JP7194365B2 - ぎらつきコントラストの補正方法、比較方法および比較装置、電子ディスプレイの製造方法、及び防眩層の製造方法 - Google Patents

ぎらつきコントラストの補正方法、比較方法および比較装置、電子ディスプレイの製造方法、及び防眩層の製造方法 Download PDF

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Description

特許法第３０条第２項適用 １．発行者名 社団法人映像情報メディア学会（ＩＴＥ） ２．刊行物名 第２６回ディスプレイ国際ワークショップ（ＩＤＷ’１９）予稿集，第２０４頁 ３．発行日 令和１年１１月２６日 〔刊行物等〕 １．集会名 第２６回ディスプレイ国際ワークショップ（ＩＤＷ’１９） ２．開催日 令和１年１１月２７日 〔刊行物等〕 １．発行者名 株式会社化学工業日報社 ２．刊行物名 化学工業日報，第１面 ３．発行日 令和２年３月５日 〔刊行物等〕 １．掲載日 令和２年３月５日 ２．掲載アドレス ｈｔｔｐｓ：／／ｗｗｗ．ｄｎｐ．ｃｏ．ｊｐ／ｎｅｗｓ／ｄｅｔａｉｌ／１０１５７８２１＿１５８７．ｈｔｍｌ 〔刊行物等〕 １．発行者名 社団法人映像情報メディア学会（ＩＴＥ） ２．刊行物名 ディスプレイ技術シンポジウム２０２０予稿集，第１５頁～第２０頁 ３．発行日 令和２年３月６日 〔刊行物等〕 １．集会名 ディスプレイ技術シンポジウム２０２０ ２．開催日 令和２年８月２６日
本開示は、ぎらつきコントラストの補正方法、比較方法および比較装置、電子ディスプレイの製造方法、及び防眩層の製造方法に関する。
ＪＰ２００９－１７５０４１Ａは、防眩フィルムを備えた電子ディスプレイ表示画像のぎらつきによる輝度ばらつきを定量的に測定評価する技術を開示している。ＪＰ２００９－１７５０４１Ａに記載されたぎらつき測定方法は、カメラで撮像したぎらつき画像から２次元フーリエ変換を用いて画像処理によりぎらつき以外の電子ディスプレイ由来の定周期成分を除去するように構成されている。また、ＪＰ２００９－１７５０４１Ａに記載されたぎらつき測定方法は、定周期成分を除去したぎらつき画像の輝度ばらつきの標準偏差を平均値で除した値をぎらつきコントラストとして評価するように構成されている。
しかしながら、ＪＰ２００９－１７５０４１Ａに記載のぎらつき測定装置は、撮像条件がぎらつきコントラストに与える影響について考察していない。また、ＪＰ２００９－１７５０４１Ａに記載のぎらつき測定装置は、異なる測定条件で測定された複数のぎらつきコントラスト同士を適切に比較することについて何ら有効な提案をしていない。
本開示は、以上の点を考慮してなされたものである。すなわち、本開示は、測定条件が異なる複数のぎらつきコントラストを適切に比較することができるぎらつきコントラストの補正方法、比較方法および比較装置、電子ディスプレイの製造方法、及び防眩層の製造方法を提供することを目的とする。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法は、
電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との比率に基づいて前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（１）にしたがって行われる、ぎらつきコントラストの補正方法。
Ｓ Ｐ ２ａ＝Ｓ Ｐ ２×（Ｆ２／Ｆ１）×（ｄ２／ｄ１）×（ｆ１／ｆ２）×（Ｍ２／Ｍ１） ０．５ （１）
但し、
Ｓ Ｐ ２ａ：補正後の第２のぎらつきコントラスト
Ｓ Ｐ ２：補正前の第２のぎらつきコントラスト
Ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
Ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
ｄ１：前記第１の測定条件としての前記防眩層から前記第１の撮像レンズまでの距離
ｄ２：前記第２の測定条件としての前記防眩層から前記第２の撮像レンズまでの距離
ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの実効焦点距離、
ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの実効焦点距離、
Ｍ１：以下の数式（２）に示される値、
Ｍ２：以下の数式（３）に示される値
Figure 0007194365000001
 但し、
Ａｃ１：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２） ２ ×πで表現されるパラメータ
Ａｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１ ２ で表現されるパラメータ
ｅｒｆ：標準誤差関数
Figure 0007194365000002
 但し、
Ａｃ２：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２） ２ ×πで表現されるパラメータ
Ａｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２ ２ で表現されるパラメータ
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法は、
電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との比率に基づいて前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（４）にしたがって行われる。
ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２／Ｆ１）×（ｍ１／ｍ２）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （４）
但し、
ＳＰ２ａ：補正後の第２のぎらつきコントラスト
ＳＰ２：補正前の第２のぎらつきコントラスト
Ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
Ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
ｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの倍率
ｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの倍率
Ｍ１：以下の数式（２）に示される値、
Ｍ２：以下の数式（３）に示される値
Figure 0007194365000003
 但し、
Ａｃ１：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
Ａｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１２で表現されるパラメータ
ｅｒｆ：標準誤差関数
Figure 0007194365000004
 但し、
Ａｃ２：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
Ａｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２２で表現されるパラメータ
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法は、
電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との比率に基づいて前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（５）にしたがって行われる。
ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２’／Ｆ１’）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （５）
但し、
ＳＰ２ａ：補正後の第２のぎらつきコントラスト
ＳＰ２：補正前の第２のぎらつきコントラスト
Ｆ１’：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの物体側実効Ｆ値、
Ｆ２’：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの物体側実効Ｆ値、
Ｍ１：以下の数式（２）に示される値、
Ｍ２：以下の数式（３）に示される値
Figure 0007194365000005
 但し、
Ａｃ１：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
Ａｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１２で表現されるパラメータ
ｅｒｆ：標準誤差関数
Figure 0007194365000006
 但し、
Ａｃ２：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
Ａｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２２で表現されるパラメータ
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法は、
電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程と、を備え、
前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、
前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間に以下の数式（６）が成立する場合に、前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像との間で画像に基づいて算出されるＭＴＦが揃うように、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に補正演算を行う工程と、
前記補正演算で得られた画像から補正後の第２のぎらつきコントラストを取得する工程と、を有し、
前記補正演算を行う工程は、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像の解像度を調整するエンハンスフィルタの係数を調整する工程を有する、ぎらつきコントラストの補正方法。
Ｓ１＝Ｓ２ （６）
但し、
Ｓ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサ上への前記出射光の回折限界スポットの結像に寄与する前記防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（７）を満足する。
Ｓ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサ上への前記出射光の回折限界スポットの結像に寄与する前記防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（８）を満足する。
Figure 0007194365000007
 但し、
Ｒ１：前記第１の２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
ｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの倍率
Ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
ｄ１：前記第１の測定条件としての前記防眩層から前記第１の撮像レンズまでの距離、
ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの実効焦点距離、
Ｆ１’：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの物体側実効Ｆ値、
Figure 0007194365000008
 但し、
Ｒ２：前記第２の２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
ｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの倍率
Ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
ｄ２：前記第２の測定条件としての前記防眩層から前記第２の撮像レンズまでの距離、
ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの実効焦点距離、
Ｆ２’：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの物体側実効Ｆ値
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記補正演算を行う工程は、
前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像のエッジプロファイルを生成する工程と、
前記生成されたエッジプロファイルを微分することで線広がり関数を算出する工程と、
前記算出された線広がり関数をフーリエ変換することでＭＴＦを算出する工程と、
前記算出されたＭＴＦを前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に基づくＭＴＦと比較する工程と、を更に有していてもよい。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に補正演算を行う工程と、前記補正演算で得られた画像から補正後の第２のぎらつきコントラストを取得する工程との間に、前記補正演算で得られた画像の放射輝度平均値を前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像の放射輝度平均値に揃える工程を有していてもよい。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に補正演算を行う工程と、前記補正演算で得られた画像の放射輝度平均値を前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像の放射輝度平均値に揃える工程との間に、前記補正演算で得られた画像から前記電子ディスプレイの画素により生じた画像成分を除去する工程を有していてもよい。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法は、
電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる仮想の撮像レンズおよび前記出射光が結像される仮想の２次元イメージセンサを用いた仮想の測定条件で仮想的に測定された、比較基準とする第３のぎらつきコントラストと、前記仮想の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる実際の撮像レンズおよび前記出射光が結像される実際の２次元イメージセンサを用いた実際の測定条件で実測された、比較対象とする第４のぎらつきコントラストと、前記実際の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
前記第３のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程は、
前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間に以下の数式（９）が成立する場合に、以下の数式（１０）にしたがって前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程を有する、ぎらつきコントラストの補正方法。
Ｓ３≠Ｓ４ （９）
ＳＰ４ａ＝ＳＰ４×（Ｓ４／Ｓ３） （１０）
但し、
Ｓ３：前記仮想の測定条件としての２次元イメージセンサ上への防眩層からの出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（１１）を満足する。
Ｓ４：前記実際の測定条件としての２次元イメージセンサ上への防眩層からの出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（１２）を満足する。
ＳＰ４ａ：補正後の第４のぎらつきコントラスト
ＳＰ４：補正前の第４のぎらつきコントラスト
Figure 0007194365000009
 但し、
Ｒ３：前記２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
ｍ３：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの倍率
Ｆ３：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの像側実効Ｆ値、
ｄ３：前記仮想の測定条件としての防眩層から撮像レンズまでの距離
ｆ３：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの実効焦点距離、
Ｆ３’：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの物体側実効Ｆ値
Figure 0007194365000010
 但し、
Ｒ４：前記２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
ｍ４：前記実際の測定条件としての撮像レンズの倍率
Ｆ４：前記実際の測定条件としての撮像レンズの像側実効Ｆ値、
ｄ４：前記実際の測定条件としての防眩層から撮像レンズまでの距離
ｆ４：前記実際の測定条件としての撮像レンズの実効焦点距離、
Ｆ４’：前記実際の測定条件としての撮像レンズの物体側実効Ｆ値
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（１３）にしたがって前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程を更に有していてもよい。
ＳＰ４ａ’＝ＳＰ４ａ×（Ｍ４／Ｍ３）０．５ （１３）
但し、
ＳＰ４ａ’：数式（１３）による補正後の第４のぎらつきコントラスト
Ｍ３：以下の数式（１４）に示される値、
Ｍ４：以下の数式（１５）に示される値
Figure 0007194365000011
 但し、
Ａｃ３：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ３×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
Ａｍ３：前記仮想の測定条件としての２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ３と定義した場合にｐ３２で表現されるパラメータ
ｅｒｆ：標準誤差関数
Figure 0007194365000012
 但し、
Ａｃ４：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ４×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
Ａｍ４：前記仮想の測定条件としての２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ４と定義した場合にｐ４２で表現されるパラメータ
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間または前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間には、前記電子ディスプレイと、前記防眩層と、撮像レンズおよび２次元イメージセンサを備えた測定装置と、のそれぞれの構造上の条件が同一であり、前記防眩層から前記撮像レンズまでの距離を含む前記測定装置を用いた測定条件が異なる関係が成立してもよい。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間または前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間には、前記電子ディスプレイおよび前記防眩層のそれぞれの構造上の条件が同一であり、撮像レンズおよび２次元イメージセンサを備えた測定装置の構造上の条件と、前記防眩層から前記撮像レンズまでの距離を含む前記測定装置を用いた測定条件とが異なる関係が成立してもよい。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法において、
前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間または前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間には、前記電子ディスプレイと、撮像レンズおよび２次元イメージセンサを備えた測定装置と、のそれぞれの構造上の条件が同一であり、前記防眩層の構造上の条件と、前記防眩層から前記撮像レンズまでの距離を含む前記測定装置を用いた測定条件とが異なる関係が成立してもよい。
本開示によるぎらつきコントラストの比較方法は、
前記ぎらつきコントラストの補正方法で補正された比較対象とするぎらつきコントラストを、比較基準とするぎらつきコントラストと比較する工程を備える。
本開示によるぎらつきコントラストの比較方法において、
前記補正された比較対象とするぎらつきコントラストと前記比較基準とするぎらつきコントラストとの比較結果を出力する工程を更に備えていてもよい。
本開示による電子ディスプレイの製造方法は、
検査対象の電子ディスプレイがぎらつきコントラストの合格基準を満たしているか否かを検査する工程を備え、
前記検査する工程は、前記比較する工程を有し、
前記比較する工程は、
前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの一方として前記検査対象の電子ディスプレイのぎらつきコントラストを適用し、前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの他方として前記合格基準のぎらつきコントラストを適用し、前記検査対象の電子ディスプレイのぎらつきコントラストを前記合格基準のぎらつきコントラストと比較する工程である。
本開示による電子ディスプレイの製造方法において、
前記検査対象の電子ディスプレイは、表面に防眩層が配置されていない電子ディスプレイであり、前記検査する工程において、ぎらつきコントラストを測定するために前記表面に検査用の防眩層が配置され、
前記検査用の防眩層は、予め決められた特性を有する防眩層であってもよい。
本開示による電子ディスプレイの製造方法において、
前記検査対象の電子ディスプレイは、表面に防眩層が配置された電子ディスプレイであってもよい。
本開示による防眩層の製造方法は、
検査対象の防眩層を形成する工程と、
前記検査対象の防眩層がぎらつきコントラストの合格基準を満たしているか否かを検査する工程と、を備え、
前記検査する工程は、前記比較する工程を有し、
前記比較する工程は、
前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの一方として前記検査対象の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを適用し、前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの他方として前記合格基準のぎらつきコントラストを適用し、前記検査対象の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを前記合格基準のぎらつきコントラストと比較する工程を有する。
本開示による防眩層の製造方法において、
前記検査対象の防眩層は、前記検査する工程において、ぎらつきコントラストを測定するために検査用の電子ディスプレイの表面に配置され、
前記検査用の電子ディスプレイは、予め決められた特性を有する電子ディスプレイであってもよい。
本開示による防眩層の製造方法において、
前記検査対象の防眩層を形成する工程は、
基材上に防眩機能を有する層を設ける工程を有していてもよい。
前記基材上に前記防眩機能を有する層を設ける工程は、
前記基材上に樹脂を含有する防眩層用組成物を塗布する工程と、
前記塗布された防眩層用組成物を硬化させる工程と、
を有していてもよい。
本開示による防眩層は、前記防眩層の製造方法を用いて製造された防眩層である。
本開示によるぎらつきコントラストの比較装置は、
前記ぎらつきコントラストの補正方法を用いて比較対象とするぎらつきコントラストを補正する補正部と、
補正された比較対象とするぎらつきコントラストと比較基準とするぎらつきコントラストとを比較する比較部とを備える。
本開示による防眩層の選択方法は、
前記ぎらつきコントラストの比較方法を用いて防眩層を選択する工程を備え、
前記防眩層を選択する工程は、
前記比較基準とするぎらつきコントラストとして、第１の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを、第１の光学測定装置で測定した第１の測定コントラストを適用し、
前記比較対象とするぎらつきコントラストとして、前記第１の防眩層と異なる第２の防眩層が表面に配置された前記電子ディスプレイのぎらつきコントラストを、前記第１の光学測定装置と異なる第２の光学測定装置で測定した第２の測定コントラストを適用し、
前記第１の測定コントラストと、前記第２の測定コントラストとを、両コントラストのうち一方の補正をともなう前記比較方法で比較する工程と、
前記比較の結果に基づいて、前記第１の防眩層および前記第２の防眩層のうち一方の防眩層を選択する工程と、
を有する。
本開示による防眩層の選択方法において、
前記一方の防眩層を選択する工程は、前記第１の防眩層および前記第２の防眩層のうちの対応する測定コントラストが良好な防眩層を選択する工程を有していてもよい。
本開示による防眩層は、
前記防眩層の選択方法によって選択された防眩層である。
本開示による偏光板は、
前記防眩層の選択方法によって選択された防眩層が搭載された偏光板である。
本開示による表示素子は、
前記防眩層の選択方法によって選択された防眩層が搭載された表示素子である。
本開示による電子ディスプレイは、
前記防眩層の選択方法によって選択された防眩層が搭載された電子ディスプレイである。
本開示による表示素子の選択方法は、
前記ぎらつきコントラストの比較方法を用いて、表面に防眩層が配置されていない電子ディスプレイである表示素子を選択する工程を備え、
前記表示素子を選択する工程は、
前記比較基準とするぎらつきコントラストとして、第１の表示素子の表面に第３の防眩層を配置した状態で、第３の光学測定装置によって測定された第３の測定コントラストを適用し、
前記比較対象とするぎらつきコントラストとして、前記第１の表示素子と異なる第２の表示素子の表面に前記第３の防眩層を配置した状態で、前記第３の光学測定装置と異なる第４の光学測定装置によって測定された第４の測定コントラストを適用し、
前記第３の測定コントラストと、前記第４の測定コントラストとを、両コントラストのうち一方の補正をともなう前記比較方法で比較する工程と、
前記比較の結果に基づいて、前記第１の表示素子および前記第２の表示素子のうち一方の表示素子を選択する工程と、
を有する。
本開示による表示素子の選択方法において、
前記一方の表示素子を選択する工程は、前記第１の表示素子および前記第２の表示素子のうちの対応する測定コントラストが良好な表示素子を選択する工程を有していてもよい。
本開示による電子ディスプレイは、
前記表示素子の選択方法によって選択された表示素子を備えた電子ディスプレイである。
本開示によるぎらつきコントラストの補正方法は、
電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じた複数のぎらつきコントラストであって、互いに異なる複数の測定条件で測定された複数のぎらつきコントラストと、前記複数の測定条件を示す情報とを取得する工程と、
前記複数のぎらつきコントラストの比較のために前記複数の測定条件を示す情報に基づいて前記複数のぎらつきコントラストの少なくとも１つを補正する工程と、を備える。
本開示による防眩層の製造装置は、
前記比較装置を備え、
前記補正部は、前記比較対象とするぎらつきコントラストとして検査対象の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを補正し、
前記比較部は、前記検査対象の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを、前記比較基準とするぎらつきコントラストとしての合格基準のぎらつきコントラストと比較する。
本開示によれば、測定条件が異なる複数のぎらつきコントラストを適切に比較することができる。
図１は、本実施形態によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。 図２は、図１のぎらつきコントラストの比較方法に用いることができる測定系の一例を示す図である。 図３は、図１のぎらつきコントラストの比較方法を説明するための説明図である。 図４は、本実施形態の第１の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。 図５は、本実施形態の第２の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。 図６Ａは、本実施形態の第３の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法の一例を示すフローチャートである。 図６Ｂは、図６Ａと異なる本実施形態の第３の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法の一例を示すフローチャートである。 図６Ｃは、図６Ｂのフローチャートの一部の工程を説明するための説明図である。 図６Ｄは、図６Ａおよび図６Ｂと異なる本実施形態の第３の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法の一例を示すフローチャートである。 図７は、図６Ａ～Ｃのフローチャートの一部の工程の詳細な例を示すフローチャートである。 図８は、本実施形態の第４の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。 図９は、本実施形態の第５の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。 図１０は、本実施形態によるぎらつきコントラストの比較方法に用いることができる疑似ディスプレイの一例を示す斜視図である。 図１１は、ぎらつきコントラストの具体的な測定系を示す図である。
以下、図面を参照して本開示の一実施の形態について説明する。なお、本件明細書に添付する図面においては、図示と理解のしやすさの便宜上、適宜縮尺および縦横の寸法比等を、実物のそれらから変更し誇張してある。
また、本明細書において用いる、形状や幾何学的条件並びにそれらの程度を特定する、例えば、「同等」、「同一」等の用語や、長さや角度の値等については、厳密な意味に縛られることなく、同様の機能を期待し得る程度の範囲を含めて解釈することとする。
また、本明細書において用いる光学的用語は、ＪＩＳＺ８１２０：２００１光学用語に沿う。また、本明細書において用いられる「予め決められた特性」との用語において、「特性」とは、光学特性、物理特性などあらゆる特性をいう。特に、本開示の各数式、各補正方法、各製造方法、各選択方法などに必要な特性のことをいう。
図１は、本実施形態によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。図２は、図１のぎらつきコントラストの比較方法に用いることができる測定系の一例を示す図である。
本実施形態によるぎらつきコントラストの比較方法は、発光型の電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じるぎらつきコントラストを、測定条件が異なる場合でも適切に比較するために用いることができる。
ぎらつきとは、ディスプレイの表示素子の画素マトリクスから出射した光が微細に凹凸加工された媒体および屈折率変調層などを通過するときに生じた散乱および屈折などによって、画面上に画素マトリクスサイズの小さな輝度分布を引き起こすことによって、ちらついて見える現象である。ぎらつきは、スパークルまたはスパークリングとも呼ぶが、本願では「ぎらつき」と表現する。より詳しくは、本願のぎらつきは、直視型ディスプレイの画素マトリクスと当該ディスプレイの表面の近くに配置された拡散層との組合せによる観察者の視覚系のセンサ面上への結像の結果生じる不規則な空間変調イメージをいう。
ぎらつきコントラストとは、ぎらつき値を、ぎらつきパターンを構成する全照度分布データの平均値に対する百分率で表した値である。ぎらつき値とは、ぎらつきパターンを構成する全照度分布データの標準偏差である。ぎらつきパターンとは、測定範囲内において、単一色で点灯したディスプレイの表示画面を撮像するときの撮像素子面上での照度分布に相当する。より詳しくは、ぎらつきパターンとは、撮像することによって得られる、ディスプレイの表示素子の画素形状の画像成分が見えない２次元の照度分布データ又はディスプレイの表示素子の画素形状の画像成分が見える照度分布データから画素形状の影響を排除した２次元の階調データである。
ただし、以下に示すように、照度分布の代わりに放射輝度分布を用いてぎらつきコントラストを定義することができる。すなわち、ぎらつきコントラストは、ぎらつきの度合いを示す代表的評価指数として次式で定義される。
Figure 0007194365000013
 数式（１６）において、σは、測定用の２次元イメージセンサ面上における単色ぎらつきパターンの放射輝度分布の標準偏差である。また、数式（１６）において、
Figure 0007194365000014
 は、単色ぎらつきパターンの放射輝度の平均値である。数式（１６）の右辺の分母および分子として、放射輝度の代わりに輝度を用いてもよい。
このようなぎらつきコントラストを比較するため、図２に示される測定系は、電子ディスプレイ８と、第１の光学測定装置１Ａと、第２の光学測定装置１Ｂと、比較装置１００とを備える。
第１の光学測定装置１Ａは、比較基準とする第１のぎらつきコントラストを測定する装置である。第２の光学測定装置１Ｂは、比較対象とする第２のぎらつきコントラストを測定する装置である。比較装置１００は、第１のぎらつきコントラストと第２のぎらつきコントラストとを比較する装置である。
より詳しくは、電子ディスプレイ８は、画素マトリクス８１とブラックマトリクス８２とを有し、その表面部には、拡散層としての防眩層９が積層されている。防眩層９とは、例えば外光による反射光を抑制するためにディスプレイ８表面に設置される光拡散層などである。ブラックマトリクス８２とは、従来知られているブラックマトリクスそのもの以外に、混色しないためのその他のブラックマトリクス的に作用する仕組みも含む。
電子ディスプレイ８としては、例えば、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、量子ドット（ＱＤ）ディスプレイ、ミニＬＥＤディスプレイ、マイクロＬＥＤディスプレイなどを採用することができる。電子ディスプレイ８は、疑似ディスプレイであっても良い。疑似ディスプレイとは、平面状の拡散光源上に画素マトリクスを模した媒体を配置した構成である。画素マトリクスは、拡散光源上に直接存在してもよいし、別途積層してもよい。例えば、図１０に示すように、平面白色光源８０１の発光部８０２上に画素を模したメタルマスク８０３を設置することで、疑似ディスプレイ８００を作製することができる。
防眩層９は、防眩機能を有する構造体であれば特に限定されない。防眩機能とは、防眩層に映り込む物体・光等の輪郭をぼかして見えにくくしたり、または映り込む物体・光そのものをぼかして見えにくくしたりする機能であり、眩しさを防止したりディスプレイで表示したい文字情報・動画・画像などの視認性を向上できる機能である。防眩層の表面には一般的には凹凸形状を有し、防眩機能が発現するならば、非常に微細な凹凸であってもよい。例えば、防眩層９は、Ａ：基材上に防眩機能を有する単一または複数の層を設けた積層体、Ｂ：基材表面そのものが防眩機能を有する基材、Ｃ：ＡまたはＢを表面に搭載したディスプレイまたは評価用のカラーフィルタ等の物品などであってもよい。また、防眩層９の防眩機能が発現する層は、防眩層を構成する複数の層の、いずれの位置に存在してもよい。視認側、ディスプレイ内部側、更には視認側とディスプレイ内部側の間に位置する層のいずれの位置でもよく、更には前記した複数位置に有してもよい。防眩層９は電子ディスプレイの表面に配置されるが、これは電子ディスプレイ８の画素マトリクス８１とブラックマトリクス８２よりも視認側に配置する部材であることを意味しており、そこに配置することでぎらつきを発生する。より具体的な例として、防眩層９は、硝子またはプラスチック上にサンドブラストや化学エッチングなどで適度な凹凸を設けた防眩層９であってもよい。または、防眩層９は、１００μｍ以下の薄い硝子フィルムやプラスチックフィルム上に、反応性有機・無機系樹脂バインダー、様々な粒径の有機・無機微粒子などを単独または混合してコーティング、硬化することで凹凸を設けた防眩層９であってもよい。あるいは、防眩層９は、金型や賦形フィルムなどによるエンボス凹凸を設けた防眩層９であってもよい。また、上記したようなバインター、バインダーと屈折率が異なる有機・無機微粒子を混合したコーティング組成物や、相溶性の低い複数の樹脂同志や屈折率の異なる複数の樹脂同志を混合したバインダーを含むコーティング組成物等を、あえて凹凸が非常に微細であるようにコーティングや加工を施して乾燥、硬化させたような防眩層９であってもよい。後述する［３．防眩層の選択方法及び防眩層を搭載した製品］で説明する防眩層９の選択方法によれば、ぎらつきが抑制できた良好な防眩層９を容易に得ることができる。なお、防眩層９に用いるプラスチックフィルムは、アクリル系、ポリエステル系、環状オレフィン系、セルロース系樹脂などを用いた防眩層９がよいが、この限りではない。また、防眩層９が複数の層を設けた積層体である場合、防眩層のバインダー屈折率よりも低い屈折率を有する低反射層、防汚性を発現するための防汚層などが積層されていてよい。この場合、これらの積層体全体が防眩層９である。なお、防眩層９がない場合、つまり防眩機能を発現しない平坦な面状の構造体であっても、バインダーを構成する樹脂成分や粒子の屈折率差がある場合には、内部拡散によりぎらつきが観察されうるので、ぎらつきコントラスト測定は防眩層９と同様にして行える。内部拡散の態様は防眩層９と同じくランダム構造をもつ。
図２に示すように、第２の光学測定装置１Ｂは、第２の光学系３Ｂと、第２の２次元イメージセンサ４Ｂと、第２の算出部６Ｂとを備える。また、図示を簡略化するが、第１の光学測定装置１Ａは、第１の光学系３Ａと、第１の２次元イメージセンサ４Ａと、第１の算出部６Ａとを有する。以下、これらの光学測定装置１Ａ，１Ｂの構成部について詳しく説明する。
（光学系３Ａ，３Ｂ）
第２の光学系３Ｂは、防眩層９からの出射光Ｌを屈折させて第２の２次元イメージセンサ４Ｂの２次元センサアレイ面４１上に結像させる装置である。第１の光学系３Ａは、防眩層９からの出射光Ｌを屈折させて第１の２次元イメージセンサ４Ａの２次元センサアレイ面４１上に結像させる装置である。
第２の光学系３Ｂは、第２の撮像レンズ３１Ｂと、開口３２１が設けられた第２の絞り３２Ｂとを有する。第２の光学系３Ｂと同様に、第１の光学系３Ａは、第１の撮像レンズ３１Ａと、第１の絞り３２Ａとを有する。
光学系３Ａ，３Ｂのパラメータは、ぎらつきコントラストの大きさに影響する。
例えば、絞り３２Ａ，３２Ｂの開口３２１が小さい、すなわち、撮像レンズ３１Ａ，３１ＢのＦナンバーが大きいほど、絞り３２Ａ，３２Ｂの開口３２１によって出射光Ｌが受ける回折の影響は顕著になる。出射光Ｌの回折が顕著になることで、２次元センサアレイ面４１上に結像する出射光Ｌの回折限界スポットすなわちエアリーディスクの広がりは大きくなる。これにより、２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂの１つの画素４２にとどまらず、隣接する他の画素４２に至るまで、回折限界スポットは広がる。
このような回折限界スポットの広がりが２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂの各画素４２上に結像する各回折限界スポットで生じることで、特定の画素４２に着目した場合、防眩層９の異なる箇所を通過した射出光Ｌ同士が特定の画素４２上で重なり合うことによるぎらつきパターンの平均化が生じる。
このような画素４２上でのぎらつきパターンの平均化の度合いが大きいほど、ぎらつきコントラストは低下する。すなわち、撮像レンズ３１Ａ，３１ＢのＦナンバーが大きいほど、画素４２上での平均化効果によってぎらつきコントラストは低下する。
一方、Ｆナンバーが小さくなり過ぎることで、２次元センサアレイ面４１上に形成されるぎらつきパターンを構成する平均粒径が画素４２よりも小さくなる場合にも、ぎらつきコントラストは低下する。このぎらつきコントラストの低下は、回折限界スポットの広がりが画素４２に対して狭すぎることによって１つの画素４２内で受光量の分布が生じることに起因する。より詳しくは、当該ぎらつきコントラストの低下は、当該受光量の分布によって１つの画素４２の出力値が画素４２内でのぎらつきパターンの積分値となることに起因する。すなわち、撮像レンズ３１Ａ，３１ＢのＦナンバーが小さくなり過ぎると、画素４２内でのぎらつきパターンの積分効果によってぎらつきコントラストは低下する。
以上のように、撮像レンズ３１のＦナンバーは、ぎらつきコントラストに影響する。具体的には、Ｆナンバーの増加にともなって画素４２上で異なるパターンが重なることによる平均化効果によって、コントラストは低下する。また、Ｆナンバーの減少にともなう画素４２内での積分効果によっても、ぎらつきコントラストは低下する。
なお、図２に示される例において、第２の撮像レンズ３１Ｂは、１枚のレンズで構成されている。しかし、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂは、それぞれが複数枚のレンズで構成されていてもよい。この場合、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂを構成する複数枚のレンズは、出射光Ｌの収差を低減するのに好適な組み合わせのパワーを有していてもよい。また、光学系３Ａ，３Ｂは光学フィルタ３３を含んでいてもよい。光学フィルタ３３は、入射光の強度、複素振幅、分光分布、振動面などを変化させて出射させる光学素子である。例えば、光学フィルタ３３は、国際照明委員会ＣＩＥ１９３１で定義されたＸＹＺ等色関数のうちのＹ値の関数に準じた光透過特性を有するＹフィルタであってもよい。光学フィルタ３３は、ＣＩＥ１９３１で定義されたＸＹＺ等色関数に準じた光透過特性を有するＸＹＺフィルタであってもよい。光学フィルタ３３は、ディスプレイのＲＧＢ原色に準じた光透過特性を有するＲＧＢフィルタであってもよい。光学フィルタ３３は、入射光を直線偏光に変換して出射させる直線偏光フィルタであってもよい。光学フィルタ３３は、入射光を円偏光に変換して出射させる円偏光フィルタであってもよい。光学フィルタ３３は、入射光の光量を減少させて出射させるＮＤフィルタであってもよい。光学フィルタ３３の例は、これらに限定されない。また、図２には、第２の絞り３２Ｂと第２の撮像レンズ３１Ｂとの間に光学フィルタ３３を配置する例が示されているが、光学フィルタ３３の枚数や位置は、図２の例に限定されない。また、絞りについても図２に例示した前絞りに限定されず、レンズ構成部内に設定した絞りであってもよい。
（２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂ）
２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂは、防眩層９からの出射光Ｌが結像される撮像素子である。２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂは、２次元センサアレイ面４１を有し、出射光Ｌを撮像する。
２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂは、互いに隣接する複数の画素４２を有し、画素４２の表面が２次元センサアレイ面４１を構成している。画素４２で受光された出射光Ｌは、光電変換によって電気信号へと変換され、変換された電気信号は、ぎらつきコントラストの算出に用いられる。
２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂは、固体撮像素子を有するイメージセンサであり、例えば、ＣＣＤ(Charge Coupled Device)センサ、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）センサであってもよい。
（算出部６Ａ，６Ｂ）
算出部６Ａ，６Ｂは、２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂで撮像された出射光Ｌの画像に基づいてぎらつきコントラストを算出する。算出部６Ａ，６Ｂは、例えば既述した数式（１６）にしたがってぎらつきコントラストを算出する。算出部６Ａ，６Ｂは、例えばＣＰＵやメモリなどのハードウェアで構成されている。算出部６Ａ，６Ｂの一部をソフトウェアで構成してもよい。なお、ぎらつきコントラストの算出、すなわち測定に用いる２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂの画素領域である測定領域としては、統計誤差が少ない測定領域を採用することが好ましい。具体的には、測定領域を小さく取りすぎると、場所、すなわち画素の位置に依存した平均放射輝度のばらつきに因る、ぎらつきコントラストの測定誤差である統計誤差は大きくなり易い。したがって、統計誤差が許容できる程度に小さくなるように、測定領域は大きく取ることが好ましい。また、光学系３Ａ，３Ｂの条件によっては、２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂの画素ピッチと画素マトリクス８１のピッチとによってモアレが生じる場合がある。モアレを回避するためには、適切な光学系３Ａ，３ＢのＦ値、または適切な測定距離、すなわち防眩層９から撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂまでの距離を選択することが好ましい。モアレが生じている場合には、算出部６Ａ，６Ｂまたは後述する比較装置１００は、事後的に画像からモアレを除去するためのフィルタリング処理を行うことが好ましい。ただし、フィルタリング処理によって、モアレが除去されるだけでなく、元々のぎらつきパターンによる放射輝度のランダム成分も影響を受けることがある。したがって、ぎらつきコントラストを正しく比較するために、比較装置１００は、フィルタリング処理によってどのようにぎらつきコントラストが影響しているかを考慮することが好ましい。
次に、比較装置１００の構成について説明する。比較装置１００は、補正部１０１と、比較部１０２とを有する。
補正部１０１は、第１のぎらつきコントラストとの比較のために、第１の測定条件と第２の測定条件との比率に基づいて第２のぎらつきコントラストを補正する。第２のぎらつきコントラストのより具体的な補正の態様については、以下の比較方法において説明する。比較部１０２は、補正部１０１で補正された第２のぎらつきコントラストを第１のぎらつきコントラストと比較する。比較部１０２は、比較結果を出力する。
（ぎらつきコントラストの比較方法）
次に、図２の測定系を適用したぎらつきコントラストの比較方法の具体例について説明する。
まず、図１に示すように、補正部１０１は、防眩層９からの出射光Ｌを結像させる第１の撮像レンズ３１Ａおよび出射光が結像される第１の２次元イメージセンサ４Ａを用いて、第１の測定条件で測定された比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、第１の測定条件を示す情報とを取得する（ステップＳ１）。
また、補正部１０１は、防眩層９からの出射光Ｌを結像させる第２の撮像レンズ３１Ｂおよび出射光が結像される第２の２次元イメージセンサ４Ｂを用いて、第２の測定条件で測定された第２のぎらつきコントラストと、第２の測定条件を示す情報とを取得する（ステップＳ２）。なお、ステップＳ１とステップＳ２とは、前後が入れ替わってもよい。または、ステップＳ１とステップＳ２とは、同時であってもよい。
次いで、補正部１０１は、第１のぎらつきコントラストとの比較のために、第１の測定条件と第２の測定条件との比率に基づいて第２のぎらつきコントラストを補正する（ステップＳ３）。第２のぎらつきコントラストの補正は、以下の数式（１）にしたがって行われる。
ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２／Ｆ１）×（ｄ２／ｄ１）×（ｆ１／ｆ２）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （１）
数式（１）において、ＳＰ２ａは、補正後の第２のぎらつきコントラストである。ＳＰ２は、補正前の第２のぎらつきコントラストである。Ｆ１は、第１の測定条件としての第１の撮像レンズ３１Ａの像側実効Ｆ値である。Ｆ２は、第２の測定条件としての第２の撮像レンズ３１Ｂの像側実効Ｆ値である。ｄ１は、第１の測定条件としての防眩層９から第１の撮像レンズ３１Ａまでの距離、すなわち、測定距離である。ｄ２は、第２の測定条件としての防眩層９から第２の撮像レンズ３１Ｂまでの距離である。ｆ１は、第１の測定条件としての第１の撮像レンズ３１Ａの実効焦点距離である。ｆ２は、第２の測定条件としての第２の撮像レンズ３１Ｂの実効焦点距離である。Ｍ１は、以下の数式（２）に示される値である。Ｍ２は、以下の数式（３）に示される値である。Ｍ１，Ｍ２は、統合パラメータと呼ばれることもある。
Figure 0007194365000015
 数式（２）において、Ａｃ１は、出射光Ｌの波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２）２×πで表現されるパラメータである。Ａｃ１は、後述する第１の２次元イメージセンサ４Ａ上の回折限界スポットの大きさＲ１を直径とした円の面積に相当する。Ａｍ１は、第１の測定条件としての第１の２次元イメージセンサ４Ａの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１２で表現されるパラメータである。Ａｍ１は、センサ４Ａの１画素の面積に相当する。ｅｒｆは、標準誤差関数である。
Figure 0007194365000016
 数式（３）において、Ａｃ２は、出射光Ｌの波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２）２×πで表現されるパラメータである。Ａｃ２は、後述する第２の２次元イメージセンサ４Ｂ上の回折限界スポットの大きさＲ２を直径とした円の面積に相当する。Ａｍ２は、第２の測定条件としての第２の２次元イメージセンサ４Ｂの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２２で表現されるパラメータである。Ａｍ２は、センサ４Ｂの１画素の面積に相当する。ｅｒｆは、標準誤差関数である。
第２のぎらつきコントラストが補正された後、比較部１０２は、補正後の第２のぎらつきコントラストすなわち補正コントラストと、第１のぎらつきコントラストすなわち非補正コントラストとを比較する（ステップＳ４）。
数式（１）にしたがって第２のぎらつきコントラストを補正することは、第１の測定条件との間で、２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂ上への出射光Ｌの回折限界スポットの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさが同一になるように第２の測定条件を事後的に調整することに相当する。
２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂ上への出射光Ｌの回折限界スポットの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさは、回折限界スポットの大きさと、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂの焦点距離および防眩層９から撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂまでの距離から求まる撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂの倍率と、に基づいて以下の数式（７）および数式（８）のように定まる。
Figure 0007194365000017
 数式（７）において、Ｓ１は、第１の測定条件としての第１の２次元イメージセンサ４Ａ上への出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさである。Ｒ１は、第１の２次元イメージセンサ４Ａ上の回折限界スポットの大きさ、すなわち、エアリーディスクの大きさである。ｍ１は、第１の測定条件としての第１の撮像レンズ３１Ａの倍率である。Ｆ１は、第１の測定条件としての第１の撮像レンズ３１Ａの像側実効Ｆ値である。ｄ１は、第１の測定条件としての防眩層９から第１の撮像レンズ３１Ａまでの距離である。ｆ１は、第１の測定条件としての第１の撮像レンズ３１Ａの実効焦点距離である。Ｆ１’は、第１の測定条件としての第１の撮像レンズ３１Ａの物体側実効Ｆ値である。
Figure 0007194365000018
 数式（８）において、Ｓ２は、第２の測定条件としての第２の２次元イメージセンサ４Ｂ上への出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさである。Ｒ２は、第２の２次元イメージセンサ４Ｂ上の回折限界スポットの大きさである。ｍ２は、第２の測定条件としての第２の撮像レンズ３１Ｂの倍率である。Ｆ２は、第２の測定条件としての第２の撮像レンズ３１Ｂの像側実効Ｆ値である。ｄ２は、第２の測定条件としての防眩層９から第２の撮像レンズ３１Ｂまでの距離である。ｆ２は、第２の測定条件としての第２の撮像レンズ３１Ｂの実効焦点距離である。Ｆ２’は、第２の測定条件としての第２の撮像レンズ３１Ｂの物体側実効Ｆ値である。
ここで、数式（１）は、第２のぎらつきコントラストＳＰ２に（Ｓ２／Ｓ１）を乗じることに相当する。ぎらつきコントラストＳＰは２次元イメージセンサ上への出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層上の発光領域の大きさＳの逆数１／Ｓに比例する。したがって、数式（１）は、右辺のＳＰ２にＳＰ１／ＳＰ２を乗じること、すなわち、左辺の補正後の第２のぎらつきコントラストＳＰ２ａを、第１のぎらつきコントラストＳＰ１に揃えることに相当する。ぎらつきコントラストが揃うということは、ぎらつきコントラストの逆数に比例するＳも揃うことに相当する。したがって、数式（１）にしたがった第２のぎらつきコントラストＳＰ２の補正は、第１の測定条件と第２の測定条件との間に以下の数式（６）を事後的に成立させることと等価である。
Ｓ１＝Ｓ２ （６）
ここで、図３に示すように、防眩層９上の１点からの出射光Ｌは、ＰＳＦ（点像強度分布関数）にしたがって、２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂの２次元センサアレイ面４１上に結像する。より具体的には、防眩層９上の１点からの出射光Ｌは、複数の画素４２に跨る回折限界スポットＰＳすなわち点像として結像する。なお、図３は、ＰＳＦにしたがった回折限界スポットＰＳの広がりを説明する便宜上、２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂを図２よりも拡大して図示している。
このように、１つの画素４２を中心とする回折限界スポットＰＳは、その画素４２だけでなく隣接する他の画素４２でも受光される。したがって、１つの画素４２への回折限界スポットＰＳの結像には、防眩層９上の複数の発光点Ｐからの出射光Ｌが寄与していると考えることができる。
そして、２次元センサアレイ面４１上への出射光Ｌの回折限界スポットＰＳの結像に寄与する防眩層９上の発光領域は、複数の発光点Ｐの集合と考えることができる。したがって、発光領域の大きさは、図３に示すように、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂを通して２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂ側の回折限界スポットＰＳを防眩層９上に投射した像の大きさＳ１，Ｓ２と考えることができる。なお、図３は、防眩層９上への回折限界スポットＰＳの投射像を、ＰＳＦの投射像として表現している。図３に示される例において、防眩層９上への回折限界スポットＰＳの投射像は、回折限界スポットＰＳよりも大きい。投射像が回折限界スポットＰＳよりも大きいことは、光学系３の倍率が関与していることによる。
回折限界スポットＰＳの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさＳ１，Ｓ２が一致すれば、異なる測定条件の下で撮像された出射光Ｌに基づくぎらつきコントラストの互換性を確保することができる。その理由は以下のとおりである。
画素４２上に入射する防眩層９上の各発光点Ｐからの出射光Ｌが、インコヒーレントまたはインコヒーレントと見なせる程度に可干渉性が低減されている場合、画素４２上において、防眩層９の各発光点Ｐからの出射光Ｌは殆ど干渉しない。すなわち、画素４２上において、単純な光の波面の重ね合わせが生じる。また、各発光点Ｐから生成される要素ぎらつきパターンは、防眩層９のランダム構造に起因してお互いに独立した異なるパターンである。
この結果、画素４２に対応する防眩層９上の発光点Ｐの個数に応じて、ぎらつきが平均化された回折限界スポット群が形成される。このぎらつきの平均化の度合いは、画素４２に対応する防眩層９上の発光点Ｐの個数、すなわち防眩層９上の発光領域の大きさＳ１，Ｓ２に依存する。
したがって、防眩層９上の発光領域の大きさＳ１，Ｓ２を一致させれば、測定条件が異なっていても、ぎらつきの平均化の度合いが共通する同一基準で比較できるぎらつきコントラストを得ることができる。
以上の理由によってぎらつきコントラストの互換性を確保できるため、補正部１０１は、Ｓ２がＳ１に一致することと等価になるように、数式（１）にしたがって第２のぎらつきコントラストを補正する。
このような構成によれば、第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された比較対象とする第２のぎらつきコントラストを数式（１）にしたがって補正することで、第１の測定条件で測定された比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、補正後の第２のぎらつきコントラストとの互換性を確保することができる。これにより、測定条件が異なる複数のぎらつきコントラストを適切に比較することができる。
なお、第１の測定条件と第２の測定条件との間に成立する関係は、電子ディスプレイ８と、防眩層９と、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂおよび２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂを備えた光学測定装置１Ａ，１Ｂと、のそれぞれの構造上の条件が同一であり、かつ、防眩層９から撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂまでの距離を含む、光学測定装置１Ａ，１Ｂを用いた測定条件が異なる関係であってもよい。
または、第１の測定条件と第２の測定条件との間に成立する関係は、電子ディスプレイ８および防眩層９のそれぞれの構造上の条件が同一であり、かつ、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂおよび２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂを備えた光学測定装置１Ａ，１Ｂの構造上の条件と、防眩層９から撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂまでの距離を含む、光学測定装置１Ａ，１Ｂを用いた測定条件とが異なる関係であってもよい。
あるいは、第１の測定条件と第２の測定条件との間に成立する関係は、電子ディスプレイ８と、撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂおよび２次元イメージセンサ４Ａ，４Ｂを備えた光学測定装置１Ａ，１Ｂと、のそれぞれの構造上の条件が同一であり、防眩層９の構造上の条件と、防眩層９から撮像レンズ３１Ａ，３１Ｂまでの距離を含む、光学測定装置１Ａ，１Ｂを用いた測定条件とが異なる関係であってもよい。
次に、ぎらつきコントラストの比較方法の適用例について説明する。
［１．電子ディスプレイの製造方法］
本実施形態および後述の各変形例によるぎらつきコントラストの比較方法は、電子ディスプレイの製造工程において、製品となる検査対象の電子ディスプレイがぎらつきコントラストの合格基準を満たしているか否かを検査するために用いることもできる。この場合、第１のぎらつきコントラストとして、合格基準のぎらつきコントラストを適用する。また、第２のぎらつきコントラストとして、検査対象品のぎらつきコントラストを適用する。例えば、比較装置１００の比較部１０２は、比較装置１００の補正部１０１で補正された検査対象品のぎらつきコントラストを、合格基準のぎらつきコントラストと比較する。比較した結果、検査対象品の補正後のぎらつきコントラストと合格基準のぎらつきコントラストとの差分が小さいと判断される場合、比較部１０２は、検査対象の電子ディスプレイが合格品であるとの判定結果を出力してもよい。一方、検査対象品の補正後のぎらつきコントラストと合格基準のぎらつきコントラストとの差分が大きいと判断される場合、比較部１０２は、検査対象の電子ディスプレイが不合格品であるとの判定結果を出力してもよい。検査対象品の補正後のぎらつきコントラストと合格基準のぎらつきコントラストとの差分が小さいか否かの判断は、予め決められたぎらつきコントラストの差分の閾値などの判断基準にしたがって行ってもよい。なお、第１のぎらつきコントラストとして検査対象品のぎらつきコントラストを適用し、第２のぎらつきコントラストとして合格基準のぎらつきコントラストを適用してもよい。
検査対象の電子ディスプレイは、表面に防眩層９が配置されていない電子ディスプレイすなわち電子ディスプレイ本体であってもよい。この場合、合格基準を満たしているか否かの検査において、ぎらつきコントラストを測定するために電子ディスプレイの表面に検査用の防眩層９が配置される。検査用の防眩層９は、予め決められた特性を有する防眩層９である。例えば、防眩層９は、予め決められた構造および大きさを有する防眩層９であってもよい。この場合、複数の検査対象の電子ディスプレイの間で、防眩層９の条件が共通となる。このため、複数の検査対象の電子ディスプレイの間の光学特性の差異が、ぎらつきコントラストの差異として現れる。すなわち、複数の検査対象の電子ディスプレイの間でぎらつきコントラストの差異が現れた場合、この差異が防眩層９の光学特性の差異に起因しないとみなすことができる。このように、防眩層９の条件が共通である検査条件の下で検査対象の電子ディスプレイが合格基準を満たしているか否かを検査することで、検査を適切に行うことができる。例えば、電子ディスプレイが本来は合格品であるにもかかわらず、防眩層９の光学特性の差異の影響によって不合格品であると誤判定されてしまうことを抑制することができる。ぎらつきコントラストの比較工程を経て製造された電子ディスプレイは、ぎらつきコントラストについての合格基準を満たす良好な光学特性を発揮することができる。
なお、検査対象の電子ディスプレイは、表面に防眩層９が配置されている電子ディスプレイすなわち電子ディスプレイ装置であってもよい。
［２．防眩層の製造方法］
また、本実施形態および後述する各変形例によるぎらつきコントラストの比較方法は、防眩層９の製造工程において、製品となる検査対象の防眩層９がぎらつきコントラストの合格基準を満たしているか否かを検査するために用いることもできる。この場合、第１のぎらつきコントラストとして、合格基準のぎらつきコントラストを適用する。また、第２のぎらつきコントラストとして、検査対象の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを適用する。例えば、比較部１０２は、補正部１０１で補正された検査対象の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを、合格基準のぎらつきコントラストと比較する。比較した結果、検査対象の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイの補正後のぎらつきコントラストと合格基準のぎらつきコントラストとの差分が小さいと判断される場合、比較部１０２は、検査対象の防眩層９が合格品であるとの判定結果を出力してもよい。一方、検査対象の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイの補正後のぎらつきコントラストと合格基準のぎらつきコントラストとの差分が大きいと判断される場合、比較部１０２は、検査対象の防眩層９が不合格品であるとの判定結果を出力してもよい。検査対象の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイの補正後のぎらつきコントラストと合格基準のぎらつきコントラストとの差分が小さいか否かの判断は、予め決められたぎらつきコントラストの差分の閾値などの判断基準にしたがって行ってもよい。なお、第１のぎらつきコントラストとして、検査対象の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを適用してもよい。また、第２のぎらつきコントラストとして、合格基準のぎらつきコントラストを適用してもよい。
検査対象の防眩層９は、合格基準を満たしているか否かの検査において、ぎらつきコントラストを測定するために検査用の電子ディスプレイの表面に配置される。検査用の電子ディスプレイは、予め決められた特性を有する電子ディスプレイである。例えば、検査用の電子ディスプレイは、予め決められた構造および大きさを有する電子ディスプレイであってもよい。検査用の電子ディスプレイは、複数の検査対象の防眩層９の間で共用、すなわち、繰り返し用いられてもよい。
このように、検査用の電子ディスプレイとして予め決められた特性を有する電子ディスプレイを用いる場合、複数の検査対象の防眩層９の間で、電子ディスプレイの条件は共通となる。このため、複数の検査対象の防眩層９の間の光学特性の差異は、ぎらつきコントラストの差異として現れる。すなわち、複数の検査対象の防眩層９の間でぎらつきコントラストの差異が現れた場合、この差異は電子ディスプレイの光学特性の差異に起因しないとみなすことができる。このように、電子ディスプレイの条件が共通である検査条件の下で検査対象の防眩層９が合格基準を満たしているか否かを検査することで、検査を適切に行うことができる。例えば、防眩層９が本来は合格品であるにもかかわらず、電子ディスプレイの光学特性の差異の影響によって不合格品であると誤判定されてしまうことを抑制することができる。ぎらつきコントラストの比較工程を経て製造された防眩層９は、ぎらつきコントラストについての合格基準を満たす良好な光学特性を発揮することができる。
検査対象の防眩層９の具体的な態様は特に限定されず、例えば、既述したＡ：基材上に防眩機能を有する単一または複数の層を設けた積層体、の態様であってもよい。防眩層が積層体の態様である場合、検査対象の防眩層９は、基材上に防眩機能を有する単一または複数の層を設けることで形成される。基材としては、例えば、シート状の光透過性基材を用いることができる。光透過性基材の材質は特に限定されず、例えば、プラスチック等の樹脂や、ガラスであってもよい。樹脂は、熱可塑性樹脂および熱硬化性樹脂のいずれであってもよい。
防眩機能を有する層は、光透過性基材上に樹脂を含有する防眩層用組成物を塗布し、塗布された樹脂を硬化させることで形成してもよい。防眩層用組成物は、例えば、少なくとも１つのオリゴマーまたはポリマーと少なくとも１つの硬化性樹脂前駆体とを、適切な溶媒を用いて混合した組成物であってもよい。オリゴマーやポリマーは、硬化性であっても、非硬化性であってもよい。防眩層用組成物は、更に微粒子が添加されていてもよい。前記オリゴマーまたはポリマーは、例えば、熱可塑性樹脂であってもよい。硬化性樹脂前駆体、硬化性オリゴマー、硬化性ポリマーとしては、熱や、紫外線および電子線等の電離放射線などによって硬化又は架橋して、硬化樹脂又は架橋樹脂などの樹脂を形成することが可能な種々の硬化性化合物を用いることができる。微粒子は、無機系の微粒子および有機系の微粒子のいずれであってもよい。微粒子は、例えば、プラスチックビーズであってもよい。また組成物には光硬化開始剤、レベリング剤、特殊波長吸収剤、屈折率調整剤、帯電防止剤、染料、顔料、酸化防止剤など各種添加剤を含んでいてよい。
基材上に防眩層用組成物を塗布する手法は特に限定されず、例えば、スピンコート法、ディップ法、スプレー法、ダイコート法、バーコート法、ロールコーター法、メニスカスコーター法、フレキソ印刷法、スクリーン印刷法、ビードコーター法等の公知の手法を用いて行ってもよい。
上記の方法のいずれかで防眩層用組成物を塗布した後、形成した塗膜を乾燥させるために加熱されたゾーンに搬送され各種の公知の方法で塗膜を乾燥させ溶剤を蒸発させる。ここで溶剤相対蒸発速度、固形分濃度、塗布液温度、乾燥温度、乾燥風の風速、乾燥時間、乾燥ゾーンの溶剤雰囲気濃度等を選定することにより、有機微粒子及び無機微粒子の分布状態を調整できる。
防眩層用組成物の硬化は、加熱や活性エネルギー線の照射によって行ってもよい。電離放射線の照射方法としては、例えば、超高 圧水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀灯、カーボンアーク灯、ブラックライト蛍光灯、メタルハライドランプ灯等の光源を用いる方法が挙げられる。また、紫外線の波長としては、１９０～３８０ｎｍの波長域を使用することができる。電子線源の具体例としては、コッククロフトワルト型、バンデグラフト型、共振変圧器型、絶縁コア変圧器型、又は直線型、ダイナミトロン型、高周波型等の各種電子線加速器が挙げられる。
検査対象の防眩層９は、表面に凹凸形状を有していてもよい。防眩層９の表面に凹凸形状を形成する方法は、例えば、（１）既述した防眩層用組成物に微粒子を添加すなわち混合分散させる方法、（２）微粒子は添加せず、防眩層用組成物中の溶剤の蒸発にともなうスピノーダル分解によって相分離構造を形成する方法、（３）凹凸形状を付与する賦形処理、（４）エンボス加工および（１）～（４）の組み合わせのいずれであってもよい。
［３．防眩層の選択方法及び防眩層を搭載した製品］
また、本実施形態および後述する各変形例によるぎらつきコントラストの比較方法は、防眩層９の選択方法および当該選択方法で選択された防眩層９を搭載した製品に適用することもできる。防眩層９の選択方法で用いられる防眩層９としては、［２．防眩層の製造方法］で説明した積層体の製造方法及びその他の製造方法で製造された様々な態様の防眩層９を適用することができる。
防眩層９の選択方法では、比較基準とするぎらつきコントラストとして、第１の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを第１の光学測定装置で測定した第１の測定コントラストを適用する。第１の光学測定装置としては、例えば、図２に示した第１の光学測定装置１Ａを用いることができる。また、防眩層９の選択方法では、比較対象とするぎらつきコントラストとして、第２の防眩層９が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを第２の光学測定装置で測定した第２の測定コントラストを適用する。第２の測定コントラストの測定で用いられる電子ディスプレイ本体は、第１の測定コントラストの測定で用いられる電子ディスプレイ本体と同じである。第２の防眩層９は、第１の防眩層９と異なる防眩層である。第２の光学測定装置としては、例えば、図２に示した第２の光学測定装置１Ｂを適用することができる。
すなわち、防眩層９の選択方法では、第１の測定コントラストと第２の測定コントラストとを、両コントラストの一方の補正をともなう上述のぎらつきコントラストの比較方法を用いて比較する。
そして、第１の測定コントラストと第２の測定コントラストとの比較の結果に基づいて、第１の防眩層９および第２の防眩層９のうちの一方の防眩層を選択する。具体的には、第１の防眩層９および第２の防眩層９のうちの対応する測定コントラストが良好な防眩層を選択する。より具体的には、第１の防眩層９および第２の防眩層９のうちの対応する測定コントラストが低い防眩層を選択する。このような防眩層９の選択は、第１の防眩層９と第２の防眩層９との双方が上述した［２．防眩層の製造方法］において合格品であると判断されたうえで行ってもよい。
本方法で選択された防眩層９は、製品としての電子ディスプレイ、電子ディスプレイを構成する偏光板または表示素子に搭載されて良好な光学特性を発揮することができる。なお、表示素子の具体的な態様は、電子ディスプレイの種類によって異なる。例えば、電子ディスプレイがＬＣＤ（液晶表示ディスプレイ）である場合、表示素子は液晶表示パネルである。ＬＣＤは、例えば、液晶表示パネルと、表面材と、偏光板とによって構成される。また、電子ディスプレイがＯＬＥＤ（有機発光ダイオード）である場合、表示素子は、ＯＬＥＤの表示素子である。ＯＬＥＤは、例えば、表示素子と、表面材と、偏光板とによって構成される。ＯＬＥＤは、偏光板を備えない場合もある。また、表示素子は、電子ディスプレイの他の一例としてのミニＬＥＤまたはマイクロＬＥＤの表示素子であってもよい。ミニＬＥＤおよびマイクロＬＥＤは、例えば、表示素子と、表面材と、偏光板とによって構成され得る。ミニＬＥＤおよびマイクロＬＥＤは、偏光板を備えない場合もある。上記表示素子は、電子ディスプレイ８に含まれており、表示素子には画素、画素マトリクス８１やブラックマトリクス８２が含まれている。
この他にも、本方法で選択された防眩層９は、あらゆる電子ディスプレイに有効に用いられる。例えば、近年大面積化ＨＤ（ハイビジョン）、ＦＨＤ（フルハイビジョン）４Ｋ、８Ｋなどの高画質化が進んでいる３０インチ、更には４０、５０インチ以上のテレビ、１５インチ、更には２０、３０インチ以上のモニター、１０インチ以上、更には１５インチ以上、１７インチ以上のノートブックＰＣなどは、１１０ｄｐｉ～３５０ｄｐｉという画素密度（１インチあたりの画素数）を持つ。画素密度は、ｐｐｉと称されることもある。本開示における画素密度とは、ディスプレイにおける表示素子の物理的な画素密度である。もし各種ディスプレイ表示素子で解像度を変更出来る場合は、そのとりうる最大の画素密度である。
例えば１３８ｄｐｉのノートブックＰＣに防眩層９を搭載した場合のぎらつきコントラスト値が、０．０５、より好ましくは０．０３以下である場合、ぎらつき防止性が良好と考えられる。また、近年高精細化が更に進んでいる車載用ディスプレイ、タブレット型ディスプレイ、スマートフォンなどは上記大面積化が進む電子ディスプレイと比較し、画面サイズが小さくても情報量を多く表示できるよう更に画素密度が緻密な場合が多く、１５０ｄｐｉ～９００ｄｐｉである。例えば４２３ｄｐｉのスマートフォンに搭載した場合のぎらつきコントラスト値が、０．０７以下、より好ましくは０．０５以下、最も好ましくは０．０４以下であれば、ぎらつき防止性が良好と考えられる。なお、このぎらつきコントラスト値は、図１１に示すように、上記したそれぞれの画素密度：１３８ｄｐｉ、４２３ｄｐｉのディスプレイ８０００に防眩層９０を搭載し、それぞれの画素密度に対応する測定条件の下で測定器１０００を用いて測定した場合の値である。測定器１０００は、筐体１００１の内部に、絞り１００２と、レンズ１００３と、ＣＣＤ１００４とを収容して構成されている。なお、レンズ１００３には、単焦点６０ｍｍのカメラレンズを、ＣＣＤ１００４には、測定エラーを極力低減するために冷却ＣＣＤを用いた。測定器１０００を用いた具体的な測定条件は以下のとおりである。
［１３．３インチ、１３８ｄｐｉの場合の測定条件］
（１）ディスプレイの条件：フルスクリーン
（２）緑色光Ｇのみフル出力点灯時のサブピクセルのピッチＰＦ：約１８５μｍ
（３）測定器の撮像素子の画素ピッチＰＬ：５．５μｍ
（４）撮像レンズの像側実行Ｆ値Ｆ＃ｉｍａｇｅ：３６．４
（５）コントラスト値の計算に用いた撮像素子画素領域：１２８×１２８
（６）撮像レンズ物体側主点からディスプレイマトリクス面までの距離である測定距離Ｌ：５００ｍｍ
（７）光学倍率ｍ：０．１３６
（８）ＰＦ＊ｍ／ＰＬで定義されるＩＳＲ（Image Sampling Ratio）：４．５９
（９）ディスプレイ表面と測定器の光軸とのなす角度：９０°
（１０）画素形状が見えたため、画素形状を除去する工程を実施
［５．２インチ、４２３ｄｐｉの場合の測定条件］
（１）ディスプレイの条件：フルスクリーン
（２）ＰＦ：約６０μｍ
（３）ＰＬ：５．５μｍ
（４）Ｆ＃ｉｍａｇｅ：３６．４
（５）コントラスト値の計算に用いた撮像素子画素領域：１２８×１２８
（６）Ｌ：５００ｍｍ
（７）ｍ：０．１３６
（８）ＩＳＲ：１．４９
（９）ディスプレイ表面と測定器の光軸とのなす角度：９０°
（１０）画素形状が見えなかったため、画素形状を除去する工程を実施せず
１３８ｄｐｉにおいては、ディスプレイ表示素子の画素形状の画像成分を除去する工程を実施した。この工程は、撮像で得られた画像をフーリエ変換し、フーリエ変換された画像からディスプレイの画素形状の画像成分により生じた規則的な周期成分を除去した後に逆フーリエ変換することで実施した。
本方法によれば、異なる光学測定装置で測定されたぎらつきコントラスト値同士を再測定せずに比較することができ、電子ディスプレイの偏光板や表示素子などに最適な防眩層を容易に選択することができる。
［４．表示素子の選択方法及び表示素子を搭載した製品］
また、本実施形態および後述する各変形例によるぎらつきコントラストの比較方法は、表示素子の選択方法および当該選択方法で選択された表示素子を搭載した製品に適用することもできる。表示素子の具体的な態様は特に限定されず、例えば、上述したＬＣＤの液晶表示パネルや、ＯＬＥＤの表示素子やミニＬＥＤの表示素子やマイクロＬＥＤの表示素子であってもよい。
表示素子の選択方法では、比較基準とするぎらつきコントラストとして、第１の表示素子の表面に第３の防眩層９を配置した状態すなわち電子ディスプレイの状態で第３の光学測定装置によって測定された第３の測定コントラストを適用する。第３の光学測定装置としては、例えば、図２に示した第１の光学測定装置１Ａを用いることができる。また、表示素子の選択方法では、比較対象とするぎらつきコントラストとして、第２の表示素子の表面に第３の防眩層９を配置した状態で第４の光学測定装置で測定された第４の測定コントラストを適用する。第２の表示素子は、第１の表示素子と異なる表示素子である。第４の測定コントラストの測定で用いられる第３の防眩層９は、第３の測定コントラストの測定で用いられる防眩層９と同じ光学特性を有する防眩層である。第４の光学測定装置は、第３の光学測定装置と異なる装置である。第４の光学測定装置としては、例えば、図２に示した第２の光学測定装置１Ｂを適用することができる。
すなわち、表示素子の選択方法では、第３の測定コントラストと第４の測定コントラストとを、両コントラストの一方の補正をともなう上述のぎらつきコントラストの比較方法を用いて比較する。
そして、第３の測定コントラストと第４の測定コントラストとの比較の結果に基づいて、第１の表示素子および第２の表示素子のうちの一方の表示素子を選択する。具体的には、第１の表示素子および第２の表示素子のうちの対応する測定コントラストが良好な表示素子を選択する。本方法で選択された表示素子は、電子ディスプレイに搭載されて良好な光学特性を発揮することができる。
以上述べたように、本実施形態によれば、第１の測定条件と第２の測定条件との比率に基づいて第２のぎらつきコントラストを補正することで、測定条件が異なる第１のぎらつきコントラストと第２のぎらつきコントラストとを適切に比較することができる。
一実施の形態をいくつかの具体例により説明してきたが、上述した具体例が一実施の形態を限定することを意図していない。上述した一実施の形態は、その他の様々な具体例で実施されることが可能であり、その要旨を逸脱しない範囲で、種々の構成の省略、置き換え、変更、或いは、更なる構成の追加を行うことができる。
以下、図面を参照しながら、他の具体例を説明していくことで上述した実施の形態を更に説明していく。以下の説明および以下の説明で用いる図面では、上述した具体例と同様に構成され得る部分について、上述の具体例における対応する部分に対して用いた符号と同一の符号を用いるとともに、重複する説明を省略する。
（第１の変形例）
図４は、本実施形態の第１の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。図１では、数式（１）にしたがって第２のぎらつきコントラストを補正する例について説明した。これに対して、図４に示される例において、第２のぎらつきコントラストの補正は、以下の数式（４）にしたがって行われる（ステップＳ３Ａ）。
ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２／Ｆ１）×（ｍ１／ｍ２）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （４）
ここで、ｍ１、ｄ１、ｆ１の間には、ｍ１＝ｆ１／ｄ１の関係が成立する。同様に、ｍ２、ｄ２、ｆ２の間には、ｍ２＝ｆ２／ｄ２の関係が成立する。したがって、数式（４）を変形すれば数式（１）と同じ関係式が得られる。すなわち、数式（４）にしたがって第２のぎらつきコントラストを補正することは、数式（１）にしたがった補正と同様に、Ｓ１＝Ｓ２を成立させることと等価である。
したがって、図４に示される例によれば、図１の場合と同様に、測定条件が異なる第１のぎらつきコントラストと第２のぎらつきコントラストとを適切に比較することができる。
（第２の変形例）
図５は、本実施形態の第２の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。図５に示される例において、第２のぎらつきコントラストの補正は、以下の数式（５）にしたがって行われる（ステップＳ３Ｂ）。
ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２’／Ｆ１’）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （５）
ここで、Ｆ１’とＦ１との間には、Ｆ１’＝Ｆ１／ｍ１の関係が成立する。Ｆ２’とＦ２との間には、Ｆ２’＝Ｆ２／ｍ２の関係が成立する。したがって、数式（５）を変形すれば数式（４）と同じ関係式が得られる。すなわち、数式（５）にしたがって第２のぎらつきコントラストを補正することは、数式（４）にしたがった補正と同様に、Ｓ１＝Ｓ２を成立させることと等価である。
したがって、図５に示される例によれば、図４の場合と同様に、測定条件が異なる第１のぎらつきコントラストと第２のぎらつきコントラストとを適切に比較することができる。
（第３の変形例）
図６Ａは、本実施形態の第３の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。これまでは、Ｓ１＝Ｓ２が成立するように第２のぎらつきコントラストを補正することで、第１のぎらつきコントラストとの互換性を有する第２のぎらつきコントラストを得る例について説明した。これに対して、図６Ａに示される例では、収差の影響によるぎらつきコントラストの誤差を考慮して、Ｓ１＝Ｓ２が成立する場合よりも更に高精度に第１のぎらつきコントラストと比較できる第２のぎらつきコントラストを得るように構成されている。
具体的には、補正部１０１は、第１のぎらつきコントラストおよび第１の測定条件を示す情報を取得し（ステップＳ１）、第２のぎらつきコントラストおよび第２の測定条件を示す情報を取得した後（ステップＳ２）、既述した数式（６）の関係式Ｓ１＝Ｓ２が成立するか否かを判定する（ステップＳ３１）。
Ｓ１＝Ｓ２が成立する場合（ステップＳ３１：Ｙｅｓ）、補正部１０１は、第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像との間で画像に基づいて算出されるＭＴＦ(Modulation Transfer Function)が揃うように、第２の測定条件の下で撮像された出射光の画像の補正演算を行う（ステップＳ３２）。一方、Ｓ１＝Ｓ２が成立しない場合（ステップＳ３１：Ｎｏ）、処理を終了する。
図７は、図６Ａのフローチャートにおける補正演算（ステップＳ３２）の詳細な例を示すフローチャートである。第２の測定条件の下で撮像された出射光の画像の補正演算は、例えば、図７のフローチャートにしたがって行われてもよい。
具体的には、補正部１０１は、先ず、第２の測定条件の下で撮像された出射光の画像のエッジプロファイルを作成する（ステップＳ３２１）。エッジプロファイルは、第２の測定条件の下で撮像された出射光の画像のエッジ部分の画素値の変動を示す情報である。エッジプロファイルは、例えば、ＪＰ２０２０－２５２２４Ａに開示されている技術を応用して作成してもよい。
エッジプロファイルを作成した後、補正部１０１は、エッジプロファイルを微分することで線広がり関数を算出する（ステップＳ３２２）。
線広がり関数を算出した後、補正部１０１は、算出された線広がり関数をフーリエ変換することによって第２のＭＴＦを算出する（ステップＳ３２３）。
第２のＭＴＦを算出した後、補正部１０１は、算出された第２のＭＴＦと、第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像に基づいて算出された第１のＭＴＦとを比較する（ステップＳ３２４）。
比較により、補正部１０１は、第２のＭＴＦが第１のＭＴＦと揃ったか否かを判定する（ステップＳ３２５）。
第２のＭＴＦが第１のＭＴＦと揃った場合（ステップＳ３２５：Ｙｅｓ）、補正部１０１は、補正演算を終了して、図６Ａに示すように、補正演算後の出射光の画像に基づいて補正後の第２のぎらつきコントラストを取得する（ステップＳ３３）。
一方、第２のＭＴＦが第１のＭＴＦと揃っていない場合（ステップＳ３２５：Ｎｏ）、補正部１０１は、第２の測定条件の下で撮像された出射光の画像の解像度を調整するエンハンスフィルタの係数を変更することで、当該画像の解像度を変更する（ステップＳ３２６）。エンハンスフィルタを用いた解像度の変更は、例えば、ＪＰ２０２０－２５２２４Ａに開示されている技術を応用して行ってもよい。その後は、解像度が変更された画像に対して、ステップＳ３２１以降の処理を繰り返す。なお、図７に示される例は、補正演算の一例を示したに過ぎず、図７以外の方法で補正演算を行ってもよいことは勿論である。
図６Ａに示される例によれば、測定条件が異なる第１のぎらつきコントラストと第２のぎらつきコントラストとをより適切に比較することができる。
なお、図６Ｂに示すように、補正部１０１は、ステップＳ３２とステップＳ３３との間に、ステップＳ３４を実施してもよい。ステップＳ３４は、第２の測定条件の下で撮像された出射光の画像に対する補正演算で得られた画像の放射輝度平均値を、第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像の放射輝度平均値に揃える工程である。
具体的には、ステップＳ３４において補正部１０１は、補正演算で得られた画像を、図６Ｃに示すようにＸ方向およびＹ方向にマトリクス状に整列した複数の領域（Ｘ，Ｙ）に分割する。そして、補正部１０１は、分割された各領域（Ｘ，Ｙ）内の全ての画素の放射輝度データに下記パラメータ
Figure 0007194365000019
 を乗じる。ただし、
Figure 0007194365000020
 は、予め取得された第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像の放射輝度平均値である。ＩＸＹは、領域（Ｘ，Ｙ）内の局所的な平均輝度である。ステップＳ３４により、補正演算された画像の全ての領域（Ｘ，Ｙ）の放射輝度平均値を、第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像の放射輝度平均値に揃えることができる。ステップＳ３４に続くステップＳ３３において、補正部１０１は、第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像との間で放射輝度平均値が揃えられた補正演算後の画像に基づいて、補正後の第２のぎらつきコントラストを取得する。
また、図６Ｄに示すように、補正部１０１は、ステップＳ３２とステップＳ３４との間に、ステップＳ３５を実施してもよい。ステップＳ３５は、ステップＳ３２の補正演算で得られた画像から電子ディスプレイ８の表示素子の画素により生じた画素形状の画像成分を除去する工程である。ステップＳ３５は、例えば、補正演算で得られた画像をフーリエ変換し、フーリエ変換された画像から電子ディスプレイ８の画素により生じた規則的な周期成分を除去した後に逆フーリエ変換することで実施してもよい。これにより、ステップＳ３５に続くステップＳ３４では、電子ディスプレイ８の表示素子の画素により生じた画素形状の画像成分が除去された補正演算後の画像に対して、第１の測定条件の下で撮像された出射光の画像との間で放射輝度平均値を揃える工程が実施される。
（第４の変形例）
図８は、本実施形態の第４の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。これまでは、比較基準とするぎらつきコントラストが、実際の測定条件で実測されたぎらつきコントラストであった。これに対して、図８に示される例では、比較基準とするぎらつきコントラストを、仮想の測定条件で仮想的に測定されたぎらつきコントラストとする。
具体的には、先ず、図８に示すように、補正部１０１は、防眩層９からの出射光を結像させる仮想の撮像レンズおよび出射光が結像される仮想の２次元イメージセンサを用いた仮想の測定条件で仮想的に測定された比較基準とする第３のぎらつきコントラストと、仮想の測定条件を示す情報とを取得する（ステップＳ１Ａ）。
また、補正部１０１は、防眩層９からの出射光を結像させる実際の撮像レンズおよび出射光が結像される実際の２次元イメージセンサを用いた実際の測定条件で実測された比較対象とする第４のぎらつきコントラストと、実際の測定条件を示す情報とを取得する（ステップＳ２Ａ）。
次いで、補正部１０１は、仮想の測定条件と実際の測定条件との間に以下の数式（９）が成立するか否かを判定する（ステップＳ３０１）。
Ｓ３≠Ｓ４ （９）
数式（９）において、Ｓ３は、仮想の測定条件としての２次元イメージセンサ上への防眩層９からの出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさであって、以下の数式（１１）を満足する。Ｓ４は、実際の測定条件としての２次元イメージセンサ上への防眩層９からの出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層９上の発光領域の大きさであって、以下の数式（１２）を満足する。
Figure 0007194365000021
 数式（１１）において、Ｒ３は、２次元イメージセンサ上の回折限界スポットの大きさである。ｍ３は、仮想の測定条件としての仮想の撮像レンズの倍率である。Ｆ３は、仮想の測定条件としての仮想の撮像レンズの像側実効Ｆ値である。ｄ３は、仮想の測定条件としての防眩層９から仮想の撮像レンズまでの距離である。ｆ３は、仮想の測定条件としての仮想の撮像レンズの実効焦点距離である。Ｆ３’は、仮想の測定条件としての仮想の撮像レンズの物体側実効Ｆ値である。
Figure 0007194365000022
 数式（１２）において、Ｒ４は、２次元イメージセンサ上の回折限界スポットの大きさである。ｍ４は、実際の測定条件としての実際の撮像レンズの倍率である。Ｆ４は、実際の測定条件としての実際の撮像レンズの像側実効Ｆ値である。ｄ４は、実際の測定条件としての防眩層９から実際の撮像レンズまでの距離である。ｆ４は、実際の測定条件としての実際の撮像レンズの実効焦点距離である。Ｆ４’は、実際の測定条件としての実際の撮像レンズの物体側実効Ｆ値である。
数式（９）が成立する場合（ステップＳ３０１：Ｙｅｓ）、補正部１０１は、以下の数式（１０）にしたがって第４のぎらつきコントラストを補正する（ステップＳ３０２）。
ＳＰ４ａ＝ＳＰ４×（Ｓ４／Ｓ３） （１０）
数式（１０）において、ＳＰ４ａは、補正後の第４のぎらつきコントラストである。ＳＰ４は、補正前の第４のぎらつきコントラストである。
一方、数式（９）が成立しない場合（ステップＳ３０１：Ｎｏ）、補正部１０１は、処理を終了する。
第４のぎらつきコントラストを補正した後、比較部１０２は、補正後の第４のぎらつきコントラストと第３のぎらつきコントラストとを比較する（ステップＳ４Ａ）。
図８に示される例によれば、比較基準とするぎらつきコントラストを仮想的に設定した場合でも、比較対象とするぎらつきコントラストを適切に比較することができる。比較基準を仮想的に設定することで、比較基準についての自由度を向上させることができる。
（第５の変形例）
図９は、本実施形態の第５の変形例によるぎらつきコントラストの比較方法を示すフローチャートである。図９に示されるように、既述した数式（１０）にしたがって第４のぎらつきコントラストを補正した後に、以下の数式（１３）にしたがって第４のぎらつきコントラストを更に補正してもよい（ステップＳ３０３）。
ＳＰ４ａ’＝ＳＰ４ａ×（Ｍ４／Ｍ３）０．５ （１３）
数式（１３）において、ＳＰ４ａ’は、数式（１３）による補正後の第４のぎらつきコントラストである。Ｍ３は、以下の数式（１４）に示される値である。Ｍ４は、以下の数式（１５）に示される値である。
Figure 0007194365000023
 数式（１４）において、Ａｃ３は、防眩層からの出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ３×λ）／２）２×πで表現されるパラメータである。Ａｍ３は、仮想の測定条件としての２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ３と定義した場合にｐ３２で表現されるパラメータである。ｅｒｆは、標準誤差関数である。
Figure 0007194365000024
 数式（１５）において、Ａｃ４は、防眩層からの出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ４×λ）／２）２×πで表現されるパラメータである。Ａｍ４は、仮想の測定条件としての２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ４と定義した場合にｐ４２で表現されるパラメータである。ｅｒｆは、標準誤差関数である。
図９に示される例によれば、仮想の測定条件と実際の測定条件との間で撮像レンズのＦ値が異なる場合でも第４のぎらつきコントラストを適切に補正することができる。したがって、仮想の測定条件で仮想的に測定されたぎらつきコントラストと実際の測定条件で実測されたぎらつきコントラストとを更に適切に比較することができる。
なお、以上において上述した実施の形態に対して適用可能な多数の変形例を説明してきたが、当然に、複数の変形例を適宜組み合わせて適用することも可能である。

Claims (26)

  1. 電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との比率に基づいて前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
    前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（１）にしたがって行われる、ぎらつきコントラストの補正方法。
    ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２／Ｆ１）×（ｄ２／ｄ１）×（ｆ１／ｆ２）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （１）
    但し、
    ＳＰ２ａ：補正後の第２のぎらつきコントラスト
    ＳＰ２：補正前の第２のぎらつきコントラスト
    Ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    Ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    ｄ１：前記第１の測定条件としての前記防眩層から前記第１の撮像レンズまでの距離
    ｄ２：前記第２の測定条件としての前記防眩層から前記第２の撮像レンズまでの距離
    ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの実効焦点距離、
    ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの実効焦点距離、
    Ｍ１：以下の数式（２）に示される値、
    Ｍ２：以下の数式（３）に示される値
    Figure 0007194365000025
     但し、
    Ａｃ１：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１２で表現されるパラメータ
    ｅｒｆ：標準誤差関数
    Figure 0007194365000026
     但し、
    Ａｃ２：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２２で表現されるパラメータ
  2. 電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との比率に基づいて前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
    前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（４）にしたがって行われる、ぎらつきコントラストの補正方法。
    ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２／Ｆ１）×（ｍ１／ｍ２）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （４）
    但し、
    ＳＰ２ａ：補正後の第２のぎらつきコントラスト
    ＳＰ２：補正前の第２のぎらつきコントラスト
    Ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    Ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    ｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの倍率
    ｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの倍率
    Ｍ１：以下の数式（２）に示される値、
    Ｍ２：以下の数式（３）に示される値
    Figure 0007194365000027
     但し、
    Ａｃ１：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１２で表現されるパラメータ
    ｅｒｆ：標準誤差関数
    Figure 0007194365000028
     但し、
    Ａｃ２：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２２で表現されるパラメータ
  3. 電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との比率に基づいて前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
    前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（５）にしたがって行われる、ぎらつきコントラストの補正方法。
    ＳＰ２ａ＝ＳＰ２×（Ｆ２’／Ｆ１’）×（Ｍ２／Ｍ１）０．５ （５）
    但し、
    ＳＰ２ａ：補正後の第２のぎらつきコントラスト
    ＳＰ２：補正前の第２のぎらつきコントラスト
    Ｆ１’：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの物体側実効Ｆ値、
    Ｆ２’：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの物体側実効Ｆ値、
    Ｍ１：以下の数式（２）に示される値、
    Ｍ２：以下の数式（３）に示される値
    Figure 0007194365000029
     但し、
    Ａｃ１：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ１×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ１と定義した場合にｐ１２で表現されるパラメータ
    ｅｒｆ：標準誤差関数
    Figure 0007194365000030
     但し、
    Ａｃ２：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ２×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ２と定義した場合にｐ２２で表現されるパラメータ
  4. 電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第１の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第１の２次元イメージセンサを用いて第１の測定条件で測定された、比較基準とする第１のぎらつきコントラストと、前記第１の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる第２の撮像レンズおよび前記出射光が結像される第２の２次元イメージセンサを用いて前記第１の測定条件と異なる第２の測定条件で測定された、比較対象とする第２のぎらつきコントラストと、前記第２の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記第１のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程と、を備え、
    前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、
    前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間に以下の数式（６）が成立する場合に、前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像との間で画像に基づいて算出されるＭＴＦが揃うように、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に補正演算を行う工程と、
    前記補正演算で得られた画像から補正後の第２のぎらつきコントラストを取得する工程と、を有し、
    前記補正演算を行う工程は、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像の解像度を調整するエンハンスフィルタの係数を調整する工程を有する、ぎらつきコントラストの補正方法。
    Ｓ１＝Ｓ２ （６）
    但し、
    Ｓ１：前記第１の測定条件としての前記第１の２次元イメージセンサ上への前記出射光の回折限界スポットの結像に寄与する前記防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（７）を満足する。
    Ｓ２：前記第２の測定条件としての前記第２の２次元イメージセンサ上への前記出射光の回折限界スポットの結像に寄与する前記防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（８）を満足する。
    Figure 0007194365000031
     但し、
    Ｒ１：前記第１の２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
    ｍ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの倍率
    Ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    ｄ１：前記第１の測定条件としての前記防眩層から前記第１の撮像レンズまでの距離、
    ｆ１：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの実効焦点距離、
    Ｆ１’：前記第１の測定条件としての前記第１の撮像レンズの物体側実効Ｆ値、
    Figure 0007194365000032
     但し、
    Ｒ２：前記第２の２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
    ｍ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの倍率
    Ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    ｄ２：前記第２の測定条件としての前記防眩層から前記第２の撮像レンズまでの距離、
    ｆ２：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの実効焦点距離、
    Ｆ２’：前記第２の測定条件としての前記第２の撮像レンズの物体側実効Ｆ値
  5. 前記補正演算を行う工程は、
    前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像のエッジプロファイルを生成する工程と、
    前記生成されたエッジプロファイルを微分することで線広がり関数を算出する工程と、
    前記算出された線広がり関数をフーリエ変換することでＭＴＦを算出する工程と、
    前記算出されたＭＴＦを前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に基づくＭＴＦと比較する工程と、を更に有する請求項４に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
  6. 前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に補正演算を行う工程と、前記補正演算で得られた画像から補正後の第２のぎらつきコントラストを取得する工程との間に、前記補正演算で得られた画像の放射輝度平均値を前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像の放射輝度平均値に揃える工程を有する、請求項４又は５に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
  7. 前記第２のぎらつきコントラストを補正する工程は、前記第２の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像に補正演算を行う工程と、前記補正演算で得られた画像の放射輝度平均値を前記第１の測定条件の下で撮像された前記出射光の画像の放射輝度平均値に揃える工程との間に、前記補正演算で得られた画像から前記電子ディスプレイの画素により生じた画像成分を除去する工程を有する、請求項６に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
  8. 電子ディスプレイの表面に配置された防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる仮想の撮像レンズおよび前記出射光が結像される仮想の２次元イメージセンサを用いた仮想の測定条件で仮想的に測定された、比較基準とする第３のぎらつきコントラストと、前記仮想の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記防眩層により生じたぎらつきコントラストであって、前記防眩層からの出射光を結像させる実際の撮像レンズおよび前記出射光が結像される実際の２次元イメージセンサを用いた実際の測定条件で実測された、比較対象とする第４のぎらつきコントラストと、前記実際の測定条件を示す情報と、を取得する工程と、
    前記第３のぎらつきコントラストとの比較のために、前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程とを備え、
    前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程は、
    前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間に以下の数式（９）が成立する場合に、以下の数式（１０）にしたがって前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程を有する、ぎらつきコントラストの補正方法。
    Ｓ３≠Ｓ４ （９）
    ＳＰ４ａ＝ＳＰ４×（Ｓ４／Ｓ３） （１０）
    但し、
    Ｓ３：前記仮想の測定条件としての２次元イメージセンサ上への防眩層からの出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（１１）を満足する。
    Ｓ４：前記実際の測定条件としての２次元イメージセンサ上への防眩層からの出射光の回折限界スポットの結像に寄与する防眩層上の発光領域の大きさであって、以下の数式（１２）を満足する。
    ＳＰ４ａ：補正後の第４のぎらつきコントラスト
    ＳＰ４：補正前の第４のぎらつきコントラスト
    Figure 0007194365000033
     但し、
    Ｒ３：前記２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
    ｍ３：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの倍率
    Ｆ３：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    ｄ３：前記仮想の測定条件としての防眩層から撮像レンズまでの距離
    ｆ３：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの実効焦点距離、
    Ｆ３’：前記仮想の測定条件としての撮像レンズの物体側実効Ｆ値
    Figure 0007194365000034
     但し、
    Ｒ４：前記２次元イメージセンサ上の前記回折限界スポットの大きさ
    ｍ４：前記実際の測定条件としての撮像レンズの倍率
    Ｆ４：前記実際の測定条件としての撮像レンズの像側実効Ｆ値、
    ｄ４：前記実際の測定条件としての防眩層から撮像レンズまでの距離
    ｆ４：前記実際の測定条件としての撮像レンズの実効焦点距離、
    Ｆ４’：前記実際の測定条件としての撮像レンズの物体側実効Ｆ値
  9. 前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程は、以下の数式（１３）にしたがって前記第４のぎらつきコントラストを補正する工程を更に有する、請求項８に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
    ＳＰ４ａ’＝ＳＰ４ａ×（Ｍ４／Ｍ３）０．５ （１３）
    但し、
    ＳＰ４ａ’：数式（１３）による補正後の第４のぎらつきコントラスト
    Ｍ３：以下の数式（１４）に示される値、
    Ｍ４：以下の数式（１５）に示される値
    Figure 0007194365000035
     但し、
    Ａｃ３：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ３×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ３：前記仮想の測定条件としての２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ３と定義した場合にｐ３２で表現されるパラメータ
    ｅｒｆ：標準誤差関数
    Figure 0007194365000036
     但し、
    Ａｃ４：前記出射光の波長をλと定義した場合に（（（４／π）×Ｆ４×λ）／２）２×πで表現されるパラメータ
    Ａｍ４：前記仮想の測定条件としての２次元イメージセンサの画素ピッチをｐ４と定義した場合にｐ４２で表現されるパラメータ
  10. 前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間または前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間には、前記電子ディスプレイと、前記防眩層と、撮像レンズおよび２次元イメージセンサを備えた測定装置と、のそれぞれの構造上の条件が同一であり、前記防眩層から前記撮像レンズまでの距離を含む前記測定装置を用いた測定条件が異なる関係が成立する、請求項１乃至５、８及び９のいずれか１項に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
  11. 前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間または前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間には、前記電子ディスプレイおよび前記防眩層のそれぞれの構造上の条件が同一であり、撮像レンズおよび２次元イメージセンサを備えた測定装置の構造上の条件と、前記防眩層から前記撮像レンズまでの距離を含む前記測定装置を用いた測定条件とが異なる関係が成立する、請求項１乃至５、８及び９のいずれか１項に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
  12. 前記第１の測定条件と前記第２の測定条件との間または前記仮想の測定条件と前記実際の測定条件との間には、前記電子ディスプレイと、撮像レンズおよび２次元イメージセンサを備えた測定装置と、のそれぞれの構造上の条件が同一であり、前記防眩層の構造上の条件と、前記防眩層から前記撮像レンズまでの距離を含む前記測定装置を用いた測定条件とが異なる関係が成立する、請求項１乃至５、８及び９のいずれか１項に記載のぎらつきコントラストの補正方法。
  13. 請求項１乃至１２のいずれか１項に記載のぎらつきコントラストの補正方法で補正された比較対象とするぎらつきコントラストを、比較基準とするぎらつきコントラストと比較する工程を備える、ぎらつきコントラストの比較方法。
  14. 前記補正された比較対象とするぎらつきコントラストと前記比較基準とするぎらつきコントラストとの比較結果を出力する工程を更に備える、請求項１３に記載のぎらつきコントラストの比較方法。
  15. 検査対象の電子ディスプレイがぎらつきコントラストの合格基準を満たしているか否かを検査する工程を備え、
    前記検査する工程は、請求項１３に記載の比較する工程を有し、
    前記比較する工程は、
    前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの一方として前記検査対象の電子ディスプレイのぎらつきコントラストを適用し、前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの他方として前記合格基準のぎらつきコントラストを適用し、前記検査対象の電子ディスプレイのぎらつきコントラストを前記合格基準のぎらつきコントラストと比較する工程である、電子ディスプレイの製造方法。
  16. 前記検査対象の電子ディスプレイは、表面に防眩層が配置されていない電子ディスプレイであり、前記検査する工程において、ぎらつきコントラストを測定するために前記表面に検査用の防眩層が配置され、
    前記検査用の防眩層は、予め決められた特性を有する防眩層である、請求項１５に記載の電子ディスプレイの製造方法。
  17. 前記検査対象の電子ディスプレイは、表面に防眩層が配置された電子ディスプレイである、請求項１５に記載の電子ディスプレイの製造方法。
  18. 検査対象の防眩層を形成する工程と、
    前記検査対象の防眩層がぎらつきコントラストの合格基準を満たしているか否かを検査する工程と、を備え、
    前記検査する工程は、請求項１３に記載の比較する工程を有し、
    前記比較する工程は、
    前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの一方として前記検査対象の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを適用し、前記比較対象とするぎらつきコントラストおよび前記比較基準とするぎらつきコントラストの他方として前記合格基準のぎらつきコントラストを適用し、前記検査対象の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを前記合格基準のぎらつきコントラストと比較する工程を有する、防眩層の製造方法。
  19. 前記検査対象の防眩層は、前記検査する工程において、ぎらつきコントラストを測定するために検査用の電子ディスプレイの表面に配置され、
    前記検査用の電子ディスプレイは、予め決められた特性を有する電子ディスプレイである、請求項１８に記載の防眩層の製造方法。
  20. 前記検査対象の防眩層を形成する工程は、
    基材上に防眩機能を有する層を設ける工程を有する、
    請求項１８又は１９に記載の防眩層の製造方法。
  21. 前記基材上に前記防眩機能を有する層を設ける工程は、
    前記基材上に樹脂を含有する防眩層用組成物を塗布する工程と、
    前記塗布された防眩層用組成物を硬化させる工程と、
    を有する、請求項２０に記載の防眩層の製造方法。
  22. 請求項１乃至１２のいずれか１項に記載のぎらつきコントラストの補正方法を用いて比較対象とするぎらつきコントラストを補正する補正部と、
    補正された比較対象とするぎらつきコントラストと比較基準とするぎらつきコントラストとを比較する比較部とを備える、ぎらつきコントラストの比較装置。
  23. 請求項１３に記載のぎらつきコントラストの比較方法を用いて防眩層を選択する工程を備え、
    前記防眩層を選択する工程は、
    前記比較基準とするぎらつきコントラストとして、第１の防眩層が表面に配置された電子ディスプレイのぎらつきコントラストを、第１の光学測定装置で測定した第１の測定コントラストを適用し、
    前記比較対象とするぎらつきコントラストとして、前記第１の防眩層と異なる第２の防眩層が表面に配置された前記電子ディスプレイのぎらつきコントラストを、前記第１の光学測定装置と異なる第２の光学測定装置で測定した第２の測定コントラストを適用し、
    前記第１の測定コントラストと、前記第２の測定コントラストとを、両コントラストのうち一方の補正をともなう前記比較方法で比較する工程と、
    前記比較の結果に基づいて、前記第１の防眩層および前記第２の防眩層のうち一方の防眩層を選択する工程と、
    を有する防眩層の選択方法。
  24. 前記一方の防眩層を選択する工程は、前記第１の防眩層および前記第２の防眩層のうちの対応する測定コントラストが良好な防眩層を選択する工程を有する、請求項２３に記載の防眩層の選択方法。
  25. 請求項１３に記載のぎらつきコントラストの比較方法を用いて表示素子を選択する工程を備え、
    前記表示素子を選択する工程は、
    前記比較基準とするぎらつきコントラストとして、第１の表示素子の表面に第３の防眩層を配置した状態で、第３の光学測定装置によって測定された第３の測定コントラストを適用し、
    前記比較対象とするぎらつきコントラストとして、前記第１の表示素子と異なる第２の表示素子の表面に前記第３の防眩層を配置した状態で、前記第３の光学測定装置と異なる第４の光学測定装置によって測定された第４の測定コントラストを適用し、
    前記第３の測定コントラストと、前記第４の測定コントラストとを、両コントラストのうち一方の補正をともなう前記比較方法で比較する工程と、
    前記比較の結果に基づいて、前記第１の表示素子および前記第２の表示素子のうち一方の表示素子を選択する工程と、
    を有する表示素子の選択方法。
  26. 前記一方の表示素子を選択する工程は、前記第１の表示素子および前記第２の表示素子のうちの対応する測定コントラストが良好な表示素子を選択する工程を有する、請求項２５に記載の表示素子の選択方法。
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