JP7222918B2 - 半導体チップの溝内にワイヤを挿入するための方法、およびそのような方法を実施するための装置の部分 - Google Patents
半導体チップの溝内にワイヤを挿入するための方法、およびそのような方法を実施するための装置の部分 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7222918B2 JP7222918B2 JP2019561374A JP2019561374A JP7222918B2 JP 7222918 B2 JP7222918 B2 JP 7222918B2 JP 2019561374 A JP2019561374 A JP 2019561374A JP 2019561374 A JP2019561374 A JP 2019561374A JP 7222918 B2 JP7222918 B2 JP 7222918B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wires
- grooves
- chip
- pads
- wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
- G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
- G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
- G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
- G06K19/077—Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
- G06K19/07749—Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
- G06K19/07773—Antenna details
- G06K19/07775—Antenna details the antenna being on-chip
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/4097—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by using design data to control NC machines, e.g. CAD/CAM
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
- G06K19/02—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the selection of materials, e.g. to avoid wear during transport through the machine
- G06K19/027—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the selection of materials, e.g. to avoid wear during transport through the machine the material being suitable for use as a textile, e.g. woven-based RFID-like labels designed for attachment to laundry items
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D02—YARNS; MECHANICAL FINISHING OF YARNS OR ROPES; WARPING OR BEAMING
- D02G—CRIMPING OR CURLING FIBRES, FILAMENTS, THREADS, OR YARNS; YARNS OR THREADS
- D02G3/00—Yarns or threads, e.g. fancy yarns; Processes or apparatus for the production thereof, not otherwise provided for
- D02G3/44—Yarns or threads characterised by the purpose for which they are designed
- D02G3/441—Yarns or threads with antistatic, conductive or radiation-shielding properties
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D10—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBLASSES OF SECTION D, RELATING TO TEXTILES
- D10B—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBLASSES OF SECTION D, RELATING TO TEXTILES
- D10B2401/00—Physical properties
- D10B2401/18—Physical properties including electronic components
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D10—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBLASSES OF SECTION D, RELATING TO TEXTILES
- D10B—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBLASSES OF SECTION D, RELATING TO TEXTILES
- D10B2403/00—Details of fabric structure established in the fabric forming process
- D10B2403/02—Cross-sectional features
- D10B2403/024—Fabric incorporating additional compounds
- D10B2403/0243—Fabric incorporating additional compounds enhancing functional properties
- D10B2403/02431—Fabric incorporating additional compounds enhancing functional properties with electronic components, e.g. sensors or switches
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/45—Nc applications
- G05B2219/45031—Manufacturing semiconductor wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0556—Disposition
- H01L2224/05571—Disposition the external layer being disposed in a recess of the surface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48105—Connecting bonding areas at different heights
- H01L2224/48106—Connecting bonding areas at different heights the connector being orthogonal to a side surface of the semiconductor or solid-state body, e.g. parallel layout
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
- H01L2224/48138—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate the wire connector connecting to a bonding area disposed in a recess of the surface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
- H01L2224/48139—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate with an intermediate bond, e.g. continuous wire daisy chain
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4899—Auxiliary members for wire connectors, e.g. flow-barriers, reinforcing structures, spacers, alignment aids
- H01L2224/48991—Auxiliary members for wire connectors, e.g. flow-barriers, reinforcing structures, spacers, alignment aids being formed on the semiconductor or solid-state body to be connected
- H01L2224/48993—Alignment aids
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85007—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector involving a permanent auxiliary member being left in the finished device, e.g. aids for holding or protecting the wire connector during or after the bonding process
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8512—Aligning
- H01L2224/85136—Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members
- H01L2224/85138—Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members the guiding structures being at least partially left in the finished device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8512—Aligning
- H01L2224/85143—Passive alignment, i.e. self alignment, e.g. using surface energy, chemical reactions, thermal equilibrium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8536—Bonding interfaces of the semiconductor or solid state body
- H01L2224/85365—Shape, e.g. interlocking features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/858—Bonding techniques
- H01L2224/85801—Soldering or alloying
- H01L2224/85815—Reflow soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Wire Processing (AREA)
Description
これらの目的のうちの少なくとも1つを達成することを視野に入れて、本発明の主題は、第1の態様によると、半導体チップの縦溝内にその組み立てのためにワイヤを挿入するための方法を提案し、溝は、設定された融点(set melting point)を有する結合材(bonding material)製のパッドを含み、方法は、
- 位置決めステップにおいて、ワイヤの長手方向部分を、溝に沿って、パッドに強制当接させて、配置する工程、
- 挿入ステップにおいて、パッドの少なくとも1つの部分を含む帯域を、結合材の融点よりも高い加工温度(processing temperature)に、およびパッドを少なくとも部分的に溶融させるのに十分な時間にわたって、暴露する工程、およびワイヤを溝内に挿入させる工程、
を含む。
- 本方法は、挿入ステップの完了時に、ワイヤとチップを組み立てるために結合材を固化させる(solidifying)ステップを含み、
- ワイヤは、溝に対向して(opposite)緊張状態に維持され、および位置決めステップは、ワイヤをパッドに押し付ける工程にあり、
- パッドは、帯域を熱気流(hot air flow)または光流(light flow)に暴露することによって誘導(induction)加工温度に持ちこまれ、
- 方法は、位置決め工程の前または間に、溝内へ挿入されることが意図されるワイヤの長手方向部分の準備のステップを含み、
- 準備ステップは、ワイヤの長手方向部分上の塗工層(coating layer)の堆積を含み、
- 準備ステップは、ワイヤの長手方向部分の洗浄(cleaning)および/または脱酸素(deoxidation)のステップを含み、
- 挿入ステップの後に、溝内におよび溝内でさらされるワイヤの長手方向部分上に接着剤を分配する補強ステップが続き、
- 挿入ステップの後に、チップおよび/またはワイヤを封入するステップが続き、
- ワイヤは導電性であり、
- 方法は、ワイヤ上に複数のチップを挿入しおよびチェーン16,21を形成するように、位置決めステップおよび挿入ステップを繰り返す工程を含む。
- 作業空間の第1および第2の端部間にワイヤの長さを展開しおよび移動させるための位置決め部材と、
- 前記溝がワイヤに対向して配置される挿入位置にチップを配置することができる、チップを取り扱うためのデバイスと、
- ワイヤの長手方向部分を、前記溝に沿って、パッドに強制当接させて、配置するための位置決め部材と、
- チップが挿入位置に配置されたときに、加工温度まで、パッドを含む帯域を上昇させるための加熱部材、
を含む。
- 位置決め部材は、第1および第2の端部間に2本の平行なワイヤを展開するように構成され、および挿入位置は、2本のワイヤ間に位置し、
- 挿入装置は、作業空間内において、チップ挿入位置の上流または下流に配置される少なくとも1つの付加的部材を有し、
- 付加的部材および位置決め部材は、これらのコンポーネントによって実行される加工(processing)が同時に行われ得るように、作業空間内に位置決めされおよび構成される。
図1aは、斜視図において、「半導体チップ」または以下の記載においてより簡単に「チップ」と呼ばれる、本発明による挿入方法に対応した電子コンポーネント1を示す。図1bは、そのようなチップ1の断面図である。
上述された方法および装置の部分8は、文献(特許文献10)に記載されるように、送受信デバイス15およびそのようなデバイスのチェーンを生産するために使用され得る。
- チップ1の溝2a,2b内に収容されることが意図されるワイヤ7a,7bの長手方向部分を洗浄し、および場合により錫めっきする工程。
- 保管領域からチップ1を取り外し、およびこのチップ1を挿入位置に位置決めする工程、
- 前のシークエンスの間に前もって準備されていたワイヤ7a,7bの長手方向部分を挿入する工程、
- 当初はパッド6a,6bを形成する結合材を液化および固化させることによって、溝2a,2b内にワイヤ7a,7bを組み立てる工程。
- 接着剤を溝2a,2b内へおよびこれらの溝内において暴露されるワイヤの長手方向部分上に分配する工程、およびそれを硬化させおよびチップ1上のワイヤ7a,7bの組み立てを補強するための接着剤の暴露、
- 双極子形状のアンテナを事前形成するために2本のワイヤ7a,7bのうちの1本を切断する工程、
- 剛性樹脂のような保護材内にチップ1を封入して、それが機械的および化学的に保護されるのを可能にするする工程、
- チップ1の機能テストをし、および固有の識別番号をそれに割り当てるようにチップ1をプログラミングする工程。
この第2の実施例は、第1の実施例のものに類似する送受信デバイス20に関する。図5aに概略的に示されるこの第2の実施例において、しかしながら、送受信デバイス20は、1本のワイヤ7bの1つの端部を他のワイヤ7aに電気的に接続することによって形成されるループを持つアンテナを有する。このデバイスを製造するために、前述の実施例のうちの1つに類似する製造プロセスが使用される。各新加工シークエンスの間、装置の部分8が作られている部材は、以下の操作を、ワイヤを設定された長さだけ移動させおよびこれらの操作を再び繰り返す前に、同時に実行する。
- チップ1の溝2a,2b内に収容されることが意図されるワイヤ7a,7bの長手方向部分を洗浄し、および場合により錫めっきする工程。
- 保管領域からチップ1を取り外し、およびこのチップ1を挿入位置に位置決めする工程、
- 前述のシークエンスの間に前もって準備されていたワイヤ7a,7bの長手方向部分を挿入する工程、
- 当初はパッド6a,6bを形成する結合材を液化および固化させることによって、溝2a,2b内にワイヤ7a,7bを組み立てる工程。
- 設定された距離にわたってそれらを電気的接触に置くのを回避するために、少なくとも、チップの片側に配置される2本のワイヤ7a,7b上に、電気的に絶縁性の材料を分配する工程であって、絶縁体(insulation)は、また、チップ上に分配され得る、工程、
- 任意選択的に、形成された絶縁性帯域の端部の端部でまたはこの絶縁ステップの前に、2本のワイヤ7a,7bを、例えば中間帯域の位置決め部材12に類似する可動のジョーを用いてそれらを一緒に近づけることによって、電気的接触に至らせ、および溶接する工程。あるいはまた、この電気的接触を確立させるために、2本のワイヤ7a,7b上および2本のワイヤ7a,7b間に導電性にかわまたは任意の他の導電性材料を分配することが計画されてもよい。ループは、こうして形成される。この操作が行われない場合、ループの形成は、後ほど、保管コイルのセグメントを取り外した後、デバイスが対象物内に一体化される前に、得られ得る。
- それが機械的および化学的に保護されることを可能にする、剛性樹脂のような保護材内におけるチップ1の剛性樹脂のような保護材内における封入。この封入ステップは、電気的に絶縁性の材料がチップおよびワイヤ上に前もって分配されていたとき、省略され得る。
- 例えば、ワイヤを局所的に破断させるのに十分に深く封入層にレーザーカット22を形成することによって、ワイヤのうちの1本をチップ1に沿って切断する工程。
- チップ1の運用テストをし、および固有の識別番号をそれに割り当てるようにチップ1をプログラミングする工程。
Claims (15)
- 半導体チップ(1)の縦溝(2a,2b)内にその組み立てのためにワイヤ(7a,7b)を挿入するための方法であって、前記縦溝(2a,2b)は、所定の融点を有する結合材製のパッド(6a,6b)を含み、前記パッド(6a,6b)は、前記ワイヤ(7a,7b)が中に完全に収容されるのが防止されるように前記縦溝(2a,2b)内の空間を占めており、前記方法は、
位置決め工程において、前記ワイヤ(7a,7b)の長手方向部分を、前記縦溝(2a,2b)に沿って、前記パッド(6a,6b)に強制当接させて、配置する工程、
挿入工程において、前記パッド(6a,6b)の少なくとも一部を含む帯域を、前記結合材の融点よりも高い加工温度に、および前記パッド(6a,6b)を少なくとも部分的に溶融させるのに十分な時間にわたって、暴露し、そのようにして前記ワイヤ(7a,7b)を前記縦溝(2a,2b)内に挿入させる工程、
を含むことを特徴とする、挿入方法。 - 前記挿入工程の完了時に、前記ワイヤ(7a,7b)と前記半導体チップ(1)を組み立てるために前記結合材を固化させる工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の挿入方法。
- 前記ワイヤ(7a,7b)は、前記縦溝(2a,2b)に対向して緊張状態に維持され、および前記位置決め工程は、前記ワイヤ(7a,7b)を前記パッド(6a,6b)に対して押圧する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1または2に記載の挿入方法。
- 前記パッド(6a,6b)は、前記帯域を熱気流または光流に暴露することによって、または金属に形成されたとき、誘導によって、加工温度に持ち込まれることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の挿入方法。
- 前記縦溝(2a,2b)内に挿入されることが意図される前記ワイヤ(7a,7b)の前記長手方向部分を準備する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の挿入方法。
- 前記準備工程は、前記ワイヤ(7a,7b)の前記長手方向部分上に塗工層を堆積させる工程を含むことを特徴とする請求項5に記載の挿入方法。
- 前記準備工程は、前記ワイヤ(7a,7b)の前記長手方向部分の洗浄および/または脱酸素の工程を含むことを特徴とする請求項5または6に記載の挿入方法。
- 前記挿入工程の後に、前記縦溝(2a,2b)内におよび前記縦溝(2a,2b)内にさらされる前記ワイヤ(7a,7b)の前記長手方向部分上に接着剤を分配する工程を含む補強工程が続くことを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の挿入方法。
- 前記挿入工程の後に、前記半導体チップ(1)および/または前記ワイヤ(7a,7b)を封入する工程が続くことを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の挿入方法。
- 前記ワイヤ(7a,7b)は導電性であることを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の挿入方法。
- 前記ワイヤ(7a,7b)上に複数の半導体チップ(1)を挿入しおよびチェーン(16,21)を形成するように、前記位置決めおよび挿入工程を繰り返す工程を含むことを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の挿入方法。
- 少なくとも1つの半導体チップ(1)内にワイヤ(7a,7b)を挿入するための挿入装置であって、前記半導体チップは、前記ワイヤ(7a,7b)の長手方向部分を受け入れるための溝(2a,2b)を有し、および前記溝(2a,2b)は、所定の融点を有する結合材製のパッド(6a,6b)を含み、前記パッド(6a,6b)は、前記ワイヤ(7a,7b)が中に完全に収容されるのを防止するように前記溝(2a,2b)内の空間を占めており、前記挿入装置は、
作業空間の第1および第2の端部間に前記ワイヤ(7a,7b)の長さを展開しおよび移動させるための位置決め部材(9a,9b,9)と、
前記溝(2a,2b)が前記ワイヤ(7a,7b)に対向して配置される挿入位置内に前記半導体チップ(1)を配置することができる、前記半導体チップ(1)を取り扱うためのデバイス(11)と、
前記ワイヤ(7a,7b)の前記長手方向部分を、前記溝(2a,2b)に沿って、前記パッド(6a,6b)に強制当接させて、配置するための位置決め部材(12)と、
前記半導体チップ(1)が前記挿入位置に配置されたときに、前記所定の融点を超える加工温度まで、前記パッド(6a,6b)を含む帯域を上昇させるための加熱部材(13)と、
を含むことを特徴とする挿入装置。 - 前記位置決め部材(9a,9b,9)は、前記第1および第2の端部間に2本の平行なワイヤ(7a,7b)を展開するように構成され、および前記挿入位置は、前記第1および第2の端部間であって前記2本のワイヤ(7a,7b)間に位置することを特徴とする請求項12に記載の挿入装置。
- 前記作業空間内において、前記半導体チップ(1)の前記挿入位置の下流または上流に配置される少なくとも1つの付加的部材(14)を含むことを特徴とする請求項13または13に記載の挿入装置。
- 前記付加的部材(14)および前記位置決め部材(12)は、これらの部材によって実行される加工が同時に行われ得るように、前記作業空間内に位置決めされおよび構成されることを特徴とする請求項14に記載の挿入装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1750728A FR3062515B1 (fr) | 2017-01-30 | 2017-01-30 | Procede d'insertion d'un fil dans une rainure d'une puce de semi-conducteur, et equipement pour la mise en œuvre d’un tel procede. |
FR1750728 | 2017-01-30 | ||
PCT/FR2018/050166 WO2018138437A1 (fr) | 2017-01-30 | 2018-01-25 | Procede d'insertion d'un fil dans une rainure d'une puce de semi-conducteur, et equipement pour la mise en œuvre d'un tel procede |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020505714A JP2020505714A (ja) | 2020-02-20 |
JP7222918B2 true JP7222918B2 (ja) | 2023-02-15 |
Family
ID=59253593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019561374A Active JP7222918B2 (ja) | 2017-01-30 | 2018-01-25 | 半導体チップの溝内にワイヤを挿入するための方法、およびそのような方法を実施するための装置の部分 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11209799B2 (ja) |
EP (1) | EP3574521B1 (ja) |
JP (1) | JP7222918B2 (ja) |
CN (1) | CN110326100B (ja) |
ES (1) | ES2914322T3 (ja) |
FR (1) | FR3062515B1 (ja) |
PL (1) | PL3574521T3 (ja) |
PT (1) | PT3574521T (ja) |
WO (1) | WO2018138437A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3062515B1 (fr) | 2017-01-30 | 2019-11-01 | Primo1D | Procede d'insertion d'un fil dans une rainure d'une puce de semi-conducteur, et equipement pour la mise en œuvre d’un tel procede. |
US10783424B1 (en) | 2019-09-18 | 2020-09-22 | Sensormatic Electronics, LLC | Systems and methods for providing tags adapted to be incorporated with or in items |
US11443160B2 (en) | 2019-09-18 | 2022-09-13 | Sensormatic Electronics, LLC | Systems and methods for laser tuning and attaching RFID tags to products |
FR3103043B1 (fr) | 2019-11-08 | 2022-08-05 | Primo1D | Etiquette electronique d’identification comprenant un dispositif electronique d’identification filaire, procede de fabrication d’une telle etiquette et piece textile munie d’une telle etiquette. |
FR3103293B1 (fr) * | 2019-11-19 | 2022-07-08 | Commissariat Energie Atomique | Étiquette de radio-identification |
FR3103630B1 (fr) | 2019-11-22 | 2022-06-03 | Primo1D | Puce fonctionnelle adaptee pour etre assemblee a des elements filaires, et procede de fabrication d’une telle puce |
US11055588B2 (en) | 2019-11-27 | 2021-07-06 | Sensormatic Electronics, LLC | Flexible water-resistant sensor tag |
FR3107131B1 (fr) | 2020-02-12 | 2022-01-21 | F S P One | Objet instrumenté et ensemble d’instrumentation pour cet objet |
FR3119944B1 (fr) | 2021-02-15 | 2023-02-10 | Primo1D | Dispositif d'émission-réception radiofréquence utilisant une antenne composée d’un fil textile et d’un ruban conducteur et étiquette électronique associée |
US11755874B2 (en) | 2021-03-03 | 2023-09-12 | Sensormatic Electronics, LLC | Methods and systems for heat applied sensor tag |
US11869324B2 (en) | 2021-12-23 | 2024-01-09 | Sensormatic Electronics, LLC | Securing a security tag into an article |
FR3131253B1 (fr) | 2021-12-23 | 2024-01-05 | Primo1D | Pneumatique équipée d’un dispositif d'émission-réception radiofréquence |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110001237A1 (en) | 2008-03-06 | 2011-01-06 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Assembly of a wire element with a microelectronic chip with a groove comprising at least one bump securing the wire element |
JP2011249808A (ja) | 2010-05-25 | 2011-12-08 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | ワイヤ上にチップデバイスを組み立てる装置 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5254165A (en) * | 1975-10-29 | 1977-05-02 | Murata Manufacturing Co | Apparatus for continuously fixing plurality of electronic parts on tapelike holder |
JPH05235099A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-10 | Toshiba Corp | 半導体実装回路装置 |
JP3648277B2 (ja) * | 1995-01-12 | 2005-05-18 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
TW490825B (en) * | 2001-04-26 | 2002-06-11 | Advanced Semiconductor Eng | Electronic packaging structure |
JP2004265888A (ja) * | 2003-01-16 | 2004-09-24 | Sony Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
TWI317548B (en) * | 2003-05-27 | 2009-11-21 | Megica Corp | Chip structure and method for fabricating the same |
JP2007096087A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Nec Electronics Corp | 半導体装置の製造方法 |
FR2905518B1 (fr) * | 2006-08-29 | 2008-12-26 | Commissariat Energie Atomique | Puce microelectronique a faces laterales munies de rainures et procede de fabrication |
FR2917895B1 (fr) | 2007-06-21 | 2010-04-09 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'un assemblage de puces reliees mecaniquement au moyen d'une connexion souple |
CN101562159A (zh) * | 2008-04-16 | 2009-10-21 | 联测科技股份有限公司 | 半导体装置及其制法 |
US8471713B2 (en) | 2009-07-24 | 2013-06-25 | Cercacor Laboratories, Inc. | Interference detector for patient monitor |
JP5693605B2 (ja) | 2009-12-09 | 2015-04-01 | コミサリア ア レネルジー アトミック エ オ ゼネルジー アルテルナティブCommissariat Al’Energie Atomique Et Aux Energiesalternatives | 太陽電池、複数の電池をアセンブルする方法、及び、複数の太陽電池のアセンブリ |
FR2954588B1 (fr) * | 2009-12-23 | 2014-07-25 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'assemblage d'au moins une puce avec un element filaire, puce electronique a element de liaison deformable, procede de fabrication d'une pluralite de puces, et assemblage d'au moins une puce avec un element filaire |
US8241964B2 (en) * | 2010-05-13 | 2012-08-14 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor device and method of embedding bumps formed on semiconductor die into penetrable adhesive layer to reduce die shifting during encapsulation |
FR2961947B1 (fr) | 2010-06-24 | 2013-03-15 | Commissariat Energie Atomique | Incorporation d'elements a puce dans un fil guipe |
FR2964786B1 (fr) * | 2010-09-09 | 2013-03-15 | Commissariat Energie Atomique | Procédé de réalisation d'éléments a puce munis de rainures d'insertion de fils |
KR101167429B1 (ko) * | 2010-10-11 | 2012-07-19 | 삼성전기주식회사 | 반도체 패키지의 제조방법 |
FR2986372B1 (fr) * | 2012-01-31 | 2014-02-28 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'assemblage d'un element a puce micro-electronique sur un element filaire, installation permettant de realiser l'assemblage |
FR2995721B1 (fr) * | 2012-09-17 | 2014-11-21 | Commissariat Energie Atomique | Capot pour dispositif a rainure et a puce, dispositif equipe du capot, assemblage du dispositif avec un element filaire et procede de fabrication |
FR3062515B1 (fr) * | 2017-01-30 | 2019-11-01 | Primo1D | Procede d'insertion d'un fil dans une rainure d'une puce de semi-conducteur, et equipement pour la mise en œuvre d’un tel procede. |
US11157566B2 (en) * | 2019-08-30 | 2021-10-26 | Afilias Limited | Real time exchange of update information over a network using web sockets coupled to a message queue |
-
2017
- 2017-01-30 FR FR1750728A patent/FR3062515B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2018
- 2018-01-25 JP JP2019561374A patent/JP7222918B2/ja active Active
- 2018-01-25 PL PL18703075T patent/PL3574521T3/pl unknown
- 2018-01-25 WO PCT/FR2018/050166 patent/WO2018138437A1/fr unknown
- 2018-01-25 EP EP18703075.4A patent/EP3574521B1/fr active Active
- 2018-01-25 CN CN201880008903.0A patent/CN110326100B/zh active Active
- 2018-01-25 ES ES18703075T patent/ES2914322T3/es active Active
- 2018-01-25 US US16/481,754 patent/US11209799B2/en active Active
- 2018-01-25 PT PT187030754T patent/PT3574521T/pt unknown
-
2021
- 2021-11-12 US US17/525,517 patent/US11822309B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110001237A1 (en) | 2008-03-06 | 2011-01-06 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Assembly of a wire element with a microelectronic chip with a groove comprising at least one bump securing the wire element |
JP2011513980A (ja) | 2008-03-06 | 2011-04-28 | コミサリア ア レネルジー アトミック エ オ ゼネルジー アルテルナティブ | ワイヤ素子とワイヤ素子を固定する少なくとも1つのバンプを備えた溝を有するマイクロエレクトロニックチップのアセンブリ |
JP2011249808A (ja) | 2010-05-25 | 2011-12-08 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | ワイヤ上にチップデバイスを組み立てる装置 |
US20120073128A1 (en) | 2010-05-25 | 2012-03-29 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Apparatus for assembling chip devices on wires |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190391560A1 (en) | 2019-12-26 |
JP2020505714A (ja) | 2020-02-20 |
CN110326100A (zh) | 2019-10-11 |
FR3062515B1 (fr) | 2019-11-01 |
CN110326100B (zh) | 2023-08-15 |
ES2914322T3 (es) | 2022-06-09 |
EP3574521B1 (fr) | 2022-03-09 |
PL3574521T3 (pl) | 2022-07-04 |
PT3574521T (pt) | 2022-05-23 |
US11209799B2 (en) | 2021-12-28 |
US11822309B2 (en) | 2023-11-21 |
EP3574521A1 (fr) | 2019-12-04 |
FR3062515A1 (fr) | 2018-08-03 |
WO2018138437A1 (fr) | 2018-08-02 |
US20220066416A1 (en) | 2022-03-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7222918B2 (ja) | 半導体チップの溝内にワイヤを挿入するための方法、およびそのような方法を実施するための装置の部分 | |
US11081466B2 (en) | Method for joining a micorelectronic chip to a wire element | |
KR100373063B1 (ko) | 와이어도체접속방법및장치 | |
JP3721520B2 (ja) | ワイヤ導体を接触させるための方法 | |
US10454235B2 (en) | Method of manufacturing coil component | |
US20220288843A1 (en) | Electrical wiring harness assembly and process for manufacturing same | |
US7596864B2 (en) | Stacked module connector | |
US8884410B2 (en) | Method for manufacturing a microelectronic package comprising at least one microelectronic device | |
US7770290B2 (en) | Electrical connection method for plural coaxial wires | |
US8138596B2 (en) | Method for manufacturing an element having electrically conductive members for application in a microelectronic package | |
US8122592B2 (en) | Method for producing a low-current switch module comprising electrical components | |
JP2012178157A (ja) | トランスポンダを組み込んだカード | |
EP1816592A1 (en) | Method for producing a RFID tag with at least an antenna comprising two extremities and a integrated circuit chip | |
US20150033545A1 (en) | Method for manufacturing antenna part | |
JP4465031B1 (ja) | 表面実装型インダクタ連続体及びその製造方法 | |
JP2680461B2 (ja) | ディスクリート配線板及びその製造方法と製造装置 | |
US9736932B1 (en) | Magnet wire for 3D electronic circuitry | |
KR20120134421A (ko) | 와이어 접속장치 | |
JP2015005170A (ja) | Icモジュール、および、icモジュールの製造方法 | |
JP2018142469A (ja) | フィルム基材上に形成された導体パターンと同軸ケーブルの接合体およびその製造方法 | |
JP2015001799A (ja) | 導体接続方法 | |
JPH11260866A (ja) | テープ状搬送体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220421 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220906 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221202 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230110 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7222918 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |