JP7114582B2 - 光源を特徴付ける工程および装置 - Google Patents
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Description
-費用がかかる方策として、フォトダイオードアレイによる調査。既存の方策ではファブリペロー構成を提案しており、これは機械部品を動かすことはないが、検出器としてアレイを用いる。部品を動かさない態様には、堅牢性および信頼性について一定の利点がある。一方、検出アレイの使用は、特に、1100nmを超える波長を測定する場合で、シリコンを使用できないときは、費用の面で不利な点がある。したがって、通信波長用のInGaAs、または中赤外光用のPbSeやMCTなどの、より高価な材料に変える必要がある。アレイは通常、数千ユーロの費用がかかる。
-時間がかかる方策として、可変ファブリペローによる調査。可変ファブリペロー方式は、アレイは使用せず、1つのみ、またはいくつかのフォトダイオードを使用する。しかしながら、所望の調査を実施し、所望の情報(ファブリペローの透過ピーク位置)を取得するためには、ファブリペローのミラーの1つを動かす必要がある。この走査によって、測定速度が著しく低下する。実際に、アレイ検出器の使用時は、インターフェログラム全体を同時に取得するのではなく、ミラーの各位置を取得することが必要になる。通常の応答時間0.1msで100個のミラー位置を測定する場合、1回の測定にかかる最小時間は10msになるが、リフレッシュレートが(処理時間は計算に入れずに)100Hzに制限される。
-光源の状態、または光源の異なる調査状態に従って、光源によって第1の放射を生成するステップと、
-少なくとも1つのセンサによって、この第1の放射の少なくとも一部を受けるステップであって、各センサは、フォトダイオードを伴ったファブリペローエタロンを備える、ステップと、
-各センサで、かつ光源の各調査状態に対して、光源のこの調査状態でこのセンサが受けた、第1の放射の少なくとも1つの部分の関数として、信号を測定するステップと、
-測定された信号から、かつ光源の各調査状態に対して、第1の放射の波長を表す第1のデータ項目を計算するステップであって、計算するステップは、光源の各調査状態に対して、いくつかの可能な値から第1のデータ項目の選択値の選択を含み、前記選択は、第1のデータ項目の単位で表される、固定キャビティの自由スペクトル範囲による除法の剰余である既知の定数と一致しない、第1のデータ項目の値を排除することを含む、ステップと
を含む。
-第1の放射の波長、または
-第1の放射の時間周波数、または
-第1の放射の一時的な期間、または
-第1の放射の波数とすることができる。
-各ファブリペローエタロンは、第1の放射の波長の関数として、第1の放射の透過強度曲線を有することができ、好ましくは第1の放射のスペクトル領域範囲以上の期間を有し、かつ/または、
-第1の放射の少なくとも一部を受けるステップが、好ましくはいくつかのセンサで受けることを含み、各センサがフォトダイオードを伴ったファブリペローエタロンを備え、各ファブリペローエタロンが、第1の放射の波長の関数として、第1の放射の透過強度曲線を有し、異なるファブリペローエタロンの透過曲線が、第1の放射の波長の関数として、第1の放射の全体的な透過強度曲線を共に形成し、好ましくは、第1の放射のスペクトル領域範囲以上の期間を有する。
-第1の放射の波長の関数として、第1の放射の第1の透過強度曲線を有する、第1のファブリペローエタロンと、
-第1の放射の波長の関数として、第1の放射の第2の透過強度曲線を有する、第2のファブリペローエタロンとを含み、
その結果、
-第1の放射の同一の波長は、第1の透過曲線の最大勾配、および絶対値でこの最大勾配の10%以下の、第2の透過曲線の勾配の両方と一致し、かつ/または、
-第1の放射の同一の波長は、第2の透過曲線の最大勾配、および絶対値でこの最大勾配の10%以下の、第1の透過曲線の勾配の両方と一致する。
-光源の各調査状態に対する、第1のデータ項目の予備計算と、
-光源の異なる調査状態のすべてに対して、第1のデータ項目を予備計算することから、定数を決定することとを含むことができる。
-第1の放射を生成する、可動キャビティと、
-第2の放射を生成する、固定キャビティとを含む。
-光源の状態、または光源の異なる調査状態に従って、光源によって生成された、第1の放射の少なくとも一部を受けるために配置された、少なくとも1つのセンサであって、各センサは、フォトダイオードを伴ったファブリペローエタロンを備え、各センサは、光源のこの調査状態でこのセンサが受けた第1の放射の少なくとも1つの部分の関数として、各調査状態に対する信号を測定するために配置される、少なくとも1つのセンサと、
-各センサによって、かつ光源の各調査状態に対して測定された信号から、第1の放射の波長を表す第1のデータ項目を計算するために配置および/またはプログラムされた計算ユニットであって、計算ユニットは、光源の各調査状態に対して、いくつかの可能な値からの、第1のデータ項目の選択値の選択を実施するために配置および/またはプログラムされ、前記選択は、第1のデータ項目の単位で表される、自由スペクトル範囲による除法の剰余である定数と一致しない第1のデータ項目の値を排除することを含む。
-光源がどのような状態になるかを制御し、かつ/あるいは光源の状態、または光源の異なる調査状態についての情報項目を受けるため、ならびに、
-光源の各調査状態を、各センサが光源のこの調査状態に対して測定した信号と関連付ける、または同期させるために、
配置および/またはプログラムすることができる。
-第1の放射の波長、または
-第1の放射の時間周波数、または
-第1の放射の一時的な期間、または
-第1の放射の波数とすることができる。
-各ファブリペローエタロンは、第1の放射の波長の関数として、第1の放射の透過強度曲線を有することができ、好ましくは第1の放射のスペクトル領域範囲以上の期間を有する。
-少なくとも1つのセンサは、いくつかのセンサを含むことができ、各センサが、フォトダイオードを伴ったファブリペローエタロンを備え、各ファブリペローエタロンは、第1の放射の波長の関数として、第1の放射の透過強度曲線を有し、異なるファブリペローエタロンの透過曲線が、第1の放射の波長の関数として、第1の放射の全体的な透過強度曲線を共に形成し、好ましくは第1の放射のスペクトル領域範囲以上の期間を有する。
-第1の放射の波長の関数として、第1の放射の第1の透過強度曲線を有する、第1のファブリペローエタロンと、
-第1の放射の波長の関数として、第1の放射の第2の透過強度曲線を有する、第2のファブリペローエタロンとを含み、
その結果、
-第1の放射の同一の波長は、第1の透過曲線の最大勾配、および絶対値でこの最大勾配の10%以下の、第2の透過曲線の勾配の両方と一致し、かつ/または、
-第1の放射の同一の波長は、第2の透過曲線の最大勾配、および絶対値でこの最大勾配の10%以下の、第1の透過曲線の勾配の両方と一致する。
-光源の各調査状態に対して、第1のデータ項目を事前に決定し、
-光源の異なる調査状態のすべてに対して、第1のデータ項目を予備計算することから定数を決定するために、配置および/またはプログラムすることができる。
-自由スペクトル範囲を有する固定キャビティを備える光源であって、前記光源は、光源の状態に従って、あるいは光源の異なる調査状態に従って、第1の放射を生成するために配置される、光源と、
-本発明による、この光源を特徴付ける装置とを備える、システムが提案される。
-第1の放射を生成する、可動キャビティと、
-第2の放射を生成する、固定キャビティとを含む。
-2枚のミラー7a、7bで区切られ、第1の放射3を生成する、可動キャビティ7と、
-第2の放射8を生成する、固定キャビティ2とを含む。
-第1のセンサでは、ミラー(またはダイクロイック)71とファブリペロー51との間、
-第2のセンサでは、ミラー(またはダイクロイック)72とファブリペロー52との間、
-第3のセンサでは、ミラー(またはダイクロイック)73とファブリペロー53との間
に到達する、放射3の各部分の光強度は、初期較正(通常は装置10の製造時、または工場における)によって知られる、あるいは、
-ファブリペローなしで放射3の一部の強度を測定するために配置された、任意の基準センサ66(ファブリペローなし)と、
-各ミラー71、72、および73の反射係数および透過係数の情報とを用いることによって知られる。
-光源1がどのような状態になるかを制御し、かつ/あるいは光源1の状態、または光源1の異なる調査状態についての情報項目を受けるため、および
-光源1の各調査状態を、各センサ4が、光源1のこの調査状態に対して測定した信号と関連付ける、または同期させるために、
配置および/またはプログラムされる。
-第1の放射の波長、または
-第1の放射の時間周波数、または
-第1の放射の一時的な期間、または
-この例示的だが非限定的な例で示されている通りの、第1の放射3の波数ksである。
-定数「b」を知るため。計算ユニット11は、光源1が、光源1の異なる調査状態に従って第1の放射3を生成する場合に、定数「b」を決定するために配置および/またはプログラムされ、この目的のために、
・光源1の各調査状態に対する、第1のデータ項目ksを予備計算し、第1の放射3のスペクトル領域範囲15の範囲外にある第1のデータ項目ksの値を排除して、好ましくは最小二乗法によって、光源1の各調査状態に対する、第1のデータ項目ksの値を選択し、
・光源1のすべての異なる調査状態に対する、第1のデータ項目ksの予備計算から、定数「b」を決定するために、
配置および/またはプログラムされる。
-各センサ4が測定した信号から、かつ光源1の各調査状態に対して、光源1の各調査状態に対する第1の放射3の波長を示す第1のデータ項目ksを計算するためであって、いくつかの可能な値から第1のデータ項目ksの選択値を選択し、計算ユニット11は、
・第1の放射3のスペクトル領域範囲15の範囲外にある、第1のデータ項目ksの値の排除(選択の一部を形成する)を実施し、
・第1の放射ksの単位で表される、固定キャビティ2の自由スペクトル範囲による除法の剰余である定数「b」と一致しない、第1の放射ksの値の排除(選択の一部を形成する)を実施し、
・先の2回の排除の後に、好ましくは最小二乗法によって、選択値の最終選択(選択の一部を形成する)を実施するために、
配置および/またはプログラムされる。
-第2の放射の波長、または
-第2の放射の周波数、または
-この例示的だが非限定的な例で示されている通りの、第2の放射8の波数kcである。
-固定キャビティ2の自由スペクトル範囲を記録する手段(より正確にはユニット11)、および/または、
-装置10(より正確にはユニット11)に、固定キャビティ2の自由スペクトル範囲を示すために配置された、通信手段および/または入力手段を備える。
-第1の放射3の波長の関数として、第1の放射3の第1の透過強度曲線13を有する、第1のファブリペローエタロンと、
-第1の放射3の波長の関数として、第1の放射3の第2の透過強度曲線12を有する、第2のファブリペローエタロンとを備え、
その結果、
-第1の放射3の同一の波長が、第1の透過曲線13の最大勾配(すなわち第1の導関数)130、および絶対値でこの最大勾配130の10%以下の、第2の透過曲線12の勾配120の両方と一致し、かつ/または、
-第1の放射3の同一の波長が、第2の透過曲線12の最大勾配121、および絶対値でこの最大勾配121の10%以下の、第1の透過曲線13の勾配131の両方と一致する。
-非常に小型であって、この方策により、長さの合計を10cm未満にすることができる。
-非常に迅速であり、適切な電子機器11を用いることによって、各レーザパルス(>100kHz)を測定することが可能になる。また本発明は、最大測定値での測定を行い、フォトダイオード6の処理用電子機器11を用いて、連続的な光源1で動作することができる。本発明は、調節可能なファブリペローの一部を動かすのに使用される、圧電トランスデューサの応答時間によって制限されない。
-高価な部品を備えておらず安価であり、調節できないファブリペローエタロン5、およびアレイのないフォトダイオード6は、アレイシステムに対して非常に経済的である。
1)光源の状態、または光源1の異なる調査状態に従って、光源1によって、第1の放射3(および第2の放射8)を生成するステップ。コヒーレント光源1は、二重共振OPOである。波数kpの励起レーザビームは、周期分極反転を伴って非線形結晶9を通過する。結晶9は、波数ksの第1の放射3(信号とも呼ばれる)、および波数kcの第2の放射8(相補とも呼ばれる)の、2つの新たなビームを放射する。波数は、エネルギー保存の法則によって、次の式で表される。
kp=ks+kc
・励起放射の波数は、9,394.5cm-1
・「信号」放射、または放射3の波数は、6,662.5cm-1~6,667.5cm-1(この間隔は、本明細書では、第1の放射のスペクトル領域範囲15と呼ぶ)
・「相補」放射、または放射8の波数は、2,727cm-1~2,732cm-1。
kc=a[FSRc] 式1
ks=b[FSRc] 式2
ここで「a」および「b」はそれぞれ定数であり、より正確にはゼロ以上の実数であり、定数「b」は、本明細書で既に述べたものであり、[FSRc]は、「固定キャビティFSRcのモジュロFSR」を意味し、FSRcは、波数の単位(長さの逆数)で表された、固定キャビティのFSRになる。一般に、本発明のこの原理は、任意の光源1に対して、有効でありかつ一般化できることに留意されたく、その利得媒体(レーザ結晶、非線形結晶など)は、共振キャビティに収容される。これら2つの式は当然、時間周波数、または一時的な期間、あるいは波長として表すことができる。例えば、式2の場合、
fs=b’[FSRc’] 式2’
ts=b’’[FSRc’’] 式2’’
λs=b’’’[FSRc’’’] 式2’’’
であり、ここで、
-「b’」「b’’」および「b’’’」はそれぞれ定数であり、より正確にはゼロ以上の実数であり、
-fsは放射3の時間周波数であり、
-[FSRc’]は、「固定キャビティFSRc’のモジュロFSR」を意味し、FSRc’は、時間周波数の単位(時間の逆数)で表される、固定キャビティのFSRになり、
-tsは、放射3の一時的な期間であり、
-[FSRc’’]は、「固定キャビティFSRc’’のモジュロFSR」を意味し、FSRc’’は、一時的な期間の単位(時間)で表される、固定キャビティのFSRになり、
-λsは、放射3の波長であり、
-[FSRc’’’]は、「固定キャビティFSRc’’’のモジュロFSR」を意味し、FSRc’’’は、波長の単位(長さ)で表される、固定キャビティのFSRになる。
a.光源1の各調査状態に対する、第1の放射3の波長を表す、第1のデータ項目ksの予備計算であって、計算には、光源1の各調査状態に対して、いくつかの可能な値から第1のデータ項目ksの値を選択することが含まれ、前記の選択は、以下のi~iiの項目を含む。
i.第1の放射3のスペクトル領域範囲15外にある、第1のデータ項目ksの値を排除すること。この目的は、これ以降、フォトダイオード6の情報項目から、光源1が放射した放射3の波数ksが、6,662.5cm-1~6,667.5cm-1、すなわち5cm-1のその可能な放射範囲内にあると認めることである。2・10-3cm-1の分解能を達成するために、放射範囲15は、2・10-3cm-1ずつ離間されて、2500の点でサンプリングされる。3つのフォトダイオード6からの透過のトリプレットは、これらの点に対応する。
ii.好ましくは最小二乗法によって、選択値を選択すること。センサ4の数がNcと等しい場合、かつ光源1の各状態に対して、放射範囲15をNP個の点(NPの数が大きいほど、より正確になる)でサンプリングするために選択がなされた場合、NC(ここではNC=3)個のセンサ4によって測定されたNC個の信号は、Np(ここではNP=2500)組の理論値と比較され、理論値の各組は、NC個のセンサ4のNC個の理論信号を含み、図2、あるいは公式または相当値表に従って、すなわちNC個のファブリペロー51、52、53の透過に従って、波数ksの関数として、kSの値と関連付けられる。最小二乗法によって、測定されたトリプレットのそれぞれは、式3に従って2500の理論的なトリプレットと比較される。
mj=√[(Tj th1-Tm1)2+(Tj th2-Tm2)2+(Tj th3-Tm3)2] 式3
ここでTj thiは、jthトリプレット(2500から可能)のithファブリペロー(3から可能)の理論的な透過に相当し、かつTmiは、ithファブリペローの測定された透過に相当する。測定されたトリプレットのそれぞれに対して、ビーム3の波数kSの値は、2500の可能性の中から保持されて、「mj」の値を最小化する。
残念なことに、測定ノイズが計算の妨げとなって、結果の精度を落としている。図6は、計算値と、実際に放射された波数との相違を点毎に示す。
b.光源1の異なる調査状態のすべてに対して、第1のデータ項目ksの予備計算から定数「b」を決定すること。実際には、図5におけるこのようなノイズの多い測定からでも、式2に示す「b」の正確な計算を行うことが可能である。実際には、測定ノイズはその後、250の取得のすべてにわたって平均化される。これがガウス型白色ノイズであれば、15よりも大きい因数(√250)によって、ノイズはその後減少する。異常値の影響を制限するために、平均ではなく中央値(med)が使用される。したがって、
b=med(ks measured[FSRc]) 式4
となる。
a.前述のステップ6のaのiにあるように、第1の放射3のスペクトル領域範囲15外にある、第1のデータ項目ksの理論値を排除すること。
b.第1のデータ項目の単位で表される、固定キャビティ2の自由スペクトル範囲による除法の剰余である定数「b」と一致しない、第1のデータ項目ksの値を排除すること。放射範囲15をNP個の点(NPの数が大きいほど、より正確になる)でサンプリングするために選択された場合は、Np(ここではNP=2500)組の理論値があり、理論値の各組は、NC個のセンサ4のNC個の理論信号を含み、図2、あるいは公式または相当値表に従って、すなわちNC個のファブリペロー51、52、53の透過に従って、波数ksの関数として、kSの値と関連付けられる。固定キャビティ2の自由スペクトル範囲による除法の剰余である定数「b」と一致しない、第1のデータ項目ksの理論値をこのように排除することにより、NPからNRまでの理論値の組の数を減らすことが可能になる。
c.次に、前述の2つを排除した後の、好ましくは最小二乗法による、選択値の最終選択。ここでも最小二乗法が用いられ、式2に従って、可能な解をパラメトリック利得帯域幅(スペクトル範囲15)の波数のみに制限する。センサ4の数がNcと等しく、NR組(ここではNR=19)の可能な理論値が残っている場合は、光源1の各状態に対して、NC個(ここではNC=3)のセンサ4によって測定されたNC個の信号は、NR(ここではNR=19)組の理論値と比較され、理論値の各組は、NC個のセンサ4のNC個の理論信号を含み、図2、あるいは公式または相当値表に従って、すなわちNC個のファブリペロー51、52、53の透過に従って、波数ksの関数として、kSの値と関連付けられる。したがって、ステップ6とは異なり、2500の可能なトリプレット間ではなく、モジュロ条件に従った19の可能なモード間で選択される。b=0であれば、20の可能なモードがある。19の可能なトリプレットについてのみ、式3の「mj」の計算が繰り返される。所与の測定のために保持された波数値は、19の計算値の中で、「mj」を最小化するものである。したがって図7が得られ、これは、図6で示した結果60(分散した円)に加えて、これらの新しい最小二乗から生じた結果70(ほぼすべてが一直線に並んでいる星形)を表す。
-第1の計算(符号81、モジュロは使用せず)、および第2の計算(符号82、式2のモジュロを使用)における平均誤差、ならびに
-第1の計算(符号91、モジュロは使用せず)、および第2の計算(符号92、式2のモジュロを使用)における標準偏差
これらは、一連のモード跳びの数多くのシミュレーションに対するもので、ノイズは、1つのシーケンスからもう1つのシーケンスまでランダムになる。
-光源1の異なる調査状態に対して計算された、ksの異なる値と、
この2つの値がわかれば、光源1の異なる調査状態に対して計算されたksの異なる値は、次の式で計算される。
kc=kp-ks
-本発明による方法は、定数「b」を必ずしも計算しなくても、既に知られている場合がある(例えば、工場その他での較正によって)。この場合、本発明による方法または装置は、光源1の1つの状態、すなわち図7の単一のドット70を調査することによって実施でき、
-光源1は、可動キャビティ7を有さずに、1つの固定キャビティ2のみを有してもよい。この場合、キャビティ2は、固定ミラー2aと2bとの間に結晶9を備えることができる。キャビティ2の自由スペクトル範囲FSRcは、常に固定され、光源1の状態は、例えば、結晶9の温度が変化することによって変化し、本発明による装置および方法は、このときは次の式kc=b[FSRc]に基づいて実施され、定数bは、前述したものと同じ原理で知られ、または決定され、第1のデータ項目はkcになり、
-本発明による装置および方法は、センサ4が、可動ミラー2aまたは2b、および好ましくは固定ミラー7aを含む筐体内において、キャビティ7の信号ではなくキャビティ2の信号を測定することに基づくことができ、例えば、結晶9の代わりにガスが用いられ、
-第1のデータ項目は必ずしも波数でなくてもよく、本発明による装置および方法は、第1のデータ項目を時間周波数、一時的な期間、または少なくとも1つのセンサ4が受けた放射の波長として用いて実施することも可能である。
Claims (15)
- 光源(1)を特徴付ける方法であって、前記光源は、自由スペクトル範囲を有する固定キャビティ(2)を備え、
前記光源(1)の異なる状態を調査しながら、前記光源によって第1の放射(3)を生成するステップであって、前記光源(1)の前記異なる状態は、前記光源(1)によって放射された前記第1の放射(3)の波長に影響を及ぼす、前記光源(1)の物理パラメータの相違によって区別される、ステップと、
少なくとも1つのセンサ(4)によって、前記第1の放射の少なくとも一部を受けるステップであって、前記少なくとも1つのセンサは、フォトダイオード(6)を伴ったファブリペローエタロン(5)を備える、ステップと、
前記光源の前記調査状態で前記少なくとも1つのセンサが受けた、前記第1の放射の少なくとも1つの部分の関数として、前記少なくとも1つのセンサを用いて、かつ前記光源の前記調査状態の各々に対して、信号を測定するステップと、
前記第1の放射の波長を表す第1のデータ項目の単位で表される前記固定キャビティの前記自由スペクトル範囲による除法の剰余である定数(b)を決定または記録するステップと、
前記光源の前記調査状態の各々に対して、前記第1の放射の前記波長を表す、前記第1のデータ項目を計算するために、前記少なくとも1つのセンサにより測定された前記信号を用いるステップであって、前記計算するステップは、前記光源の前記調査状態の各々に対して、前記第1のデータ項目の値の選択と、前記第1のデータ項目の単位で表される、前記固定キャビティの前記自由スペクトル範囲による除法の剰余である前記定数(b)と一致しない、前記第1のデータ項目の値を排除することを含む、ステップと
を含む方法。 - 前記少なくとも1つのセンサが、フォトダイオードアレイを含まないことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのセンサの前記ファブリペローエタロンが、可動部品を含まないことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の放射の前記波長を示す、前記第1のデータ項目が、
前記第1の放射の前記波長、または
前記第1の放射の周波数、または
前記第1の放射の波数
であることを特徴とする、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。 - 前記選択が、前記第1の放射の既知のスペクトル領域範囲(15)外にある、前記第1のデータ項目の値をさらに排除することを特徴とする、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記各ファブリペローエタロンが、前記第1の放射の前記波長の関数として、前記第1の放射の強度の透過曲線(12、13、14)を有し、前記第1の放射の前記既知のスペクトル領域範囲以上の期間を有することを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 前記第1の放射の少なくとも一部を受けるステップが、いくつかのセンサ(4)で受けることを含み、前記センサの各々が、フォトダイオード(6)を伴ったファブリペローエタロン(5)を備え、前記各ファブリペローエタロンが、前記第1の放射の前記波長の関数として、前記第1の放射の透過強度曲線を有し、前記異なるファブリペローエタロン(5)の前記透過強度曲線が、前記第1の放射の前記波長の関数として、前記第1の放射の全体的な透過強度曲線(16)を共に形成し、前記第1の放射の前記既知のスペクトル領域範囲以上の期間を有することを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのセンサが、いくつかのセンサを含み、前記いくつかのセンサの前記異なるファブリペローエタロンが、少なくとも一対の2つのファブリペローエタロンを含み、前記2つのファブリペローエタロンは、
前記第1の放射の前記波長の関数として、前記第1の放射の第1の透過強度曲線を有する、第1のファブリペローエタロンと、
前記第1の放射の前記波長の関数として、前記第1の放射の第2の透過強度曲線を有する、第2のファブリペローエタロンとを含み、
その結果、
前記第1の放射(3)の同一の波長が、前記第1の透過強度曲線(13)の最大勾配(130)、および絶対値で前記最大勾配(130)の10%以下の、前記第2の透過強度曲線(12)の勾配(120)の両方と一致し、かつ/または、
前記第1の放射(3)の同一の波長が、前記第2の透過強度曲線(12)の最大勾配(121)、および絶対値で前記最大勾配(121)の10%以下の、前記第1の透過強度曲線(13)の勾配(131)の両方と一致することを特徴とする、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。 - 前記光源の異なる調査状態に従って、前記光源によって前記第1の放射(3)を生成する場合は、前記定数(b)を決定する工程が、
前記光源の前記異なる状態の各々に対する、前記第1のデータ項目の予備計算の実施と、
前記光源の前記異なる状態のすべてに対する、前記第1のデータ項目の前記第1の予備計算を用いて、前記定数(b)を決定することと、
を含むことを特徴とする、請求項1~8のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1のデータ項目の値の選択が、前記自由スペクトル範囲による除法の剰余である前記定数(b)と一致しない前記第1のデータ項目の値を排除した後の、最終値の選択を含むことを特徴とする、請求項1~9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記最終値の選択が最小二乗法による、請求項10に記載の方法。
- 前記光源が、光パラメトリック発振器、またはレーザであることを特徴とする、請求項1~11のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光源が、少なくとも二重共振光源であって、1つの放射生成結晶(9)を共有する2つのキャビティを有し、前記キャビティが、
前記第1の放射(3)を生成する、可動キャビティ(7)と、
第2の放射(8)を生成する、固定キャビティ(2)と
を含むことを特徴とする、請求項1~12のいずれか一項に記載の方法。 - 前記光源の異なる状態の各々に対して、前記第1の放射の前記波長を表す前記第1のデータ項目の前記計算の関数として、前記第2の放射の前記波長を表す、第2のデータ項目を計算するステップをさらに含むことを特徴とする、請求項13に記載の方法。
- 光源(1)を特徴付ける装置(10)であって、
計算ユニット(11)であって、光源(1)がどのような状態になるかを制御するために、かつ/あるいは前記光源(1)の状態の、または前記光源(1)の異なる状態の情報項目を受けるために、配置および/またはプログラムされる、計算ユニット(11)と、
少なくとも1つのセンサ(4)であって、前記光源の異なる状態に従って前記光源によって生成された、第1の放射(3)の少なくとも一部を受けるために配置され、前記少なくとも1つのセンサは、フォトダイオード(6)を伴ったファブリペローエタロン(5)を備え、前記少なくとも1つのセンサは、前記少なくとも1つのセンサが受けた、前記第1の放射の前記少なくとも1つの部分の関数として、前記光源の各状態に対する信号を測定するために配置される、少なくとも1つのセンサ(4)と、
前記第1の放射の波長を表す第1のデータ項目の単位で表される前記固定キャビティの前記自由スペクトル範囲による除法の剰余である定数(b)を決定または記録する手段と
を備え、
前記計算ユニット(11)は、前記少なくとも1つのセンサによって測定され、かつ前記光源の前記各状態に対する前記信号から、前記第1の放射の前記波長を表す、前記第1のデータ項目を計算するために配置および/またはプログラムされ、前記計算ユニットは、前記光源の前記各状態に対して、前記第1のデータ項目の値の選択を実施するために配置および/またはプログラムされ、前記選択は、前記第1のデータ項目の前記単位で表される、前記自由スペクトル範囲による除法の剰余である前記定数(b)と一致しない、前記第1のデータ項目の値を排除することを含む、装置(10)。
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