JP2021525896A - 映像基盤の大面積試料分析装置、媒質の特性差を用いた映像基盤の試料分析装置及びこれを用いて試料を測定して分析する方法 - Google Patents
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- 第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含む第1センサアレイと、
前記第1方向に沿って離間して配置された複数のセンサを含み、前記第1センサアレイから前記第2方向に沿って離間した第2センサアレイと、
前記第1センサアレイと前記第2センサアレイとの間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、
前記第1センサアレイのセンサのうちの何れか1つの有効領域が前記第2センサアレイのセンサのうちの少なくとも1つの有効領域と前記第2方向でオーバーラップされる、大面積試料分析装置。 - 前記第1センサアレイ及び前記第2センサアレイで複数のセンサは、第1間隔に離間しており、
前記第1間隔は、前記センサの第1方向の幅よりも狭いことを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。 - 前記第1センサアレイに含まれている複数の光源の間と前記第2センサアレイに含まれている複数の光源の間に配置される光源を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。
- 前記第1センサアレイ及び前記第2センサアレイに含まれているセンサの有効領域にアラインマークが表示されることを特徴とする請求項1に記載の大面積試料分析装置。
- 一方向に移動してセンシングするセンサと、
前記センサと離間して配置された光源と、
前記センサと光源との間に配置されるサンプルに対する前記センサのセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得する制御部とを含み、
前記センシングデータは、前記サンプルの一側から他側までに対してセンシングされる、大面積試料分析装置。 - 前記センサは第1方向に移動し、
前記光源は、光軸が前記第1方向と垂直な第2方向となるように配置されることを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。 - 前記光源は、
前記センサと対向するように配置され、前記センサと同一の方向と同一の速度で移動することを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。 - 前記センサは一側から他側まで複数回往復して移動し、前記光源は前記センサの1回往復時毎に互いに異なる波長の光を照射し、
前記制御部は、前記光源の波長別の光照射による前記センサの波長別のセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得することを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。 - 前記センサは、第1間隔単位で移動して前記サンプルに対するデータをセンシングし、
前記第1間隔は、前記センサの第1方向の幅と同一であることを特徴とする請求項5に記載の大面積試料分析装置。 - 前記光源は、
前記センサが第1間隔単位で移動する度に、複数の波長の光を照射し、
前記制御部は、前記光源の波長別の光照射による前記センサの波長別のセンシングデータを用いて、サンプルに含まれている細胞に対するイメージデータを獲得することを特徴とする請求項9に記載の大面積試料分析装置。 - ダイレクトコンタクト方式の試料分析装置において、
試料に互いに異なる波長の光を異時に照射する光源と、
前記光源の波長別の光照射による前記試料に対するデータをセンシングするセンサ部であって、前記試料は、前記センサ部に接して位置するセンサ部と、
前記光源の波長別の光照射による前記センサ部の波長別のセンシングデータを用いて、試料に含まれている構成要素に対するイメージデータを獲得する制御部と、
を含む試料分析装置。 - 前記センサ部は複数のピクセルを含み、
各ピクセルは、該当ピクセルとオーバーラップされる前記センサ部の上面に接する前記試料の一部領域を通過する光を受信し、受信したデータを用いて波長別のセンシングデータを生成することを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。 - 前記制御部は、
前記得られたイメージデータを合せて、前記試料に含まれている構成要素に対する最終のイメージを生成することを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。 - 前記センサ部上に位置するカラーフィルタを更に含むことを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
- 前記制御部は、
前記得られたイメージデータとデータベースに既に格納された媒質に対するデータをマッチングして前記試料に含まれている構成要素を分析することを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。 - 前記制御部は、
ユーザから入力を受けた前記イメージデータに関する情報を前記データベースに格納することを特徴とする請求項15に記載の試料分析装置。 - 前記光源から照射される光を試料又はセンサ部にフォーカシングするフォーカシングレンズを更に含むことを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
- 前記フォーカシングレンズはフォーカシングポイントを試料の一側から他側に移動させ、
前記センサ部は、
前記フォーカシングポイント周辺のデータをセンシングし、フォーカシングポイントの移動によって連続的にデータをセンシングすることを特徴とする請求項17に記載の試料分析装置。 - 前記フォーカシングレンズはフォーカシングポイントのX、Y、Z座標を移動させ、
前記制御部は、前記フォーカシングポイントの移動によって、前記センサでセンシングされるデータを合成して試料の2次元又は3次元イメージを生成することを特徴とする請求項17に記載の試料分析装置。 - 前記光源は、水平方向に移動可能であることを特徴とする請求項11に記載の試料分析装置。
- ダイレクトコンタクト方式の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法において、
前記試料分析装置のセンサ部をキャリブレーションする段階と、
前記試料の標準特性イメージに対するデータベースを構築する段階と、
前記試料分析装置を用いて試料を測定する段階と、
測定されたイメージデータを用いて試料を分析して試料に対して判定を行う段階と、
を含む試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。 - 前記試料分析装置のセンサ部をキャリブレーションする段階は、
標準平行光源で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階と、
適用光源で構造物が前記試料分析装置に含まれている状態で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階とを含み、
前記構造物は試料ホルダ、カラーフィルタ及びカートリッジのうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項21に記載の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。 - 前記標準平行光源で測定結果に基づいて前記センサ部をキャリブレーションする段階は、
予め定められた波長の前記標準平行光源の光源の強度を予め定められた飽和領域まで増加させながら、それぞれN回ずつ(ここで、Nは自然数)測定してデータを収集する段階と、
前記センサ部の各ピクセルのN回の測定値の統計的なボックスプロットの代表値を基準として各ピクセルの光源反応性の空間的な均一度及び線形度を算出する段階と、
前記標準平行光源に該当する各ピクセルPの第1キャリブレーションルックアップテーブルを作成して光源反応性の空間的な均一度と線形性をキャリブレーションする段階と、
を含むことを特徴とする請求項22に記載の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。 - 前記試料分析装置を用いて試料を測定する段階は、
前記標準特性イメージに対するデータベースで測定しようとする前記試料を測定するための波長と光源の強度を導出する段階と、
前記導出された波長と光源の強度下で測定して得られたそれぞれのイメージデータを得る段階と、
を含むことを特徴とする請求項21に記載の試料分析装置を用いた試料測定及び分析方法。
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