KR102112686B1 - 영상 기반의 대면적 시료 분석 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 대면적의 시료를 분석할 수 있는 대면적 시료 분석 장치에 관한 것으로, 제1 방향을 따라 이격하여 배치된 복수의 센서를 포함하는 제1센서어레이; 상기 제1 방향을 따라 이격하여 배치된 복수의 센서를 포함하고 상기 제1센서어레이로부터 상기 제2 방향을 따라 이격된 제2센서어레이; 상기 제1센서어레이와 상기 제2센서어레이 사이에 배치되는 샘플에 대한 상기 센서의 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는 제어부를 포함하고, 상기 제1센서어레이의 센서 중 어느 하나의 유효영역이 상기 제2센서어레이의 센서 중 적어도 하나의 유효영역과 상기 제2 방향에서 오버랩된다.

Description

영상 기반의 대면적 시료 분석 장치 {LARGE AREA SAMPLE ANALYZING APPARATUS BASED ON IMAGE PROCESSING}
본 발명은 시료 분석 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 영상 기반의 대면적 시료를 분석할 수 있는 장치에 관한 것이다.
현재 광학 현미경으로 시료를 관찰할 때 저배율로 전체 면적을 확인하 후에 조직 검사를 진행할 때 확정 판정을 위해 고배율로 시료를 관찰한다. 다만, 고배율로 시료를 관찰하게 되면 한 번에 확인할 수 있는 영역(필드 뷰)의 넓이가 좁아지게 되어, 렌즈를 이동시키면서 스캔하듯이 찍은 후 합쳐야 되는 문제점이 존재한다.
이러한 문제를 해결하기 위해 본 발명의 발명자는 센서를 여러 개 배치하는 방법을 고려하였지만, 이러한 경우에도 센서 자체가 비유효 픽셀 영역을 가지고 있어 비유효 픽셀 영역으로 인해 시료에서 촬영되지 않는 영역이 발생한다.
상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 복수개의 센서를 통해서 샘플을 분석하는 대면적 시료 분석 장치를 제공할 수 있다.
또한, 본 발명은 센서가 이동하며 샘플을 센싱하는 대면적 시료 분석 장치를 제공할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 시료 분석 장치는, 제1 방향을 따라 이격하여 배치된 복수의 센서를 포함하는 제1센서어레이; 상기 제1 방향을 따라 이격하여 배치된 복수의 센서를 포함하고 상기 제1센서어레이로부터 상기 제2 방향을 따라 이격된 제2센서어레이; 상기 제1센서어레이와 상기 제2센서어레이 사이에 배치되는 샘플에 대한 상기 센서의 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는 제어부를 포함하고, 상기 제1센서어레이의 센서 중 어느 하나의 유효영역이 상기 제2센서어레이의 센서 중 적어도 하나의 유효영역과 상기 제2 방향에서 오버랩된다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 대면적의 샘플을 한번에 분석할 수 있는 효과가 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 대면적 시료 분석 장치의 정면도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 샘플을 예시한 예시도.
도 4 내지 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 파장별, 영역별 센싱되는 이미지 데이터를 예시한 예시도.
도 7은 제어부가 도 4 내지 도 6에서 센싱된 이미지 데이터를 합하여 최종 이미지를 생성한 것을 예시한 예시도.
도 8 및 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 촬상 방법을 설명하기 위한 예시도.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 대면적 시료 분석 장치의 정면도.
도 11 및 도 12는 본 발명의 제2실시예에 따른 대면적 시료 분석 장치의 정면도.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 시료 분석 장치(10)의 정면도이다.
상세하게는, 도 2는 대면적 시료 분석 장치(10)의 구조를 도시하기 위해 도 1에서 시료(500)을 제외한 것이다.
도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 시료 분석 장치(10)를 설명하도록 한다.
본 발명의 실시예에 따른 대면적 시료 분석 장치(10)는, 센서지지부(15), 제1센서어레이(130), 제2센세어레이(150), 광원(200) 및 제어부(300)를 포함한다.
제1센서어레이(130) 및 제2센서어레이(150)는 복수의 센서(100)가 이격하여 배치된다.
이때, 본 발명의 실시예에서 언급되는 센서(100)는 제1센서어레이(130) 및 제2센서어레이(150)에 포함된 모든 센서(100)를 지칭하는 것으로, 센서(100)는 픽셀이 위치하여 실제 촬상이 이루어지는 유효영역(100-1)과 촬상이 이루어지지 않는 비유효영역(100-2)을 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 제1센서어레이(130)는 시료 분석 장치(10)의 하측에 복수의 센서(100)가 이격하여 배치된다. 제2센서어레이(150)는 시료 분석 장치(10)의 상측에 복수의 센서(100)가 이격하여 배치된다.
상세하게는, 제2센서어레이(150)는 제1센서어레이(130)와 대향하게 배치되며, 제1센서어레이(130)의 복수의 센서(100)와 제2센서어레이(150)의 복수의 센서(100)는 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)가 대향하는 방향에서 오버랩된다. 구체적으로, 제1센서어레이(130)의 복수의 센서(100)의 유효영역(100-1)과 제2센서어레이(150)의 복수의 센서(100)의 유효영역(100-1)이 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)가 대향하는 방향에서 오버랩된다.
따라서, 시료 분석 장치(10)에 배치된 모든 센서(100)들을 통해 배치된 시료(500)의 전면을 센싱할 수 있게 된다.
다른 표현으로 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)의 센서(100)들은 대향되게 배치되되, 서로 어긋나게 배치된다. 혹은 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)의 센서(100)들은 지그재그로 배치될 수 있다.
그리고, 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)는 대향되게 배치되되, 시료(500)이 배치될 수 있도록 소정 간격 이격하여 배치되도록 한다.
광원(200)은 각각의 센서(100)와 대향하게 배치된다.
제어부(300)는 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150) 사이에 배치되는 시료(500)에 대한 센서(100)의 센싱 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한다.
도 2를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 시료 분석 장치(10)의 구조를 좀 더 자세하게 설명하도록 한다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 시료 분석 장치(10)의 센서(100)는 제1센서(100a), 제2센서(100b), 제3센서(100c), 제4센서(100d) 및 제5센서(100e)를 포함하고, 광원(200)은 제1광원(200a), 제2광원(200b), 제3광원(200c), 제4광원(200d) 및 제5광원(200e)를 포함한다.
그리고, 제1센서어레이(130)의 복수의 센서(100)는 제1방향으로 제1간격 이격하여 배치된다. 제2센서어레이(150)의 복수의 센서(100)는 제1방향으로 제1간격 이격하여 배치된다. 그리고, 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)는 제1방향과 수직한 제2방향으로 소정 간격 이격하여 배치되도록 한다.
도 2를 참조하면, 제1센서어레이(130) 및 제2센서어레이(150)의 센서(100)들은 수평 방향으로 제1간격 이격하여 배치되며, 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)는 수직 방향으로 소정 간격 이격하여 배치된다.
이때, 제1간격은 센서(100)의 제1방향의 유효영역(100-1) 폭보다 상대적으로 좁은 것을 특징으로 한다. 이를 통해, 제1센서어레이(130)의 복수의 센서(100)의 유효영역(100-1)과 제2센서어레이(150)의 복수의 센서(100)의 유효영역(100-1)이 제1센서어레이(130)와 제2센서어레이(150)가 대향하는 방향에서 오버랩될 수 있다.
예를 들어, 제1센서(100a)의 유효영역(100-1) 폭 a이 제1센서(100a)와 제2센서(100b)의 이격된 간격 b는 상대적으로 좁은 것을 의미한다. 따라서, 제1센서(100a), 제2센서(100b), 제3센서(100c), 제4센서(100d) 및 제5센서(100e)를 통해 빈 공간 없이 시료(500)의 모든 영역을 센싱할 수 있게 된다.
또 다른 예로, 각각의 센서(100)의 유효영역(100-1)은 마주보는 센서(100)의 유효영역(100-1)과 끝단이 소정 간격 오버랩될 수 있다. 그리고 제어부(300)는 오버랩되어 중복으로 센싱되는 부분에 대해서는 중복을 제외하고 이미지 데이터를 획득하도록 한다.
예를 들어, 제1센서(100a)의 의 유효영역(100-1) 우측 끝단과 제4센서(100d)의 의 유효영역(100-1) 좌측 끝단은 소정 간격 오버랩된다. 동일한 방식으로 제4센서(100d)의 의 유효영역(100-1) 우측 끝단과 제2센서(100b)의 의 유효영역(100-1) 좌측 끝단은 소정 간격 오버랩되고, 나머지 센서(100)들도 동일하게 적용될 수 있다.
그리고, 각각의 광원(200)은 센서(100)와 대향되게 배치된다.
예를 들어, 제1광원(200a)는 제1센서(100a)와 대향되고, 제2광원(200b)는 제2센서(100b)와 대향되고, 제3광원(200c)는 제3센서(100c)와 대향되고, 제4광원(200d)는 제4센서(100d)와 대향되고, 제5광원(200e)는 제5센서(100e)와 대향되게 배치된다.
보다 상세하게는, 광원(200)은 광축이 제2방향이 되도록 배치되고, 광축이 마주보는 센서(100)의 정중앙을 향하도록 배치된다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 시료(500)을 예시한 예시도이고, 도 4 내지 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 파장별, 영역별 센싱되는 이미지 데이터를 예시한 예시도이며, 도 7은 제어부(300)가 도 4 내지 도 6에서 센싱된 이미지 데이터를 합하여 최종 이미지를 생성한 것을 예시한 예시도이다.
본 발명의 실시예에 따르면, 광원(200)은 복수의 파장의 광을 조사한다.
그리고, 제어부(300)는 광원(200)의 파장별 광 조사에 따른 센서(100)의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한다.
또한, 제어부(300)는 획득된 이미지 데이터를 합하여 시료(500)에 포함된 세포들에 대한 최종 이미지를 생성한다.
이에 대하여, 도 3 내지 도 7을 참조하여 보다 상세하게 설명하도록 한다.
도 3은 시료(500)에 포함된 성분들을 도시하여 시료(500)을 예시한 도면으로, 시료(500)에는 n1, n2, m1, m2, k1, k2 세포들이 포함되어 있다.
그리고, 제1영역은 제1센서(100a)에 의해 센싱되는 영역, 제2영역은 제2센서(100b)에 의해 센싱되는 영역, 제3영역은 제3센서(100c)에 의해 센싱되는 영역, 제4영역은 제4센서(100d)에 의해 센싱되는 영역, 제5영역은 제5센서(100e)에 의해 센싱되는 영역을 의미한다.
그리고, 광원(200)은 제1파장, 제2파장, 제3파장 총 3개의 파장의 광을 조사하며, n1, n2는 제1파장에 의해 검출될 수 있는 세포이고, m1, m2는 제2파장에 의해 검출될 수 있는 세포이고, k1, k2는 제3파장에 의해 검출될 수 있는 세포를 의미한다.
도 4는 광원(200)이 제1파장의 광을 조사하여 제1센서(100a) 내지 제5센서(100e)에서 센싱된 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한 것을 예시하고 있다.
n1은 제1영역에 있으므로, 제1센서(100a)에 의해 센싱이 되었고, n2는 제4영역에 있으므로, 제4센서(100d)에 의해 센싱된 것을 알 수 있다.
그리고, m1, m2, k1, k2는 제1파장에 의해 검출되지 않았다.
도 5는 광원(200)이 제2파장의 광을 조사하여 제1센서(100a) 내지 제5센서(100e)에서 센싱된 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한 것을 예시하고 있다.
m1은 제2영역에 있으므로, 제2센서(100b)에 의해 센싱이 되었고, m2는 제3영역에 있으므로, 제3센서(100c)에 의해 센싱된 것을 알 수 있다.
그리고, n1, n2, k1, k2는 제2파장에 의해 검출되지 않았다.
도 6은 광원(200)이 제3파장의 광을 조사하여 제1센서(100a) 내지 제5센서(100e)에서 센싱된 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한 것을 예시하고 있다.
k1은 제3영역에 있으므로, 제3센서(100c)에 의해 센싱이 되었고, k2는 제5영역에 있으므로, 제5센서(100e)에 의해 센싱된 것을 알 수 있다.
그리고, n1, n2, m1, m2는 제3파장에 의해 검출되지 않았다.
그리고, 도 7에서는 도 4 내지 도 6에서 검출된 n1, n2, m1, m2, k1, k2 세포에 대한 이미지 데이터를 합하여 최종 이미지를 생성한 것을 예시하고 있다.
위와 같은 구성과 작용으로 인하여, 본 발명의 실시예에 따른 시료 분석 장치(10)는 대면적의 시료(500)을 분석할 수 있으며, 복수의 파장의 광을 조사함으로써, 시료를 염색하지 않고 시료에 대한 이미지 데이터를 생성할 수 있는 효과를 발휘하게 된다.
그리고, 제어부(300)는 획득된 이미지 데이터와 데이터베이스에 기 저장된 다수 개의 세포 이미지를 매칭하여, 시료(500)에 포함된 세포를 분석하는 것을 특징으로 하고, 사용자로부터 입력받은 이미지 데이터에 대한 정보를 데이터베이스에 저장하도록 한다.
따라서, 도 3 내지 도 7에서 예시된, 수집된 n1, n2, m1, m2, k1, k2 세포의 이미지 데이터를 데이터베이스에 저장된 다수 개의 세포 이미지와 매칭하여 일치 여부를 확인하게 된다.
이를 위해, 데이터베이스에는 다수 개의 세포에 대한 이미지가 저장되어 있고, 각각의 세포에 대한 정보들이 저장되어 있는것이 바람직하다.
그리고, 매칭이 되지 않는 이미지 데이터에 대해서는 매칭이 실패하였거나, 데이터가 존재하지 않을 수 있으므로, 사용자가 직접 분석을 한 결과 데이터를 입력받고, 결과 데이터를 저장함으로써, 추후에 다시 사용할 수 있도록 한다.
도 10을 참조하여 센서(100)의 유효영역(100-1)에 형성된 얼라인 마크(110)를 설명한다. 본 발명의 실시예에 따르면, 제1센서어레이(130)에 포함된 센서(100)와 제2센서어레인(150)에 포함된 센서(100)를 배치해야 하는데, 얼라인 마크(110)를 이용하여 정밀한 배치가 가능할 수 있으며, 촬상된 이미지를 얼라인 마크(110)를 이용하여 재구성을 할 수도 있다.
도 8 및 도 9를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 촬상 방법을 설명한다.
도 8을 참조하면, 시료(500)는 5개의 영역으로 나뉘어져 촬상되며, 각 영역은 서로 다른 센서(100)에 의해 촬상되고 센서(100)가 시료(500)를 촬상하는 방향을 도면에 표시하였다. 도 9를 참조하면, 하나의 센서(100)에 의해 촬상되는 이미지를 도시하였으며, 최종적으로 각 센서(100)에 의해 촬상되는 이미지 데이터를 재구성하여 최종 이미지 데이터를 확정한다.
도 11 및 도 12는 본 발명의 제2실시예에 따른 대면적 시료 분석 장치(10)의 정면도이다.
도 11 및 도 12를 참조하여 본 발명의 제2실시예에 따른 대면적 시료 분석 장치(10)에 대해서 설명하도록 한다.
본 발명의 제2실시예에 따른 시료 분석 장치(10)는, 센서(100), 광원(200), 제어부(300)를 포함한다.
센서(100)는 일방향으로 이동하며 센싱한다.
일 실시예로, 센서(100)는 시료 분석 장치(10)의 하측에 배치되되, 일 방향으로 이동 가능하게 마련된다.
광원(200)은 센서(100)와 이격하여 배치된다. 일 실시예로, 광원(200)은 시료 분석 장치(10)의 상측에 배치되며, 센서(100)와 대향하게 배치된다.
제어부(300)는 센서(100)와 광원(200) 사이에 배치되는 시료(500)에 대한 센서(100)의 센싱 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한다.
그리고, 센서(100)에 의해 센싱된 센싱 데이터는 시료(500)의 일측으로부터 타측까지에 대하여 센싱된 것을 의미한다.
예를 들어, 센서(100)는 시료(500)의 일측에서 출발하여, 시료(500)의 길이 방향으로 이동하며 시료(500)에 대한 데이터를 센싱하게 된다.
일 실시예로, 센서(100)는 제1방향으로 이동하고, 광원(200)은 광축이 제1방향과 수직한 제2방향이 되도록 배치된다.
또한, 도 12와 같이 광원(200)은 센서(100)와 대향하게 배치되고, 센서(100)와 동일 방향과 동일 속도로 이동하도록 마련될 수 있다.
따라서, 광원(200)은 광축이 센서(100)의 정중앙을 향하도록 배치된 상태에서 센서(100)와 함께 제1방향으로 이동하되, 센서(100)와 동일한 속도로 이동하여 광축이 항상 센서(100)의 정중앙을 향하도록 한다.
이로 인해, 광 조사의 각도 변화에 따른 오차가 발생하는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.
일 실시예로, 센서(100)는 제1간격 단위로 이동하며 시료(500)에 대한 데이터를 센싱할 수 있다. 그리고, 제1간격은 센서(100)의 제1방향 폭과 동일한 것이다.
다른 실시예로, 제1간격은 센서(100)의 제1방향 폭보다 소정 간격 짧을 수 있으며, 오버랩(중복)되어 센싱되는 영역에 대해서는 제어부(300)가 필터링하여 제거하도록 한다.
따라서, 센서(100)가 이동하며 시료(500)의 일측으로부터 타측까지 전체를 센싱할 수 있게 되므로, 대면적 시료를 분석하는 것이 가능해진다.
또한, 광원(200)은 복수의 파장의 광을 조사하고, 제어부(300)는 광원(200)의 파장별 광 조사에 따른 센서(100)의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한다.
그리고, 센서(100)는 일측으로부터 타측까지 복수회 왕복하여 이동하되, 광원(200)은 센서(100)의 1회 왕복 시마다 서로 다른 파장의 광을 조사하도록 한다.
따라서, 제어부(300)는 광원(200)의 파장별 광 조사에 따른 센서(100)의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득한다.
예를 들어, 광원(200)이 제1파장, 제2파장, 제3파장 총 3가지 종류의 파장의 광을 조사할 경우, 센서(100)는 시료 분석 장치(10)의 일측으로부터 타측까지 3회 왕복하여 이동하도록 한다.
그리고, 광원(200)은 센서(100)의 제1이동 때 제1파장의 광을 조사하고, 제2이동 때 제2파장의 광을 조사하고, 제3이동 때 제3파장의 광을 조사하여, 파장별 데이터를 센싱할 수 있도록 한다.
또 다른 실시예로, 광원(200)은 센서(100)가 제1간격 단위로 이동할 때마다, 복수의 파장의 광을 조사하고, 제어부(300)는 광원(200)의 파장별 광 조사에 따른 센서(100)의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 시료(500)에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하도록 한다.
예를 들어, 제1영역에서 제1파장, 제2파장, 제3파장의 광을 조사하고, 파장별 센싱 데이터를 획득하고, 센서(100)가 제1영역에서 제1간격만큼 이동하여 제2영역에서 정지한 후 제1파장, 제2파장, 제3파장의 광을 조사하고, 파장별 센싱 데이터를 획득하고, 또 다시 센서(100)가 제2영역에서 제1간격만큼 이동하여 제3영역에서 정지한 후 제1파장, 제2파장, 제3파장의 광을 조사하고, 파장별 센싱 데이터를 획득하도록 할 수 있다.
위에서 설명한 2 가지 방법을 이용하여 센서(100)가 이동하며 데이터를 센싱하고, 파장별 데이터를 센싱할 수 있게 된다.
그리고, 제어부(300)는 이와 같이 획득된 이미지 데이터들을 합하여 시료(500)에 포함된 세포들에 대한 최종 이미지를 생성하도록 한다.
이는, 위에서 도 3 내지 도 6을 통해서 설명한 예시와 동일하며, 센서(100)가 복수개 배치되는 것과 하나의 센서(100)가 이동하며 센싱하는 것만 다르기 때문에 더이상의 상세한 설명은 생략하도록 한다.
예를 들어, 센서(100)가 제1영역에서 센싱하고, 제1간격만큼 이동하여 제2영역에서 센싱하고, 제1간격만큼 이동하여 제3영역에서 센싱하고, 제1간격만큼 이동하여 제4영역에서 센싱하고, 제1간격만큼 제5영역에서 센싱하며, 파장별로 센싱되는 세포가 다르다는 것을 의미한다.
그리고, 제어부(300)는 획득된 이미지 데이터와 데이터베이스에 기 저장된 다수 개의 세포 이미지를 매칭하여, 시료(500)에 포함된 세포를 분석하는 것을 특징으로 하고, 사용자로부터 입력받은 이미지 데이터에 대한 정보를 데이터베이스에 저장하도록 한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 시료 분석 장치(10)의 센서(100) 또는 시료(500)의 홀더는 컬러필터를 포함할 수 있다.
따라서, 시료 분석 장치(10)는 컬러필터가 포함됨에 따라서 센서(100)에서 센싱되는 이미지 데이터에 컬러가 포함되기 때문에, 시료(500)을 염색하지 않고도 동일한 효과를 얻을 수 있게 된다.
이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 시료 분석 장치
100: 센서
130: 제1센서어레이
150: 제2센서어레이
200: 광원
300: 제어부
500: 샘플

Claims (10)

  1. 복수의 파장의 광을 조사하는 광원;
    제1 방향을 따라 이격하여 배치된 복수의 센서를 포함하는 제1센서어레이;
    상기 제1 방향을 따라 이격하여 배치된 복수의 센서를 포함하고 상기 제1센서어레이로부터 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향을 따라 이격된 제2센서어레이;
    상기 제1센서어레이와 상기 제2센서어레이 사이에 배치되는 샘플에 대한 상기 센서의 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는 제어부를 포함하고,
    상기 제1센서어레이의 센서 중 어느 하나의 유효영역이 상기 제2센서어레이의 센서 중 적어도 하나의 유효영역과 상기 제2 방향에서 오버랩되고,
    상기 제어부는 상기 광원의 파장별 광 조사에 따른 상기 센서의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 하나 이상의 세포에 대한 파장별 이미지 데이터를 획득하고, 상기 파장별 이미지 데이터를 합하여 최종 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1센서어레이 및 상기 제2센서어레이에서 복수의 센서는 제1간격으로 이격되어 있고,
    상기 제1간격은 상기 센서의 제1방향 폭보다 좁은 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 광원은 상기 제1센서어레이에 포함된 복수의 센서 사이에 상기 제2센서 어레이에 포함된 복수의 센서와 대향하고, 상기 제2센서어레이에 포함된 복수의 센서 사이에 상기 제1센서어레이에 포함된 복수의 센서와 대향하여 배치되는 복수의 광원을 포함하는 것인, 대면적 시료 분석 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1센서어레이 및 상기 제2센서어레이에 포함된 센서의 유효영역에 얼라인 마크가 표시된 것인, 대면적 시료 분석 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 샘플에 포함된 하나 이상의 세포에 대한 파장별 이미지 데이터를 데이터베이스에 기 저장된 다수 개의 세포 이미지와 매칭하여 상기 샘플에 포함된 하나 이상의 세포를 분석하는 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  6. 일 방향으로 이동하며 센싱하는 센서;
    상기 센서와 이격하여 배치된 광원; 및
    상기 센서와 광원 사이에 배치되는 샘플에 대한 상기 센서의 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는 제어부를 포함하고,
    상기 센싱 데이터는 상기 샘플의 일측으로부터 타측까지에 대하여 센싱된 것이고,
    상기 센서는 일측으로부터 타측까지 복수회 왕복하여 이동하되, 상기 광원은 상기 센서의 1회 왕복 시마다 서로 다른 파장의 광을 조사하고,
    상기 제어부는 상기 광원의 파장별 광 조사에 따른 상기 센서의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 하나 이상의 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  7. 일 방향으로 이동하며 센싱하는 센서;
    상기 센서와 이격하여 배치된 광원; 및
    상기 센서와 광원 사이에 배치되는 샘플에 대한 상기 센서의 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는 제어부를 포함하고,
    상기 센싱 데이터는 상기 샘플의 일측으로부터 타측까지에 대하여 센싱된 것이고,
    상기 센서는 제1간격 단위로 이동하며 상기 샘플에 대한 데이터를 센싱하고,
    상기 제1간격은 상기 센서의 제1방향 폭과 동일한 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 센서는 제1방향으로 이동하고,
    상기 광원은 광축이 상기 제1방향과 수직한 제2방향이 되도록 배치된 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  9. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 광원은,
    상기 센서와 대향하게 배치되고, 상기 센서와 동일 방향과 동일 속도로 이동하는 것을 특징으로 하는, 대면적 시료 분석 장치.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 광원은,
    상기 센서가 제1간격 단위로 이동할 때마다, 복수의 파장의 광을 조사하고,
    상기 제어부는 상기 광원의 파장별 광 조사에 따른 상기 센서의 파장별 센싱 데이터를 이용하여, 샘플에 포함된 하나 이상의 세포에 대한 이미지 데이터를 획득하는, 대면적 시료 분석 장치.
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