JP7125880B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents

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本発明は、検査装置および検査方法に関する。
一般的に射出成形を用いて成形される樹脂成形品(以下、射出成形品と称する)は、温度に応じて溶融状態となった樹脂を所定の金型に流し込み、その温度を制御して当該樹脂を固化状態とすることで成形されている。このような射出成形品の良否を判定するために、射出成形品に試験光を照射し、当該射出成形品からの反射試験光の強度パターンとあらかじめ設定された設定値パターンとを比較して、射出成形品の良否を判別する装置が考えられている(例えば、特許文献1参照。)。
特開平3-105238号公報
特許文献1に記載された技術においては、反射試験光パターンと比較する基準(設定値パターン)はあらかじめ設定された1つの値である。一方、射出成形品は良品であっても、その製造ロット等に応じて色や明るさが射出成形品ごとに厳密に異なることは少なくない。そのため、射出成形品の一部分がその射出成形品の他の部分よりも品質や強度が劣化しているか否かを判別しようとした場合、特許文献1に記載された技術を用いても、正確な良否判定ができないという問題点がある。
本発明の目的は、射出成形品の正確な良否判定を行うことができる検査装置および検査方法を提供することにある。
本発明は、射出成形品の第1の位置と第2の位置とに光を照射する光源と、
前記射出成形品の前記第1の位置に照射された光の反射光の受光量と、前記第2の位置に照射された光の反射光の受光量とを検知するセンサと、
前記射出成形品の前記第1の位置に照射された光の反射光の受光量に対する、前記第2の位置に照射された光の反射光の受光量の相対値を算出し、該相対値を出力する出力部とを有する検査装置である。
前記光源は、RGB光源であることが好ましい。
前記相対値と、前記射出成形品を製造するための金型を洗浄する洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶するデーターベースと、
前記出力部が出力した相対値に基づいて前記洗浄時期を前記データーベースから読み出し、該読み出した洗浄時期を通知する通知部とを有することが好ましい。
前記第2の位置を測定する位置測定部を有し、
前記データーベースは、前記射出成形品上の位置を示す位置情報と、前記相対値と、前記洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶し、
前記通知部は、前記位置測定部が測定した位置情報と前記出力部が出力した相対値とに基づいて、前記洗浄時期を前記データーベースから読み出し、該読み出した洗浄時期を通知することが好ましい。
また、本発明は、射出成形品の第1の位置に光を照射することと、
前記射出成形品の前記第1の位置に照射されて反射した光の受光量を検知することと、
前記射出成形品の第2の位置に光を照射することと、
前記射出成形品の前記第2の位置に照射されて反射した光の受光量を検知することと、
前記射出成形品の前記第1の位置に照射された光の反射光の受光量に対する、前記第2の位置に照射された光の反射光の受光量の相対値を算出することと、
前記相対値を出力することとを行う検査方法である。
本発明においては、射出成形品の正確な良否判定を行うことができる。
本発明の検査装置の第1の実施の形態を示す図である。 カラーセンサー数値と射出成形品の引張り強度との関係の一例を示すグラフである。 図1に示した検査装置を用いた金型の検査方法の一例を説明するためのフローチャートである。 本発明の検査装置の第2の実施の形態を示す図である。 図4に示したデーターベースが記憶している対応付けの一例を示す図である。 図4に示した通知部が行う通知態様の一例を示す図である。 図4に示した検査装置を用いた金型の検査方法の一例を説明するためのフローチャートである。 比較例と実施例とについて、洗浄後に測定した反射光の値とその枚数との関係を示すグラフである。 比較例と実施例とについて、1つの金型を用いた射出成形品の成形回数と測定した反射光の値との関係を示すグラフである。 本発明の検査装置の第3の実施の形態を示す図である。 図10に示した位置測定部を用いた位置測定方法の一例を説明するための図である。 図10に示したデーターベースが記憶している対応付けの一例を示す図である。 図10に示した検査装置を用いた金型の検査方法の一例を説明するためのフローチャートである。
以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明の検査装置の第1の実施の形態を示す図である。本形態における検査装置100は図1に示すように、光源110と、センサ120と、出力部130とを有する。
光源110は、検査対象となる射出成形品に光を照射する。光源110は、可視光源が好ましく、RGB光源であっても良い。光源110は、射出成形品上を走査しながら、射出成形品の複数の位置に対して光を照射することができる。
センサ120は、光源110が射出成形品に対して照射した光が射出成形品にて反射した光の受光量を検知する。光源110がRGB光源である場合、センサ120は、RGBセンサであり、R(赤)、G(緑)およびB(青)それぞれの反射光を検知し、それぞれの受光量の値を出力するものであっても良いし、それら3色のうち、所望の2色の混合色、あるいは3色が混合されたもの(例えば、白色光)を検知し、その受光量の値を出力するものであっても良い。また、センサ120は、例えば、R(赤)の色の受光量だけ、またはG(緑)の色の受光量だけ、またはB(青)の色の受光量だけを検知し、その受光量を示す値を出力するものであっても良い。ここで、センサ120は、受光量として、光の明るさを用いるものであっても良いし、RGBのそれぞれの色の輝度を用いるものであっても良く、使用するセンサの仕様に基づいた出力値であって、互いに比較できる値を用いるものであれば良い。このように、センサ120はRGBセンサである場合、受光量として、反射光の明るさやそれぞれの色の輝度を検知して、検知の結果を所定の数値として出力する。
出力部130は、検査の対象となる射出成形品の第1の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値に対する、その射出成形品の第2の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値の相対値を算出する。相対値は、射出成形品の第1の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値に対する、その射出成形品の第2の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値の比であっても良い。また、相対値は、射出成形品の第1の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値と、その射出成形品の第2の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値との差分を示す値であっても良い。相対値が上述した「比」を示すものである場合、出力部130が出力した相対値が「1」から離れた値であるほど、射出成形品の第2の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値が、射出成形品の第1の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値から離れた値となる。また、相対値が上述した「差分」を示すものである場合、出力部130が出力した相対値が大きいほど、射出成形品の第2の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値が、射出成形品の第1の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値から離れた値となる。相対値は、これらに限らず、射出成形品の第2の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値が、射出成形品の第1の位置に対して光源110から照射され反射してセンサ120が検知した受光量の値にどれだけ近いかが数値化されたものであれば良い。出力部130は、算出した相対値を出力する。出力部130が行う出力方法は、音声を用いるものであっても良いし、表示を行うものであっても良い。
射出成形品の第1の位置とは、後述する「ウェルド部」以外の位置であって、射出成形品の地の樹脂の色となっている位置である。例えば、第1の位置は、射出成形品を成形するために金型に樹脂を流し込んだ際、ある一定の方向だけに樹脂が流れやすい位置であることが好ましく、少なくとも、複数の方向から流れてくる樹脂が合流することで樹脂から発生するガスが溜まりやすいような位置は避けることが好ましい。また、射出成形品の第2の位置とは、金型の洗浄の要否を判断する対象の位置である。例えば、第2の位置は、後述する「ウェルド部」であって、複数の方向から流れてくる樹脂が合流することで樹脂から発生するガスが溜まりやすいような位置である。このような位置では、成形中に樹脂から発生したガスが合流位置付近に溜まり、ガスヤニ(汚れ)として金型に付着しやすい。そのため、射出成形品のガスヤニに接する部分に汚れが生じる。
以下に、ガスヤニの発生メカニズムについてさらに詳細に説明する。変性PPE(ポリフェニレンエーテル)を原料として射出成形する製品において、樹脂の成形においてはしばしば「ガスヤニ」が問題となる。金型内部で樹脂が高温になり成形される際に樹脂からガスが発生すると、発生したガスは金型に設けられているガス抜き機構から金型外部へ排出される。この金型のガス抜き機構は、その直径が100分の数mm程度の小径のガス排出孔である。したがって、ガスによる汚れがガス排出孔の側壁に徐々に付着し(ガスヤニ)、このガスヤニによって金型のガス排出孔が閉塞してしまう。
一方、樹脂はゲートと呼ばれる注入口から金型内部に注入されるが、ゲートが複数設けられている場合には必ず樹脂の合流点(ウェルド)が存在する。樹脂が金型に充填されていくと、ウェルドにガスが集まるため、ガスはウェルド付近に最も溜まりやすい。ウェルド付近に溜まったガスは、上述したようにガス抜け機構から排出されるが、ガス抜け機構がやがて閉塞し、ウェルド付近にガスが滞留しやすくなる。ガスが滞留すると、金型のウェルド付近に汚れとしてガスヤニが付着する。金型が汚れてくると、製品(射出成形品)にも汚れが付着してくる。射出成形品の成形が進み、ガスが多く滞留するほど、その位置での射出形成品への汚れの付着が酷くなる。
また、ガスが滞留したウェルド付近における樹脂の混練状態も悪くなるため、ウェルド付近では射出成形品の強度も弱くなってしまう。このように、ガスヤニが射出成形品に付着することは、その外観を損ねるだけでなく、強度低下の一因ともなる。
なお、ガスの発生量はUL94規格における分類によって異なる。UL94規格は、装置や器具部品のプラスチック材料の燃焼性試験で、材料の燃えにくさの度合いを表す規格であって、以下に示すような複数のグレードを有する。一般的に、ガス発生量の大小関係は以下のようになる。
V0>V1>V2>HB>非難燃グレード
V0、V1、V2およびHBは、材料の燃えにくさの度合いを示すグレードである。耐熱温度が低いものはガス発生量が少ない傾向がある。
出力部130は、第1の位置においてセンサ120が検知した値に対する、第2の位置においてセンサ120が検知した受光量の値の相対値を算出するが、例えば、出力部130は、第1の位置で検知した受光量の値を「ゼロ(0)」に補正し、補正後に第2の位置で検知した受光量の値を相対値とするものであっても良い。また、出力部130は、ある閾値をあらかじめ設定しておき、算出した相対値がその閾値以上であるか否かを示す情報を出力するものであっても良い。この出力により、金型の洗浄のタイミングや洗浄位置を把握することができる。この洗浄とは、金型の汚れをシクロヘキサン等の溶剤を用いて直接拭き取りするものであっても良い。
図2は、カラーセンサー数値と射出成形品の引張り強度との関係の一例を示すグラフである。図2に示したグラフにおいて、カラーセンサー数値は、第1の位置における反射光をセンサ120が検知した受光量に対する、第2の位置における反射光をセンサ120が検知した受光量の相対値である。つまり、対象となる位置(第2の位置)の色が地(第1の位置の表面)の樹脂の色にどれだけ似ているかが数値化されたものがカラーセンサー数値となる。カラーセンサー数値は「0」~「999」の1000段階で表され、その値が「999」である場合、それらの一致度が最も高く、第2の位置の樹脂表面がきれいであることを示している。図2に示すように、カラーセンサー数値と射出成形品の引張り強度とには、比例関係の相関がある。これは、本願発明者が射出成形品の引張り試験を行い、それぞれの引張り強度に対して、試験対象となった箇所(第2の位置)で測定したカラーセンサーの数値との関連性を検証した結果、それらが互いに比例関係を有することを見出したものである。このように、第2の位置の汚れ具合が酷くなると、その部分の射出成形品の強度が低くなる。相対値は、上述したように、互いの比を用いた値であっても良いし、互いの差を用いた値であっても良い。例えば、相対値が互いの比を用いた値である場合、それらの比となる値0~1を1000倍した値を図2に示したようなカラーセンサー数値(相対値)としても良い。
以下に、図1に示した検査装置100を用いた金型の検査方法について説明する。図3は、図1に示した検査装置100を用いた金型の検査方法の一例を説明するためのフローチャートである。
まず、光源110が射出成形品の第1の位置に光を照射する(ステップS1)。光源110から射出成形品の第1の位置に照射され反射した光の受光量をセンサ120が検知する(ステップS2)。続いて、光源110が射出成形品の第2の位置に光を照射する(ステップS3)。光源110から射出成形品の第2の位置に照射され反射した光の受光量をセンサ120が検知する(ステップS4)。
すると、出力部130が、センサ120が検知した第1の位置での反射光の受光量の値に対する、第2の位置での反射光の受光量の値の相対値を算出する(ステップS5)。出力部130は、算出した相対値を出力する(ステップS6)。
このように、本形態においては、射出成形品の2つの位置に光を照射して、その反射光の受光量を互いに比較してその相対値を出力する。そのため、射出成形品の正確な良否判定を行うことができる。また、ウェルド部の強度の推測が可能となる。また、このような検査は、非破壊検査であることから、製造ラインにおいて即座に製品の強度低下を把握することができる。さらに、光源にRGB光源を用いることで、例えば、射出成形品の汚れの色が赤みのかかった色である場合、RGBセンサでR(赤)の色の度合いを測定すれば、その汚れのレベルを測定することができる。
(第2の実施の形態)
図4は、本発明の検査装置の第2の実施の形態を示す図である。本形態における検査装置101は図4に示すように、光源110と、センサ120と、出力部130と、データーベース141と、通知部151とを有する。
光源110、センサ120および出力部130のそれぞれは、第1の実施の形態における検査装置100に具備されたものと同じものである。
データーベース141は、出力部130が出力する相対値と、射出形成品を製造するための金型を洗浄する洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶する。これらの情報のデーターベース141への登録は、検査装置101の外部から行われる。例えば、検査装置101に設けられた入力手段(不図示)への利用者の入力操作や、検査装置101と接続された、情報を入力するための情報処理装置への情報の入力等によって行われる。
通知部151は、出力部130が出力した相対値に基づいて、洗浄時期をデーターベース141から読み出す。通知部151は、データーベース141から読み出した洗浄時期を通知する。
図5は、図4に示したデーターベース141が記憶している対応付けの一例を示す図である。図4に示したデーターベース141には図5に示すように、出力部130が出力する相対値と、洗浄時期とがあらかじめ対応付けて記憶されている。ここで、洗浄時期は、洗浄すべき時までの射出成形のshot数を示す。例えば、図5に示すように、相対値「0~960」と洗浄時期「即時」とが対応付けられている。従って、出力部130が出力した相対値が「0~960」の範囲に含まれる場合、金型の洗浄時期として「即時」を通知部151が通知する。相対値「961~970」と洗浄時期「要洗浄、数shot以内に洗浄」とが対応付けられている。従って、出力部130が出力した相対値が「961~970」の範囲に含まれる場合、金型の洗浄時期として「要洗浄、数shot以内に洗浄」を通知部151が通知する。相対値「971~980」と洗浄時期「あと50shotで洗浄」とが対応付けられている。従って、出力部130が出力した相対値が「971~980」の範囲に含まれる場合、金型の洗浄時期として「あと50shotで洗浄」を通知部151が通知する。相対値「981~990」と洗浄時期「あと100shotで洗浄」とが対応付けられている。従って、出力部130が出力した相対値が「981~990」の範囲に含まれる場合、金型の洗浄時期として「あと100shotで洗浄」を通知部151が通知する。相対値「991~999」と洗浄時期「洗浄不要」とが対応付けられている。従って、出力部130が出力した相対値が「991~999」の範囲に含まれる場合、金型の洗浄時期として「洗浄不要」を通知部151が通知する。
このデーターベース141の対応付けは、図2に示した、カラーセンサーの数値(出力部130が出力した相対値)と射出成形品の引張り強度との関係に基づいて設定することが好ましい。例えば、図2に示した関係を有する、検査対象の射出成形品のウェルド発生箇所に求められる強度が25N/mm2である場合、その強度のマージンを5N/mm2とり、引張り強度が30N/mm2のときのカラーセンサーの数値「960」を基準として対応付けを定める。
図4に示した通知部151が行う通知方法は、音声通知を用いるものであっても良いし、表示通知を行うものであっても良い。図6は、図4に示した通知部151が行う通知態様の一例を示す図である。図6には、出力部130が出力した相対値が「965」である場合を例に挙げる。出力部130が出力した相対値が「965」である場合、通知部151はデーターベース141にて、相対値「965」を検索キーとして、相対値「965」と対応付けられている洗浄時期「要洗浄、数shot以内に洗浄」を読み出す。そして、通知部151は、図6に示すように、金型の洗浄時期として「要洗浄、数shot以内に洗浄」とする表示通知を行う。これにより、利用者に洗浄時期を通知することができ、適当な時期に洗浄を行うことを促すことができる。
以下に、図4に示した検査装置101を用いた金型の検査方法について説明する。図7は、図4に示した検査装置101を用いた金型の検査方法の一例を説明するためのフローチャートである。
まず、光源110が射出成形品の第1の位置に光を照射する(ステップS11)。光源110から射出成形品の第1の位置に照射され反射した光の受光量をセンサ120が検知する(ステップS12)。続いて、光源110が射出成形品の第2の位置に光を照射する(ステップS13)。光源110から射出成形品の第2の位置に照射され反射した光の受光量をセンサ120が検知する(ステップS14)。
すると、出力部130が、センサ120が検知した第1の位置での反射光の受光量の値に対する、第2の位置での反射光の受光量の値の相対値を算出する(ステップS15)。
続いて、通知部151は、出力部130が算出した相対値に基づいて、洗浄時期をデーターベース141から読み出す(ステップS16)。具体的には、通知部151が、出力部130が算出した相対値を検索キーとして、それと対応付けられている洗浄時期をデーターベース141から読み出す。そして、通知部151は、読み出した洗浄時期を通知する(ステップS17)。
以下に、金型の即時洗浄のタイミングを目視によって判断した場合(比較例)と、上述した検査装置を用いて即時洗浄のタイミングを判断した場合(実施例)との結果の一例を示す。この例では、即時洗浄時期を判定するための基準となるカラーセンサーの数値を960とし、80個の射出成形品を成形した。
<比較例>
成形中、射出成形品の対象としている位置の汚れを目視で観察し、汚れてきたと判断した段階で金型の洗浄を実施した。洗浄後、洗浄した金型を用いて射出成形品を作成し、作成した射出成形品に光を照射し、その反射光を測定した。
<実施例>
数個の射出成形品を作成した後、随時対象となる位置の測定(光の照射、反射光の測定および比較)を行い、相対値(カラーセンサーの数値)が「965」以下になったときに金型の即時洗浄の通知を行い、その通知にしたがって洗浄を行った。洗浄後、洗浄した金型を用いて射出成形品を作成し、作成した射出成形品に光を照射し、その反射光を測定した。
実施例で用いた変性PPEを原料とした樹脂成形品は、EDI(電気式脱イオン水製造装置)の枠体である。EDIの枠体とは、EDIの脱塩室や濃縮室や電極室と呼ばれる部屋を構成する部材のことであり、それぞれの部屋の水の流路となり、場合によってはイオン交換樹脂が充填される。枠体で構成された装置内部には水を通水させる。したがって、枠体には水圧がかかるため、それに耐えうる強度が求められることになる。
また、実施例で使用したセンサ120の仕様を以下に示す。
・アンプユニットCZ-V21A(キーエンス)
・センサヘッドCZ-H35S(キーエンス)
・スイッチング電源100V/24V変換用MS2-H50(キーエンス)
図8は、比較例と実施例とについて、洗浄後に測定した反射光の値(図8中、カラーセンサー数値)とその個数との関係を示すグラフである。図8に示すように、比較例においては、カラーセンサー数値が様々であり、中には低い(小さな)値のものも存在する。つまり、金型の洗浄を行ってもその洗浄タイミングが遅いため金型の汚れが完全に落ちずに、その後、その金型を用いて成形された射出成形品に影響を与えてしまう。一方、実施例においては、カラーセンサー数値が970から980付近に集中しており、所望の値で安定した結果が得られた。つまり、金型の洗浄を行えば金型の汚れが落ち、その後、その金型を用いて成形された射出成形品においては反射光のレベルが下がることはない。
図9は、比較例と実施例とについて、1つの金型を用いた射出成形品の成形回数と、単位成形回数ごとに測定した反射光の受光量の値(図9中、カラーセンサー数値)との関係を示すグラフである。図9に示すように、比較例においては、金型の洗浄頻度は低いが、カラーセンサー数値が低く(小さく)なってからの洗浄となっている。このため、洗浄後にカラーセンサー数値を測定しても洗浄前の値には戻らないプロセスが繰り返され、洗浄してもカラーセンサー数値が所望の値に届きにくくなっている。つまり、金型の汚染が進行してから洗浄を行っているため、洗浄の効果が小さくなっている。一方、実施例においては、金型の洗浄頻度は高いが、適したタイミングで金型の洗浄を行っているため、洗浄後にカラーセンサー数値を測定すると洗浄前の値に戻っている。このように、金型にしつこい汚れが付着する前にこまめに洗浄することで、不良率が抑えられ、洗浄回数も必要最低限の回数で済む。
実施例では不良率0%であり、比較例では不良率は34%程度であった。目視ではわずかな汚れを見逃してしまうこと、また検査結果の正確性に欠けることが示唆される結果となった。
このように、本形態においては、射出成形品の2つの位置に光を照射して、その反射光の受光量を互いに比較してその相対値に基づいて金型の洗浄時期を通知する。そのため、金型の洗浄に適した時期を把握することができる。そして、ガスヤニの付着が始まった段階で金型の清掃を適宜実施することで製品の不良率を減少させることが可能である。
(第3の実施の形態)
図10は、本発明の検査装置の第3の実施の形態を示す図である。本形態における検査装置102は図10に示すように、光源110と、センサ120と、出力部130と、データーベース142と、通知部152と、位置測定部162とを有する。
光源110、センサ120および出力部130のそれぞれは、第1の実施の形態における検査装置100および第2の実施の形態における検査装置101に具備されたものと同じものである。
位置測定部162は、射出成形品におけるセンサ120が反射光の受光量を検知した位置を測定する。特に、位置測定部162は、射出成形品におけるセンサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置を測定する。位置測定部162は、その射出成形品全体に対するセンサ120が反射光を検知した相対位置を測定するものであっても良い。つまり、例えば、対象となる射出成形品のある点を原点(ゼロ点)としたXY座標軸を設定し、センサ120が反射光を検知した位置のそのXY軸上のX座標およびY座標を測定するものであっても良い。また、基準点に基づいた相対位置を検知できる機構を用いて、対象となる射出成形品の1点をその基準点に合わせ、射出成形品上のセンサ120が反射光の受光量を検知した相対位置を位置測定部162が測定するものであっても良い。この位置測定の仕組みについてはこれらに限定しない。
図11は、図10に示した位置測定部162を用いた位置測定方法の一例を説明するための図である。図11に示した例では、射出成形品300には、3つの開口部301~303が設けられている。射出成形品300の図11における横方向にX軸が、また縦方向にY軸が設定されている。また、Y軸上に座標Y1~Y4が設定されている。
データーベース142は、位置測定部162が測定する位置を示す位置情報と、出力部130が算出する相対値と、洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶する。これらの情報のデーターベース142への登録は、検査装置102の外部から行われる。例えば、検査装置102に設けられた入力手段(不図示)への利用者の入力操作や、検査装置102と接続された、情報を入力するための情報処理装置への情報の入力等によって行われる。
図12は、図10に示したデーターベース142が記憶している対応付けの一例を示す図である。図10に示したデーターベース142には図12に示すように、センサ120が反射光を検知した位置を示す位置情報と、出力部130が算出する相対値と、洗浄時期とがあらかじめ対応付けて記憶されている。例えば、図12に示すように、位置情報「Y1~Y2」と、値「951~」と、洗浄時期「要洗浄、数shot以内に洗浄」とが対応付けられている。これは、位置測定部162が測定した、センサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置のY座標がY1とY2との間であり、出力部130が算出した相対値が「951以上」である場合、金型の洗浄時期として「要洗浄、数shot以内に洗浄」を通知部152が通知することを意味する。また、位置情報「Y1~Y2」と、相対値「941~950」と、洗浄時期「あと50shotで洗浄」とが対応付けられている。これは、位置測定部162が測定した、センサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置のY座標がY1とY2との間であり、出力部130が算出した相対値が「941~950」である場合、金型の洗浄時期として「あと50shotで洗浄」を通知部152が通知することを意味する。また、位置情報「Y2~Y3」と、相対値「971~」と、洗浄時期「要洗浄、数shot以内に洗浄」とが対応付けられている。これは、位置測定部162が測定した、センサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置のY座標がY2とY3との間であり、出力部130が算出した相対値が「971以上」である場合、金型の洗浄時期として「要洗浄、数shot以内に洗浄」を通知部152が通知することを意味する。また、位置情報「Y2~Y3」と、相対値「961~970」と、洗浄時期「あと50shotで洗浄」とが対応付けられている。これは、位置測定部162が測定した、センサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置のY座標がY2とY3との間であり、出力部130が算出した相対値が「961~970」である場合、金型の洗浄時期として「あと50shotで洗浄」を通知部152が通知することを意味する。また、位置情報「Y3~Y4」と、相対値「951~」と、洗浄時期「要洗浄、数shot以内に洗浄」とが対応付けられている。これは、位置測定部162が測定した、センサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置のY座標がY3とY4との間であり、出力部130が算出した相対値が「951以上」である場合、金型の洗浄時期として「要洗浄、数shot以内に洗浄」を通知部152が通知することを意味する。また、位置情報「Y3~Y4」と、相対値「941~950」と、洗浄時期「あと50shotで洗浄」とが対応付けられている。これは、位置測定部162が測定した、センサ120が反射光の受光量を検知した第2の位置のY座標がY3とY4との間であり、出力部130が算出した相対値が「941~950」である場合、金型の洗浄時期として「あと50shotで洗浄」を通知部152が通知することを意味する。
図11および図12では、Y座標の範囲のみを用いたものについて説明した。本形態においては、これに限定せず、X座標の範囲を用いるものも含まれることは言うまでもない。なお、射出成形品においては、上述したウェルドが発生する部分が、その形状から予測できるが、製造工程によっては発生位置の多少のズレが生じることがあるため、ある程度の幅を持たせている。
通知部152は、位置情報と出力部130が算出した相対値とに基づいて、洗浄時期をデーターベース142から読み出す。通知部152は、読み出した洗浄時期を通知する。通知部152における通知方法は、第2の実施の形態で説明した通知部151における通知方法と同じものでもよい。
以下に、図10に示した検査装置102を用いた金型の検査方法について説明する。図13は、図10に示した検査装置102を用いた金型の検査方法の一例を説明するためのフローチャートである。
まず、光源110が射出成形品の第1の位置に光を照射する(ステップS21)。光源110から射出成形品の第1の位置に照射され反射した光の受光量をセンサ120が検知する(ステップS22)。続いて、光源110が射出成形品の第2の位置に光を照射する(ステップS23)。光源110から射出成形品の第2の位置に照射され反射した光の受光量をセンサ120が検知する(ステップS24)。
すると、出力部130が、センサ120が検知した第1の位置での反射光の受光量の値に対する、第2の位置での反射光の受光量の値の相対値を算出する(ステップS25)。
また、位置測定部162が、射出成形品におけるセンサ120が反射した光の受光量を検知した第2の位置を測定する(ステップS26)。
続いて、通知部152は、位置測定部162が測定した位置と出力部130が算出した相対値とに基づいて、洗浄時期をデーターベース142から読み出す(ステップS26)。具体的には、通知部152が、位置測定部162が測定した位置と出力部130が算出した相対値とを検索キーとして、それと対応付けられている洗浄時期をデーターベース142から読み出す。そして、通知部152は、読み出した洗浄時期を通知する(ステップS27)。
このように、本形態においては、射出成形品における反射光を検知した位置に応じた洗浄時期を通知する。つまり、本形態においては、射出成形品における反射光を検知した位置に応じて、適した洗浄時期を通知する。例えば、射出成形品の外周部分(図11に示したY1とY2との間、Y3とY4との間等)については、ある程度の強度が必要であるため、早期の洗浄時期を通知する。一方、射出成形品の内側部分(図11に示したY2とY3との間等)については、外周部分と同程度の強度は必要ないため、外周部分と比べて早期の洗浄の必要性はないといった通知を行う。そのため、位置に応じた金型の洗浄に適した時期を把握することができる。
以上、各構成要素に各機能(処理)それぞれを分担させて説明したが、この割り当ては上述したものに限定しない。また、構成要素の構成についても、上述した形態はあくまでも例であって、これに限定しない。また、各実施の形態を組み合わせたものであっても良い。
100,101,102 検査装置
110 光源
120 センサ
130 出力部
141,142 データーベース
151,152 通知部
162 位置測定部
300 射出成形品
301,302,303 開口部

Claims (4)

  1. 射出成形品の第1の位置と第2の位置とに光を照射する光源と、
    前記射出成形品の前記第1の位置に照射された光の反射光の受光量と、前記第2の位置に照射された光の反射光の受光量とを検知するセンサと、
    前記射出成形品の前記第1の位置に照射された光の反射光の受光量に対する、前記第2の位置に照射された光の反射光の受光量の相対値を算出し、該相対値を出力する出力部と
    前記相対値と、前記射出成形品を製造するための金型を洗浄する洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶するデーターベースと、
    前記出力部が出力した相対値に基づいて前記洗浄時期を前記データーベースから読み出し、該読み出した洗浄時期を通知する通知部とを有する検査装置。
  2. 請求項1に記載の検査装置において、
    前記光源は、RGB光源である検査装置。
  3. 請求項に記載の検査装置において、
    前記第2の位置を測定する位置測定部を有し、
    前記データーベースは、前記射出成形品上の位置を示す位置情報と、前記相対値と、前記洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶し、
    前記通知部は、前記位置測定部が測定した位置情報と前記出力部が出力した相対値とに基づいて、前記洗浄時期を前記データーベースから読み出し、該読み出した洗浄時期を通知する検査装置。
  4. 射出成形品の第1の位置に光を照射することと、
    前記射出成形品の前記第1の位置に照射されて反射した光の受光量を検知することと、
    前記射出成形品の第2の位置に光を照射することと、
    前記射出成形品の前記第2の位置に照射されて反射した光の受光量を検知することと、
    前記射出成形品の前記第1の位置に照射された光の反射光の受光量に対する、前記第2の位置に照射された光の反射光の受光量の相対値を算出することと、
    前記相対値を出力することと
    前記出力した相対値に基づいて、前記射出成形品を製造するための金型を洗浄する洗浄時期を、前記相対値と前記洗浄時期とをあらかじめ対応付けて記憶するデーターベースから読み出し、該読み出した洗浄時期を通知することとを行う検査方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7471970B2 (ja) 2020-09-14 2024-04-22 株式会社東芝 金型合わせ面の汚れ検知装置および金型合わせ面の汚れ検知方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000249660A (ja) 1999-02-26 2000-09-14 Idemitsu Petrochem Co Ltd 表面検査装置および表面検査方法
JP2003231131A (ja) 2002-02-07 2003-08-19 Towa Corp 型面の付着物に関する付着の程度の評価装置及び評価方法
JP2003270173A (ja) 2002-01-10 2003-09-25 Omron Corp 表面状態検査方法および基板検査装置
JP2009271060A (ja) 2008-04-08 2009-11-19 Dainichiseika Color & Chem Mfg Co Ltd 着色物品の外観評価方法
JP2010014463A (ja) 2008-07-02 2010-01-21 Olympus Corp 光学素子の測定方法及び光学素子の製造方法
JP2014232038A (ja) 2013-05-29 2014-12-11 株式会社エアロ ワーク検査装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6620352B1 (en) * 2000-07-27 2003-09-16 Ball Corporation Automated material distribution control for stretch blow molded articles

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000249660A (ja) 1999-02-26 2000-09-14 Idemitsu Petrochem Co Ltd 表面検査装置および表面検査方法
JP2003270173A (ja) 2002-01-10 2003-09-25 Omron Corp 表面状態検査方法および基板検査装置
JP2003231131A (ja) 2002-02-07 2003-08-19 Towa Corp 型面の付着物に関する付着の程度の評価装置及び評価方法
JP2009271060A (ja) 2008-04-08 2009-11-19 Dainichiseika Color & Chem Mfg Co Ltd 着色物品の外観評価方法
JP2010014463A (ja) 2008-07-02 2010-01-21 Olympus Corp 光学素子の測定方法及び光学素子の製造方法
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