JP7168767B2 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7168767B2
JP7168767B2 JP2021513181A JP2021513181A JP7168767B2 JP 7168767 B2 JP7168767 B2 JP 7168767B2 JP 2021513181 A JP2021513181 A JP 2021513181A JP 2021513181 A JP2021513181 A JP 2021513181A JP 7168767 B2 JP7168767 B2 JP 7168767B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reagent
automatic analyzer
cooler
unit
air
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021513181A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2020208914A1 (ja
Inventor
孝宏 熊谷
和広 野田
将也 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Tech Corp
Publication of JPWO2020208914A1 publication Critical patent/JPWO2020208914A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7168767B2 publication Critical patent/JP7168767B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1002Reagent dispensers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00178Special arrangements of analysers
    • G01N2035/00277Special precautions to avoid contamination (e.g. enclosures, glove- boxes, sealed sample carriers, disposal of contaminated material)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00178Special arrangements of analysers
    • G01N2035/00306Housings, cabinets, control panels (details)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00346Heating or cooling arrangements
    • G01N2035/00425Heating or cooling means associated with pipettes or the like, e.g. for supplying sample/reagent at given temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00346Heating or cooling arrangements
    • G01N2035/00435Refrigerated reagent storage
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00346Heating or cooling arrangements
    • G01N2035/00445Other cooling arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00346Heating or cooling arrangements
    • G01N2035/00455Controlling humidity in analyser
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0412Block or rack elements with a single row of samples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/046General conveyor features
    • G01N2035/0465Loading or unloading the conveyor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、自動分析装置に関する。
病院や検査施設では自動分析装置を用いて、被検者から供される血液や尿等の試料を臨床検査のための分析にかける。自動分析装置での分析はfmol/Lオーダーの精度で行われ、分析精度を向上させるには分析用の試薬と試料とを反応させるエリアである反応エリアへの塵埃等の混入を防止することが重要である。
特許文献1には、反応エリアや反応エリアに供給される分注チップ等の消耗品が一時格納されるエリアの中を周囲よりも高い圧力にすることで、反応エリアへの塵埃等の混入を防止する自動分析装置が開示されている。
国際公開WO18/047544号公報
しかしながら、特許文献1に開示される自動分析装置では、分析用の試薬が収容される試薬容器を長期間低温で保管する試薬保冷庫への外気の流入等に対する配慮がなされていない。試薬保冷庫への外気の流入は、外気に含まれる塵埃や雑菌等の混入や試薬保冷庫の内外の温度差による結露を招き、試薬保冷庫の中を汚染させる場合がある。試薬保冷庫の中の汚染は試薬を劣化させ、劣化した試薬を用いた分析では自動分析装置の分析精度を低下させかねない。
そこで、本発明は、試薬容器が保管される試薬保冷庫の中を清浄に保つ自動分析装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明は、試料を分析する自動分析装置であって、前記試料に反応させる試薬を収容する試薬容器を所定の温度で保管する試薬保冷庫と、前記試薬容器を前記試薬保冷庫に出し入れするための開口を有し、前記開口が開閉されて前記試薬容器が交換される試薬容器交換部と、前記開口が開いているときに前記試薬保冷庫の中を前記試薬保冷庫の周囲に対して陽圧化する陽圧部と、を備えることを特徴とする。
また本発明は、試料を分析する自動分析装置であって、前記試料に反応させる試薬を収容する試薬容器を所定の温度で保管する試薬保冷庫と、前記試薬容器を前記試薬保冷庫に出し入れするための開口を有し、前記開口が開閉されて前記試薬容器が交換される試薬容器交換部と、前記試薬容器交換部に隣接し、前記試薬容器に付着する塵埃または雑菌を除去する除去部と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、試薬容器が保管される試薬保冷庫の中を清浄に保つ自動分析装置を提供することができる。
実施例1の自動分析装置の全体構成の一例を示す図。 実施例1の試薬保冷庫の構造の一例を示す図。 実施例2の試薬保冷庫の動作の一例を説明する図。 実施例2の試薬保冷庫の動作の一例を補足説明する図。 実施例3の試薬保冷庫の構造の一例を示す図。 実施例4の試薬保冷庫の動作の一例を説明する図。 実施例5の試薬保冷庫の動作の一例を説明する図。 実施例6の試薬保冷庫の構造の一例を説明する図。 実施例7の試薬保冷庫の構造の一例を説明する図。 実施例8の試薬保冷庫の構造の一例を説明する図。
以下、図面を参照して、本実施例の自動分析装置100について説明する。自動分析装置100は、被検者から供される血液や尿等の試料を臨床検査のための分析をする装置である。
図1を用いて、本実施例の自動分析装置100について説明する。自動分析装置100は、制御部101と分析部102とが通信線103で接続されて構成される。制御部101は、分析部102の各部を制御する装置であり、例えばいわゆるコンピュータである。操作者は制御部101が有するキーボードやマウス、タッチパネル等の入力部から分析条件等を入力し、液晶ディスプレイやタッチパネル等の出力部で分析結果を確認する。
分析部102は、分析用の試薬と試料とを反応させることによって生じる発光や変色を測定することにより試料を分析する装置であり、試料搬送路110や試薬保冷庫120、インキュベータ130、反応液測定部140を備える。以下、各部について説明する。
試料搬送路110は、血液や尿等の試料を収容する試料容器111を試料分注部112の近傍まで搬送する装置である。試料分注部112は搬送された試料容器111から試料を吸引し、インキュベータ130に配置される反応容器117へ吐出して試料を分注する。試料分注部112には、搬送部114によって搭載ラック115から分注チップ脱着部113へ搬送される分注チップ116が装着される。試料の分注時のコンタミネーションを防止するため、分注チップ116は分注の度に交換される。
試薬保冷庫120は、分析用の試薬が収容される試薬容器123を長期間低温で保管する装置であり、試薬ディスク121と試薬ジャケット122を有する。試薬保冷庫120の内部温度は、例えば5~10度程度に保たれる。試薬ディスク121は試薬容器123を搭載し、Z軸を回転軸として回転することにより試薬容器123を所定の位置、例えば試薬分注部124の近傍に移動させる。試薬ジャケット122は試薬ディスク121に被せられる蓋であり、試薬ディスク121が回転しても静止したままである。図1では、試薬ディスク121に搭載される試薬容器123の配置がわかるように試薬ジャケット122の一部を透過させている。試薬ジャケット122には、試薬分注部124によって試薬が分注されるときに使用される孔である分注孔125や、試薬容器123の交換が行われる試薬容器交換部126が設けられる。試薬分注部124は分注孔125を介して試薬容器123から試薬を吸引し、インキュベータ130に配置されて試料が分注された反応容器117へ吐出して試薬を分注する。試薬保冷庫120については図2を用いて後述される。
インキュベータ130は、試料分注部112によって分注される試料と試薬分注部124によって分注される試薬との混合液を一定温度で保持する装置である。インキュベータ130には、試料や試薬が分注されるに先立ち、搬送部114によって搭載ラック115から反応容器117が搬送される。反応容器117の中の混合液が一定温度で保持されることにより反応液が生成される。
反応液測定部140は、インキュベータ130に配置される反応容器117から反応液分注部141によって分注される反応液の変色や発光を測定することにより試料を分析する。反応液測定部140での分析結果は、制御部101が有する液晶ディスプレイやタッチパネル等の出力部に表示される。反応液が分注された反応容器117はインキュベータ130から搭載ラック115へ搬送部114によって搬送されることにより取り除かれる。
図2を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の構造について説明する。なお図2(a)は図1のA-A断面図であり、図2(b)は図2(a)のB-B矢視図である。本実施例の試薬保冷庫120の試薬ジャケット122には、試薬容器交換部126と給気部201が備えられる。
試薬容器交換部126は、円環の一部分が切り出された形状をZ軸方向に延在させた構造であり、試薬容器123の2倍以上の高さを有する。また試薬容器交換部126には、試薬容器123を出し入れするための開口が試薬ジャケット122の径方向に設けられる。さらに試薬容器交換部126の中には、試薬容器123を上下から保持するとともに、Z方向に移動する天板126aと底板126bが備えられる。
天板126aと底板126bが試薬容器交換部126の最上段に位置するとき、試薬容器123は試薬容器交換部126に出し入れされる。また天板126aと底板126bが最下段に位置するとき、試薬容器123は試薬容器交換部126と試薬ディスク121との間を移動する。すなわち、試薬容器交換部126を介して、試薬容器123が試薬保冷庫120に出し入れされる。図2(a)及び図2(b)では、試薬容器123の移動が両矢印で示される。なお試薬容器123の移動は、図示されない搬送機構を制御部101が制御することによってなされる。
なお天板126aと底板126bの辺縁部にはゴム製の気密保持具等が設けられても良い。気密保持具が設けられることにより、天板126aと底板126bが試薬容器交換部126の最上段あるいは最下段に位置するとき、天板126aあるいは底板126bが蓋の役割を果たす。すなわち最上段では底板126bが、最下段では天板126aが試薬保冷庫120を周囲から遮断する。
給気部201は、試薬保冷庫120の中に空気を取り込む装置であり、例えば送風ファン等である。給気部201が空気を取り込むことにより、試薬保冷庫120の中は周囲に対して陽圧化され、試薬保冷庫120の周囲からの外気の流入が防止できる。特に、天板126aと底板126bが試薬容器交換部126の最上段と最下段との間に位置するとき、試薬容器交換部126の開口が外気の流入口となるものの、試薬保冷庫120の陽圧化により外気は流入せず試薬保冷庫120の中を清浄に保つことができる。また分注孔125も外気の流入口となるものの、試薬保冷庫120の陽圧化により外気の流入が防止できる。図2(a)では、空気の流れが白矢印で示される。なお、分注孔125は、試薬分注部124のノズルは通すものの外気の流入を防止する虫ゴム等で構成されても良い。
以上説明したように本実施例によれば、試薬保冷庫120の中が周囲に対して陽圧化され、試薬保冷庫120の周囲からの外気の流入が防止されるので、試薬保冷庫120の中を清浄に保つことができる。また試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることにより、試薬保冷庫120の中の汚染および試薬の劣化を防止できるので、自動分析装置100の分析精度を維持できる。
実施例1では、給気部201によって試薬保冷庫120の中に空気が取り込まれることについて説明した。試薬容器交換部126の天板126aと底板126bがZ方向に移動するとき、外気の流入口となる試薬容器交換部126の開口の開き具合が、天板126a及び底板126bの高さに応じて変化する。開口が大きく開くと外気は流入しやすくなる。そこで本実施例では、給気部201によって取り込まれる空気の量である給気量が、天板126a及び底板126bの高さに応じて制御されることについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。また試薬保冷庫120の構造は実施例1と略同じであるので、実施例1に追加される箇所についてのみ補足説明する。
図3を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の動作について説明する。なお図3(a)~図3(d)は、試薬保冷庫120から試薬容器123を取り出すために、天板126aと底板126bを最下段から最上段まで上昇させる過程を示しており、白矢印は空気の流れを、白矢印の太さは流量を示す。
図3(a)に示されるように天板126aと底板126bが最下段のとき、試薬容器交換部126の開口は天板126aによって閉じられるので、給気部201の給気量は最小値に設定される。給気量の最小値は、試薬ジャケット122と試薬ディスク121との隙間や分注孔125の大きさ等に基づいて設定される。例えば、試薬ジャケット122と試薬ディスク121との気密が保たれ、分注孔125に虫ゴム等が用いられる場合、給気量の最小値はゼロに設定されても良い。
図3(b)に示されるように天板126aと底板126bが真ん中まで上昇したとき、天板126aから試薬ジャケット122の上面までの距離と、試薬ジャケット122の上面から底板126bまでの距離とが等しくなる。つまり、周辺から試薬容器交換部126への流入口と、試薬容器交換部126から試薬ディスク121への流入口とが等しい面積となり、試薬容器交換部126の開口の開き具合は最大となるので、給気部201の給気量は最大値に設定される。給気量の最大値は、試薬容器交換部126の開口の開き具合が最大であっても、試薬保冷庫120に外気が流入しないように設定される。
図3(c)に示されるように天板126aと底板126bが真ん中からさらに上昇したとき、天板126aから試薬ジャケット122の上面までの距離は長くなるものの、試薬ジャケット122の上面から底板126bまでの距離が短くなる。つまり、周辺から試薬容器交換部126への流入口は大きくなるが、試薬容器交換部126から試薬ディスク121への流入口が小さくなるので、試薬容器交換部126の開口の開き具合は図3(b)よりも小さくなる。そこで、給気部201の給気量は図3(b)のときよりも小さい値に設定される。
図3(d)に示されるように天板126aと底板126bが最上段のとき、試薬容器交換部126の開口は底板126bによって閉じられるので、図3(a)のときと同様に、給気部201の給気量は最小値に設定される。
図4を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の動作について補足説明する。図4は、給気部201の給気量と、天板126aおよび底板126bの高さとの関係を示す図である。図3を用いて説明したように、天板126aと底板126bが最下段または最上段のとき給気量は最小値に設定され、真ん中のとき最大値に設定される。また最下段と真ん中との間では高さに応じて給気量を増加させ、真ん中と最上段との間では高さに応じて給気量を減少させる。すなわち、天板126aと底板126bが上昇するか下降するかにかかわらず、天板126aと底板126bの高さに応じて給気量が設定される。なお天板126aと底板126bの高さは図示しない位置センサ等により計測されて制御部101に送信され、制御部101は送信された高さに応じて給気部201の給気量を制御する。
以上説明したように本実施例によれば、試薬保冷庫120の中を陽圧化する給気部201の給気量が、天板126a及び底板126bの高さに応じて制御されるので、試薬保冷庫120への外気の流入を防止できるとともに、給気部201の省電力化を図ることができる。なお外気の流入の防止により試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることと、それにともなう自動分析装置100の分析精度の維持は実施例1と同様である。
実施例1では、給気部201によって試薬保冷庫120の中に空気を取り込むことについて説明した。試薬保冷庫120の中に取り込まれる空気は結露せず清浄であることが好ましい。そこで本実施例では、給気部201によって取り込まれる空気に対し、除湿や殺菌、塵埃除去、温度調整の少なくとも一つが実施されることについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。
図5を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の構造について説明する。本実施例の試薬保冷庫120は給気部201とともに、温調部501、除湿部502、殺菌部503、フィルタ504の中の少なくとも一つを給気部201の前段に備える。なお図5には、温調部501、除湿部502、殺菌部503、フィルタ504が直列に接続される構成が例示される。
温調部501は、給気部201から取り込まれる空気の温度を調整する装置であり、例えばヒータや水冷菅等である。給気部201から取り込まれる空気を結露させないためには、空気の温度は試薬保冷庫120の中の温度と等しくなるように調整されることが好ましい。なお試薬保冷庫120の中の温度は図示されない温度計等により計測されて制御部101に送信され、送信された温度に応じて制御部101が温調部501の動作を制御しても良い。
除湿部502は、給気部201から取り込まれる空気の湿度を調整する装置であり、例えばコンプレッサーを有する除湿器やシリカゲル等の除湿材が封入された容器等である。給気部201から取り込まれる空気を結露させないためには、空気に含まれる水蒸気が可能な限り低減されることが好ましい。なお試薬保冷庫120の中の湿度が図示されない湿度計等により計測されて制御部101に送信され、送信された湿度に応じて制御部101が除湿部502の動作を制御しても良い。
殺菌部503は、給気部201から取り込まれる空気に対して殺菌をする装置であり、例えば紫外線を照射する装置や光触媒によってオゾンを生成する装置等である。給気部201から取り込まれる空気を清浄に保つためには、空気に含まれる雑菌やカビは低減されることが好ましい。なお試薬保冷庫120の中の雑菌やカビの浮遊量が図示されないセンサにより計測されて制御部101に送信され、送信された値に応じて制御部101が殺菌部503の動作を制御しても良い。または制御部101が浮遊量の計測値を表示したり、浮遊量の計測値に応じてアラームを発したりしても良い。
フィルタ504は、給気部201から取り込まれる空気に含まれる塵埃や雑菌等を捕集するものであり、例えばガーゼや不織布等である。給気部201から取り込まれる空気を清浄に保つためには、空気に含まれる塵埃や雑菌は低減されることが好ましい。
以上説明したように本実施例では、温調部501、除湿部502、殺菌部503、フィルタ504の中の少なくとも一つを給気部201の前段に備える。本実施例によれば、試薬保冷庫120の中を陽圧化するために給気部201によって取り込まれる空気の結露の抑制や清浄化が可能になるので、試薬保冷庫120への外気の流入を防止できるとともに、試薬保冷庫120の中をさらに清浄に保つことができる。なお外気の流入の防止により試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることと、それにともなう自動分析装置100の分析精度の維持は実施例1と同様である。
実施例1では、給気部201によって試薬保冷庫120の中に空気を取り込むことについて説明した。給気部201によって取り込まれる空気は試薬の分注に影響を与えることがある。そこで本実施例では、試薬分注部124の動作に応じて給気部201が制御されることについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。また試薬保冷庫120の構造は実施例1と略同じであるので、実施例1に追加される箇所についてのみ補足説明する。
図6を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の動作について説明する。なお図6(a)~図6(c)は、試薬容器123から試薬を分注するために、試薬分注部124の分注ノズル124aが移動する過程を示しており、白矢印は空気の流れを示す。
図6(a)に示されるように分注ノズル124aが水平方向に移動している間は、給気部201が空気を取り込むことにより試薬保冷庫120の中が陽圧化される。試薬保冷庫120が陽圧化されることにより、分注孔125からは試薬保冷庫120の中の空気が排出されるので、分注孔125からの外気の流入が防止される。
図6(b)に示されるように分注ノズル124aが分注孔125の上方に配置されると、給気部201による空気の取り込みが停止される。この後、分注ノズル124aは下降し、分注孔125に挿入される。なお分注ノズル124aの位置は、試薬分注部124に設けられる検知板を位置センサ等が検知することで計測され、計測された分注ノズル124aの位置に応じて制御部101が給気部201の動作を制御する。または予め計画された動作タイミングに基づいて、制御部101が給気部201の動作を制御しても良い。
図6(c)に示されるように分注ノズル124aが分注孔125を介して試薬容器123に挿入されている間は、給気部201による空気の取り込みが停止される。給気部201が停止することにより、試薬保冷庫120の中の空気の流れが抑制され、試薬の分注精度の悪化を防止できる。
以上説明したように本実施例によれば、試薬分注部124の動作に応じて給気部201が制御されるので、試薬保冷庫120への外気の流入を防止できるとともに、試薬の分注精度に悪影響を与えずに済む。なお外気の流入の防止により試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることと、それにともなう自動分析装置100の分析精度の維持は実施例1と同様である。
実施例1では、給気部201によって試薬保冷庫120の中に空気を取り込むことについて説明した。試薬容器123の蓋が開いているときに試薬保冷庫120に塵埃等が混入すると試薬を劣化させかねない。そこで本実施例では、給気部201の動作が、試薬容器123の蓋の開閉に応じて制御されることについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。また試薬保冷庫120の構造は実施例1と略同じであるので、実施例1に追加される箇所についてのみ補足説明する。
図7を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の動作について説明する。なお図7(a)は試薬容器123の蓋123aが閉じている状態、図7(b)は蓋123aが開いている状態であり、白矢印は空気の流れを示す。
図7(a)に示されるように蓋123aが閉じている間は、給気部201の動作を停止させる。なお蓋123aの開閉は、図示されないセンサにより検知されて制御部101へ送信され、蓋123aの開閉に応じて制御部101が給気部201の動作を制御する。または予め計画された動作タイミングに基づいて、制御部101が給気部201の動作を制御しても良い。蓋123aが閉じている間は、試薬容器123に塵埃等が混入することはない。
図7(b)に示されるように蓋123aが開いている間は給気部201を動作させる。給気部201の動作により試薬保冷庫120の中に空気が取り込まれ、分注孔125から空気が排出されるので、分注孔125からの外気の流入が防止される。
以上説明したように本実施例によれば、試薬容器123の蓋123aの開閉に応じて給気部201が制御されるので、試薬容器123への塵埃等の混入を防止でき、試薬を劣化させずに済む。試薬の劣化防止により、自動分析装置100の分析精度を維持できる。
実施例1では、給気部201によって試薬保冷庫120の中に空気を取り込むことについて説明した。試薬保冷庫120の中に雑菌が混入した場合、試薬を劣化させかねない。そこで本実施例では、試薬保冷庫120の中で殺菌が実施されることについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。
図8を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の構造について説明する。本実施例の試薬保冷庫120の中には殺菌部503が備えられる。殺菌部503は、実施例3と同様に、給気部201から取り込まれる空気に対して殺菌をする装置であり、例えば紫外線を照射する装置や光触媒によってオゾンを生成する装置等である。殺菌部503は、試薬保冷庫120の中の雑菌やカビの浮遊量に応じて動作しても良いし、定期的に動作しても良い。なお殺菌部503の動作中は、紫外線やオゾンによる試薬の劣化を防止するために、試薬容器123の蓋123aが閉じていることが望ましい。
殺菌部503が紫外線を照射する装置である場合には、試薬ディスク121の上に殺菌部503を配置し、試薬ディスク121の回転にともなって殺菌部503を動作させても良い。試薬ディスク121の回転とともに殺菌部503を動作させることにより、紫外線が広範囲に照射されるので殺菌の効果を向上できる。
殺菌部503がオゾンを生成する装置である場合には、試薬保冷庫120の外に殺菌部503を配置し、殺菌部503と試薬保冷庫120との間にオゾンを導入するオゾン導入路を設けても良い。
以上説明したように本実施例によれば、試薬保冷庫120の中を陽圧化するために給気部201によって取り込まれる空気が殺菌されるので、試薬保冷庫120への外気の流入を防止できるとともに、試薬保冷庫120の中をさらに清浄に保つことができる。なお外気の流入の防止により試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることと、それにともなう自動分析装置100の分析精度の維持は実施例1と同様である。
実施例1では、給気部201が空気を取り込むことによって試薬保冷庫120の中を陽圧化することについて説明した。試薬保冷庫120の陽圧化は給気部201による空気の取り込みに限定されない。本実施例では、試薬保冷庫120の周囲を陰圧化することによって試薬保冷庫120の中を周囲に対して陽圧化することについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。
図9を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の構造について説明する。本実施例では、実施例1の給気部201の代わりに、試薬保冷庫120の周囲に陰圧室901と排気部902が設けられる。
陰圧室901は、試薬保冷庫120を覆う部屋であり、陰圧室901の周囲に対して気密が保たれる。
排気部902は、陰圧室901から空気を排出する装置であり、例えば送風ファン等である。排気部902によって陰圧室901から空気が排出されることにより、試薬保冷庫120の中は試薬保冷庫120の周囲、すなわち陰圧室901と試薬保冷庫120との間の空間に対して陽圧化され、試薬保冷庫120の周囲からの外気の流入が防止できる。
以上説明したように本実施例によれば、試薬保冷庫120の周囲に設けられる陰圧室901から排気部902が空気を排出することにより、試薬保冷庫120が周囲に対して陽圧化されるので、試薬保冷庫120への外気の流入を防止できる。なお外気の流入の防止により試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることと、それにともなう自動分析装置100の分析精度の維持は実施例1と同様である。
実施例1では、試薬保冷庫120の中を陽圧化することによって、試薬保冷庫120の中を清浄に保つことについて説明した。試薬保冷庫120の中を清浄に保つには、試薬保冷庫120に投入される試薬容器123が清浄に保たれていることが好ましい。そこで本実施例では、試薬容器123を試薬保冷庫120に投入するに先立ち、試薬容器123を清浄化することについて説明する。なお自動分析装置100の全体構成は実施例1と同じであるので説明を省略する。
図10を用いて、本実施例の試薬保冷庫120の構造について説明する。なお図10(a)は本実施例の試薬保冷庫120の上面図であり、図10(b)は図10(a)中の一点鎖線における断面図である。なお図10(a)では、試薬保冷庫120内の試薬容器123の配置がわかるようにている。また図10(b)の白矢印は空気の流れを示す。
本実施例の試薬保冷庫120は、試薬ディスク121や試薬ジャケット122、試薬容器交換部126とともに、除去部1001を備える。なお試薬ディスク121、試薬ジャケット122、試薬容器交換部126は実施例1と同じ構造であるので説明を省略する。
除去部1001は、試薬保冷庫120に投入される試薬容器123に付着する塵埃または雑菌を除去する装置であり、例えばエアシャワーを試薬容器123に浴びせる装置である。除去部1001は試薬容器交換部126の上段に隣接して配置される。
試薬容器交換部126の最上段に新たな試薬容器123が配置されると、除去部1001は試薬容器123にエアシャワーを浴びせ試薬容器123に付着する塵埃または雑菌を吹き飛ばす。すなわち除去部1001が浴びせるエアシャワーによって、試薬容器123に付着する塵埃または雑菌が除去され、清浄化された試薬容器123は試薬容器交換部126を介して試薬保冷庫120に投入される。なお、実施例3で説明した殺菌部503が、除去部1001の代わりや、除去部1001の前段もしくは除去部1001に並列して設けられても良い。
以上説明したように本実施例によれば、塵埃または雑菌が除去された試薬容器123が試薬保冷庫120に投入されるので、試薬保冷庫120の中を清浄に保つことができる。また試薬保冷庫120の中が清浄に保たれることにより、自動分析装置100の分析精度が維持できる。なお、本実施例の試薬保冷庫120に実施例1の給気部201や実施例7の陰圧室901と排気部902が設けられ、試薬保冷庫120の陽圧化が図られても良い。
本発明の自動分析装置について8つの実施例を説明した。なお、本発明の自動分析装置は上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施例に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせても良い。さらに、上記実施例に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除しても良い。
100:自動分析装置、101:制御部、102:分析部、103:通信線、110:試料搬送路、111:試料容器、112:試料分注部、113:分注チップ脱着部、114:搬送部、115:搭載ラック、116:分注チップ、117:反応容器、120:試薬保冷庫、121:試薬ディスク、122:試薬ジャケット、123:試薬容器、123a:蓋、124:試薬分注部、124a:分注ノズル、125:分注孔、126:試薬容器交換部、126a:天板、126b:底板、130:インキュベータ、140:反応液測定部、141:反応液分注部、201:給気部、501:温調部、502:除湿部、503:殺菌部、504:フィルタ、901:陰圧室、902:排気部、1001:除去部

Claims (16)

  1. 試料を分析する自動分析装置であって、
    前記試料に反応させる試薬を収容する試薬容器を所定の温度で保管する試薬保冷庫と、
    前記試薬容器を前記試薬保冷庫に出し入れするための開口を有し、前記開口が開閉されて前記試薬容器が交換される試薬容器交換部と、
    前記開口が開いているときに前記試薬保冷庫の中を前記試薬保冷庫の周囲に対して陽圧化する陽圧部と、を備え、
    前記陽圧部は、前記試薬保冷庫の周囲を前記試薬保冷庫の中に対して陰圧にすることを特徴とする自動分析装置。
  2. 請求項1に記載の自動分析装置であって、
    前記陽圧部は、前記試薬保冷庫の中に空気を取り込む給気部を有することを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項2に記載の自動分析装置であって、
    前記給気部は、前記開口の開き具合に応じて給気量を制御することを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項2に記載の自動分析装置であって、
    前記給気部は、取り込まれる空気に対して、除湿、殺菌、塵埃除去、温度調整の少なくとも一つを実施することを特徴とする自動分析装置。
  5. 請求項2に記載の自動分析装置であって、
    前記試薬容器から前記試薬を分注する試薬分注部をさらに備え、
    前記給気部は、前記試薬分注部の動作に基づいて制御されることを特徴とする自動分析装置。
  6. 請求項2に記載の自動分析装置であって、
    前記給気部は、前記試薬容器の蓋の開閉に基づいて制御されることを特徴とする自動分析装置。
  7. 請求項1に記載の自動分析装置であって、
    前記試薬保冷庫の中の空気を殺菌する殺菌部をさらに備えることを特徴とする自動分析装置。
  8. (削除)
  9. 請求項1に記載の自動分析装置であって、
    前記試薬容器交換部に隣接し、前記試薬容器に付着する塵埃または雑菌を除去する除去部をさらに備えることを特徴とする自動分析装置。
  10. 試料を分析する自動分析装置であって、
    前記試料に反応させる試薬を収容する試薬容器を所定の温度で保管する試薬保冷庫と、
    前記試薬容器を前記試薬保冷庫に出し入れするための開口を有し、前記開口が開閉されて前記試薬容器が交換される試薬容器交換部と、
    前記試薬容器交換部に隣接し、前記試薬容器に付着する塵埃または雑菌を除去する除去部と、
    前記試薬保冷庫の周囲を前記試薬保冷庫の中に対して陰圧にする陽圧部を備えることを特徴とする自動分析装置。
  11. 請求項10に記載の自動分析装置であって、
    前記陽圧部は、前記試薬保冷庫の中に空気を取り込む給気部を有することを特徴とする自動分析装置。
  12. 請求項11に記載の自動分析装置であって、
    前記給気部は、前記開口の開き具合に応じて給気量を制御することを特徴とする自動分析装置。
  13. 請求項11に記載の自動分析装置であって、
    前記給気部は、取り込まれる空気に対して、除湿、殺菌、塵埃除去、温度調整の少なくとも一つを実施することを特徴とする自動分析装置。
  14. 請求項11に記載の自動分析装置であって、
    前記試薬容器から前記試薬を分注する試薬分注部をさらに備え、
    前記給気部は、前記試薬分注部の動作に基づいて制御されることを特徴とする自動分析装置。
  15. 請求項11に記載の自動分析装置であって、
    前記給気部は、前記試薬容器の蓋の開閉に基づいて制御されることを特徴とする自動分析装置。
  16. 請求項10に記載の自動分析装置であって、
    前記試薬保冷庫の中の空気を殺菌する殺菌部をさらに備えることを特徴とする自動分析装置。
JP2021513181A 2019-04-08 2020-02-04 自動分析装置 Active JP7168767B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019073339 2019-04-08
JP2019073339 2019-04-08
PCT/JP2020/004082 WO2020208914A1 (ja) 2019-04-08 2020-02-04 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020208914A1 JPWO2020208914A1 (ja) 2020-10-15
JP7168767B2 true JP7168767B2 (ja) 2022-11-09

Family

ID=72751242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021513181A Active JP7168767B2 (ja) 2019-04-08 2020-02-04 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11885824B2 (ja)
EP (1) EP3954955A4 (ja)
JP (1) JP7168767B2 (ja)
CN (1) CN113710975B (ja)
WO (1) WO2020208914A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230366902A1 (en) 2020-11-05 2023-11-16 Hitachi High-Tech Corporation Automatic Analyzer

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005257209A (ja) 2004-03-12 2005-09-22 Toshiba Corp 冷蔵庫
JP2009145291A (ja) 2007-12-18 2009-07-02 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2009270857A (ja) 2008-05-01 2009-11-19 Olympus Corp 自動分析装置
WO2017168993A1 (ja) 2016-03-28 2017-10-05 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19849591C2 (de) * 1997-10-27 2001-07-19 Hitachi Ltd Automatisches Analysegerät
JP2009139269A (ja) * 2007-12-07 2009-06-25 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP5756898B2 (ja) * 2009-12-28 2015-07-29 パナソニックヘルスケアホールディングス株式会社 保冷庫
JP5667912B2 (ja) * 2010-05-18 2015-02-12 株式会社堀場製作所 吸着性ガス分析装置
JP5550692B2 (ja) * 2012-09-03 2014-07-16 株式会社東芝 自動分析装置
GB2514125B (en) 2013-05-13 2016-10-05 Nikon Metrology Nv X-ray imaging system with climate control
EP3330715B1 (en) * 2015-07-27 2022-02-16 Hitachi High-Tech Corporation Automated analyzer
JP6666628B2 (ja) 2016-09-08 2020-03-18 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
JP6858037B2 (ja) * 2017-03-01 2021-04-14 株式会社日立ハイテク 試薬保冷装置、自動分析装置及び保冷システム
JP6948158B2 (ja) * 2017-05-29 2021-10-13 シスメックス株式会社 試料処理装置及び試料処理方法
JP7075213B2 (ja) * 2017-12-28 2022-05-25 シスメックス株式会社 検体測定方法および検体測定装置
JPWO2023282130A1 (ja) * 2021-07-07 2023-01-12

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005257209A (ja) 2004-03-12 2005-09-22 Toshiba Corp 冷蔵庫
JP2009145291A (ja) 2007-12-18 2009-07-02 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2009270857A (ja) 2008-05-01 2009-11-19 Olympus Corp 自動分析装置
WO2017168993A1 (ja) 2016-03-28 2017-10-05 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
US11885824B2 (en) 2024-01-30
CN113710975B (zh) 2023-01-17
JPWO2020208914A1 (ja) 2020-10-15
WO2020208914A1 (ja) 2020-10-15
EP3954955A1 (en) 2022-02-16
US20220146543A1 (en) 2022-05-12
EP3954955A4 (en) 2023-05-03
CN113710975A (zh) 2021-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5836850B2 (ja) 自動分析装置
JPH0448267A (ja) 自動分析装置
JP2010048695A (ja) 自動分析装置および恒温槽安定化方法
JP7168767B2 (ja) 自動分析装置
JPWO2005052578A1 (ja) 生体関連物質の検査装置とその反応ステージ
JP6666628B2 (ja) 自動分析装置
JP5986436B2 (ja) 自動分析装置
JP2007303884A (ja) 自動分析装置
JP2615313B2 (ja) 自動分析装置
JP4982283B2 (ja) 自動分析装置
JP5204748B2 (ja) 臨床検査用の分析装置
JP6416673B2 (ja) 自動分析装置
JP4319475B2 (ja) 培養装置および自動培養装置
JP6327938B2 (ja) 自動分析装置
JP5680383B2 (ja) 自動分析装置
JP2009513123A (ja) 生体物質を処理するための装置
JP2006125981A (ja) 分析装置
JP5414491B2 (ja) 自動分析装置
JP2010286357A (ja) 自動分析装置
JP2010159987A (ja) 自動分析装置
JP4274859B2 (ja) 培養装置および自動培養装置
JP2002202315A (ja) インキュベータ付き分注装置
JP2005204545A (ja) 培養処理装置
JP7504742B2 (ja) 試薬庫および自動分析装置
JP7332769B2 (ja) 試薬庫及び自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A527

Effective date: 20211004

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211004

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220927

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221027

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7168767

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150