JP7181157B2 - 検査装置及びそれを備えた塗布装置 - Google Patents
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Description
また、上記の検査装置において、前記画像処理部は、前記基板画像の色を減らす減色処理を実行し、前記基板画像に対して減色された減色基板画像を生成する減色処理部を、更に含む。そして、前記塗布点領域特定部は、前記減色基板画像を用いて前記塗布点領域画像を抽出する。この態様では、基板画像に対して減色された減色基板画像に基づいて、塗布点領域画像の抽出処理が行われる。これにより、塗布点領域特定部による塗布点領域画像の抽出処理の効率化が図られる。
また、上記の検査装置において、前記画像処理部は、前記塗布物領域画像及び前記塗布点領域画像の各々をHSV画像に変換すると共に、前記HSV画像のH成分を示す色相の色相角を所定範囲で変化させた場合の各画像を、RGB画像に変換する色空間変換部を、更に含む。前記塗布点領域特定部は、前記減色基板画像を色毎に複数の色領域に分割し、前記色領域毎に前記塗布点領域画像を抽出して、複数の前記塗布点領域画像を特定する。前記色空間変換部は、前記RGB画像として、前記塗布物領域画像に対応した塗布物RGB画像と、前記複数の塗布点領域画像の各々に対応した複数の塗布点RGB画像を生成する。そして、前記色相角特定部は、前記RGB画像を構成する各色成分のうちの特定の色成分の画像である前記特定色成分画像としての、前記塗布物RGB画像に対応した塗布物色成分画像と、前記複数の塗布点RGB画像の各々に対応した複数の塗布点色成分画像とに基づいて、前記適合色相角を特定する。この態様では、色相角特定部は、適合色相角の特定の際に、減色基板画像における色領域毎の複数の塗布点領域画像を用いる。これにより、基板の塗布点が複数の色によって構成されている場合であっても、各色に応じて適切な適合色相角が特定される。
図1は、本発明の一実施形態に係る塗布装置1の構成を示す平面図である。なお、図1では、水平面上のXY直交座標軸を用いて、方向関係が示されている。X軸方向の一方向側を「+X側」と称し、X軸方向の一方向側とは反対の他方向側を「-X側」と称する。また、Y軸方向の一方向側を「+Y側」と称し、Y軸方向の一方向側とは反対の他方向側を「-Y側」と称する。
図2は、検査装置6の構成を示すブロック図である。図3は、検査基板P2を示す図である。検査装置6は、基板P1上の複数の塗布点PPに塗布物CPが塗布された検査基板P2を検査する装置である。検査装置6は、基板P1の各塗布点PPに対応した、検査基板P2の複数の検査領域RIにおける塗布物CPの塗布状態を検査する。
カラー画像撮像カメラ7は、フルカラー画像を生成可能なカメラであって、照明部71とカラー画像撮像部72とを含む。照明部71は、例えばLED(Light Emintting Diode)である。照明部71は、カラー画像撮像カメラ7の撮像対象を照明するものであって、照明出力の変更が可能である。照明部71は、照明出力の変更によって、撮像対象の照度を調整することができる。
検査制御部8は、検査装置6の画像認識動作を統括的に制御する制御部を構成する。検査制御部8は、例えば、マイクロプロセッサやその周辺回路等で構成されている。検査制御部8は、カラー画像撮像カメラ7の撮像により生成された検査画像G1、基板画像G2及び塗布物画像G3に基づく塗布物CPの画像認識によって、塗布物CPの塗布状態を検査する検査処理を実行する。
画像処理部85は、検査領域RI毎の検査画像G1、塗布点PP毎の基板画像G2及び塗布物画像G3に画像処理を施す。画像処理部85は、画像変換処理部851と、減色処理部852と、塗布物領域特定部853と、塗布点領域特定部854と、色空間変換部855と、を含む。
図8は、画像変換処理部851による画像変換処理を示す図である。画像変換処理部851は、RGB色空間で表現された基板画像G2を第1モノクロ画像G41に変換する画像変換処理を実行する(図8(A)参照)。また、画像変換処理部851は、RGB色空間で表現された検査画像G1を第2モノクロ画像G42に変換する画像変換処理を実行する(図8(B)参照)。なお、画像変換処理部851は、RGB色空間で表現された塗布物画像G3を前記第2モノクロ画像G42に変換するようにしてもよい。第1モノクロ画像G41及び第2モノクロ画像G42は、白黒の濃淡を表現したグレースケール画像である。第1及び第2モノクロ画像G41,G42では、白黒の濃淡が例えば256階調で表現される。第1及び第2モノクロ画像G41,G42においては、黒色を示す画素の輝度値(画素値)は「0」で表現され、白色を示す画素の輝度値は「255」で表現され、黒色と白色との間の中間色を示す画素の輝度値は「0」から「255」までの間の数値で表現される。
図9は、減色処理部852による減色処理を示す図である。減色処理部852は、基板画像G2の色を減らす減色処理を実行し、基板画像G2に対して減色された減色基板画像G5を生成する。減色処理部852が実行する減色処理としては、メディアンカット法やK-means法などの公知の処理の適用が可能であるが、本実施形態では特異な減色処理が採用される。具体的には、減色処理部852は、図2に示すように、色分解部8521と、領域分割部8522と、階調数調整部8523と、減色画像生成部8524とを有する。
図10及び図11は、塗布物領域特定部853による塗布物領域画像GCPの特定処理を示す図である。塗布物領域特定部853は、検査画像G1又は塗布物画像G3に含まれている塗布物領域画像GCPを抽出して特定する。検査画像G1を用いる場合、塗布物領域特定部853は、検査画像G1に対して基板画像G2を差し引いた差画像G6を生成し、その差画像G6から塗布物領域画像GCPを抽出して特定する(図10参照)。一方、塗布物画像G3を用いる場合、塗布物領域特定部853は、塗布物画像G3から塗布物領域画像GCPを抽出して特定する(図11参照)。
図12は、塗布点領域特定部854による塗布点領域画像GPPの特定処理を示す図である。塗布点領域特定部854は、基板画像G2に含まれている塗布点領域画像GPPを抽出して特定する。本実施形態では、塗布点領域特定部854は、基板画像G2に対して減色された減色基板画像G5から塗布点領域画像GPPを抽出して特定する。具体的には、塗布点領域特定部854は、減色基板画像G5を色毎に複数の色領域に分割し、当該色領域毎に塗布点領域画像GPPを抽出して、複数の塗布点領域画像GPPを特定する。この場合、塗布点領域特定部854は、基板P1上の1つの塗布点PPに対応して、色領域毎の複数の塗布点領域画像GPPを特定することとなる。
図13は、色空間変換部855により生成されるHSV画像のH成分を示す色相の色相角を説明する図である。図14は、色空間変換部855による塗布物領域画像GCPに対する色空間変換処理を示す図である。図15は、色空間変換部855による塗布点領域画像GPPに対する色空間変換処理を示す図である。
図16は、照明条件特定処理部86による基板画像撮像時の照明条件の特定処理を示す図である。図17は、照明条件特定処理部86による検査画像撮像時又は塗布物画像撮像時の照明条件の特定処理を示す図である。照明条件特定処理部86は、後述の検査条件設定部87による検査条件の設定に適合した照明部71の適合照明出力を特定する処理を実行する。照明条件特定処理部86は、図2に示すように、照明領域抽出部861と照明出力特定部862とを有する。
照明領域抽出部861は、図16に示すように、画像変換処理部851によって生成された第1モノクロ画像G41を構成する各画素の輝度値に基づいて、当該第1モノクロ画像G41において、所定の第1照明特定閾値TI1よりも大きい輝度値の画素群からなる第1照明特定領域としてシルク領域GPP3を抽出する。図16に示す例では、照明領域抽出部861は、第1モノクロ画像G41を構成する画素群の輝度値分布を表す第1照明特定用ヒストグラムHI1に基づいて、第1照明特定閾値TI1を決定する。第1モノクロ画像G41は、第1照明特定閾値TI1以下の輝度値の画素群からなるランド領域GPP1及びレジスト領域GPP4と、第1照明特定閾値TI1よりも大きい輝度値の画素群からなるシルク領域GPP3とを含んでいる。照明領域抽出部861は、第1モノクロ画像G41に含まれているシルク領域GPP3を抽出することになる。
照明出力特定部862は、第1モノクロ画像G41における第1照明特定領域としてのシルク領域GPP3内の各画素において、最大輝度領域GPP31を構成する注目画素の画素数の、シルク領域GPP3内の画素の総画素数に対する比率である第1照明特定比率を演算する(図16参照)。そして、照明出力特定部862は、前記第1照明特定比率が所定の基準比率以下となる場合の照明部71の照明出力を、第1照明判定値として特定する。ここで、照明出力特定部862は、明るさが異なる複数の第1モノクロ画像G41の各々について前記第1照明特定比率を演算し、前記第1照明判定値を特定する。前記複数の第1モノクロ画像G41は、照明部71の照明出力を複数の条件で切替えてカラー画像撮像部72により撮像された複数の基板画像G2が画像変換処理部851によって画像変換されたものであってもよいし、照明部71の照明出力の変化を疑似的に再現して明るさが調整されたものであってもよい。
検査条件設定部87は、画像処理部85による検査画像G1、基板画像G2及び塗布物画像G3に対する画像処理において、塗布物CPを画像認識する条件である検査条件を特定して設定する。検査条件設定部87は、図2に示すように、色相角特定部871と彩度判定部872とを含む。
色相角特定部871は、塗布物HSV画像G71のH成分の色相角の変化に応じて生成された塗布物RGB画像G81と、塗布点HSV画像G72のH成分の色相角の変化に応じて生成された塗布点RGB画像G82とを用いて、検査条件としての適合色相角を検査画像G1毎(基板画像G2毎)に特定する。適合色相角は、検査画像G1において塗布物領域画像GCPが塗布点領域画像GPPに対して強調される場合の色相角を示す。この色相角特定部871の処理について、図14及び図15に加えて図18A及び図18Bを参照して説明する。図18A及び図18Bは、色相角特定部871の処理を説明するための図である。
図20は、彩度判定部872が彩度判定処理の実行時に使用する塗布物S成分画像G71S及び塗布点S成分画像G72Sを説明する図である。図21は、彩度判定部872の彩度判定処理を説明するための図である。
検査実行部88は、検査基板P2における複数の検査領域RIの各々での塗布物CPの塗布状態を検査する。検査実行部88は、検査領域RI毎の塗布物CPの塗布状態を検査する際に、照明条件特定処理部86により特定された適合照明出力と、検査条件設定部87により特定された検査条件(適合色相角、S成分画像適用情報)とを参照する。これにより、塗布ヘッド4によって基板P1上に塗布された塗布物CPの塗布状態を精度よく検査することができる。
次に、図22のフローチャートを参照して、検査装置6が実行する検査処理を説明する。まず、中央処理部81は、信号入出力部82を介した基板搬送信号の入力を把握する(ステップs1)。基板搬送信号は、コンベア3によって基板P1が所定の塗布位置に搬送されたことを示す信号である。この基板搬送信号は、塗布ヘッド4による基板P1に対する塗布物CPの塗布が実行される前に、塗布装置1の塗布制御装置から検査装置6に向けて送信される。
中央処理部81が実行するステップs2の基板画像生成処理について、図23のフローチャートを参照して説明する。ステップs2の基板画像生成処理は、照明部71の照明出力を変化させた条件下で、基板P1の塗布点PP毎の基板画像G2を生成する処理である。まず、中央処理部81は、移動指令信号を出力する(ステップs21)。中央処理部81から出力された移動指令信号は、塗布ヘッド4の移動を指令する信号であって、信号入出力部82を介して塗布制御装置に向けて送信される。移動指令信号を受信した塗布制御装置は、カラー画像撮像カメラ7が基板P1上の各塗布点PPの直上付近に配置されるように、塗布ヘッド4を移動させる。
中央処理部81が実行するステップs4の検査画像生成処理について、図24のフローチャートを参照して説明する。ステップs4の検査画像生成処理は、塗布ヘッド4による基板P1上の各塗布点PPへの塗布物CPの塗布後に実行される。検査画像生成処理は、照明部71の照明出力を変化させた条件下で、検査基板P2の検査領域RI毎の検査画像G1を生成する処理である。まず、中央処理部81は、移動指令信号を出力する(ステップs41)。中央処理部81から出力された移動指令信号は、信号入出力部82を介して塗布制御装置に向けて送信される。移動指令信号を受信した塗布制御装置は、カラー画像撮像カメラ7が検査基板P2上の各検査領域RIの直上付近に配置されるように、塗布ヘッド4を移動させる。
中央処理部81が実行するステップs5の塗布物画像生成処理について、図25のフローチャートを参照して説明する。ステップs5の塗布物画像生成処理は、塗布ヘッド4による塗布物認識部材5への塗布物CPの塗布後に実行される。塗布物画像生成処理は、照明部71の照明出力を変化させた条件下で、塗布物認識部材5上の塗布物CP毎の塗布物画像G3を生成する処理である。まず、中央処理部81は、移動指令信号を出力する(ステップs51)。中央処理部81から出力された移動指令信号は、信号入出力部82を介して塗布制御装置に向けて送信される。移動指令信号を受信した塗布制御装置は、カラー画像撮像カメラ7が塗布物認識部材5上の各塗布物CPの直上付近に配置されるように、塗布ヘッド4を移動させる。
中央処理部81が実行するステップs6の照明条件特定処理について、図26A及び図26Bのフローチャートを参照して説明する。ステップs6の照明条件特定処理は、照明出力を変化させた場合の基板画像G2及び検査画像G1(又は塗布物画像G3)を用いて、照明部71の適合照明出力を特定する処理である。
中央処理部81が実行するステップs7の塗布物領域特定処理について、図27及び図28のフローチャートを参照して説明する。図27のフローチャートは、基板画像G2及び検査画像G1を用いて塗布物領域画像GCPを特定する場合の塗布物領域特定処理を示す。図28のフローチャートは、塗布物画像G3を用いて塗布物領域画像GCPを特定する場合の塗布物領域特定処理を示す。
中央処理部81が実行するステップs8の塗布点領域特定処理について、図29のフローチャートを参照して説明する。ステップs8の塗布点領域特定処理は、基板画像G2を用いて塗布点領域画像GPPを特定する処理である。
中央処理部81が実行するステップs9の検査条件設定処理について、図30のフローチャートを参照して説明する。ステップs9の検査条件設定処理は、塗布物領域画像GCP及び塗布点領域画像GPPを用いて、塗布物CPを画像認識する際の検査条件を特定して設定する処理である。
2 本体フレーム
3 コンベア(搬送部)
4 塗布ヘッド(塗布部)
5 塗布物認識部材
6 検査装置
7 カラー画像撮像カメラ
8 検査制御部
85 画像処理部
851 画像変換処理部
852 減色処理部
853 塗布物領域特定部
854 塗布点領域特定部
855 色空間変換部
86 照明条件特定処理部
87 検査条件設定部
871 色相角特定部
872 彩度判定部
88 検査実行部
CP 塗布物
G1 検査画像
G2 基板画像
G3 塗布物画像
G5 減色基板画像
G6 差画像
G71 塗布物HSV画像
G72 塗布点HSV画像
G81 塗布物RGB画像
G82 塗布点RGB画像
GCP 塗布物領域画像
GPP 塗布点領域画像
P1 基板
P2 検査基板
PA ランド部
PB スルーホール部
PC シルク部
PD レジスト層
PP 塗布点
RI 検査領域
Claims (12)
- 基板上の複数の塗布点に塗布物が塗布された検査基板の、前記各塗布点に対応した複数の検査領域における前記塗布物の塗布状態を検査する検査装置であって、
前記検査基板上の前記各検査領域を撮像し、カラーの検査画像を前記検査領域毎に生成すると共に、前記塗布物が塗布される前の前記基板において前記各塗布点を撮像し、カラーの基板画像を前記塗布点毎に生成するカラー画像撮像カメラと、
前記検査領域毎の前記検査画像、及び前記塗布点毎の前記基板画像の各々に画像処理を施す画像処理部と、
前記画像処理部による前記画像処理において、前記検査画像上で前記塗布物を画像認識する条件である検査条件を特定し設定する検査条件設定部と、を備え、
前記画像処理部は、
前記基板画像の色を減らす減色処理を実行し、前記基板画像に対して減色された減色基板画像を生成する減色処理部と、
前記検査画像における前記塗布物の領域の画像を示す塗布物領域画像を特定する塗布物領域特定部と、
前記検査画像における前記塗布点の領域の画像を示す塗布点領域画像を、前記減色基板画像を用いて抽出して特定する塗布点領域特定部と、
前記塗布物領域画像及び前記塗布点領域画像の各々をHSV画像に変換すると共に、前記HSV画像のH成分を示す色相の色相角を所定範囲で変化させた場合の各画像を、RGB画像に変換する色空間変換部と、を含み、
前記検査条件設定部は、前記塗布物領域画像及び前記塗布点領域画像の各々に対応した特定の色成分の画像である特定色成分画像に基づいて、前記塗布物領域画像が前記塗布点領域画像に対して強調される場合の色相角を示す適合色相角を、前記検査条件として前記検査画像毎に特定する色相角特定部を含み、
前記塗布点領域特定部は、前記減色基板画像を色毎に複数の色領域に分割し、前記色領域毎に前記塗布点領域画像を抽出して、複数の前記塗布点領域画像を特定し、
前記色空間変換部は、前記RGB画像として、前記塗布物領域画像に対応した塗布物RGB画像と、前記複数の塗布点領域画像の各々に対応した複数の塗布点RGB画像を生成し、
前記色相角特定部は、前記RGB画像を構成する各色成分のうちの特定の色成分の画像である前記特定色成分画像としての、前記塗布物RGB画像に対応した塗布物色成分画像と、前記複数の塗布点RGB画像の各々に対応した複数の塗布点色成分画像とに基づいて、前記適合色相角を特定する、検査装置。 - 前記塗布物領域特定部は、前記検査画像に対して前記基板画像を差し引いた差画像から、前記塗布物領域画像を抽出して特定する、請求項1に記載の検査装置。
- 前記カラー画像撮像カメラは、所定の塗布物認識部材に塗布された前記塗布物を撮像し、カラーの塗布物画像を生成するように構成され、
前記塗布物領域特定部は、前記塗布物画像を用いて前記塗布物領域画像を抽出して特定する、請求項1に記載の検査装置。 - 前記色相角特定部は、
前記複数の塗布点色成分画像の各々の画素群の輝度値から計算される代表値を示す塗布点輝度値と、前記塗布物色成分画像の画素群の輝度値から計算される代表値を示す塗布物輝度値との差分である複数の色相適用差分を、色相角毎に算出し、
当該色相角毎の複数の色相適用差分に基づいて、前記適合色相角を特定する、請求項1~3のいずれか1項に記載の検査装置。 - 前記色相角特定部は、前記色相角毎の前記複数の色相適用差分において、最も小さい差分が最大となる場合の色相角を、前記適合色相角として特定する、請求項4に記載の検査装置。
- 前記色相角特定部は、前記色相角毎の前記複数の色相適用差分の総和が最大となる場合の色相角を、前記適合色相角として特定する、請求項4に記載の検査装置。
- 前記色相角特定部は、前記色相角毎の前記複数の色相適用差分の各々が、所定の基準輝度差以上となる場合の色相角を、前記適合色相角として特定する、請求項4に記載の検査装置。
- 前記検査条件設定部は、彩度画像を、前記塗布物の画像認識の際に用いるか否かを判定する彩度判定部を、更に含み、
前記彩度判定部は、前記彩度画像を用いた画像認識が前記適合色相角を用いた画像認識よりも、前記塗布点領域画像に対する前記塗布物領域画像の強調が可能となる場合に、前記塗布物の画像認識の際に前記彩度画像を用いると判定する、請求項1~7のいずれか1項に記載の検査装置。 - 前記色相角特定部は、前記塗布物及び前記塗布点の種類に応じて前記適合色相角を特定する、請求項1~8のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記カラー画像撮像カメラは、前記検査基板上において、前記複数の検査領域から選択された所定の領域に関して前記検査画像を生成する、又は、前記複数の検査領域の全ての領域に関して前記検査画像を生成する、請求項1~9のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記基板は、レジスト層と、シルク印刷により形成されたシルク部と、スルーホール部もしくはビアホール部と、電子部品の端子電極が接続されるランド部と、を有する、請求項1~10のいずれか1項に記載の検査装置。
- 複数の塗布点が設定された基板を搬送する搬送部と、
前記基板上の前記複数の塗布点の各々に塗布物を塗布する塗布部と、
前記塗布部による塗布後の検査基板において、前記塗布物の塗布状態を検査する、請求項1~11のいずれか1項に記載の検査装置と、を備える、塗布装置。
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