JP7232510B2 - 量子光学装置 - Google Patents
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Description
2 密閉容器
10 保持手段
11 主フレーム
12 テザー
121 構造保持テザー
122 直流信号用配線テザー
123 高周波信号配線用テザー
20 ガスセル
33 昇温手段
41 発光素子
42 受光素子
60 温度管理手段
Claims (6)
- アルカリ金属元素の吸収波長帯で複数周波数の励起光を出射する発光素子と、
前記発光素子からの励起光を透明な窓部より受ける位置に配置され、ウェハープロセスにより作成された微細な内空部にアルカリ金属元素とバッファガスが封入された小型のガス充填容器と、
前記ガス充填容器に封入されているガス成分が気体状態を保持するよう、ガス充填容器を加熱する昇温手段と、
前記ガス充填容器を通過した光を受信する位置に配置され、受信光の光強度を検出する受光素子と、
前記受光素子で検出される光強度を最大化させるCPT共鳴を発生させるように、発光素子から出力させる励起光の周波数差を、アルカリ金属元素における基底順位間の周波数差に一致させるCPT共鳴捕捉機能を実現する1つ以上の半導体素子と、
必要十分な耐荷重性を有するフレームに固定され、前記ガス充填容器、発光素子、受光素子、半導体素子を含む保持対象をそれぞれ所要位置に保持する複数の構造保持テザーと、
配線を必要とする前記保持対象を保持可能な位置で前記フレームに固定され、少なくとも誘電体基板の片面側に配線を形成した配線テザーと、
を備えることを特徴とする量子光学装置。 - 前記配線テザーは、少なくとも、
直流電源や直流信号の伝送に用いる直流信号配線を形成した直流信号用配線テザーと、
高周波ノイズの発生要因となり得る高周波信号の伝送に用いる高周波信号配線を形成した高周波信号用配線テザーと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の量子光学装置。 - 前記配線テザーは、更に、
高周波ノイズの発生要因とならない低周波信号の伝送に用いる低周波信号配線を形成した低周波信号用配線テザー、
を含むことを特徴とする請求項2に記載の量子光学装置。 - 前記高周波信号用配線テザーの幅を、他の配線テザーの幅よりも狭く設定したことを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の量子光学装置。
- 前記直流信号用配線テザーは、直流信号配線と対向する面に、電気的に接地された接地配線を備えることを特徴とする請求項2~請求項4の何れか1項に記載の量子光学装置。
- 前記直流信号用配線テザーは、直流信号配線の両側に、電気的に接地された接地配線を備えることを特徴とする請求項2~請求項4の何れか1項に記載の量子光学装置。
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Patent Citations (5)
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