeds to step S25. In step S <b> 14, the component 432 is sucked by the head unit 44. Further, positioning recognition of the sucked component 432 is performed, and the component 432 is mounted (mounted) on the substrate 10.

ステップS15において、次の搭載点があるか否かが判断される。次の搭載点があれば、ステップS16に進み、次の搭載点がなければ、部品搭載処理が終了される。ステップS16において、次の注目搭載点(実装領域12)が設定された後、ステップS11に戻る。   In step S15, it is determined whether there is a next mounting point. If there is a next mounting point, the process proceeds to step S16. If there is no next mounting point, the component mounting process is terminated. In step S16, after the next target mounting point (mounting area 12) is set, the process returns to step S11.

ステップS12においてコプラナリティ情報が取得された部品432がないと判断された場合、ステップS17において、次の吸着位置の部品432が吸着される。また、吸着された部品432の位置決め認識が行われる。また、吸着された部品432のコプラナリティ情報(平坦度情報)が取得される。   If it is determined in step S12 that there is no part 432 for which coplanarity information has been acquired, the part 432 at the next suction position is picked up in step S17. Further, positioning recognition of the sucked part 432 is performed. Further, coplanarity information (flatness information) of the sucked part 432 is acquired.

ステップS18において、吸着された部品432のコプラナリティ(平坦度)がしきい値以下であるか否かが判断される。つまり、部品432のリード432aの凹凸のバラツキが大きいか否かが判断される。コプラナリティがしきい値以下であれば、ステップS20に進み、コプラナリティがしきい値より大きければ、ステップS19に進む。ステップS19において、コプラナリティがしきい値より大きい部品432が廃棄される。その後ステップS17に戻る。   In step S18, it is determined whether or not the coplanarity (flatness) of the sucked part 432 is equal to or less than a threshold value. That is, it is determined whether or not the unevenness of the unevenness of the lead 432a of the component 432 is large. If the coplanarity is less than or equal to the threshold value, the process proceeds to step S20, and if the coplanarity is greater than the threshold value, the process proceeds to step S19. In step S19, the part 432 whose coplanarity is larger than the threshold value is discarded. Thereafter, the process returns to step S17.

ステップS20において、吸着されている部品432が注目搭載点(実装領域12)に搭載可能か否かが判断される。具体的には、基板10の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、対応する部品432の複数のリード432aの接続部高さ情報とに基づいて、基板10への部品432の実装の可否が判断される。搭載可能であれば、ステップS21に進み、搭載可能でなければ、ステップS22に進む。ステップS21において、基板10に部品432が搭載(実装)される。その後、ステップS15に進む。   In step S20, it is determined whether or not the sucked component 432 can be mounted on the target mounting point (mounting region 12). Specifically, whether or not the component 432 can be mounted on the substrate 10 is determined based on the solder thickness information of the plurality of solder placement regions of the substrate 10 and the connection portion height information of the plurality of leads 432a of the corresponding component 432. To be judged. If it can be mounted, the process proceeds to step S21, and if it cannot be mounted, the process proceeds to step S22. In step S <b> 21, the component 432 is mounted (mounted) on the substrate 10. Thereafter, the process proceeds to step S15.

ステップS22において、搭載可能な別の搭載点があるか否かが判断される。つまり、部品432の複数のリード432aの接続部高さ情報と、基板10の他の対応する実装領域12の半田厚み情報とに基づいて、基板10の他の搭載点(実装領域12)への部品432の実装の可否が判断される。別の搭載点があれば、ステップS23に進み、別の搭載点がなければ、ステップS24に進む。   In step S22, it is determined whether there is another mounting point that can be mounted. That is, based on the connection portion height information of the plurality of leads 432a of the component 432 and the solder thickness information of the other corresponding mounting region 12 of the substrate 10, the mounting point (mounting region 12) to the other mounting point of the substrate 10 is determined. Whether the component 432 can be mounted is determined. If there is another mounting point, the process proceeds to step S23, and if there is no other mounting point, the process proceeds to step S24.

ステップS23において、吸着された部品432が実装可能な別の搭載点(実装領域12)に搭載(実装)される。その後、ステップS11に戻る。ステップS24において、吸着された部品432がコプラナリティ情報(平坦度情報)の取得済み部品としてストックされる。その後、ステップS11に戻る。   In step S23, the sucked component 432 is mounted (mounted) at another mounting point (mounting region 12) where mounting is possible. Then, it returns to step S11. In step S24, the sucked part 432 is stocked as a part for which coplanarity information (flatness information) has been acquired. Then, it returns to step S11.

ステップS13において注目部品が搭載可能でないと判断された場合、ステップS25において、コプラナリティ情報(平坦度情報)が取得された部品432があるか否かが判断される。部品432があれば、ステップS26に進み、部品432がなければ、ステップS17に進む。ステップS26において、次の注目部品が設定された後、ステップS13に戻る。   If it is determined in step S13 that the target component cannot be mounted, it is determined in step S25 whether there is a component 432 for which coplanarity information (flatness information) has been acquired. If there is a component 432, the process proceeds to step S26, and if there is no component 432, the process proceeds to step S17. In step S26, after the next target part is set, the process returns to step S13.

(実施形態の効果)
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of embodiment)
In the present embodiment, the following effects can be obtained.

本実施形態では、上記のように、基板10の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、複数の半田配置領域に対応する部品432の複数のリード432aの接続部高さ情報とに基づいて、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を判断する制御部48を設ける。これにより、半田配置領域の半田厚みと、対応するリード432aの高さとの相性を加味して、複数のリード432aを有する部品432の実装の可否を判断することができる。すなわち、基板10の複数の半田11の凹凸と、部品432の複数のリード432aの凹凸との対応する隙間の大きさに基づいて、複数のリード432aを有する部品432の実装の可否を判断することができる。これにより、基板10の半田厚み、および、部品432の複数のリード432aの高さに基づいて、基板10上に部品432を実装可能か否かをそれぞれ判断する場合と比べて、個々の基準を厳格にしなくても、部品実装の質を担保することができる。その結果、複数のリード432aを有する部品432を実装する場合に、廃棄される基板10および部品432が増加するのを抑制することができる。これにより、歩留りを向上させることができる。また、基板10上に部品432を実装可能か否かを精度よく判断することができるので、部品432のリード432aと半田11との接合不良の発生を抑制することができる。   In the present embodiment, as described above, based on the solder thickness information of the plurality of solder placement regions of the substrate 10 and the connection portion height information of the plurality of leads 432a of the component 432 corresponding to the plurality of solder placement regions, A control unit 48 for determining whether or not the component 432 can be mounted on a plurality of solder placement regions of the substrate 10 is provided. Accordingly, it is possible to determine whether or not the component 432 having the plurality of leads 432a can be mounted in consideration of the compatibility between the solder thickness in the solder placement region and the height of the corresponding lead 432a. That is, whether or not the component 432 having the plurality of leads 432a can be mounted is determined based on the size of the corresponding gap between the unevenness of the plurality of solders 11 on the substrate 10 and the unevenness of the plurality of leads 432a of the component 432. Can do. As a result, each criterion is compared with the case where it is determined whether or not the component 432 can be mounted on the substrate 10 based on the solder thickness of the substrate 10 and the height of the plurality of leads 432a of the component 432. Even if it is not strict, the quality of component mounting can be guaranteed. As a result, when the component 432 having the plurality of leads 432a is mounted, it is possible to suppress an increase in the number of discarded substrates 10 and components 432. Thereby, a yield can be improved. In addition, since it is possible to accurately determine whether or not the component 432 can be mounted on the substrate 10, it is possible to suppress the occurrence of bonding failure between the lead 432 a of the component 432 and the solder 11.

また、本実施形態では、制御部48を、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、部品432の複数のリード432aのうちの一部を対応する半田11に接触させた場合の、基板10の他の半田11と、対応する部品432のリード432aとの隙間を算出して、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を判断するように構成する。これにより、部品432の複数のリード432aのうちの一部を対応する半田11に接触させた場合の、基板10の他の半田11と、対応する部品432のリード432aとの隙間に基づいて、複数のリード432aを有する部品432の実装の可否を精度よく判断することができる。   Further, in the present embodiment, the control unit 48 makes a case where a part of the plurality of leads 432a of the component 432 is brought into contact with the corresponding solder 11 based on the solder thickness information and the connection portion height information. The gap between the other solder 11 of the substrate 10 and the lead 432a of the corresponding component 432 is calculated to determine whether or not the component 432 can be mounted in a plurality of solder placement regions of the substrate 10. Thereby, when a part of the plurality of leads 432a of the component 432 is brought into contact with the corresponding solder 11, based on the gap between the other solder 11 of the substrate 10 and the lead 432a of the corresponding component 432, Whether or not the component 432 having the plurality of leads 432a can be mounted can be accurately determined.

また、本実施形態では、制御部48を、算出した基板10の半田11と部品432の対応するリード432aとの隙間が、全てのリード432aについてしきい値以下であれば、部品432が基板10の複数の半田配置領域へ実装可能であると判断し、算出した基板10の半田11と部品432の対応するリード432aとの隙間が、一部または全てのリード432aについてしきい値より大きければ、部品432が基板10の複数の半田配置領域へ実装可能でないと判断するように構成する。これにより、算出した基板10の半田11と部品432の対応するリード432aとの隙間が、一部または全てのリード432aについてしきい値より大きい場合にだけ、部品432が基板10の複数の半田配置領域へ実装可能でないと判断される。その結果、部品432の複数のリード432aの高さに基づいて、基板10上に部品432を実装可能か否かをそれぞれ判断する場合と比べて、廃棄される基板10および部品432が増加するのを効果的に抑制することができる。   In the present embodiment, the control unit 48 causes the component 432 to be mounted on the substrate 10 if the calculated gap between the solder 11 of the substrate 10 and the corresponding lead 432a of the component 432 is equal to or less than the threshold value for all the leads 432a. If the calculated gap between the solder 11 of the substrate 10 and the corresponding lead 432a of the component 432 is larger than the threshold value for some or all of the leads 432a, The configuration is such that it is determined that the component 432 cannot be mounted on a plurality of solder placement regions of the substrate 10. As a result, the component 432 has a plurality of solder arrangements on the substrate 10 only when the calculated gap between the solder 11 of the substrate 10 and the corresponding lead 432a of the component 432 is larger than the threshold value for some or all of the leads 432a. It is determined that it cannot be mounted in the area. As a result, the number of discarded substrates 10 and components 432 increases compared to the case where it is determined whether or not the components 432 can be mounted on the substrate 10 based on the heights of the plurality of leads 432a of the components 432, respectively. Can be effectively suppressed.

また、本実施形態では、接続部高さ情報は、部品432の複数のリード432aの平坦度情報を含む。これにより、リード432aの数が多くなった場合でも、部品432の複数のリード432aの平坦度情報に基づいて、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を容易に判断することができる。   In the present embodiment, the connection portion height information includes flatness information of the plurality of leads 432a of the component 432. Thereby, even when the number of leads 432a increases, it is easily determined whether or not the component 432 can be mounted on the plurality of solder placement regions of the substrate 10 based on the flatness information of the plurality of leads 432a of the component 432. be able to.

また、本実施形態では、半田厚み情報は、外部の制御装置1に記憶されるか、または、上流の部品実装装置4(4aまたは4b)から下流の部品実装装置4(4bまたは4c)へ転送されるように構成する。これにより、半田厚み情報を外部の制御装置1に記憶させた場合、下流側の部品実装装置4において、外部の制御装置1に記憶された半田厚み情報を用いて、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を容易に判断することができる。また、半田厚み情報を上流の部品実装装置4から下流の部品実装装置4へ転送させた場合、基板10の搬送とともに、半田厚み情報を下流側の部品実装装置4に移転させることができるので、下流側の部品実装装置4において、基板10の複数の半田配置領域への部品432の実装の可否を容易に判断することができる。   In the present embodiment, the solder thickness information is stored in the external control device 1 or transferred from the upstream component mounting device 4 (4a or 4b) to the downstream component mounting device 4 (4b or 4c). To be configured. Accordingly, when the solder thickness information is stored in the external control device 1, the plurality of solder arrangements on the substrate 10 are used in the component mounting device 4 on the downstream side by using the solder thickness information stored in the external control device 1. Whether or not the component 432 can be mounted in the region can be easily determined. Further, when the solder thickness information is transferred from the upstream component mounting apparatus 4 to the downstream component mounting apparatus 4, the solder thickness information can be transferred to the downstream component mounting apparatus 4 along with the conveyance of the substrate 10. In the component mounting apparatus 4 on the downstream side, it is possible to easily determine whether or not the component 432 can be mounted on a plurality of solder placement regions of the substrate 10.

また、本実施形態では、半田厚み情報、および、接続部高さ情報が、部品実装装置4または外部装置により事前に測定されるように構成する。これにより、部品432を実装する際に、半田厚みの測定およびリード432aの高さの測定を行う必要がないので、その分、サイクルタイムを短縮させることができる。   In the present embodiment, the solder thickness information and the connection portion height information are configured to be measured in advance by the component mounting apparatus 4 or an external apparatus. Thereby, when mounting the component 432, it is not necessary to measure the thickness of the solder and the height of the lead 432a, so that the cycle time can be shortened accordingly.

また、本実施形態では、基板10に複数の同種の部品432を実装する場合、部品432を実装可能な基板10の複数の半田配置領域を識別して順次実装するように構成する。これにより、部品432を実装可能な位置に順次実装するので、ヘッドユニット44が実装可能な部品432を吸着し直してから実装する場合に比べて、サイクルタイムを短縮させることができる。   In the present embodiment, when a plurality of the same type of components 432 are mounted on the substrate 10, a plurality of solder placement regions of the substrate 10 on which the components 432 can be mounted are identified and sequentially mounted. As a result, the components 432 are sequentially mounted at the mountable positions, so that the cycle time can be shortened as compared with the case where the head unit 44 mounts the mountable components 432 again.

また、本実施形態では、基板10に複数の同種の部品432を実装する場合、半田厚み情報と、接続部高さ情報とに基づいて、複数の部品432を基板10の複数の半田配置領域のそれぞれ適する位置に実装する第1モードと、部品432を実装可能な基板10の複数の半田配置領域を識別して順次実装する第2モードとを選択可能に構成する。これにより、複数の部品432を基板10の複数の半田配置領域のそれぞれ適する位置に実装する第1モードの場合、部品432のリード432aと半田11との接合不良の発生を効果的に抑制することができる。また、部品432を実装可能な基板10の複数の半田配置領域を識別して順次実装する第2モードの場合、部品432を実装可能な位置に順次実装するので、ヘッドユニット44が実装可能な部品432を吸着し直してから実装する場合に比べて、サイクルタイムを短縮させることができる。   Further, in the present embodiment, when a plurality of the same kind of components 432 are mounted on the substrate 10, the plurality of components 432 are arranged in a plurality of solder arrangement regions of the substrate 10 based on the solder thickness information and the connection portion height information. A first mode for mounting at appropriate positions and a second mode for identifying and sequentially mounting a plurality of solder placement regions of the substrate 10 on which the component 432 can be mounted can be selected. Thus, in the first mode in which the plurality of components 432 are mounted at appropriate positions in the plurality of solder placement regions of the substrate 10, it is possible to effectively suppress the occurrence of bonding failure between the lead 432 a of the component 432 and the solder 11. Can do. Further, in the second mode in which a plurality of solder placement areas of the substrate 10 on which the component 432 can be mounted is identified and sequentially mounted, the component 432 is sequentially mounted at a position where the component can be mounted. The cycle time can be shortened as compared with the case of mounting after re-adsorbing 432.

(変形例)
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
(Modification)
The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiment but by the scope of claims for patent, and further includes all modifications (modifications) within the meaning and scope equivalent to the scope of claims for patent.

たとえば、上記実施形態では、部品実装装置に設けられた制御部が半田厚み情報と接続部高さ情報とに基づいて、基板への部品の実装の可否を判断する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、部品実装装置の外部に設けられた制御部が半田厚み情報と接続部高さ情報とに基づいて、基板への部品の実装の可否を判断してもよい。たとえば、部品実装システム全体を制御する制御装置1が半田厚み情報と接続部高さ情報とに基づいて、基板への部品の実装の可否を判断してもよい。この場合、制御装置1は、特許請求の範囲の「制御部」の一例である。   For example, in the above embodiment, the control unit provided in the component mounting apparatus shows an example of a configuration that determines whether or not the component can be mounted on the board based on the solder thickness information and the connection portion height information. The present invention is not limited to this. In the present invention, a control unit provided outside the component mounting apparatus may determine whether or not the component can be mounted on the board based on the solder thickness information and the connection portion height information. For example, the control device 1 that controls the entire component mounting system may determine whether or not the component can be mounted on the board based on the solder thickness information and the connection portion height information. In this case, the control device 1 is an example of the “control unit” in the claims.

また、上記実施形態では、部品の接続部がリードである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、部品の接続部がボール状の電極であってもよい。この場合、接続部高さ情報を、部品のボール状の電極の高さを測定することにより取得するようにしてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the example in which the connection part of components is a lead was shown, this invention is not limited to this. In the present invention, the connecting portion of the component may be a ball-shaped electrode. In this case, you may make it acquire connection part height information by measuring the height of the ball-shaped electrode of components.

また、上記実施形態では、部品供給トレイから供給される部品について、半田厚み情報と接続部高さ情報とに基づいて、基板への部品の実装の可否を判断される構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、部品供給トレイ以外から供給される部品が半田厚み情報と接続部高さ情報とに基づいて、基板への部品の実装の可否を判断される構成でもよい。たとえば、テープフィーダから供給される部品が半田厚み情報と接続部高さ情報とに基づいて、基板への部品の実装の可否を判断される構成でもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the component supplied from a component supply tray showed the example of the structure which judges the propriety of mounting of the component on a board | substrate based on solder thickness information and connection part height information, The present invention is not limited to this. In the present invention, the configuration may be such that components supplied from other than the component supply tray are determined as to whether or not the components can be mounted on the board based on the solder thickness information and the connection portion height information. For example, the configuration may be such that the component supplied from the tape feeder determines whether or not the component can be mounted on the board based on the solder thickness information and the connection portion height information.

また、上記実施形態では、印刷機と検査装置とが別個に設けられている構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、印刷機に検査装置の機能を持たせて一体的に構成してもよい。この場合、印刷機により印刷した基板の半田の厚みを印刷機により測定して、半田厚み情報を印刷機により取得してもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the example of the structure by which the printing machine and the test | inspection apparatus were provided separately was shown, this invention is not limited to this. In the present invention, the printing press may have a function of an inspection device and may be configured integrally. In this case, the thickness of the solder on the substrate printed by the printing machine may be measured by the printing machine, and the solder thickness information may be obtained by the printing machine.

また、上記実施形態では、部品実装システムに制御装置が設けられている構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、複数の装置のそれぞれの制御部により基板の実装処理が制御されてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the example of the structure by which the control apparatus was provided in the component mounting system was shown, this invention is not limited to this. In the present invention, the substrate mounting process may be controlled by the respective control units of the plurality of apparatuses.

上記実施形態では、説明の便宜上、制御部の処理動作を処理フローに沿って順番に処理を行うフロー駆動型のフローチャートを用いて説明したが、本発明はこれに限られない。本発明では、制御部の処理動作を、イベント単位で処理を実行するイベント駆動型(イベントドリブン型)の処理により行ってもよい。この場合、完全なイベント駆動型で行ってもよいし、イベント駆動およびフロー駆動を組み合わせて行ってもよい。   In the above embodiment, for convenience of explanation, the processing operation of the control unit has been described using a flow-driven flowchart that performs processing in order along the processing flow, but the present invention is not limited to this. In the present invention, the processing operation of the control unit may be performed by event-driven (event-driven) processing that executes processing in units of events. In this case, it may be performed by a complete event drive type or a combination of event drive and flow drive.

1 制御装置(外部記憶装置、制御部)
4、4a、4b、4c 部品実装装置
10 基板
11 半田
44 ヘッドユニット(実装部)
48 制御部
100 部品実装システム
431、432 部品
432a リード(接続部)
1 Control device (external storage device, control unit)
4, 4a, 4b, 4c Component mounting apparatus 10 Substrate 11 Solder 44 Head unit (mounting part)
48 Control unit 100 Component mounting system 431, 432 Component 432a Lead (connection unit)

Claims (9)

基板に部品を実装する実装部と、
前記基板の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、前記複数の半田配置領域に対応する前記部品の複数の接続部の接続部高さ情報とに基づいて、前記基板の前記複数の半田配置領域への前記部品の実装の可否を判断する制御部とを備え
前記制御部は、前記半田厚み情報と、前記接続部高さ情報とに基づいて、前記基板の半田と、対応する前記部品の前記接続部との隙間を算出して、前記基板の前記複数の半田配置領域への前記部品の実装の可否を判断するとともに、前記複数の半田配置領域を含む一の搭載点への前記部品の実装が否である場合に、前記複数の半田配置領域を含む他の搭載点への前記部品の実装の可否を判断するように構成されている、部品実装装置。
A mounting part for mounting components on the board;
The plurality of solder placement areas of the substrate based on the solder thickness information of the plurality of solder placement areas of the substrate and the connection portion height information of the plurality of connection portions of the component corresponding to the plurality of solder placement areas and a said control unit for determining whether the component mounting to,
The control unit calculates a gap between the solder of the board and the connection part of the corresponding component based on the solder thickness information and the connection part height information, and In addition to determining whether the component can be mounted in the solder placement area, and not including the plurality of solder placement areas when the mounting of the component at one mounting point including the plurality of solder placement areas is not possible A component mounting apparatus configured to determine whether or not the component can be mounted on the mounting point .
前記制御部は、前記半田厚み情報と、前記接続部高さ情報とに基づいて、前記部品の複数の接続部のうちの一部を対応する半田に接触させた場合の、前記基板の他の半田と、対応する前記部品の前記接続部との隙間を算出して、前記基板の前記複数の半田配置領域への前記部品の実装の可否を判断するように構成されている、請求項1に記載の部品実装装置。   The control unit is configured to change another part of the substrate when contacting a part of the plurality of connection parts of the component with the corresponding solder based on the solder thickness information and the connection part height information. The gap between the solder and the connection portion of the corresponding component is calculated to determine whether or not the component can be mounted on the plurality of solder placement regions of the substrate. The component mounting apparatus described. 前記制御部は、算出した前記基板の半田と前記部品の対応する前記接続部との隙間が、全ての接続部についてしきい値以下であれば、前記部品が前記基板の前記複数の半田配置領域へ実装可能であると判断し、算出した前記基板の半田と前記部品の対応する前記接続部との隙間が、一部または全ての接続部についてしきい値より大きければ、前記部品が前記基板の前記複数の半田配置領域へ実装可能でないと判断するように構成されている、請求項2に記載の部品実装装置。   If the calculated gap between the solder on the substrate and the corresponding connection portion of the component is equal to or less than a threshold value for all the connection portions, the component is the plurality of solder placement regions on the substrate. If the calculated gap between the solder of the substrate and the corresponding connection portion of the component is larger than a threshold value for some or all of the connection portions, the component is The component mounting apparatus according to claim 2, wherein the component mounting apparatus is configured to determine that mounting on the plurality of solder placement regions is not possible. 前記接続部高さ情報は、前記部品の複数の接続部の平坦度情報を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の部品実装装置。   The component mounting apparatus according to claim 1, wherein the connection portion height information includes flatness information of a plurality of connection portions of the component. 前記半田厚み情報は、外部記憶装置に記憶されるか、または、上流の部品実装装置から下流の部品実装装置へ転送されるように構成されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の部品実装装置。   5. The solder thickness information according to claim 1, wherein the solder thickness information is stored in an external storage device or is transferred from an upstream component mounting device to a downstream component mounting device. The component mounting apparatus described. 前記半田厚み情報、および、前記接続部高さ情報は、前記部品実装装置または外部装置により前記部品の実装動作よりも事前に測定されるように構成されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の部品実装装置。 The solder thickness information and the connection portion height information are configured to be measured in advance of the mounting operation of the component by the component mounting device or an external device. The component mounting apparatus according to item 1. 前記基板に複数の同種の前記部品を実装する場合、前記基板の前記複数の半田配置領域に前記部品を実装可能か否かを識別して順次実装するように構成されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の部品実装装置。 When implementing the component of the plurality of the same type on the substrate, is configured to sequentially implement to identify whether it is possible to mount the components on the plurality of solder placement region before Symbol substrate, according to claim 1 The component mounting apparatus of any one of -6. 前記基板に複数の同種の前記部品を実装する場合、前記半田厚み情報と、前記接続部高さ情報とに基づいて、複数の前記部品前記基板の前記複数の半田配置領域のそれぞれ適する位置に実装される第1モードと、前記半田厚み情報と、前記接続部高さ情報とに基づいて、前記実装部に保持される前記部品実装可能な前記基板の前記複数の半田配置領域順次実装される第2モードとを選択可能に構成されている、請求項7に記載の部品実装装置。 When a plurality of the same types of components are mounted on the substrate, the plurality of components are respectively positioned at suitable positions in the plurality of solder placement regions of the substrate based on the solder thickness information and the connection portion height information. a first mode that is implemented, and the solder thickness information, based on said connection section height information, successively mounted on the plurality of solder placement area of the component can be mounted a said substrate held on the mounting portion It is selectably configured a second mode that is, the component mounting apparatus according to claim 7. 基板に部品を実装する実装部を含む部品実装装置と、
前記基板の複数の半田配置領域の半田厚み情報と、前記複数の半田配置領域に対応する前記部品の複数の接続部の接続部高さ情報とに基づいて、前記基板の前記複数の半田配置領域への前記部品の実装の可否を判断する制御部とを備え
前記制御部は、前記半田厚み情報と、前記接続部高さ情報とに基づいて、前記基板の半田と、対応する前記部品の前記接続部との隙間を算出して、前記基板の前記複数の半田配置領域への前記部品の実装の可否を判断するとともに、前記複数の半田配置領域を含む一の搭載点への前記部品の実装が否である場合に、前記複数の半田配置領域を含む他の搭載点への前記部品の実装の可否を判断するように構成されている、部品実装システム。
A component mounting apparatus including a mounting unit for mounting components on a substrate;
The plurality of solder placement areas of the substrate based on the solder thickness information of the plurality of solder placement areas of the substrate and the connection portion height information of the plurality of connection portions of the component corresponding to the plurality of solder placement areas and a said control unit for determining whether the component mounting to,
The control unit calculates a gap between the solder of the board and the connection part of the corresponding component based on the solder thickness information and the connection part height information, and In addition to determining whether the component can be mounted in the solder placement area, and not including the plurality of solder placement areas when the mounting of the component at one mounting point including the plurality of solder placement areas is not possible A component mounting system configured to determine whether or not the component can be mounted on the mounting point .
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