JP2021525896A - 映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法 - Google Patents

映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2021525896A
JP2021525896A JP2021517174A JP2021517174A JP2021525896A JP 2021525896 A JP2021525896 A JP 2021525896A JP 2021517174 A JP2021517174 A JP 2021517174A JP 2021517174 A JP2021517174 A JP 2021517174A JP 2021525896 A JP2021525896 A JP 2021525896A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
sensor
light source
sample analyzer
wavelength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2021517174A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7129730B2 (ja
Inventor
イ,ジョン・ムク
シン,ヒ・チャン
クウォン,ソン・ウォン
ジャン,キ・ホ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sol Inc
Original Assignee
Sol Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020180062490A external-priority patent/KR102112686B1/ko
Priority claimed from KR1020180152966A external-priority patent/KR102139477B1/ko
Application filed by Sol Inc filed Critical Sol Inc
Priority claimed from PCT/KR2019/006621 external-priority patent/WO2019231298A1/ko
Publication of JP2021525896A publication Critical patent/JP2021525896A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7129730B2 publication Critical patent/JP7129730B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V20/00Scenes; Scene-specific elements
    • G06V20/60Type of objects
    • G06V20/69Microscopic objects, e.g. biological cells or cellular parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0064Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/10Image acquisition
    • G06V10/12Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
    • G06V10/14Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
    • G06V10/143Sensing or illuminating at different wavelengths
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765Method using an image detector and processing of image signal

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本発明は、映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法に関し、前記大面積試料分析装置は第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含む第1センサアレイと、前記第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含み、前記第1センサアレイから前記第2方向に沿って離間した第2センサアレイと、前記第1センサアレイと前記第2センサアレイとの間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部を含み、前記第1センサアレイのセンサのうちの何れか1つの有効領域が前記第2センサアレイのセンサのうちの少なくとも1つの有効領域と前記第2方向でオーバーラップされる。

Description

本発明は試料分析装置に関し、より詳細には、映像基盤の大面積の試料を分析できる装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法に関する。
現在、光学顕微鏡で試料を観察する際に低倍率で面積全体を確認した後に組織検査の進行時に確定判定のために高倍率で試料を観察する。但し、高倍率で試料を観察すると、一回に確認できる領域(フィールドビュー)の広さが狭くなり、レンズを移動させながらスキャンするように撮った後に合わせなければならないという問題がある。
このような問題を解決するために、本発明の発明者はセンサを複数配置する方法を考慮したが、このような場合にもセンサ自体が非有効ピクセル領域を有しており、非有効ピクセル領域により試料で撮影できない領域が発生する。
一般に、光学顕微鏡を用いて映像に基づいて試料の構成要素を分析することは難しい。そのため、映像に基づいて試料の構成要素を分析するために、試料の染色過程を行っており、染められた試料を光学顕微鏡で確認する過程を経ている。このような場合、試料を染色する過程を経なければならないという煩雑さがあった。
また、試料の染められた特定部分を正確に確認するためには、1次的に低倍率の広い面積イメージを用い、その後に2次的に高倍率の狭い面積イメージを追加的に利用する過程を経ている。そのため、低倍率のイメージと高倍率のイメージを得るために、多様な倍率のレンズを有する光学顕微鏡が要求されるのが現状であり、部分拡大された試料イメージを追加的に獲得しなければならないという煩雑さが存在していた。
なお、従来の光学顕微鏡は、試料とセンサ部が所定間隔離間しており、微細な試料の媒質差を正確に映像で把握することが不可能であった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、複数のセンサを介してサンプルを分析する大面積試料分析装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、センサが移動してサンプルをセンシングする大面積試料分析装置を提供することにある。
更に、本発明の別の目的は、複数の光学レンズを使用しなくても精密に試料を分析できる試料分析装置を提供することにある。
また、本発明の更に他の目的は、媒質の特性差を用いて試料を染めなくても試料の構成要素を確認できる試料分析装置を提供することにある。
なお、本発明の更に別の目的は、複数の波長の光を照射し、各波長別にセンシングされるセンシングデータを用いて試料に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する試料分析装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、光源を移動させることによって、試料を精密に分析できる試料分析装置を提供することにある。
更に、本発明の別の目的は、フォーカシングレンズを用いて光源の光をフォーカシングし、試料を正確に分析できる試料分析装置を提供することにある。
また、本発明の更に別の目的は、キャリブレーションによって試料の微細な特性差も区分できる試料分析装置を用いて試料を測定して分析する方法を提供することにある。
本発明が解決しようとする課題は、以上で言及した課題に制限されず、言及していない他の課題は、以下の記載から通常の技術者が明確に理解できるであろう。
上述した課題を解決するための本発明の一実施例による試料分析装置は、第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含む第1センサアレイと、前記第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含み、前記第1センサアレイから前記第2方向に沿って離間した第2センサアレイと、前記第1センサアレイと前記第2センサアレイとの間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、前記第1センサアレイのセンサのうちの何れか1つの有効領域が前記第2センサアレイのセンサのうちの少なくとも1つの有効領域と前記第2方向でオーバーラップされる。
上述した課題を解決するための本発明の他の実施例による試料分析装置は、一方向に移動してセンシングするセンサと、前記センサと離間して配置された光源と、前記センサと光源との間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、前記センシングデータは、前記サンプルの一側から他側までに対してセンシングされる。
上述した課題を解決するための本発明の更に他の実施例による試料分析装置は、ダイレクトコンタクト方式の試料分析装置において、試料に互いに異なる波長の光を異時に照射する光源と、前記光源の波長別の光照射による前記試料に対するデータをセンシングするセンサ部であって、前記試料は、前記センサ部に接して位置するセンサ部と、前記光源の波長別の光照射による前記センサ部の波長別のセンシングデータを用いて、試料に含まれている構成要素に対するイメージデータを獲得する制御部とを含む。
上述した課題を解決するための本発明の更に別の実施例による試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法は、前記試料分析装置のセンサ部をキャリブレーションする段階は、標準平行光源で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階と、適用光源で構造物が前記試料分析装置に含まれている状態で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階とを含み、前記構造物は試料ホルダ、カラーフィルタ及びカートリッジのうちの少なくとも1つを含む。
前記のような本発明によれば、大面積のサンプルを一度に分析できるという効果が得られる。
また、本発明は、光学レンズを使用しないことはもちろん、試料を染めなくても試料の構成要素を確認できる試料分析装置を提供することによって、正確かつ迅速な試料分析が可能であるという効果がある。
更に、本発明は、波長別の媒質の光特性差を用いて複数のイメージデータを獲得して再構成(reconstruction)することによって、試料の構成要素の分析が可能であるという効果がある。
また、本発明は、光源の水平的移動によって光の入射角を変更させることによって、試料の構成要素を効果的に分析できる。
更に、本発明は、フォーカシングレンズを用いてフォーカシングポイントを調節して試料を分析するため、誤差を最小化し、正確に試料を分析できるようにするという効果がある。
この他に、本発明は、キャリブレーションによって試料の微細な特性差も区分できるという効果がある。
本発明の効果は、以上で言及した効果に制限されず、言及していない他の効果は、以下の記載から通常の技術者が明確に理解できるであろう。
本発明の実施例による大面積試料分析装置の正面図である。 本発明の実施例による大面積試料分析装置の正面図である。 本発明の実施例によるサンプルを示す例示図である。 本発明の実施例による波長別、領域別にセンシングされるイメージデータを示す例示図である。 本発明の実施例による波長別、領域別にセンシングされるイメージデータを示す例示図である。 本発明の実施例による波長別、領域別にセンシングされるイメージデータを示す例示図である。 制御部が図4〜図6でセンシングされたイメージデータを合せて最終のイメージを生成したことを示す例示図である。 本発明の実施例による撮像方法を説明する例示図である。 本発明の実施例による撮像方法を説明する例示図である。 本発明の他の実施例による大面積試料分析装置の正面図である。 本発明の第2実施例による大面積試料分析装置の正面図である。 本発明の第2実施例による大面積試料分析装置の正面図である。 本発明の実施例による試料分析装置の正面図である。 本発明の他の実施例による試料分析装置の正面図である。 本発明の実施例による試料内に含まれている細胞を示す例示図である。 本発明の実施例による複数の波長別にセンシングされるイメージでータを示す例示図である。 制御部が図16でセンシングされたイメージデータを合せて最終のイメージを生成したことを示す例示図である。 本発明の実施例による図16及び図17でセンシングされた細胞イメージをデータベースとマッチングすることを示す例示図である。 本発明の実施例による試料分析装置にカラーフィルタが含まれていることを示す例示図である。 本発明の実施例による試料分析装置にフォーカシングレンズが含まれていることを示す例示図である。 本発明の実施例による試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法の順序図である。 図21のS100段階の細部的な順序図である。 図22のS110段階の測定を説明する例示図である。 図22のS120段階の測定を説明する例示図である。 図22のS110段階の細部的な順序図である。 光反応性の各ピクセルの空間的な均一度の測定例示図である。 光反応性の各ピクセルの空間的な線形性の測定例示図である。 光反応性の各ピクセルの空間的な線形性キャリブレーションの例示図である。 図22のS120段階の細部的な順序図である。 図22のS120段階の測定例示図である。 図21のS300段階の細部的な順序図である。 図21のS300段階の例示図である。
本発明の利点及び特徴、そしてそれらを達成する方法は、添付の図面と共に詳細に後述されている実施例を参照すれば明確になる。しかし、本発明は、以下で開示される実施例に制限されるものではなく、互いに異なる多様な形態で実現することができる。但し、本実施例は本発明の開示を完全なものにし、本発明が属する技術分野における通常の技術者に本発明の範疇を完全に理解させるために提供されるものであり、本発明は請求項の範疇により定義されるに過ぎない。
本明細書で用いられた用語は、実施例を説明するものであり、本発明を制限しようとするものではない。本明細書において、単数型は特に言及しない限り複数型も含む。明細書で用いられる「含む(comprises)」及び/又は「含んでいる(comprising)」は、言及した構成要素以外に1つ以上の他の構成要素の存在又は追加を排除しない。明細書全体に亘って同一の図面符号は同一の構成要素を示し、「及び/又は」は言及した構成要素のそれぞれ及び1つ以上の全ての組み合わせを含む。たとえ、「第1」、「第2」などが多様な構成要素を叙述するために用いられていても、これらの構成要素はこれらの用語により制限されないのはもちろんである。これらの用語は、単に1つの構成要素を他の構成要素と区別するために用いる。従って、以下で言及する第1構成要素は、本発明の技術的思想内で第2構成要素でもあり得るのは言うまでもない。
他の定義がなければ、本明細書で用いられる全ての用語(技術及び科学的用語を含む)は、本発明が属する技術分野における通常の技術者が共通して理解できる意味として用いられる。また、一般に用いられる辞典に定義されている用語は、明白に特に定義されていない限り、理想的に又は過度に解釈されない。
以下、添付の図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
図1及び図2は、本発明の実施例による試料分析装置10の正面図である。詳細には、図2は、大面積試料分析装置10の構造を示すために図1から試料500を除いたものである。
図1及び図2を参照して本発明の実施例による試料分析装置10を説明する。
本発明の実施例による大面積試料分析装置10は、センサ支持部、第1センサアレイ130、第2センサアレイ150、光源200及び制御部300を含む。
第1センサアレイ130及び第2センサアレイ150は、複数のセンサ100が離間して配置される。
このとき、本発明の実施例で言及するセンサ100は、第1センサアレイ130及び第2センサアレイ150に含まれている全てのセンサ100を指すものであって、センサ100はピクセルが位置して実際に撮像が行われる有効領域100-1と、撮像が行われない非有効領域100-2とを含むことができる。
一実施例によれば、第1センサアレイ130は、試料分析装置10の下側に複数のセンサ100が離間して配置される。第2センサアレイ150は、試料分析装置10の上側に複数のセンサ100が離間して配置される。
詳細には、第2センサアレイ150は、第1センサアレイ130と対向するように配置され、第1センサアレイ130の複数のセンサ100と第2センサアレイ150の複数のセンサ100は、第1センサアレイ130と第2センサアレイ150が対向する方向でオーバーラップされる。具体的に、第1センサアレイ130の複数のセンサ100の有効領域100-1と第2センサアレイ150の複数のセンサ100の有効領域100-1が第1センサアレイ130と第2センサアレイ150が対向する方向でオーバーラップされる。
従って、試料分析装置10に配置された全てのセンサ100によって配置された試料500の全面をセンシングできるようになる。
換言すると、第1センサアレイ130と第2センサアレイ150のセンサ100は、対向するように配置され、互いにずれるように配置される。或いは第1センサアレイ130と第2センサアレイ150のセンサ100は、ジグザグ状に配置されることができる。
そして、第1センサアレイ130と第2センサアレイ150は、対向するように配置され、試料500が配置され得るように所定間隔離間して配置されるようにする。
光源200は、それぞれのセンサ100と対向するように配置される。
制御部300は、第1センサアレイ130と第2センサアレイ150との間に配置される試料500に対するセンサ100のセンシングデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
図2を参照して本発明の実施例による試料分析装置10の構造を更に詳細に説明する。
図2を参照すれば、本発明の実施例による試料分析装置10のセンサ100は第1センサ100a、第2センサ100b、第3センサ100c、第4センサ100d及び第5センサ100eを含み、光源200は第1光源200a、第2光源200b、第3光源200c、第4光源200d及び第5光源200eを含む。
そして、第1センサアレイ130の複数のセンサ100は、第1方向に第1間隔離間して配置される。第2センサアレイ150の複数のセンサ100は、第1方向に第1間隔離間して配置される。そして、第1センサアレイ130と第2センサアレイ150は、第1方向と垂直な第2方向に所定間隔離間して配置されるようにする。
図2を参照すれば、第1センサアレイ130及び第2センサアレイ150のセンサ100は、水平方向に第1間隔離間して配置され、第1センサアレイ130と第2センサアレイ150は、垂直方向に所定間隔離間して配置される。
このとき、第1間隔は、センサ100の第1方向の有効領域100-1の幅よりも相対的に狭いことを特徴とする。これにより、第1センサアレイ130の複数のセンサ100の有効領域100-1と第2センサアレイ150の複数のセンサ100の有効領域100-1が第1センサアレイ130と第2センサアレイ150が対向する方向でオーバーラップできる。
例えば、第1センサ100aの有効領域100-1の幅aは第1センサ100aと第2センサ100bの離間した間隔bよりも相対的に狭いことを意味する。従って、第1センサ100a、第2センサ100b、第3センサ100c、第4センサ100d及び第5センサ100eによって空いた空間なしに試料500の全ての領域をセンシングできるようになる。
更に他の一例として、それぞれのセンサ100の有効領域100-1は、向かい合うセンサ100の有効領域100-1と終端が所定間隔オーバーラップできる。そして、制御部300は、オーバーラップされて重複でセンシングされる部分に対しては重複を除いてイメージデータを獲得するようにする。
例えば、第1センサ100aの有効領域100-1の右側終端と第4センサ100dの有効領域100-1の左側終端は、所定間隔オーバーラップされる。同一の方式で第4センサ100dの有効領域100-1の右側終端と第2センサ100bの有効領域100-1の左側終端は所定間隔オーバーラップされ、残りのセンサ100も同一に適用されることができる。
そして、それぞれの光源200は、センサ100と対向するように配置される。
例えば、第1光源200aは第1センサ100aと対向し、第2光源200bは第2センサ100bと対向し、第3光源200cは第3センサ100cと対向し、第4光源200dは第4センサ100dと対向し、第5光源200eは第5センサ100eと対向するように配置される。
より詳細には、光源200は、光軸が第2方向となるように配置され、光軸が向かい合うセンサ100の正中央に向かうように配置される。
図3は、本発明の実施例による試料500を示す例示図であり、図4〜図6は、本発明の実施例による波長別、領域別にセンシングされるイメージデータを示す例示図であり、図7は、制御部300が図4〜図6でセンシングされたイメージデータを合せて最終のイメージを生成したことを示す例示図である。
本発明の実施例によれば、光源200は複数の波長の光を照射する。
そして、制御部300は、光源200の波長別の光照射によるセンサ100の波長別のセンシングデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
また、制御部300は、得られたイメージデータを合せて試料500に含まれている細胞に対する最終のイメージを生成する。
これに対して、図3〜図7を参照してより詳細に説明する。
図3は、試料500に含まれている成分を示して試料500を例示した図であって、試料500にはn1、n2、m1、m2、k1、k2細胞が含まれている。
そして、第1領域は第1センサ100aによりセンシングされる領域、第2領域は第2センサ100bによりセンシングされる領域、第3領域は第3センサ100cによりセンシングされる領域、第4領域は第4センサ100dによりセンシングされる領域、第5領域は第5センサ100eによりセンシングされる領域を意味する。
そして、光源200は第1波長、第2波長、第3波長の計3つの波長の光を照射し、n1、n2は第1波長により検出できる細胞であり、m1、m2は第2波長により検出できる細胞であり、k1、k2は第3波長により検出できる細胞を意味する。
図4は、光源200が第1波長の光を照射して第1センサ100a〜第5センサ100eでセンシングされたデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得したことを例示している。
n1は第1領域にあるので、第1センサ100aによりセンシングされ、n2は第4領域にあるので、第4センサ100dによりセンシングされることが分かる。
そして、m1、m2、k1、k2は第1波長により検出されなかった。
図5は、光源200が第2波長の光を照射して第1センサ100a〜第5センサ100eでセンシングされたデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得することを例示している。
m1は第2領域にあるので、第2センサ100bによりセンシングされ、m2は第3領域にあるので、第3センサ100cによりセンシングされることが分かる。
そして、n1、n2、k1、k2は第2波長により検出されなかった。
図6は、光源200が第3波長の光を照射して第1センサ100a〜第5センサ100eでセンシングされたデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得したことを例示している。
k1は第3領域にあるので、第3センサ100cによりセンシングされ、k2は第5領域にあるので、第5センサ100eによりセンシングされることが分かる。
そして、n1、n2、m1、m2は第3波長により検出されなかった。
そして、図7では図4〜図6で検出されたn1、n2、m1、m2、k1、k2細胞に対するイメージデータを合せて最終のイメージを生成したことを例示している。
前記のような構成と作用によって、本発明の実施例による試料分析装置10は、大面積の試料500を分析でき、複数の波長の光を照射することによって、試料を染めなくても試料に対するイメージデータを生成できるという効果を発揮する。
そして、制御部300は、得られたイメージデータとデータベースに既に格納された多数の細胞イメージをマッチングし、試料500に含まれている細胞を分析することを特徴とし、ユーザから入力を受けたイメージデータに関する情報をデータベースに格納する。
従って、図3〜図7で例示された、収集されたn1、n2、m1、m2、k1、k2細胞のイメージデータをデータベースに格納された多数の細胞イメージとマッチングして一致するか否かを確認する。
そのため、データベースには、多数の細胞に対するイメージが格納されており、それぞれの細胞に関する情報が格納されていることが好ましい。
そして、マッチングされないイメージデータに対してはマッチングが失敗しているか、データが存在しないおそれがあるので、ユーザが直接分析を行った結果データの入力を受け、結果データを格納することによって、後で再び使用できるようにする。
図8及び図9を参照して本発明の実施例による撮像方法を説明する。
図8を参照すれば、試料500は5つの領域に分けられて撮像され、各領域は互いに異なるセンサ100により撮像され、センサ100が試料500を撮像する方向を示した。図9を参照すれば、1つのセンサ100により撮像されるイメージを示し、最終的に各センサ100により撮像されるイメージデータを再構成して最終のイメージデータを確定する。
図10は、本発明の他の実施例による大面積試料分析装置の正面図である。
図10を参照してセンサ100の有効領域100-1に形成されたアラインマーク110を説明する。本発明の実施例によれば、第1センサアレイ130に含まれているセンサ100と第2センサアレイ150に含まれているセンサ100を配置しなければならないが、アラインマーク110を用いて精密な配置が可能であり、撮像されたイメージをアラインマーク110を用いて再構成することもできる。
図11及び図12は、本発明の第2実施例による大面積試料分析装置10の正面図である。
図11及び図12を参照して本発明の第2実施例による大面積試料分析装置10について説明する。
本発明の第2実施例による試料分析装置10は、センサ100、光源200、制御部300を含む。
センサ100は、一方向に移動してセンシングする。
一実施例として、センサ100は試料分析装置10の下側に配置され、一方向に移動可能に設けられる。
光源200は、センサ100と離間して配置される。一実施例として、光源200は試料分析装置10の上側に配置され、センサ100と対向するように配置される。
制御部300は、センサ100と光源200との間に配置される試料500に対するセンサ100のセンシングデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
そして、センサ100によりセンシングされたセンシングデータは、試料500の一側から他側までに対してセンシングされることを意味する。
例えば、センサ100は試料500の一側から出発し、試料500の長手方向に移動し、試料500に対するデータをセンシングする。
一実施例として、センサ100は第1方向に移動し、光源200は光軸が第1方向と垂直な第2方向となるように配置される。
また、図12に示すように、光源200はセンサ100と対向するように配置され、センサ100と同一の方向と同一の速度で移動するように設けられることができる。
従って、光源200は、光軸がセンサ100の正中央に向かうように配置された状態でセンサ100と共に第1方向に移動し、センサ100と同一の速度で移動して光軸が常にセンサ100の正中央に向かうようにする。
これにより、光照射の角度の変化による誤差が発生するのを防止できるという効果がある。
一実施例として、センサ100は、第1間隔単位で移動し、試料500に対するデータをセンシングできる。そして、第1間隔は、センサ100の第1方向の幅と同一である。
他の実施例として、第1間隔はセンサ100の第1方向の幅よりも所定間隔短くなり、オーバーラップ(重複)されてセンシングされる領域に対しては制御部300がフィルタリングして除去するようにする。
従って、センサ100が移動して試料500の一側から他側まで全体をセンシングできるようになるので、大面積の試料を分析することが可能になる。
また、光源200は複数の波長の光を照射し、制御部300は光源200の波長別の光照射によるセンサ100の波長別のセンシングデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
そして、センサ100は一側から他側まで複数回往復して移動し、光源200はセンサ100の1回往復時毎に互いに異なる波長の光を照射するようにする。
従って、制御部300は、光源200の波長別の光照射によるセンサ100の波長別のセンシングデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
例えば、光源200が第1波長、第2波長、第3波長の計3種類の波長の光を照射する場合、センサ100は、試料分析装置10の一側から他側まで3回往復して移動するようにする。
そして、光源200は、センサ100の第1移動時に第1波長の光を照射し、第2移動時に第2波長の光を照射し、第3移動時に第3波長の光を照射して波長別のデータをセンシングできるようにする。
他の実施例として、光源200は、センサ100が第1間隔単位で移動する度に、複数の波長の光を照射し、制御部300は、光源200の波長別の光照射によるセンサ100の波長別のセンシングデータを用いて、試料500に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得するようにする。
例えば、第1領域で第1波長、第2波長、第3波長の光を照射し、波長別のセンシングデータを獲得し、センサ100が第1領域で第1間隔だけ移動して第2領域で停止した後、第1波長、第2波長、第3波長の光を照射し、波長別のセンシングデータを獲得し、再びセンサ100が第2領域で第1間隔だけ移動して第3領域で停止した後、第1波長、第2波長、第3波長の光を照射し、波長別のセンシングデータを獲得するようにすることができる。
上記で説明した2つの方法を用いてセンサ100が移動してデータをセンシングし、波長別のデータをセンシングできるようになる。
そして、制御部300は、このように得られたイメージデータを合せて試料500に含まれている細胞に対する最終のイメージを生成するようにする。
これは、前記図3〜図6によって説明した例示と同一であり、センサ100が複数配置されることと、1つのセンサ100が移動してセンシングすることのみ異なるため、これ以上の詳細な説明は省略する。
例えば、センサ100が第1領域でセンシングし、第1間隔だけ移動して第2領域でセンシングし、第1間隔だけ移動して第3領域でセンシングし、第1間隔だけ移動して第4領域でセンシングし、第1間隔だけ第5領域でセンシングし、波長別にセンシングされる細胞が異なることを意味する。
そして、制御部300は、得られたイメージデータとデータベースに既に格納された多数の細胞イメージをマッチングして試料500に含まれている細胞を分析することを特徴とし、ユーザから入力を受けたイメージデータに関する情報をデータベースに格納するようにする。
また、本発明の実施例による試料分析装置10のセンサ100又は試料500のホルダは、カラーフィルタを含むことができる。
従って、試料分析装置10は、カラーフィルタが含まれることによって、センサ100でセンシングされるイメージデータにカラーが含まれるため、試料500を染めなくても同一の効果が得られる。
以下、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置1を説明する。
図13は、本発明の実施例による試料分析装置1の正面図である。
図13を参照して本発明の実施例による試料分析装置20を説明する。
試料分析装置20は光源支持部210、センサ支持部215、光源220、センサ部230及び制御部240を含む。
光源220は、光源支持部210により支持されて試料2100に互いに異なる波長を有する複数の波長の光を照射する。ここで、光源220は白色光(white light)のように多波長の光を一時に試料2100に照射するのではなく、互いに異なる波長を有する複数の光を時差をおいて試料2100に照射する。
一実施例として、光源220は、試料分析装置2の上部である光源支持部210に配置され、下側に配置された試料2100、センサ部230の方向に光を照射する。
本発明の実施例では第1波長、第2波長及び第3波長の光を照射することを示し、ここで第1ないし第3波長は互いに異なる帯域の波長を有する。
このとき、波長の種類及び波長の個数は、発明の実施者が容易に選択するようにする。
センサ部230は、光源220の波長別の光照射による試料2100に対するデータをセンシングする。ここで、センサ部230は、センサ以外にセンサパッケージ(package)を含むものと定義し、センサ部230は複数のセンサを含むことができ、各ピクセルP単位でイメージデータをセンシングできる。
制御部240は、光源220の波長別の光照射によるセンサ部230の波長別のセンシングデータを用いて、試料2100に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
例えば、試料2100のない状態で光を照射する場合、光源220から照射された光のままで、センサ部230でデータがセンシングされる。しかし、試料2100が配置され、試料2100に特定の細胞が含まれている場合、細胞が存在する領域に対しては媒質の光特性差によってその他の領域と異なるデータがセンシングされるようになる。
試料(細胞)に含まれる内部の構成要素の特性によって、光の波長に反応する程度が異なり、これによりセンサ部230のピクセルに照射される光の強度が変わるが、センサ部230はこのような光の強度が変わるものをセンシングする。そして、制御部240は前記のようなセンサ部230のセンシングデータを用いて試料2100に含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する。
このとき、制御部240は、それぞれの波長別の光照射によるセンサ部230の波長別のセンシングデータを用いて得られた波長別の細胞に対するイメージデータを合せて、試料2100に含まれている細胞に対する最終のイメージを生成する。
一実施例として、センサ部230は試料分析装置20の下面に配置され、光源220は光軸がセンサ部230の面と垂直方向となるように配置される。また、光源220の光軸は、センサ部230の正中央に向かうようにする。
また、本発明の実施例による試料分析装置20は、ダイレクトコンタクト方式の試料分析装置20であり、試料2100がセンサ部230の上面に直接接触するように位置し得る。
本実施例による試料分析装置20はダイレクトコンタクト方式であって、センサ部230が試料2100と直接接触するため、センサ部230の各ピクセルが該当ピクセルの真上に接触する試料2100の特定部分を通過する光データを受信でき、このような過程で他のピクセル上に接触する試料2100の他の特定部分を通過する光データの影響を最小化できる。本実施例による試料分析装置20を利用すれば、それにより微細な試料2100の媒質差を正確に映像で把握することが可能である。
但し、複数の実施例で図14を参照すれば、試料2100とセンサ部230との間に試料ホルダ350が位置することもできる。試料ホルダ350の厚さが微細なため、図14に示された試料分析装置30もダイレクトコンタクト方式であって微細な試料2100の媒質差を正確に映像で把握することが可能である。
前述した構成を用いて本発明は別途の染色過程なしに試料を分析することが可能であるため、これについては詳細に後述する。
試料2100に含まれている細胞に光を照射してセンサ部230を介して視覚化する場合、例えば、白血球はラインそのものが見られない。従って、光を与える際に白色光ではなく、RGB各波長別に光を照射することが必要であり、互いに異なる帯域の波長を照射する場合、血球を構成する構成要素の媒質の特性差によって血球を通過してセンサ部230に感知されるデータ値の差が発生する。この差値を用いて血球を構成する構成要素に対するイメージを描くことができるため、別途の染色過程がなくても血球の構成要素を確認できる。
図15〜図17を参照して本発明の実施例について説明する。図15〜図17は、図13によって説明した波長別の光照射によるセンシングデータを用いて細胞イメージを獲得することを詳細に示した図であって、図15は、本発明の実施例による試料2100内に含まれている細胞を示す例示図であり、図16は本発明の実施例による複数の波長別にセンシングされるイメージデータを示す例示図であり、図17は、制御部240が図16でセンシングされたイメージデータを合せて最終のイメージを生成したことを示す例示図である。
図15に示すように、試料2100にはn1、n2、m1、p1のような構成要素が含まれていると仮定する。
そして、n1、n2は光源220の第1波長に対して反応性が相対的に大きい構成要素であり、m1は光源220の第2波長に対して反応性が相対的に大きい構成要素であり、p1は光源220の第3波長に対して反応性が相対的に大きい構成要素である。
従って、光源220から第1波長が照射される場合、センサ部230を介して図16の(a)に示されるように、第1波長による構成要素n1、n2、m1、p1に対するデータが得られる。ここで、n1、n2細胞に対するイメージがm1、p1に比べて相対的に鮮明であることが確認でき、n1、n2構成要素を透過した光強度がm1、p1構成要素を透過した光強度に比べて相対的に大きい。
ここで、n1、n2細胞に対するイメージがm1、p1に対するイメージに比べて相対的に鮮明な理由は媒質の特性差のためであり、具体的にn1、n2、m1、p1それぞれの媒質に対する第1波長の透過率/吸収率が互いに異なるためである。
そして、光源220から第2波長が照射される場合、センサ部230を介して図16の(b)に示されるように、第2波長による構成要素n1、n2、m1、p1に対するデータをセンシングし、制御部240がm1細胞に対するイメージデータを獲得した。
そして、光源220から第3波長が照射される場合、センサ部230を介して図16の(c)に示されるように、第3波長による構成要素n1、n2、m1、p1に対するデータをセンシングし、制御部240がp1細胞に対するイメージデータを獲得した。
図17を参照すれば、制御部240が得られたイメージデータを合せて試料2100に含まれている細胞に対する最終のイメージを生成した。即ち、制御部240は、互いに異なる波長によるイメージデータを合成(reconstruction)する。
従って、ユーザは、最終のイメージによって試料2100に含まれている細胞を分析できるようになる。
図18は、本発明の実施例による図16及び図17でセンシングされた細胞イメージをデータベース260とマッチングすることを示す例示図である。
図18を参照すれば、制御部240は、得られたイメージデータとデータベース260に既に格納された多数の試料に対するデータをマッチングして試料2100に含まれている構成成分を分析することを特徴とし、ユーザから入力を受けたイメージデータに関する情報をデータベース260に格納してデータを蓄積するようにする。
従って、図15〜図17によって収集されたn1、n2、m1、p1のイメージデータがデータベース260に格納された媒質特性(例えば、波長別の質の透過度、吸収率、屈折角度など)とマッチングするか否かを確認するようになる。
そのために、データベース260には、媒質特性(例えば、波長別の質の透過度、吸収率、屈折角度など)に対するデータが格納されていることが好ましい。
そして、マッチングされないイメージデータに対してはマッチングが失敗しているか、データが存在しないおそれがあるので、ユーザが直接分析を行った結果、データの入力を受け、結果データを格納することによって、後で再び使用できるようにする。
図19は、本発明の実施例による試料分析装置40にカラーフィルタ470が含まれていることを示す例示図である。
図19を参照すれば、本発明の実施例による試料分析装置40は、カラーフィルタ470を更に含む。
より詳細には、センサ部230又は試料2100のホルダは、カラーフィルタ470を更に含む。このとき、センサ部230は、センサ部230の上面にカラーフィルタ470が配置されることができる。ここで、カラーフィルタ470は、試料ホルダ350としての機能をすることもできる。
試料分析装置40は、カラーフィルタ470が含まれることによってセンサ部230でセンシングされるイメージデータにカラーが含まれるため、試料2100を染めなくても同一の効果が得られるようになる。
図20は、本発明の実施例による試料分析装置50にフォーカシングレンズ580が含まれていることを示す例示図である。
図20を参照すれば、本発明の実施例による試料分析装置50は、光源220から照射される光を試料2100又はセンサ部230にフォーカシングするフォーカシングレンズ580を更に含む。
このとき、フォーカシングレンズ580は、光源220の下側に配置される。
光源220の光軸は、センサ部230のセンサ部230面と垂直になり、センサ部230の正中央に向かうように配置されるため、センサ部230の正中央から遠くなるほど密度に対する分解能が低下し、広がるようになるという問題が発生し得る。
そして、前記のような問題は、細胞に対するデータをセンシングする上で誤差が発生し得る。
従って、フォーカシングレンズ580を介してフォーカシングポイントを移動させ、光がフォーカシングされる地点周辺のデータをセンシングすることによって、前記のような問題が発生しないようにすることができる。
より詳細には、フォーカシングレンズ580は、フォーカシングポイントを試料2100の一側から他側に移動させ、センサ部230はフォーカシングポイント周辺のデータをセンシングし、フォーカシングポイントの移動によって連続的にデータをセンシングするようにする。
また、フォーカシングレンズ580は、フォーカシングポイントのX、Y、Z座標を移動させ、制御部240は、フォーカシングポイントの移動によってセンサ部230でセンシングされるデータを合成して試料2100の2次元又は3次元イメージを生成する。
従って、ユーザは、試料2100に含まれている細胞に対する2次元イメージ又は3次元イメージを獲得して試料2100を分析できるようになる。
また、本発明の更に他の実施例によれば、試料分析装置50は、カラーフィルタ470とフォーカシングレンズ580を共に含んで構成されることができる。
ここで、図20を参照すれば、光源220の水平方向への移動が可能であり、フォーカシングレンズ580の垂直方向への移動が可能である。
光源220の水平方向への移動がある場合、光源220の水平方向への移動によって試料2100の媒質を通過する光の入射角と入射距離が変わるため、イメージの鮮明度が高くなるようにすることができる。
また、光源220の水平方向への移動がある場合、光源220の位置変化によって屈折角が変わるため、センシング位置の変化により試料2100内に互いにオーバーラップされる構成物質も分析しやすくなり得る。従って、試料2100の立体的な観察が可能である。
フォーカシングレンズ580の垂直方向への移動がある場合、試料2100のイメージを立体的に実現できる。
複数の実施例において、フォーカシングレンズ580は、可変曲率を有する液体レンズであることもできる。このような場合、フォーカシングレンズ580の位置は固定されていても曲率可変によって焦点の位置を任意に変更可能であり、高低を調節することに比べて製品のコンパクト化に有利であり得る。
これにより、本実施例による試料分析装置50によれば、媒質差による光密度(optical density)の差だけでなく、光源220の位置変更による立体的(3D)な試料の分析が可能である。
以下、図21〜図30を参照して本発明の実施例による試料分析装置を用いて試料を測定して分析する方法を説明する。ここで、試料分析装置を用いて試料を測定して分析する方法は、制御部240によって行われるか、行われるように制御できる。
図21を参照すれば、本発明の一実施例による試料分析装置を用いて試料を測定して分析する方法は、試料分析装置20のセンサ部230をキャリブレーションする段階(S100)、試料の標準特性イメージに対するデータベースを構築する段階(S200)、試料分析装置20を用いて試料を測定する段階(S300)及び測定されたイメージデータを用いて試料を分析して試料に対して判定を行う段階(S400)を含む。但し、複数の実施例による試料分析装置を用いて試料を測定して分析する方法は、図21に示された段階よりも相対的に少ないか、多い段階を含むこともできる。
具体的に、図21を参照すれば、試料分析装置20のセンサ部230をキャリブレーションする(S100)。
ダイレクトコンタクト方式ではセンサ部230の表面に直接コンタクトされた試料2100を測定するため、試料2100を通過する光の波長、入射角など透過特性と、光が通過する試料2100を構成する媒質の種類/成分による微細な特性差を精密にセンシングできなければならない。そのため、標準平行光源2120下でセンサ部230を構成する各ピクセルをキャリブレーションする過程を備えることによって、試料分析装置20の測定及び分析の正確度を向上させることができる。
試料分析装置20のセンサ部230をキャリブレーションするために(S100)、図22及び図23を参照して標準平行光源2120で測定結果に基づいてセンサ部230をキャリブレーションし(S110)、図22及び図24を参照して適用光源20で構造物が試料分析装置1に含まれている状態で測定結果に基づいてセンサ部230をキャリブレーションすることができる(S120)。一方、センサ部230上に試料2100を位置させない状態でキャリブレーションのためにセンサ部230を用いて測定を行う。
ここで、標準平行光源2120は予め定められた種類の光源であり、必要に応じて選択された波長が適用されることができる。適用光源220は、試料分析装置20に採用されて試料の測定に実際に利用される光源である。そして、構造物は、測定過程でセンサ部230上に位置して測定に影響を与えられるものであって、試料ホルダ350、カラーフィルタ470又はカートリッジなどを含むことができる。
標準平行光源2120でのキャリブレーションを説明する。
標準平行光源2120で測定結果に基づいてセンサ部230をキャリブレーションするために(S110)、図25を参照して予め定められた波長の標準平行光源2120の光源の強度を0から予め定められた飽和領域まで増加させながら、それぞれN回ずつ(ここで、Nは自然数)測定してデータを収集する(S111)。
次に、図25、図26a及び26bを参照してセンサ部230の各ピクセルPのN回の測定値の統計的なボックスプロットの代表値を基準として各ピクセルPの光源反応性の空間的な均一度と線形度を算出する(S112)。
次に、図25及び図26cを参照して標準平行光源2120に該当する各ピクセルPの第1キャリブレーションルックアップテーブルを作成し、光源反応性の空間的な均一度と線形性をキャリブレーションする(S113)。
適用光源220でのキャリブレーションを説明する。ここで、標準平行光源2120の波長と適用光源220の波長は同一であり得るが、これに制限されない。
適用光源220で構造物が試料分析装置20に含まれている状態で測定結果に基づいてセンサ部230をキャリブレーションするために(S120)、図27を参照して適用光源220の光源の強度を0から予め定められた飽和領域まで増加させながら、それぞれN回ずつ測定してデータを収集する(S121)。
次に、図26a、図26b及び図27を参照してセンサ部230の各ピクセルPのN回の測定値の統計的なボックスプロットの代表値を基準として各ピクセルPの光源反応性の空間的な均一度と線形度を算出する(S122)。
次に、図26c及び図27を参照して適用光源220に該当する各ピクセルPの第2キャリブレーションルックアップテーブルを作成し、光源反応性の空間的な均一度と線形性をキャリブレーションする(S123)。
次に、図21及び図28を参照すれば、試料2100の標準特性イメージに対するデータベースを構築する(S200)。
本段階では標準平行光源2120を用いて多様な波長に対して各波長毎に試料2100の標準特性イメージに対するデータベースを構築する。標準特性イメージに対するデータベースを細部的に構成するために多様な大きさの波長が多様な強度で利用されることができる。
例えば、癌細胞、赤血球又は白血球のように測定しようとする試料2100をセンサ部230上に置いて各波長に対して、標準平行光源2120の光源の強度を0から予め定められた飽和領域まで増加させながら、それぞれN回ずつ測定してデータを収集し、センサ部230の各ピクセルPのN回の測定値の統計的なボックスプロットの代表値を基準として各ピクセルPの光源反応性の空間的な均一度と線形度を算出し、標準平行光源2120に該当する各ピクセルPの第1キャリブレーションルックアップテーブルを作成し、光源反応性の空間的な均一度と線形性をキャリブレーションする過程を繰り返すことによって、第1及び第2キャリブレーションルックアップテーブルを作成し、試料2100に対する標準特性イメージデータベースを構築できる。
次に、図21を参照すれば、試料分析装置20を用いて試料を測定する(S300)。
このために、図16及び図29を参照して標準特性イメージデータベースで測定しようとする試料2100の特徴を最もよく表す波長と光源の強度を導出する(S310)。ここで、試料2100が複数の構成要素を含む場合、各試料2100の構成要素毎に適した波長と光源の強度が導出でき、試料2100の特徴を最もよく表す波長と光源の強度はマッチング/類似度の確率が最も大きな値を表す際の波長と光源の強度であり得る。例えば、マッチング/類似度の確率算出のために利用されるイメージパターンのマッチング方法はよく知られているHarris corner detector、Shi-Tomasi特徴点抽出方法、SIFT(Scale Invariant Feature Transform)、FAST(Features from Accelerated Segment Test)、AGAST方法、そしてSIFT、SURF、BRIEF、ORB、FREAKなどのような地域的不変特徴量(local invariant feature descriptor)方法やディープラーニング技術などを適用でき、前述した技法に限定されない。
次に、図16、図29及び図30を参照して試料2100をセンサ部230上に置いて、試料2100の特徴を最もよく表す波長(例えば、第1波長、第2波長及び第3波長など)と光源の強度下で測定して得られたそれぞれのイメージデータ又は統合イメージデータを得る(S320)。即ち、多様な波長と光源の強度下で測定して得られたイメージデータによって試料2100全体に対してよく表れた統合イメージデータが得られる。
最後に、図21を参照すれば、測定されたイメージデータを用いて試料を分析し、試料に対して判定を行う(S400)。
測定から得られた試料2100のイメージデータと試料2100の標準特性イメージデータベースを比較(例えば、該当試料2100の標準特性イメージフィルタ演算など)してマッチングされるものを探す。マッチング正確度の確率を適用してx%で示し、該当ターゲット試料は何であり、幾つあるかなどを計数して表示できる。
以上、添付の図面を参照して本発明の実施例を説明したが、本発明が属する技術分野における通常の技術者は、本発明がその技術的思想や必須な特徴を変更することなく、他の具体的な形態で実施され得るということが理解できるであろう。従って、以上で述べた実施例は全ての面で例示的なものであり、制限的ではないものとして理解すべきである。

Claims (24)

  1. 第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含む第1センサアレイと、
    前記第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含み、前記第1センサアレイから前記第2方向に沿って離間した第2センサアレイと、
    前記第1センサアレイと前記第2センサアレイとの間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、
    前記第1センサアレイのセンサのうちの何れか1つの有効領域が前記第2センサアレイのセンサのうちの少なくとも1つの有効領域と前記第2方向でオーバーラップされる、大面積試料分析装置。
  2. 前記第1センサアレイ及び前記第2センサアレイで複数のセンサは、第1間隔に離間しており、
    前記第1間隔は、前記センサの第1方向の幅よりも狭いことを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。
  3. 前記第1センサアレイに含まれている複数の光源の間と前記第2センサアレイに含まれている複数の光源の間に配置される光源を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。
  4. 前記第1センサアレイ及び前記第2センサアレイに含まれているセンサの有効領域にアラインマークが表示されることを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。
  5. 一方向に移動してセンシングするセンサと、
    前記センサと離間して配置された光源と、
    前記センサと光源との間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、
    前記センシングデータは、前記サンプルの一側から他側までに対してセンシングされる、大面積試料分析装置。
  6. 前記センサは第1方向に移動し、
    前記光源は、光軸が前記第1方向と垂直な第2方向となるように配置されることを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。
  7. 前記光源は、
    前記センサと対向するように配置され、前記センサと同一の方向と同一の速度で移動することを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。
  8. 前記センサは一側から他側まで複数回往復して移動し、前記光源は前記センサの1回往復時毎に互いに異なる波長の光を照射し、
    前記制御部は、前記光源の波長別の光照射による前記センサの波長別のセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得することを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。
  9. 前記センサは、第1間隔単位で移動して前記サンプルに対するデータをセンシングし、
    前記第1間隔は、前記センサの第1方向の幅と同一であることを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。
  10. 前記光源は、
    前記センサが第1間隔単位で移動する度に、複数の波長の光を照射し、
    前記制御部は、前記光源の波長別の光照射による前記センサの波長別のセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得することを特徴とする請求項9に記載の大面積試料分析装置。
  11. ダイレクトコンタクト方式の試料分析装置において、
    試料に互いに異なる波長の光を異時に照射する光源と、
    前記光源の波長別の光照射による前記試料に対するデータをセンシングするセンサ部であって、前記試料は、前記センサ部に接して位置するセンサ部と、
    前記光源の波長別の光照射による前記センサ部の波長別のセンシングデータを用いて、試料に含まれている構成要素に対するイメージデータを獲得する制御部と、
    を含む試料分析装置。
  12. 前記センサ部は複数のピクセルを含み、
    各ピクセルは、該当ピクセルとオーバーラップされる前記センサ部の上面に接する前記試料の一部領域を通過する光を受信し、受信したデータを用いて波長別のセンシングデータを生成することを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
  13. 前記制御部は、
    前記得られたイメージデータを合せて、前記試料に含まれている構成要素に対する最終のイメージを生成することを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
  14. 前記センサ部上に位置するカラーフィルタを更に含むことを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
  15. 前記制御部は、
    前記得られたイメージデータとデータベースに既に格納された媒質に対するデータをマッチングして前記試料に含まれている構成要素を分析することを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
  16. 前記制御部は、
    ユーザから入力を受けた前記イメージデータに関する情報を前記データベースに格納することを特徴とする請求項15に記載の試料分析装置。
  17. 前記光源から照射される光を試料又はセンサ部にフォーカシングするフォーカシングレンズを更に含むことを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
  18. 前記フォーカシングレンズはフォーカシングポイントを試料の一側から他側に移動させ、
    前記センサ部は、
    前記フォーカシングポイント周辺のデータをセンシングし、フォーカシングポイントの移動によって連続的にデータをセンシングすることを特徴とする請求項17に記載の試料分析装置。
  19. 前記フォーカシングレンズはフォーカシングポイントのX、Y、Z座標を移動させ、
    前記制御部は、前記フォーカシングポイントの移動によって、前記センサでセンシングされるデータを合成して試料の2次元又は3次元イメージを生成することを特徴とする請求項17に記載の試料分析装置。
  20. 前記光源は、水平方向に移動可能であることを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
  21. ダイレクトコンタクト方式の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法において、
    前記試料分析装置のセンサ部をキャリブレーションする段階と、
    前記試料の標準特性イメージに対するデータベースを構築する段階と、
    前記試料分析装置を用いて試料を測定する段階と、
    測定されたイメージデータを用いて試料を分析して試料に対して判定を行う段階と、
    を含む試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。
  22. 前記試料分析装置のセンサ部をキャリブレーションする段階は、
    標準平行光源で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階と、
    適用光源で構造物が前記試料分析装置に含まれている状態で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階とを含み、
    前記構造物は試料ホルダ、カラーフィルタ及びカートリッジのうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項21に記載の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。
  23. 前記標準平行光源で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階は、
    予め定められた波長の前記標準平行光源の光源の強度を予め定められた飽和領域まで増加させながら、それぞれN回ずつ(ここで、Nは自然数)測定してデータを収集する段階と、
    前記センサ部の各ピクセルのN回の測定値の統計的なボックスプロットの代表値を基準として各ピクセルの光源反応性の空間的な均一度及び線形度を算出する段階と、
    前記標準平行光源に該当する各ピクセルPの第1キャリブレーションルックアップテーブルを作成して光源反応性の空間的な均一度と線形性をキャリブレーションする段階と、
    を含むことを特徴とする請求項22に記載の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。
  24. 前記試料分析装置を用いて試料を測定する段階は、
    前記標準特性イメージに対するデータベースで測定しようとする前記試料を測定するための波長と光源の強度を導出する段階と、
    前記導出された波長と光源の強度下で測定して得られたそれぞれのイメージデータを得る段階と、
    を含むことを特徴とする請求項21に記載の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。
JP2021517174A 2018-05-31 2019-05-31 映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法 Active JP7129730B2 (ja)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2018-0062489 2018-05-31
KR10-2018-0062490 2018-05-31
KR20180062489 2018-05-31
KR1020180062490A KR102112686B1 (ko) 2018-05-31 2018-05-31 영상 기반의 대면적 시료 분석 장치
KR1020180152966A KR102139477B1 (ko) 2018-05-31 2018-11-30 매질 특성 차이를 이용한 영상 기반의 시료 분석 장치를 이용하여 시료를 측정하고 분석하는 방법
KR10-2018-0152966 2018-11-30
PCT/KR2019/006621 WO2019231298A1 (ko) 2018-05-31 2019-05-31 영상 기반의 대면적 시료 분석 장치, 매질 특성 차이를 이용한 영상 기반의 시료 분석 장치 및 이를 이용하여 시료를 측정하고 분석하는 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021525896A true JP2021525896A (ja) 2021-09-27
JP7129730B2 JP7129730B2 (ja) 2022-09-02

Family

ID=75687439

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021517174A Active JP7129730B2 (ja) 2018-05-31 2019-05-31 映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11624899B2 (ja)
JP (1) JP7129730B2 (ja)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63302349A (ja) * 1987-06-02 1988-12-09 Komatsu Ltd パタ−ン検査装置
JPH0222973A (ja) * 1988-07-12 1990-01-25 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像装置
JPH1164215A (ja) * 1997-05-28 1999-03-05 Micronas Intermetall Gmbh 測定装置
JP2013542468A (ja) * 2010-10-26 2013-11-21 カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー 走査型投影レンズレス顕微鏡システム
US20160161418A1 (en) * 2014-12-04 2016-06-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus and control method thereof
JP2017021020A (ja) * 2015-07-10 2017-01-26 ヤマト科学株式会社 組織試料分析装置及び組織試料分析システム
WO2017173549A1 (en) * 2016-04-08 2017-10-12 Alentic Microscience Inc. Sample processing for microscopy
JP2018033430A (ja) * 2016-09-02 2018-03-08 国立大学法人東京農工大学 微生物の判別方法
JP2018082355A (ja) * 2016-11-17 2018-05-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 画像生成システム及び画像生成方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5122737B2 (ja) 2005-10-03 2013-01-16 株式会社名南製作所 木材の検査方法及び装置及びプログラム
KR100988691B1 (ko) 2007-05-23 2010-10-18 레자 텍쿠 가부시키가이샤 광학 측정장치
JP5508352B2 (ja) 2011-07-05 2014-05-28 富士フイルム株式会社 光学特性測定方法及び装置
WO2014171256A1 (ja) * 2013-04-16 2014-10-23 国立大学法人京都工芸繊維大学 計測装置
US10168259B2 (en) * 2014-06-12 2019-01-01 University Of Notre Dame Microfluidic devices, systems, and methods for imaging tissue samples
US10120180B2 (en) * 2014-09-28 2018-11-06 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for stretched light field microscope
KR101831335B1 (ko) 2016-04-19 2018-02-22 한국생명공학연구원 감염성 미생물을 검지하는 광학 바이오센서
US10845449B2 (en) * 2016-10-20 2020-11-24 Quantum Diamond Technologies Inc. Methods and apparatus for magnetic particle analysis using diamond magnetic imaging
JP7109130B2 (ja) * 2018-04-04 2022-07-29 株式会社エビデント 顕微鏡

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63302349A (ja) * 1987-06-02 1988-12-09 Komatsu Ltd パタ−ン検査装置
JPH0222973A (ja) * 1988-07-12 1990-01-25 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像装置
JPH1164215A (ja) * 1997-05-28 1999-03-05 Micronas Intermetall Gmbh 測定装置
JP2013542468A (ja) * 2010-10-26 2013-11-21 カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー 走査型投影レンズレス顕微鏡システム
US20160161418A1 (en) * 2014-12-04 2016-06-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus and control method thereof
JP2017021020A (ja) * 2015-07-10 2017-01-26 ヤマト科学株式会社 組織試料分析装置及び組織試料分析システム
WO2017173549A1 (en) * 2016-04-08 2017-10-12 Alentic Microscience Inc. Sample processing for microscopy
JP2018033430A (ja) * 2016-09-02 2018-03-08 国立大学法人東京農工大学 微生物の判別方法
JP2018082355A (ja) * 2016-11-17 2018-05-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 画像生成システム及び画像生成方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP7129730B2 (ja) 2022-09-02
US20210132351A1 (en) 2021-05-06
US11624899B2 (en) 2023-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7153418B2 (ja) オーバビューコントラスト画像を生成及び解析する方法
US10229310B2 (en) High throughput partial wave spectroscopic microscopy and associated systems and methods
CN106895780B (zh) 用于测量对象的位置的光学装置
US7907765B2 (en) Focal plane tracking for optical microtomography
US10976532B2 (en) Structured illumination microscopy system using digital micromirror device and time-complex structured illumination, and operation method therefor
US7787132B2 (en) Method and arrangement for a rapid and robust chromatic confocal 3D measurement technique
US20210215923A1 (en) Microscope system
TWI636231B (zh) 物體表面或內部光反射介面三維形貌偵測光學系統與方法
JP2010507828A (ja) 物体を結像させるためのシステム
US10724892B2 (en) Measurement system, measurement method, and measurement program
CN107110764A (zh) 利用位置控制对透明样本进行分析的系统及相关联的方法
CN111156926A (zh) 一种四维高光谱探测系统
JP7312873B2 (ja) 対象物の特性を判断するための方法及び装置
JP2022165355A (ja) 撮像装置
WO2020054466A1 (ja) 微粒子観察装置及び微粒子観察方法
CN109932162B (zh) 一种基于白光配准的腔模参数检测装置及检测方法
CN111220088B (zh) 测量系统和方法
CN104931481A (zh) 激光双轴差动共焦诱导击穿-拉曼光谱成像探测方法与装置
JP2021525896A (ja) 映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法
CN115775224A (zh) 评估光场显微镜测量数据的方法和用于光场显微术的设备
KR102139477B1 (ko) 매질 특성 차이를 이용한 영상 기반의 시료 분석 장치를 이용하여 시료를 측정하고 분석하는 방법
US11248962B2 (en) Foreign matter analysis Method, storage medium storing foreign matter analysis program, and foreign matter analysis apparatus
US20230215194A1 (en) Device for analyzing large-area sample based on image, device for analyzing sample based on image by using difference in medium characteristic, and method for measuring and analyzing sample using the same
CN105807580A (zh) 一种工件六自由度位置和姿态测量传感器装置
KR101826226B1 (ko) 자동 보정 집광렌즈를 이용한 자동으로 초점을 조절하는 방법 및 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210125

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210125

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220318

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220802

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220816

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7129730

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150