JP7129730B2 - 映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法 - Google Patents
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Claims (7)
- 第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含む第1センサアレイと、
前記第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含み、前記第1センサアレイから前記第1方向と垂直な第2方向に沿って離間した第2センサアレイと、
前記第1センサアレイと前記第2センサアレイとの間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、前記サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、
前記第1センサアレイのセンサのうちの何れか1つの有効領域が前記第2センサアレイのセンサのうちの少なくとも1つの有効領域と前記第2方向でオーバーラップされる、大面積試料分析装置。 - 前記第1センサアレイ及び前記第2センサアレイで複数のセンサは、第1間隔に離間しており、
前記第1間隔は、前記センサの第1方向の幅よりも狭いことを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。 - 前記第1センサアレイに含まれている複数の光源の間と前記第2センサアレイに含まれている複数の光源の間に配置される光源を更に含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の大面積試料分析装置。
- 前記第1センサアレイ及び前記第2センサアレイに含まれているセンサの有効領域にアラインマークが表示されることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の大面積試料分析装置。
- 一方向に移動してセンシングするセンサと、
前記センサと離間して配置された光源と、
前記センサと光源との間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、
前記センシングデータは、前記サンプルの一側から他側までに対してセンシングされる大面積試料分析装置であって、
前記センサは一側から他側まで複数回往復して移動し、前記光源は前記センサの1回往復時毎に互いに異なる波長の光を照射し、
前記センサは、第1間隔単位で移動して前記サンプルに対するデータをセンシングし、
前記第1間隔単位は、前記センサの第1方向の幅と同一であり、
前記光源は、前記センサが前記第1間隔単位で移動する度に、複数の波長の光を照射し、
前記制御部は、前記光源の波長別の光照射による前記センサの波長別のセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得することを特徴とする、大面積試料分析装置。 - 前記センサは第1方向に移動し、
前記光源は、光軸が前記第1方向と垂直な第2方向となるように配置されることを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。 - 前記光源は、
前記センサと対向するように配置され、前記センサと同一の方向と同一の速度で移動することを特徴とする請求項5又は6に記載の大面積試料分析装置。
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