JP7129356B2 - 測定方法 - Google Patents
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Description
図1は、第1実施形態による寸法測定装置の構成例を示す図である。寸法測定装置(以下、単に、測定装置ともいう)1は、例えば、半導体基板W上に形成された周期構造のライン幅、スペース幅、膜厚等を測定するCD(Critical Dimension)測定装置でよい。
LS=β1・X1+β2・X2+β3・X3+・・・+b (式1)
ここで、X1、X2、X3・・・は、回折スペクトル光の各周波数帯における光強度を示す。例えば、X1は、波長約300nmの周波数帯の光強度を示し、X2は、波長約1μmの周波数帯の光強度を示し、X3は、波長約15μmの周波数帯の光強度を示す。β1、β2、β3・・・は、X1、X2、X3・・・の係数であり、予め設定された数値である。
表示部90は、モデル生成部80および/または演算部60によって導出された各種の結果を表示してユーザに提示することができる。
I1=(3.1+8.1+7.4+3.9/√2+5.4/√2)/(3+√2)=5.7
となる。
I2=(6.3+3.9+3.9/√2+3.6/√2)/(2+√2)=4.5
となる。
I3=(3.9+3.8+3.9/√2)/(2+1/√2)=3.9
となる。尚、補間対象箇所I3と同様に、隣接データ数が3の補間対象箇所は、I3の他に3つある。しかし、補間対象箇所I3が左列の最上段に位置するので、隣接データ数が3の補間対象箇所のうちI3が最先に補間処理される。
I4=(3.1+3.1+3.9/√2)/(2+1/√2)=5.7
となる。
I5=(3.8+5.5+3.9/√2+3.9/√2)/(2+√2)=4.5
となる。このように、隣接する補間対象箇所が既に補間されている場合、モデル生成部80は、その補間後のデータ(補間教師データ)を用いて補間処理を続行する。
I6=(3.6+2.9+3.6/√2)/(2+1/√2)=3.3
となる。
I7=(5.5+4.3/√2+6.3/√2)/(1+√2)=5.4
となる。
I7=(5.4+6.3+5.5/√2+4.5/√2)/(2+√2)=5.5
となる。
I9=(3.6+4.5+3.9/√2+3.3/√2)/(2+√2)=3.9
となる。
補間学習データマップおよび補間教師データマップは、式1を導出するために全体として用いてもよい。しかし、第2実施形態では、教師データマップのうち隣接データ数が閾値以下の補間教師データおよびそれに対応する補間学習データは式1の導出に用いない。即ち、サンプル構造から直接得られた回折信号および実寸法に対して関連性の小さい補間学習データおよび補間教師データは式1の係数β1、β2、β3・・・の算出に用いない。尚、閾値は、予め設定されモデル生成部80内のメモリに格納しておけばよい。
Claims (8)
- 基板上に設けられた複数の参照構造のそれぞれの回折信号を取得し、
前記回折信号を類似度に基づいて分類して第1データマップを生成し、
前記第1データマップにおいて前記回折信号を用いて該回折信号間のデータを補間して第1補間データマップを生成し、
前記複数の参照構造のそれぞれの実寸法を測定し、
前記実寸法を前記第1データマップの前記回折信号に対応するように配列して第2データマップを生成し、
前記第2データマップにおいて前記実寸法を用いて該実寸法間のデータを補間して第2補間データマップを生成し、
前記第1補間データマップと前記第2補間データマップとを用いて、前記回折信号から前記実寸法を求める演算式を導出することを具備する、測定方法。 - 前記回折信号の類似度は、前記回折信号の光強度に基づいて決定する、請求項1に記載の測定方法。
- 複数の前記回折信号間の光強度の平均二乗誤差が小さいほど、該複数の回折信号の類似度は高いと判断する、請求項1または請求項2に記載の測定方法。
- 前記第1データマップにおいて欠けている第1補間対象箇所は、前記第1データマップ内の前記回折信号を用いて自己組織化マップ作成により演算された第1補間データで補間される、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の測定方法。
- 前記第2データマップにおいて欠けている第2補間対象箇所は、該第2補間対象箇所の周囲にある前記実寸法を演算して得られた第2補間データで補間される、請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の測定方法。
- 前記第2補間データは、前記第2データマップ上における前記第2補間対象箇所から前記実寸法までの距離に応じた重み付けを該実寸法に掛けて算出される、請求項5に記載の測定方法。
- 前記演算式は、測定対象となる対象構造から得られる回折信号の各周波数帯における信号強度から該対象構造の実寸法を求める演算式であり、
前記演算式は、前記第1および第2補間データマップを用いて前記回折信号の各周波数帯における信号強度に掛ける係数を算出することによって導出される、請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の測定方法。 - 前記第2データマップ上において前記第2補間データに隣接する前記実寸法の個数が所定値より少ない場合、該第2補間データを前記演算式の導出に用いない、請求項5から請求項7のいずれか一項に記載の測定方法。
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