JP7172810B2 - 電子装置 - Google Patents

Description

本発明は、電子装置に関する。

従来、物理量検出システムなどのシステムにおいて、検出された物理量に温度誤差が発生した場合に、その誤差を補正可能な補正部を備える電子装置が知られている。例えば、特許文献１には、物理量出力部の温度変化により、物理量出力部から出力される出力値に温度誤差が発生した場合に、その誤差量を内部メモリに記憶する構成が記憶されている。この構成では、内部メモリに記憶された誤差量を補正量として用いて出力値を補正する。

特開２００４－１３８６２６号公報

内部メモリに記憶された補正量を用いて出力値を補正する場合、物理量出力部の温度に応じた補正量を選出する必要がある。しかし、物理量出力部の温度を検出する温度検出部が故障していると、補正量を適切に選出できず、出力値を適切に補正できない。特許文献１では、温度検出部の故障については検討されていない。

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的は、温度検出部の故障を判定できる電子装置を提供することにある。

上記課題を解決するための第１の手段は、所定の物理量に応じた電圧を出力する物理量出力部を備えるシステムに適用される電子装置において、前記物理量出力部の出力値を取得する信号取得部と、前記物理量出力部の温度を検出し、前記物理量出力部の温度に応じた第１電圧を出力する第１温度検出部と、前記物理量出力部の温度を検出し、前記物理量出力部の温度に応じた第２電圧を出力する第２温度検出部と、前記物理量出力部の温度と関連付けられた前記出力値の補正値が記憶されている記憶部と、前記第１電圧と前記第２電圧とのうち少なくとも１つと、前記記憶部の記憶情報とに基づいて、前記出力値を補正する補正部と、前記第１温度検出部から出力された前記第１電圧を用いて算出された前記物理量出力部の温度である第１温度と、前記第２温度検出部から出力された前記第１電圧を用いて算出された前記物理量出力部の温度である第２温度との温度差に基づいて、前記第１温度検出部と前記第２温度検出部との少なくとも一方の故障を判定する故障判定部と、を備え、前記第１温度検出部と前記第２温度検出部とは、前記物理量出力部の温度と出力電圧との関係を示す特性が異なる。

上記構成によれば、電子装置は、第１温度検出部と第２温度検出部とを備えている。これらの温度検出部は、物理量出力部の温度をそれぞれ検出する。このため、検出された物理量出力部の温度に差が生じている場合に、少なくとも一方の温度検出部が故障していると判定できる。また、上記構成では、各温度検出部において、物理量出力部の温度と出力電圧との関係を示す特性が異なっている。このため、第１温度検出部と第２温度検出部との間に短絡が発生し、第１温度検出部と第２温度検出部との特性が等しくなった場合、検出された物理量出力部の温度に差が生じることから、温度検出部が故障していると判定できる。

第２の手段では、前記特性は、前記物理量出力部の各温度に対して、前記第１電圧と前記第２電圧とが異なる電圧を示す特性である。

上記構成によれば、物理量出力部の各温度に対して、第１電圧と第２電圧とが異なる電圧であるため、第１温度検出部と第２温度検出部との間に短絡が発生した場合に、第１電圧と第２電圧との少なくとも一方が変化し、少なくとも一方の温度検出部で検出された物理量出力部の温度が変化する。このため、検出された物理量出力部の温度に差が生じ、温度検出部が故障していると判定できる。

第３の手段では、前記補正部は、前記故障判定部が前記第１温度検出部と前記第２温度検出部とが正常であると判定した場合に、前記第１温度検出部と前記第２温度検出部とのうち、前記物理量出力部の温度の検出分解能が高い温度検出部により検出された前記物理量出力部の温度に基づいて、前記出力値を補正する。

上記構成によれば、第１温度検出部と第２温度検出部とがともに正常であると判定された場合に、物理量出力部の温度の検出分解能が高い温度検出部で検出された物理量出力部の温度に基づいて出力値を補正する。これにより、出力値を精度よく補正できる。

第４の手段では、前記物理量出力部の温度を検出し、前記物理量出力部の温度に応じた第３電圧を出力する第３温度検出部を備え、前記物理量出力部の各温度に対して、前記第１電圧、前記第２電圧、及び前記第３電圧は互いに異なる電圧に設定されており、前記故障判定部は、前記第１温度と、前記第２温度と、前記第３温度検出部から出力された前記第３電圧を用いて算出された前記物理量出力部の温度である第３温度とのうち、任意の組み合わせにおける２つの温度の差に基づいて、対応する２つの温度検出部の少なくとも一方の故障を判定し、前記補正部は、前記故障判定部が少なくとも１つの組み合わせにおいて対応する２つの温度検出部が正常であると判定した場合に、その２つの温度検出部のうち少なくとも一方の温度検出部により検出された前記物理量出力部の温度に基づいて、前記出力値を補正する。

例えば第１～第３温度検出部のうち、第１温度検出部が故障している場合、第１温度、第２温度、及び第３温度のうち、第１温度と第２温度と間、及び第１温度と第３温度との間には温度差が生じる。一方、第２温度と第３温度との間には温度差が生じない。上記構成によれば、任意の組み合わせにおける２つの温度の差を用いて故障している温度検出部を判定するため、第１温度検出部が故障していることを判定できる。この場合、上記構成では、第２温度及び第３温度に対応する第２温度検出部及び第３温度検出部のうち、少なくとも一方の温度検出部で検出された物理量出力部の温度に基づいて出力値を補正する。これにより、正常と判定された温度検出部を用いて、出力値を適正に補正できる。

第５の手段では、前記物理量は、一定の規定電圧であり、前記補正部は、前記出力値が前記規定電圧となるように前記出力値を補正する。

上記構成によれば、物理量出力部は、一定の規定電圧に応じた電圧を出力する。しかし、物理量出力部では、温度変化により出力値に温度誤差が発生するため、出力値は必ずしも規定電圧と一致しない。上記構成では、補正部は、出力値が規定電圧となるように出力値を補正する。そのため、物理量出力部の温度によらず、規定電圧となるように補正された出力値を用いることができる。

第６の手段では、システムは、アクチュエータを備える駆動システムであって、前記補正部により補正された前記出力値に基づいて、前記アクチュエータを制御する制御部を備える。

上記構成によれば、規定電圧となるように補正された出力値に基づいて、アクチュエータを精度よく制御できる。

第７の手段では、前記補正部により補正された前記出力値を前記電子装置の外部に出力する電圧出力部を備える。

上記構成によれば、物理量出力部の温度によらず、規定電圧となるように補正された電圧を電子装置の外部に供給できる。

第１実施形態に係る電源システムを示す図。 基準電源の構成を示す図。 基準電源の温度と基準電圧との関係を示す図。 第１実施形態に係る故障判定処理の手順を示すフローチャート。 第１，第２温度センサの構成を示す図。 第１，第２温度センサの温度特性を示す図。 比較例における第１，第２温度センサの構成を示す図。 比較例の第１，第２温度センサにおける温度特性を示す図。 第２実施形態に係る電源システムを示す図。 第２実施形態に係る故障判定処理の手順を示すフローチャート。 第３実施形態に係る電源システムを示す図。 第３実施形態に係る故障判定処理の手順を示すフローチャート。 第１～第３温度センサの構成を示す図。 第１～第３温度センサの温度特性を示す図。

＜第１実施形態＞
以下、本発明に係る電子装置を具体化した第１実施形態について、図面を参照しつつ説明する。本発明に係る電子装置２０は、例えばハイブリッド自動車又は電気自動車に搭載される車両駆動システムに適用される。

図１に示すように、車両駆動システムは、ベース電源１０と、電子装置２０とを備えている。本実施形態において、ベース電源１０は、蓄電池であり、具体的には例えば、定格電圧が１２Ｖの鉛蓄電池である。電子装置２０は、集積回路２１とマイコン２２とを備えている。

集積回路２１は、基準電源３０と、誤差量メモリ３１と、第１温度センサ３２と、第２温度センサ３３と、通信部３４とを備えている。基準電源３０は、ベース電源１０から供給される作動電圧を入力として基準電圧Ｖｒｅｆを生成し、マイコン２２に出力する。本実施形態では、基準電源３０は、図２に示すようにバンドギャップ方式の電源である。なお、本実施形態において、基準電源３０が「物理量出力部」に相当する。

基準電圧Ｖｒｅｆの目標値は、目標電圧Ｖｔｇｔである。目標電圧Ｖｔｇｔは、一定の規定電圧であり、例えば５Ｖである。しかし、基準電源３０では、バンドギャップの温度特性により目標電圧Ｖｔｇｔに対する基準電圧Ｖｒｅｆの誤差量ΔＶが生じる。誤差量ΔＶは、基準電圧Ｖｒｅｆ及び目標電圧Ｖｔｇｔを用いて次の（式１）のように表される。

ΔＶ＝Ｖｒｅｆ－Ｖｔｇｔ・・・（式１）
本実施形態では、図３に破線で示すように、基準電源３０の温度ＴＡが－５０℃及び１００℃の場合に、基準電圧Ｖｒｅｆは目標電圧Ｖｔｇｔよりも小さくなり、誤差量ΔＶが負の値となる。一方、基準電源３０の温度ＴＡが２５℃の場合に、基準電圧Ｖｒｅｆは目標電圧Ｖｔｇｔよりも大きくなり、誤差量ΔＶが正の値となる。なお、例えば、－５０℃は、集積回路２１の使用温度領域の下限温度であり、１００℃は、集積回路２１の使用温度領域の上限温度である。また、２５℃は、集積回路２１の使用温度領域の中間温度（具体的には中央温度）である。本実施形態において、目標電圧Ｖｔｇｔが「所定の物理量」に相当し、基準電圧Ｖｒｅｆが「出力値」に相当する。

誤差量メモリ３１には、誤差量ΔＶを示す誤差量データＤＧが予め記憶されている。誤差量データＤＧは、基準電源３０の温度ＴＡ毎に、基準電源３０の温度ＴＡと関連付けられて記憶されている。本実施形態では、基準電源３０の温度ＴＡが－５０℃の場合における誤差量ΔＶである第１誤差量ΔＶＡ、基準電源３０の温度ＴＡが２５℃の場合における誤差量ΔＶである第２誤差量ΔＶＢ、及び基準電源３０の温度ＴＡが１００℃の場合における誤差量ΔＶである第３誤差量ΔＶＣを示す誤差量データＤＧが記憶されている。図３に実線で示すように、基準電源３０の温度ＴＡが－５０℃よりも大きく２５℃よりも小さい場合には、第１誤差量ΔＶＡと第２誤差量ΔＶＢとに基づく直線補間により各温度ＴＡの誤差量ΔＶを算出できる。また、基準電源３０の温度ＴＡが２５℃よりも大きく１００℃よりも小さい場合には、第２誤差量ΔＶＢと第３誤差量ΔＶＣとに基づく直線補間により各温度ＴＡの誤差量ΔＶを算出できる。なお、本実施形態において、誤差量データＤＧが「記憶情報」に相当する。

第１温度センサ３２は、基準電源３０の温度ＴＡを検出し、基準電源３０の温度ＴＡに応じた第１電圧ＶＴ１をマイコン２２に出力する。第２温度センサ３３は、基準電源３０の温度ＴＡを検出し、基準電源３０の温度ＴＡに応じた第２電圧ＶＴ２をマイコン２２に出力する。なお、本実施形態において、第１温度センサ３２が「第１温度検出部」に相当し、第２温度センサ３３が「第２温度検出部」に相当する。

通信部３４は、通信ネットワークを介して、マイコン２２との間で無線通信方式により各種データを受送信する。通信部３４は、例えばマイコン２２からの要求に応じて誤差量メモリ３１に記憶された誤差量データＤＧを送信する。

マイコン２２は、ＡＤ変換器４１と、内部メモリ４２と、制御部４３と、マイコン通信部４４とを備えている。ＡＤ変換器４１は、第１，第２温度センサ３２，３３から出力された第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２を取得し、デジタル信号に変換する。

内部メモリ４２には、基準電源３０の温度ＴＡに対応して第１電圧ＶＴ１が予め規定されたマップ情報である第１マップＭＰ１と、基準電源３０の温度ＴＡに対応して第２電圧ＶＴ２が予め規定されたマップ情報である第２マップＭＰ２と、が記憶されている。制御部４３は、第１電圧ＶＴ１と第１マップＭＰ１とに基づいて、基準電源３０の温度ＴＡを検出でき、第２電圧ＶＴ２と第２マップＭＰ２とに基づいて、基準電源３０の温度ＴＡを検出できる。

制御部４３は、基準電源３０から出力された基準電圧Ｖｒｅｆを電源電圧として動作する。制御部４３は、入力されたデジタル信号に基づいて、アクチュエータ５０に対する駆動指令を生成して出力する。これにより、アクチュエータ５０の駆動制御が実施される。なお、本実施形態において、制御部４３が「信号取得部、制御部」に相当する。

具体的には、制御部４３は、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２のうち少なくとも１つに基づいて基準電源３０の温度ＴＡを検出し、マイコン通信部４４を介して、集積回路２１に検出された温度ＴＡに対応する誤差量データＤＧの送信を要求する。制御部４３は、集積回路２１から誤差量データＤＧを取得すると、取得した誤差量データＤＧを用いて、基準電圧Ｖｒｅｆが目標電圧Ｖｔｇｔとなるように基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。つまり、制御部４３は、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２のうち少なくとも１つと、誤差量メモリ３１の誤差量データＤＧとに基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。これにより、制御部４３は、目標電圧Ｖｔｇｔとなるように補正された基準電圧Ｖｒｅｆに基づいて、アクチュエータ５０に対する駆動指令を生成でき、アクチュエータ５０を精度よく駆動制御できる。

つまり、集積回路２１の誤差量メモリ３１に記憶された誤差量データＤＧは、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する補正データとして用いられる。このため、誤差量メモリ３１には、基準電源３０の温度ＴＡと関連付けられた基準電圧Ｖｒｅｆの補正値が記憶されている、ということができる。なお、本実施形態において、誤差量メモリ３１が「記憶部」に相当する。

本実施形態では、集積回路２１に、基準電源３０の温度ＴＡを検出する第１温度センサ３２と第２温度センサ３３とが備えられている。このため、例えば断線等により少なくとも一方の温度センサ３２，３３が故障した場合には、第１電圧ＶＴ１と第１マップＭＰ１とに基づいて検出される基準電源３０の温度ＴＡと、第２電圧ＶＴ２と第２マップＭＰ２とに基づいて検出される基準電源３０の温度ＴＡとが異なる。このため、検出された基準電源３０の温度ＴＡに差が生じている場合に、少なくとも一方の温度センサ３２，３３が故障していると判定できる。

しかし、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との間に短絡が発生すると、検出された基準電源３０の温度ＴＡが等しくなることがあり、この場合に第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できない。

例えば、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３とにおいて、基準電源３０の温度ＴＡと第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２との関係を示す特性（以下、温度特性という）が等しい場合を想定する。この場合、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との間における短絡の有無によらず、第１電圧ＶＴ１と第２電圧ＶＴ２とは等しくなり、検出された基準電源３０の温度ＴＡが等しくなる。このため、検出された基準電源３０の温度ＴＡに基づいて、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できない。

また、各温度センサ３２，３３では、短絡により温度特性が変化することがあり、これにより各温度センサ３２，３３の温度特性と、マイコン２２の内部メモリ４２に記憶された第１，第２マップＭＰ１，ＭＰ２との間に差が生じることがある。この場合、短絡後に検出された基準電源３０の温度ＴＡに基づいて基準電圧Ｖｒｅｆを補正しても、基準電圧Ｖｒｅｆを適切に補正できない。

本実施形態では、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３とにおいて、温度特性が異なっている。このため、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との間に短絡が発生した場合、検出された基準電源３０の温度ＴＡに差が生じる。これにより、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できる。

続いて、図４を用いて、マイコン２２の制御部４３により実施される故障判定処理について説明する。この処理は、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との間の短絡を含む、少なくとも一方の温度センサ３２，３３の故障を判定する処理である。図４に示す処理は、例えば所定の処理周期毎に繰り返し実施される。

なお、本実施形態において、第２温度センサ３３の検出分解能は、第１温度センサ３２の検出分解能よりも高いものとする。ここで、検出分解能とは、最小の読み取り可能な温度差を意味し、例えば、検出分解能が０．０１℃の温度センサは、検出分解能が０．１℃の温度センサよりも検出分解能が高い。

故障判定処理を開始すると、まずステップＳ１０において、ＡＤ変換器４１を介して第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２を取得する。続くステップＳ１２において、ステップＳ１０で取得された第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２と、内部メモリ４２に記憶された第１，第２マップＭＰ１，ＭＰ２とに基づいて基準電源３０の温度ＴＡを検出する。以下の説明では、第１電圧ＶＴ１と第１マップＭＰ１とに基づいて検出された基準電源３０の温度ＴＡを第１温度ＴＡ１とし、第２電圧ＶＴ２と第２マップＭＰ２とに基づいて検出された基準電源３０の温度ＴＡを第２温度ＴＡ２とする。

続くステップＳ１４において、ステップＳ１２で検出された第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２に基づいて、少なくとも一方の温度センサ３２，３３の故障を判定する。具体的には、ステップＳ１２で検出された第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との差の絶対値ΔＴＡを算出し、この絶対値ΔＴＡが判定閾値Ｔｔｈよりも大きいかを判定する。ここで判定閾値Ｔｔｈは、例えば、第１，第２温度センサ３２、３３が正常である場合において、第１，第２温度センサ３２，３３の温度検出誤差により発生しうる絶対値ΔＴＡの最大値に設定されている。なお、本実施形態において、ステップＳ１４の処理が「故障判定部」に相当する。

第１，第２温度センサ３２，３３が正常であると、第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２は略同一の温度となる。このため、絶対値ΔＴＡは略ゼロとなり、ステップＳ１４で否定判定される。この場合、第１，第２温度センサ３２，３３のうち、検出分解能の高い第２温度センサ３３により検出された第２温度ＴＡ２に基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。

具体的には、ステップＳ１６において、集積回路２１の誤差量メモリ３１から、第２温度ＴＡ２に対応する誤差量データＤＧを取得する。続くステップＳ１８において、ステップＳ１６で取得された誤差量データＤＧを用いて基準電圧Ｖｒｅｆを補正し、故障判定処理を終了する。なお、本実施形態において、ステップＳ１８の処理が「補正部」に相当する。

一方、第１，第２温度センサ３２，３３の少なくとも一方に故障が発生していると、第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２は互いに異なる温度となる。このため、絶対値ΔＴＡは判定閾値Ｔｔｈよりも大きくなり、ステップＳ１４で肯定判定される。この場合、ステップＳ２０において、少なくとも一方の温度センサ３２，３３が故障していると判定し、故障判定処理を終了する。

続いて、図５に、本実施形態の第１，第２温度センサ３２，３３を示す。図５に示すように、第１，第２温度センサ３２，３３は、図示を省略する電流源とグランドとの間に並列に接続されている。各温度センサ３２，３３の高圧側には、第１，第２検出ラインＬ１，Ｌ２が接続されている。第１検出ラインＬ１は、集積回路２１内に設けられた第１回路内検出ラインＬ１Ｘと、集積回路２１とマイコン２２との間に設けられた第１回路外検出ラインＬ１Ｙとを有する。第２検出ラインＬ２についても同様である。第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘには抵抗器ＲＬが設けられている。

第１，第２温度センサ３２，３３は、感温ダイオードＤＳにより基準電源３０の温度ＴＡを検出する。具体的には、第１温度センサ３２は、１つの感温ダイオードＤＳを有している。第２温度センサ３３は、直列に接続された２つの感温ダイオードＤＳを有している。本実施形態において、第１，第２温度センサ３２，３３を構成する感温ダイオードＤＳは、同一種類のものであり、感温ダイオードＤＳの順方向電圧はＶＦである。

このため、電流源から第１温度センサ３２に基準電流ＩＦが供給されると、第１温度センサ３２の両端間にＶＦの電圧が発生し、この電圧ＶＦが第１電圧ＶＴ１として出力される。また、電流源から第２温度センサ３３に基準電流ＩＦが供給されると、第２温度センサ３３の両端間に２ＶＦの電圧が発生し、この電圧２ＶＦが第２電圧ＶＴ２として出力される。

つまり、第１，第２温度センサ３２，３３では、直列接続された感温ダイオードＤＳの数の違いにより、温度特性が異なっている。図６（Ａ）に、第１，第２温度センサ３２，３３がともに正常である場合の第１，第２温度センサ３２，３３の温度特性を示す。

図６（Ａ）に示すように、第１，第２温度センサ３２，３３がともに正常である場合、第１電圧ＶＴ１は、基準電源３０の温度ＴＡが－５０℃の場合に０．８Ｖとなる。第１電圧ＶＴ１は、温度ＴＡの上昇とともに線形状に減少し、基準電源３０の温度ＴＡが１００℃の場合に０．６Ｖとなる。また、第２電圧ＶＴ２は、基準電源３０の温度ＴＡが－５０℃の場合に１．６Ｖとなる。第２電圧ＶＴ２は、温度ＴＡの上昇とともに線形状に減少し、基準電源３０の温度ＴＡが１００℃の場合に１．２Ｖとなる。つまり、基準電源３０の各温度ＴＡに対して、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２は異なる電圧に設定されている。

図６（Ｂ）～（Ｄ）に、第１，第２温度センサ３２，３３の少なくとも一方に故障が発生している場合の第１，第２温度センサ３２，３３の温度特性を示す。なお、図６（Ｂ）～（Ｄ）には、第１，第２温度センサ３２，３３がともに正常である場合の温度特性を破線にて示し、第１，第２温度センサ３２，３３の少なくとも一方に故障が発生している場合の温度特性を実線にて示している。

図６（Ｂ）に、第１温度センサ３２を構成する感温ダイオードＤＳに故障が発生し、第１電圧ＶＴ１が０．８ＶＦとなった場合の温度特性を示す。この場合、第１電圧ＶＴ１の変化に伴い第１温度ＴＡ１が、正常値から変化する。一方、第２温度ＴＡ２は、正常値に維持される。その結果、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じることから、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できる。

図６（Ｃ）に、第１，第２回路外検出ラインＬ１Ｙ，Ｌ２Ｙが短絡した場合の温度特性を示す。第１，第２回路外検出ラインＬ１Ｙ，Ｌ２Ｙが短絡すると、高圧側の第２電圧ＶＴ２は減少し、低圧側の第１電圧ＶＴ１は増加する。しかし、第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘに抵抗器ＲＬが設けられているため、第１，第２温度センサ３３の温度特性は等しくならず、第２電圧ＶＴ２が第１電圧ＶＴ１よりも大きい関係が維持される。

この場合、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２の変化に伴い第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２が、正常値から変化する。第１電圧ＶＴ１は増加変化するため、第１温度ＴＡ１は低下する側に変化する。一方、第２電圧ＶＴ２は減少変化するため、第２温度ＴＡ２は上昇する側に変化する。その結果、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じることから、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できる。

また、図６（Ｄ）に、抵抗器ＲＬよりも第１，第２温度センサ３２，３３側で第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘが短絡した場合の温度特性を示す。抵抗器ＲＬよりも第１，第２温度センサ３２，３３側で第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘが短絡すると、第１，第２温度センサ３２，３３の温度特性は等しくなる。なお、図６（Ｄ）では、短絡により第１温度センサ３２の第１電圧ＶＴ１が０．８ＶＦとなっており、これにより、第２温度センサ３３の第２電圧ＶＴ２も０．８ＶＦとなっている。

この場合、第１，第２温度センサ３３の温度特性は等しくなる。本実施形態では、第１，第２温度センサ３２，３３がともに正常である場合の温度特性が異なっている。このため、第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘの短絡により第１，第２温度センサ３２，３３の温度特性が等しくなった場合には、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じることから、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できる。

このように、本実施形態の電子装置２０では、図６（Ｂ）～（Ｄ）のいずれの場合にも、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できる。

図７に、比較例の電子装置１２０を示す。電子装置１２０は、集積回路１２１を備える。集積回路１２１は、第１，第２温度センサ３２，１３３がともに正常である場合の温度特性が等しい点で、本実施形態の集積回路２１と異なる。具体的には、第２温度センサ１３３は、第１温度センサ３２と同様に１つの感温ダイオードＤＳを有している。このため、電流源から第２温度センサ１３３に基準電流ＩＦが供給されると、第２温度センサ１３３の両端間にＶＦの電圧が発生し、この電圧ＶＦが第２電圧ＶＴ２として出力される。

図８（Ａ）に、第１，第２温度センサ３２，１３３がともに正常である場合の第１，第２温度センサ３２，１３３の温度特性を示す。図８（Ａ）に示すように、第１，第２温度センサ３２，１３３がともに正常である場合、基準電源３０の各温度ＴＡに対して、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２は等しい電圧に設定されている。

図８（Ｂ）に、第１温度センサ３２を構成する感温ダイオードＤＳに故障が発生し、第１電圧ＶＴ１が０．８ＶＦとなった場合の温度特性を示す。この場合、第２電圧ＶＴ２の変化に伴い第２温度ＴＡ２が、正常値から変化する。一方、第１温度ＴＡ１は、正常値に維持される。その結果、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じることから、第１，第２温度センサ３２，１３３の故障を判定できる。

図８（Ｃ）に、第１，第２回路外検出ラインＬ１Ｙ，Ｌ２Ｙが短絡した場合の温度特性を示す。比較例では、第１，第２回路外検出ラインＬ１Ｙ，Ｌ２Ｙの短絡の有無に関わらず、第１，第２温度センサ３２，１３３の温度特性は同一となる。また、第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘに抵抗器ＲＬが設けられているため、第１，第２回路外検出ラインＬ１Ｙ，Ｌ２Ｙが短絡しても、第１，第２温度センサ３２，１３３の温度特性は変化しない。

この場合、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じないことから、第１，第２温度センサ３２，１３３の故障を判定できない。一方、第１，第２温度センサ３２，１３３の温度特性が変化しないことから、短絡後の第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２は正常値に維持されるため、この第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２を用いて、基準電圧Ｖｒｅｆを適切に補正できる。

また、図８（Ｄ）に、抵抗器ＲＬよりも第１，第２温度センサ３２，１３３側で第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘが短絡した場合の温度特性を示す。比較例では、第１，第２回路内検出ラインＬ１Ｘ，Ｌ２Ｘの短絡の有無に関わらず、第１，第２温度センサ３２，１３３の温度特性は同一となる。図８（Ｄ）では、短絡により第１温度センサ３２の第１電圧ＶＴ１が０．８ＶＦとなっており、これにより、第２温度センサ１３３の第２電圧ＶＴ２も０．８ＶＦとなっている。

この場合、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じないことから、第１，第２温度センサ３２，１３３の故障を判定できない。また、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２の変化に伴い第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２が、正常値から変化するため、この第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２を用いて、基準電圧Ｖｒｅｆを適切に補正できない。

このように、比較例の電子装置１２０では、図８（Ｃ）、（Ｄ）の場合において、第１，第２温度センサ３２，３３の故障を判定できない。特に、図８（Ｄ）の場合には、基準電源３０の温度ＴＡを正確に検出できず、基準電圧Ｖｒｅｆを適切に補正できない。

以上詳述した本実施形態によれば、以下の効果が得られるようになる。

・本実施形態では、電子装置２０は、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３とを備えている。これらの温度センサ３２，３３は、基準電源３０の温度ＴＡをそれぞれ検出する。このため、検出された第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じている場合に、少なくとも一方の温度センサ３２，３３が故障していると判定できる。

・本実施形態では、各温度センサ３２，３３において温度特性が異なっている。このため、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との間に短絡が発生し、これらの温度センサ３２，３３の温度特性が等しくなった場合、検出された第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じることから、第１，第２温度センサ３２，３３が故障していると判定できる。

具体的には、基準電源３０の各温度ＴＡに対して、第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２が異なる電圧に設定されている。このため、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との間に短絡が発生した場合には、第１電圧ＶＴ１と第２電圧ＶＴ２との少なくとも一方が変化するため、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との少なくとも一方が変化する。このため、検出された第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じることから、第１，第２温度センサ３２，３３が故障していると判定できる。

・本実施形態では、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３とが、同一対象である基準電源３０の温度ＴＡを検出しているため、検出された第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間の温度差に基づいて、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３との少なくとも一方の故障を判定できる。

そして、第１温度センサ３２と第２温度センサ３３とが、ともに正常であると判定された場合に、これらの温度センサ３２，３３のうち、検出分解能が高い第２温度センサ３３で検出された第２温度ＴＡ２に基づいて基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。これにより、基準電圧Ｖｒｅｆを精度よく補正できる。

・本実施形態では、基準電源３０は、一定の目標電圧Ｖｔｇｔに応じた電圧を出力する。しかし、基準電源３０では、温度変化により出力する基準電圧Ｖｒｅｆに温度誤差が発生するため、基準電圧Ｖｒｅｆは必ずしも目標電圧Ｖｔｇｔと一致しない。本実施形態では、故障判定処理において、基準電圧Ｖｒｅｆが目標電圧Ｖｔｇｔとなるように基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。そのため、基準電源３０の温度によらず、目標電圧Ｖｔｇｔとなるように補正された基準電圧Ｖｒｅｆを用いることができる。そのため、この補正された基準電圧Ｖｒｅｆを用いて、アクチュエータ５０を精度よく駆動制御できる。

（第２実施形態）
以下、第２実施形態について、先の第１実施形態との相違点を中心に図９及び図１０を参照しつつ説明する。図９において、先の図１に示した構成と同一の構成については、便宜上、同一の符号を付して説明を省略する。また、図１０において、先の図４に示した処理と同一の処理については、便宜上、同一の符号を付して説明を省略する。

本実施形態では、図９に示すように、電子装置２０がマイコン２２を備えない点で第１実施形態の電圧検出装置と異なる。本実施形態では、集積回路２１に、温特補正部３５と、加算回路３６と、信号出力部３７とを備える点で第１実施形態の電圧検出装置と異なる。

温特補正部３５は、ＡＤ変換器６０と、内部メモリ６１と、制御部６２と、ＤＡ変換器６３とを備えている。ＡＤ変換器６０は、第１，第２温度センサ３２，３３から出力された第１，第２電圧ＶＴ１，ＶＴ２を取得し、デジタル信号に変換する。

内部メモリ６１には、第１，第２マップＭＰ１，ＭＰ２が記憶されている。制御部６２は、第１電圧ＶＴ１と第１マップＭＰ１とに基づいて第１温度ＴＡ１を検出し、第２電圧ＶＴ２と第２マップＭＰ２とに基づいて第２温度ＴＡ２を検出する。

また、内部メモリ６１には、誤差量データＤＧが記憶されている。制御部６２は、第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２のうち少なくとも一方に基づいて基準電源３０の温度ＴＡを検出し、検出された温度ＴＡに対応する誤差量データＤＧを内部メモリ６１から取得する。制御部４３は、取得した誤差量データＤＧを、ＤＡ変換器６３を用いて誤差量ΔＶに変換し、加算回路３６に出力する。なお、本実施形態において、内部メモリ６１が「記憶部」に相当する。

加算回路３６は、加算回路３６は、基準電源３０から出力された基準電圧Ｖｒｅｆを取得するとともに、温特補正部３５から出力された誤差量ΔＶを取得する。加算回路３６は、誤差量ΔＶを用いて基準電圧Ｖｒｅｆを補正し、補正後の基準電圧Ｖｒｅｆ、つまり目標電圧Ｖｔｇｔとなるように補正された基準電圧Ｖｒｅｆを電子装置２０の外部に出力する。これにより、電子装置２０は、目標電圧Ｖｔｇｔとなるように補正された基準電圧Ｖｒｅｆを、電子装置２０外部のマイコン等に供給できる。なお、本実施形態において、加算回路３６が「信号取得部、電圧出力部」に相当する。

また、制御部６２は、故障判定処理を実施する。制御部６２は、故障判定処理により、少なくとも一方の温度センサ３２，３３に故障が発生していると判定された場合に、信号出力部３７を介して故障発生信号ＥＭを電子装置２０の外部に出力する。

続いて、図１０を用いて、温特補正部３５の制御部６２により実施される故障判定処理について説明する。図１０に示す処理は、例えば所定の処理周期毎に繰り返し実施される。なお、本実施形態においても、第２温度センサ３３の検出分解能は、第１温度センサ３２の検出分解能よりも高いものとする。

本実施形態では、ステップＳ１４で否定判定すると、ステップＳ１６において、第２電圧ＶＴ２に基づいて検出された第２温度ＴＡ２に対応する誤差量データＤＧを取得する。なお、本実施形態では、制御部６２と、誤差量データＤＧが記憶された内部メモリ６１とが、同一の温特補正部３５内に設けられているため、誤差量データＤＧを取得するまでの期間が端出される。

続くステップＳ３０において、ステップＳ１６で取得された誤差量データＤＧを用いて加算回路３６に誤差量ΔＶを出力し、故障判定処理を終了する。これにより、出力された誤差量ΔＶを用いて、加算回路３６により基準電圧Ｖｒｅｆが補正される。なお、本実施形態において、ステップＳ３０の処理が「補正部」に相当する。

一方、ステップＳ１４で肯定判定すると、ステップＳ３２において、信号出力部３７を介して故障発生信号ＥＭを出力し、故障判定処理を終了する。

・以上説明した本実施形態によれば、電子装置２０は、集積回路２１のみによって構成されている。このため、電子装置２０の構成を簡略化できる。

・また、故障判定処理において、通信により誤差量データＤＧを取得する必要がない。このため、誤差量データＤＧを取得するまでの期間を短縮できる。

・本実施形態では、故障判定処理において、基準電圧Ｖｒｅｆが目標電圧Ｖｔｇｔとなるように基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。そのため、基準電源３０の温度によらず、目標電圧Ｖｔｇｔとなるように補正された基準電圧Ｖｒｅｆを用いることができる。そのため、この補正された基準電圧Ｖｒｅｆを、電子装置２０外部のマイコン等に供給できる。

（第３実施形態）
以下、第３実施形態について、先の第１実施形態との相違点を中心に図１１から図１４を参照しつつ説明する。図１１において、先の図１に示した構成と同一の構成については、便宜上、同一の符号を付して説明を省略する。また、図１３において、先の図５に示した構成と同一の構成については、便宜上、同一の符号を付して説明を省略する。

本実施形態では、図１１に示すように、集積回路２１が第３温度センサ３８を備える点で第１実施形態の電圧検出装置と異なる。第３温度センサ３２は、基準電源３０の温度ＴＡを検出し、基準電源３０の温度ＴＡに応じた第３電圧ＶＴ３をマイコン２２に出力する。なお、本実施形態において、第３温度センサ３８が「第３温度検出部」に相当する。

内部メモリ４２には、基準電源３０の温度ＴＡに対応して第３電圧ＶＴ３が予め規定されたマップ情報である第３マップＭＰ３が記憶されている。制御部４３は、第３電圧ＶＴ３と第３マップＭＰ３とに基づいて、基準電源３０の温度ＴＡを検出できる。以下の説明では、第３電圧ＶＴ３と第３マップＭＰ３とに基づいて検出された基準電源３０の温度ＴＡを第３温度ＴＡ３という。

続いて、図１２を用いて、マイコン２２の制御部４３により実施される故障判定処理について説明する。図１２に示す処理は、例えば所定の処理周期毎に繰り返し実施される。なお、本実施形態において、第１温度センサ３２、第２温度センサ３３、及び第３温度センサ３８は、この順に検出分解能が高いものとする。

故障判定処理を開始すると、まずステップＳ４０において、ＡＤ変換器４１を介して第１～第３電圧ＶＴ１～ＶＴ３を取得する。続くステップＳ４２において、ステップＳ４０で取得された第１～第３電圧ＶＴ１～ＶＴ３と、内部メモリ４２に記憶された第１～第３マップＭＰ１～ＭＰ３と、に基づいて第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３を検出する。

ステップＳ４２で第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３を検出すると、検出された第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３のうち、任意の組み合わせにおける２つの温度の差に基づいて、対応する２つの温度センサの少なくとも一方の故障を判定する。具体的には、ステップＳ４２で検出された第２温度ＴＡ３と第３温度ＴＡ３との差の絶対値ΔＴＡ２３を算出し、この絶対値ΔＴＡ２３が判定閾値Ｔｔｈよりも大きいかを判定する。

第２，第３温度センサ３３，３８が正常であると、第２，第３温度ＴＡ２，ＴＡ３は略同一の温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ２３は略ゼロとなり、ステップＳ４４で否定判定される。この場合、ステップＳ４６において、ステップＳ４２で検出された第１温度ＴＡ１と第３温度ＴＡ３との差の絶対値ΔＴＡ１３を算出し、この絶対値ΔＴＡ１３が判定閾値Ｔｔｈよりも大きいかを判定する。

第２，第３温度センサ３３，３８に加え、第１温度センサ３２が正常であると、第１，第３温度ＴＡ１，ＴＡ３は略同一の温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ１３は略ゼロとなり、ステップＳ４６で否定判定される。この場合、正常であると判定された第１～第３温度センサ３２，３３，３８のうち、検出分解能の最も高い第３温度センサ３８により検出された第３温度ＴＡ３に基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。

具体的には、ステップＳ５０において、集積回路２１の誤差量メモリ３１から、第３温度ＴＡ３に対応する誤差量データＤＧを取得する。続くステップＳ５２において、ステップＳ５０で取得された誤差量データＤＧを用いて基準電圧Ｖｒｅｆを補正し、故障判定処理を終了する。

一方、第１温度センサ３２に故障が発生していると、第１，第３温度ＴＡ１，ＴＡ３は互いに異なる温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ１３は判定閾値Ｔｔｈよりも大きくなり、ステップＳ４６で肯定判定される。この場合、ステップＳ４８において、第１温度センサ３２が故障していると判定し、ステップＳ５０に進む。つまり、正常であると判定された第２，第３温度センサ３３，３８のうち、検出分解能の高い第３温度センサ３８により検出された第３温度ＴＡ３に基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。

一方、第２，第３温度センサ３３，３８の少なくとも一方に故障が発生していると、第２，第３温度ＴＡ２，ＴＡ３は互いに異なる温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ２３は判定閾値Ｔｔｈよりも大きくなり、ステップＳ４４で肯定判定される。この場合、ステップＳ５４において、ステップＳ４２で検出された第１温度ＴＡ１と第３温度ＴＡ３との差の絶対値ΔＴＡ１３を算出し、この絶対値ΔＴＡ１３が判定閾値Ｔｔｈよりも大きいかを判定する。

第１，第３温度センサ３２，３８が正常であると、第１，第３温度ＴＡ１，ＴＡ３は略同一の温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ１３は略ゼロとなり、ステップＳ５４で否定判定される。この場合、ステップＳ５６において、第２温度センサ３３が故障していると判定し、ステップＳ５０に進む。つまり、正常であると判定された第１，第３温度センサ３２，３８のうち、検出分解能の高い第３温度センサ３８により検出された第３温度ＴＡ３に基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。

一方、第１，第３温度センサ３２，３８の少なくとも一方に故障が発生していると、第１，第３温度ＴＡ１，ＴＡ３は互いに異なる温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ１３は判定閾値Ｔｔｈよりも大きくなり、ステップＳ５４で肯定判定される。この場合、ステップＳ５８において、ステップＳ４２で検出された第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との差の絶対値ΔＴＡ１２を算出し、この絶対値ΔＴＡ１２が判定閾値Ｔｔｈよりも大きいかを判定する。なお、本実施形態において、ステップＳ４４，Ｓ４６，Ｓ５４，Ｓ５８の処理が「故障判定部」に相当する。

第１，第２温度センサ３２，３３が正常であると、第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２は略同一の温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ１２は略ゼロとなり、ステップＳ５８で否定判定される。この場合、ステップＳ６０において、第３温度センサ３８が故障していると判定する。そして、正常であると判定された第１，第２温度センサ３２，３３のうち、検出分解能の高い第２温度センサ３３により検出された第２温度ＴＡ２に基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。

具体的には、ステップＳ６２において、集積回路２１の誤差量メモリ３１から、第２温度ＴＡ２に対応する誤差量データＤＧを取得する。続くステップＳ６４において、ステップＳ６２で取得された誤差量データＤＧを用いて基準電圧Ｖｒｅｆを補正し、故障判定処理を終了する。なお、本実施形態において、ステップＳ５２，Ｓ６４の処理が「補正部」に相当する。

一方、第１，第２温度センサ３２，３３の少なくとも一方に故障が発生していると、第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２は互いに異なる温度となる。このため、絶対値ΔＴＡ１２は判定閾値Ｔｔｈよりも大きくなり、ステップＳ５４で肯定判定される。この場合、ステップＳ４８において、第１～第３温度センサ３２，３３，３８のうち、複数の温度センサが故障していると判定し、故障判定処理を終了する。

続いて、図１３に、本実施形態の第１～第３温度センサ３２，３３，３８を示す。図１３に示すように、第１，第２，第３温度センサ３２，３３，３８は、図示を省略する電流源とグランドとの間に並列に接続されている。第３温度センサ３８の高圧側には、第３検出ラインＬ３が接続されている。第３検出ラインＬ３は、集積回路２１内に設けられた第３回路内検出ラインＬ３Ｘと、集積回路２１とマイコン２２との間に設けられた第３回路外検出ラインＬ３Ｙとを有する。第３回路内検出ラインＬ３Ｘには抵抗器ＲＬが設けられている。

第３温度センサ３８は、感温ダイオードＤＳにより基準電源３０の温度ＴＡを検出する。具体的には、第３温度センサ３８は、直列に接続された３つの感温ダイオードＤＳを有している。このため、電流源から第３温度センサ３８に基準電流ＩＦが供給されると、第３温度センサ３８の両端間に３ＶＦの電圧が発生し、この電圧３ＶＦが第３電圧ＶＴ３として出力される。

第１～第３温度センサ３２，３３，３８では、直列接続された感温ダイオードＤＳの数の違いにより、温度特性が異なっている。図１４（Ａ）に、第１～第３温度センサ３２，３３，３８が全て正常である場合の第１～第３温度センサ３２，３３，３８の温度特性を示す。

図１４（Ａ）に示すように、第３温度センサ３２が正常である場合、第３電圧ＶＴ３は、基準電源３０の温度ＴＡが－５０℃の場合に２．４Ｖとなる。第３電圧ＶＴ３は、温度ＴＡの上昇とともに線形状に減少し、基準電源３０の温度ＴＡが１００℃の場合に１．８Ｖとなる。つまり、基準電源３０の各温度ＴＡに対して、第１～第３電圧ＶＴ１～ＶＴ３は互いに異なる電圧に設定されている。

図１４（Ｂ），（Ｃ）に、第２，第３温度センサ３３，３８の少なくとも一方に故障が発生している場合の第１～第３温度センサ３２，３３，３８の温度特性を示す。なお、図１４（Ｂ），（Ｃ）には、第２，第３温度センサ３３，３８が正常である場合の温度特性を破線にて示し、第２，第３温度センサ３３，３８の少なくとも一方に故障が発生している場合の温度特性を実線にて示している。

図１４（Ｂ）に、第３温度センサ３８を構成する感温ダイオードＤＳの１つに故障が発生し、第３電圧ＶＴ３が２．５ＶＦとなった場合の温度特性を示す。この場合、第３電圧ＶＴ３の変化に伴い第３温度ＴＡ３が、正常値から変化する。一方、第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２は、正常値に維持される。その結果、第１温度ＴＡ１と第３温度ＴＡ３との間及び第２温度ＴＡ２と第３温度ＴＡ３との間に温度差が生じる。一方、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間に温度差が生じない。このため、第３温度センサ３８の故障を判定できる。

この場合、正常であると判定された第１，第２温度センサ３２，３３のうち、検出分解能の高い第２温度センサ３３により検出された第２温度ＴＡ２に基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正する。これにより、基準電圧Ｖｒｅｆを精度よく補正できる。

図６（Ｃ）に、第２，第３回路外検出ラインＬ２Ｙ，Ｌ３Ｙが短絡した場合の温度特性を示す。第２，第３回路外検出ラインＬ２Ｙ，Ｌ３Ｙが短絡すると、第２，第３電圧ＶＴ２，ＶＴ３が変化し、この変化に伴い第１，第２温度ＴＡ１，ＴＡ２が、正常値から変化する。その結果、第１温度ＴＡ１と第２温度ＴＡ２との間、第１温度ＴＡ１と第３温度ＴＡ３との間、及び第２温度ＴＡ２と第３温度ＴＡ３との間に温度差が生じる。このため、第１～第３温度センサ３２，３３，３８のうち、複数の温度センサの故障を判定できる。

・以上説明した本実施形態によれば、電子装置２０は、第１～第３温度センサ３２，３３，３８を備える。そして、これらの温度センサ３２，３３，３８により検出された第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３のうち、任意の組み合わせにおける２つの温度の差に基づいて、対応する２つの温度センサの少なくとも一方の故障を判定する。

・第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３に故障が発生していないか、又は第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３のうちの１つに故障が発生している場合、２つの温度の差が判定閾値Ｔｔｈよりも小さくなる組み合わせが存在する。このため、２つの温度の差が判定閾値Ｔｔｈよりも小さくなる組み合わせが存在することで、少なくとも２つの温度センサが正常であると判定できる。

この場合、正常であると判定された少なくとも２つの温度センサのうちの１つにより検出された基準電源３０の温度ＴＡに基づいて、基準電圧Ｖｒｅｆを補正できる。この際に、検出分解能の高い方の温度センサを用いることで、基準電圧Ｖｒｅｆを精度よく補正できる。

・一方、第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３のうちの２つに故障が発生しているか、又は第１～第３温度ＴＡ１～ＴＡ３の全てに故障が発生している場合、２つの温度の差が判定閾値Ｔｔｈよりも小さくなる組み合わせが存在しない。このため、２つの温度の差が判定閾値Ｔｔｈよりも小さくなる組み合わせが存在しないことで、少なくとも２つの温度センサに故障が発生していることを判定できる。

（その他の実施形態）
本発明は上記実施形態の記載内容に限定されず、次のように実施されてもよい。

・上記実施形態では、物理量が一定の規定電圧である例を示したが、電圧は所定周期で変動してもよい。また、物理量は電圧に限られず、圧力や温度等であってもよい。この場合、物理量出力部は、例えば、圧力センサや温度センサ等であり、物理量に応じた電圧を出力する。

・電子装置が備える温度検出部の数は、２つ又は３つに限られず、４つ以上の温度検出部を備えていてもよい。この場合、第１，第２実施形態では、温度特性の異なる２種類の温度検出部が含まれており、各種類の温度センサの１つが、第１温度検出部となり、第２温度検出部となる。また、第３実施形態では、温度特性の異なる３種類の温度検出部が含まれており、各種類の温度センサの１つが、第１温度検出部、第２温度検出部、及び第３温度検出部となる。

・上記実施形態では、温度検出部として、感温ダイオードを用いたものを例示したが、これに限られず、例えば、感温抵抗（具体的には例えば、ＮＴＣサーミスタ）であってもよいし、所定の温度特性を有するトランジスタであってもよい。

・上記実施形態では、温度センサの温度特性が異なる例として、直列接続された感温ダイオードの数が異なる例を示したが、これに限られず、温度検出部に用いられる素子が異なっていてもよい。

・この場合、素子の組み合わせによっては、物理量出力部が特定の温度となる場合に、各温度検出部からの出力電圧が等しくなることがある。この場合には、この特定の温度ＴＡ近傍において、温度検出部の故障判定を停止すればよい。

・第３実施形態の図１２に示す処理において、ステップＳ４６，Ｓ４８の処理が無くてもよい。

２０…電子装置、３０…基準電源、３１…誤差量メモリ、３２…第１温度センサ、３３…第２温度センサ、４３…制御部。

Claims (6)

1. 所定の物理量（Ｖｔｇｔ）に応じた電圧を出力する物理量出力部（３０）を備えるシステムに適用される電子装置（２０）において、
   前記物理量出力部の出力値（Ｖｒｅｆ）を取得する信号取得部（３６，４３）と、
   前記物理量出力部の温度（ＴＡ）を検出し、前記物理量出力部の温度に応じた第１電圧（ＶＴ１）を出力する第１温度検出部（３２）と、
   前記物理量出力部の温度を検出し、前記物理量出力部の温度に応じた第２電圧（ＶＴ２）を出力する第２温度検出部（３３）と、
   前記物理量出力部の温度と関連付けられた前記出力値の補正値（ΔＶ）が記憶されている記憶部（３１，６１）と、
   前記第１電圧と前記第２電圧とのうち少なくとも１つと、前記記憶部の記憶情報とに基づいて、前記出力値を補正する補正部（Ｓ１８，Ｓ３０，Ｓ５２，Ｓ６４）と、
   前記第１温度検出部から出力された前記第１電圧を用いて算出された前記物理量出力部の温度である第１温度（ＴＡ１）と、前記第２温度検出部から出力された前記第１電圧を用いて算出された前記物理量出力部の温度である第２温度（ＴＡ２）との温度差（ΔＴＡ）に基づいて、前記第１温度検出部と前記第２温度検出部との少なくとも一方の故障を判定する故障判定部（Ｓ２０，Ｓ３２，Ｓ４４，Ｓ４６，Ｓ５４，Ｓ５８）と、を備え、
   前記第１温度検出部と前記第２温度検出部とは、前記物理量出力部の温度と出力電圧との関係を示す特性が異なり、
   前記補正部は、前記故障判定部が前記第１温度検出部と前記第２温度検出部とが正常であると判定した場合に、前記第１温度検出部と前記第２温度検出部とのうち、前記物理量出力部の温度の検出分解能が高い温度検出部により検出された前記物理量出力部の温度に基づいて、前記出力値を補正する電子装置。
2. 前記特性は、前記物理量出力部の各温度に対して、前記第１電圧と前記第２電圧とが異なる電圧を示す特性である請求項１に記載の電子装置。
3. 前記物理量出力部の温度を検出し、前記物理量出力部の温度に応じた第３電圧（ＶＴ３）を出力する第３温度検出部（３８）を備え、
   前記物理量出力部の各温度に対して、前記第１電圧、前記第２電圧、及び前記第３電圧は互いに異なる電圧に設定されており、
   前記故障判定部は、前記第１温度（ＴＡ１）と、前記第２温度（ＴＡ２）と、前記第３温度検出部から出力された前記第３電圧を用いて算出された前記物理量出力部の温度である第３温度（ＴＡ３）とのうち、任意の組み合わせにおける２つの温度の差（ΔＴＡ１２，ΔＴＡ１３，ΔＴＡ２３）に基づいて、対応する２つの温度検出部の少なくとも一方の故障を判定し、
   前記補正部は、前記故障判定部が少なくとも１つの組み合わせにおいて対応する２つの温度検出部が正常であると判定した場合に、その２つの温度検出部のうち少なくとも一方の温度検出部により検出された前記物理量出力部の温度に基づいて、前記出力値を補正する請求項１または請求項２に記載の電子装置。
4. 前記物理量は、一定の規定電圧（Ｖｔｇｔ）であり、
   前記補正部は、前記出力値が前記規定電圧となるように前記出力値を補正する請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の電子装置。
5. 前記システムは、アクチュエータ（５０）を備える駆動システムであって、
   前記補正部により補正された前記出力値に基づいて、前記アクチュエータを制御する制御部（４３）を備える請求項４に記載の電子装置。
6. 前記補正部により補正された前記出力値を前記電子装置の外部に出力する電圧出力部（３６）を備える請求項４に記載の電子装置。

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